JP2017200162A - Temporal digital converter of high resolution - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、時間−ディジタル変換器に関し、特に環境妨害を緩和し得るフルディジタル応用の時間−ディジタル変換器に関する。 The present invention relates to time-to-digital converters, and more particularly to time-to-digital converters for full digital applications that can mitigate environmental disturbances.
集積回路の発達につれて、センサにより得られた検出情報をディジタル符号に変換することによってより広範な使用が達成可能である。時間測定システムに関しては、時間−ディジタル変換器は検出情報を表すために時間幅を採用し、時間幅を発振器で計数して検出情報をディジタル出力に変換する。 As integrated circuits develop, wider use can be achieved by converting the detection information obtained by the sensor into a digital code. For time measurement systems, the time-to-digital converter employs a time width to represent the detected information and counts the time width with an oscillator to convert the detected information into a digital output.
既存の技術では、時間−ディジタル変換器は一般的に、前段に比較器を構成するだけで時間検出信号の雑音部分を除去している。しかしながら、製造プロセス、電圧、温度等に関連する環境変化が計数プロセスに妨害を生じるかもしれない。更に、高いエネルギー変換効率及び高い精度に対する要求が次第に増している。それゆえ、上記の問題を有効に解決することが時間−ディジタル変換器の重要技術になっている。 In the existing technology, the time-to-digital converter generally removes the noise portion of the time detection signal only by configuring a comparator in the previous stage. However, environmental changes related to the manufacturing process, voltage, temperature, etc. may interfere with the counting process. Furthermore, there is an increasing demand for high energy conversion efficiency and high accuracy. Therefore, it is an important technique for the time-to-digital converter to effectively solve the above problem.
本発明は、環境妨害に起因する不正確な計数結果の問題を緩和し、高い分解能を実現するとともに低い電力消費の利点をもたらすように構成された、高分解能の時間−ディジタル変換器を提供することを目的とする。 The present invention provides a high resolution time-to-digital converter that is configured to alleviate the problem of inaccurate counting results due to environmental disturbances and achieve the advantages of high resolution and low power consumption. For the purpose.
本発明は、カウンタと、基準値発生器と、比較器とを含む、高い分解能の時間−ディジタル変換器を提供する。前記カウンタは、入力信号のパルス幅を計算するために入力信号をクロック信号に基づいてサンプリングする。前記基準値発生器は、基準値を発生するためにルーラー信号を前記クロック信号に基づいてサンプリングする。前記クロック信号の周波数は前記ルーラー信号の周波数より大きく、前記ルーラー信号の周波数は前記入力信号の周波数より大きい。前記比較器は、前記カウンタ及び前記基準値発生器に結合され、計数結果を発生するために前記入力信号のパルス幅と前記基準値とを比較する。 The present invention provides a high-resolution time-to-digital converter that includes a counter, a reference value generator, and a comparator. The counter samples the input signal based on the clock signal to calculate the pulse width of the input signal. The reference value generator samples a ruler signal based on the clock signal to generate a reference value. The frequency of the clock signal is greater than the frequency of the ruler signal, and the frequency of the ruler signal is greater than the frequency of the input signal. The comparator is coupled to the counter and the reference value generator, and compares the pulse width of the input signal with the reference value to generate a counting result.
本発明は更に、位相ロックループ装置と、ダブルエッジ検出回路と、カウンタとを含む、高い分解能の時間−ディジタル変換器を提供する。前記位相ロックループ装置はクロック信号を供給する。前記ダブルエッジ検出回路は、前記位相ロックループ装置に結合され、前記クロック信号の論理レベルを入力信号の立上りエッジ及び立下りエッジに基づいて検出し、前記クロック信号の検出した論理レベルに応答して制御信号を発生する。前記カウンタは、前記位相ロックループ装置と前記ダブルエッジ検出回路とに結合され、前記制御信号に基づいて計数動作を実行するかどうかを決定する。前記カウンタが計数動作を実行するとき、前記カウンタは前記入力信号を前記クロック信号に基づいてサンプリングして前記入力信号に対応する計数結果を出力する。 The present invention further provides a high resolution time-to-digital converter that includes a phase locked loop device, a double edge detection circuit, and a counter. The phase lock loop device provides a clock signal. The double edge detection circuit is coupled to the phase locked loop device, detects a logic level of the clock signal based on a rising edge and a falling edge of an input signal, and responds to the detected logic level of the clock signal. Generate control signals. The counter is coupled to the phase locked loop device and the double edge detection circuit, and determines whether to perform a counting operation based on the control signal. When the counter performs a counting operation, the counter samples the input signal based on the clock signal and outputs a counting result corresponding to the input signal.
上記の説明によれば、本発明の実施形態では、クロックの信号の周波数変化を表すためにルーラー信号に基づいて発生される基準値を使用し、入力信号に対応する計数結果を得るために、入力信号のパルス幅と基準値とを比較してその相対的比率を計算する。このようにすると、環境変化に起因する計数精度への影響を効果的に除去することができ、高い分解能の要件を達成するとともに、良好なエネルギー使用率を達成することができる。 According to the above description, in the embodiment of the present invention, the reference value generated based on the ruler signal is used to represent the frequency change of the clock signal, and the counting result corresponding to the input signal is obtained. The pulse width of the input signal is compared with the reference value, and the relative ratio is calculated. In this way, it is possible to effectively remove the influence on the counting accuracy caused by the environmental change, achieve a high resolution requirement, and achieve a good energy usage rate.
高分解能でフルディジタルの時間−ディジタル変換器（ＴＤＣ）を実現するために、本発明の一実施形態では、クロック信号の周波数変化を示すためにルーラー信号を供給して基準値を発生させ、入力信号に対応する計数結果を得るために、入力信号のパルス幅と基準値を比較してその相対的比率を計算する。この相対的比率を計算することによって、環境変化に起因する計数精度への影響を有効に除去することができる。その上、上記のアーキテクチャは分数部分の計数機能も提供するため、分解能が有効に改善され、良好なエネルギー使用率が達成される。他方、入力信号のエッジ検出に基づいて、入力信号の立上りエッジの検出時に計数機能が活性化されるのに加えて、計数動作を実行するかどうかを、入力信号の立下りエッジの検出時にクロック信号の論理レベルに基づいて決定することができるため、最終ビットの計数精度が改善される。従って、ＴＤＣの総合分解能を向上させることができる。 In order to implement a high-resolution, fully digital time-to-digital converter (TDC), in one embodiment of the present invention, a ruler signal is provided to generate a reference value to indicate the frequency change of the clock signal, and the input In order to obtain the counting result corresponding to the signal, the pulse width of the input signal is compared with the reference value, and the relative ratio is calculated. By calculating this relative ratio, it is possible to effectively remove the influence on the counting accuracy due to the environmental change. In addition, the above architecture also provides a fractional counting function, so resolution is effectively improved and good energy utilization is achieved. On the other hand, based on edge detection of the input signal, the counting function is activated when the rising edge of the input signal is detected, and whether or not the counting operation is executed is determined when the falling edge of the input signal is detected. Since it can be determined based on the logic level of the signal, the counting accuracy of the last bit is improved. Therefore, the overall resolution of TDC can be improved.
