JP2009222568A - 3次元形状データの生成方法および装置ならびにコンピュータプログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】3次元測定器と回転台または回転台と対象物のいずれかの位置関係を変更した場合でも、変更前に得た3次元データと変更後に得た3次元データとを可能な範囲で自動的に位置合わせして繋ぎ合わせること。
【解決手段】新たに測定した3次元データDT4を測定済みの3次元データDT1〜3と繋がるように座標変換して位置合わせすることによって3次元データDT4についての位置合わせのための変換情報Mを取得し、変換情報Mに基づいて得られる3次元データDT4と3次元データDT1〜3との位置合わせの誤差がしきい値TH以下であるか否かを判断し、位置合わせの誤差がしきい値THであるときに、3次元データDT4に対して回転台3を回転させることのみによって測定して得られる3次元データDT5〜6に対し、回転台3の回転角度θについての情報と変換情報Mとを用いて3次元データDT1〜3との位置合わせを行う。
【選択図】 図11
【解決手段】新たに測定した3次元データDT4を測定済みの3次元データDT1〜3と繋がるように座標変換して位置合わせすることによって3次元データDT4についての位置合わせのための変換情報Mを取得し、変換情報Mに基づいて得られる3次元データDT4と3次元データDT1〜3との位置合わせの誤差がしきい値TH以下であるか否かを判断し、位置合わせの誤差がしきい値THであるときに、3次元データDT4に対して回転台3を回転させることのみによって測定して得られる3次元データDT5〜6に対し、回転台3の回転角度θについての情報と変換情報Mとを用いて3次元データDT1〜3との位置合わせを行う。
【選択図】 図11
Description
本発明は、回転台の上に載置した対象物を3次元測定器により測定して得られる複数の3次元データを繋ぎ合わせて対象物の3次元形状データを生成する方法および装置ならびにコンピュータプログラムに関する。
従来より、種々の対象物についての3次元形状データを非接触で得るために、光学式の3次元測定器(3次元測定装置)がしばしば用いられる。対象物の全周についての3次元データを得るために、対象物を回転台(回転ステージ)の上に載置し、回転台を回転させて種々の方向から対象物を測定する。これにより、対象物に対する測定方向の異なる複数の3次元データが得られる。これら複数の3次元データの互いの位置合わせを行って繋ぎ合わせることにより、対象物についての3次元形状データが生成される。
さて、3次元データの位置合わせを行うために、回転台の回転軸の位置および姿勢を示す情報(回転軸情報)と、測定時における回転軸の回転角度を示す情報とを用いて位置合わせをする手法が知られている。この手法によると、回転軸情報を一旦求めておくことによって、3次元測定器と回転台との相対的な位置および姿勢、並びに回転台と対象物との相対的な位置および姿勢がいずれも変化しない限り、種々の回転角度において測定した3次元データを、その回転軸情報と測定時の回転角度とを用いて効率的に位置合せすることが可能である。
従来において、回転台の回転軸情報を求める方法として、互いに交差する2つの平面を有する回転軸情報算出用の校正治具を用いる方法がある。これによると、校正治具を、その2つの平面が回転台の回転軸の軸線と一致するように回転台上に配置した状態で、3次元測定器によってそれらを測定する。測定により得られた3次元データに愛する処理を行うことにより、回転台の位置および姿勢を算出する。
また、回転台の回転軸情報を求める他の方法が特許文献1に開示されている。これによると、回転台として、外周面が円周面ではなく正多面体で構成された回転台を用いる。外周面である各面の法線は回転台の回転軸と直交し、かつ各面は回転軸から等距離の位置にある。3次元測定器で回転台の外周面を測定し、測定により得たデータから回転台の位置および姿勢を算出する。
特開平7−174538
しかし、前者の方法では、校正治具の測定のために、回転台上に載置した対象物を回転台上から一旦取り除き、それに代えて校正治具をセットする必要があるので、その作業が測定を行う者にとって大きな負担となる。
後者の方法では、回転台のほぼ中央に載置された対象物と回転台の外周面との距離が離れているので、3次元測定器の測定光学系のピント調整を行なうことが難しい。つまり、高精度な回転軸情報を得るためには、対象物の測定時と回転軸情報を得るための測定時とで、3次元測定器と回転台との位置および姿勢を保持したままで測定光学系のピント調整を行なうことが望ましい。特に、被写界深度の浅い高倍率のレンズが用いられている場合には、ピント調整の必要性が高くなる。しかし、3次元測定器の測定光学系が自動ピント合わせ機能を持たない場合には、このピント調整のための作業は測定を行う者にとって大きな負担となる。
また、対象物の形状が複雑であるときには、回転台を用いた一通りの測定および位置合せが終了した後において、測定漏れ部位の存在が発見される場合がある。そのような場合に、測定漏れ部位を再測定するには、測定漏れ部位が測定できるように3次元測定器と回転台との相対的な位置および姿勢、並びに回転台と対象物との相対的な位置および姿勢を、それぞれ調整し変更した後で、再度、3次元測定器で対象物を測定する。その後、再測定によって得た3次元データを、位置および姿勢の変更前に測定した既存の位置合わせ済み3次元形状データに対して位置合わせを行う作業が必要となる。この場合には、3次元測定器と回転台または回転台と対象物の相対的な位置および姿勢を求め直す必要があり、その作業は測定を行う者にとって大きな負担である。
本発明は、上述の問題に鑑みてなされたもので、3次元測定器と回転台または回転台と対象物のいずれかの位置関係を変更した場合でも、変更前に得た3次元データと変更後に得た3次元データとを可能な範囲で自動的に位置合わせして繋ぎ合わせることを目的とする。
本発明に係る方法は、回転台の上に載置した対象物を3次元測定器により測定して得られる3次元データを繋ぎ合わせて前記対象物の3次元形状データを生成する方法であって、新たに測定した3次元データを測定済みの3次元データと繋がるように座標変換して位置合わせすることによって前記新たに測定した3次元データについての位置合わせのための変換情報を取得する第1の処理と、前記変換情報に基づいて得られる前記新たに測定した3次元データと前記測定済みの3次元データとの位置合わせの誤差がしきい値以下であるか否かを判断する第2の処理と、前記位置合わせの誤差がしきい値以下であるときに、前記新たに測定した3次元データに対して前記回転台を回転させることのみによって測定して得られる3次元データである次測定3次元データに対し、当該回転台の回転角度についての情報と前記変換情報とを用いて前記測定済みの3次元データとの位置合わせを行う第3の処理とを、処理装置に実行させる。
好ましくは、前記第3の処理において、前記次測定3次元データに対し、前記変換情報に基づく変換と、前記回転角度についての情報に基づく変換とを、この順に施すことでもよい。
また、前記第3の処理において、前記次測定3次元データに対し、前記3次元測定器の座標系である3次元測定器座標系から前記回転台の座標系である回転台座標系への変換と、前記回転角度についての情報に基づく変換と、前記変換情報に基づく変換とを、この順に施すことでもよい。
本発明に係る他の方法は、回転台の上に載置した対象物を3次元測定器により測定して得られる複数の3次元データを繋ぎ合わせて前記対象物の3次元形状データを生成する方法であって、前記3次元測定器と前記回転台および前記回転台と前記対象物のそれぞれの互いの位置関係を変更することなく前記回転台を回転させることによって得られる一連の複数の3次元データである第1の3次元データ群と、前記3次元測定器と前記回転台または前記回転台と前記対象物のいずれかの位置関係を変更した後で、前記3次元測定器と前記回転台および前記回転台と前記対象物の互いの位置関係を変更することなく前記回転台を回転させることによって得られる一連の複数の3次元データである第2の3次元データ群とを、繋ぎ合わせるに当たり、前記第2の3次元データ群に含まれる1つの3次元データを、前記第1の3次元データ群と繋がるように座標変換して位置合わせすることによって、当該3次元データについての位置合わせのための変換情報を取得し、前記第2の3次元データ群に含まれる他の1つの3次元データについて、前記回転台の回転に対応した変換と前記変換情報に対応した変換とを組み合わせた変換である複合変換を行ったときの、前記第1の3次元データ群との位置合わせの誤差が、しきい値以下であるときに、前記第2の3次元データ群に含まれる残りの3次元データについて前記複合変換を行うことによって、前記第2の3次元データ群に含まれる各3次元データを前記第1の3次元データ群に対して位置合わせする。
すなわち、3次元測定器と回転台と対象物のいずれかの位置関係を変更した場合に、または変更後に得た3次元データを変更前に得た3次元データに繋がるように座標変換することによって変換情報を取得し、それによる位置合わせの誤差がしきい値以下であるときに、残りの3次元データについてもその変換情報を用いて位置合わせを行う。
また、いずれの位置関係が変更されたかを種々のしきい値を用いて判定し、判定結果に応じて最適なアクションをとることが可能であり、これによって3次元形状データの生成のためのユーザの作業負担を軽減することが可能である。
3次元データを取得した後でそれらを繋ぎ合わせてもよく、または3次元データを取得しながら、取得した3次元データについて、その都度、繋ぎ合わせを行ってもよい。
なお、本発明で用いる3次元測定器として、アクティブ型またはパッシブ型などの種々の方式の3次元測定器を用いることが可能である。
本発明によると、3次元測定器と回転台または回転台と対象物のいずれかの位置関係を変更した場合でも、変更前に得た3次元データと変更後に得た3次元データとを可能な範囲で自動的に位置合わせして繋ぎ合わせることが可能である。
図1は本発明に係る3次元測定システム1の概略の構成を示す斜視図、図2は3次元測定システム1の概略の構成を示す平面図、図3は3次元測定システム1における測定データの処理に関する概略の機能を示すブロック図、図4はスリット光投影法による3次元測定の原理を説明するための図、図5は対象物Qを測定して得られた3次元データDTの例を示す図である。
図1および図2において、3次元測定システム1は、3次元測定器2、および、対象物Qを載置するための回転台(回転ステージ)3を有する。回転台3の上に載置した対象物Qを、3次元測定器2により複数回の測定を行って複数の3次元データDTを取得し、それらの3次元データDTを繋ぎ合わせて対象物Qの3次元形状データDKを生成する。なお、図2に示すように、3次元測定器2で得た3次元データDTは、パーソナルコンピュータなどからなるホスト4に送られ、ホスト4において、3次元データDTに処理が加えられ、対象物Qについての3次元形状データDKが生成される。
3次元測定器2は、本実施形態においては、スリット光投影法によって対象物Qの表面の3次元形状の測定を行う。3次元測定器2は、対象物Qの表面上の複数のサンプリング点の3次元座標を特定するための測定データ(計測データ、スリット画像データともいう)とともに、対象物Qのカラー情報を示す2次元画像、サンプリング点の3次元座標を演算するために必要なパラメータ、キャリブレーションに必要なデータなどを取得する。
測定データは距離画像(距離を測定するための画像であって、測定対象物Qの3次元形状を算出するための画像)に変換される。距離画像は、パラメータを用いて三角測量法を適用する演算によりサンプリング点の3次元座標(3次元位置)に変換される。3次元座標を演算する際に、カメラ視線方程式および検出光平面方程式などが適用される。
このようにして求められるサンプリング点の3次元座標は、3次元測定器2に固有の座標系(以下「3次元測定器座標系V」という)における座標である。サンプリング点の3次元座標の集合が3次元データDTである。
