JP2017184500A - スイッチング電源装置 - Google Patents

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満 増田
Mitsuru Masuda
満 増田
正弘 楠
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【課題】電力の損失を増加させることなく、製造コストを低減すること。【解決手段】E級動作をするスイッチング電源装置1において、直流電源11から供給される直流電力を平滑化して出力するインダクタ12と、インダクタの出力端子とグランドとの間に接続され、インダクタから出力される直流電力をスイッチングするスイッチング素子13と、スイッチング素子と並列に接続されるキャパシタ15と、スイッチング素子と負荷との間に接続され、スイッチング周波数と略同じ共振周波数を有する第1のLC直列共振回路(インダクタ16およびキャパシタ17)と、スイッチング素子に並列に接続され、スイッチング素子のスイッチング周波数よりも高い周波数を共振周波数に有する第2のLC直列共振回路(インダクタ21およびキャパシタ22)と、を有する。【選択図】図1

Description

本発明は、スイッチング電源装置に関するものである。
従来から、高周波の電力を低損失で生成可能なE級電源装置が知られている。E級電源装置では、スイッチング素子の両端の電圧が零で、かつ、その傾きも零の状態でスイッチング素子がターンオンするので、スイッチング損失を少なくすることができ、特に高周波電源において有用である。
例えば、非特許文献1には、ZVS(Zero Voltage Switching)動作を行うE級電源装置に関する技術が掲載されている。
トランジスタ技術2005年2月号13章
ところで、非特許文献1に開示されているような従来のE級電源装置では、スイッチング素子として、耐圧が数百ボルト程度のものを使用する必要がある。より詳細には、電源装置に対して商用電源を整流して得た直流電力を供給する場合、その電圧は140〜160Vであり、また、LC直列共振回路の共振によるピーク電圧は、整流して得た直流電力の電圧の2〜3倍となる。このため、これらを合計した電圧であるスイッチング素子に印加される電圧は500V程度となるからである。
このため、スイッチング素子として、耐圧が高いものを使用する必要があり、そのようなスイッチング素子は高価であることから、装置の製造コストが高くなるという問題点がある。
そこで、耐圧が低いスイッチング素子を直列接続して使用する方法も考えられるが、そのような方法ではスイッチング素子のオン抵抗は接続数に応じて増加することから、電力の損失が増加するという問題点がある。
本発明は、以上の点に鑑みてなされたものであり、電力の損失を増加させることなく、製造コストを低減することが可能なスイッチング電源装置を提供することを目的としている。
上記課題を解決するために、本発明は、E級動作をするスイッチング電源装置において、直流電源から供給される直流電力を平滑化して出力するインダクタと、前記インダクタの出力端子とグランドとの間に接続され、前記インダクタから出力される直流電力をスイッチングするスイッチング素子と、前記スイッチング素子と並列に接続されるキャパシタと、前記スイッチング素子と負荷との間に接続され、スイッチング周波数と略同じ共振周波数を有する第1のLC直列共振回路と、前記スイッチング素子に並列に接続され、前記スイッチング素子のスイッチング周波数よりも高い周波数を共振周波数に有する第2のLC直列共振回路と、を有することを特徴とする。
このような構成によれば、電力の損失を増加させることなく、製造コストを低減することが可能なスイッチング電源装置を提供することができる。
また、本発明は、前記第2のLC直列共振回路は、前記スイッチング素子のスイッチング周波数の2倍および/または3倍の周波数を共振周波数とすることを特徴とする。
このような構成によれば、スイッチング周波数の2次または3次高調波に対応する成分を低減することで、スイッチング素子に印加される電圧を確実に低減することができる。
本発明によれば、電力の損失を増加させることなく、製造コストを低減することが可能なスイッチング電源装置を提供することができる。
