JP2017520076A - 異符号に帯電した粒子の準中性ビームを形成するための装置 - Google Patents

異符号に帯電した粒子の準中性ビームを形成するための装置 Download PDF

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Abstract

装置(100)は、チャンバ(20)と、このチャンバ(20)中でイオン−電子プラズマを形成するための手段のセット(31、30、40、58)と、プラズマの帯電粒子を抽出し、ビームを形成することができるチャンバの外に加速させるための手段(50)であって、抽出及び加速手段(50)は、チャンバの一方の端部に位置決めされた少なくとも2つのグリッドのセット(51、54)を含む、手段と、信号を発生するように適応させる無線周波数交流電圧源(52)であって、その無線周波数は、イオンのプラズマ周波数と電子のプラズマ周波数の間に含まれ、無線周波数電圧源(52)は、コンデンサ(53)と直列に位置付けられ、その出口の1つを通じ、このコンデンサ(53)を介して、少なくとも2つのグリッドのセット(51、54)のグリッドの少なくとも1つに接続され、少なくとも2つのグリッドのセット(51、54)の少なくとも1つの他のグリッドが、基準電位に設定される、又は無線周波数電圧源(52)の出口の他の1つに接続される、のどちらかである、無線周波数交流電圧源(52)とを含む。

Description

本発明は、異符号に帯電した粒子の準中性ビームを形成するための装置に関する。
かかる装置は、プラズマ・スラスタ(軌道修正のために衛星に、宇宙探査ロケットに、などに適用)のためにとりわけ使用され、ターゲット上に粒子を付着させる(蒸着、たとえばマイクロエレクトロニクスの分野)ための装置、ターゲットをエッチングするための装置、ポリマを処理するための装置、又はターゲット表面を活性化するためのさらなる装置である。
通常、かかる装置は、チャンバと、イオン化ガスをチャンバ中に導入するための手段と、プラズマを形成するためにガスをイオン化するための手段と、プラズマから帯電粒子を抽出してチャンバの外へ加速させるための手段とを含む。
電気推進の分野では、プラズマ・ビーム発生器を備える飛行体の加速を確実にするための様々な技法が存在し、その発生器は、やはりプラズマ・スラスタに類似する。
それゆえ、プラズマ・スラスタに関し、そのプラズマは、陽イオン及び電子を用いて形成され、陽イオンだけを抽出してチャンバの外に加速させ、且つチャンバの出口から下流に電子を送り込むことによって、チャンバを出た後で陽イオンのビームの電気的中性を確保することが可能である。
チャンバの出口でビームの電気的中性を確保することは、宇宙船が電気的に帯電することを避ける、特にイオン・ビーム流が空間電荷によって限定されないために、実際絶対必要なことである。
しかし、このタイプのプラズマ・スラスタには、この電気的中性を確保するために電子の補助源、すなわち一般に信頼性欠如の原因になる補助源を適用するという欠点がある。
信頼性を増加させることによって(したがって電子の補助源なしで行う)、この電気的中性を確保するために、いくつかのルートが予期されてきた。
第1のルートは、チャンバの出口で陽イオン及び陰イオンだけ、又はそれらに準じたものだけを得るために、チャンバ内で陽イオン、陰イオン及び電子を含むプラズマを生成し、電子をフィルタで除去することである。それゆえ、ビームの異符号に帯電した粒子が、陽イオン及び陰イオンを用いて形成される。
第2のルートは、この電気的中性を確保するために、陽イオン及び電子を含むプラズマを生成し、且つチャンバの出口で陽イオン及び電子を抽出して加速させるための手段を設けることである。それゆえ、ビームの帯電粒子は、陽イオン及び電子を用いて形成される。
上記に述べた第1のルートに対応する解決策は、文献WO2007/065915、WO2010/060887又はさらにWO2012/042143で提案されている。
これらの解決策すべてには、陽イオン、陰イオン及び電子を発生することができる電気陰性のイオン化ガス、さらにまた、チャンバの出口で陽イオン及び陰イオンだけを、又は実質的にそれらだけを得るために、電子をフィルタで除去するための手段を適用すべきである。
文献WO2007/065915では、プラズマと接触している2つのグリッド3、4が、抽出及び加速手段として使用され、それは、負にバイアスされた一方のグリッド及び正にバイアスされた他方のグリッドを含む(一方が上部に、他方が底部に)同じ平面上にチャンバの出口で位置決めされる。
図1は、WO2007/065915で提案されている装置の代表的な図である。この図では、チャンバ1は、陽イオンA、陰イオンA及び電子eを用いるプラズマを含む。電子をフィルタリングするための手段は、参照記号2を有する。
それによって、陽イオン及び陰イオンの抽出及びそれと同時に行われる加速が達成されて、チャンバの出口の後でイオン・ビームの電気的中性が確保される。
しかし、この解決策は、適用するのにはデリケートである、というのは、異符号にバイアスされたグリッドが存在するからである。確かに、異符号にバイアスされたこれらグリッドの存在は、各グリッドから生じるビームが著しく曲がる恐れがあることを意味する。
文献WO2010/060887は、文献WO2007/065915の解決策と比較して向上した解決策を提案しており、2つの異なるガスが、WO2007/065915のガスの代わりに供給される。これらのガスの1つは、電気陰性であり、他のものは、電気陽性又は電気陰性であってもよい。
文献WO2012/042143では、交互に正及び負になる電圧源、電圧源6を介して給電される抽出及び加速グリッド5の適用が提案されている。このグリッド5は、グラウンド8に接続される別のグリッド7と関連付けられる。
グリッド5に対して正電位が印加されたとき、プラズマ電位は、正になり、それによって陽イオンAが、グラウンドに接続される他のグリッド7に向けて加速される。確かに、これらの条件下では、正シース(sheath)がグリッド5、7で形成され、それによって陽イオンの加速が可能になる。シースは、各グリッド5、7とプラズマの間に形成される空間であり、陽イオンの密度が陰イオンの密度と異なる。これらの条件下では、陰イオンの抽出及び加速が阻止される。
次に、グリッド5に対して負電位が印加されたとき、プラズマ電位は、負になり、陰イオンAが他のグリッド7に向けて加速される。より具体的には、グリッド5に対して正電位が印加された後、正シースは、迅速に(約1マイクロ秒)消滅し、負シースがこのグリッド5の負バイアスの影響下で形成される。これらの条件下では、陽イオンの抽出及び加速が阻止される。
それゆえ、グリッド5のバイアスに依存して、陽イオン又は陰イオンのどちらかを加速させ抽出することが可能である。
文献WO2012/042143で提案されている装置の代表的な図が、図2(a)に例示されている。電気陰性ガスがAとして、電子をフィルタリングするための手段が2として示されている。ここでは、RF’が、チャンバ1中に送り込まれた電気陰性ガスAからのプラズマの発生を可能にする手段を指定する。これは、無線周波数の領域中で交流サイン波磁場を放出する源である。
ここで、この装置は、文献WO2007/065915及びWO2010/060887でのように、2つの異符号にバイアスされたグリッドを有するという欠点がない。しかし、陽イオンA及び陰イオンAが連続して抽出されるので、グリッド5に接続される交流電圧源6によって発生される電圧信号の形状の最適化が、チャンバの出口でイオン・ビームの電気的中性をよくても確保するために提案されている。この交流電圧源6は、出力ビーム及び/又はプラズマを発生するために使用されるRF’信号中のプローブSの測定値を使用することができる。
