JP2017171802A - Bisphenol f skeleton-containing phenoxy resin, manufacturing method therefor and resin composition using the same - Google Patents

Bisphenol f skeleton-containing phenoxy resin, manufacturing method therefor and resin composition using the same Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a phenoxy resin excellent in low viscosity, transparency, adhesiveness and storage stability and suitably usable in a dry film type adhesive used when a touch panel and a frame printed cover panel are laminated, and a composition thereof.SOLUTION: There is provided a bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin having a structure represented by the following general formula (1) in a main chain, weight average molecular weight of 30000 to 60000 in terms of polystyrene, ratio of weight average molecular weight and number average molecular weight of 3.5 to 6.5 and ratio of molecular weight at maximum intensity by a static polygonal light scattering method and molecular weight of maximum intensity by specific refractive index of 3.0 to 15.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明はビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂、その製造方法、及びそれを用いた樹脂組成物に関し、特に、表示素子関連部材の接着剤として好適に使用できる低粘度、低温熱圧着性、透明性に優れるビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂、樹脂ワニス、及びそれを用いた樹脂組成物の提供に関する。   The present invention relates to a bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin, a method for producing the same, and a resin composition using the same, and in particular, low viscosity, low temperature thermocompression bonding, and transparency that can be suitably used as an adhesive for display element-related members. The present invention relates to provision of a bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin, a resin varnish, and a resin composition using the same.

従来から熱可塑性ポリヒドロキシポリエーテル樹脂は一般にフェノキシ樹脂として知られており、可撓性、耐衝撃性、絶縁性、密着性、機械的性質等が優れていることから、電気・電子分野では、磁気テープバインダー、フィルムコンデンサ用基材フィルム、モーター等の電気機械の絶縁ワニスや、回路基板用の接着剤やフィルム等、広範囲の用途に使用されている。そして、用途の拡大に応じて、液晶ディスプレイパネル等の表示素子関連部材の接着剤等にも適用がなされている。   Conventionally, a thermoplastic polyhydroxy polyether resin is generally known as a phenoxy resin, and has excellent flexibility, impact resistance, insulation, adhesion, mechanical properties, etc. It is used in a wide range of applications such as magnetic tape binders, base films for film capacitors, insulating varnishes for electric machines such as motors, adhesives and films for circuit boards, and the like. And it is applied also to the adhesive agent etc. of display element related members, such as a liquid crystal display panel, according to the expansion of a use.

表示素子関連部材としての接着剤は、その使用工程がパネルの貼り合わせ等、組み立て時の最終工程に近い場合があり、熱による貼り合わせに際して制限がかかることが多い。これは、すでに組み立てられた表示素子材料やその関連部材、表示素子を囲う筐体が熱による損傷を受けやすいことに由来する。   The adhesive used as the display element-related member may have a use process close to the final process at the time of assembly, such as bonding of panels, and is often restricted when bonded by heat. This is because the already assembled display element material, its related members, and the casing surrounding the display element are easily damaged by heat.

表示素子関連部材としての接着剤には表示素子やその関連部材、筐体に損傷を与えないよう、光硬化型接着剤の検討も広く検討されている。一般的に使用されている材料としては、液状のアクリル系接着剤又はベースフィルムに常温でタック性のあるアクリルポリマーが塗布された粘着フィルムであるが、液状接着剤の場合は接着部位以外への染み出しによる外観不良や光硬化時の硬化収縮による密着界面の剥離等の問題が発生し、常温でタック性のある粘着フィルムの場合はべたつきによるハンドリング面での欠点がある他、耐熱試験での剥離や耐湿試験での白化、電気的信頼性の面で問題がある。   As the adhesive as the display element-related member, a study on a photo-curing adhesive is widely studied so as not to damage the display element, its related member, and the casing. Commonly used materials are liquid acrylic adhesives or adhesive films in which an acrylic polymer having tackiness at room temperature is applied to a base film. In the case of liquid adhesives, Problems such as poor appearance due to exudation and peeling of the adhesion interface due to curing shrinkage during photocuring occur. In the case of an adhesive film having tackiness at room temperature, there are defects in the handling surface due to stickiness, There are problems in terms of peeling, whitening in a moisture resistance test, and electrical reliability.

この問題を改善するため、表示素子の関連部材としての接着剤は、常温でタックのないドライフィルム型接着剤が検討されている。ドライフィルム型接着剤の使用形態としては、表示素子の関連部材に熱損傷を与えない程度の熱を用いて基材と圧着させ、位置合わせのための仮接着を行った後に光又は熱処理を行うことで本接着を行うことが一般的である。   In order to improve this problem, a dry film type adhesive having no tack at room temperature has been studied as an adhesive as a related member of the display element. The dry film type adhesive is used in such a manner that the related member of the display element is pressure-bonded to the base material using heat that does not cause thermal damage, and is temporarily bonded for alignment and then subjected to light or heat treatment. In general, this bonding is performed.

ドライフィルム型接着剤の要求特性としては、表示素子としての視認性を十分に果たせるだけの透明性、各種汎用的な基材に対する高い密着性と、室温でタック性がないこと、ドライフィルム自体としての造膜性等が求められるため、ガラス転移温度が室温以上のフェノキシ樹脂が適用されることがある。   The required properties of dry film type adhesives are transparency enough to achieve visibility as a display element, high adhesion to various general-purpose substrates, no tackiness at room temperature, and dry film itself Therefore, a phenoxy resin having a glass transition temperature of room temperature or higher may be applied.

一方で、昨今の情報機器の発達に伴い、スマートフォンを代表とする表示デバイスも多様化してきている。特に、タッチパネルと額縁印刷が施されたカバーパネルは、タッチパネルに接続する回路材料や電子部品を隠蔽する必要があり、額縁印刷の加飾性によっては印刷厚みが厚くなる場合がある。このため、この用途に用いられるドライフィルム型接着剤は、額縁印刷に由来する100μm程度の段差を追従し、隙間なく界面を密着させることが要求される。この時、ドライフィルム型接着剤としては、その製品形態からロール状に巻きつけられるだけの可撓性、接着後の十分な光線透過性と、室温でタック性がなく、表示素子関連部材に損傷を与えないだけの熱で溶融し、段差に追従できる高流動性を示し、被着材との良好な接着性を有することが求められる。   On the other hand, with the recent development of information devices, display devices represented by smartphones have also been diversified. In particular, a cover panel on which a touch panel and frame printing are applied needs to conceal circuit materials and electronic components connected to the touch panel, and the printing thickness may be increased depending on the decorativeness of the frame printing. For this reason, the dry film type adhesive used in this application is required to follow a step of about 100 μm derived from frame printing and to adhere the interface without a gap. At this time, as a dry film type adhesive, it is flexible enough to be wound in a roll form from its product form, sufficient light transmittance after adhesion, and has no tackiness at room temperature, and it damages display element related members It is required that it melts with heat that does not give heat, exhibits high fluidity that can follow a step, and has good adhesion to an adherend.

熱に弱い表示素子関連部材に対する接着剤としてのフェノキシ樹脂の適用として、特許文献1に記載されるような有機EL素子ラミネート封止用フィルム等が挙げられる。また、光学特性に優れるフェノキシ樹脂として、特許文献2、3に記載されるようなフェノキシ樹脂が挙げられる。   As an application of a phenoxy resin as an adhesive to a display element-related member that is vulnerable to heat, an organic EL element laminate sealing film as described in Patent Document 1 can be cited. Examples of the phenoxy resin having excellent optical characteristics include phenoxy resins as described in Patent Documents 2 and 3.

特許文献1には、ビスフェノールAやビスフェノールS骨格を含有するフェノキシ樹脂とエポキシ樹脂、ブロックイソシアネートを用いた、低温硬化が可能な有機EL封止用樹脂組成物が開示されている。しかし、有機EL表示素子はその厚みがnmオーダーであるため、段差追従性を求められるような低粘度化に対する記載はない。特許文献2に開示されているような、フルオレン構造のような縮合環を有するフェノキシ樹脂は、その剛直な構造によりガラス転移点及び溶融粘度が高くなるため、熱に弱い表示素子関連部材に対する接着剤としては不適である。特許文献3に開示されているような脂環構造を有するエポキシ樹脂を原料にしたフェノキシ樹脂は、貴金属触媒を用いた核水素化反応を経由する必要があり、経済的に不利であること、また、アルコール性水酸基とエピクロルヒドリンを出発原料とする場合は不純物となるクロルヒドリン体が発生しやすく、両末端エポキシ純度が低下するためフェノキシ樹脂の合成時に所望の分子量まで高分子鎖が成長しない。また末端基純度を上げるために蒸留等の精製を行うことは経済性の低下につながる。加えて、特許文献3に記載のフェノキシ樹脂は、重合性樹脂組成物とし、硬化してなる厚み50μmのフィルムにしたときの波長400nmでの透過率が80%以上と記載されているが、フェノキシ樹脂単独としての透明性や、表示素子関連部材用接着剤についての適用についてはなんら言及されていない。   Patent Document 1 discloses an organic EL sealing resin composition that can be cured at low temperature, using a phenoxy resin containing bisphenol A or bisphenol S skeleton, an epoxy resin, and a blocked isocyanate. However, since the thickness of the organic EL display element is on the order of nm, there is no description for lowering the viscosity that requires step following ability. Since the phenoxy resin having a condensed ring such as a fluorene structure as disclosed in Patent Document 2 has a high glass transition point and a high melt viscosity due to its rigid structure, it is an adhesive for display element-related members that are vulnerable to heat. As inappropriate. A phenoxy resin using an epoxy resin having an alicyclic structure as disclosed in Patent Document 3 as a raw material must pass through a nuclear hydrogenation reaction using a noble metal catalyst, and is economically disadvantageous. When an alcoholic hydroxyl group and epichlorohydrin are used as starting materials, a chlorohydrin compound as an impurity is likely to be generated, and the purity of the epoxy at both ends is lowered, so that a polymer chain does not grow to a desired molecular weight during the synthesis of the phenoxy resin. Further, performing purification such as distillation to increase the purity of the terminal group leads to a decrease in economy. In addition, the phenoxy resin described in Patent Document 3 is described as a polymerizable resin composition having a transmittance of 80% or more at a wavelength of 400 nm when formed into a cured film of 50 μm thickness. No mention is made of transparency as a resin alone or application of adhesives for display element-related members.

一般的なフェノキシ樹脂としては、ビスフェノールA骨格のみで構成されたものがよく知られており、経済的に有利に入手することができる。しかし、ビスフェノールA骨格のみで構成されたフェノキシ樹脂はガラス転移点温度が90℃程度であり、熱に弱い表示素子関連部材に対する接着剤として使用するには流動開始温度が高いために、この用途での適用には困難を伴う。この欠点を改良するため、流動性に優れるビスフェノールF骨格を導入したフェノキシ樹脂もよく知られている。しかし、一般的にフェノキシ樹脂は2価のグリシジル基を有する樹脂と2価のフェノール性水酸基から合成される線状高分子であり、分岐が少ないことから目的とする分子量に応じて粘度がほぼ一義的に決定されてしまう。このため、たとえビスフェノールF骨格を導入してもフェノキシ樹脂の低粘度化には限界があり、さらなる段差追従性の要求や部材の変更に伴う低温熱圧着の要求が具現化した場合には適用が困難となる。   As a general phenoxy resin, a resin composed only of a bisphenol A skeleton is well known and can be obtained economically advantageously. However, since the phenoxy resin composed only of the bisphenol A skeleton has a glass transition temperature of about 90 ° C. and has a high flow start temperature for use as an adhesive for heat-sensitive display element-related members, Is difficult to apply. In order to improve this defect, a phenoxy resin into which a bisphenol F skeleton excellent in fluidity is introduced is also well known. However, in general, phenoxy resin is a linear polymer synthesized from a resin having a divalent glycidyl group and a divalent phenolic hydroxyl group, and since there are few branches, the viscosity is almost unambiguous depending on the target molecular weight. Will be determined. For this reason, even if the bisphenol F skeleton is introduced, there is a limit to lowering the viscosity of the phenoxy resin, and it can be applied when the requirement for further step following and the requirement for low-temperature thermocompression accompanying the change of members are realized. It becomes difficult.

ビスフェノールF骨格を有するフェノキシ樹脂の粘度を低減させる方法として、分子量を同等にしつつ分岐度をあげ、ポリマーの慣性半径を小さくする手法も考えられる。具体的には、反応時にグリシジル基の開環により発生する2級アルコール性水酸基を、グリシジル基との反応点として活用することで高分子鎖を分岐させる手法が考えられる。しかし、これらの手法は分岐度と高分子鎖の成長反応のコントロールが難しく、低粘度化が容易に達成できず、往々にして分子量の分散が大きくなり結果として高粘度化、場合によっては架橋構造が局所的に発生することで不溶化する。   As a method of reducing the viscosity of the phenoxy resin having a bisphenol F skeleton, a method of increasing the degree of branching while reducing the inertia radius of the polymer while maintaining the same molecular weight can be considered. Specifically, a method of branching a polymer chain by utilizing a secondary alcoholic hydroxyl group generated by ring opening of a glycidyl group during the reaction as a reaction point with the glycidyl group can be considered. However, these methods are difficult to control the degree of branching and the growth reaction of the polymer chains, and it is difficult to achieve low viscosity, often resulting in high molecular weight dispersion, resulting in high viscosity and, in some cases, a crosslinked structure. Is insolubilized by locally occurring.

加えて、ビスフェノールF骨格を2価のフェノール性化合物として原料に使用するフェノキシ樹脂は、フェノキシ樹脂の製造時に酸化による着色が発生しやすい。これは、芳香族環を連結させているメチレン基が酸化されてカルボニル化、又は着色団を形成する別の構造に変化しやすいこと、反応時の中間体であるフェノキシド体が酸化されキノイド構造を取りやすいことに由来すると考えられる。   In addition, the phenoxy resin using the bisphenol F skeleton as a divalent phenolic compound as a raw material is likely to be colored by oxidation during the production of the phenoxy resin. This is because the methylene group connecting the aromatic rings is easily oxidized to form a carbonylation or another structure that forms a chromophore, and the phenoxide that is an intermediate during the reaction is oxidized to form a quinoid structure. It is thought to be derived from the fact that it is easy to take.

一方で、エポキシ樹脂を超多分岐(ハイパーブランチ)ポリマーとする試みもなされている。ハイパーブランチポリマーとはモノマーの重合において枝状に主鎖が分岐重合した高分子であり、球状に近くなることから同じ分子量の線状ポリマーと比較して慣性半径が短く、粘度が低くなるといった特徴がある。   On the other hand, attempts have been made to use an epoxy resin as a hyper-branched polymer. A hyperbranched polymer is a polymer in which the main chain is branched and branched in the polymerization of monomers, and since it is nearly spherical, it has a shorter inertia radius and lower viscosity than a linear polymer of the same molecular weight. There is.

特許文献4には、グリセリン−1,3−ジグリシジルエーテルをモノマーとし、酸又は塩基性触媒を用いて自己重合させ、多角度光散乱検出器によって測定された絶対分子量が、ゲル浸透クロマトグラフィーによって測定された重量平均分子量の2倍以上であるエポキシ基含有ハイパーブランチポリマーが開示されている。しかし、アクリル酸ハライドや無水物を用いてアクリレート化した際の高硬度、硬化速度、低収縮性として有用な記載はあるものの、アクリレート化する前駆体であるグリセリン−1,3−ジグリシジルエーテルのポリエポキシドに関して、同分子量と比較したときの低粘度化に関する記載はない。加えて、グリセリン−1,3−ジグリシジルエーテル自体、芳香族から構成されるエポキシ樹脂とは異なり、主鎖の柔軟性が高いため、2級水酸基とエポキシ基の距離が分子内で接近しやすく、これにも記載されている通り開環時のプロトン交換平衡が起こりやすく1級アルコールが生成しやすい。これは貯蔵時又は反応時の品質が劣化しやすいことを意味し、グリセリン−1,3−ジグリシジルとビスフェノール類を原料とし、通常のような交互共重合型のフェノキシ樹脂を選択的に合成することは実現上かなりの困難を伴う。   In Patent Document 4, glycerin-1,3-diglycidyl ether is used as a monomer, the self-polymerization is performed using an acid or a basic catalyst, and the absolute molecular weight measured by a multi-angle light scattering detector is measured by gel permeation chromatography. An epoxy group-containing hyperbranched polymer that is at least twice the measured weight average molecular weight is disclosed. However, although there is a useful description as a high hardness, a curing rate, and a low shrinkage when acrylated with an acrylic acid halide or anhydride, the glycerin-1,3-diglycidyl ether which is a precursor to acrylate is used. As for polyepoxides, there is no description about lowering the viscosity when compared with the same molecular weight. In addition, glycerin-1,3-diglycidyl ether itself, unlike epoxy resins composed of aromatics, has a high flexibility of the main chain, so the distance between the secondary hydroxyl group and the epoxy group is easily accessible in the molecule. As described therein, proton exchange equilibrium at the time of ring opening is likely to occur, and primary alcohol is likely to be generated. This means that the quality at the time of storage or reaction is likely to deteriorate, and selectively synthesizes a normal alternating copolymer type phenoxy resin from glycerin-1,3-diglycidyl and bisphenols as raw materials. Is quite difficult to implement.

特許文献5には、ゲル浸透クロマトグラフィーによるスチレン換算重量平均分子量が70000以上であり、光散乱法による重量平均分子量が70000以上の高分子量エポキシ重合体を用いたアディティブ用印刷配線板用エポキシ接着フィルムが開示されている。しかし、ゲル浸透クロマトグラフィーによる重量平均分子量と光散乱法による重量平均分子量に相違は見られず、低温での流動性の比較に関しても何ら記載はない。   Patent Document 5 discloses an epoxy adhesive film for an additive printed wiring board using a high molecular weight epoxy polymer having a weight average molecular weight of 70000 or more by gel permeation chromatography and a weight average molecular weight of 70000 or more by a light scattering method. Is disclosed. However, there is no difference between the weight average molecular weight determined by gel permeation chromatography and the weight average molecular weight determined by the light scattering method, and there is no description regarding the comparison of fluidity at low temperatures.

特開2011−84667号公報JP 2011-84667 A 特開2013−32549号公報JP 2013-32549 A 国際公開2007/106795号International Publication No. 2007/106795 特開2010−150325号公報JP 2010-150325 A 特開平6−108016号公報JP-A-6-108016

このため、従来技術のフェノキシ樹脂及びその製造方法では、同じ原料を用いた際の低粘度化が困難であり、表示素子部材用ドライフィルム型接着剤として好適な透明性、及び低粘度性を有する手法が望まれている。   For this reason, in the phenoxy resin of the prior art and its manufacturing method, it is difficult to reduce the viscosity when the same raw material is used, and it has transparency and low viscosity suitable as a dry film type adhesive for a display element member. A method is desired.

本発明者らが鋭意検討した結果、ある種の触媒及び芳香族系有機溶剤を用いて合成したビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂が、ポリスチレン換算による分子量が従来のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂と同等でありながら、静的光散乱法により測定された分子量が通常より高分子量側にシフトしており、かつこのフェノキシ樹脂の末端エポキシ基が従来よりも多く残存していること、これを用いたワニスが従来技術と比較して低粘度化することを見出し、本発明に至った。   As a result of intensive studies by the present inventors, the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin synthesized using a certain catalyst and an aromatic organic solvent has a molecular weight in terms of polystyrene equivalent to that of a conventional bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin. However, the molecular weight measured by the static light scattering method has shifted to the higher molecular weight side than usual, and more terminal epoxy groups of this phenoxy resin remain than before, and varnishes using this have been conventional The present inventors have found that the viscosity is reduced as compared with the technology, and have reached the present invention.

すなわち、本発明は、下記一般式(1)で表される構造を主鎖に有するビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂であって、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)測定による重量平均分子量(Mw)がポリスチレン換算値で30000〜60000であり、Mwとポリスチレン換算値の数平均分子量(Mn)との比率(Mw/Mn)が3.5〜6.5であり、静的多角光散乱法による光散乱強度で示される分子量分布の強度が最大強度となる絶対分子量(MLS)とテトラヒドロフランを基準とする比屈折率で示される分子量分布の強度が最大強度となるポリスチレン換算による重量平均分子量(MRI)との比率(MLS/MRI)が3.0〜15であることを特徴とするビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂である。 That is, the present invention is a bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin having a structure represented by the following general formula (1) in the main chain, and the weight average molecular weight (Mw) measured by gel permeation chromatography (GPC) is polystyrene. The conversion value is 30000 to 60000, the ratio (Mw / Mn) of Mw to the number average molecular weight (Mn) of polystyrene conversion value is 3.5 to 6.5, and the light scattering intensity by the static polygonal light scattering method The absolute molecular weight (M LS ) at which the intensity of the molecular weight distribution indicated by is the maximum intensity and the weight average molecular weight (M RI ) in terms of polystyrene where the intensity of the molecular weight distribution indicated by the relative refractive index based on tetrahydrofuran is the maximum intensity, The ratio (M LS / M RI ) of the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin is 3.0 to 15.

Figure 2017171802
Figure 2017171802

一般式(1)中、Aは2価の有機残基である。Yは下記一般式(1a)で表される基である。但し、Yの80モル%以上は、k=0成分である。nは10〜200の平均繰り返し数である。   In general formula (1), A is a divalent organic residue. Y is a group represented by the following general formula (1a). However, 80 mol% or more of Y is a k = 0 component. n is the average number of repetitions of 10-200.

Figure 2017171802
Figure 2017171802

一般式(1a)中、Zは下記一般式(1b)又は(1c)で表される基である。R1は炭素数1〜8の1価の炭化水素基であり、それぞれ同一でも異なっていてもよい。mは独立に0〜4の数であり、m1は独立に0〜3の数である。kは平均値で0〜0.6の数である。 In general formula (1a), Z is a group represented by the following general formula (1b) or (1c). R 1 is a monovalent hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, and may be the same or different. m is independently a number from 0 to 4, and m 1 is independently a number from 0 to 3. k is an average value of 0 to 0.6.

Figure 2017171802
Figure 2017171802

一般式(1b)、(1c)中、Aは2価の有機残基である。Yは上記一般式(1)のYと同意である。n1及びn2は0〜200の平均繰り返し数である。 In general formulas (1b) and (1c), A is a divalent organic residue. Y is the same as Y in the general formula (1). n 1 and n 2 are the average repeating number of 0 to 200.

上記ビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂のエポキシ当量は4000〜8500g/eq.が好ましく、フェノール性水酸基当量は7000〜17000g/eq.が好ましい。   The epoxy equivalent of the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin is 4000-8500 g / eq. The phenolic hydroxyl group equivalent is 7000 to 17000 g / eq. Is preferred.

上記一般式(1)中のAは、下記一般式(2)で表される2価の芳香族基であることが好ましい。   A in the general formula (1) is preferably a divalent aromatic group represented by the following general formula (2).

Figure 2017171802
Figure 2017171802

一般式(2)中、Xは、単結合、メチレン基、ジメチルメチレン基、又は炭素数1〜4のアルキル置換基を有してもよい1,1−シクロへキシレン基である。R2は炭素数1〜8の1価の炭化水素基であり、それぞれ同一でも異なっていてもよい。m2は独立に0〜4の数である。 In General Formula (2), X is a 1,1-cyclohexylene group which may have a single bond, a methylene group, a dimethylmethylene group, or an alkyl substituent having 1 to 4 carbon atoms. R 2 is a monovalent hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms and may be the same or different. m 2 is independently a number from 0 to 4.

上記一般式(2)で表される2価の芳香族基の例としては、下記一般式(2a)〜(2d)で表される基がある。   Examples of the divalent aromatic group represented by the general formula (2) include groups represented by the following general formulas (2a) to (2d).

Figure 2017171802
Figure 2017171802

一般式(2a)〜(2d)中、R2〜R5は及びm2〜m5は、それぞれ一般式(2)のR2及びm2と同意である。 In general formulas (2a) to (2d), R 2 to R 5 and m 2 to m 5 are the same as R 2 and m 2 in general formula (2), respectively.

さらに本発明は、下記一般式(3)で表される2価のエポキシ樹脂と、下記一般式(4)で表されるビスフェノールF化合物とを原料とし、オニウム塩類触媒の存在下、芳香族系溶媒中で、2価のエポキシ樹脂中のエポキシ基のモル数(E1)とビスフェノールF化合物中のフェノール性水酸基のモル数(F1)の比率が、(E1):(F1)=1.035〜1.005:1の範囲で反応させることを特徴する上記一般式(1)で表されるビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の製造方法である。   Furthermore, the present invention uses, as raw materials, a divalent epoxy resin represented by the following general formula (3) and a bisphenol F compound represented by the following general formula (4), and in the presence of an onium salt catalyst, an aromatic system is used. In the solvent, the ratio of the number of moles of the epoxy group (E1) in the divalent epoxy resin to the number of moles of the phenolic hydroxyl group (F1) in the bisphenol F compound is (E1) :( F1) = 1.035 It is a manufacturing method of the bisphenol F frame | skeleton containing phenoxy resin represented by the said General formula (1) characterized by making it react in the range of 1.005: 1.

Figure 2017171802
Figure 2017171802

一般式(3)中、Aは2価の有機残基である。   In general formula (3), A is a divalent organic residue.

Figure 2017171802
Figure 2017171802

一般式(4)中、R1は炭素数1〜8の1価の炭化水素基であり、それぞれ同一でも異なっていてもよい。mは独立に0〜4の数であり、m1は独立に0〜3の数である。kは平均値で0〜0.6であるが、k=0の成分が80%(面積%)以上を占める。 In the general formula (4), R 1 is a monovalent hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms may each be the same or different. m is independently a number from 0 to 4, and m 1 is independently a number from 0 to 3. k is an average value of 0 to 0.6, but the component of k = 0 occupies 80% (area%) or more.

