JP2018006907A - 光伝送システム、管理装置及び損失特性取得方法 - Google Patents

Abstract

【課題】光伝送路の損失特性を高精度に取得できる光伝送システム等を提供する。
【解決手段】第１の伝送装置は、光伝送路に対して第１の測定光を出力し、第１の測定光に対する第１の戻り光と、第２の伝送装置の第２の反射部からの第１の測定光に対する第１の反射光とに基づく第１の損失特性を取得する。第２の伝送装置は、光伝送路に対して第２の測定光を出力し、第２の測定光に対する第２の戻り光と、第１の伝送装置の第１の反射部からの第２の測定光に対する第２の反射光とに基づく第２の損失特性を取得する。管理装置は、第１の損失特性と第２の損失特性とを、始点と終点とを合せて且つ重複部分を重ねて結合して光伝送路の損失特性を取得する。
【選択図】図１

Description

本発明は、光伝送システム、管理装置及び損失特性取得方法に関する。

光伝送システムでは、光ファイバ等の光伝送路の長距離化や大容量化に伴って、光伝送路の損失特性が伝送特性に与える影響が大きい。そこで、光伝送路の損失特性を測定する方法としてＯＴＤＲ（Optical Time Domain Reflectometry)がある。従来、保守作業としてＯＴＤＲを実施していたが、昨今、伝送装置内にＯＴＤＲの測定部を組込み、ＯＴＤＲを継続的に監視することが求められている。

ＯＴＤＲは、光伝送路へパルス光等の測定光を入力し、光伝送路内の不純物で生じる後方レイリー散乱光による戻り光を時間関数として測定することで、光伝送路の区間距離毎の戻り光の出力レベルを示す損失特性を取得している。

しかしながら、光伝送路の長距離化に伴って、ＯＴＤＲの測定光のパワーが測定限界になるため、光伝送路全長にわたる測定が困難になる。そこで、光伝送路の両端に接続する送信局及び受信局の双方からＯＴＤＲを測定する方法がある。そして、双方の測定結果を繋ぎ合わせることで光伝送路全長の損失特性を取得できる。この方法を使用した場合、光伝送路の全長が長くても、送信局側の測定結果と受信局側の測定結果とを結合して光伝送路全長の損失特性を取得できる。

特開平１１−２７１１７４号公報

しかしながら、光伝送路の全長距離が正確に測定できないと、送信局側のＯＴＤＲの測定結果と受信局側のＯＴＤＲの測定結果とを正確に結合できないため、光伝送路全長の損失特性に誤差が生じる。その結果、光伝送路の損失特性を正確に取得できない。

一つの側面では、光伝送路の損失特性を高精度に取得できる光伝送システム、管理装置及び損失特性取得方法を提供することを目的とする。

一つの案では、光伝送システムが、第１の伝送装置と、前記第１の伝送装置との間を光伝送路で接続する第２の伝送装置と、前記第１の伝送装置及び前記第２の伝送装置とそれぞれ通信を行う管理装置とを有する。前記第１の伝送装置は、第１の測定部と、第１の反射部と、第１の切替部とを有する。第１の測定部は、前記光伝送路に対して第１の測定光を出力する。第１の反射部は、前記第２の伝送装置からの第２の測定光を反射して第２の反射光を出力する。第１の切替部は、前記光伝送路に対して前記第１の測定部又は前記第１の反射部を切替接続する。第２の伝送装置は、第２の測定部と、第２の反射部と、第２の切替部とを有する。第２の測定部は、光伝送路に対して前記第２の測定光を出力する。第２の反射部は、前記第１の伝送装置からの前記第１の測定光を反射して第１の反射光を出力する。第２の切替部は、前記光伝送路に対して前記第２の測定部又は前記第２の反射部を切替接続する。前記第１の伝送装置は、前記第１の測定光を出力し、前記光伝送路からの前記第１の測定光に対する第１の戻り光と、前記第２の反射部からの前記第１の反射光とに基づく第１の損失特性を取得する。前記第２の伝送装置は、前記第２の測定光を出力し、前記光伝送路からの前記第２の測定光に対する第２の戻り光と、前記第１の反射部からの前記第２の反射光とに基づく第２の損失特性を取得する。前記管理装置は、前記第１の損失特性と前記第２の損失特性とを、始点と終点とを合せて且つ重複部分を重ねて結合することで前記光伝送路の損失特性を取得する。

開示の態様では、光伝送路の損失特性を高精度に取得できる。

図１は、実施例１の光伝送システムの構成の一例を示すブロック図である。 図２は、データ処理部の機能構成の一例を示すブロック図である。 図３Ａは、第１の損失特性の一例を示す説明図である。 図３Ｂは、第２の損失特性の一例を示す説明図である。 図３Ｃは、反転処理後の第２の損失特性の一例を示す説明図である。 図３Ｄは、距離補正後の第２の損失特性の一例を示す説明図である。 図３Ｅは、光伝送路全長の損失特性の一例を示す説明図である。 図４は、第１の測定処理に関わる光伝送システムの処理動作の一例を示すフローチャートである。 図５は、全長損失特性取得処理に関わる管理装置のデータ処理部の処理動作の一例を示すフローチャートである。 図６は、第２の測定処理に関わる第１の伝送装置内の第１のＣＰＵの処理動作の一例を示すフローチャートである。 図７は、対向側の第２の測定処理に関わる第２の伝送装置内の第２のＣＰＵの処理動作の一例を示すフローチャートである。 図８は、第３の測定処理に関わる第１の伝送装置内の第１のＣＰＵの処理動作の一例を示すフローチャートである。 図９は、対向側の第３の測定処理に関わる第２の伝送装置内の第２のＣＰＵの処理動作の一例を示すフローチャートである。 図１０は、実施例２の光伝送システムの構成の一例を示すブロック図である。 図１１は、実施例３の光伝送システムの構成の一例を示すブロック図である。

以下、図面に基づいて、本願の開示する光伝送システム、管理装置及び損失特性取得方法の実施例を詳細に説明する。尚、本実施例により、開示技術が限定されるものではない。また、以下に示す各実施例は、矛盾を起こさない範囲で適宜組み合わせても良い。

図１は、実施例１の光伝送システム１の構成の一例を示すブロック図である。図１に示す光伝送システム１は、第１の伝送装置２Ａと、第２の伝送装置２Ｂと、第１の伝送装置２Ａと第２の伝送装置２Ｂとの間を接続する光伝送路３と、管理装置４と、ＬＡＮ（Local Area Network）５とを有する。

第１の伝送装置２Ａは、例えば、光主信号を、光伝送路３を通じて第２の伝送装置２Ｂに伝送する。光伝送路３は、例えば、光ファイバ等の通信経路である。管理装置４は、第１の伝送装置２Ａ及び第２の伝送装置２Ｂを保守管理する端末装置である。管理装置４は、第１の伝送装置２Ａ及び第２の伝送装置２Ｂと光伝送路３とは異なるＬＡＮ５で各種制御情報を送受信するものである。

第１の伝送装置２Ａは、主信号送信部１１と、第１の測定部１２Ａと、第１の全反射部１３Ａと、第１の光ＳＷ１４Ａと、第１の光カプラ１５Ａと、第１のＣＰＵ１６Ａと、第１のメモリ１８Ａとを有する。主信号送信部１１は、例えば、第１の光波長λ１の光主信号を光伝送路３上に出力する。第１の測定部１２Ａは、ＯＴＤＲの第１の測定光を光伝送路３に出力し、光伝送路３内の不純物で反射する、その第１の測定光に対する第１の戻り光で光伝送路３の損失特性を測定するＯＴＤＲ測定部である。尚、第１の測定光は、光主信号と異なる第２の光波長λ２の測定光である。第１の全反射部１３Ａは、対向側の第２の伝送装置２Ｂ内の第２の測定部１２Ｂからの第２の測定光を反射する、例えば、光学多層膜をコーティングした光学素子に光ファイバをレンズ等でコリメートして結合する光学素子である。第１の全反射部１３Ａは、第２の戻り光に比較して十分大きな反射量の第２の反射光を反射するものである。第１の測定部１２Ａは、第１の測定光に対する第１の戻り光及び、第１の測定光に対する第１の反射光を測定する。第１の測定部１２Ａは、第１の測定光と第１の戻り光との間の時間差及びレベル差、第１の測定光と第１の反射光との間の時間差及びレベル差に基づき、第１の損失特性を取得する。第１の損失特性は、第１の戻り光のピークを始点、第１の反射光のピークを終点とする区間の距離毎の出力レベルである。尚、第１の測定部１２Ａは、光伝送路３が長距離であるため、第１の測定光に対する第１の戻り光のみで光伝送路３の全長距離を測定できないが、第１の測定光に対する第１の反射光を使用して光伝送路３の全長距離を観測できる。そもそも、第１の戻り光は、第１の測定光に対する後方レイリー散乱光の微弱な光レベルであるため、長距離に応じて減衰するため、測定距離に限界がある。第１の測定部１２Ａは、例えば、光伝送路３を１５０ｋｍ、第１の測定部１２Ａの第１の測定光に対する第１の戻り光の測定限界を１００ｋｍとした場合、第１の伝送装置２Ａから１００ｋｍを超える地点からの戻り光を測定できない。しかしながら、第１の測定部１２Ａは、１５０ｋｍ地点の第１の測定光に対する第１の反射光を測定できる。

第１の光ＳＷ１４Ａは、第１の光カプラ１５Ａに対して第１の測定部１２Ａ又は第１の全反射部１３Ａを切替接続する１×２の光ＳＷである。尚、光ＳＷには、電磁石を使用してミラーやプリズム等を駆動することで光路を切替えるメカニカル型光ＳＷや、ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical System)を利用し静電気で小型ミラーを駆動することで光路を切り替えるＭＥＭＳ型光スイッチがある。また、光ＳＷには、例えば、シリコン等の基板上に光導波路を形成し、熱、電気や光信号に応じて屈折率の変化を利用し、光路を切り替える導波路型光スイッチ等がある。第１の光ＳＷ１４Ａは、入出力の方向性のないＳＷである。第１の光カプラ１５Ａは、光伝送路３と第１の光ＳＷ１４Ａとの間に配置し、光伝送路３上に第１の測定部１２Ａからの第１の測定光を合波すると共に、光伝送路３から第１の測定光に対する第１の戻り光及び第１の反射光を光分岐する。第１のＣＰＵ１６Ａは、第１の伝送装置２Ａ全体を制御する。第１のメモリ１８Ａは、各種情報を記憶する領域である。

