JP2017090071A - 硬さ試験機及び硬さ試験方法 - Google Patents
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Abstract
Description
例えば、ビッカース硬さ試験機は、正四角錐の圧子を試料の表面に押し込んでくぼみを形成した後、くぼみの対角線長さを計測し、この計測したくぼみの対角線長さに基づいて硬さを算出している。
所定の試験力を負荷した圧子を試料の表面に押し込んでくぼみを形成する硬さ試験機において、
基準となる試料の表面に前記圧子を押し込んで形成したくぼみの寸法に基づく前記基準となる試料の硬さと、前記基準となる試料へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量に基づく前記基準となる試料の硬さと、を対応づけた相関性データを記憶する記憶部と、
測定対象の試料へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量を計測する計測部と、
前記計測部により計測された試験力及び押込み量に基づいて、前記測定対象の試料の硬さの推定値を算出する推定値算出部と、
前記推定値算出部により算出された前記推定値と、前記相関性データと、に基づいて前記測定対象の試料の硬さを算出する硬さ算出部と、
を備えることを特徴とする。
基準となる試料の表面に前記圧子を押し込んで形成したくぼみの寸法に基づいて、前記基準となる試料のビッカース硬さを算出するビッカース硬さ算出部を備え、
前記計測部は、前記基準となる試料に形成されたくぼみの形成時の試験力及び押込み量を連続して計測し、
前記推定値算出部は、前記計測部により計測された試験力及び押込み量に基づいて、前記基準となる試料のビッカース硬さに相当する硬さを前記推定値として算出し、
前記記憶部は、前記ビッカース硬さ算出部により算出されたビッカース硬さと、前記推定値算出部により算出された前記推定値とを対応づけ、前記相関性データとして記憶することを特徴とする。
前記推定値算出部による前記推定値の算出式を複数の算出式の中から設定可能な設定部を備え、
前記推定値算出部は、前記設定部により設定された算出式を用いて前記推定値を算出することを特徴とする。
所定の試験力を負荷した圧子を試料の表面に押し込んでくぼみを形成する硬さ試験機において、
基準となる試料の表面に前記圧子を押し込んで形成したくぼみの寸法に基づく前記基準となる試料の硬さと、前記基準となる試料へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量に基づく前記基準となる試料の硬さと、を対応づけた相関性データを記憶する記憶部と、
測定対象の試料へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量を計測する計測部と、
前記計測部により計測された試験力及び押込み量と、前記相関性データと、に基づいて前記測定対象の試料の硬さを算出する硬さ算出部と、
を備えることを特徴とする。
所定の試験力を負荷した圧子を試料の表面に押し込んでくぼみを形成する硬さ試験機による硬さ試験方法において、
基準となる試料の表面に前記圧子を押し込んで形成したくぼみの寸法に基づく前記基準となる試料の硬さと、前記基準となる試料へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量に基づく前記基準となる試料の硬さと、を対応づけた相関性データを取得する取得工程と、
測定対象の試料へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量を計測する計測工程と、
前記計測工程により計測された試験力及び押込み量に基づいて、前記測定対象の試料の硬さの推定値を算出する推定値算出工程と、
前記推定値算出工程により算出された前記推定値と、前記相関性データと、に基づいて前記測定対象の試料の硬さを算出する硬さ算出工程と、
を有することを特徴とする。
前記取得工程は、
基準となる試料の表面に前記圧子を押し込んで形成したくぼみの寸法に基づいて、前記基準となる試料のビッカース硬さを算出するビッカース硬さ算出工程と、