スリット光投影法における3次元測定器2の光学系は、図16に示すように、スリット光Uを生成する投光光学系KTと、投光されたスリット光Uが被測定物表面で反射した反射光を撮像する受光レンズ系(撮像光学系)KJとにより構成される。投光光学系KTと受光レンズ系KJとの相対位置関係は既知であり、スリット光Uの投影角度は制御信号より求められ、反射光の撮像角度は撮像したスリット画像データのスリット像位置より求められるため、三角測量の原理により、スリット光Uの投影位置の3次元座標を求めることができる。また、スリット光Uをガルバノミラー64などにより走査しながら連続的に撮像することで、スリット光Uを走査した広範囲の3次元座標を求めることができる。
スリット光投影法を使用した3次元測定において、光源61にレーザを使用すると、表面が粗面である被測定物からの反射光を撮像系にて撮像する際に、レーザの可干渉性に起因するスペックルノイズにより測定ノイズが発生する。スペックルノイズの低減方法としては、光源の可干渉性を抑える方法や受光レンズ系KJの絞り径を大きくする方法がある。受光レンズ系KJの絞り径を大きくすると、被測定物が受光レンズ系KJのフォーカス位置付近にある場合はスペックルノイズの低減効果があるが、焦点深度が狭くなるためデフォーカス位置では像のボケにともない撮像したスリット光Uの幅が広がり、像の形状が崩れてくるため、スリット像の像位置算出をする際に誤差が増え、測定ノイズが悪化する。逆に絞り径を小さくすると、焦点深度が広くなりデフォーカス位置では像のボケが抑えられ、測定ノイズも抑えられるが、フォーカス位置ではスペックルノイズが悪化し、また撮像光量も減るため、測定可能な対象物が制限される。
そこで、3次元測定器2では、受光レンズ系KJの絞り72の形状を、投影したスリット光Uに並行な方向に長くスリット光Uに直交する方向に短い矩形、または楕円形状として、受光レンズ系KJの絞り位置に設置する。この構成により、スリット光Uの幅方向には焦点深度が広く像がボケにくいので、デフォーカス位置のノイズが抑えられ、フォーカス位置ではスリット光Uの長手方向に絞り開口が大きいのでスペックルノイズが抑えられる。よって測定奥行き全域にわたってノイズ低減が実現できる。また、撮像光量の低下も抑えられる。
なお、図16には、投光光学系KTとして、コリメータレンズ62、シリンドリカルレンズ63、およびガルバノミラー64が示されており、受光レンズ系KJとして、レンズ71、絞り72、およびレンズ73が示されている。
3次元測定器座標系Vは、3次元測定器2の受光軸上の光学中心点を原点VG(0,0,0)とし、受光軸に沿ってz軸が存在し、3次元測定器2の表面に沿ってx軸およびy軸が存在する(図4参照)。3次元測定器2の位置または姿勢を変化させると、それに応じて3次元測定器座標系Vは変更される。
本実施形態ではスリット光投影法(光投影法)による3次元測定器2を用いたが、これ以外に例えば複数枚の2次元画像からステレオ法などによって3次元データDTを作成する3次元測定器を用いてもよい。
なお、3次元データDTを求める処理は、3次元測定器の内部で行ってもよいが、ホスト4で行ってもよい。ホスト4で行う方が処理が速く、3次元測定器2の構成も簡単になる。
回転台3は、円盤状のテーブル31が、図示しないモータによって回転軸32を中心に回転駆動されるように構成されたものである。テーブル31の回転の開始と停止、および回転する場合の回転角度θは、ホスト4から出力される制御信号DSによって制御可能である。テーブル31が回転すると、テーブル31の上に載置された対象物Qも同時に回転する。
回転台3は、3次元測定器座標系Vとは異なった回転台3に固有の座標系(以下「回転台座標系S」という)を持っている。回転台座標系Sは、回転軸32またはその軸線がテーブル31の表面と交わる点を原点SGとし、テーブル31の表面に沿ってx軸およびy軸が存在し、回転軸32の軸線に沿ってz軸が存在する。回転軸32の軸線のことを単に「回転軸32」ということがある。回転台3の位置は、回転台3が存在する空間における座標系、例えば絶対空間座標系での原点SGの位置であり、また回転台3の姿勢は、そのような座標系での回転台座標系Sの傾きである。なお、回転台3それ自体を移動させた場合には、それに応じて回転台座標系Sが変化する。しかし、テーブル31が回転しただけの場合には回転台座標系Sに変化はない。
対象物Qの表面上の点は、回転台3の上に載置された状態では、回転台座標系Sによって表される。しかし、対象物Qを3次元測定器2で測定することによって得られた3次元データDTは、3次元測定器座標系Vにおける3次元データとなる。本実施形態において、3次元データDTを繋ぎ合わせる処理は、回転台座標系Sにおいて行われる。つまり、3次元測定器座標系Vで表現された3次元データDTを回転台座標系Sでの表現に変換した上で、回転台座標系Sにおいて、3次元データDTを繋ぎ合わせる処理が行われる。
図3に示すように、ホスト4には、制御部10、記憶部11、演算部12、表示部13、および入力部14などが設けられる。
制御部10は、3次元測定器2から出力される3次元データDTを適宜記憶部11に記憶させ、また、記憶部11に記憶した3次元データDTに処理を施して3次元形状データDKを生成する。また、制御部10は、対象物Qの全周についての3次元データDTを得るために、3次元測定器2および回転台3を制御する。
すなわち、制御部10は、例えば、3次元測定器2に対して測定指示信号を出力して測定を行わせ、また、回転台3に回転指令信号を出力してテーブル31を必要な角度だけ回転させる。また、3次元測定器2がロボットのアームなどの多関節のマニピュレータによって保持されている場合に、3次元測定器2の位置または姿勢を変更する際に、制御部10はその旨の信号をマニピュレータなどに出力して制御する。また、制御部10は、3次元測定器2から3次元データDT以外の種々のデータ、例えば、姿勢データ、温度データなどを受信することもあり、受信したそれらのデータを記憶部11に記憶する。また、制御部10は、3次元測定器2に対して、種々の設定信号やパラメータなどの制御信号DCを出力することもある。
記憶部11には、3次元測定器2から出力される複数の3次元データDTが記憶される。また、後述する回転軸情報を初めとして、3次元データDTを繋ぎ合わせて3次元形状データDKを生成するために必要な種々のデータ、パラメータ、演算式、プログラムなども記憶される。記憶部11として、磁気ディスク装置、半導体メモリ、その他の種々の記憶装置または記憶媒体が用いられる。
演算部12は、複数の3次元データDTを繋ぎ合わせて3次元形状データDKを生成する。その際に、複数の3次元データDTについて、1つずつ順に繋ぎ合わせることでもよい。また、複数の3次元データDTからなる3次元データ群DTG(DTG1、図5参照)について、それら複数の3次元データDTを先に繋ぎ合わせておき、繋ぎ合わせて1つになった3次元データ群DTGに対して、別の3次元データ群DTG(DTG2、図5参照)に含まれる複数の3次元データDTを順に繋ぎ合わせてもよい。また、それぞれ複数の3次元データDTからなる複数の3次元データ群DTGについて、それぞれの3次元データ群DTGの内部で複数の3次元データDTを先に繋ぎ合わせておき、繋ぎ合わせられた複数の3次元データ群DTGを順に繋ぎ合わせてもよい。
演算部12は、種々の画像またはデータに基づいて3次元データDTを作成する処理を行うことも可能である。演算部12における処理内容については後で詳しく説明する。
制御部10、記憶部11、および演算部12のこのような機能は、CPUまたはMPUがプログラムを実行することによって実現することができる。そのようなプログラムは、記憶部11に記憶しておいてもよく、また、ハードディスク、CD−ROM、DVDなどの種々の記録媒体に記憶しておいてもよい。また、通信回線を介して適当なサーバからダウンロードするようにしてもよい。これらのためにパーソナルコンピュータを用いてもよい。
表示部13は、LCDなどを用いたディスプレイ装置である。表示部13の表示面には、3次元データDT、3次元形状データDK、またはそれらの処理の過程における種々のデータや画像、またはメッセージなどが表示される。
入力部14は、ユーザが操作を行うことにより、制御部10などに種々の指令を与え、またはデータの入力を行う。
なお、ホスト4の機能を3次元測定器2の内部に組み込むことも可能である。その場合には、3次元測定器2において、測定によって得た3次元データDTを用いて、3次元形状データDKを生成することとなる。また、3次元データDTを取得するごとに、それらを繋ぎ合わせ、3次元形状データDKを徐々に完成させていくことも可能である。なお、対象物Qについての3次元形状データDKは、必ずしも完全なものでなくてもよく、3次元形状データDKの用途に応じて必要な部分が備わっていればよい。例えば、対象物Qの底面の3次元データDTはなくてもよい場合が多い。
次に、図5を参照して3次元測定器2の原点VGについて説明する。なお、原点VGは以下に述べるレンズの主点Oと一致するので、原点を「O」で表すこともある。
図4において、投光の起点Aと受光系のレンズの主点Oつまり原点VGとを結ぶ基線AOが受光軸と垂直になるように、投光系と受光系とが配置されている。受光軸は撮像面S2に対して垂直である。
主点Oを3次元測定器座標系Vの原点とする。受光軸がZ軸、基線AOがY軸、スリット光の長さ方向がX軸である。スリット光Uが物体上の点P(X,Y,Z)を照射したときの投光軸と投光基準面(受光軸と平行な投光面)との角度をθa、受光角をθpとすると、点Pの座標Zは(1)式で表される。
基線長L=L1+L2=Ztanθa+Ztanθp
∴ Z=L/(tanθa+tanθp) …(1)
なお、受光角θpとは、点Pと主点Oとを結ぶ直線と、受光軸を含む平面(受光軸平面)とがなす角度である。
∴ Z=L/(tanθa+tanθp) …(1)
なお、受光角θpとは、点Pと主点Oとを結ぶ直線と、受光軸を含む平面(受光軸平面)とがなす角度である。
撮像倍率β=b/Zであるので、撮像面S2の中心と受光画素とのX方向の距離をxp、Y方向の距離をypとすると〔図4(a)参照〕、点Pの座標X,Yは、
X=xp/β
Y=yp/β
となる。
X=xp/β
Y=yp/β
となる。
角度θaは、スリット光Uの偏向の角速度から求められる。受光角θpは、
tanθp=b/yp
の関係から算出できる。つまり、撮像面S2上での位置(xp,yp)を測定することにより、そのときの角度θaに基づいて点Pの3次元座標を求めることができる。
tanθp=b/yp
の関係から算出できる。つまり、撮像面S2上での位置(xp,yp)を測定することにより、そのときの角度θaに基づいて点Pの3次元座標を求めることができる。
このように、スリット光投影法による3次元データD5は、カメラパラメータや投光光学系パラメータなどの種々のパラメータを用いて、カメラ視線方程式および検出光平面方程式などを適用して演算で求めることができる。
なお、以上の説明は、理想的な薄肉レンズ系を前提としたものである。実際の厚肉レンズ系では、図4(c)のように主点Oは前側主点Hと後側主点H’とに分かれる。
次に、このような3次元測定システム1において、3次元形状データDKを生成するための大まかな処理について説明する。
なお、対象物Qについての3次元データDT、および3次元データ群DTG(第1の3次元データ群DTG1、第2の3次元データ群DTG2)については、図5を参照すればよい。
図5において、第1の3次元データ群DTG1に含まれる3つの3次元データDT1〜3は、図1に示す対象物Qを、テーブル31を120度ずつ回転させて3次元測定器2で測定して得たものであり、第2の3次元データ群DTG2に含まれる3つの3次元データDT4〜6は、3次元測定器2を斜め上方へ移動させた後、同様にテーブル31を120度ずつ回転させて測定して得たものである。