図１を参照すると、図１は本発明による高分解能ＴＤＣのブロック略図である。ＴＤＣ１００は、カウンタ１１０と、基準値発生器１２０と、比較器１３０とを備える。比較器１３０はカウンタ１１０と基準値発生器１２０とに結合される。カウンタ１１０は入力信号ＳＩＮをクロック信号ＣＬＫに基づいてサンプリングして入力信号ＳＩＮのパルス幅ＰＷ１を計算する。基準値発生器１２０はルーラー信号ＳＲＵをクロック信号ＣＬＫに基づいてサンプリングして基準値Ｒを発生する。比較器１３０は入力信号ＳＩＮのパルス幅ＳＷ１と基準値Ｒを比較して計数結果ＣＲＥを発生する。 Referring to FIG. 1, FIG. 1 is a block schematic diagram of a high resolution TDC according to the present invention. The TDC 100 includes a counter 110, a reference value generator 120, and a comparator 130. Comparator 130 is coupled to counter 110 and reference value generator 120. The counter 110 samples the input signal SIN based on the clock signal CLK and calculates the pulse width PW1 of the input signal SIN. The reference value generator 120 samples the ruler signal SRU based on the clock signal CLK to generate a reference value R. The comparator 130 compares the pulse width SW1 of the input signal SIN with the reference value R and generates a counting result CRE.
本実施形態では、クロック信号ＣＬＫの周波数はルーラー信号ＳＲＵの周波数より大きくし、ルーラー信号ＳＲＵの周波数は入力信号ＳＩＮの周波数より大きくすることができる。従って、本実施形態では、ルーラー信号ＳＲＵと入力信号ＳＩＮはそれぞれクロック信号に基づいてサンプリングすることができ、基準値Ｒに対する入力信号ＳＩＮのパルス幅ＰＷ１の比率（この比率は以後相対的比率と言う）を計算して入力信号ＳＩＮの計数結果ＣＲＥとして出力することができる。 In the present embodiment, the frequency of the clock signal CLK can be greater than the frequency of the ruler signal SRU, and the frequency of the ruler signal SRU can be greater than the frequency of the input signal SIN. Therefore, in this embodiment, the ruler signal SRU and the input signal SIN can be sampled based on the clock signal, respectively, and the ratio of the pulse width PW1 of the input signal SIN to the reference value R (this ratio is hereinafter referred to as a relative ratio). ) Can be calculated and output as the counting result CRE of the input signal SIN.
基準値発生器１２０は、ルーラー信号ＳＲＵをクロック信号ＣＬＫに基づいてサンプリングしてルーラー信号ＳＲＵのパルス幅を計算し、ルーラー信号ＳＲＵのパルス幅をルーラー信号ＳＲＵに従って周期的にラッチして基準値Ｒを発生することに留意されたい。即ち、環境パラメータとともに変化されるクロック信号ＣＬＫの変化が基準値Ｒにリアルタイムに反映され得る。その後、比較器１３０が入力信号ＳＩＮのパルス幅ＰＷ１を調整された基準値Ｒに基づいて計数するため、環境変化に起因する計数精度への妨害を有効に除去することができる。 The reference value generator 120 samples the ruler signal SRU based on the clock signal CLK to calculate the pulse width of the ruler signal SRU, and periodically latches the pulse width of the ruler signal SRU in accordance with the ruler signal SRU to generate the reference value R. Note that this occurs. That is, the change of the clock signal CLK that is changed along with the environmental parameter can be reflected in the reference value R in real time. After that, since the comparator 130 counts the pulse width PW1 of the input signal SIN based on the adjusted reference value R, it is possible to effectively remove the disturbance to the counting accuracy due to the environmental change.
更に、ルーラー信号ＳＲＵのパルス幅は、例えば所定の容量変化に基づいて決定される。所定の容量変化は所定値としてもよく、またユーザにより設定可能にしてもよい。このようなアーキテクチャの下では、ルーラー信号ＳＲＵは差分容量検出回路及び容量−時間変換器によって発生させることができる。具体的に言うと、差分容量検出回路を用いて上述した所定の容量変化を検出し、所定の容量変化に対応する検出信号をディジタルフォーマットで出力することができる。その後、容量−時間変換器は上述した検出信号をルーラー信号ＳＲＵのパルス幅に変換し、発生したルーラー信号ＳＲＵをＴＤＣ１００に供給する。同様に、入力信号ＳＩＮも、例えば差分容量検出回路によって検出される容量変化に基づいて決定される。それゆえ、別の態様では、本実施形態のＴＤＣ１００は容量読取回路とみなすこともでき、ルーラー信号ＳＲＵの上記の実装はほんの一例にすぎず、本発明はこれに限定されない。 Further, the pulse width of the ruler signal SRU is determined based on, for example, a predetermined capacity change. The predetermined capacity change may be a predetermined value or may be set by the user. Under such an architecture, the ruler signal SRU can be generated by a differential capacitance detection circuit and a capacitance-time converter. Specifically, it is possible to detect the above-described predetermined capacitance change using the differential capacitance detection circuit and output a detection signal corresponding to the predetermined capacitance change in a digital format. Thereafter, the capacity-time converter converts the detection signal described above into the pulse width of the ruler signal SRU, and supplies the generated ruler signal SRU to the TDC 100. Similarly, the input signal SIN is determined based on a change in capacitance detected by, for example, a differential capacitance detection circuit. Therefore, in another aspect, the TDC 100 of the present embodiment can be regarded as a capacitive reading circuit, and the above-described implementation of the ruler signal SRU is only an example, and the present invention is not limited thereto.
ところで、実際の応用では、クロック信号ＣＬＫは全ディジタル位相ロックループ装置又は他の周波数発生器によって供給することができるが、これは本発明によって限定されない。 By the way, in practical applications, the clock signal CLK can be supplied by an all-digital phase-locked loop device or other frequency generator, but this is not limited by the present invention.
図２を参照すると、図２は本発明の別の実施形態による高分解能ＴＤＣのブロック略図である。ＴＤＣ２００は、カウンタ２１０と、基準値発生器と、比較器と、ＡＮＤゲート２４０，２５０とを含む。ＡＮＤゲート２４０はカウンタ２１０に結合され、ＡＮＤゲート２５０は基準値発生器に結合される。更に、基準値発生器は、カウンタ２２２と、ラッチ２２４と、遅延回路２２６とを含み、比較器は比較回路２３２とカウンタ２３４及び２３６とを含むことができる。 Referring to FIG. 2, FIG. 2 is a block schematic diagram of a high resolution TDC according to another embodiment of the present invention. TDC 200 includes a counter 210, a reference value generator, a comparator, and AND gates 240 and 250. AND gate 240 is coupled to counter 210 and AND gate 250 is coupled to a reference value generator. Further, the reference value generator can include a counter 222, a latch 224, and a delay circuit 226, and the comparator can include a comparison circuit 232 and counters 234 and 236.
本実施形態では、ＡＮＤゲート２４０はクロック信号ＣＬＫと入力信号ＳＩＮを受信し、サンプリング結果ＳＳ１を出力し、カウンタ２１０のクロック入力端子ＣＫに供給する。従って、カウンタ２１０はサンプリング結果ＳＳ１に含まれる複数のパルスに基づいて入力信号ＳＩＮのパルス幅ＰＷ１を決定することができる。入力信号ＳＩＮのパルス幅ＰＷ１は、例えばサンプリング結果ＳＳ１に含まれるパルスの数により決定される。 In the present embodiment, the AND gate 240 receives the clock signal CLK and the input signal SIN, outputs the sampling result SS1, and supplies it to the clock input terminal CK of the counter 210. Therefore, the counter 210 can determine the pulse width PW1 of the input signal SIN based on the plurality of pulses included in the sampling result SS1. The pulse width PW1 of the input signal SIN is determined by, for example, the number of pulses included in the sampling result SS1.