第１のＣＰＵ１６Ａは、第１のシーケンサ２１Ａと、第１の通信部２２Ａと、第１の測定制御部２３Ａとを有する。第１のシーケンサ２１Ａは、各種プログラムに基づき、各種処理を順次実行する。第１のシーケンサ２１Ａは、例えば、第２の伝送装置２Ｂに対して第２の光ＳＷ１４Ｂの切替要求を送信すると共に、第２の伝送装置２Ｂからの第１の光ＳＷ１４Ａへの切替要求に対する切替完了を第２の伝送装置２Ｂに送信する。第１の通信部２２Ａは、ＬＡＮ５との間で通信する。第１の測定制御部２３Ａは、第１の測定部１２Ａを制御する。第１のＣＰＵ１６Ａは、第１のメモリ１８Ａに格納中の各種プログラムを実行することで各種プロセスを機能として、第１のシーケンサ２１Ａ、第１の通信部２２Ａ及び第１の測定制御部２３Ａを構成する。

第２の伝送装置２Ｂは、主信号受信部１７と、第２の測定部１２Ｂと、第２の全反射部１３Ｂと、第２の光ＳＷ１４Ｂと、第２の光カプラ１５Ｂと、第２のＣＰＵ１６Ｂと、第２のメモリ１８Ｂとを有する。主信号受信部１７は、光伝送路３上の第１の伝送装置２Ａからの光主信号を受信する。第２の測定部１２Ｂは、ＯＴＤＲの第２の測定光を光伝送路３に出力し、その第２の測定光に対する第２の戻り光で光伝送路３の損失特性を測定するＯＴＤＲ測定部である。尚、第２の測定光は、第１の測定部１２Ａからの第１の測定光と同一光波長の測定光である。第２の全反射部１３Ｂは、対向側の第１の伝送装置２Ａ内の第１の測定部１２Ｂからの第１の測定光を反射する、例えば、光学多層膜をコーティングした光学素子に光ファイバをレンズ等でコリメートして結合する光学素子である。第２の全反射部１３Ｂは、第１の戻り光に比較して十分大きな反射量の第１の反射光を反射するものである。第２の測定部１２Ｂは、第２の測定光に対する第２の戻り光及び、第２の測定光に対する第２の反射光を測定する。第２の測定部１２Ｂは、第２の測定光と第２の戻り光との間の時間差及びレベル差、第２の測定光と第２の反射光との間の時間差及びレベル差に基づき、第２の損失特性を取得する。第２の損失特性は、第２の戻り光のピークを始点、第２の反射光のピークを終点とする区間の距離毎の出力レベルである。尚、第２の測定部１２Ｂは、光伝送路３が長距離であるため、第２の測定光に対する第２の戻り光のみで光伝送路３の全長距離を測定できないが、第２の測定光に対する第２の反射光を使用して光伝送路３の全長距離を観測できる。第２の測定部１２Ｂも、第２の測定光に対する第２の戻り光の測定限界を１００ｋｍとした場合、第２の伝送装置２Ｂから１００ｋｍを超える地点からの戻り光を測定できない。しかしながら、第２の測定部１２Ｂは、１５０ｋｍ地点の第２の測定光に対する第２の反射光を測定できる。

第２の光ＳＷ１４Ｂは、第２の光カプラ１５Ｂに対して第２の測定部１２Ｂ又は第２の全反射部１３Ｂを切替接続する１×２の光ＳＷである。第２の光ＳＷ１４Ｂは、入出力の方向性のないＳＷである。第２の光カプラ１５Ｂは、光伝送路３と第２の光ＳＷ１４Ｂとの間に配置し、光伝送路３上に第２の測定部１２Ｂからの第２の測定光を合波すると共に、光伝送路３から第２の測定光に対する第２の戻り光及び第２の反射光を光分岐する。第２のＣＰＵ１６Ｂは、第２の伝送装置２Ｂ全体を制御する。第２のメモリ１８Ｂは、各種情報を記憶する領域である。

第２のＣＰＵ１６Ｂは、第２のシーケンサ２１Ｂと、第２の通信部２２Ｂと、第２の測定制御部２３Ｂとを有する。第２のシーケンサ２１Ｂは、各種プログラムに基づき、各種処理を順次実行する。第２のシーケンサ２１Ｂは、例えば、第１の伝送装置２Ａに対して第１の光ＳＷ１４Ａへの切替要求を送信すると共に、第１の伝送装置２Ａからの第２の光ＳＷ１４Ｂへの切替要求に対する切替完了を第１の伝送装置２Ａに送信する。第２の通信部２２Ｂは、ＬＡＮ５との間で通信する。第２の測定制御部２３Ｂは、第２の測定部１２Ｂを制御する。第２のＣＰＵ１６Ｂは、第２のメモリ１８Ｂに格納中の各種プログラムを実行することで各種プロセスを機能として、第２のシーケンサ２１Ｂ、第２の通信部２２Ｂ及び第２の測定制御部２３Ｂを構成する。

管理装置４は、通信部３１と、操作部３２と、表示部３３と、メモリ３４と、データ処理部３５と、ＣＰＵ３６とを有する。通信部３１は、ＬＡＮ５との間で通信する。操作部３２は、管理装置４に対して各種コマンドを入力する入力インタフェースである。表示部３３は、各種情報を画面表示する出力インタフェースである。メモリ３４は、各種情報を記憶する領域である。データ処理部３５は、第１の測定部１２Ａの測定結果である第１の損失特性と、第２の測定部１２Ｂの測定結果である第２の損失特性との重複部分を重ねて結合して光伝送路３全長の損失特性を取得する処理部である。ＣＰＵ３６は、管理装置４全体を制御する。

図２は、データ処理部３５の機能構成の一例を示すブロック図である。図２に示すデータ処理部３５は、反転部４１と、補正部４２と、シフト部４３と、結合部４４とを有する。反転部４１は、第２の測定部１２Ｂから取得した第２の損失特性を反転する処理部である。補正部４２は、反転処理後の第２の損失特性の区間距離を補正する処理部である。尚、補正部４２は、第１の測定部１２Ａ及び第２の測定部１２Ｂの伝搬遅延や光伝送路３のファイバ材質に応じて第１の損失特性と第２の損失特性との間の区間距離に差が生じる場合があるため、その差を補正するための処理部である。補正部４２は、第１の損失特性の区間距離をＡ、第２の損失特性の区間距離をＢとし、第１の損失特性の区間距離Ａを基準にして第２の損失特性の区間距離Ｂを補正する場合、Ａ／Ｂで第２の損失特性の区間距離Ｂを補正する。シフト部４３は、距離補正後の第２の損失特性をシフトする処理部である。結合部４４は、第１の損失特性の傾斜と、シフト部４３でシフト処理後の第２の損失特性の傾斜との重複部分を重ねて結合することで光伝送路３全長の損失特性を取得する処理部である。

第１のＣＰＵ１６Ａは、第１の通信部２２Ａを通じてＬＡＮ５経由で第２の光ＳＷ１４Ｂの切替情報や第２の測定部１２Ｂの測定制御情報を第２のＣＰＵ１６Ｂに通知する。尚、第２の光ＳＷ１４Ｂの切替情報は、例えば、第２の測定部１２Ｂ又は第２の全反射部１３Ｂの切替設定状況を示す情報である。第２の測定部１２Ｂの測定制御情報は、例えば、第２の光ＳＷ１４Ｂを第２の測定部１２Ｂに切替えた場合に、第２の測定部１２Ｂの測定動作を開始する等の第２の測定部１２Ｂに対する制御情報である。第２のＣＰＵ１６Ｂも、第２の通信部２２Ｂを通じてＬＡＮ５経由で第１の光ＳＷ１４Ａの切替情報や第１の測定部１２Ａの測定制御情報を第１のＣＰＵ１６Ａに通知する。尚、第１の光ＳＷ１４Ａの切替情報は、例えば、第１の測定部１２Ａ又は第２の全反射部１３Ａの切替設定状況を示す情報である。第１の測定部１２Ａの測定制御情報は、例えば、第１の光ＳＷ１４Ａを第１の測定部１２Ａに切替えた場合に、第１の測定部１２Ａの測定動作を開始する等の第１の測定部１２Ａに対する制御情報である。

第１のＣＰＵ１６Ａは、例えば、切替情報に基づき、第１の光ＳＷ１４Ａを第１の測定部１２Ａに切替接続すると共に、第２のＣＰＵ１６Ｂは、例えば、切替情報に基づき、第２の光ＳＷ１４Ｂを第２の全反射部１３Ｂに切替接続する。そして、第１のＣＰＵ１６Ａは、例えば、測定制御情報に基づき、第１の測定部１２Ａの測定動作を開始する。そして、第１の測定部１２Ａは、第１の測定光を第１の光ＳＷ１４Ａ、第１の光カプラ１５Ａ、光伝送路３、第２の光カプラ１５Ｂ及び第２の光ＳＷ１４Ｂを経由して、第２の全反射部１３Ｂに出力する。その結果、第１の測定部１２Ａは、第１の測定光に対する光伝送路３上の後方レイリー散乱による第１の戻り光を順次測定する。更に、第２の全反射部１３Ｂは、第１の測定部１２Ａからの第１の測定光に対する第１の反射光を第２の光ＳＷ１４Ｂ、第２の光カプラ１５Ｂ、光伝送路３、第１の光カプラ１５Ａ及び第１の光ＳＷ１４Ａを経由して第１の測定部１２Ａに出力する。第１の測定部１２Ａは、第２の全反射部１３Ｂからの第１の測定光に対する第１の反射光を測定する。その結果、第１の測定部１２Ａは、第１の測定光に対する第１の戻り光及び第１の反射光に基づき、第１の損失特性を取得する。