すなわち、新たに測定した3次元データDT4を測定済みの3次元データDT1〜3と繋がるように座標変換して位置合わせすることによって新たに測定した3次元データDT4についての位置合わせのための変換情報Mを取得する第1の処理と、変換情報Mに基づいて得られる新たに測定した3次元データDT4と測定済みの3次元データDT1〜3との位置合わせの誤差がしきい値TH以下であるか否かを判断する第2の処理と、位置合わせの誤差がしきい値THであるときに、新たに測定した3次元データDT4に対して回転台3を回転させることのみによって測定して得られる3次元データである次測定3次元データDT5〜6に対し、当該回転台3の回転角度θについての情報と変換情報Mとを用いて測定済みの3次元データDT1〜3との位置合わせを行う第3の処理とを、処理装置であるホスト4に実行させる。
第3の処理において、次測定3次元データ5〜6に対し、変換情報Mに基づく変換と、回転角度θについての情報に基づく変換とを、この順に施すようにしてもよい。
また、第3の処理において、次測定3次元データ5〜6に対し、3次元測定器2の座標系である3次元測定器座標系Vから回転台の座標系である回転台座標系Sへの変換と、回転角度θについての情報に基づく変換と、変換情報Mに基づく変換とを、この順に施すようにしてもよい。
位置合わせの誤差がしきい値THを越えるときに、回転台3の位置関係情報を校正するための第4の処理を、処理装置に実行させてもよい。
また、他の形態によるときは、3次元測定器2と回転台3および回転台3と対象物Qのそれぞれの互いの位置関係を変更することなく回転台3を回転させることによって得られる一連の複数の3次元データDT1〜3である第1の3次元データ群DTG1と、3次元測定器1と回転台3または回転台3と対象物Qのいずれかの位置関係を変更した後で、3次元測定器2と回転台3および回転台3と対象物Qの互いの位置関係を変更することなく回転台3を回転させることによって得られる一連の複数の3次元データDT4〜6である第2の3次元データ群DTG2とを、繋ぎ合わせるに当たり、第2の3次元データ群DTG2に含まれる1つの3次元データDT4を、第1の3次元データ群DTG1と繋がるように座標変換して位置合わせすることによって、当該3次元データDTについての位置合わせのための変換情報Mを取得し、第2の3次元データ群DTG2に含まれる他の1つの3次元データDT5について、回転台3の回転に対応した変換と変換情報Mに対応した変換とを組み合わせた変換である複合変換MGを行ったときの、第1の3次元データ群DTG1との位置合わせの誤差が、しきい値TH以下であるときに、第2の3次元データ群DTG2に含まれる残りの3次元データDT6について複合変換MGを行うことによって、第2の3次元データ群DTG2に含まれる各3次元データDT4〜6を第1の3次元データ群DTG1に対して位置合わせする。
上に述べた複合変換MGは、例えば次の(1)式によって行う、
Pθ(S)=RS(θ)・M1・P’(V) ……(1)
ただし、
P: 対象物上の点
P’:3次元測定器と回転台との位置関係を変更したときの点Pに対応する変更後 における対象物上の点
Pθ:回転台を初期角度から角度θ回転したときの点Pに対応する対象物上の点
P’θ:回転台を初期角度から角度θ回転したときの点P’に対応する対象物上の 点
Pθ(S):回転台座標系Sにおける点Pθの座標
P’(V):3次元測定器座標系Vにおける点P’の座標
RS(θ):回転台座標系Sにおいて回転軸周りに角度θ回転させる回転変換
M1:変換情報に対応した変換
なお、図5に示された3次元データDT1〜6のいずれか1つまたは複数を、「3次元データDT」と記載することがある。また、図5に示された3次元データDT1〜6以外の3次元データについても、「3次元データDT」と記載する。
Pθ(S)=RS(θ)・M1・P’(V) ……(1)
ただし、
P: 対象物上の点
P’:3次元測定器と回転台との位置関係を変更したときの点Pに対応する変更後 における対象物上の点
Pθ:回転台を初期角度から角度θ回転したときの点Pに対応する対象物上の点
P’θ:回転台を初期角度から角度θ回転したときの点P’に対応する対象物上の 点
Pθ(S):回転台座標系Sにおける点Pθの座標
P’(V):3次元測定器座標系Vにおける点P’の座標
RS(θ):回転台座標系Sにおいて回転軸周りに角度θ回転させる回転変換
M1:変換情報に対応した変換
なお、図5に示された3次元データDT1〜6のいずれか1つまたは複数を、「3次元データDT」と記載することがある。また、図5に示された3次元データDT1〜6以外の3次元データについても、「3次元データDT」と記載する。
また、複合変換MGを次の(2)式によって行うことも可能である。
Pθ(S)=M2・RS(θ)・C(V→S)・P’(V) ……(2)
ただし、
P: 対象物上の点
P’:3次元測定器と回転台との位置関係を変更したときの点Pに対応する変更後 における対象物上の点
Pθ:回転台を初期角度から角度θ回転したときの点Pに対応する対象物上の点
P’θ:回転台を初期角度から角度θ回転したときの点P’に対応する対象物上の 点
Pθ(S):回転台座標系Sにおける点Pθの座標
P’(V):3次元測定器座標系Vにおける点P’の座標
RS(θ):回転台座標系Sにおいて回転軸周りに角度θ回転させる回転変換
C(V→S):3次元測定器座標系Vから回転台座標系Sへの座標変換
M2:変換情報に対応した変換
また、他の形態として、複合変換MGを行ったときの位置合わせの誤差がしきい値以下とならないときに、その旨を示すメッセージをユーザに対して出力する。複合変換MGを行ったときの位置合わせの誤差がしきい値以下とならない主な原因は、3次元測定器2と回転台3および回転台3と対象物Qのそれぞれの互いの位置関係がいずれも変更されたことによる。この場合には、3次元測定器座標系Vにおける回転台3の位置および姿勢(回転軸情報)を校正する必要があるので、メッセージによってユーザにそれを促す。
ただし、
P: 対象物上の点
P’:3次元測定器と回転台との位置関係を変更したときの点Pに対応する変更後 における対象物上の点
Pθ:回転台を初期角度から角度θ回転したときの点Pに対応する対象物上の点
P’θ:回転台を初期角度から角度θ回転したときの点P’に対応する対象物上の 点
Pθ(S):回転台座標系Sにおける点Pθの座標
P’(V):3次元測定器座標系Vにおける点P’の座標
RS(θ):回転台座標系Sにおいて回転軸周りに角度θ回転させる回転変換
C(V→S):3次元測定器座標系Vから回転台座標系Sへの座標変換
M2:変換情報に対応した変換
また、他の形態として、複合変換MGを行ったときの位置合わせの誤差がしきい値以下とならないときに、その旨を示すメッセージをユーザに対して出力する。複合変換MGを行ったときの位置合わせの誤差がしきい値以下とならない主な原因は、3次元測定器2と回転台3および回転台3と対象物Qのそれぞれの互いの位置関係がいずれも変更されたことによる。この場合には、3次元測定器座標系Vにおける回転台3の位置および姿勢(回転軸情報)を校正する必要があるので、メッセージによってユーザにそれを促す。
なお、そのようなメッセージは、例えば表示部13によって表示され、または音声として出力される。ユーザは、そのメッセージによって、ホスト4はその3次元データDTを自動的に位置合わせして繋ぎ合わせることができないことを知る。その場合に、ユーザは、回転台3の回転軸情報を校正する。校正の方法は、種々の公知の方法を用いることが可能である。校正された回転軸情報を用いることによって、取得した3次元データDTの位置合わせを行うことも可能である。または、ユーザが手動によって3次元データDTの位置合わせを行うことでもよい。また、3次元データDTを最初からまたは必要な部分から取得し直すことでもよい。
また、他の形態として、3次元測定器2と回転台3および回転台3と対象物Qのそれぞれの互いの位置関係を変更することなく回転台3を回転させることによって一連の複数の3次元データDTである第1の3次元データ群DTG1を得る第1ステップと、3次元測定器2と回転台3または回転台3と対象物Qのいずれかの位置関係を変更する第2ステップと、第2ステップの後で、3次元測定器2と回転台3および回転台3と対象物Qのそれぞれの互いの位置関係を変更することなく回転台3を回転させることによって一連の複数の3次元データDTである第2の3次元データ群DTG2を得る第3ステップと、第2の3次元データ群DTG2に含まれる1つの3次元データDT4を、第1の3次元データ群DTG1と繋がるように座標変換して位置合わせすることによって、当該3次元データDT4についての位置合わせのための変換情報Mを取得する第4ステップと、第2の3次元データ群DTG2に含まれる他の1つの3次元データDT5について、回転台3の回転に対応した変換と変換情報Mに対応した変換とを組み合わせた変換である複合変換MGを行ったときの、第1の3次元データ群DTG1との位置合わせの誤差が、しきい値TH以下であるか否かを判定する第5ステップと、第5ステップにおいてしきい値TH以下であると判定されたときに、第2の3次元データ群DTG2に含まれる残りの3次元データDT6について複合変換MGを行うことによって、第2の3次元データ群DTG2に含まれる各3次元データDT6を第1の3次元データ群DTG1に対して位置合わせする第6ステップと、を実行することによって、3次元形状データDKを生成することも可能である。
また、さらに他の形態として、3次元測定器2と回転台3および回転台3と対象物Qのそれぞれの互いの位置関係を変更することなく回転台3を回転させることによって一連の複数の3次元データである第1の3次元データ群DTG1を得る第1ステップと、3次元測定器2と回転台3または回転台3と対象物Qのいずれかの位置関係を変更する第2ステップと、第2ステップの後に複数の3次元データDT4〜6を得る第3ステップと、第3ステップで得られる1つの3次元データDT4を、第1の3次元データ群DTG1と繋がるように座標変換して位置合わせすることによって、当該3次元データDT4についての位置合わせのための変換情報Mを取得する第4ステップと、第3ステップで得られる他の1つの3次元データDT5について、回転台3の回転に対応した変換と変換情報Mに対応した変換とを組み合わせた変換である複合変換MGを行ったときの、第1の3次元データ群DTG1との位置合わせの誤差が、しきい値TH以下であるか否かを判定する第5ステップと、第5ステップにおいてしきい値TH以下であると判定されたときに、第3ステップで得られるさらに他の3次元データDT6に対して複合変換MGを行うことによって、それらの3次元データDT6を第1の3次元データ群DTG1に対して位置合わせする第6ステップと、を実行することによって、3次元形状データDKを生成することも可能である。
また、さらに他の形態として、回転台3を回転させることによって一連の複数の3次元データである第1の3次元データ群DTG1を得る第1ステップと、第1ステップの後で第2の3次元データDT4を得る第2ステップと、第2の3次元データDT4に対して回転台3の回転に対応する変換を行うことによって第1の3次元データ群DTG1に位置合わせする第3ステップと、第3ステップでの位置合わせの誤差がしきい値TH以下であるか否かを判定する第4ステップと、第4ステップにおいてしきい値TH以下でないと判定されたときに、第2の3次元データDT4を第1の3次元データ群DTG1と繋がるように座標変換して位置合わせすることによって、第2の3次元データDT4についての位置合わせのための変換情報Mを取得する第5ステップと、回転台3をさらに回転させて得られる第3の3次元データDT5について、当該回転台3の回転に対応した変換と変換情報Mに対応した変換とを組み合わせた変換である複合変換MGを行ったときの、第1の3次元データ群DTG1との位置合わせの誤差が、しきい値TH以下であるか否かを判定する第6ステップと、第6ステップにおいてしきい値TH以下であると判定されたときに、回転台3をさらに回転させて得られる第4の3次元データDT6に対して複合変換MGを行うことによって、第4の3次元データDT6を第1の3次元データ群DTG1に対して位置合わせする第7ステップと、を有することによって、3次元形状データDKを生成することも可能である。
