JP2017110932A - 三次元形状測定装置 - Google Patents
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Abstract
Description
以下、図面を参照しながら本実施形態について説明する。まず、図1及び図2を参照して、三次元形状測定装置1の概要について説明する。
図1は、本実施形態の三次元形状測定装置1の使用例を示す模式図である。
図2は、本実施形態の三次元形状測定装置1の構成の概要を示すブロック図である。
この三次元形状測定装置1は、可搬型の装置であり、計測対象物の三次元形状を測定する。以下の説明では、三次元形状測定装置1が、ハンディー三次元スキャナーである場合を一例にして説明する。また、図1に示すように、三次元形状測定装置1が、測定台TBLの上に載置された計測対象物Mの三次元形状を測定する場合を一例にして説明する。
照射部10は、照射軸AXSLに沿って、複数のスリット光SLを計測対象物Mに照射する。この一例においては、照射部10は、スリット光SL1からスリット光SL8までの互いに平行な8本のスリット光SLを計測対象物Mに照射する。照射部10がスリット光SLを照射することにより、計測対象物Mの表面には、計測対象物Mの表面の形状に応じて変形したスリット光SLが現れる。
なお、ここでは、スリット光SLの本数が8本である場合を一例にして説明するが、これに限られない。スリット光SLの本数は、例えば、20〜30本であってもよい。
三次元形状測定装置1は、これら第一スリット光群画像P1、又は第二スリット光群画像P2に基づいて、計測対象物Mの三次元形状を測定する。なお、以下の説明において、第一撮像部20と、第二撮像部30とを総称する場合には、単に撮像部と記載する。
第1の座標系、すなわちxyz直交座標系のz軸とは、照射軸AXSLに平行な軸である。x軸とは、照射部10が照射するスリット光SLが延びる方向を示す軸である。y軸とは、z軸に直交する平面のうち、照射部10、第一撮像部20、第二撮像部30が並んで配置される方向を示す軸である。第一撮像部20が撮像する画像の座標、及び第二撮像部30が撮像する画像の座標は、xyz直交座標系のx軸及びy軸によって示される。第一撮像部20が撮像する画像の座標と、第二撮像部30が撮像する画像の座標とを区別する場合には、第一撮像部20が撮像する画像の座標をx1軸及びy1軸によって、第二撮像部30が撮像する画像の座標をx2軸及びy2軸によって示す。
第2の座標系、すなわちXYZ直交座標系のZ軸とは、測定台TBL上の計測対象物Mの鉛直方向、つまり高さを示す軸である。X軸、Y軸とは、それぞれ測定台TBLの平面上の位置を示す軸である。
操作部70は、三次元形状測定装置1の操作者によって操作される押しボタンスイッチやタッチパネル等を備えている。
I/Oポート80は、メモリカード等の外部機器との通信端子を備えており、接続された外部機器との間において、データの授受を行う。このデータには、三次元形状測定結果のデータが含まれる。
なお、これら表示部60、操作部70、及びI/Oポート80は、三次元形状測定装置1において必須の構成ではない。三次元形状測定装置1は、これらの一部又は全部を備えていなくてもよい。
第一記憶部41には、第一撮像部20が撮像した画像、すなわち第一スリット光群画像P1が記憶される。
第二記憶部42には、第二撮像部30が撮像した画像、すなわち第二スリット光群画像P2が記憶される。
第三記憶部43には、第一撮像部20が撮像する画像内の位置を示す座標と、第二撮像部30が撮像する画像内の位置を示す座標との座標変換情報が、予め記憶されている。すなわち、第三記憶部43には、撮像部間の位置関係を示す情報が予め記憶されている。ここで、図3を参照して、撮像部間の位置関係の具体例について説明する。
図4は、本実施形態の三次元形状測定装置1の撮像部の撮像する角度の一例を示す模式図である。同図に示すように、照射部10の照射軸AXSLを基準にした場合、第一撮像部20は、交点TPを中心にしたx軸周りに角度θ1の方向から撮像する。すなわち、照射部10の照射軸AXSLと、第一撮像部20の撮像軸AX1とのなす角の大きさは、角度θ1である。