第１のＣＰＵ１６Ａは、切替情報に基づき、第１の損失特性を取得した場合、第１の光ＳＷ１４Ａを第１の全反射部１３Ａに切替接続すると共に、第２のＣＰＵ１６Ｂは、切替情報に基づき、第２の光ＳＷ１４Ｂを第２の測定部１２Ｂに切替接続する。そして、第２のＣＰＵ１６Ｂは、例えば、測定制御情報に基づき、第２の測定部１２Ｂの測定動作を開始する。第２の測定部１２Ｂは、第２の測定光を第２の光ＳＷ１４Ｂ、第２の光カプラ１５Ｂ、光伝送路３、第１の光カプラ１５Ａ及び第１の光ＳＷ１４Ａ経由で第１の全反射部１３Ａに出力する。その結果、第２の測定部１２Ｂは、第２の測定光に対する光伝送路３上の後方レイリー散乱による第２の戻り光を順次測定する。更に、第１の全反射部１３Ａは、第２の測定部１２Ｂからの第２の測定光に対する第２の反射光を第１の光ＳＷ１４Ａ、第１の光カプラ１５Ａ、光伝送路３、第２の光カプラ１５Ｂ及び第２の光ＳＷ１４Ｂを経由して第２の測定部１２Ｂに出力する。その結果、第２の測定部１２Ｂは、第２の測定光に対する第２の戻り光及び第２の反射光に基づき、第２の損失特性を取得する。

更に、第１のＣＰＵ１６Ａは、第１の通信部２２Ａを通じて第１の測定部１２Ａの測定結果である第１の損失特性をＬＡＮ５経由で管理装置４に通知する。また、第２のＣＰＵ１６Ｂは、第２の通信部２２Ｂを通じて第２の測定部１２Ｂの測定結果である第２の損失特性をＬＡＮ５経由で管理装置４に通知する。

図３Ａは、第１の損失特性の一例を示す説明図である。データ処理部３５は、第１の測定部１２Ａの測定結果である図３Ａに示す第１の損失特性を第１のＣＰＵ１６Ａから取得する。第１の損失特性は、縦軸を第１の測定部１２Ａからの第１の測定光に対する第１の戻り光及び第１の反射光のレベル、横軸を第１の伝送装置２Ａから第２の伝送装置２Ｂ方向への光伝送路３の距離とする。

第１の損失特性は、第１の測定部１２Ａからの第１の測定光に対する第１の戻り光のレベルに応じて変化し、第１の伝送装置２Ａから離れるに連れて第１の戻り光のレベルが低下して測定限界となる。そして、第１の損失特性は、第１の伝送装置２Ａから離れるに連れて、第１の戻り光のレベルが測定限界となり、測定限界の特性不明区間内に、第１の測定光に対する第２の全反射部１３Ｂからの第１の反射光を含む。第１の損失特性は、第１の戻り光のレベルが測定限界の特性不明区間の内、第２の全反射部１３Ｂからの第１の測定光に対する第１の反射光が一時的に上昇したピーク点を、第１の伝送装置２Ａから見た光伝送路３上の第２の伝送装置２Ｂの配置位置とする。第１の損失特性の区間は、第１の戻り光のレベルがピークの地点を始点、測定限界の特性不明区間の内、ピークの地点、すなわち第１の反射光のピークを終点とする。

図３Ｂは、第２の損失特性の一例を示す説明図である。データ処理部３５は、第２の測定部１２Ｂの測定結果である図３Ｂに示す第２の損失特性を第２のＣＰＵ１６Ｂから取得する。第２の損失特性は、縦軸を第２の測定部１２Ｂからの第２の測定光に対する第２の戻り光及び第２の反射光のレベル、横軸を第２の伝送装置２Ｂから第１の伝送装置２Ａ方向への光伝送路３の距離とする。

第２の損失特性は、第２の測定部１２Ｂからの第２の測定光に対する第２の戻り光のレベルに応じて変化し、第２の伝送装置２Ｂから離れるに連れて第２の戻り光のレベルが低下して測定限界となる。そして、第２の損失特性は、第２の伝送装置２Ｂから離れるに連れて、第２の戻り光のレベルが測定限界となり、測定限界の特性不明区間内に、第１の測定光に対する第１の全反射部１３Ａからの第２の反射光を含む。第２の損失特性は、第２の戻り光のレベルが測定限界以下の特性不明区間の内、第１の全反射部１３Ａからの第２の測定光に対する第２の反射光が一時的に上昇したピーク点を、第２の伝送装置２Ｂから見た光伝送路３上の第１の伝送装置２Ａの配置位置とする。第２の損失特性の区間は、第２の戻り光のレベルがピークの地点を始点、測定限界の特性不明区間の内、ピークの地点すなわち第２の反射光のピークを終点とする。

図３Ｃは、反転処理後の第２の損失特性の一例を示す説明図である。反転部４１は、図３Ｂに示す第２の損失特性を図３Ｃに示すように反転する。その結果、第２の損失特性は、第１の損失特性の測定結果の重複部分を重ねて結合するための事前準備として、その傾斜を第１の損失特性の傾斜に合わせる。

図３Ｄは、距離補正後の第２の損失特性の一例を示す説明図である。補正部４２は、図３Ｃに示す第２の損失特性の区間距離Ｂを、第１の損失特性の区間距離Ａを基準にして、図３Ｄに示すように補正する。尚、第１の測定部１２Ａと第２の測定部１２Ｂとの間には測定誤差があるため、第１の損失特性の区間距離Ａと第２の損失特性の区間距離Ｂとの間で距離差が生じる場合がある。その結果、第２の損失特性は、第１の損失特性の測定結果と重ねて結合するための事前準備として、その区間距離を第１の損失特性の区間距離Ａに合せる。例えば、第１の損失特性の区間距離Ａ、第２の損失特性の区間距離Ｂとした場合、第２の損失特性の区間距離ＢをＡ／Ｂ倍に補正する。

図３Ｅは、光伝送路３全長の損失特性の一例を示す説明図である。シフト部４３は、図３Ａに示す第１の損失特性の傾斜と図３Ｄに示す第２の損失特性の傾斜との重複部分を合せるように第２の損失特性をシフトする。更に、結合部４４は、シフト後の第２の損失特性の傾斜と図３Ａに示す第１の損失特性の傾斜との重複部分を結合し、図３Ｅに示すように光伝送路３全長の損失特性を取得する。光伝送路３全長の損失特性は、第１の伝送装置２Ａと第２の伝送装置２Ｂとの間の光伝送路３全長の損失特性である。

次に実施例１の光伝送システム１の動作について説明する。図４は、第１の測定処理に関わる光伝送システム１の処理動作の一例を示すフローチャートである。図４に示す第１の測定処理は、第１の測定部１２Ａにて第１の損失特性を取得した後、第２の測定部１２Ｂにて第２の損失特性を取得する処理である。

図４において第１の伝送装置２Ａ内の第１のＣＰＵ１６Ａは、測定トリガを検出したか否かを判定する（ステップＳ１１）。第１のＣＰＵ１６Ａは、測定トリガを検出した場合（ステップＳ１１肯定）、第１の光ＳＷ１４Ａを第１の測定部１２Ａに切替接続する（ステップＳ１２）。第１のＣＰＵ１６Ａは、測定トリガを検出した場合、第２のＣＰＵ１６Ｂに対して第２の光ＳＷ１４Ｂの第２の全反射部１３Ｂへの切替情報を通知する。そして、第２のＣＰＵ１６Ｂは、切替情報に基づき、第２の光ＳＷ１４Ｂを第２の全反射部１３Ｂに切替接続する（ステップＳ１３）。

第１のＣＰＵ１６Ａは、第１の測定部１２Ａの測定動作を開始する（ステップＳ１４）。第１のＣＰＵ１６Ａは、第１の測定部１２Ａを通じて第１の損失特性を取得したか否かを判定する（ステップＳ１５）。尚、第１の測定部１２Ａは、第１の測定光に対する光伝送路３上の第１の戻り光と、第２の全反射部１３Ｂからの第１の測定光に対する第１の反射光とに基づき、図３Ａに示す第１の損失特性を取得する。

第１のＣＰＵ１６Ａは、第１の損失特性を取得した場合（ステップＳ１５肯定）、第１の光ＳＷ１４Ａを第１の全反射部１３Ａに切替接続する（ステップＳ１６）。尚、第１のＣＰＵ１６Ａは、第１の損失特性を取得した場合、第２のＣＰＵ１６Ｂに対して第２の光ＳＷ１４Ｂの第２の測定部１２Ｂ側への切替情報及び第２の測定部１２Ｂの測定制御情報を通知する。更に、第２のＣＰＵ１６Ｂは、切替情報に基づき、第２の光ＳＷ１４Ｂを第２の測定部１２Ｂに切替接続する（ステップＳ１７）。第２のＣＰＵ１６Ｂは、測定制御情報に基づき、第２の測定部１２Ｂの測定動作を開始する（ステップＳ１８）。第２のＣＰＵ１６Ｂは、第２の測定部１２Ｂを通じて第２の損失特性を取得したか否かを判定する（ステップＳ１９）。尚、第２の測定部１２Ｂは、第２の測定光に対する光伝送路３上の第２の戻り光と、第１の全反射部１３Ａからの第２の測定光に対する第２の反射光とに基づき、図３Ｂに示す第２の損失特性を取得する。第２のＣＰＵ１６Ｂは、第２の測定部１２Ｂを通じて第２の損失特性を取得した場合（ステップＳ１９肯定）、図４に示す処理動作を終了する。

第１のＣＰＵ１６Ａは、測定トリガを検出しなかった場合（ステップＳ１１否定）、図４に示す処理動作を終了する。第１のＣＰＵ１６Ａは、第１の損失特性を取得しなかった場合（ステップＳ１５否定）、第１の損失特性を取得したか否かを判定すべく、ステップＳ１５に移行する。第２のＣＰＵ１６Ｂは、第２の損失特性を取得しなかった場合（ステップＳ１９否定）、第２の損失特性を取得したか否かを判定すべく、ステップＳ１９に移行する。