また、さらに他の形態として、回転台3を回転させた後に得た第2の3次元データDT4を回転前に得た第1の3次元データDT1〜3に対して回転台3の回転に対応する変換を行うことによって位置合わせするステップと、位置合わせの誤差がしきい値TH以下でないときに、第2の3次元データDT4を第1の3次元データDT1〜3と繋がるように座標変換して位置合わせすることによって、第2の3次元データDT4についての位置合わせのための変換情報Mを取得するステップと、回転台3をさらに回転させて得られる第3の3次元データDT5について、当該回転台3の回転に対応した変換と変換情報Mに対応した変換とを組み合わせた変換である複合変換MGを行ったときの、目標となる3次元データDT1〜3との位置合わせの誤差が、しきい値TH以下であるか否かを判定するステップと、しきい値TH以下であるときに、回転台3をさらに回転させて得られる第4の3次元データDT6に対して複合変換MGを行うことによって、第4の3次元データDT6を目標となる3次元データDT1〜3に対して位置合わせするステップと、を有することによって、3次元形状データDKを生成することも可能である。
以下において、さらに具体的に説明する。
〔回転台を用いた3次元測定の説明〕
図6は3次元測定器座標系Vと回転台座標系Sとの関係を示す図である。
〔回転台を用いた3次元測定の説明〕
図6は3次元測定器座標系Vと回転台座標系Sとの関係を示す図である。
上に述べたように、回転台座標系Sにおいては、回転軸32の軸線に沿ってz軸が存在し、z軸はテーブル31の表面に垂直である。回転台座標系Sは、その原点SGがテーブル31の表面と回転軸32との交点であり、z軸の正の方向がテーブル31の表面から上向き鉛直方向と一致する右手系であるとする。
回転軸32の3次元測定器座標系Vにおける方向ベクトルは、
h=(abc)
であるとする。ここで、hは、上に述べた特開平7−174538に開示された方法によって算出される。また、回転台座標系Sの原点SGの3次元測定器座標系Vにおける座標は、テーブル31の表面を3次元測定器2で測定して得たデータを処理して得られる平面方程式と回転軸32の方程式との交点として求められる。
h=(abc)
であるとする。ここで、hは、上に述べた特開平7−174538に開示された方法によって算出される。また、回転台座標系Sの原点SGの3次元測定器座標系Vにおける座標は、テーブル31の表面を3次元測定器2で測定して得たデータを処理して得られる平面方程式と回転軸32の方程式との交点として求められる。
また、テーブル31の上に載置された対象物Qについて、テーブル31が初期角度であるときのその対象物Qの表面における任意の点を点Pとする。そして、テーブル31が初期角度から角度θだけ回転したときの対象物Qの同じ点を点Pθとする。点Pθの3次元測定器座標系Vにおける座標がP1(Xp,Yp,Zp)t であり、点Pθの回転台座標系Sにおける座標がP2(xp,yp,zp)t であるとする。
その場合に、P1からP2への変換は、次の(3)式によって行うことができる。
P2=RS(θ)・A・T・P1 ……(3)
ただし、
T:原点SGの3次元測定器座標系Vにおける座標を、3次元測定器座標系Vの原 点VGに移動するための平行移動変換
A:方向ベクトルhを回転台座標系Sのz軸の正の方向に一致させる変換
RS(θ):回転台座標系Sにおいて回転軸周りに角度θ回転させる回転変換
ここで、変換Aは次の(4)(5)式で示される。
ただし、
T:原点SGの3次元測定器座標系Vにおける座標を、3次元測定器座標系Vの原 点VGに移動するための平行移動変換
A:方向ベクトルhを回転台座標系Sのz軸の正の方向に一致させる変換
RS(θ):回転台座標系Sにおいて回転軸周りに角度θ回転させる回転変換
ここで、変換Aは次の(4)(5)式で示される。
また、回転変換RS(θ)は次の(6)式で示される。
テーブル31の各回転角度における対象物Qの表面上の各点に上の(3)式の変換を施すことで、3次元測定器2によって得られた3次元測定器座標系Vの3次元データDTは回転台座標系Sに変換され、かつ位置合わせが行われ、これによって対象物Qの全周に渡る3次元データDTが得られる。
また、回転台座標系Sに変換された座標P2は、さらに対象物QのCADデータ座標系などの他の座標系における座標P3に変換される場合もある。つまり、次の式のような変換を行う。
P3=Mcad ・P2
ここで、「Mcad 」は、回転台座標系SからCADデータ座標系等への変換である。
ここで、「Mcad 」は、回転台座標系SからCADデータ座標系等への変換である。
なお、3次元データDTを互いに位置合わせして繋ぐ方法として、種々の方法を用いることが可能である。例えば、米国特許第5715166号に開示されたICPアルゴリズム(Iterative Closest Points Algorithm)を用いることができる。
なお、位置および姿勢の関係、つまり位置姿勢関係を「位置関係」と記載する。
〔ケース1・3次元測定器と回転台との位置関係のみが変化した場合〕
ケース1では、回転台3と対象物Qとの位置関係には変更がなく、3次元測定器2と回転台3との位置関係のみが変更された場合について、その変更された位置関係(変換M1)を求めて3次元データDTを位置合わせする方法について説明する。
〔ケース1・3次元測定器と回転台との位置関係のみが変化した場合〕
ケース1では、回転台3と対象物Qとの位置関係には変更がなく、3次元測定器2と回転台3との位置関係のみが変更された場合について、その変更された位置関係(変換M1)を求めて3次元データDTを位置合わせする方法について説明する。
図7は回転台3の位置および姿勢を変更したときの座標系の関係を示す図である。
図7において、位置および姿勢を変更する前の回転台3における回転台座標系Sに対して、変更後の回転台3の回転台座標系は「S’」で示されている。また、回転台座標系Sにおける対象物Qの表面の任意の点P,Pθは、変更後においては点P’,P’θに移動する。つまり、点Pと点P’、点Pθと点P’θは、いずれも、対象物Qについての3次元データDT上の対応点の対である。これら、点Pと点P’、点Pθと点P’θなどは、全ての対応点の組み合わせの中から任意に選択することができる。
3次元測定器2により対象物Qを新たに測定して得られた3次元データDT4〜6を、既に測定されて位置合わせ済みの3次元データDT1〜3(または3次元データ群DTG1)に対して位置合わせを行うために必要な処理は、次のとおりである。
すなわち、この場合には、回転台座標系Sが3次元測定器2に対して相対的に動いているだけであるので、変更後の新しい回転台座標系S’を求めて、3次元測定器座標系Vから回転台座標系S’への変換を実施すればよい。
以下にその変換の方法を順に説明する。
(1) 点Pθの回転台座標系Sにおける座標Pθ(S)は、点Pの3次元測定器座標系Vにおける座標を回転台座標系Sに変換し、さらに回転台座標系Sにおいて回転軸32の周りに角度θだけ回転させた座標である。
(1) 点Pθの回転台座標系Sにおける座標Pθ(S)は、点Pの3次元測定器座標系Vにおける座標を回転台座標系Sに変換し、さらに回転台座標系Sにおいて回転軸32の周りに角度θだけ回転させた座標である。
Pθ(S)=RS(θ)・C(V→S)・P(V) ……(7)
ただし、
P(V):3次元測定器座標系Vにおける点Pの座標
C(V→S):3次元測定器座標系Vから回転台座標系Sへの座標変換
RS(θ):回転台座標系Sにおいて回転軸周りに角度θ回転させる回転変換
なお、P(V)は、3次元測定器2で測定して得た3次元データDTの座標値である。C(V→S)は、回転軸32の校正によって算出されるものであり、ここでは算出済みである。
(2) 点P’θの回転台座標系S’における座標P’θ(S’)は、点P’の3次元測定器座標系Vにおける座標を回転台座標系S’に変換し、さらに回転台座標系S’において回転軸32の周りに角度θだけ回転させた座標である。
ただし、
P(V):3次元測定器座標系Vにおける点Pの座標
C(V→S):3次元測定器座標系Vから回転台座標系Sへの座標変換
RS(θ):回転台座標系Sにおいて回転軸周りに角度θ回転させる回転変換
なお、P(V)は、3次元測定器2で測定して得た3次元データDTの座標値である。C(V→S)は、回転軸32の校正によって算出されるものであり、ここでは算出済みである。
(2) 点P’θの回転台座標系S’における座標P’θ(S’)は、点P’の3次元測定器座標系Vにおける座標を回転台座標系S’に変換し、さらに回転台座標系S’において回転軸32の周りに角度θだけ回転させた座標である。
P’θ(S’)=RS’(θ)・C(V→S’)・P’(V) ……(8)
ただし、
P’(V):3次元測定器座標系Vにおける点P’の座標
C(V→S’):3次元測定器座標系Vから回転台座標系Sへの座標変換
RS’(θ):回転台座標系S’において回転軸周りに角度θ回転させる回転変換
なお、C(V→S’)は未知の変換であり、ここで求めたい変換である。
ただし、
P’(V):3次元測定器座標系Vにおける点P’の座標
C(V→S’):3次元測定器座標系Vから回転台座標系Sへの座標変換
RS’(θ):回転台座標系S’において回転軸周りに角度θ回転させる回転変換
なお、C(V→S’)は未知の変換であり、ここで求めたい変換である。
また、回転台座標系Sにおいて回転軸周りに角度θ回転させる回転変換RS(θ)と、回転台座標系S’において回転軸周りに角度θ回転させる回転変換RS’(θ)とは、同じ変換である。つまり、RS(θ)=RS’(θ)である。
(3) 3次元測定器座標系Vにおける点P’の座標P’(V)を、回転台座標系Sにおける点Pの座標P(S)に一致させる変換、そのような変換をM1とする。つまり、
P(S)=M1・P’(V) ……(9)
とする。
(3) 3次元測定器座標系Vにおける点P’の座標P’(V)を、回転台座標系Sにおける点Pの座標P(S)に一致させる変換、そのような変換をM1とする。つまり、
P(S)=M1・P’(V) ……(9)
とする。
変換M1は、3次元測定器2と回転台3との位置関係が変化した後に新たに測定した場合の3次元測定器座標系Vにおける3次元データDTを、その位置関係が変化する前の回転台座標系Sにおける3次元データDTに一致させる変換である。
変換M1が求められる前は、3D画像の表示上の都合などのためにその時点で既知である3次元測定器座標系Vから回転台座標系Sへの座標変換C(V→S)などの変換を、P’(V)に施す場合がある。この場合は、C(V→S)の逆変換を施してC(V→S)・P’(V)をP’(V)に戻してからM1を求めればよい。また他の方法としては、C(V→S)が施された後の3次元データC(V→S)・P’(V)を、3次元測定器2と回転台3との位置関係が変化する前の回転台座標系Sにおける3次元データDT一致させる変換M’を求めて、M1=M’・C(V→S)とすればよい。また、C(V→S)は3次元データの形状を保持したまま移動・回転する任意の変換C’に置き換えてもよい。この場合M1=M’・C’となる。
変換M1は、上に述べた公知のICPアルゴリズムに基づく演算を行なうことによって算出する。その場合に、ICPアルゴリズムに基づく演算を行なうことによって変換情報Mを取得し、取得した変換情報Mに対応した変換M1を求めてもよい。取得した変換情報Mと変換M1とが同じであってもよい。つまり、ICPアルゴリズムを用いて取得した変換情報Mに基づいて変換M1を求めることであってもよい。このように、ICPアルゴリズムを用いて変換M1を求めることができる。
ICPアルゴリズムは、基準となる3次元データ上の各点について、他方の3次元データ上までの距離が最短となる点(最近傍点)を対応点として求め、3次元データの移動後における最近傍点までの距離の和が最小となる移動量を計算する手法である。
ICPアルゴリズムに基づく演算を反復して行うことによって、基準となる3次元データと他方の3次元データとの距離が次第に小さくなる。2つの3次元データの距離が所定のしきい値以下になった時点で反復を終了してもよいし、しきい値判定をすることなく所定回数で演算を終了してもよい。この場合のICPアルゴリズムに基づく演算の反復の所定回数は、例えば種々の3次元データに対してデータ間の距離が所定のしきい値以下になる反復回数をあらかじめ求めることなどにより決定される。
