JP2017196629A - Dirt detection device of protective glass, laser beam machine including the same, and dirt detection method of protective glass - Google Patents

Dirt detection device of protective glass, laser beam machine including the same, and dirt detection method of protective glass Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a dirt detection method and a device of a protective glass for performing highly-accurate dirt detection.SOLUTION: There is provided a dirt detection device of a protective glass for detecting dirt of the protective glass mounted on a laser processing head of a laser beam machine. The dirt detection device of the protective glass includes an LED light incidence part for allowing incidence of LED light into the protective glass so that LED light is totally reflected inside the protective glass, and an LED light detection part arranged on the end face facing to the LED light incidence part of the protective glass.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、保護ガラスの汚れ検出装置とそれを備えるレーザ加工機及び保護ガラスの汚れ検出方法に関する。   The present invention relates to a protective glass stain detection device, a laser processing machine including the same, and a protective glass stain detection method.

レーザ加工機においてレーザ光を出射するレーザ加工ヘッドは、レーザ光を集光して試料(ワーク)へ照射する、高価な集光レンズ等の光学系を備える。一方、レーザ光を試料(ワーク)へ照射して試料(ワーク)のレーザ加工を行う場合に、発生したスパッタやヒュームが周囲に拡散・飛散し、集光レンズ等の光学系を汚染させる。集光レンズ等にスパッタやヒュームが付着してこれが汚染されると、集光レンズ等が本来の集光機能等の光学機能を発揮できず、レーザ光が散乱されたり集光レンズに過剰な熱が発生したりする。   A laser processing head that emits laser light in a laser processing machine includes an optical system such as an expensive condensing lens that condenses the laser light and irradiates the sample (workpiece). On the other hand, when the sample (work) is subjected to laser processing by irradiating the sample (work) with laser light, the generated spatter and fumes are diffused and scattered around, and the optical system such as the condenser lens is contaminated. If spatter or fume adheres to the condenser lens, etc., and is contaminated, the condenser lens etc. cannot perform its original optical function such as the condenser function, and laser light is scattered or excessive heat is applied to the condenser lens. May occur.

したがって、このような不具合を回避して、スパッタやヒュームなどの汚染物質から集光レンズ等の光学系を保護するために、通常は、レーザ加工ヘッド内に集光レンズ等をスパッタ等から保護する、保護ガラスを備えている。   Therefore, in order to avoid such problems and to protect the optical system such as the condensing lens from contaminants such as spatter and fume, the condensing lens and the like are usually protected from spatter in the laser processing head. , Equipped with protective glass.

レーザ加工ヘッドが保護ガラスを備えることで、スパッタ等から集光レンズ等の光学系を保護することができるが、その替わりに保護ガラスがスパッタ等で汚染されることになる。保護ガラスが汚染されると、レーザ光が所望の出力で所望の加工箇所に届かなくなるなどレーザ加工の品質の低下を招来する。   By providing the laser processing head with the protective glass, it is possible to protect the optical system such as the condenser lens from sputtering or the like, but instead, the protective glass is contaminated by sputtering or the like. When the protective glass is contaminated, the quality of the laser processing is deteriorated such that the laser beam does not reach a desired processing position with a desired output.

このため、レーザ加工時に生じたスパッタやヒュームなどの汚染物質から保護ガラスを保護する種々の方法や、保護ガラスの交換タイミングを把握するためにその汚れを検出する種々の方法が提案されている。また、保護ガラスの汚れ検知をあきらめて、所定のレーザ加工時間毎あるいは定期的に保護ガラスを交換する対応も為されている。   For this reason, various methods for protecting the protective glass from contaminants such as spatter and fumes generated during laser processing and various methods for detecting the dirt in order to grasp the replacement timing of the protective glass have been proposed. In addition, there is a measure to give up detection of the contamination of the protective glass and replace the protective glass every predetermined laser processing time or periodically.

例えば、下記特許文献1においては、従来僅かな光量を検出していることにより、検出レベルが低いと共に外部から入射される外乱の影響を受け易いことから、さらなる改善が望まれていたことに鑑み、これらの課題を解決することを目的とする保護ガラスの汚れ検知の発明が開示されている。   For example, in the following Patent Document 1, since a small amount of light has been detected in the past, the detection level is low and it is easily affected by externally incident disturbances. An invention for detecting dirt on a protective glass aimed at solving these problems is disclosed.

これによれば、レーザ加工ヘッドに備えた保護ガラスの汚れ検出方法であって、前記保護ガラスの外周面から当該保護ガラス内へ検出光を入射し、前記保護ガラスの周面によって反射されると共に前記保護ガラスに付着した汚染物質によって乱反射されて外周面から漏出した検出光の光量を、前記保護ガラスの周面に備えた光検出手段によって検出することによって保護ガラスの汚れを検出することを特徴とする発明が記載されている。   According to this, the method for detecting contamination of the protective glass provided in the laser processing head, wherein the detection light is incident on the protective glass from the outer peripheral surface of the protective glass and reflected by the peripheral surface of the protective glass. The contamination of the protective glass is detected by detecting the amount of detection light irregularly reflected by the contaminant attached to the protective glass and leaking from the outer peripheral surface by a light detection means provided on the peripheral surface of the protective glass. The invention is described.

特許文献1の発明により、”保護ガラスの外周面から保護ガラス内へ検出光を入射するものであるから、入射された検出光は、保護ガラスの上下両内面及び内周面によって反射される。したがって、検出光の入射位置が1ヶ所であっても、保護ガラス内部の全体に亘って検出光が透過することになる。そして、スパッタ等が付着すると、スパッタ等によって検出光が乱反射され、保護ガラスの外周面から外部へ出射されると、光検出手段によって検出される。   According to the invention of Patent Document 1, “detection light is incident from the outer peripheral surface of the protective glass into the protective glass. Therefore, the incident detection light is reflected by the upper and lower inner surfaces and the inner peripheral surface of the protective glass. Therefore, even if the incident position of the detection light is one, the detection light is transmitted through the entire inside of the protective glass. When the light is emitted from the outer peripheral surface of the glass to the outside, it is detected by the light detection means.

したがって、光検出手段によって検出される光量は大きなものであり、スパッタ等の付着を確実に検出することができる。また、検出光の光量が大きいので、検出レベルを高くすることができると共に、外乱の影響を抑制することができるものである。”との作用効果を奏することが特許文献1に記載されている。   Therefore, the amount of light detected by the light detection means is large, and adhesion such as sputtering can be reliably detected. Further, since the amount of detection light is large, the detection level can be increased and the influence of disturbance can be suppressed. It is described in Patent Document 1 that there is an effect of "".

また、下記特許文献2には、レーザ発振器から発振されたレーザ光を集光してワークへ照射する集光レンズと、当該集光レンズを保護するために、当該集光レンズのワーク側に備えられた保護ガラスと、当該保護ガラスの汚れを検出するための汚れ検出手段とを備えたレーザ加工ヘッドであって、前記レーザ光の光軸に対して傾斜した方向から前記保護ガラスに検出光を照射するための検出光照射手段を備えていることを特徴とする発明が記載されている。   Patent Document 2 listed below includes a condensing lens that condenses laser light oscillated from a laser oscillator and irradiates the work, and is provided on the work side of the condensing lens to protect the condensing lens. A laser processing head comprising a protective glass and a dirt detecting means for detecting dirt on the protective glass, wherein the detection light is applied to the protective glass from a direction inclined with respect to the optical axis of the laser light. An invention characterized in that it is provided with detection light irradiating means for irradiating is described.

特許文献2によれば、検出光照射手段からの検出光はレーザ光の光軸に対して傾斜してあって、保護ガラスに照射することができるので、保護ガラスの周縁付近に汚れが生じている場合であっても容易に検出することができ、従って、保護ガラスの全体的な汚れ状態を検出することができ、保護ガラスの交換を適正に行うことができることが記載されている。   According to Patent Document 2, since the detection light from the detection light irradiation means is inclined with respect to the optical axis of the laser beam and can be applied to the protective glass, dirt is generated near the periphery of the protective glass. It is described that it can be easily detected even when the protective glass is present, and therefore, the entire dirt state of the protective glass can be detected, and the protective glass can be replaced properly.