この最適化された信号が、図2(b)に例示されている。
この最適化された信号を用いると、ビームの良好な電気的中性が、チャンバ1の出口で得られるが、しかし、平均としてだけである。
確かに、陽イオン、次いで陰イオンを連続的に抽出することは、又はその逆も同様に、いつも中性ビームが得られる可能性を常にもたらすわけではない。よって、図2(b)に例示した信号の形状に依存して、スラスタの潜在力が時間とともに変化する。
さらに、すべてのイオン−イオン抽出装置では、一般に反応性が高い電気陰性ガス(フッ素、塩素など存在する)の使用が、装置の耐用年限を限定することに留意すべきである。
さらに、文献WO2007/065915(図1)、WO2010/060887及び図2(a)及び2(b)(WO2012/042143)で提案されている解決策は、イオン−イオン抽出に限定され、イオン−電子を抽出することに関して予期することができない。
上記に述べた第2のルートに対応する別の解決策が、S.V.Dudin及びD.V.Rafalskykiの論文「On the simultaneous extraction of positive ions and electrons from single−grid ICP source」、A letters Journal Exploring the frontiers of Physics、EPL、88(2009)55002、p1−p4に提案されている。
この解決策は、チャンバ1の中核部中(したがってプラズマ内)の電極9を適用することからなり、電極9は、無線周波数電圧源10(RF、無線周波数の範囲内に含まれる周波数の交流サイン波電圧の源)からコンデンサ11を介して給電され、そしてチャンバ1の出口に位置決めされ、プラズマと接触し、グラウンド8に接続されるグリッド7”をコンデンサ11と関連付けるものである。
図3を参照してもよく、それは、装置の代表的な図である。この図3では、RF’が、ガスをイオン化し、それによって陽イオン及び電子を含むプラズマを形成するための無線周波数源(たとえば1つ又はいくつかのコイル)を表す。手段12は、真空のチャンバであり、その中にチャンバ1から生じるイオン・ビームを特徴付ける可能性をもたらし、イオンの抽出及び加速に関与しない手段が設置される。
装置の動作は、次の通りである。
設計によって、電極9は、その表面積が、チャンバ1の出口に位置決めされ、グラウンド8に接続されるグリッド7”の表面積より明らかに広い。
一般に、表面積がグリッド7”より広い電極に対してRF電圧を印加すると、一方では電極9とプラズマの間の界面で、他方ではグリッド7”とプラズマの間の界面で追加の電位差を発生する効果があり、その電位差は、RF電位差を増加させる。この全電位差は、シース上に分散される。ここで、シースは、一方ではグリッド7”又は電極9と、他方ではプラズマとの間に形成される空間であり、陽イオンの密度が電子の密度より大きい。このシースは、厚さが可変である、というのはRF信号が電極に印加されるからである。
しかし、実際面では、電極9に対するRF信号の印加が影響する主な部分が、グリッド7”のシース中に位置決められる(電極−グリッド・システムは、2つの非対称の壁を有するコンデンサと考えることができ、この場合電位差は、キャパシタンスが最も小さい、したがって表面が最も狭い部分に対して印加される)。
コンデンサ11がRF源10と直列に存在する場合、RF信号の印加は、RF電圧を一定のDC電圧に変換する効果を有する、というのはコンデンサ11の電荷がグリッド7”のシースに主に存在するためである。
グリッド7”のシース中のこの一定のDC電圧は、陽イオンが絶えず加速されることを意味する。確かに、このDC電位差は、プラズマ電位を正にする効果を有する。それによって、プラズマの陽イオンは、グリッド7”(グラウンドにある)に向けて絶えず加速され、このグリッド7”を用いてチャンバ1から抽出される。陽イオンのエネルギーは、このDC電位差(平均エネルギー)に対応する。
RF電圧10の変動は、プラズマとグリッド7”の間のRF+DC電位差を変動させる可能性をもたらす。グリッド7”のシースにおいて、これは、このシースの厚さの経時変化によって表現される。RF信号の周波数によって与えられる一定間隔の時間経過の間に起きる、この厚さが臨界値より小さくなったとき、グリッドとプラズマの間の電位差は、ゼロの値にほぼ等しく(したがってプラズマ電位は、ゼロの値にほぼ等しく、グリッドは、グラウンドである)、それによって電子を抽出する可能性がもたらされる。
実際面では、それより低いと電子を加速し抽出することができるプラズマ電位(=臨界電位)は、チャイルドの法則(Child’law)によって与えられ、それは、この臨界電位を、それより低いとこのシースが消滅する(シース崩壊)、シースの臨界厚さに関係させる。
プラズマ電位が臨界電位より低い限り、電子の、及びイオンの加速及び同時の抽出が達成される。
RF信号が電極9に印加される期間中のある時間の経過にわたってだけ、電子の抽出が考えられるけれども、この論文は、イオンの正電荷を完全に補償し、したがってプラズマ・チャンバの出口におけるビームの良好な電気的中性の可能性を示している。
さらに、陽イオンの、及び電子の準同時的な加速及び抽出が、イオン−イオン抽出又はイオン−電子抽出にかかわらず、WO2012/042143で提案されている解決策と違って、RF信号の期間中に達成される。
したがって、この論文で提案されている技法は、プラズマと接触している単一グリッド(グラウンドされる)と、シース中の電位差に連続成分をもたらし、且つRF電圧源10と直列のコンデンサ11とを適用することによって、文献WO2007/065915、WO2010/060887及びWO2012/042143に提案されている技法と極めて異なっている(特にイオン−電子抽出のための図3の技法)。
この技法の欠点は、加速された陽イオンを大量に失う、すなわち陽イオンが高エネルギーに加速されるが、しかしグリッドのオリフィスを通過しないことである。これは、グリッドをより迅速に摩耗させ、それによってこのグリッドの耐用年限が限定される。プラズマ・スラスタ(人工衛星、宇宙探査ロケットなど)に応用される場合、この欠点は、決定的に重要になる恐れがある。したがって、実際面では、この欠点を限定するために、イオンは、エネルギーが300eVより低い状態で適用すべきである。
さらに、この技法は、イオン−イオン抽出及び加速のために動作することができない。
WO2007/065915 WO2010/060887 WO2012/042143
S.V.Dudin及びD.V.Rafalskykiの論文「On the simultaneous extraction of positive ions and electrons from single−grid ICP source」、A letters Journal Exploring the frontiers of Physics、EPL、88(2009)55002、p1−p4
本発明の目的は、電気的中性が良好であって、抽出効率が既知の装置と比較して向上した、陽イオン及び電子のビームを形成するための装置を提案することである。
効率向上は、所与の抽出エネルギーを得るように向上させる可能性がある装置の耐用年限によって特に表現される。
本発明の別の目的は、既知の装置と比較してエネルギーが増加したイオンを抽出することがさらに可能であるような装置を提案することである。
これらの目的の少なくとも1つを達成するために、本発明は、イオン及び電子の準中性ビームを形成するための装置を提案し、その装置は、
− チャンバと、
− このチャンバ中でイオン−電子プラズマを形成するための手段のセットと、
− プラズマの帯電粒子を抽出し、前記ビームを形成することができるチャンバの外に加速させるための手段であって、前記抽出及び加速手段は、チャンバの一方の端部に位置決めされた少なくとも2つのグリッドのセットを含む、手段と、