ここでは、3次元測定器2と回転台3との位置関係が変化した後に新たに測定した場合の3次元測定器座標系Vにおける3次元データDTの面(点P’および点P’θの集合)と、その位置関係が変化する前の回転台座標系Sにおける3次元データDTの面(点Pおよび点Pθの集合)との距離が、次第に小さくなっていくように、ICPアルゴリズムに基づく演算を所定回数反復して行うことによって算出する。
変換M1を求めるための他の手法として、特開平9−5051に開示された手法を用いることが可能である。この手法は、対象物Qの2次元画像と3次元データとを測定し、2次元画像に基づいて、位置合わせ対象の3次元データ間の対応点を指定し、3次元データの貼り合わせを行なう手法である。なお、対象物Qが、工業製品のように対称な形状やよく似た形状の反復がある物である場合には、輝度変化などの画像情報に基づいて自動的に対応点を抽出する場合には間違った対応付けがなされることがあるが、対応点を手動で指定する場合には、手間がかかるものの確実な対応点付けが可能となる。
変換M1を求めるためのさらに他の手法は、最初に上に述べた特開平9−5051の方法を用いて凡その位置合わせを行った後に、ICPアルゴリズムを用いて位置の微調整を行う方法である。この方法も公知である。
このようにして取得した変換M1を用いることにより、上の(9)式のように、3次元測定器座標系Vにおける点P’の座標P’(V)を回転台座標系Sにおける点Pの座標P(S)に変換することができる。
その場合に、対象物Qは回転台3の上で移動していないので、
P(S)=P’(S’)
であり、したがって、
P’( S’)=M1・P’(V) ……(10)
である。
P(S)=P’(S’)
であり、したがって、
P’( S’)=M1・P’(V) ……(10)
である。
また、対象物Qは回転台3の上で移動しておらず、変換M1によって回転台座標系S’の回転軸は回転台座標系Sの回転軸に一致するので、次式が成立する。
Pθ(S)=P’θ(S’)
=RS(θ)・M1・P’(V)……(11)
つまり、変換M1は、3次元測定器座標系Vから回転台座標系S’への座標変換C(V→S’)と等しい。
=RS(θ)・M1・P’(V)……(11)
つまり、変換M1は、3次元測定器座標系Vから回転台座標系S’への座標変換C(V→S’)と等しい。
M1=C(V→S’)
(4) したがって、3次元測定器2と回転台3との位置関係のみが変化した場合のデータセット間の接続は、上の(11)式で表される。
(4) したがって、3次元測定器2と回転台3との位置関係のみが変化した場合のデータセット間の接続は、上の(11)式で表される。
上の(11)式の2行目は、上に述べた(1)式と同一である。
すなわち、3次元測定器座標系Vにおける点P’の座標P’(V)に対し、変換M1および回転変換RS(θ)をこの順に適用することによって、回転台座標系Sにおける座標Pθ(S)に変換することができる。変換M1および回転変換RS(θ)をこの順に適用する変換が、上に述べた複合変換MGの内容である。
なお、P’(V)は、上の説明で明らかなように、3次元測定器2と回転台3との位置関係が変化した後における対象物Qの表面の点P’の3次元測定器座標系Vにおける座標である。
すなわち、ケース1においては、最初に、図5に示す3次元データDT1〜3を、回転台3を回転させることにより順に取得する。取得された3次元データDT1〜3は、3次元測定器座標系Vにおける点Pおよび点Pθの集合である。次に、3次元測定器2を斜め上方へ移動させた後、回転台3を回転させることによりさらに3つの3次元データDT4〜6を取得する。ここで取得された3次元データDT4〜6は、3次元測定器座標系Vにおける点P’の集合である。なお、3次元データDT1〜6を取得する際に、回転角度θのデータも取得しておく。
3次元測定器2の移動前に取得した3つの3次元データDT1〜3を、第1の3次元データ群DTG1とし、これらを最初に繋ぎ合わせる。その繋ぎ合わせに当たって、3次元データDT1〜3に対して、3次元測定器座標系Vから回転台座標系Sへの座標変換C(V→S)を行う。そして、回転台座標系Sにおいて、取得しておいた回転角度θを用いた回転変換RS(θ)を行うことによって位置合わせを行い、繋ぎ合わせる。これが、上の(7)式による座標変換である。
次に、第2の3次元データ群DTG2である3次元データDT4〜6について、位置合わせを行う。位置合わせは、回転台座標系Sにおいて行われる。まず、1つの3次元データDT4を、第1の3次元データ群DTG1に繋ぎ合わせる。その際に、上に述べた種々の公知の方法を用いて位置合わせを行い、変換情報Mを取得し、変換M1を求める。これと同時に、3次元データDT4についての位置合わせが完了する。
変換M1が求まったので、次の1つのデータである3次元データDT5について、上の(11)式つまり(1)式を用いて座標変換を行い、回転台座標系S上において3次元データDT1〜4に対する位置合わせを行う。その後、さらに次の1つのデータである3次元データDT6について、上の(11)式を用いて座標変換を行い、回転台座標系S上において3次元データDT1〜5に対する位置合わせを行う。このようにして、3次元データDT1〜6を順次位置合わせして繋ぎ合わせる。全部の3次元データDT1〜6を繋ぎ合わせることによって、3次元形状データDKが得られる。これらの処理は自動的に行われる。
このように、ケース1の実施形態によると、3次元測定器2と回転台3との位置関係を変更した場合に、変更後の3次元測定器2と回転台3との位置関係が分からなくても、変更前に得た3次元データDT1〜3と変更後に得た3次元データDT4〜6とを自動的に位置合わせして繋ぎ合わせることが可能である。
なお、上に述べたような複合変換MGによって3次元形状データDKを生成することができるのは、変換M1を求めたときの3次元データDTの位置合わせの誤差がしきい値TH1以下であり、かつ、上の(11)式を用いて他の3次元データDTを変換したときの位置合わせの誤差もしきい値TH1以下であるときに限られる。つまり、その誤差がしきい値TH1を越える場合には、生成される3次元形状データDKの精度が低くなるので、この方法では生成できない。
3次元データDTの位置合わせの誤差がしきい値TH1以下であるか否かの判断は、変換M1と複合変換MGによって3次元データDTの位置合わせが全て終了した後に行ってもよい。
しかし、回転台3と対象物Qとの位置関係に変更がなく、3次元測定器2と回転台3との位置関係のみが変更された場合には、上に述べた複合変換MGによって十分な精度が得られるのであり、3次元データDTの位置合わせの誤差はしきい値TH1以下となる。つまり、3次元データDTの位置合わせの誤差がしきい値TH1以下であるか否かの判断は、3次元測定器2、回転台3、および対象物Qの位置関係の変更がケース1に当てはまるか否かをチェックすることと等しい。したがって、そのようなチェックが正しく行われるような値をしきい値TH1として設定しておけばよい。
しきい値TH1は、種々の形状の対象物Qについて、3次元測定器2を移動させて測定を行い、3次元データDTの位置合わせの誤差の範囲を予め取得することによって決定することが可能である。
〔ケース2・回転台と対象物との位置関係のみが変化した場合〕
ケース2では、3次元測定器2と回転台3との位置関係には変更がなく、回転台3と対象物Qとの位置関係のみが変更された場合について、その変更された位置関係(変換M2)を求めて3次元データDTを位置合わせする方法について説明する。
〔ケース2・回転台と対象物との位置関係のみが変化した場合〕
ケース2では、3次元測定器2と回転台3との位置関係には変更がなく、回転台3と対象物Qとの位置関係のみが変更された場合について、その変更された位置関係(変換M2)を求めて3次元データDTを位置合わせする方法について説明する。
ケース2は、例えば、対象物Qの底面部を測定するために対象物Qをひっくりがえした場合や、対象物Qの形状が複雑なために種々姿勢を変えて測定した場合などに生じる。
図8は回転台3上の対象物Qの位置および姿勢を変更したときの座標系の関係を示す図である。
図8において、3次元測定器座標系Vおよび回転台座標系Sに変更はないが、回転台3上において、対象物Q上の点P,Pθは、点P’,P’θに変更されている。
この場合に、3次元データDTの位置合わせに必要な処理は、回転台座標系Sにおいて、対象物Qの回転変換(R)および移動変換(T)を実施すればよい。
以下にその変換の方法を順に説明する。
(1) 点Pθの回転台座標系Sにおける座標は、点Pの3次元測定器座標系Vにおける座標を回転台座標系Sに変換し、回転台座標系Sにおいて回転軸32の周りに角度θだけ回転させた座標である。
(1) 点Pθの回転台座標系Sにおける座標は、点Pの3次元測定器座標系Vにおける座標を回転台座標系Sに変換し、回転台座標系Sにおいて回転軸32の周りに角度θだけ回転させた座標である。
Pθ(S)=RS(θ)・C(V→S)・P(V) ……(12)
ただし、
P(V):3次元測定器座標系Vにおける点Pの座標
C(V→S):3次元測定器座標系Vから回転台座標系Sへの座標変換
RS(θ):回転台座標系Sにおいて回転軸周りに角度θ回転させる回転変換
(2) 点P’θの回転台座標系Sにおける座標は、点P’の3次元測定器座標系Vにおける座標を回転台座標系Sに変換し、回転台座標系S内で回転軸32の周りに角度θだけ回転させた座標である。
ただし、
P(V):3次元測定器座標系Vにおける点Pの座標
C(V→S):3次元測定器座標系Vから回転台座標系Sへの座標変換
RS(θ):回転台座標系Sにおいて回転軸周りに角度θ回転させる回転変換
(2) 点P’θの回転台座標系Sにおける座標は、点P’の3次元測定器座標系Vにおける座標を回転台座標系Sに変換し、回転台座標系S内で回転軸32の周りに角度θだけ回転させた座標である。
P’θ(S)=RS(θ)・C(V→S)・P’(V) ……(13)
ただし、
P’(V):3次元測定器座標系Vにおける点P’の座標
(3) テーブル31に対して対象物Qが移動しているので、P’θ(S)≠Pθ(S)であるが、回転台座標系SにおいてP’θ(S)をPθ(S)に一致させるための変換M2を施せば、3次元データDTの接続を行える。
ただし、
P’(V):3次元測定器座標系Vにおける点P’の座標
(3) テーブル31に対して対象物Qが移動しているので、P’θ(S)≠Pθ(S)であるが、回転台座標系SにおいてP’θ(S)をPθ(S)に一致させるための変換M2を施せば、3次元データDTの接続を行える。
なお、点Pと点P’とは、対応する2点の全ての組合せから任意に選択可能である。
(4) したがって、対象物Qのみが移動する場合のデータセット間の接続は、上に述べた(2)式で表されることとなる。
(4) したがって、対象物Qのみが移動する場合のデータセット間の接続は、上に述べた(2)式で表されることとなる。
つまり、上に述べた(2)式に示された複合変換MGを行うことによって、3次元データDTを位置合わせして繋ぎ合わせることができる。
変換M2は、上に述べたように、対象物Qの移動後における回転台座標系Sでの座標(角度θの回転後でも可)を、移動前の対象物Q上の対応点の回転台座標系Sにおける座標(回転後でも可)に一致させる座標変換(「クリックレジ変換」と呼称されることがある)である。
変換M2は、変更された対象物Qの位置および姿勢を元に戻すための変換であるといえるから、移動変換(T)と回転変換(R)との組み合わせにより実施することが可能である。
ケース2においては、例えば、対象物Qを移動する前に、3次元データDT1〜3を取得する。次に、対象物Qを移動させた後で、さらに3つの3次元データDT4〜6を取得する。
