JP2018005160A - Display device - Google Patents

Display device Download PDF

Info

Publication number
JP2018005160A
JP2018005160A JP2016135669A JP2016135669A JP2018005160A JP 2018005160 A JP2018005160 A JP 2018005160A JP 2016135669 A JP2016135669 A JP 2016135669A JP 2016135669 A JP2016135669 A JP 2016135669A JP 2018005160 A JP2018005160 A JP 2018005160A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pixel
display device
electrode
subpixel
groove
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016135669A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6715708B2 (en
Inventor
雅和 軍司
Masakazu Gunji
雅和 軍司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Japan Display Inc
Original Assignee
Japan Display Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Display Inc filed Critical Japan Display Inc
Priority to JP2016135669A priority Critical patent/JP6715708B2/en
Priority to US15/494,590 priority patent/US10304914B2/en
Publication of JP2018005160A publication Critical patent/JP2018005160A/en
Priority to US16/378,650 priority patent/US10586838B2/en
Priority to US16/776,822 priority patent/US11127908B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6715708B2 publication Critical patent/JP6715708B2/en
Priority to US17/409,886 priority patent/US11621401B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K77/00Constructional details of devices covered by this subclass and not covered by groups H10K10/80, H10K30/80, H10K50/80 or H10K59/80
    • H10K77/10Substrates, e.g. flexible substrates
    • H10K77/111Flexible substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/124Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or layout of the wiring layers specially adapted to the circuit arrangement, e.g. scanning lines in LCD pixel circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1463Pixel isolation structures
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/19Tandem OLEDs
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/1201Manufacture or treatment
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/121Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements
    • H10K59/1213Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements the pixel elements being TFTs
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/122Pixel-defining structures or layers, e.g. banks
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/124Insulating layers formed between TFT elements and OLED elements
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/30Devices specially adapted for multicolour light emission
    • H10K59/35Devices specially adapted for multicolour light emission comprising red-green-blue [RGB] subpixels
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/30Devices specially adapted for multicolour light emission
    • H10K59/38Devices specially adapted for multicolour light emission comprising colour filters or colour changing media [CCM]
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K2102/00Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
    • H10K2102/301Details of OLEDs
    • H10K2102/311Flexible OLED
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/121Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/549Organic PV cells

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a highly reliable flexible organic EL display device in which less display defect is generated when the display device is broken by the deformation of a display area of the display device.SOLUTION: A display device including a first sub-pixel and a second sub-pixel adjacent to the first sub-pixel is provided. The first sub-pixel and the second sub-pixel have a semiconductor film, a gate electrode, a gate insulation film, an interlayer insulation film, a flattened film, and further a light-emitting element positioned on the flattened film. The display device includes a groove penetrating a barrier positioned between the first sub-pixel and the second sub-pixel and the flattened film.SELECTED DRAWING: Figure 4

Description

本発明は表示装置、例えば、可撓性のEL表示装置に関する。   The present invention relates to a display device, for example, a flexible EL display device.

表示装置の代表例として、液晶素子や発光素子を各画素に有する液晶表示装置や有機EL(Electroluminescence)表示装置などが挙げられる。これらの表示装置は、基板上に形成された複数の画素内の各々に液晶素子あるいは有機発光素子(以下、発光素子)などの表示素子を有している。液晶素子や発光素子は一対の電極間に液晶あるいは有機化合物を含む層をそれぞれ有しており、一対の電極間に電圧を印加する、あるいは電流を供給することで駆動される。   Typical examples of the display device include a liquid crystal display device having a liquid crystal element and a light emitting element in each pixel, an organic EL (Electroluminescence) display device, and the like. These display devices each have a display element such as a liquid crystal element or an organic light emitting element (hereinafter referred to as a light emitting element) in each of a plurality of pixels formed on a substrate. A liquid crystal element or a light-emitting element has a layer containing a liquid crystal or an organic compound between a pair of electrodes, and is driven by applying a voltage or supplying a current between the pair of electrodes.

表示装置の各画素にはトランジスタなどの半導体素子が備えられており、トランジスタによって液晶素子や発光素子の駆動が制御される。このようないわゆるアクティブマトリクスタイプの表示装置を用いることで、高精細な表示が可能となる。例えば特許文献1では、異なる発光色を示す発光素子とトランジスタを有する画素が複数備えられたアクティブマトリクスタイプの有機EL表示装置が開示されている。   Each pixel of the display device includes a semiconductor element such as a transistor, and driving of the liquid crystal element and the light emitting element is controlled by the transistor. By using such a so-called active matrix type display device, high-definition display is possible. For example, Patent Document 1 discloses an active matrix type organic EL display device including a plurality of pixels each having a light emitting element and a transistor having different emission colors.

特開2012−216338号公報JP 2012-216338 A

本発明は、高い信頼性を有する表示装置、例えば可撓性の有機EL表示装置を提供することを目的の一つとする。あるいは、表示装置の表示領域を変形した際に表示装置が破損して表示不良が発生することが抑制された、信頼性の高い可撓性有機EL表示装置を提供することを目的の一つとする。あるいは、表示品質の低下が抑制された、有機EL表示装置、可撓性有機EL表示装置を提供することを目的の一つとする。   An object of the present invention is to provide a display device having high reliability, for example, a flexible organic EL display device. Alternatively, it is an object of the present invention to provide a highly reliable flexible organic EL display device in which the display device is prevented from being damaged when a display area of the display device is deformed and display defects are prevented. . Alternatively, it is an object to provide an organic EL display device or a flexible organic EL display device in which deterioration in display quality is suppressed.

本発明の一実施形態の表示装置は、第1の副画素と、第1の副画素に隣接する第2の副画素と、第1の副画素と第2の副画素との境界に位置する隔壁を有し、第1の副画素と第2の副画素は、半導体膜と、ゲート電極と、半導体膜と電気的に接続されたソース電極およびドレイン電極を備える薄膜トランジスタと、半導体膜とゲート電極との間のゲート絶縁膜と、半導体膜、ゲート電極、およびゲート絶縁膜の上に位置し、かつソース電極およびドレイン電極の下に位置する層間絶縁膜と、ソース電極とドレイン電極の上に位置する平坦化膜と、平坦化膜の上に位置し、第1の電極と第2の電極との間にEL層を備える発光素子を有し、第1の電極の端部は、隔壁に覆われ、第2の電極の一部は、隔壁の上に位置し、第1の副画素と第2の副画素との間に、平坦化膜と隔壁とが平面的に見て互いに重なっている重畳領域が位置し、重畳領域には、平坦化膜と隔壁とを貫通する溝が位置し、EL層が溝を介して、層間絶縁膜と接することを特徴とする。   A display device according to an embodiment of the present invention is located at a boundary between a first subpixel, a second subpixel adjacent to the first subpixel, and the first subpixel and the second subpixel. The first subpixel and the second subpixel each include a partition, a semiconductor film, a gate electrode, a thin film transistor including a source electrode and a drain electrode electrically connected to the semiconductor film, a semiconductor film, and a gate electrode Between the gate insulating film, the semiconductor film, the gate electrode, the gate insulating film, the interlayer insulating film positioned under the source electrode and the drain electrode, and the source electrode and the drain electrode. And a light-emitting element that is provided on the planarization film and includes an EL layer between the first electrode and the second electrode, and an end portion of the first electrode is covered with a partition wall. A part of the second electrode is located on the partition wall, and the first sub-pixel and the second sub-image An overlapping region in which the planarizing film and the partition overlap each other in plan view is located between the element and the trench, and a groove penetrating the planarizing film and the partition is positioned in the overlapping region, and the EL layer is It is characterized by being in contact with the interlayer insulating film through the groove.

本発明の一実施形態の表示装置は、第1の画素と、第1の画素に隣接する第2の画素と、第1の画素と第2の画素との境界に位置する隔壁を有し、第1の画素と第2の画素はともに第1の副画素を有し、第1の画素と第2の画素の第1の副画素はともに、半導体膜と、ゲート電極と、半導体膜と電気的に接続されたソース電極およびドレイン電極を備える薄膜トランジスタと、半導体膜とゲート電極との間のゲート絶縁膜と、半導体膜、ゲート電極、およびゲート絶縁膜の上に位置し、かつソース電極およびドレイン電極の下に位置する層間絶縁膜と、ソース電極とドレイン電極の上に位置する平坦化膜と、平坦化膜の上に位置し、第1の電極と第2の電極との間にEL層を備える発光素子を有し、第1の電極の端部は、隔壁に覆われ、第2の電極の一部は、隔壁の上に位置し、第1の画素と第2の画素との間に、平坦化膜と隔壁とが平面的に見て互いに重なっている重畳領域が位置し、重畳領域には、隔壁を貫通するとともに平坦化膜の少なくとも一部に達する溝が位置し、EL層は溝の底面と接することを特徴とする。   A display device according to an embodiment of the present invention includes a first pixel, a second pixel adjacent to the first pixel, and a partition located at a boundary between the first pixel and the second pixel, The first pixel and the second pixel both have a first sub-pixel, and the first sub-pixel of the first pixel and the second pixel are both a semiconductor film, a gate electrode, a semiconductor film, Thin film transistor having a source electrode and a drain electrode connected to each other, a gate insulating film between the semiconductor film and the gate electrode, and the source electrode and the drain located on the semiconductor film, the gate electrode, and the gate insulating film An interlayer insulating film located under the electrode, a planarization film located over the source electrode and the drain electrode, and an EL layer located over the planarization film and between the first electrode and the second electrode The end of the first electrode is covered with a partition wall, and the second electrode A part of the electrode is located on the partition wall, and an overlapping region in which the planarization film and the partition wall overlap each other in plan view is positioned between the first pixel and the second pixel. In the region, a groove that penetrates the partition and reaches at least a part of the planarization film is located, and the EL layer is in contact with the bottom surface of the groove.

一実施形態に係る表示装置の上面模式図。1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の上面模式図。1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の上面模式図。1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の断面模式図。1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の断面模式図。1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の断面模式図。1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の断面模式図。1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の上面模式図。1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の断面模式図。1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の断面模式図。1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の断面模式図。1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の断面模式図。1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の上面模式図。1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の断面模式図。1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の上面模式図。1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の上面模式図。1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の上面模式図。1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の上面模式図。1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の上面模式図。1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の断面模式図。1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の断面模式図。1 is a schematic cross-sectional view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の上面模式図。1 is a schematic top view of a display device according to an embodiment. 一実施形態に係る表示装置の作製方法を示す模式図。FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a method for manufacturing a display device according to one embodiment. 一実施形態に係る表示装置の作製方法を示す模式図。FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a method for manufacturing a display device according to one embodiment. 一実施形態に係る表示装置の作製方法を示す模式図。FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a method for manufacturing a display device according to one embodiment.

以下、本発明の各実施形態について、図面等を参照しつつ説明する。但し、本発明は、その要旨を逸脱しない範囲において様々な態様で実施することができ、以下に例示する実施形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. However, the present invention can be implemented in various modes without departing from the gist thereof, and is not construed as being limited to the description of the embodiments exemplified below.

図面は、説明をより明確にするため、実際の態様に比べ、各部の幅、厚さ、形状等について模式的に表される場合があるが、あくまで一例であって、本発明の解釈を限定するものではない。本明細書と各図において、既出の図に関して説明したものと同様の機能を備えた要素には、同一の符号を付して、重複する説明を省略することがある。   In order to make the explanation clearer, the drawings may be schematically represented with respect to the width, thickness, shape, and the like of each part as compared to the actual embodiment, but are merely examples and limit the interpretation of the present invention. Not what you want. In this specification and each drawing, elements having the same functions as those described with reference to the previous drawings may be denoted by the same reference numerals, and redundant description may be omitted.

本発明において、ある一つの膜を加工して複数の膜を形成した場合、これら複数の膜は異なる機能、役割を有することがある。しかしながら、これら複数の膜は同一の工程で同一層として形成された膜に由来し、同一の層構造、同一の材料を有する。したがって、これら複数の膜は同一層に存在しているものと定義する。   In the present invention, when a plurality of films are formed by processing a certain film, the plurality of films may have different functions and roles. However, the plurality of films are derived from films formed as the same layer in the same process, and have the same layer structure and the same material. Therefore, these plural films are defined as existing in the same layer.