特開2014−237150号公報JP 2014-237150 A 特開2013−052440号公報JP2013-052440A

また、保護ガラスは、相当の高精度の平坦性を有し透過ロスが小さいなど必要とされる機能面のレベルが高い比較的高額な部品であるため、定期的な保護ガラスの交換においては、まだ使用できるにも拘わらず交換される等コストの増大を招き好ましいものとはいえない。一方、目視により保護ガラスの汚れ具合を点検する場合には、レーザ光を確実に遮断するためレーザ加工機を停止させなければならないので、製造上のスループットが低下するなど生産性が悪くなる。また、万一、レーザ光を確実に遮断することなく漏れたレーザ光やその散乱光が点検しているオペレータ等に照射されると、重大な健康被害が懸念される等、安全上においても深刻な懸念が生じることとなる。   In addition, since the protective glass is a relatively expensive part with a high level of required functional surface, such as a highly accurate flatness and a small transmission loss, in periodic replacement of the protective glass, Although it can still be used, it is not preferable because it causes an increase in cost such as replacement. On the other hand, when checking the degree of contamination of the protective glass by visual inspection, the laser processing machine must be stopped in order to reliably block the laser light, so that the productivity deteriorates, for example, the manufacturing throughput decreases. Also, in the unlikely event that laser light leaked or its scattered light is irradiated to an operator who is inspecting without reliably blocking the laser light, there may be serious health hazards and serious safety issues. Will cause serious concerns.

また、従来知られている特許文献1に記載の汚れ検知方法では、保護ガラスに入射させた入射光を上下両内面及び内周面によって乱反射させているため、一次反射や二次反射等複数の高次反射光がまとめて同時に検知され、精確な測定が困難である。さらに、検出光が保護ガラスの上下両内面及び内周面の汚れ付着箇所から外部へ出射漏洩することで、かつ乱反射させることで、検出光が極めて脆弱となる懸念があった。脆弱な検出光には、保護ガラスに付着した汚れ以外の比較的大きなノイズが多量に含まれていることから、保護ガラスの汚れを精度高く検出することが困難である。また、保護ガラスの外部から入射される環境光による外乱の影響に極めて弱いとの特徴を有していた。   Moreover, in the dirt detection method of patent document 1 known conventionally, since incident light incident on the protective glass is irregularly reflected by the upper and lower inner surfaces and the inner peripheral surface, a plurality of primary reflections, secondary reflections, etc. High-order reflected light is simultaneously detected and accurate measurement is difficult. Furthermore, there is a concern that the detection light becomes extremely fragile because the detection light is emitted and leaked to the outside from the dirt adhering portions on the upper and lower inner surfaces and the inner peripheral surface of the protective glass. Since the fragile detection light contains a large amount of relatively large noise other than the dirt adhering to the protective glass, it is difficult to detect the dirt of the protective glass with high accuracy. Moreover, it had the characteristic that it was very weak to the influence of the disturbance by the environmental light which injects from the outside of protective glass.

本発明は、上述の問題点に鑑み為されたものであり、保護ガラスの外周面からLEDによる検出光を保護ガラス内で全反射するように入射させ対向端面からの出射光を検出する事で、高精度な汚れ検知を安全に遂行する保護ガラスの汚れ検出装置とそれを備えるレーザ加工機及び保護ガラスの汚れ検出方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems. By detecting the light emitted from the opposite end surface by allowing the detection light from the LED to be totally reflected in the protective glass from the outer peripheral surface of the protective glass. An object of the present invention is to provide a protective glass contamination detection device that safely performs highly accurate contamination detection, a laser processing machine including the same, and a protective glass contamination detection method.

本発明の保護ガラスの汚れ検出装置は、レーザ加工機のレーザ加工ヘッドに実装される保護ガラスの汚れを検出する保護ガラスの汚れ検出装置であって、保護ガラスに、LED光が保護ガラス内で全反射するように、LED光を入射させるLED光入射部と、保護ガラスのLED光入射部に対向する端面に配置されたLED光検出部と、を備えることを特徴とする。   The protective glass contamination detection device of the present invention is a protective glass contamination detection device that detects the contamination of the protective glass mounted on the laser processing head of the laser processing machine. LED light is applied to the protective glass within the protective glass. The LED light incident part which makes LED light enter so that it may totally reflect, and the LED light detection part arrange | positioned at the end surface facing the LED light incident part of a protective glass, It is characterized by the above-mentioned.

また、本発明の保護ガラスの汚れ検出装置は、好ましくはLED光の保護ガラスへの入射前の光量に対する、LED光検出部で検出された検出光の光量、の比率を表示する表示部をさらに備えることを特徴とする。   The protective glass contamination detection device of the present invention preferably further includes a display unit for displaying a ratio of the amount of detection light detected by the LED light detection unit to the amount of light before the LED light is incident on the protective glass. It is characterized by providing.

また、本発明の保護ガラスの汚れ検出装置は、さらに好ましくはLEDはパルス光であり、その保護ガラス内部における反射平面への入射角は臨界角を超えて90°未満であることを特徴とする。空気中から媒質(保護ガラス)への入射角は、保護ガラス内部での反射平面への光入射角が臨界角を超えるように適宜設定する。すなわち、保護ガラス内部での反射平面(典型的には保護ガラスの円形上面と円形下面)への入射角は臨界角を超える角度として、ガラス内において全反射を生じさせるようにする。また、この場合の入射角は臨界角に近い程、内部反射の回数が多くなるので、汚れ検出に有利となる(図6(a)を参照)。図6に示すように、本発明ではガラス内部で全反射する条件下でLED光を上下面で反射させながら直径方向に透過させて、対向端でその透過光強度を検出するので、反射箇所に存在する付着汚れの程度に対応して、検出光強度が低減されるものとなる。これにより、LED光の減衰程度を検出することで、汚れ付着程度を把握できるものとなる。但し、LED光の出力は環境温度依存性があるのでモニター用フォトダイオードで温度補償の校正をするものとする。   In the protective glass contamination detector of the present invention, the LED is preferably pulsed light, and the incident angle to the reflection plane inside the protective glass is more than a critical angle and less than 90 °. . The incident angle from the air to the medium (protective glass) is appropriately set so that the light incident angle to the reflection plane inside the protective glass exceeds the critical angle. That is, the incident angle to the reflection plane inside the protective glass (typically, the circular upper surface and the circular lower surface of the protective glass) exceeds the critical angle so that total reflection occurs in the glass. Further, in this case, the closer the incident angle is to the critical angle, the more the number of internal reflections, and this is advantageous for dirt detection (see FIG. 6A). As shown in FIG. 6, in the present invention, the LED light is transmitted in the diameter direction while being reflected by the upper and lower surfaces under the condition of total reflection inside the glass, and the transmitted light intensity is detected at the opposite end. The detection light intensity is reduced in accordance with the degree of adhesion dirt present. Accordingly, the degree of dirt adhesion can be grasped by detecting the degree of attenuation of the LED light. However, since the output of the LED light depends on the environmental temperature, the temperature compensation is calibrated with a monitoring photodiode.

また、本発明の保護ガラスの汚れ検出装置は、さらに好ましくはLEDは可視光であり、臨界角は41°であることを特徴とする。臨界角は、媒質の屈折率やLED光の波長等により異なってくるものであるが、典型的には、屈折率1.52の光学ガラス(保護ガラス)内において588nm(黄色)の波長の光を反射させようとする場合の臨界角は41°と算出できる(図6(b)を参照)。   In the protective glass contamination detection apparatus of the present invention, the LED is preferably visible light, and the critical angle is 41 °. The critical angle varies depending on the refractive index of the medium, the wavelength of the LED light, and the like, but typically, light having a wavelength of 588 nm (yellow) in an optical glass (protective glass) having a refractive index of 1.52. Can be calculated as 41 ° (see FIG. 6B).

また、本発明の保護ガラスの汚れ検出装置は、さらに好ましくはLEDの主波長が、580nm〜600nmの間であり、LEDからのLED光の出射角は30°以下であることを特徴とする。また、可視光の範囲(380nm〜780nm)の任意の波長を用いることも可能である。LEDからのLED光の出射角は30°以下であることにより、LED光が種々の方向に散逸することなく、保護ガラス内部へ取り込まれた光が効率的に反射平面において全反射することが期待できる。   The protective glass contamination detection apparatus of the present invention is more preferably characterized in that the main wavelength of the LED is between 580 nm and 600 nm, and the emission angle of the LED light from the LED is 30 ° or less. It is also possible to use any wavelength in the visible light range (380 nm to 780 nm). Since the emission angle of LED light from the LED is 30 ° or less, it is expected that the light taken into the protective glass is efficiently totally reflected on the reflection plane without the LED light being scattered in various directions. it can.