他方、ＡＮＤゲート２５０はクロック信号ＣＬＫとルーラー信号ＳＲＵを受信し、サンプリング結果ＳＳ２を出力し、基準値発生器のクロック入力端子（例えば、カウンタ２２２のクロック入力端子）に供給する。従って、基準値発生器はサンプリング結果ＳＳ２に含まれる複数のパルスに基づいて基準値Ｒを計算し、発生する。同様に、基準値Ｒの値もサンプリング結果ＳＳ２に含まれるパルスの数に基づいて決定される。 On the other hand, the AND gate 250 receives the clock signal CLK and the ruler signal SRU, outputs the sampling result SS2, and supplies it to the clock input terminal of the reference value generator (for example, the clock input terminal of the counter 222). Accordingly, the reference value generator calculates and generates the reference value R based on the plurality of pulses included in the sampling result SS2. Similarly, the value of the reference value R is determined based on the number of pulses included in the sampling result SS2.
基準値発生器の詳細な回路に関して言えば、本実施形態では、カウンタ２２２がＡＮＤゲート２５０に結合され、ラッチ２２４がカウンタ２２２と比較回路２３２との間に結合され、遅延回路２２６がカウンタ２２２とラッチ２２４に結合される。 Regarding the detailed circuit of the reference value generator, in this embodiment, the counter 222 is coupled to the AND gate 250, the latch 224 is coupled between the counter 222 and the comparison circuit 232, and the delay circuit 226 is coupled to the counter 222. Coupled to latch 224.
具体的に言うと、カウンタ２２２はＡＮＤゲート２５０により出力されるサンプリング結果ＳＳ２をクロック入力端子ＣＫに受信し、ルーラー信号ＳＲＵをクロック信号ＣＬＫに基づいてサンプリングしてルーラー信号ＳＲＵのパルス幅ＰＷ２を計算する。更に、カウンタ２２２はルーラー信号ＳＲＵの反転信号に従ってリセット動作を実行する。 Specifically, the counter 222 receives the sampling result SS2 output from the AND gate 250 at the clock input terminal CK, samples the ruler signal SRU based on the clock signal CLK, and calculates the pulse width PW2 of the ruler signal SRU. To do. Further, the counter 222 performs a reset operation according to the inverted signal of the ruler signal SRU.
ラッチ２２４は、ルーラー信号ＳＲＵのパルス幅ＰＷ２を基準値Ｒとして機能するように送信することを決定すること、即ちルーラー信号ＳＲＵのパルス幅ＰＷ２をラッチして基準値Ｒをルーラー信号ＳＲＵの論理レベルに従って発生させることを決定することができる。 The latch 224 decides to transmit the pulse width PW2 of the ruler signal SRU so as to function as the reference value R, that is, latches the pulse width PW2 of the ruler signal SRU and sets the reference value R to the logic level of the ruler signal SRU. Can be determined according to
遅延回路２２６はルーラー信号ＳＲＵを受信し、ルーラー信号ＳＲＵを連続的に遅延してラッチイネーブル信号ＬＡＴＥＮ及びカウンタリセット信号ＣＴＲＥＳをそれぞれ発生する。遅延回路２２６はラッチイネーブル信号ＬＡＴＥＮをラッチ２２４のイネーブル端子ＥＮに出力し、カウンタリセット信号ＣＴＲＥＳをカウンタ２２２のリセット端子ＲＮに出力する。本実施形態では、遅延回路２２６は互いに直列に接続されたバッファＢＵＦ１及びＢＵＦ２を含み得る。バッファＢＵＦ１の入力端子はルーラー信号ＳＲＵを受信し、バッファＢＵＦ１の出力端子はラッチイネーブル信号ＬＡＴＥＮを発生する。更に、バッファＢＵＦ２の入力端子はバッファＢＵＦ１の出力端子に結合され、バッファＢＵＦ２出力端子はカウンタリセット信号ＣＴＲＥＳを発生する。 The delay circuit 226 receives the ruler signal SRU and continuously delays the ruler signal SRU to generate a latch enable signal LATEN and a counter reset signal CTRES, respectively. The delay circuit 226 outputs the latch enable signal LATEN to the enable terminal EN of the latch 224, and outputs the counter reset signal CTRES to the reset terminal RN of the counter 222. In the present embodiment, the delay circuit 226 may include buffers BUF1 and BUF2 connected in series with each other. The input terminal of the buffer BUF1 receives the ruler signal SRU, and the output terminal of the buffer BUF1 generates a latch enable signal LATEN. Further, the input terminal of the buffer BUF2 is coupled to the output terminal of the buffer BUF1, and the buffer BUF2 output terminal generates a counter reset signal CTRES.
実際の応用では、ラッチ２２４は、例えばＤ型フリップフロップである。更に、他の実施形態では、ラッチ２２４はデータラッチ機能を有する他の回路装置で実装することもでき、遅延回路２２６により発生されるラッチイネーブル信号ＬＡＴＥＮ及びカウンタリセット信号ＣＴＲＥＳはラッチ２２４の実装に適応して調整することができる。 In actual application, the latch 224 is, for example, a D-type flip-flop. Further, in another embodiment, the latch 224 can be implemented by other circuit devices having a data latch function, and the latch enable signal LATEN and the counter reset signal CTRES generated by the delay circuit 226 are adapted to the implementation of the latch 224. Can be adjusted.
比較器の詳細な回路に関しては、本実施形態では、比較回路２３２がカウンタ２１０と基準値発生器とに結合され、カウンタ２３４が比較回路２３２に結合され、カウンタ２３６が比較回路２３２と基準値発生器とに結合される。 As for the detailed circuit of the comparator, in the present embodiment, the comparison circuit 232 is coupled to the counter 210 and the reference value generator, the counter 234 is coupled to the comparison circuit 232, and the counter 236 is coupled to the comparison circuit 232 and the reference value generator. Combined with the vessel.
更に、比較回路２３２は基準値Ｒとパルス幅ＰＷ１を比較して比較結果ＣＯＭＰを出力し、カウンタ２３４は比較結果ＣＯＭＰをそのクロック入力端子ＣＫから受信し、比較結果ＣＯＭＰを計数して、パルス幅ＰＷ１に対して基準値Ｒによって除算演算を実行することによって得られた商Ｑを発生する。商Ｑは計数結果ＣＲＥの整数部である。更に、パルス幅ＰＷ１に対して基準値Ｒによって除算演算を実行することによって得られた余りが０でないとき、カウンタ２３６がイネーブルされる。カウンタ２３６がイネーブルされると、カウンタ２３６は余りと基準値Ｒを比較することによって計数結果ＣＲＥの分数部分Ｆを決定する。本実施形態では、カウンタ２３６は、例えば、余りが基準値Ｒの半分より大きいかどうかを比較して計数結果ＣＲＥの分数部分Ｆを決定する。言い換えれば、カウンタ２３６は計数結果の１０分の１の単位（即ち小数点以下の数）を丸め方法で決定することができる。また、他の実施形態では、カウンタ２３６は余りと基準値Ｒとの比を計算して計数結果ＣＲＥの分数部分Ｆの値を決定することもできる。分数部分の計算の実装例は当業者に知られているので、その詳細な説明は省略する。 Further, the comparison circuit 232 compares the reference value R with the pulse width PW1 and outputs the comparison result COMP. The counter 234 receives the comparison result COMP from its clock input terminal CK, counts the comparison result COMP, and calculates the pulse width. A quotient Q obtained by performing a division operation on the PW1 by the reference value R is generated. The quotient Q is the integer part of the counting result CRE. Further, the counter 236 is enabled when the remainder obtained by performing the division operation on the pulse width PW1 by the reference value R is not zero. When the counter 236 is enabled, the counter 236 determines the fractional part F of the counting result CRE by comparing the remainder with the reference value R. In the present embodiment, the counter 236 determines, for example, whether the remainder is greater than half of the reference value R, and determines the fractional part F of the counting result CRE. In other words, the counter 236 can determine a unit of 1/10 of the counting result (that is, the number after the decimal point) by the rounding method. In another embodiment, the counter 236 can also calculate the ratio of the remainder to the reference value R to determine the value of the fractional part F of the counting result CRE. Since implementation examples of calculation of the fractional part are known to those skilled in the art, a detailed description thereof will be omitted.
