JP2018035392A - Processing roller and method of manufacturing the same, and processing apparatus, and backing plate and method of manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a processing roller capable of performing smooth conveyance while keeping a surface of a film flat when various processing such as film deposition is performed on the film on a roll-to-roll basis by various processing apparatuses such as a sputtering apparatus, speedily and accurately controlling the temperature of the film, and also performing the processing excellently.SOLUTION: A processing roller wound with a film to be processed by film deposition on a roll-to-roll basis has, at least at an effective part, a cylinder part which has a flow passage formed inside and is made of copper, copper alloy, aluminum, or aluminum alloy. On a surface of the cylinder part, a coating layer is formed as needed which is formed of a material higher in hardness than the material forming the cylinder part. The flow passage inside the cylinder part is typically in a shape which is bent zigzag having a part extending linearly in a circumferential direction of the cylinder part and a folded part, and has a rectangular cross-sectional shape parallel with the center axis of the cylinder part.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

この発明は、ロール・ツー・ロール(Roll to Roll)方式でフィルムなどの上に成膜やエッチングなどの各種の処理を行うスパッタリング装置、真空蒸着装置、ドライエッチング装置などの各種の処理装置に用いて好適な処理ローラーおよびその製造方法ならびにそのような処理ローラーを有する処理装置ならびにバッキングプレートおよびその製造方法に関し、例えば、フィルムなどの上に薄膜を成膜したり、フィルムなどの上に成膜された薄膜をエッチングしたりする各種のデバイスの製造に適用して好適な処理ローラーおよび処理装置ならびに例えばスパッタリングカソードの冷却に適用して好適なバッキングプレートに関する。   The present invention is used in various processing apparatuses such as a sputtering apparatus, a vacuum evaporation apparatus, and a dry etching apparatus that perform various processes such as film formation and etching on a film by a roll-to-roll method. In particular, the present invention relates to a processing roller and a manufacturing method thereof, a processing apparatus having such a processing roller, a backing plate and a manufacturing method thereof, for example, forming a thin film on a film or the like. The present invention relates to a processing roller and a processing apparatus suitable for manufacturing various devices for etching a thin film and a backing plate suitable for cooling a sputtering cathode, for example.

従来より、半導体デバイス、太陽電池、液晶ディスプレイ、有機ELなどの各種のデバイスにおいて電極を形成する工程においては、電極材料の成膜にスパッタリング装置や真空蒸着装置が用いられている。   Conventionally, in the process of forming electrodes in various devices such as semiconductor devices, solar cells, liquid crystal displays, and organic EL, a sputtering apparatus or a vacuum evaporation apparatus has been used to form an electrode material.

従来、ロール・ツー・ロール方式でフィルム上に成膜を行うスパッタリング装置や真空蒸着装置などの成膜装置が実用化されている。この成膜装置においては、成膜室内に成膜ローラー(メインローラーとも呼ばれる)が設置され、成膜室と分離して設けられたフィルム搬送室に巻き出し/巻き取り用の一対のローラーが設置され、一方のローラーからフィルムを巻き出し、成膜ローラーを介して他方のローラーによりフィルムを巻き取りながら、成膜ローラーに巻き付けられたフィルム上に成膜を行う。従来より一般的に使用されている成膜ローラーは、円筒状のステンレス鋼板により構成されており、その円筒状のステンレス鋼板の内側に直径が少し小さい円筒状のステンレス鋼板を設け、これらの二重に設けられたステンレス鋼板の間の空間に冷却水を流し、冷却を行うことができるようになっている(例えば、非特許文献1参照。)。   Conventionally, film forming apparatuses such as a sputtering apparatus and a vacuum evaporation apparatus for forming a film on a film by a roll-to-roll method have been put into practical use. In this film forming apparatus, a film forming roller (also called a main roller) is installed in the film forming chamber, and a pair of rollers for unwinding / winding is installed in a film transfer chamber provided separately from the film forming chamber. Then, the film is unwound from one roller, and film formation is performed on the film wound around the film formation roller while winding the film with the other roller through the film formation roller. The film forming roller that has been generally used conventionally is composed of a cylindrical stainless steel plate, and a cylindrical stainless steel plate having a slightly smaller diameter is provided inside the cylindrical stainless steel plate. Cooling water can be supplied to the space between the stainless steel plates provided in the plate to perform cooling (for example, see Non-Patent Document 1).

特許第5102470号明細書Japanese Patent No. 5102470

[平成28年8月8日検索]、インターネット〈URL:http://www.komatsubara-iw.jp/roll 04.html 〉[Search August 8, 2016], Internet <URL: http://www.komatsubara-iw.jp/roll 04.html> [平成28年8月8日検索]、インターネット〈URL:http://www.ramtech.jp/page5 〉[Search August 8, 2016], Internet <URL: http://www.ramtech.jp/page5>

しかしながら、上述の従来の成膜ローラーは、外側の円筒状のステンレス鋼板の内面全体に冷却水による圧力が加わる構造を有するため、真空中でビア樽形に変形してしまい、フィルムの表面が湾曲してしまうだけでなく、フィルムの搬送を円滑に行うことができないという欠点があった。   However, the conventional film forming roller described above has a structure in which the pressure of the cooling water is applied to the entire inner surface of the outer cylindrical stainless steel plate, so that it deforms into a via barrel shape in a vacuum, and the film surface is curved. In addition to this, there was a drawback that the film could not be transported smoothly.

そこで、この発明が解決しようとする課題は、スパッタリング装置や真空蒸着装置などの各種の成膜装置においてロール・ツー・ロール方式でフィルム、より一般的には被処理体上に成膜を行う場合、さらには、ロール・ツー・ロール方式で、被処理体上に成膜した薄膜にプラズマエッチングなどのドライエッチング、プラズマによる表面処理、冷却などの各種の処理を行う場合にフィルムなどの被処理体の表面を平坦に維持しながら円滑に搬送することができるとともに、被処理体の温度を迅速かつ正確に制御することができ、成膜、エッチングなどの各種の処理を良好に行うことができる処理ローラーおよびその製造方法ならびにそのような処理ローラーを有する処理装置を提供することである。   Therefore, the problem to be solved by the present invention is that when a film is formed by a roll-to-roll method in a film forming apparatus such as a sputtering apparatus or a vacuum vapor deposition apparatus, more generally, a film is formed on an object to be processed. In addition, in the roll-to-roll method, when the thin film formed on the object to be processed is subjected to various processes such as dry etching such as plasma etching, surface treatment by plasma, and cooling, the object to be processed such as a film. The surface of the substrate can be smoothly conveyed while being kept flat, the temperature of the object to be processed can be controlled quickly and accurately, and various processes such as film formation and etching can be performed satisfactorily It is to provide a roller and its manufacturing method and a processing apparatus having such a processing roller.

この発明が解決しようとする他の課題は、円筒状のスパッタリングターゲットなどの円筒状体に接触させて用いることにより、円筒状体の温度を迅速かつ正確に制御することができるバッキングプレートおよびその製造方法を提供することである。   Another problem to be solved by the present invention is that a backing plate capable of quickly and accurately controlling the temperature of a cylindrical body by using it in contact with a cylindrical body such as a cylindrical sputtering target, and its manufacture Is to provide a method.

前記課題を解決するために、この発明は、
ロール・ツー・ロール方式で処理を行う被処理体が巻き付けられる処理ローラーであって、
流路を内蔵する銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部を少なくとも有効部に有することを特徴とするものである。
In order to solve the above problems, the present invention provides:
A processing roller around which a workpiece to be processed in a roll-to-roll system is wound,
It has a cylindrical part made of copper, copper alloy, aluminum or aluminum alloy with a built-in flow path at least as an effective part.

処理ローラーの有効部とは、処理を行う被処理体が巻き付けられ、接触する部分のことをいう。ここで、処理には、成膜、ドライエッチング(プラズマエッチングなど)、プラズマによる表面処理(密着性向上、表面改質、親水性向上、還元処理、撥水処理などを目的とするもの)のほか、冷却処理などの各種のものが含まれる。被処理体は、処理ローラーの有効部に巻き付けることができる限り、基本的にはどのようなものであってもよく、特に限定されないが、具体的には、例えば、フィルム、薄板、繊維からなる布状体、線状体などであり、材質も樹脂、単体金属や合金などの金属材料(鉄系材料および非鉄材料)などの各種のものであってよい。円筒部が銅または銅合金により構成される場合、熱伝導性および加工性を最重要視するときには、好適には、熱伝導率が高く展延性にも優れた銅(純銅)(例えば、無酸素銅、タフピッチ銅、リン脱酸銅など)により構成され、最も好適には無酸素銅により構成される。一方、円筒部は、銅では得られない特性(例えば、銅より高い機械的強度)が必要とされる場合には、銅合金により構成される。銅合金としては、例えば、銅−スズ系合金、銅−亜鉛系合金、銅−ニッケル系合金、銅−アルミニウム系合金、銅−ベリリウム系合金などが挙げられ、これらの中から、円筒部に要求される特性を満たす合金および組成が選ばれる。また、円筒部がアルミニウムまたはアルミニウム合金により構成される場合、熱伝導性および加工性を最重要視するときには、好適には、熱伝導率が高く展延性にも優れたアルミニウム(純アルミニウム)により構成される。一方、円筒部は、アルミニウムでは得られない特性(例えば、アルミニウムより高い機械的強度)が必要とされる場合には、アルミニウム合金により構成される。アルミニウム合金としては、例えば、アルミニウム−銅−マグネシウム系合金、アルミニウム−マンガン系合金、アルミニウム−シリコン系合金、アルミニウム−マグネシウム系合金、アルミニウム−マグネシウム−シリコン系合金、アルミニウム−亜鉛−マグネシウム系合金などが挙げられ、これらの中から、円筒部に要求される特性を満たす合金および組成が選ばれる。このように円筒部が銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金により構成されることにより、少なくともステンレス鋼に比べて高い熱伝導率を得ることができる。例えば、ステンレス鋼の熱伝導率はSUS304およびSUS316では16.7W/(m・K)、SUS444では26.0W/(m・K)であるのに対し、銅の熱伝導率は無酸素銅(C1020)およびタフピッチ銅(C1100)では391W/(m・K)、リン脱酸銅(C1220)では339W/(m・K)、銅合金の熱伝導率は、銅−亜鉛系合金である黄銅1種では121W/(m・K)、銅−ニッケル系合金である洋白2種では33W/(m・K)、銅−スズ系合金であるリン青銅1種では84W/(m・K)、銅−ニッケル系合金である銅−ニッケル−シリコン合金(コルソン合金)、例えばEFTEC23Zでは210W/(m・K)、アルミニウムの熱伝導率はA1100では220W/(m・K)、アルミニウム合金の熱伝導率は、アルミニウム−銅−マグネシウム系合金であるA2017では190W/(m・K)、アルミニウム−マンガン系合金であるA3003では190W/(m・K)、アルミニウム−シリコン系合金であるA4032では150W/(m・K)、アルミニウム−マグネシウム系合金であるA5005では200W/(m・K)、アルミニウム−マグネシウム−シリコン系合金であるA6063では220W/(m・K)、アルミニウム−亜鉛−マグネシウム系合金であるA7075では130W/(m・K)であり、いずれもステンレス鋼に比べて高い。   The effective portion of the processing roller refers to a portion around which the object to be processed is wound and comes into contact. Here, the treatment includes film formation, dry etching (plasma etching, etc.), surface treatment with plasma (for the purpose of improving adhesion, surface modification, hydrophilicity improvement, reduction treatment, water repellent treatment, etc.) Various types of cooling processing are included. The object to be processed may be basically any material as long as it can be wound around the effective portion of the processing roller, and is not particularly limited. Specifically, the object is, for example, a film, a thin plate, or a fiber. The material may be a cloth-like body, a linear body, or the like, and the material may be various materials such as a resin, a metal material (ferrous material and non-ferrous material) such as a single metal or an alloy. When the cylindrical portion is made of copper or a copper alloy, when the thermal conductivity and workability are regarded as the most important, preferably, copper (pure copper) (for example, oxygen-free) having high thermal conductivity and excellent spreadability is used. Copper, tough pitch copper, phosphorous deoxidized copper, etc.), most preferably oxygen free copper. On the other hand, the cylindrical part is made of a copper alloy when characteristics that cannot be obtained with copper (for example, higher mechanical strength than copper) are required. Examples of the copper alloy include a copper-tin alloy, a copper-zinc alloy, a copper-nickel alloy, a copper-aluminum alloy, and a copper-beryllium alloy. Alloys and compositions that meet the desired properties are selected. Further, when the cylindrical portion is made of aluminum or an aluminum alloy, when the thermal conductivity and workability are regarded as the most important, the cylindrical portion is preferably made of aluminum (pure aluminum) having high thermal conductivity and excellent spreadability. Is done. On the other hand, the cylindrical portion is made of an aluminum alloy when characteristics that cannot be obtained with aluminum (for example, higher mechanical strength than aluminum) are required. Examples of the aluminum alloy include an aluminum-copper-magnesium alloy, an aluminum-manganese alloy, an aluminum-silicon alloy, an aluminum-magnesium alloy, an aluminum-magnesium-silicon alloy, and an aluminum-zinc-magnesium alloy. Among these, an alloy and a composition satisfying the characteristics required for the cylindrical portion are selected. Thus, when a cylindrical part is comprised with copper, a copper alloy, aluminum, or an aluminum alloy, high heat conductivity can be obtained at least compared with stainless steel. For example, the thermal conductivity of stainless steel is 16.7 W / (m · K) for SUS304 and SUS316, and 26.0 W / (m · K) for SUS444, whereas the thermal conductivity of copper is oxygen-free copper ( C1020) and tough pitch copper (C1100) are 391 W / (m · K), phosphorous deoxidized copper (C1220) is 339 W / (m · K), and the thermal conductivity of the copper alloy is brass 1 which is a copper-zinc alloy. 121W / (m · K) for seeds, 33W / (m · K) for two types of copper-nickel alloys, 84W / (m · K) for one type of phosphor bronze that is a copper-tin alloy, Copper-nickel-silicon alloy (Corson alloy), which is a copper-nickel alloy, such as 210 W / (m · K) for EFTEC23Z, the thermal conductivity of aluminum is 220 W / (m · K) for A1100, aluminum alloy The thermal conductivity is 190 W / (m · K) for A2017 which is an aluminum-copper-magnesium alloy, 190 W / (m · K) for A3003 which is an aluminum-manganese alloy, and A4032 which is an aluminum-silicon alloy. 150 W / (m · K), 200 W / (m · K) for the aluminum-magnesium alloy A5005, 220 W / (m · K) for the A6063 aluminum-magnesium-silicon alloy, aluminum-zinc-magnesium system A7075, which is an alloy, has 130 W / (m · K), which is higher than stainless steel.

銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部の少なくとも外周面には、処理ローラーの使用中に傷が付いたり摩耗したりするのを防止するために、好適には、この円筒部を構成する銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金よりも硬度が高い材料からなるコーティング層が形成される。例えば、円筒部の表面に銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金よりも硬度が高い材料のメッキ、好適には硬質クロムメッキが施される。コーティング層あるいはメッキ層の厚さは、円筒部の表面の熱伝導性を損なわないように選ばれる。   Preferably, at least the outer peripheral surface of the cylindrical portion made of copper, copper alloy, aluminum or aluminum alloy is configured to prevent scratching or abrasion during use of the processing roller. A coating layer made of a material having higher hardness than copper, copper alloy, aluminum or aluminum alloy is formed. For example, the surface of the cylindrical portion is plated with copper, a copper alloy, aluminum, or a material having higher hardness than aluminum alloy, preferably hard chrome plating. The thickness of the coating layer or the plating layer is selected so as not to impair the thermal conductivity of the surface of the cylindrical portion.

