JP2017223551A - 段差高さゲージ、基準面測定方法、及び基準面測定装置 - Google Patents
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Abstract
Description
特許文献1に記載の装置は、標準端度器と被測定端度器とを比較して、被測定端度器を測定する端度器比較測定機であり、標準端度器と被測定端度器とをホルダーに保持した状態でテーブルに載置し、標準端度器及び被測定端度器の上面に測定プローブを接触させて比較測定を行う。
例えば、第一面を有する第一ブロックゲージ、第二面を有する第二ブロックゲージを含む段差高さゲージにおいて、第一面を測定基準面とし、第一面から第二面までの寸法を測定する場合、まず、第一面に対する測定を行い、第一面の最小自乗平面を算出する。そして、第二面上の所定の測定点を測定し、当該測定点から第一面までの距離(最小自乗平面の法線方向に沿った距離)を算出する。したがって、第一面の最小自乗平面に、傾斜等による誤差が含まれる場合、第二面の高さ寸法にも誤差が発生することになる。
特に、近年では測定装置における高精度化が進み、従来無視されていた僅かな基準面の傾斜でも、測定精度に大きな影響が出るようになり、基準高さ面をより精度よく構成できる段差高さゲージが強く要望されている。
このような段差高さゲージでは、第一基準測定領域から任意の第一基準測定点を設定し、第二基準測定領域から任意の第二基準測定点を設定し、これらの第一基準測定点及び第二基準測定点の位置座標を測定することで、第一基準測定点及び第二基準測定点を結ぶ直線(基準直線)を算出することができる。そして、各ゲージブロックの上面の所定の測定点(ブロック測定点)の位置座標を測定すれば、上述の基準直線から各ゲージブロックのブロック測定点までの距離を算出することで、各ゲージブロックの上面の高さを精度よく算出することができる。
これに対して、本発明では、上述のように、1つのゲージブロックにおける上面ではなく、複数のゲージブロックを挟む位置に設けられたベースの第一基準測定領域及び第二基準測定領域からそれぞれ第一基準測定点及び第二基準測定点を設定して基準直線を算出し、基準直線に対する各ゲージブロックの高さ寸法を測定することが可能となる。よって、各ゲージブロックの上面に、面精度やリンギングの状態等による僅かな傾斜が存在する場合でも、基準直線の直線式を最小二乗法等により算出すれば傾斜による誤差がキャンセルされ(平均化され)る。よって、従来に比べて、各ゲージブロックの上面の高さ寸法を高精度に測定することが可能となり、基準高さ面の較正も高精度に行うことが可能となる。
段差高さゲージは、通常、ベースやゲージブロックの保護を目的としたカバーが設けられる。このようなカバーは、一般的に、載置面に対して、ゲージブロックが載置される載置領域のみが開口するように形成されているが、本発明では、載置領域に加えてその外周に設けられた測定領域に対応する箇所も開口されている。これにより、第一基準測定領域及び第二基準測定領域からそれぞれ第一基準測定点及び第二基準測定点の位置座標を測定することができ、上記のような基準直線を算出することができる。
また、カバーがベース及びゲージブロックに接着されていることで、ベースに対してゲージブロックがリンギングされた状態で固定されることになり、ベースに対するゲージブロックの位置ずれやゲージブロックの上面の傾斜を抑制できる。
このため、上記発明と同様、各ゲージブロックの上面に、面精度やリンギングの状態等による僅かな傾斜が存在する場合でも、基準直線の直線式を最小二乗法等により算出すれば傾斜による誤差がキャンセルされることになり、誤差の影響を抑制した高精度な高さ寸法の測定が可能となる。
本発明では、載置面を法線から見た平面視で、基準直線上にブロック測定点が位置するように、第一基準測定点や第二基準測定点が設定される。このため、所望のブロック測定点における高さ寸法を正確に測定することが可能となる。