本発明の実施形態に係るスイッチング電源装置の構成例を示す図である。 従来のスイッチング電源装置の構成例を示す図である。 図2に示す従来例のドレイン−ソース端子間電圧の時間的変化を示す図である。 図2に示す従来例のドレイン−ソース端子間に流れる電流の時間的変化を示す図である。 図3に示す電圧波形に対してFFT処理を施して得られる結果を示す図である。 図2に示す従来例の出力電圧の時間的変化を示す図である。 図2に示す従来例の出力電流の時間的変化を示す図である。 図1に示す実施形態のドレイン−ソース端子間電圧の時間的変化を示す図である。 図1に示す実施形態のドレイン−ソース端子間に流れる電流の時間的変化を示す図である。 図8に示す電圧波形に対してFFT処理を施して得られる結果を示す図である。 図1に示す実施形態の出力電圧の時間的変化を示す図である。 図1に示す実施形態の出力電流の時間的変化を示す図である。
次に、本発明の実施形態について説明する。
(A)本発明の実施形態の構成の説明
図1は、本発明の実施形態に係るスイッチング電源装置の構成例を示す図である。また、図2は、比較のための従来のスイッチング電源装置の構成を示す図である。本実施形態の特徴を明確にするため、まず、図2を参照して従来のスイッチング電源装置の構成について説明する。図2に示す従来のスイッチング電源装置1は、直流電源11、インダクタ12、スイッチング素子13、ドライブ回路14、キャパシタ15、インダクタ16、キャパシタ17、および、負荷18を有している。
ここで、直流電源11は、プラス端子がインダクタ12の一方の端子に接続され、マイナス端子が接地(グランドに接続)されている。直流電源11は、例えば、商用電源を整流することで得られる電圧が約150V程度の直流電力を出力する。
インダクタ12は、一方の端子が直流電源11のプラス端子に接続され、他方の端子がスイッチング素子13のドレイン端子、キャパシタ15の一方の端子、および、インダクタ16の一方の端子に接続される。インダクタ12は、チョークコイルであり、後段に流れる電流に含まれる脈流成分を平滑化するとともに、スイッチング素子13によって発生する高周波のスイッチングノイズが、直流電源11側に流入することを防止する。
スイッチング素子13は、ドレイン端子がインダクタ12の他方の端子、キャパシタ15の一方の端子、および、インダクタ16の一方の端子に接続され、ゲート端子がドライブ回路14に接続され、ソース端子が接地されている。スイッチング素子13は、例えば、VMOS(Vertical Metal Oxide Semiconductor)−FET(Field Effect Transistor)またはLDMOS(Lateral double Diffused MOS)−FET等の半導体スイッチによって構成される。なお、スイッチング素子13には、フライホイール用のダイオード13aが内蔵されるとともに、浮遊容量13bを有している。
ドライブ回路14は、スイッチング素子13のゲート端子に接続される。ドライブ回路14は、周波数がfsで、デューティ比が約50%の矩形波を発生して、スイッチング素子13のゲート端子に対して供給する。
キャパシタ15は、一方の端子が、インダクタ12の他方の端子、スイッチング素子13のドレイン端子、および、インダクタ16の一方の端子に接続され、他方の端子が接地されている。
インダクタ16は、一方の端子がインダクタ12の他方の端子、スイッチング素子13のドレイン端子、および、キャパシタ15の一方の端子に接続され、他方の端子がキャパシタ17の一方の端子に接続されている。
キャパシタ17は、一方の端子がインダクタ16の他方の端子に接続され、他方の端子が負荷18の一方の端子に接続されている。なお、インダクタ16とキャパシタ17はLC直列共振回路を構成する。例えば、インダクタ16の素子値をLとし、キャパシタ17の素子値をCとすると、これらの共振周波数frは1/2π/SQRT(L×C)によって表されるが、この共振周波数frは、E級動作の条件を満たすように設定されている。より詳細には、共振周波数frは、ドライブ回路14が出力する矩形波の周波数(スイッチング素子13のスイッチング周波数)fsとの間に、fr≒fsの関係を満たすように設定される。なお、前述したSQRT()は括弧内の平方根を求める関数である。
負荷18は、一方の端子がキャパシタ17の他方の端子に接続され、他方の端子が接地されている。なお、負荷18は、高周波電力を供給する対象となる装置等である。
つぎに、図1を参照して、本発明の実施形態の構成について説明する。なお、図1において、図2と対応する部分には同一の符号を付しているので、その説明は省略する。図1では、図2と比較すると、スイッチング素子13のドレイン端子とソース端子に対して、インダクタ21およびキャパシタ22によるLC直列共振回路が並列に接続されている。これ以外の構成は、図2と同様である。
