JP2017103350A - Printed-wiring board and method for manufacturing the same - Google Patents

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雅敏 國枝
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a printed-wiring board capable of improving connection reliability by suppressing void generation and keeping uniformity of a plating film, and a method for manufacturing the same.SOLUTION: A printed-wiring board 1 comprises: a conductor layer 11 including a conductor pad 110; an insulating layer 12 covering the conductor layer 11; a conductor layer 13 formed on the insulating layer 12; an insulating layer 14 laminated on the insulating layer 12 so as to surround the conductor layer 13; and a conductor member 15 integrally formed over the inside of the insulating layers 12 and 14. The conductor member 15 is formed of a metal seed layer and an electroless plating layer. The conductor member 15 comprises a first portion 150 penetrating through the insulating layer 12 and electrically connected to the conductor pad 110, and a second portion 151 penetrating through the insulating layer 14 and juxtaposed in the conductor layer 13. An upper surface 151a of the second portion 151 is exposed to the outside.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、プリント配線板及びその製造方法に関する。   The present invention relates to a printed wiring board and a manufacturing method thereof.

従来、このような分野の技術として、例えば下記特許文献に記載されるものがある。特許文献1に記載のプリント配線板は、第1導体層を有するコア基板と、該コア基板上に形成されると共に第1及び第2開口部を有する絶縁層とを備えている。第1及び第2開口部のうち、第2開口部はコア基板に最も近く配置され、第1導体層の一部を露出させている。一方、第1開口部は、第2開口部の外側(コア基板から離れる側)に配置され、該第2開口部と連通している。そして、第1開口部には第2導体層が形成され、第2開口部には第1導体層及び第2導体層を電気的に接続するビア導体が形成されている。   Conventionally, as a technique in such a field, for example, there are those described in the following patent documents. The printed wiring board described in Patent Document 1 includes a core substrate having a first conductor layer, and an insulating layer formed on the core substrate and having first and second openings. Of the first and second openings, the second opening is disposed closest to the core substrate and exposes a portion of the first conductor layer. On the other hand, the first opening is disposed outside the second opening (the side away from the core substrate) and communicates with the second opening. A second conductor layer is formed in the first opening, and a via conductor that electrically connects the first conductor layer and the second conductor layer is formed in the second opening.

特開2007−221089号公報JP 2007-221089 A

しかし、上記のプリント配線板では、第2導体層及びビア導体を形成する際に電解めっき法が用いられるため、電流密度分布のばらつき等の原因で第1及び第2開口部の内部にボイドが発生しやすく、形成されるめっき膜が不均一になる可能性があると考えられる。そして、ボイドの発生及びめっき膜の不均一によって、プリント配線板の接続信頼性が損なわれていると推測される。   However, in the above printed wiring board, since the electroplating method is used when forming the second conductor layer and the via conductor, voids are formed inside the first and second openings due to variations in current density distribution and the like. It is easy to generate | occur | produce and it is thought that the plating film formed may become non-uniform | heterogenous. And it is estimated that the connection reliability of a printed wiring board is impaired by generation | occurrence | production of a void and the nonuniformity of a plating film.

上記課題を解決する本発明のプリント配線板は、複数の導体層及び絶縁層を有するプリント配線板であって、第1導体パッドを含む第1導体層と、前記第1導体層を覆うように該第1導体層の上に積層される第1絶縁層と、前記第1絶縁層の上に形成され、第2導体パッドを含む第2導体層と、前記第2導体層を取り囲むように前記第1絶縁層の上に積層される第2絶縁層と、前記第1絶縁層及び前記第2絶縁層の内部に亘り、一体的に形成される導体部材と、を備え、前記導体部材は、金属シード層及び無電解めっき層により形成されており、前記導体部材は、前記第1絶縁層に貫設され、前記第1導体パッドと電気的に接続する第1部分と、前記第2絶縁層に貫設され、前記第2導体層と並設する第2部分と、を有し、前記第2部分の上表面は、外部に露出している。   The printed wiring board of the present invention that solves the above problems is a printed wiring board having a plurality of conductor layers and insulating layers, and covers a first conductor layer including a first conductor pad and the first conductor layer. A first insulating layer laminated on the first conductor layer; a second conductor layer formed on the first insulating layer and including a second conductor pad; and the second conductor layer so as to surround the second conductor layer. A second insulating layer laminated on the first insulating layer; and a conductor member integrally formed across the first insulating layer and the second insulating layer, the conductor member comprising: The conductive member is formed of a metal seed layer and an electroless plating layer, and the conductor member penetrates the first insulating layer and is electrically connected to the first conductor pad, and the second insulating layer. And a second portion juxtaposed with the second conductor layer, and over the second portion Surface is exposed to the outside.

また、本発明に係るプリント配線板の製造方法は、絶縁材料からなる第1絶縁層を形成する工程と、前記第1絶縁層を貫通する貫通孔を形成し、前記第1絶縁層の表面及び前記貫通孔の内壁面に金属シード層を形成する工程と、前記金属シード層の上にレジスト層を形成し、該レジスト層に露光現像処理を施すことによってレジストパターンと、前記貫通孔を覆い被せるレジストポストと、を形成する工程と、前記レジストパターン及び前記レジストポストが形成されていない部分の前記金属シード層を除去する工程と、前記第1絶縁層の上に、前記レジストパターン及び前記レジストポストを覆う第2絶縁層を積層する工程と、前記第2絶縁層の表面にプラズマを照射することにより前記レジストパターン及び前記レジストポストを露出させ、更にプラズマ照射で前記レジストパターン及び前記レジストポストを除去する工程と、前記レジストパターン及び前記レジストポストの除去により露出された前記金属シード層の上に、無電解めっき層を形成する工程と、を備える。   The method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention includes a step of forming a first insulating layer made of an insulating material, a through-hole penetrating the first insulating layer, a surface of the first insulating layer, and Forming a metal seed layer on the inner wall surface of the through hole; forming a resist layer on the metal seed layer; and exposing and developing the resist layer to cover the resist pattern and the through hole A resist post, a step of removing the metal seed layer in a portion where the resist pattern and the resist post are not formed, and the resist pattern and the resist post on the first insulating layer. A step of laminating a second insulating layer covering the substrate, and exposing the surface of the second insulating layer to plasma to expose the resist pattern and the resist post. A step of removing the resist pattern and the resist post by plasma irradiation; and a step of forming an electroless plating layer on the metal seed layer exposed by removing the resist pattern and the resist post. Prepare.

本発明によれば、ボイドの発生を抑制し、めっき膜の均一性を保つことにより、接続信頼性を向上することができる。   According to the present invention, connection reliability can be improved by suppressing the generation of voids and maintaining the uniformity of the plating film.

第1実施形態に係るプリント配線板を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the printed wiring board which concerns on 1st Embodiment. プリント配線板の製造方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing method of a printed wiring board. プリント配線板の製造方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing method of a printed wiring board. プリント配線板の製造方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing method of a printed wiring board. プリント配線板の製造方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing method of a printed wiring board. プリント配線板の製造方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing method of a printed wiring board. プリント配線板の製造方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing method of a printed wiring board. プリント配線板の製造方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing method of a printed wiring board. プリント配線板の製造方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing method of a printed wiring board. プリント配線板の製造方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing method of a printed wiring board. プリント配線板の製造方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing method of a printed wiring board. プリント配線板の製造方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing method of a printed wiring board. プリント配線板の製造方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing method of a printed wiring board. プリント配線板の製造方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing method of a printed wiring board. プリント配線板の製造方法を説明する工程図である。It is process drawing explaining the manufacturing method of a printed wiring board. プリント配線板を用いたPOP構造の半導体パッケージを示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the semiconductor package of the POP structure using a printed wiring board. 第2実施形態に係るプリント配線板を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the printed wiring board which concerns on 2nd Embodiment. プリント配線板を用いたPOP構造の半導体パッケージを示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the semiconductor package of the POP structure using a printed wiring board. プリント配線板を用いたPOP構造の半導体パッケージを示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the semiconductor package of the POP structure using a printed wiring board. 第3実施形態に係るプリント配線板を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the printed wiring board which concerns on 3rd Embodiment. 第4実施形態に係るプリント配線板を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the printed wiring board which concerns on 4th Embodiment. 第5実施形態に係るプリント配線板を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows the printed wiring board which concerns on 5th Embodiment.