本発明では、段差高さゲージに対して、測定点位置取得部により、複数のゲージブロックの並び方向(一方向)に対して、これらのゲージブロックを挟む位置にある第一基準測定点と第二基準測定点の位置座標を取得(測定)し、基準算出部により、これらの第一基準測定点及び第二基準測定点を含む基準直線を算出する。そして、ブロック測定点取得部により、各ゲージブロックの上面の所定のブロック測定点の位置座標を取得(測定)して、高さ算出部により、基準直線からブロック測定点までの距離を算出する。
このため、上記発明と同様、各ゲージブロックの上面に、面精度やリンギングの状態等による僅かな傾斜が存在する場合でも、基準直線の直線式を最小二乗法等により算出すれば傾斜による誤差がキャンセルされることになり、誤差に影響を抑制した高精度な高さ寸法の測定が可能となる。
[段差高さゲージの構成]
図1は、本実施形態の段差高さゲージの概略構成を示す斜視図であり、図2は、当該段差高さゲージを高さ方向から見た平面図、図3は、当該段差高さゲージの側面図である。
この段差高さゲージ1は、例えば三次元測定装置等の各種測定装置や、静電容量式変位センサー等の位置検出センサーにおける高さ基準面の較正等に用いられる。
ベース11は、例えば直方体に形成されており、少なくとも底面111(図1、図3参照)と、底面111に平行な載置面112と、を有する。
底面111は、測定装置の被測定物を設置するテーブル上に載置される平坦な面である。
より具体的には、載置面112は、ゲージブロック12がリンギングされる載置領域112A(図2、図3参照)と、載置領域112Aの外側に設けられた第一基準測定領域112Bと、同じく載置領域112Aの外側に設けられた第二基準測定領域112Cとを有する。本実施形態では、載置面112上にゲージブロック12が一方向(図1〜図3におけるX方向)に沿って複数のゲージブロック12が並んで配置され、第一基準測定領域112Bは、載置領域112Aの−X側に、また第二基準測定領域112Cは、載置領域112Aの+X側に設けられている。
本実施形態では、このような場合でも、各ゲージブロック12のブロック測定面122の高さ寸法を高精度に測定可能となる段差高さゲージ1、及びこの段差高さゲージ1を用いた基準面測定装置、基準面測定方法を提供するものである。なお、当該基準面測定装置、基準面測定方法についての詳細な説明は後述する。
具体的には、カバー13は、図3に示すように、側面部113における、底面111よりも僅かに載置面112寄りの所定の高さ位置から、載置面112の載置領域112A、第一基準測定領域112B、及び第二基準測定領域112C以外の範囲を覆う。
このため、図1及び図3に示すように、ベース11の底面111はカバー13から露出し、平坦な底面111がテーブル上に載置可能となる。
また、カバー13は、載置領域112A、第一基準測定領域112B、及び第二基準測定領域112Cに対応した開口131を有する。これにより、載置領域112A内にゲージブロック12を当接することが可能となり、また、第一基準測定領域112B及び第二基準測定領域112Cが測定装置により測定可能な露出状態となる。
次に、上述したような段差高さゲージ1の測定を行う基準面測定装置を説明する。本実施形態では、基準面測定装置として、干渉測定装置2を例示する。
図4は、干渉測定装置2の概略構成を示す全体図である。
干渉測定装置2は、例えば、図4に示すように、台座部21と、台座部21に設けられて被測定物を載置するテーブル22と、テーブル22上に載置された被測定物の表面性状を測定する光プローブ23と、光プローブ23を移動させる移動機構24と、光プローブ23や移動機構24を制御する制御部25と、を備えている。また、図示は省略するが、測定者が所定のデータを設定入力するための操作部等が設けられていてもよい。
また、移動機構24は、モーター等により構成された駆動機構(図示略)を有し、制御部25により駆動機構の駆動が制御されることで、光プローブ23の位置を自動で制御可能となる。
本発明において、第一基準測定点や第二基準測定点は、測定者が手動により適宜設定してもよいが、段差高さゲージ1の位置や、ブロック測定面122のどの位置を測定対象とするかが判れば、各ブロック測定面122の高さ寸法をより高精度に測定可能な第一基準測定点や第二基準測定点を設定することが可能となる。
