JP2017175094A - Ceramic package - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、セラミックからなるパッケージ本体の両面に開口する一対のキャビティにおける一方の底面に一対の水晶振動子搭載用のパッドを有し、且つ他方のキャビティの底面に複数の電子部品搭載用のパッドを有すると共に、前記他方のキャビティを有する枠体側に一対の測定用パッドを有するセラミックパッケージに関する。 The present invention has a pair of quartz crystal resonator mounting pads on one bottom surface of a pair of cavities opened on both surfaces of a ceramic package body, and a plurality of electronic component mounting pads on the bottom surface of the other cavity. And a ceramic package having a pair of measurement pads on the side of the frame having the other cavity.
例えば、絶縁材からなる平板状の基板部と2つの枠部とで構成され、両主面に開口する一対の凹部空間(キャビティ)における一方の底面に複数の集積回路素子搭載用パッドと一対の測定用端子とを設け、他方の上記凹部空間の底面に一対の圧電振動素子搭載用パッドを設けると共に、上記複数の集積回路素子搭載用パッドは、一方の上記凹部空間の底面における中央部に設け、且つ上記一対の測定用端子は、同じ一方の凹部空間の底面における中央部の両側に個別に設けようにした圧電発振器が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
前記のような圧電発振器によれば、全体が小型化されても、前記集積回路素子を搭載した後において、前記圧電振動素子の必要な電気的測定を、一対の測定用端子の表面ごとにプローブピンの尖った先端部を接触させることで、容易に測定するとが可能となる。
For example, a plurality of integrated circuit element mounting pads and a pair of pairs are formed on one bottom surface of a pair of recessed spaces (cavities) that are formed of a flat substrate portion made of an insulating material and two frame portions and open to both main surfaces. And a pair of piezoelectric vibration element mounting pads on the bottom surface of the other recess space, and the plurality of integrated circuit element mounting pads are provided at the center of the bottom surface of the one recess space. In addition, a piezoelectric oscillator has been proposed in which the pair of measurement terminals are individually provided on both sides of the central portion of the bottom surface of the same concave space (see, for example, Patent Document 1).
According to the piezoelectric oscillator as described above, even if the entire size is reduced, after the integrated circuit element is mounted, the necessary electrical measurement of the piezoelectric vibration element is performed for each surface of the pair of measurement terminals. Measurement can be easily performed by bringing the tip of the pin into contact.
しかし、前記圧電発振器のように、同じ凹部空間の底面に複数の集積回路素子搭載用パッドと一対の測定用端子とを形成していると、かかる一対の測定用端子の表面ごとに対して、プローブピンの尖った先端部を接触させ且つ離脱させた際に、前記測定用端子の表面付近におけるメッキ膜の微細な破片や、当該測定用端子を構成している導体の微細な破片が生じる場合がある。かかる導体からなる微細な破片が発生すると、同じ凹部空間の底面に形成された複数の集積回路素子搭載用パッドの相互間において、不用意な短絡を招いたり、前記集積回路素子搭載用パッドの上方に搭載する集積回路素子の実装性に悪影響を来すおそれがあった。 However, as in the piezoelectric oscillator, when a plurality of integrated circuit element mounting pads and a pair of measurement terminals are formed on the bottom surface of the same recess space, for each surface of the pair of measurement terminals, When the sharp tip of the probe pin is brought into contact with and separated from the surface, a fine piece of the plating film near the surface of the measurement terminal or a fine piece of the conductor constituting the measurement terminal is generated. There is. When fine debris made of such a conductor is generated, an inadvertent short circuit may occur between a plurality of integrated circuit element mounting pads formed on the bottom surface of the same recess space, or above the integrated circuit element mounting pads. There is a possibility of adversely affecting the mountability of the integrated circuit element mounted on the board.
本発明は、背景技術で説明した問題点を解決し、パッケージ本体の両面に開口する一対のキャビティにおける一方の底面に一対の水晶振動子搭載用のパッドを有し、且つ他方のキャビティの底面に複数の電子部品搭載用のパッドを有し、前記他方のキャビティを有する枠体側に一対の測定用パッドを有すると共に、前記のような微細な破片が発生しても、上記電子部品搭載用のパッドに対して悪影響を生じないセラミックパッケージを提供する、ことを課題とする。 The present invention solves the problems described in the background art and has a pair of quartz crystal resonator mounting pads on one bottom surface of a pair of cavities opening on both sides of the package body, and on the bottom surface of the other cavity. The electronic component mounting pad has a plurality of electronic component mounting pads, and has a pair of measurement pads on the side of the frame having the other cavity. It is an object of the present invention to provide a ceramic package that does not adversely affect the above.
