JP2017108279A - 光出力回路および光サージ検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】安定した出力レベルを維持しつつ、光サージの発生を確実に検知することができる光出力回路を得る。【解決手段】光出力回路を、光減衰手段１と、強度検出手段２と、制御手段３と、基準設定手段４と、光サージ検出手段５を備える構成とする。光減衰手段１は、入力された光を減衰して出力光として出力する。強度検出手段２は、出力光の強度を検出する。制御手段３は、強度検出手段２が検出した出力光の強度に基づいて、出力光が所定の設定強度となるように光減衰手段１の減衰量を制御する。基準設定手段４は、入力された光に光サージが発生しているかを判断する際の基準強度を、所定の設定強度に基づいて設定する。光サージ検出手段５は、基準強度と、強度検出手段２が検出した出力光の強度を比較して光サージの発生の有無を判断する。【選択図】 図１

Description

本発明は、光出力回路の出力の監視を行う技術に関するものであり、特に光サージの発生を検出する技術に関するものである。

光通信の高速化や大容量化が進みＷＤＭ（Wavelength Division Multiplex）方式の光通信システムが広く用いられている。ＷＤＭ方式の光通信システムでは。多重化されるチャネル数の増加等から光信号に用いられる光の安定性の要求が高くなっている。例えば、光の出力強度の設定変更、装置の設定変更、装置の起動などの制御を行った際には、一時的に出力強度が増大し光サージが生じることがある。しかし、ＷＤＭ方式の光通信システムにおいて、光サージが生じると他の波長の光信号に影響を与えるため光サージの発生を抑制する必要がある。そのため、光出力回路は、光サージの発生のない安定した光を出力できることが要求される。また、光出力回路で光サージが発生した際に、光出力回路の各素子の調整や交換を行うために、光サージの発生を的確に検知できることが望ましい。

光サージは、光出力回路にオシロスコープを接続して、光の出力強度を監視する方法で確認することも可能であるが、設定変更等が頻繁に行われるような場合に作業が複雑化する。また、作業者が常時監視しなければ、光サージを検出することができない。よって、光サージが発生した際に、自動で検知できることが望ましい。

光出力回路は、出力する光パワーの安定化のため、光源の後段に光増幅器と光減衰器を備えていることがある。光源の後段に光増幅器と光減衰器を備えている光出力回路は、光増幅器や光減衰器をフィードバック制御によって制御することで、出力する光の強度を安定化させている。フィードバック制御を備える構成において光の出力強度を安定化させるために、回路の時定数を大きくすることで発振を防止する方法が用いられることがある。しかし、時定数を大きくした制御回路では光サージのように短時間で発生する変動には対応できないため、光サージが生じた際には、出力強度の大きい光がそのまま出力される恐れがある。そのため、フィードバック制御を行う光出力回路において、安定した出力レベルを維持しつつ、光サージの発生を的確に検知して対応できること必要があり、関連する技術の開発が行われている。そのようなフィードバック制御を行う光出力回路において、安定した出力レベルを維持しつつ、光サージの影響を抑制する技術としては、例えば、特許文献１のような技術が開示されている。

特許文献１は、フィードバック制御により出力を安定化させて光増幅器を備えた光出力装置に関するものである。特許文献１の光出力装置は、光増幅器と、光増幅器に励起光を入力する励起光源と、励起光源を制御する駆動部を備えている。また、特許文献１の光出力装置は、光増幅器の後段で出力光の一部を分岐し監視を行う構成を備えている。特許文献１の光出力装置では、時定数の異なる２つの回路でループ回路が形成されている。そのため、特許文献１は、時定数が大きい回路に対応するような出力光の変動と、時定数が小さい回路に対応するような出力光の変動の両方に対応できるとしている。また、特許文献１は、そのような構成を備えることで、過渡的な変動に対する光出力の変化の抑制と、設定の切り替えの際の光出力の安定化を回路の切り替えを行わずに対応することができるとしている。