また、本発明の保護ガラスの汚れ検出装置は、さらに好ましくはLEDのパルスは2000回/秒以上であることを特徴とする。   Further, the protective glass contamination detection apparatus of the present invention is more preferably characterized in that the LED pulse is 2000 times / second or more.

また、本発明の保護ガラスの汚れ検出装置は、さらに好ましくはLED光の保護ガラスへの入射前の光量と、LED光検出部で検出された検出光の光量と、の比較に基づいて、保護ガラスの汚れ度合いを判断する判断部をさらに備えることを特徴とする。   In addition, the protective glass dirt detection device of the present invention is more preferably based on a comparison between the amount of light before the LED light is incident on the protective glass and the amount of detection light detected by the LED light detection unit. It further comprises a determination unit for determining the degree of contamination of the glass.

また、本発明のレーザ加工機は、上述の保護ガラスの汚れ検出装置を備えるレーザ加工機であって、判断部が、保護ガラスの汚れ度合いが所定の閾値以上であると判断した場合に、レーザ加工機によるレーザ加工作業を停止させるかまたはオペレータに通知する通知手段を備えることを特徴とする。   Further, the laser processing machine of the present invention is a laser processing machine provided with the above-described protective glass stain detection device, and when the determination unit determines that the degree of contamination of the protective glass is equal to or greater than a predetermined threshold, It is characterized by comprising notifying means for stopping the laser processing operation by the processing machine or notifying the operator.

本発明の保護ガラスの汚れ検出方法は、上述のいずれか一項に記載の汚れ検出装置を用いた保護ガラスの汚れ検出方法であって、LED光入射部において、保護ガラス内にLED光を入射させる工程と、LED光検出部において、保護ガラスの対向する端面から出射される光を、検出する工程と、入射させたLED光と出射されたLED光との光強度比較に基づいて保護ガラスの汚れ度合いを判断する工程と、を有することを特徴とする。   The method for detecting dirt on a protective glass according to the present invention is a method for detecting dirt on a protective glass using the dirt detector according to any one of the above items, and the LED light is incident on the protective glass at the LED light incident portion. And the step of detecting the light emitted from the opposite end faces of the protective glass in the LED light detection unit and the comparison of the light intensity between the incident LED light and the emitted LED light And a step of judging the degree of contamination.

本発明により、保護ガラスの外周面からLEDによる検出光を保護ガラス内で全反射するように入射させて対向端面からの出射光を検出する事で、高精度な汚れ検知を安全に遂行する保護ガラスの汚れ検出装置とそれを備えるレーザ加工機及び保護ガラスの汚れ検出方法を提供できる。   According to the present invention, the detection light from the LED is incident from the outer peripheral surface of the protective glass so as to be totally reflected in the protective glass, and the outgoing light from the opposite end surface is detected, so that highly accurate dirt detection can be safely performed. A glass contamination detection apparatus, a laser processing machine including the glass contamination detection device, and a protection glass contamination detection method can be provided.

(a)は本発明の実施形態に関するレーザ加工システムの構成概要について説明する図であり、(b)は保護ガラスの汚れ検出装置の構成概要を説明するブロック図である。(A) is a figure explaining the structure outline | summary of the laser processing system regarding embodiment of this invention, (b) is a block diagram explaining the structure outline | summary of the dirt detection apparatus of protective glass. レーザ加工機における汚染物質の飛散と保護ガラスの装着について説明する概念図である。It is a conceptual diagram explaining scattering of the contaminant in a laser processing machine, and mounting | wearing of protective glass. (a),(b)は、保護ガラスに対してLED光を入射させる臨界角と全反射の状態を説明する概念図であり、(c)は、周囲環境温度が変化した場合に検知される出射LED光の校正前変動を説明する図であり、(d)は、補正用光電素子(すなわちキャリブレーション用または/およびリファレンス用)を測定用光源に近接配置し測定用光電素子を対向端に配置する状態を説明する図である。(A), (b) is a conceptual diagram explaining the critical angle which makes LED light inject with respect to protective glass, and the state of total reflection, (c) is detected when ambient temperature changes. It is a figure explaining the fluctuation | variation before calibration of the emitted LED light, (d) arrange | positions the photoelectric element for correction | amendment (namely, for calibration or / and reference) close to the light source for measurement, and sets the photoelectric element for measurement to the opposing end. It is a figure explaining the state to arrange | position. (a),(b)は汚れ検知領域が測定用光源と光電素子との間の直径を通る帯状となることを説明する概念図であり、図4(c)はφ100mmの保護ガラスの感度分布を説明する図であり、図4(d)は測定用光源と補正用光電素子と検知用光電素子とからなる発光受光ユニットを1〜3まで3ペア備える構成を説明する概念図である。(A), (b) is a conceptual diagram for explaining that the dirt detection region is a band passing through the diameter between the light source for measurement and the photoelectric element, and FIG. 4 (c) is the sensitivity distribution of the protective glass of φ100 mm. FIG. 4D is a conceptual diagram illustrating a configuration including three pairs of light emitting / receiving units each including a measurement light source, a correction photoelectric element, and a detection photoelectric element. 本発明の実施形態によるところのφ100mmの保護ガラスに汚れが付着した度合いに対する検知される光強度の相対出力を説明する図である。It is a figure explaining the relative output of the detected light intensity with respect to the degree to which dirt adhered to the protective glass of φ100 mm according to the embodiment of the present invention. (a)が入射角と反射角及び屈折角と臨界角について説明する概念図であり、(b)がガラスの屈折率の波長依存性を説明する図である。(A) is a conceptual diagram explaining an incident angle, a reflection angle, a refraction angle, and a critical angle, (b) is a figure explaining the wavelength dependence of the refractive index of glass.

レーザ加工機においては、対物レンズ等の光学部品の汚損を防止するため、光学部品の前面に保護ガラスが装着される。これにより光学部品の汚損は回避されるが、保護ガラスが汚染されると、レーザ光を減衰させたり発熱による保護ガラスの破損等につながる場合があるので、汚染状況の点検は日常保守の重要な項目となっている。   In the laser processing machine, a protective glass is attached to the front surface of the optical component in order to prevent the optical component such as the objective lens from being damaged. This avoids contamination of the optical components, but if the protective glass is contaminated, the laser light may be attenuated or the protective glass may be damaged due to heat generation. It is an item.

本発明では、汚れ検知を自動化することで生産設備や、レーザ加工自動機(以下、単に自動機と称する)との連動を可能とする。レーザ加工機は、レーザ加工ヘッドまたは出射ユニット等と呼ばれるレーザ光出射部を備え、この部分に比較的高価な対物レンズ等の光学系を有している。   In the present invention, it is possible to link with production equipment and a laser processing automatic machine (hereinafter simply referred to as an automatic machine) by automating the dirt detection. The laser processing machine includes a laser beam emitting portion called a laser machining head or an emission unit, and has a relatively expensive optical system such as an objective lens in this portion.

図1(a)は、本発明の実施形態に関するレーザ加工システム1000の構成概要について説明する図である。図1(a)においてレーザ加工システム1000は、レーザ制御部1600と光ファイバ1100で連結されたレーザ加工ヘッド1200等を具備するレーザ加工機を備える。   FIG. 1A is a diagram for explaining an outline of the configuration of a laser processing system 1000 according to the embodiment of the present invention. In FIG. 1A, a laser processing system 1000 includes a laser processing machine including a laser processing head 1200 and the like connected to a laser control unit 1600 and an optical fiber 1100.

また、図1(a)に示すように、レーザ加工システム1000は、自動機1500により、レーザ加工対象の試料であるワーク1400が、自動的にかつ連続的に供給される構成を有する。また、レーザ加工ヘッド1200は、ワーク1400との間に、保護ガラス1210を備える。   As shown in FIG. 1A, the laser processing system 1000 has a configuration in which a workpiece 1400, which is a sample to be laser processed, is automatically and continuously supplied by an automatic machine 1500. The laser processing head 1200 includes a protective glass 1210 between the workpiece 1400 and the laser processing head 1200.