− 無線周波数が信号のためにイオンのプラズマ周波数と電子のプラズマ周波数の間に含まれる、その信号を発生するように適応させる無線周波数交流電圧源であって、前記無線周波数電圧源は、コンデンサと直列に位置付けられ、その出口の1つを通じて、且つこのコンデンサを通じて、少なくとも2つのグリッドの前記セットのグリッドの少なくとも1つに接続され、少なくとも2つのグリッドの前記セットの少なくとも他方の1つのグリッドが、基準電位に設定される、又は無線周波数電圧源の出口の他の1つに接続される、のどちらかである、無線周波数交流電圧源とを含む。
この装置は、単独で、又は組み合わせとして次の特徴をさらに含む可能性がある、すなわち、
− イオン−電子プラズマを形成するための手段のセットは、無線周波数交流電圧源から給電される1つ又はいくつかのコイルを含む、
− 前記又は各コイルを給電する無線周波数電圧源は、2つのグリッドの少なくとも1つに接続されるコンデンサと直列の無線周波数電圧源と同じものであり、装置は、一方では前記又は各コイルに向けて、他方では少なくとも1つのグリッドに向けて前記源によって提供される信号を取り扱うための手段をさらに含む、
− チャンバ中でイオン−電子プラズマを形成するための手段のセットは、少なくとも1つの電気陽性ガスを含むタンクを含む、
− グリッドは、円形オリフィスを有し、その直径が0.5mmと10mmの間に、たとえば1mmと2mmの間に含まれる、
− グリッドの両方の間の距離が、0.5mmと10mmの間に、たとえば1mmと2mmの間に含まれる、
− グリッドは、形状がスロットであるオリフィスを有する、
− イオン及び電子のビームの電気的中性は、無線周波数交流電圧源からの正電位及び/又は負電位の印加期間を調節することによって、少なくとも部分的に得られる、
− イオン及び電子のビームの電気的中性は、無線周波数交流電圧源からの正電位及び/又は負電位の振幅を調節することによって、少なくとも部分的に得られる、
− 無線周波数交流電圧源は、矩形信号を生成するように設計される、
− 無線周波数交流電圧源は、サイン波信号を生成するように設計される。
本発明のより完全な目的は、陰イオンの、及び陽イオンの抽出及び加速をさらに可能にし、その上ビームの良好な電気的中性を保証する装置を得ることである。
この目的を達成するために、また、本発明は、異符号に帯電した粒子の準中性ビームを形成するための装置を提案し、その装置は、
− 本発明による、イオン及び電子の準中性ビームを形成するための装置と、
− チャンバ中でイオン−イオン・プラズマを形成するための手段のセットであって、前記セットは、電子をフィルタで除去するための手段を含む、セットと、
− 無線周波数が信号のためにイオンのプラズマ周波数より低い又はそれと等しい、その信号を発生するように適応させる、いわゆる低周波数交流電圧源と、
− イオン−イオン・ビームを形成するために、電子をフィルタで除去するための手段を作動させる間、低周波数電圧源に、又はイオン−電子ビームを形成するために、電子をフィルタで除去するための手段を停止させる間、コンデンサと直列な無線周波数電圧源に、どちらかにグリッドの1つを接続することができる手段とを含む。
異符号に帯電した粒子の準中性ビームを形成するための装置は、単独で、又は組み合わせとして次の特徴をさらに含む可能性がある、すなわち、
− イオン−イオン・ビームの電気的中性が、低周波数交流電圧源から生じる正電位及び/又は負電位の印加期間を調節することによって、少なくとも部分的に得られる、
− イオン−イオン・ビームの電気的中性が、低周波数交流電圧源から生じる正電位及び/又は負電位の振幅を調節することによって、少なくとも部分的に得られる、
− 低周波数交流電圧源は、矩形信号を生成するように設計される、
− チャンバ中でイオン−イオン・プラズマを形成するための手段のセットは、少なくとも1つの電気陰性ガスを含むタンクを含む。
最後に、使用する可能性があるガスは、それらの電気陽性度又は電気陰性度に従って、アルゴン(Ar)、ヒドラジン(N)、キセノン(Xe)、四フッ化炭素(CF)、六フッ化硫黄(SF)、二ヨウ素(I)、二窒素(N)又は二水素(H)の中から選択する可能性があることに留意すべきである。
本発明をより良く理解されたい、また本発明の他の目的、利点及び特徴は、次に続き、添付図を参照してなされた記載を読むと、より明らかになるはずである。
WO2007/065915で提案されている装置の代表的な図である。 文献WO2012/042143で提案されている装置の代表的な図である。 文献WO2012/042143で提案されている装置の信号の形状である。 S.V.Dudin及びD.V.Rafalskykiの論文で提案されている装置の代表的な図である。 陽イオン及び電子を抽出し加速させることが可能である、本発明の第1の実施例の代表的な図である。 図4に例示した装置の等価電気回路図である。 図4の装置のグリッドにRF源と直列のコンデンサを介して印加されると考えられるRF電圧信号であって、この電圧信号は、実質的にプラズマ電位に対応する、RF電圧信号を例示する図である。 図4で提案する装置の代替の実施例の図である。 図4で提案する装置の別の代替の実施例を例示する図である。 陽イオン及び陰イオンを、又は他方では陽イオン及び電子を、どちらか抽出し加速させることが可能な本発明の第2の実施例の代表的な図である。 本発明による、図4の装置に対応した装置を試験する可能性をもたらす試験設備の図である。 イオン−電子の条件の場合、図10の試験設備を用いて得られたいくつかの測定結果を示す図である。 イオン−電子の条件の場合、図10の試験設備を用いて得られたいくつかの測定結果を示す図である。 イオン−電子の条件の場合、図10の試験設備を用いて得られたいくつかの測定結果を示す図である。 図10に例示した測定手段を用い、図9の装置と対応した装置を用いて得られた測定結果を提示する図である。
下文に、図4を裏付けて本発明の第1の実施例を述べる。
装置100は、ガスをその中に導入し、たとえばタンク31中に格納してもよく、イオン及び電子を含むプラズマを形成してもよいチャンバ20を含み、この導入は、このガスをチャンバ20中に導入するためにタンク31に接続される導管など、手段30を介して実施される。また、装置は、プラズマを形成するためにガスをイオン化するための手段40、58を含む。たとえば、手段40は、無線周波数源58から給電されるコイルを用いて形成してもよい。その代りに、当業者に知られている他の手段40、58を用意してもよい、すなわち非限定の実例として、共振器40を備えたマイクロ波源58、又はさらに、電極を備えたDC電流源58である。
装置100は、陽イオン及び電子を抽出し、チャンバ20の外に加速させる手段50を最後に含む。この抽出/加速によって、チャンバの出口でビーム60を形成する可能性がもたらされる。
抽出及び加速手段50は、チャンバ20の端部に位置付けられた少なくとも2つのグリッド51、54のセットを含む。第1のグリッド51は、周波数が無線周波数の範囲中にあり、以降RF無線周波数源52と指定する交流電圧源にコンデンサを介して接続される。コンデンサ53は、RF無線周波数源52と直列に位置付けられる。第2のグリッド54は、基準電位55、たとえばグラウンドに設定される。
実際面では、ある用途に関し、基準電位は、グラウンドとしてもよい。しかし、他の用途に関し、たとえば宇宙の分野では、基準電位は、当該の人工衛星又は探査ロケットの電位としてもよい。
この第1の実施例に関する記載の次の事項では、基準電位は、他に特段に示されていない限り、グラウンドであると見なされることになる。
RF源52は、ωpl≦ωRF≦ωpeであるような角周波数ωRFを得るように調節される、ただし、