(第1実施形態)
本実施形態では、本発明の一実施形態に係る表示装置を図1乃至図10を用いて説明する。
(First embodiment)
In this embodiment, a display device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

本実施形態に係る表示装置100の上面図を図1に示す。表示装置100は、複数の画素108を備えた表示領域104、およびゲート側駆動回路(以下、駆動回路)110を基材102の一方の面(上面)に有している。一つの画素108に含まれる複数の副画素106は、互いに発光色の異なる発光素子を設けることができ、これにより、フルカラー表示を行うことができる。例えば赤色、緑色、あるいは青色で発光する発光素子を三つの副画素106にそれぞれ設けることができる。あるいは、全ての副画素106で白色発光素子を用い、カラーフィルタを用いて副画素106ごとに赤色、緑色、あるいは青色を取り出してフルカラー表示を行ってもよい。最終的に取り出される色は赤色、緑色、青色の組み合わせには限られない。例えば一つの画素108に四つの副画素106が含まれるように構成し、四つの副画素106から赤色、緑色、青色、白色の4種類の色を取り出すこともできる。副画素106の配列にも制限はなく、ストライプ配列、デルタ配列、モザイク配列などを採用することができる。   A top view of the display device 100 according to the present embodiment is shown in FIG. The display device 100 includes a display region 104 including a plurality of pixels 108 and a gate side driving circuit (hereinafter referred to as a driving circuit) 110 on one surface (upper surface) of the base material 102. A plurality of sub-pixels 106 included in one pixel 108 can be provided with light-emitting elements having different emission colors, whereby full color display can be performed. For example, light emitting elements that emit red, green, or blue light can be provided in the three sub-pixels 106, respectively. Alternatively, white light emitting elements may be used for all the subpixels 106, and red, green, or blue may be extracted for each subpixel 106 using a color filter to perform full color display. The color finally extracted is not limited to a combination of red, green, and blue. For example, one pixel 108 may be configured to include four subpixels 106, and four types of colors of red, green, blue, and white can be extracted from the four subpixels 106. The arrangement of the sub-pixels 106 is not limited, and a stripe arrangement, a delta arrangement, a mosaic arrangement, or the like can be adopted.

表示領域104から配線112が基材102の側面(図1中、表示装置100の短辺)に向かって伸びており、配線112は基材102の端部で露出され、露出部は端子114を形成する。端子114はフレキシブルプリント回路(FPC)などのコネクタ(図示せず)と接続される。配線112を介して表示領域104はICチップ116とも電気的に接続される。これにより、外部回路(図示せず)から供給された映像信号が駆動回路110、ICチップ116を介して副画素106に与えられて副画素106の発光が制御され、映像が表示領域104上に再現される。なお図示していないが、表示装置100はICチップ116の替わりにソース側駆動回路を表示領域104の周辺に有していてもよい。本実施形態では駆動回路110は表示領域104を挟むように二つ設けられているが、駆動回路110は一つでもよい。また、駆動回路110を基材102上に設けず、異なる基板上に設けられた駆動回路をコネクタ上に形成してもよい。   The wiring 112 extends from the display region 104 toward the side surface of the base material 102 (in FIG. 1, the short side of the display device 100), the wiring 112 is exposed at the end of the base material 102, and the exposed portion is connected to the terminal 114. Form. The terminal 114 is connected to a connector (not shown) such as a flexible printed circuit (FPC). The display area 104 is also electrically connected to the IC chip 116 through the wiring 112. As a result, a video signal supplied from an external circuit (not shown) is applied to the subpixel 106 via the drive circuit 110 and the IC chip 116 to control the light emission of the subpixel 106, and the video is displayed on the display area 104. It is reproduced. Although not shown, the display device 100 may have a source side driver circuit around the display area 104 instead of the IC chip 116. In this embodiment, two drive circuits 110 are provided so as to sandwich the display region 104, but one drive circuit 110 may be provided. Alternatively, the drive circuit 110 provided on a different substrate may be formed on the connector without providing the drive circuit 110 on the base material 102.

基材102は、その上に設けられる表示領域104や駆動回路110などを支持する機能を有する。可撓性を有する基材102を用いることで、表示装置100全体に可撓性を付与することができ、折り曲げる、あるいは湾曲させることによって表示装置100を変形することができる。この場合、基材102はベースフィルムと呼ばれることもある。基材102には、ポリイミド、ポリエステル、ポリアミド、アクリル樹脂などの高分子材料を含むことができる。好ましくはポリイミドやポリアミドなど、基材102の上に設けられる層(後述)を形成する際のプロセスに対する化学的耐性と物理的強度を有する高分子材料を用いる。   The base material 102 has a function of supporting the display region 104, the drive circuit 110, and the like provided thereon. By using the flexible base material 102, flexibility can be imparted to the entire display device 100, and the display device 100 can be deformed by being bent or curved. In this case, the base material 102 may be called a base film. The base material 102 can include a polymer material such as polyimide, polyester, polyamide, or acrylic resin. Preferably, a polymer material having chemical resistance and physical strength to a process when forming a layer (described later) provided on the base material 102, such as polyimide or polyamide, is used.

図2(A)に表示領域の模式図を示す。副画素106のピッチL1は20μm以上80μm以下、あるいは30μm以上50μm以下が好ましい。隣接する副画素106間の距離L2は、5μm以上30μm以下、あるいは5μm以上20μm以下が好ましく、典型的には約10μmである。   FIG. 2A shows a schematic diagram of the display area. The pitch L1 of the subpixels 106 is preferably 20 μm or more and 80 μm or less, or 30 μm or more and 50 μm or less. The distance L2 between the adjacent sub-pixels 106 is preferably 5 μm or more and 30 μm or less, or 5 μm or more and 20 μm or less, and typically about 10 μm.

本実施形態で示す表示装置100は、隣接する画素108の間に、溝180を有する。図2(A)に示した構造では、溝180は縦方向と横方向、すなわち表示装置100の長辺方向と短辺方向に伸びている。また、縦方向と横方向に伸びた溝180は交差する。本実施形態では、互いに交差する溝180で定義される最小面積中に一つの画素108が含まれている。ただし、本発明の実施形態はこの構造に限られず、互いに交差する溝180で定義される最小面積中に複数の画素108が含まれてもよい。この構造に関しては実施形態4で説明する。   The display device 100 shown in this embodiment includes a groove 180 between adjacent pixels 108. In the structure shown in FIG. 2A, the groove 180 extends in the vertical direction and the horizontal direction, that is, in the long side direction and the short side direction of the display device 100. Moreover, the groove | channel 180 extended in the vertical direction and the horizontal direction cross | intersects. In the present embodiment, one pixel 108 is included in the minimum area defined by the grooves 180 that intersect each other. However, the embodiment of the present invention is not limited to this structure, and a plurality of pixels 108 may be included in the minimum area defined by the grooves 180 intersecting each other. This structure will be described in Embodiment 4.

隣接する副画素106間の距離は、溝180が存在する領域と溝180が存在しない領域で異なっていてもよい。例えば図2(B)に示すように、一つの画素108内における隣接副画素106間の距離L2は、溝180を介して隣接する副画素106間の距離L3よりも小さくてもよい。   The distance between the adjacent sub-pixels 106 may be different between a region where the groove 180 exists and a region where the groove 180 does not exist. For example, as shown in FIG. 2B, the distance L2 between the adjacent subpixels 106 in one pixel 108 may be smaller than the distance L3 between the adjacent subpixels 106 through the groove 180.

図3に画素108の拡大模式図を示す。図3に示すように、本実施形態で例示する表示装置100は一つの画素108内に副画素106が三つ設けられている。画素108は、信号線120、電流供給線122、ゲート線124を有している。図示していないが、画素108は信号線120、電流供給線122、ゲート線124以外の配線を有していてもよい。   FIG. 3 shows an enlarged schematic diagram of the pixel 108. As shown in FIG. 3, the display device 100 exemplified in this embodiment includes three subpixels 106 in one pixel 108. The pixel 108 includes a signal line 120, a current supply line 122, and a gate line 124. Although not shown, the pixel 108 may have a wiring other than the signal line 120, the current supply line 122, and the gate line 124.

各副画素106には半導体膜126、136を含む二つのトランジスタが設けられている。ゲート線124の凸部(図中、下方向に突き出た部分)は半導体膜126を含むトランジスタのゲート128として機能し、信号線120の凸部(図中、左方向に突き出た部分)は同トランジスタのソース130として機能する。信号線120から供給される信号は半導体膜126を介してドレイン132に伝えられる。ドレイン132はコンタクト(図中点線の丸印)を介して第1の容量電極134と接続されており、第1の容量電極134の一部(図中、下方向に突き出た部分)は半導体膜136を含むトランジスタのゲート138として機能する。このトランジスタのソース140は電流供給線122の凸部(図中、右方向に突き出た部分)であり、ドレイン142は、第1の容量電極134と対向する第2の容量電極160としても機能する。ドレイン142はコンタクトを通して発光素子の一方の電極である第1の電極144と電気的に接続される。なお理解の促進のため、一部の副画素106では第1の電極144は図示していない。本実施形態では、二つのトランジスタと一つの要領を有する副画素106を例として挙げたが、副画素106はさらにトランジスタや容量を設けてもよい。   Each subpixel 106 is provided with two transistors including semiconductor films 126 and 136. The protruding portion of the gate line 124 (portion protruding downward in the figure) functions as the gate 128 of the transistor including the semiconductor film 126, and the protruding portion of the signal line 120 (portion protruding leftward in the drawing) is the same. It functions as the source 130 of the transistor. A signal supplied from the signal line 120 is transmitted to the drain 132 through the semiconductor film 126. The drain 132 is connected to the first capacitor electrode 134 via a contact (dotted circle in the drawing), and a part of the first capacitor electrode 134 (portion protruding downward in the drawing) is a semiconductor film. It functions as the gate 138 of the transistor including 136. The source 140 of the transistor is a convex portion of the current supply line 122 (a portion protruding in the right direction in the figure), and the drain 142 also functions as the second capacitor electrode 160 facing the first capacitor electrode 134. . The drain 142 is electrically connected to the first electrode 144 which is one electrode of the light emitting element through the contact. In order to facilitate understanding, the first electrode 144 is not illustrated in some of the subpixels 106. In the present embodiment, the sub-pixel 106 having two transistors and one point is taken as an example, but the sub-pixel 106 may further include a transistor or a capacitor.

図3で示すように画素108では、三つの信号線120のうちの一つは、三つの副画素106のうち対応する一つの副画素106が備える画素回路と電気的に接続されている。一方、ゲート線124は三つの副画素106が備える画素回路の各々と電気的に接続されている。   As shown in FIG. 3, in the pixel 108, one of the three signal lines 120 is electrically connected to a pixel circuit included in one corresponding subpixel 106 among the three subpixels 106. On the other hand, the gate line 124 is electrically connected to each of the pixel circuits included in the three subpixels 106.

本実施形態の表示装置100は、互いに隣接する画素108の間に溝180を有している。例えば図3に示すように、画素108内の一つの副画素106の信号線120と、隣接する画素108内の一つの副画素の電流供給線122の間に溝180を有する。また、隣接する二つのゲート線124の間に溝180を有する。溝180は信号線120と平行な方向、すなわちゲート線124に垂直な方向に延びており、ゲート線124と交差する。同様に溝180は信号線120に垂直な方向、すなわちゲート線124に平行な方向にも伸びており、信号線120や電流供給線122と交差する。   The display device 100 according to the present embodiment has a groove 180 between the adjacent pixels 108. For example, as shown in FIG. 3, a groove 180 is provided between the signal line 120 of one subpixel 106 in the pixel 108 and the current supply line 122 of one subpixel in the adjacent pixel 108. In addition, a groove 180 is provided between two adjacent gate lines 124. The groove 180 extends in a direction parallel to the signal line 120, that is, a direction perpendicular to the gate line 124, and intersects the gate line 124. Similarly, the groove 180 extends in a direction perpendicular to the signal line 120, that is, a direction parallel to the gate line 124, and intersects the signal line 120 and the current supply line 122.

図4に図3の鎖線A−Bに沿った断面の模式図を示す。発光装置100は、基材102の上にアンダーコート150を有している。アンダーコート150は基材102から不純物が半導体膜126、136などへ拡散することを防ぐ機能を有する膜である。   FIG. 4 shows a schematic diagram of a cross section taken along the chain line AB in FIG. The light emitting device 100 has an undercoat 150 on the substrate 102. The undercoat 150 is a film having a function of preventing impurities from diffusing from the base material 102 to the semiconductor films 126 and 136.

表示装置100はさらに、アンダーコート150の上に、ゲート絶縁膜152を有している。後述するように、ゲート絶縁膜152は副画素106内のトランジスタへも伸びており、ゲート128と重なる。ゲート絶縁膜152の上には第1の容量電極134が設けられている。後述するが、第1の容量電極134はゲート線124と同一の層に設けられており、同一の構成を有する。   The display device 100 further includes a gate insulating film 152 on the undercoat 150. As will be described later, the gate insulating film 152 extends to the transistor in the subpixel 106 and overlaps the gate 128. A first capacitor electrode 134 is provided on the gate insulating film 152. As will be described later, the first capacitor electrode 134 is provided in the same layer as the gate line 124 and has the same configuration.