第１の測定処理では、第１の光ＳＷ１４Ａを第１の測定部１２Ａ、第２の光ＳＷ１４Ｂを第２の全反射部１３Ｂに切替接続し、第１の測定部１２Ａからの測定動作を開始する。その結果、第１の測定部１２Ａは、第１の測定光に対する第１の戻り光及び第１の反射光に基づき、第１の損失特性を取得できる。

更に、第１の測定処理では、第１の光ＳＷ１４Ａを第１の全反射部１３Ａ、第２の光ＳＷ１４Ｂを第２の測定部１２Ｂに切替接続し、第２の測定部１２Ｂからの測定動作を開始する。その結果、第２の測定部１２Ｂは、第２の測定光に対する第２の戻り光及び第２の反射光に基づき、第２の損失特性を取得できる。

図５は、全長損失特性取得処理に関わる管理装置４のデータ処理部３５の処理動作の一例を示すフローチャートである。図５に示す全長損失特性取得処理は、第１の損失特性と第２の損失特性とに基づき、光伝送路３全長の損失特性を取得する処理である。

データ処理部３５は、第１の伝送装置２ＡからＬＡＮ５経由で、図３Ａに示す第１の損失特性を取得したか否かを判定する（ステップＳ２１）。データ処理部３５は、第１の損失特性を取得した場合（ステップＳ２１肯定）、第２の伝送装置２ＢからＬＡＮ５経由で、図３Ｂに示す第２の損失特性を取得したか否かを判定する（ステップＳ２２）。

データ処理部３５内の反転部４１は、第２の損失特性を取得した場合（ステップＳ２２肯定）、図３Ｃに示すように第２の損失特性を反転する（ステップＳ２３）。データ処理部３５内の補正部４２は、第１の損失特性の区間距離を基準にして、反転処理後の第２の損失特性の区間距離を第１の損失特性の区間距離に合せて、第２の損失特性を図３Ｄに示すように補正する（ステップＳ２４）。

データ処理部３５内のシフト部４３は、第１の損失特性を基準にして、距離補正後の第２の損失特性をシフトする（ステップＳ２５）。データ処理部３５内の結合部４４は、シフト後の第２の損失特性の傾斜と、第１の損失特性の傾斜との重複部分を重ねて結合して、図３Ｅに示すように光伝送路３全長の損失特性を取得し（ステップＳ２６）、図５に示す処理動作を終了する。

データ処理部３５は、第１の損失特性を取得しなかった場合（ステップＳ２１否定）、図５に示す処理動作を終了する。また、データ処理部３５は、第２の損失特性を取得しなかった場合（ステップＳ２２否定）、第１の損失特性を取得したか否かを判定すべく、ステップＳ２１に移行する。

全長損失特性取得処理を実行するデータ処理部３５は、第１の損失特性及び第２の損失特性を入力し、第２の損失特性を反転し、反転後の第２の損失特性の区間距離を、第１の損失特性の区間距離を基準にして補正する。更に、データ処理部３５は、補正後の第２の損失特性を、第１の損失特性を基準にしてシフトし、シフト後の第２の損失特性の傾斜と第１の損失特性の傾斜との重複部分を重ねて結合する。その結果、光伝送路３全長の損失特性を取得できる。

実施例１の第１の測定部１２Ａは、第１の測定光に対する第１の戻り光及び第１の反射光に基づき、第１の損失特性を取得する。第２の測定部１２Ｂは、第２の測定光に対する第２の戻り光及び第２の反射光に基づき、第２の損失特性を取得する。管理装置４は、第１の損失特性及び第２の損失特性を入力し、第２の損失特性の区間距離を第１の損失特性の区間距離に合わせて補正する。更に、管理装置４は、第１の損失特性の傾斜と補正後の第２の損失特性の傾斜との重複部分を重ねて結合して光伝送路３全長の高精度な損失特性を取得できる。

実施例１では、第１の伝送装置２Ａから第２の全反射部１３Ｂまでの距離及び、第２の伝送装置２Ｂから第１の全反射部１３Ａまでの距離が明確になるため、第１の伝送装置２Ａと第２の伝送装置２Ｂとの間の光伝送路３全長の高精度な損失特性を取得できる。

第１の測定部１２Ａは、第１の損失特性の区間の内、第１の戻り光の測定が限界となる特性不明区間内のピークを第１の反射光のピークとする。更に、第２の測定部１２Ｂは、第２の損失特性の区間の内、第２の戻り光の測定が限界となる特性不明区間内のピークを第２の反射光のピークとする。その結果、第１の損失特性及び第２の損失特性の終点を識別できる。

管理装置４は、第２の損失特性を反転し、反転後の第２の損失特性の区間距離を第１の損失特性の区間距離を基準に補正し、補正後の第２の損失特性の傾斜と第１の損失特性の傾斜との重複部分を重ねて結合する。その結果、光伝送路３全長の損失特性を取得できる。

尚、管理装置４は、第１のＣＰＵ１６Ａから第１の損失特性を取得した後、第２のＣＰＵ１６Ｂから第２の損失特性を取得し、第１の損失特性と第２の損失特性との傾斜を重ねて結合して、光伝送路３全長の損失特性を取得したが、これに限定されるものではない。管理装置４は、例えば、第２のＣＰＵ１６Ｂから第２の損失特性を取得した後、第１のＣＰＵ１６Ａから第１の損失特性を取得し、第１の損失特性と第２の損失特性とを結合して、光伝送路３全長の損失特性を取得しても良い。

また、管理装置４は、第１の損失特性と第２の損失特性とを結合して光伝送路３全長の損失特性を取得したが、第１のＣＰＵ１６Ａ又は第２のＣＰＵ１６Ｂで第１の損失特性と第２の損失特性とを結合して損失特性を取得しても良い。

管理装置４は、第２の損失特性を反転し、反転後の第２の損失特性の区間距離を補正し、距離補正後の第２の損失特性をシフトしたが、これに限定されるものではない。例えば、第１の損失特性を反転し、反転後の第１の損失特性の区間距離を補正し、距離補正後の第１の損失特性をシフトし、シフト後の第１の損失特性と第２の損失特性とを結合して損失特性を取得しても良い。

管理装置４は、第１の損失特性の区間距離を基準にして第２の損失特性の区間距離を補正したが、第１の損失特性と第２の損失特性の中間値の区間距離を基準にして第１の損失特性及び第２の損失特性の区間距離を補正しても良い。

上記第１の測定処理では、第１の測定部１２Ａにて第１の測定光に対する第１の戻り光及び第１の反射光に基づき第１の損失特性を取得した後、第２の測定部１２Ｂにて第２の測定光に対する第２の戻り光及び第２の反射光に基づき第２の損失特性を取得した。しかしながら、第１の測定処理に限定されるものではなく、第２の損失特性を取得した後、第１の損失特性を取得しても良い。

また、第１の測定処理では、第１の損失特性を取得した後、第１の光ＳＷ１４Ａを第１の全反射部１３Ａ、第２の光ＳＷ１４Ｂを第２の測定部１２Ｂに切替接続し、第２の損失特性を取得した。しかしながら、これに限定されるものではなく、その場合の第２の測定処理及び対向側の第２の測定処理につき、以下に説明する。図６は、第２の測定処理に関わる第１の伝送装置２Ａ内の第１のＣＰＵ１６Ａの処理動作の一例を示すフローチャートである。図６に示す第２の測定処理は、第１の損失特性を取得すべく、第１の光ＳＷ１４Ａを自動的に切り替える処理である。

第１のＣＰＵ１６Ａは、測定トリガを検出したか否かを判定する（ステップＳ３１）。尚、測定トリガは、例えば、管理装置４から第１のＣＰＵ１６Ａ及び第２のＣＰＵ１６Ｂに通知するものである。第１のＣＰＵ１６Ａは、測定トリガを検出した場合（ステップＳ３１肯定）、第１の光ＳＷ１４Ａを第１の測定部１２Ａに切替接続し（ステップＳ３２）、第１の測定部１２Ａの測定動作を開始する（ステップＳ３３）。

第１のＣＰＵ１６Ａは、第１の測定部１２Ａの測定動作を開始した後、第１のタイマを起動し（ステップＳ３４）、第１のタイマがタイムアップしたか否かを判定する（ステップＳ３５）。尚、第１のタイマは、第１の測定部１２Ａの第１の測定光の出力開始から第１の損失特性の取得完了までの十分なタイマ時間である。

第１のＣＰＵ１６Ａは、第１のタイマがタイムアップした場合（ステップＳ３５肯定）、第１の光ＳＷ１４Ａを第１の全反射部１３Ａに切替接続し（ステップＳ３６）、第２のタイマを起動する（ステップＳ３７）。更に、第１のＣＰＵ１６Ａは、第２のタイマがタイムアップしたか否かを判定する（ステップＳ３８）。第１のＣＰＵ１６Ａは、第２のタイマがタイムアップした場合、図６に示す処理動作を終了する。尚、第２のタイマは、第２の測定部１２Ｂの第２の測定光の出力開始から第２の損失特性の取得完了までの十分なタイマ時間である。

第１のＣＰＵ１６Ａは、測定トリガを検出しなかった場合（ステップＳ３１否定）、図６に示す処理動作を終了する。第１のＣＰＵ１６Ａは、ステップＳ３４にて第１のタイマがタイムアップしなかった場合（ステップＳ３５否定）、第１のタイマがタイムアップしたか否かを判定すべく、ステップＳ３５に移行する。第１のＣＰＵ１６Ａは、第２のタイマがタイムアップしなかった場合（ステップＳ３８否定）、第２のタイマがタイムアップしたか否かを判定すべく、ステップＳ３８に移行する。