この場合、基準設定部251は、例えば光プローブ23により、テーブル22に載置された段差高さゲージ1の位置、つまり各ゲージブロック12のブロック測定面122、第一基準測定領域112B、及び第二基準測定領域112Cの位置を検出する。そして、基準設定部251は、例えば測定者の操作部の操作により設定入力されるブロック測定面122における測定位置を取得し、その測定位置を挟む第一基準測定領域112B内の第一基準測定点、及び第二基準測定領域112C内の第二基準測定点のxy平面における位置座標を設定する。
ブロック測定点取得部254は、ブロック測定面122上のブロック測定点の位置座標(xyz位置座標)を取得する。
高さ算出部255は、基準直線と、測定されたブロック測定点の位置座標とから、基準直線からブロック測定点までの距離(高さ寸法)を算出する。
次に上述した干渉測定装置2における基準面測定方法について説明する。
図5は、基準面測定方法を示すフローチャートである。図6は、本実施形態における段差高さゲージ1の各ゲージブロック12の測定方法(基準面測定方法)を説明するための概略平面図であり、図7は概略平面図を示す。
本実施形態における基準面測定方法では、先ず、基準設定部251は、テーブル22上における段差高さゲージ1の載置位置を検出する(ステップS1;ゲージ検出ステップ)。本実施形態では、光プローブ23の受光部は、干渉縞を観測する撮像素子を有するため、当該撮像素子によりテーブル22に対する撮像画像を取得し、当該撮像画像から段差高さゲージ1の位置を検出することが可能となる。
そして、基準設定部251は、当該仮基準直線上でかつ第一基準測定領域112B内となる点を第一基準測定点R1とし、当該仮基準直線上でかつ第二基準測定領域112C内となる点を第二基準測定点R2として設定する。第一基準測定領域112B内における第一基準測定点R1の位置は、例えば、第一基準測定領域112B内のx方向(各ゲージブロック12の並び方向)における予め設定された位置等であってもよく、測定者が任意に設定してもよい。なお、予め設定された位置を設定する場合、例えば載置領域112A及び第一基準測定領域112Bの境界と、仮基準直線との交点を第一基準測定点R1とすると、後述の第一基準測定点R1の位置座標を測定する際に、載置面112からゲージブロック12が立ち上がる角部を測定することになる。よって、第一基準測定領域112B内において、仮基準直線上となり、かつ載置領域112Aから所定寸法離れた位置を第一基準測定点R1として設定することが好ましい。本実施形態では、例えば、図6及び図7に示すように、第一基準測定領域112BのX方向に沿った幅寸法の中心位置を第一基準測定点R1とする。なお、第二基準測定領域112C内における第二基準測定点R2の位置においても同様である。
また、本実施形態では、測定者が操作部を操作することで、ブロック測定点Bを指定する例を示すが、これに限定されず、例えば、予めブロック測定点Bのデフォルト値が設定されていてもよい。例えば、操作部からの入力が無い場合、ブロック測定面122における重心位置をブロック測定点Bとし、第一基準測定点R1や第二基準測定点R2のxy位置座標を設定してもよい。
つまり、上記ステップS2で求めた第一基準測定点R1及び第二基準測定点R2は、xy平面(載置面112)上での2次元の座標であり、高さ寸法(z軸座標)は不明である。ステップS3では、基準測定点取得部252は、光プローブ23や移動機構24を制御して、第一基準測定点R1及び第二基準測定点R2に対する測定を実施し、正確なxyz位置座標を取得する。
そして、高さ算出部255は、ステップS5により取得(測定)された各ブロック測定点Bの位置座標と、ステップS5により算出された基準直線Pとの距離(L1,L2,L3,L4,L5)を算出し、各ブロック測定面122の高さ寸法とする(ステップS6;基準高さ算出ステップ)。
以上により、段差高さゲージ1における各ゲージブロック12のブロック測定面122の高さ寸法(基準高さ寸法)が算出される。