また、本発明は、上記ビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の製造方法で得られ、GPC測定によるMwがポリスチレン換算値で30000〜60000であり、MwとMnとの比率(Mw/Mn)が3.5〜6.5であり、静的多角光散乱法による重量平均分子量の光散乱強度で示される分子量分布の強度が最大強度となる絶対分子量(MLS)とテトラヒドロフランを基準とする比屈折率で示される分子量分布の強度が最大強度となるポリスチレン換算による重量平均分子量(MRI)との比率(MLS/MRI)が3.0〜15であるビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂である。 Moreover, this invention is obtained with the manufacturing method of the said bisphenol F frame | skeleton containing phenoxy resin, Mw by GPC measurement is 30000-60000 by a polystyrene conversion value, and the ratio (Mw / Mn) of Mw and Mn is 3.5. The molecular weight distribution indicated by the light scattering intensity of the weight average molecular weight by static polygonal light scattering method is the maximum molecular weight (M LS ) and the relative refractive index based on tetrahydrofuran. It is a bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin having a ratio (M LS / M RI ) of 3.0 to 15 with respect to the weight average molecular weight (M RI ) in terms of polystyrene in which the strength of the molecular weight distribution is the maximum strength.

上記オニウム塩類触媒は、下記一般式(5)で表される有機ホスホニウム塩類であることが好ましく、上記芳香族系溶媒は、常圧下における沸点が80〜145℃であることが好ましい。   The onium salt catalyst is preferably an organic phosphonium salt represented by the following general formula (5), and the aromatic solvent preferably has a boiling point of 80 to 145 ° C. under normal pressure.

Figure 2017171802
ここで、R7は1価の炭化水素基を表し、それぞれ同一でも異なっていてもよい。X1は1価の陰イオンを形成する原子及び原子団である。
Figure 2017171802
Here, R 7 represents a monovalent hydrocarbon group, which may be the same or different. X 1 is an atom and atomic group forming a monovalent anion.

また、R7は下記(イ)〜(ハ)のいずれか1つの条件を満たすことが好ましい。
(イ)すべてのR7が炭素数1〜10のアルキル基、
(ロ)すべてのR7が置換基を有してもよいアリール基又は置換基を有してもよいアラルキル基、
(ハ)3つのR7が、置換基を有してもよいアリール基であり、1つのR7が炭素数1〜10のアルキル基。
R 7 preferably satisfies any one of the following conditions (A) to (C).
(A) all R 7 are alkyl groups having 1 to 10 carbon atoms,
(B) All R 7 may have an aryl group which may have a substituent or an aralkyl group which may have a substituent,
(C) three R 7 is an aryl group which may have a substituent group, one R 7 is an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms.

また、X1はハロゲン原子、又は下記一般式(5a)〜(5c)のうちのいずれかであることが好ましい。 X 1 is preferably a halogen atom or any one of the following general formulas (5a) to (5c).

Figure 2017171802
Figure 2017171802

一般式(5a)〜(5c)中、R8、R9は炭素数1〜4のアルキル基を表し、それぞれ同一でも異なっていてもよい。R10は炭素数1〜10のアルキル基を表す。 In the general formulas (5a) to (5c), R 8 and R 9 each represent an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and may be the same or different. R 10 represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms.

上記一般式(4)で表される構造のうち、k=0の成分が96.5面積%以上であることが好ましい。   In the structure represented by the general formula (4), the component of k = 0 is preferably 96.5 area% or more.

さらに本発明は、上記ビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂を、有機溶媒を用いて樹脂濃度が15〜90質量%に調製された樹脂ワニスである。   Furthermore, the present invention is a resin varnish prepared by using the above bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin to a resin concentration of 15 to 90% by mass using an organic solvent.

さらに本発明は、上記ビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂又は上記樹脂ワニスと、フェノキシ樹脂と反応性を有する硬化剤を必須成分として含有する樹脂組成物である。また、上記ビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂又は上記樹脂ワニスを熱可塑性樹脂と使用し、これに硬化性樹脂、例えばエポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂ややアクリレート等の光硬化性樹脂を配合した組成物である。また、その樹脂組成物を、光及び/又は熱処理することにより得られる硬化物である。   Furthermore, this invention is a resin composition which contains the hardening agent which has the said bisphenol F frame | skeleton containing phenoxy resin or the said resin varnish, and a phenoxy resin as an essential component. In addition, a composition in which the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin or the resin varnish is used as a thermoplastic resin and a curable resin, for example, a thermosetting resin such as an epoxy resin, or a photocurable resin such as an acrylate is blended in the composition. is there. Further, it is a cured product obtained by subjecting the resin composition to light and / or heat treatment.

さらに本発明は、上記ビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂、上記樹脂組成物又は上記樹脂ワニスを用いた光学用接着剤、コーティング剤、又は表示装置である。   Furthermore, the present invention is an optical adhesive, a coating agent, or a display device using the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin, the resin composition, or the resin varnish.

本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂は、低粘度、透明性、接着性、貯蔵安定性に優れ、その組成物は、光学材料用途、コーティング材料用途、電子材料用途として有用であり、特に昨今タッチパネルと額縁印刷されたカバーパネル用を貼り合せる際に用いるドライフィルム型接着剤おいて、課題となっている段差追従性といった問題の改善が期待できる。   The bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention is excellent in low viscosity, transparency, adhesiveness, and storage stability, and its composition is useful for optical materials, coating materials, and electronic materials. In the dry film type adhesive used when bonding the frame-printed cover panel, improvement of the problem such as the step following property which is a problem can be expected.

実施例の樹脂の比屈折率差で示されるGPCチャートである。It is a GPC chart shown by the relative refractive index difference of resin of an Example. 比較例の樹脂の比屈折率差で示されるGPCチャートである。It is a GPC chart shown by the relative refractive index difference of resin of a comparative example. 実施例の樹脂の光散乱強度で示されるGPCチャートである。It is a GPC chart shown by the light scattering intensity | strength of resin of an Example. 比較例の樹脂の光散乱強度で示されるGPCチャートである。It is a GPC chart shown by the light scattering intensity | strength of resin of a comparative example.

以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂は上記一般式(1)で表され、GPC測定によるMwがポリスチレン換算値で30000〜60000であり、Mw/Mn=3.5〜6.5であり、静的多角光散乱法による光散乱強度で示される分子量分布の強度が最大強度となる絶対分子量(MLS)とテトラヒドロフランを基準とする比屈折率で示される分子量分布の強度が最大強度となるポリスチレン換算による重量平均分子量(MRI)との比率(MLS/MRI)が3.0〜15である。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail. The bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention is represented by the above general formula (1), Mw by GPC measurement is 30000-60000 in terms of polystyrene, Mw / Mn = 3.5-6.5, static Of absolute molecular weight (M LS ) where the intensity of the molecular weight distribution indicated by the light scattering intensity by the dynamic polygon light scattering method is the maximum intensity and polystyrene intensity where the intensity of the molecular weight distribution indicated by the relative refractive index based on tetrahydrofuran is the maximum intensity the weight average molecular weight by (M RI) and the ratio of (M LS / M RI) is 3.0 to 15.

一般式(1)中、Aは2価の有機残基を表す。2価の有機残基としては、例えばエチレン基、プロピレン基、ブチレン基、ヘキシレン基、オクチレン基等の脂肪族炭化水素基、シクロヘキシレン基、1,4−ジメチレンシクロヘキシル基、デカヒドロナフチレン基、ビシクロヘキシレン基、4,4’−ジメチレンビシクロヘキシル基等の脂環族炭化水素基、フェニレン基、m−キシリレン基、p−キシリレン基、ナフチレン基、ジメチレンナフチル基、ビフェニレン基、ビスフェノール類から誘導される芳香族含有有機残基等が挙げられるがこれらに限定されず、各々同一でも異なっていてもよい。また、これらの2価の有機残基は炭素数1〜8の1価の炭化水素基を置換基として有しても良い。好ましい置換基は、例えばメチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、ヘキシル基、フェニル基、スチレニル基等が挙げられるがこれらに限定されない。好ましいAとしては、ビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂としたときの低粘度性、透明性、接着性、経済性等の物性の観点から、上記一般式(2)で表される2価の芳香族基である。
なお、一般式(1)〜(4)において、共通の記号は特に断りがない限り同義である。
In general formula (1), A represents a divalent organic residue. Examples of the divalent organic residue include aliphatic hydrocarbon groups such as ethylene group, propylene group, butylene group, hexylene group, and octylene group, cyclohexylene group, 1,4-dimethylenecyclohexyl group, and decahydronaphthylene group. , Bicyclohexylene group, alicyclic hydrocarbon group such as 4,4′-dimethylenebicyclohexyl group, phenylene group, m-xylylene group, p-xylylene group, naphthylene group, dimethylenenaphthyl group, biphenylene group, bisphenol Examples thereof include aromatic-containing organic residues derived from the above, but are not limited thereto, and may be the same or different. These divalent organic residues may have a monovalent hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms as a substituent. Preferred examples of the substituent include, but are not limited to, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, a hexyl group, a phenyl group, and a styryl group. Preferable A is a divalent aromatic group represented by the above general formula (2) from the viewpoint of physical properties such as low viscosity, transparency, adhesiveness, and economy when a bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin is used. It is.
In the general formulas (1) to (4), common symbols are synonymous unless otherwise specified.

一般式(2)中、Xは、単結合、メチレン基、ジメチルメチレン基、又は炭素数1〜4のアルキル基を置換基として有してもよい1,1−シクロへキシレン基である。
2は独立して、炭素数1〜8の1価の炭化水素基であり、それぞれ同一でも異なっていてもよい。例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、ヘキシル基、フェニル基、スチレニル基等が挙げられるがこれらに限定されない。m2は独立して0〜4の数である。好ましい態様としては、入手性、低粘度性、透明性の観点から、m2が0で表される構造である。
In General Formula (2), X is a 1,1-cyclohexylene group which may have a single bond, a methylene group, a dimethylmethylene group, or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms as a substituent.
R 2 is independently a monovalent hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, which may be the same or different. Examples include, but are not limited to, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, a hexyl group, a phenyl group, and a styryl group. m 2 is independently a number from 0 to 4. A preferred embodiment is a structure in which m 2 is represented by 0 from the viewpoints of availability, low viscosity, and transparency.

一般式(1)中、Yは上記一般式(1a)で表される基である。一般式(1a)中、Zは上記一般式(1b)又は(1c)で表される基である。一般式(1b)、(1c)中のA及びYは、一般式(1)におけるA及びYと同意である。n1及びn2は平均繰り返し数であり、0〜200範囲である。
一般式(1a)中、R1は炭素数1〜8の一価の炭化水素基であり、それぞれ同一でも異なっていてもよい。例えばメチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、ヘキシル基、フェニル基、スチレニル基等が挙げられるがこれらに限定されない。mは0〜4のいずれかの数である。好ましい態様としては、入手性、低粘度性、透明性の観点から、m=0で表される構造である。
In general formula (1), Y is a group represented by the above general formula (1a). In General Formula (1a), Z is a group represented by General Formula (1b) or (1c). A and Y in the general formulas (1b) and (1c) are the same as A and Y in the general formula (1). n 1 and n 2 is an average repeating number is from 0 to 200 range.
In the general formula (1a), R 1 is a monovalent hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms may each be the same or different. Examples thereof include, but are not limited to, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, a hexyl group, a phenyl group, and a styryl group. m is any number from 0 to 4. A preferred embodiment is a structure represented by m = 0 from the viewpoint of availability, low viscosity, and transparency.

一般式(1)中、nは平均繰り返し数であり、10〜200の範囲である。この範囲にあることで、表示部材用ドライフィルム型接着剤としての可撓性、接着後の十分な光線透過性、室温での非タック性、低熱溶融性、段差に追従できる低流動性、被着材との良好な接着性を示すビスフェノール骨格含有フェノキシ樹脂を得ることができる。好ましいnの範囲としては、12〜150であり、さらに好ましくは15〜120である。nが10未満の場合は可撓性に乏しく、ロール状に巻きつけることが困難となる。nが200を超える場合は、分子量が大きすぎるために高粘度となり、段差追従性の達成が困難となる。また、同様の理由により、n+n1+n2の範囲は10〜200であることが好ましい。 In general formula (1), n is an average number of repetitions, and is the range of 10-200. By being in this range, flexibility as a dry film type adhesive for display members, sufficient light transmittance after bonding, non-tack property at room temperature, low heat melting property, low fluidity to follow a step, coverage It is possible to obtain a bisphenol skeleton-containing phenoxy resin that exhibits good adhesion to a dressing. A preferable range of n is 12 to 150, and more preferably 15 to 120. When n is less than 10, the flexibility is poor and it is difficult to wind in a roll shape. When n exceeds 200, the molecular weight is too large, resulting in high viscosity, making it difficult to achieve level difference tracking. For the same reason, the range of n + n 1 + n 2 is preferably 10 to 200.

本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂のMwは、ポリスチレン換算値で30000〜60000である。Mwが30000未満の場合は可撓性に乏しく、ロール状に巻きつけることが困難となる。一方、Mwが60000を超える場合は分子量が大きすぎるために高粘度となり、段差追従性の達成が困難となる。この範囲であれば、表示部材用ドライフィルム型接着剤としての可撓性、接着後の十分な光線透過性、室温での非タック性、低熱溶融性、段差に追従できる低流動性、被着材との良好な接着性を示すビスフェノール骨格含有フェノキシ樹脂を得ることができる。Mwの好ましい範囲は32000〜58000であり、より好ましい範囲は35000〜55000である。ここで、MwはGPC測定により求められ、GPC測定条件は実施例に記載した条件による。   Mw of the bisphenol F skeleton containing phenoxy resin of this invention is 30000-60000 in polystyrene conversion value. When Mw is less than 30000, the flexibility is poor and it is difficult to wind in a roll shape. On the other hand, when Mw exceeds 60000, the molecular weight is too large, resulting in high viscosity, making it difficult to achieve step following ability. Within this range, flexibility as a dry film type adhesive for display members, sufficient light transmittance after bonding, non-tack property at room temperature, low heat melting property, low fluidity to follow a step, adhesion A bisphenol skeleton-containing phenoxy resin showing good adhesion to the material can be obtained. The preferable range of Mw is 32000-58000, and the more preferable range is 35000-55000. Here, Mw is calculated | required by GPC measurement, and GPC measurement conditions depend on the conditions described in the Example.

本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂のMwとMnの比率(Mw/Mn)は、3.5〜6.5である。Mw/Mnが低い場合は、本発明の製造方法においてエポキシ当量が本発明の範囲を超える等、製造が困難になる恐れがある。Mw/Mnが高い場合は、副反応として発生する分岐構造を多量に含んでいる状態であり、高分子主鎖の自由度が分岐構造により制限されることからフィルムとしたときの脆さが現れる恐れがある。この範囲であれば、表示部材用ドライフィルム型接着剤としての可撓性、接着後の十分な光線透過性、室温での非タック性、低熱溶融性、段差に追従できる低流動性、被着材との良好な接着性を示す等、より良い特性を示すビスフェノール骨格含有フェノキシ樹脂を得ることができる。Mw/Mnの好ましい範囲は3.6〜6.4であり、より好ましい範囲は3.7〜6.3であり、さらに好ましい範囲は3.8〜6.0である。ここで、Mw及びMnはGPC測定により求められ、GPC測定条件は実施例に記載した条件による。   The ratio (Mw / Mn) of Mw and Mn of the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention is 3.5 to 6.5. When Mw / Mn is low, the production may be difficult because the epoxy equivalent exceeds the range of the present invention in the production method of the present invention. When Mw / Mn is high, it is in a state of containing a large amount of branched structure generated as a side reaction, and since the degree of freedom of the polymer main chain is limited by the branched structure, brittleness as a film appears. There is a fear. Within this range, flexibility as a dry film type adhesive for display members, sufficient light transmittance after bonding, non-tack property at room temperature, low heat melting property, low fluidity to follow a step, adhesion It is possible to obtain a bisphenol skeleton-containing phenoxy resin that exhibits better properties, such as good adhesion to the material. A preferable range of Mw / Mn is 3.6 to 6.4, a more preferable range is 3.7 to 6.3, and a further preferable range is 3.8 to 6.0. Here, Mw and Mn are obtained by GPC measurement, and GPC measurement conditions are based on the conditions described in the examples.

本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂は、静的多角光散乱法による光散乱強度で示される分子量分布の強度が最大強度となる絶対分子量(MLS)とテトラヒドロフランを基準とする比屈折率で示される分子量分布の強度が最大強度となるポリスチレン換算による重量平均分子量(MRI)との比率(MLS/MRI)は、3.0〜15である。MLS/MRIが低い場合は、高分子主鎖の分岐度が少ない場合であり、結果として溶融粘度が高くなり本発明の効果が得られない。MLS/MRIが高い場合は、絶対分子量が高くなることで、溶融粘度が高くなるほか、分岐構造が多くなることで架橋構造を取りやすくなり貯蔵安定性の悪化や溶剤への不溶化を招くため好ましくない。この範囲であれば、表示部材用ドライフィルム型接着剤としての可撓性、接着後の十分な光線透過性、室温での非タック性、低熱溶融性、段差に追従できる低流動性、被着材との良好な接着性を示す等、より良い特性を示すビスフェノール骨格含有フェノキシ樹脂を得ることができる。MLS/MRIの好ましい範囲は3.5〜12であり、より好ましい範囲は4.0〜10である。ここで、MLS及びMRIはGPC測定により求められ、GPC測定条件は実施例に記載した条件による。 The bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention is represented by the absolute molecular weight (M LS ) at which the intensity of the molecular weight distribution indicated by the light scattering intensity by the static polygonal light scattering method is the maximum intensity and the relative refractive index based on tetrahydrofuran. The ratio (M LS / M RI ) to the polystyrene-equivalent weight average molecular weight (M RI ) at which the intensity of the molecular weight distribution is the maximum intensity is 3.0-15. When M LS / M RI is low, this is a case where the degree of branching of the polymer main chain is small, and as a result, the melt viscosity becomes high and the effect of the present invention cannot be obtained. When M LS / M RI is high, the absolute molecular weight increases, resulting in an increase in melt viscosity and an increase in the number of branched structures that facilitates the formation of a cross-linked structure, leading to poor storage stability and insolubilization in solvents. Therefore, it is not preferable. Within this range, flexibility as a dry film type adhesive for display members, sufficient light transmittance after bonding, non-tack property at room temperature, low heat melting property, low fluidity to follow a step, adhesion It is possible to obtain a bisphenol skeleton-containing phenoxy resin that exhibits better properties, such as good adhesion to the material. A preferable range of M LS / M RI is 3.5 to 12, and a more preferable range is 4.0 to 10. Here, M LS and M RI are determined by GPC measurement, and GPC measurement conditions depend on the conditions described in the examples.

このような分岐構造が多い特異的なビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂が創出できたことについて、発明者らは下記のように考察している。   The inventors consider as follows that a specific bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin having many branched structures could be created.

一般的なGPC測定は、分子量が既知であるポリスチレンなどの標準物質を用いて検量線を作成し、溶出時間により分子量に換算する手法として用いられる。分子量の分画はカラムに充填されているゲルに浸透する際の高分子の分子体積に由来する排除現象によって行われるため、検量線からの分子量計算はあくまでポリスチレンの溶液中の分子体積が基準となる。つまり、溶出時間と分子量からなる検量線は溶液中の分子体積から作成されるが、主鎖骨格が異なる高分子や分岐構造を内部に有する高分子においては溶液中の分子体積が標準物質と異なるため、あくまでポリスチレンの分子体積を指標とした相対値としての分子量しか表すことができない。   In general GPC measurement, a calibration curve is prepared using a standard substance such as polystyrene having a known molecular weight, and is used as a method of converting to a molecular weight by elution time. Since molecular weight fractionation is performed by the exclusion phenomenon derived from the molecular volume of the polymer when penetrating the gel packed in the column, the molecular weight calculation from the calibration curve is based on the molecular volume in the polystyrene solution. Become. In other words, a calibration curve consisting of elution time and molecular weight is created from the molecular volume in the solution, but for polymers with different main chain skeletons and polymers with a branched structure, the molecular volume in the solution is different from the standard substance. Therefore, only the molecular weight as a relative value using the molecular volume of polystyrene as an index can be expressed.

一方で静的多角光散乱法による分子量測定は、高分子を1つの粒子とみなし、1つの粒子に光を当てた時に発生する散乱現象を応用したものであり、その散乱強度は高分子溶液の濃度、分子量、屈折率の濃度依存性に比例することが知られている。あらかじめ屈折率の濃度依存性を測定しておき、散乱強度の濃度依存性、角度依存性を測定することで分子量を決定することができる。また、理論的には得られた散乱強度により溶液の化学ポテンシャルを導き、化学ポテンシャルの濃度に対する微分式において溶液濃度を0と極限近似した場合には、化学ポテンシャルは分子量の逆数で理論的に表されるため、静的多角光散乱法による分子量測定で得られた分子量は絶対分子量として取り扱うことができる。   On the other hand, the molecular weight measurement by the static polygonal light scattering method considers a polymer as one particle and applies a scattering phenomenon that occurs when light is applied to one particle. It is known that it is proportional to the concentration dependency of concentration, molecular weight, and refractive index. The molecular weight can be determined by measuring the concentration dependency of the refractive index in advance and measuring the concentration dependency and angle dependency of the scattering intensity. Theoretically, when the chemical potential of a solution is derived from the obtained scattering intensity and the solution concentration is approximated to 0 in the differential equation with respect to the concentration of the chemical potential, the chemical potential is expressed theoretically by the reciprocal of the molecular weight. Therefore, the molecular weight obtained by the molecular weight measurement by the static polygonal light scattering method can be handled as an absolute molecular weight.

本発明で定義した、静的多角光散乱法による光散乱強度で示される分子量分布の強度が最大強度となる絶対分子量(MLS)とテトラヒドロフランを基準とする比屈折率で示される分子量分布の強度が最大強度となるポリスチレン換算による重量平均分子量(MRI)との比率(MLS/MRI)は、言うなれば(絶対分子量)/(分子体積)として表現できる。同じ主鎖骨格を持つ高分子同士で比較した場合には、分子体積を一定にしたとき、絶対分子量は主鎖の分岐度合いにより変化するため、(絶対分子量)/(分子体積)は分岐度の指標として見なすことができる。つまり、この値が高いほど、分岐度が高いと表現できる。 The absolute molecular weight (M LS ) at which the intensity of the molecular weight distribution indicated by the light scattering intensity by the static polygonal light scattering method is the maximum intensity defined by the present invention and the intensity of the molecular weight distribution indicated by the relative refractive index based on tetrahydrofuran In other words, the ratio (M LS / M RI ) to the weight average molecular weight (M RI ) in terms of polystyrene that gives the maximum strength can be expressed as (absolute molecular weight) / (molecular volume). When comparing polymers with the same main chain skeleton, when the molecular volume is kept constant, the absolute molecular weight changes depending on the degree of branching of the main chain, so (absolute molecular weight) / (molecular volume) is the degree of branching. It can be regarded as an indicator. That is, the higher this value, the higher the degree of branching.

フェノキシ樹脂自体は2官能のエポキシ樹脂と2官能のビスフェノール類から合成され、通常はエポキシ当量として10000g/eq.以上までエポキシ基が消費されているが、本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂は、GPC法におけるMn及びMw、分子量分布が通常のフェノキシと同程度でありながら、エポキシ基及びフェノール性水酸基が通常のフェノキシ樹脂より多く残っていることが判明した。この現象について詳細に調べるべく、静的多角光散乱法を用いた分子量測定を行ったところ、通常のフェノキシ樹脂と比較して絶対重量平均分子量が高く、光散乱強度で示される分子量分布のピークが高分子量側にシフトしていることが判明した。GPC法による分子量分布が通常のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂とほぼ同一であったことを鑑みると、エポキシ基とフェノール性水酸基との官能基以外の箇所で分岐反応が進行し、結果として絶対分子量が増大しながらも、分岐構造が多くなることで結果的に分子体積としては同等程度になったものと推測される。そして、このようなビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂は分岐構造が通常のフェノキシ樹脂より多く有するために、同体積であればフェノキシ樹脂の有する直鎖構造よりもよりも丸まった構造に近くなっていることが推測される。高分子の粘度は基本的にその構造が有する「広がり」に依存する為、同体積であれば直鎖状の分子よりも丸まった構造を有する分子の方が粘度は低くなる。本発明で得られるフェノキシ樹脂はこのような丸まった構造を有する成分が多くなり溶融時の粘度が低くなることで、本発明の効果を得ることができたと考察される。   The phenoxy resin itself is synthesized from a bifunctional epoxy resin and a bifunctional bisphenol, and usually has an epoxy equivalent of 10,000 g / eq. Although the epoxy group has been consumed up to the above, the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention has an Mn and Mw in the GPC method, and a molecular weight distribution similar to that of ordinary phenoxy, but usually has an epoxy group and a phenolic hydroxyl group. It was found that more remained than phenoxy resin. In order to investigate this phenomenon in detail, a molecular weight measurement using a static polygonal light scattering method was performed. As a result, the absolute weight average molecular weight was higher than that of a normal phenoxy resin, and the peak of the molecular weight distribution indicated by the light scattering intensity was found. It turned out that it shifted to the high molecular weight side. In view of the fact that the molecular weight distribution by the GPC method is almost the same as that of a normal bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin, a branching reaction proceeds at a position other than the functional group of the epoxy group and the phenolic hydroxyl group, resulting in an absolute molecular weight of Although it increases, it is presumed that as a result of the increase in the number of branched structures, the molecular volume has become comparable. And since such a bisphenol F skeleton containing phenoxy resin has more branched structures than a normal phenoxy resin, if it is the same volume, it must be closer to a rounder structure than the linear structure of the phenoxy resin. Is guessed. Since the viscosity of a polymer basically depends on the “spread” of the structure, the viscosity of a molecule having a rounded structure is lower than that of a linear molecule at the same volume. The phenoxy resin obtained in the present invention is considered to have been able to obtain the effects of the present invention by increasing the components having such a rounded structure and decreasing the viscosity at the time of melting.