特開２０１４−５３３９８号公報

しかしながら、特許文献１の技術は次のような点で十分ではない。特許文献１の光出力装置は、時定数が異なる２つの回路によって光サージのような短時間の変動と設定の変更時の出力の安定化を行うことができるとしている。しかし、特許文献１の光出力装置では、実際に光サージが生じたときに、光サージが生じたことを検知することはできない。そのため、光サージが発生しているにも関わらず、調整や交換が行われないまま光出力装置の使用が継続され、通信の障害や重大な故障が発生する可能性がある。そのため、特許文献１の技術は、フィードバック制御を行う光出力回路において、安定した出力レベルを維持しつつ、光サージの発生を確実に検知する技術としては十分ではない。

本発明は、上記の課題を解決するため安定した出力レベルを維持しつつ、光サージの発生を確実に検知することができる光出力回路を得ることを目的としている。

上記の課題を解決するため、本発明の光出力回路は、光減衰手段と、強度検出手段と、制御手段と、基準設定手段と、光サージ検出手段を備えている。光減衰手段は、入力された光を減衰して出力光として出力する。強度検出手段は、出力光の強度を検出する。制御手段は、強度検出手段が検出した出力光の強度に基づいて、出力光が所定の設定強度となるように光減衰手段の減衰量を制御する。基準設定手段は、入力された光に光サージが発生しているかを判断する際の基準強度を、所定の設定強度に基づいて設定する。光サージ検出手段は、基準強度と、強度検出手段が検出した出力光の強度を比較して光サージの発生の有無を判断する。

本発明の光サージ検出方法は、入力された光を減衰して出力光として出力し、出力光の強度を検出し、検出した出力光の強度に基づいて、出力光が所定の設定強度となるように減衰量を制御する。本発明の光サージ検出方法は、入力された光に光サージが発生しているかを判断する際の基準強度を、所定の設定強度に基づいて設定し、基準強度と、検出した出力光の強度を比較して光サージの発生の有無を判断する

本発明によると、安定した出力レベルを維持しつつ、光サージの発生を確実に検知することができる。

本発明の第１の実施形態の構成の概要を示す図である。 本発明の第２の実施形態の構成の概要を示す図である。 本発明の第２の実施形態のサージ検出回路の構成を示す図である。 本発明の第２の実施形態における計測値と基準値の関係の例を示した図である。

（第１の実施形態）
本発明の第１の実施形態について図を参照して詳細に説明する。図１は、本実施形態の光出力回路の構成の概要を示したものである。本実施形態の光出力回路は、光減衰手段１と、強度検出手段２と、制御手段３と、基準設定手段４と、光サージ検出手段５を備えている。光減衰手段１は、入力された光を減衰して出力光として出力する。強度検出手段２は、出力光の強度を検出する。制御手段３は、強度検出手段２が検出した出力光の強度に基づいて、出力光が所定の設定強度となるように光減衰手段１の減衰量を制御する。基準設定手段４は、入力された光に光サージが発生しているかを判断する際の基準強度を、所定の設定強度に基づいて設定する。光サージ検出手段５は、基準強度と、強度検出手段２が検出した出力光の強度を比較して光サージの発生の有無を判断する。

本実施形態の光出力回路は、光減衰手段１が減衰した出力光の強度を強度検出手段２で検出し、制御手段３による減衰量を制御することで出力光の強度のループバック制御を行っている。また、本実施形態の光出力回路では、所定の設定強度の情報を基に、基準設定手段４は、入力された光に光サージが発生しているかを判断する際の基準強度を設定している。光サージ検出手段５は、強度検出手段２で検出した出力光の強度と、基準設定手段４が設定した基準強度を比較し、光サージの発生の有無を判断している。そのため、本実施形態の光出力回路は、ループバック制御を行って出力光を安定化させつつ、光サージの発生を検出することができる。