本発明は、前記課題を解決するため、複数の電子部品搭載用のパッドを設けるキャビティと、一対の測定用パッドを設ける凹部またはキャビティとを、互いに離隔させる、ことに着想して成されたものである。
即ち、本発明による第1のセラミックパッケージ(請求項1)は、セラミックからなり、一対の表面を有する平板状の基体と、該基体における前記一対の表面に個別に積層した一対の枠体と、を有するパッケージ本体と、前記枠体ごとに囲まれ且つ上記基体の表面を底面とする一対のキャビティと、上記一方のキャビティの底面に形成された一対の水晶振動子搭載用のパッドと、上記他方のキャビティの底面に形成された複数の電子部品搭載用のパッドと、上記他方のキャビティが開口する他方の枠体側に形成される一対の測定用パッドと、を備えたセラミックパッケージであって、上記一対の測定用パッドは、上記他方のキャビティとは平面視で離隔した上記他方の枠体の表面に開口する別のキャビティの底面、あるいは、上記他方の枠体の表面および上記パッケージ本体の側面に開口する凹部における上記基体の表面に形成されている、ことを特徴とする。
In order to solve the above-described problems, the present invention was conceived by separating a cavity in which a plurality of pads for mounting electronic components and a recess or cavity in which a pair of measurement pads are provided are separated from each other. It is.
That is, a first ceramic package according to the present invention (Claim 1) is made of ceramic, and has a pair of surfaces and a pair of frames, and a pair of frames individually laminated on the pair of surfaces of the substrate, A pair of cavities surrounded by the frame and having the surface of the base as a bottom surface, a pair of quartz resonator mounting pads formed on the bottom surface of the one cavity, and the other A ceramic package comprising a plurality of electronic component mounting pads formed on the bottom surface of the cavity and a pair of measurement pads formed on the other frame body side where the other cavity opens. The pair of measurement pads may include a bottom surface of another cavity opened on the surface of the other frame body separated from the other cavity in plan view, or the other frame body. It is formed on a surface of said substrate at the surface and a recess that opens to the side surface of the package body, and wherein the.
前記第1のセラミックパッケージによれば、前記一対の測定用パッドは、複数の前記電子部品搭載用のパッドが底面に形成された前記他方のキャビティとは別のキャビティの底面に形成されているか、あるいは、上記他方のキャビティとは別に独立した前記凹部における天井面(基体の表面)に形成されている。そのため、他方のキャビティと別のキャビティとの間、あるいは、他方のキャビティと上記凹部との間を、前記枠体の一方に含まれる隔壁がそれぞれ遮蔽している。
その結果、一対の測定用パッドの表面に対して、プローブピンの尖った先端部を接触させ且つ離脱させた際に、該測定用パッドの表面付近におけるメッキ膜の微細な破片や、当該測定用パッドを構成している導体の微細な破片が生じても、かかる破片は、複数の前記電子部品搭載用のパッドが形成された前記他方のキャビティ内に進入できない。従って、複数の電子部品搭載用のパッドの相互間において、不用意な短絡を招いたり、かかる複数の電子部品搭載搭載の用パッドの上方に追って搭載すべき電子部品の実装性に対する悪影響を防止することができる。
According to the first ceramic package, the pair of measurement pads are formed on a bottom surface of a cavity different from the other cavity on which a plurality of pads for mounting electronic components are formed on the bottom surface, Or it forms in the ceiling surface (surface of a base) in the above-mentioned crevice independent of the above-mentioned other cavity. Therefore, a partition included in one of the frame members shields between the other cavity and another cavity, or between the other cavity and the recess.
As a result, when the tip of the probe pin is brought into contact with and separated from the surface of the pair of measurement pads, fine fragments of the plating film near the surface of the measurement pad, or the measurement Even if a fine fragment of the conductor constituting the pad is generated, the fragment cannot enter the other cavity where the plurality of electronic component mounting pads are formed. Therefore, an inadvertent short circuit is caused between the pads for mounting a plurality of electronic components, or adverse effects on the mountability of the electronic components to be mounted after the pads for mounting the plurality of electronic components are prevented. be able to.
尚、前記パッケージ本体を構成するセラミックは、例えば、アルミナなどの高温焼成セラミック、あるいは、ガラス−セラミックなどの低温高温焼成セラミックからなる。
また、前記水晶振動子搭載用のパッド、電子部品搭載用のパッド、および測定用パッドは、前記セラミックが高温焼成セラミックの場合には、例えば、W(タングステン)あるいはMo(モリブデン)からなり、前記セラミックが低温焼成セラミックの場合には、例えば、Cu(銅)あるいはAg(銀)からなる。
更に、前記一対の表面とは、相対的な呼称であり、例えば、一方を表面と称し且つ他方を裏面と称することも可能である。
また、前記枠体は、平面視の外形が基体と同じか相似形であり、且つその厚み方向に沿って貫通する矩形状の貫通孔を有している。
更に、前記凹部は、前記他方の枠体の表面と前記パッケージ本体の側面と2つの面にに跨って側面視がL字形状に開口しており、該凹部の天井面は、前記基体の表面の一部より形成されている。
また、前記測定用パッドは、前記水晶振動子搭載用のパッドと電気的に接続されており、これに加えて前記電子部品搭載用のパッドとも電気的に接続されていても良い。
加えて、前記電子部品搭載用のパッド上に、追って搭載される電子部品は、例えば、集積回路(IC)、半導体素子、チップコンデンサ、抵抗、インダクタ、トランジスタ、測温素子などである。
The ceramic constituting the package body is made of, for example, a high temperature fired ceramic such as alumina, or a low temperature high temperature fired ceramic such as glass-ceramic.