また、照射部10の照射軸AXSLを基準にした場合、第二撮像部30は、交点TPを中心にしたx軸周りに角度θ2の方向から撮像する。すなわち、照射部10の照射軸AXSLと、第二撮像部30の撮像軸AX2とのなす角の大きさは、角度θ2である。
なお、上述したように距離L2は、距離L1よりも大きいため、角度θ2は、角度θ1よりも大きい。例えば、角度θ1は、約2度であり、角度θ2は、約15〜25度である。
図6は、第一スリット光群画像P1、及び第一スリット光群画像P1の抽出ウインドウの一例を示す模式図である。第一スリット光群画像P1において座標を示す場合には、上述したx1軸及びy1軸を座標軸にして説明する。図7は、第二スリット光群画像P2、及び第二スリット光群画像P2の抽出ウインドウの一例を示す模式図である。第二スリット光群画像P2において座標を示す場合には、上述したx2軸及びy2軸を座標軸にして説明する。また、第一スリット光群画像P1と、第二スリット光群画像P2とを区別せずにスリット光群画像上の座標を示す場合には、x軸及びy軸を座標軸にして説明する。
上述したように、第二スリット光群画像P2は、照射軸AXSLに対して、第一スリット光群画像P1の角度θ1よりも大きな角度θ2によって撮像されている。したがって、第二スリット光群画像P2においては、計測対象物Mの形状変化に伴うスリット光SLの形状変化が、第一スリット光群画像P1よりも大きく現れる。つまり、第二スリット光群画像P2は、第一スリット光群画像P1に比べて、計測対象物Mの形状変化をより詳細に示している。したがって、計測対象物Mの三次元形状を算出する場合、第二スリット光群画像P2に基づいて算出する方が、第一スリット光群画像P1に基づいて算出するよりも、より精度の高い算出が可能になる。
以下、第一抽出部51及び第二抽出部52によるスリット光SLの画像の抽出について、より詳細に説明する。ここでは、第一抽出部51及び第二抽出部52が、スリット光SLの画像を抽出する仕組みについて、図6から図8を参照して説明する。この一例では、第一抽出部51及び第二抽出部52は、スリット光SL1〜SL8の画像を、スリット光SL毎に1本ずつ抽出する。これらスリット光SL1〜SL8のうち、第一抽出部51及び第二抽出部52が、スリット光SL1の画像を抽出する場合を、図6及び図7を参照して説明する。
第一抽出部51、及び第二抽出部52は、いずれも、スリット光群画像に対して抽出ウインドウWを適用し、この抽出ウインドウWに含まれる輝線の画像を、スリット光SLの画像として抽出する。ここで、抽出ウインドウWとは、スリット光群画像上で、輝線の抽出を行う画像処理を実行する範囲を示す枠である。また、抽出ウインドウWとは、抽出ウインドウW1、及び抽出ウインドウW2の総称である。抽出ウインドウW1とは、第一抽出部51が第一スリット光群画像P1に適用する抽出ウインドウWである。抽出ウインドウW2とは、第二抽出部52が第二スリット光群画像P2に適用する抽出ウインドウWである。
なお、この一例では抽出ウインドウWの形状が、矩形であるとして説明するが、これに限られない。例えば、抽出ウインドウWは、例えば、多角形であってもよく、また、円弧、高次曲線などによって囲まれる形状であってもよい。
第一抽出部51は、スリット光SLの本数に対応する数の抽出ウインドウW1を、第一スリット光群画像P1に対して適用する。一例として、スリット光SLの本数が8本である場合には、第一抽出部51は、8つの抽出ウインドウW11〜W18を、第一スリット光群画像P1に対して適用する。ここで、抽出ウインドウW11を、第一スリット光群画像P1の第一抽出ウインドウとも記載する。また、抽出ウインドウW12〜抽出ウインドウW18を、第一スリット光群画像P1の第二抽出ウインドウ〜第八抽出ウインドウとも記載する。
第二抽出部52は、スリット光SLの本数に対応する数の抽出ウインドウWを、第二スリット光群画像P2に対して適用する。第二抽出部52は、スリット光SLの本数が、一例として8本である場合には、第二抽出部52は、8つの抽出ウインドウW21〜W28を、第二スリット光群画像P2に対して適用する。ここで、抽出ウインドウW21を、第二スリット光群画像P2の第一抽出ウインドウとも記載する。また、抽出ウインドウW22〜抽出ウインドウW28を、第二スリット光群画像P2の第二抽出ウインドウ〜第八抽出ウインドウとも記載する。