本実施形態の光出力回路は、所定の設定強度を基に光サージの発生の有無を判断する基準強度を設定しているので、基準設定手段４が出力強度の設定が変更されても光サージの発生の有無を判断することができる。よって、本実施形態の光出力回路路は、出力光の強度の設定変更等が行われた際にも、作業者が光サージの検出の基準を設定する必要はない。その結果、本実施形態の光出力回路は、出力光の設定に変更があって場合でも、安定した出力レベルを維持しつつ、光サージの発生を確実に検知することができる。

（第２の実施形態）
本発明の第２の実施形態について図を参照して詳細に説明する。図２は、本実施形態の光出力回路の構成の概要を示したものである。本実施形態の光出力回路は、光源１１と、光増幅器１２と、可変光減衰器１３と、分岐部１４と、光検出部１５と、電流電圧変換回路１６と、制御回路１７と、サージ検出回路１８を備えている。本実施形態の光出力回路は、光源１１から出力した光を光増幅器１２で増幅した後に、可変光減衰器１３で所定の設定強度に調整して出力する回路である。本実施形態の光出力回路は、可変光減衰器１３の出力光の強度を計測し、計測結果に基づいて可変光減衰器１３の減衰量を制御するフィードバック制御を行うことで、出力光の強度を安定化させている。

本実施形態の光出力回路の構成について詳細に説明する。光源１１は、所定の波長の光を出力する。光源１１には、所定の波長の光を出力する半導体レーザーを用いることができる。光源１１が出力する光の波長は、光出力回路に割り当てられている光信号の波長に基づいて設定される。光信号の波長の割り当ては、光出力回路が備えられた光伝送装置の波長設計に基づいて行われる。光源１１は、出力した所定の波長の光を光増幅器１２に送る。

光増幅器１２は、光源１１から入力される光の強度を増幅する。光増幅器１２には、例えば、ＥＤＦＡ（Erbium Doped Fiber Amplifier）を用いることができる。光増幅器１２は、強度を増幅した光を可変光減衰器１３に送る。本実施形態の光出力回路では、光増幅器１２における光の強度の増幅率はあらかじめ設定されている。

可変光減衰器１３は、光増幅器１２から入力される光の強度を、制御回路１７から減衰器制御信号Ｓ１２として入力される制御信号に示されている減衰量に基づいて減衰させる。可変光減衰器１３は、例えば、ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）やＰＬＣ（Planar Lightwave Circuit）を用いて構成することができる。可変光減衰器１３は、強度を減衰させた光を分岐部１４に送る。本実施形態の可変光減衰器１３は、第１の実施形態の光減衰手段１に相当する。

分岐部１４は、可変光減衰器１３から入力される光の一部を分岐し光検出部１５に入力する。分岐部１４で分岐されたもう一方の光は、光検出回路の出力側に送られる。光検出部１５に入力される光および出力側に送られる光は、分岐前の光に含まれるすべての波長成分を含んでいる。分岐部１４には、例えば、光カプラを用いることができる。

光検出部１５は、フォトダイオードを備え、入力された光を電流信号に変換する。光検出部１５において光から変換された電流信号は、電流電圧変換回路１６に送られる。分岐部１４と光検出部１５は、一体の部品として形成されていてもよい。分岐部１４と光検出部１５が一体として形成されている部品としては、例えば、Ｔａｐ−ＰＤ（Tap Photo Detector）が用いられる。分岐部１４と光検出部１５が一体として形成されている部品を用いることで回路面積を小さくすることができる。

電流電圧変換回路１６は、光検出部１５から入力される電流信号を電圧信号に変換する。電流電圧変換回路１６は、電流信号から変換した電圧信号を制御回路１７およびサージ検出回路１８に計測電圧信号Ｓ１１としてそれぞれ送る。本実施形態の光検出部１５および電流電圧変換回路１６は、第１の実施形態の強度検出手段２に相当する。