従って、本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂のエポキシ当量(g/eq.)は、4000〜8500が好ましく、4200〜8300がより好ましく、4500〜8000がさらに好ましい。エポキシ当量が低い場合は、単独で用いた際の造膜性が弱くなる。一方、エポキシ当量が高い場合は、エポキシ基と反応性を有する硬化剤を用いても十分な効果が得られない。この範囲であれば、本発明のフェノキシ樹脂を単独で用いた際の造膜性のみならず、エポキシ基と反応性を有する硬化剤を用いて硬化させることで硬化物を作成することができる。従来のフェノキシ樹脂はエポキシ当量が非常に大きいため、即ち、樹脂中に含まれるエポキシ基の数が非常に少ないため、エポキシ基と反応性を有する硬化剤を用いても反応に取り込まれず、かえって未反応物として残存するために耐熱性等が悪化する傾向にある。本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂はエポキシ基を残存させたまま高分子量化を行うことが可能であるため、熱硬化型フィルム樹脂組成物としての設計が可能であり、用途に応じて種々の硬化性フィルムを得ることができる。   Therefore, 4000-8500 are preferable, as for the epoxy equivalent (g / eq.) Of the bisphenol F frame | skeleton containing phenoxy resin of this invention, 4200-8300 are more preferable, and 4500-8000 are further more preferable. When the epoxy equivalent is low, the film forming property when used alone is weak. On the other hand, when the epoxy equivalent is high, a sufficient effect cannot be obtained even when a curing agent having reactivity with the epoxy group is used. If it is this range, not only the film forming property at the time of using the phenoxy resin of this invention alone but hardened | cured material can be created by making it harden | cure using the hardening | curing agent reactive with an epoxy group. The conventional phenoxy resin has a very large epoxy equivalent, that is, the number of epoxy groups contained in the resin is very small. Therefore, even if a curing agent having reactivity with the epoxy group is used, it is not incorporated into the reaction. Since it remains as a reaction product, heat resistance and the like tend to deteriorate. Since the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention can be polymerized with the epoxy group remaining, it can be designed as a thermosetting film resin composition. A curable film can be obtained.

本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂のフェノール性水酸基当量(g/eq.)は、7000〜17000が好ましく、7500〜16500がより好ましく、8000〜16000がさらに好ましい。この範囲であれば、表示素子部材用ドライフィルム型接着剤として使用した場合、より好適な透明性及び低粘度性を示す。フェノール性水酸基当量が小さい場合は、エポキシ基が十分に消費されていない状態であり、貯蔵安定性の面で粘度や分子量の上昇等が現れる等、十分な効果が得られない恐れがある。一方フェノール性水酸基当量が大きい場合は、十分にエポキシ基との反応が進行している状態であり、低溶融粘度の観点から本発明の効果が得られない恐れがある。   The phenolic hydroxyl group equivalent (g / eq.) Of the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention is preferably from 7000 to 17000, more preferably from 7500 to 16500, and even more preferably from 8000 to 16000. If it is this range, when it is used as a dry film type adhesive for display element members, more suitable transparency and low viscosity are shown. When the phenolic hydroxyl group equivalent is small, the epoxy group is not sufficiently consumed, and a sufficient effect may not be obtained, such as an increase in viscosity and molecular weight in terms of storage stability. On the other hand, when the phenolic hydroxyl group equivalent is large, the reaction with the epoxy group is sufficiently advanced, and the effect of the present invention may not be obtained from the viewpoint of low melt viscosity.

一般的なフェノキシ樹脂は2官能のエポキシ樹脂とエポキシ基と反応性を有する2官能の樹脂及びモノマーより合成されるが、その反応の特徴から、エポキシ基又はエポキシ基と反応性を有する官能基がほぼ消失したところで反応が完結する。一方で本発明の製造方法により得られるビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂は、エポキシ基とフェノール性水酸基がともに残存したままで高分子量化反応が進行し、結果として両方の官能基が共存している性状を有している。   A general phenoxy resin is synthesized from a bifunctional epoxy resin, a bifunctional resin that is reactive with an epoxy group, and a monomer. From the characteristics of the reaction, an epoxy group or a functional group that is reactive with an epoxy group is The reaction is complete when almost disappeared. On the other hand, the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin obtained by the production method of the present invention undergoes a high molecular weight reaction with both epoxy groups and phenolic hydroxyl groups remaining, and as a result, both functional groups coexist. have.

この理由として、エポキシ樹脂とビスフェノールF化合物に存在するフェノール性水酸基の反応の他に、エポキシ基とフェノール性水酸基以外の部位で高分子主鎖同士の付加又は縮合反応が発生し、エポキシ基とフェノール性水酸基が残存したままで高分子量化反応が副反応として進行すると推測している。例えば、ジヒドロキシジフェニルメタン部位中のメチレン基や、エポキシ基とフェノール性水酸基の反応によって生成する2級炭素上での水素引き抜きが発生し、ベンジル位や2級炭素上にてカチオン又はアニオンが発生することで、ベンゼン環とメチレン部位や2級炭素上の親電子付加、求核置換反応、2量化反応等の、エポキシ基とフェノール性水酸基が関与しない副反応が発生すると推測している。この現象はビスフェノールF骨格を有するビスフェノールF化合物、特定の溶媒と特定の触媒を選択することで発現すると発明者らは推測している。このため、同じ分子量であっても分子の慣性半径が短くなり、結果として溶融時の低粘度化につながったと考える。そして、本発明の手法を用いれば、互いに反応する官能基が共存していても、保管中に樹脂が変質することなく良好な貯蔵安定性を有するフェノキシ樹脂及びそのワニスを得ることができる。   This is because, in addition to the reaction of the phenolic hydroxyl group present in the epoxy resin and the bisphenol F compound, an addition or condensation reaction between the polymer main chains occurs at a site other than the epoxy group and the phenolic hydroxyl group. It is presumed that the high molecular weight reaction proceeds as a side reaction while the functional hydroxyl group remains. For example, hydrogen abstraction occurs on the secondary carbon produced by the reaction of the methylene group in the dihydroxydiphenylmethane moiety or the epoxy group with the phenolic hydroxyl group, and a cation or anion is generated on the benzyl position or the secondary carbon. Thus, it is presumed that side reactions that do not involve an epoxy group and a phenolic hydroxyl group such as electrophilic addition, nucleophilic substitution reaction, dimerization reaction on a benzene ring and a methylene moiety or secondary carbon occur. The inventors speculate that this phenomenon appears by selecting a bisphenol F compound having a bisphenol F skeleton, a specific solvent and a specific catalyst. For this reason, even if the molecular weight is the same, the radius of inertia of the molecule is shortened, and as a result, the viscosity is reduced during melting. And if the method of this invention is used, even if the functional group which reacts mutually exists, the phenoxy resin and its varnish which have favorable storage stability can be obtained, without resin changing during storage.

次に本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の製造方法について述べる。   Next, the manufacturing method of the bisphenol F skeleton containing phenoxy resin of this invention is described.

本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の製造方法は、上記一般式(3)で表される2価のエポキシ樹脂と、上記一般式(4)で表されるビスフェノールF化合物とを、オニウム塩類触媒の存在下、芳香族系溶媒中で、2価のエポキシ樹脂中のエポキシ基のモル数(E1)とビスフェノールF化合物中のフェノール性水酸基のモル数(F1)の比率が、(E1):(F1)=1.035〜1.005:1の範囲で反応させる。   The production method of the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention comprises a divalent epoxy resin represented by the above general formula (3) and a bisphenol F compound represented by the above general formula (4) as an onium salt catalyst. In the aromatic solvent, the ratio of the number of moles of epoxy group (E1) in the divalent epoxy resin to the number of moles of phenolic hydroxyl group (F1) in the bisphenol F compound is (E1) :( F1) is reacted in the range of 1.035 to 1.005: 1.

この比率で反応することで、低粘度、透明性、接着性、フィルム性、貯蔵安定性に優れるビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂を得ることができる。比率が1.035を超える場合は、Mwを本発明の範囲に制御することが難しく、結果として本発明の効果を得ることが困難となる。比率が1.005未満の場合はMLS/MRIが範囲外となり、溶融粘度が高くなるほか、分岐構造が多くなることで架橋構造を取りやすくなり、貯蔵安定性等の悪化や溶剤への不溶化を招くため好ましくない。また、フェノール性水酸基当量もこの比率を外れると好ましい範囲を外れる恐れがある。(E1):(F1)の好ましい範囲は1.032〜1.010:1であり、より好ましい範囲は1.030〜1.012:1である。 By reacting at this ratio, a bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin excellent in low viscosity, transparency, adhesiveness, film properties, and storage stability can be obtained. When the ratio exceeds 1.035, it is difficult to control Mw within the range of the present invention, and as a result, it becomes difficult to obtain the effect of the present invention. When the ratio is less than 1.005, M LS / M RI is out of the range, the melt viscosity becomes high, and a branched structure is easily obtained due to an increase in the branched structure, resulting in deterioration of storage stability and the like. It is not preferable because it causes insolubilization. Further, if the phenolic hydroxyl group equivalent is out of this ratio, it may be out of the preferred range. A preferable range of (E1) :( F1) is 1.032 to 1.010: 1, and a more preferable range is 1.030 to 1.012: 1.

上記一般式(3)で表される2価のエポキシ樹脂としては、公知の化合物であれば種々のものを適用することができる。例えば、エチレングリコール、トリメチレングリコール、プロピレングリコール、1,3−ブタンジオール、1,4−ブタンジオール、1,3−ペンタンジオール、1,4−ペンタンジオール、1,5−ペンタンジオール、又は1,6−ヘキサンジオール等の鎖状脂肪族ジオール類から誘導されるエポキシ樹脂や;シクロヘキサンジオール、シクロデカンジオール、ビシクロヘキサンジオール、デカリンジオール、シクロヘキサンジメタノール、又はビシクロヘキサンジメタノール等の環状脂肪族ジオール類から誘導されるエポキシ樹脂や;ポリエチレンエーテルグリコール、ポリオキシトリメチレンエーテルグリコール、又はポリプロピレングリコール等のポリアルキレンエーテルグリコールから誘導されるエポキシ樹脂や;ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS、ビスフェノールB、ビスフェノールC、ビスフェノールK、ビスフェノールAP、ビスフェノールBP、ビスフェノールE、ビスフェノールP、ビスフェノールPH、ビスフェノールAD、ビスフェノールAF、ビスフェノールフルオレン、ビスクレゾールフルオレン、ビスフェノールZ、ビスフェノールTMC、ジメチルビスフェノールA、テトラメチルビスフェノールA、ジメチルビスフェノールF、テトラメチルビスフェノールF、ジメチルビスフェノールS、テトラメチルビスフェノールS、テトラメチルビスフェノールZ、ハイドロキノン、レゾルシン、カテコール、メチルハイドロキノン、ジメチルハイドロキノン、トリメチルハイドロキノン、ブチルハイドロキノン、ジブチルハイドロキノン、メチルレゾルシン、ビフェノール、テトラメチルビフェノール、ジヒドロキシナフタレン、ジヒドロキシメチルナフタレン、ジヒドロキシジフェニルエーテル、ジヒドロキシベンゾフェノン、ジヒドロキシジフェニルスルフィド、チオジフェノール、臭素化ビスフェノールA、又は単官能フェノールとアルデヒド基を1つ有する化合物との縮合反応により得られるビスフェノール類、あるいは単官能フェノールとカルボニル基を一つ有する化合物との縮合反応により得られるビスフェノール類等から誘導される芳香族基含有エポキシ樹脂が挙げられるがこれらに限定されない。好ましいエポキシ樹脂としては、入手の経済性、透明性、低溶融粘度の観点からビスフェノールA、ビスフェノールF、ビフェノール、又はビスフェノールZから誘導される2価のエポキシ樹脂である。   As the divalent epoxy resin represented by the general formula (3), various compounds can be applied as long as they are known compounds. For example, ethylene glycol, trimethylene glycol, propylene glycol, 1,3-butanediol, 1,4-butanediol, 1,3-pentanediol, 1,4-pentanediol, 1,5-pentanediol, or 1, Epoxy resins derived from chain aliphatic diols such as 6-hexanediol; Cycloaliphatic diols such as cyclohexanediol, cyclodecanediol, bicyclohexanediol, decalindiol, cyclohexanedimethanol, or bicyclohexanedimethanol An epoxy resin derived from: an epoxy resin derived from a polyalkylene ether glycol such as polyethylene ether glycol, polyoxytrimethylene ether glycol, or polypropylene glycol; and bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, bisphenol B, bisphenol C, bisphenol K, bisphenol AP, bisphenol BP, bisphenol E, bisphenol P, bisphenol PH, bisphenol AD, bisphenol AF, bisphenol fluorene, biscresol fluorene, bisphenol Z, bisphenol TMC , Dimethyl bisphenol A, tetramethyl bisphenol A, dimethyl bisphenol F, tetramethyl bisphenol F, dimethyl bisphenol S, tetramethyl bisphenol S, tetramethyl bisphenol Z, hydroquinone, resorcin, catechol, methyl hydroquinone, dimethyl hydroquinone, trimethyl hydroquinone, butyl hydroquinone Dibutylha Droquinone, methylresorcin, biphenol, tetramethylbiphenol, dihydroxynaphthalene, dihydroxymethylnaphthalene, dihydroxydiphenyl ether, dihydroxybenzophenone, dihydroxydiphenyl sulfide, thiodiphenol, brominated bisphenol A, or a compound having a monofunctional phenol and one aldehyde group An aromatic group-containing epoxy resin derived from a bisphenol obtained by a condensation reaction of bisphenols obtained by a condensation reaction of a monofunctional phenol and a compound having one carbonyl group, or the like, is not limited thereto. A preferable epoxy resin is a divalent epoxy resin derived from bisphenol A, bisphenol F, biphenol, or bisphenol Z from the viewpoint of availability, transparency, and low melt viscosity.

なお、ビスフェノールF化合物とエピハロヒドリンから得られるエポキシ樹脂をさらに蒸留することにより得られるビスフェノールFジグリシジルエーテル[4,4’−メチレンビス(グリシジルオキシベンゼン)、2,2’−メチレンビス(グリシジルオキシベンゼン)及び2,4’−メチレンビス(グリシジルオキシベンゼン)の混合物]の含有率が98質量%以上のエポキシ樹脂又は上記一般式(4)のk=0の成分が99面積%以上のビスフェノールF化合物とエピハロヒドリンから得られるエポキシ樹脂と、2価のフェノール性化合物と反応させることでも一般式(1)の構造が得られる。ただし、上記一般式(3)で表される2価のエポキシ樹脂と上記一般式(4)で表されるビスフェノールF化合物を用いることが経済性の面から好ましい。   In addition, bisphenol F diglycidyl ether [4,4′-methylenebis (glycidyloxybenzene), 2,2′-methylenebis (glycidyloxybenzene) obtained by further distilling an epoxy resin obtained from a bisphenol F compound and epihalohydrin and 2,4′-methylenebis (glycidyloxybenzene) mixture] is an epoxy resin having a content of 98% by mass or more, or a component of k = 0 in the above general formula (4) is 99% by area or more of a bisphenol F compound and an epihalohydrin. The structure of the general formula (1) can also be obtained by reacting the resulting epoxy resin with a divalent phenolic compound. However, it is preferable from the economical viewpoint to use the bivalent epoxy resin represented by the general formula (3) and the bisphenol F compound represented by the general formula (4).

上記一般式(4)において、R1は独立に炭素数1〜8の1価の炭化水素基を表す。このような炭化水素基としては、例えばメチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、ヘキシル基、フェニル基、又はスチレニル基等が挙げられるがこれらに限定されない。mは独立に0〜4の数であり、m1は独立に0〜3の数である。好ましい態様としては、入手性、低粘度性、透明性の観点から、m=0及びm1=0で表される構造である。kは平均値で0〜0.6の数であるが、k=0の成分は80%(面積%)以上であり、95%以上が好ましく、96.5%以上がより好ましい。k=0の成分が80%未満の場合は、3官能以上の成分が多くなることから反応点が多くなり、反応が進行するにつれて不溶化しやすく、本発明の効果が得られにくくなる。また、k=0の成分を2核体、k=1の成分を3核体、k=2の成分を4核体、k=3の成分を5核体とそれぞれ表現する場合がある。本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂は、一般式(4)におけるkの値が0であるビスフェノールF化合物を用いることが最も好ましいが、このようなビスフェノールF化合物を得るためには一般的に晶析操作による処理を伴うことから経済的に不利である。本発明の効果を得るためのkの範囲は0〜0.6であり、この範囲での多核体を伴うビスフェノールF化合物であってよい。好ましくは0.0005〜0.05、さらに好ましくは0.001〜0.01である。なお、k=0の成分等の%は、GPC測定に基づく面積%であり、GPC測定条件は実施例に記載した分子量の測定条件と同条件である。 In the general formula (4), R 1 independently represents a monovalent hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms. Examples of such a hydrocarbon group include, but are not limited to, a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, a hexyl group, a phenyl group, or a styryl group. m is independently a number from 0 to 4, and m 1 is independently a number from 0 to 3. A preferable embodiment is a structure represented by m = 0 and m 1 = 0 from the viewpoint of availability, low viscosity, and transparency. k is an average value of 0 to 0.6, but the component of k = 0 is 80% (area%) or more, preferably 95% or more, and more preferably 96.5% or more. When the component of k = 0 is less than 80%, the number of trifunctional or higher components increases, so that the number of reaction points increases. As the reaction proceeds, insolubilization tends to occur and the effects of the present invention are hardly obtained. In some cases, the k = 0 component is expressed as a binuclear body, the k = 1 component is expressed as a trinuclear body, the k = 2 component is expressed as a 4-nuclear body, and the k = 3 component is expressed as a 5-nuclear body. The bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention is most preferably a bisphenol F compound in which the value of k in the general formula (4) is 0. This is economically disadvantageous because it involves processing by an analysis operation. The range of k for obtaining the effect of the present invention is 0 to 0.6, and may be a bisphenol F compound with a polynuclear body in this range. Preferably it is 0.0005-0.05, More preferably, it is 0.001-0.01. In addition,%, such as a component of k = 0, is area% based on GPC measurement, and GPC measurement conditions are the same conditions as the molecular weight measurement conditions described in the Examples.

また、本発明で使用するビスフェノールF化合物中の2核体には、異性体が存在することがよい。本発明では、4,4’−体、2,2’−体、2,4’−体の3種類の異性体比を制御することが重要であり、その他の異性体は無視して構わない。この異性体比は、液体クロマトグラフィー(HPLC)測定による面積比で、4,4’−体は、40%以下が好ましく、29〜37%がより好ましい。2,2’−体は20%以下が好ましく、14〜19%がより好ましい。2,4’−体は40〜100%が好ましく、44〜60%がより好ましい。これらの異性体が上記の割合を超えた場合は、前述した反応が起こりにくくなり、エポキシ基とフェノール性水酸基が残存したままで高分子量化した本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂が得られない恐れがある。なお、HPLC測定条件は実施例に記載した条件による。   Moreover, it is preferable that an isomer exists in the binuclear substance in the bisphenol F compound used in the present invention. In the present invention, it is important to control the ratio of three isomers of 4,4′-isomer, 2,2′-isomer, and 2,4′-isomer, and other isomers may be ignored. . This isomer ratio is an area ratio measured by liquid chromatography (HPLC), and the 4,4′-isomer is preferably 40% or less, more preferably 29 to 37%. The 2,2'-form is preferably 20% or less, more preferably 14 to 19%. The 2,4'-form is preferably 40 to 100%, more preferably 44 to 60%. When these isomers exceed the above ratio, the above-described reaction is difficult to occur, and the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention having a high molecular weight while the epoxy group and the phenolic hydroxyl group remain cannot be obtained. There is a fear. The HPLC measurement conditions are the same as those described in the examples.

また、2価のエポキシ樹脂とビスフェノールF化合物との反応を行う際に、本発明の作用効果に影響がない範囲において、さらに、2価のフェノール性化合物を併用することができる。使用できる量は、ビスフェノールF化合物100質量部に対し、100質量部以下が好ましく、50質量部以下がより好ましく、25質量部以下がさらに好ましい。   Further, when the reaction between the divalent epoxy resin and the bisphenol F compound is performed, a divalent phenolic compound can be used in combination as long as the effects of the present invention are not affected. The amount that can be used is preferably 100 parts by mass or less, more preferably 50 parts by mass or less, and even more preferably 25 parts by mass or less with respect to 100 parts by mass of the bisphenol F compound.

2価のフェノール性化合物を併用する場合は、ビスフェノールF化合物中のフェノール性水酸基のモル数と、2価のフェノール性化合物中のフェノール性水酸基のモル数の合計をモル数(F1)として、2価のエポキシ樹脂中のエポキシ基のモル数(E1)とのモル比率(E1:F1)=1.035〜1.005:1の範囲で反応する。   When a divalent phenolic compound is used in combination, the total number of moles of phenolic hydroxyl groups in the bisphenol F compound and the number of moles of phenolic hydroxyl groups in the divalent phenolic compound is 2 (F1). It reacts in a molar ratio (E1: F1) = 1.035 to 1.005: 1 with the number of moles (E1) of epoxy groups in the valent epoxy resin.

併用できる2価のフェノール性化合物としては、具体的には、ビスフェノールA、ビスフェノールS、ビスフェノールB、ビスフェノールC、ビスフェノールK、ビスフェノールAP、ビスフェノールBP、ビスフェノールE、ビスフェノールP、ビスフェノールPH、ビスフェノールAD、ビスフェノールAF、ビスフェノールフルオレン、ビスクレゾールフルオレン、ビスフェノールZ、ビスフェノールTMC、ジメチルビスフェノールA、テトラメチルビスフェノールA、ジメチルビスフェノールS、テトラメチルビスフェノールS、テトラメチルビスフェノールZ、ハイドロキノン、レゾルシン、カテコール、メチルハイドロキノン、ジメチルハイドロキノン、トリメチルハイドロキノン、ブチルハイドロキノン、ジブチルハイドロキノン、メチルレゾルシン、ビフェノール、テトラメチルビフェノール、ジヒドロキシナフタレン、ジヒドロキシメチルナフタレン、ジヒドロキシジフェニルエーテル、ジヒドロキシベンゾフェノン、ジヒドロキシジフェニルスルフィド、チオジフェノール、臭素化ビスフェノールA、又は単官能フェノールとアルデヒド基を1つ有する化合物との縮合反応により得られるビスフェノール類、あるいは単官能フェノールとカルボニル基を一つ有する化合物との縮合反応により得られるビスフェノール類等が挙がられる。   Specific examples of divalent phenolic compounds that can be used in combination include bisphenol A, bisphenol S, bisphenol B, bisphenol C, bisphenol K, bisphenol AP, bisphenol BP, bisphenol E, bisphenol P, bisphenol PH, bisphenol AD, and bisphenol. AF, bisphenol fluorene, biscresol fluorene, bisphenol Z, bisphenol TMC, dimethyl bisphenol A, tetramethyl bisphenol A, dimethyl bisphenol S, tetramethyl bisphenol S, tetramethyl bisphenol Z, hydroquinone, resorcin, catechol, methyl hydroquinone, dimethyl hydroquinone, Trimethylhydroquinone, butylhydroquinone, dibutylhydro Non, methylresorcin, biphenol, tetramethylbiphenol, dihydroxynaphthalene, dihydroxymethylnaphthalene, dihydroxydiphenyl ether, dihydroxybenzophenone, dihydroxydiphenyl sulfide, thiodiphenol, brominated bisphenol A, or a compound having a monofunctional phenol and one aldehyde group And bisphenols obtained by a condensation reaction between a monofunctional phenol and a compound having one carbonyl group.

本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の製造方法において用いる触媒は、ホスホニウム塩類、アンモニウム塩類、ヨードニウム塩類及びスルホニウム塩類等のオニウム塩類であり、一般式(5)で表される有機ホスホニウム塩類が好ましく、必要に応じて2種以上を用いてもよい。   Catalysts used in the method for producing a bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention are onium salts such as phosphonium salts, ammonium salts, iodonium salts and sulfonium salts, and organic phosphonium salts represented by the general formula (5) are preferable, You may use 2 or more types as needed.

一般式(5)中、R7は1価の炭化水素基を表し、それぞれ同一でも異なっていてもよい。また、下記(イ)〜(ハ)のいずれか一つの条件を満たすものが好ましい。
(イ)すべてのR7が炭素数1〜10のアルキル基。
(ロ)すべてのR7が置換基を有してもよいアリール基又は置換基を有してもよいアラルキル基。
(ハ)3つのR7が、置換基を有してもよいアリール基であり、1つのR7が炭素数1〜10のアルキル基。
In general formula (5), R 7 represents a monovalent hydrocarbon group, which may be the same or different. Moreover, what satisfy | fills any one of the following (I)-(C) is preferable.
(A) All R 7 are alkyl groups having 1 to 10 carbon atoms.
(B) All R 7 may have an aryl group which may have a substituent or an aralkyl group which may have a substituent.
(C) three R 7 is an aryl group which may have a substituent group, one R 7 is an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms.

上記(イ)又は(ハ)に記載の炭素数1〜10のアルキル基としては、例えばメチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、イソブチル基、ヘキシル基、オクチル基、又はデシル基等が挙げられるがこれらに限定されない。   Examples of the alkyl group having 1 to 10 carbon atoms described in the above (a) or (c) include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, an isobutyl group, a hexyl group, an octyl group, or a decyl group. However, it is not limited to these.