円筒部が内蔵する流路には、液体や気体などの流体が流され、どのような流体を流すかは、処理ローラーにより行う処理や円筒部を構成する材料の種類などに応じて適宜決められる。流体としては、水、油、代替フロン(ハイドロフルオロカーボン(HFC))、空気などが挙げられる。円筒部が内蔵する流路は、典型的には、円筒部の円周方向に直線状に延在する部分(円筒部を平面に展開した時には直線部)と折り返し部とを有するジグザグ状に折れ曲がった形状を有する。流路の横断面形状は特に限定されず、必要に応じて選ばれるが、好適には、円筒部の中心軸に平行な長方形の横断面形状を有する。円筒部は、より詳細には、好適には、例えば、円筒部を平面に展開した時の流路と同一の平面形状を有する下部溝とこの下部溝とほぼ相似な平面形状を有し、この下部溝より大きい上部溝とからなる溝が一方の主面に設けられた、円筒部を平面に展開した時の平面形状と同一の長方形または正方形の平面形状を有する第1平板と、この第1平板の溝の上部溝に嵌められた第2平板とからなり、第1平板と第2平板との境界部が摩擦攪拌接合により接合された長方形または正方形の平面形状を有する平板をその一辺に平行な方向(円筒部を平面に展開した時の流路の直線部に平行な方向またはこの直線部に垂直な方向)に円筒状に丸め、この丸めた板の一端と他端とを接合したものからなる。この平板をその一辺に平行な方向に円筒状に丸める際には、第1平板と第2平板との境界部が摩擦攪拌接合により接合された側の表面が外側になるようにしてもよいし、内側になるようにしてもよい。この平板を円筒状に丸める加工に際しては、最終的に流路となる下部溝が変形し、設計通りの横断面形状の流路が得られなくなるのを防止するために、第1平板の溝の上部溝に嵌められた第2平板を支えるための支柱をこの下部溝の内部に設けておくようにしてもよい。こうすることで、この平板を円筒状に丸める際に、この支柱が下部溝に対して第2平板を支えることにより、下部溝が変形することを防止することができる。この支柱は、下部溝の延在方向の少なくとも一箇所、典型的には複数箇所、場合によっては全体に例えば線状または点状に設けられ、好適には、下部溝の横断面の面積があまり減少し過ぎないように下部溝の幅に対して十分に小さい幅に設けられる。この支柱は、第1平板または第2平板と一体に設けてもよいし、第1平板および第2平板と別に作製してもよい。摩擦攪拌接合は、接合ツールを回転させながら、材料に挿入し、接合線に沿って接合ツールを移動させることで、接合ツールと材料との間に発生する摩擦熱により材料が軟化し、接合ツールにより攪拌され接合される摩擦熱と塑性流動とを利用した固相接合である(例えば、特許文献1および非特許文献2参照。)。この摩擦攪拌接合により接合された結晶組織は接合前と比べて微細化するため、接合線に沿う方向の延伸性が向上するという特徴を有する。従って、第1平板と第2平板との境界部が摩擦攪拌接合により接合された長方形または正方形の平面形状を有する平板はその境界部の方向の延伸性が良好であることから、その平板を第1平板と第2平板との境界部が摩擦攪拌接合により接合された側の表面が外側になるようにその境界部の方向に円筒状に丸める加工を、第1平板と第2平板との境界部の破壊や損傷を生じたりすることなく、容易に行うことができる。円筒部が内蔵する流路は、円筒部の円周方向に直線状に延在する部分と折り返し部とを有するジグザグ状に折れ曲がった形状を有する前記のものに限定されず、例えば、円筒部の中心軸に平行な方向に延在する部分と折り返し部とを有するジグザグ状に折れ曲がった形状を有するものであってもよい。さらに、円筒部が内蔵する流路は、円筒部の両端面間に円筒部の中心軸に平行に、かつ円筒部の円周方向に例えば等間隔に複数設けられたものであってもよい。このような流路は、例えば、円筒部を平面に展開した時の平面形状と同一の長方形または正方形の平面形状を有する平板をその一辺に平行な方向に円筒状に丸め、この丸めた板の一端と他端とを接合した後、円筒部の一方の端面から他方の端面に達する貫通孔を形成することにより形成することができる。この場合の流路の横断面形状は特に限定されないが、貫通孔を例えばガンドリル加工により形成する場合には円形である。   A fluid such as liquid or gas is flowed through the flow path built in the cylindrical portion, and what kind of fluid is flowed is appropriately determined according to the processing performed by the processing roller, the type of material constituting the cylindrical portion, and the like. . Examples of the fluid include water, oil, alternative CFCs (hydrofluorocarbon (HFC)), and air. The flow path contained in the cylindrical portion is typically bent in a zigzag shape having a portion that extends linearly in the circumferential direction of the cylindrical portion (a straight portion when the cylindrical portion is expanded on a plane) and a folded portion. Have a different shape. The cross-sectional shape of the flow path is not particularly limited and is selected as necessary, but preferably has a rectangular cross-sectional shape parallel to the central axis of the cylindrical portion. More specifically, the cylindrical portion preferably has, for example, a lower groove having the same planar shape as the flow path when the cylindrical portion is expanded in a plane, and a planar shape substantially similar to the lower groove. A first flat plate having a rectangular or square planar shape that is the same as the planar shape when the cylindrical portion is developed on a plane, wherein a groove comprising an upper groove that is larger than the lower groove is provided on one main surface; A flat plate having a rectangular or square planar shape, in which a boundary portion between the first flat plate and the second flat plate is joined by friction stir welding, is composed of a second flat plate fitted in the upper groove of the flat plate groove. Rounded in a cylindrical shape in a flat direction (a direction parallel to or perpendicular to the straight line portion of the flow path when the cylindrical portion is expanded in a plane), and one end and the other end of this rounded plate are joined Consists of. When this flat plate is rolled into a cylindrical shape in a direction parallel to one side thereof, the surface on the side where the boundary between the first flat plate and the second flat plate is joined by friction stir welding may be external. You may make it inside. In the process of rounding the flat plate into a cylindrical shape, in order to prevent the lower groove which finally becomes the flow path from being deformed and the flow path having the cross-sectional shape as designed cannot be obtained, the groove of the first flat plate is prevented. You may make it provide the support | pillar for supporting the 2nd flat plate fitted by the upper part groove | channel inside this lower part groove | channel. By doing so, when the flat plate is rolled into a cylindrical shape, the support supports the second flat plate with respect to the lower groove, thereby preventing the lower groove from being deformed. This support is provided in at least one place in the extending direction of the lower groove, typically a plurality of places, and in some cases, for example, in the form of a line or a dot, and preferably has a cross-sectional area of the lower groove. In order not to decrease too much, it is provided with a width sufficiently smaller than the width of the lower groove. This support may be provided integrally with the first flat plate or the second flat plate, or may be produced separately from the first flat plate and the second flat plate. Friction stir welding is performed by inserting the material into the material while rotating the welding tool, and moving the welding tool along the welding line to soften the material by frictional heat generated between the welding tool and the material. Is solid phase bonding using frictional heat and plastic flow that are agitated and bonded together (see, for example, Patent Document 1 and Non-Patent Document 2). Since the crystal structure joined by this friction stir welding becomes finer than before joining, the stretchability in the direction along the joining line is improved. Therefore, a flat plate having a rectangular or square planar shape in which the boundary portion between the first flat plate and the second flat plate is joined by friction stir welding has good stretchability in the direction of the boundary portion. The process of rounding in a cylindrical shape in the direction of the boundary portion so that the surface on the side where the boundary portion between the first flat plate and the second flat plate is joined by friction stir welding is outside, the boundary between the first flat plate and the second flat plate This can be easily performed without causing destruction or damage of the part. The flow path contained in the cylindrical portion is not limited to the above-described one having a zigzag shape having a portion extending linearly in the circumferential direction of the cylindrical portion and a folded portion. You may have the shape bent in the zigzag shape which has the part extended in the direction parallel to a central axis, and a folding | turning part. Further, a plurality of flow paths built in the cylindrical portion may be provided between the both end faces of the cylindrical portion in parallel with the central axis of the cylindrical portion and at, for example, equal intervals in the circumferential direction of the cylindrical portion. Such a flow path is obtained by, for example, rounding a flat plate having the same rectangular or square planar shape as the planar shape when the cylindrical portion is developed into a plane into a cylindrical shape in a direction parallel to one side thereof. After joining one end and the other end, it can be formed by forming a through hole reaching from the one end face of the cylindrical portion to the other end face. The cross-sectional shape of the flow path in this case is not particularly limited, but is circular when the through hole is formed by, for example, gun drilling.

典型的には、円筒部の両端にこの円筒部を閉塞するようにそれぞれ円板が設けられ、これらの円板は円筒部の内部と外部とを連通する貫通孔を有する。これによって、この処理ローラーを例えばスパッタリング装置や真空蒸着装置などの成膜装置の成膜室内に成膜ローラーとして設置し、成膜室内を真空に排気した時、円筒部の内外の圧力を等しくすることができることにより、円筒部に外力が加わって変形することを防止することができる。これらの円板を構成する材料は必要に応じて選ばれるが、例えばステンレス鋼である。処理ローラーの中心軸の周りの重量分布の対称性を確保し、処理ローラーの回転を円滑に行うことができるようにするために、これらの円板の貫通孔は、好適には、円板の中心軸の周りに対称的に配置される。典型的には、それぞれの円板の外側に、処理ローラー、従って円筒部の中心軸上に回転軸が取り付けられる。円筒部が内蔵する流路への流体の供給は、例えば、次のようにして行うことができる。すなわち、一方の回転軸の中心軸上にこの回転軸および一方の円板を貫通する第1貫通孔を設け、他方の回転軸の中心軸上にこの回転軸および他方の円板を貫通する第2貫通孔を設け、円筒部の内部において第1貫通孔と連通して第1配管の一端を気密性を持って固定し、この第1配管の他端を円筒部が内蔵する流路の一方の円板側の一端部に流路と連通するように設けた穴に気密性を持って接続し、円筒部の内部において第2貫通孔と連通して第2配管の一端を気密性を持って固定し、この第2配管の他端を円筒部が内蔵する流路の他方の円板側の他端部に流路と連通するように設けた穴に気密性を持って接続する。そして、外部から、一方の回転軸の第1貫通孔から流体を供給し、第1配管を経由してこの流体を円筒部が内蔵する流路の一端部に供給し、この流路の他端部からこの他端部に接続された第2配管を経由して他方の回転軸の貫通孔から外部に排出することで、流路に流体を循環させる。あるいは、一方の回転軸の中心軸上にこの回転軸を貫通する第3貫通孔を設け、他方の回転軸の中心軸上にこの回転軸を貫通する第4貫通孔を設け、一方の円板の内部に第3貫通孔と連通する流路を設け、この流路を円筒部が内蔵する流路の一方の円板側の一端部と連通させ、他方の円板の内部に第4貫通孔と連通する流路を設け、この流路を円筒部が内蔵する流路の他方の円板側の他端部と連通させる。そして、外部から、一方の回転軸の貫通孔から流体を供給し、この流体を一方の円板が内蔵する流路を経由して円筒部が内蔵する流路の一端部に供給し、この流路の他端部からこの他端部に接続された、他方の円板が内蔵する流路を経由して他方の回転軸の貫通孔から外部に排出することで、流路に流体を循環させる。   Typically, discs are provided at both ends of the cylindrical portion so as to close the cylindrical portion, and these discs have through-holes that communicate the inside and the outside of the cylindrical portion. Thus, when this processing roller is installed as a film forming roller in a film forming chamber of a film forming apparatus such as a sputtering apparatus or a vacuum vapor deposition apparatus, and the inside of the film forming chamber is evacuated, the pressure inside and outside the cylindrical portion is made equal. Therefore, it is possible to prevent the cylindrical portion from being deformed due to an external force. Although the material which comprises these discs is chosen as needed, it is stainless steel, for example. In order to ensure the symmetry of the weight distribution around the central axis of the processing roller and to allow the processing roller to rotate smoothly, the through-holes in these discs are preferably They are arranged symmetrically around the central axis. Typically, on the outside of each disc, a rotating shaft is mounted on the processing roller and thus on the central axis of the cylinder. The fluid can be supplied to the flow path built in the cylindrical portion as follows, for example. That is, a first through hole that penetrates the rotating shaft and the one disc is provided on the central axis of one rotating shaft, and a first penetrating through the rotating shaft and the other disc is provided on the central axis of the other rotating shaft. Two through-holes are provided, communicated with the first through-hole inside the cylindrical portion, and one end of the first pipe is fixed with airtightness, and the other end of the first pipe is connected to one of the flow paths built in the cylindrical portion. Is connected to the hole provided so as to communicate with the flow path at one end of the disk side, and communicates with the second through-hole inside the cylindrical portion so that one end of the second pipe is airtight. The other end of the second pipe is connected to a hole provided so as to communicate with the other end on the other disk side of the flow path built in the cylindrical portion with airtightness. Then, the fluid is supplied from the outside through the first through hole of one of the rotating shafts, and the fluid is supplied to one end of the flow path built in the cylindrical portion via the first pipe, and the other end of the flow path The fluid is circulated through the flow path by discharging it from the through hole of the other rotating shaft via the second pipe connected to the other end portion from the portion. Alternatively, a third through hole penetrating this rotary shaft is provided on the central axis of one rotary shaft, a fourth through hole penetrating this rotary shaft is provided on the central axis of the other rotary shaft, and one disk Is provided with a flow path communicating with the third through hole, and this flow path is communicated with one end of one of the flow paths contained in the cylindrical portion, and the fourth through hole is formed inside the other disk. And a flow path communicating with the other disk side of the flow path built in the cylindrical portion. Then, a fluid is supplied from the outside through the through hole of one of the rotating shafts, and this fluid is supplied to one end of the flow path built in the cylindrical portion via the flow path built in one disk. The fluid is circulated through the flow path by discharging it from the through hole of the other rotating shaft via the flow path built in the other disk connected to the other end from the other end of the path. .

円筒部の外径および内径、長さ、円筒部が内蔵する流路の断面形状、断面寸法、間隔などは、処理ローラーの使用目的などに応じて適宜選択される。   The outer diameter and inner diameter of the cylindrical portion, the length, the cross-sectional shape of the flow path built in the cylindrical portion, the cross-sectional dimension, the interval, and the like are appropriately selected according to the intended use of the processing roller.

この処理ローラーは、典型的には、ロール・ツー・ロール方式で被処理体上に成膜を行うスパッタリング装置、真空蒸着装置、プラズマCVD(Chemical Vapor Deposition )装置などの各種の成膜装置、さらには、ロール・ツー・ロール方式で、被処理体上に成膜された薄膜のドライエッチング(プラズマエッチングなど)やプラズマによる表面処理を行うドライエッチング装置やプラズマ処理装置などの各種の処理装置(成膜装置を除く)に用いられる。この処理ローラーのうち特に成膜装置において成膜を行う部位に用いられるものを成膜ローラーという。   This processing roller typically includes various film forming apparatuses such as a sputtering apparatus, a vacuum vapor deposition apparatus, and a plasma CVD (Chemical Vapor Deposition) apparatus for forming a film on a target object in a roll-to-roll manner. In a roll-to-roll system, various types of processing equipment (such as dry etching equipment and plasma processing equipment) that perform dry etching (plasma etching, etc.) of thin films formed on the object to be processed and surface treatment with plasma. Used for membrane devices). Among these processing rollers, a roller used for a part where film formation is performed in a film formation apparatus is called a film formation roller.