以下、図面を参照して本発明に係るプリント配線板及びその製造方法の実施形態について説明する。図面の説明において同一の要素には同一符号を付し、重複説明は省略する。   Embodiments of a printed wiring board and a manufacturing method thereof according to the present invention will be described below with reference to the drawings. In the description of the drawings, the same elements are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.

<第1実施形態>
図1は第1実施形態に係るプリント配線板を示す概略断面図である。本実施形態に係るプリント配線板1は、複数の導体層と絶縁層とを交互に積層してなるビルドアップ構造となっており、3層の絶縁層10,12,14と2層の導体層11,13とを備えている。絶縁層10、絶縁層12及び絶縁層14は、層間絶縁層であり、例えば感光性樹脂によって形成され、それぞれの厚みが5〜25μmである。絶縁層10はプリント配線板1の最も下側、絶縁層14はプリント配線板1の最も上側、絶縁層12はこれらの間に配置されている。
<First Embodiment>
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing a printed wiring board according to the first embodiment. The printed wiring board 1 according to the present embodiment has a build-up structure in which a plurality of conductor layers and insulating layers are alternately stacked, and includes three insulating layers 10, 12, 14 and two conductive layers. 11 and 13. The insulating layer 10, the insulating layer 12, and the insulating layer 14 are interlayer insulating layers, which are formed of, for example, a photosensitive resin and have a thickness of 5 to 25 μm. The insulating layer 10 is disposed on the lowermost side of the printed wiring board 1, the insulating layer 14 is disposed on the uppermost side of the printed wiring board 1, and the insulating layer 12 is disposed therebetween.

絶縁層10の上には、導体層11が形成されている。本発明の導体層は、導体回路を構成する配線層であり、その配置位置によって導体パッドと配線等を含む場合もあれば、導体パッドのみを含む場合もある。導体層11は、特許請求の範囲に記載の「第1導体層」に相当するものであって、複数の導体パッド(第1導体パッド)110と、該導体パッド110の間に配置された複数の配線111とを含むように形成されている。   A conductor layer 11 is formed on the insulating layer 10. The conductor layer of the present invention is a wiring layer constituting a conductor circuit, and may include a conductor pad and a wiring depending on the arrangement position thereof, or may include only a conductor pad. The conductor layer 11 corresponds to a “first conductor layer” recited in the claims, and a plurality of conductor pads (first conductor pads) 110 and a plurality of conductor pads 110 disposed between the conductor pads 110. The wiring 111 is included.

導体パッド110及び配線111は、それぞれ金属シード層11aと無電解めっき層11bにより形成されている。金属シード層11aは、例えばCuシード層であり、絶縁層10に隣接する側に配置され、その上には無電解めっき層11bが配置されている。また、絶縁層10の内部には、絶縁層10を貫通する貫通孔16が複数形成されている。貫通孔16は、円錐台状を呈し、その直径が絶縁層10から絶縁層12に向かう方向に拡がっている。   The conductor pad 110 and the wiring 111 are formed of a metal seed layer 11a and an electroless plating layer 11b, respectively. The metal seed layer 11a is a Cu seed layer, for example, and is disposed on the side adjacent to the insulating layer 10, and the electroless plating layer 11b is disposed thereon. A plurality of through holes 16 penetrating the insulating layer 10 are formed in the insulating layer 10. The through hole 16 has a truncated cone shape, and its diameter extends in a direction from the insulating layer 10 toward the insulating layer 12.

貫通孔16の内部には、電極17が形成されている。この電極17は、導体層11と同様に金属シード層11aと無電解めっき層11bにより形成され、絶縁層10から絶縁層12に向かう方向に拡径されている。電極17の上端は導体パッド110と一体的に形成され、下端は外部に露出している。そして、電極17の外部に露出する下表面17aは、絶縁層10の下表面10aと同一平面に位置している。   An electrode 17 is formed inside the through hole 16. The electrode 17 is formed of a metal seed layer 11 a and an electroless plating layer 11 b as in the case of the conductor layer 11, and has a diameter increased in a direction from the insulating layer 10 toward the insulating layer 12. The upper end of the electrode 17 is formed integrally with the conductor pad 110, and the lower end is exposed to the outside. The lower surface 17 a exposed to the outside of the electrode 17 is located on the same plane as the lower surface 10 a of the insulating layer 10.

導体層11の上には、該導体層11を覆うように絶縁層12が積層されている。絶縁層12は、特許請求の範囲に記載の「第1絶縁層」に相当するものであり、その上には導体層13が形成されている。導体層13は、特許請求の範囲に記載の「第2導体層」に相当するものであり、複数の導体パッド(第2導体パッド)130を含んでいる。更に、絶縁層12の上には、絶縁層14が積層されている。この絶縁層14は、特許請求の範囲に記載の「第2絶縁層」に相当するものであり、絶縁層12の上に形成された導体層13を取り囲んでいる。導体層13は、金属シード層13aと無電解めっき層13bにより形成されている。   An insulating layer 12 is laminated on the conductor layer 11 so as to cover the conductor layer 11. The insulating layer 12 corresponds to a “first insulating layer” recited in the claims, and a conductor layer 13 is formed thereon. The conductor layer 13 corresponds to a “second conductor layer” recited in the claims, and includes a plurality of conductor pads (second conductor pads) 130. Further, an insulating layer 14 is laminated on the insulating layer 12. The insulating layer 14 corresponds to a “second insulating layer” recited in the claims, and surrounds the conductor layer 13 formed on the insulating layer 12. The conductor layer 13 is formed of a metal seed layer 13a and an electroless plating layer 13b.

図1に示すように、プリント配線板1は、更に導体部材15を複数備えている。導体部材15は、絶縁層12及び絶縁層14の内部に亘って一体的に形成され、絶縁層12に貫設される第1部分150と、絶縁層14に貫設される第2部分151とを有する。第1部分150は、絶縁層12に形成された貫通孔18の内部に設けられ、円錐台状を呈しており、絶縁層12から絶縁層14に向う方向に拡径されている。この第1部分150は、貫通孔18の内壁面に沿って形成された金属シード層13aと、金属シード層13aに包まれるように該金属シード層13aの内側に配置される無電解めっき層13bによって形成されている。   As shown in FIG. 1, the printed wiring board 1 further includes a plurality of conductor members 15. The conductor member 15 is integrally formed over the insulating layer 12 and the insulating layer 14, and includes a first portion 150 that penetrates the insulating layer 12, and a second portion 151 that penetrates the insulating layer 14. Have The first portion 150 is provided inside the through hole 18 formed in the insulating layer 12, has a truncated cone shape, and has a diameter expanded in a direction from the insulating layer 12 toward the insulating layer 14. The first portion 150 includes a metal seed layer 13a formed along the inner wall surface of the through hole 18, and an electroless plating layer 13b disposed inside the metal seed layer 13a so as to be surrounded by the metal seed layer 13a. Is formed by.