Further, when the ceramic is a high-temperature fired ceramic, the quartz crystal resonator mounting pad, the electronic component mounting pad, and the measurement pad are made of, for example, W (tungsten) or Mo (molybdenum). When the ceramic is a low-temperature fired ceramic, for example, it is made of Cu (copper) or Ag (silver).
Further, the pair of front surfaces are relative names, for example, one can be referred to as a front surface and the other can be referred to as a back surface.
Further, the frame has the same or similar outer shape in plan view, and has a rectangular through-hole penetrating along the thickness direction.
Further, the concave portion has an L-shaped opening in a side view across the surface of the other frame body, the side surface of the package body, and two surfaces, and the ceiling surface of the concave portion is the surface of the base body. It is formed from a part of.
The measurement pad may be electrically connected to the crystal resonator mounting pad, and in addition to this, the electronic component mounting pad may be electrically connected.
In addition, the electronic components to be mounted on the electronic component mounting pad are, for example, an integrated circuit (IC), a semiconductor element, a chip capacitor, a resistor, an inductor, a transistor, a temperature measuring element, and the like.
また、本発明による第2のセラミックパッケージ(請求項2)は、セラミックからなり、一対の表面を有する平板状の基体と、該基体における前記一対の表面に個別に積層した一対の枠体と、を有するパッケージ本体と、上記枠体ごとに囲まれ且つ上記基体の表面を底面とする一対のキャビティと、上記一方のキャビティの底面に形成された一対の水晶振動子搭載用のパッドと、上記他方のキャビティの底面に形成された複数の電子部品搭載用のパッドと、上記他方のキャビティが開口する他方の枠体側に形成される一対の測定用パッドと、を備えたセラミックパッケージであって、上記一対の測定用パッドは、上記他方の枠体の表面と該表面側における上記パッケージ本体の側面とに開口する凹部における前記他方の枠体の表面と平行状の段面に形成されている、ことを特徴とする。 A second ceramic package according to the present invention (Claim 2) is made of ceramic, has a pair of surfaces, and has a pair of surfaces, a pair of frames individually laminated on the pair of surfaces of the substrate, A pair of cavities surrounded by the frame body and having the surface of the base as a bottom surface, a pair of quartz resonator mounting pads formed on the bottom surface of the one cavity, and the other A ceramic package comprising a plurality of electronic component mounting pads formed on the bottom surface of the cavity and a pair of measurement pads formed on the other frame body side where the other cavity opens. The pair of measurement pads are parallel to the surface of the other frame body in the recess opening to the surface of the other frame body and the side surface of the package body on the surface side. Is formed on the surface, characterized in that.
前記第2のセラミックパッケージによれば、前記一対の測定用パッドは、複数の前記電子部品搭載用のパッドが底面に形成された前記他方のキャビティとは離れて位置する前記凹部の段面(天井面)に形成されているので、上記他方のキャビティと上記凹部との間を、前記枠体の一方に含まれる隔壁が遮蔽している。その結果、一対の測定用パッドの表面に対して、プローブピンの尖った先端部を接触させたり、離脱させた際に、前記のような微細な破片が生じても、かかる破片は、上記他方のキャビティ内に進入できない。従って、前記の不用意な短絡や電子部品の実装性に対する悪影響を防止することが可能となる。
尚、前記他方の枠体は、2層以上のセラミック層を一体に積層したものである。
また、前記凹部の段面は、該凹部の天井面であり、且つ前記他方の枠体を構成している何れか一層のセラミック層における表面の一部により構成されている。
According to the second ceramic package, the pair of measurement pads includes a stepped surface (ceiling) of the recess that is located apart from the other cavity in which a plurality of pads for mounting electronic components are formed on the bottom surface. The partition wall included in one of the frame bodies shields between the other cavity and the recess. As a result, even if the above-mentioned fine debris is generated when the pointed tip of the probe pin is brought into contact with or separated from the surfaces of the pair of measurement pads, the debris is Cannot enter the cavity. Therefore, it is possible to prevent the inadvertent short circuit and the adverse effect on the mountability of electronic components.
The other frame is formed by integrally laminating two or more ceramic layers.
Further, the step surface of the concave portion is a ceiling surface of the concave portion, and is constituted by a part of the surface of any one ceramic layer constituting the other frame body.