3次元測定器2の移動前に取得した3つの3次元データDT1〜3を、第1の3次元データ群DTG1とし、これらを繋ぎ合わせる。次に、第2の3次元データ群DTG2である3次元データDT4〜6について、位置合わせを行う。位置合わせは、回転台座標系Sにおいて行われる。まず、1つの3次元データDT4を、第1の3次元データ群DTG1に繋ぎ合わせる。その際に、上に述べた種々の公知の方法を用いて位置合わせを行い、変換情報Mを取得し、変換M2を求める。取得した変換情報Mと変換M2とが同じであってもよい。
変換M2が求まったので、次の1つのデータである3次元データDT5について、上の(2)式を用いて座標変換を行い、回転台座標系S上において3次元データDT1〜4に対する位置合わせを行う。その後、さらに次の1つのデータである3次元データDT6について、上の(2)式を用いて座標変換を行い、回転台座標系S上において3次元データDT1〜5に対する位置合わせを行う。このようにして、3次元データDT1〜6を順次位置合わせして繋ぎ合わせる。全部の3次元データDT1〜6を繋ぎ合わせることによって、3次元形状データDKが得られる。これらの処理は自動的に行われる。
このように、ケース2の実施形態によると、対象物Qと回転台3との位置関係を変更した場合に、変更後の対象物Qと回転台3との位置関係が分からなくても、変更前に得た3次元データDT1〜3と変更後に得た3次元データDT4〜6とを自動的に位置合わせして繋ぎ合わせることが可能である。
なお、上に述べたと同様に、複合変換MGによって3次元形状データDKを生成することができるのは、変換M2を求めたときの3次元データDTの位置合わせの誤差がしきい値TH2以下であり、かつ、上の(13)式を用いて他の3次元データDTを変換したときの位置合わせの誤差もしきい値TH2以下であるときに限られる。その誤差がしきい値TH2を越える場合には3次元形状データDKの精度が低くなるので、この方法では生成できない。
3次元データDTの位置合わせの誤差がしきい値TH2以下であるか否かの判断は、変換M2と複合変換MGによって3次元データDTの位置合わせが全て終了した後に行ってもよい。
しかし、3次元測定器2と回転台3との位置関係に変更がなく、対象物Qと回転台3との位置関係のみが変更された場合には、上に述べた複合変換MGによって十分な精度が得られるのであり、3次元データDTの位置合わせの誤差はしきい値TH2以下となる。つまり、3次元データDTの位置合わせの誤差がしきい値TH2以下であるか否かの判断は、3次元測定器2、回転台3、および対象物Qの位置関係の変更がケース2に当てはまるか否かをチェックすることと等しい。したがって、そのようなチェックが正しく行われるような値をしきい値TH2として設定しておけばよい。
しきい値TH2は、種々の形状の対象物Qについて、対象物Qを移動させて測定を行い、3次元データDTの位置合わせの誤差の範囲を予め取得することによって決定することが可能である。
〔ケース3・3次元測定器と回転台および回転台と対象物の両方の位置関係が変化した場合〕
ケース3では、3次元測定器2と回転台3および回転台3と対象物Qの両方の位置関係が変更された場合について、その変更された位置関係(変換M3)を求めて3次元データDTを位置合わせする方法について説明する。
〔ケース3・3次元測定器と回転台および回転台と対象物の両方の位置関係が変化した場合〕
ケース3では、3次元測定器2と回転台3および回転台3と対象物Qの両方の位置関係が変更された場合について、その変更された位置関係(変換M3)を求めて3次元データDTを位置合わせする方法について説明する。
図9は3次元測定器2と回転台3との位置関係および回転台3上の対象物Qの位置および姿勢を変更したときの座標系の関係を示す図である。
図9において、位置および姿勢を変更する前の回転台3における回転台座標系Sに対して、変更後の回転台3の回転台座標系は「S’」で示されている。また、回転台座標系S’において、対象物Qの移動によって、点P,Pθは点P’,P’θに移動している。
回転台座標系Sが回転台座標系S’に変更され、かつ回転台座標系S’における対象物Qの位置および姿勢が変更されているので、変更後の回転台座標系S’の校正と、回転台座標系S’における対象物Qの位置を合わせる変換を求める必要がある。
以下にその変換の方法を順に説明する。
(1) 点Pθの回転台座標系Sにおける座標Pθ(S)は、点Pの3次元測定器座標系Vにおける座標を回転台座標系Sに変換し、回転台座標系S内で回転軸の周りに角度θだけ回転させた座標である。
(1) 点Pθの回転台座標系Sにおける座標Pθ(S)は、点Pの3次元測定器座標系Vにおける座標を回転台座標系Sに変換し、回転台座標系S内で回転軸の周りに角度θだけ回転させた座標である。
座標Pθ(S)は、上の(12)式によって求められる。
(2) 点P’θの回転台座標系S’における座標P’θ(S’)は、点P’の3次元測定器座標系Vにおける座標を回転台座標系S’に変換し、回転台座標系S’内で回転軸の周りに角度θだけ回転させた座標である。
(2) 点P’θの回転台座標系S’における座標P’θ(S’)は、点P’の3次元測定器座標系Vにおける座標を回転台座標系S’に変換し、回転台座標系S’内で回転軸の周りに角度θだけ回転させた座標である。
座標P’θ(S’)は、上の(13)式によって求められる。
(3) 回転台座標系S’における移動後の対象物Qの位置姿勢を回転台座標系Sにおける移動前の対象物Qに合わせる変換は、P’θ(S’)をPθ(S)に対応させる座標変換(クリックレジ変換)である。そのような変換をM3とする。
(3) 回転台座標系S’における移動後の対象物Qの位置姿勢を回転台座標系Sにおける移動前の対象物Qに合わせる変換は、P’θ(S’)をPθ(S)に対応させる座標変換(クリックレジ変換)である。そのような変換をM3とする。
Pθ(S)=M3・P’θ(S’)
(4) したがって、回転台座標系と対象物Qとの両方が動く場合のデータ接続は、次の(14)式で表される。
(4) したがって、回転台座標系と対象物Qとの両方が動く場合のデータ接続は、次の(14)式で表される。
Pθ(S)=M3・P’θ(S’)
=M3・RS’(θ)・C(V→S’)・P’(V) ……(14)
変換M3は、上に述べた種々の公知の方法を用いて3次元データDTの位置合わせを行うことによって求めることが可能である。
=M3・RS’(θ)・C(V→S’)・P’(V) ……(14)
変換M3は、上に述べた種々の公知の方法を用いて3次元データDTの位置合わせを行うことによって求めることが可能である。
しかし、C(V→S’)は、3次元測定器座標系Vから回転台座標系S’への座標変換であり、これは変更後の回転台3の位置および姿勢を校正することによって求める必要がある。
したがって、ケース3の場合には、全ての処理を自動的に行えるわけではない。仮に、全ての処理を自動的に行った場合には、3次元形状データDKの精度が悪い。
ケース3の場合には、ケース1およびケース2で述べた3次元データDT4〜DT6の位置合わせの誤差がしきい値TH1およびTH2の両方を越えることが多い。そこで、回転台3の位置および姿勢の校正をユーザに促す旨のメッセージを出力する。
ユーザがメッセージにしたがって校正を行い、校正データを自動的にまたは手動で入力することによって、上の処理を続行することが可能である。しかし、校正を行った後、上の処理とは異なる方法で、3次元データDTの取得または位置合わせを行い、3次元形状データDKを生成してもよい。また、校正を行うことなく、または校正を行った上で、対象物Qの測定を最初からやり直してもよい。
上に述べたように、本実施形態では、3次元測定器2、回転台3、または対象物Qのいずれかが移動した場合であっても、ケース1および2で示された条件の下では、校正を行うことなく、1つの3次元データDTについての変換情報Mを公知の方法で求めることにより、残りの3次元データDTを演算によって自動的に位置合わせし繋ぎ合わせて3次元形状データDKを生成することができる。
なお、上に述べた実施形態では、3次元データDT1〜6を取得した後で、それらを繋ぎ合わせることとしたが、そうではなく、3次元データDT1〜6を取得しながら、取得した3次元データDTについて、取得の都度に、繋ぎ合わせを行ってもよい。また、位置関係が変更されたときに、それまでに取得した3次元データDTを繋ぎ合わせるようにしてもよい。また、適当数の3次元データDTを取得するごとに、3次元データDTの繋ぎ合わせを行ってもよい。
また、適当数の3次元データDTを取得するごとに位置合わせの誤差がしきい値以下であるか判定してもよい。また、3次元データDTの位置合わせが全て終了した後で位置合わせの誤差がしきい値以下であるか判定してもよい。
次に、3次元形状データの生成処理をフローチャートを参照して説明する。
図10は3次元形状データの生成処理の全体の流れを示すフローチャートである。
なお、フローチャートにおいて、回転台3またはテーブル31を「回転ステージ」と記載することがある。
図10において、まず、3次元測定器2に対する回転台3の回転軸情報の校正を行い、回転軸32の位置および向きを決定する(#1)。なお、以前に計算した回転軸情報が利用できる場合には、このステップでの処理は必要でない。
次に、対象物Qをテーブル31の上に載置し、テーブル31を回転させて対象物Qを測定し、3次元データDTを取得する(#2)。3次元データDTについて、回転軸情報を用い、3次元測定器座標系Vから回転台座標系Sへの座標変換を行う(#3)。座標変換された3次元データDTと、既に測定済みの3次元データDTまたは3次元データ群DTGとの位置関係を計算する(#4)。例えば、それらのデータ間の最近傍点を計算し、その距離の平均値または分散を用いるなどの方法がある。
計算値を用いてそれらの位置関係をチェックする(#5)。位置関係がずれていない場合は、修正の必要がないので、ステップ#2に戻って次の測定作業に移る。
位置関係がずれている場合には、ステップ#6において、3次元データDTに対して位置関係のずれを修正する変換行列(変換情報M、変換M1,M2)の計算を行う。このとき、例えば上に述べたICPアルゴリズムを用いることができる。
ステップ#6で求めた変換行列に基づいて、どのような位置関係が変更されたかをチェックする(#7〜9)。
すなわち、ステップ#7では、回転台3と対象物Qとの位置関係が変わっていないかどうかを判断する。この判断は、例えば上に述べたように、変換行列を求めたときの3次元データDTの位置合わせの誤差がしきい値TH1以下であるか否かによって行われる。
ステップ#7でイエスの場合は、求めた変換行列に基づき、上の(1)式を用いて3次元測定器2と回転台3との位置関係の変更に対する修正を行う(#8)。
ステップ#7でノーの場合は、3次元測定器2と回転台3との位置関係が変わっていないかどうかを判断する。この判断は、例えば上に述べたように、変換行列を求めたときの3次元データDTの位置合わせの誤差がしきい値TH2以下であるか否かによって行われる(#9)。
ステップ#9でイエスの場合は、求めた変換行列に基づき、上の(2)式を用いて回転台3と対象物Qとの位置関係の変更に対する修正を行う(#10)。
ステップ#9でノーの場合は、ステップ#11において、3次元測定器2と回転台3および回転台3と対象物Qの両方の位置関係が変わっていると判断し、この測定データは破棄した上で、ユーザに回転軸情報の再校正を促し、回転軸情報の再設定を行ってもらう。そして再び対象物Qを回転台3上に設置してもらい、最初の測定データを用いて回転台3と対象物Qとの間の位置関係をステップ#10の方法により修正する。そして、ステップ#2に戻って次の測定作業に移る。
このように、ステップ#7または9における判定結果に応じて最適なアクションをとることにより、3次元形状データDKの生成のためのユーザの作業負担を軽減する。
図11は3次元形状データの生成処理の全体の流れの他の例を示すフローチャートである。
図11において、対象物Qの測定を行う(#21)。3次元測定器2と回転台3と対象物Qの位置関係を変更した後(#22)、新たに対象物Qの測定を行って3次元データを得る(#23)。新たに測定した3次元データを測定済みの3次元データと繋がるように座標変換して位置合わせすることによって新たに測定した3次元データについての位置合わせのための変換情報Mを取得する(#24)。変換情報Mに基づいて得られる、新たに測定した3次元データと測定済みの3次元データとの位置合わせの誤差が、しきい値TH以下であるか否かを判断する(#25)。