一方、第2部分151は、第1部分150の上方に配置され、円柱状に形成されている。この第2部分151は、導体層13と並設し、絶縁層14に取り囲まれている。また、第2部分151は、絶縁層12の表面に形成された金属シード層13aと、該金属シード層13a及び第1部分150の上に配置される無電解めっき層13bによって形成されている。   On the other hand, the 2nd part 151 is arrange | positioned above the 1st part 150, and is formed in the column shape. The second portion 151 is juxtaposed with the conductor layer 13 and is surrounded by the insulating layer 14. The second portion 151 is formed by a metal seed layer 13 a formed on the surface of the insulating layer 12 and an electroless plating layer 13 b disposed on the metal seed layer 13 a and the first portion 150.

第1部分150の下端は導体層11の導体パッド110と電気的に接続され、第2部分151の上端(すなわち、第2部分151の上表面151a)は、外部に露出している。また、導体部材15とその下方に配置される電極17とは、絶縁層10,12,14の積層方向に沿って直線状に積み重ねられて、スタック構造をなしている。図1に示すように、第2部分151の上表面151aは、絶縁層14の上表面14aと同一平面に位置している。また、導体パッド130の上表面130aは、絶縁層14の上表面14aと同一平面に位置している。   The lower end of the first portion 150 is electrically connected to the conductor pad 110 of the conductor layer 11, and the upper end of the second portion 151 (that is, the upper surface 151a of the second portion 151) is exposed to the outside. The conductor member 15 and the electrode 17 disposed below the conductor member 15 are stacked in a straight line along the stacking direction of the insulating layers 10, 12, and 14 to form a stack structure. As shown in FIG. 1, the upper surface 151 a of the second portion 151 is located in the same plane as the upper surface 14 a of the insulating layer 14. Further, the upper surface 130 a of the conductor pad 130 is located in the same plane as the upper surface 14 a of the insulating layer 14.

以上の構造を有するプリント配線板1では、導体部材15の第2部分151の上表面151aが外部に露出し、その第1部分150が導体パッド110と電気的に接続している。従って、この導体部材15を外部の電子部品と実装するための実装パッドとすることができるので、外部の電子部品を容易にプリント配線板1に実装させることが可能になる。   In the printed wiring board 1 having the above structure, the upper surface 151a of the second portion 151 of the conductor member 15 is exposed to the outside, and the first portion 150 is electrically connected to the conductor pad 110. Therefore, since the conductor member 15 can be used as a mounting pad for mounting with an external electronic component, the external electronic component can be easily mounted on the printed wiring board 1.

また、導体層11、導体層13、電極17及び導体部材15は金属シード層11a,13a及び無電解めっき層11b,13bにより形成されているため、従来の電解めっき法を用いた場合と比べて、ボイドの発生を抑制することができると共に、形成されるめっき膜を均一に保つことができる。これによって、プリント配線板1の接続信頼性を向上することができる。更に、ボイドの発生を抑制でき、且つめっき膜の均一性を保つことができる以上、設計通りの配線幅及び配線間隔を得ることが可能になる。従って、微細な配線や高密度の導体回路を容易に形成することができ、プリント配線板1の導体回路の微細化を図りやすくなる。   Moreover, since the conductor layer 11, the conductor layer 13, the electrode 17, and the conductor member 15 are formed by the metal seed layers 11a and 13a and the electroless plating layers 11b and 13b, compared with the case where the conventional electrolytic plating method is used. The generation of voids can be suppressed, and the formed plating film can be kept uniform. Thereby, the connection reliability of the printed wiring board 1 can be improved. Furthermore, as long as the generation of voids can be suppressed and the uniformity of the plating film can be maintained, the designed wiring width and wiring spacing can be obtained. Accordingly, fine wiring and high-density conductor circuits can be easily formed, and the conductor circuits of the printed wiring board 1 can be easily miniaturized.

更に、導体部材15の第2部分151の上表面151a、導体パッド130の上表面130a及び絶縁層14の上表面14aは同一平面に位置しているので、これらの上表面の平坦性を保つことができる。従って、これらの上表面を介して他の電子部品と実装する際に、実装性を向上する効果も期待できる。   Furthermore, since the upper surface 151a of the second portion 151 of the conductor member 15, the upper surface 130a of the conductor pad 130, and the upper surface 14a of the insulating layer 14 are located on the same plane, the flatness of these upper surfaces should be maintained. Can do. Therefore, when mounting with other electronic components via these upper surfaces, the effect of improving mountability can also be expected.

なお、本実施形態では、導体層11、導体層13、電極17及び導体部材15は、全て金属シード層と無電解めっき層により形成されているが、これに限らない。例えば、導体回路の微細化等がそれほど要求されない場合には、導体層13及び導体部材15を金属シード層と無電解めっき層により形成されるものとしつつ、導体層11及び電極17をシード層と電解めっき層によって形成されるものとしても良い。あるいは、同じ導体層において、シード層と電気めっき層により形成される部分と、シード層及び無電解めっき層により形成される部分とを混在させるように使い分けても良い。   In the present embodiment, the conductor layer 11, the conductor layer 13, the electrode 17, and the conductor member 15 are all formed of a metal seed layer and an electroless plating layer, but are not limited thereto. For example, when miniaturization or the like of the conductor circuit is not so required, the conductor layer 13 and the conductor member 15 are formed of the metal seed layer and the electroless plating layer, and the conductor layer 11 and the electrode 17 are the seed layer. It may be formed by an electrolytic plating layer. Or in the same conductor layer, you may use properly so that the part formed by a seed layer and an electroplating layer and the part formed by a seed layer and an electroless-plating layer may be mixed.

<プリント配線板1の製造方法>
以下、図2A〜図4Eを参照し、プリント配線板1の製造方法について説明する。初めに、支持板20を用意する。支持板20には、例えば、低熱膨張率を有する平坦なガラス板が用いられる。なお、ガラス板のほか、Si、金属板、銅張り積層基板等が用いられても良い。続いて、支持板20の上に剥離層21を形成する(図2A参照)。剥離層21に用いられる剥離剤として、例えば、ブリューワサイエンス社のWafer Bondが挙げられる。
<Method for Manufacturing Printed Wiring Board 1>
Hereinafter, a method of manufacturing the printed wiring board 1 will be described with reference to FIGS. 2A to 4E. First, the support plate 20 is prepared. For the support plate 20, for example, a flat glass plate having a low coefficient of thermal expansion is used. In addition to a glass plate, Si, a metal plate, a copper clad laminated substrate, etc. may be used. Subsequently, a release layer 21 is formed on the support plate 20 (see FIG. 2A). Examples of the release agent used for the release layer 21 include Wafer Bond from Brewer Science.

次に、剥離層21の上に感光性ポリイミド樹脂からなる層間絶縁材を塗布して、絶縁層10を形成する。続いて、剥離層21と絶縁層10に加熱処理を施すことでこれらを接着させる。その後、絶縁層10の所定の位置にマスクを用いて露光処理を行い、更に現像処理を行うことにより、絶縁層10に円錐台状の貫通孔16を複数形成する(図2B参照)。形成される貫通孔16は、支持板20から絶縁層10に向かう方向(すなわち、図1に示す絶縁層10から絶縁層12に向かう方向)に拡径されている。貫通孔16の深さは、剥離層21の表面まで達している。   Next, an insulating layer 10 is formed by applying an interlayer insulating material made of a photosensitive polyimide resin on the release layer 21. Subsequently, the release layer 21 and the insulating layer 10 are bonded together by heat treatment. Thereafter, an exposure process is performed at a predetermined position of the insulating layer 10 using a mask, and further a developing process is performed to form a plurality of frustoconical through holes 16 in the insulating layer 10 (see FIG. 2B). The formed through-hole 16 is expanded in the direction from the support plate 20 toward the insulating layer 10 (that is, the direction from the insulating layer 10 to the insulating layer 12 shown in FIG. 1). The depth of the through hole 16 reaches the surface of the release layer 21.