余りが０であるかどうかを決定するステップは比較回路２３２で実行できることに留意されたい。また、他の実施形態では、余りが０であるかどうかを決定するステップはカウンタ２３６で実行することもでき、これは本発明により限定されない。 Note that the step of determining whether the remainder is zero can be performed by the comparison circuit 232. In other embodiments, the step of determining whether the remainder is zero can also be performed by the counter 236, which is not limited by the present invention.
また、ＴＤＣ２００は更にバッファＢＵＦ３を含むことができる。バッファＢＵＦ３の入力端子は比較回路２３２の出力端子に結合し、バッファＢＵＦ３の出力端子はカウンタ２１０のリセット入力端子ＲＮに結合して、カウンタ２１０はリセット動作を比較回路２３２により出力される比較結果ＣＯＭＰに従って実行するようにし得る。本実施形態では、リセット端子ＲＮは、例えば比較結果ＣＯＭＰの反転信号を受信する。 Further, the TDC 200 can further include a buffer BUF3. The input terminal of the buffer BUF3 is coupled to the output terminal of the comparison circuit 232, the output terminal of the buffer BUF3 is coupled to the reset input terminal RN of the counter 210, and the counter 210 performs a reset operation by the comparison circuit 232. You can make it run according to. In the present embodiment, the reset terminal RN receives, for example, an inverted signal of the comparison result COMP.
ＴＤＣ２００の動作の詳細は図２及び図３を参照して以下に詳細に説明される。図３は、本発明の一実施形態による高分解能ＴＤＣの信号波形図である。入力信号ＳＩＮはパルスＰ１を含むことができ、パルスＰ１の幅はパルス幅ＰＷ１である。ルーラー信号ＳＲＵはパルスＰ２及びＰ３を含むことができ、パルスＰ２及びＰ３の幅はそれぞれパルス幅ＰＷ２１及びＰＷ２２である。パルス期間中は、入力信号ＳＩＮ及びルーラー信号ＳＲＵの論理レベルは、例えば高論理レベルであり、非パルス期間中は、入力信号ＳＩＮ及びルーラー信号ＳＲＵの論理レベルは、例えば低論理レベルである。 Details of the operation of the TDC 200 will be described in detail below with reference to FIGS. FIG. 3 is a signal waveform diagram of a high resolution TDC according to an embodiment of the present invention. The input signal SIN can include a pulse P1, and the width of the pulse P1 is the pulse width PW1. The ruler signal SRU can include pulses P2 and P3, and the widths of the pulses P2 and P3 are the pulse widths PW21 and PW22, respectively. During the pulse period, the logic level of the input signal SIN and the ruler signal SRU is, for example, a high logic level, and during the non-pulse period, the logic level of the input signal SIN and the ruler signal SRU is, for example, a low logic level.
更に、サンプリング結果ＳＳ１は、ＡＮＤゲート２４０により入力信号ＳＩＮをクロック信号ＣＬＫに従ってサンプリングすることによって発生され、サンプリング結果ＳＳ２は、ＡＮＤゲート２５０によりルーラー信号ＳＲＵをクロック信号ＣＬＫに基づいてサンプリングすることによって発生される。環境パラメータの変化はクロック信号ＣＬＫの周波数に反映されるため、サンプリング結果ＳＳ１及びＳＳ２の周波数もそれに応じて変化される。例えば、パルス幅ＰＷ１の区分Ｔ１内のサンプリング結果ＳＳ１の周波数はパルス幅ＰＷ１の区分Ｔ２内のサンプリング結果ＳＳ１の周波数と異なり、パルス幅ＰＷ２１内のサンプリング結果ＳＳ２の周波数はパルス幅ＰＷ２２内のサンプリング結果ＳＳ２の周波数と異なる。更に、区分Ｔ１内のサンプリング結果ＳＳ１の周波数はパルス幅ＰＷ２１内のサンプリング結果ＳＳ２の周波数に同一であり、区分Ｔ２内のサンプリング結果ＳＳ１の周波数はパルス幅ＰＷ２２内のサンプリング結果ＳＳ２の周波数に同一であり得る。従って、本実施形態では、クロック信号ＣＬＫの周波数変化をリアルタイムに反映するために、ルーラー信号ＳＲＵのパルス幅ＰＷ２１及びＰＷ２２に従ってそれぞれ計算される基準値Ｒ１及びＲ２を採用することができ、入力信号ＳＩＮのパルス幅ＰＷ１に対応する計数結果を得るために、区分Ｔ１及び区分Ｔ２の幅をそれぞれ基準値Ｒ１及びＲ２を用いて相対的比率の形で計算する。 Further, the sampling result SS1 is generated by sampling the input signal SIN according to the clock signal CLK by the AND gate 240, and the sampling result SS2 is generated by sampling the ruler signal SRU based on the clock signal CLK by the AND gate 250. Is done. Since the change in the environmental parameter is reflected in the frequency of the clock signal CLK, the frequencies of the sampling results SS1 and SS2 are also changed accordingly. For example, the frequency of the sampling result SS1 in the section T1 having the pulse width PW1 is different from the frequency of the sampling result SS1 in the section T2 having the pulse width PW1, and the frequency of the sampling result SS2 in the pulse width PW21 is the sampling result in the pulse width PW22. Different from the frequency of SS2. Furthermore, the frequency of the sampling result SS1 in the section T1 is the same as the frequency of the sampling result SS2 in the pulse width PW21, and the frequency of the sampling result SS1 in the section T2 is the same as the frequency of the sampling result SS2 in the pulse width PW22. possible. Therefore, in this embodiment, in order to reflect the frequency change of the clock signal CLK in real time, the reference values R1 and R2 calculated according to the pulse widths PW21 and PW22 of the ruler signal SRU, respectively, can be adopted, and the input signal SIN In order to obtain the counting result corresponding to the pulse width PW1, the widths of the sections T1 and T2 are calculated in the form of relative ratios using the reference values R1 and R2, respectively.