位置合わせの誤差がしきい値TH以下であるときに(#25でノー)、テーブル31を回転させ(#26)、対象物Qを測定して次測定3次元データを得る(#27)。そして、次測定3次元データに対し、当該回転台3の回転角度θについての情報と変換情報Mとを用いて測定済みの3次元データとの位置合わせを行う(#28)。該当する全ての測定が終了するかまたは全てのデータについての処理が終わるまでステップ#26以降の処理を繰り返す(#29)。
ステップ#25でイエスの場合には、回転台3の校正を行う(#20)。
なお、図11のステップ#24、25、28は、請求項1における第1の処理、第2の処理、第3の処理にそれぞれ対応する。
図12〜図15は3次元形状データの生成処理の詳しい流れの例を示すフローチャートである。
なお、図12〜図15に示すフローチャートでは、対象物Qの2回目以降の測定における処理が示されている。
まず、3次元測定器2と回転台3および回転台3と対象物Qのいずれの位置関係も変更がないものと仮定する(#31)。既存の回転軸情報Aを読み出す(#32)。回転台3の単位回転角度θstp を設定する(#33)。単位回転角度θstp として、例えば、30度、90度、120度などを設定する。回転角度カウンタnに「1」を設定する(#34)。テーブル31の回転角度θ=(n−1)・θstp を0に初期化し、原位置に戻す(#35)。
対象物Qを測定してその距離画像を入力し(#36)、距離画像に基づいて3次元データDTを計算する(#37)。既存の回転軸情報Aに基づいて、3次元データDTを3次元測定器座標系Vから回転台座標系Sに変換する(#38)。位置合わせの目標となる3次元データDTまたは3次元データ群DTGとの位置関係のずれ量を計算し(#39)、位置関係がずれているかどうかを判断する(#40)。
位置関係がずれていない場合、つまりずれ量がしきい値THよりも小さい場合には、3次元測定器2と回転台3および回転台3と対象物Qのいずれの位置関係も変更がないものと判断する(#41)。回転角度カウンタnを「1」増加する(#42)。テーブル31を単位回転角度θstp だけ回転させる(#43)。
対象物Qを測定してその距離画像を入力し(#44)、距離画像に基づいて3次元データDTを計算する(#45)。既存の回転軸情報Aに基づいて、3次元データDTを3次元測定器座標系Vから回転台座標系Sに変換する(#46)。3次元データDTに回転変換を行って目標となる3次元データDTまたは3次元データ群DTGに位置合わせして繋ぎ合わせる(#47)。nが設定値Nに達するまで、ステップ#42以降を繰り返す(#48)。
ステップ#40で位置関係がずれていると判断された場合、つまりずれ量がしきい値THよりも大きい場合には、ステップ#49に進む。ステップ#49において、回転台3と対象物Qとの位置関係のみが変更されたと仮定する。測定した3次元データDTを目標となる3次元データDTなどに位置合わせするための変換B(変換M2)を求める(#50)。測定した3次元データDTに変換B(変換M2)を施す(#51)。回転角度カウンタnに「2」を設定する(#52)。テーブル31を単位回転角度θstp だけ回転させる(#53)。
対象物Qを測定してその距離画像を入力し(#54)、距離画像に基づいて3次元データDTを計算する(#55)。既存の回転軸情報Aに基づいて、3次元データDTを3次元測定器座標系Vから回転台座標系Sに変換する(#56)。3次元データDTに回転変換を実施する(#57)。3次元データDTに、変換B(変換M2)を施して位置関係のずれを修正し、目標となる3次元データDTまたは3次元データ群DTGに繋ぎ合わせる(#58)。位置合わせの目標となる3次元データDTまたは3次元データ群DTGとの位置関係のずれ量を計算し(#59)、位置関係がずれているかどうかを判断する(#60)。
位置関係がずれていない場合、つまりずれ量がしきい値TH2よりも小さい場合には、回転台3と対象物Qの位置関係のみが変更されたものと判断する(#61)。回転角度カウンタnを「1」増加する(#62)。テーブル31を単位回転角度θstp だけ回転させる(#63)。
対象物Qを測定してその距離画像を入力し(#64)、距離画像に基づいて3次元データDTを計算する(#65)。既存の回転軸情報Aに基づいて、3次元データDTを3次元測定器座標系Vから回転台座標系Sに変換する(#66)。3次元データDTに回転変換を実施する(#67)。3次元データDTに、変換B(変換M2)を施して位置関係のずれを修正し、目標となる3次元データDTまたは3次元データ群DTGに繋ぎ合わせる(#68)。nが設定値Nに達するまで、ステップ#62以降を繰り返す(#69)。
ステップ#60で位置関係がずれていると判断された場合、つまりずれ量がしきい値TH2よりも大きい場合には、ステップ#70に進む。ステップ#70において、3次元測定器2と回転台3との位置関係のみが変更されたと仮定する。n=1およびn=2の3次元データDTに、変換Bの逆変換と回転変換の逆変換とを順に施して、3次元測定器座標系Vの3次元データDTに戻す(#71)。
n=1の3次元測定器座標系Vの3次元データDTを、目標となる3次元データDTなどに位置合わせするための変換C(変換M1)を求め(#72)、その変換Cを実施して回転台座標系Sに変換する(#73)。n=2の3次元データDTに変換Cを実施して回転台座標系Sに変換する(#74)。回転台座標系Sに変換したn=2の3次元データDTに回転変換を実施する(#75)。位置合わせの目標となる3次元データDTまたは3次元データ群DTGとの位置関係のずれ量を計算し(#76)、位置関係がずれているかどうかを判断する(#77)。
位置関係がずれていない場合、つまりずれ量がしきい値TH1よりも小さい場合には、3次元測定器2と回転台3との位置関係のみが変更されたものと判断する(#78)。回転角度カウンタnを「1」増加する(#79)。テーブル31を単位回転角度θstp だけ回転させる(#80)。
対象物Qを測定してその距離画像を入力し(#81)、距離画像に基づいて3次元データDTを計算する(#82)。3次元データDTに変換Cを施し、回転台座標系Sに変換する(#83)。3次元データDTに回転変換を実施する(#84)。nが設定値Nに達するまで、ステップ#79以降を繰り返す(#85)。
ステップ#77で位置関係がずれていると判断された場合、つまりずれ量がしきい値TH1よりも大きい場合には、ステップ#86に進む。ステップ#86において、3次元測定器2と回転台3および回転台3と対象物Qの両方の位置関係が変更されたと判定する。ユーザに回転軸32の再校正を促す(#87)。ユーザが回転軸32の再校正を実施することにより、校正された回転軸情報を算出する(#88)。校正された回転軸情報は、3次元測定器座標系Vから回転台座標系Sへの変換Dでもある。回転角度カウンタnに「1」を設定する(#89)。テーブル31の回転角度θ=(n−1)・θstp を0に初期化し、原位置に戻す(#90)。
対象物Qを測定してその距離画像を入力し(#91)、距離画像に基づいて3次元データDTを計算する(#92)。回転軸情報Dに基づいて、3次元データDTを回転台座標系Sに変換する(#93)。3次元データDTに回転変換を実施する(#94)。3次元データDTと、目標となる3次元データDTとを用いて、回転台3に対する対象物Qの位置関係を修正するための変換Eを求め(#95)、その変換Eを実施して対象物Qの位置関係のずれを修正する(#96)。
回転角度カウンタnを「1」増加する(#97)。テーブル31を単位回転角度θstp だけ回転させる(#98)。
対象物Qを測定してその距離画像を入力し(#99)、距離画像に基づいて3次元データDTを計算する(#100)。回転軸情報Dに基づいて、3次元データDTを回転台座標系Sに変換する(#101)。3次元データDTに回転変換を実施する(#102)。3次元データDTに、変換Eを施して位置関係のずれを修正し、目標となる3次元データDTまたは3次元データ群DTGに繋ぎ合わせる(#103)。nが設定値Nに達するまで、ステップ#97以降を繰り返す(#104)。
なお、ステップ#87でユーザに回転軸32の再校正を促し、これにより校正された回転軸情報を算出するようにしたが、回転軸32の再校正を促すことなく対象物Qの測定を行って3次元データDTを取得して蓄えておき、後で回転軸情報を取得し、蓄えた3次元データDTに変換を施して繋ぎ合わせるようにしてもよい。
上に述べた実施形態において、3次元測定器2、回転台3、またはホスト4などの全体または各部の構造、構成、形状、寸法、個数、材質、回路、処理内容、処理順序、処理タイミングなどは、本発明の趣旨に沿って適宜変更することができる。
1 3次元測定システム
2 3次元測定器
3 回転台
4 ホスト
10 制御部
11 記憶部
12 演算部
13 表示部
14 入力部
31 テーブル
32 回転軸
Q 対象物
DT1〜6 3次元データ
DTG1 第1の3次元データ群
DTG2 第2の3次元データ群
DK 3次元形状データ
V 3次元測定機座標系
S 回転台座標系
2 3次元測定器
3 回転台
4 ホスト
10 制御部
11 記憶部
12 演算部
13 表示部
14 入力部
31 テーブル
32 回転軸
Q 対象物
DT1〜6 3次元データ
DTG1 第1の3次元データ群
DTG2 第2の3次元データ群
DK 3次元形状データ
V 3次元測定機座標系
S 回転台座標系
Claims (13)
- 回転台の上に載置した対象物を3次元測定器により測定して得られる3次元データを繋ぎ合わせて前記対象物の3次元形状データを生成する方法であって、
新たに測定した3次元データを測定済みの3次元データと繋がるように座標変換して位置合わせすることによって前記新たに測定した3次元データについての位置合わせのための変換情報を取得する第1の処理と、
前記変換情報に基づいて得られる前記新たに測定した3次元データと前記測定済みの3次元データとの位置合わせの誤差がしきい値以下であるか否かを判断する第2の処理と、
前記位置合わせの誤差がしきい値以下であるときに、前記新たに測定した3次元データに対して前記回転台を回転させることのみによって測定して得られる3次元データである次測定3次元データに対し、当該回転台の回転角度についての情報と前記変換情報とを用いて前記測定済みの3次元データとの位置合わせを行う第3の処理とを、処理装置に実行させる、
ことを特徴とする3次元形状データの生成方法。 - 前記第3の処理において、前記次測定3次元データに対し、前記変換情報に基づく変換と、前記回転角度についての情報に基づく変換とを、この順に施す、
請求項1記載の3次元形状データの生成方法。 - 前記第3の処理において、前記次測定3次元データに対し、前記3次元測定器の座標系である3次元測定器座標系から前記回転台の座標系である回転台座標系への変換と、前記回転角度についての情報に基づく変換と、前記変換情報に基づく変換とを、この順に施す、
請求項1記載の3次元形状データの生成方法。 - 前記位置合わせの誤差がしきい値を越えるときに、前記回転台の位置関係情報を校正するための第4の処理を、前記処理装置に実行させる、
請求項1ないし3のいずれかに記載の3次元形状データの生成方法。 - 回転台の上に載置した対象物を3次元測定器により測定して得られる複数の3次元データを繋ぎ合わせて前記対象物の3次元形状データを生成する方法であって、
前記3次元測定器と前記回転台および前記回転台と前記対象物のそれぞれの互いの位置関係を変更することなく前記回転台を回転させることによって得られる一連の複数の3次元データである第1の3次元データ群と、前記3次元測定器と前記回転台または前記回転台と前記対象物のいずれかの位置関係を変更した後で、前記3次元測定器と前記回転台および前記回転台と前記対象物の互いの位置関係を変更することなく前記回転台を回転させることによって得られる一連の複数の3次元データである第2の3次元データ群とを、繋ぎ合わせるに当たり、