続いて、絶縁層10の上表面、貫通孔16の内壁面及び貫通孔16によって露出された剥離層21にパラジウムなどの触媒を付与させ、次亜リン酸を有する無電解めっき液に5〜60分間浸漬させることにより、これらの場所に厚さが0.1〜1μmの金属シード層11aを形成する(図2C参照)。   Subsequently, a catalyst such as palladium is applied to the upper surface of the insulating layer 10, the inner wall surface of the through-hole 16 and the release layer 21 exposed by the through-hole 16, and 5 to 60 is applied to the electroless plating solution having hypophosphorous acid. By soaking for a minute, a metal seed layer 11a having a thickness of 0.1 to 1 μm is formed in these places (see FIG. 2C).

次に、金属シード層11aの上にレジスト層を塗布し、該レジスト層にフォトマスクフィルムを載置して露光した後に、炭酸ナトリウムで現像処理し、所定のレジストパターン22を形成する。続いて、無電解めっき法を用いて、レジストパターン22が形成されていない金属シード層11aの上に無電解めっき層11bを形成する(図2D参照)。このとき、貫通孔16の内部には、無電解めっき層11bが充填される。   Next, a resist layer is applied on the metal seed layer 11a, a photomask film is placed on the resist layer and exposed, and then developed with sodium carbonate to form a predetermined resist pattern 22. Subsequently, an electroless plating layer 11b is formed on the metal seed layer 11a on which the resist pattern 22 is not formed by using an electroless plating method (see FIG. 2D). At this time, the inside of the through hole 16 is filled with the electroless plating layer 11b.

次に、モノエタノールアミンを含む溶液でレジストパターン22を除去し、更に、除去によって露出された金属シード層11aをエッチング処理で除去する。そして、絶縁層10に残された金属シード層11a及び無電解めっき層11bは導体層11を形成し、貫通孔16の内部に残された金属シード層11a及び無電解めっき層11bは電極17を形成する(図2E参照)。   Next, the resist pattern 22 is removed with a solution containing monoethanolamine, and the metal seed layer 11a exposed by the removal is removed by an etching process. Then, the metal seed layer 11a and the electroless plating layer 11b left on the insulating layer 10 form a conductor layer 11, and the metal seed layer 11a and the electroless plating layer 11b left inside the through hole 16 provide an electrode 17. Form (see FIG. 2E).

次に、導体層11及び絶縁層10上に、これらを覆うように絶縁層12を形成する(図3A参照)。絶縁層12は、絶縁層10と同様に、感光性ポリイミド樹脂からなる層間絶縁材を塗布することにより形成されている。続いて、絶縁層12の電極17に対応する位置に露光現像処理を行うことにより、円錐台状の貫通孔18を複数形成する(図3B参照)。なお、貫通孔18は、上述の貫通孔16と同様に、絶縁層10から絶縁層12に向かう方向に拡径されている。   Next, the insulating layer 12 is formed on the conductor layer 11 and the insulating layer 10 so as to cover them (see FIG. 3A). As with the insulating layer 10, the insulating layer 12 is formed by applying an interlayer insulating material made of a photosensitive polyimide resin. Subsequently, a plurality of frustoconical through holes 18 are formed by performing exposure and development processing at positions corresponding to the electrodes 17 of the insulating layer 12 (see FIG. 3B). The through hole 18 is expanded in the direction from the insulating layer 10 toward the insulating layer 12, similarly to the above-described through hole 16.

次に、上述の方法で絶縁層12の上表面及び貫通孔18の内壁面に触媒を付与させ、更に絶縁層12の上表面及び貫通孔18の内壁面、並びに貫通孔18によって露出された導体層11の上に厚さが0.1〜1μmの金属シード層13aを形成する(図3C参照)。   Next, a catalyst is applied to the upper surface of the insulating layer 12 and the inner wall surface of the through hole 18 by the above-described method, and the conductor exposed by the upper surface of the insulating layer 12 and the inner wall surface of the through hole 18 and the through hole 18. A metal seed layer 13a having a thickness of 0.1 to 1 μm is formed on the layer 11 (see FIG. 3C).

続いて、金属シード層13aの上にレジスト層23を形成する(図3D参照)。ここでは、例えばレジストフィルムを金属シード層13aの上にラミネートすることでレジスト層23を形成する。続いて、上述した方法でレジスト層23に露光現像処理を施すことにより、金属シード層13aの上に所定のレジストパターン24と、貫通孔18の上方に該貫通孔18を覆い被せるレジストポスト27とを形成する(図4A参照)。   Subsequently, a resist layer 23 is formed on the metal seed layer 13a (see FIG. 3D). Here, for example, the resist layer 23 is formed by laminating a resist film on the metal seed layer 13a. Subsequently, the resist layer 23 is exposed and developed by the above-described method, whereby a predetermined resist pattern 24 is formed on the metal seed layer 13a, and a resist post 27 that covers the through hole 18 above the through hole 18; (See FIG. 4A).

次に、レジストパターン24及びレジストポスト27が形成されていない部分の金属シード層13aをエッチングして除去する(図4B参照)。続いて、絶縁層12の上に、レジストパターン24及びレジストポスト27を覆う絶縁層14を形成する(図4C参照)。   Next, the metal seed layer 13a where the resist pattern 24 and the resist post 27 are not formed is removed by etching (see FIG. 4B). Subsequently, the insulating layer 14 covering the resist pattern 24 and the resist post 27 is formed on the insulating layer 12 (see FIG. 4C).

次に、絶縁層14の表面にプラズマ照射することにより、絶縁層14に埋設されたレジストパターン24及びレジストポスト27を露出させる。このとき、形成される絶縁層14の上表面14aがレジストパターン24及びレジストポスト27の上表面と同一平面に位置するように、プラズマ照射を行う必要がある。その後、更にプラズマ照射でレジストパターン24及びレジストポスト27のみを除去する(図4D参照)。これによって、絶縁層12及び貫通孔18の内壁面に形成された金属シード層13aが再び露出することになる。なお、プラズマ照射には、Oプラズマ又はHプラズマが用いられる。 Next, the resist pattern 24 and the resist post 27 embedded in the insulating layer 14 are exposed by irradiating the surface of the insulating layer 14 with plasma. At this time, it is necessary to perform plasma irradiation so that the upper surface 14a of the insulating layer 14 to be formed is positioned on the same plane as the upper surfaces of the resist pattern 24 and the resist post 27. Thereafter, only the resist pattern 24 and the resist post 27 are further removed by plasma irradiation (see FIG. 4D). As a result, the metal seed layer 13a formed on the inner wall surface of the insulating layer 12 and the through hole 18 is exposed again. Note that O 2 plasma or H 2 plasma is used for plasma irradiation.

図4Dに示すように、レジストパターン24の除去により、絶縁層14には金属シード層13aを露出させる空間S1が複数形成されている。一方、レジストポスト27の除去により、絶縁層14には金属シード層13aを露出させる空間S2が複数形成されている。これらの空間S1及び空間S2は、略円柱状になっている。また、レジストポスト27の除去によって、貫通孔18は再び露出することになる。   As shown in FIG. 4D, by removing the resist pattern 24, a plurality of spaces S1 in which the metal seed layer 13a is exposed are formed in the insulating layer. On the other hand, a plurality of spaces S2 exposing the metal seed layer 13a are formed in the insulating layer 14 by removing the resist posts 27. These spaces S1 and S2 are substantially cylindrical. Further, the through hole 18 is exposed again by removing the resist post 27.