更に、本発明には、前記一対の測定用パッドは、前記キャビティとは別で且つ互いに異なるキャビティの底面、互いに異なる前記凹部における前記基体の表面、あるいは、互いに異なる前記前記凹部の段面に形成されている、セラミックパッケージ(請求項3)も含まれる。
これによれば、前記一対の測定用パッドは、複数の前記電子部品搭載用のパッドが底面に形成された前記他方のキャビティとは、別で且つ互いに異なるキャビティの底面、互いに異なる前記凹部における前記基体の表面、あるいは、互いに異なる前記凹部の段面(天井面)に形成されている。そのため、前記のような不用意な短絡や電子部品の実装性に対する悪影響を防止できる。
尚、前記別のキャビティ同士の底面、前記凹部同士における前記基体の表面、あるいは、前記凹部同士の段面は、前記パッケージ本体の厚み方向における同じ位置に設定されている。その結果、一対の上記底面、一対の上記表面、あるいは、一対の上記段面に形成される一対の測定用パッドも、上記厚み方向において同じ高さ(レベル)となるので、追って一対のプローブピンの接触が確実に行える。
Further, according to the present invention, the pair of measurement pads are formed on the bottom surfaces of the cavities different from the cavities and different from each other, the surface of the base in the different concave portions, or the step surfaces of the different concave portions. Also included is a ceramic package (claim 3).
According to this, the pair of measurement pads are different from the other cavity in which a plurality of pads for mounting electronic components are formed on the bottom surface, and the bottom surfaces of different cavities and the recesses different from each other. It is formed on the surface of the base or on the step surface (ceiling surface) of the recesses different from each other. For this reason, it is possible to prevent such an inadvertent short circuit and an adverse effect on the mountability of electronic components.
The bottom surfaces of the different cavities, the surface of the base in the recesses, or the stepped surface of the recesses are set at the same position in the thickness direction of the package body. As a result, the pair of measurement pads formed on the pair of bottom surfaces, the pair of surfaces, or the pair of stepped surfaces also have the same height (level) in the thickness direction. Can be reliably contacted.
加えて、本発明には、前記一対の測定用パッドは、前記キャビティとは異なり且つ同じキャビティの底面、同じ前記凹部における前記基体の表面、あるいは、同じ前記凹部の段面に形成されている、セラミックパッケージ(請求項4)も含まれる。
これによれば、前記一対の測定用パッドは、複数の前記電子部品搭載用のパッドが底面に形成された前記他方のキャビティとは、異なり且つ同じキャビティの底面、同じ前記凹部における前記基体の表面、あるいは、同じ前記凹部の段面に形成されている。そのため、前記のような不用意な短絡や電子部品の実装性に対する悪影響を防止できる。
In addition, according to the present invention, the pair of measurement pads are different from the cavity and are formed on the bottom surface of the same cavity, the surface of the base in the same recess, or the step surface of the same recess. A ceramic package (Claim 4) is also included.
According to this, the pair of measurement pads is different from the other cavity in which a plurality of pads for mounting electronic components are formed on the bottom surface, and the bottom surface of the same cavity and the surface of the base in the same recess Alternatively, it is formed on the step surface of the same recess. For this reason, it is possible to prevent such an inadvertent short circuit and an adverse effect on the mountability of electronic components.
以下において、本発明を実施するための形態について説明する。
本発明による一形態の第1のセラミックパッケージ1aは、図1〜図4に示すように、全体が箱形状のパッケージ本体2と、該パッケージ本体2の上面7と下面9とに個別に開口する上下一対のキャビティ10,12と、一方(上方)のキャビティ10の底面4に形成された一対の水晶振動子搭載用のパッド15と、他方(下方)のキャビティ12の底面5に形成された複数の電子部品搭載用のパッド26〜28と、上記パッケージ本体2の下面9の両端側に位置する左右一対の凹部21と、該凹部21の天井面5に個別に形成された測定用パッド23と、を備えている。
Hereinafter, modes for carrying out the present invention will be described.