は、電子のプラズマ角周波数であり、

は、陽イオンのプラズマ角周波数である、なお、
は電子の電荷、
εは真空誘電率、
はプラズマ密度、
はイオン質量、及び
は電子の質量
である。
ωpl<<ωである、というのはm>>mであるからであることに留意すべきである。
一般に、RF源52から提供される信号の周波数は、チャンバ20中でプラズマを形成するために使用されるガスに依存し、これがイオンのプラズマ周波数と電子のプラズマ周波数の間に含まれるように、数MHzと数百MHzの間に含めてもよい。
図4に例示した本発明による装置は、簡単な方法で図5の等価図と関連付けてもよい。
この図では、RF源52が識別され、コンデンサ53がこの源及びグラウンド55と直列である。
参照記号Pがプラズマを表す。
intがグリッド51、54の両方の間のキャパシタンスを表す。
ブロックB1が、プラズマと第1のグリッド51の間に形成されるシースの効果を表し、それは、キャパシタンス

と並列のダイオード

によって表わしてもよい。ブロックB2が、プラズマと第2のグリッド54の間に形成されるシースの効果を表し、それは、キャパシタンス

と並列のダイオード

と関連付けてもよい。
ブロックB1又はB2のそれぞれに関し、ダイオード機能の存在は、イオンが、無線周波数源52からの信号の無線周波数変動によって強いられるグリッドの間の電場の瞬間的な変化に追従することができないが、しかし電子は、この電場の瞬間的な変化に追従してもよく、イオンは、この電場の平均値だけに追従するという事実に関連付けられる。これは、電子の質量(m)が陽イオンの質量(m)に対して極めて小さい(m<<m)ということと、源52によって課される信号の周波数(無線周波数;角周波数ωRF)が、イオンのプラズマ周波数と電子のプラズマ周波数の間にあるように、すなわち、ωpi≦ωRF≦ωpeになるように選択されるということとに起因する。
その結果として、RF電圧(VRF)が源52を介して印加されたとき、コンデンサ53が充電される。
次いで、コンデンサ53のこの充電によって、DC電圧がコンデンサの端子に生成される。最後に、RF源52によって形成され、コンデンサと直列のセットの端子上で、電圧VRF+DCが得られる(図5)。
次いで、電圧VRF+DCの一定部分DCによって、グリッド51、54の両方の間に電場を画定する可能性がもたらされ、唯一の信号VRFの平均値がゼロになる。したがって、このDC値によって、両方のグリッド51、54を通じて連続的に陽イオンを抽出し加速させる可能性がもたらされる。
さらに、キャパシタンス

及び

は、互いに極めて異なる、というのは装置中のグリッド51、54のレイアウトのためである。確かに、プラズマ中に存在する陽イオン又は電子の観点からすると、第1のグリッド51に対して下流にあり、ビーム60の伝搬方向に比較的向いている第2のグリッド54は、有効表面積

が、第1のグリッド51の有効表面積

より極めて狭い、というのは第2のグリッド54は、第1のグリッド51のオリフィスを通じてプラズマだけに対して見えるだけである、すなわち

であるからである。したがって、これは、同一のグリッド51、54についてでさえ、不等式

によって表現される。したがって、実際面では、両方のグリッド51、54のセットによって、表面が非対称のコンデンサを形成する可能性がもたらされる。
その結果として、RF電圧(VRF)が源52を介して印加されたとき、コンデンサ53と直列のRF源52によって形成されるセットの端子上での電圧VRF+DCは、

として表現される、というのは、

であるからである、ただし、

は、シース中でプラズマと第1のグリッド51の間に形成される電位差を表し、

は、シース中でプラズマと第2のグリッド54の間に形成される電位差を表す。
RF信号がコンデンサ53を介して印加される第1のグリッド51は、プラズマと接触しており、プラズマと相互作用する。プラズマ電位は、第1のグリッド51に与えられる電位、すなわちVRF+DCに追従する。
グラウンド55にある第2のグリッド54に関し、それは、プラズマとも接触しているが、しかし、それは、電子が陽イオンと同時に抽出される間の短い間隔中だけである、すなわち、そのとき、