また、保護ガラス1210は、ワーク1400の切断・溶接等の加工に伴うヒュームなどの汚染から、レーザ加工ヘッド1200内の光学系を保護する。また、レーザ加工システム1000は、保護ガラス1210の汚染度を検知する、保護ガラスの汚れ検出装置1300を備える。   Further, the protective glass 1210 protects the optical system in the laser processing head 1200 from contamination such as fumes accompanying processing such as cutting and welding of the workpiece 1400. The laser processing system 1000 also includes a protective glass contamination detection device 1300 that detects the degree of contamination of the protective glass 1210.

また、図1(b)は、保護ガラスの汚れ検出装置1300の構成概要を説明するブロック図である。図1(b)において、汚れ検知用光源LED1315は、測定信号調整部1330により1分毎や30秒毎等の測定頻度が調整され、パルス変調部1320により1回の測定期間0.5秒等の間に1000パルス等、と指示されたLEDドライバ1310により所定の頻度で所定のパルス変調で発光される。   FIG. 1B is a block diagram for explaining an outline of the configuration of the protective glass contamination detection apparatus 1300. In FIG. 1B, the dirt detection light source LED 1315 has its measurement frequency adjusted every minute or every 30 seconds by the measurement signal adjustment unit 1330, and a measurement period of 0.5 seconds or the like by the pulse modulation unit 1320. During this period, the LED driver 1310 instructed with 1000 pulses or the like emits light with a predetermined pulse modulation at a predetermined frequency.

汚れ検知用光源LED1315の発光強度は、リファレンス測定用光電素子1390(1)によりモニターされる。また、これに基づいて、コントローラ1360において、保護ガラス1210の対向端に配置された検知用光電素子1390(2)の検知光強度が温度校正される。リファレンス測定用光電素子1390(1)と検知用光電素子1390(2)の出力値は、プリアンプ1370(1),1370(2)とパルス変調を復調するために復調回路1380(1),1380(2)を介して、コントローラ1360に入力され演算・処理される。   The emission intensity of the dirt detection light source LED 1315 is monitored by the reference measurement photoelectric element 1390 (1). Based on this, the controller 1360 calibrates the detection light intensity of the detection photoelectric element 1390 (2) disposed at the opposite end of the protective glass 1210. The output values of the reference measurement photoelectric element 1390 (1) and the detection photoelectric element 1390 (2) are demodulated from preamplifiers 1370 (1) and 1370 (2) and demodulation circuits 1380 (1) and 1380 ( 2) to be input to the controller 1360 for computation and processing.

また、表示部1340には、コントローラ1360で校正・演算された保護ガラス1210の汚損度合いや、汚損度合いに基づく警告や注意等が表示されることができる。また、保護ガラス1210の汚損度合いが所定の条件となった場合には、外部IF1350を介して自動機1500等を停止させる信号を送出するように構成してもよい。これにより、汚損されたままの状態におけるレーザ加工を確実に回避することが可能となるので、歩留まりが向上してコストダウンに繋がるものとなる。   In addition, the display unit 1340 can display a degree of contamination of the protective glass 1210 calibrated and calculated by the controller 1360, a warning or a caution based on the degree of contamination, and the like. Further, when the degree of contamination of the protective glass 1210 becomes a predetermined condition, a signal for stopping the automatic machine 1500 or the like may be sent via the external IF 1350. As a result, it is possible to reliably avoid laser processing in a contaminated state, so that the yield is improved and the cost is reduced.

ここで、レーザ加工を遂行する場合、加工中に加工対象の素材(加工対象試料またはワーク等)からスパッタ、ヒューム等と呼ばれる汚染物質が飛散するため、当該飛散物質によりこれら光学部品が汚損される懸念がある。   Here, when performing laser processing, contaminants called spatter, fume and the like are scattered from the material to be processed (sample to be processed or workpiece) during processing, so that these optical components are damaged by the scattered material. There are concerns.

上述のように、レーザ加工機に関する設備機材(特に光学部品)を損なうことを防止するため、一般的に光学部品の前面に保護ガラスが装着されており、当該保護ガラスの汚染状況に応じて当該保護ガラスを適宜交換する保守作業が行われる。図2は、レーザ加工機における汚染物質の飛散と保護ガラスの装着について説明する概念図である。   As described above, in order to prevent damage to equipment and equipment (particularly optical components) related to laser processing machines, a protective glass is generally attached to the front surface of the optical component, and the protection glass is in accordance with the contamination status of the protective glass. Maintenance work is performed to replace the protective glass as appropriate. FIG. 2 is a conceptual diagram illustrating the scattering of contaminants and the wearing of protective glass in a laser processing machine.

保護ガラスの装着により、対物レンズ等の光学系をひとまず保護することができるものの、保護ガラスの汚染が進むと、レーザ光の出射の妨げとなって加工エネルギーを減衰させたり、汚損が著しい場合には汚損物がレーザ光を吸収することによる発熱のため保護ガラスの破損につながる場合がある。   Although the protective glass can protect the optical system such as the objective lens for the time being, if the contamination of the protective glass progresses, the laser beam is prevented from being emitted and the processing energy is attenuated, or the contamination is significant. May cause damage to the protective glass due to the heat generated by the contaminated material absorbing the laser beam.

従って、レーザ加工機の運用に当たっては、保護ガラスの汚染度合いを点検することが日常の重要な保守・点検・メンテナンス項目となっているが、依然として保護ガラスの汚れの検知は作業者が目視で行うのが一般的であり、汚れ検知の自動化システムは普及していない。   Therefore, checking the degree of contamination of the protective glass is an important daily maintenance / inspection / maintenance item for the operation of the laser processing machine, but the operator still visually detects the contamination of the protective glass. In general, an automated system for detecting dirt is not widespread.

本発明では、汚れ検知を自動化することで生産設備、自動機との連動を可能として、レーザ加工生産ラインの効率をより一層向上させることを目的とする。具体的には、本発明では、保護ガラスを光導波路とみなし、光導波路に入射する汚れ測定用光源としてLEDを用い、保護ガラスの端面から所望の角度で入射したLED光が、保護ガラスの内部で全反射するように構成する。   It is an object of the present invention to further improve the efficiency of a laser processing production line by enabling the linkage with production equipment and automatic machines by automating dirt detection. Specifically, in the present invention, the protective glass is regarded as an optical waveguide, an LED is used as a dirt measurement light source incident on the optical waveguide, and the LED light incident at a desired angle from the end face of the protective glass is reflected inside the protective glass. It is configured to totally reflect.

一方、LED光を入射させた端面の反対側に位置する対向端面には、フォトダイオード等の光電素子を配置し、保護ガラス中を厚さ方向に反射しながら直径方向に進んできたLED光からの出射光を取得するように構成する。   On the other hand, a photoelectric element such as a photodiode is arranged on the opposite end face located on the opposite side of the end face on which the LED light is incident, and the LED light that has progressed in the diameter direction while reflecting in the protective glass in the thickness direction. The output light is obtained.

図3(a),(b)は、保護ガラスに対して端面からLED光を70°で入射させて内部で全反射する状態を説明する概念図であり、図3(c)は、周囲環境温度が変化した場合に検知される出射LED光の校正前変動を説明する図であり、図3(d)は、補正用光電素子(すなわちキャリブレーション用または/およびリファレンス用)を測定用光源に近接配置し測定用光電素子を対向端に配置する状態を説明する図である。   FIGS. 3A and 3B are conceptual diagrams for explaining a state in which LED light is incident on the protective glass from the end face at 70 ° and totally reflected inside, and FIG. 3C shows the surrounding environment. FIG. 3D is a diagram for explaining the pre-calibration fluctuation of the emitted LED light detected when the temperature changes, and FIG. 3D shows a correction photoelectric element (that is, calibration or / and reference) as a measurement light source. It is a figure explaining the state which arrange | positions closely and arrange | positions the photoelectric element for a measurement to an opposing end.

図3において、導波路として機能している保護ガラスの表面が清浄な状態であれば、上述のように保護ガラスの上下面への入射角が、臨界角を超えて90度未満の場合には、保護ガラス内に光が閉じ込められて(光がガラス上下面から放出されることなく)全反射しながら直径方向に進み、光入射部位に対向する出射端面から高光強度にて検出することができる。   In FIG. 3, if the surface of the protective glass functioning as a waveguide is in a clean state, the incident angle to the upper and lower surfaces of the protective glass is greater than the critical angle and less than 90 degrees as described above. The light is confined in the protective glass (without light being emitted from the upper and lower surfaces of the glass) and can be detected with high light intensity from the exit end face facing the light incident part while proceeding in the diameter direction with total reflection. .