第1の容量電極134の上には第1の層間絶縁膜156、第2の層間絶縁膜158が備えられている。後述するようにこれらの層は、副画素106内のトランジスタのゲート128や138上に設けられており、トランジスタを保護する機能を有する。例えば第1の層間絶縁膜156として窒化ケイ素を含有する層、第2の層間絶縁膜158として酸化ケイ素を含有する層を使用することができる。この場合、ゲート絶縁膜152は酸化ケイ素を含有する層が好ましい。これは、これらの膜が高いバリア性を有しており、また、隣接する層の間で高い密着性が得られ、かつ、加工時に異物が発生しにくいからである。なお、第1の層間絶縁膜156、第2の層間絶縁膜158は容量の誘電体膜として機能する。   A first interlayer insulating film 156 and a second interlayer insulating film 158 are provided on the first capacitor electrode 134. As will be described later, these layers are provided over the gates 128 and 138 of the transistors in the sub-pixel 106 and have a function of protecting the transistors. For example, a layer containing silicon nitride can be used as the first interlayer insulating film 156, and a layer containing silicon oxide can be used as the second interlayer insulating film 158. In this case, the gate insulating film 152 is preferably a layer containing silicon oxide. This is because these films have a high barrier property, and high adhesion can be obtained between adjacent layers, and foreign matters are hardly generated during processing. Note that the first interlayer insulating film 156 and the second interlayer insulating film 158 function as a dielectric film of a capacitor.

第2の層間絶縁膜158の上には信号線120、電流供給線122、および第2の容量電極160が設けられる。これらの層は同一の層に存在することができる。   On the second interlayer insulating film 158, the signal line 120, the current supply line 122, and the second capacitor electrode 160 are provided. These layers can be in the same layer.

表示装置100はさらに平坦化膜162を有している。平坦化膜162は、これより下に形成される各層によって生じる凹凸を吸収し、平坦な表面を与える機能を有する。平坦化膜162上には発光素子の第1の電極144が設けられる。   The display device 100 further includes a planarization film 162. The planarization film 162 has a function of absorbing unevenness caused by each layer formed below and providing a flat surface. A first electrode 144 of the light emitting element is provided over the planarization film 162.

第1の電極144の上には、第1の電極144の端部を覆うように隔壁164が備えられている。隔壁164は、第1の電極144に起因する凹凸によって、その上に形成されるEL層166やパッシベーション膜170(封止膜ともいう)が破壊されることを防止する機能を有する。なお本明細書、請求項において、EL層とはEL素子を構成する層であり、一対の電極に挟持された層全体を示す。一対の電極からキャリアが注入されることによりEL層内で再結合が起こり、これにより生じる励起状態からの発光を可視光領域に与える。   A partition wall 164 is provided on the first electrode 144 so as to cover an end portion of the first electrode 144. The partition wall 164 has a function of preventing the EL layer 166 and the passivation film 170 (also referred to as a sealing film) formed thereon from being damaged by unevenness caused by the first electrode 144. Note that in this specification and claims, an EL layer is a layer that constitutes an EL element and indicates the entire layer sandwiched between a pair of electrodes. When carriers are injected from the pair of electrodes, recombination occurs in the EL layer, and light emission from an excited state generated thereby is given to the visible light region.

図4に示すように、平坦化膜162と隔壁164には、第2の層間絶縁膜158に達する開口部が設けられており、これが溝180に対応する。溝の幅Wは隔壁164の上面の開口部の幅に相当し、0.5μm以上5μm以下、1μm以上3μm以下、あるいは2μm以上3μm以下が好ましい。図4に示す表示装置100では、隔壁164が与える溝180の側面と、平坦化膜162が与える溝180の側面は、同一平面上に存在する。なお、図4では溝180の側面は基材102の上面、および法線のいずれに対しても傾いているが、基材102の法線と平行であってもよい。具体的には図5(A)に示すように、溝180の隔壁は基材102の法線と平行でもよい。この場合溝180の底面積は、隔壁164の開口面積と略同じとなる。一方図5(B)に示すように、溝180の側壁はステップを有していてもよい。この場合溝180内において、平坦化膜162の上面の開口面積は、隔壁164の底面積よりも小さい。あるいは図5(C)に示すように、平坦化膜162の開口部の側面を隔壁164が覆うような構造を溝180が有していてもよい。この場合、隔壁164の一部は第2の層間絶縁膜158と接する。   As shown in FIG. 4, an opening reaching the second interlayer insulating film 158 is provided in the planarization film 162 and the partition 164, and this corresponds to the groove 180. The width W of the groove corresponds to the width of the opening on the upper surface of the partition wall 164, and is preferably 0.5 μm to 5 μm, 1 μm to 3 μm, or 2 μm to 3 μm. In the display device 100 illustrated in FIG. 4, the side surface of the groove 180 provided by the partition 164 and the side surface of the groove 180 provided by the planarization film 162 are on the same plane. In FIG. 4, the side surface of the groove 180 is inclined with respect to both the upper surface and the normal line of the base material 102, but may be parallel to the normal line of the base material 102. Specifically, as shown in FIG. 5A, the partition wall of the groove 180 may be parallel to the normal line of the substrate 102. In this case, the bottom area of the groove 180 is substantially the same as the opening area of the partition 164. On the other hand, as shown in FIG. 5B, the side wall of the groove 180 may have a step. In this case, the opening area of the upper surface of the planarizing film 162 is smaller than the bottom area of the partition 164 in the groove 180. Alternatively, as illustrated in FIG. 5C, the groove 180 may have a structure in which the partition wall 164 covers the side surface of the opening of the planarization film 162. In this case, part of the partition 164 is in contact with the second interlayer insulating film 158.

図4を参照すると表示装置100はさらに、第1の電極144および隔壁164の上に、EL層166と第2の電極168を有している。第1の電極144、EL層166、および第2の電極168によって発光素子が形成される。EL層166は溝180において第2の層間絶縁膜158と接している。   Referring to FIG. 4, the display device 100 further includes an EL layer 166 and a second electrode 168 on the first electrode 144 and the partition 164. The first electrode 144, the EL layer 166, and the second electrode 168 form a light-emitting element. The EL layer 166 is in contact with the second interlayer insulating film 158 in the groove 180.

図4ではEL層166は単層構造を有するように描かれているが、EL層166は異なる材料を含む複数の層が積層された構造を有していてもよい。例えば電荷注入層、電荷輸送層、発光層、電荷ブロッキング層などを適宜積層することができる。   In FIG. 4, the EL layer 166 is drawn to have a single-layer structure; however, the EL layer 166 may have a structure in which a plurality of layers containing different materials are stacked. For example, a charge injection layer, a charge transport layer, a light emitting layer, a charge blocking layer, and the like can be appropriately stacked.

図6に図4の一部を拡大した図を示す。隣接する副画素106間で異なる発光色を得る場合には、図6に示すように、発光層166_2、166_3以外の層166_1と166_4は共通の層として隣接する副画素106と溝180に共有されるように形成すればよい。層166_1と166_4として、ホール注入層、ホール輸送層、電子注入層、電子輸送層などが挙げられる。隣接する副画素106には異なる発光層166_2、166_3がそれぞれ設けられ、発光層166_2、166_3は、層166_1と166_4の間に挟まれる。このようにEL層166を形成した場合、溝180において第2の層間絶縁膜158と接触する層は、層166_1となる。したがって、溝180におけるEL層166の構造と、各副画素106内におけるEL層166の構造が異なることになる。第2の電極168は、第1の電極144と同様の構成をとることができる。   FIG. 6 is an enlarged view of a part of FIG. When obtaining different emission colors between adjacent subpixels 106, the layers 166_1 and 166_4 other than the light emitting layers 166_2 and 166_3 are shared by the adjacent subpixel 106 and the groove 180 as a common layer, as shown in FIG. What is necessary is just to form. Examples of the layers 166_1 and 166_4 include a hole injection layer, a hole transport layer, an electron injection layer, and an electron transport layer. The adjacent sub-pixels 106 are provided with different light-emitting layers 166_2 and 166_3, respectively, and the light-emitting layers 166_2 and 166_3 are sandwiched between the layers 166_1 and 166_4. When the EL layer 166 is formed in this manner, the layer in contact with the second interlayer insulating film 158 in the groove 180 is the layer 166_1. Therefore, the structure of the EL layer 166 in the groove 180 is different from the structure of the EL layer 166 in each subpixel 106. The second electrode 168 can have a structure similar to that of the first electrode 144.

図4を参照すると、第2の電極168の上には、発光素子を保護する機能を有するパッシベーション膜170が設けられる。   Referring to FIG. 4, a passivation film 170 having a function of protecting the light emitting element is provided on the second electrode 168.

図示しないが、任意の構成として、さらにカラーフィルタや遮光膜、基材102に対向する基板(対向基板)などを第2の電極168あるいはパッシベーション膜170の上に設けてもよい。対向基板を設ける場合、基材102と対向基板の間に充填剤として有機樹脂を充填してもよく、あるいは不活性ガスを充填してもよい。充填剤を設ける場合、溝180の内部にも充填剤が含まれることになる。なお、図4における点線182は中心線であり、表示装置100の厚さの1/2の位置を示している。ここでは、基材102の底面とパッシベーション膜170の上面の中間の位置を示している。本発明の実施形態では図4に示したように、中心線182が溝180の底面(つまり、第2の層間絶縁膜162の上面)に一致する、あるいは近づくように、基材102や隔壁164、平坦化膜162などの各層の厚さを調整することが好ましい。   Although not shown, a color filter, a light-shielding film, a substrate facing the base material 102 (opposing substrate), or the like may be further provided over the second electrode 168 or the passivation film 170 as an arbitrary configuration. In the case where a counter substrate is provided, an organic resin may be filled as a filler between the base material 102 and the counter substrate, or an inert gas may be filled. When the filler is provided, the filler is also contained in the groove 180. Note that a dotted line 182 in FIG. 4 is a center line, and indicates a position at a half of the thickness of the display device 100. Here, an intermediate position between the bottom surface of the substrate 102 and the top surface of the passivation film 170 is shown. In the embodiment of the present invention, as shown in FIG. 4, the base line 102 and the partition 164 are arranged so that the center line 182 coincides with or approaches the bottom surface of the groove 180 (that is, the upper surface of the second interlayer insulating film 162). The thickness of each layer such as the planarization film 162 is preferably adjusted.

溝180に沿った断面模式図、すなわち、図3に示した鎖線C−Dに沿った断面図を図7に示す。図7に示すように溝180が存在する領域には、基材102上に、アンダーコート150、ゲート絶縁膜152、ゲート線124、第1の層間絶縁膜156、第2の層間絶縁膜158、EL層166、第2の電極168、パッシベーション膜170をこの順で設けられている。したがって溝180内では、平坦化膜162や隔壁164が設けられておらず、第2の層間絶縁膜158とEL層166が接している。   FIG. 7 shows a schematic cross-sectional view along the groove 180, that is, a cross-sectional view along the chain line CD shown in FIG. As shown in FIG. 7, in the region where the groove 180 exists, the undercoat 150, the gate insulating film 152, the gate line 124, the first interlayer insulating film 156, the second interlayer insulating film 158, An EL layer 166, a second electrode 168, and a passivation film 170 are provided in this order. Accordingly, the planarization film 162 and the partition 164 are not provided in the groove 180, and the second interlayer insulating film 158 and the EL layer 166 are in contact with each other.

図8にゲート線124を挟むように設けられた隣接する二つの副画素106を示す。この図における破線E−Fに沿った断面図を図9に示す。なお、図8においても片方の副画素106の第1の電極144は図示していない。   FIG. 8 shows two adjacent sub-pixels 106 provided so as to sandwich the gate line 124. FIG. 9 shows a cross-sectional view along the broken line EF in this figure. In FIG. 8, the first electrode 144 of one subpixel 106 is not shown.