第２の測定処理を実行する第１のＣＰＵ１６Ａは、測定トリガを検出した場合に、第１の光ＳＷ１４Ａを第１の測定部１２Ａに切替えて第１の測定部１２Ａの測定動作を開始する。更に、第１のＣＰＵ１６Ａは、第１の測定部１２Ａの測定開始から第１のタイマを起動して第１のタイマがタイムアップしたか否かを判定する。その結果、第１の光ＳＷ１４Ａは、測定トリガに応じて、第１のタイマがタイムアップするまで第１の測定部１２Ａに接続する。

更に、第１のＣＰＵ１６Ａは、第１のタイマがタイムアップした場合に、第１の光ＳＷ１４Ａを第１の全反射部１３Ａに切替えて第２のタイマが起動し、第２のタイマがタイムアップしたか否かを判定する。その結果、第１の光ＳＷ１４Ａは、第２のタイマがタイムアップするまで第１の全反射部１３Ａに接続する。つまり、第１の光ＳＷ１４Ａは、光伝送路３に対して第１の測定部１２Ａ又は第１の全反射部１３Ａを自律的に切替接続する。

図７は、対向側の第２の測定処理に関わる第２の伝送装置２Ｂ内の第２のＣＰＵ１６Ｂの処理動作の一例を示すフローチャートである。図７に示す対向側の第２の測定処理は、第２の損失特性を取得すべく、第２の光ＳＷ１４Ｂを自動的に切り替える処理である。

第２のＣＰＵ１６Ｂは、測定トリガを検出したか否かを判定する（ステップＳ４１）。尚、管理装置４は、第１のＣＰＵ１６Ａ及び第２のＣＰＵ１６Ｂに対して測定トリガを出力する。第２のＣＰＵ１６Ｂは、測定トリガを検出した場合（ステップＳ４１肯定）、第２の光ＳＷ１４Ｂを第２の全反射部１３Ｂに切替接続し（ステップＳ４２）、第３のタイマを起動する（ステップＳ４３）。第２のＣＰＵ１６Ｂは、第３のタイマがタイムアップしたか否かを判定する（ステップＳ４４）。尚、第３のタイマは、第１の測定部１２Ａの第１の測定光の出力開始から第１の損失特性の取得完了までの十分なタイマ時間である。

第２のＣＰＵ１６Ｂは、第３のタイマがタイムアップした場合（ステップＳ４４肯定）、第２の光ＳＷ１４Ｂを第２の測定部１２Ｂに切替接続し（ステップＳ４５）、第２の測定部１２Ｂの測定動作を開始する（ステップＳ４６）。第２のＣＰＵ１６Ｂは、第４のタイマを起動し（ステップＳ４７）、第４のタイマがタイムアップしたか否かを判定する（ステップＳ４８）。第２のＣＰＵ１６Ｂは、第４のタイマがタイムアップした場合、図７に示す処理動作を終了する。尚、第４のタイマは、第２の測定部１２Ｂの第２の測定光の出力開始から第２の損失特性の取得完了までの十分なタイマ時間である。

第２のＣＰＵ１６Ｂは、測定トリガを検出しなかった場合（ステップＳ４１否定）、図７に示す処理動作を終了する。第２のＣＰＵ１６Ｂは、第３のタイマがタイムアップしなかった場合（ステップＳ４４否定）、第３のタイマがタイムアップしたか否かを判定すべく、ステップＳ４４に移行する。第２のＣＰＵ１６Ｂは、第４のタイマがタイムアップしなかった場合（ステップＳ４８否定）、第４のタイマがタイムアップしたか否かを判定すべく、ステップＳ４８に移行する。

対向側の第２の測定処理を実行する第２のＣＰＵ１６Ｂは、測定トリガを検出した場合に、第２の光ＳＷ１４Ｂを第２の全反射部１３Ｂに切替えて第１のタイマを起動して第３のタイマがタイムアップしたか否かを判定する。その結果、第２の光ＳＷ１４Ｂは、測定トリガに応じて、第３のタイマがタイムアップするまで第２の全反射部１３Ｂに接続する。

更に、第２のＣＰＵ１６Ｂは、第３のタイマがタイムアップした場合に、第２の光ＳＷ１４Ｂを第２の測定部１２Ｂに切替えて第２の測定部１２Ｂの測定動作を開始する。更に、第２のＣＰＵ１６Ｂは、第２の測定部１２Ｂの測定開始から第４のタイマを起動し、第４のタイマがタイムアップしたか否かを判定する。その結果、第２の光ＳＷ１４Ｂは、第４のタイマがタイムアップするまで第２の測定部１２Ｂに接続する。つまり、第２の光ＳＷ１４Ｂは、光伝送路３に対して第２の測定部１２Ｂ又は第２の全反射部１３Ｂを自律的に切替接続する。

第１の光ＳＷ１４Ａにて第１の測定部１２Ａに切替接続し、第２の光ＳＷ１４Ｂにて第２の全反射部１３Ｂに切替接続した後に、第１のタイマと第３のタイマがタイムアップしたか否かを判定する。更に、第１のタイマがタイムアップした場合に第１の光ＳＷ１４Ａにて第１の全反射部１３Ａに切替接続し、第３のタイマがタイムアップした場合に、第２の光ＳＷ１４Ｂにて第２の測定部１２Ｂに切替接続する。その結果、第１の光ＳＷ１４Ａ及び第２の光ＳＷ１４Ｂを自動的に切り替えて第１の損失特性及び第２の損失特性を自動的に取得できる。尚、測定トリガは、例えば、管理装置４から通知されるが、次の測定トリガを通知するまでの時間が、対向側の第２の測定が完了するまでの十分な時間がある場合は、第２のタイマ起動（ステップＳ３７）及び第２のタイマがタイムアップしたか否かの判定（ステップＳ３８）のフローは除き、処理を終了することも可能である。また、第１のタイマ、第２のタイマ、第３のタイマ、第４のタイマは、同じまたはいずれかは同じタイマ時間でも構わない。

また、第２の測定処理及び対向側の第２の測定処理の代わりに、他の測定処理を実行しても良く、この場合の第３の測定処理及び対向側の第３の測定処理について以下に説明する。図８は、第３の測定処理に関わる第１の伝送装置２Ａ内の第１のＣＰＵ１６Ａの処理動作の一例を示すフローチャートである。図８に示す第３の測定処理は、第１の損失特性を取得すべく、指定時刻に応じて第１の光ＳＷ１４Ａを定期的に自動的に切り替える処理である。

図８において第１の伝送装置２Ａ内の第１のＣＰＵ１６Ａは、現在時刻が第１の指定時刻であるか否かを判定する（ステップＳ５１）。尚、第１の指定時刻は、後述する第３の指定時刻から第４の指定時刻の間を除く時刻か、第４の指定時刻とする。第１のＣＰＵ１６Ａは、現在時刻が第１の指定時刻の場合（ステップＳ５１肯定）、第１の光ＳＷ１４Ａを第１の測定部１２Ａに切替接続し（ステップＳ５２）、第１の測定部１２Ａの測定動作を開始する（ステップＳ５３）。尚、第１の測定部１２Ａは、第１の測定光に対する第１の戻り光及び第１の反射光に基づき、図３Ａに示す第１の損失特性を取得する。

第１のＣＰＵ１６Ａは、現在時刻が第２の指定時刻であるか否かを判定する（ステップＳ５４）。尚、第２の指定時刻は、第１の指定時刻で第１の測定部１２Ａの測定動作を開始してから第１の損失特性の取得完了までの十分な時刻であり、かつ、後述する第３の指定時刻から第４の指定時刻の間を除く時刻か、または第３の指定時刻とする。第１のＣＰＵ１６Ａは、現在時刻が第２の指定時刻の場合（ステップＳ５４肯定）、第１の光ＳＷ１４Ａを第１の全反射部１３Ａに切替接続する（ステップＳ５５）。

更に、第１のＣＰＵ１６Ａは、第１の光ＳＷ１４Ａを第１の全反射部１３Ａに切替接続した後、現在時刻が第１の指定時刻であるか否かを判定すべく、ステップＳ５１に移行する。第１のＣＰＵ１６Ａは、現在時刻が第２の指定時刻でない場合（ステップＳ５４否定）、現在時刻が第２の指定時刻であるか否かを判定すべく、ステップＳ５４に移行する。第１のＣＰＵ１６Ａは、現在時刻が第１の指定時刻でない場合（ステップＳ５１否定）、現在時刻が第１の指定時刻であるか否かを判定すべく、ステップＳ５１に移行する。

第３の測定処理を実行する第１のＣＰＵ１６Ａは、現在時刻が第１の指定時刻の場合に、第１の光ＳＷ１４Ａを第１の測定部１２Ａに切替えて第１の測定部１２Ａの測定動作を開始する。更に、第１のＣＰＵ１６Ａは、現在時刻が第２の指定時刻の場合、第１の光ＳＷ１４Ａを第１の全反射部１３Ａに切替える。その結果、第１の光ＳＷ１４Ａは、指定時刻に応じて、光伝送路３に対して第１の測定部１２Ａ又は第１の全反射部１３Ａに自律的に切替接続する。

図９は、対向側の第３の測定処理に関わる第２の伝送装置２Ｂ内の第２のＣＰＵ１６Ｂの処理動作の一例を示すフローチャートである。図９に示す対向側の第３の測定処理は、第２の損失特性を取得すべく、指定時刻に応じて第２の光ＳＷ１４Ｂを定期的に自動的に切り替える処理である。

図９において第２の伝送装置２Ｂ内の第２のＣＰＵ１６Ｂは、現在時刻が第３の指定時刻であるか否かを判定する（ステップＳ６１）。尚、第３の指定時刻は、前述した第１の指定時刻と第２の指定時刻との間の時刻を除く時刻か、第２の指定時刻とする。第２のＣＰＵ１６Ｂは、現在時刻が第３の指定時刻の場合（ステップＳ６１肯定）、第２の光ＳＷ１４Ｂを第２の測定部１２Ｂに切替接続し（ステップＳ６２）、第２の測定部１２Ｂの測定動作を開始する（ステップＳ６３）。尚、第２の測定部１２Ｂは、第２の測定光に対する第２の戻り光及び第２の反射光に基づき、図３Ｂに示す第２の損失特性を取得する。