次に、絶縁層14の内部に形成された空間S1及び空間S2並びに貫通孔18の内部、すなわち、レジストパターン24及びレジストポスト27の除去により露出された金属シード層13aの上に、無電解めっき法を用いて無電解めっき層13bを形成する。このとき、形成される無電解めっき層13bの上表面と絶縁層14の上表面14aとを同一平面上に揃えるように、該無電解めっき層13bの形成を行う(図4E参照)。そして、空間S1に形成された無電解めっき層13b及びその下方の金属シード層13aは、導体層13を形成する。一方、空間S2及び貫通孔18の内部に形成された無電解めっき層13b並びにその下方の金属シード層13aは、導体部材15を形成する。   Next, electroless plating is performed on the space S1 and the space S2 formed inside the insulating layer 14 and the inside of the through hole 18, that is, on the metal seed layer 13a exposed by removing the resist pattern 24 and the resist post 27. The electroless plating layer 13b is formed using a method. At this time, the electroless plating layer 13b is formed so that the upper surface of the formed electroless plating layer 13b and the upper surface 14a of the insulating layer 14 are aligned on the same plane (see FIG. 4E). The electroless plating layer 13b formed in the space S1 and the metal seed layer 13a below the electroless plating layer 13b form a conductor layer 13. On the other hand, the electroless plating layer 13b formed inside the space S2 and the through hole 18 and the metal seed layer 13a below the electroless plating layer 13a form the conductor member 15.

なお、無電解めっき層13bを形成する前に、絶縁層14の内部に形成された空間S1及び空間S2の周壁に粗化処理を施しても良い。このようにすれば、形成された無電解めっき層13bと絶縁層14との密着性を高めることができる。   In addition, before forming the electroless plating layer 13b, a roughening process may be performed on the peripheral walls of the space S1 and the space S2 formed in the insulating layer 14. If it does in this way, the adhesiveness of the formed electroless-plating layer 13b and the insulating layer 14 can be improved.

次に、支持板20及び剥離層21を加熱し、剥離層21を軟化させてプリント配線板1から支持板20を取り外す。そして、支持板20を取り外した後に、プリント配線板1に残留した剥離層21をきれいに除去すれば、図1に示すプリント配線板1を得られる。   Next, the support plate 20 and the release layer 21 are heated to soften the release layer 21 and remove the support plate 20 from the printed wiring board 1. And if the peeling layer 21 which remained on the printed wiring board 1 is removed cleanly after removing the support board 20, the printed wiring board 1 shown in FIG. 1 will be obtained.

上述の製造方法では、金属シード層11a,13aの上に無電解めっき法で無電解めっき層11b,13bを形成するので、従来の電解めっき法と比べて、ボイドの発生を抑制することができると共に、形成されるめっき膜を均一に保つことができる。このため、プリント配線板1の接続信頼性を向上することができる。   In the above manufacturing method, since the electroless plating layers 11b and 13b are formed on the metal seed layers 11a and 13a by the electroless plating method, generation of voids can be suppressed as compared with the conventional electrolytic plating method. At the same time, the formed plating film can be kept uniform. For this reason, the connection reliability of the printed wiring board 1 can be improved.

また、導体層13及び導体部材15を形成する際に、レジストパターン24及びレジストポスト27のない部分の金属シード層13aをエッチングで先に除去し、その後に無電解めっき層13bを形成する。このようにすれば、無電解めっき層を先に形成しその後に不要となる金属シード層をエッチングで除去する場合と比べて、エッチング処理による導体層へのダメージを低減することができる。従って、設計通りの配線回路を確保することができ、導体回路の微細化を図ることが可能になる。   Further, when the conductor layer 13 and the conductor member 15 are formed, the metal seed layer 13a where the resist pattern 24 and the resist post 27 are not present is first removed by etching, and then the electroless plating layer 13b is formed. In this case, damage to the conductor layer due to the etching process can be reduced as compared with the case where the electroless plating layer is formed first and then the unnecessary metal seed layer is removed by etching. Therefore, the designed wiring circuit can be secured and the conductor circuit can be miniaturized.

更に、上述の製造方法では、プラズマ照射を用いて絶縁層14の部分除去、レジストパターン24及びレジストポスト27の除去を行うので、従来の溶解液を用いる場合と比べて、作業の効率を高めることができ、生産性の向上を図ることが可能になる。   Furthermore, in the above-described manufacturing method, partial removal of the insulating layer 14 and removal of the resist pattern 24 and the resist post 27 are performed using plasma irradiation, so that the work efficiency is increased compared to the case of using a conventional solution. It is possible to improve productivity.

このように作製されたプリント配線板1は、単体として使用できるほか、他の基板などと組み合わせて使用することも可能である。図5は、プリント配線板1をPOP(パッケージオンパッケージ)構造の半導体パッケージに用いる例を示している。   The printed wiring board 1 produced in this way can be used as a single unit or in combination with other substrates. FIG. 5 shows an example in which the printed wiring board 1 is used in a semiconductor package having a POP (package on package) structure.

図5に示す半導体パッケージは、プリント配線板1と、該プリント配線板1に実装される半導体チップ3及び他のプリント配線板4とを備えている。半導体チップ3と他のプリント配線板4は、上下方向(すなわち、絶縁層10、12、14の積層方向)に積み重ねるように配置されている。半導体チップ3の端子又は電極は、半田バンプ28を介してプリント配線板1の導体部材15の一部(図5においては、絶縁層14の中央部に位置する導体部材15)と電気的に接続されている。   The semiconductor package shown in FIG. 5 includes a printed wiring board 1, a semiconductor chip 3 mounted on the printed wiring board 1, and another printed wiring board 4. The semiconductor chip 3 and the other printed wiring board 4 are arranged so as to be stacked in the vertical direction (that is, the stacking direction of the insulating layers 10, 12, and 14). The terminals or electrodes of the semiconductor chip 3 are electrically connected to a part of the conductor member 15 of the printed wiring board 1 (the conductor member 15 located at the center of the insulating layer 14 in FIG. 5) via the solder bumps 28. Has been.

一方、他のプリント配線板4は、半導体チップ3を跨ぐように半導体チップ3の上方に配置され、半田バンプ29を介してプリント配線板1の導体部材15の他の一部(図5においては、絶縁層14の外縁部に位置する導体部材15)と電気的に接続されている。なお、半導体チップ3と電気的に接続するための導体部材15と、他のプリント配線板4と電気的に接続するための導体部材15とは、同じ配置ピッチ及び面積であっても良く、半導体チップ3及び他のプリント配線板4の端子や電極の位置、大きさに合わせて、異なる配置ピッチや面積であっても良い。   On the other hand, the other printed wiring board 4 is arranged above the semiconductor chip 3 so as to straddle the semiconductor chip 3, and another part of the conductor member 15 of the printed wiring board 1 via the solder bumps 29 (in FIG. 5). , And electrically connected to the conductor member 15) located at the outer edge of the insulating layer 14. The conductor member 15 for electrical connection with the semiconductor chip 3 and the conductor member 15 for electrical connection with another printed wiring board 4 may have the same arrangement pitch and area. Different arrangement pitches and areas may be used in accordance with the positions and sizes of the terminals and electrodes of the chip 3 and other printed wiring boards 4.

<第2実施形態>
図6は第2実施形態に係るプリント配線板を示す概略断面図である。本実施形態に係るプリント配線板2と第1実施形態との相違点は、絶縁層10に電極17が形成されていないことである。プリント配線板2は、第1実施形態と同様な効果を得られる。
Second Embodiment
FIG. 6 is a schematic sectional view showing a printed wiring board according to the second embodiment. The difference between the printed wiring board 2 according to this embodiment and the first embodiment is that the electrode 17 is not formed on the insulating layer 10. The printed wiring board 2 can obtain the same effects as those of the first embodiment.