図9に示すように副画素106はトランジスタを含んでおり、トランジスタは半導体膜126、ゲート絶縁膜152、ゲート128を有している。副画素106は、トランジスタ上にさらに第1の層間絶縁膜156、第2の層間絶縁膜158を有し、これらの上にソース130、ドレイン132が設けられている。第1の層間絶縁膜156、第2の層間絶縁膜158、ゲート絶縁膜152に設けられたコンタクトを通してソース130、ドレイン132が半導体膜126と電気的に接続される。なお、図9ではトップゲート型のトランジスタが図示されているが、トランジスタはボトムゲート型でもよい。また、Nチャネル型トランジスタ、Pチャネル型トランジスタのいずれでもよい。   As shown in FIG. 9, the subpixel 106 includes a transistor, and the transistor includes a semiconductor film 126, a gate insulating film 152, and a gate 128. The subpixel 106 further includes a first interlayer insulating film 156 and a second interlayer insulating film 158 over the transistor, and a source 130 and a drain 132 are provided thereon. The source 130 and the drain 132 are electrically connected to the semiconductor film 126 through contacts provided in the first interlayer insulating film 156, the second interlayer insulating film 158, and the gate insulating film 152. Note that although a top-gate transistor is illustrated in FIG. 9, the transistor may be a bottom-gate transistor. Either an N-channel transistor or a P-channel transistor may be used.

信号線120に沿った断面図、すなわち図8の鎖線G−Hに沿った断面図を図10に示す。図10に示すように表示装置100は、基材102の上にアンダーコート150、ゲート絶縁膜152、ゲート線124、第1の層間絶縁膜156、第2の層間絶縁膜158をこの順で有している。信号線120は第2の層間絶縁膜158の上に備えられる。   FIG. 10 shows a cross-sectional view along the signal line 120, that is, a cross-sectional view along the chain line GH in FIG. As shown in FIG. 10, the display device 100 has an undercoat 150, a gate insulating film 152, a gate line 124, a first interlayer insulating film 156, and a second interlayer insulating film 158 in this order on a base material 102. doing. The signal line 120 is provided on the second interlayer insulating film 158.

図8に示した溝180はゲート線124に平行な方向に伸びており、信号線120や電流供給線122と交差する。溝180が重なる領域、すなわち溝180と信号線120が交差する領域では、信号線120を物理的に分断し、分断された信号線120は接続電極148を介して互いに電気的に接続することができる。電流供給線122も同様であり、溝180と重なる領域において分断し、分断された電流供給線122は接続電極148を介して互いに電気的に接続することができる。図10(A)に図8の鎖線G−Hに沿った断面模式図を示す。図10(A)に示すように、接続電極148は、例えば第1の層間絶縁膜156と第2の層間絶縁膜158の間に設けることができ、第2の層間絶縁膜158中に設けられたコンタクトを通じて、分断された信号線120と接続電極148を電気的に接続することができる。この場合、接続電極148の上面は第2の層間絶縁膜158によって覆われる。   The groove 180 shown in FIG. 8 extends in a direction parallel to the gate line 124 and intersects with the signal line 120 and the current supply line 122. In a region where the groove 180 overlaps, that is, a region where the groove 180 and the signal line 120 intersect, the signal line 120 is physically divided, and the divided signal lines 120 can be electrically connected to each other through the connection electrode 148. it can. The same applies to the current supply line 122, and the current supply line 122 is divided in a region overlapping with the groove 180, and the divided current supply lines 122 can be electrically connected to each other through the connection electrode 148. FIG. 10A shows a schematic cross-sectional view along the chain line GH in FIG. As shown in FIG. 10A, the connection electrode 148 can be provided between the first interlayer insulating film 156 and the second interlayer insulating film 158, for example, and is provided in the second interlayer insulating film 158. Through the contact, the divided signal line 120 and the connection electrode 148 can be electrically connected. In this case, the upper surface of the connection electrode 148 is covered with the second interlayer insulating film 158.

一方図10(B)に示すように、接続電極148はゲート線124と同一の層に存在してもよい。すなわちゲート線124と接続電極148の両方が、ゲート絶縁膜152と第1の層間絶縁膜156と挟まれるように形成されていてもよい。この時、分断された信号線120は第1の層間絶縁膜156と第2の層間絶縁膜158に設けられる開口部を介して接続電極148と接続される。なお信号線120や電流供給線122は必ずしも分断する必要はなく、溝180を挟む二つの副画素106にわたって連続していてもよい。   On the other hand, as shown in FIG. 10B, the connection electrode 148 may exist in the same layer as the gate line 124. That is, both the gate line 124 and the connection electrode 148 may be formed so as to be sandwiched between the gate insulating film 152 and the first interlayer insulating film 156. At this time, the divided signal line 120 is connected to the connection electrode 148 through an opening provided in the first interlayer insulating film 156 and the second interlayer insulating film 158. Note that the signal line 120 and the current supply line 122 are not necessarily divided, and may be continuous over the two subpixels 106 sandwiching the groove 180.

溝180は隔壁164と平坦化膜162に対して同時に、あるいは別々にエッチング処理を施して形成する。信号線120を分断しない場合には、エッチング処理において信号線120がエッチャントに晒され、信号線120の表面が酸化される可能性がある。しかしながら接続電極148を形成し、その上面を第1の層間絶縁膜156、あるいは/および第2の層間絶縁膜158によって覆うことにより、エッチング処理において信号線120がエッチャントに晒されることを防ぐことができる。また、信号線120とEL層166が直接接することを防ぐことができる。   The groove 180 is formed by performing an etching process on the partition wall 164 and the planarization film 162 simultaneously or separately. In the case where the signal line 120 is not divided, the signal line 120 may be exposed to an etchant in the etching process, and the surface of the signal line 120 may be oxidized. However, by forming the connection electrode 148 and covering the upper surface thereof with the first interlayer insulating film 156 and / or the second interlayer insulating film 158, the signal line 120 can be prevented from being exposed to the etchant in the etching process. it can. In addition, direct contact between the signal line 120 and the EL layer 166 can be prevented.

上述したように、可撓性の基材102を用いることで表示装置100に可撓性を付与することができる。この場合表示装置100を折り曲げる、あるいは湾曲させるなどして変形すると、副画素106に設けられる発光素子やトランジスタ、容量などの素子にストレスがかかる。副画素106に大きなストレスがかかると、密着性の低い界面、例えばEL層166と第1の電極144の界面、あるいはEL層166と第2の電極168の界面、第2の電極168とパッシベーション膜170の界面などで剥離が生じ、発光素子の破壊の原因となる。また、トランジスタや容量を構成する層の界面でも剥離が生じたり、あるいはこれらの層にクラックが発生したりする。   As described above, the display device 100 can be provided with flexibility by using the flexible base material 102. In this case, when the display device 100 is deformed by bending or bending, stress is applied to elements such as a light emitting element, a transistor, and a capacitor provided in the sub-pixel 106. When a large stress is applied to the sub-pixel 106, an interface with low adhesion, for example, an interface between the EL layer 166 and the first electrode 144, an interface between the EL layer 166 and the second electrode 168, or the second electrode 168 and the passivation film. Separation occurs at the interface of 170 and the like, which causes destruction of the light emitting element. In addition, peeling occurs at the interface between the layers constituting the transistor and the capacitor, or cracks are generated in these layers.

しかしながら上述した溝180を形成することで、表示装置100を変形しても溝180が変形を主に担うことができ、副画素106自体の変形量を低減することができる。具体的には図11に示すように、表示領域104が設けられる基材102の上面が下面よりも外側に位置するように表示装置100を湾曲させる場合、溝180が存在する領域は相対的に厚さが小さいため、溝180の開口部が広がる。すなわち、溝180の形状が表示装置100の変形に伴って変化するものの、発光素子やトランジスタなどが含まれる画素108の変形は抑制される。したがって、発光素子やトランジスタへのストレスが軽減され、その結果、表示装置100の信頼性を向上させることができる。   However, by forming the groove 180 described above, even if the display device 100 is deformed, the groove 180 can be mainly responsible for deformation, and the deformation amount of the sub-pixel 106 itself can be reduced. Specifically, as shown in FIG. 11, when the display device 100 is curved so that the upper surface of the base material 102 on which the display region 104 is provided is located outside the lower surface, the region where the groove 180 exists is relatively Since the thickness is small, the opening of the groove 180 is widened. That is, although the shape of the groove 180 changes with the deformation of the display device 100, the deformation of the pixel 108 including the light emitting element, the transistor, and the like is suppressed. Accordingly, stress on the light emitting element and the transistor is reduced, and as a result, the reliability of the display device 100 can be improved.

また図4、6に示すように、隣接する画素108あるいは副画素106がEL層166あるいはその一部を共有する場合、EL層166の内部を横方向(基材102の表面に平行な方向)に電流が流れ、一つの副画素106に注入された電流が隣接する副画素106に流れることがある。この現象をクロストークと呼び、EL層166が比較的導電性の高い層を含み、副画素106間の距離が小さい場合には無視できない問題である。しかしながら溝180を形成することで、溝180を介して隣接する副画素106の間ではEL層166の距離が大きくなる。したがってEL層166の横方向の抵抗が大きくなり、クロストークを効果的に抑制することができる。その結果、表示領域104で再現される映像の品質の低下を防止することができる。
(第2実施形態)
As shown in FIGS. 4 and 6, when adjacent pixels 108 or sub-pixels 106 share the EL layer 166 or a part thereof, the inside of the EL layer 166 is in the horizontal direction (direction parallel to the surface of the substrate 102). Current may flow, and the current injected into one subpixel 106 may flow to the adjacent subpixel 106. This phenomenon is called crosstalk, and is a problem that cannot be ignored when the EL layer 166 includes a layer having relatively high conductivity and the distance between the sub-pixels 106 is small. However, the formation of the groove 180 increases the distance of the EL layer 166 between the subpixels 106 that are adjacent to each other through the groove 180. Therefore, the lateral resistance of the EL layer 166 is increased, and crosstalk can be effectively suppressed. As a result, it is possible to prevent the quality of the video reproduced in the display area 104 from being deteriorated.
(Second Embodiment)

本実施形態では、本発明の一実施形態の表示装置に関し、図12を用いて説明する。第1実施形態と同様の構成については記述を省略することがある。   In this embodiment, a display device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. A description of the same configuration as in the first embodiment may be omitted.

本実施形態の表示装置200の断面模式図を図12に示す。なお、この断面模式図は図3の鎖線A−Bに沿った断面に相当する。図12に示すように、本実施形態の表示装置200では、溝180の下に平坦化膜162の一部が存在している。したがって、EL層166は溝180の底面、すなわち平坦化膜162と接し、溝180内における平坦化膜162の厚さは、副画素106内におけるそれよりも小さい。このような構成は、溝180を形成するエッチングプロセスの条件を適切に制御することによって形成することができる。あるいは、平坦化膜162をエッチングレートの異なる二つの層を積層することで形成することができる。   A schematic cross-sectional view of the display device 200 of the present embodiment is shown in FIG. In addition, this cross-sectional schematic diagram is corresponded in the cross section along the dashed-dotted line AB of FIG. As shown in FIG. 12, in the display device 200 of this embodiment, a part of the planarization film 162 exists under the groove 180. Therefore, the EL layer 166 is in contact with the bottom surface of the trench 180, that is, the planarization film 162, and the thickness of the planarization film 162 in the trench 180 is smaller than that in the subpixel 106. Such a configuration can be formed by appropriately controlling the conditions of the etching process for forming the groove 180. Alternatively, the planarization film 162 can be formed by stacking two layers having different etching rates.

このような構成では、信号線120や電流供給線122は溝180を形成する際に露出されることがなく、実施形態1で述べた接続電極148を形成しなくてもその表面の酸化を防ぐことができる。また、基材102の厚さが小さく、中心線182がより発光素子に近い方に位置する場合、溝180の底面を中心線182に近づける手法として有効である。   In such a configuration, the signal line 120 and the current supply line 122 are not exposed when the groove 180 is formed, and oxidation of the surface is prevented without forming the connection electrode 148 described in the first embodiment. be able to. Further, when the thickness of the base material 102 is small and the center line 182 is located closer to the light emitting element, it is effective as a technique for bringing the bottom surface of the groove 180 closer to the center line 182.

(第3実施形態)
本実施形態では、本発明の一実施形態の表示装置に関し、図13、14を用いて説明する。第1、第2実施形態と同様の構成については記述を省略することがある。
(Third embodiment)
In the present embodiment, a display device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. The description of the same configuration as in the first and second embodiments may be omitted.

図13に、本実施形態の表示装置300の上面図を示す。第1実施形態と同様に本実施形態においても、画素108が三つの副画素106を有する形態を例として記述する。表示装置300では、ゲート線124が溝180と交差する領域において分断され、分断された二つのゲート線124が接続電極146を介して互いに電気的に接続される。   FIG. 13 shows a top view of the display device 300 of the present embodiment. Similar to the first embodiment, in this embodiment, an example in which the pixel 108 includes three subpixels 106 will be described. In the display device 300, the gate line 124 is divided in a region intersecting with the groove 180, and the two divided gate lines 124 are electrically connected to each other through the connection electrode 146.