また、抽出ウインドウW2のy2軸方向の幅h2は、第二スリット光群画像P2に含まれるスリット光SLの画像の、y2軸方向の形状変化の幅にあわせて設定されている。具体的には、図6に示すように、抽出ウインドウW21のy2軸方向の幅は、第二スリット光群画像P2に含まれるスリット光SL1の画像が、y2軸方向に、はみ出さないようにして設定されている。
すなわち、抽出ウインドウW2の幅h2は、抽出ウインドウW1の幅h1よりも大きく設定されている。つまり、抽出ウインドウW1の幅h1と、抽出ウインドウW2の幅h2との関係は、幅h2>幅h1である。
また、上述したように、第二スリット光群画像P2においては、計測対象物Mの形状変化に伴うスリット光SLの形状変化が、第一スリット光群画像P1よりも大きく現れる。したがって、第二スリット光群画像P2においては、複数のスリット光SLどうしが交差する場合がある。具体的には、図7に示すように、第二スリット光群画像P2においては、スリット光SL1〜SL3の3本のスリット光SLが交差する。
つまり、抽出ウインドウW2内においては、複数のスリット光SLが含まれる場合や、さらに、これら複数のスリット光SLが交差する場合がある。このように、抽出ウインドウW2内に複数のスリット光SLが含まれていると、スリット光SLの画像を抽出する場合に、複数のスリット光SLの画像が、どのスリット光SLの画像であるかを判別することが求められる。つまり、第二スリット光群画像P2からスリット光SLの画像を抽出することが、第一スリット光群画像P1からスリット光SLの画像を抽出することに比べて、困難である場合がある。
第二抽出部52がスリット光SLの画像を抽出する、より具体的な仕組みについて、改めて図6及び図7を参照して説明する。ここでは、第二抽出部52が、スリット光SL1の画像を抽出する場合を一例として説明する。
第二抽出部52についての説明の前に、まず、第一抽出部51によるスリット光SLの画像の抽出結果の一例について説明する。第一抽出部51は、抽出ウインドウW11によって、スリット光SL1の座標を算出する。ここで、スリット光SL1の座標とは、抽出ウインドウW11内に含まれるスリット光SL1を示す輝点の座標である。図6に示す一例の場合、第一抽出部51は、x1軸方向の座標x10から座標x1Qまでの、各x1座標において、スリット光SL1を示す輝点のy1軸方向の座標を算出する。具体的には、第一抽出部51は、座標x1Pにおいて、スリット光SL1のy1軸方向の座標y1Pを算出する。つまり、第一抽出部51は、座標x1Pにおけるスリット光SL1の座標を、座標(x1P、y1P)として算出する。ここで、第一抽出部51は、スリット光SL1のy1軸方向の座標を、第一スリット光群画像P1内のある一点を原点にした絶対座標として算出してもよく、抽出ウインドウW11内のある一点を原点にした相対座標として算出してもよい。
すなわち、第一抽出部51は、x1軸方向の座標x10から座標x1Qまでの、各x1座標において、スリット光SL1の座標(x1、y1)を算出する。
より具体的には、第二抽出部52は、第一スリット光群画像P1内のサブウインドウと、第二スリット光群画像P2内のサブウインドウとの対応関係に基づいて、スリット光SLどうしの対応関係を判定する。この「サブウインドウ」について説明する。以下の説明において、サブウインドウの中心の座標のことを、単に「サブウインドウの座標」とも記載する。
このようにして第二抽出部52は、複数のスリット光SLの画像どうしが重なる場合であっても、スリット光SLの画像を正しく抽出することができる。
また、第一スリット光群画像P1のスリット光SL1〜スリット光SL8のy1軸方向の座標変化の程度は、第二スリット光群画像P2のスリット光SL1〜スリット光SL8のy2軸方向の座標変化の程度に比べて小さい。したがって、第一スリット光群画像P1に基づいて計測対象物Mの三次元形状を特定すると、第二スリット光群画像P2に基づいて計測対象物Mの三次元形状を特定する場合に比べて、特定される三次元形状の精度が低下する。