また、この発明は、
ロール・ツー・ロール方式で処理を行う被処理体が巻き付けられる、流路を内蔵する銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部を少なくとも有効部に有する処理ローラーの製造方法であって、
前記円筒部を平面に展開した時の前記流路と同一の平面形状を有する下部溝とこの下部溝とほぼ相似な平面形状を有し、前記下部溝より大きい上部溝とからなる溝が一方の主面に設けられた、前記円筒部を平面に展開した時の平面形状と同一の長方形または正方形の平面形状を有する第1平板の前記溝の前記上部溝に第2平板を嵌める工程と、
前記第1平板と前記第2平板との境界部を摩擦攪拌接合により接合する工程と、
前記第1平板と前記第2平板との境界部を前記摩擦攪拌接合により接合した前記第1平板と前記第2平板とからなる長方形または正方形の平面形状を有する平板をその一辺に平行な方向に円筒状に丸め、この丸めた板の一端と他端とを接合する工程と、
を有することを特徴とするものである。
In addition, this invention
A method of manufacturing a processing roller having a cylindrical portion made of copper, copper alloy, aluminum, or aluminum alloy containing a flow path around which a workpiece to be processed by a roll-to-roll method is wound, at least in an effective portion,
A groove composed of a lower groove having the same planar shape as the flow path when the cylindrical portion is developed in a plane and a planar shape substantially similar to the lower groove, and an upper groove larger than the lower groove is one of the grooves. A step of fitting a second flat plate into the upper groove of the groove of the first flat plate having the same rectangular or square planar shape as the planar shape when the cylindrical portion is flattened provided on the main surface;
Joining the boundary between the first flat plate and the second flat plate by friction stir welding;
A rectangular or square flat plate composed of the first flat plate and the second flat plate in which the boundary between the first flat plate and the second flat plate is joined by the friction stir welding in a direction parallel to one side thereof. Rounding into a cylindrical shape and joining one end and the other end of the rounded plate;
It is characterized by having.

また、この発明は、
ロール・ツー・ロール方式で処理を行う被処理体が巻き付けられる、流路を内蔵する銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部を少なくとも有効部に有する処理ローラーの製造方法であって、
前記円筒部を平面に展開した時の平面形状と同一の平面形状を有する長方形または正方形の平板をその一辺に平行な方向に円筒状に丸め、この丸めた板の一端と他端とを接合する工程と、
前記丸めた板の一方の端面から他方の端面に達する貫通孔を前記丸めた板の中心軸に平行にかつ前記丸めた板の円周方向の等間隔の複数箇所に形成することにより前記流路を形成する工程と、
を有することを特徴とするものである。
In addition, this invention
A method of manufacturing a processing roller having a cylindrical portion made of copper, copper alloy, aluminum, or aluminum alloy containing a flow path around which a workpiece to be processed by a roll-to-roll method is wound, at least in an effective portion,
A rectangular or square flat plate having the same planar shape as the planar shape when the cylindrical portion is developed in a plane is rounded into a cylindrical shape in a direction parallel to one side, and one end and the other end of the rounded plate are joined. Process,
The flow path is formed by forming through holes reaching from one end face of the rounded plate to the other end face in parallel to the central axis of the rounded plate and at equal intervals in the circumferential direction of the rounded plate. Forming a step;
It is characterized by having.

第1平板および第2平板は、円筒部を構成する銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金と同一の材料からなるものが用いられる。これらの処理ローラーの製造方法の発明においては、前記以外のことについては、その性質に反しない限り、前記の処理ローラーの発明に関連して説明したことが成立する。   The first flat plate and the second flat plate are made of the same material as copper, copper alloy, aluminum, or aluminum alloy constituting the cylindrical portion. In the invention of the manufacturing method of these processing rollers, what has been described in relation to the invention of the processing roller is valid as long as it is not contrary to its properties.

また、この発明は、
ロール・ツー・ロール方式で処理を行う被処理体が巻き付けられる処理ローラーを有する処理装置であって、
前記処理ローラーが流路を内蔵する銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部を少なくとも有効部に有することを特徴とするものである。
In addition, this invention
A processing apparatus having a processing roller around which a workpiece to be processed in a roll-to-roll system is wound,
The processing roller has at least an effective portion having a cylindrical portion made of copper, copper alloy, aluminum, or aluminum alloy with a built-in flow path.

この処理装置には、ロール・ツー・ロール方式で被処理体上に成膜を行うスパッタリング装置、真空蒸着装置、プラズマCVD装置などの成膜装置や、ロール・ツー・ロール方式で、被処理体上に成膜された薄膜のドライエッチング(プラズマエッチングなど)やプラズマによる表面処理を行うドライエッチング装置やプラズマ処理装置などの各種の処理装置(成膜装置を除く)が含まれる。この処理装置の発明においては、その性質に反しない限り、前記の処理ローラーの発明に関連して説明したことが成立する。   This processing apparatus includes film forming apparatuses such as a sputtering apparatus, a vacuum evaporation apparatus, and a plasma CVD apparatus for forming a film on a target object by a roll-to-roll method, and a target object by a roll-to-roll method. Various processing apparatuses (except for a film forming apparatus) such as a dry etching apparatus or a plasma processing apparatus for performing dry etching (plasma etching or the like) of a thin film formed thereon or surface treatment with plasma are included. In the invention of the processing apparatus, what has been described in relation to the invention of the processing roller is valid as long as it is not contrary to the nature of the processing apparatus.

特に前記の成膜装置がスパッタリング装置である場合、このスパッタリング装置は、好適には、横断面形状が互いに対向する一対の長辺部を有する管状の形状を有し、エロージョン面が内側を向いているスパッタリングターゲットを有するスパッタリングカソードを成膜室内に有する。このようにスパッタリングカソードのスパッタリングターゲットが横断面形状が互いに対向する一対の長辺部を有する管状の形状、すなわち四方が囲まれた形状を有し、エロージョン面が内側を向いていることにより、スパッタリング装置にこのスパッタリングカソードを取り付けて放電を行ったとき、スパッタリングターゲットのエロージョン面側にスパッタリングターゲットの内面を周回するプラズマを発生させることができる。このため、プラズマ密度を高くすることができることにより、成膜速度を十分に高くすることができる。また、プラズマが多く生成される場所はスパッタリングターゲットの表面近傍に限定されるため、プラズマから発光する光がフィルムに照射されることにより損傷が生じるおそれを最小限にすることができる。典型的には、スパッタリングターゲットの互いに対向する一対の長辺部の間の距離は、スパッタリングカソードをスパッタリング装置に取り付けて使用するときに、スパッタリングターゲットの上方の空間に向かうスパッタ粒子の数を十分に確保するとともに、スパッタリングターゲットの表面近傍に発生するプラズマから発生する光がスパッタリングターゲットの上方の空間を搬送される被処理体に照射されるのを防止する観点より、好適には、50mm以上150mm以下であり、より好適には、60mm以上100mm以下、最も好適には70mm以上90mm以下である。また、スパッタリングターゲットの一対の長辺部の間の距離に対する長辺部の長さの比は典型的には2以上、好適には5以上である。この比の上限は特に存在しないが、一般的には40以下である。スパッタリングターゲットの一対の長辺部は、典型的には互いに平行であるが、これに限定されるものではなく、互いに傾斜してもよい。スパッタリングターゲットの横断面形状は、典型的には、一対の長辺部が互いに平行であり、これらの長辺部に垂直な互いに対向する一対の短辺部を有する。この場合、スパッタリングターゲットは、横断面形状が矩形の角管状の形状を有する。スパッタリングターゲットの横断面形状は、例えば、長辺部に平行な方向の両端部が外側に向かって凸の互いに対向する一対の曲面部(例えば、半円形部)からなるものであってもよい。横断面形状が矩形の角管状の形状を有するスパッタリングターゲットは、典型的には、一対の長辺部を構成する第1平板および第2平板と、長辺部に垂直な互いに対向する一対の短辺部を構成する第3平板および第4平板とからなる。この場合、これらの第1平板〜第4平板を別々に作製し、これらを角管状に配置することによりスパッタリングターゲットを組み立てることができる。一対の長辺部を構成する第1平板および第2平板は、一般的には、成膜を行う材料と同じ組成の材料により構成されるが、互いに異なる材料により構成されたものであってもよい。例えば、第1平板を材料Aにより構成し、第2平板を材料Bにより構成し、第1平板からのスパッタ粒子束と第2平板からのスパッタ粒子束とをフィルムに入射させることにより、AとBとからなる薄膜を成膜することができ、必要に応じて材料A、Bとして二元以上の材料を用いることにより、多元系材料からなる薄膜を成膜することができる。より具体的には、例えば、第1平板を単一元素からなる金属M1 により構成し、第2平板を単一元素からなる金属M2 により構成することにより、M1 とM2 とからなる二元合金薄膜を成膜することが可能である。これは、真空蒸着法における二元蒸着法と同様な成膜法をスパッタリング装置で実現することができることを意味する。 In particular, when the film forming apparatus is a sputtering apparatus, this sputtering apparatus preferably has a tubular shape having a pair of long sides whose cross-sectional shapes face each other, and the erosion surface faces inward. A sputtering cathode having a sputtering target is provided in the deposition chamber. As described above, the sputtering target of the sputtering cathode has a tubular shape having a pair of long sides whose cross-sectional shapes face each other, that is, a shape surrounded by four sides, and the erosion surface faces inward, so that sputtering is performed. When this sputtering cathode is attached to the apparatus and discharge is performed, plasma circulating around the inner surface of the sputtering target can be generated on the erosion surface side of the sputtering target. For this reason, since the plasma density can be increased, the deposition rate can be sufficiently increased. In addition, since a place where a large amount of plasma is generated is limited to the vicinity of the surface of the sputtering target, it is possible to minimize the possibility of damage caused by irradiating the film with light emitted from the plasma. Typically, the distance between a pair of opposing long sides of the sputtering target is sufficient to allow the number of sputtered particles toward the space above the sputtering target to be sufficient when the sputtering cathode is attached to a sputtering apparatus. From the viewpoint of ensuring that the light generated from the plasma generated in the vicinity of the surface of the sputtering target is prevented from being irradiated to the object to be processed that is transported in the space above the sputtering target, it is preferably 50 mm or more and 150 mm or less. More preferably, it is 60 mm or more and 100 mm or less, and most preferably 70 mm or more and 90 mm or less. The ratio of the length of the long side portion to the distance between the pair of long side portions of the sputtering target is typically 2 or more, preferably 5 or more. Although there is no particular upper limit for this ratio, it is generally 40 or less. The pair of long side portions of the sputtering target are typically parallel to each other, but are not limited to this, and may be inclined with respect to each other. The cross-sectional shape of the sputtering target typically has a pair of long sides that are parallel to each other and a pair of short sides that are perpendicular to these long sides. In this case, the sputtering target has a rectangular tubular shape with a rectangular cross section. The cross-sectional shape of the sputtering target may be composed of, for example, a pair of curved parts (for example, semicircular parts) facing each other whose both ends in the direction parallel to the long side part are convex outward. A sputtering target having a rectangular tubular shape with a rectangular cross-section typically has a pair of short plates that are perpendicular to the long side portion and the first and second flat plates constituting the pair of long side portions. It consists of a 3rd flat plate and a 4th flat plate which comprise a side part. In this case, it is possible to assemble the sputtering target by separately preparing the first flat plate to the fourth flat plate and arranging them in a square tube shape. The first flat plate and the second flat plate constituting the pair of long sides are generally made of a material having the same composition as the material for film formation, but may be made of different materials. Good. For example, the first flat plate is made of the material A, the second flat plate is made of the material B, and the sputtered particle bundle from the first flat plate and the sputtered particle bundle from the second flat plate are incident on the film. A thin film made of B can be formed, and a thin film made of a multi-component material can be formed by using two or more materials as materials A and B as required. More specifically, for example, the first flat plate is made of a metal M 1 made of a single element, and the second flat plate is made of a metal M 2 made of a single element, thereby forming M 1 and M 2. It is possible to form a binary alloy thin film. This means that a film formation method similar to the binary evaporation method in the vacuum evaporation method can be realized by the sputtering apparatus.

一般的には、スパッタリングターゲットの一対の長辺部以外の部分からのスパッタ粒子束は成膜に積極的に使用しないが、意図しない元素の混入を防止するため、典型的には、スパッタリングターゲットの一対の長辺部以外の部分は長辺部と同種の材料により構成される。しかしながら、スパッタリングターゲットの一対の長辺部以外の部分からのスパッタ粒子束を成膜に積極的に使用する場合には、スパッタリングターゲットの一対の長辺部以外の部分は一対の長辺部と異なる材料により構成されることもある。   In general, sputtered particle bundles from portions other than the pair of long sides of the sputtering target are not actively used for film formation, but in order to prevent unintentional mixing of elements, The portions other than the pair of long side portions are made of the same material as the long side portions. However, when the sputtered particle bundle from portions other than the pair of long side portions of the sputtering target is actively used for film formation, the portions other than the pair of long side portions of the sputtering target are different from the pair of long side portions. It may be composed of materials.

また、この発明は、
流路を内蔵する銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部を有するバッキングプレートである。
In addition, this invention
It is a backing plate having a cylindrical portion made of copper, copper alloy, aluminum or aluminum alloy containing a flow path.

このバッキングプレートの発明においては、その性質に反しない限り、前記の処理ローラーの発明に関連して説明したことが成立する。   In the invention of the backing plate, what has been described in relation to the invention of the processing roller is valid as long as it is not contrary to the nature of the backing plate.

また、この発明は、
流路を内蔵する銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部を有するバッキングプレートの製造方法であって、
前記円筒部を平面に展開した時の前記流路と同一の平面形状を有する下部溝とこの下部溝とほぼ相似な平面形状を有し、前記下部溝より大きい上部溝とからなる溝が一方の主面に設けられた、前記円筒部を平面に展開した時の平面形状と同一の長方形または正方形の平面形状を有する第1平板の前記溝の前記上部溝に第2平板を嵌める工程と、
前記第1平板と前記第2平板との境界部を摩擦攪拌接合により接合する工程と、
前記第1平板と前記第2平板との境界部を前記摩擦攪拌接合により接合した前記第1平板と前記第2平板とからなる長方形または正方形の平面形状を有する平板をその一辺に平行な方向に円筒状に丸め、この丸めた板の一端と他端とを接合する工程と、
を有することを特徴とするものである。
In addition, this invention
A method of manufacturing a backing plate having a cylindrical portion made of copper, copper alloy, aluminum or aluminum alloy containing a flow path,
A groove composed of a lower groove having the same planar shape as the flow path when the cylindrical portion is developed in a plane and a planar shape substantially similar to the lower groove, and an upper groove larger than the lower groove is one of the grooves. A step of fitting a second flat plate into the upper groove of the groove of the first flat plate having the same rectangular or square planar shape as the planar shape when the cylindrical portion is flattened provided on the main surface;
Joining the boundary between the first flat plate and the second flat plate by friction stir welding;
A rectangular or square flat plate composed of the first flat plate and the second flat plate in which the boundary between the first flat plate and the second flat plate is joined by the friction stir welding in a direction parallel to one side thereof. Rounding into a cylindrical shape and joining one end and the other end of the rounded plate;
It is characterized by having.