制御回路１７は、電流電圧変換回路１６から計測電圧信号Ｓ１１として入力される電圧信号を基に可変光減衰器１３の光の強度の減衰量を制御する。制御回路１７は、可変光減衰器１３から出力される光の設定強度、すなわち、出力される光の強度の設定値Ｐｓを保存している。可変光減衰器１３から出力される光の設定強度を示す設定値Ｐｓの情報は、作業者によって設定されてもよく、また、光出力回路が備えられている光伝送装置の制御回路等から入力されるようにしてもよい。また、制御回路１７は、電流電圧変換回路１６から入力される電圧信号が示す電圧Ｖｍと、可変光減衰器１３から出力される光の強度Ｐｍの関係の情報をあらかじめ保存している。制御回路１７は、電圧信号の電圧Ｖｍ、すなわち、可変光減衰器１３から出力される光の強度Ｐｍの情報を基に、可変光減衰器１３から出力される光の強度が設定値Ｐｓになるように可変光減衰器１３での光の減衰量を算出する。制御回路１７は、光の減衰量を算出すると光の減衰量を示す制御信号を生成する。制御回路１７は、生成した制御信号を減衰器制御信号Ｓ１２として可変光減衰器１３に送る。

また、制御回路１７は、可変光減衰器１３から出力される光の強度の設定値Ｐｓの情報をサージ検出回路１８に、強度設定値信号Ｓ１３として出力する。本実施形態の制御回路１７は、第１の実施形態の制御手段３に相当する。

サージ検出回路１８は、電流電圧変換回路１６から入力される出力強度の設定値Ｐｓの情報を基に光サージの発生を判断する基準値を算出し、可変光減衰器１３から出力される光の監視結果を基に光サージの発生を検出する機能を有する。サージ検出回路１８は、基準電圧設定回路２１と、コンパレータ２２をさらに備えている。

基準電圧設定回路２１は、制御回路１７から強度設定値信号Ｓ１３として入力される出力強度の設定値Ｐｓの情報を基に、光サージが発生していると判断する光の強度の閾値Ｐｔｈを設定する。基準電圧設定回路２１は、例えば、Ｐｔｈ＝Ａ×Ｐｓとして光サージが発生していると判断する光の強度の閾値Ｐｔｈを算出する。Ａはあらかじめ設定された定数である。光サージの発生を判断する光の強度の閾値Ｐｔｈは、他の計算式を用いて算出されてもよい。光サージが発生していると判断する光の強度の閾値Ｐｔｈは、出力強度の設定値Ｐｓごとに定められデータテーブルとして保存されている構成としてもよい。

光サージの発生を判断する光の強度の閾値Ｐｔｈを設定すると、基準電圧設定回路２１は、光サージの発生を判断する光の強度の閾値Ｐｔｈに対応する電圧Ｖｔｈを算出する。基準電圧設定回路２１は、光の強度の閾値Ｐｔｈに対応する電圧Ｖｔｈの電圧信号を生成する。基準電圧設定回路２１は、電流電圧変換回路１６から計測電圧信号Ｓ１１として入力される電圧信号が示す電圧Ｖｍと、可変光減衰器１３から出力される光の強度Ｐｍの関係の情報をあらかじめ保存している。基準電圧設定回路２１は、光サージの発生を判断する閾値Ｐｔｈに対応する電圧Ｖｔｈの電圧信号を生成し、コンパレータ２２に基準電圧信号Ｓ２１として出力する。本実施形態の基準電圧設定回路２１は、第１の実施形態の基準設定手段４に相当する。

コンパレータ２２は、基準電圧設定回路２１から基準電圧信号Ｓ２１として入力される電圧信号の電圧Ｖｔｈと、電流電圧変換回路１６から計測電圧信号Ｓ１１として入力される電圧信号の電圧Ｖｍを比較する。基準電圧設定回路２１からされる電圧信号の電圧Ｖｔｈよりも電流電圧変換回路１６から入力される信号の電圧Ｖｍの方が高いとき、コンパレータ２２は、光サージが発生していることを示す情報をアラーム信号Ｓ１４として出力する。アラーム信号Ｓ１４は、光出力回路が備えられている光伝送装置の監視システム等に送られ作業者等に光サージの発生が伝達される。本実施形態のコンパレータ２２は、第１の実施形態の光サージ検出手段５に相当する。