より具体的には、図13の鎖線I−Jに沿った断面模式図(図14)に示すように、アンダーコート150、ゲート絶縁膜152の上に設けられるゲート線124は、溝180と交差する領域において分断される。分断されたゲート線124の上には第1の層間絶縁膜156が設けられており、この第1の層間絶縁膜156はゲート線124を露出する開口部を有する。第1の層間絶縁膜156の上には接続電極146が設けられており、上記開口部を介して分断された二つのゲート線124が互いに電気的に接続される。接続電極146の上には第2の層間絶縁膜158、その上には信号線120や電流供給線122が設けられる。このような構成では、接続電極146の厚さを制御することで、中心線182を溝180の底面に一致する、あるいは近づけることができ、表示装置の変形に対してより高い耐性を付与することができる。   More specifically, as shown in a schematic cross-sectional view (FIG. 14) along the chain line IJ in FIG. 13, the gate line 124 provided on the undercoat 150 and the gate insulating film 152 intersects with the groove 180. It is divided in the area to do. A first interlayer insulating film 156 is provided on the divided gate line 124, and the first interlayer insulating film 156 has an opening that exposes the gate line 124. A connection electrode 146 is provided on the first interlayer insulating film 156, and the two gate lines 124 separated through the opening are electrically connected to each other. A second interlayer insulating film 158 is provided on the connection electrode 146, and the signal line 120 and the current supply line 122 are provided thereon. In such a configuration, by controlling the thickness of the connection electrode 146, the center line 182 can coincide with or be close to the bottom surface of the groove 180, and higher resistance to deformation of the display device can be provided. Can do.

(第4実施形態)
本実施形態では、本発明の一実施形態の表示装置に関し、図15乃至図18を用いて説明する。第1乃至第3実施形態と同様の構成については記述を省略することがある。
(Fourth embodiment)
In this embodiment, a display device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. The description of the same configuration as in the first to third embodiments may be omitted.

第1実施形態の表示装置100では、互いに交差する溝180で定義される最小面積中に、複数の副画素106を有する一つの画素108が含まれている(図2参照)。これに対して本実施形態の表示装置では、図15に示すように、互いに交差する溝180で定義される最小面積中に一つの副画素106を有している。このような構成を採用することで、表示装置を変形した際、変形を担う部分の寄与が増大するため、より変形しやすく、かつ変形に対してより高い耐性を有する表示装置を与えることができる。また、全ての副画素106は、隣接する副画素106の間に溝180を有することになり、クロストークをより効果的に抑制することができる。   In the display device 100 of the first embodiment, one pixel 108 having a plurality of sub-pixels 106 is included in the minimum area defined by the grooves 180 that intersect with each other (see FIG. 2). On the other hand, as shown in FIG. 15, the display device of this embodiment has one subpixel 106 in the minimum area defined by the grooves 180 that intersect each other. By adopting such a configuration, when the display device is deformed, the contribution of the portion responsible for the deformation increases, so that it is possible to provide a display device that is more easily deformed and has higher resistance to deformation. . In addition, all the subpixels 106 have the groove 180 between the adjacent subpixels 106, and crosstalk can be more effectively suppressed.

あるいは図16に示すように、本実施形態の表示装置は、互いに交差する溝180で定義される最小面積中に複数の画素108を有していてもよい。また、この最小面積中に含まれる画素108の数は異なっていてもよい。すなわち、溝180が複数個の画素108を、あるいは複数個の副画素106を囲う構造、あるいは島状に分断する構造にしてもよい。あるいは図17に示すように、互いに交差せず、一つの方向のみに伸びるように溝180を設けてもよい。図17では、溝180はゲート線124に平行な方向にのみ設置されており、信号線120と平行な溝は設けられていない。あるいは図18に示すように、表示装置は一つの表示領域104に含まれる溝180の数が数本(例えば1以上10以下)となるような構造を有していてもよい。   Alternatively, as illustrated in FIG. 16, the display device according to the present embodiment may include a plurality of pixels 108 in a minimum area defined by grooves 180 that intersect each other. Further, the number of pixels 108 included in the minimum area may be different. That is, the groove 180 may surround the plurality of pixels 108, the plurality of sub-pixels 106, or may be divided into islands. Or as shown in FIG. 17, you may provide the groove | channel 180 so that it may not mutually cross | intersect and may extend only to one direction. In FIG. 17, the groove 180 is provided only in a direction parallel to the gate line 124, and no groove parallel to the signal line 120 is provided. Alternatively, as illustrated in FIG. 18, the display device may have a structure in which the number of grooves 180 included in one display region 104 is several (for example, 1 to 10).

これらのような構成を採用することで、表示装置全体の柔軟性を調整することができ、また変形する方向や場所によって柔軟性を適宜調整することができる。   By adopting such a configuration, the flexibility of the entire display device can be adjusted, and the flexibility can be appropriately adjusted depending on the direction and place of deformation.

(第5実施形態)
本実施形態では、本発明の一実施形態の表示装置に関し、図19乃至図21を用いて説明する。第1乃至第4実施形態と同様の構成については記述を省略することがある。
(Fifth embodiment)
In this embodiment, a display device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. The description of the same configuration as in the first to fourth embodiments may be omitted.

本実施形態の表示装置400の上面図を図19に示す。第1実施形態の表示装置100では、溝180はゲート線124に対して平行な方向と垂直な方向の両方向に伸び、かつ、ゲート線124、信号線120と交差する。これに対して本実施形態の表示装置400では、図19に示すように、溝180はゲート線124に対して平行な方向と垂直な方向の両方向に伸びるものの、ゲート線124や信号線120とは交差しない。つまり溝180は、ゲート線124と重や信号線120と重なる領域において分断される。より具体的には、表示装置400は、ゲート線124に対して平行な方向に伸び、かつ信号線120と交差しない溝184と、ゲート線124に対して垂直な方向に伸び、かつゲート線124と交差しない溝186を有する。なお、図19では理解の促進のため、一部の副画素106では第1の電極144は図示していない。   FIG. 19 shows a top view of the display device 400 of this embodiment. In the display device 100 of the first embodiment, the groove 180 extends in both directions parallel to and perpendicular to the gate line 124, and intersects the gate line 124 and the signal line 120. On the other hand, in the display device 400 of the present embodiment, as shown in FIG. 19, although the groove 180 extends in both directions parallel to and perpendicular to the gate line 124, the gate line 124 and the signal line 120 Do not cross. That is, the groove 180 is divided in a region overlapping with the gate line 124 and the signal line 120. More specifically, the display device 400 extends in a direction parallel to the gate line 124 and does not intersect the signal line 120, and extends in a direction perpendicular to the gate line 124, and the gate line 124. A groove 186 that does not intersect with the groove 186. Note that in FIG. 19, the first electrode 144 is not illustrated in some of the subpixels 106 in order to facilitate understanding.

図19の鎖線K−L、M−Nに沿った断面模式図(図20、21)を用いてこの構成を詳細に説明する。図20に示すように、溝186が設けられる領域では、表示装置400は基材102と、その上に設けられるアンダーコート150、ゲート絶縁膜152、ゲート線124、第1の層間絶縁膜156、第2の層間絶縁膜158、平坦化膜162、隔壁164をこの順で有する。二つのゲート線124の間において、平坦化膜162、隔壁164は開口部を有し、この開口部が溝186に相当する。溝186内では、EL層166が第2の層間絶縁膜158に接しており、EL層166の上に発光素子の第2の電極168とパッシベーション膜170が設けられている。   This configuration will be described in detail with reference to schematic cross-sectional views (FIGS. 20 and 21) taken along chain lines KL and MN in FIG. As shown in FIG. 20, in the region where the groove 186 is provided, the display device 400 includes the base material 102, an undercoat 150, a gate insulating film 152, a gate line 124, a first interlayer insulating film 156, A second interlayer insulating film 158, a planarizing film 162, and a partition 164 are provided in this order. Between the two gate lines 124, the planarization film 162 and the partition 164 have openings, which correspond to the grooves 186. In the groove 186, the EL layer 166 is in contact with the second interlayer insulating film 158, and the second electrode 168 of the light emitting element and the passivation film 170 are provided over the EL layer 166.

図21を参照すると、溝184が設けられる領域では、表示装置400は基材102と、その上に設けられるアンダーコート150、ゲート絶縁膜152、第1の層間絶縁膜156、第2の層間絶縁膜158、信号線120、電流供給線122、平坦化膜162、隔壁164をこの順で有する。信号線120と電流供給線122の間において、平坦化膜162、隔壁164は開口部を有し、この開口部が溝184に相当する。溝184では、EL層166が第2の層間絶縁膜158に接しており、EL層166の上に発光素子の第2の電極168とパッシベーション膜170が設けられている。   Referring to FIG. 21, in the region where the groove 184 is provided, the display device 400 includes the base material 102, the undercoat 150, the gate insulating film 152, the first interlayer insulating film 156, and the second interlayer insulating film provided thereon. A film 158, a signal line 120, a current supply line 122, a planarization film 162, and a partition 164 are provided in this order. Between the signal line 120 and the current supply line 122, the planarization film 162 and the partition 164 have openings, and these openings correspond to the grooves 184. In the groove 184, the EL layer 166 is in contact with the second interlayer insulating film 158, and the second electrode 168 of the light emitting element and the passivation film 170 are provided over the EL layer 166.

発光素子の第2の電極168は表示領域104の全面に設けられ、各副画素106に共有される。したがって、第2の電極168の抵抗が比較的高い場合、例えば第2の電極168に透光性の導電性酸化物が含まれる場合、表示領域104の面積が大きいと第2の電極168の抵抗による電圧降下が顕著となり、発光輝度にむらが生じる。また第1実施形態の表示装置100では、第2の電極168が与える導電ルートは溝180を経由するため、溝180を設置しない場合と比較して長くなり、電圧降下がより顕著になる。しかしながら表示装置400の構成を用いることで、隣接する副画素106間で溝184、186を経由しない導電ルート(例えば図19における領域190など)を確保することができる。すなわち、溝184、186が設けられていない領域ではより短い導電ルートが存在する。このため、第2の電極168の抵抗に起因する電圧降下を緩和することができ、輝度のむらを低減することができる。   The second electrode 168 of the light-emitting element is provided over the entire surface of the display region 104 and is shared by each subpixel 106. Therefore, when the resistance of the second electrode 168 is relatively high, for example, when the second electrode 168 includes a light-transmitting conductive oxide, the resistance of the second electrode 168 is increased when the area of the display region 104 is large. As a result, the voltage drop due to the above becomes remarkable, and the light emission luminance becomes uneven. In the display device 100 of the first embodiment, since the conductive route provided by the second electrode 168 passes through the groove 180, the conductive route is longer than when the groove 180 is not provided, and the voltage drop becomes more remarkable. However, by using the structure of the display device 400, a conductive route (for example, the region 190 in FIG. 19) that does not pass through the grooves 184 and 186 can be secured between the adjacent sub-pixels 106. That is, a shorter conductive route exists in the region where the grooves 184 and 186 are not provided. Therefore, a voltage drop due to the resistance of the second electrode 168 can be reduced, and unevenness in luminance can be reduced.

(第6実施形態)
本実施形態では、第1実施形態で説明した表示装置100の作製方法を図22乃至図25を用いて説明する。図22は図3に示した画素108の一つの副画素106を示した上面図である。図23乃至図25に、図22の鎖線O−P、Q−Rに沿った断面図を示す。
(Sixth embodiment)
In this embodiment, a method for manufacturing the display device 100 described in the first embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 22 is a top view showing one sub-pixel 106 of the pixel 108 shown in FIG. 23 to 25 are cross-sectional views taken along chain lines OP and QR in FIG.

図23(A)に示すように、基材102の上にアンダーコート150を形成し、その上に半導体膜126を形成する。基材102は、例えばガラスや石英、金属など、比較的物理的強度の高い材料を用いることができる。表示装置100に可撓性を付与する場合には、ポリイミドやポリアミド、アクリル樹脂、ポリカーボナート、ポリエステルなどの高分子材料を用い、可撓性を有する程度の膜厚を選択すればよい。   As shown in FIG. 23A, an undercoat 150 is formed on the base material 102, and a semiconductor film 126 is formed thereon. For the base material 102, for example, a material having a relatively high physical strength such as glass, quartz, or metal can be used. In order to impart flexibility to the display device 100, a polymer material such as polyimide, polyamide, acrylic resin, polycarbonate, polyester, or the like may be used, and a film thickness with flexibility may be selected.