また、この発明は、
流路を内蔵する銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部を有するバッキングプレートの製造方法であって、
前記円筒部を平面に展開した時の平面形状と同一の長方形または正方形の平面形状を有する平板をその一辺に平行な方向に円筒状に丸め、この丸めた板の一端と他端とを接合する工程と、
前記丸めた板の一方の端面から他方の端面に達する貫通孔を前記丸めた板の中心軸に平行にかつ前記丸めた板の円周方向の等間隔の複数箇所に形成することにより前記流路を形成する工程と、
を有することを特徴とするものである。
In addition, this invention
A method of manufacturing a backing plate having a cylindrical portion made of copper, copper alloy, aluminum or aluminum alloy containing a flow path,
A flat plate having the same rectangular or square planar shape as the planar shape when the cylindrical portion is developed in a plane is rounded into a cylindrical shape in a direction parallel to one side, and one end and the other end of the rounded plate are joined. Process,
The flow path is formed by forming through holes reaching from one end face of the rounded plate to the other end face in parallel to the central axis of the rounded plate and at equal intervals in the circumferential direction of the rounded plate. Forming a step;
It is characterized by having.

これらのバッキングプレートの製造方法の発明においては、その性質に反しない限り、前記の処理ローラーの製造方法の発明に関連して説明したことが成立する。   In the invention of the manufacturing method of these backing plates, what has been described in relation to the invention of the manufacturing method of the processing roller is valid as long as it is not contrary to the nature.

この発明によれば、処理ローラーの円筒部が熱伝導性に優れた銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなるので、円筒部が内蔵する流路に例えば冷却水または温水を流すことにより、円筒部を迅速かつ効率的に冷却または加熱することができるとともに、非特許文献1に記載された従来の成膜ローラーのように、真空中でビア樽形に変形してしまう問題が発生しない。このため、スパッタリング装置などの成膜装置においてロール・ツー・ロール方式でフィルムなどの被処理体上に成膜を行ったり、ドライエッチング装置やプラズマ処理装置などにおいてフィルムなどの被処理体上に成膜された薄膜のエッチングやプラズマによる表面処理などを行ったり、フィルムなどの被処理体の冷却を行ったりする場合にその被処理体の表面を平坦に維持しながら円滑に搬送することができる。また、熱伝導性に優れた銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部は熱応答性が良好であるので、流路に流す例えば冷却水または温水の温度や流量などにより温度を迅速かつ正確に制御することができ、ひいては円筒部に巻き付けられる被処理体の温度を迅速かつ正確に制御することができる。また、この発明のバッキングプレートによれば、円筒状のスパッタリングターゲットなどの円筒状体に接触させて用いることにより、円筒状体の温度を迅速かつ正確に制御することができる。   According to the present invention, since the cylindrical portion of the processing roller is made of copper, copper alloy, aluminum, or aluminum alloy having excellent thermal conductivity, for example, by flowing cooling water or hot water into the flow path built in the cylindrical portion, the cylinder The part can be cooled or heated quickly and efficiently, and there is no problem of being deformed into a via barrel shape in a vacuum unlike the conventional film forming roller described in Non-Patent Document 1. For this reason, a film is formed on a target object such as a film by a roll-to-roll method in a film forming apparatus such as a sputtering apparatus, or is formed on a target object such as a film in a dry etching apparatus or a plasma processing apparatus. When etching a thin film formed, surface treatment with plasma, or cooling a target object such as a film, the surface of the target object can be smoothly transported while being maintained flat. In addition, since the cylindrical portion made of copper, copper alloy, aluminum or aluminum alloy having excellent thermal conductivity has good thermal responsiveness, the temperature can be quickly and quickly adjusted by the temperature or flow rate of cooling water or hot water flowing through the flow path. It is possible to accurately control the temperature of the object to be processed that is wound around the cylindrical portion quickly and accurately. Further, according to the backing plate of the present invention, the temperature of the cylindrical body can be controlled quickly and accurately by using it in contact with a cylindrical body such as a cylindrical sputtering target.

この発明の第1の実施の形態による処理ローラーを示す正面図、左側面図、右側面図および縦断面図である。It is the front view which shows the processing roller by 1st Embodiment of this invention, the left view, the right view, and a longitudinal cross-sectional view. この発明の第1の実施の形態による処理ローラーの円筒部を平面に展開した状態を示す平面図および断面図である。It is the top view and sectional drawing which show the state which expand | deployed the cylindrical part of the processing roller by 1st Embodiment of this invention on the plane. この発明の第1の実施の形態による処理ローラーの製造方法を説明するための平面図および断面図である。It is the top view and sectional drawing for demonstrating the manufacturing method of the processing roller by 1st Embodiment of this invention. この発明の第1の実施の形態による処理ローラーの製造方法を説明するための平面図および断面図である。It is the top view and sectional drawing for demonstrating the manufacturing method of the processing roller by 1st Embodiment of this invention. この発明の第1の実施の形態による処理ローラーの製造方法を説明するための平面図および断面図である。It is the top view and sectional drawing for demonstrating the manufacturing method of the processing roller by 1st Embodiment of this invention. この発明の第2の実施の形態によるスパッタリング装置を示す略線図である。It is an approximate line figure showing the sputtering device by a 2nd embodiment of this invention. この発明の第2の実施の形態によるスパッタリング装置を示す略線図である。It is an approximate line figure showing the sputtering device by a 2nd embodiment of this invention. この発明の第2の実施の形態によるスパッタリング装置のスパッタリングカソードを示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the sputtering cathode of the sputtering device by 2nd Embodiment of this invention. この発明の第2の実施の形態によるスパッタリング装置のスパッタリングカソードを示す平面図である。It is a top view which shows the sputtering cathode of the sputtering device by the 2nd Embodiment of this invention. この発明の第2の実施の形態によるスパッタリング装置においてスパッタリングターゲットの表面近傍にプラズマが発生した状態を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the state which the plasma generate | occur | produced in the surface vicinity of the sputtering target in the sputtering device by the 2nd Embodiment of this invention. この発明の第2の実施の形態によるスパッタリング装置においてスパッタリングターゲットの表面近傍にプラズマが発生した状態を示す平面図である。It is a top view which shows the state which the plasma generate | occur | produced in the surface vicinity of the sputtering target in the sputtering device by the 2nd Embodiment of this invention. この発明の第2の実施の形態によるスパッタリング装置によりフィルム上に薄膜を成膜する方法を示す縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view which shows the method of forming a thin film on a film with the sputtering device by 2nd Embodiment of this invention. この発明の第2の実施の形態によるスパッタリング装置のスパッタリングカソードおよびアノードの具体的構成例を示す平面図である。It is a top view which shows the specific structural example of the sputtering cathode and anode of the sputtering device by the 2nd Embodiment of this invention. この発明の第3の実施の形態によるスパッタリング装置のスパッタリングカソードを示す平面図である。It is a top view which shows the sputtering cathode of the sputtering device by 3rd Embodiment of this invention.

以下、発明を実施するための形態(以下、「実施の形態」という)について図面を参照しながら説明する。   Hereinafter, modes for carrying out the invention (hereinafter referred to as “embodiments”) will be described with reference to the drawings.

〈第1の実施の形態〉
[処理ローラー]
図1A、B、CおよびDは第1の実施の形態による処理ローラーを示し、図1Aは正面図、図1Bは左側面図、図1Cは右側面図、図1Dは縦断面図である。
<First Embodiment>
[Processing roller]
1A, B, C and D show a processing roller according to the first embodiment, FIG. 1A is a front view, FIG. 1B is a left side view, FIG. 1C is a right side view, and FIG.

図1A、B、CおよびDに示すように、この処理ローラーは、円筒部10と、この円筒部10の両端にこの円筒部10を閉塞するように設けられた円板20、30と、これらの円板20、30の外側にこの処理ローラー、従って円筒部10の中心軸上に設けられた回転軸40とを有する。   As shown in FIGS. 1A, B, C, and D, the processing roller includes a cylindrical portion 10 and discs 20 and 30 provided at both ends of the cylindrical portion 10 so as to close the cylindrical portion 10, and these The processing rollers, and therefore the rotating shaft 40 provided on the central axis of the cylindrical portion 10 are provided outside the discs 20 and 30.

円筒部10は、この円筒部10の中心軸に平行な長方形の横断面形状の流路11を内蔵している。すなわち、円筒部10に流路11が埋設されている。図2AおよびBはこの円筒部10を平面に展開した状態の平面図を示す。図2AおよびBに示すように、この例では、円筒部10を平面に展開した時の形状は長方形であり、流路11は、この長方形の長辺に平行に延在する直線部11aとこの直線部11aに対して垂直に折れ曲がった折り返し部11bとが交互に設けられ、ジグザグ状に折れ曲がった形状を有する。流路11の一端には冷却水などの流体の入口となる穴12が設けられ、他端には流体の出口となる穴13が設けられている。円筒部10は銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなり、好適には、これらの材料の中で熱伝導率が最も高い無酸素銅からなる。無酸素銅は、例えばステンレス鋼(SUS304)と比べて熱伝導率が約23倍も高い。図示は省略するが、円筒部10の少なくとも外周面、典型的には外周面および内周面に硬質クロムメッキが施されている。この硬質クロムメッキ層は、厚すぎると円筒部10の熱伝導性を低下させ、薄すぎると円筒部10の表面硬化の効果が少ないことから、この硬質クロムメッキ層の厚さは一般には20μm以上40μm以下に選ばれ、例えば30μmに選ばれる。この硬質クロムメッキ層の硬度は、例えば、ビッカース硬度で500以上とすることができる。必要に応じて、この硬質クロムメッキ層の表面は研磨により平坦化され、それによって表面粗さRa を例えば10nm程度と極めて小さくすることができる。 The cylindrical portion 10 incorporates a rectangular cross-sectional flow path 11 parallel to the central axis of the cylindrical portion 10. That is, the flow path 11 is embedded in the cylindrical portion 10. 2A and 2B are plan views showing a state in which the cylindrical portion 10 is developed on a plane. As shown in FIGS. 2A and 2B, in this example, when the cylindrical portion 10 is expanded in a plane, the shape is a rectangle, and the flow path 11 includes a straight portion 11a extending in parallel with the long side of the rectangle and the linear portion 11a. Folded portions 11b that are bent perpendicular to the straight portions 11a are alternately provided, and have a shape that is bent in a zigzag shape. A hole 12 serving as an inlet for fluid such as cooling water is provided at one end of the flow path 11, and a hole 13 serving as an outlet for fluid is provided at the other end. The cylindrical portion 10 is made of copper, a copper alloy, aluminum, or an aluminum alloy, and is preferably made of oxygen-free copper having the highest thermal conductivity among these materials. Oxygen-free copper has a thermal conductivity about 23 times higher than that of, for example, stainless steel (SUS304). Although illustration is omitted, hard chrome plating is applied to at least the outer peripheral surface, typically the outer peripheral surface and the inner peripheral surface of the cylindrical portion 10. If the hard chrome plating layer is too thick, the thermal conductivity of the cylindrical portion 10 is reduced. If the hard chrome plating layer is too thin, the effect of surface hardening of the cylindrical portion 10 is small. Therefore, the thickness of the hard chrome plating layer is generally 20 μm or more. It is selected to be 40 μm or less, for example, 30 μm. The hardness of the hard chrome plating layer can be, for example, 500 or more in terms of Vickers hardness. If necessary, the surface of the hard chrome plating layer is planarized by polishing, thereby extremely small, for example between 10nm about surface roughness R a.

円板20、30は円筒部10の両端面にボルト締め、溶接などにより固定されている。円板20には、中心軸の周りに90°間隔で合計4つの円形の貫通孔21〜24が設けられている。同様に、円板30には、円板20の貫通孔21〜24に対応する位置に、中心軸の周りに90°間隔で合計4つの円形の貫通孔31〜34が設けられている。これらの貫通孔21〜24、31〜34は、この処理ローラーを例えばスパッタリング装置や真空蒸着装置などの成膜室内に成膜ローラーとして設置し、成膜室内を真空排気した時に円筒部10の内外の圧力差をなくすことで、円筒部10および円板20、30に圧力差による外力が加わらないようにするためのものである。これらの貫通孔21〜24、31〜34の直径は、円板20、30の機械的強度を確保することができる範囲で必要に応じて選ばれる。円板20、30は、例えば、ステンレス鋼などにより構成される。   The discs 20 and 30 are fixed to both end surfaces of the cylindrical portion 10 by bolting, welding, or the like. The circular plate 20 is provided with a total of four circular through holes 21 to 24 at 90 ° intervals around the central axis. Similarly, the disc 30 is provided with a total of four circular through holes 31 to 34 at intervals of 90 ° around the central axis at positions corresponding to the through holes 21 to 24 of the disc 20. These through holes 21 to 24 and 31 to 34 are arranged inside and outside the cylindrical portion 10 when the processing roller is installed as a film forming roller in a film forming chamber such as a sputtering apparatus or a vacuum evaporation apparatus and the film forming chamber is evacuated. This is to prevent external force due to the pressure difference from being applied to the cylindrical portion 10 and the discs 20 and 30. The diameters of these through holes 21 to 24 and 31 to 34 are selected as necessary as long as the mechanical strength of the disks 20 and 30 can be secured. The discs 20 and 30 are made of, for example, stainless steel.

円板20に固定された回転軸40の中心軸上には横断面形状が円形の貫通孔41が設けられている。貫通孔41は、回転軸40の先端から途中の深さまでの直径d1 の部分41aとそこから円板20までの部分のd1 より小さい直径d2 の部分41bとからなる。円板20には、回転軸40の中心軸上にこの部分41bと連通する貫通孔25が設けられている。この貫通孔25と連通して配管51の一端が気密性を持って固定されている。この配管51の他端は、流路11の円板20側の一端部に設けられた穴12に気密性を持って接続されている。同様に、円板30に固定された回転軸40の中心軸上には横断面形状が円形の貫通孔42が設けられている。貫通孔42は、回転軸40の先端から途中の深さまでの直径d1 の部分42aとそこから円板30までの部分のd1 より小さい直径d2 の部分42bとからなる。円板20にはこの部分42bと連通する貫通孔26が設けられている。この貫通孔26と連通して配管52の一端が気密性を持って固定されている。この配管52の他端は、流路11の円板30側の一端部に設けられた穴13に気密性を持って接続されている。これらの配管50、51としては、好適には、フレキシブルな金属配管、例えば蛇腹管が用いられる。流体は、図示省略した流体循環機構により、例えば、円板20に固定された回転軸40の貫通孔41から供給され、配管51を経由して円筒部10の穴12から流路11に入り、この流路11を通って穴13から出て、配管52を経由して、円板30に固定された回転軸40の貫通孔42から出て行き、この経路で循環するようになっている。 A through hole 41 having a circular cross section is provided on the central axis of the rotating shaft 40 fixed to the disk 20. The through-hole 41 includes a portion 41 a having a diameter d 1 from the tip of the rotating shaft 40 to a midway depth and a portion 41 b having a diameter d 2 smaller than d 1 from the portion to the disk 20. The disc 20 is provided with a through hole 25 communicating with the portion 41 b on the central axis of the rotating shaft 40. One end of the pipe 51 communicates with the through hole 25 and is fixed with airtightness. The other end of the pipe 51 is connected to a hole 12 provided at one end of the flow path 11 on the disk 20 side with airtightness. Similarly, a through hole 42 having a circular cross-sectional shape is provided on the central axis of the rotating shaft 40 fixed to the disc 30. The through hole 42 includes a portion 42 a having a diameter d 1 from the tip of the rotating shaft 40 to a midway depth and a portion 42 b having a diameter d 2 smaller than d 1 from the portion to the disk 30. The disc 20 is provided with a through hole 26 communicating with the portion 42b. One end of the pipe 52 communicates with the through hole 26 and is fixed with airtightness. The other end of the pipe 52 is connected to a hole 13 provided at one end of the flow path 11 on the disc 30 side with airtightness. As these piping 50 and 51, a flexible metal piping, for example, a bellows tube, is preferably used. The fluid is supplied from, for example, a through hole 41 of the rotating shaft 40 fixed to the disk 20 by a fluid circulation mechanism (not shown), enters the flow path 11 from the hole 12 of the cylindrical portion 10 via the pipe 51, It goes out of the hole 13 through this flow path 11, goes out of the through hole 42 of the rotating shaft 40 fixed to the disk 30 via the pipe 52, and circulates in this path.