は、シースがそれより低いと消滅する(シース崩壊)閾値φCRより低い。
この閾値φCRは、チャイルドの法則によって定義される。この法則は、次のように表現される。

ただし、
sはシースがグリッドのオリフィスの寸法より小さくなるシースの厚さ、
εは真空の誘電率、
は電子の電荷、
はイオンの質量、及び
はイオンの電流密度
である。
装置100の動作は、図6に例示されている。
図6は、第1のグリッド51に対するコンデンサ53を介したRF電圧52の印加に関連する、時間に対するプラズマ電位の展開の実例を表す。
点線が一定のDC成分、ここでは550Vを表し、それは、コンデンサ53の存在と関係する。この成分は、両方のグリッド51、54によって絶えず抽出され加速される、プラズマ中に存在する陽イオンのエネルギーを定義する。
しかし、プラズマ電位は、一定成分(ここでは550V)のまわりで極値(+1050V;50V)の間で変動する、というのはRF信号が源52から提供されるからである。
プラズマ電位が、それからシースの消滅する臨界電位に達したとき、電子は、陽イオンとともにグリッド51、54を通じて抽出され加速される。
ここでは、φCR≒200Vである。
これは、円形オリフィスの直径が1.5mmである((式1)でsの値を決める可能性を与える)同一のグリッド51、54を用いて達成してもよく、グリッドの両方の間の距離がグリッドのオリフィスの直径と同程度である。使用されるガスがアルゴンである。これらのオリフィス及びこのガスと関連付けられるイオンの電流密度が、5mA/cmである。
この図では、ωPi≦ωRF≦ωPeを確実にするために、プラズマの周波数が13.56MHzであることに留意されたい。
チャンバ20の出口におけるビーム60の電気的中性は、第1のグリッド51に存在するシースが消滅したとき、両方のグリッド51、54を通じて電子を抽出することによって得られる。
したがって、図6と関連する実例の他に、グリッド51、54の寸法付けが、使用するガスに、チャイルドの法則に従って、得たいと望むイオンの電流密度に依存することになることに留意すべきである。
一般に、同一のグリッド51、54が使用されることになる。各グリッド51、54は、円形オリフィスを備えてもよく、その直径が1mmと2mmの間に含まれる。次いで、グリッド51、54の両方の間の距離が、オリフィスの直径と同じ範囲中の値に決められる。
或いは、各グリッド51、54が、スロット形状のオリフィスを有してもよい。
前述の論文(図3)と比較して、本発明による実施例(図4及び5)との間にある、構造のレベル及び動作のレベルの両方についてのいくつかの差に留意するべきである。
前述の論文(図3)と違って、プラズマとの相互作用及び厚さが可変のシースの形成がほとんど常に存在することは、グラウンド55に接続されるグリッド54のレベルにおいてではない。
構造のレベルについて、本発明による装置100は、それが、チャンバの出口に位置決められ、プラズマの中核部で電極と協力する2つのグリッド51、54に基づく、しかも単一のグリッドに基づかない、陽イオン及び電子を抽出し加速させるための手段を適用するという点において、S.V.Dudin及びD.V.Rafalskykiの論文に提案されている装置と異なる。
動作レベルについて、チャンバの出口で2つのグリッド51、54を使用することによって、前述の論文(図3)に対して、抽出の、及び加速の動作が修正されている。
確かに、その厚さがプラズマ電位に依存して変動するシースが、第1のグリッド51で形成された場合、シース中のプラズマとの電位差が低くなる、というのは、プラズマ電位が、第1のグリッド51に印加された電位に追従するからである。
したがって、一定の電位差DCが、グリッド51、54の両方の間に印加され、グラウンドに接続されるグリッドに印加される前述の論文の場合のようではない。陽イオンの加速は、グリッド51、54の両方の間で起こるこの電位差DCに起因する。
それゆえ、陽イオンの軌道は、より良く制御され、陽イオンが第1のグリッド51上に入射することはほとんどなくなる。これらの陽イオンは、第2のグリッド54の壁上にもう入射しなくなり、第2のグリッドは、これらのイオンの観点から第1のグリッド51のオリフィスを通じて見えるだけである。
さらに、シースが消滅したとき(臨界電位より低い、又はそれと等しいプラズマ電位)、電子は、第1のグリッド51のオリフィスを誘導されて通過し、また第2のグリッド54の壁に当たるどんな傾向もなく、第2のグリッドは、電子の観点から第1のグリッド51のオリフィスを通して見えるだけである。したがって、電子の軌道は、良好に制御される。
したがって、耐用年限が明らかに向上した、又はエネルギーが前述の論文(図3)より大きい陽イオンを適用する装置を予期することが可能である。
また、本発明による、少なくとも2つのグリッド51、54のアセンブリを用いて形成される抽出及び加速手段の動作は、文献WO2012/042143(図3;陽イオン−電子抽出)で提案されている2つのグリッド5’、7’を備える手段と異なる。
確かに、グリッド5’に与えられる交流信号は、ゼロ値に中心がある(コンデンサが全く存在しない)。したがって、一定の成分DCが、グリッド5’、7’の両方の間の装置に全く生じず、その電位差は、グリッド5’に与えられる可変信号の唯一の変動に関係するだけである。陽イオンの一定の抽出がWO2012/042143では不可能であるが、しかし陽イオンの、及び電子の連続的な抽出だけである。
図7は、図4に例示した装置100の代替の実施例を例示し、無線周波数源52が適用されていない。この場合、手段40、たとえばコイルを作動させるために使用される無線周波数源58’が、またグリッド51を給電するための使用に供される。次いで、手段59が、一方では手段40に向けて、たとえば他方では1つ又はいくつかのコイル及びグリッド51に向けて前記源から提供される信号を取り扱うために、設けられるべきである。この設計は、宇宙用途にとって興味深いものと判明する可能性がある、というのは、それは、装置100の全体の故障リスクを軽減するからである。