上記(ロ)又は(ハ)に記載の、置換基を有してもよいアリール基としては、例えばフェニル基、トルイル基、ジメチルフェニル基、tert−ブチルフェニル基、メトキシフェニル基、ジメトキシフェニル基、又はtert−ブトキシフェニル基等が挙げられるがこれらに限定されない。また、置換基を有してもよいアラルキル基としては、例えばベンジル基、2−フェニルエチル基、1−フェニルエチル基、3−フェニルプロピル基、4−イソプロピルベンジル基等が挙げられるがこれらに限定されない。   Examples of the aryl group which may have a substituent described in (b) or (c) above include, for example, a phenyl group, a toluyl group, a dimethylphenyl group, a tert-butylphenyl group, a methoxyphenyl group, a dimethoxyphenyl group, Examples thereof include, but are not limited to, a tert-butoxyphenyl group. Examples of the aralkyl group which may have a substituent include, but are not limited to, benzyl group, 2-phenylethyl group, 1-phenylethyl group, 3-phenylpropyl group, 4-isopropylbenzyl group and the like. Not.

上記一般式(5)中、X1は1価の陰イオンを形成する原子又は原子団である。また、ハロゲン原子、(R8O)2PO2 -、(R9O)2PS2 -又はR10CO2 -であるものが好ましい。但し、R8及びR9は炭素数1〜4のアルキル基を表し、それぞれ同一でも異なっていてもよい。R10は炭素数1〜10のアルキル基を表す。(R8O)2PO2 -、(R9O)2PS2 -又はR10CO2 -は、上記一般式(5a)〜(5c)で表される。
8、R9は炭素数1〜4のアルキル基を表し、それぞれ同一でも異なっていてもよい。好ましくはメチル基又はエチル基である。R10は炭素数1〜10のアルキル基を表し、好ましくはメチル基である。
In the general formula (5), X 1 is an atom or atomic group forming a monovalent anion. Further, a halogen atom, (R 8 O) 2 PO 2 -, (R 9 O) 2 PS 2 - or R 10 CO 2 - in which is preferable. However, R < 8 > and R < 9 > represents a C1-C4 alkyl group, and may be same or different, respectively. R 10 represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms. (R 8 O) 2 PO 2 -, (R 9 O) 2 PS 2 - or R 10 CO 2 - is represented by the general formula (5a) ~ (5c).
R 8 and R 9 represent an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and may be the same or different. A methyl group or an ethyl group is preferable. R 10 represents an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms, preferably a methyl group.

一般式(5)で表される有機ホスホニウム塩類を例示すると、R7が上記(イ)を満足する場合は次のとおりである。
1がハロゲンの場合:テトラメチルホスホニウムクロリド、テトラメチルホスホニウムヨージド、テトラエチルホスホニウムクロリド、テトラメチルホスホニウムブロミド、テトラエチルホスホニウムヨージド、テトラ−n−プロピルホスホニウムクロリド、テトラ−n−プロピルホスホニウムブロミド、テトラ−n−プロピルホスホニウムヨージド、メチルトリブチルホスホニウムクロリド、メチルトリブチルホスホニウムブロミド、メチルトリブチルホスホニウムヨージド、テトラ−n−ブチルホスホニウムクロリド、テトラ−n−ブチルホスホニウムブロミド、テトラ−n−ブチルホスホニウムヨージド、テトラ−n−ヘキシルホスホニウムクロリド、テトラ−n−ヘキシルホスホニウムブロミド、テトラ−n−ヘキシルホスホニウムヨージド、テトラ−n−オクチルホスホニウムクロリド、テトラ−n−オクチルホスホニウムブロミド、テトラ−n−オクチルホスホニウムヨージド、テトラ−n−デシルホスホニウムクロリド、テトラ−n−デシルホスホニウムブロミド、テトラ−n−デシルホスホニウムヨージド、リメチルシクロヘキシルホスホニウムブロミド、トリメチルシクロヘキシルホスホニウムヨージド等。
1が一般式(5a)の場合:テトラメチルホスホニウムジメチルホスフェート、テトラメチルホスホニウムジエチルホスフェート、テトラエチルホスホニウムジメチルホスフェート、テトラエチルホスホニウムジエチルホスフェート、メチルトリプロピルホスホニウムジメチルホスフェート、メチルトリプロピルホスホニウムジエチルホスフェート、メチルトリブチルホスホニウムジメチルホスフェート、メチルトリブチルホスホニウムジエチルホスフェート、テトラ−n−ブチルホスホニウムジメチルホスフェート、テトラ−n−ブチルホスホニウムジエチルホスフェート、テトラ−n−ヘキシルホスホニウムジメチルホスフェート、テトラ−n−ヘキシルホスホニウムジエチルホスフェート、メチルトリヘキシルホスホニウムジメチルホスフェート、メチルトリヘキシルホスホニウムジエチルホスフェート等。
1が一般式(5b)の場合:テトラメチルホスホニウム−o,o−ジメチルホスホロジチオエート、テトラメチルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート、テトラエチルホスホニウム−o,o−ジメチルホスホロジチオエート、テトラエチルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート、テトラプロピルホスホニウム−o,o−ジメチルホスホロジチオエート、テトラプロピルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート、メチルトリブチルホスホニウム−o,o−ジメチルホスホロジチオエート、メチルトリブチルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート、テトラ−n−ブチルホスホニウム−o,o−ジメチルホスホロジチオエート、テトラ−n−ブチルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート、テトラ−n−ヘキシルホスホニウム−o,o−ジメチルホスホロジチオエート、テトラ−n−ヘキシルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート、メチルトリーn−ヘキシルホスホニウム−o,o−ジメチルホスホロジチオエート、メチルトリーn−ヘキシルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート等。
1が一般式(5c)の場合:テトラエチルホスホニウムアセテート、テトラエチルホスホニウムプロピオネート、テトラブチルホスホニウムアセテート、テトラブチルホスホニウムプロピオネート、テトラブチルホスホニウムヘキサン酸塩、テトラブチルホスホニウムデカン酸塩等。
Illustrative examples of the organic phosphonium salts represented by the general formula (5) include the following when R 7 satisfies the above (i).
When X 1 is halogen: tetramethylphosphonium chloride, tetramethylphosphonium iodide, tetraethylphosphonium chloride, tetramethylphosphonium bromide, tetraethylphosphonium iodide, tetra-n-propylphosphonium chloride, tetra-n-propylphosphonium bromide, tetra- n-propylphosphonium iodide, methyltributylphosphonium chloride, methyltributylphosphonium bromide, methyltributylphosphonium iodide, tetra-n-butylphosphonium chloride, tetra-n-butylphosphonium bromide, tetra-n-butylphosphonium iodide, tetra- n-hexylphosphonium chloride, tetra-n-hexylphosphonium bromide, tetra-n-hexylphosphonium Iodide, tetra-n-octylphosphonium chloride, tetra-n-octylphosphonium bromide, tetra-n-octylphosphonium iodide, tetra-n-decylphosphonium chloride, tetra-n-decylphosphonium bromide, tetra-n-decylphosphonium iodide , Limethylcyclohexylphosphonium bromide, trimethylcyclohexylphosphonium iodide and the like.
When X 1 is the general formula (5a): tetramethylphosphonium dimethyl phosphate, tetramethylphosphonium diethyl phosphate, tetraethylphosphonium dimethyl phosphate, tetraethylphosphonium diethyl phosphate, methyltripropylphosphonium dimethylphosphate, methyltripropylphosphonium diethylphosphate, methyltributylphosphonium Dimethyl phosphate, methyl tributyl phosphonium diethyl phosphate, tetra-n-butyl phosphonium dimethyl phosphate, tetra-n-butyl phosphonium diethyl phosphate, tetra-n-hexyl phosphonium dimethyl phosphate, tetra-n-hexyl phosphonium diethyl phosphate, methyl trihexyl phosphonium dimethyl Sufeto, and methyl tri-hexyl phosphonium diethylphosphate.
When X 1 is the general formula (5b): tetramethylphosphonium-o, o-dimethyl phosphorodithioate, tetramethylphosphonium-o, o-diethyl phosphorodithioate, tetraethylphosphonium-o, o-dimethyl phosphorodithioate , Tetraethylphosphonium-o, o-diethyl phosphorodithioate, tetrapropylphosphonium-o, o-dimethyl phosphorodithioate, tetrapropylphosphonium-o, o-diethyl phosphorodithioate, methyltributylphosphonium-o, o -Dimethyl phosphorodithioate, methyltributylphosphonium-o, o-diethyl phosphorodithioate, tetra-n-butylphosphonium-o, o-dimethylphosphorodithioate, tetra-n-butylphosphonium-o, o-die Ruphosphorodithioate, tetra-n-hexylphosphonium-o, o-dimethylphosphorodithioate, tetra-n-hexylphosphonium-o, o-diethylphosphorodithioate, methyltree n-hexylphosphonium-o, o -Dimethyl phosphorodithioate, methyltri n-hexylphosphonium-o, o-diethyl phosphorodithioate, etc.
When X 1 is the general formula (5c): tetraethylphosphonium acetate, tetraethylphosphonium propionate, tetrabutylphosphonium acetate, tetrabutylphosphonium propionate, tetrabutylphosphonium hexanoate, tetrabutylphosphonium decanoate and the like.

7が上記(ロ)を満足する場合は次のとおりである。
1がハロゲンの場合:テトラフェニルホスホニウムクロリド、テトラフェニルホスホニウムブロミド、テトラフェニルホスホニウムヨージド、ベンジルトリフェニルホスホニウムクロリド、ベンジルトリフェニルホスホニウムブロミド、ベンジルトリフェニルホスホニウムヨージド、テトラフェニルホスホニウムブロミド、テトラフェニルホスホニウムヨージド等。
1が一般式(5a)の場合:テトラフェニルホスホニウムジメチルホスフェート、テトラフェニルホスホニウムジエチルホスフェート、ベンジルトリフェニルホスホニウムジメチルホスフェート、ベンジルトリフェニルホスホニウムジエチルホスフェート等、
1が一般式(5b)の場合:テトラフェニルホスホニウム−o,o−ジメチルホスホロジチオエート、テトラフェニルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート、ベンジルトリフェニルホスホニウム−o,o−ジメチルホスホロジチオエート、ベンジルトリフェニルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート等。
1が一般式(5c)の場合:テトラフェニルホスホニウムアセテート、テトラフェニルホスホニウムプロピオネート、テトラフェニルホスホニウムブタン酸塩、テトラフェニルホスホニウムヘキサン酸塩、テトラフェニルホスホニウムオクタン酸塩、テトラフェニルホスホニウムデカン酸塩、ベンジルトリフェニルホスホニウムアセテート、ベンジルトリフェニルホスホニウムプロピオネート、ベンジルトリフェニルホスホニウムブタン酸塩、ベンジルトリフェニルホスホニウムヘキサン酸塩、ベンジルトリフェニルホスホニウムオクタン酸塩、ベンジルトリフェニルホスホニウムデカン酸塩等。
The case where R 7 satisfies the above (b) is as follows.
When X 1 is halogen: tetraphenylphosphonium chloride, tetraphenylphosphonium bromide, tetraphenylphosphonium iodide, benzyltriphenylphosphonium chloride, benzyltriphenylphosphonium bromide, benzyltriphenylphosphonium iodide, tetraphenylphosphonium bromide, tetraphenylphosphonium Iodide etc.
When X 1 is the general formula (5a): tetraphenylphosphonium dimethyl phosphate, tetraphenylphosphonium diethyl phosphate, benzyltriphenylphosphonium dimethyl phosphate, benzyltriphenylphosphonium diethyl phosphate, etc.
When X 1 is the general formula (5b): tetraphenylphosphonium-o, o-dimethyl phosphorodithioate, tetraphenylphosphonium-o, o-diethyl phosphorodithioate, benzyltriphenylphosphonium-o, o-dimethylphospho Lodithioate, benzyltriphenylphosphonium-o, o-diethyl phosphorodithioate, and the like.
When X 1 is the general formula (5c): tetraphenylphosphonium acetate, tetraphenylphosphonium propionate, tetraphenylphosphonium butanoate, tetraphenylphosphonium hexanoate, tetraphenylphosphonium octanoate, tetraphenylphosphonium decanoate Benzyltriphenylphosphonium acetate, benzyltriphenylphosphonium propionate, benzyltriphenylphosphonium butanoate, benzyltriphenylphosphonium hexanoate, benzyltriphenylphosphonium octanoate, benzyltriphenylphosphonium decanoate and the like.

7が上記(ハ)を満足する場合は次のとおりである。
1がハロゲンの場合:メチルトリフェニルホスホニウムクロリド、メチルトリフェニルホスホニウムブロミド、メチルトリフェニルホスホニウムヨージド、エチルトリフェニルホスホニウムクロリド、エチルトリフェニルホスホニウムブロミド、エチルトリフェニルホスホニウムヨージド、プロピルトリフェニルホスホニウムクロリド、プロピルトリフェニルホスホニウムブロミド、プロピルトリフェニルホスホニウムヨージド、ブチルトリフェニルホスホニウムクロリド、ブチルトリフェニルホスホニウムブロミド、ブチルトリフェニルホスホニウムヨージド、ヘキシルトリフェニルホスホニウムクロリド、ヘキシルトリフェニルホスホニウムブロミド、ヘキシルトリフェニルホスホニウムヨージド等。
1が一般式(5a)の場合:メチルトリフェニルホスホニウムジメチルホスフェート、メチルトリフェニルホスホニウムジエチルホスフェート、エチルトリフェニルホスホニウムジメチルホスフェート、エチルトリフェニルホスホニウムジエチルホスフェート、プロピルトリフェニルホスホニウムジメチルホスフェート、プロピルトリフェニルホスホニウムジエチルホスフェート、ブチルトリフェニルホスホニウムジメチルホスフェート、ブチルトリフェニルホスホニウムジエチルホスフェート、ヘキシルトリフェニルホスホニウムジメチルホスフェート、ヘキシルトリフェニルホスホニウムジエチルホスフェート等。
1が一般式(5b)の場合:メチルトリフェニルホスホニウム−o,o−ジメチルホスホロジチオエート、メチルトリフェニルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート、エチルトリフェニルホスホニウム−o,o−ジメチルホスホロジチオエート、エチルトリフェニルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート、プロピルトリフェニルホスホニウム−o,o−ジメチルホスホロジチオエート、プロピルトリフェニルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート、ブチルトリフェニルホスホニウム−o,o−ジメチルホスホロジチオエート、ブチルトリフェニルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート、ヘキシルトリフェニルホスホニウム−o,o−ジメチルホスホロジチオエート、ヘキシルトリフェニルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート等。
1が一般式(5c)の場合:メチルトリフェニルホスホニウムアセテート、メチルトリフェニルホスホニウムプロピオネート、メチルトリフェニルホスホニウムブタン酸塩、メチルトリフェニルホスホニウムヘキサン酸塩、メチルトリフェニルホスホニウムオクタン酸塩、メチルトリフェニルホスホニウムデカン酸塩、エチルトリフェニルホスホニウムアセテート、エチルトリフェニルホスホニウムプロピオネート、エチルトリフェニルホスホニウムブタン酸塩、エチルトリフェニルホスホニウムヘキサン酸塩、エチルトリフェニルホスホニウムオクタン酸塩、エチルトリフェニルホスホニウムデカン酸塩、プロピルトリフェニルホスホニウムアセテート、プロピルトリフェニルホスホニウムプロピオネート、プロピルトリフェニルホスホニウムブタン酸塩、プロピルトリフェニルホスホニウムヘキサン酸塩、プロピルトリフェニルホスホニウムオクタン酸塩、プロピルトリフェニルホスホニウムデカン酸塩、ブチルトリフェニルホスホニウムアセテート、ブチルトリフェニルホスホニウムプロピオネート、ブチルトリフェニルホスホニウムブタン酸塩、ブチルトリフェニルホスホニウムプロピオネート、ブチルトリフェニルホスホニウムヘキサン酸塩、ブチルトリフェニルホスホニウムプロピオネート、ブチルトリフェニルホスホニウムオクタン酸塩、ブチルトリフェニルホスホニウムプロピオネート、ブチルトリフェニルホスホニウムデカン酸塩、ヘキシルトリフェニルホスホニウムアセテート、ヘキシルトリフェニルホスホニウムプロピオネート、ヘキシルトリフェニルホスホニウムブタン酸塩、ヘキシルトリフェニルホスホニウムプロピオネート、ヘキシルトリフェニルホスホニウムヘキサン酸塩、ヘキシルトリフェニルホスホニウムプロピオネート、ヘキシルトリフェニルホスホニウムオクタン酸塩、ヘキシルトリフェニルホスホニウムプロピオネート、ヘキシルトリフェニルホスホニウムデカン酸塩等。
The case where R 7 satisfies the above (c) is as follows.
When X 1 is halogen: methyltriphenylphosphonium chloride, methyltriphenylphosphonium bromide, methyltriphenylphosphonium iodide, ethyltriphenylphosphonium chloride, ethyltriphenylphosphonium bromide, ethyltriphenylphosphonium iodide, propyltriphenylphosphonium chloride , Propyltriphenylphosphonium bromide, propyltriphenylphosphonium iodide, butyltriphenylphosphonium chloride, butyltriphenylphosphonium bromide, butyltriphenylphosphonium iodide, hexyltriphenylphosphonium chloride, hexyltriphenylphosphonium bromide, hexyltriphenylphosphonium iodide De etc.
When X 1 is the general formula (5a): methyl triphenyl phosphonium dimethyl phosphate, methyl triphenyl phosphonium diethyl phosphate, ethyl triphenyl phosphonium dimethyl phosphate, ethyl triphenyl phosphonium diethyl phosphate, propyl triphenyl phosphonium dimethyl phosphate, propyl triphenyl phosphonium Diethyl phosphate, butyl triphenyl phosphonium dimethyl phosphate, butyl triphenyl phosphonium diethyl phosphate, hexyl triphenyl phosphonium dimethyl phosphate, hexyl triphenyl phosphonium diethyl phosphate and the like.
When X 1 is the general formula (5b): methyltriphenylphosphonium-o, o-dimethylphosphorodithioate, methyltriphenylphosphonium-o, o-diethylphosphorodithioate, ethyltriphenylphosphonium-o, o- Dimethyl phosphorodithioate, ethyltriphenylphosphonium-o, o-diethyl phosphorodithioate, propyltriphenylphosphonium-o, o-dimethyl phosphorodithioate, propyltriphenylphosphonium-o, o-diethyl phosphorodithioate Butyltriphenylphosphonium-o, o-dimethyl phosphorodithioate, butyltriphenylphosphonium-o, o-diethyl phosphorodithioate, hexyltriphenylphosphonium-o, o-dimethyl phosphorodithioate, Sill triphenylphosphonium -o, o-diethyl phosphorodithioate and the like.
When X 1 is the general formula (5c): methyltriphenylphosphonium acetate, methyltriphenylphosphonium propionate, methyltriphenylphosphonium butanoate, methyltriphenylphosphonium hexanoate, methyltriphenylphosphonium octanoate, methyl Triphenylphosphonium decanoate, ethyltriphenylphosphonium acetate, ethyltriphenylphosphonium propionate, ethyltriphenylphosphonium butanoate, ethyltriphenylphosphonium hexanoate, ethyltriphenylphosphonium octanoate, ethyltriphenylphosphonium decane Acid salt, propyltriphenylphosphonium acetate, propyltriphenylphosphonium propionate, propyltriphenylphospho Umbutanoate, propyltriphenylphosphonium hexanoate, propyltriphenylphosphonium octanoate, propyltriphenylphosphonium decanoate, butyltriphenylphosphonium acetate, butyltriphenylphosphonium propionate, butyltriphenylphosphonium butanoate, Butyltriphenylphosphonium propionate, Butyltriphenylphosphonium hexanoate, Butyltriphenylphosphonium propionate, Butyltriphenylphosphonium octanoate, Butyltriphenylphosphonium propionate, Butyltriphenylphosphonium decanoate, Hexyltri Phenylphosphonium acetate, hexyltriphenylphosphonium propionate, hexyltriphenylphos Honium butanoate, hexyltriphenylphosphonium propionate, hexyltriphenylphosphonium hexanoate, hexyltriphenylphosphonium propionate, hexyltriphenylphosphonium octanoate, hexyltriphenylphosphonium propionate, hexyltriphenylphosphonium decanoic acid Salt etc.

一般式(5)で表される有機ホスホニウム塩類は、上記に限定されない。
これらの中でより好ましい有機ホスホニウム塩類は、R7がメチル基、ブチル基、フェニル基のいずれかであり、上記(イ)、(ロ)、(ハ)のいずれかの条件を満たすものであり、X1がハロゲン原子で表されるものである。さらに好ましい有機ホスホニウム塩類はテトラメチルホスホニウムブロミド、テトラメチルホスホニウムヨージド、テトラフェニルホスホニウムブロミド、メチルトリフェニルホスホニウムブロミド、メチルトリフェニルホスホニウムヨージドである。
The organic phosphonium salts represented by the general formula (5) are not limited to the above.
Among these, more preferable organic phosphonium salts are those in which R 7 is any one of a methyl group, a butyl group, and a phenyl group, and satisfies the above conditions (a), (b), and (c). X 1 is a halogen atom. Further preferred organic phosphonium salts are tetramethylphosphonium bromide, tetramethylphosphonium iodide, tetraphenylphosphonium bromide, methyltriphenylphosphonium bromide, methyltriphenylphosphonium iodide.

上記以外のオニウム塩類としては、例えば、ベンジルトリエチルホスホニウムブロミド、フェニルトリエチルホスホニウムブロミド、(tert−ブトキシカルボニルメチル)トリフェニルホスホニウムブロミド、2−ジメチルアミノエチルトリフェニルホスホニウムブロミド等の有機ホスホニウム塩類や;テトラメチルアンモニウムクロリド、テトラメチルアンモニウムブロミド、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、トリエチルメチルアンモニウムクロリド、テトラエチルアンモニウムクロリド、テトラエチルアンモニウムブロミド、テトラエチルアンモニウムヨージド、テトラプロピルアンモニウムハイドロオキサイド、テトラプロピルアンモニウムクロリド、テトラプロピルアンモニウムブロミド、テトラブチルアンモニウムクロリド、テトラブチルアンモニウムブロミド、テトラブチルアンモニウムヨージド、ベンジルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、ベンジルトリブチルアンモニウムクロリド、フェニルトリメチルアンモニウムクロリド等の有機アンモニウム塩類や;ジフェニルヨードニウムヨージド、フェニル(2‐メチルフェニル)ヨードニウムヨージド、フェニル(4‐メチルフェニル)ヨードニウムヨージド、フェニル(2,5‐ジメチルフェニル)ヨードニウムヨージド等の有機ヨードニウム塩類や;トリフェニルスルホニウムクロリド、トリフェニルスルホニウムブロミド、トリフェニルスルホニウムヨージド、トリメチルスルホニウムクロリド、トリメチルスルホニウム・ブロミド、トリメチルスルホニウムヨージド、ジメチルフェニルスルホニウムクロリド、ジメチルフェニルスルホニウムブロミド、ジメチルフェニルスルホニウムヨージド、4−tert−ブチルフェニルジフェニルスルホニウムブロミド、4−tert−ブチルフェニルジフェニルスルホニウムヨージド、4−tert−ブトキシフェニルジフェニルスルホニウムブロミド、4−tert−ブトキシェニルジフェニルスルホニウムヨージド、トリス(4−tert−ブチルフェニル)スルホニウムブロミド、トリス(4−tert−ブチルフェニル)スルホニウムヨージド、トリス(4−tert−ブトキシフェニル)スルホニウムブロミド、トリス(4−tert−ブトキシフェニル)スルホニウムヨージド、p−トリルジフェニルスルホニウムブロミド等の有機スルホニウム塩類等が挙げられる。   Examples of onium salts other than the above include organic phosphonium salts such as benzyltriethylphosphonium bromide, phenyltriethylphosphonium bromide, (tert-butoxycarbonylmethyl) triphenylphosphonium bromide, 2-dimethylaminoethyltriphenylphosphonium bromide; Ammonium chloride, tetramethylammonium bromide, tetramethylammonium hydroxide, triethylmethylammonium chloride, tetraethylammonium chloride, tetraethylammonium bromide, tetraethylammonium iodide, tetrapropylammonium hydroxide, tetrapropylammonium chloride, tetrapropylammonium bromide, tetrabutyl Ammonium Organic ammonium salts such as lithium, tetrabutylammonium bromide, tetrabutylammonium iodide, benzyltributylammonium hydroxide, benzyltributylammonium chloride, phenyltrimethylammonium chloride; diphenyliodonium iodide, phenyl (2-methylphenyl) iodonium iodide Organic iodonium salts such as phenyl (4-methylphenyl) iodonium iodide, phenyl (2,5-dimethylphenyl) iodonium iodide; triphenylsulfonium chloride, triphenylsulfonium bromide, triphenylsulfonium iodide, trimethylsulfonium chloride , Trimethylsulfonium bromide, trimethylsulfonium iodide, dimethylphenylsulfide Nium chloride, dimethylphenylsulfonium bromide, dimethylphenylsulfonium iodide, 4-tert-butylphenyldiphenylsulfonium bromide, 4-tert-butylphenyldiphenylsulfonium iodide, 4-tert-butoxyphenyldiphenylsulfonium bromide, 4-tert-butoxy Phenyldiphenylsulfonium iodide, tris (4-tert-butylphenyl) sulfonium bromide, tris (4-tert-butylphenyl) sulfonium iodide, tris (4-tert-butoxyphenyl) sulfonium bromide, tris (4-tert-butoxy) And organic sulfonium salts such as phenyl) sulfonium iodide and p-tolyldiphenylsulfonium bromide.