この処理ローラーの各部の寸法は必要に応じて選ばれるが、一例を挙げると、全長が500mm、直径が400mm、円筒部10の厚さが10mm、流路11の断面は35mm×5mm、流路11の間隔は15mmである。   The dimensions of each part of this processing roller are selected as necessary. For example, the overall length is 500 mm, the diameter is 400 mm, the thickness of the cylindrical part 10 is 10 mm, the cross section of the flow path 11 is 35 mm × 5 mm, the flow path The interval of 11 is 15 mm.

[処理ローラーの製造方法]
図3AおよびBに示すように、図2に示す円筒部10の展開図に示すものと同様な平面形状を有する長方形の平板60を用意する。ここで、図3Aは平面図、図3Bは図3AのB−B線に沿っての断面図である。この平板60の厚さは円筒部10の厚さと同一である。この平板60の一方の主面に、段差の付いた横断面形状を有する溝61が設けられている。この溝61の下部溝61aは、円筒部10を平面に展開した時の流路11と同じ平面形状および同じ深さを有する。この溝61の上部溝61bは下部溝61aと相似で一回り大きい平面形状を有する。
[Processing roller manufacturing method]
As shown in FIGS. 3A and 3B, a rectangular flat plate 60 having a planar shape similar to that shown in the developed view of the cylindrical portion 10 shown in FIG. 2 is prepared. Here, FIG. 3A is a plan view, and FIG. 3B is a cross-sectional view taken along line BB of FIG. 3A. The thickness of the flat plate 60 is the same as the thickness of the cylindrical portion 10. A groove 61 having a cross-sectional shape with a step is provided on one main surface of the flat plate 60. The lower groove 61a of the groove 61 has the same planar shape and the same depth as the flow path 11 when the cylindrical portion 10 is developed in a plane. The upper groove 61b of the groove 61 is similar to the lower groove 61a and has a planar shape that is slightly larger.

次に、図4AおよびBに示すように、平板60の溝61の上部溝61bと同一の平面形状および上部溝61bの深さと同一の厚さを有する平板70を用意する。ここで、図4Aは平面図、図4Bは図4AのB−B線に沿っての断面図である。この平板70には、溝61の下部溝61aの一端部の底部に穴12が設けられ、他端部の底部に穴13が設けられている。   Next, as shown in FIGS. 4A and 4B, a flat plate 70 having the same planar shape as the upper groove 61b of the groove 61 of the flat plate 60 and the same thickness as the depth of the upper groove 61b is prepared. Here, FIG. 4A is a plan view, and FIG. 4B is a cross-sectional view taken along line BB in FIG. 4A. In the flat plate 70, a hole 12 is provided at the bottom of one end of the lower groove 61a of the groove 61, and a hole 13 is provided at the bottom of the other end.

次に、図5AおよびBに示すように、平板60の溝61の上部溝61bに平板70を嵌める。ここで、図5Aは平面図、図5Bは図5AのB−B線に沿っての断面図である。   Next, as shown in FIGS. 5A and 5B, the flat plate 70 is fitted into the upper groove 61 b of the groove 61 of the flat plate 60. Here, FIG. 5A is a plan view, and FIG. 5B is a cross-sectional view taken along line BB of FIG. 5A.

次に、図5AおよびBに示す平板60と平板70との間の境界部(直線部および折り返し部)を摩擦攪拌接合により接合する。こうして、平板60と平板70との間に、流路11となる、溝61の下部溝61aが設けられた長方形の平板80が得られる。   Next, the boundary portion (the straight portion and the folded portion) between the flat plate 60 and the flat plate 70 shown in FIGS. 5A and 5B is joined by friction stir welding. In this way, a rectangular flat plate 80 provided with the lower groove 61 a of the groove 61 that becomes the flow path 11 between the flat plate 60 and the flat plate 70 is obtained.

次に、この平板80を摩擦攪拌接合が行われた側の表面が外側になるように長手方向に円筒状に丸め、この円筒状に丸めた板の一方の短辺と他方の短辺とを突き合わせ、摩擦攪拌接合により接合する。こうして、平板60の溝61の下部溝61aからなる流路11を内蔵する円筒部10が製造される。   Next, the flat plate 80 is rounded into a cylindrical shape in the longitudinal direction so that the surface on which the friction stir welding is performed is on the outside, and one short side and the other short side of the rounded plate are Butt and join by friction stir welding. In this way, the cylindrical portion 10 containing the flow path 11 composed of the lower groove 61a of the groove 61 of the flat plate 60 is manufactured.

この後、円筒部10の両端に円板20、30および回転軸40を固定する。   Thereafter, the disks 20 and 30 and the rotating shaft 40 are fixed to both ends of the cylindrical portion 10.

以上により、図1に示す目的とする処理ローラーが製造される。   Thus, the target processing roller shown in FIG. 1 is manufactured.

以上のように、この第1の実施の形態によれば、処理ローラーの円筒部10が熱伝導性に優れた銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなるので、円筒部10が内蔵する流路11に冷却水や温水などの流体を流すことにより、成膜あるいはエッチングなどの処理を行うフィルムなどの被処理体が巻き付けられる円筒部10を迅速かつ効率的に冷却または加熱することができるとともに、非特許文献1に示す成膜ローラーのように真空中でビア樽形に変形してしまう問題が発生しない。このため、例えば、スパッタリング装置などの成膜装置においてロール・ツー・ロール方式でフィルム上に成膜を行う場合あるいはドライエッチング装置やプラズマ処理装置などにおいてロール・ツー・ロール方式で、フィルム上に成膜された薄膜のエッチングやプラズマによる表面処理などを行う場合にフィルムの表面を平坦に維持しながら円滑に搬送することができる。また、熱伝導性に優れた銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部10は熱応答性が良好であるので、流路11に流す冷却水や温水などの流体の温度や流量などにより温度を迅速かつ正確に制御することができ、ひいては円筒部10に巻き付けられる被処理体の温度を迅速かつ正確に制御することができ、成膜、エッチング、プラズマによる表面処理などの各種の処理を良好に行うことができる。   As described above, according to the first embodiment, the cylindrical portion 10 of the processing roller is made of copper, copper alloy, aluminum, or aluminum alloy having excellent thermal conductivity. 11, by flowing a fluid such as cooling water or hot water, the cylindrical portion 10 around which a target object such as a film for film formation or etching is wound can be quickly or efficiently cooled or heated. The problem of being deformed into a via barrel shape in a vacuum like the film forming roller shown in Non-Patent Document 1 does not occur. For this reason, for example, when a film is formed on a film by a roll-to-roll method in a film forming apparatus such as a sputtering apparatus, or on a film by a roll-to-roll method in a dry etching apparatus or a plasma processing apparatus. In the case of performing etching of the formed thin film or surface treatment with plasma, the film can be smoothly conveyed while maintaining the surface of the film flat. In addition, the cylindrical portion 10 made of copper, copper alloy, aluminum, or aluminum alloy having excellent thermal conductivity has good thermal responsiveness. Therefore, depending on the temperature or flow rate of a fluid such as cooling water or hot water flowing through the flow path 11, etc. The temperature can be controlled quickly and accurately. As a result, the temperature of the object wound around the cylindrical portion 10 can be quickly and accurately controlled, and various processes such as film formation, etching, and surface treatment by plasma can be performed. It can be done well.

〈第2の実施の形態〉
[スパッタリング装置]
図6および図7は第2の実施の形態によるスパッタリング装置を示す。ここで、図6はこのスパッタリング装置の真空容器の内部を成膜ローラーに平行な方向から見た略線図、図7はこのスパッタリング装置の真空容器の内部を成膜ローラーに垂直な方向から見た略線図である。
<Second Embodiment>
[Sputtering equipment]
6 and 7 show a sputtering apparatus according to the second embodiment. Here, FIG. 6 is a schematic diagram of the inside of the vacuum container of this sputtering apparatus viewed from a direction parallel to the film forming roller, and FIG. 7 is a view of the inside of the vacuum container of this sputtering apparatus viewed from the direction perpendicular to the film forming roller. FIG.

図6および図7に示すように、このスパッタリング装置は、真空容器90の内部が仕切り板91により上下に仕切られている。真空容器90の内部の仕切り板91の下側の空間は成膜室C1 、上側の空間はフィルム搬送室C2 である。成膜室C1 の内部に、第1の実施の形態による処理ローラーからなる成膜ローラーR1 が水平に設置されている。成膜ローラーR1 の円筒部10の両端の回転軸40の両端部は、成膜室C1 の両側壁に固定された支持板92、93に設けられた円形の穴および成膜室C1 の両側壁に設けられた円形の穴を通され、これらの穴により回転自在に支持されている。成膜室C1 の内壁には、例えば3個のスパッタリングカソードK1 、K2 、K3 が設置されている。このうちスパッタリングカソードK1 は成膜室C1 の底部に絶縁部材94を介して設置され、真空容器90と電気的に絶縁されている。スパッタリングカソードK2 、K3 は成膜室C1 の互いに対向する側壁にそれぞれ絶縁部材94を介して設置されている。成膜ローラーR1 の円筒部10の周囲には、フィルム上に成膜を行う際に、スパッタリングカソードK1 、K2 、K3 から発生し、フィルムに入射するスパッタリング粒子束を制限するための遮蔽板95が設けられている。一方、フィルム搬送室C2 には、巻き出し/巻き取り用のローラーR2 、R3 および搬送ローラー(あるいはガイドローラー)R4 、R5 、R6 、R7 が設置されている。巻き出し/巻き取り用のローラーR2 、R3 の軸(図7にはローラーR3 の軸S3 のみ図示されている)は、成膜室C1 の両側壁に固定された支持板92、93に設けられた円形の穴および成膜室C1 の両側壁に設けられた円形の穴を通され、これらの穴により回転自在に支持されている。搬送ローラーR4 、R5 、R6 、R7 の軸(図7には搬送ローラーR6 、R7 の軸S6 、S7 のみ図示されている)は支持板92、93に設けられた円形の穴により回転自在に支持されている。そして、巻き出し/巻き取り用のローラーR2 、搬送ローラーR4 、R5 、成膜ローラーR1 、搬送ローラーR6 、R7 および巻き出し/巻き取り用のローラーR3 によりフィルムFが搬送されるようになっている。フィルムFは、ローラーR2 、R3 の回転軸S2 、S3 に固定された図示省略した回転機構によりこれらのローラーR2 、R3 を回転させることにより、搬送することができるようになっている。この場合、ローラーR2 、R3 を図6中、反時計方向に回転させることにより、ローラーR2 からフィルムFを巻き出し、搬送ローラーR4 、R5 、成膜ローラーR1 および搬送ローラーR6 、R7 を経由して搬送し、ローラーR3 によりフィルムFを巻き取ることができる。逆に、ローラーR2 、R3 を図6中、時計方向に回転させることにより、ローラーR3 からフィルムFを巻き出し、搬送ローラーR7 、R6 、成膜ローラーR1 および搬送ローラーR5 、R4 を経由して搬送し、ローラーR2 によりフィルムFを巻き取ることができる。すなわち、フィルムFは互いに逆方向に搬送することができるようになっている。これによって、例えば、まずローラーR2 、R3 を図6中、反時計方向に回転させてフィルムFを搬送しながら、成膜ローラーR1 上で成膜を行った後、ローラーR2 、R3 を図6中、時計方向に回転させてフィルムFを逆方向に搬送しながら、成膜ローラーR1 上で成膜を行い、これを複数回繰り返すことにより、フィルムF上に薄膜を多層に形成することができる。必要に応じて、搬送ローラーR4 〜R7 の少なくとも一つを第1の実施の形態による処理ローラーと同様に構成して冷却ローラーとして用いてもよい。こうすることで、成膜ローラーR1 上で成膜を行う際に加熱されたフィルムFをローラーR2 またはローラーR3 に巻き取られる前に搬送中に冷却ローラーにより冷却することができるので、フィルムFの温度が高いままローラーR2 またはローラーR3 に巻き取られた後に冷えて収縮する際にフィルムF同士がこすれることにより発生するフィルムFの傷の問題の発生を防止することができる。仕切り板91には、フィルムFを通すためのスリット状の穴91a、91bが設けられている。 As shown in FIGS. 6 and 7, in this sputtering apparatus, the inside of the vacuum vessel 90 is partitioned vertically by a partition plate 91. The space below the partition plate 91 inside the vacuum vessel 90 is the film forming chamber C 1 , and the space above is the film transport chamber C 2 . Inside the film forming chamber C 1, a film forming roller R 1 including the processing roller according to the first embodiment is horizontally installed. Both end portions of the rotary shaft 40 at both ends of the cylindrical portion 10 of the deposition roller R 1 is deposition chamber C 1 of the circular hole and the deposition chamber C 1 provided on the support plate 92 and 93 fixed to both side walls Circular holes provided in both side walls are passed through and supported rotatably by these holes. For example, three sputtering cathodes K 1 , K 2 , K 3 are installed on the inner wall of the film forming chamber C 1 . Among these, the sputtering cathode K 1 is installed at the bottom of the film forming chamber C 1 via an insulating member 94 and is electrically insulated from the vacuum vessel 90. The sputtering cathodes K 2 and K 3 are respectively installed on the side walls facing each other in the film forming chamber C 1 via insulating members 94. Around the cylindrical portion 10 of the film forming roller R 1 , a film is formed on the film to limit the amount of sputtered particles generated from the sputtering cathodes K 1 , K 2 , and K 3 and incident on the film. A shielding plate 95 is provided. On the other hand, unwinding / winding rollers R 2 and R 3 and transport rollers (or guide rollers) R 4 , R 5 , R 6 and R 7 are installed in the film transport chamber C 2 . The axes of the rollers R 2 and R 3 for unwinding / winding (only the axis S 3 of the roller R 3 is shown in FIG. 7) are support plates 92 fixed to both side walls of the film forming chamber C 1. , 93 and circular holes provided on both side walls of the film forming chamber C 1 are passed through and supported rotatably by these holes. Shaft of the conveying roller R 4, R 5, R 6 , R 7 ( illustrated only axial S 6, S 7 of the transport roller R 6, R 7 in Figure 7) is provided on the support plate 92 and 93 It is rotatably supported by a circular hole. Then, the film F is conveyed by the unwinding / winding roller R 2 , the conveying rollers R 4 , R 5 , the film forming roller R 1 , the conveying rollers R 6 , R 7 and the unwinding / winding roller R 3. It has come to be. The film F, by rotating the rollers R 2, the rotating shaft S 2, these rollers by the rotation mechanism not shown which is fixed to the S 3 R 2 of R 3, R 3, making it possible to transport ing. In this case, by rotating the rollers R 2 and R 3 counterclockwise in FIG. 6, the film F is unwound from the roller R 2 , and the transport rollers R 4 and R 5 , the film forming roller R 1 and the transport roller R 6, and conveyed via the R 7, it may take up the film F by a roller R 3. Conversely, by rotating the rollers R 2 and R 3 in the clockwise direction in FIG. 6, the film F is unwound from the roller R 3 , and the transport rollers R 7 and R 6 , the film forming roller R 1 and the transport roller R 5. , R 4, and the film F can be taken up by the roller R 2 . That is, the film F can be conveyed in the opposite directions. Thereby, for example, first in FIG. 6 a roller R 2, R 3, while conveying the film F is rotated in the counterclockwise direction, after deposition on deposition rollers R 1, roller R 2, R 3 in FIG. 6, while conveying by rotating clockwise the film F in the reverse direction, performs deposition on deposition rollers R 1, by repeating several times this, a thin film on the film F in the multi-layer Can be formed. If necessary, at least one of the transport rollers R 4 to R 7 may be configured similarly to the processing roller according to the first embodiment and used as a cooling roller. In this way, it is possible to cool the cooling roller during transport before being wound the heated film F when performing film formation on the film formation roller R 1 to the roller R 2 or roller R 3, When the film F is wound around the roller R 2 or the roller R 3 while the temperature of the film F is high, the film F can be prevented from being scratched when the film F is rubbed against each other when shrinking. The partition plate 91 is provided with slit-shaped holes 91a and 91b for allowing the film F to pass therethrough.