アンダーコート150は、窒化ケイ素や酸化ケイ素、窒化酸化ケイ素、酸化窒化ケイ素などの無機化合物を用い、化学気相成長法(CVD)やスパッタリング法などを適用して形成することができる。   The undercoat 150 can be formed by using an inorganic compound such as silicon nitride, silicon oxide, silicon nitride oxide, or silicon oxynitride and applying a chemical vapor deposition method (CVD), a sputtering method, or the like.

半導体膜126は、半導体特性を示す材料、例えばシリコンやゲルマニウム、あるいはインジウム系酸化物半導体などを用い、CVD法やスパッタリング法などを利用して形成すればよい。半導体膜126の結晶性に関しても特に限定はなく、単結晶、多結晶、微結晶、アモルファスなどのモルフォロジーを有することができる。   The semiconductor film 126 may be formed using a material exhibiting semiconductor characteristics such as silicon, germanium, or an indium oxide semiconductor by a CVD method, a sputtering method, or the like. There is no particular limitation on the crystallinity of the semiconductor film 126, and the semiconductor film 126 can have a morphology such as single crystal, polycrystal, microcrystal, or amorphous.

次に半導体膜126上にゲート絶縁膜152を形成し、その上にゲート128を形成する(図23(B))。ゲート絶縁膜152もアンダーコート150と同様の材料、形成方法を用いて形成することができ、酸化ケイ素を含むことが好ましい。アンダーコート150、ゲート絶縁膜152はいずれも単層構造を有していても良く、複数の層を含有する積層構造を有していてもよい。ゲート128はチタンやアルミニウム、銅、モリブデン、タングステン、タンタルなどの金属やその合金などを単層、あるいは積層構造で形成することができる。例えばアルミニウムや銅をチタンやモリブデンで挟持した積層構造を採用することができる。形成方法としては、スパッタリング法、CVD法、あるいは印刷法などが挙げられる。なお図22に示すように、ゲート128の形成と同時に、ゲート線124のみならず、第1の容量電極134も形成される。   Next, a gate insulating film 152 is formed over the semiconductor film 126, and a gate 128 is formed thereover (FIG. 23B). The gate insulating film 152 can also be formed using the same material and formation method as the undercoat 150, and preferably contains silicon oxide. Each of the undercoat 150 and the gate insulating film 152 may have a single layer structure, or may have a stacked structure including a plurality of layers. The gate 128 can be formed of a single layer or a stacked layer of a metal such as titanium, aluminum, copper, molybdenum, tungsten, or tantalum or an alloy thereof. For example, a laminated structure in which aluminum or copper is sandwiched between titanium or molybdenum can be employed. Examples of the forming method include a sputtering method, a CVD method, and a printing method. As shown in FIG. 22, simultaneously with the formation of the gate 128, not only the gate line 124 but also the first capacitor electrode 134 is formed.

ゲート128を形成した後、第1の層間絶縁膜156を形成する。第1の層間絶縁膜156はアンダーコート150と同様の材料、形成方法を用いて形成することができ、窒化ケイ素を含有することが好ましい。   After the gate 128 is formed, a first interlayer insulating film 156 is formed. The first interlayer insulating film 156 can be formed using the same material and formation method as the undercoat 150, and preferably contains silicon nitride.

次に接続電極148を第1の層間絶縁膜156上に形成する。接続電極148はゲート128で使用可能な材料を用い、CVD法やスパッタリング法を適用して形成することができる。接続電極148は、単層構造、積層構造、いずれを有していてもよい。   Next, the connection electrode 148 is formed over the first interlayer insulating film 156. The connection electrode 148 can be formed using a material that can be used for the gate 128 and applying a CVD method or a sputtering method. The connection electrode 148 may have either a single layer structure or a stacked structure.

接続電極148上に第2の層間絶縁膜158を形成し、エッチングにより接続電極148と重なる領域に開口部を形成する(図23(C))。第2の層間絶縁膜158もアンダーコート150と同様の材料、形成方法を用いて形成することができ、酸化ケイ素を含有することが好ましい。   A second interlayer insulating film 158 is formed over the connection electrode 148, and an opening is formed in a region overlapping with the connection electrode 148 by etching (FIG. 23C). The second interlayer insulating film 158 can also be formed using the same material and formation method as the undercoat 150, and preferably contains silicon oxide.

次にソース130、ドレイン132、信号線120を形成する(図24(A))。これらの配線はゲート128で使用可能な材料を用い、CVD法やスパッタリング法によって形成することができる。図22に示すように、ソース130、ドレイン132、信号線120と同時に第2の容量電極160や電流供給線122も形成される。   Next, the source 130, the drain 132, and the signal line 120 are formed (FIG. 24A). These wirings can be formed by a CVD method or a sputtering method using a material that can be used for the gate 128. As shown in FIG. 22, the second capacitor electrode 160 and the current supply line 122 are formed simultaneously with the source 130, the drain 132, and the signal line 120.

次にソース130、ドレイン132、信号線120を覆うように平坦化膜162を形成する(図24(A))。平坦化膜162はアクリル樹脂、ポリエステル、ポリアミド、ポリイミド、ポリシロキサンなどの高分子材料を含むことが好ましい。平坦化膜162はスピンコート法やインクジェット法、印刷法などの湿式成膜法を用いて形成することができる。平坦化膜162の形成により、トランジスタや接続電極148に起因する凹凸が吸収され、平坦な表面を与えることができる。   Next, a planarization film 162 is formed so as to cover the source 130, the drain 132, and the signal line 120 (FIG. 24A). The planarization film 162 preferably contains a polymer material such as acrylic resin, polyester, polyamide, polyimide, or polysiloxane. The planarization film 162 can be formed by a wet film formation method such as a spin coating method, an inkjet method, or a printing method. By the formation of the planarization film 162, unevenness caused by the transistor and the connection electrode 148 can be absorbed and a flat surface can be provided.

図示しないが、平坦化膜162上には発光素子の第1の電極144が形成される。発光素子からの発光を基材102から取り出す場合には、可視光を透過できるように、例えば透光性を有する酸化物を用いて第1の電極144を形成すればよい。透光性を有する酸化物としては、インジウム―スズ酸化物(ITO)、インジウム―亜鉛酸化物(IZO)などが挙げられる。形成方法としてはスパッタリング法が挙げられる。一方、発光素子からの発光を基材102とは反対の方向に取り出す場合には、可視光を反射できるように、反射率の高い金属を第1の電極144に用いることができる。具体的には、銀やアルミニウムなどが挙げられる。あるいは反射率の高い金属の上に透光性を有する酸化物を積層してもよい。なお第1の電極144を形成する前に、トランジスタのドレイン132に達する開口部を平坦化膜162に形成する。   Although not shown, the first electrode 144 of the light emitting element is formed over the planarization film 162. In the case where light emitted from the light-emitting element is extracted from the base material 102, the first electrode 144 may be formed using, for example, a light-transmitting oxide so that visible light can be transmitted. Examples of the light-transmitting oxide include indium-tin oxide (ITO) and indium-zinc oxide (IZO). Examples of the forming method include sputtering. On the other hand, when light emitted from the light-emitting element is extracted in a direction opposite to the base material 102, a metal with high reflectivity can be used for the first electrode 144 so that visible light can be reflected. Specific examples include silver and aluminum. Alternatively, a light-transmitting oxide may be stacked over a highly reflective metal. Note that an opening reaching the drain 132 of the transistor is formed in the planarization film 162 before the first electrode 144 is formed.

次に隔壁164を形成する(図24(B))。隔壁164は、平坦化膜162で使用可能な材料を用い、上述した湿式成膜法を適用して作製することができる。好ましくは、平坦化膜162と隔壁164は同じ材料を含有するように形成する。   Next, a partition 164 is formed (FIG. 24B). The partition 164 can be manufactured using a material that can be used for the planarization film 162 and applying the above-described wet deposition method. Preferably, the planarization film 162 and the partition 164 are formed to contain the same material.

次に隔壁164、平坦化膜162に対してエッチングを行い、第2の層間絶縁膜158を露出するように開口部を形成する(図25(A))。この開口部が溝180に相当する。一度のプロセスで隔壁164と平坦化膜162に対して同時にエッチングを行って溝180を形成してもよく、あるいは隔壁164に対してエッチングを行って開口部を形成した後に、平坦化膜162に対して異なる条件でエッチングを行い、溝180を形成してもよい。一度のプロセスで隔壁164と平坦化膜162に同時に溝180を形成した場合、図25(A)に示すように、平坦化膜162が与える溝180の側面と、隔壁164が与える180の側壁は同一平面上に存在することになる。一方、隔壁164、平坦化膜162に対して異なるステップでエッチングを行って溝180を形成する場合、図5(B)に示すように、溝180内にステップが形成されることがある。   Next, the partition 164 and the planarization film 162 are etched to form openings so as to expose the second interlayer insulating film 158 (FIG. 25A). This opening corresponds to the groove 180. The partition wall 164 and the planarization film 162 may be etched simultaneously in one process to form the groove 180, or the partition wall 164 may be etched to form an opening, and then the planarization film 162 may be etched. On the other hand, the groove 180 may be formed by performing etching under different conditions. When the groove 180 is formed in the partition 164 and the planarization film 162 at the same time in one process, the side surface of the groove 180 provided by the planarization film 162 and the side wall of 180 provided by the partition 164 are as shown in FIG. It exists on the same plane. On the other hand, when the groove 180 is formed by performing etching on the partition 164 and the planarization film 162 in different steps, a step may be formed in the groove 180 as illustrated in FIG.

あるいは隔壁164を形成する前に平坦化膜162に対してエッチングを行い、ドレイン132に達する開口部と同時に溝180が形成される領域に開口部を形成してもよい。この場合、平坦化膜162に設けられた開口部は一度隔壁164によって覆われるが、溝180が形成される領域において隔壁164に対して開口部を形成することで、溝180を形成することができる。この場合図5(C)に示すように、EL層166の一部は第2の層間絶縁膜158と接する。   Alternatively, the planarization film 162 may be etched before the partition 164 is formed, and an opening may be formed in a region where the groove 180 is formed simultaneously with the opening reaching the drain 132. In this case, the opening provided in the planarization film 162 is once covered with the partition 164, but the groove 180 can be formed by forming the opening in the partition 164 in a region where the groove 180 is formed. it can. In this case, as shown in FIG. 5C, part of the EL layer 166 is in contact with the second interlayer insulating film 158.

次にEL層166、第2の電極168を形成する(図25(B))。EL層166は溝180において第2の層間絶縁膜158と接するように形成される。第1実施形態で述べたように、EL層166は全ての副画素106で同じ構造を有していてもよく、あるいは隣接する副画素106で一部の構造(発光層など)が異なっていてもよい。第2の電極168の形成は、第1の電極144と同様の材料、方法を用いて行うことができる。発光素子からの発光を基材102から得る場合には、反射率の高い金属やその合金などを用いればよい。一方、発光素子からの発光を基材102とは反対の方向に取り出す場合には、ITOやIZOなどの透光性を有する酸化物を用いればよい。   Next, an EL layer 166 and a second electrode 168 are formed (FIG. 25B). The EL layer 166 is formed so as to be in contact with the second interlayer insulating film 158 in the groove 180. As described in the first embodiment, the EL layer 166 may have the same structure in all the subpixels 106, or some of the structures (such as the light emitting layer) may be different in the adjacent subpixels 106. Also good. The second electrode 168 can be formed using a material and a method similar to those of the first electrode 144. In the case where light emission from the light-emitting element is obtained from the base material 102, a metal having high reflectivity or an alloy thereof may be used. On the other hand, in the case where light emitted from the light-emitting element is extracted in a direction opposite to the base material 102, an oxide having translucency such as ITO or IZO may be used.

次に発光素子を保護するパッシベーション膜170を形成する(図25(B))。パッシベーション膜170は、例えば窒化ケイ素や酸化ケイ素などの無機化合物、アクリル樹脂やポリイミド、ポリエステル、ポリカーボナートなどの高分子材料を含むことができる。具体的には、アクリル樹脂を窒化ケイ素の膜で挟持した構造を採用することができる。アクリル樹脂は、蒸着法やインクジェット法、ラミネート法、印刷法などによって形成すればよい。   Next, a passivation film 170 for protecting the light emitting element is formed (FIG. 25B). The passivation film 170 can include, for example, an inorganic compound such as silicon nitride or silicon oxide, or a polymer material such as acrylic resin, polyimide, polyester, or polycarbonate. Specifically, a structure in which an acrylic resin is sandwiched between silicon nitride films can be employed. The acrylic resin may be formed by a vapor deposition method, an inkjet method, a lamination method, a printing method, or the like.