図3(b)に示すように、もし、保護ガラス表面に汚染物質が付着した場合、当該汚染箇所から保護ガラス表面に滲み出たエバネッセント光が乱され外部に伝播光として散逸するので、光電素子で検出される光強度が減少することになる。この光強度の変化の度合い(減少程度)を保護ガラスの汚れ具合として捉えることができる。   As shown in FIG. 3B, if a contaminant is attached to the surface of the protective glass, the evanescent light that has oozed out from the contaminated portion onto the surface of the protective glass is disturbed and dissipated as propagating light to the outside. The light intensity detected at 1 will decrease. This degree of light intensity change (decrease degree) can be grasped as the degree of contamination of the protective glass.

ここで測定用光源としてのLEDは、パルス変調(例えば、1回の測定で1000回/0.5秒)された光を発生するものとし、さらに受光後の光電素子からの信号を検波して測定することにより、レーザ加工機が設置されている環境光(典型的には50乃至60Hzの照明灯等)による外乱の影響を避けるものとする。   Here, the LED as the measurement light source generates light that is pulse-modulated (for example, 1000 times / 0.5 seconds per measurement), and further detects the signal from the photoelectric element after receiving light. By measuring, the influence of the disturbance by the environmental light (typically 50-60 Hz illumination lamp etc.) in which the laser processing machine is installed shall be avoided.

また、図3(c)において一般的にLEDの発光効率は、温度依存性が高いため、検出された測定光の変化が保護ガラスの汚損に起因するものであるのか、周囲環境温度の変化によるものであるのか、が判然としなくなる場合が懸念される。   In FIG. 3 (c), the luminous efficiency of the LED generally has a high temperature dependency, so whether the detected change in the measurement light is caused by contamination of the protective glass or the change in the ambient temperature. There is concern that it may become unclear whether it is a thing.

このため、図3(d)に示すように、光源であるLEDの光を保護ガラスに入射する手前でも光電素子により測定し、これをリファレンスとして、光源と被測定光との比率を計算し、当該比率の低下減少具合により保護ガラスの汚損度合いを判断するものとする。また、当該リファレンスに基づいて、検出された出射光強度を適宜温度補正し、温度補正された出射光強度の経時変化により、保護ガラスの汚損度合いを判断してもよい。   For this reason, as shown in FIG. 3 (d), the light of the LED, which is the light source, is measured by the photoelectric element even before entering the protective glass, and using this as a reference, the ratio of the light source to the light to be measured is calculated, The degree of fouling of the protective glass shall be judged from the degree of decrease in the ratio. Further, based on the reference, the detected emitted light intensity may be temperature-corrected as appropriate, and the degree of fouling of the protective glass may be determined based on the temporal change of the temperature-corrected emitted light intensity.

本発明では、モールド樹脂等のレンズ効果などにより比較的集束されたLED光源(好ましくは出射角が20〜30°以下)を用い、散乱光ではなくガラス内全反射による反射光を利用するため、保護ガラスが大型化した場合でも対向する端面まで測定光が容易にかつ強い光強度で到達するものとなる。   In the present invention, an LED light source (preferably an emission angle of 20 to 30 ° or less) that is relatively focused by a lens effect such as a mold resin is used, and reflected light by total internal reflection in glass is used instead of scattered light. Even when the size of the protective glass is increased, the measuring light easily reaches the opposing end surfaces with high light intensity.

このような特性の結果として、本発明は、従来では難しかったガルバノスキャナ式溶接ヘッドの対物レンズ(fθレンズ)に装着されるような、大口径の保護ガラスの汚れ検知にも適応できる。なお集束LED光の全反射による検知方法のため、汚れ検知可能な検知領域が、保護ガラスの直径を通る比較的細い帯状の分布となるが、LED光源と光電素子の組合せを複数ペア用いることにより、検知領域を広げることができる。   As a result of such characteristics, the present invention can be applied to dirt detection of a large-diameter protective glass that is attached to an objective lens (fθ lens) of a galvano scanner type welding head, which has been difficult in the past. In addition, because of the detection method based on total reflection of focused LED light, the detection area where dirt can be detected has a relatively thin band-like distribution passing through the diameter of the protective glass, but by using a plurality of combinations of LED light sources and photoelectric elements. , The detection area can be expanded.

図4(a),(b)は汚れ検知領域が測定用光源と光電素子との間の直径を通る帯状となることを説明する概念図であり、図4(c)はφ100mmの保護ガラスの感度分布を説明する図であり、図4(d)は測定用光源と補正用光電素子と検知用光電素子とからなる発光受光ユニットを1〜3まで3ペア備える構成を説明する概念図である。   4 (a) and 4 (b) are conceptual diagrams for explaining that the dirt detection region has a band shape passing through the diameter between the light source for measurement and the photoelectric element, and FIG. 4 (c) is a diagram of protective glass having a diameter of 100 mm. FIG. 4D is a conceptual diagram illustrating a configuration including three pairs of light emitting and receiving units each including a measurement light source, a correction photoelectric element, and a detection photoelectric element. .

また、保護ガラスを導波路をする光導波路方法により、測定光の検出光強度レベルが高いことに加え、パルス変調光による測定を行うことにより、外乱の影響を受け難く、極めて信頼性の高い汚れ検知が可能となる。   In addition to the high detection light intensity level of the measurement light by the optical waveguide method using the protective glass as a waveguide, the measurement with pulse-modulated light makes it less susceptible to disturbances and extremely reliable contamination. Detection is possible.

同様に、汚損測定のダイナミックレンジが広いため、汚れの有無の判定のみに限らず、汚れ具合を段階的に表示することも可能であり、保護ガラスの交換時期を予測することにも役立つものとなる。   Similarly, since the dynamic range of stain measurement is wide, it is possible to display not only the presence / absence of contamination but also the degree of contamination in stages, which is useful for predicting the replacement time of protective glass. Become.

図5は、本発明の実施形態によるところのφ100mmの保護ガラスに汚れが付着した度合いに対する検知される光強度の相対出力を説明する図である。図5においては、保護ガラス上に墨汁を1滴ずつ滴下したときの光電素子の出力変化を示しており、横軸が墨汁の滴下数を示し縦軸が相対検知光強度を示している。なお、墨汁は、光路上(帯状の汚れ検知領域上)を直線的に10mm間隔で滴下して測定した。   FIG. 5 is a diagram for explaining the relative output of the detected light intensity with respect to the degree of contamination on the φ100 mm protective glass according to the embodiment of the present invention. FIG. 5 shows changes in the output of the photoelectric element when ink drops are dropped on the protective glass one by one, the horizontal axis indicates the number of ink drops dropped, and the vertical axis indicates the relative detection light intensity. Note that the ink was measured by dropping linearly at intervals of 10 mm on the optical path (on the strip-shaped stain detection area).

図5から理解できるように、滴下数の増大すなわち保護ガラスの汚染の増大に伴い、検知される光強度が低下しており、その相関関係から保護ガラスの汚損度合いを適確に把握することが可能である。従って、例えば、清浄な状態から80%の検出光強度にまで低下した時点で、オペレータに警告したり通知したり、自動機によるワークの搬送供給を停止させたり、さらにはレーザ発振そのものを停止させたりすることも可能である。   As can be understood from FIG. 5, the detected light intensity decreases as the number of drops increases, that is, the contamination of the protective glass increases, and the degree of contamination of the protective glass can be accurately grasped from the correlation. Is possible. Therefore, for example, when the detected light intensity drops from 80% to 80%, the operator is warned or notified, the conveyance of the workpiece by the automatic machine is stopped, and the laser oscillation itself is stopped. It is also possible to do.

本発明の保護ガラスの汚れ検出装置は、レーザ加工機のレーザ加工ヘッドに実装される保護ガラスの汚れを検出する保護ガラスの汚れ検出装置であって、保護ガラスに、LED光が保護ガラス内で全反射するように、LED光を入射させるLED光入射部と、保護ガラスのLED光入射部に対向する端面に配置されたLED光検出部と、を備えることを特徴とする。   The protective glass contamination detection device of the present invention is a protective glass contamination detection device that detects the contamination of the protective glass mounted on the laser processing head of the laser processing machine. LED light is applied to the protective glass within the protective glass. The LED light incident part which makes LED light enter so that it may totally reflect, and the LED light detection part arrange | positioned at the end surface facing the LED light incident part of a protective glass, It is characterized by the above-mentioned.