スパッタリングカソードK1 、K2 、K3 の詳細について説明する。これらのスパッタリングカソードK1 、K2 、K3 は同様な構成を有してもよいし、互いに異なる構成を有してもよい。ここでは、一例として、スパッタリングカソードK1 について説明する。図8に示すように、スパッタリングカソードK1 は、横断面形状が矩形の角管状の形状を有し、エロージョン面が内側を向いているスパッタリングターゲット110と、このスパッタリングターゲット110の外側に設けられた永久磁石120と、この永久磁石120の外側に設けられたヨーク130とを有する。また、永久磁石120およびヨーク130により磁気回路が形成されている。永久磁石120の極性は図8に示す通りであるが、各々が全く逆の極性でも何ら差し支えない。スパッタリングターゲット110と永久磁石120との間には、好適には冷却用のバッキングプレートが設けられ、このバッキングプレートの内部に設けられた流路に例えば冷却水が流される。スパッタリングターゲット110により囲まれた直方体状の空間の下端の近傍に、スパッタリングターゲット110のエロージョン面が露出するようにL字型の断面形状を有するアノード140が設けられている。このアノード140は、一般的には、接地された真空容器90に接続される。また、スパッタリングターゲット110により囲まれた直方体状の空間の上端の近傍に、スパッタリングターゲット110のエロージョン面が露出するようにL字型の断面形状を有する光線遮断シールド150が設けられている。光線遮断シールド150は導電体、典型的には金属により形成される。光線遮断シールド150はアノードを兼用し、アノード140と同様に、一般的には、接地された真空容器90に接続される。 Details of the sputtering cathodes K 1 , K 2 , and K 3 will be described. These sputtering cathodes K 1 , K 2 , K 3 may have the same configuration or different configurations. Here, as an example, it will be described sputtering cathodes K 1. As shown in FIG. 8, the sputtering cathode K 1 has a rectangular tubular shape with a rectangular cross section, and is provided on the outside of the sputtering target 110 with the erosion surface facing inward. The permanent magnet 120 has a yoke 130 provided outside the permanent magnet 120. Further, a magnetic circuit is formed by the permanent magnet 120 and the yoke 130. The polarities of the permanent magnets 120 are as shown in FIG. 8, but there is no problem even if the polarities are completely opposite. A cooling backing plate is preferably provided between the sputtering target 110 and the permanent magnet 120, and cooling water, for example, is caused to flow through a flow path provided inside the backing plate. An anode 140 having an L-shaped cross section is provided in the vicinity of the lower end of the rectangular parallelepiped space surrounded by the sputtering target 110 so that the erosion surface of the sputtering target 110 is exposed. The anode 140 is generally connected to a vacuum vessel 90 that is grounded. In addition, a light shielding shield 150 having an L-shaped cross section is provided in the vicinity of the upper end of a rectangular parallelepiped space surrounded by the sputtering target 110 so that the erosion surface of the sputtering target 110 is exposed. The light shielding shield 150 is made of a conductor, typically a metal. The light shielding shield 150 also serves as an anode, and is generally connected to a grounded vacuum vessel 90 in the same manner as the anode 140.

図9に示すように、スパッタリングターゲット110の互いに対向する一対の長辺部の間の距離をa、スパッタリングターゲット110の互いに対向する一対の短辺部の間の距離をbとすると、b/aは2以上に選ばれ、一般的には40以下に選ばれる。aは一般的には50mm以上150mm以下に選ばれる。   As shown in FIG. 9, when the distance between a pair of opposing long sides of the sputtering target 110 is a and the distance between a pair of opposing short sides of the sputtering target 110 is b, b / a Is selected to be 2 or more, and generally 40 or less. a is generally selected from 50 mm to 150 mm.

このスパッタリング装置においては、スパッタリングターゲット110により囲まれた空間の上方において、成膜ローラーR1 の円筒部10に巻き付けられたフィルムFを搬送しながら成膜を行うようになっている。この時、フィルムFは、スパッタリングターゲット110に対し、スパッタリングターゲット110の長辺部を横断する方向に搬送されるようになっている。スパッタリングターゲット110の長辺部に平行な方向のフィルムFの成膜領域の幅は、bより小さく選ばれ、成膜時にはスパッタリングターゲット110の内側の互いに対向する一対の短辺部の間に収まるようになっている。フィルムFの成膜領域の幅はフィルムFの全面に成膜を行う場合はフィルムFの幅と一致する。 In this sputtering apparatus, film formation is performed while conveying the film F wound around the cylindrical portion 10 of the film formation roller R 1 above the space surrounded by the sputtering target 110. At this time, the film F is conveyed with respect to the sputtering target 110 in the direction crossing the long side part of the sputtering target 110. The width of the film formation region of the film F in the direction parallel to the long side portion of the sputtering target 110 is selected to be smaller than b, so that the film F fits between a pair of short side portions facing each other inside the sputtering target 110. It has become. The width of the film formation region of the film F coincides with the width of the film F when film formation is performed on the entire surface of the film F.

[スパッタリング装置による成膜方法]
スパッタリングカソードK1 、K2 、K3 の二つ以上を使って成膜を行うことも可能であるが、ここでは、スパッタリングカソードK1 だけを使用して成膜を行う場合について説明する。
[Film Forming Method Using Sputtering Apparatus]
Although it is possible to form a film using two or more of the sputtering cathodes K 1 , K 2 , and K 3 , a case where film formation is performed using only the sputtering cathode K 1 will be described here.

成膜ローラーR1 の円筒部10の流路11を通して水を循環させ、円筒部10の温度をフィルムF上に成膜を行う温度に設定する。流路11に循環させる水には、必要に応じて、不凍液としてエチレングリコールなどを含ませる。流路11に循環させる水の温度の制御範囲の一例を挙げると、−10℃〜80℃である。 Water is circulated through the flow path 11 of the cylindrical portion 10 of the film forming roller R 1 , and the temperature of the cylindrical portion 10 is set to a temperature at which film formation is performed on the film F. The water to be circulated through the flow path 11 contains ethylene glycol or the like as an antifreeze as necessary. An example of the control range of the temperature of the water circulated through the flow path 11 is −10 ° C. to 80 ° C.

真空容器90を真空ポンプにより高真空に排気した後、スパッタリングターゲット110により囲まれた空間にスパッタリングガスとしてArガスを導入し、アノード140とスパッタリングカソードK1 との間に、所定の電源によりプラズマ発生に必要な、一般的には直流の高電圧を印加する。一般的には、アノード140が接地され、スパッタリングカソードK1 に負の高電圧(例えば、−400V)が印加される。これによって、図10および図11に示すように、スパッタリングターゲット110の表面近傍にこのスパッタリングターゲット110の内面に沿って周回するプラズマ160が発生する。 After the vacuum vessel 90 is evacuated to a high vacuum by a vacuum pump, the Ar gas was introduced as the sputtering gas in a space surrounded by the sputtering target 110, between the anode 140 and sputtering cathode K 1, the plasma generated by the predetermined power source In general, a high DC voltage is applied. In general, the anode 140 is grounded, and a negative high voltage (for example, −400 V) is applied to the sputtering cathode K 1 . As a result, as shown in FIGS. 10 and 11, plasma 160 that circulates along the inner surface of the sputtering target 110 is generated near the surface of the sputtering target 110.

スパッタリングターゲット110の内面に沿って周回するプラズマ160中のArイオンによりスパッタリングターゲット110がスパッタリングされる結果、スパッタリングターゲット110を構成する原子がスパッタリングターゲット110により囲まれた空間から上方に飛び出す。このとき、スパッタリングターゲット110のエロージョン面のうちプラズマ160の近傍の部分の至る所から原子が飛び出すが、スパッタリングターゲット110の内側の短辺部のエロージョン面から飛び出す原子は、基本的には成膜に使用しない。このためには、スパッタリングターゲット110の長辺方向の両端部を遮蔽するようにスパッタリングターゲット110の上方に水平遮蔽板を設けることにより、スパッタリングターゲット110の短辺部のエロージョン面から飛び出す原子が成膜時に基板Sに到達しないようにすればよい。あるいは、スパッタリングターゲット110の長手方向の幅bをフィルムFの幅より十分に大きくすることにより、スパッタリングターゲット110の短辺部のエロージョン面から飛び出す原子が成膜時にフィルムFに到達しないようにしてもよい。スパッタリングターゲット110から飛び出る原子の一部は光線遮断シールド150により遮られる結果、スパッタリングターゲット10の長辺部のエロージョン面から、図12に示すようなスパッタ粒子束170、180が得られる。スパッタ粒子束170、180は、スパッタリングターゲット110の長手方向にほぼ均一な強度分布を有する。   As a result of the sputtering target 110 being sputtered by Ar ions in the plasma 160 that circulates along the inner surface of the sputtering target 110, atoms constituting the sputtering target 110 jump out upward from the space surrounded by the sputtering target 110. At this time, atoms jump out of the erosion surface of the sputtering target 110 all over the portion near the plasma 160, but the atoms jumping out from the erosion surface of the short side inside the sputtering target 110 are basically used for film formation. do not use. For this purpose, by providing a horizontal shielding plate above the sputtering target 110 so as to shield both ends of the long side direction of the sputtering target 110, atoms that jump out from the erosion surface of the short side of the sputtering target 110 are formed. Sometimes it is sufficient not to reach the substrate S. Alternatively, the width b in the longitudinal direction of the sputtering target 110 is made sufficiently larger than the width of the film F so that atoms jumping out from the erosion surface of the short side of the sputtering target 110 do not reach the film F during film formation. Good. As a result of part of the atoms jumping out of the sputtering target 110 being blocked by the light shielding shield 150, sputtered particle bundles 170 and 180 as shown in FIG. 12 are obtained from the erosion surface of the long side portion of the sputtering target 10. The sputtered particle bundles 170 and 180 have a substantially uniform intensity distribution in the longitudinal direction of the sputtering target 110.

安定なスパッタ粒子束170、180が得られるようになった時点で、フィルムFの巻き出し/巻き取り用のローラーR2 、R3 を図6中、例えば反時計方向に回転させ、フィルムFを搬送ローラーR4 、R5 、成膜ローラーR1 および搬送ローラーR6 、R7 を介して一定速度で搬送しながら、成膜ローラーR1 に巻き付けられたフィルムFに対して下方からスパッタ粒子束170、180により成膜を行う。このとき、フィルムFに掛かる張力は、例えば、10〜100Nを目安に一定値となるように制御される。 When stable sputtered particle bundles 170 and 180 are obtained, the rollers F 2 and R 3 for unwinding / rewinding the film F are rotated in the counterclockwise direction in FIG. Sputtered particle bundles from below on the film F wound around the film forming roller R 1 while being transported at a constant speed via the transport rollers R 4 and R 5 , the film forming roller R 1 and the transport rollers R 6 and R 7. Film formation is performed by 170 and 180. At this time, the tension applied to the film F is controlled to be a constant value with 10 to 100 N as a guideline, for example.

[スパッタリング装置のスパッタリングカソードおよびアノードの実施例]
図13に示すように、スパッタリングターゲット110を四つの板状のスパッタリングターゲット110a、110b、110c、110dにより形成し、永久磁石120を四つの板状あるいは棒状の永久磁石120a、120b、120c、120dにより形成し、ヨーク130を四つの板状のヨーク130a、130b、130c、130dにより形成する。また、スパッタリングターゲット110a、110b、110c、110dと永久磁石120a、120b、120c、120dとの間にそれぞれバッキングプレート190a、190b、190c、190dを挿入する。スパッタリングターゲット110aとスパッタリングターゲット110cとの間の距離は80mm、スパッタリングターゲット110bとスパッタリングターゲット110dとの間の距離は200mm、スパッタリングターゲット110a、110b、110c、110dの高さは80mmとする。
[Examples of sputtering cathode and anode of sputtering apparatus]
As shown in FIG. 13, the sputtering target 110 is formed by four plate-like sputtering targets 110a, 110b, 110c, and 110d, and the permanent magnet 120 is formed by four plate-like or rod-like permanent magnets 120a, 120b, 120c, and 120d. The yoke 130 is formed by four plate-like yokes 130a, 130b, 130c, and 130d. Further, backing plates 190a, 190b, 190c, and 190d are inserted between the sputtering targets 110a, 110b, 110c, and 110d and the permanent magnets 120a, 120b, 120c, and 120d, respectively. The distance between the sputtering target 110a and the sputtering target 110c is 80 mm, the distance between the sputtering target 110b and the sputtering target 110d is 200 mm, and the height of the sputtering targets 110a, 110b, 110c, and 110d is 80 mm.

ヨーク130a、130b、130c、130dの外側には四つの板状のアノード200a、200b、200c、200dを設ける。これらのアノード200a、200b、200c、200dはアノード140とともに、接地された真空容器90に接続される。   Four plate-like anodes 200a, 200b, 200c, and 200d are provided outside the yokes 130a, 130b, 130c, and 130d. These anodes 200a, 200b, 200c, and 200d are connected to a grounded vacuum vessel 90 together with the anode 140.