具体的に言うと、サンプリング結果ＳＳ１はパルス幅ＰＷ１を計算するためにカウンタ２１０に送信され、サンプリング結果ＳＳ２はパルス幅ＰＷ２１及びＰＷ２２を計算するためにカウンタ２２２に送信され、パルス幅ＰＷ２１及びＰＷ２２は基準値Ｒ１及びＲ２を発生するためにラッチ２２４に送信される。基準値Ｒ１及びＲ２はそれぞれパルス幅ＰＷ２１及びＰＷ２２内に含まれるサンプリング結果ＳＳ２のパルスの数に基づいて決定されるため、本実施形態では、基準値Ｒ１は例えば３であり、基準値Ｒ２は例えば２である。 Specifically, the sampling result SS1 is sent to the counter 210 to calculate the pulse width PW1, the sampling result SS2 is sent to the counter 222 to calculate the pulse widths PW21 and PW22, and the pulse widths PW21 and PW22 are Sent to latch 224 to generate reference values R1 and R2. Since the reference values R1 and R2 are determined based on the number of pulses of the sampling result SS2 included in the pulse widths PW21 and PW22, respectively, in this embodiment, the reference value R1 is 3, for example, and the reference value R2 is, for example, 2.
更に、基準値Ｒ１及びＲ２はルーラー信号ＳＲＵのパルス幅を周期的にラッチすることによって発生させることができる。図２の実施形態によれば、ルーラー信号ＳＲＵは遅延回路２２６のバッファＢＵＦ１に送信することができ、バッファＢＵＦ１はルーラー信号ＳＲＵを遅延してラッチ２２４のラッチイネーブル信号ＬＡＴＥＮを発生し、バッファＢＵＦ２はラッチイネーブル信号ＬＡＴＥＮを遅延してカウンタ２２２のカウンタリセット信号ＣＴＲＥＳを発生する。従って、ルーラー信号ＳＲＵのパルスＰ２を例に取ると、ラッチ２２４はカウンタ２２２により計算されたパルス幅ＰＷ２１に対してラッチ動作を実行して基準値Ｒ１を発生し、基準値Ｒ１を比較回路２３２に供給し続けるため、比較回路２３２は基準値Ｒ１に基づいてパルス幅ＰＷ１の区分Ｔ１に対して比較動作を実行することができる。同様に、ルーラー信号ＳＲＵのパルスＰ３に関しては、ラッチ２２４はカウンタ２２２により計算されたパルス幅ＰＷ２２に対してラッチ動作を実行して基準値Ｒ２を発生し、基準値Ｒ２を比較回路２３２に供給し続けるため、比較回路２３２は基準値Ｒ２に基づいてパルス幅ＰＷ１の区分Ｔ２に対して比較動作を実行することができる。 Furthermore, the reference values R1 and R2 can be generated by periodically latching the pulse width of the ruler signal SRU. According to the embodiment of FIG. 2, the ruler signal SRU can be transmitted to the buffer BUF1 of the delay circuit 226, the buffer BUF1 delays the ruler signal SRU to generate the latch enable signal LATEN of the latch 224, and the buffer BUF2 The latch enable signal LATEN is delayed to generate the counter reset signal CTRES of the counter 222. Therefore, taking the pulse P2 of the ruler signal SRU as an example, the latch 224 performs a latch operation on the pulse width PW21 calculated by the counter 222 to generate the reference value R1, and supplies the reference value R1 to the comparison circuit 232. Since the supply continues, the comparison circuit 232 can execute the comparison operation on the section T1 having the pulse width PW1 based on the reference value R1. Similarly, for the pulse P 3 of the ruler signal SRU, the latch 224 performs a latch operation on the pulse width PW 22 calculated by the counter 222 to generate the reference value R 2, and supplies the reference value R 2 to the comparison circuit 232. In order to continue, the comparison circuit 232 can execute the comparison operation on the section T2 having the pulse width PW1 based on the reference value R2.
カウンタ２２２はリセット信号ＣＴＲＥＳの反転信号に基づいてリセット動作を実行することができる。即ち、ルーラー信号ＳＲＵが高論理レベルから低論理レベルへ変化すると、カウンタ２２２はルーラー信号ＳＲＵの計算されたパルス幅をクリアし、ルーラー信号ＳＲＵが次のパルスを入力するとき、ルーラー信号ＳＲＵのパルス幅を再計算することができる。 The counter 222 can execute a reset operation based on an inverted signal of the reset signal CTRES. That is, when the ruler signal SRU changes from a high logic level to a low logic level, the counter 222 clears the calculated pulse width of the ruler signal SRU, and when the ruler signal SRU inputs the next pulse, the pulse of the ruler signal SRU. The width can be recalculated.
本実施形態では、基準値Ｒ１がパルス幅ＰＷ１の区分Ｔ１との比較に使用され、得られる区分Ｔ１と基準値Ｒ１の相対的比率は４である。また、基準値Ｒ２がパルス幅ＰＷ１の区分Ｔ２との比較に使用され、得られる区分Ｔ２と基準値Ｒ２の相対的比率は３と４の間である。上記の動作は除算演算に相当し、カウンタ２３４は比較回路２３２の比較結果ＣＯＭＰに従って上記の除算演算の商Ｑ（例えば７）を計数結果ＣＲＥの整数部として出力する。計数結果ＣＲＥの分数部分Ｆに関しては、基準値Ｒ２を上記の除算演算の余りに対応する区分ＴＳと比較することができる。本実施形態では、区分ＴＳは基準値Ｒ２の半分より大きいため、カウンタ２３６は計数結果ＣＲＥの小数点以下の数に従って５を計数結果ＣＲＥの分数部分Ｆとして出力する。他方、区分ＴＳが基準値Ｒ２の半分より小さい場合には、カウンタ２３６は計数結果ＣＲＥの分数部分Ｆとして０を出力する。言い換えれば、上記の決定メカニズムは小数点以下の数の計数機能を実現するために丸めを採用することができる。 In the present embodiment, the reference value R1 is used for comparison with the section T1 having the pulse width PW1, and the relative ratio between the section T1 and the reference value R1 obtained is 4. Further, the reference value R2 is used for comparison with the section T2 having the pulse width PW1, and the relative ratio of the obtained section T2 and the reference value R2 is between 3 and 4. The above operation corresponds to a division operation, and the counter 234 outputs the quotient Q (for example, 7) of the above division operation as an integer part of the count result CRE according to the comparison result COMP of the comparison circuit 232. For the fractional part F of the counting result CRE, the reference value R2 can be compared with the section TS corresponding to the remainder of the division operation. In this embodiment, since the section TS is larger than half of the reference value R2, the counter 236 outputs 5 as the fractional part F of the count result CRE according to the number after the decimal point of the count result CRE. On the other hand, when the section TS is smaller than half of the reference value R2, the counter 236 outputs 0 as the fractional part F of the counting result CRE. In other words, the decision mechanism described above can employ rounding to implement a decimal counting function.
図４を参照すると、図４は本発明の別の実施形態による高分解能ＴＤＣのブロック略図である。ＴＤＣ４００は、位相ロックループ装置４１０と、ダブルエッジ検出回路４２０と、カウンタ４３０とを含む。ダブルエッジ検出回路４２０は位相ロックループ装置４１０に結合され、カウンタ４３０は位相ロックループ装置４２０とダブルエッジ検出回路４２０とに結合される。 Referring to FIG. 4, FIG. 4 is a block schematic diagram of a high resolution TDC according to another embodiment of the present invention. The TDC 400 includes a phase lock loop device 410, a double edge detection circuit 420, and a counter 430. Double edge detection circuit 420 is coupled to phase locked loop device 410 and counter 430 is coupled to phase locked loop device 420 and double edge detection circuit 420.