前記基準となる試料に形成されたくぼみの形成時の試験力及び押込み量を連続して計測する予備計測工程と、
前記予備計測工程により計測された試験力及び押込み量に基づいて、前記基準となる試料のビッカース硬さに相当する硬さを推定値として算出する予備推定値算出工程と、
前記ビッカース硬さ算出工程により算出されたビッカース硬さと、前記予備推定値算出工程により算出された前記推定値と、を対応づけた前記相関性データを記憶する記憶工程と、
を有することを特徴とする。
前記予備推定値算出工程は、前記圧子の押込み量をくぼみの寸法に換算して前記推定値を求める算出式、又はナノインデンテーションにより規定された押込み硬さを用いて前記推定値を求める算出式を実行することを特徴とする。
所定の試験力を負荷した圧子を試料の表面に押し込んでくぼみを形成する硬さ試験機による硬さ試験方法において、
基準となる試料の表面に前記圧子を押し込んで形成したくぼみの寸法に基づく前記基準となる試料の硬さと、前記基準となる試料へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量に基づく前記基準となる試料の硬さと、を対応づけた相関性データを取得する取得工程と、
測定対象の試料へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量を計測する計測工程と、
前記計測工程により計測された試験力及び押込み量と、前記相関性データと、に基づいて前記測定対象の試料の硬さを算出する硬さ算出工程と、
を有することを特徴とする。
試験機本体1は、例えば、試料SをX、Y、Z方向に移動させるXYZステージ2と、試料Sにくぼみを形成する圧子3を一端に有する荷重レバー4と、荷重レバー4に所定の荷重(試験力)を負荷する荷重負荷部5と、圧子3の押込み量を検出する変位計6と、試料Sの表面に形成されたくぼみ等を撮影する撮影部7と、表示部8と、設定部9と、を備えて構成される。
また、XYZステージ2は、試験測定中に上面に載置された試料Sがずれないよう、試料保持台2aにより試料Sを保持している。
荷重レバー4の一端には、試料保持台2a上に載置された試料Sの上方から試料Sに対して接離自在に設けられ、試料Sの表面に押し付けて試料Sの表面にくぼみを形成する圧子3が設けられている。
また、荷重レバー4の他端には、荷重負荷部5を構成するフォースコイル5aが設けられている。
荷重負荷部5は、例えば、制御部10から入力される制御信号に従って、固定磁石5bがギャップにつくる磁界と、ギャップの中に設置されたフォースコイル5aに流れる電流と、の電磁誘導により発生する力を駆動力として用い、荷重レバー4を回動させる。これにより、荷重レバー4の圧子3側の端部は下方に傾き、圧子3は試料Sに押し込まれることになる。
変位計6は、例えば、可動極板6aと固定極板6bとの間の静電容量の変化を検出することによって、圧子3が試料Sにくぼみを形成する際に移動した変位量(圧子3を試料Sに押し込んだ際の押込み量)を検出する。そして、変位計6は、検出した変位量のデータを制御部10に出力する。
なお、変位計6として、静電容量式変位センサを例示したが、これに限定されるものではなく、例えば、光学式変位センサやうず電流式変位センサであっても良い。
この設定部9は、ユーザが試料Sの硬さ試験を開始する指示入力を行う際、圧子3に負荷する試験力すなわち荷重を設定する際などに操作される。
また、設定部9は、実際の硬さ試験に先行して行われる予備試験を実行する予備試験モード、又は実際の硬さ試験を実行する本試験モードの、何れかの処理モードを設定する際などにも操作される。
具体的に、記憶部13には、例えば、くぼみ形成プログラム131、計測プログラム132、ビッカース硬さ算出プログラム133、推定値算出プログラム134、相関性算出プログラム135、相関性記憶部136、硬さ算出プログラム137、等が格納されている。各プログラムの内容は後述する。
以下、予備試験について詳細に説明する。図3は、予備試験の流れを示すフローチャートである。
すると、CPU11は、くぼみ形成プログラム131を実行し、所定の試験力にて圧子3を基準試料S1の表面に押し込んで、基準試料S1の表面にくぼみを形成する(ステップS11)。
図4は、四角形状のくぼみを示す模式図である。図4においては、くぼみの対角線長さをd、押込み量をhで示している。