ここで、インダクタ21およびキャパシタ22によるLC直列共振回路の共振周波数fr1は、fr1>fs≒frの条件を満たすように設定される。例えば、共振周波数fr1は、スイッチング素子13のスイッチング周波数fsの2倍または3倍程度の周波数に設定される。
(B)本発明の実施形態の動作の説明
つぎに、本発明の実施形態の動作について説明する。以下では、本実施形態の動作の特徴を明確にするため、まず、図3〜図7を参照して従来のスイッチング電源装置の動作について説明した後に、図8〜図12を参照して本実施形態の動作について説明する。
図3〜図7は、図2に示す従来例の動作について説明する図である。なお、これらの図3〜図7は、図2に示す構成において、直流電源11の電圧を150Vとし、インダクタ12の素子値を945nHとし、ドライブ回路14の周波数fsを13.65MHzとし、浮遊容量13bの素子値を90pFとし、キャパシタ15の素子値を48pFとし、インダクタ16の素子値を0.9μHとし、キャパシタ17の素子値を310pFとした場合のシミュレーション結果である。
図3は、以上の設定条件において、スイッチング素子13のドレイン−ソース端子に印加される電圧Vdsの時間的な変化を示す図である。また、図4は、このときに、ドレイン−ソース端子間に流れる電流Idsの時間的な変化を示す図である。図3に示すように、図2に示す従来例では、ドレイン−ソース端子間にはピーク時には500Vを超える電圧が印加される。
図5は、図3に示す電圧波形に対してFFT(Fast Fourier Transform)処理を施して得られる結果を示す図である。なお、図4の横軸は高調波成分の次数を示し、縦軸は電圧を示している。なお、横軸の“0”はDC成分を示し、“1”は基本周波数を示す。この図4に示すように、図2に示す従来例では、DC成分と、基本周波数であるスイッチング素子13のスイッチング周波数13.65MHz以外にも、2次高調波、および、3次高調波等の電圧も高い状態となっている。
図6は、図2に示す従来例において負荷18に出力される出力電圧Voutの時間的な変化を示し、図7は負荷18に出力される出力電流Ioutの時間的な変化を示している。これらの図から、負荷18に対しては、正弦波に近い形状の電圧および電流が供給されていることが分かる。
図8〜図12は、図1に示す本実施形態の動作について説明する図である。なお、これらの図8〜図12は、図1に示す本実施形態の構成において、直流電源11の電圧を150Vとし、インダクタ12の素子値を535nHとし、ドライブ回路14の周波数fsを13.65MHzとし、浮遊容量13bの素子値を136pFとし、キャパシタ15の素子値を94pFとし、インダクタ16の素子値を630nHとし、キャパシタ17の素子値を4nFとし、インダクタ21の素子値を464nHとし、キャパシタ22の素子値を66pFとした場合のシミュレーション結果である。なお、このような設定では、インダクタ16およびキャパシタ17によるLC直列共振回路の共振周波数は約13.59MHzであり、インダクタ21およびキャパシタ22によるLC直列共振回路の共振周波数は約28.76MHzである。
図8は、以上の設定条件において、スイッチング素子13のドレイン−ソース端子に印加される電圧Vdsの時間的な変化を示す図である。また、図9は、このときに、ドレイン−ソース端子間に流れる電流Idsの時間的な変化を示す図である。図1に示す実施形態では、ドレイン−ソース端子に印加される電圧Vdsのピーク電圧は300V程度と、図2に示す従来例と比較すると、200V程度電圧が降下している。
図10は、図8に示す電圧波形に対してFFT処理を施した結果を示す図である。なお、図10の横軸は高調波成分の次数を示し、縦軸は電圧を示している。この図10に示すように、図1に示す実施形態では、図5と比較すると、“0”で示すDC成分は、図5では約156Vで、図10では約152Vで略同じである。また、“1”で示す、スイッチング素子13のスイッチング周波数fsである13.65MHzの成分(基本周波数成分)の電圧は、図5では約119Vで、図10では90Vと30V程度減少している。また、“2”で示す、2次高調波では、図5では63Vで、図10では7Vと60V程度減少している。これは、インダクタ21およびキャパシタ22による共振周波数が、2次高調波に近い周波数になっていることから、2次高調波の周波数においてスイッチング素子13のドレイン−ソース端子間のインピーダンスが低下するため、インダクタ12への分圧が上昇し、ドレイン−ソース端子間の分圧が減少したためと考えられる。このため、これらの高調波成分の低下に伴って、図8に示すピーク電圧も低下している。