本実施形態の段差高さゲージ1は、平滑な載置面112を有するベース11と、載置面112にリンギングされる複数のゲージブロック12と、を備える。ゲージブロック12は、載置面112にリンギングされるリンギング面121と、リンギング面121とは反対側の面でリンギング面121に平行なブロック測定面122とを備える。そして、ベース11の載置面112は、法線方向から見た平面視において、複数のゲージブロック12がX方向に並んで載置される載置領域112Aと、載置領域112Aの外側(−X側)に設けられた第一基準測定領域112Bと、載置領域112Aの外側(+X側)に設けられた第二基準測定領域112Cと、を有し、第一基準測定領域112B及び第二基準測定領域112Cが外部に露出している。
つまり、基準測定点取得ステップで、第一基準測定領域112B内の第一基準測定点R1と、第二基準測定領域112C内の第二基準測定点R2とのそれぞれの位置座標を測定する。この後、基準算出ステップで、これらの第一基準測定点R1及び第二基準測定点R2を結ぶ基準直線Pを算出する。また、ブロック測定点取得ステップで、各ブロック測定点Bの位置座標を測定する。そして、基準高さ算出ステップで、基準直線Pから各ブロック測定点Bまでの距離(高さ寸法)を算出する。
基準算出ステップにおいて、複数のゲージブロック12を挟む位置に設けられた第一基準測定点R1と、第二基準測定点R2との位置座標から、基準直線Pを算出することで、載置面112やブロック測定面122の一部に面精度が低い部分が存在した場合や、リンギング不良等によってブロック測定面122が僅かに傾斜している場合であっても、これらの不都合による誤差を平均化してキャンセルすることができ、各ブロック測定面122までの高さ寸法を高精度に求めることができる。
載置面112を法線から見た平面視において、載置領域112A以外の領域全体をカバー13で覆ってしまうと、第一基準測定点R1や第二基準測定点R2の位置座標を測定することができない。これに対して、本実施形態では、カバー13に第一基準測定領域112B及び第二基準測定領域112Cが外部に露出するような開口131が設けられているので、上述したような基準面測定処理が可能となる。
また、このようなカバー13が設けられることで、段差高さゲージ1を保護することができる。さらに、カバー13は、ベース11とゲージブロック12とがリンギングされた状態でこれらのベース11及びゲージブロック12に接着固定されるので、ベース11とゲージブロック12との位置ずれを抑制でき、ゲージブロック12がベース11にリンギングされた状態を維持することができる。
このため、上述したように、基準測定点取得ステップ、基準算出ステップ、ブロック測定点取得ステップ、及び基準高さ算出ステップを実施することができ、段差高さゲージ1の各ゲージブロック12のブロック測定面122の高さ寸法を高精度に求めることができる。
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲で以下に示される変形をも含むものである。
上記実施形態では、ベース11に対して、高さ寸法の異なる5つの各ゲージブロック12が、X方向に沿って隙間なく並んで配置される例を示すが、これに限定されない。
例えば、図8(A)に示す段差高さゲージ1Aのように、例えば、隣り合うゲージブロック12間に隙間が設けられていてもよい。
また、上記実施形態では、X方向に対してゲージブロック12の高さ寸法が漸増するように各ゲージブロック12が並んで配置される例を示したが、これに限らない。例えば、図8(B)に示す段差高さゲージ1Bのように、X方向に沿って、ゲージブロック12の高さ寸法が上下する構成としてもよい。
さらに、5つのゲージブロック12が設けられる例を示したが、2つ以上であればよく、例えば3つのゲージブロック12が設けられる段差高さゲージ等としてもよい。