図4、5及び7では、グリッド51が、コンデンサ53と直列のRF源52(図4及び5)、58’(図7)に接続され、他のグリッド54が基準電位に、たとえばグラウンドに設定されたときの場合が、例示されている。この場合、RF源52(又は図7の58’)の出口の1つが基準電位に、たとえばグラウンドに設定される。しかし、装置の動作を確実にするために、RF源52のどの出口が、どのグリッド51、54に接続されるのかを知るのはそれほど重要でない。言い換えると、グリッド51は、基準電位に設定してもよく、他のグリッド54は、コンデンサ53と直列のRF源52(図4及び5)又は58’(図7)に接続してもよい。
図8は、図4に例示した装置100の別の代替の実施例を例示する。
この代替の例では、RF無線周波数源52が、両方のグリッド51、54に接続される。より具体的には、RF無線周波数源52は、コンデンサ53と直列に位置付けられ、その出口の1つを通じ、このコンデンサ53を介して、2つのグリッド51、54の1つの51に接続される。言い換えると、RF源52の出口の1つが、コンデンサ53に接続され、コンデンサは、それ自体、2つのグリッド51、54の1つの51に接続される。RF源52の他の出口について、それは、次いで、2つのグリッド51、54の他の1つの54に接続される。図8では、コンデンサ53に接続されるのはグリッド51であるが、しかしコンデンサ53をグリッド54に、グリッド51をコンデンサ53に接続せず、RF無線周波数源52の出口に接続することは、同じように可能なはずである。
さらに、そのような代替の例は、図7に例示した装置100に関して設けてもよいことに留意すべきである。この場合、前のパラグラフの記載によって、両方のグリッド51、54に接続されるのはRF無線周波数源58’である。
したがって、この代替の例は、いずれもの基準電位を含まない。
宇宙の分野では、そのような結合によって、一方では人工衛星の、又は宇宙探査ロケットの外部導電性部の間を循環する寄生電流が存在しないことが保証される、厳密に言うと、他方では異符号に帯電した粒子を抽出するための装置が保証される。
最後に、当該グリッドに印加される信号は、RF無線周波数交流電圧源52、58’から生じる正電位及び/又は負電位の印加期間を調節することによって少なくとも部分的に得られる信号としてもよく、これは、イオン−電子ビームの電気的中性を向上させるためのものである。或いは、又はさらに、当該グリッドに印加される信号は、RF無線周波数交流電圧源52、58’から生じる正電位及び/又は負電位の振幅を調節することによって少なくとも部分的に得られる信号としてもよく、これは、イオン−電子ビームの電気的中性を向上させるためのものである。
これは、任意の形状、たとえば矩形形状の信号としてもよい。
具体的に、これは、図2(b)に例示した信号のような矩形信号としてもよい、すなわち、矩形信号は、振幅(a’)が可変で期間が(d’)である、一連の正(b’+)及び負(b’−)の矩形パルスによって形成される。それゆえ、調節は、正電位及び負電位の印加期間及びこれらの電位の振幅の両方に対して実施される。
或いは、これは、サイン波信号としてもよい。
下文に、図9を裏付けて第2の実施例を述べる。この第2の実施例は、2つの動作モードを適用してもよく、その一方によって、異符号に帯電した粒子としてイオン及び電子の準中性ビームを形成する可能性がもたらされ、他方によって、異符号に帯電した粒子として陽イオンの、及び陰イオンの、又はイオン−イオンの準中性ビームを形成する可能性がもたらされる。
装置100’は、第1の実施例による装置100中で適用される手段のセットを含む。
しかし、装置100’は、チャンバ20中でイオン−イオン・プラズマを形成するための手段32、30、40、58、80のセットをさらに含む。
装置100中に設けられ、イオン−電子プラズマを形成するための手段と比較して、手段32、30、40、58、80は、少なくとも1つの電気陰性のイオン化ガスを含み、陽イオン及び陰イオン、さらにまた電子を発生することができるタンク32と、この電気陰性ガスによって生成された電子をフィルタで除去するための手段80とを特に含む。手段80は、好ましくは、チャンバ20中でイオンの、及び電子の移動の方向に対して横方向に配向される一定の磁場Hを生成する。
また、装置100’は、LFと呼ばれるより低い周波数の交流電圧源56を含み、それは、RF無線周波数源52上に、又はLF低周波数源56上に、のどちらかに位置付けられるように、制御可能な手段57を介して第1のグリッド51に接続することができる。低周波数LF源56は、イオンのプラズマ周波数より低い、又はそれと等しい周波数で放出する源を意味する。また、手段57によって、フィルタリング手段80を作動させる、又は停止させる可能性が与えられることに留意すべきである。
このLF低周波数交流電圧源56からの信号は、この源からの正電位及び/又は負電位の印加期間を調節することによって少なくとも部分的に得てもよく、これは、イオン−イオン・ビームの電気的中性を制御するためのものである。或いは、又はさらに、このLF低周波数交流電圧源56からの信号は、この源からの正電位及び/又は負電位の振幅を調節することによって少なくとも部分的に得てもよく、これは、イオン−イオン・ビームの電気的中性を向上させるためのものである。
これは、特に、図2(b)に例示されている信号のような矩形形状の信号としてもよく、すなわち、矩形信号は、振幅a’が可変で期間がd’である、一連の正b’+及び負b’−の矩形パルスによって形成される。それゆえ、その調節は、正電位及び負電位の印加期間及びこれらの電位の振幅の両方に対して実施される。
より一般的には、矩形形状信号を予期してもよい。
したがって、装置100’は、2つの動作モードを有する。