また、本発明の範囲を損なわない程度で、エポキシ基とフェノール性水酸基を反応させることが可能な触媒を併用してもよい。例えば、水酸化ナトリウム、水酸化リチウム、水酸化カリウム等のアルカリ金属水酸化物や、炭酸ナトリウム、重炭酸ナトリウム、塩化ナトリウム、塩化リチウム、塩化カリウム等のアルカリ金属塩、ナトリウムメトキシド、ナトリウムエトキシド等のアルカリ金属アルコキシド、アルカリ金属フェノキシド、水素化ナトリウム、水素化リチウム等のアルカリ金属ハライド化合物、酢酸ナトリウム、ステアリン酸ナトリウム等の有機酸のアルカリ金属塩や、トリ−n−プロピルホスフィン、トリ−n−ブチルホスフィン、トリフェニルホスフィン、トリ−p−トリルホスフィン、トリ−2,5−キシリルホスフィン、トリ−(p−メトキシフェニルホスフィン)等の有機ホスフィン化合物や、トリエチルアミン、トリ−n−プロピルアミン、トリ−n−ブチルアミン、ベンジルジメチルアミン等の3級アミン化合物や、ピリジン、キノリン、イソキノリン、ピペラジン、イミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−エチル4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール等の窒素原子含有複素環化合物等が挙げられる。   Moreover, you may use together the catalyst which can make an epoxy group and a phenolic hydroxyl group react within the grade which does not impair the scope of the present invention. For example, alkali metal hydroxides such as sodium hydroxide, lithium hydroxide and potassium hydroxide, alkali metal salts such as sodium carbonate, sodium bicarbonate, sodium chloride, lithium chloride and potassium chloride, sodium methoxide, sodium ethoxide Alkali metal alkoxides such as alkali metal phenoxides, alkali metal halide compounds such as sodium hydride and lithium hydride, alkali metal salts of organic acids such as sodium acetate and sodium stearate, tri-n-propylphosphine, and tri-n Organic phosphine compounds such as -butylphosphine, triphenylphosphine, tri-p-tolylphosphine, tri-2,5-xylylphosphine, tri- (p-methoxyphenylphosphine), triethylamine, tri-n-propylamine, Tertiary amine compounds such as ri-n-butylamine and benzyldimethylamine, and nitrogen atom-containing complexes such as pyridine, quinoline, isoquinoline, piperazine, imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, and 2-phenylimidazole. A ring compound etc. are mentioned.

本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の製造における、触媒濃度については特に限定されないが、通常5ppm〜100000ppmである。5ppm以下では反応速度が非常に遅く経済的に不利であり、100000ppmを超えると副反応の進行が無視できなくなり、場合によっては樹脂が不溶化するため好ましくない。   The catalyst concentration in the production of the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention is not particularly limited, but is usually 5 ppm to 100,000 ppm. If it is 5 ppm or less, the reaction rate is very slow and economically disadvantageous. If it exceeds 100,000 ppm, the progress of side reactions cannot be ignored, and in some cases the resin becomes insoluble, which is not preferable.

本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の製造方法に用いる溶媒は、芳香族系溶媒であればよい。このような溶媒としては公知の物であれば特に限定されない。例えば、ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、トリメチルベンゼン、クロロベンゼン、ジクロルベンゼン、塩化ベンジル、アニソール、メトキシトルエン等が挙げられるがこれらに限定されず、2種以上を併用してもよい。これらの中でより好ましい芳香族系溶媒は、ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、クロロベンゼン等の常圧下における沸点が80〜145℃の溶媒である。特に好ましい溶媒は、安全性、乾燥に必要なエネルギーと時間の観点から、トルエンである。   The solvent used in the method for producing the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention may be an aromatic solvent. Such a solvent is not particularly limited as long as it is a known one. Examples include benzene, toluene, xylene, ethylbenzene, trimethylbenzene, chlorobenzene, dichlorobenzene, benzyl chloride, anisole, methoxytoluene and the like, but are not limited thereto, and two or more kinds may be used in combination. Among these, more preferable aromatic solvents are solvents having a boiling point of 80 to 145 ° C. under normal pressure, such as benzene, toluene, xylene, ethylbenzene, chlorobenzene and the like. A particularly preferred solvent is toluene from the viewpoints of safety, energy required for drying and time.

上記芳香族系溶媒を使用することで比較的容易に本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂を得ることができる。これ以外の溶媒の場合、反応制御が難しく反応終点の判断が困難となる場合がある。また、芳香族系溶媒以外の溶媒を併用する場合は、芳香族系溶媒を溶媒全体に対し、70質量%以上使用することが好ましい。この量であれば比較的容易に本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂を得ることができる。併用できる芳香族系溶媒以外の溶媒は、エポキシ基とフェノール性水酸基に影響を及ぼさないものであれば公知であれば種々のものを適用できる。例えば、ヘキサン、へプタン、オクタン、デカン、ジメチルブタン、ペンテン、シクロヘキサン、メチルシクロヘキサン等の脂肪族炭化水素や、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、2−ヘプタノン、4−ヘプタノン、2−オクタノン、シクロヘキサノン、シクロペンタノン等のケトン系溶媒や、ジオキサン、エチルフェニルエーテル、エチルベンジルエーテル、エチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル等のエーテル系溶媒や、メチルセロソルブ、エチルセロソルブ等のセロソルブ系溶媒や、メチルセロソルブアセテート、エチルセロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等のアルキレングリコールモノアルキルエーテルアセテート系溶媒や、ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド等の各種溶媒が挙げられるがこれらに限定されず、2種以上を併用してもよい。   By using the above aromatic solvent, the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention can be obtained relatively easily. In the case of other solvents, it may be difficult to control the reaction and to determine the reaction end point. Moreover, when using together solvents other than an aromatic solvent, it is preferable to use 70 mass% or more of aromatic solvents with respect to the whole solvent. If it is this quantity, the bisphenol F frame containing phenoxy resin of this invention can be obtained comparatively easily. As the solvent other than the aromatic solvent that can be used in combination, various solvents can be applied as long as they do not affect the epoxy group and the phenolic hydroxyl group. For example, aliphatic hydrocarbons such as hexane, heptane, octane, decane, dimethylbutane, pentene, cyclohexane, methylcyclohexane, acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, 2-heptanone, 4-heptanone, 2-octanone, cyclohexanone, Ketone solvents such as cyclopentanone, ether solvents such as dioxane, ethyl phenyl ether, ethyl benzyl ether, ethylene glycol dimethyl ether, ethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, cellosolv solvents such as methyl cellosolve, ethyl cellosolve, Alkylene glycol mono, such as methyl cellosolve acetate, ethyl cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate Ruki and ethers acetate-based solvents, dimethyl formamide, various solvents such as dimethyl sulfoxide not limited thereto, may be used in combination of two or more.

本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の製造における、反応温度については特に限定されないが、通常50℃〜230℃であり、特に好ましくは本発明が沸点80℃〜145℃の芳香族系炭化水素を用いることから80℃〜160℃である。50℃以下では反応速度が非常に遅く経済的に不利であり、反応温度が230℃を超えると副反応の進行が無視できなくなり、場合によっては樹脂が不溶化するため好ましくない。   The reaction temperature in the production of the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention is not particularly limited, but is usually 50 ° C to 230 ° C, and particularly preferably the present invention is an aromatic hydrocarbon having a boiling point of 80 ° C to 145 ° C. Since it uses, it is 80 to 160 degreeC. Below 50 ° C., the reaction rate is very slow and economically disadvantageous. When the reaction temperature exceeds 230 ° C., the progress of side reactions cannot be ignored, and in some cases the resin becomes insoluble, which is not preferable.

特に、一般式(5)に記載の有機ホスホニウム塩類化合物で表される触媒と、常圧下において沸点80℃〜145℃の芳香族炭化水素系溶媒を反応時に併用することで、本発明の効果を最大限に発現することができるビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂を製造することができる。この理由に関して、発明者らは以下のように考察している。   In particular, the effect of the present invention can be obtained by using a catalyst represented by the organic phosphonium salt compound described in the general formula (5) and an aromatic hydrocarbon solvent having a boiling point of 80 ° C. to 145 ° C. under normal pressure during the reaction. A bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin that can be expressed to the maximum can be produced. For this reason, the inventors consider as follows.

フェノキシ樹脂を製造する際に、芳香族系有機溶媒を反応溶媒として使用することや、有機ホスホニウム塩類を触媒として使用することは個別には知られているが、実際にこの組み合わせで実施された例はない。一般的なフェノキシ樹脂は側鎖に2級アルコール性水酸基を有する比較的高極性の高分子であり、極性の低い芳香族系溶媒はフェノキシ樹脂の溶解力に乏しい。一方で構造異性体を含有するビスフェノールF構造を原料として用いる際には、高分子主鎖構造はランダムに非対称となり極性が低い溶媒を用いても溶解力が上がると考えたところ、本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂は反応時においても樹脂が巨視的に凝集、分離する現象は見受けられなかった。本発明で使用するビスフェノールF化合物は前述した通り2核体として構造異性体が一般に3種存在し、非対称構造となることで溶解力が向上し、芳香族系溶媒は本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂に対してθ溶媒のような挙動を発現したものと考えられ、特に常圧下において沸点80℃〜145℃の芳香族系炭化水素が最適だったと考えられる。   In the production of phenoxy resin, it is individually known that an aromatic organic solvent is used as a reaction solvent and an organic phosphonium salt is used as a catalyst. There is no. A general phenoxy resin is a relatively highly polar polymer having a secondary alcoholic hydroxyl group in the side chain, and an aromatic solvent having a low polarity is poor in the solubility of the phenoxy resin. On the other hand, when a bisphenol F structure containing a structural isomer was used as a raw material, the polymer main chain structure was randomly asymmetric, and it was thought that the solvent could be increased even with a low polarity solvent. In the F skeleton-containing phenoxy resin, no phenomenon of the macroscopic aggregation and separation of the resin was observed even during the reaction. As described above, the bisphenol F compound used in the present invention generally has three kinds of structural isomers as a binuclear body, and has an asymmetric structure, so that the dissolving power is improved, and the aromatic solvent contains the bisphenol F skeleton of the present invention. It is considered that a behavior like a θ solvent is expressed with respect to the phenoxy resin, and it is considered that an aromatic hydrocarbon having a boiling point of 80 ° C. to 145 ° C. is particularly optimal under normal pressure.

このような反応系内では有機溶媒が相溶する部分と相溶しない部分が微視的に分離していると考えられ、フェノキシ樹脂を製造する際に用いる触媒が相間移動触媒として作用し、良溶媒を用いた均一系の場合と異なる挙動を示すことが推測される。本発明の手法では芳香族系溶媒のようなフェノキシ樹脂に対する溶解性の乏しい溶媒と、特定の4級ホスホニウム塩、及び構造異性体を有するビスフェノールF化合物が、前述したベンジル位や2級炭素上におけるカチオン又はアニオンの発生により、ベンゼン環とメチレン部位や2級炭素上での親電子付加、求核置換反応、2量化反応等のエポキシ基とフェノール性水酸基が関与しない副反応が進行することでエポキシ基とフェノール性水酸基が共存したまま高分子量化が進行し、本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂が得られたものと推測している。このようなθ溶媒のごとき存在下での製造により得られたビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂は、エポキシ基とフェノール性水酸基が共存し、貯蔵安定性にも優れる。かつ、このような性状を有するビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の報告例はこれまでのところ見出されていない。本発明においては、上記オニウム塩類と芳香族系触媒と併用することで特異的な反応場が生まれ、本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂が得られものと推測している。特に、上記有機ホスホニウム塩類と沸点80℃〜145℃の芳香族系触媒と併用することで最適な状態で反応が起こり、最も効果的なビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂が得られたものと推測している。   In such a reaction system, it is considered that the part in which the organic solvent is compatible and the part incompatible with the organic solvent are microscopically separated, and the catalyst used in the production of the phenoxy resin acts as a phase transfer catalyst. It is estimated that the behavior is different from that of a homogeneous system using a solvent. In the method of the present invention, a solvent having poor solubility in a phenoxy resin such as an aromatic solvent, a specific quaternary phosphonium salt, and a bisphenol F compound having a structural isomer are added to the above-described benzylic position or secondary carbon. Due to the generation of a cation or anion, side reactions that do not involve an epoxy group and a phenolic hydroxyl group such as electrophilic addition, nucleophilic substitution reaction, dimerization reaction, etc. on the benzene ring and the methylene moiety or secondary carbon proceed. It is presumed that the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention was obtained by increasing the molecular weight while the group and the phenolic hydroxyl group coexisted. The bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin obtained by the production in the presence of such a θ solvent coexists with an epoxy group and a phenolic hydroxyl group, and is excellent in storage stability. In addition, no reported examples of bisphenol F skeleton-containing phenoxy resins having such properties have been found so far. In the present invention, it is presumed that a specific reaction field is created by using the onium salts in combination with an aromatic catalyst, and the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention is obtained. In particular, it is presumed that the most effective bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin was obtained by using the organic phosphonium salt in combination with an aromatic catalyst having a boiling point of 80 ° C. to 145 ° C. in an optimal state. Yes.

ビスフェノールF化合物を2価のフェノール性化合物として原料に使用するフェノキシ樹脂は上記のとおり、反応時にメチレン基が酸化されカルボニル化、又は共役により着色団を形成する別の構造に変化しやすいこと、反応時の中間体であるフェノキシド体が酸化されキノイド構造を取りやすいこと等の理由により着色しやすい。オニウム塩類を触媒として用いた際に着色が少ない樹脂ワニスが得られる理由としては、詳細は不明であるが、アルカリ金属触媒やアミン類等の塩基を触媒として用いた際には重合開始種がフェノキシドイオンであり、エポキシ基との求核置換による反応が始まるが、求核付加反応が始まるまではメチレン部位まで共役構造が及ぶことで、副反応による着色団が発生しやすくなるのに対して、オニウム塩類を触媒に用いた場合はオニウムカチオンがエポキシ基に配位することで重合開始種が形成され、ついでフェノールとの求電子付加反応により重合が開始されるため、中間体であるフェノキシドイオンが形成されにくく、結果として着色団を形成せずに良好な透明性が得られたものと推測している。   As described above, the phenoxy resin using the bisphenol F compound as a divalent phenolic compound as a raw material easily changes to another structure in which a methylene group is oxidized during the reaction to form a chromophore by carbonylation or conjugation. The phenoxide form, which is an intermediate of the time, is easily oxidized and is likely to be colored due to the fact that it easily takes a quinoid structure. The reason why a resin varnish with little coloration is obtained when onium salts are used as a catalyst is not known in detail, but when a base such as an alkali metal catalyst or amines is used as a catalyst, the polymerization initiation species is phenoxide. It is an ion, and the reaction by nucleophilic substitution with the epoxy group starts, but until the nucleophilic addition reaction starts, the conjugated structure extends to the methylene site, so that a color group due to side reaction tends to occur, When an onium salt is used as a catalyst, a polymerization initiating species is formed by coordination of an onium cation to an epoxy group, and then polymerization is initiated by an electrophilic addition reaction with phenol, so that an intermediate phenoxide ion is formed. It is presumed that good transparency was obtained without forming a color group as a result.

次に、上記一般式(3)で表される2価のエポキシ樹脂と、一般式(4)で表されるビスフェノールF化合物とを、オニウム塩類触媒の存在下、芳香族系溶媒中で、2価のエポキシ樹脂中のエポキシ基のモル数(E1)とビスフェノールF化合物中のフェノール性水酸基のモル数(F1)の比率(E1/F1)が1.035〜1.005の範囲で反応させて得られ、エポキシ当量が4000〜8500g/eq.であり、フェノール性水酸基当量が7000〜17000g/eq.であり、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー測定による重量平均分子量がポリスチレン換算値で30000〜60000であるビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂(A2)について説明する。   Next, the divalent epoxy resin represented by the general formula (3) and the bisphenol F compound represented by the general formula (4) are mixed in the presence of an onium salt catalyst in an aromatic solvent. The ratio (E1 / F1) of the number of moles (E1) of epoxy groups in the epoxy resin and the number of moles (F1) of phenolic hydroxyl groups in the bisphenol F compound is 1.035 to 1.005. The epoxy equivalent is 4000-8500 g / eq. The phenolic hydroxyl group equivalent is 7000 to 17000 g / eq. A bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin (A2) having a weight average molecular weight of 30000 to 60000 in terms of polystyrene as measured by gel permeation chromatography will be described.

一般式(3)で表される2価のエポキシ樹脂、一般式(4)で表されるビスフェノールF化合物、オニウム塩類触媒、及び芳香族系溶媒は、本発明の製造方法で示したものが使用され、好ましいものも同様である。モル比等の反応条件についても、本発明の製造方法で示した条件が使用され、好ましい条件も同様である。このようにして得られるビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂のエポキシ当量、フェノール性水酸基当量、及び重量平均分子量は、上記一般式(1)で表される本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂(A1)と同様であり、好ましい範囲も同様であり、上記一般式(1)で表される構造を主鎖中に有するが、一般式(1)で表すことのできない構造単位を有すると考えられる。以下、上記一般式(1)で表される本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂と、上記製造方法で得られる本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂を区別する必要がある場合は、前者をビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂(A1)とし、後者をビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂(A2)とする。   The divalent epoxy resin represented by the general formula (3), the bisphenol F compound represented by the general formula (4), the onium salt catalyst, and the aromatic solvent used are those shown in the production method of the present invention. The preferred ones are also the same. Regarding the reaction conditions such as the molar ratio, the conditions shown in the production method of the present invention are used, and preferable conditions are also the same. The epoxy equivalent, phenolic hydroxyl group equivalent, and weight average molecular weight of the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin thus obtained are the same as those of the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin (A1) of the present invention represented by the general formula (1). The same is true for the preferable range, and it is considered that the main chain has a structure represented by the above general formula (1) but cannot be represented by the general formula (1). Hereinafter, when it is necessary to distinguish the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention represented by the general formula (1) from the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention obtained by the above production method, the former is referred to as bisphenol. The F skeleton-containing phenoxy resin (A1) is used, and the latter is the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin (A2).

次に本発明の樹脂ワニスについて述べる。   Next, the resin varnish of the present invention will be described.

本発明の樹脂ワニスは、沸点が80〜145℃の芳香族系の有機溶媒(A)と沸点が60〜120℃のケトン系の有機溶媒(B)を必須成分とし、樹脂濃度が20〜80質量%である。これらの溶媒を用いることで、良好な透明性と表示素子部材用ドライフィルム型接着剤を製造する際に良好な粘度と乾燥性と併せ持つ樹脂ワニスを得ることができる。この樹脂は、ビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂であり、ビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂(A1)と(A2)は、同様に使用できる。   The resin varnish of the present invention comprises an aromatic organic solvent (A) having a boiling point of 80 to 145 ° C. and a ketone organic solvent (B) having a boiling point of 60 to 120 ° C. as essential components, and a resin concentration of 20 to 80. % By mass. By using these solvents, it is possible to obtain a resin varnish that has both good transparency and good drying properties when producing a dry film type adhesive for display element members. This resin is a bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin, and the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resins (A1) and (A2) can be used in the same manner.

有機溶媒(A)としては、公知の物であれば種々のものを適用できる。例えば、ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、クロロベンゼン等が挙げられるがこれらに限定されず、2種以上を用いてもよい。特に好ましい溶媒としては、安全性、溶解性や、乾燥に必要なエネルギーと時間の観点から、トルエンである。   As the organic solvent (A), various solvents can be applied as long as they are known ones. Examples include benzene, toluene, xylene, ethylbenzene, chlorobenzene and the like, but are not limited thereto, and two or more kinds may be used. A particularly preferable solvent is toluene from the viewpoints of safety, solubility and energy and time required for drying.

有機溶媒(B)としては、公知の物であれば種々のものを適用できる。例えば、アセトン、メチルエチルケトン、2−ペンタノン、3−ペンタノン、メチルイソブチルケトン、2−メチル−3−ペンタノン、tert−ブチルメチルケトン等が挙げられるがこれらに限定されず、2種以上を用いてもよい。特に好ましい溶媒としては、溶解性と乾燥に必要なエネルギーと時間の観点から、メチルエチルケトンである。   As the organic solvent (B), various solvents can be applied as long as they are known ones. Examples include acetone, methyl ethyl ketone, 2-pentanone, 3-pentanone, methyl isobutyl ketone, 2-methyl-3-pentanone, tert-butyl methyl ketone, and the like, but not limited thereto, and two or more kinds may be used. . A particularly preferred solvent is methyl ethyl ketone from the viewpoints of solubility, energy required for drying and time.

本発明の樹脂ワニスの樹脂濃度は、20〜80質量%である。樹脂濃度が20質量%を下回ると、本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の高分子量成分が排斥され、均一なワニスを得ることが難しくなることがある。樹脂濃度が80質量%を超えると常温での流動性がなくなり、溶液としての取扱いが難しくなることがある。樹脂濃度を20〜80質量%の範囲にすることで、樹脂ワニスとしての取扱いを容易にすることができる。樹脂濃度の好ましい範囲は25〜70質量%であり、より好ましい範囲は30〜60質量%である。   The resin concentration of the resin varnish of the present invention is 20 to 80% by mass. When the resin concentration is less than 20% by mass, the high molecular weight component of the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention may be excluded, and it may be difficult to obtain a uniform varnish. When the resin concentration exceeds 80% by mass, fluidity at normal temperature is lost, and handling as a solution may be difficult. By setting the resin concentration in the range of 20 to 80% by mass, handling as a resin varnish can be facilitated. A preferable range of the resin concentration is 25 to 70% by mass, and a more preferable range is 30 to 60% by mass.

本発明の樹脂ワニスは、有機溶媒(A)と、有機溶媒(B)の他に、公知の有機溶媒を用いて、樹脂濃度を20〜80質量%としてもよく、2種以上を併用してもよい。このような有機溶媒は当業者がその用途、目的に応じて適宜選択することができるが、本発明の範囲を損なわないという点で、沸点が60〜145℃、使用量が溶媒全体に対して50質量%未満であることが好ましい。沸点が60℃未満の有機溶媒を併用した場合は、保管時にワニスの皮張り、蒸発により品質が変化する恐れがある。沸点が145℃以上の有機溶媒を併用した場合は、表示部材用フィルム接着剤を製造する際に溶媒が残存し、接着剤の特性が悪化する恐れがある。   The resin varnish of the present invention may be a known organic solvent in addition to the organic solvent (A) and the organic solvent (B), and the resin concentration may be 20 to 80% by mass, and two or more of them are used in combination. Also good. Such an organic solvent can be appropriately selected by those skilled in the art according to its use and purpose. However, the boiling point is 60 to 145 ° C. and the amount used is based on the total amount of the solvent in that the scope of the present invention is not impaired. It is preferable that it is less than 50 mass%. When an organic solvent having a boiling point of less than 60 ° C. is used in combination, the quality may change due to varnish skinning and evaporation during storage. When an organic solvent having a boiling point of 145 ° C. or higher is used in combination, the solvent remains when the film adhesive for display members is produced, and the adhesive properties may be deteriorated.

本発明の樹脂ワニスに用いる、有機溶媒(A)と有機溶媒(B)の溶媒組成については特に限定されないが、通常質量比で(A)/{(A)と(B)を含む溶媒全量}としたときに、0.8未満である。好ましくは0.75未満、さらに好ましくは0.65未満である。この範囲にあることで、本発明の樹脂ワニスは均一性を保つことができる。質量比で(A)/{(A)と(B)を含む溶媒全量}の値が0.8を上回る場合は有機溶媒(A)が多すぎる場合であり、本発明の樹脂ワニスの均一性が保てない恐れがある。特に、有機溶媒(A)としてトルエンを、有機溶媒(B)としてメチルエチルケトンを、質量比で(A)/(B)=8/2〜1/9の組成で用いることが好ましく、(A)/(B)=6/4〜1/9の組成で用いることがより好ましい。(A)の割合が多すぎると、混合溶剤が貧溶媒となり、相溶性が悪化する恐れがある。また、(A)の割合が少なすぎると、良溶媒である(B)の割合が多くなりすぎて、フェノキシ樹脂の分子間に取り込まれることで慣性半径が増大し粘度が高くなり所望の効果が得られない恐れがある。   Although it does not specifically limit about the solvent composition of the organic solvent (A) used for the resin varnish of this invention, and an organic solvent (B), Usually, (A) / {Total amount of the solvent containing (A) and (B)} Is less than 0.8. Preferably it is less than 0.75, More preferably, it is less than 0.65. By being in this range, the resin varnish of the present invention can maintain uniformity. When the value of (A) / {total amount of solvent including (A) and (B)} exceeds 0.8, the organic solvent (A) is too much and the uniformity of the resin varnish of the present invention There is a fear that cannot be kept. In particular, it is preferable to use toluene as the organic solvent (A) and methyl ethyl ketone as the organic solvent (B) in a composition of (A) / (B) = 8/2 to 1/9 by mass ratio. It is more preferable to use (B) = 6/4 to 1/9. If the proportion of (A) is too large, the mixed solvent becomes a poor solvent and the compatibility may be deteriorated. On the other hand, if the proportion of (A) is too small, the proportion of (B), which is a good solvent, increases too much, and the inertial radius increases due to incorporation between the molecules of the phenoxy resin, resulting in an increase in viscosity and the desired effect. There is a risk that it will not be obtained.