第２のＣＰＵ１６Ｂは、現在時刻が第４の指定時刻であるか否かを判定する（ステップＳ６４）。尚、第４の指定時刻は、第３の指定時刻で第２の測定部１２Ｂの測定動作を開始してから第２の損失特性の取得完了までの十分な時刻であり、かつ、前述した第１の指定時刻と第２の指定時刻との間の時刻を除く時刻か、第１の指定時刻とする。第２のＣＰＵ１６Ｂは、現在時刻が第４の指定時刻の場合（ステップＳ６４肯定）、第２の光ＳＷ１４Ｂを第２の全反射部１３Ｂに切替接続する（ステップＳ６５）。

更に、第２のＣＰＵ１６Ｂは、第２の光ＳＷ１４Ｂを第２の全反射部１３Ｂに切替接続した後、現在時刻が第３の指定時刻であるか否かを判定すべく、ステップＳ６１に移行する。第２のＣＰＵ１６Ｂは、現在時刻が第４の指定時刻でない場合（ステップＳ６４否定）、現在時刻が第４の指定時刻であるか否かを判定すべく、ステップＳ６４に移行する。第２のＣＰＵ１６Ｂは、現在時刻が第３の指定時刻でない場合（ステップＳ６１否定）、現在時刻が第３の指定時刻であるか否かを判定すべく、ステップＳ６１に移行する。

対向側の第３の測定処理を実行する第２のＣＰＵ１６Ｂは、現在時刻が第３の指定時刻の場合に、第２の光ＳＷ１４Ｂを第２の測定部１２Ｂに切替えて第２の測定部１２Ｂの測定動作を開始する。更に、第２のＣＰＵ１６Ｂは、現在時刻が第４の指定時刻の場合、第２の光ＳＷ１４Ｂを第２の全反射部１３Ｂに切替える。その結果、第２の光ＳＷ１４Ｂは、指定時刻に応じて、光伝送路３に対して第２の測定部１２Ｂ又は第２の全反射部１３Ｂに自律的に切替接続する。

第１の指定時刻から第２の指定時刻の間の時刻では、第２の光ＳＷ１４Ｂは第２の全反射部１３Ｂに接続されており、また、第３の指定時刻から第４の指定時刻の間の時刻では、第１の光ＳＷ１４Ａは、第１の全反射部１３Ａに接続されている。現在時刻が第１の指定時刻に到達した場合に、第１の光ＳＷ１４Ａにて第１の測定部１２Ａに切替接続し、第２の光ＳＷ１４Ｂは第２の全反射１３Ｂに接続されている。更に、現在時刻が第３の指定時刻に到達した場合に、第２の光ＳＷ１４Ｂにて第２の測定部１２Ｂに切替接続し、第１の光ＳＷ１４Ａは第１の全反射部１３Ａに接続されている。その結果、第１の光ＳＷ１４Ａ及び第２の光ＳＷ１４Ｂを指定時刻に応じて自動的に切り替えて第１の損失特性及び第２の損失特性を自動的に取得できる。

上記実施例１の光伝送システム１では、第１のＣＰＵ１６Ａと、第２のＣＰＵ１６Ｂとの間をＬＡＮ５で配線したが、ＬＡＮ５に限定されるものではなく、制御線等であっても良い。また、第１のＣＰＵ１６Ａと第２のＣＰＵ１６Ｂとの間を、光伝送路３を使用してＯＳＣ光で制御情報を通信しても良く。その場合の実施の形態につき、実施例２として以下に説明する。尚、実施例１の光伝送システム１と同一の構成には同一符号を付すことで、その重複する構成及び動作の説明については省略する。

図１０は、実施例２の光伝送システム１Ａの構成の一例を示す説明図である。図１０に示す光伝送システム１Ａは、第３の伝送装置２Ｃと、第４の伝送装置２Ｄと、第１の光伝送路３Ａと、第２の光伝送路３Ｂと、管理装置４と、ＬＡＮ５とを有する。

第３の伝送装置２Ｃは、第１の光伝送路３Ａを通じて第４の伝送装置２Ｄに光主信号を伝送する。また、第４の伝送装置２Ｄは、第２の光伝送路３Ｂを通じて第３の伝送装置２Ｃへ光主信号を伝送する。

第３の伝送装置２Ｃは、第３の主信号送信部１１Ｃと、第３の主信号受信部１７Ｃと、第３の測定部１２Ｃと、第３の全反射部１３Ｃと、第３のＯＳＣ送信部１８Ｃと、第３のＯＳＣ受信部１９Ｃと、第３のＣＰＵ１６Ｃと、第３のメモリ１８Ｃとを有する。第３の伝送装置３Ｃは、第３１の光カプラ１５１Ｃと、第３２の光カプラ１５２Ｃと、第３３の光カプラ１５３Ｃと、第３４の光カプラ１５４Ｃと、第３１の光ＳＷ１４１Ｃと、第３２の光ＳＷ１４２Ｃとを有する。

第３の主信号送信部１１Ｃは、第１の光伝送路３Ａと接続し、第１の光伝送路３Ａを通じて光主信号を第４の伝送装置２Ｄに送信する。第３の主信号受信部１７Ｃは、第２の光伝送路３Ｂと接続し、第２の光伝送路３Ｂを通じて第４の伝送装置４Ｄからの光主信号を受信する。

第３の測定部１２Ｃは、例えば、第１の光伝送路３Ａ又は第２の光伝送路３Ｂを通じて第３の測定光を出力し、第３の測定光に対する第３の戻り光及び第４の伝送装置２Ｄ側の第４の全反射部１３Ｄからの第３の測定光に対する第３の反射光を測定する。第３の全反射部１３Ｃは、第１の光伝送路３Ａ又は第２の光伝送路３Ｂを通じて第４の伝送装置２Ｄからの第４の測定光を反射する光学素子である。

第３のＯＳＣ送信部１８Ｃは、光主信号及び第３の測定光と異なる光波長λ３のＯＳＣ光を第１の光伝送路３Ａに出力する。尚、ＯＳＣ光は、切替情報や測定制御情報等の制御情報を伝搬するものとする。第３のＯＳＣ受信部１９Ｃは、第２の光伝送路２Ｂから光波長λ３のＯＳＣ光を受信する。

第３１の光ＳＷ１４１Ｃは、第３２の光ＳＷ１４２Ｃに対して第３の測定部１２Ｃ又は第３の全反射部１３Ｃを切替接続する光ＳＷである。第３２の光ＳＷ１４２Ｃは、第３１の光ＳＷ１４１Ｃに対して、第１の光伝送路３Ａと接続する第３１の光カプラ１５１Ｃ又は第２の光伝送路３Ｂと接続する第３２の光カプラ１５２Ｃに切替接続する光ＳＷである。第３１の光カプラ１５１Ｃは、第１の光伝送路３Ａ上に配置し、第１の光伝送路３Ａに第３の測定光を合波すると共に、第１の光伝送路３Ａから第３の戻り光及び第３の反射光を光分岐する。第３３の光カプラ１５３Ｃは、第１の光伝送路３Ａ上に配置し、第３のＯＳＣ送信部１８Ｃから第１の光伝送路３ＡにＯＳＣ光を光合波する。

第３２の光カプラ１５２Ｃは、第２の光伝送路３Ｂ上に配置し、第２の光伝送路３Ｂに第３の測定光を合波すると共に、第２の光伝送路３Ｂから第３の戻り光及び第３の反射光を光分岐する。第３４の光カプラ１５４Ｃは、第２の光伝送路３Ｂ上に配置し、第２の光伝送路３Ｂから第３のＯＳＣ受信部１９ＣにＯＳＣ光を光分岐する。第３のＣＰＵ１６Ｃは、第３の伝送装置２Ｃ全体を制御する。第３のメモリ１８Ｃは、各種情報を記憶する領域である。

第３のＣＰＵ１６Ｃは、第３のシーケンサ２１Ｃと、第３の通信部２２Ｃと、第３の測定制御部２３Ｃと、第３のＯＳＣ通信部２４Ｃとを有する。第３のシーケンサ２１Ｃは、各種プログラムに基づき、各種処理を順次実行する。第３の通信部２２Ｃは、ＬＡＮ５との間で通信する。第３の測定制御部２３Ｃは、第３の測定部１２Ｃを制御する。第３のＯＳＣ通信部２４Ｃは、第３のＯＳＣ送信部１８Ｃ及び第３のＯＳＣ受信部１９Ｃを制御する。第３のＯＳＣ通信部２４Ｃは、切替情報や測定制御情報等の各種制御情報をＯＳＣ光に格納し、そのＯＳＣ光を第１の光伝送路３Ａ又は第２の光伝送路３Ｂを通じて第４の伝送装置２Ｄに通知する。第３のＣＰＵ１６Ｃは、第３のメモリ１８Ｃに格納中の各種プログラムを実行することで各種プロセスを機能として、第３のシーケンサ２１Ｃ、第３の通信部２２Ｃ、第３の測定制御部２３Ｃ及び第３のＯＳＣ通信部２４Ｃを構成する。

第４の伝送装置２Ｄは、第４の主信号送信部１１Ｄと、第４の主信号受信部１７Ｄと、第４の測定部１２Ｄと、第４の全反射部１３Ｄと、第４のＯＳＣ送信部１８Ｄと、第４のＯＳＣ受信部１９Ｄと、第４のＣＰＵ１６Ｄと、第４のメモリ１８Ｄとを有する。第４の伝送装置２Ｄは、第４１の光カプラ１５１Ｄと、第４２の光カプラ１５２Ｄと、第４３の光カプラ１５３Ｄと、第４４の光カプラ１５４Ｄと、第４１の光ＳＷ１４１Ｄと、第４２の光ＳＷ１４２Ｄとを有する。