第1の動作モードでは、手段57が、コンデンサ53と直列のRF源52上に位置付けられる。陽イオン及び電子を含むプラズマを発生することができるガスが、チャンバ20中にタンク31及び導管30を介して導入される。電子のための磁性フィルタリング手段80が停止され、また手段57によって、このフィルタリング手段80の作動及び作動停止が制御されている。装置100’の動作は、陽イオン及び電子を抽出するための第1の実施例(装置100)について述べた動作と同じである。
第2の動作モードでは、手段57は、LF源56上に位置付けられ、また、フィルタリング手段80を作動させる可能性を与える。LF源56は、信号を送り、その値は、陽イオン及び陰イオンを連続的に抽出するために、イオンのプラズマ周波数より低い、又はそれと等しい周波数で連続的に正及び負になる。電気陰性ガスをチャンバ20中に導入する必要がある。電子を除去する、又はある程度除去し、且つ手段80の出口である程度陽イオン及び陰イオンだけを得るためだけに、電子をフィルタで除去するためのこの手段80を作動させる必要がある。
出力で得られるビームの電気的中性が確保される。
出願人の知る限りでは、プラズマ発生器装置に、そのようなすべて一体になった装置は全く提案されていない。具体的には、装置100’がイオン−イオン・モードで使用されたとき、その使用は、装置の早期劣化問題を避けるために、陽イオン−電子モードに移行することによって時間とともに限定される恐れがある。
図9では、2つのはっきりと異なるRF源58、52が適用されることに留意されたい。これに関し、また、装置100’に関して図8に例示されたもの、すなわち単一RF源に準拠する設備図を提示することが可能である。
最後に、一般に、装置100又は100’中で使用してもよいガスは、それらの電気陽性度又は電気陰性度に従って、アルゴン(Ar)、ヒドラジン(N)、キセノン(Xe)、四フッ化炭素(CF)、六フッ化硫黄(SF)、二ヨウ素(I)、二窒素(N)又は二水素(H)の中から選択してもよい。
本発明の範囲内で提案された解決策のメリットを示すために、試験が実施された。
図10は、本発明による装置100とともに使用される試験設備の代表的な図である。この図10の左側に、図4に例示した装置100が識別される。
ビーム60の特性は、ポンプ205を介した真空のチャンバ200中で決定される。測定は、ターゲット201上に位置付けられたエネルギー・アナライザ203が関連付けられたターゲット201を用いて実施され、このアナライザは、処理手段204に接続される。このアナライザは、RFEA(Retarding Field Energy Analyzers(減速電界型エネルギー・アナライザ))の頭字語の下で知られている。ターゲット201は、その電位202を決定するための手段に接続される。
イオン−電子動作に関する、いくつかの結果が、図10(a)〜図10(c)に提示されている。
使用されたガスは、アルゴンである(25sccm)。
RF源52の周波数は、4MHzである。この源によってグリッド51に印加された電位は、振幅が0と300Vの間に含めてもよい(すなわち、ピーク・ツウ・ピークで600Vまで)。
磁性フィルタは、作動していない。
図10(a)は、アルゴン・イオン(IEDF)及び電子(EEDF)対これらのイオン/電子のエネルギー(横座標)に関するエネルギー分布関数(EDF;縦座標;任意の単位a.u.(arbitrary unit))を例示する。電子及びイオンに関する両方のピークの存在は、両方のタイプの帯電粒子の抽出及び加速が達成されていることを示す。この図は、イオンが150eVの平均エネルギーで、電子が10eVの平均エネルギーで抽出され加速されていることを示す。これらの測定値は、振幅が150V(ピーク・ツウ・ピークで300V)のRF電位を用いて得られている。
図10(b)は、アルゴン・イオンの平均エネルギーに依存した、ターゲット201の電位の展開を示す(縦座標;φfloat)。この測定のためのアルゴン・イオンの当該エネルギー範囲(0〜300eV)では、ターゲットの電位が15Vより低く、それは、イオンのエネルギーに対して比較的低いことに留意されたい。言い換えると、これは、ビームが、帯電に関して良好に補償されている(電気的中性が確保されている)ことを示す。
図10(c)は、アルゴン・イオンのエネルギーが300eVの場合、ターゲット201の電位−電流カーブ(Upr/Ipr)を示す。これらのアルゴン・イオン及び電子の流れは、このターゲットの電位が15Vであるとき、同じである(Ipr=0)。φfloatは、Ipr=0のとき、値がUprであることに留意すべきである。
図11は、イオン−イオン動作モードに関する結果を示す。これらの結果は、試験設備が図9に例示した装置100’を適用した状態で、図10を裏付ける上で早期に述べたこの装置100’からのビーム60を特徴付けるための測定手段を用いて得られた。
使用されたガスは、六フッ化硫黄(SF)である。
電圧源56のLF周波数は、20kHzである。電圧源56に接続されるグリッドに印加された電位は、−350Vと+350Vの間に含まれる。
ガスのイオン化によって生成された電子を除去する、又はある程度除去するために、磁性フィルタ80が作動している。
図11は、これらのイオンのエネルギー(横座標)に従う、陽イオン(実線)及び陰イオン(点線)に関するエネルギー分布関数(IEDF;縦座標;任意の単位a.u.)をより具体的に例示する。電子に関し、及びイオンに関し、その両方のピークの存在は、両方のタイプの帯電粒子の抽出及び加速が達成されていることを示す。この図11は、陽イオン及び陰イオンが、300eVより高い平均エネルギーで抽出され加速されていることを示す。
本発明による装置100、100’は、特に、
− プラズマ・スラスタ(軌道を修正するための人工衛星に、宇宙プローブに、などに適用)、
− ターゲット上に粒子を付着させるための装置(蒸着、たとえばマイクロエレクトロニクスの分野)、
− ターゲットをエッチングするための装置、
− ポリマを処理するための装置、又は目標とする表面を活性化するためのさらなる装置、
のために使用してもよい。