また、ベース11とゲージブロック12とが一体的に構成されている構成などとしてもよい。この場合もベース11の第一基準測定点R1及び第二基準測定点R2に基づいて基準直線Pを算出した上で、当該基準直線Pと各ブロック測定点Bとの高さ寸法を算出することで、例えば、1つのゲージブロック12のブロック測定面122を基準面として他のブロック測定面の高さ寸法を測定する場合に比べて、高精度な測定が可能となる。
この場合、Y方向に沿って並ぶゲージブロック12の両脇のそれぞれに、Y方向に沿った基準直線を算出するための基準測定点を測定可能な第三基準測定領域112D及び第四基準測定領域112Eを設ければよい。
特に、図8(C)に示すように、ゲージブロック12がX方向のみならず、その他の方向(例えばY方向)に沿って配置されている場合でも、基準平面に基づいた基準高さ寸法の測定が可能となる。
Claims (5)
- 平滑な載置面を有するベースと、
前記載置面に載置された複数のゲージブロックと、を備え、
前記ゲージブロックは、前記載置面にリンギングされる下面と、前記下面とは反対側の面で、前記下面に平行な上面とを備え、
前記載置面は、法線方向から見た平面視において、前記複数のゲージブロックが一方向に並んで載置される載置領域と、前記一方向の一方側において前記載置領域の外側に設けられて外部に露出する第一基準測定領域と、前記一方向の他方側において前記載置領域の外側に設けられて外部に露出する第二基準測定領域と、を有する
ことを特徴とする段差高さゲージ。 - 請求項1に記載の段差高さゲージにおいて、
前記載置面に交差する側面部を覆い、前記ベース及び前記ゲージブロックに接着固定されたカバーを備え、
前記カバーは、前記第一基準測定領域、前記第二基準測定領域、及び前記載置領域に対応した開口を有する
ことを特徴とする段差高さゲージ。 - 平滑な載置面を有するベースと、前記載置面に載置された複数のゲージブロックと、を備え、前記複数のゲージブロックが前記載置面上で一方向に並んで配置された段差高さゲージを用いて基準面の高さを測定する基準面測定方法であって、
前記載置面の前記ゲージブロックが載置される載置領域の前記一方向の一方側において前記載置領域の外側に設けられた第一基準測定点、前記載置領域の前記一方向の他方側において前記載置領域の外側に設けられた第二基準測定点の位置座標を取得する基準測定点取得ステップと、
前記ゲージブロックの上面上のブロック測定点の位置座標を取得するブロック測定点取得ステップと、
前記第一基準測定点及び前記第二基準測定点の位置から、前記第一基準測定点及び前記第二基準測定点を含む基準直線を算出する基準算出ステップと、
前記基準直線から、前記ブロック測定点までの寸法を算出する基準高さ算出ステップと、
を実施することを特徴とする基準面測定方法。 - 請求項3に記載の基準面測定方法において、
前記載置面の法線方向からの平面視に対する前記ブロック測定点の測定座標を取得するブロック測定座標取得ステップを備え、
前記基準測定点取得ステップは、前記載置面の法線方向からの平面視に対する前記ブロック測定点の位置座標が、前記平面視における前記基準直線上に含まれる前記第一基準測定点及び前記第二基準測定点の位置座標を取得する
ことを特徴とする基準面測定方法。 - 平滑な載置面を有するベースと、前記載置面に載置された複数のゲージブロックと、を備え、前記複数のゲージブロックが前記載置面上で一方向に並んで配置された段差高さゲージを用いて基準面の高さを測定する基準面測定装置であって、
前記載置面の前記ゲージブロックが載置される載置領域の前記一方向の一方側において前記載置領域の外側に設けられた第一基準測定点、前記載置領域の前記一方向の他方側において前記載置領域の外側に設けられた第二基準測定点の位置座標を取得する基準測定点取得部と、
前記ゲージブロックの上面上のブロック測定点の位置座標を取得するブロック測定点取得部と、
前記第一基準測定点及び前記第二基準測定点の位置座標から、前記第一基準測定点及び前記第二基準測定点を含む基準直線を算出する基準算出部と、
前記基準直線から、前記ブロック測定点までの寸法を算出する高さ算出部と、
を備えることを特徴とする基準面測定装置。
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