本発明の樹脂ワニスの製造方法については特に限定されず、当業者にとって好ましい態様で実施することができる。例えば、任意の溶媒を用いた反応により得られた本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂を、常圧下又は減圧下で溶媒回収し固形化した後に上記の沸点が80〜145℃の芳香族系の有機溶媒(A)と沸点が60〜120℃のケトン系有機溶媒(B)を用いて再溶解させるプロセスや、あらかじめ本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の原料とともに、あらかじめ沸点が80〜145℃の芳香族溶媒(A)及び/又は沸点が60〜120℃のケトン系の有機溶媒(B)を用いて反応を行い、所定の濃度に希釈するプロセスを用いることができる。好ましくは、あらかじめ沸点が80〜145℃の芳香族系の有機溶媒(A)を用いて反応を行う手法であり、特に好ましくは沸点が80〜145℃の芳香族系の有機溶媒(A)としてトルエンを用いる手法である。   It does not specifically limit about the manufacturing method of the resin varnish of this invention, It can implement in a preferable aspect for those skilled in the art. For example, the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention obtained by a reaction using an arbitrary solvent is recovered and solidified under normal pressure or reduced pressure, and then the aromatic boiling point of 80 to 145 ° C. is obtained. A boiling point of 80 to 145 ° C. in advance, together with a process of redissolving using an organic solvent (A) and a ketone organic solvent (B) having a boiling point of 60 to 120 ° C. and a raw material of the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention. The aromatic solvent (A) and / or the ketone organic solvent (B) having a boiling point of 60 to 120 ° C. can be used for the reaction to dilute to a predetermined concentration. Preferably, the reaction is performed using an aromatic organic solvent (A) having a boiling point of 80 to 145 ° C., and particularly preferably an aromatic organic solvent (A) having a boiling point of 80 to 145 ° C. This is a technique using toluene.

本発明の樹脂ワニスの25℃の粘度は、500〜7000mPa・sが好ましく、1000〜4000mPa・sがより好ましい。粘度が低い場合は本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の分子量が十分に成長していない、又は分岐度が非常に高い場合であり、所望とする可撓性が十分に得られない恐れがある。粘度が高い場合は、表示素子部材用ドライフィルム型接着剤として用いた際、溶融粘度が高くなり段差追従性が悪化する恐れがある。   The resin varnish of the present invention has a viscosity at 25 ° C. of preferably 500 to 7000 mPa · s, and more preferably 1000 to 4000 mPa · s. When the viscosity is low, the molecular weight of the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention is not sufficiently grown or the degree of branching is very high, and the desired flexibility may not be obtained sufficiently. . When the viscosity is high, when used as a dry film type adhesive for a display element member, the melt viscosity becomes high and the step following property may be deteriorated.

本発明の樹脂ワニスの10mm石英セルを用いた400nmにおける波長の透過率は、90%以上が好ましく、93%以上がより好ましく、95%以上がさらに好ましい。透過率がこの範囲であれば、表示部材用ドライフィルム型接着剤としたときにより好適な透明性を得ることができる。   The transmittance at a wavelength of 400 nm using a 10 mm quartz cell of the resin varnish of the present invention is preferably 90% or more, more preferably 93% or more, and further preferably 95% or more. If the transmittance is within this range, more suitable transparency can be obtained when a dry film adhesive for display members is used.

特に、本発明にて記載している有機ホスホニウム塩類を触媒として反応に用いることで、有機溶媒(A)としてトルエンを、有機溶媒(B)としてメチルエチルケトンを用いて、質量比で(A)/(B)=3/7の組成とし、樹脂濃度を50質量%に希釈したとき、樹脂ワニスを好適に得ることができ、表示部材用フィルム接着剤として好適な相溶性、粘度及び乾燥性を得ることができる。   In particular, by using the organic phosphonium salts described in the present invention as a catalyst for the reaction, toluene as the organic solvent (A), methyl ethyl ketone as the organic solvent (B), and (A) / ( B) When the composition is 3/7 and the resin concentration is diluted to 50% by mass, a resin varnish can be suitably obtained, and compatibility, viscosity and drying properties suitable as a film adhesive for display members can be obtained. Can do.

次に本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂及びその樹脂ワニスを用いた用途について述べる。   Next, applications using the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin and the resin varnish of the present invention will be described.

本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂及びその樹脂ワニスは透明性、可撓性、及び接着性等が優れることから、光学用接着剤用途、コーティング用途、電子材料用途として好適に使用することができる。   Since the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin and the resin varnish of the present invention are excellent in transparency, flexibility, adhesiveness, etc., they can be suitably used for optical adhesives, coatings, and electronic materials. .

光学用接着剤用途としては、公知のものであれば種々の用途を選択できる。例えば、カメラ(車載カメラ、デジタルカメラ、PC用カメラ、携帯電話用カメラ、監視カメラ等)の撮像素子用接着剤、メガネレンズ、光学フィルター、回折格子、プリズム、光案内子、光ビーム集光レンズ、光拡散用レンズ、フォトセンサー、フォトスイッチ、LED、発光素子、光導波路、光分割器、光ファイバー等の光学素子用接着剤、表示装置用カバーガラス、表示装置用樹脂、表示素子用基板、カラーフィルター用基板、タッチパネル用基板、ディスプレイ保護膜、ディスプレイバックライト、導光板、反射防止用フィルム等の光学用積層板及び積層フィルム用接着剤等が挙げられる。   As the optical adhesive use, various uses can be selected as long as they are known. For example, adhesives for image sensors of cameras (vehicle cameras, digital cameras, PC cameras, mobile phone cameras, surveillance cameras, etc.), eyeglass lenses, optical filters, diffraction gratings, prisms, light guides, light beam condensing lenses , Light diffusion lens, photo sensor, photo switch, LED, light emitting element, optical waveguide, optical splitter, adhesive for optical elements such as optical fiber, display glass for display device, resin for display device, substrate for display element, color Examples include a filter substrate, a touch panel substrate, a display protective film, a display backlight, a light guide plate, an optical laminate such as an antireflection film, and an adhesive for the laminate film.

コーティング用途としては、公知のものであれば種々の用途を選択できる。例えば、防錆等の保護及び光沢付与、装飾、絶縁等の目的としての建築、フロアリング用途、金属プライマーコート用途、プレコートメタル用途、ガラスコート用途、セラミックコート用途、及び繊維、テープ、クロス等に組成物を含浸して製造される複合材コート用途等が挙げられる。   As the coating application, various applications can be selected as long as they are known. For example, for protection of rust prevention and gloss, building for decoration, insulation, etc., flooring application, metal primer coating application, precoat metal application, glass coating application, ceramic coating application, fiber, tape, cloth, etc. The composite material coating use etc. which are manufactured by impregnating a composition are mentioned.

電子材料用途としては、公知のものであれば種々の用途を選択できる。例えば、回路基板用途、回路基板同士を貼り合せる層間接着剤、カバーレイフィルム、カバーレイフィルム用接着剤、銅張フィルム用接着剤、電磁波シールド用接着剤、半導体封止材用途、ダイアタッチフィルム等が挙げられる。   As electronic material applications, various applications can be selected as long as they are publicly known. For example, circuit board use, interlayer adhesive for bonding circuit boards together, coverlay film, coverlay film adhesive, copper-clad film adhesive, electromagnetic wave shielding adhesive, semiconductor encapsulant application, die attach film, etc. Is mentioned.

本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂及びそのワニスは、末端にエポキシ基を有することから、エポキシ基と反応性を有する化合物又は樹脂を配合することで、硬化性樹脂組成物を得ることができる。このような化合物又は樹脂としては、例えばノボラック型フェノール樹脂、ノボラック型ナフトール樹脂、ナフトールアラルキル樹脂、レゾール型フェノール樹脂等の多価フェノール性化合物又は樹脂や、無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチル化ヘキサヒドロ無水フタル酸、トリメリット酸、核水素化トリメリット酸等のカルボン酸化合物及びその無水物化合物や、ジアミノジフェニルメタン、ジアミノジフェニルスルホン、ジアミノジフェニルエーテル、メタキシリレンジアミン、イソホロンジアミン、トリエチレンテトラミン、ジエチレントリアミン、ベンジルジメチルアミン、2,4,6−トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、ジシアンジアミド等のアミン化合物や、トリフェニルホスフィン等のホスフィン化合物や、テトラフェニルホスホニウムブロマイド等のホスホニウム塩や、2−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール等のイミダゾール類や、イミダゾール類とトリメリット酸、イソシアヌル酸、ホウ酸等との塩であるイミダゾール塩類等が挙げられるがこれらに限定されず、必要に応じて2種以上を併用してもよい。   Since the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin and its varnish of the present invention have an epoxy group at the terminal, a curable resin composition can be obtained by blending a compound or resin having reactivity with the epoxy group. Examples of such compounds or resins include polyphenolic compounds or resins such as novolak-type phenol resins, novolak-type naphthol resins, naphthol-aralkyl resins, and resol-type phenol resins, phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, hexahydroanhydride Carboxylic acid compounds such as phthalic acid, methylated hexahydrophthalic anhydride, trimellitic acid, nuclear hydrogenated trimellitic acid and their anhydride compounds, diaminodiphenylmethane, diaminodiphenylsulfone, diaminodiphenylether, metaxylylenediamine, isophoronediamine, Amine compounds such as triethylenetetramine, diethylenetriamine, benzyldimethylamine, 2,4,6-tris (dimethylaminomethyl) phenol, dicyandiamide, Phosphine compounds such as fins, phosphonium salts such as tetraphenylphosphonium bromide, 2-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole And the like, and imidazole salts that are salts of imidazoles with trimellitic acid, isocyanuric acid, boric acid and the like, but are not limited thereto, and two or more kinds may be used in combination as necessary. .

本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂は、側鎖に2級アルコール性水酸基を含有している。そのため、硬化剤として酸無水物化合物やイソシアネート基含有化合物、光又は熱によりカチオン種を発生するカチオン硬化性を有するオニウム塩類を併用することでも、硬化性樹脂組成物とすることができる。   The bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention contains a secondary alcoholic hydroxyl group in the side chain. Therefore, a curable resin composition can also be obtained by using an acid anhydride compound, an isocyanate group-containing compound, or an onium salt having cationic curability that generates cationic species by light or heat as a curing agent.

酸無水物化合物としては、1価の酸無水物基を有するものであれば、本発明のビスフェノーF骨格含有フェノキシ樹脂と反応させることで2級アルコール性水酸基をカルボキシル基に変性することが可能となる。結果として、水への分散性が向上するとともに、カルボキシル基と反応性を有する樹脂、例えばエポキシ樹脂と反応させることで硬化物を得ることができる。   Any acid anhydride compound having a monovalent acid anhydride group can be modified with a bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention to modify a secondary alcoholic hydroxyl group to a carboxyl group. Become. As a result, dispersibility in water is improved, and a cured product can be obtained by reacting with a resin having reactivity with a carboxyl group, for example, an epoxy resin.

カルボキシル基に変性する一価の酸無水物化合物としては、公知の物であれば種々の化合物を適用することができる。例えば、無水コハク酸、無水マレイン酸、無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、メチル化テトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチル化無水ヘキサヒドロフタル酸、無水ナジック酸、水素化無水ナジック酸、無水トリメリット酸、無水トリメリット酸、水素化無水トリメリット酸等が挙げられ、必要に応じて2種以上を併用してもよい。   As the monovalent acid anhydride compound that is modified to a carboxyl group, various compounds can be applied as long as they are known ones. For example, succinic anhydride, maleic anhydride, phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, methylated tetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methylated hexahydrophthalic anhydride, nadic acid anhydride, hydrogenated nadic anhydride, anhydrous Examples include trimellitic acid, trimellitic anhydride, hydrogenated trimellitic anhydride, and the like. Two or more kinds may be used in combination as necessary.

変性に用いる1価の酸無水物化合物の量としては特に限定されないが、本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂中に存在する2級アルコール性水酸基1モルあたり、通常0.2〜1.0モルである。   The amount of the monovalent acid anhydride compound used for modification is not particularly limited, but is usually 0.2 to 1.0 mol per mol of the secondary alcoholic hydroxyl group present in the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention. It is.

酸無水化合物として、2価の酸無水物基を有するものであれば、本発明のビスフェノーF骨格含有フェノキシ樹脂と反応させることで硬化物を得ることができる。このような2価の酸無水物化合物としては公知のものであれば種々の化合物を適用できる。例えば、1,2,3,4−シクロブタンテトラカルボン酸二無水物、1,2,3,4−シクロペンタンテトラカルボン酸二無水物、1,2,4,5−シクロヘキサンテトラカルボン酸二無水物、ピロメリット酸無水物、5−(2,5−ジオキソテトラヒドロフルフリル)−3−メチル−3−シクロヘキセン−1,2−ジカルボン酸無水物、4−(2,5−ジオキソテトラヒドロフラン−3−イル)−1,2,3,4−テトラヒドロナフタレン−1,2−ジカルボン酸無水物等が挙げられ、必要に応じて2種以上を併用してもよい。   If it has a bivalent acid anhydride group as an acid anhydride compound, hardened | cured material can be obtained by making it react with the bispheno F frame | skeleton containing phenoxy resin of this invention. As such a divalent acid anhydride compound, various compounds can be applied as long as they are known. For example, 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-cyclopentanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride Pyromellitic anhydride, 5- (2,5-dioxotetrahydrofurfuryl) -3-methyl-3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic anhydride, 4- (2,5-dioxotetrahydrofuran-3 -Yl) -1,2,3,4-tetrahydronaphthalene-1,2-dicarboxylic anhydride and the like may be mentioned, and two or more may be used in combination as necessary.

2価の酸無水物化合物の使用量は特に限定されないが、本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂中に存在する2級アルコール性水酸基1モルあたり、通常0.2モル〜1.0モルである。硬化温度については特に限定されず、当業者にとって好ましい条件で実施することが可能であるが、通常は50℃〜200℃である。また、架橋反応を促進させるために塩基性を有する化合物を併用しても良い。   Although the usage-amount of a bivalent acid anhydride compound is not specifically limited, It is 0.2 mol-1.0 mol normally with respect to 1 mol of secondary alcoholic hydroxyl groups which exist in the bisphenol F frame | skeleton containing phenoxy resin of this invention. . The curing temperature is not particularly limited and can be carried out under conditions preferable for those skilled in the art, but is usually 50 ° C to 200 ° C. Moreover, you may use together the compound which has basicity in order to accelerate | stimulate a crosslinking reaction.

イソシアネート基を含有する化合物としては、一分子中に2個以上のイソシアネート基を含有するものであれば公知のものを適用できる。例えば、2,4’−メチレンビス(フェニルイソシアネート)及び4,4’−メチレンビス(フェニルイソシアネート)、その異性体混合物、及びその多官能価数同族体、2,4−トルエンジイソシアネート、2,6−トルエンジイソシアネート、その異性体混合物、m−キシリレンジイソシアネート、水素化キシリレンシイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート等及びこれらのポリオール変性物が挙げられるがこれらに限定されず、2種以上を併用してもよい。   As the compound containing an isocyanate group, a known compound can be used as long as it contains two or more isocyanate groups in one molecule. For example, 2,4′-methylenebis (phenylisocyanate) and 4,4′-methylenebis (phenylisocyanate), isomer mixtures thereof, and polyfunctional homologues thereof, 2,4-toluene diisocyanate, 2,6-toluene Diisocyanate, its isomer mixture, m-xylylene diisocyanate, hydrogenated xylylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, isophorone diisocyanate and the like and these modified polyols are not limited to these, and two or more kinds may be used in combination. Good.

一分子中に2個以上のイソシアネート基を含有する化合物の使用量としては特に限定されないが、本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂中に存在する2級アルコール性水酸基1モルあたり、通常0.2〜1.0モルである。また、架橋反応を促進させるために、イミダゾール化合物、アミン化合物、ジブチル錫ジラウレート等の金属化合物を併用してもよい。   The amount of the compound containing two or more isocyanate groups in one molecule is not particularly limited, but is usually 0.2 per mole of the secondary alcoholic hydroxyl group present in the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention. -1.0 mol. Moreover, in order to promote a crosslinking reaction, you may use together metal compounds, such as an imidazole compound, an amine compound, and dibutyltin dilaurate.

本発明の硬化性樹脂組成物は、熱処理することで硬化物を得ることができる。熱処理に必要な温度としては、特に限定されず当業者にとって好ましい温度で実施することができるが、通常は50〜230℃である。50℃以下では反応が進まず現実的ではない。230℃以上では本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂が分解する恐れがある。   The curable resin composition of this invention can obtain hardened | cured material by heat-processing. The temperature required for the heat treatment is not particularly limited and can be carried out at a temperature preferable for those skilled in the art, but is usually 50 to 230 ° C. Below 50 ° C, the reaction does not proceed and is not realistic. If it is 230 ° C. or higher, the phenphenol resin containing the bisphenol F skeleton of the present invention may be decomposed.

光又は熱によりカチオン種を発生するカチオン硬化性を有するオニウム塩類としては、公知の物であれば種々の化合物を適用できる。例えば、芳香族スルホニウムカチオン、芳香族オキソスルホニウムカチオン等の陽イオン構造に、ヨードニウムアニオン、テトラフルオロボレートアニオン、ヘキサフルオロホスフェートアニオン、ヘキサフルオロアンチモネートアニオン、ヘキサフルオロアルセネートアニオン等の陰イオン構造が対となる化合物が挙げられ、必要に応じて2種以上を用いてもよい。オニウム塩類の使用量については特に限定されないが、通常本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂100質量部に対して0.01〜10質量部である。   Various compounds can be applied as the onium salts having cationic curability that generate cationic species by light or heat as long as they are known. For example, an anion structure such as an iodonium anion, a tetrafluoroborate anion, a hexafluorophosphate anion, a hexafluoroantimonate anion, a hexafluoroarsenate anion is paired with a cation structure such as an aromatic sulfonium cation or an aromatic oxosulfonium cation. And two or more compounds may be used as necessary. The amount of onium salt used is not particularly limited, but is usually 0.01 to 10 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention.

上記カチオン硬化性を有する硬化性樹脂組成物は、熱処理することで硬化物を得ることができる。熱処理に必要な温度としては、特に限定されず当業者にとって好ましい温度で実施することができるが、通常は50〜230℃である。50℃以下では反応が進まず現実的ではない。230℃以上では本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の分解の懸念がある。   The curable resin composition having cationic curable properties can be cured by heat treatment. The temperature required for the heat treatment is not particularly limited and can be carried out at a temperature preferable for those skilled in the art, but is usually 50 to 230 ° C. Below 50 ° C, the reaction does not proceed and is not realistic. If it is 230 degreeC or more, there exists a concern of decomposition | disassembly of the bisphenol F frame containing phenoxy resin of this invention.

本発明の硬化性樹脂組成物は、光カチオン発生剤を硬化剤としたとき、UV光を照射することにより硬化物を得ることができる。必要なUV光の光照射強度としては特に限定されず当業者にとって好ましい範囲で実施してよいが、通常50〜150mW/cm2の範囲である。50mW/cm2未満であるとカチオン重合が十分に進行しない場合があり、150mW/cm2を超えると本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の分解が発生する場合がある。なお、光照射を行い架橋させたのち、続いて熱処理を行うことでさらに架橋を進行させることもできる。熱処理に必要な温度としては、特に限定されず当業者にとって好ましい温度で実施することができるが、通常は室温〜230℃である。 The curable resin composition of this invention can obtain hardened | cured material by irradiating UV light, when a photocation generator is used as a hardening | curing agent. The necessary light irradiation intensity of UV light is not particularly limited and may be carried out within a range preferable to those skilled in the art, but is usually within a range of 50 to 150 mW / cm 2 . If it is less than 50 mW / cm 2 , cationic polymerization may not proceed sufficiently, and if it exceeds 150 mW / cm 2 , decomposition of the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention may occur. In addition, after carrying out light irradiation and bridge | crosslinking, bridge | crosslinking can also be advanced by performing heat processing succeedingly. The temperature required for the heat treatment is not particularly limited and can be carried out at a temperature preferable for those skilled in the art, but is usually room temperature to 230 ° C.

これらの硬化性樹脂組成物の内、イソシアネート基を含有する化合物を用いた場合は低温での硬化が可能であり、かつ透明性に優れる硬化物を得ることができる。このため、とくに光学接着材用樹脂組成物として好適に使用できる。   Among these curable resin compositions, when a compound containing an isocyanate group is used, a cured product that can be cured at a low temperature and is excellent in transparency can be obtained. For this reason, it can be used suitably especially as a resin composition for optical adhesives.

また、本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂及びその樹脂ワニスは、必要に応じて他の熱硬化性樹脂又は光硬化性樹脂を配合することができる。このような熱硬化性樹脂としては、例えばエポキシ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、アクリル樹脂、メラミン樹脂、ウレア樹脂、ウレタン樹脂、オキセタン樹脂が挙げられる。また、このような樹脂と反応性を有する硬化剤、促進剤又は開始剤とともに用いることで組成物とすることもできる。また、公知の有機溶媒や水を併用することで所望の粘度とした組成物として用いることもできる。このような硬化性の樹脂組成物は、光学用接着剤用途、コーティング用途、電子材料用途として好適に使用することができる。   The bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin and the resin varnish of the present invention can be blended with other thermosetting resins or photocurable resins as necessary. Examples of such thermosetting resins include epoxy resins, unsaturated polyester resins, acrylic resins, melamine resins, urea resins, urethane resins, and oxetane resins. Moreover, it can also be set as a composition by using with the hardening | curing agent, accelerator, or initiator which has reactivity with such resin. Moreover, it can also be used as a composition having a desired viscosity by using a known organic solvent or water in combination. Such a curable resin composition can be suitably used for optical adhesives, coatings, and electronic materials.

上記に挙げた樹脂組成物は、他の熱可塑樹脂、添加剤、充填剤を併用しても良い。   The resin composition listed above may be used in combination with other thermoplastic resins, additives, and fillers.

熱可塑性樹脂としては、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリブタジエン、ポリイソブチレン、ポリエチレンテレフタレート、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリカーボネート、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリフェニレンエーテル、ポリフェニレンスルフィド、ポリエーテルスルホン、ポリスルホン、ポリエーテルエーテルケトン、ポリエーテルエーテルイミド等が挙げられるがこれらに限定されず、2種以上を併用しても良い。用いる量としては特に限定されないが、通常本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂100質量部に対して5質量部から95質量部である。   As thermoplastic resins, polyethylene, polypropylene, polybutadiene, polyisobutylene, polyethylene terephthalate, polybutylene terephthalate, polyethylene naphthalate, polycarbonate, polyamide, polyimide, polyamideimide, polyphenylene ether, polyphenylene sulfide, polyethersulfone, polysulfone, polyetherether Although ketone, polyether ether imide, etc. are mentioned, it is not limited to these, You may use 2 or more types together. The amount to be used is not particularly limited, but is usually 5 to 95 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention.

添加剤としては、公知のシランカップリング材や酸化防止剤、光安定剤、有機染料、有機顔料、レベリング材、難燃剤等が挙げられるがこれらに限定されず、2種以上を併用してもよい。用いる量については特に限定されず、当業者が目的に応じて適宜調整してもよい。   Examples of the additive include known silane coupling materials, antioxidants, light stabilizers, organic dyes, organic pigments, leveling materials, flame retardants and the like, but are not limited to these, and two or more types may be used in combination. Good. The amount used is not particularly limited and may be appropriately adjusted by those skilled in the art according to the purpose.

充填剤としては、公知のものであれば特に限定されない。例えば、シリカ、マイカ、タルク、カオリン、クレー、ハイドロタルサイト、ウォラストナイト、ゾノトライト、窒化ケイ素、窒化ホウ素、窒化アルミニウム、リン酸水素カルシウム、リン酸カルシウム、酸化チタン、酸化スズ、酸化アルミニウム、酸化マグネシウム、酸化ジルコニウム、酸化亜鉛、酸化モリブデン、酸化アンチモン、酸化ニッケル、炭酸亜鉛、炭酸マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸バリウム、ホウ酸亜鉛、ホウ酸アルミニウム等が挙げられるがこれらに限定されず、必要に応じて2種以上を併用してもよい。用いる量については特に限定されず、当業者が目的に応じて適宜調整してもよい。   The filler is not particularly limited as long as it is a known one. For example, silica, mica, talc, kaolin, clay, hydrotalcite, wollastonite, zonolite, silicon nitride, boron nitride, aluminum nitride, calcium hydrogen phosphate, calcium phosphate, titanium oxide, tin oxide, aluminum oxide, magnesium oxide, Examples include, but are not limited to, zirconium oxide, zinc oxide, molybdenum oxide, antimony oxide, nickel oxide, zinc carbonate, magnesium carbonate, calcium carbonate, barium carbonate, zinc borate, aluminum borate and the like. More than one species may be used in combination. The amount used is not particularly limited and may be appropriately adjusted by those skilled in the art according to the purpose.

本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂及び樹脂ワニスを光学用接着剤として、表示装置とすることもできる。より具体的には、本発明の光学接着剤を離型フィルム等の上に単層又は多層のシート状に形成し、必要に応じて溶媒等を乾燥除去し、パソコン、モバイル端末、ゲーム機、テレビ、カーナビ、タッチパネル、ペンタブレット、液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイ、電界発光(EL)ディスプレイ等の画像表示装置のカバーパネル等の表示装置構成部材に貼り合せることで得ることができる。   The bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin and resin varnish of the present invention can be used as an optical adhesive to form a display device. More specifically, the optical adhesive of the present invention is formed into a single layer or a multilayer sheet on a release film or the like, and if necessary, the solvent is dried and removed, and a personal computer, a mobile terminal, a game machine, It can be obtained by bonding to a display device constituent member such as a cover panel of an image display device such as a television, a car navigation system, a touch panel, a pen tablet, a liquid crystal display, a plasma display, or an electroluminescence (EL) display.