Claims (17)

  1. イオン及び電子の準中性ビームを形成するための装置(100)において、
    前記装置は、
    チャンバ(20)と、
    前記チャンバ(20)中でイオン−電子プラズマを形成するための手段(31、30、40、58)のセットと、
    前記プラズマの帯電粒子を抽出し、前記ビームを形成することが可能な前記チャンバ(20)の外に加速させるための手段(50)であって、前記抽出及び加速手段(50)は、前記チャンバの一方の端部に位置決めされた少なくとも2つのグリッド(51、54)のセットを含む、手段(50)と、
    信号を発生するように適応させる無線周波数交流電圧源(52、58’)であって、その無線周波数は、前記イオンのプラズマ周波数と前記電子のプラズマ周波数の間に含まれ、前記無線周波数電圧源(52、58’)は、コンデンサ(53)と直列に位置付けられ、その出口の1つを通じ、前記コンデンサ(53)を介して、前記少なくとも2つのグリッド(51、54)のセットの前記グリッドの少なくとも1つに接続され、前記少なくとも2つのグリッド(51、54)のセットの少なくとも1つの他のグリッドが、基準電位に設定される、又は前記無線周波数電圧源(52、58’)の前記出口の他の1つに接続される、のどちらかである、無線周波数交流電圧源(52、58’)とを含むことを特徴とする、装置(100)。
  2. 前記イオン−電子プラズマを形成するための前記手段(31、30、40、58)のセットは、無線周波数交流電圧源(58’;52)から給電される1つ又はいくつかのコイルを含む、請求項1に記載の装置(100)。
  3. 前記又は各コイル(40)を給電する前記無線周波数電圧源(58’)は、前記2つのグリッド(51、54)の少なくとも1つに接続される前記コンデンサと直列の前記無線周波数電圧源(52)と同じであり、
    前記装置は、前記源(58’)から、一方では前記又は各コイルに向けて、他方では前記少なくとも1つのグリッドに向けて提供される前記信号を取り扱うための手段(59)をさらに含む、請求項1から2までに記載の装置(100)。
  4. 前記チャンバ(20)中で前記イオン−電子プラズマを形成するための前記手段(31、30、40、58)のセットは、少なくとも1つの電気陽性ガスを含むタンク(31)を含む、請求項1から3までの一項に記載の装置(100)。
  5. 前記グリッド(51、54)は、円形オリフィスを有し、その直径が、0.5mmと10mmの間に、たとえば1mmと2mmの間に含まれる、請求項1から4までの一項に記載の装置(100)。
  6. 前記グリッド(51、54)の両方の間の距離が、0.5mmと10mmの間に、たとえば1mmと2mmの間に含まれる、請求項1から5までの一項に記載の装置(100)。
  7. 前記グリッド(51、54)は、スロット形状のオリフィスを有する、請求項1から4までの一項に記載の装置(100)。
  8. 前記イオン及び電子のビームの電気的中性は、前記無線周波数交流電圧源(RF、52、58’)から生じる正電位及び/又は負電位の印加期間を調節することによって少なくとも部分的に得られる、請求項1から7までの一項に記載の装置(100)。
  9. 前記イオン及び電子のビームの電気的中性は、前記無線周波数交流電圧源(RF、52、58’)から生じる正電位及び/又は負電位の振幅を調節することによって少なくとも部分的に得られる、請求項1から7までの一項に記載の装置(100)。
  10. 前記無線周波数交流電圧源(RF、52、58’)は、矩形信号を生成するように設計される、請求項1から9までの一項に記載の装置(100)。
  11. 前記無線周波数交流電圧源(RF、52、58’)は、サイン波信号を生成するように設計される、請求項1から7までの一項に記載の装置(100)。
  12. 異符号に帯電した粒子の準中性ビームを形成するための装置において、
    前記装置は、
    請求項1から11までの一項に記載の、イオン及び電子の準中性ビームを形成するための装置(100)と、
    前記チャンバ(20)中でイオン−イオン・プラズマを形成するための手段(32、30、40、58、80)のセットであって、前記セットは、前記電子をフィルタで除去するための手段(80)を含む、手段(32、30、40、58、80)のセットと、
    信号を発生するように適応させる、いわゆる低周波数交流電圧源(LF、56)であって、その無線周波数が前記イオンの前記プラズマ周波数より低い、又はそれと等しい、低周波数交流電圧源(LF、56)と、
    イオン−イオン・ビームを形成するために前記電子をフィルタで除去するために前記手段(80)を作動させる間、前記低周波数電圧源(LF;56)に、すなわちイオン−電子ビームを形成するために前記電子をフィルタで除去するために前記手段(80)を停止させる間、前記コンデンサ(53)と直列の前記無線周波数電圧源(52、58)に、のどちらかに前記グリッド(51、54)の1つを接続することが可能な手段(57)とを含むことを特徴とする、装置。
  13. 前記イオン−イオン・ビームの電気的中性は、前記低周波数交流電圧源(LF、56)から生じる正電位及び/又は負電位の印加期間を調節することによって少なくとも部分的に得られる、請求項1から12までの一項に記載の装置(100’)。
  14. 前記イオン−イオン・ビームの電気的中性は、前記低周波数交流電圧源(LF、56)から生じる正電位及び/又は負電位の振幅を調節することによって少なくとも部分的に得られる、請求項12又は13の一項に記載の装置(100’)。
  15. 前記低周波数交流電圧源(LF、56)は、矩形信号を生成するように設計される、請求項1から14までの一項に記載の装置(100’)。
  16. 前記チャンバ(20)中でイオン−イオン・プラズマを形成するための前記手段(32、30、40、58、80)のセットは、少なくとも1つの電気陰性ガスを含むタンク(32)を含む、請求項12から15までの一項に記載の装置(100’)。
  17. 使用してもよい前記ガスは、それらの電気陽性度又は電気陰性度に従って、アルゴン(Ar)、ヒドラジン(N)、キセノン(Xe)、四フッ化炭素(CF)、六フッ化硫黄(SF)、二ヨウ素(I)、二窒素(N)又は二水素(H)の中から選択される、請求項1から16までの一項に記載の装置(100、100’)。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2020225920A1 (ja) * 2019-05-09 2021-05-20 Sppテクノロジーズ株式会社 プラズマ着火方法及びプラズマ生成装置

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10224181B2 (en) 2016-04-20 2019-03-05 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Radio frequency extraction system for charge neutralized ion beam
CN109162882A (zh) * 2018-10-09 2019-01-08 西安交通大学 一种基于射频自偏压原理的离子推力器
JP7205969B2 (ja) 2018-12-27 2023-01-17 川崎重工業株式会社 外板冷却システム
FR3092385B1 (fr) 2019-02-06 2021-01-29 Thrustme Réservoir de propulseur avec système de commande marche-arrêt du flux de gaz, propulseur et engin spatial intégrant un tel système de commande
CN111322213B (zh) * 2020-02-11 2021-03-30 哈尔滨工业大学 一种可变间距的压电栅极
CN111322214B (zh) * 2020-02-13 2021-11-16 哈尔滨工业大学 一种会切场低推力射频离子推力器
CN111526654A (zh) * 2020-05-09 2020-08-11 航宇动力技术(深圳)有限公司 一种准中性等离子体束流引出装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08203869A (ja) * 1995-01-24 1996-08-09 Yasuhiro Horiike プラズマ処理方法及びその装置
JP2002289583A (ja) * 2001-03-26 2002-10-04 Ebara Corp ビーム処理装置
US20130300288A1 (en) * 2010-09-30 2013-11-14 Astrium Sas Method and device for forming a plasma beam

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2894301B1 (fr) 2005-12-07 2011-11-18 Ecole Polytech Propulseur a plasma electronegatif
US7863582B2 (en) * 2008-01-25 2011-01-04 Valery Godyak Ion-beam source
DE102008058212B4 (de) * 2008-11-19 2011-07-07 Astrium GmbH, 81667 Ionenantrieb für ein Raumfahrzeug
FR2939173B1 (fr) 2008-11-28 2010-12-17 Ecole Polytech Propulseur a plasma electronegatif a injection optimisee.
US8698401B2 (en) * 2010-01-05 2014-04-15 Kaufman & Robinson, Inc. Mitigation of plasma-inductor termination

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08203869A (ja) * 1995-01-24 1996-08-09 Yasuhiro Horiike プラズマ処理方法及びその装置
JP2002289583A (ja) * 2001-03-26 2002-10-04 Ebara Corp ビーム処理装置
US20130300288A1 (en) * 2010-09-30 2013-11-14 Astrium Sas Method and device for forming a plasma beam

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
S. V. DUDIN ET AL: "Empirical laws of particle extraction from single-grid source of bipolar ion-electron flow", REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, vol. 83, JPN6018048143, 2012, pages 113302, XP012161694, ISSN: 0003932298, DOI: 10.1063/1.4767241 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2020225920A1 (ja) * 2019-05-09 2021-05-20 Sppテクノロジーズ株式会社 プラズマ着火方法及びプラズマ生成装置

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