本実施形態では、位相ロックループ装置４１０はクロック信号ＣＬＫを供給し得る。ダブルエッジ検出回路４２０は、クロック信号の論理レベルを入力信号ＳＩＮの立上りエッジ及び立下りエッジに従って検出し、クロック信号ＣＬＫの検出論理レベルに応答して制御信号ＣＴＬを発生する。カウンタ４３０は制御信号ＣＴＬに基づいて計数動作を実行するかどうかを決定することができる。カウンタ４３０が計数動作を実行するとき、カウンタ４３０は入力信号ＳＩＮをクロック信号ＣＬＫに従ってサンプリングして入力信号ＳＩＮに対応する計数結果ＣＲＥを出力する。 In this embodiment, the phase locked loop device 410 can supply the clock signal CLK. The double edge detection circuit 420 detects the logic level of the clock signal according to the rising edge and the falling edge of the input signal SIN, and generates the control signal CTL in response to the detection logic level of the clock signal CLK. The counter 430 can determine whether to perform a counting operation based on the control signal CTL. When the counter 430 performs a counting operation, the counter 430 samples the input signal SIN according to the clock signal CLK and outputs a counting result CRE corresponding to the input signal SIN.
具体的に言うと、ダブルエッジ検出回路４２０は、例えばＤ型フリップフロップで実装される。このようなアーキテクチャの下では、Ｄ型フリップフロップのクロック入力端子が入力信号ＳＩＮを受信し、Ｄ型フリップフロップの出力端子が制御信号ＣＴＬを出力する。もちろん、ダブルエッジ検出回路４２０は他のタイプのフリップフロップ又は信号遷移を検出し得る他の回路で実装してもよいが、本発明はこれに限定されない。 Specifically, the double edge detection circuit 420 is implemented by, for example, a D-type flip-flop. Under such an architecture, the clock input terminal of the D-type flip-flop receives the input signal SIN, and the output terminal of the D-type flip-flop outputs the control signal CTL. Of course, the double edge detection circuit 420 may be implemented with other types of flip-flops or other circuits capable of detecting signal transitions, but the invention is not so limited.
ＴＤＣ４００の動作の詳細は図４及び図５を参照して説明される。図５は本発明の別の実施形態による高分解能ＴＤＣの信号波形図である。本実施形態では、入力信号ＳＩＮはパルスＰ１を含み、パルスＰ１は、例えば高論理レベルを有する。更に、クロック信号ＣＬＫ１及びＣＬＫ２はそれぞれ複数のパルスを含み得る。 Details of the operation of the TDC 400 will be described with reference to FIGS. FIG. 5 is a signal waveform diagram of a high resolution TDC according to another embodiment of the present invention. In the present embodiment, the input signal SIN includes a pulse P1, and the pulse P1 has, for example, a high logic level. Furthermore, each of the clock signals CLK1 and CLK2 may include a plurality of pulses.
ここでクロック信号ＣＬＫ１について説明する。ダブルエッジ検出回路４２０が入力信号ＳＩＮの立上りエッジを時点ＴＰ１で検出した後で、入力信号ＳＩＮが高論理レベルを有する期間の間、ダブルエッジ検出回路４２０はそれに対応して制御信号ＣＴＬをクロック信号ＣＬＫ１の論理レベルに従って発生し始める。カウンタ４３０はそのイネーブル入力端子ＥＮに制御信号ＣＴＬを受信し、制御信号ＣＴＬの論理レベルに従ってイネーブルされる。例えば、カウンタ４３０は、制御信号ＣＴＬが高論理レベルを有するときにイネーブルされ、カウンタ４３０がイネーブルされるとき、カウンタ４３０はクロック信号ＣＬＫの論理レベルに応じて計数動作を実行する。 Here, the clock signal CLK1 will be described. After the double edge detection circuit 420 detects the rising edge of the input signal SIN at the time TP1, during the period when the input signal SIN has a high logic level, the double edge detection circuit 420 correspondingly outputs the control signal CTL to the clock signal. It starts to occur according to the logic level of CLK1. The counter 430 receives the control signal CTL at its enable input terminal EN and is enabled according to the logic level of the control signal CTL. For example, the counter 430 is enabled when the control signal CTL has a high logic level, and when the counter 430 is enabled, the counter 430 performs a counting operation according to the logic level of the clock signal CLK.
他方、ダブルエッジ検出回路４２０が入力信号ＳＩＮの立下りエッジを時点ＴＰ２で検出するとき、ダブルエッジ検出回路４２０はそれに対応して制御信号ＣＴＬをクロック信号ＣＬＫ１の論理レベルに従って発生する。本実施形態では、クロック信号ＣＬＫ１の一周期ＴＣＫは２つの隣接するパルスの立上りエッジに基づいて決定し得る。上記の状態下において、時点ＴＰ２において、クロック信号ＣＬＫ１が高論理レベルを有する場合には、時点ＴＰ１とＴＰ２との間のクロック信号ＣＬＫ１の最終区分ＴＬＡＳＴ１はクロック信号ＣＬＫ１の一周期ＴＣＫの半分より小さいことを意味するため、区分ＴＬＡＳＴ１を計数する必要はない。このとき、ダブルエッジ検出回路４２０により出力される制御信号ＣＴＬは、例えば低論理レベルを有する。 On the other hand, when the double edge detection circuit 420 detects the falling edge of the input signal SIN at the time point TP2, the double edge detection circuit 420 correspondingly generates the control signal CTL according to the logic level of the clock signal CLK1. In the present embodiment, one cycle TCK of the clock signal CLK1 can be determined based on the rising edges of two adjacent pulses. Under the above state, when the clock signal CLK1 has a high logic level at the time point TP2, the final section TLAST1 of the clock signal CLK1 between the time points TP1 and TP2 is smaller than half of one cycle TCK of the clock signal CLK1. This means that it is not necessary to count the partition TLAST1. At this time, the control signal CTL output by the double edge detection circuit 420 has, for example, a low logic level.
クロック信号ＣＬＫ２を例として取ると、時点ＴＰ２において、クロック信号ＣＬＫ２は低レベルを有する。即ち、時点ＴＰ１とＴＰ２との間のクロック信号ＣＬＫ２の最終区分ＴＬＡＳＴ２はクロック信号ＣＬＫ１の一周期の半分以上であるため、区分ＴＬＡＳＴ２に従って計数動作を実行することができる。 Taking the clock signal CLK2 as an example, at the time TP2, the clock signal CLK2 has a low level. That is, since the last section TLAST2 of the clock signal CLK2 between the time points TP1 and TP2 is more than half of one cycle of the clock signal CLK1, the counting operation can be performed according to the section TLAST2.
このように、入力信号ＳＩＮの立上りエッジＲＥが検出されるときに計数動作を実行するのに加えて、入力信号ＳＩＮの立下りエッジＦＥに対応するクロック信号の論理レベルを更に決定し、計数動作を実行するかどうかを決定することができる。このようにすると、ＴＤＣ４００の計数精度を効果的に向上させることができる。 Thus, in addition to performing the counting operation when the rising edge RE of the input signal SIN is detected, the logic level of the clock signal corresponding to the falling edge FE of the input signal SIN is further determined, and the counting operation is performed. You can decide whether to perform. In this way, the counting accuracy of the TDC 400 can be effectively improved.