以上のプロセスを経ることで、本発明の一実施形態である発光装置を作製することができる。   Through the above process, a light-emitting device that is an embodiment of the present invention can be manufactured.

本発明の実施形態として上述した各実施形態は、相互に矛盾しない限りにおいて、適宜組み合わせて実施することができる。また、各実施形態の表示装置を基にして、当業者が適宜構成要素の追加、削除もしくは設計変更を行ったもの、または、工程の追加、省略もしくは条件変更を行ったものも、本発明の要旨を備えている限り、本発明の範囲に含まれる。   The embodiments described above as the embodiments of the present invention can be implemented in appropriate combination as long as they do not contradict each other. Also, those in which those skilled in the art have appropriately added, deleted, or changed the design based on the display device of each embodiment, or those in which processes have been added, omitted, or changed in conditions are also included in the present invention. As long as the gist is provided, it is included in the scope of the present invention.

本明細書においては、開示例として主にEL表示装置の場合を例示したが、他の適用例として、その他の自発光型表示装置、液晶表示装置、あるいは電気泳動素子などを有する電子ペーパ型表示装置など、あらゆるフラットパネル型の表示装置が挙げられる。また、中小型から大型まで、特に限定することなく適用が可能である。   In this specification, the case of an EL display device is mainly exemplified as a disclosure example. However, as another application example, an electronic paper type display having another self-luminous display device, a liquid crystal display device, an electrophoretic element, or the like. Any flat panel display device such as a device may be used. Further, the present invention can be applied without particular limitation from small to medium size.

上述した各実施形態の態様によりもたらされる作用効果とは異なる他の作用効果であっても、本明細書の記載から明らかなもの、または、当業者において容易に予測し得るものについては、当然に本発明によりもたらされるものと解される。   Of course, other operational effects that are different from the operational effects brought about by the above-described embodiments will be apparent from the description of the present specification or can be easily predicted by those skilled in the art. It is understood that this is brought about by the present invention.

100:発光装置、102:基材、104:表示領域、106:副画素、108:画素110、駆動回路:112:配線、114:端子、116:ICチップ、120:信号線、122:電流供給線、124:ゲート線、126:半導体膜、128:配線はゲート、128:ゲート、130:ソース、132:ドレイン、134:第1の容量電極、136:半導体膜、138:ゲート、140:ソース、142:ドレイン、144:第1の電極、146:接続電極、148:接続電極、150:アンダーコート、152:ゲート絶縁膜、156:第1の層間絶縁膜、158:第2の層間絶縁膜、160:第2の容量電極、162:平坦化膜、164:隔壁、166:EL層、166_1:層、166_2:発光層、166_3:発光層、166_4:層、168:第2の電極、170:パッシベーション膜、180:溝、182:中心線、184:溝、186:溝、200:表示装置、300:表示装置、400:表示装置   DESCRIPTION OF SYMBOLS 100: Light-emitting device, 102: Base material, 104: Display area, 106: Subpixel, 108: Pixel 110, Drive circuit: 112: Wiring, 114: Terminal, 116: IC chip, 120: Signal line, 122: Current supply 124: gate line, 126: semiconductor film, 128: wiring is gate, 128: gate, 130: source, 132: drain, 134: first capacitor electrode, 136: semiconductor film, 138: gate, 140: source 142: drain, 144: first electrode, 146: connection electrode, 148: connection electrode, 150: undercoat, 152: gate insulating film, 156: first interlayer insulating film, 158: second interlayer insulating film 160: second capacitor electrode, 162: planarization film, 164: partition wall, 166: EL layer, 166_1: layer, 166_2: light emitting layer, 166_3: light emitting layer, 16 _4: layer 168: second electrode, 170: passivation film, 180: groove, 182: center line, 184: groove, 186: groove, 200: display device, 300: display device, 400: display device

Claims (17)

第1の副画素と、
前記第1の副画素に隣接する第2の副画素と、
前記第1の副画素と前記第2の副画素との境界に位置する隔壁を有し、
前記第1の副画素と前記第2の副画素は、
半導体膜と、ゲート電極と、前記半導体膜と電気的に接続されたソース電極およびドレイン電極を備える薄膜トランジスタと、
前記半導体膜と前記ゲート電極との間のゲート絶縁膜と、
前記半導体膜、前記ゲート電極、および前記ゲート絶縁膜の上に位置し、かつ前記ソース電極およびドレイン電極の下に位置する層間絶縁膜と、
前記ソース電極と前記ドレイン電極の上に位置する平坦化膜と、
前記平坦化膜の上に位置し、第1の電極と第2の電極との間にEL層を備える発光素子を有し、
前記第1の電極の端部は、前記隔壁に覆われ、
前記第2の電極の一部は、前記隔壁の上に位置し、
前記第1の副画素と前記第2の副画素との間に、前記平坦化膜と前記隔壁とが平面的に見て互いに重なっている重畳領域が位置し、
前記重畳領域には、前記平坦化膜と前記隔壁を貫通する溝が位置し、
前記EL層が前記溝を介して、前記層間絶縁膜と接する表示装置。
A first subpixel;
A second subpixel adjacent to the first subpixel;
A partition located at a boundary between the first subpixel and the second subpixel;
The first subpixel and the second subpixel are:
A thin film transistor including a semiconductor film, a gate electrode, and a source electrode and a drain electrode electrically connected to the semiconductor film;
A gate insulating film between the semiconductor film and the gate electrode;
An interlayer insulating film located on the semiconductor film, the gate electrode, and the gate insulating film, and located below the source electrode and the drain electrode;
A planarization film located on the source electrode and the drain electrode;
A light-emitting element that is located on the planarization film and includes an EL layer between the first electrode and the second electrode;
An end of the first electrode is covered with the partition wall,
A portion of the second electrode is located on the partition;
Between the first subpixel and the second subpixel, an overlapping region in which the planarizing film and the partition wall overlap each other when viewed in plan view is located,
In the overlapping region, a groove penetrating the planarizing film and the partition is located,
The display device in which the EL layer is in contact with the interlayer insulating film through the groove.
ゲート線をさらに有し、
前記ゲート線は前記第1の副画素の画素回路および前記第2の副画素の画素回路と電気的に接続され、
前記溝は前記ゲート線に平行な方向に伸びる、請求項1に記載の表示装置。
A gate line;
The gate line is electrically connected to the pixel circuit of the first subpixel and the pixel circuit of the second subpixel;
The display device according to claim 1, wherein the groove extends in a direction parallel to the gate line.
ゲート線をさらに有し、
前記ゲート線は前記第1の副画素の画素回路および前記第2の副画素の画素回路と電気的に接続され、
前記溝は前記ゲート線に垂直な方向に伸びる、請求項1に記載の表示装置。
A gate line;
The gate line is electrically connected to the pixel circuit of the first subpixel and the pixel circuit of the second subpixel;
The display device according to claim 1, wherein the groove extends in a direction perpendicular to the gate line.
前記第1の副画素の前記画素回路および前記第2の副画素の前記画素回路へ電流を供給する電流供給線と、
前記第1の副画素の前記画素回路および前記第2の副画素の前記画素回路へ映像信号を供給する信号線をさらに有し、
前記溝は、前記電流供給線と前記信号線との間に位置する、請求項3に記載の表示装置。
A current supply line for supplying current to the pixel circuit of the first subpixel and the pixel circuit of the second subpixel;
A signal line for supplying a video signal to the pixel circuit of the first subpixel and the pixel circuit of the second subpixel;
The display device according to claim 3, wherein the groove is located between the current supply line and the signal line.
可撓性基材をさらに有し、
前記第1の副画素と前記第2の副画素が前記可撓性基材の上に位置する、請求項1から請求項4の何れか1項に記載の表示装置。
A flexible substrate;
The display device according to claim 1, wherein the first subpixel and the second subpixel are located on the flexible base material.
前記第1の副画素と前記第2の副画素を含む複数の副画素をさらに有し、
前記溝は、前記複数の副画素の各々を囲む、請求項1から請求項5の何れか1項に記載の表示装置。
A plurality of subpixels including the first subpixel and the second subpixel;
The display device according to claim 1, wherein the groove surrounds each of the plurality of subpixels.
前記第1の副画素と前記第2の副画素と含む、複数の副画素をさらに有し、
前記溝は、前記複数の副画素の内の複数個を囲む、請求項1から請求項5の何れか1項に記載の表示装置。
A plurality of subpixels including the first subpixel and the second subpixel;
The display device according to claim 1, wherein the groove surrounds a plurality of the plurality of subpixels.
第1の画素と、
前記第1の画素に隣接する第2の画素と、
前記第1の画素と前記第2の画素との境界に位置する隔壁を有し、
前記第1の画素と前記第2の画素はともに第1の副画素を有し、
前記第1の画素と前記第2の画素の前記第1の副画素はともに、
半導体膜と、ゲート電極と、前記半導体膜と電気的に接続されたソース電極およびドレイン電極を備える薄膜トランジスタと、
前記半導体膜と前記ゲート電極との間のゲート絶縁膜と、
前記半導体膜、前記ゲート電極、および前記ゲート絶縁膜の上に位置し、かつ前記ソース電極およびドレイン電極の下に位置する層間絶縁膜と、
前記ソース電極と前記ドレイン電極の上に位置する平坦化膜と、
前記平坦化膜の上に位置し、第1の電極と第2の電極との間にEL層を備える発光素子を有し、
前記第1の電極の端部は、前記隔壁に覆われ、
前記第2の電極の一部は、前記隔壁の上に位置し、
前記第1の画素と前記第2の画素との間に、前記平坦化膜と前記隔壁とが平面的に見て互いに重なっている重畳領域が位置し、
前記重畳領域には、前記隔壁を貫通するとともに前記平坦化膜の少なくとも一部に達する溝が位置し、
前記EL層は前記溝の底面と接する表示装置。
A first pixel;
A second pixel adjacent to the first pixel;
A partition located at a boundary between the first pixel and the second pixel;
The first pixel and the second pixel both have a first sub-pixel,
Both the first pixel and the first subpixel of the second pixel are:
A thin film transistor including a semiconductor film, a gate electrode, and a source electrode and a drain electrode electrically connected to the semiconductor film;
A gate insulating film between the semiconductor film and the gate electrode;
An interlayer insulating film located on the semiconductor film, the gate electrode, and the gate insulating film, and located below the source electrode and the drain electrode;
A planarization film located on the source electrode and the drain electrode;
A light-emitting element that is located on the planarization film and includes an EL layer between the first electrode and the second electrode;
An end of the first electrode is covered with the partition wall,
A portion of the second electrode is located on the partition;
Between the first pixel and the second pixel, an overlapping region where the planarization film and the partition wall overlap each other when seen in a plan view is located,
In the overlapping region, a groove that penetrates the partition and reaches at least a part of the planarization film is located,
The EL layer is in contact with the bottom surface of the groove.
前記溝内における前記平坦化膜の厚さは、前記第1の画素と前記第2の画素の前記第1の副画素における前記平坦化膜の厚さよりも小さい、請求項8に記載の表示装置。   The display device according to claim 8, wherein a thickness of the planarizing film in the trench is smaller than a thickness of the planarizing film in the first subpixel of the first pixel and the second pixel. . ゲート線をさらに有し、
前記ゲート線は前記第1の画素に備えられた画素回路および前記第2の画素に備えられた画素回路素と電気的に接続され、
前記溝が前記ゲート線に垂直な方向に伸び、前記ゲート線と重なる、請求項8または請求項9に記載の表示装置。
A gate line;
The gate line is electrically connected to a pixel circuit provided in the first pixel and a pixel circuit element provided in the second pixel;
The display device according to claim 8, wherein the groove extends in a direction perpendicular to the gate line and overlaps the gate line.
信号線をさらに有し、
前記信号線は前記第1の画素に備えられた画素回路、および前記第2の画素に備えられた画素回路素と電気的に接続され、
前記溝が前記信号線に交差する方向に伸び、前記信号線と重なる、請求項8から請求項10の何れか1項に記載の表示装置。
A signal line;
The signal line is electrically connected to a pixel circuit provided in the first pixel and a pixel circuit element provided in the second pixel;
The display device according to claim 8, wherein the groove extends in a direction intersecting the signal line and overlaps the signal line.
信号線と、
前記層間絶縁膜に接し、前記層間絶縁膜の上に位置する第2の層間絶縁膜を有し、
前記信号線は前記第1の画素に備えられた画素回路、および前記第2の画素に備えられた画素回路素と電気的に接続され、
前記溝と重なる領域において前記信号線は分断され、
分断された前記信号線は接続電極を介して互いに電気的に接続され、
前記接続電極は前記層間絶縁膜と前記第2の層間絶縁膜との間に位置する、請求項8から請求項10の何れか1項に記載の表示装置。
A signal line;
A second interlayer insulating film located on and in contact with the interlayer insulating film;
The signal line is electrically connected to a pixel circuit provided in the first pixel and a pixel circuit element provided in the second pixel;
The signal line is divided in a region overlapping with the groove,
The divided signal lines are electrically connected to each other via connection electrodes,
11. The display device according to claim 8, wherein the connection electrode is located between the interlayer insulating film and the second interlayer insulating film.
ゲート線と、
前記層間絶縁膜に接し、前記層間絶縁膜の上に位置する第2の層間絶縁膜を有し、
前記ゲート線は前記第1の画素に備えられた画素回路、および前記第2の画素に備えられた画素回路素と電気的に接続され、
前記溝と重なる領域において前記ゲート線は分断され、
分断された前記ゲート線は接続電極を介して互いに電気的に接続され、
前記接続電極は前記層間絶縁膜と前記第2の層間絶縁膜との間に位置する、請求項8または請求項9に記載の表示装置。
A gate line,
A second interlayer insulating film located on and in contact with the interlayer insulating film;
The gate line is electrically connected to a pixel circuit provided in the first pixel and a pixel circuit element provided in the second pixel;
The gate line is divided in a region overlapping with the trench,
The divided gate lines are electrically connected to each other through a connection electrode,
The display device according to claim 8, wherein the connection electrode is located between the interlayer insulating film and the second interlayer insulating film.
前記第1の画素に備えられた画素回路および前記第2の画素に備えられた画素回路素と電気的に接続されたゲート線と、
前記第1の画素に備えられた画素回路と前記第2の画素に備えられた画素回路素の一方に電気的に接続された信号線をさらに有し、
前記溝は前記信号線に平行な方向に伸び、前記ゲート線と重なる領域において分断される、請求項8または請求項9に記載の表示装置。
A gate line electrically connected to a pixel circuit provided in the first pixel and a pixel circuit element provided in the second pixel;
A signal line electrically connected to one of a pixel circuit included in the first pixel and a pixel circuit element included in the second pixel;
The display device according to claim 8, wherein the groove extends in a direction parallel to the signal line and is divided in a region overlapping with the gate line.
前記第1の画素に備えられた画素回路、および前記第2の画素に備えられた画素回路素と電気的に接続されたゲート線と、
前記第1の画素に備えられた画素回路と前記第2の画素に備えられた画素回路素の一方に電気的に接続された信号線をさらに有し、
前記溝は前記ゲート線に平行な方向に伸び、前記信号線と重なる領域において分断される、請求項8または請求項9に記載の表示装置。
A pixel circuit provided in the first pixel, and a gate line electrically connected to a pixel circuit element provided in the second pixel;
A signal line electrically connected to one of a pixel circuit included in the first pixel and a pixel circuit element included in the second pixel;
The display device according to claim 8, wherein the groove extends in a direction parallel to the gate line and is divided in a region overlapping with the signal line.
前記溝は前記平坦化膜を貫通し、
前記溝の前記底面は、前記溝によって前記平坦化膜から露出された前記層間絶縁膜の上面であり、
前記EL層は、前記層間絶縁膜の露出された前記上面と接する、請求項8から請求項15の何れか1項に記載の表示装置。
The groove penetrates the planarization film;
The bottom surface of the groove is an upper surface of the interlayer insulating film exposed from the planarization film by the groove;
The display device according to claim 8, wherein the EL layer is in contact with the exposed upper surface of the interlayer insulating film.
前記第1の画素と前記第2の画素を含む複数の画素をさらに有し、
前記溝は、前記複数の画素の内の複数個を島状に分断する、請求項8から請求項16の何れか1項に記載の表示装置。
A plurality of pixels including the first pixel and the second pixel;
The display device according to any one of claims 8 to 16, wherein the groove divides a plurality of the plurality of pixels into an island shape.
JP2016135669A 2016-07-08 2016-07-08 Display device Active JP6715708B2 (en)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016135669A JP6715708B2 (en) 2016-07-08 2016-07-08 Display device
US15/494,590 US10304914B2 (en) 2016-07-08 2017-04-24 Display device with trench passing through partition wall
US16/378,650 US10586838B2 (en) 2016-07-08 2019-04-09 Display device with trench
US16/776,822 US11127908B2 (en) 2016-07-08 2020-01-30 Display device
US17/409,886 US11621401B2 (en) 2016-07-08 2021-08-24 Display device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016135669A JP6715708B2 (en) 2016-07-08 2016-07-08 Display device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018005160A true JP2018005160A (en) 2018-01-11
JP6715708B2 JP6715708B2 (en) 2020-07-01