この第2の実施の形態によれば、第1の実施の形態と同様な利点に加えて、次のような利点を得ることができる。すなわち、スパッタリングカソードK1 、K2 、K3 が、横断面形状が矩形の角管状の形状を有し、エロージョン面が内側を向いているスパッタリングターゲット110を有することにより、次のような種々の利点を得ることができる。すなわち、スパッタリングターゲット110のエロージョン面側にこのスパッタリングターゲット110の内面を周回するプラズマ160を発生させることができる。このため、プラズマ160の密度を高くすることができることにより、成膜速度を十分に高くすることができる。また、プラズマ160が多く生成される場所はスパッタリングターゲット110の表面近傍に限定されるため、光線遮断シールド150が設けられていることと相まって、プラズマ160から発光する光がフィルムFに照射されることにより損傷が生じるおそれを最小限に抑えることができる。また、永久磁石120およびヨーク130により形成される磁気回路により発生する磁力線はスパッタリングカソードに拘束され、フィルムFに向かわないため、プラズマ160や電子線によりフィルムFに損傷が生じるおそれがない。また、スパッタリングターゲット110の互いに対向する一対の長辺部から得られるスパッタ粒子束170、180を用いて成膜を行うので、反射スパッタ中性ガスのエネルギーの高い粒子によりフィルムFが衝撃され、損傷が生じるのを最小限に抑えることができる。さらに、スパッタリングターゲット110の互いに対向する一対の長辺部から得られるスパッタ粒子束170、180はこの長辺部に平行な方向に均一な強度分布を有するため、フィルムFをこの長辺部を横断する方向、例えばこの長辺部に垂直な方向に一定速度で搬送しながら成膜を行うことと相まって、フィルムF上に成膜される薄膜の膜厚のばらつきを小さくすることができ、例えば膜厚分布を±5%以下にすることができる。このスパッタリング装置は、例えば、半導体デバイス、太陽電池、液晶ディスプレイ、有機ELなどの各種のデバイスにおいて電極材料の成膜に適用して好適なものである。 According to the second embodiment, in addition to the same advantages as those of the first embodiment, the following advantages can be obtained. That is, the sputtering cathodes K 1 , K 2 , K 3 have a rectangular tubular shape with a rectangular cross section, and have a sputtering target 110 whose erosion surface faces inward, so that the following various types are possible. Benefits can be gained. That is, plasma 160 that circulates around the inner surface of the sputtering target 110 can be generated on the erosion surface side of the sputtering target 110. For this reason, since the density of the plasma 160 can be increased, the deposition rate can be sufficiently increased. In addition, since the place where a lot of plasma 160 is generated is limited to the vicinity of the surface of the sputtering target 110, the film F is irradiated with light emitted from the plasma 160 in combination with the provision of the light shielding shield 150. Can minimize the risk of damage. In addition, since the lines of magnetic force generated by the magnetic circuit formed by the permanent magnet 120 and the yoke 130 are constrained by the sputtering cathode and do not go to the film F, there is no possibility that the film F is damaged by the plasma 160 or the electron beam. Further, since the film formation is performed using the sputtered particle bundles 170 and 180 obtained from the pair of long sides facing each other of the sputtering target 110, the film F is impacted by the high-energy particles of the reflective sputtering neutral gas and damaged. Can be minimized. Further, since the sputtered particle bundles 170 and 180 obtained from a pair of long sides facing each other of the sputtering target 110 have a uniform intensity distribution in a direction parallel to the long sides, the film F crosses the long sides. The film thickness variation of the thin film formed on the film F can be reduced in combination with the film formation while transporting at a constant speed in the direction to be performed, for example, the direction perpendicular to the long side portion. The thickness distribution can be made ± 5% or less. This sputtering apparatus is suitable for application to film formation of an electrode material in various devices such as a semiconductor device, a solar cell, a liquid crystal display, and an organic EL.

〈第3の実施の形態〉
[スパッタリング装置]
第3の実施の形態によるスパッタリング装置は、スパッタリングターゲット110として図14に示すようなものを用いる点が、第2の実施の形態によるスパッタリング装置と異なる。すなわち、図14に示すように、スパッタリングターゲット110は、互いに平行に対向する一対の長辺部とこれらの長辺部に連結した半円形部とからなる。スパッタリングターゲット110の外側に設けられた永久磁石120も、この永久磁石120の外側に設けられたヨーク130も、スパッタリングターゲット110と同様な形状を有する。このスパッタリング装置のその他の構成は第2の実施の形態によるスパッタリング装置と同様である。
<Third Embodiment>
[Sputtering equipment]
The sputtering apparatus according to the third embodiment is different from the sputtering apparatus according to the second embodiment in that a sputtering target 110 as shown in FIG. 14 is used. That is, as shown in FIG. 14, the sputtering target 110 includes a pair of long side portions facing in parallel to each other and a semicircular portion connected to these long side portions. The permanent magnet 120 provided outside the sputtering target 110 and the yoke 130 provided outside the permanent magnet 120 have the same shape as the sputtering target 110. Other configurations of the sputtering apparatus are the same as those of the sputtering apparatus according to the second embodiment.

[スパッタリング装置による成膜方法]
このスパッタリング装置による成膜方法は第2の実施の形態と同様である。
[Film Forming Method Using Sputtering Apparatus]
The film forming method using this sputtering apparatus is the same as in the second embodiment.

以上、この発明の実施の形態および実施例について具体的に説明したが、この発明は上述の実施の形態および実施例に限定されるものではなく、この発明の技術的思想に基づく各種の変形が可能である。   Although the embodiments and examples of the present invention have been specifically described above, the present invention is not limited to the above-described embodiments and examples, and various modifications based on the technical idea of the present invention can be made. Is possible.

例えば、上述の実施の形態および実施例において挙げた数値、材料、構造、形状などはあくまでも例に過ぎず、必要に応じて、これらと異なる数値、材料、構造、形状などを用いてもよい。   For example, the numerical values, materials, structures, shapes, and the like given in the above-described embodiments and examples are merely examples, and different numerical values, materials, structures, shapes, and the like may be used as necessary.

また、第2および第3の実施の形態によるスパッタリング装置において、スパッタリングカソードK1 、K2 、K3 として上述と異なる構成のものを用いてもよい。 In the sputtering apparatus according to the second and third embodiments, sputtering cathodes K 1 , K 2 , and K 3 having different configurations from those described above may be used.

10…円筒部、11…流路、11a…直線部、11b…折り返し部、20、30…円板、40…回転軸、110、110a、110b、110c、110d…スパッタリングターゲット、120、120a、120b、120c、120d…永久磁石、130、130a、130b、130c、130d…ヨーク、140…アノード、150…光線遮断シールド、160…プラズマ、170、180…スパッタ粒子束   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Cylindrical part, 11 ... Channel, 11a ... Linear part, 11b ... Folded part, 20, 30 ... Disc, 40 ... Rotating shaft, 110, 110a, 110b, 110c, 110d ... Sputtering target, 120, 120a, 120b , 120c, 120d ... permanent magnet, 130, 130a, 130b, 130c, 130d ... yoke, 140 ... anode, 150 ... light shielding shield, 160 ... plasma, 170, 180 ... sputtered particle bundle

Claims (37)