このような構造を有するプリント配線板2をPOP構造の半導体パッケージに用いる際に、絶縁層10に電極17を設けていないので、外部と導通するための工夫が必要である。例えば、図7に示すように、絶縁層10には、導体パッド110を露出させるための開口部25が複数形成されている。そして、外部の電子部品と電気的に接続する際に、該開口部25に挿入される外部の電子部品の端子や電極と導体パッド110とを半田バンプを介して接続すれば良い。   When the printed wiring board 2 having such a structure is used in a semiconductor package having a POP structure, since the electrode 17 is not provided on the insulating layer 10, a device for conducting with the outside is required. For example, as shown in FIG. 7, the insulating layer 10 has a plurality of openings 25 for exposing the conductor pads 110. Then, when electrically connecting to an external electronic component, terminals and electrodes of the external electronic component inserted into the opening 25 may be connected to the conductor pad 110 via solder bumps.

或いは、図8に示すように、絶縁層10に開口部25を形成した後に、例えばセミアディティブ法(Semi Additive Process:SAP)を用いて、開口部25の内部及び絶縁層10の下表面10aに無電解めっき層と電解めっき層からなる電極26を更に形成し、該電極26を介して外部の電子部品の端子や電極と電気的に接続しても良い。   Alternatively, as shown in FIG. 8, after the opening 25 is formed in the insulating layer 10, the inner surface of the opening 25 and the lower surface 10 a of the insulating layer 10 are formed using, for example, a semi-additive process (SAP). An electrode 26 composed of an electroless plating layer and an electrolytic plating layer may be further formed and electrically connected to terminals and electrodes of external electronic components via the electrode 26.

<第3実施形態>
図9は第3実施形態に係るプリント配線板を示す概略断面図である。本実施形態に係るプリント配線板5と第1実施形態との相違点は、導体部材15の第2部分151の上表面151a及び導体パッド130の上表面130aが絶縁層14の上表面14aより低く形成されることである。なお、第2部分151の上表面151aと導体パッド130の上表面130aとは、同一平面に位置している。
<Third Embodiment>
FIG. 9 is a schematic sectional view showing a printed wiring board according to the third embodiment. The difference between the printed wiring board 5 according to the present embodiment and the first embodiment is that the upper surface 151a of the second portion 151 of the conductor member 15 and the upper surface 130a of the conductor pad 130 are lower than the upper surface 14a of the insulating layer 14. Is to be formed. The upper surface 151a of the second part 151 and the upper surface 130a of the conductor pad 130 are located on the same plane.

このような構造を有するプリント配線板5は、第1実施形態と同様な効果を得られるほか、更に以下の効果を得られる。すなわち、第2部分151の上表面151a及び導体パッド130の上表面130aが絶縁層14の上表面14aより低いため、絶縁層14はソルダーレジスト層のような役割を果たし、これらの上表面130a,151aを保護することができる。また、第2部分151の上表面151aが絶縁層14の上表面14aより低いので、これらの上表面の間に段差が形成される。そして、第2部分151の上表面151aに半田バンプを形成する際に、この段差は半田バンプが周辺に流れることを制限し、隣接する導体パッド130との間に電気的な短絡の発生を防止することができる。   The printed wiring board 5 having such a structure can obtain the same effects as those of the first embodiment, and further the following effects. That is, since the upper surface 151a of the second portion 151 and the upper surface 130a of the conductor pad 130 are lower than the upper surface 14a of the insulating layer 14, the insulating layer 14 serves as a solder resist layer, and the upper surfaces 130a, 151a can be protected. Further, since the upper surface 151a of the second portion 151 is lower than the upper surface 14a of the insulating layer 14, a step is formed between these upper surfaces. When the solder bump is formed on the upper surface 151a of the second portion 151, this step restricts the solder bump from flowing to the periphery and prevents an electrical short circuit between the adjacent conductor pads 130. can do.

<第4実施形態>
図10は第4実施形態に係るプリント配線板を示す概略断面図である。本実施形態に係るプリント配線板6は、第1ビルドアップ層6Aと、第1ビルドアップ層6Aの下方に配置されると共に、該第1ビルドアップ層6Aと一体的に形成される第2ビルドアップ層6Bとを備えている。第1ビルドアップ層6Aは、上述したプリント配線板1と同様な構造を有するものである。
<Fourth embodiment>
FIG. 10 is a schematic cross-sectional view showing a printed wiring board according to the fourth embodiment. The printed wiring board 6 according to the present embodiment is disposed below the first buildup layer 6A and the first buildup layer 6A, and is formed integrally with the first buildup layer 6A. And an up layer 6B. The first buildup layer 6A has a structure similar to that of the printed wiring board 1 described above.

第2ビルドアップ層6Bは、真中に配置されたコア基板60を挟むように、該コア基板60の両側にそれぞれ導体層61と絶縁層62とを交互に積層してなるビルドアップ配線板である。コア基板60の内部には、該コア基板60を貫通するスルーホール導体66が設けられている。   The second buildup layer 6B is a buildup wiring board in which conductor layers 61 and insulating layers 62 are alternately laminated on both sides of the core substrate 60 so as to sandwich the core substrate 60 disposed in the middle. . A through-hole conductor 66 that penetrates the core substrate 60 is provided inside the core substrate 60.

導体層61は、複数の導体パッド63と、該導体パッド63の間に配置された配線64とを含むように形成されている。絶縁層62の内部には、積層方向に隣接する導体パッド63同士を電気的に接続するビア導体65が複数形成されている。そして、導体層61及びビア導体65は、それぞれ無電解めっき層61aと電解めっき層61bにより形成されている。なお、この場合には、導体層61及びビア導体65が上述の導体部材15と同様に、金属シード層と無電解めっき層によって形成されても良い。一方、絶縁層62は、例えば硬化性樹脂によって形成されている。   The conductor layer 61 is formed to include a plurality of conductor pads 63 and wirings 64 disposed between the conductor pads 63. A plurality of via conductors 65 for electrically connecting the conductor pads 63 adjacent in the stacking direction are formed in the insulating layer 62. The conductor layer 61 and the via conductor 65 are formed of an electroless plating layer 61a and an electrolytic plating layer 61b, respectively. In this case, the conductor layer 61 and the via conductor 65 may be formed of a metal seed layer and an electroless plating layer in the same manner as the conductor member 15 described above. On the other hand, the insulating layer 62 is formed of, for example, a curable resin.

第1ビルドアップ層6Aは、第2ビルドアップ層6Bの最上層に位置する絶縁層62の上に積層されている。第1ビルドアップ層6Aの導体パッド110は、絶縁層10の内部に形成されたビア導体19を介して、第2ビルドアップ層6Bの最上層に位置する導体パッド63と電気的に接続されている。   The first buildup layer 6A is stacked on the insulating layer 62 positioned at the uppermost layer of the second buildup layer 6B. The conductor pads 110 of the first buildup layer 6A are electrically connected to the conductor pads 63 located at the uppermost layer of the second buildup layer 6B via the via conductors 19 formed inside the insulating layer 10. Yes.

また、積層方向において、第1ビルドアップ層6Aの導体部材15及びビア導体19と、第2ビルドアップ層6Bのビア導体65とは、直線状に積み重ねられてスタック構造をなしている。本実施形態では、導体部材15及びビア導体19,65は、全てスタック構造をなしているが、応力集中を避けるために、例えば積層方向に沿って導体部材15及びビア導体19,65の位置をずらしながら積み重ねてオフセット構造をなしても良く、あるいは一部がスタック構造、他の一部がオフセット構造をなしても良い。   In the stacking direction, the conductor member 15 and via conductor 19 of the first buildup layer 6A and the via conductor 65 of the second buildup layer 6B are stacked in a straight line to form a stack structure. In the present embodiment, the conductor member 15 and the via conductors 19 and 65 all have a stack structure, but in order to avoid stress concentration, for example, the positions of the conductor member 15 and the via conductors 19 and 65 are aligned along the stacking direction. The offset structure may be formed by stacking while shifting, or a part may be a stack structure and the other part may be an offset structure.