本発明のいくつかの実施形態では、上述のダブルエッジ検出回路は図１及び図２の実施形態に適用することもできる。図６を参照すると、図６は本発明の別の実施形態による高分解能ＴＤＣのブロック略図である。本実施形態のＴＤＣ６００は図１の実施形態のアーキテクチャに基づいており、その動作の詳細は上記の実施形態に類似するため、その詳細は省略する。本実施形態のＴＤＣ６００は更にダブルエッジ検出回路６４０及び６５０を含む。ダブルエッジ検出回路６４０はカウンタ６１０に結合され、ダブルエッジ検出回路６５０は基準値発生器６２０に結合される。ダブルエッジ検出回路６４０はクロック信号ＣＬＫの論理レベルを入力信号ＳＩＮの立上りエッジ及び立下りエッジで検出し、クロック信号ＣＬＫの検出論理レベルに応答して制御信号ＣＴＬ１を発生するため、カウンタ６１０は制御信号ＣＴＬ１に従って計数動作を実行するかどうかを決定する。例えば、ダブルエッジ検出回路６４０は制御信号ＣＴＬ１をカウンタ６１０のイネーブル端子に供給してカウンタ６１０の動作を制御し、パルス幅ＰＷ１を計算する精度を効果的に改善することができる。ダブルエッジ検出回路６４０は、例えばＤ型フリップフロップで実装される。 In some embodiments of the present invention, the double edge detection circuit described above can also be applied to the embodiments of FIGS. Referring to FIG. 6, FIG. 6 is a block schematic diagram of a high resolution TDC according to another embodiment of the present invention. The TDC 600 of the present embodiment is based on the architecture of the embodiment of FIG. The TDC 600 of this embodiment further includes double edge detection circuits 640 and 650. Double edge detection circuit 640 is coupled to counter 610, and double edge detection circuit 650 is coupled to reference value generator 620. The double edge detection circuit 640 detects the logic level of the clock signal CLK at the rising edge and the falling edge of the input signal SIN, and generates the control signal CTL1 in response to the detection logic level of the clock signal CLK. It is determined whether to perform a counting operation according to the signal CTL1. For example, the double edge detection circuit 640 can control the operation of the counter 610 by supplying the control signal CTL1 to the enable terminal of the counter 610, and can effectively improve the accuracy of calculating the pulse width PW1. The double edge detection circuit 640 is implemented by a D-type flip-flop, for example.
他方、ダブルエッジ検出回路６５０はクロック信号ＣＬＫの論理レベルをルーラー信号ＳＲＵの立上りエッジ及び立下りエッジで検出し、クロック信号ＣＬＫの検出論理レベルに応答して制御信号ＣＴＬ２を発生するため、基準値発生器６２０は制御信号ＣＴＬ２に従って計数動作を実行するかどうかを決定することができる。例えば、ダブルエッジ検出回路６５０は制御信号ＣＴＬ２を基準値発生器６２０内のカウンタのイネーブル端子に供給してそのカウンタの動作を制御し、基準値Ｒを計算する精度を効果的に改善することができる。ダブルエッジ検出回路６５０は、例えばＤ型フリップフロップで実装される。 On the other hand, the double edge detection circuit 650 detects the logic level of the clock signal CLK at the rising edge and the falling edge of the ruler signal SRU and generates the control signal CTL2 in response to the detection logic level of the clock signal CLK. Generator 620 can determine whether to perform a counting operation according to control signal CTL2. For example, the double edge detection circuit 650 can effectively improve the accuracy of calculating the reference value R by supplying the control signal CTL2 to the enable terminal of the counter in the reference value generator 620 to control the operation of the counter. it can. The double edge detection circuit 650 is implemented by, for example, a D-type flip-flop.
要するに、本発明の実施形態では、環境変化に起因する計数精度への影響を除去し、良好なエネルギー使用率を達成するために、ルーラー信号に基づいて発生される基準値を用いてクロック信号の周波数変化を表し、入力信号のパルス幅と基準値を比較してその相対的比率を計算する。更に、本発明の実施形態では、入力信号の立下りエッジに対応するクロック信号の論理レベルを検出し、計数動作を入力信号に対して実行するかどうかを決定することによって、計数精度が効果的に改善される。このように、本発明のＴＤＣは高い分解能の要件を達成することができる。 In short, in the embodiment of the present invention, in order to eliminate the influence on the counting accuracy due to the environmental change and achieve a good energy usage rate, the reference value generated based on the ruler signal is used to generate the clock signal. The frequency ratio is expressed, and the relative ratio is calculated by comparing the pulse width of the input signal with a reference value. Further, in the embodiment of the present invention, the counting accuracy is effective by detecting the logic level of the clock signal corresponding to the falling edge of the input signal and deciding whether to perform the counting operation on the input signal. To be improved. Thus, the TDC of the present invention can achieve high resolution requirements.
本発明は電子装置に使用される時間−ディジタル変換器を対象とする。 The present invention is directed to time-to-digital converters used in electronic devices.
１００，２００，４００，６００ 時間−ディジタル変換器（ＴＤＣ）
１１０，２１０，２２２，２３４，２３６，４３０，６１０ カウンタ
１２０，６２０ 基準値発生器
１３０，６３０ 比較器
２２４ ラッチ
２２６ 遅延回路
２３２ 比較回路
２４０，２５０ ＡＮＤゲート
４２０，６４０，６５０ ダブルエッジ検出回路
ＢＵＦ１，ＢＵＦ２，ＢＵＦ３ バッファ
ＣＬＫ，ＣＬＫ１，ＣＬＫ２ クロック信号
ＣＫ クロック入力端子
ＣＯＭＰ 比較結果
ＣＲＥ 計数結果
ＣＴＬ，ＣＴＬ１，ＣＴＬ２ 制御信号
ＣＴＲＥＳ カウンタリセット信号
ＥＮ イネーブル端子
Ｆ 分数部分
ＦＥ 立下りエッジ
ＬＡＴＥＮ ラッチイネーブル信号
ＯＷ１，ＰＷ２，ＰＷ２１，ＰＷ２２ パルス幅
Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３ パルス
Ｑ 商
Ｒ，Ｒ１，Ｒ２ 基準値
ＲＥ 立上りエッジ
ＲＮ リセット端子
ＳＩＮ 入力信号
ＳＲＵ ルーラー信号
Ｔ１，Ｔ２，ＴＳ，ＴＬＡＳＴ１，ＴＬＡＳＴ２ 区分
ＴＰ１，ＴＰ２ 時点
ＴＣＫ 周期
100, 200, 400, 600 Time-to-digital converter (TDC)
110, 210, 222, 234, 236, 430, 610 Counter 120, 620 Reference value generator 130, 630 Comparator 224 Latch 226 Delay circuit 232 Comparison circuit 240, 250 AND gate 420, 640, 650 Double edge detection circuit BUF1, BUF2, BUF3 Buffer CLK, CLK1, CLK2 Clock signal CK Clock input terminal COMP Comparison result CRE Count result CTL, CTL1, CTL2 Control signal CTRES Counter reset signal EN enable terminal F Fractional part FE Falling edge LATEN Latch enable signal OW1, PW2, PW21, PW22 Pulse width P1, P2, P3 Pulse Q quotient R, R1, R2 Reference value RE Rising edge RN Reset terminal SIN Input signal SRU Ruler signal 1, T2, TS, TLAST1, TLAST2 division TP1, TP2 time TCK cycle
Claims (13)
基準値を発生するためにルーラー信号を前記クロック信号に基づいてサンプリングする基準値発生器と、
前記第１のカウンタと前記基準値発生器とに結合され、計数結果を発生するために前記入力信号の前記第１のパルス幅と前記基準値とを比較する比較器とを備え、
前記クロック信号の周波数は前記ルーラー信号の周波数より大きく、前記ルーラー信号の周波数は前記入力信号の周波数より大きい、
高分解能の時間−ディジタル変換器。 A first counter that samples the input signal based on a clock signal to calculate a first pulse width of the input signal;
A reference value generator for sampling a ruler signal based on the clock signal to generate a reference value;
A comparator coupled to the first counter and the reference value generator, for comparing the first pulse width of the input signal with the reference value to generate a counting result;
The frequency of the clock signal is greater than the frequency of the ruler signal, the frequency of the ruler signal is greater than the frequency of the input signal,
High resolution time-to-digital converter.