前記第2の3次元データ群に含まれる1つの3次元データを、前記第1の3次元データ群と繋がるように座標変換して位置合わせすることによって、当該3次元データについての位置合わせのための変換情報を取得し、
前記第2の3次元データ群に含まれる他の1つの3次元データについて、前記回転台の回転に対応した変換と前記変換情報に対応した変換とを組み合わせた変換である複合変換を行ったときの、前記第1の3次元データ群との位置合わせの誤差が、しきい値以下であるときに、前記第2の3次元データ群に含まれる残りの3次元データについて前記複合変換を行うことによって、前記第2の3次元データ群に含まれる各3次元データを前記第1の3次元データ群に対して位置合わせする、
ことを特徴とする3次元形状データの生成方法。 - 前記複合変換は、次の(1)式によって行う、
Pθ(S)=RS(θ)・M1・P’(V) ……(1)
ただし、
P: 対象物上の点
P’:3次元測定器と回転台との位置関係を変更したときの点Pに対応する変更後 における対象物上の点
Pθ:回転台を初期角度から角度θ回転したときの点Pに対応する対象物上の点
P’θ:回転台を初期角度から角度θ回転したときの点P’に対応する対象物上の 点
Pθ(S):回転台座標系Sにおける点Pθの座標
P’(V):3次元測定器座標系Vにおける点P’の座標
RS(θ):回転台座標系Sにおいて回転軸周りに角度θ回転させる回転変換
M1:変換情報に対応した変換
請求項5記載の3次元形状データの生成方法。 - 前記複合変換は、次の(2)式によって行う、
Pθ(S)=M2・RS(θ)・C(V→S)・P’(V) ……(2)
ただし、
P: 対象物上の点
P’:3次元測定器と回転台との位置関係を変更したときの点Pに対応する変更後 における対象物上の点
Pθ:回転台を初期角度から角度θ回転したときの点Pに対応する対象物上の点
P’θ:回転台を初期角度から角度θ回転したときの点P’に対応する対象物上の 点
Pθ(S):回転台座標系Sにおける点Pθの座標
P’(V):3次元測定器座標系Vにおける点P’の座標
RS(θ):回転台座標系Sにおいて回転軸周りに角度θ回転させる回転変換
C(V→S):3次元測定器座標系Vから回転台座標系Sへの座標変換
M2:変換情報に対応した変換
請求項5記載の3次元形状データの生成方法。 - 回転台の上に載置した対象物を3次元測定器により測定して得られる複数の3次元データを繋ぎ合わせて前記対象物の3次元形状データを生成する方法であって、
前記3次元測定器と前記回転台および前記回転台と前記対象物のそれぞれの互いの位置関係を変更することなく前記回転台を回転させることによって一連の複数の3次元データである第1の3次元データ群を得る第1ステップと、
前記3次元測定器と前記回転台または前記回転台と前記対象物のいずれかの位置関係を変更する第2ステップと、
前記第2ステップの後で、前記3次元測定器と前記回転台および前記回転台と前記対象物のそれぞれの互いの位置関係を変更することなく前記回転台を回転させることによって一連の複数の3次元データである第2の3次元データ群を得る第3ステップと、
前記第2の3次元データ群に含まれる1つの3次元データを、前記第1の3次元データ群と繋がるように座標変換して位置合わせすることによって、当該3次元データについての位置合わせのための変換情報を取得する第4ステップと、
前記第2の3次元データ群に含まれる他の1つの3次元データについて、前記回転台の回転に対応した変換と前記変換情報に対応した変換とを組み合わせた変換である複合変換を行ったときの、前記第1の3次元データ群との位置合わせの誤差が、しきい値以下であるか否かを判定する第5ステップと、
前記第5ステップにおいてしきい値以下であると判定されたときに、前記第2の3次元データ群に含まれる残りの3次元データについて前記複合変換を行うことによって、前記第2の3次元データ群に含まれる各3次元データを前記第1の3次元データ群に対して位置合わせする第6ステップと、
を有することを特徴とする3次元形状データの生成方法。 - 回転台の上に載置した対象物を3次元測定器により測定して得られる複数の3次元データを繋ぎ合わせて前記対象物の3次元形状データを生成する方法であって、
前記3次元測定器と前記回転台および前記回転台と前記対象物のそれぞれの互いの位置関係を変更することなく前記回転台を回転させることによって一連の複数の3次元データである第1の3次元データ群を得る第1ステップと、
前記3次元測定器と前記回転台または前記回転台と前記対象物のいずれかの位置関係を変更する第2ステップと、
前記第2ステップの後に複数の3次元データを得る第3ステップと、
前記第3ステップで得られる1つの3次元データを、前記第1の3次元データ群と繋がるように座標変換して位置合わせすることによって、当該3次元データについての位置合わせのための変換情報を取得する第4ステップと、
前記第3ステップで得られる他の1つの3次元データについて、前記回転台の回転に対応した変換と前記変換情報に対応した変換とを組み合わせた変換である複合変換を行ったときの、前記第1の3次元データ群との位置合わせの誤差が、しきい値以下であるか否かを判定する第5ステップと、
前記第5ステップにおいてしきい値以下であると判定されたときに、前記第3ステップで得られるさらに他の3次元データに対して前記複合変換を行うことによって、それらの3次元データを前記第1の3次元データ群に対して位置合わせする第6ステップと、
を有することを特徴とする3次元形状データの生成方法。 - 回転台の上に載置した対象物を3次元測定器により測定して得られる3次元データを繋ぎ合わせて前記対象物の3次元形状データを生成する装置であって、
新たに測定した3次元データを測定済みの3次元データと繋がるように座標変換して位置合わせすることによって前記新たに測定した3次元データについての位置合わせのための変換情報を取得する第1の処理手段と、
前記変換情報に基づいて得られる前記新たに測定した3次元データと前記測定済みの3次元データとの位置合わせの誤差がしきい値以下であるか否かを判断する第2の処理手段と、
前記位置合わせの誤差がしきい値以下であるときに、前記新たに測定した3次元データに対して前記回転台を回転させることのみによって測定して得られる3次元データである次測定3次元データに対し、当該回転台の回転角度についての情報と前記変換情報とを用いて前記測定済みの3次元データとの位置合わせを行う第3の処理手段と、
を有することを特徴とする3次元形状データの生成装置。 - 3次元測定器と回転台および前記回転台と対象物のそれぞれの互いの位置関係を変更することなく前記回転台を回転させることによって前記回転台の上に載置した前記対象物を前記3次元測定器により測定して得られる一連の複数の3次元データである第1の3次元データ群と、前記3次元測定器と前記回転台または前記回転台と前記対象物のいずれかの位置関係を変更した後で前記3次元測定器と前記回転台および前記回転台と前記対象物の互いの位置関係を変更することなく前記回転台を回転させることによって得られる一連の複数の3次元データである第2の3次元データ群とを、繋ぎ合わせて前記対象物の3次元形状データを生成する装置であって、
前記第2の3次元データ群に含まれる1つの3次元データを、前記第1の3次元データ群と繋がるように座標変換して位置合わせすることによって、当該3次元データについての位置合わせのための変換情報を取得する手段と、
前記第2の3次元データ群に含まれる他の1つの3次元データについて、前記回転台の回転に対応した変換と前記変換情報に対応した変換とを組み合わせた変換である複合変換を行ったときの、前記第1の3次元データ群との位置合わせの誤差が、しきい値以下であるときに、前記第2の3次元データ群に含まれる残りの3次元データについて前記複合変換を行うことによって、前記第2の3次元データ群に含まれる各3次元データを前記第1の3次元データ群に対して位置合わせする手段と、
を有することを特徴とする3次元形状データの生成装置。 - 回転台の上に載置した対象物を3次元測定器により測定して得られる3次元データを繋ぎ合わせて前記対象物の3次元形状データを生成するためのコンピュータにより実行されるコンピュータプログラムであって、
新たに測定した3次元データを測定済みの3次元データと繋がるように座標変換して位置合わせすることによって前記新たに測定した3次元データについての位置合わせのための変換情報を取得する第1の処理と、
前記変換情報に基づいて得られる前記新たに測定した3次元データと前記測定済みの3次元データとの位置合わせの誤差がしきい値以下であるか否かを判断する第2の処理と、
前記位置合わせの誤差がしきい値以下であるときに、前記新たに測定した3次元データに対して前記回転台を回転させることのみによって測定して得られる3次元データである次測定3次元データに対し、当該回転台の回転角度についての情報と前記変換情報とを用いて前記測定済みの3次元データとの位置合わせを行う第3の処理とを、
前記コンピュータに実行させることを特徴とするコンピュータプログラム。 - 3次元測定器と回転台および前記回転台と対象物のそれぞれの互いの位置関係を変更することなく前記回転台を回転させることによって前記回転台の上に載置した前記対象物を前記3次元測定器により測定して得られる一連の複数の3次元データである第1の3次元データ群と、前記3次元測定器と前記回転台または前記回転台と前記対象物のいずれかの位置関係を変更した後で前記3次元測定器と前記回転台および前記回転台と前記対象物の互いの位置関係を変更することなく前記回転台を回転させることによって得られる一連の複数の3次元データである第2の3次元データ群とを、繋ぎ合わせて前記対象物の3次元形状データを生成するためのコンピュータにより実行されるコンピュータプログラムであって、
前記第2の3次元データ群に含まれる1つの3次元データを、前記第1の3次元データ群と繋がるように座標変換して位置合わせすることによって、当該3次元データについての位置合わせのための変換情報を取得する処理と、
前記第2の3次元データ群に含まれる他の1つの3次元データについて、前記回転台の回転に対応した変換と前記変換情報に対応した変換とを組み合わせた変換である複合変換を行ったときの、前記第1の3次元データ群との位置合わせの誤差が、しきい値以下であるときに、前記第2の3次元データ群に含まれる残りの3次元データについて前記複合変換を行うことによって、前記第2の3次元データ群に含まれる各3次元データを前記第1の3次元データ群に対して位置合わせする処理とを、
前記コンピュータに実行させることを特徴とするコンピュータプログラム。
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JP2008067620A JP2009222568A (ja) | 2008-03-17 | 2008-03-17 | 3次元形状データの生成方法および装置ならびにコンピュータプログラム |
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JP2008067620A JP2009222568A (ja) | 2008-03-17 | 2008-03-17 | 3次元形状データの生成方法および装置ならびにコンピュータプログラム |
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JP2008067620A Pending JP2009222568A (ja) | 2008-03-17 | 2008-03-17 | 3次元形状データの生成方法および装置ならびにコンピュータプログラム |
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2008
- 2008-03-17 JP JP2008067620A patent/JP2009222568A/ja active Pending
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