また、ワークを除去したりすることなく、レーザ加工の空き時間(例えばワークの交換時間中や加工対象試料ごとの加工開始前)を利用して、極めて短時間(例えば、0.5秒等)で、安全に保護ガラスの汚れ検知を行える。また、保護ガラスの上面または下面の汚れ度合いの情報を含む出射光を、強い光強度で検出することが可能となるので、高精度な汚れ検出が可能となる。例えば、保護ガラスが所定の厚さを有する円板形状の場合には、LED光入射部とLED光検出部とは、当該円板形状の直径を通る対向位置に配置されるものとする。これにより、エバネッセント光や散乱光や外部への伝播光ではなく、保護ガラス内を直径に沿って上下面で全反射条件下で反射しながら透過してきた強い光を検出することができる。   Further, without removing the workpiece, the laser processing idle time (for example, during the workpiece replacement time or before the start of processing for each sample to be processed) is used for a very short time (for example, 0.5 seconds). With this, you can safely detect dirt on the protective glass. Moreover, since it becomes possible to detect the emitted light containing the information on the degree of contamination on the upper surface or the lower surface of the protective glass with high light intensity, highly accurate contamination detection is possible. For example, when the protective glass has a disk shape having a predetermined thickness, the LED light incident part and the LED light detection part are arranged at opposing positions passing through the disk-shaped diameter. Thereby, it is possible to detect not the evanescent light, the scattered light, or the light propagating to the outside, but the strong light transmitted through the protective glass while reflecting on the upper and lower surfaces along the diameter under the total reflection condition.

また、本発明の保護ガラスの汚れ検出装置は、好ましくはLED光の保護ガラスへの入射前の光量に対する、LED光検出部で検出された検出光の光量、の比率を表示する表示部をさらに備えることを特徴とする。   The protective glass contamination detection device of the present invention preferably further includes a display unit for displaying a ratio of the amount of detection light detected by the LED light detection unit to the amount of light before the LED light is incident on the protective glass. It is characterized by providing.

このため、入射前のLED光の光量を測定するための入射光量モニター用フォトダイオードをLED周囲に設けることができる。現実には、入射光は保護ガラスに入射されるためその全光量をリアルタイムで直接測定することは不可能である。しかし、入射光量モニター用フォトダイオードを設けて測定することにより、入射光量を見積もってこれに換算することが可能である。   For this reason, a photodiode for monitoring the amount of incident light for measuring the amount of LED light before incidence can be provided around the LED. In reality, since incident light is incident on the protective glass, it is impossible to directly measure the total amount of light in real time. However, it is possible to estimate and convert the incident light amount by providing an incident light amount monitoring photodiode.

保護ガラスが全く汚れていない場合(新品へ交換直後等)の入射光量モニター用フォトダイオードの測定値と、それに対するLED光検出部で検出された検出光の測定値と、の比率を記録・記憶しておけば、保護ガラスの汚れ進行とともに当該比率は低下していくので汚れ度合いを把握することができる。   Records and stores the ratio between the measured value of the incident light intensity monitoring photodiode and the measured value of the detected light detected by the LED light detection unit when the protective glass is not dirty (immediately after replacement with a new one). If this is done, the ratio decreases with the progress of dirt on the protective glass, so the degree of dirt can be determined.

また、LEDは、環境温度により発光効率や発光強度が大きく異なることが知られているが、上述のように入射光と出射光の相対的な比率で汚れ具合を把握するので、LEDの温度特性変動に影響を受けることなく比較的精確かつ客観的な汚れ度合い把握が可能となる。   In addition, LEDs are known to have significantly different luminous efficiencies and luminous intensities depending on the environmental temperature, but as described above, the degree of contamination is determined by the relative ratio of incident light and outgoing light, so the temperature characteristics of the LEDs It is possible to grasp the degree of contamination relatively accurately and objectively without being affected by fluctuations.

また、本発明の保護ガラスの汚れ検出装置は、さらに好ましくはLED光の保護ガラス内における反射平面への入射角は、臨界角を超えて90°未満であることを特徴とする。   The protective glass contamination detection apparatus of the present invention is more preferably characterized in that the incident angle of the LED light to the reflection plane in the protective glass is more than the critical angle and less than 90 °.

これにより、保護ガラス円周部の例えば端面から入射されるLED光が、直線的に保護ガラスを貫通して一度も上下面に反射することなく対向端から出射されて検出されることを回避し、少なくとも1回以上、上下面における反射をした反射光を検出できる。LED光が保護ガラス内をあたかも光導波路のように反射しながら通過してくるため、対向端における当該出射光には少なくとも反射した箇所の汚れ具合に関する情報を含むものとなる。入射するLED光の角度を、保護ガラス内部の上下面で全反射するように調整することにより、対向端での検出光が強すぎることなく検出に適切な情報を含む適切な強度の光として検出できるものとなる。保護ガラス内でLED光が反射する回数がなるべく多くなるようにすることで、汚れ具合に関する情報をより多く含むことができる。LED光のガラス内部反射回数を最大化するためには、ガラス内部における反射上下面への光入射角が臨界角に近い角度となるようにすることが好ましい。仮に、臨界角より小さければ、ガラスの上下面からLED光が放出されて散逸することとなってしまい、光検出部で測定される光強度が極めて弱くなる。   This avoids LED light incident from, for example, the end surface of the protective glass circumferential portion being emitted from the opposite end without being linearly penetrating the protective glass and being reflected on the upper and lower surfaces. The reflected light reflected on the upper and lower surfaces can be detected at least once. Since the LED light passes through the protective glass while reflecting as if it were an optical waveguide, the emitted light at the opposite end includes at least information on the degree of contamination of the reflected portion. By adjusting the angle of the incident LED light so that it is totally reflected by the upper and lower surfaces inside the protective glass, the detection light at the opposite end is not too strong, and it is detected as light of appropriate intensity containing appropriate information for detection. It will be possible. By making the number of times the LED light is reflected within the protective glass as much as possible, more information on the degree of contamination can be included. In order to maximize the number of times the LED light is reflected inside the glass, it is preferable that the angle of light incident on the upper and lower reflective surfaces inside the glass be close to the critical angle. If the angle is smaller than the critical angle, LED light is emitted from the upper and lower surfaces of the glass and dissipated, and the light intensity measured by the light detection unit becomes extremely weak.

また、本発明の保護ガラスの汚れ検出装置は、さらに好ましくはLED光は、可視光のパルス光であり、保護ガラス内における反射平面への入射角は臨界角を超える角度であることを特徴とする。図6に説明するように、媒質(保護ガラス)内部における反射平面への入射角が臨界角(例えば41°)を超える可能な限り小さな角度となるように、保護ガラス外部からのLED光入射角を調整し、設定することができる。ここで、LED光の保護ガラスへの入射角(すなわちLEDのガラスに対する向き)について説明すると、例えば端面から入射させる場合には端面の形状やコーティング有無等層構成、また利用する光の波長、ガラスの屈折率等に依存して、ガラス入射時の屈折特性が大きく異なることが一般に知られている。本発明においては、ガラス内を進行する測定用LED光を、ガラス内部の上下面で、好ましくは多数回全反射させるものであるが、上記屈折特性に鑑み、LED光の保護ガラスへの入射角(すなわちLEDのガラスに対する向き)で特定することなく、ガラス内部における全反射特性を有するように、LED光をガラスに入射させるものとする。例えば、全反射している場合には、検出される光強度が一定範囲内で最大化(または極大化)されるため、LEDの向きを微調整しながら、検出される光強度が弱くならない程度に、ガラス内を多数回反射させるように、LEDの向きを調整することができる。   Further, in the protective glass contamination detection apparatus of the present invention, the LED light is preferably pulsed light of visible light, and the incident angle to the reflection plane in the protective glass is an angle exceeding the critical angle. To do. As illustrated in FIG. 6, the incident angle of the LED light from the outside of the protective glass is such that the incident angle to the reflection plane inside the medium (protective glass) is as small as possible exceeding a critical angle (for example, 41 °). Can be adjusted and set. Here, the incident angle of the LED light to the protective glass (that is, the direction of the LED with respect to the glass) will be described. For example, when the light is incident from the end surface, the shape of the end surface, the layer presence / absence of coating, etc. It is generally known that the refractive characteristics at the time of glass incidence differ greatly depending on the refractive index of the glass. In the present invention, the LED light for measurement traveling in the glass is totally reflected at the upper and lower surfaces inside the glass, preferably many times, but in view of the above refraction characteristics, the incident angle of the LED light to the protective glass It is assumed that the LED light is incident on the glass so as to have total reflection characteristics inside the glass without being specified by (that is, the direction of the LED with respect to the glass). For example, in the case of total reflection, the detected light intensity is maximized (or maximized) within a certain range, so that the detected light intensity does not become weak while finely adjusting the direction of the LED. In addition, the direction of the LED can be adjusted so that the inside of the glass is reflected many times.