As shown in FIGS. 1 to 4, the first ceramic package 1 a according to an embodiment of the present invention is individually opened in a box-shaped
上記パッケージ本体2は、例えば、アルミナ(セラミック)からなり、平面視が矩形(長方形)状で且つ対向する一対の表面4,5を有する平板状の基体3と、該基体3の前記表面4,5上に個別に積層された上下一対の枠体6,8とを一体に有している。前記枠体6,8は、平面視が矩形枠状で且つ厚み方向に沿って平面視の大きさが異なる矩形状の貫通孔を有していたものである。
尚、上記基体3の前記表面4,5は、上記キャビティ10,12の底面4,5でもあり、前記表面(裏面)5は、上記凹部21の天井面5でもある。
また、前記一対のキャビティ10,12は、平面視のサイズが互いに異なり、前記基体3の表面4,5を底面とし、且つ前記枠体6,8ごとの貫通孔の内壁面を4辺の側面11,13としている。
The
The
Further, the pair of
更に、図1〜図3に示すように、一方の枠体6における平面視が矩形枠状の上面7のほぼ全面には、メタライズ層20が形成されている。
尚、上記メタライズ層20の上には、追って、Agロウなどのロウ材を介して矩形状の金属蓋が接合されるか、あるいは、前記ロウ材を介して矩形枠状の金属枠が接合され、且つ該金属枠の上に金属蓋がシーム溶接される。これにより、一方のキャビティ10内に追って搭載される水晶振動子17が外部から封止される。
また、図1,図3〜5に示すように、パッケージ本体2において直角状に隣接する一対の側面14同士(コーナー)の間には、平面視で円弧形(4分の1円形)状の凹所25が厚み方向に沿って形成され、該凹所25の湾曲した内壁面に沿って曲面状の凹所導体24が形成されている。かかる凹所導体24ごとの上端部は、上記メタライズ層20に接続されている。
Further, as shown in FIGS. 1 to 3, a
A rectangular metal lid is joined to the metallized
In addition, as shown in FIGS. 1 and 3 to 5, between the pair of side surfaces 14 (corners) adjacent to each other at right angles in the
更に、図1,図2に示すように、平面視が比較的広い一方のキャビティ10の底面4には、図示の左側に前後一対の水晶振動子搭載用のパッド15と、図示の右側中央に平面視が矩形状の枕18とが形成されている。上記一対の水晶振動子搭載用のパッド15は、平面視が矩形状を呈すると共に、上記キャビティ10における長辺の側面11に沿って延びた引き回し用の配線15aと接続されている。
尚、上記一対の水晶振動子搭載用のパッド15ごとの上方には、追って導電性接着剤16を介して、平面視が矩形状の水晶振動子17が水平状の姿勢で搭載され、該水晶振動子17と上記キャビティ10の底面4との接触を防ぐために前記枕18が設けられている。
Further, as shown in FIGS. 1 and 2, the bottom surface 4 of one
Note that a
また、図2〜図5に示すように、基体3における表面(裏面)5の両端側と他方の枠体8との間には、他方の枠体8の下面(表面)9と前記パッケージ本体2における短辺の側面14との2つの面に跨って、側面視がL字形状に開口する左右一対の凹部21が位置している。該凹部21は、3辺の側面22と水平な天井面5とからなり、該天井面5は、前記基体3の表面5の一部より形成されている。かかる天井面5ごとには、底面視が矩形状の測定用パッド23が形成されている。左右一対の測定用パッド23は、前記一対の水晶振動子搭載用のパッド15と、前記基体C1を貫通するビア導体19などを介して、個別に導通可能とされている。
2 to 5, the lower surface (front surface) 9 of the
また、図4,図5に示すように、平面視が比較的狭い他方のキャビティ12の底面5には、図示で上下一対ずつの電子部品搭載用のパッド26〜28が形成されている。これらのうち、左右両側の前記電子部品搭載用のパッド26,28は、図5に示すように、上記底面5上における上下の側面13に沿って延びた配線26a,28aを介して、前記凹所導体24に個別に接続されている。また、上記底面8の中央側に位置する一対の上記電子部品搭載用のパッド27は、上記底面5上を図示の上下方向と平行に延びた配線27aと接続されている。尚、かかる配線27aは、例えば、図示しない別のビア導体を介して、前記配線15aの先端側のビア導体19に導通可能とされている。
上記電子部品搭載用のパッド26〜28の上には、図4,図5に示すように、追って、前記同様のロウ材を介して、例えば、集積回路(IC、電子部品)30が搭載される。
Also, as shown in FIGS. 4 and 5,
For example, an integrated circuit (IC, electronic component) 30 is mounted on the electronic
更に、図4の底面図に示すように、前記他方の枠体8の下面(表面)9における四隅側には、底面視がほぼL字形状の実装用電極29が個別に形成され、かかる実装用電極29には、前記凹所導体24の下端が個別に接続されている。
尚、上記実装用電極29は、本セラミックパッケージ1aを、追ってマザーボード(図示せず)側の表面電極にロウ付けなどにより実装する際に活用される。
また、導体からなる前記メタライズ層20、ビア導体19、前記パッド15,23,26〜28、凹所導体24、実装用電極29は、WまたはMoからなる。
加えて、図2,図4,図5に示すように、他方のキャビティ12と左右一対の凹部21との間ごとは、他方の枠体8に含まれる断面矩形状の隔壁8wによって遮断されている。