本実施形態の光出力回路の動作について説明する。始めに光源１１から所定の波長の光が出力される。光源１１から出力された光は、光増幅器１２に入力される。光増幅器１２に光が入力されると、光増幅器１２は、あらかじめ設定された増幅率で光の強度の増幅を行って、増幅した光を出力する。光増幅器１２から出力された光は、可変光減衰器１３に入力される。可変光減衰器１３は、入力された光を、制御回路１７から送られてくる減衰器制御信号Ｓ１２に基づいた減衰量で減衰する。可変光減衰器１３は、減衰処理を行った光を出力する。

可変光減衰器１３から出力された光は、分岐部１４で分岐され、一方の光は光出力回路の出力側に送られて光出力回路から出力される。分岐部１４で分岐されたもう一方の光は、光検出部１５に入力される。光検出部１５は、入力された光を電流に変換し、電流信号を電流電圧変換回路１６に出力する。電流電圧変換回路１６は、入力された電流信号を電圧信号に変換して、計測電圧信号Ｓ１１として、制御回路１７およびサージ検出回路１８に送る。

計測電圧信号Ｓ１１が入力されると、制御回路１７は、計測電圧信号Ｓ１１が示す電圧に基づいて、可変光減衰器１３からの出力光の強度が所定の設定強度になるように可変光減衰器１３の減衰量を算出する。減衰量を算出すると、制御回路１７は、減衰量を示す信号を減衰器制御信号Ｓ１２として可変光減衰器１３に送る。減衰器制御信号Ｓ１２を受け取ると、可変光減衰器１３は、減衰量の情報に基づいて入力された光を減衰し、減衰した光を出力する。以上の動作を繰り返すことで、本実施形態の光出力回路では、フィードバック制御により出力光の強度が所定の設定強度に近づくように制御される。

サージ検出回路１８に入力された計測電圧信号Ｓ１１は、コンパレータ２２に入力される。また、コンパレータ２２には基準電圧設定回路２１から、光サージの発生の有無を判断する基準となる基準電圧信号Ｓ２１が入力される。基準電圧信号Ｓ２１は、制御回路１７から基準電圧設定回路２１に入力された強度設定値信号Ｓ１３に基づいて設定されている。基準電圧設定回路２１は、強度設定値信号Ｓ１３が示す出力光の設定強度を基に、所定の条件に基づいて光サージの発生の有無を判断する基準強度、すなわち、光サージが発生していると判断する閾値を算出する。基準電圧設定回路２１は、算出した光の基準強度を電圧信号に変換し、基準電圧信号Ｓ２１としてコンパレータ２２に送る。

計測電圧信号Ｓ１１および基準電圧信号Ｓ２１が入力されると、コンパレータ２２は、計測電圧信号Ｓ１１の電圧と基準電圧信号Ｓ２１の電圧を比較する。コンパレータ２２は、計測電圧信号Ｓ１１の電圧が基準電圧信号Ｓ２１の電圧よりも高いとき、すなわち、出力光の強度が光サージの発生の有無を判断する基準強度より大きいとき、光サージが発生したことを示すアラーム信号Ｓ１４を出力する。コンパレータ２２から出力されたアラーム信号Ｓ１４は、光出力回路が備えられている光伝送装置の監視システム等に送られる。作業者等は、アラーム信号Ｓ１４を基に光サージの発生を検知し、光源１１や光増幅器１２に異常が生じていると判断することができる。

計測電圧信号Ｓ１１の電圧が基準電圧信号Ｓ２１の電圧よりも小さいときは、コンパレータ２２は、アラーム信号Ｓ１４を出力しない。計測電圧信号Ｓ１１の電圧が基準電圧信号Ｓ２１の電圧よりも小さいときは、出力光の強度が光サージの発生の有無を判断する基準強度より小さいため、光サージは発生してないと判断されるからである。以上のように、サージ検出回路１８で、計測電圧信号Ｓ１１の電圧と基準電圧信号Ｓ２１の電圧を比較することで、可変光減衰器１３の出力光の光サージを検出することができる。