すなわち、上述した所定の条件を充足するようにLED光を保護ガラス端面等から入射させることで、対向端において上面または下面で一回以上反射したLED光が良好なS/N比のもとで検出できるものとなる。例えば、保護ガラスへの入射角0°でLED光をガラスへ入射させれば、保護ガラスの上面または下面で一度も反射されることなく、保護ガラス内を直線的に透過したLED光が強い強度で対向端から出射されることとなるので、汚れ検出には適切ではないものとなる。   That is, by making the LED light incident from the protective glass end face or the like so as to satisfy the predetermined condition described above, the LED light reflected at least once on the upper surface or the lower surface at the opposite end can be obtained under a good S / N ratio. It can be detected. For example, when LED light is incident on the glass at an incident angle of 0 ° to the protective glass, the LED light that is linearly transmitted through the protective glass without being reflected once by the upper or lower surface of the protective glass has a strong intensity. Since the light is emitted from the opposite end, it is not appropriate for the dirt detection.

また、本発明の保護ガラスの汚れ検出装置は、さらに好ましくはLEDの主波長が、580nm〜600nmの間であり、LEDの光出射角は30°以下であることを特徴とする。   The protective glass contamination detection apparatus of the present invention is more preferably characterized in that the main wavelength of the LED is between 580 nm and 600 nm, and the light emission angle of the LED is 30 ° or less.

LEDはそれ自体にレンズ機能を有する樹脂モールド等がされており、LEDの特性の一つとして光の出射角が定められている。本発明においては、内部での全反射条件を充足するような所定の入射角で保護ガラス内に効率的にLEDを入射させるために、好ましくはLEDの光出射角は20°以上30°以下であるものとする。あまりにブロードに広角に光を出射させるLEDではガラス内部での反射効率が悪くなり、検出される検出光も弱いものとなってしまう。   The LED itself has a resin mold having a lens function, and a light emission angle is defined as one of the characteristics of the LED. In the present invention, in order to allow the LED to efficiently enter the protective glass at a predetermined incident angle that satisfies the internal total reflection condition, the light emission angle of the LED is preferably 20 ° to 30 °. It shall be. In an LED that emits light at a wide angle too broadly, the reflection efficiency inside the glass is deteriorated and the detected light to be detected is weak.

また、LEDの波長は黄色乃至橙色程度が好ましく、580nmから600nm程度の波長範囲の発光波長をメインとするLEDであることが好ましい。本発明者の確認実験において、当該波長領域による測定が、他の波長領域に比較して良好な光測定強度を得ることができる結果となった。   The wavelength of the LED is preferably about yellow to orange, and is preferably an LED mainly having an emission wavelength in a wavelength range of about 580 nm to 600 nm. In the confirmation experiment of the present inventor, the measurement by the wavelength region has a result that a good light measurement intensity can be obtained as compared with other wavelength regions.

また、本発明の保護ガラスの汚れ検出装置は、さらに好ましくはLEDのパルスは2000回/秒以上であることを特徴とする。   Further, the protective glass contamination detection apparatus of the present invention is more preferably characterized in that the LED pulse is 2000 times / second or more.

LEDの発光パルスは、周囲環境に多量に存在する50〜60Hz程度の周期から可能な限り離間させることが好ましい。好ましくは、1回の測定時間が例えば0.5秒である場合に、この0.5秒の間に1000回程度以上点滅させるパルス光とすることが好ましい。これにより、周囲環境の雑音信号(例えば各種照明など)等の影響を低減し、高精度な汚れ度合いの測定や判断等が可能となる。   The light emission pulse of the LED is preferably separated as much as possible from a period of about 50 to 60 Hz, which exists in a large amount in the surrounding environment. Preferably, when the measurement time of one time is 0.5 seconds, for example, it is preferable to use pulsed light that blinks about 1000 times or more during this 0.5 second. Thereby, it is possible to reduce the influence of noise signals (for example, various illuminations) in the surrounding environment and to measure and judge the degree of contamination with high accuracy.

また、本発明の保護ガラスの汚れ検出装置は、さらに好ましくはLED光の保護ガラスへの入射前の光量と、LED光検出部で検出された検出光の光量と、の比較に基づいて、保護ガラスの汚れ度合いを判断する判断部をさらに備えることを特徴とする。   In addition, the protective glass dirt detection device of the present invention is more preferably based on a comparison between the amount of light before the LED light is incident on the protective glass and the amount of detection light detected by the LED light detection unit. It further comprises a determination unit for determining the degree of contamination of the glass.

これにより、オペレータが測定データに基づいて直接判断することなく、判断部が自動的に汚れ度合いを判断することが可能となるので、オペレータの変動による個人差等に依存せず、常に安定した客観的な判断が可能となる。このため、入射前のLED光量を推し量る発光強度モニター用の光電素子と、及び検出光の光量を測定する光電素子と、を備えることができる。   As a result, the determination unit can automatically determine the degree of contamination without the operator making a direct determination based on the measurement data. Judgment is possible. For this reason, the photoelectric element for the emitted light intensity monitor which estimates the LED light quantity before incidence, and the photoelectric element which measures the light quantity of detection light can be provided.

また、本発明のレーザ加工機は、上述の保護ガラスの汚れ検出装置を備えるレーザ加工機であって、判断部が、保護ガラスの汚れ度合いが所定の閾値以上であると判断した場合に、レーザ加工機によるレーザ加工作業を停止させるかまたはオペレータに通知する通知手段を備えることを特徴とする。通知は、警報音の発報によるものでもよく、表示部にアラート表示するものでもよく、それらの組み合わせ等でもよく任意の通知方法を用いることができる。   Further, the laser processing machine of the present invention is a laser processing machine provided with the above-described protective glass stain detection device, and when the determination unit determines that the degree of contamination of the protective glass is equal to or greater than a predetermined threshold, It is characterized by comprising notifying means for stopping the laser processing operation by the processing machine or notifying the operator. The notification may be an alarm sound, an alert display on the display unit, or a combination thereof, and any notification method can be used.

これにより、オペレータの判断過誤等により保護ガラスが汚れたままの状態で、レーザ加工が遂行される等の品質低下要因を排除できるものとなるので、常に、安定した高品質のレーザ加工を遂行することが可能となる。例えば、通知を受けたオペレータは、保護ガラスを交換するか掃除するか等により、汚れが無い状態の保護ガラスとすることが可能となる。   As a result, it is possible to eliminate quality degradation factors such as laser processing performed while the protective glass remains dirty due to an operator's judgment error, etc., so that stable and high-quality laser processing is always performed. It becomes possible. For example, the operator who has received the notification can make the protective glass free from dirt depending on whether the protective glass is replaced or cleaned.

本発明の保護ガラスの汚れ検出方法は、上述のいずれか一項に記載の汚れ検出装置を用いた保護ガラスの汚れ検出方法であって、LED光入射部において、保護ガラス内にLED光を入射させる工程と、LED光検出部において、保護ガラスの対向する端面から出射される光を、検出する工程と、入射させたLED光と出射されたLED光との光強度比較に基づいて保護ガラスの汚れ度合いを判断する工程と、を有することを特徴とする。   The method for detecting dirt on a protective glass according to the present invention is a method for detecting dirt on a protective glass using the dirt detector according to any one of the above items, and the LED light is incident on the protective glass at the LED light incident portion. And the step of detecting the light emitted from the opposite end faces of the protective glass in the LED light detection unit and the comparison of the light intensity between the incident LED light and the emitted LED light And a step of judging the degree of contamination.