Further, as shown in the bottom view of FIG. 4, mounting
The mounting
The metallized
In addition, as shown in FIGS. 2, 4, and 5, the gap between the
また、前記のような左右一対の凹部21に替えて、図6の底面図に示すように、前記他方の枠体8の下面9における上下一対の長辺の中央部ごとに、前記枠体8の下面9と前記パッケージ本体2くおける長辺の側面14との2つの面に跨って開口する上下一対の凹部21aを対称に形成し、かかる凹部21aごとの天井面5に、測定用パッド23を個別に形成した形態のセラミックパッケージ1aとしても良い。
上記第1のセラミックパッケージ1aにおいても、図6に示すように、他方のキャビティ12と上下一対の凹部21aとの間ごとは、他方の枠体8に含まれる断面矩形状の隔壁8wによって遮断されている。
Further, instead of the pair of left and
Also in the first ceramic package 1a, as shown in FIG. 6, the space between the
更に、前記のような左右一対あるいは上下一対の凹部21aに替えて、図7の底面図に示すように、前記他方の枠体8の下面9における左側の短辺に沿っており、且つ前記下面9の隅部側に位置する一対の実装用電極29に挟まれた位置に、天井面5と3辺の側面22とからなり且つ比較的幅広である単一の凹部21bを、形成した形態のセラミックパッケージ1aとしても良い。かかる凹部21bの天井面5には、一対の測定用パッド23が隣接して形成される。
上記第1のセラミックパッケージ1aにおいても、図6に示すように、他方のキャビティ12と上記凹部21bとの間は、他方の枠体8に含まれる断面矩形状の隔壁8wによって遮断されている。
尚、前記凹部21bは、他方の枠体8の下面9における上下何れか一方の長辺の中央部側に形成しても良い。
Further, in place of the pair of left and right or pair of upper and
Also in the first ceramic package 1a, as shown in FIG. 6, the
The
図8は、異なる形態を有する第1のセラミックパッケージ1bを示す垂直断面図である。かかるセラミックパッケージ1bは、前記同様のパッケージ本体2、上下一対のキャビティ10,12、一対の水晶振動子搭載用のパッド15、メタライズ層20、および、電子部品実装用のパッド26〜27などを有すると共に、図8に示すように、パッケージ本体2を形成する他方の枠体8側には、上記キャビティ12とは別に底面9に開口する別のキャビティ31が、更に形成されている。かかるキャビティ31は、4辺の側面32と前記基体3の表面5の一部である天井面5とからなり、該天井面5には、一対の測定用パッド23が形成される。
上記第1のセラミックパッケージ1bにおいても、図8に示すように、他方のキャビティ12と前記別のキャビティ31との間は、他方の枠体8に含まれる断面矩形状の隔壁8wによって遮断されている。
FIG. 8 is a vertical cross-sectional view showing a first
Also in the first
図9は、更に異なる形態を有する第1のセラミックパッケージ1bを示す垂直断面図である。該セラミックパッケージ1bは、前記同様のパッケージ本体2、上下一対のキャビティ10,12、一対の水晶振動子搭載用のパッド15、メタライズ層20、および、電子部品実装用のパッド26〜27などを有すると共に、図8に示すように、パッケージ本体2を形成する他方の枠体8側には、上記キャビティ12とは別で且つその両側における底面9に開口する左右一対の別のキャビティ31aが、更に形成されている。該キャビティ31aは、4辺の側面32と前記基体3の表面5の一部である天井面5とからなり、比較的狭い前記天井面5には、測定用パッド23が形成される。
上記第1のセラミックパッケージ1bにおいても、図9に示すように、他方のキャビティ12と前記キャビティ31aごととの間は、他方の枠体8に含まれる断面矩形状の隔壁8wによって遮断されている。
FIG. 9 is a vertical cross-sectional view showing the first
Also in the first
以上のような第1セラミックパッケージ1a,1bによれば、前記一対の測定用のパッド23が、複数の前記電子部品搭載用のパッド26〜28が底面5に形成された前記他方のキャビティ12とは別のキャビティ31,31aの底面5に形成されているか、あるいは、上記他方のキャビティ12とは別に独立した前記凹部21,21a,21bにおける前記基体3の表面5に形成されている。そのため、他方のキャビティ12と別のキャビティ31,31aとの間、あるいは、他方のキャビティ12と上記凹部21,21a,21bとの間を、それぞれ前記枠体8の一方に含まれる断面矩形状の隔壁8wが遮断している。
According to the first
その結果、一対の測定用パッド23の表面に対し、プローブピンの尖った先端部を接触させ且つ離脱させた際に、該測定用パッド23の表面付近におけるメッキ膜の微細な破片や、当該測定用パッドを構成している導体の微細な破片が生じても、かかる破片は、複数の前記電子部品搭載用のパッド26〜28が形成された前記他方のキャビティ12内に進入できない。従って、複数の電子部品搭載用のパッド26〜28の相互間における不用意な短絡を招いたり、かかる複数の電子部品搭載搭載の用パッド26〜28の上方に追って搭載される集積回路などの電子部品30の実装性に対する悪影響を防止できる。
As a result, when the tips of the probe pins are brought into contact with and separated from the surfaces of the pair of