また、本実施形態では、第1ビルドアップ層6Aは、第2ビルドアップ層6Bよりも高密度の導体回路を有する。具体的には、第1ビルドアップ層6Aの配線111の幅(L)及び間隔(S)は、第2ビルドアップ層6Bの配線64のL及びSよりも小さい。好ましくは、第1ビルドアップ層6Aの配線111のL/Sが1μm/1μm〜10μm/10μmである。   In the present embodiment, the first buildup layer 6A has a conductor circuit with a higher density than the second buildup layer 6B. Specifically, the width (L) and interval (S) of the wiring 111 of the first buildup layer 6A are smaller than L and S of the wiring 64 of the second buildup layer 6B. Preferably, L / S of the wiring 111 of the first buildup layer 6A is 1 μm / 1 μm to 10 μm / 10 μm.

このように構成されたプリント配線板6は、第1ビルドアップ層6Aが上述したプリント配線板1と同様な構造を有するため、第1実施形態と同様な作用効果を得られる。なお、本実施形態のプリント配線板6は、例えば以下の方法で作製される。すなわち、コア基板60を先に用意し、コア基板60の上下の主面に、セミアディティブ法で絶縁層62と導体層61を積層することで第2ビルドアップ層6Bを作製する。次に、作製された第2ビルドアップ層6Bを支持板として用いて、上述のプリント配線板1と同じ方法で該第2ビルドアップ層6Bの上に第1ビルドアップ層6Aを作製する。   Since the printed wiring board 6 configured in this way has the same structure as the above-described printed wiring board 1 in the first buildup layer 6A, the same effects as those of the first embodiment can be obtained. In addition, the printed wiring board 6 of this embodiment is produced by the following method, for example. That is, the core substrate 60 is prepared first, and the second buildup layer 6B is produced by laminating the insulating layer 62 and the conductor layer 61 on the upper and lower main surfaces of the core substrate 60 by a semi-additive method. Next, using the produced second buildup layer 6B as a support plate, the first buildup layer 6A is produced on the second buildup layer 6B by the same method as the printed wiring board 1 described above.

<第5実施形態>
図11は第5実施形態に係るプリント配線板を示す概略断面図である。本実施形態に係るプリント配線板7は、第1ビルドアップ層7Aと、第1ビルドアップ層7Aの下方に配置されると共に、該第1ビルドアップ層7Aと一体的に形成される第2ビルドアップ層7Bとを備えている。第1ビルドアップ層7Aは、上述したプリント配線板1と同様な構造を有するものである。
<Fifth Embodiment>
FIG. 11 is a schematic sectional view showing a printed wiring board according to the fifth embodiment. The printed wiring board 7 according to the present embodiment is arranged below the first buildup layer 7A and the first buildup layer 7A, and the second build formed integrally with the first buildup layer 7A. And an up layer 7B. The first buildup layer 7A has the same structure as the printed wiring board 1 described above.

第2ビルドアップ層7Bは、いわゆるコア基板を有しないコアレス基板であり、複数の導体層71と絶縁層72とを一方向に交互に積層することにより形成されている。導体層71は、複数の導体パッド73と、該導体パッド73の間に配置された配線74とを含むように形成されている。絶縁層72の内部には、絶縁層72の積層方向に隣接する導体パッド73同士を電気的に接続するビア導体75が複数形成されている。そして、導体層71及びビア導体75は、それぞれ無電解めっき層71aと電解めっき層71bにより形成されている。なお、この場合には、導体層71及びビア導体75が上述の導体部材15と同様に、金属シード層と無電解めっき層によって形成されても良い。一方、絶縁層72は、例えば硬化性樹脂によって形成されている。   The second buildup layer 7B is a coreless substrate having no so-called core substrate, and is formed by alternately laminating a plurality of conductor layers 71 and insulating layers 72 in one direction. The conductor layer 71 is formed to include a plurality of conductor pads 73 and wirings 74 disposed between the conductor pads 73. A plurality of via conductors 75 are formed in the insulating layer 72 to electrically connect the conductor pads 73 adjacent to each other in the stacking direction of the insulating layer 72. The conductor layer 71 and the via conductor 75 are formed of an electroless plating layer 71a and an electrolytic plating layer 71b, respectively. In this case, the conductor layer 71 and the via conductor 75 may be formed of a metal seed layer and an electroless plating layer in the same manner as the conductor member 15 described above. On the other hand, the insulating layer 72 is made of, for example, a curable resin.

第1ビルドアップ層7Aは、第2ビルドアップ層7Bの最上層に位置する絶縁層72の上に積層されている。第1ビルドアップ層7Aの導体パッド110は、絶縁層10の内部に形成されたビア導体19を介して、第2ビルドアップ層7Bの最上層に位置する導体パッド73と電気的に接続されている。   The first buildup layer 7A is stacked on the insulating layer 72 located at the uppermost layer of the second buildup layer 7B. The conductor pad 110 of the first buildup layer 7A is electrically connected to the conductor pad 73 located at the uppermost layer of the second buildup layer 7B via the via conductor 19 formed in the insulating layer 10. Yes.

また、積層方向において、第1ビルドアップ層7Aの導体部材15及びビア導体19と、第2ビルドアップ層7Bのビア導体75とは、直線状に積み重ねられてスタック構造をなしている。なお、応力集中を避けるために、導体部材15及びビア導体19,75はオフセット構造をなしても良い。また、本実施形態では、第1ビルドアップ層7Aは、第2ビルドアップ層7Bよりも高密度の導体回路を有する。第1ビルドアップ層7Aの配線111のL及びSは、第2ビルドアップ層7Bよりも小さい。好ましくは、第1ビルドアップ層7Aの配線111のL/Sが1μm/1μm〜10μm/10μmである。   In the stacking direction, the conductor member 15 and via conductor 19 of the first buildup layer 7A and the via conductor 75 of the second buildup layer 7B are stacked in a straight line to form a stack structure. In order to avoid stress concentration, the conductor member 15 and the via conductors 19 and 75 may have an offset structure. In the present embodiment, the first buildup layer 7A has a conductor circuit with a higher density than the second buildup layer 7B. L and S of the wiring 111 of the first buildup layer 7A are smaller than those of the second buildup layer 7B. Preferably, L / S of the wiring 111 of the first buildup layer 7A is 1 μm / 1 μm to 10 μm / 10 μm.

このように構成されたプリント配線板7は、第1ビルドアップ層7Aが上述したプリント配線板1と同様な構造を有するため、第1実施形態と同様な作用効果を得られる。なお、本実施形態のプリント配線板7は、例えば以下の方法で作製される。すなわち、板状の支持部材の上にセミアディティブ法で第2ビルドアップ層7Bを先に作製し、作製された第2ビルドアップ層7Bを支持板として用いて、上述のプリント配線板1と同じ方法で該第2ビルドアップ層7Bの上に第1ビルドアップ層7Aを作製し、最後に支持部材を剥離する。   The printed wiring board 7 configured in this way has the same structure and effect as the first embodiment because the first buildup layer 7A has the same structure as the printed wiring board 1 described above. In addition, the printed wiring board 7 of this embodiment is produced by the following method, for example. That is, the second buildup layer 7B is first produced on a plate-like support member by a semi-additive method, and the produced second buildup layer 7B is used as a support plate, which is the same as the printed wiring board 1 described above. The first buildup layer 7A is produced on the second buildup layer 7B by the method, and finally the support member is peeled off.

以上、本発明の実施形態について詳述したが、本発明は、上述の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の精神を逸脱しない範囲で、種々の設計変更を行うことができるものである。例えば、金属シード層11a,13aは、上述した無電解めっき法のほか、スパッタリング法によって形成されても良い。   Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various designs can be made without departing from the spirit of the present invention described in the claims. It can be changed. For example, the metal seed layers 11a and 13a may be formed by a sputtering method in addition to the electroless plating method described above.