第４の主信号送信部１１Ｄは、第２の光伝送路３Ｂと接続し、第２の光伝送路３Ｂを通じて光主信号を第３の伝送装置２Ｃに伝送する。第４の主信号受信部１７Ｄは、第１の光伝送路３Ａと接続し、第１の光伝送路３Ａを通じて第３の伝送装置２Ｃからの光主信号を受信する。

第４の測定部１２Ｄは、例えば、第１の光伝送路３Ａ又は第２の光伝送路３Ｂを通じて第４の測定光を出力し、第４の測定光に対する第４の戻り光及び第３の伝送装置２Ｃ側の第３の全反射部１３Ｃからの第４の測定光に対する第４の反射光を測定する。第４の全反射部１３Ｄは、第１の光伝送路３Ａ又は第２の光伝送路３Ｂを通じて第３の伝送装置２Ｃの第３の測定部１２Ｃからの第３の測定光を反射する光学素子である。

第４のＯＳＣ送信部１８Ｄは、光主信号及び第４の測定光と異なる光波長λ３のＯＳＣ光を第２の光伝送路３Ｂに出力する。第４のＯＳＣ受信部１９Ｄは、第１の光伝送路３Ｂから光波長λ３のＯＳＣ光を受信する。

第４１の光ＳＷ１４１Ｄは、第４２の光ＳＷ１４２Ｄに対して第４の測定部１２Ｄ又は第４の全反射部１３Ｄを切替接続する光ＳＷである。第４２の光ＳＷ１４２Ｄは、第４１の光ＳＷ１４１Ｄに対して、第１の光伝送路３Ａと接続する第４２の光カプラ１５２Ｄ又は第２の光伝送路３Ｂと接続する第４１の光カプラ１５１Ｄを切替接続する光ＳＷである。第４２の光カプラ１５２Ｄは、第１の光伝送路３Ａ上に配置し、第４の測定光を第１の光伝送路３Ａに合波すると共に、第４の戻り光及び第４の反射光を第１の光伝送路３Ａから光分岐する。第４３の光カプラ１５３Ｄは、第２の光伝送路３Ｂ上に配置し、第４のＯＳＣ送信部１８ＤからのＯＳＣ光を第２の光伝送路３Ｂに合波する。

第４１の光カプラ１５２Ｄは、第２の光伝送路３Ｂ上に配置し、第４の測定光を第２の光伝送路３Ｂに合波すると共に、第４の戻り光及び第４の反射光を第２の光伝送路３Ｂから光分岐する。第４４の光カプラ１５４Ｄは、第１の光伝送路３Ａ上に配置し、第１の光伝送路３Ａから第４のＯＳＣ受信部１９ＤにＯＳＣ光を光分岐する。第４のＣＰＵ１６Ｄは、第４の伝送装置２Ｄ全体を制御する。第４のメモリ１８Ｄは、各種情報を記憶する領域である。

第４のＣＰＵ１６Ｄは、第４のシーケンサ２１Ｄと、第４の通信部２２Ｄと、第４の測定制御部２３Ｄと、第４のＯＳＣ通信部２４Ｄとを有する。第４のシーケンサ２１Ｄは、各種プログラムに基づき、各種処理を順次実行する。第４の通信部２２Ｄは、ＬＡＮ５との間で通信する。第４の測定制御部２３Ｄは、第４の測定部１２Ｄを制御する。第４のＯＳＣ通信部２４Ｄは、第４のＯＳＣ送信部１８Ｄ及び第４のＯＳＣ受信部１９Ｄを制御する。第４のＯＳＣ通信部２４Ｄは、切替情報や測定制御情報等の各種制御情報をＯＳＣ光に格納し、そのＯＳＣ光を第１の光伝送路３Ａ又は第２の光伝送路３Ｂを通じて第３の伝送装置２Ｃに通知する。第４のＣＰＵ１６Ｄは、第４のメモリ１８Ｄに格納中の各種プログラムを実行することで各種プロセスを機能として、第４のシーケンサ２１Ｄ、第４の通信部２２Ｄ、第４の測定制御部２３Ｄ及び第４のＯＳＣ通信部２４Ｄを構成する。

実施例２の第３の測定部１２Ｃは、第３の測定光を第１の光伝送路３Ａ上の第４の伝送装置２Ｄに出力し、第３の測定光に対する第３の戻り光及び第３の反射光を測定し、その測定結果に基づき第３の損失特性を取得する。また、第４の測定部１２Ｄは、第４の測定光を第１の光伝送路３Ａ上の第３の伝送装置２Ｃに出力し、第４の測定光に対する第４の戻り光及び第４の反射光を測定し、その測定結果に基づき、第４の損失特性を取得する。管理装置４は、第３の損失特性の区間距離と第４の損失特性の区間距離とを合せて第３の損失特性の傾斜と第４の損失特性の傾斜との重複部分を重ねて結合することで、第１の光伝送路３Ａ全長の損失特性を取得する。その結果、第１の光伝送路３Ａ全長の損失特性を高精度に取得できる。

第３の測定部１２Ｃは、第３の測定光を第２の光伝送路３Ｂ上の第４の伝送装置２Ｄに出力し、第３の測定光に対する第３の戻り光及び第３の反射光を測定し、その測定結果に基づき第３の損失特性を取得する。また、第４の測定部１２Ｄは、第４の測定光を第２の光伝送路３Ｂ上の第３の伝送装置２Ｃに出力し、第４の測定光に対する第４の戻り光及び第４の反射光を測定し、その測定結果に基づき、第４の損失特性を取得する。管理装置４は、第３の損失特性の区間距離と第４の損失特性の区間距離とを合せて第３の損失特性の傾斜と第４の損失特性の傾斜との重複部分を重ねて結合することで、第２の光伝送路３Ｂ全長の損失特性を取得する。その結果、第２の光伝送路３Ｂ全長の損失特性を高精度に取得できる。

上記実施例１の光伝送システム１では、第１の測定部１２Ａからの第１の測定光に対する第１の戻り光及び第１の反射光で第１の損失特性を取得する。更に、光伝送システム１は、第２の測定部１２Ｂからの同一光波長λ２の第２の測定光に対する第２の戻り光及び第２の反射光で第２の損失特性を取得した。しかしながら、同一光波長λ２の測定光に限定されるものではなく、第１の測定部１２Ａからの第１の測定光と第２の測定部１２Ｂからの第２の測定光とを別波長にしても良く、この場合の実施の形態につき、実施例３として以下に説明する。

図１１は、実施例３の光伝送システム１Ｂの構成の一例を示す説明図である。図１１に示す光伝送システム１Ｂは、第５の伝送装置２Ｅと、第６の伝送装置２Ｆと、第３の光伝送路３Ｃと、管理装置４と、ＬＡＮ５とを有する。

第５の伝送装置２Ｅは、主信号送信部１１Ｅと、第５の測定部１２Ｅと、第５の全反射部１３Ｅと、第５１の光カプラ１５１Ｅと、第５２の光カプラ１５２Ｅと、第５のＣＰＵ１６Ｅと、第５のメモリ１８Ｅとを有する。

第５の測定部１２Ｅは、光波長λ２の第５の測定光を第３の光伝送路３Ｃ上の第６の伝送装置２Ｆに出力し、第５の測定光に対する第５の戻り光及び、第５の測定光に対する第５の反射光を測定する。第５の測定光は、光主信号と異なる光波長λ２の測定光である。第５の全反射部１３Ｅは、第６の伝送装置２Ｆからの光波長λ４の第６の測定光を反射する光学素子である。第５１の光カプラ１５１Ｅは、第５２の光カプラ１５２Ｅに対して第５の測定部１２Ｅから第５の測定光を合波すると共に、第５２の光カプラ１５２Ｅから第６の測定光を第５の全反射部１３Ｅに分岐する。第５のＣＰＵ１６Ｅは、第５の伝送装置２Ｅ全体を制御する。第５のメモリ１８Ｅは、各種情報を記憶する領域である。

第５のＣＰＵ１６Ｅは、第５のシーケンサ２１Ｅと、第５の通信部２２Ｅと、第５の測定制御部２３Ｅとを有する。第５のシーケンサ２１Ｅは、各種プログラムに基づき、各種処理を順次実行する。第５の通信部２２Ｅは、ＬＡＮ５との間で通信する。第５の測定制御部２３Ｅは、第５の測定部１２Ｅを制御する。第５のＣＰＵ１６Ｅは、第５のメモリ１８Ｅに格納中の各種プログラムを実行することで各種プロセスを機能として、第５のシーケンサ２１Ｅ、第５の通信部２２Ｅ及び第５の測定制御部２３Ｅを構成する。

第６の伝送装置２Ｆは、主信号受信部１７Ｆと、第６の測定部１２Ｆと、第６の全反射部１３Ｆと、第６１の光カプラ１５１Ｆと、第６２の光カプラ１５２Ｆと、第６のＣＰＵ１６Ｆと、第６のメモリ１８Ｆとを有する。

第６の測定部１２Ｆは、第６の測定光を第３の光伝送路３Ｃ上の第５の伝送装置２Ｅに出力し、第６の測定光に対する第６の戻り光及び、第６の測定光に対する第６の反射光を測定する。第６の測定光は、光主信号の光波長λ１と異なり、更に、第５の測定光と異なる光波長λ４の測定光である。第６の全反射部１３Ｆは、第５の伝送装置２Ｅからの第５の測定光を反射する光学素子である。第６１の光カプラ１５１Ｆは、第６２の光カプラ１５２Ｆに対して第６の測定部１２Ｆから第６の測定光を合波すると共に、第６２の光カプラ１５２Ｆから第５の測定光を第６の全反射部１３Ｆに分岐する。第６のＣＰＵ１６Ｆは、第６の伝送装置２Ｆ全体を制御する。第６のメモリ１８Ｆは、各種情報を記憶する領域である。

第６のＣＰＵ１６Ｆは、第６のシーケンサ２１Ｆと、第６の通信部２２Ｆと、第６の測定制御部２３Ｆとを有する。第６のシーケンサ２１Ｆは、各種プログラムに基づき、各種処理を順次実行する。第６の通信部２２Ｆは、ＬＡＮ５との間で通信する。第６の測定制御部２３Ｆは、第６の測定部１２Ｆを制御する。第６のＣＰＵ１６Ｆは、第６のメモリ１８Ｆに格納中の各種プログラムを実行することで各種プロセスを機能として、第６のシーケンサ２１Ｆ、第６の通信部２２Ｆ及び第６の測定制御部２３Ｆを構成する。