図10は、本発明による一形態の第2のセラミックパッケージ1cを示す垂直断面図である。
第2のセラミックパッケージ1cは、図10に示すように、前記同様のパッケージ本体2、上下一対のキャビティ10,12、一対の水晶振動子搭載用のパッド15、メタライズ層20、および電子部品実装用のパッド26〜27などを有すると共に、図10に示すように、パッケージ本体2を構成する他方の枠体8は、上層側のセラミック層8aと下層側のセラミック層8bとを一体に積層したものである。
FIG. 10 is a vertical sectional view showing a second
As shown in FIG. 10, the second
図10に示すように、パッケージ本体2における底面9の中央部に位置する他方のキャビティ12の左右両側に、左右一対の凹部21cが対称に配置され、該凹部21cは、それぞれ下層側のセラミック層8bに形成された3辺の側面22と、上層側のセラミック層8aの一方の表面でもある段面(天井面)33とからなり、かかる段面33ごとに測定用パッド23が個別に形成されている。
上記第2のセラミックパッケージ1cでは、図10に示すように、他方のキャビティ12と前記凹部21cごととの間は、他方の枠体8に含まれる断面矩形状の隔壁8wによって遮断されている。
As shown in FIG. 10, a pair of left and
In the second
図11は、異なる形態の第2のセラミックパッケージ1cを示す垂直断面図である。該第2のセラミックパッケージ1cも、図11に示すように、前記同様のパッケージ本体2、上下一対のキャビティ10,12、一対の水晶振動子搭載用のパッド15、メタライズ層20、および電子部品実装用のパッド26〜27などを有すると共に、上記パッケージ本体2を構成する他方の枠体8も、上下2層のセラミック層8a,8bからなっている。
FIG. 11 is a vertical sectional view showing a second
図11に示すように、パッケージ本体2における底面9の右側に位置する他方のキャビティ12の左側に、単一で平面視のサイズの大きな凹部21dが配置され、該凹部21dも、下層側のセラミック層8bに形成された3辺の側面22と、上層側のセラミック層8aの一方の表面でもある比較的広い段面(天井面)33とからなり、該段面33に一対の測定用パッド23が左右に隣接して形成されている。
尚、上記単一の凹部21dは、一対の測定用パッド23が、図11の前後方向に沿って隣接して形成できる形態としても良い。
上記第2のセラミックパッケージ1cでも、図11に示すように、他方のキャビティ12と前記凹部21dとの間は、他方の枠体8に含まれる断面矩形状の隔壁8wによって遮断されている。
As shown in FIG. 11, a single
The
Also in the second
以上のような第2のセラミックパッケージ1cによっても、前記第1のセラミックパッケージ1a,1bと同様な効果を奏することができる。
しかも、電子部品30を実装する他方のキャビティ12を比較的深くできるので、各種厚みの電子部品30の実装に対して容易に対応できると共に、凹部21c,21dの段面33が比較的浅くなるので、前記プローブピンの接触動作を容易且つ正確に行うことも可能となる。
尚、セラミックパッケージ1cにおける凹部21c,21dに替えて、セラミック層8bに形成された4辺の側面22と、セラミック層8aの一方の表面でもある比較的広い段面(天井面)33とからなる一対のキャビティあるいは単一のキャビティを形成した形態としても良い。
The second
In addition, since the
It should be noted that, instead of the
本発明は、以上において各形態に限定されるものではない。
例えば、前記パッケージ本体2を構成するセラミックは、窒化アルミニウムやムライトなどの高温焼成セラミック、あるいは、ガラス−セラミックなどの低温焼成セラミックとしても良い。後者の場合、前記パッド15,23,26〜28などの導体には、CuあるいはAgが適用される。
また、前記パッケージ本体2や、一対の前記キャビティ10,13,31,31a、あるいは前記凹部21a〜21dは、平面視が正方形状または長方形状を呈する形態であっても良い。
更に、前記一対の測定用パッドは、一方の測定用パッドが前記キャビティの底面に形成され、且つ、他方の測定用パッドが前記凹部における前記基体の表面、あるいは、前記凹部の段面に形成されていても良い。
また、前記枕18は、前記基体C1を構成しているセラミックと同じセラミックからなるものとしても良い。
加えて、前記セラミックパッケージ1a〜1cは、それぞれ多数個取りの形態(複数の前記セラミックパッケージ1a〜1cを縦横に隣接して併設したもの)としたものとしても良い。
The present invention is not limited to the above embodiments.
For example, the ceramic constituting the
Further, the package
Further, in the pair of measurement pads, one measurement pad is formed on the bottom surface of the cavity, and the other measurement pad is formed on the surface of the base in the recess or on the step surface of the recess. May be.
The
In addition, each of the ceramic packages 1a to 1c may have a multi-cavity form (a plurality of the ceramic packages 1a to 1c arranged side by side in the vertical and horizontal directions).
