JP6082313B2 - 光軸調整用の距離測定装置及び方法 - Google Patents
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Description
T=|t|2 (3)
R=|r|2 (4)
となる。
l=mλ/2 (mは整数) (5)
の条件で最大光強度が繰り返し得られる。入力光の周波数fは、
f=c/λ (c:高速) (6)
で表せるので、式(5)の条件は
f=m・c/2l (7)
となる。つまり、周波数間隔Δfとすると、
Δf=c/2l (8)
で光強度は周期性を持つことがわかる。この光強度の周期間隔は、透過光でも反射光でも同じである。
110、711 可変波長レーザ
120 第1の光デバイス
130 第2の光デバイス
121、131 光デバイス端面
101 入力光
102、104、106、108 透過光
103、105、107 反射光
701 光ファイバ
702 光導波路
712 サーキュレータ
713 光検出器
714 自動ステージ
715 ステージコントローラ
716 信号処理部
717 強度変動検出器
Claims (2)
- 信号処理部が、波長可変光源からの波長をスイープした出力光の波長情報を受信するステップと、
前記信号処理部が、光検出器において測定した第1の光デバイス及び第2の光デバイスの第1の反射光強度を基に、波長スイープに同期した第1の同期反射光強度を検出するステップと、
前記信号処理部が、自動ステージ上の第1の光デバイスを既知の量だけ光軸方向に移動させる移動命令をステージコントローラに送信するステップと、
前記信号処理部が、前記波長可変光源からの波長をスイープした出力光の波長情報を受信するステップと、
前記信号処理部が、前記光検出器において測定した移動後の前記第1の光デバイス及び前記第2の光デバイスの第2の反射光強度の情報を基に、波長スイープに同期した第2の同期反射光強度を検出するステップと、
前記信号処理部が、前記第1の同期反射光強度と前記第2の同期反射光強度との差分に基づいて、前記第1の光デバイスと前記第2の光デバイスとの端面間距離を算出するステップと
を含むことを特徴とする光デバイス端面間距離測定方法。 - 信号処理部に、
波長可変光源からの波長をスイープした出力光の波長情報を受信するステップと、
光検出器において測定した第1の光デバイス及び第2の光デバイスの第1の反射光強度を基に、波長スイープに同期した第1の同期反射光強度を検出するステップと、
自動ステージ上の第1の光デバイスを既知の量だけ光軸方向に移動させる移動命令をステージコントローラに送信するステップと、
前記波長可変光源からの波長をスイープした出力光の波長情報を受信するステップと、
前記光検出器において測定した移動後の前記第1の光デバイス及び前記第2の光デバイスの第2の反射光強度の情報を基に、波長スイープに同期した第2の同期反射光強度を検出するステップと、
前記第1の同期反射光強度と前記第2の同期反射光強度との差分に基づいて、前記第1の光デバイスと前記第2の光デバイスとの端面間距離を算出するステップと
を含む光デバイス端面距離測定方法を実行させることを特徴とするプログラム。
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JP2013109263A JP6082313B2 (ja) | 2013-05-23 | 2013-05-23 | 光軸調整用の距離測定装置及び方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2013109263A JP6082313B2 (ja) | 2013-05-23 | 2013-05-23 | 光軸調整用の距離測定装置及び方法 |
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JP2014228444A JP2014228444A (ja) | 2014-12-08 |
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Family Applications (1)
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Families Citing this family (2)
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JP7394307B2 (ja) | 2021-05-17 | 2023-12-08 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 光学調整装置、及び、光学調整方法 |
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JPH0593613A (ja) * | 1991-10-02 | 1993-04-16 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 微小間隔測定装置及び方法 |
JP2006266797A (ja) * | 2005-03-23 | 2006-10-05 | Anritsu Corp | 光ヘテロダイン干渉装置 |
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