これにより、ワークを除去したりすることなく、レーザ加工の空き時間(例えばワークの交換時間中や加工対象試料ごとの加工開始前)を利用して、極めて短時間(例えば、0.5秒等)で、安全に保護ガラスの汚れ検知を行える、保護ガラスの汚れ検出方法とできる。また、保護ガラスの上面または下面の汚れ度合いの情報を含む出射光を、強い光強度で検出することが可能となるので、高精度な汚れ検出が可能な、保護ガラスの汚れ検出方法とできる。   This makes it possible to use a laser processing idle time (for example, during the workpiece replacement time or before the start of processing for each sample to be processed) for a very short time (for example, 0.5 seconds or the like) without removing the workpiece. ), It is possible to provide a method for detecting the contamination of the protective glass, which can safely detect the contamination of the protective glass. In addition, since it is possible to detect the emitted light including information on the degree of contamination of the upper surface or the lower surface of the protective glass with a high light intensity, it is possible to provide a method for detecting the contamination of the protective glass that enables highly accurate contamination detection.

本発明は、保護ガラスの汚れの点検が自動化でき、自動機との連動も可能であるため、保守点検作業によるレーザ加工機の停止時間が最小となり稼働率が向上するとともに、汚損によるトラブルの未然防止にも役立つ。   Since the present invention can automate the inspection of dirt on the protective glass and can be linked to an automatic machine, the downtime of the laser processing machine due to maintenance and inspection work is minimized, the operating rate is improved, and troubles due to contamination are prevented. It is also useful for prevention.

また、本発明は、CCDカメラや画像処理等のシステムを要さず、比較的簡便かつ安価な構成で実現可能なため小型化でき、レーザ加工ヘッドや出射ユニット等への組込により既存設備への導入にも適している。   Further, the present invention does not require a system such as a CCD camera or image processing, and can be realized with a relatively simple and inexpensive configuration, so that it can be miniaturized. It is also suitable for introduction.

また、本発明は、保護ガラスの汚損検知のために加工用レーザ光の光路上に干渉する要素を新たに設けるものではないので、現実のレーザ加工中に、これと平行して保護ガラスの汚れ検知を行うことも可能である。   In addition, the present invention does not newly provide an element that interferes with the optical path of the processing laser beam for detecting the contamination of the protective glass. Therefore, during actual laser processing, the protective glass is contaminated in parallel with this. It is also possible to detect.

本発明のレーザ加工機の保護ガラスの汚れ検出方法等は、上述した本実施形態の説明における構成や方法に限定されるものではなく、本発明の範囲内かつ当業者に自明な範囲で適宜自由に変更し、修正し、アレンジすることが可能である。また、従来公知の装置構成や方法と適宜組み合わせて、また適宜順序を入れ替えて利用することが可能である。   The method for detecting contamination on the protective glass of the laser processing machine of the present invention is not limited to the configuration and method in the description of the present embodiment described above, and can be freely selected within the scope of the present invention and within the scope obvious to those skilled in the art. Can be changed, modified, and arranged. In addition, it can be used in combination with conventionally known apparatus configurations and methods as appropriate, and in appropriate order.

本発明は、レーザ加工機やシステム等に幅広く適用することが可能である。   The present invention can be widely applied to laser processing machines and systems.

1000・・レーザ加工システム、1100・・光ファイバ、1200・・レーザ加工ヘッド、1210・・保護ガラス、1300・・保護ガラスの汚れ検出装置、1400・・ワーク、1500・・自動機、1600・・レーザ制御部。   1000 ... Laser processing system, 1100 ... Optical fiber, 1200 ... Laser processing head, 1210 ... Protective glass, 1300 ... Protective glass contamination detector, 1400 ... Work, 1500 ... Automatic machine, 1600 ... Laser control unit.

Claims (9)

レーザ加工機のレーザ加工ヘッドに実装される保護ガラスの汚れを検出する保護ガラスの汚れ検出装置において、
前記保護ガラスに、LED光が前記保護ガラス内で全反射するように、前記LED光を入射させるLED光入射部と、
前記保護ガラスの前記LED光入射部に対向する端面に配置されたLED光検出部と、を備える
ことを特徴とする保護ガラスの汚れ検出装置。
In the protective glass contamination detection device that detects the contamination of the protective glass mounted on the laser processing head of the laser processing machine,
An LED light incident part that makes the LED light incident on the protective glass so that the LED light is totally reflected in the protective glass; and
An LED light detection unit disposed on an end surface of the protective glass facing the LED light incident unit.
請求項1に記載の保護ガラスの汚れ検出装置において、
前記LED光の前記保護ガラスへの入射前の光量に対する、前記LED光検出部で検出された検出光の光量、の比率を表示する表示部をさらに備える
ことを特徴とする保護ガラスの汚れ検出装置。
In the protective glass dirt detection device according to claim 1,
A protective glass contamination detecting device, further comprising a display unit that displays a ratio of a light amount of the detection light detected by the LED light detection unit to a light amount of the LED light before entering the protective glass. .
請求項1または請求項2に記載の汚れ検出装置において、
前記LED光の前記保護ガラス内における反射平面への入射角は、臨界角を超えて90°未満である
ことを特徴とする保護ガラスの汚れ検出装置。
In the dirt detection device according to claim 1 or 2,
An incident angle of the LED light to the reflection plane in the protective glass is less than 90 ° exceeding a critical angle.
請求項3に記載の汚れ検出装置において、
前記LED光は、可視光のパルス光である
ことを特徴とする保護ガラスの汚れ検出装置。
In the dirt detection device according to claim 3,
The LED light is visible light pulse light.
請求項4に記載の汚れ検出装置において、
前記LED光の主波長は580nm〜600nmの間であり、LEDからの前記LED光の光出射角は30°以下である
ことを特徴とする保護ガラスの汚れ検出装置。
In the dirt detection device according to claim 4,
The main wavelength of the LED light is between 580 nm and 600 nm, and the light emission angle of the LED light from the LED is 30 ° or less.
請求項4または請求項5に記載の汚れ検出装置において、
前記LED光のパルスは2000回/秒以上である
ことを特徴とする保護ガラスの汚れ検出装置。
In the dirt detection device according to claim 4 or 5,
The LED light pulse is 2000 times / second or more.
請求項1乃至請求項6のいずれか一項に記載の汚れ検出装置において、
前記LED光の前記保護ガラスへの入射前の光量と、前記LED光検出部で検出された検出光の光量と、の比較に基づいて、前記保護ガラスの汚れ度合いを判断する判断部をさらに備える
ことを特徴とする保護ガラスの汚れ検出装置。
In the dirt detection device according to any one of claims 1 to 6,
The apparatus further includes a determination unit that determines the degree of contamination of the protective glass based on a comparison between the light amount of the LED light before entering the protective glass and the light amount of the detection light detected by the LED light detection unit. Protective glass contamination detector characterized by the above.
請求項7に記載の保護ガラスの汚れ検出装置を備えるレーザ加工機において、
前記判断部が、前記保護ガラスの汚れ度合いが所定の閾値以上であると判断した場合に、前記レーザ加工機によるレーザ加工作業を停止させるかまたはオペレータに通知する通知手段を備える
ことを特徴とするレーザ加工機。
In a laser processing machine comprising the protective glass contamination detection device according to claim 7,
When the determination unit determines that the degree of contamination of the protective glass is equal to or greater than a predetermined threshold value, the determination unit includes a notification unit that stops the laser processing operation by the laser processing machine or notifies the operator. Laser processing machine.
請求項1乃至請求項7のいずれか一項に記載の汚れ検出装置を用いた保護ガラスの汚れ検出方法において、
前記LED光入射部において、前記保護ガラス内に前記LED光を入射させる工程と、
前記LED光検出部において、前記保護ガラスの対向する端面から出射される光を、検出する工程と、
入射させた前記LED光と前記出射された前記LED光との光強度比較に基づいて前記保護ガラスの汚れ度合いを判断する工程と、を有する
ことを特徴とする保護ガラスの汚れ検出方法。
In the dirt detection method of the protection glass using the dirt detector according to any one of claims 1 to 7,
In the LED light incident part, the step of causing the LED light to enter the protective glass;
In the LED light detection unit, detecting light emitted from the opposite end surfaces of the protective glass;
And a step of determining the degree of contamination of the protective glass based on a comparison of light intensity between the incident LED light and the emitted LED light.
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