1,2,5,6,7 プリント配線板
10 絶縁層
11 導体層(第1導体層)
11a,13a 金属シード層
11b,13b 無電解めっき層
12 絶縁層(第1絶縁層)
13 導体層(第2導体層)
14 絶縁層(第2絶縁層)
14a 上表面
15 導体部材
16,18 貫通孔
17 電極
20 支持板
21 剥離層
22,24 レジストパターン
23 レジスト層
27 レジストポスト
110 導体パッド(第1導体パッド)
130 導体パッド(第2導体パッド)
150 第1部分
151 第2部分
151a 上表面
S1,S2 空間
1, 2, 5, 6, 7 Printed wiring board 10 Insulating layer 11 Conductor layer (first conductor layer)
11a, 13a Metal seed layers 11b, 13b Electroless plating layer 12 Insulating layer (first insulating layer)
13 Conductor layer (second conductor layer)
14 Insulating layer (second insulating layer)
14a Upper surface 15 Conductive member 16, 18 Through hole 17 Electrode 20 Support plate 21 Peeling layer 22, 24 Resist pattern 23 Resist layer 27 Resist post 110 Conductor pad (first conductor pad)
130 Conductor pad (second conductor pad)
150 First portion 151 Second portion 151a Upper surface S1, S2 space

Claims (11)

複数の導体層及び絶縁層を有するプリント配線板であって、
第1導体パッドを含む第1導体層と、
前記第1導体層を覆うように該第1導体層の上に積層される第1絶縁層と、
前記第1絶縁層の上に形成され、第2導体パッドを含む第2導体層と、
前記第2導体層を取り囲むように前記第1絶縁層の上に積層される第2絶縁層と、
前記第1絶縁層及び前記第2絶縁層の内部に亘り、一体的に形成される導体部材と、
を備え、
前記導体部材は、金属シード層及び無電解めっき層により形成されており、
前記導体部材は、前記第1絶縁層に貫設され、前記第1導体パッドと電気的に接続する第1部分と、前記第2絶縁層に貫設され、前記第2導体層と並設する第2部分と、を有し、
前記第2部分の上表面は、外部に露出している。
A printed wiring board having a plurality of conductor layers and insulating layers,
A first conductor layer including a first conductor pad;
A first insulating layer laminated on the first conductor layer so as to cover the first conductor layer;
A second conductor layer formed on the first insulating layer and including a second conductor pad;
A second insulating layer laminated on the first insulating layer so as to surround the second conductor layer;
A conductor member formed integrally over the first insulating layer and the second insulating layer;
With
The conductor member is formed of a metal seed layer and an electroless plating layer,
The conductor member penetrates the first insulating layer, and is electrically connected to the first conductor pad; the conductor member penetrates the second insulating layer; and is juxtaposed with the second conductor layer. A second part,
The upper surface of the second part is exposed to the outside.
請求項1に記載のプリント配線板において、
前記導体部材の前記第2部分の上表面は、前記第2絶縁層の上表面と同一平面に位置している。
In the printed wiring board of Claim 1,
The upper surface of the second portion of the conductor member is located in the same plane as the upper surface of the second insulating layer.
請求項1に記載のプリント配線板において、
前記導体部材の前記第2部分の上表面は、前記第2絶縁層の上表面よりも低い。
In the printed wiring board of Claim 1,
The upper surface of the second portion of the conductor member is lower than the upper surface of the second insulating layer.
請求項1〜3のいずれか一項に記載のプリント配線板において、
前記第1導体層は、金属シード層及び無電解めっき層により形成されている。
In the printed wiring board as described in any one of Claims 1-3,
The first conductor layer is formed of a metal seed layer and an electroless plating layer.
請求項1〜3のいずれか一項に記載のプリント配線板において、
前記第1導体層は、シード層及び電解めっき層により形成されている。
In the printed wiring board as described in any one of Claims 1-3,
The first conductor layer is formed of a seed layer and an electrolytic plating layer.
請求項1〜5のいずれか一項に記載のプリント配線板において、
前記第2絶縁層は、層間絶縁層である。
In the printed wiring board as described in any one of Claims 1-5,
The second insulating layer is an interlayer insulating layer.
プリント配線板の製造方法であって、
絶縁材料からなる第1絶縁層を形成する工程と、
前記第1絶縁層を貫通する貫通孔を形成し、前記第1絶縁層の表面及び前記貫通孔の内壁面に金属シード層を形成する工程と、
前記金属シード層の上にレジスト層を形成し、該レジスト層に露光現像処理を施すことによってレジストパターンと、前記貫通孔を覆い被せるレジストポストと、を形成する工程と、
前記レジストパターン及び前記レジストポストが形成されていない部分の前記金属シード層を除去する工程と、
前記第1絶縁層の上に、前記レジストパターン及び前記レジストポストを覆う第2絶縁層を積層する工程と、
前記第2絶縁層の表面にプラズマを照射することにより前記レジストパターン及び前記レジストポストを露出させ、更にプラズマ照射で前記レジストパターン及び前記レジストポストを除去する工程と、
前記レジストパターン及び前記レジストポストの除去により露出された前記金属シード層の上に、無電解めっき層を形成する工程と、
を備える。
A method of manufacturing a printed wiring board,
Forming a first insulating layer made of an insulating material;
Forming a through hole penetrating the first insulating layer, and forming a metal seed layer on a surface of the first insulating layer and an inner wall surface of the through hole;
Forming a resist layer on the metal seed layer and subjecting the resist layer to exposure and development to form a resist pattern and a resist post that covers the through hole;
Removing the metal seed layer in portions where the resist pattern and the resist post are not formed;
Laminating a second insulating layer covering the resist pattern and the resist post on the first insulating layer;
Exposing the resist pattern and the resist post by irradiating the surface of the second insulating layer with plasma, and further removing the resist pattern and the resist post by plasma irradiation;
Forming an electroless plating layer on the metal seed layer exposed by removing the resist pattern and the resist post;
Is provided.
請求項7に記載のプリント配線板の製造方法において、
前記無電解めっき層を形成する工程の前に、前記レジストパターン及び前記レジストポストの除去によって前記第2絶縁層の内部に形成された空間の周壁に粗化処理を施す工程を更に備える。
In the manufacturing method of the printed wiring board according to claim 7,
Before the step of forming the electroless plating layer, the method further includes a step of roughening a peripheral wall of a space formed in the second insulating layer by removing the resist pattern and the resist post.
請求項7又は8に記載のプリント配線板の製造方法において、
前記無電解めっき層を形成する工程では、形成される無電解めっき層の上表面と前記第2絶縁層の上表面とを同一平面上に揃えるように、前記無電解めっき層を形成する。
In the manufacturing method of the printed wiring board according to claim 7 or 8,
In the step of forming the electroless plating layer, the electroless plating layer is formed so that the upper surface of the formed electroless plating layer and the upper surface of the second insulating layer are aligned on the same plane.
請求項7〜9のいずれか一項に記載のプリント配線板の製造方法において、
前記プラズマ照射には、Oプラズマ又はHプラズマを用いる。
In the manufacturing method of the printed wiring board as described in any one of Claims 7-9,
For the plasma irradiation, O 2 plasma or H 2 plasma is used.
請求項7〜10のいずれか一項に記載のプリント配線板の製造方法において、
前記金属シード層は、無電解めっき法又はスパッタリング法によって形成されている。
In the manufacturing method of the printed wiring board as described in any one of Claims 7-10,
The metal seed layer is formed by an electroless plating method or a sputtering method.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN112106451A (en) * 2018-05-11 2020-12-18 住友电气工业株式会社 Printed wiring board and method for manufacturing printed wiring board

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