図４は、光サージを検出する際に光検出部１５および電流電圧変換回路１６において光を電圧信号に変換し、電圧を計測したときの波形の例を示したものである。図４の横軸は時間を示し、縦軸はサージ検出回路１８に入力される計測電圧信号Ｓ１１の電圧値を示している。図４の左側は、光サージが発生していないと判断される場合、すなわち、コンパレータ２２からアラーム信号Ｓ１４が出力されない場合の例を示している。図４の右側は、光サージが発生していると判断される場合、すなわち、コンパレータ２２からアラーム信号Ｓ１４が出力される場合の例を示している。

図４の右側では、電圧値が急に増加した際に検出電圧として示したピークの電圧値が基準電圧を超えている。そのため、コンパレータ２２が、アラーム信号Ｓ１４を出力する。一方で図４の左側では、電圧値が急に増加した際であっても、ピークの電圧値は基準電圧を超えていないため、アラーム信号Ｓ１４は出力されない。作業者は、アラーム信号Ｓ１４を基に、光サージが発生していることを認識して、対応することが可能になる。

本実施形態の光出力回路は、可変光減衰器１３から出力された光を、光検出部１５および電流電圧変換回路１６で電圧信号に変えることで、可変光減衰器１３からの出力光の強度を計測している。本実施形態の光出力回路では、制御回路１７が、電流電圧変換回路１６から出力された電圧信号の電圧を基に、可変光減衰器１３の減衰量を制御することで出力光を安定化させるフィードバック制御を行っている。そのため、本実施形態の光出力回路は、安定した強度の光を出力することができる。

本実施形態の光出力回路は、制御回路１７から出力される可変光減衰器１３からの出力光の設定強度の情報を基に、基準電圧設定回路２１が光サージの発生の有無を判断する基準強度を生成している。また、基準電圧設定回路２１は、基準強度に基づいた電圧信号を生成している。本実施形態の光出力回路は、コンパレータ２２で、基準電圧設定回路２１から入力された電圧信号の電圧と、電流電圧変換回路から入力される電圧信号の電圧を比較することで光サージの発生の有無を判断している。そのため、本実施形態の光出力回路は、フィードバック制御で出力光を安定化させつつ、光サージの発生の検出を行うことができる。

本実施形態の光出力回路は、光サージの発生の有無を判断する際の基準を、基準電圧設定回路２１において制御回路１７が有する出力光の設定強度に基づいて設定している。そのため、本実施形態の光出力回路は、出力光の設定が変更になった際にも、新たな設定値に基づいて光サージの発生の有無を判断することができる。よって、本実施形態の光出力装置は、光源１１や光増幅器１２の設定や動作状態の変更、出力光の強度の設定が変更になった際にも、作業者による計測や設定作業を必要とせずに光サージを検出することができる。その結果、本実施形態の光検出回路は、出力光の設定に変更があって場合でも、安定した出力レベルを維持しつつ、光サージの発生を確実に検知することができる。

第２の実施形態のサージ検出回路１８は、コンパレータ２２を用いて電圧の比較を行って光サージの発生の検出を行っている。そのような構成に代えて、他の電圧比較器やラッチ回路用いて、電圧比較を行って、光サージの発生の有無を判断する構成としてもよい。また、サージ検出回路１８に、光の強度のピーク値を検出する回路を備え、発生した光サージの強さを検出できる構成としてもよい。

第２の実施形態の光出力回路は、光増幅器１２の後段に可変光減衰器１３を備えているが、可変光減衰器１３を、光増幅器１２を介さずに光源１１の後段に備えていてもよい。また、光源１１と可変光減衰器１３の間に、変調回路等の他の素子が備えられていてもよい。