図11は、図1に示す本発明の実施形態において負荷18に出力される出力電圧Voutの時間的な変化を示し、図12は負荷18に出力される出力電流Ioutの時間的な変化を示している。これらの図から、負荷18に対しては、正弦波に近い形状の電圧および電流が供給されていることが分かる。また、図6および図7と比較すると、ピークの先鋭さが緩和された滑らかな波形となっていることが分かる。これにより、負荷18に供給される電力に含まれる高調波成分を少なくすることができることから、ノイズの発生を抑制することができる。
以上に説明したように、本発明の実施形態では、E級動作をするスイッチング電源装置1のスイッチング素子13のドレイン−ソース端子に対して、LC直列共振回路を構成するインダクタ21およびキャパシタ22を並列に接続するとともに、その周波数がスイッチング周波数よりも高く、2次高調波に近い値になるように設定するようにしたので、スイッチング素子13のドレイン−ソース端子に印加される電圧を低減することができる。
これにより、スイッチング素子13として、耐圧の低い素子を使用することが可能になるので、装置の製造コストを低減することができる。また、耐圧の低いスイッチング素子13を直列接続して使用する必要がなくなることから、オン抵抗による損失の増加を抑制することができる。
(D)変形実施形態の説明
以上の各実施形態は一例であって、本発明が上述したような場合のみに限定されるものでないことはいうまでもない。例えば、以上の実施形態では、インダクタ21およびキャパシタ22はインダクタ12の後段に接続するようにしたが、例えば、図1に示すスイッチング素子13の後段に接続したり、キャパシタ15の後段に接続したりしてもよい。
また、以上の実施形態では、スイッチング素子13に並列接続するLC直列共振回路としては、インダクタ21およびキャパシタ22のみを有する構成としたが、回路のQ値を調整する目的で、抵抗素子を直列または並列に接続するようにしてもよい。そのような構成によれば、抵抗値を調整することで、Q値を所望の値に設定することができる。
また、以上の実施形態では、スイッチング素子13に並列接続するLC直列共振回路としては、スイッチング周波数の約2倍の共振周波数を有するようにしたが、スイッチング素子13のドレイン−ソース端子間の電圧波形によっては3倍の共振周波数を有するようにしてもよい。また、2倍の共振周波数を有するLC直列共振回路と、3倍の共振周波数を有するLC直列共振回路とを並列接続するようにしてもよい。
また、前述した、素子値は一例であって、本発明がそのような場合にのみ限定されるものではなく、前述した以外の素子値に設定することも可能であることはいうまでもない。
また、以上の実施形態では、スイッチング素子13としては、MOS−FETを用いるようにしたが、これ以外のスイッチング素子(例えば、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor))等を用いるようにしてもよい。
また、キャパシタ15は、浮遊容量13bの素子値が大きい場合には、必ずしも必要とは限らない。浮遊容量13bの素子値が大きい場合には、キャパシタ15は省略することが可能である。
1 スイッチング電源装置
11 直流電源
12 インダクタ
13 スイッチング素子
13a ダイオード
13b 浮遊容量
14 ドライブ回路
15 キャパシタ
16 インダクタ(第1のLC直列共振回路の一部)
17 キャパシタ(第1のLC直列共振回路の一部)
18 負荷
21 インダクタ(第2のLC直列共振回路の一部)
22 キャパシタ(第2のLC直列共振回路の一部)

Claims (2)

  1. E級動作をするスイッチング電源装置において、
    直流電源から供給される直流電力を平滑化して出力するインダクタと、
    前記インダクタの出力端子とグランドとの間に接続され、前記インダクタから出力される直流電力をスイッチングするスイッチング素子と、
    前記スイッチング素子と並列に接続されるキャパシタと、
    前記スイッチング素子と負荷との間に接続され、スイッチング周波数と略同じ共振周波数を有する第1のLC直列共振回路と、
    前記スイッチング素子に並列に接続され、前記スイッチング素子のスイッチング周波数よりも高い周波数を共振周波数に有する第2のLC直列共振回路と、
    を有することを特徴とするスイッチング電源装置。
  2. 前記第2のLC直列共振回路は、前記スイッチング素子のスイッチング周波数の2倍および/または3倍の周波数を共振周波数とすることを特徴とする請求項1に記載のスイッチング電源装置。
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