Family

ID=60911165

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016135669A Active JP6715708B2 (en) 2016-07-08 2016-07-08 Display device

Country Status (2)

Country Link
US (4) US10304914B2 (en)
JP (1) JP6715708B2 (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019216011A (en) * 2018-06-12 2019-12-19 キヤノン株式会社 Display device, electrical apparatus and vehicle
WO2020065472A1 (en) * 2018-09-28 2020-04-02 株式会社半導体エネルギー研究所 Method for manufacturing display device, and device for manufacturing display device
WO2021130629A1 (en) * 2019-12-25 2021-07-01 株式会社半導体エネルギー研究所 Functional panel, display device, input and output device, and information processing device
WO2021181577A1 (en) * 2020-03-11 2021-09-16 シャープ株式会社 Display device
JP2022155692A (en) * 2021-03-31 2022-10-14 キヤノン株式会社 Light-emitting apparatus, display apparatus, imaging apparatus, and electronic equipment
WO2024134878A1 (en) * 2022-12-23 2024-06-27 シャープディスプレイテクノロジー株式会社 Display device and method for manufacturing display device

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102375685B1 (en) 2016-02-02 2022-03-18 삼성디스플레이 주식회사 Flexible display apparatus
CN108321165A (en) * 2018-03-15 2018-07-24 德淮半导体有限公司 The method for forming imaging sensor
CN108962954B (en) 2018-07-23 2021-01-26 云谷(固安)科技有限公司 Organic light-emitting display screen, manufacturing method thereof and display device
CN109638041A (en) * 2018-12-03 2019-04-16 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 A kind of flexibility organic light-emitting display device and preparation method thereof
CN112018131B (en) * 2020-08-06 2022-10-04 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 Flexible display panel and preparation method thereof

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004531753A (en) * 2001-02-16 2004-10-14 イグニス イノベーション インコーポレーテッド Flexible display device
JP2007096276A (en) * 2005-08-31 2007-04-12 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP2008542834A (en) * 2005-05-31 2008-11-27 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Flexible display devices
US20090219225A1 (en) * 2008-01-04 2009-09-03 Nanolumens Acquisition, Inc. Flexible display
JP2012216338A (en) * 2011-03-31 2012-11-08 Sony Corp Display device and method for manufacturing the same
JP2012227530A (en) * 2005-02-25 2012-11-15 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device
JP2015179282A (en) * 2005-12-28 2015-10-08 株式会社半導体エネルギー研究所 display device
JP2016066617A (en) * 1999-09-17 2016-04-28 株式会社半導体エネルギー研究所 Light-emitting device

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7242398B2 (en) * 2002-02-18 2007-07-10 Ignis Innovation Inc. Flexible display device
JP4640690B2 (en) * 2002-07-24 2011-03-02 日本電気株式会社 Manufacturing method of active matrix organic EL display device
US7619258B2 (en) * 2004-03-16 2009-11-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
KR101157262B1 (en) * 2005-12-14 2012-06-15 엘지디스플레이 주식회사 Organic electro-luminescence display device and method for fabricating of the same
JP5608320B2 (en) * 2008-07-09 2014-10-15 株式会社ジャパンディスプレイ Organic EL display device
US20100051993A1 (en) * 2008-09-03 2010-03-04 Casio Computer Co., Ltd. Light emitting apparatus and manufacturing method thereof
KR102094683B1 (en) * 2008-09-19 2020-03-30 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 Display device
JP5258666B2 (en) * 2009-04-22 2013-08-07 株式会社半導体エネルギー研究所 Method for manufacturing light emitting device and substrate for film formation
KR20110005499A (en) * 2009-07-10 2011-01-18 삼성모바일디스플레이주식회사 Organic light emitting display and method thereof
JP2011044271A (en) 2009-08-19 2011-03-03 Panasonic Corp Display panel device, display device, and manufacturing method for display panel device
GB2519587A (en) * 2013-10-28 2015-04-29 Barco Nv Tiled Display and method for assembling same
CN103887261B (en) * 2014-03-03 2016-08-31 京东方科技集团股份有限公司 A kind of flexible display and preparation method thereof
US10020462B1 (en) * 2015-07-30 2018-07-10 Apple Inc. Electronic devices with flexible displays

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016066617A (en) * 1999-09-17 2016-04-28 株式会社半導体エネルギー研究所 Light-emitting device
JP2004531753A (en) * 2001-02-16 2004-10-14 イグニス イノベーション インコーポレーテッド Flexible display device
JP2012227530A (en) * 2005-02-25 2012-11-15 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device
JP2008542834A (en) * 2005-05-31 2008-11-27 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Flexible display devices
JP2007096276A (en) * 2005-08-31 2007-04-12 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP2015179282A (en) * 2005-12-28 2015-10-08 株式会社半導体エネルギー研究所 display device
US20090219225A1 (en) * 2008-01-04 2009-09-03 Nanolumens Acquisition, Inc. Flexible display
JP2012216338A (en) * 2011-03-31 2012-11-08 Sony Corp Display device and method for manufacturing the same

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019216011A (en) * 2018-06-12 2019-12-19 キヤノン株式会社 Display device, electrical apparatus and vehicle
JP7077152B2 (en) 2018-06-12 2022-05-30 キヤノン株式会社 Display devices, electrical devices and vehicles
WO2020065472A1 (en) * 2018-09-28 2020-04-02 株式会社半導体エネルギー研究所 Method for manufacturing display device, and device for manufacturing display device
JPWO2020065472A1 (en) * 2018-09-28 2021-11-04 株式会社半導体エネルギー研究所 Display device manufacturing method, display device manufacturing device
WO2021130629A1 (en) * 2019-12-25 2021-07-01 株式会社半導体エネルギー研究所 Functional panel, display device, input and output device, and information processing device
US12089451B2 (en) 2019-12-25 2024-09-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Functional panel, display device, input/output device, and data processing device
WO2021181577A1 (en) * 2020-03-11 2021-09-16 シャープ株式会社 Display device
JP2022155692A (en) * 2021-03-31 2022-10-14 キヤノン株式会社 Light-emitting apparatus, display apparatus, imaging apparatus, and electronic equipment
JP7528016B2 (en) 2021-03-31 2024-08-05 キヤノン株式会社 Light-emitting device, display device, imaging device, and electronic device
WO2024134878A1 (en) * 2022-12-23 2024-06-27 シャープディスプレイテクノロジー株式会社 Display device and method for manufacturing display device

Also Published As

Publication number Publication date
US20180012944A1 (en) 2018-01-11
US11127908B2 (en) 2021-09-21
US20210384451A1 (en) 2021-12-09
US20200168680A1 (en) 2020-05-28
US20190237528A1 (en) 2019-08-01
US10304914B2 (en) 2019-05-28
US11621401B2 (en) 2023-04-04
US10586838B2 (en) 2020-03-10
JP6715708B2 (en) 2020-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6715708B2 (en) Display device
US12089433B2 (en) Display device
US20190326549A1 (en) Display device and method for manufacturing display device
US11217644B2 (en) Semiconductor device, transistor array substrate and light emitting device
JP6456317B2 (en) Display device and flexible display device
US10134828B2 (en) Display device and method of manufacturing a display device
JP6726973B2 (en) Display device
JP2017146463A (en) Display device
US20220181429A1 (en) Display device
TW201820604A (en) Display device
JP7478521B2 (en) Organic EL display device
KR20160077511A (en) Array substrate for display device
US10984726B2 (en) Display device
US10559775B2 (en) Organic EL display device
CN114613806A (en) Display device
JP2020027883A (en) Organic el display and method for manufacturing organic el display
JP7220084B2 (en) Display device
US20240188326A1 (en) Display device and method of manufacturing the same
US11812631B2 (en) Electroluminescence display with silver conductive layer covering exposed aliminum layer to prevent corrosion and manufacturing method for the same
US20220285647A1 (en) Display apparatus
WO2019187161A1 (en) Display device
JP2018106101A (en) Display

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190625

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200520

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200602

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200609

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6715708

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250