１ 光減衰手段
２ 強度検出手段
３ 制御手段
４ 基準設定手段
５ 光サージ検出手段
１１ 光源
１２ 光増幅器
１３ 可変光減衰器
１４ 分岐部
１５ 光検出部
１６ 電流電圧変換回路
１７ 制御回路
１８ サージ検出回路
２１ 基準電圧設定回路
２２ コンパレータ
Ｓ１１ 計測電圧信号
Ｓ１２ 減衰器制御信号
Ｓ１３ 強度設定値信号
Ｓ１４ アラーム信号
Ｓ２１ 基準電圧信号

Claims (10)

1. 入力された光を減衰して出力光として出力する光減衰手段と、
   前記出力光の強度を検出する強度検出手段と、
   前記強度検出手段が検出した前記出力光の強度に基づいて、前記出力光が所定の設定強度となるように前記光減衰手段の減衰量を制御する制御手段と、
   入力された前記光に光サージが発生しているかを判断する際の基準強度を、前記所定の設定強度に基づいて設定する基準設定手段と、
   前記基準強度と、前記強度検出手段が検出した前記出力光の強度を比較して前記光サージの発生の有無を判断する光サージ検出手段と、
   を備えることを特徴とする光出力回路。
2. 前記強度検出手段は、前記出力光を電気信号に変換して第１の電圧信号として出力する手段をさらに有し、
   前記基準設定手段は、前記基準強度に基づいた電圧値を示す第２の電圧信号を生成して出力する手段をさらに有し、
   前記光サージ検出手段は、前記第１の電圧信号と前記第２の電圧信号を比較して、前記光サージの発生の有無を判断することを特徴とする請求項１に記載の光出力回路。
3. 前記強度検出手段が出力した前記第１の電圧信号は、分岐されて前記制御手段と、前記光サージ検出手段とに入力され、
   前記制御手段は、前記第１の電圧信号の電圧値を前記出力光の強度として前記光減衰手段の減衰量を制御することを特徴とする請求項２に記載の光出力回路。
4. 前記制御手段は、前記所定の設定強度の情報を出力し、
   前記基準設定手段は、前記制御手段から出力された前記所定の設定強度の情報を基に、前記基準強度を算出することを特徴とする請求項１から３いずれかに記載の光出力回路。
5. 前記光サージ検出手段は、前記光サージが発生していると判断したときに、前記光サージが発生していることを示す情報をアラーム信号として出力することを特徴とする請求項１から４いずれかに記載の光出力回路。
6. 光源をさらに備え、
   前記光源から出力された光が前記光減衰手段に入力されることを特徴とする請求項１から５いずれかに記載の光出力回路。
7. 入力された光を増幅して出力する光増幅器をさらに備え、
   前記光源から出力された前記光は、前記光増幅器で増幅された後に、前記光減衰手段に入力されることを特徴とする請求項１から６いずれかに記載の光出力回路。
8. 入力された光を減衰して出力光として出力し、
   前記出力光の強度を検出し、
   検出した前記出力光の強度に基づいて、前記出力光が所定の設定強度となるように減衰量を制御し、
   入力された前記光に光サージが発生しているかを判断する際の基準強度を、前記所定の設定強度に基づいて設定し、
   前記基準強度と、検出した前記出力光の強度を比較して前記光サージの発生の有無を判断することを特徴とする光サージ検出方法。
9. 前記出力光を電気信号に変換して第１の電圧信号として出力し、
   前記基準強度に基づいた電圧値を示す第２の電圧信号を生成して出力し、
   前記第１の電圧信号と前記第２の電圧信号を比較して、前記光サージの発生の有無を判断することを特徴とする請求項８に記載の光サージ検出方法。
10. 前記第１の電圧信号を分岐し、
    分岐した一方の前記第１の電圧信号の電圧値を前記出力光の強度として減衰量を制御し、
    分岐したもう一方の前記第１の電圧信号と前記第２の電圧信号を比較して、前記光サージの発生の有無を判断することを特徴とする請求項９に記載の光サージ検出方法。

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