ロール・ツー・ロール方式で処理を行う被処理体が巻き付けられる処理ローラーであって、
流路を内蔵する銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部を少なくとも有効部に有することを特徴とする処理ローラー。
A processing roller around which a workpiece to be processed in a roll-to-roll system is wound,
A processing roller having a cylindrical portion made of copper, copper alloy, aluminum, or aluminum alloy containing a flow path at least in an effective portion.
前記円筒部が無酸素銅からなることを特徴とする請求項1記載の処理ローラー。   The processing roller according to claim 1, wherein the cylindrical portion is made of oxygen-free copper. 前記円筒部の少なくとも外周面に前記円筒部を構成する前記銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金より硬度が高い材料からなるコーティング層が形成されていることを特徴とする請求項1または2記載の処理ローラー。   The coating layer made of a material having higher hardness than the copper, copper alloy, aluminum, or aluminum alloy constituting the cylindrical portion is formed on at least an outer peripheral surface of the cylindrical portion. Processing roller. 前記流路は、前記円筒部の円周方向に直線状に延在する部分と折り返し部とを有するジグザグ状に折れ曲がった形状、または、前記円筒部の中心軸に平行な方向に延在する部分と折り返し部とを有するジグザグ状に折れ曲がった形状を有することを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項記載の処理ローラー。   The flow path is a zigzag bent shape having a portion extending linearly in the circumferential direction of the cylindrical portion and a folded portion, or a portion extending in a direction parallel to the central axis of the cylindrical portion The processing roller according to any one of claims 1 to 3, wherein the processing roller has a zigzag shape that has a bent portion and a folded portion. 前記円筒部は、前記円筒部を平面に展開した時の前記流路と同一の平面形状を有する下部溝とこの下部溝とほぼ相似な平面形状を有し、前記下部溝より大きい上部溝とからなる溝が一方の主面に設けられた、前記円筒部を平面に展開した時の平面形状と同一の長方形または正方形の平面形状を有する第1平板と、前記第1平板の前記溝の前記上部溝に嵌められた第2平板とからなり、前記第1平板と前記第2平板との境界部が摩擦攪拌接合により接合された長方形または正方形の平面形状を有する平板をその一辺に平行な方向に円筒状に丸め、この丸めた板の一端と他端とを接合したものからなることを特徴とする請求項4記載の処理ローラー。   The cylindrical portion has a lower groove having the same planar shape as the flow path when the cylindrical portion is developed in a plane, a planar shape substantially similar to the lower groove, and an upper groove larger than the lower groove. A first flat plate having a rectangular or square planar shape that is the same as the planar shape when the cylindrical portion is developed on a plane, and the upper portion of the groove of the first flat plate. A flat plate having a rectangular or square planar shape in which a boundary portion between the first flat plate and the second flat plate is joined by friction stir welding, in a direction parallel to one side thereof. The processing roller according to claim 4, wherein the processing roller is formed by rounding into a cylindrical shape and joining one end and the other end of the rounded plate. 前記第1平板の前記溝の前記上部溝に嵌められた前記第2平板を支えるための支柱を前記下部溝の内部に設けておき、この状態で前記平板を円筒状に丸めたことを特徴とする請求項5記載の処理ローラー。   A support for supporting the second flat plate fitted in the upper groove of the groove of the first flat plate is provided inside the lower groove, and the flat plate is rounded into a cylindrical shape in this state. The processing roller according to claim 5. 前記円筒部は、前記円筒部を平面に展開した時の平面形状と同一の長方形または正方形の平面形状を有する平板をその一辺に平行な方向に円筒状に丸め、この丸めた板の一端と他端とを接合した後、この丸めた板の一方の端面から他方の端面に達する貫通孔をこの丸めた板の中心軸に平行にかつこの丸めた板の円周方向の等間隔の複数箇所に形成することにより前記流路を形成したものからなることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項記載の処理ローラー。   The cylindrical portion is formed by rounding a flat plate having the same rectangular or square planar shape as the planar shape when the cylindrical portion is developed into a plane into a cylindrical shape in a direction parallel to one side of the cylindrical portion. After joining the ends, through holes reaching from one end face of the rounded plate to the other end face are parallel to the central axis of the rounded plate and at a plurality of equidistant intervals in the circumferential direction of the rounded plate The processing roller according to claim 1, wherein the processing roller is formed by forming the flow path. 前記円筒部の両端に前記円筒部を閉塞するようにそれぞれ円板が設けられ、これらの円板は前記円筒部の内部と外部とを連通する貫通孔を有することを特徴とする請求項1〜7のいずれか一項記載の処理ローラー。   Disks are respectively provided at both ends of the cylindrical part so as to close the cylindrical part, and these circular disks have through holes that communicate the inside and the outside of the cylindrical part. The processing roller according to claim 7. それぞれの円板の外側に前記円筒部の中心軸上に回転軸が取り付けられ、一方の回転軸の中心軸上にこの回転軸および一方の円板を貫通する第1貫通孔が設けられ、他方の回転軸の中心軸上にこの回転軸および他方の円板を貫通する第2貫通孔が設けられ、前記円筒部の内部において前記第1貫通孔と連通して第1配管の一端が気密性を持って固定され、この第1配管の他端が前記円筒部が内蔵する前記流路の前記一方の円板側の一端部に前記流路と連通するように設けられた穴に気密性を持って接続され、前記円筒部の内部において前記第2貫通孔と連通して第2配管の一端が気密性を持って固定され、この第2配管の他端が前記円筒部が内蔵する前記流路の前記他方の円板側の他端部に前記流路と連通するように設けられた穴に気密性を持って接続されていることを特徴とする請求項8記載の処理ローラー。   A rotary shaft is attached to the outer side of each circular plate on the central axis of the cylindrical portion, and a first through-hole penetrating the rotary shaft and one of the circular plates is provided on the central axis of one rotary shaft. A second through-hole penetrating the rotary shaft and the other disk is provided on the central axis of the rotary shaft, and communicates with the first through-hole inside the cylindrical portion so that one end of the first pipe is airtight. And the other end of the first pipe has airtightness in a hole provided so as to communicate with the flow path at one end of the flow path contained in the cylindrical portion on the one disk side. And one end of the second pipe is fixed in an airtight manner in communication with the second through-hole inside the cylindrical portion, and the other end of the second pipe is connected to the flow in the cylindrical portion. Airtightness is provided in a hole provided to communicate with the flow path at the other end of the path on the other disc side. Processing roller according to claim 8, wherein the connected I. それぞれの円板の外側に前記円筒部の中心軸上に回転軸が取り付けられ、一方の回転軸の中心軸上にこの回転軸を貫通する第3貫通孔が設けられ、他方の回転軸の中心軸上にこの回転軸を貫通する第4貫通孔が設けられ、前記一方の円板の内部に前記第3貫通孔と連通する流路が設けられ、この流路が前記円筒部が内蔵する前記流路の前記一方の円板側の一端部と連通し、前記他方の円板の内部に前記第4貫通孔と連通する流路が設けられ、この流路が前記円筒部が内蔵する前記流路の前記他方の円板側の他端部と連通していることを特徴とする請求項8記載の処理ローラー。   A rotating shaft is attached to the outer side of each circular plate on the central axis of the cylindrical portion, a third through hole penetrating the rotating shaft is provided on the central axis of one rotating shaft, and the center of the other rotating shaft is provided. A fourth through hole penetrating the rotating shaft is provided on the shaft, a flow path communicating with the third through hole is provided inside the one disc, and the flow path is provided in the cylindrical portion. A flow path that communicates with one end of the flow path on the side of the one disk and communicates with the fourth through hole is provided inside the other disk, and this flow path includes the flow that the cylindrical portion incorporates. The processing roller according to claim 8, wherein the processing roller communicates with the other end portion on the other disk side of the path. ロール・ツー・ロール方式で処理を行う被処理体が巻き付けられる、流路を内蔵する銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部を少なくとも有効部に有する処理ローラーの製造方法であって、
前記円筒部を平面に展開した時の前記流路と同一の平面形状を有する下部溝とこの下部溝とほぼ相似な平面形状を有し、前記下部溝より大きい上部溝とからなる溝が一方の主面に設けられた、前記円筒部を平面に展開した時の平面形状と同一の長方形または正方形の平面形状を有する第1平板の前記溝の前記上部溝に第2平板を嵌める工程と、
前記第1平板と前記第2平板との境界部を摩擦攪拌接合により接合する工程と、
前記第1平板と前記第2平板との境界部を前記摩擦攪拌接合により接合した前記第1平板と前記第2平板とからなる長方形または正方形の平面形状を有する平板をその一辺に平行な方向に円筒状に丸め、この丸めた板の一端と他端とを接合する工程と、
を有することを特徴とする処理ローラーの製造方法。
A method of manufacturing a processing roller having a cylindrical portion made of copper, copper alloy, aluminum, or aluminum alloy containing a flow path around which a workpiece to be processed by a roll-to-roll method is wound, at least in an effective portion,
A groove composed of a lower groove having the same planar shape as the flow path when the cylindrical portion is developed in a plane and a planar shape substantially similar to the lower groove, and an upper groove larger than the lower groove is one of the grooves. A step of fitting a second flat plate into the upper groove of the groove of the first flat plate having the same rectangular or square planar shape as the planar shape when the cylindrical portion is flattened provided on the main surface;
Joining the boundary between the first flat plate and the second flat plate by friction stir welding;
A rectangular or square flat plate composed of the first flat plate and the second flat plate in which the boundary between the first flat plate and the second flat plate is joined by the friction stir welding in a direction parallel to one side thereof. Rounding into a cylindrical shape and joining one end and the other end of the rounded plate;
The manufacturing method of the processing roller characterized by having.
前記第1平板および前記第2平板が無酸素銅からなることを特徴とする請求項11記載の処理ローラーの製造方法。   The method for manufacturing a processing roller according to claim 11, wherein the first flat plate and the second flat plate are made of oxygen-free copper. 前記流路は、前記円筒部の円周方向に直線状に延在する部分と折り返し部とを有するジグザグ状に折れ曲がった形状、または、前記円筒部の中心軸に平行な方向に延在する部分と折り返し部とを有するジグザグ状に折れ曲がった形状を有することを特徴とする請求項11または12記載の処理ローラーの製造方法。   The flow path is a zigzag bent shape having a portion extending linearly in the circumferential direction of the cylindrical portion and a folded portion, or a portion extending in a direction parallel to the central axis of the cylindrical portion The method for manufacturing a processing roller according to claim 11, wherein the processing roller has a shape that is bent in a zigzag shape and has a folded portion. 前記第1平板の前記溝の前記上部溝に嵌められた前記第2平板を支えるための支柱を前記下部溝の内部に設けておき、この状態で前記平板を円筒状に丸めることを特徴とする請求項11〜13のいずれか一項記載の処理ローラーの製造方法。   A support for supporting the second flat plate fitted in the upper groove of the groove of the first flat plate is provided inside the lower groove, and the flat plate is rounded into a cylindrical shape in this state. The manufacturing method of the processing roller as described in any one of Claims 11-13. ロール・ツー・ロール方式で処理を行う被処理体が巻き付けられる、流路を内蔵する銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部を少なくとも有効部に有する処理ローラーの製造方法であって、
前記円筒部を平面に展開した時の平面形状と同一の長方形または正方形の平面形状を有する平板をその一辺に平行な方向に円筒状に丸め、この丸めた板の一端と他端とを接合する工程と、
前記丸めた板の一方の端面から他方の端面に達する貫通孔を前記丸めた板の中心軸に平行にかつ前記丸めた板の円周方向の等間隔の複数箇所に形成することにより前記流路を形成する工程と、
を有することを特徴とする処理ローラーの製造方法。
A method of manufacturing a processing roller having a cylindrical portion made of copper, copper alloy, aluminum, or aluminum alloy containing a flow path around which a workpiece to be processed by a roll-to-roll method is wound, at least in an effective portion,
A flat plate having the same rectangular or square planar shape as the planar shape when the cylindrical portion is developed in a plane is rounded into a cylindrical shape in a direction parallel to one side, and one end and the other end of the rounded plate are joined. Process,
The flow path is formed by forming through holes reaching from one end face of the rounded plate to the other end face in parallel to the central axis of the rounded plate and at equal intervals in the circumferential direction of the rounded plate. Forming a step;
The manufacturing method of the processing roller characterized by having.
前記平板が無酸素銅からなることを特徴とする請求項15記載の処理ローラーの製造方法。   The method for manufacturing a processing roller according to claim 15, wherein the flat plate is made of oxygen-free copper. ロール・ツー・ロール方式で処理を行う被処理体が巻き付けられる処理ローラーを有する処理装置であって、
前記処理ローラーが流路を内蔵する銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部を少なくとも有効部に有することを特徴とする処理装置。
A processing apparatus having a processing roller around which a workpiece to be processed in a roll-to-roll system is wound,
The processing apparatus, wherein the processing roller has a cylindrical portion made of copper, a copper alloy, aluminum, or an aluminum alloy with a built-in flow path at least as an effective portion.
前記円筒部が無酸素銅からなることを特徴とする請求項17記載の処理装置。   The processing apparatus according to claim 17, wherein the cylindrical portion is made of oxygen-free copper. 前記円筒部は、前記円筒部を平面に展開した時の前記流路と同一の平面形状を有する下部溝とこの下部溝とほぼ相似な平面形状を有し、前記下部溝より大きい上部溝とからなる溝が一方の主面に設けられた、前記円筒部を平面に展開した時の平面形状と同一の長方形または正方形の平面形状を有する第1平板と、前記第1平板の前記溝の前記上部溝に嵌められた第2平板とからなり、前記第1平板と前記第2平板との境界部が摩擦攪拌接合により接合された長方形または正方形の平面形状を有する平板をその一辺に平行な方向に円筒状に丸め、この丸めた板の一端と他端とを接合したものからなることを特徴とする請求項17または18記載の処理装置。   The cylindrical portion has a lower groove having the same planar shape as the flow path when the cylindrical portion is developed in a plane, a planar shape substantially similar to the lower groove, and an upper groove larger than the lower groove. A first flat plate having a rectangular or square planar shape that is the same as the planar shape when the cylindrical portion is developed on a plane, and the upper portion of the groove of the first flat plate. A flat plate having a rectangular or square planar shape in which a boundary portion between the first flat plate and the second flat plate is joined by friction stir welding, in a direction parallel to one side thereof. The processing apparatus according to claim 17 or 18, wherein the processing apparatus is formed by rounding into a cylindrical shape and joining one end and the other end of the rounded plate. 前記第1平板の前記溝の前記上部溝に嵌められた前記第2平板を支えるための支柱を前記下部溝の内部に設けておき、この状態で前記平板を円筒状に丸めたことを特徴とする請求項19記載の処理装置。   A support for supporting the second flat plate fitted in the upper groove of the groove of the first flat plate is provided inside the lower groove, and the flat plate is rounded into a cylindrical shape in this state. The processing apparatus according to claim 19. 前記円筒部は、前記円筒部を平面に展開した時の平面形状と同一の長方形または正方形の平面形状を有する平板をその一辺に平行な方向に円筒状に丸め、この丸めた板の一端と他端とを接合した後、この丸めた板の一方の端面から他方の端面に達する貫通孔をこの丸めた板の中心軸に平行にかつこの丸めた板の円周方向の等間隔の複数箇所に形成することにより前記流路を形成したものからなることを特徴とする請求項17または18記載の処理装置。   The cylindrical portion is formed by rounding a flat plate having the same rectangular or square planar shape as the planar shape when the cylindrical portion is developed into a plane into a cylindrical shape in a direction parallel to one side of the cylindrical portion. After joining the ends, through holes reaching from one end face of the rounded plate to the other end face are parallel to the central axis of the rounded plate and at a plurality of equidistant intervals in the circumferential direction of the rounded plate The processing apparatus according to claim 17 or 18, wherein the flow path is formed by forming the flow path. 前記処理装置は複数の搬送ローラーをさらに有し、これらの複数の搬送ローラーのうちの少なくとも一つが、流路を内蔵する銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部を少なくとも有効部に有することを特徴とする請求項17〜21のいずれか一項記載の処理装置。   The processing apparatus further includes a plurality of transport rollers, and at least one of the plurality of transport rollers has at least an effective portion having a cylindrical portion made of copper, copper alloy, aluminum, or aluminum alloy containing a flow path. The processing apparatus according to any one of claims 17 to 21, wherein the processing apparatus is characterized. 前記搬送ローラーの前記円筒部が無酸素銅からなることを特徴とする請求項22記載の処理装置。   The processing apparatus according to claim 22, wherein the cylindrical portion of the transport roller is made of oxygen-free copper. 前記処理装置は成膜装置であり、前記処理ローラーは前記成膜装置の成膜室内に設置された成膜ローラーであり、前記被処理体は被成膜体であることを特徴とする請求項17〜23のいずれか一項記載の処理装置。   The processing apparatus is a film forming apparatus, the processing roller is a film forming roller installed in a film forming chamber of the film forming apparatus, and the object to be processed is a film forming object. The processing apparatus as described in any one of 17-23. 前記成膜装置がスパッタリング装置である場合において、横断面形状が互いに対向する一対の長辺部を有する管状の形状を有し、エロージョン面が内側を向いているスパッタリングターゲットを有するスパッタリングカソードを前記成膜室内に有することを特徴とする請求項24記載の処理装置。   In the case where the film forming apparatus is a sputtering apparatus, a sputtering cathode having a sputtering target having a tubular shape having a pair of long sides facing each other and having an erosion surface facing inward is formed. The processing apparatus according to claim 24, wherein the processing apparatus is provided in a membrane chamber. 前記スパッタリングターゲットの横断面形状が互いに平行な前記一対の長辺部に垂直な互いに対向する一対の短辺部または外側に向かって凸の互いに対向する一対の曲面部を有することを特徴とする請求項25記載の処理装置。   The cross-sectional shape of the sputtering target has a pair of short sides perpendicular to the pair of long sides that are parallel to each other, or a pair of curved portions that are convex toward each other. Item 26. The processing apparatus according to Item 25. 前記スパッタリングターゲットの前記一対の長辺部の間の距離が50mm以上150mm以下であることを特徴とする請求項25または26記載の処理装置。   27. The processing apparatus according to claim 25 or 26, wherein a distance between the pair of long side portions of the sputtering target is 50 mm or more and 150 mm or less. 前記スパッタリングターゲットの前記一対の長辺部の間の距離に対する前記長辺部の長さの比が2以上であることを特徴とする請求項25〜27のいずれか一項記載の処理装置。   The processing apparatus according to any one of claims 25 to 27, wherein a ratio of a length of the long side portion to a distance between the pair of long side portions of the sputtering target is 2 or more. 前記スパッタリングターゲットは、前記一対の長辺部を構成する第1平板および第2平板と、前記長辺部に垂直な互いに対向する一対の短辺部を構成する第3平板および第4平板とからなることを特徴とする請求項25〜28のいずれか一項記載の処理装置。   The sputtering target includes a first flat plate and a second flat plate constituting the pair of long side portions, and a third flat plate and a fourth flat plate constituting a pair of short side portions facing each other perpendicular to the long side portion. 29. The processing apparatus according to any one of claims 25 to 28, wherein: 前記スパッタリングターゲットのエロージョン面が露出するように設けられたアノードをさらに有することを特徴とする請求項25〜29のいずれか一項記載の処理装置。   30. The processing apparatus according to claim 25, further comprising an anode provided so that an erosion surface of the sputtering target is exposed. 前記スパッタリングターゲットに囲まれた空間の上方において前記スパッタリングターゲットの前記長辺部よりも幅が狭い成膜領域を有する前記被成膜体を前記成膜ローラーの前記円筒部に巻き付け、前記スパッタリングターゲットに対し、前記スパッタリングターゲットの前記長辺部を横断する方向に搬送しながら、前記スパッタリングターゲットの内面に沿って周回するプラズマが発生するように放電を行ってスパッタリングガスにより発生するプラズマ中のイオンにより前記スパッタリングターゲットの前記長辺部の内面をスパッタリングすることにより前記被成膜体の前記成膜領域に成膜を行うことを特徴とする請求項25〜30のいずれか一項記載の処理装置。   The film formation target having a film formation region having a width smaller than the long side part of the sputtering target is wound around the cylindrical part of the film formation roller above the space surrounded by the sputtering target, On the other hand, while transporting in the direction crossing the long side part of the sputtering target, the discharge is performed so as to generate plasma that circulates along the inner surface of the sputtering target, and the ions in the plasma generated by the sputtering gas generate the plasma. 31. The processing apparatus according to claim 25, wherein a film is formed in the film formation region of the film formation target by sputtering an inner surface of the long side portion of the sputtering target. 流路を内蔵する銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部を有するバッキングプレート。   A backing plate having a cylindrical portion made of copper, copper alloy, aluminum or aluminum alloy containing a flow path. 前記円筒部が無酸素銅からなることを特徴とする請求項32記載のバッキングプレート。   The backing plate according to claim 32, wherein the cylindrical portion is made of oxygen-free copper. 流路を内蔵する銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部を有するバッキングプレートの製造方法であって、
前記円筒部を平面に展開した時の前記流路と同一の平面形状を有する下部溝とこの下部溝とほぼ相似な平面形状を有し、前記下部溝より大きい上部溝とからなる溝が一方の主面に設けられた、前記円筒部を平面に展開した時の平面形状と同一の長方形または正方形の平面形状を有する第1平板の前記溝の前記上部溝に第2平板を嵌める工程と、
前記第1平板と前記第2平板との境界部を摩擦攪拌接合により接合する工程と、
前記第1平板と前記第2平板との境界部を前記摩擦攪拌接合により接合した前記第1平板と前記第2平板とからなる長方形または正方形の平面形状を有する平板をその一辺に平行な方向に円筒状に丸め、この丸めた板の一端と他端とを接合する工程と、
を有することを特徴とするバッキングプレートの製造方法。
A method of manufacturing a backing plate having a cylindrical portion made of copper, copper alloy, aluminum or aluminum alloy containing a flow path,
A groove composed of a lower groove having the same planar shape as the flow path when the cylindrical portion is developed in a plane and a planar shape substantially similar to the lower groove, and an upper groove larger than the lower groove is one of the grooves. A step of fitting a second flat plate into the upper groove of the groove of the first flat plate having the same rectangular or square planar shape as the planar shape when the cylindrical portion is flattened provided on the main surface;
Joining the boundary between the first flat plate and the second flat plate by friction stir welding;
A rectangular or square flat plate composed of the first flat plate and the second flat plate in which the boundary between the first flat plate and the second flat plate is joined by the friction stir welding in a direction parallel to one side thereof. Rounding into a cylindrical shape and joining one end and the other end of the rounded plate;
The manufacturing method of the backing plate characterized by having.
前記第1平板および前記第2平板が無酸素銅からなることを特徴とする請求項34記載のバッキングプレートの製造方法。   The method for manufacturing a backing plate according to claim 34, wherein the first flat plate and the second flat plate are made of oxygen-free copper. 流路を内蔵する銅、銅合金、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる円筒部を有するバッキングプレートの製造方法であって、
前記円筒部を平面に展開した時の平面形状と同一の長方形または正方形の平面形状を有する平板をその一辺に平行な方向に円筒状に丸め、この丸めた板の一端と他端とを接合する工程と、
前記丸めた板の一方の端面から他方の端面に達する貫通孔を前記丸めた板の中心軸に平行にかつ前記丸めた板の円周方向の等間隔の複数箇所に形成することにより前記流路を形成する工程と、
を有することを特徴とするバッキングプレートの製造方法。
A method of manufacturing a backing plate having a cylindrical portion made of copper, copper alloy, aluminum or aluminum alloy containing a flow path,
A flat plate having the same rectangular or square planar shape as the planar shape when the cylindrical portion is developed in a plane is rounded into a cylindrical shape in a direction parallel to one side, and one end and the other end of the rounded plate are joined. Process,
The flow path is formed by forming through holes reaching from one end face of the rounded plate to the other end face in parallel to the central axis of the rounded plate and at equal intervals in the circumferential direction of the rounded plate. Forming a step;
The manufacturing method of the backing plate characterized by having.
前記平板が無酸素銅からなることを特徴とする請求項36記載のバッキングプレートの製造方法。   The method for manufacturing a backing plate according to claim 36, wherein the flat plate is made of oxygen-free copper.
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