また、第二スリット光群画像P2のスリット光SL1〜スリット光SL8のy2軸方向の座標変化の程度は、第一スリット光群画像P1のスリット光SL1〜スリット光SL8のy1軸方向の座標変化の程度に比べて大きい。したがって、第二スリット光群画像P2に基づいて計測対象物Mの三次元形状を特定すると、第一スリット光群画像P1に基づいて計測対象物Mの三次元形状を特定する場合に比べて、特定される三次元形状の精度が向上する。
本実施形態の三次元形状測定装置1は、第一スリット光群画像P1を利用して、第二スリット光群画像P2の各スリット光SLと各サブウインドウSWとを対応付ける。三次元形状測定装置1は、第一スリット光群画像P1の利点と第二スリット光群画像P2の利点を利用することにより、一意かつ精度よく計測対象物Mの三次元形状を特定することができる。
次に、図9を参照して、三次元形状測定装置1の動作について説明する。
図9は、本実施形態の三次元形状測定装置1の動作の一例を示すフローチャートである。
撮像部は、制御部50の制御に基づき、ステップS10において照射されるスリット光SLを撮像する(ステップS20)。ここで、制御部50は、第一撮像部20と、第二撮像部30とに対して、同時に撮像指令を出力する。これにより、第一撮像部20と、第二撮像部30とは、同時にスリット光SLを撮像する。第一撮像部20は、撮像した画像、すなわち第一スリット光群画像P1を第一記憶部41に記憶させる。第二撮像部30は、撮像した画像、すなわち第二スリット光群画像P2を第二記憶部42に記憶させる。
次に、第二抽出部52は、ステップS30において抽出されたスリット光SLの画像に基づいて、第二スリット光群画像P2内のスリット光SLの位置を推定し(ステップS40)、推定した位置に基づいて、第二スリット光群画像P2からスリット光SLの画像を抽出する(ステップS50)。
第二抽出部52は、すべてのスリット光SLについて、計測対象物Mの三次元形状を算出済みであると判定した場合(ステップS110;YES)には処理をステップS120に進める。一方、第二抽出部52は、いずれかのスリット光SLについて、計測対象物Mの三次元形状を算出済みでないと判定した場合(ステップS110;NO)には処理をステップS30に戻す。
Q(i,t)=A(t)・P(i,t)・・・(1)
次に、三次元形状算出部53は、次の式(2)
Q(i,t−1)=A(t−1)・P(i,t−1)・・・(2)
によって示される、時刻t−1における三次元座標Q(i,t−1)が、三次元座標Q(i,t)と重なるように、姿勢A(t−1)を算出する。ここで、三次元形状算出部53は、ある姿勢A(t)を仮定した上で、三次元座標Q(i,t)を算出し、三次元座標Q(i,t)の近傍にある点P(j,t)の法線方向の距離dpを、点Pごとに求める。また、三次元形状算出部53は、この距離dpの二乗平均が最小となるように、姿勢A(t)を補正する。
また、三次元形状算出部53は、算出した計測対象物Mの三次元形状を、第四記憶部44に記憶されている複数の点群データどうしの比較に基づいて補正する。
R(i,t)=A(t)・P(i,t)・・・(3)
を計算し、三次元座標Q(j,T)との法線方向誤差が最小となるような姿勢A(t)を求め直す。さらに三次元形状算出部53は、三次元座標Q(j,T)内の時刻tの情報を、三次元座標R(i,t)によって置き換える。
上述のベストフィット処理により、三次元座標Q(j,T)が計測対象物Mの三次元形状を示す情報となる。さらに、三次元形状算出部53は、三次元座標Q(j,T)が示す点が密集している部分を平均化することにより、情報量を削減し、ファイル化して出力してもよい。
また、上述において、第一抽出部51は、撮像部間の位置関係に基づいて、第一スリット光群画像P1を座標変換することにより、スリット光SLの位置を推定するとして説明したが、これに限られない。第一抽出部51は、第一スリット光群画像P1と、第二スリット光群画像P2とを対応付けることにより、スリット光SLの位置を推定してもよい。
上述のように構成しても、三次元形状測定装置1は、三次元形状の算出に適する画像を選択できるため、三次元形状の測定精度を高めることができる。