上記離型フィルムの構成材料としては、例えば、ポリエチレンフィルム、ポリプロピレンフィルム、ポリブテンフィルム、ポリブタジエンフィルム、ポリメチルペンテンフィルム、ポリ塩化ビニルフィルム、塩化ビニル共重合体フィルム、ポリウレタンフィルム、エチレン-酢酸ビニル共重合フィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエステルフィルム等の樹脂フィルム、紙、布、不織布等の多孔質材料、ネット、発泡シート、金属箔、及びこれらのラミネート体等の薄葉体等を挙げることができるが、好ましくは離型性及び表面平滑性の観点からシリコーンライナー処理された樹脂フィルムである。   Examples of the constituent material of the release film include polyethylene film, polypropylene film, polybutene film, polybutadiene film, polymethylpentene film, polyvinyl chloride film, vinyl chloride copolymer film, polyurethane film, and ethylene-vinyl acetate copolymer. Examples include films, resin films such as polyethylene terephthalate films and polyester films, porous materials such as paper, cloth, and nonwoven fabrics, nets, foam sheets, metal foils, and thin leaves such as laminates thereof. Is a resin film treated with a silicone liner from the viewpoint of releasability and surface smoothness.

本発明の光学用接着剤をシート状に形成する手法としては、公知のものであれば種々の方法を選択できる。例えば、ロールコート、キスロールコート、グラビアコート、リバースコート、ロールブラッシュ、スプレーコート、ディップロールコート、バーコート、ナイフコート、エアーナイフコート、カーテンコート、リップコート等の方法が挙げられるがこれらに限定されない。   As a method for forming the optical adhesive of the present invention into a sheet, various methods can be selected as long as they are known. For example, methods such as roll coat, kiss roll coat, gravure coat, reverse coat, roll brush, spray coat, dip roll coat, bar coat, knife coat, air knife coat, curtain coat, lip coat, etc. Not.

本発明の光学用接着剤を用いた表示装置の構成形態としては特に限定されず、公知の構成であれば種々の形態に適用することができる。例えば、液晶パネル/タッチパネル間、液晶パネル/保護パネル間、液晶パネル/タッチパネル/保護パネル間、偏光フィルム/タッチパネル間、偏光フィルム/タッチパネル/保護パネル間を貼り合せる構成等があげられるがこれらに限定されない。   The configuration of the display device using the optical adhesive of the present invention is not particularly limited, and can be applied to various configurations as long as it is a known configuration. For example, a configuration in which a liquid crystal panel / touch panel, a liquid crystal panel / protective panel, a liquid crystal panel / touch panel / protective panel, a polarizing film / touch panel, a polarizing film / touch panel / protective panel, and the like are included is limited thereto. Not.

特に本発明のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂は加熱時の流動性に優れるので、カバーパネルに施されている額縁印刷に由来する段差の埋め込み性に優れ、カバーパネル/タッチパネル間の光学接着材用樹脂組成物として好適に使用できる。   In particular, since the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin of the present invention is excellent in fluidity during heating, it is excellent in embedding of a step resulting from frame printing applied to a cover panel, and is a resin for an optical adhesive between a cover panel and a touch panel. It can be suitably used as a composition.

次に、本発明を実施例に基づいて具体的に説明するが、本発明はその要旨を超えない限り、以下の実施例に限定されるものではない。特に断りがない限り、「部」は質量部を表し、「%」は質量%を表す。   EXAMPLES Next, although this invention is demonstrated concretely based on an Example, this invention is not limited to a following example, unless the summary is exceeded. Unless otherwise specified, “parts” represents parts by mass, and “%” represents mass%.

分析方法や測定方法を以下に示す。なお、当量の単位はいずれもg/eq.である。   The analysis method and measurement method are shown below. In addition, the unit of equivalent is g / eq. It is.

エポキシ当量:JIS K−7236規格に記載の方法で測定し、不揮発分から固形分換算値としての数値を算出した。   Epoxy equivalent: Measured by the method described in JIS K-7236 standard, and a numerical value as a solid content converted value was calculated from the nonvolatile content.

不揮発分:JIS K−7235規格に記載の方法で測定した。乾燥温度は200℃で、乾燥時間は60分とした。   Nonvolatile content: Measured by the method described in JIS K-7235 standard. The drying temperature was 200 ° C. and the drying time was 60 minutes.

分子量(Mw、Mn、MRI):GPC測定により求めた。具体的には、本体(東ソー株式会社製、HLC−8320GPC)にカラム(東ソー株式会社製、TSKgel G4000HXL、TSKgel G3000HXL、TSKgel G2000HXL)を直列に備えたものを使用し、カラム温度は40℃にした。また、溶離液にはテトラヒドロフランを用い、1mL/分の流速とし、検出器はRI(示差屈折計)検出器を用いた。測定試料はサンプル0.1gを10mLのテトラヒドロフランに溶解し、マイクロフィルターでろ過したものを100μL使用した。標準の単分散ポリスチレン(東ソー株式会社製、A−500、A−1000、A−2500、A−5000、F−1、F−2、F−4、F−10、F−20、F−40、F−80、F−128)より求めた検量線より換算して、数平均分子量(Mn)、重量平均分子量(Mw)を求めた。また、分子量分布の強度が最大強度となる重量平均分子量を「MRI」とした。 Molecular weight (Mw, Mn, M RI ): determined by GPC measurement. Specifically, a main body (manufactured by Tosoh Corporation, HLC-8320GPC) and a column (manufactured by Tosoh Corporation, TSKgel G4000H XL , TSKgel G3000H XL , TSKgel G2000H XL ) in series are used, and the column temperature is 40 C. Tetrahydrofuran was used as the eluent, the flow rate was 1 mL / min, and a RI (differential refractometer) detector was used as the detector. As a measurement sample, 100 μL of 0.1 g of sample dissolved in 10 mL of tetrahydrofuran and filtered through a microfilter was used. Standard monodispersed polystyrene (A-500, A-1000, A-2500, A-5000, F-1, F-2, F-4, F-10, F-20, F-40, manufactured by Tosoh Corporation) , F-80, F-128), the number average molecular weight (Mn) and the weight average molecular weight (Mw) were obtained by conversion from a calibration curve obtained from F.128. Further, the weight average molecular weight at which the intensity of the molecular weight distribution becomes the maximum intensity was defined as “M RI ”.

静的光散乱法による絶対分子量:本体(東ソー株式会社製、HLC−8320GPC)にカラム(昭和電工株式会社製、ShodexKF−806M)を2本直列に備えたものを使用し、カラム温度は40℃にした。また、溶離液にはテトラヒドロフランを用い、1mL/minの流速とした。測定試料はサンプル0.01gを10mLのテトラヒドロフランに溶解し、マイクロフィルターでろ過したものを500μL使用した。多角度光散乱検出器はWyatt Technology社製DAWN HELEOS8+(検出角度数:8)を用いた。絶対分子量の算出に必要な屈折率の濃度増分値(dn/dc)は示差屈折率検出器(Wyatt Technology社製、Optilab T−rEX)を用い、樹脂濃度200ppm、600ppm、1000ppmのテトラヒドロフラン溶液を用いて示差屈折率を測定し、屈折率の濃度増分値を算出した。絶対分子量の解析にはWyatt Technology社製、Astra ver6.1.2.84を用い、8個の散乱強度と散乱角度からなるデバイプロットにより解析、算出した。その際、分子量分布の強度が最大強度となる絶対分子量を「MLS」とした。 Absolute molecular weight by static light scattering method: A main body (manufactured by Tosoh Corporation, HLC-8320GPC) equipped with two columns (Showa Denko Corporation, Shodex KF-806M) in series is used, and the column temperature is 40 ° C. I made it. Tetrahydrofuran was used as the eluent, and the flow rate was 1 mL / min. As a measurement sample, 500 μL of 0.01 g of sample dissolved in 10 mL of tetrahydrofuran and filtered through a microfilter was used. As the multi-angle light scattering detector, DAWN HELEOS 8+ (detection angle number: 8) manufactured by Wyatt Technology was used. The refractive index concentration increment (dn / dc) necessary for calculating the absolute molecular weight is a differential refractive index detector (Optylab T-rEX, manufactured by Wyatt Technology), and a tetrahydrofuran solution having a resin concentration of 200 ppm, 600 ppm, or 1000 ppm is used. The differential refractive index was measured, and the refractive index concentration increment was calculated. For the analysis of the absolute molecular weight, Astra ver 6.1.2.84 manufactured by Wyatt Technology was used and analyzed and calculated by a Debye plot consisting of 8 scattering intensities and scattering angles. At that time, the absolute molecular weight at which the intensity of the molecular weight distribution becomes the maximum intensity was defined as “M LS ”.

フェノール性水酸基当量:ビスフェノールF(本州化学工業株式会社製、商品名:BPF−D)を5mg/L、20mg/L、又は50mg/L含有するテトラヒドロフラン溶液を50mL作成し、テトラブチルアンモニウムヒドロキサイド10%水溶液を20μL添加混合した後、UVスペクトルを測定し、305nmの吸光度により検量線を作成した。実施例及び比較例のサンプルを0.1g秤量し、テトラヒドロフラン50mLに溶解(希釈倍率:500倍)させて、テトラブチルアンモニウムヒドロキサイド10%水溶液を20μL添加混合した後、UVスペクトルを測定し、305nmの吸光度からビスフェノールFに由来するフェノール性水酸基当量(POHE)を下記の数式にて算出した。   50 mL of a tetrahydrofuran solution containing 5 mg / L, 20 mg / L, or 50 mg / L of phenolic hydroxyl group equivalent: bisphenol F (manufactured by Honshu Chemical Industry Co., Ltd., trade name: BPF-D) was prepared, and tetrabutylammonium hydroxide 10 After adding 20 μL of% aqueous solution and mixing, the UV spectrum was measured, and a calibration curve was prepared based on the absorbance at 305 nm. 0.1 g of the samples of Examples and Comparative Examples were weighed and dissolved in 50 mL of tetrahydrofuran (dilution ratio: 500 times), 20 μL of 10% aqueous solution of tetrabutylammonium hydroxide was added and mixed, and then the UV spectrum was measured at 305 nm. The phenolic hydroxyl group equivalent (POHE) derived from bisphenol F was calculated from the absorbance of the following formula.

Figure 2017171802
m:試料採取量(g)
c:検量線濃度(mg/L)
d:試料溶液の希釈倍率、500(mL)
k:ビスフェノールFのグラム当量、100(g/eq.)
0
Figure 2017171802
m: Sample collection amount (g)
c: Calibration curve concentration (mg / L)
d: Sample solution dilution factor, 500 (mL)
k: Gram equivalent of bisphenol F, 100 (g / eq.)
0

ワニス粘度:JIS K−7233、単一円筒回転粘度法にて測定した。具体的には、B型粘度計(東洋精機株式会社製TVB10H)を用いて、25℃での粘度を測定した。   Varnish viscosity: Measured by JIS K-7233, single cylinder rotational viscosity method. Specifically, the viscosity at 25 ° C. was measured using a B-type viscometer (TVB10H manufactured by Toyo Seiki Co., Ltd.).

光線透過率:紫外分光光度計(日本分光株式会社製、V−650)と10mm石英セルを用い、樹脂ワニスの作成で用いた溶媒組成をリファレンスとし、400nmの光線透過率を測定した。   Light transmittance: Using a UV spectrophotometer (manufactured by JASCO Corporation, V-650) and a 10 mm quartz cell, the light transmittance at 400 nm was measured using the solvent composition used in the preparation of the resin varnish as a reference.

実施例及び比較例で使用した略号の説明は以下のとおりである。   The abbreviations used in Examples and Comparative Examples are as follows.

[エポキシ樹脂]
YD−128:ビスフェノールA型液状エポキシ樹脂(新日鉄住金化学株式会社製、エポトートYD−128、エポキシ当量=186)
YDF−8170:ビスフェノールF型液状エポキシ樹脂(新日鉄住金化学株式会社製、エポトートYDF−8170、エポキシ当量=158)
YX−4000:テトラメチルビフェノールとエピクロルヒドリンの重縮合物(三菱化学株式会社製、YX−4000、エポキシ当量=183)
BPZ−EP:1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)シクロヘキサンとエピクロルヒドリンの重縮合物(新日鉄住金化学株式会社製、エポキシ当量=200)
[Epoxy resin]
YD-128: bisphenol A type liquid epoxy resin (manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., Epototo YD-128, epoxy equivalent = 186)
YDF-8170: Bisphenol F-type liquid epoxy resin (manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., Epototo YDF-8170, epoxy equivalent = 158)
YX-4000: polycondensate of tetramethylbiphenol and epichlorohydrin (Mitsubishi Chemical Corporation, YX-4000, epoxy equivalent = 183)
BPZ-EP: polycondensate of 1,1-bis (4-hydroxyphenyl) cyclohexane and epichlorohydrin (manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., epoxy equivalent = 200)

[ビスフェノールF化合物]
BFF−1:蒸留ビスフェノールF(本州化学工業株式会社製、BPF−D、2核体=99.2面積%、3核体=0.8面積%、異性体比(4,4’−体:2,4’−体:2,2’−体=33:50:17)、フェノール性水酸基当量=100)
BPF−2:ビスフェノールF(新日鉄住金化学株式会社製、2核体=97面積%、3核体=3面積%、kの平均値=0.03、異性体比(4,4’−体:2,4’−体:2,2’−体=36:49:15)、フェノール性水酸基当量=100)
BPF−3:フェノールノボラック樹脂(新日鉄住金化学株式会社製、2核体=10面積%、3核体=46面積%、5核体以上=21面積%、kの平均値=1.7、異性体比(4,4’−体:2,4’−体:2,2’−体=60:35:5)、フェノール性水酸基当量=105)
[Bisphenol F compound]
BFF-1: Distilled bisphenol F (manufactured by Honshu Chemical Industry Co., Ltd., BPF-D, dinuclear compound = 99.2 area%, trinuclear compound = 0.8 area%, isomer ratio (4,4′-isomer: 2,4′-isomer: 2,2′-isomer = 33: 50: 17), phenolic hydroxyl group equivalent = 100)
BPF-2: Bisphenol F (manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., 2 nuclei = 97 area%, 3 nuclei = 3 area%, k average value = 0.03, isomer ratio (4,4′-form: 2,4′-isomer: 2,2′-isomer = 36: 49: 15), phenolic hydroxyl group equivalent = 100)
BPF-3: Phenol novolac resin (manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., 2 nuclei = 10 area%, 3 nuclei = 46 area%, 5 nuclei or more = 21 area%, k average value = 1.7, isomerism Body ratio (4,4′-form: 2,4′-form: 2,2′-form = 60: 35: 5), phenolic hydroxyl group equivalent = 105)

[触媒]
TMP:メチルトリフェニルホスホニウムブロマイド(試薬)
TPPMI:メチルトリフェニルホスホニウムヨージド(試薬)
PX4MP:メチルトリブチルホスホニウムジメチルホスフェート(試薬)
PX4ET:テトラ−n−ブチルホスホニウム−o,o−ジエチルホスホロジチオエート(試薬)
TPPPB:テトラ−フェニルホスホニウムブロマイド(試薬)
TBPDA:テトラ−n−ブチルホスホニウムデカン酸塩(試薬)
TPPBB:テトラ−n−ブチルホスホニウムブロマイド(試薬)
TMAOH:29%水酸化テトラメチルアンモニウム(試薬)
TPP:トリフェニルホスフィン(試薬)
[catalyst]
TMP: Methyltriphenylphosphonium bromide (reagent)
TPPMI: Methyltriphenylphosphonium iodide (reagent)
PX4MP: Methyltributylphosphonium dimethyl phosphate (reagent)
PX4ET: Tetra-n-butylphosphonium-o, o-diethyl phosphorodithioate (reagent)
TPPPB: Tetra-phenylphosphonium bromide (reagent)
TBPDA: tetra-n-butylphosphonium decanoate (reagent)
TPPBB: Tetra-n-butylphosphonium bromide (reagent)
TMAOH: 29% tetramethylammonium hydroxide (reagent)
TPP: Triphenylphosphine (reagent)

[その他]
YP−70:ビスフェノールAビスフェノールF共重合フェノキシ樹脂(新日鉄住金化学株式会社製、ビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂、フェノトートYP−70)
YP−50S:ビスフェノールA型フェノキシ樹脂(新日鉄住金化学株式会社製、フェノトートYP−50S)
[Others]
YP-70: bisphenol A bisphenol F copolymerized phenoxy resin (manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin, phenototo YP-70)
YP-50S: bisphenol A type phenoxy resin (manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., phenototo YP-50S)

実施例1
撹拌機、温度計、窒素吹き込み管、及び冷却管を備えた反応装置に、ビスフェノールF化合物としてBPF−1を100部、エポキシ樹脂としてYD−128を190.7部(エポキシ基のモル数(E1)とフェノール性水酸基のモル数(F1)のモル比(E1/F1)=1.025)、反応溶媒としてトルエン(TL)を15部仕込み、窒素雰囲気下で100℃まで昇温させた。次いで、触媒としてTMPを0.1部仕込んだ後、内温を140℃まで上昇させた。反応が進行するに伴い反応液が増粘し始めたので、トルエン72部を数回に分けて適宜追加することで撹拌機のトルクを一定にしながら12時間反応を行った。なお、反応温度は不揮発分が80%以上では140~145℃で行い、それ以降は還流温度で行った。反応終了後、メチルエチルケトン(MEK)を204部(TL/MEKの質量比=3/7)加えて、樹脂ワニスを得た。
比屈折率差で示されるGPC測定チャートを図1に示す。左縦軸に信号強度を示し、右縦軸に重量平均分子量を常用対数で示す。流出曲線を実線で示す。用いた標準物質の重量平均分子量の測定値より求めた検量線を点線で示す。
光散乱強度で示されるGPC測定チャートを図3に示す。縦軸に絶対分子量を常用対数で示す。流出曲線を実線で示し、絶対分子量を点線で示す。
Example 1
In a reactor equipped with a stirrer, thermometer, nitrogen blowing tube, and cooling tube, 100 parts of BPF-1 as the bisphenol F compound and 190.7 parts of YD-128 as the epoxy resin (number of moles of epoxy group (E1 ) And the molar ratio of phenolic hydroxyl group (F1) (E1 / F1) = 1.025), 15 parts of toluene (TL) was charged as a reaction solvent, and the temperature was raised to 100 ° C. in a nitrogen atmosphere. Next, 0.1 parts of TMP was charged as a catalyst, and then the internal temperature was raised to 140 ° C. As the reaction proceeded, the reaction solution began to thicken, so 72 parts of toluene was added in several portions, and the reaction was performed for 12 hours while keeping the torque of the stirrer constant. The reaction temperature was 140 to 145 ° C. when the non-volatile content was 80% or more, and the subsequent reaction temperature was reflux temperature. After completion of the reaction, 204 parts of methyl ethyl ketone (MEK) (TL / MEK mass ratio = 3/7) was added to obtain a resin varnish.
A GPC measurement chart indicated by the relative refractive index difference is shown in FIG. The left vertical axis shows signal intensity, and the right vertical axis shows weight average molecular weight in common logarithm. The outflow curve is shown as a solid line. A calibration curve obtained from the measured value of the weight average molecular weight of the standard substance used is indicated by a dotted line.
A GPC measurement chart indicated by the light scattering intensity is shown in FIG. The vertical axis shows the absolute molecular weight in common logarithm. The outflow curve is shown as a solid line and the absolute molecular weight is shown as a dotted line.

実施例2
YD−128を189.8部(E1/F1=1.020)、MEKを203部使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 2
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 189.8 parts of YD-128 (E1 / F1 = 1.020) and 203 parts of MEK were used.

実施例3
YD−128を187.9部(E1/F1=1.010)、追加TLを71部、MEKを202部使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 3
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 187.9 parts of YD-128 (E1 / F1 = 1.010), 71 parts of additional TL, and 202 parts of MEK were used.

実施例4
YD−128を191.2部(E1/F1=1.028)使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 4
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 191.2 parts (E1 / F1 = 1.026) of YD-128 was used.

実施例5
YD−128を191.2部(E1/F1=1.028)使用し、反応時間を18時間にした以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 5
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 191.2 parts of YD-128 (E1 / F1 = 1.028) was used and the reaction time was 18 hours.

実施例6
YD−128を192.3部(E1/F1=1.034)、MEKを205部使用し、反応時間を8時間にした以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 6
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 192.3 parts (E1 / F1 = 1.034) of YD-128, 205 parts of MEK were used, and the reaction time was 8 hours.

実施例7
YD−128を192.3部(E1/F1=1.034)、MEKを205部使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 7
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 192.3 parts (E1 / F1 = 1.034) of YD-128 and 205 parts of MEK were used.

実施例8
YD−128を192.3部(E1/F1=1.034)、MEKを205部使用し、反応時間を18時間にした以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 8
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 192.3 parts (E1 / F1 = 1.034) of YD-128, 205 parts of MEK were used, and the reaction time was 18 hours.

実施例9
エポキシ樹脂としてYDF−8170を162部(E1/F1=1.025)、追加TLを64部、MEKを183部使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 9
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 162 parts of YDF-8170 (E1 / F1 = 1.025), 64 parts of additional TL, and 183 parts of MEK were used as the epoxy resin.

実施例10
エポキシ樹脂としてYX−4000を187.6部(E1/F1=1.025)、追加TLを71部、MEKを202部使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 10
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 187.6 parts of YX-4000 (E1 / F1 = 1.025), 71 parts of additional TL, and 202 parts of MEK were used as the epoxy resin.

実施例11
エポキシ樹脂としてYX−4000を188.5部(E1/F1=1.030)、追加TLを71部、MEKを202部使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 11
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 188.5 parts (E1 / F1 = 1.030) of YX-4000, 71 parts of additional TL, and 202 parts of MEK were used as the epoxy resin.

実施例12
エポキシ樹脂としてBPZ−EPを205部(E1/F1=1.025)、追加TLを77部、MEKを213部使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 12
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 205 parts of BPZ-EP (E1 / F1 = 1.005), 77 parts of additional TL, and 213 parts of MEK were used as the epoxy resin.

実施例13
触媒としてTPPMIを0.1部使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 13
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 0.1 part of TPPMI was used as a catalyst.

実施例14
触媒としてPX4MPを0.1部使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 14
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 0.1 part of PX4MP was used as a catalyst.

実施例15
触媒としてPX4ETを0.1部使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 15
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 0.1 part of PX4ET was used as a catalyst.

実施例16
触媒としてTPPPBを0.1部使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 16
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 0.1 part of TPPPB was used as a catalyst.

実施例17
触媒としてTBPDAを0.1部使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 17
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 0.1 part of TBPDA was used as a catalyst.

実施例18
ビスフェノールF化合物としてBPF−2を100部(E1/F1=1.025)使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 18
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 100 parts (E1 / F1 = 1.005) of BPF-2 was used as the bisphenol F compound.

実施例19
ビスフェノールF化合物としてBPF−1を80部とBPF−3を21部(E1/F1=1.025)使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 19
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 80 parts of BPF-1 and 21 parts of BPF-3 (E1 / F1 = 1.005) were used as the bisphenol F compound.

実施例20
反応溶媒としてキシレンを15部、追加TLを72部使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 20
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 15 parts of xylene and 72 parts of additional TL were used as the reaction solvent.

実施例21
反応溶媒としてエチレングリコールジメチルエーテルを15部とTLを15部、追加TLを57部使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 21
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 15 parts of ethylene glycol dimethyl ether, 15 parts of TL, and 57 parts of additional TL were used as a reaction solvent.

実施例22
YD−128を187.9部(E1/F1=1.010)、触媒としてTPPMIを0.1部、追加TLを71部、MEKを202部使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 22
Resin in the same manner as in Example 1 except that 187.9 parts of YD-128 (E1 / F1 = 1.010), 0.1 part of TPPMI, 71 parts of additional TL, and 202 parts of MEK were used. A varnish was obtained.

実施例23
YD−128を191.2部(E1/F1=1.028)、触媒としてTPPMIを0.1部使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 23
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 191.2 parts of YD-128 (E1 / F1 = 1.028) and 0.1 part of TPPMI were used as a catalyst.

実施例24
YD−128を192.3部(E1/F1=1.034)、触媒としてTPPMIを0.1部、MEKを205部使用した以外は、実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Example 24
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 192.3 parts of YD-128 (E1 / F1 = 1.034), 0.1 part of TPPMI and 205 parts of MEK were used.

比較例1
TL/MEK=3/7(質量比)の混合溶媒を用いて、YP−70を希釈して不揮発分が50%の樹脂ワニスを得た。
比屈折率差で示されるGPC測定チャートを図2に示す。左縦軸に信号強度を示し、右縦軸に重量平均分子量を常用対数で示す。流出曲線を実線で示す。用いた標準物質の重量平均分子量の測定値より求めた検量線を点線で示す。
光散乱強度で示されるGPC測定チャートを図4に示す。縦軸に絶対分子量を常用対数で示す。流出曲線を実線で示し、絶対分子量を点線で示す。
Comparative Example 1
YP-70 was diluted with a mixed solvent of TL / MEK = 3/7 (mass ratio) to obtain a resin varnish having a nonvolatile content of 50%.
A GPC measurement chart indicated by the relative refractive index difference is shown in FIG. The left vertical axis shows signal intensity, and the right vertical axis shows weight average molecular weight in common logarithm. The outflow curve is shown as a solid line. A calibration curve obtained from the measured value of the weight average molecular weight of the standard substance used is indicated by a dotted line.
A GPC measurement chart indicated by the light scattering intensity is shown in FIG. The vertical axis shows the absolute molecular weight in common logarithm. The outflow curve is shown as a solid line and the absolute molecular weight is shown as a dotted line.

比較例2
YD−128を192.9部(E1/F1=1.037)、追加TLを73部、MEKを205部使用し、反応時間を18時間とした以外は実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Comparative Example 2
The resin varnish was used in the same manner as in Example 1 except that 192.9 parts of YD-128 (E1 / F1 = 1.037), 73 parts of additional TL, 205 parts of MEK were used, and the reaction time was 18 hours. Obtained.