本発明によれば、パッケージ本体の両面に開口する一対のキャビティにおける一方の底面に一対の水晶振動子搭載用のパッドを有し、且つ他方のキャビティの底面に複数の電子部品搭載用のパッドと一対の測定用パッドとを有しており、前記のような微細な破片が発生しても、上記電子部品搭載用のパッドに対して悪影響を生じないセラミックパッケージを確実に提供できる。 According to the present invention, a pair of quartz resonator mounting pads are provided on one bottom surface of a pair of cavities opened on both surfaces of the package body, and a plurality of electronic component mounting pads are provided on the bottom surface of the other cavity. A ceramic package having a pair of measurement pads can be reliably provided that does not adversely affect the electronic component mounting pads even if such fine fragments are generated.
1a〜1c……………………セラミックパッケージ
2………………………………パッケージ本体
3………………………………基体
4,5…………………………表面(キャビティの底面/凹部の天井面)
6,8…………………………枠体
7,9…………………………枠体の表面(パッケージ本体の上面/下面)
10,12……………………キャビティ
15……………………………水晶振動子搭載用のパッド
21,21a〜21d………凹部
23……………………………測定用パッド
26〜28……………………電子部品搭載用のパッド
31,31a…………………別のキャビティ
33……………………………段面(凹部の天井面)
1a-1c ……………………
6,8 …………………………
10, 12 ……………………
Claims (4)
上記枠体ごとに囲まれ且つ上記基体の表面を底面とする一対のキャビティと、
上記一方のキャビティの底面に形成された一対の水晶振動子搭載用のパッドと、
上記他方のキャビティの底面に形成された複数の電子部品搭載用のパッドと、
上記他方のキャビティが開口する他方の枠体側に形成される一対の測定用パッドと、を備えたセラミックパッケージであって、
上記一対の測定用パッドは、上記他方のキャビティとは平面視で離隔した上記他方の枠体の表面に開口する別のキャビティの底面、あるいは、上記他方の枠体上記表面および上記パッケージ本体の側面に開口する凹部における上記基体の表面に形成されている、
ことを特徴とするセラミックパッケージ。 A package main body made of ceramic and having a flat substrate having a pair of surfaces and a pair of frames individually laminated on the pair of surfaces of the substrate;
A pair of cavities surrounded by each frame and having the surface of the base as the bottom;
A pair of quartz crystal resonator mounting pads formed on the bottom surface of the one cavity;
A plurality of electronic component mounting pads formed on the bottom surface of the other cavity;
A pair of measurement pads formed on the other frame side where the other cavity opens, and a ceramic package comprising:
The pair of measurement pads may include a bottom surface of another cavity opened on the surface of the other frame body separated from the other cavity in plan view, or the surface of the other frame body and a side surface of the package body. Formed on the surface of the substrate in the recess opening to
A ceramic package characterized by that.
上記枠体ごとに囲まれ且つ上記基体の表面を底面とする一対のキャビティと、
上記一方のキャビティの底面に形成された一対の水晶振動子搭載用のパッドと、
上記他方のキャビティの底面に形成された複数の電子部品搭載用のパッドと、
上記他方のキャビティが開口する他方の枠体側に形成される一対の測定用パッドと、を備えたセラミックパッケージであって、
上記一対の測定用パッドは、上記他方の枠体の表面と該表面側における上記パッケージ本体の側面とに開口する凹部における前記他方の枠体の表面と平行状の段面に形成されている、
ことを特徴とするセラミックパッケージ。 A package main body made of ceramic and having a flat substrate having a pair of surfaces and a pair of frames individually laminated on the pair of surfaces of the substrate;
A pair of cavities surrounded by each frame and having the surface of the base as the bottom;
A pair of quartz crystal resonator mounting pads formed on the bottom surface of the one cavity;
A plurality of electronic component mounting pads formed on the bottom surface of the other cavity;
A pair of measurement pads formed on the other frame side where the other cavity opens, and a ceramic package comprising:
The pair of measurement pads are formed on a stepped surface parallel to the surface of the other frame body in a recess opening to the surface of the other frame body and the side surface of the package body on the surface side.
A ceramic package characterized by that.
ことを特徴とする請求項1または2に記載のセラミックパッケージ。 The pair of measurement pads are formed on the bottom surfaces of the cavities different from the cavities and different from each other, the surface of the base in the different recesses, or the step surfaces of the recesses different from each other.
The ceramic package according to claim 1 or 2, wherein
ことを特徴とする請求項1または2に記載のセラミックパッケージ。 The pair of measurement pads are different from the cavity and are formed on the bottom surface of the same cavity, the surface of the base in the same recess, or the step surface of the same recess.
The ceramic package according to claim 1 or 2, wherein
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2016062897A JP2017175094A (en) | 2016-03-26 | 2016-03-26 | Ceramic package |
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JP2016062897A Pending JP2017175094A (en) | 2016-03-26 | 2016-03-26 | Ceramic package |
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2016
- 2016-03-26 JP JP2016062897A patent/JP2017175094A/en active Pending
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