Claims (7)
- 複数のスリット光を計測対象物に照射する照射部と、
前記照射部の一方側に前記照射部の位置から第一の所定距離だけ離れた位置に配置され、前記計測対象物を撮像する第一撮像部と、
前記照射部の前記一方側に前記照射部の位置から前記第一の所定距離より大きい第二の所定距離だけ離れた位置に配置され、前記計測対象物を撮像する第二撮像部と、
前記第一撮像部が撮像した複数のスリット光が、第一スリット光群画像として記憶される第一記憶部と、
前記第二撮像部が撮像した画像に含まれる複数のスリット光が、第二スリット光群画像として記憶される第二記憶部と、
前記第一撮像部が撮像する画像内の位置を示す座標と、前記第二撮像部が撮像する画像内の位置を示す座標との座標変換情報が記憶されている第三記憶部と、
前記第一記憶部に記憶される前記第一スリット光群画像の中から、前記複数のスリット光毎にスリット光画像を抽出する第一抽出部と、
前記第一抽出部が抽出するスリット光画像と、前記第三記憶部に記憶されている前記座標変換情報とに基づいて、前記第二記憶部に記憶される前記第二スリット光群画像の中から、前記第一スリット光群画像に含まれる前記複数のスリット光のそれぞれに対応するスリット光画像をそれぞれ抽出する第二抽出部と、
前記第二抽出部が抽出するスリット光画像に基づいて、前記計測対象物の三次元形状を算出する三次元形状算出部と
を備える三次元形状測定装置。 - 前記第二抽出部は、
前記第一抽出部が抽出するスリット光画像内のスリット光の座標が前記座標変換情報によって座標変換された座標変換後のスリット光の座標と、前記第二スリット光群画像内のスリット光の座標との対応に基づいて、前記第二記憶部に記憶される前記第二スリット光群画像の中から、前記第一スリット光群画像に含まれる前記複数のスリット光のそれぞれに対応するスリット光画像をそれぞれ抽出する
請求項1に記載の三次元形状測定装置。 - 前記第二抽出部は、
前記第二スリット光群画像に含まれる前記複数のスリット光画像のうち、前記座標変換後のスリット光の座標を含む所定の座標範囲内に、スリット光の座標が含まれるスリット光画像を、前記座標変換後のスリット光に対応するスリット光画像として抽出する
請求項2に記載の三次元形状測定装置。 - 前記第二抽出部は、
前記第二スリット光群画像に対して、前記第一抽出部が抽出するスリット光画像の数に対応する数の抽出窓を設け、かつ前記抽出窓毎に、前記抽出窓に含まれる複数のスリット光画像の中から、前記第一抽出部が抽出したスリット光画像に対応するスリット光画像を選択することにより、前記三次元形状算出部に供給されるスリット光画像を抽出する
請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の三次元形状測定装置。 - 前記第二抽出部は、
前記第二スリット光群画像に含まれる前記複数のスリット光画像について、スリット光画像どうしの交点がある場合に、スリット光画像どうしの交点を除外してスリット光画像を抽出する
請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の三次元形状測定装置。 - 前記三次元形状算出部が算出する前記計測対象物の三次元形状を示す点群データが、前記三次元形状算出部が前記点群データを算出する毎に順次記憶される第四記憶部と、
前記三次元形状算出部が算出する前記点群データと、前記第四記憶部に記憶されている過去に算出された前記点群データとの比較に基づいて、前記計測対象物に対する前記第二撮像部の移動の軌跡を算出する軌跡算出部と、
をさらに備える請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の三次元形状測定装置。 - 前記三次元形状算出部は、
算出した前記計測対象物の三次元形状を、複数の前記点群データどうしの比較に基づいて補正する
請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の三次元形状測定装置。
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