第５の測定部１２Ｅは、第５の測定光を第３の光伝送路３Ｃ上の第６の伝送装置２Ｆに出力し、その第５の測定光に対する第５の戻り光及び第５の反射光から第５の損失特性を取得する。第６の測定部２３Ｆは、第６の測定光を第３の光伝送路３Ｃ上の第５の伝送装置２Ｅに出力し、その第６の測定光に対する第６の戻り光及び第６の反射光から第６の損失特性を取得する。つまり、第５の測定光と第６の測定光とを異なる光波長にしたので、第５の損失特性及び第６の損失特性を同一タイミングで取得できる。そして、第５の測定部１２Ｅは、第５の損失特性を取得した場合、第５の損失特性を管理装置４に通知する。第６の測定部１２Ｆは、第６の損失特性を取得した場合、第６の損失特性を管理装置４に通知する。そして、管理装置４は、第５の損失特性の区間距離と第６の損失特性の区間距離とを合せて第５の損失特性の傾斜と第６の損失特性の傾斜との重複部分を重ねて結合することで、第３の光伝送路３Ｃ全長の損失特性を取得する。

実施例３の第５の測定部１２Ｅは、第５の測定光を第３の光伝送路３Ｃ上の第６の伝送装置２Ｆに出力し、第５の測定光に対する第５の戻り光及び第５の反射光に基づき、第５の損失特性を取得し、第５の損失特性を管理装置４に通知する。第６の測定部１２Ｆは、第５の測定光と異なる光波長の第６の測定光を第３の光伝送路３Ｃ上の第５の伝送装置２Ｅに出力し、第６の測定光に対する第６の戻り光及び第６の反射光に基づき、第６の損失特性を取得し、第６の損失特性を管理装置４に通知する。つまり、第５の測定部１２Ｅ及び第６の測定部１２Ｆは、異なる光波長の測定光を使用するため、同一タイミングで第５の損失特性及び第６の損失特性を取得できる。

そして、管理装置４は、第５の損失特性の区間距離と第６の損失特性の区間距離とを合せて第５の損失特性の傾斜と第６の損失特性の傾斜との重複部分を重ねて結合することで、第３の光伝送路３Ｃ全長の損失特性を取得できる。

また、図示した各部の各構成要素は、必ずしも物理的に図示の如く構成されていることを要しない。すなわち、各部の分散・統合の具体的形態は図示のものに限られず、その全部又は一部を、各種の負荷や使用状況等に応じて、任意の単位で機能的又は物理的に分散・統合して構成することができる。

更に、各装置で行われる各種処理機能は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）（又はＭＰＵ（Micro Processing Unit）、ＭＣＵ（Micro Controller Unit）等のマイクロ・コンピュータ）上で、その全部又は任意の一部を実行するようにしても良い。また、各種処理機能は、ＣＰＵ（又はＭＰＵ、ＭＣＵ等のマイクロ・コンピュータ）で解析実行するプログラム上、又はワイヤードロジックによるハードウェア上で、その全部又は任意の一部を実行するようにしても良いことは言うまでもない。

１ 光伝送システム
２Ａ 第１の伝送装置
２Ｂ 第２の伝送装置
３ 光伝送路
１２Ａ 第１の測定部
１２Ｂ 第２の測定部
１３Ａ 第１の全反射部
１３Ｂ 第２の全反射部
１４Ａ 第１の光ＳＷ
１４Ｂ 第２の光ＳＷ

Claims (9)

1. 第１の伝送装置と、前記第１の伝送装置との間を光伝送路で接続する第２の伝送装置と、前記第１の伝送装置及び前記第２の伝送装置とそれぞれ通信を行う管理装置とを備えた光伝送システムであって、
   前記第１の伝送装置は、
   前記光伝送路に対して第１の測定光を出力する第１の測定部と、
   前記第２の伝送装置からの第２の測定光を反射して第２の反射光を出力する第１の反射部と、
   前記光伝送路に対して前記第１の測定部又は前記第１の反射部を切替接続する第１の切替部とを有し、
   前記第２の伝送装置は、
   前記光伝送路に対して前記第２の測定光を出力する第２の測定部と、
   前記第１の伝送装置からの前記第１の測定光を反射して第１の反射光を出力する第２の反射部と、
   前記光伝送路に対して前記第２の測定部又は前記第２の反射部を切替接続する第２の切替部とを有し、
   前記第１の伝送装置は、前記第１の測定光を出力し、前記光伝送路からの前記第１の測定光に対する第１の戻り光と、前記第２の反射部からの前記第１の反射光とに基づく第１の損失特性を取得し、
   前記第２の伝送装置は、前記第２の測定光を出力し、前記光伝送路からの前記第２の測定光に対する第２の戻り光と、前記第１の反射部からの前記第２の反射光とに基づく第２の損失特性を取得し、
   前記管理装置は、
   前記第１の損失特性と前記第２の損失特性とを、始点と終点とを合せて且つ重複部分を重ねて結合することで前記光伝送路の損失特性を取得する
   ことを特徴とする光伝送システム。
2. 前記第１の測定部は、
   前記第１の損失特性の区間の内、前記第１の戻り光の測定が限界となる区間内で、距離毎の出力レベルのピークを前記第１の反射光のピークとし、
   前記第２の測定部は、
   前記第２の損失特性の区間の内、前記第２の戻り光の測定が限界となる区間内で、距離毎の出力レベルのピークを前記第２の反射光のピークとすることを特徴とする請求項１に記載の光伝送システム。
3. 前記管理装置は、
   前記第２の損失特性を反転する反転部と、
   前記反転部にて反転された前記第２の損失特性の区間距離を前記第１の損失特性の区間距離を基準に合せて補正する補正部と、
   前記補正部にて補正された前記第２の損失特性の傾斜と前記第１の損失特性の傾斜との重複部分を重ねて結合することで前記光伝送路の損失特性を取得する結合部と
   を有することを特徴とする請求項１又は２に記載の光伝送システム。
4. 前記第１の測定部は、
   前記第２の測定光と異なる光波長の前記第１の測定光を出力し、
   前記第１の切替部は、
   前記光伝送路に対して前記第１の測定部及び前記第１の反射部を接続する第１の光カプラに相当し、
   前記第２の測定部は、
   前記第１の測定光と異なる光波長の前記第２の測定光を出力し、
   前記第２の切替部は、
   前記光伝送路に対して前記第２の測定部及び前記第２の反射部を接続する第２の光カプラに相当することを特徴とする請求項１〜３の何れか一つに記載の光伝送システム。
5. 第１の所定信号に応じて前記第１の切替部にて前記第１の測定部に切替接続し、前記第２の切替部にて前記第２の反射部に切替接続し、前記第１の損失特性を取得した後、前記第１の切替部にて前記第１の反射部に切替接続し、前記第２の切替部にて前記第２の測定部に切替接続することを特徴とする請求項１〜３の何れか一つに記載の光伝送システム。
6. 前記第１の切替部にて前記第１の測定部に切替接続し、前記第２の切替部にて前記第２の反射部に切替接続した後に、タイマがタイムアップしたか否かを判定し、
   前記タイマがタイムアップした場合に前記第１の切替部にて前記第１の反射部に切替接続し、前記第２の切替部にて前記第２の測定部に切替接続することを特徴とする請求項１〜３の何れか一つに記載の光伝送システム。
7. 現在時刻が第１の指定時刻に到達した場合に、前記第１の切替部にて前記第１の測定部に切替接続し、前記第２の切替部にて前記第２の反射部に切替接続し、
   前記現在時刻が第２の指定時刻に到達した場合に、前記第１の切替部にて前記第１の反射部に切替接続し、前記第２の切替部にて前記第２の測定部に切替接続することを特徴とする請求項１〜３の何れか一つに記載の光伝送システム。
8. 第１の伝送装置と、前記第１の伝送装置と光伝送路により接続される第２の伝送装置とそれぞれ通信を行う管理装置であって、
   前記第１の伝送装置から出力した第１の測定光に対する前記光伝送路からの第１の戻り光と、前記第２の伝送装置に設けられた第２の全反射部からの第１の反射光とに基づいた第１の損失特性を取得し、
   前記第２の伝送装置から出力した第２の測定光に対する前記光伝送路からの第２の戻り光と、前記第１の伝送装置に設けられた第１の全反射部からの第２の反射光とに基づいた第２の損失特性を取得し、
   前記第１の損失特性と前記第２の損失特性とを、始点と終点とを合せて且つ重複部分を重ねて結合することで前記光伝送路の損失特性を取得するデータ処理部を有する
   ことを特徴とする管理装置。
9. 第１の伝送装置と、前記第１の伝送装置との間を光伝送路で接続する第２の伝送装置と、前記第１の伝送装置及び前記第２の伝送装置とそれぞれ通信を行う管理装置とを備えた光伝送システムの損失特性取得方法であって、
   前記第１の伝送装置内の第１の測定部は、
   前記光伝送路に対して第１の測定光を出力し、前記光伝送路からの前記第１の測定光に対する第１の戻り光と、前記第２の伝送装置内の第２の反射部からの前記第１の測定光に対する第１の反射光とに基づく第１の損失特性を取得し、
   前記第２の伝送装置内の第２の測定部は、
   前記光伝送路に対して第２の測定光を出力し、前記光伝送路からの前記第２の測定光に対する第２の戻り光と、前記第１の伝送装置内の第１の反射部からの前記第２の測定光に対する第２の反射光とに基づく第２の損失特性を取得し、
   前記管理装置は、
   前記第１の損失特性と前記第２の損失特性とを、始点と終点とを合せて且つ重複部分を重ねて結合することで前記光伝送路の損失特性を取得する
   処理を実行することを特徴とする損失特性取得方法。

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