前記ルーラー信号の前記第２のパルス幅を計算するために前記ルーラー信号を前記クロック信号に基づいてサンプリングするとともに、前記ルーラー信号の反転信号に基づいてリセット動作を実行する第２のカウンタと、
前記第２のカウンタと前記比較器との間に結合され、前記ルーラー信号の前記第２のパルス幅を前記基準値として機能するように送信することを決定する、即ち前記ルーラー信号の前記第２のパルス幅をラッチして前記基準値を前記ルーラー信号の論理レベルに基づいて発生することを決定する、ラッチと、
を備える、請求項２に記載の高分解能の時間−ディジタル変換器。 The reference value generator is
A second counter that samples the ruler signal based on the clock signal to calculate the second pulse width of the ruler signal and performs a reset operation based on an inverted signal of the ruler signal;
Coupled between the second counter and the comparator and determining to transmit the second pulse width of the ruler signal to function as the reference value, i.e. the second of the ruler signal; Latching to determine that the reference value is generated based on a logic level of the ruler signal.
The high resolution time-to-digital converter of claim 2 comprising:
前記第２のカウンタと前記ラッチとに結合され、前記ルーラー信号を受信し、その後前記ルーラー信号をラッチしてラッチイネーブル信号及びカウンタリセット信号をそれぞれ発生する遅延回路を備え、前記遅延回路は前記ラッチイネーブル信号を前記ラッチのイネーブル端子に出力し、前記カウンタリセット信号を前記第２のカウンタのリセット端子に出力するように構成されている、請求項３に記載の高分解能の時間−ディジタル変換器。 The reference value generator further includes:
A delay circuit coupled to the second counter and the latch for receiving the ruler signal and then latching the ruler signal to generate a latch enable signal and a counter reset signal, respectively. The high-resolution time-to-digital converter according to claim 3, configured to output an enable signal to an enable terminal of the latch and output the counter reset signal to a reset terminal of the second counter.
前記第１のカウンタと前記基準値発生器とに結合され、前記基準値と前記第１のパルス幅とを比較して比較結果を出力する比較回路と、
前記比較回路に結合され、前記第１のパルス幅に対して前記基準値によって除算演算を実行することによって得られた商を発生するために前記比較結果を計数する第３のカウンタと、
前記比較回路と前記基準値発生器とに結合され、前記第１のパルス幅に対して前記基準値によって除算演算を実行することによって得られた余りが０でないときイネーブルされる第４のカウンタとを備え、
前記第４のカウンタがイネーブルされたとき、前記第４のカウンタは前記余りを前記基準値と比較することによって前記計数結果の分数部分を決定するように構成されている、請求項１に記載の高分解能の時間−ディジタル変換器。 The comparator is
A comparison circuit coupled to the first counter and the reference value generator, for comparing the reference value with the first pulse width and outputting a comparison result;
A third counter coupled to the comparison circuit and counting the comparison result to generate a quotient obtained by performing a division operation on the first pulse width by the reference value;
A fourth counter coupled to the comparison circuit and the reference value generator and enabled when a remainder obtained by performing a division operation on the first pulse width by the reference value is not zero; With
The fourth counter according to claim 1, wherein when the fourth counter is enabled, the fourth counter is configured to determine a fractional portion of the counting result by comparing the remainder with the reference value. High resolution time-to-digital converter.
前記基準値発生器に結合され、前記クロック信号及び前記ルーラー信号を受信し、第２のサンプリング結果を出力し前記基準値発生器のクロック入力端子に供給する第２のＡＮＤゲートと、
を更に備える、請求項１に記載の高分解能の時間−ディジタル変換器。 A first AND gate coupled to the first counter for receiving the clock signal and the input signal, outputting a first sampling result and supplying the first sampling result to a clock input terminal of the first counter;
A second AND gate coupled to the reference value generator, receiving the clock signal and the ruler signal, outputting a second sampling result and supplying the second sampling result to a clock input terminal of the reference value generator;
The high resolution time-to-digital converter of claim 1 further comprising:
前記位相ロックループ装置に結合され、前記クロック信号の論理レベルを入力信号の立上りエッジ及び立下りエッジに基づいて検出し、前記クロック信号の検出した論理レベルに応答して制御信号を発生するダブルエッジ検出回路と、
前記位相ロックループ装置と前記ダブルエッジ検出回路とに結合され、前記制御信号に基づいて計数動作を実行するかどうかを決定するカウンタとを備え、前記カウンタが前記計数動作を実行するとき、前記カウンタは前記入力信号を前記クロック信号に基づいてサンプリングして前記入力信号に対応する計数結果を出力するように構成されている、高分解能の時間−ディジタル変換器。 A phase-locked loop device for supplying a clock signal;
A double edge coupled to the phase-locked loop device for detecting a logic level of the clock signal based on a rising edge and a falling edge of an input signal and generating a control signal in response to the detected logic level of the clock signal A detection circuit;
A counter coupled to the phase lock loop device and the double edge detection circuit for determining whether to perform a counting operation based on the control signal, and when the counter performs the counting operation, the counter Is a high-resolution time-to-digital converter configured to sample the input signal based on the clock signal and output a counting result corresponding to the input signal.
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Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0537378A (en) * | 1991-07-30 | 1993-02-12 | Nippondenso Co Ltd | Time a/d conversion circuit |
| JP2008312185A (en) * | 2007-05-17 | 2008-12-25 | Denso Corp | A/d conversion circuit |
| US8064561B2 (en) * | 2007-09-16 | 2011-11-22 | Infineon Technologies Ag | Determining a time interval based on a first signal, a second signal, and a jitter of the first signal |
| JP2013102458A (en) * | 2008-04-29 | 2013-05-23 | Renesas Electronics Corp | Pll circuit |
| JP2014016285A (en) * | 2012-07-10 | 2014-01-30 | Rohm Co Ltd | Frequency measurement circuit |
| JP2015154444A (en) * | 2014-02-19 | 2015-08-24 | 株式会社メガチップス | Time digital converter and calibration method used therefor |
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Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0537378A (en) * | 1991-07-30 | 1993-02-12 | Nippondenso Co Ltd | Time a/d conversion circuit |
| JP2008312185A (en) * | 2007-05-17 | 2008-12-25 | Denso Corp | A/d conversion circuit |
| US8064561B2 (en) * | 2007-09-16 | 2011-11-22 | Infineon Technologies Ag | Determining a time interval based on a first signal, a second signal, and a jitter of the first signal |
| JP2013102458A (en) * | 2008-04-29 | 2013-05-23 | Renesas Electronics Corp | Pll circuit |
| JP2014016285A (en) * | 2012-07-10 | 2014-01-30 | Rohm Co Ltd | Frequency measurement circuit |
| JP2015154444A (en) * | 2014-02-19 | 2015-08-24 | 株式会社メガチップス | Time digital converter and calibration method used therefor |
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