比較例3
YD−128を186.6部(E1/F1=1.003)、追加TLを71部、MEKを201部使用した以外は実施例1と同様にして樹脂ワニスを得た。
Comparative Example 3
A resin varnish was obtained in the same manner as in Example 1 except that 186.6 parts of YD-128 (E1 / F1 = 1.003), 71 parts of additional TL, and 201 parts of MEK were used.

比較例4
実施例1と同様の装置を使用して、ビスフェノールF化合物としてBPF−1を100部、エポキシ樹脂としてYD−128を190.7部(E1/F1=1.025)、反応溶媒としてシクロヘキサノンを32部仕込み、窒素雰囲気下で140℃まで昇温させた。次いで触媒としてTPPBBを0.02部仕込んだ後、内温を155℃(還流温度)まで上昇させた。反応は還流温度で行い、反応が進行するに伴い反応液が増粘し始めた。シクロヘキサノンを適宜追加することで撹拌機のトルクを一定にすることで12時間反応を行った後、冷却しながらさらにシクロヘキサノンを投入し、シクロヘキサノンの25%溶液を調製した。次いで、100℃、0.67kPa(5Torr)の条件で24時間乾燥を行ってシクロヘキサノンを留去させ、固形化後に、TL/MEK=3/7(質量比)の混合溶媒を用いて、同樹脂を希釈して、不揮発分が50%の樹脂ワニスを得た。
Comparative Example 4
Using the same apparatus as in Example 1, 100 parts of BPF-1 as the bisphenol F compound, 190.7 parts of YD-128 as the epoxy resin (E1 / F1 = 1.005), and 32 of cyclohexanone as the reaction solvent The temperature was raised to 140 ° C. under a nitrogen atmosphere. Next, 0.02 part of TPPBB was charged as a catalyst, and then the internal temperature was raised to 155 ° C. (reflux temperature). The reaction was performed at the reflux temperature, and the reaction solution started to thicken as the reaction proceeded. The reaction was carried out for 12 hours by adding the cyclohexanone appropriately to keep the torque of the stirrer constant, and then cyclohexanone was added while cooling to prepare a 25% solution of cyclohexanone. Next, drying was performed for 24 hours under the conditions of 100 ° C. and 0.67 kPa (5 Torr) to distill off cyclohexanone. After solidification, the resin was mixed using a mixed solvent of TL / MEK = 3/7 (mass ratio). Was diluted to obtain a resin varnish having a nonvolatile content of 50%.

比較例5
実施例1と同様の装置を使用して、ビスフェノールF化合物としてBPF−1を254部、エポキシ樹脂としてYD−128を496部(E1/F1=1.050)、反応溶媒としてメチルイソブチルケトンを250部、触媒としてTMAOHを1.2部仕込み、窒素ガス雰囲気下130℃で7.5時間重合反応を行った。次いで、40℃、0.67kPa(5Torr)の条件で48時間乾燥を行って、メチルイソブチルケトンを留去させ、固形化後に、TL/MEK=3/7(質量比)の混合溶媒を用いて、同樹脂を希釈して、不揮発分が50%の樹脂ワニスを得た。
Comparative Example 5
Using the same apparatus as in Example 1, 254 parts of BPF-1 as the bisphenol F compound, 496 parts of YD-128 as the epoxy resin (E1 / F1 = 1.050), and 250 methylisobutylketone as the reaction solvent. 1.2 parts of TMAOH was charged as a catalyst, and a polymerization reaction was performed at 130 ° C. for 7.5 hours in a nitrogen gas atmosphere. Next, drying is performed for 48 hours under the conditions of 40 ° C. and 0.67 kPa (5 Torr) to distill off methyl isobutyl ketone. After solidification, a mixed solvent of TL / MEK = 3/7 (mass ratio) is used. The resin was diluted to obtain a resin varnish having a nonvolatile content of 50%.

比較例6
TL/MEK=3/7(質量比)の混合溶媒を用いて、YP−50Sを希釈して不揮発分が50%の樹脂ワニスを得た。
Comparative Example 6
YP-50S was diluted with a mixed solvent of TL / MEK = 3/7 (mass ratio) to obtain a resin varnish having a nonvolatile content of 50%.

比較例7
実施例1と同様の装置に、BPF−1を100部、YD−128を190.7部(E1/F1=1.025)、TLを15部仕込み、窒素雰囲気下で100℃まで昇温させた。次いで触媒としてTPPを0.3部仕込んだ後、内温を140℃まで上昇させた。反応温度140〜145℃で、10時間反応したが分子量の増加が認められなかった。TPPを0.3部追加してさらに10時間反応を継続したが、分子量の増加が認められなかったため、反応を中断した。中断時の分子量は、Mw=14800、Mn=5240だった。
Comparative Example 7
In the same apparatus as in Example 1, 100 parts of BPF-1 and 190.7 parts of YD-128 (E1 / F1 = 1.005) and 15 parts of TL were charged, and the temperature was raised to 100 ° C. in a nitrogen atmosphere. It was. Next, 0.3 parts of TPP was charged as a catalyst, and then the internal temperature was raised to 140 ° C. The reaction was conducted at a reaction temperature of 140 to 145 ° C. for 10 hours, but no increase in molecular weight was observed. 0.3 parts of TPP was added and the reaction was continued for another 10 hours. However, since no increase in molecular weight was observed, the reaction was interrupted. The molecular weight at the time of interruption was Mw = 14800 and Mn = 5240.

実施例1〜24及び比較例1〜7により得られた樹脂ワニスのエポキシ当量、Mw、Mw/Mn、強度比(MLS/MRI)、フェノール性水酸基当量、ワニス粘度、光線透過率をそれぞれ測定し、実施例の結果を表1に、比較例の結果を表2に示す。 Epoxy equivalents, Mw, Mw / Mn, strength ratio (M LS / M RI ), phenolic hydroxyl group equivalent, varnish viscosity, and light transmittance of the resin varnishes obtained in Examples 1 to 24 and Comparative Examples 1 to 7, respectively. Table 1 shows the results of the examples and Table 2 shows the results of the comparative examples.

Figure 2017171802
Figure 2017171802

Figure 2017171802
Figure 2017171802

(貯蔵安定性)
実施例1〜24及び比較例1〜6で得られた樹脂ワニスを500mLの丸缶に密閉し、40℃の温度下にて1ヶ月保管し、25℃での粘度を測定することで貯蔵安定性を評価した。判定の項目と説明については下記のとおりである。実施例の結果を表3に、比較例の結果を表4に示す。
○:試験後の粘度が保管前の粘度の1.5倍未満であった。
△:試験後の粘度が保管前の粘度の1.5倍以上2.0倍未満であった。
×:試験後の粘度が保管前の粘度の2倍以上であった。
(保管後の透過率)
○:貯蔵安定性の試験後の樹脂ワニスを用いて、光線透過率を測定した際、90%T以上の透過率を有する。
△:貯蔵安定性の試験後の樹脂ワニスを用いて、光線透過率を測定した際、80%T以上90%T未満の透過率を有する。
×:貯蔵安定性の試験後の樹脂ワニスを用いて、光線透過率を測定した際、80%T未満の透過率を有する。
(Storage stability)
The resin varnishes obtained in Examples 1 to 24 and Comparative Examples 1 to 6 were sealed in a 500 mL round can, stored at a temperature of 40 ° C. for 1 month, and measured for viscosity at 25 ° C. for storage stability. Sex was evaluated. The items and explanation of the determination are as follows. Table 3 shows the results of the examples and Table 4 shows the results of the comparative examples.
○: The viscosity after the test was less than 1.5 times the viscosity before storage.
(Triangle | delta): The viscosity after a test was 1.5 times or more and less than 2.0 times the viscosity before storage.
X: The viscosity after the test was at least twice the viscosity before storage.
(Transmittance after storage)
○: When the light transmittance is measured using the resin varnish after the storage stability test, it has a transmittance of 90% T or more.
(Triangle | delta): When light transmittance is measured using the resin varnish after a storage stability test, it has the transmittance | permeability of 80% T or more and less than 90% T.
X: When the light transmittance is measured using the resin varnish after the storage stability test, it has a transmittance of less than 80% T.

(段差埋め込み性)
実施例1〜24及び比較例1〜6で得られた樹脂ワニスを、100mm×100mm×0.7μmのガラス基板に、乾燥膜厚が150μmとなるようにバーコーターを用いて塗布し、80℃、30分の条件下にて溶媒を蒸発させ、ガラス基板上に樹脂層を形成した。この樹脂付きガラス基板に、外周部に幅10mm、厚さ100μmの寸法の白色印刷層(段差)を設けた100mm×100mm×0.7mmのガラス基板を、樹脂層を挟み込むように重ね、ホットプレス機を用いて80℃、0.2MPaの条件で1分間貼り合せた。このサンプルを用いて、光学顕微鏡にて印刷層(段差)周辺部の外観評価を行った。判定の説明については下記のとおりである。実施例の結果を表3に、比較例の結果を表4に示す。
○:段差部位に、気泡及び剥離がない。
△:1辺のみに、気泡又は剥離がある。
×:2辺以上に、気泡又は剥離がある。
(Step embedding)
The resin varnishes obtained in Examples 1 to 24 and Comparative Examples 1 to 6 were applied to a glass substrate of 100 mm × 100 mm × 0.7 μm using a bar coater so that the dry film thickness was 150 μm, and 80 ° C. The solvent was evaporated under the conditions of 30 minutes to form a resin layer on the glass substrate. A 100 mm × 100 mm × 0.7 mm glass substrate provided with a white printed layer (step) having a width of 10 mm and a thickness of 100 μm on the outer peripheral portion is laminated on the resin-coated glass substrate so as to sandwich the resin layer, and hot pressing is performed. Bonding was performed for 1 minute at 80 ° C. and 0.2 MPa using a machine. Using this sample, the appearance of the periphery of the printed layer (step) was evaluated with an optical microscope. The description of the determination is as follows. Table 3 shows the results of the examples and Table 4 shows the results of the comparative examples.
◯: There are no bubbles and peeling at the stepped portion.
Δ: There are bubbles or peeling on only one side.
X: There are bubbles or peeling on two or more sides.

(ITO接着性)
実施例1〜24及び比較例1〜6で得られた樹脂ワニス100質量部に、ジフェニルメタンジイソシアネートを11質量部とジブチル錫ジラウレート0.01質量部を加え、樹脂組成物を作成した。ついで、この樹脂組成物を、離型処理を施したPETフィルム上にバーコーターを用いて乾燥膜厚が150μmとなるように塗布し、40℃、1時間真空下にて溶媒留去を行った。その後、厚さ100μmの寸法の白色印刷層(段差)を設けた100mm×100mm×0.7mmのガラス基板を、樹脂層を挟み込むように重ね、ホットプレス機を用いて80℃、0.2MPaの条件で1分間貼り合せた。離型処理されたPETフィルムを剥がした後に、PETフィルムを基材とするITOフィルムを、金属酸化物側が樹脂層と接するように重ね、ホットプレス機を用いて80℃、0.2MPaの条件で15分貼り合せた。その後、ITOフィルムを1cmの幅を残すように剥がし、90度のピール試験を行った。判定の説明については下記のとおりである。実施例の結果を表3に、比較例の結果を表4に示す。
○:接着強度が0.7N/mm以上
△:接着強度が0.5N/mm以上0.7N/mm未満
×:接着強度が0.5N/mm未満
(ITO adhesion)
11 parts by mass of diphenylmethane diisocyanate and 0.01 parts by mass of dibutyltin dilaurate were added to 100 parts by mass of the resin varnishes obtained in Examples 1 to 24 and Comparative Examples 1 to 6 to prepare a resin composition. Next, this resin composition was applied onto a PET film subjected to a release treatment using a bar coater so that the dry film thickness was 150 μm, and the solvent was distilled off under vacuum at 40 ° C. for 1 hour. . Thereafter, a glass substrate of 100 mm × 100 mm × 0.7 mm provided with a white printing layer (step) having a thickness of 100 μm is stacked so as to sandwich the resin layer, and is heated at 80 ° C. and 0.2 MPa using a hot press machine. Bonding was performed for 1 minute under the conditions. After peeling off the release-treated PET film, the ITO film based on the PET film is stacked so that the metal oxide side is in contact with the resin layer, and using a hot press machine at 80 ° C. and 0.2 MPa. Bonded for 15 minutes. Thereafter, the ITO film was peeled off so as to leave a width of 1 cm, and a 90 degree peel test was performed. The description of the determination is as follows. Table 3 shows the results of the examples and Table 4 shows the results of the comparative examples.
○: Adhesive strength is 0.7 N / mm or more Δ: Adhesive strength is 0.5 N / mm or more and less than 0.7 N / mm ×: Adhesion strength is less than 0.5 N / mm

(耐溶剤性)
実施例1〜24及び比較例1〜6で得られた樹脂ワニス100質量部に、ノボラック型フェノール樹脂(昭和電工株式会社製、BRG−557)0.84質量部、トリフェニルホスフィン0.005質量部を投入し均一になるまで撹拌し樹脂組成物とした。次いで、100mm×100mm×0.7mmのガラス基板にバーコーターを用いて樹脂組成物を塗布した。このガラス基板を80℃、30分の条件にて溶媒を乾燥させた後、150℃、1時間の熱処理を行い、硬化させた。硬化膜に対し、メチルエチルケトンを染み込ませたウェスを用い、49N荷重で30往復ラビング試験を行った。硬化性の判定の説明については下記のとおりである。実施例の結果を表3に、比較例の結果を表4に示す。
○:ラビング試験後の硬化膜が透明である。
△:ラビング試験後の硬化膜に白濁が見られる
×:ラビング試験後の硬化膜が全体的に白濁又は剥がれが見られる。
(Solvent resistance)
To 100 parts by mass of the resin varnishes obtained in Examples 1 to 24 and Comparative Examples 1 to 6, 0.84 parts by mass of novolac-type phenol resin (BRG-557, manufactured by Showa Denko KK), 0.005 parts by mass of triphenylphosphine A part was added and stirred until uniform to obtain a resin composition. Next, the resin composition was applied to a 100 mm × 100 mm × 0.7 mm glass substrate using a bar coater. The glass substrate was dried at 80 ° C. for 30 minutes, and then cured by heat treatment at 150 ° C. for 1 hour. The cured film was subjected to 30 reciprocating rubbing tests with a load impregnated with methyl ethyl ketone at a load of 49 N. The explanation of the determination of curability is as follows. Table 3 shows the results of the examples and Table 4 shows the results of the comparative examples.
○: The cured film after the rubbing test is transparent.
Δ: White turbidity is observed in the cured film after the rubbing test. ×: The entire cured film after the rubbing test is white turbid or peeled.

Figure 2017171802
Figure 2017171802

Figure 2017171802
Figure 2017171802

Claims (17)

下記一般式(1)で表される構造を主鎖に有するビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂であって、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー測定による重量平均分子量(Mw)がポリスチレン換算値で30000〜60000であり、Mwとポリスチレン換算値の数平均分子量(Mn)との比率(Mw/Mn)が3.5〜6.5であり、静的多角光散乱法による光散乱強度で示される分子量分布の強度が最大強度となる絶対分子量(MLS)とテトラヒドロフランを基準とする比屈折率で示される分子量分布の強度が最大強度となるポリスチレン換算による重量平均分子量(MRI)との比率(MLS/MRI)が3.0〜15であることを特徴とするビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂。
Figure 2017171802
(式中、Aは2価の有機残基であり、Yは下記一般式(1a)で表される基である。但し、Yの80モル%以上は、k=0成分である。nは10〜200の平均繰り返し数である。)
Figure 2017171802
(式中、Zは下記一般式(1b)又は(1c)で表される基である。R1は炭素数1〜8の1価の炭化水素基であり、それぞれ同一でも異なっていてもよい。mは独立に0〜4の数であり、m1は独立に0〜3の数である。kは平均値で0〜0.6の数である。)
Figure 2017171802
(式中、A、Yは、一般式(1)におけるA、Yと同意である。n1及びn2は0〜200の平均繰り返し数である。)
It is a bisphenol F skeleton containing phenoxy resin having a structure represented by the following general formula (1) in the main chain, and the weight average molecular weight (Mw) by gel permeation chromatography measurement is 30000 to 60000 in terms of polystyrene, The ratio (Mw / Mn) between Mw and the number average molecular weight (Mn) in terms of polystyrene is 3.5 to 6.5, and the intensity of the molecular weight distribution indicated by the light scattering intensity by the static polygonal light scattering method is maximum. The ratio (M LS / M RI ) between the absolute molecular weight (M LS ) that is the strength and the weight average molecular weight (M RI ) in terms of polystyrene, where the strength of the molecular weight distribution indicated by the relative refractive index based on tetrahydrofuran is the maximum strength. Is a phenoxy resin containing a bisphenol F skeleton, wherein the phenoxy resin is 3.0 to 15.
Figure 2017171802
(In the formula, A is a divalent organic residue, and Y is a group represented by the following general formula (1a). However, 80 mol% or more of Y is a k = 0 component. (The average number of repetitions is 10 to 200.)
Figure 2017171802
(In the formula, Z is a group represented by the following general formula (1b) or (1c). R 1 is a monovalent hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, which may be the same or different. M is independently a number from 0 to 4, m 1 is independently a number from 0 to 3. k is an average value from 0 to 0.6.)
Figure 2017171802
(In the formula, A and Y are the same as A and Y in the general formula (1). N 1 and n 2 are average repeating numbers of 0 to 200.)
上記一般式(1)中のAが下記一般式(2)で表される2価の芳香族基である請求項1に記載のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂。
Figure 2017171802
(式中、Xは、単結合、メチレン基、ジメチルメチレン基、又は炭素数1〜4のアルキル置換基を有してもよい1,1−シクロへキシレン基である。R2は炭素数1〜8の1価の炭化水素基であり、それぞれ同一でも異なっていてもよい。m2は独立に0〜4の数である。)
The bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin according to claim 1, wherein A in the general formula (1) is a divalent aromatic group represented by the following general formula (2).
Figure 2017171802
(In the formula, X represents a single bond, a methylene group, a dimethylmethylene group, or a 1,1-cyclohexylene group which may have an alkyl substituent having 1 to 4 carbon atoms. R 2 represents 1 carbon atom. -8 monovalent hydrocarbon groups, which may be the same or different, and m 2 is independently a number from 0 to 4.)
下記一般式(3)
Figure 2017171802
(一般式中、Aは2価の有機残基である。)
で表される2価のエポキシ樹脂と、下記一般式(4)
Figure 2017171802
(一般式中、R1は炭素数1〜8の1価の炭化水素基であり、それぞれ同一でも異なっていてもよい。mは独立に0〜4の数であり、m1は独立に0〜3の数である。kは平均値で0〜0.6の数であるが、k=0の成分が80%以上を占める。)
で表されるビスフェノールF化合物とを、オニウム塩類触媒の存在下、芳香族系溶媒中で、2価のエポキシ樹脂中のエポキシ基のモル数(E1)とビスフェノールF化合物中のフェノール性水酸基のモル数(F1)の比率(E1/F1)が1.035〜1.005の範囲で反応させて得られ、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー測定による重量平均分子量がポリスチレン換算値で30000〜60000であり、Mwとポリスチレン換算値の数平均分子量(Mn)との比率(Mw/Mn)が3.5〜6.5であり、静的多角光散乱法による光散乱強度で示される分子量分布の強度が最大強度となる絶対分子量(MLS)とテトラヒドロフランを基準とする比屈折率で示される分子量分布の強度が最大強度となるポリスチレン換算による重量平均分子量(MRI)との比率(MLS/MRI)が3.0〜15であることを特徴とするビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂。
The following general formula (3)
Figure 2017171802
(In the general formula, A is a divalent organic residue.)
And a divalent epoxy resin represented by the following general formula (4)
Figure 2017171802
(In the general formula, R 1 is a monovalent hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms and may be the same or different. M is independently a number from 0 to 4, and m 1 is independently 0. (The number k is an average value of 0 to 0.6, but the component of k = 0 occupies 80% or more.)
In the presence of an onium salt catalyst in an aromatic solvent, the number of moles of an epoxy group (E1) in a divalent epoxy resin and the mole of a phenolic hydroxyl group in the bisphenol F compound. The ratio (E1 / F1) of the number (F1) is obtained by reacting in the range of 1.035 to 1.005, the weight average molecular weight by gel permeation chromatography measurement is 30000 to 60000 in terms of polystyrene, Mw (Mw / Mn) between the number average molecular weight (Mn) in terms of polystyrene and polystyrene is 3.5 to 6.5, and the intensity of the molecular weight distribution indicated by the light scattering intensity by the static polygonal light scattering method is the maximum intensity. The absolute molecular weight (M LS ) and the molecular weight distribution indicated by the relative refractive index based on tetrahydrofuran are the maximum weight in terms of polystyrene. A bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin having a ratio (M LS / M RI ) to the weight average molecular weight (M RI ) of 3.0 to 15.
エポキシ当量が4000〜8500g/eq.である請求項1〜3のいずれかに記載のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂。   Epoxy equivalent is 4000-8500 g / eq. The bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin according to any one of claims 1 to 3. フェノール性水酸基当量が7000〜17000g/eq.である請求項1〜4のいずれかに記載のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂。   The phenolic hydroxyl group equivalent is 7000 to 17000 g / eq. The bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin according to any one of claims 1 to 4. 請求項1に記載のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の製造方法であって、下記一般式(3)
Figure 2017171802
(一般式中、Aは2価の有機残基である。)
で表される2価のエポキシ樹脂と、下記一般式(4)
Figure 2017171802
(一般式中、R1は炭素数1〜8の1価の炭化水素基であり、それぞれ同一でも異なっていてもよい。mは独立に0〜4の数であり、m1は独立に0〜3の数である。kは平均値で0〜0.6の数であるが、k=0の成分が80%以上を占める。)
で表されるビスフェノールF化合物とを、オニウム塩類触媒の存在下、芳香族系溶媒中で、2価のエポキシ樹脂中のエポキシ基のモル数(E1)とビスフェノールF化合物中のフェノール性水酸基のモル数(F1)との比率が、(E1):(F1)=1.035〜1.005:1の範囲で反応させることを特徴とするビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の製造方法。
It is a manufacturing method of the bisphenol F frame | skeleton containing phenoxy resin of Claim 1, Comprising: The following general formula (3)
Figure 2017171802
(In the general formula, A is a divalent organic residue.)
And a divalent epoxy resin represented by the following general formula (4)
Figure 2017171802
(In the general formula, R 1 is a monovalent hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms and may be the same or different. M is independently a number from 0 to 4, and m 1 is independently 0. (The number k is an average value of 0 to 0.6, but the component of k = 0 occupies 80% or more.)
In the presence of an onium salt catalyst in an aromatic solvent, the number of moles of an epoxy group (E1) in a divalent epoxy resin and the mole of a phenolic hydroxyl group in the bisphenol F compound. The method for producing a bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin, wherein the ratio of the number (F1) is in the range of (E1) :( F1) = 1.35 to 1.005: 1.
オニウム塩類触媒が下記一般式(5)で表される有機ホスホニウム塩類である請求項6に記載のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の製造方法。
Figure 2017171802
(式中、R7は1価の炭化水素基を表し、それぞれ同一でも異なっていてもよい。X1は1価の陰イオンを形成する原子又は原子団である。)
The method for producing a bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin according to claim 6, wherein the onium salt catalyst is an organic phosphonium salt represented by the following general formula (5).
Figure 2017171802
(In the formula, R 7 represents a monovalent hydrocarbon group, which may be the same or different. X 1 is an atom or atomic group forming a monovalent anion.)
芳香族系溶媒の常圧下における沸点が80〜145℃である請求項6又は7に記載のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の製造方法。   The method for producing a bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin according to claim 6 or 7, wherein the aromatic solvent has a boiling point of 80 to 145 ° C under normal pressure. 一般式(4)で表されるビスフェノールF化合物中のk=0の成分が96.5%以上である請求項6〜8のいずれかに記載のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂の製造方法。   The manufacturing method of the bisphenol F frame | skeleton containing phenoxy resin in any one of Claims 6-8 whose component of k = 0 in the bisphenol F compound represented by General formula (4) is 96.5% or more. 請求項1〜5のいずれかに記載のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂を、有機溶剤に溶解させて、樹脂濃度が15〜90質量%に調製されたことを特徴とするビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂ワニス。   The bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin varnish, wherein the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin according to any one of claims 1 to 5 is dissolved in an organic solvent to adjust the resin concentration to 15 to 90% by mass. . 請求項1〜5のいずれかに記載のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂、及びフェノキシ樹脂と反応性を有する硬化剤を必須成分として含有する樹脂組成物。   A resin composition comprising, as an essential component, the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin according to any one of claims 1 to 5 and a curing agent having reactivity with the phenoxy resin. 請求項1〜5のいずれかに記載のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂、及び硬化性樹脂を必須成分として含有する樹脂組成物。   A resin composition comprising the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin according to any one of claims 1 to 5 and a curable resin as essential components. 請求項1〜5のいずれかに記載のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂を用いたことを特徴とする光学用接着剤。   An optical adhesive using the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin according to any one of claims 1 to 5. 請求項1〜5のいずれかに記載のビスフェノールF骨格含有フェノキシ樹脂を用いたことを特徴とするコーティング剤。   A coating agent comprising the bisphenol F skeleton-containing phenoxy resin according to any one of claims 1 to 5. 請求項11に記載の樹脂組成物を、光及び/又は熱処理することにより得られる硬化物。   A cured product obtained by subjecting the resin composition according to claim 11 to light and / or heat treatment. 請求項13に記載の光学用接着剤を用いたことを特徴とする表示装置。   A display device comprising the optical adhesive according to claim 13. 請求項14に記載のコーティング剤を用いたことを特徴とする表示装置。   A display device comprising the coating agent according to claim 14.
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