図5は、取得した試験力と押込み量のデータをグラフ化した、試験力−押込み量曲線(押込み曲線)の一例である。
押込み曲線は、くぼみの形成時において、設定した最大試験力(Fmax)に到達するまで圧子3に負荷する荷重を漸増させていく荷重負荷工程にて計測される荷重負荷曲線と、圧子3に負荷された荷重が最大試験力に到達した後、圧子3に負荷する荷重を漸減させる荷重除荷工程にて計測される荷重除荷曲線と、を備える。
具体的に、CPU11は、撮影部7によりくぼみの画像データを撮影し、公知の画像処理によりくぼみの対角線長さを計測して、下記の式(1)により、ビッカース硬さを算出する。
HV=0.1894×F/d2・・・(1)
ここで、HVはビッカース硬さ、Fは試験力、dはくぼみの対角線長さ、である。
具体的に、CPU11は、押込み量を、下記の式(2)によりくぼみの対角線長さに換算し、上記の式(1)に当てはめて、硬さを算出する。
h=1/7d・・・(2)
ここで、hは押込み量、dはくぼみの対角線長さ、である。
このように、推定値算出プログラム134を実行して算出した硬さは、押込み量を用いてビッカース硬さを推定した値であって、以下、ステップS14にて算出した硬さを、「ビッカース硬さの推定値」と呼ぶ。
図6は、相関性データの一例を示す図である。図6では、上記ステップS13にて算出したビッカース硬さを縦軸、上記ステップS14にて算出したビッカース硬さの推定値を横軸として、相関性を示す関数データが示されている。
次に、実際の硬さ試験(本試験)について詳細に説明する。図7は、本試験の流れを示すフローチャートである。
ここでは、測定対象試料S2は、相関性記憶部136に相関性データが記憶されている基準試料S1と同一の特徴を有するものとする。
すると、CPU11は、くぼみ形成プログラム131を実行し、所定の試験力にて圧子3を測定対象試料S2の表面に押し込んで、測定対象試料S2の表面にくぼみを形成する(ステップS21)。
具体的な硬さの算出方法は、上記ステップS14と同様であり、ステップS23にて算出した硬さは、押込み量を用いたビッカース硬さの推定値である。
具体的に、CPU11は、測定対象試料S2の特徴から当該測定対象試料S2に対応する基準試料S1を検出し、その基準試料S1に紐づけられた相関性データを取得する。そして、上記ステップS23にて算出した硬さの値を相関性データに当てはめて、ビッカース硬さを算出する。
圧子3に負荷された試験力と、圧子3の押込み量の値を連続的に取得し、得られた押込み曲線(図8参照)を解析することにより、材料の機械的性質を求める試験方法は、ナノインデンテーションと呼ばれ、国際規格ISO14577により、押込み硬さ(HIT)と呼ばれる硬さのパラメータが規定されている。押込み硬さ(HIT)は、ビッカース硬さと相関がある値として扱われることがあり、ここでは、かかる押込み硬さ(HIT)の解析方法を用いてビッカース硬さの推定値を算出する方法を示す。
HIT=Fmax/Ap(hc)・・・(3)
そして、例えばベルコビッチ圧子に対して、Ap(hc)は圧子の幾何学形状から下記の式(4)のように表わされる。
Ap(hc)=23.96hc2・・・(4)
また、hcは接触深さと呼ばれ、最大押込み量(hmax)及び荷重除荷曲線初期部の接線と押込み量軸との交点(hr)を用いて下記の式(5)で表わされる。
hc=hmax−0.75(hmax−hr)・・・(5)
HV=0.9065HIT・・・(6)
また、試験力と押込み量のデータに基づいてブリネル硬さを求め、これをビッカース硬さの代わりとして用いることとしても良い。
ここで、ブリネル硬さの算出に用いられる圧子の球直径をD、圧子を押し付けてできたくぼみの直径をlとすると、圧子の押込み量hは、下記の式(7)で求めることができる。
つまり、ビッカース硬さの推定値を算出する複数の異なるプログラムが記憶部13に記憶され、ユーザが、例えば、基準試料S1や測定対象試料S2の特性に応じて何れかの算出方法を指定し、CPU11は、指定されたプログラムを実行して、予備試験及び本試験を行う構成となる。
このため、押込み量を用いて測定対象試料S2の硬さが算出できることとなるので、くぼみ形成後にくぼみを観察する作業を行うことなく、くぼみ形成過程に硬さが算出でき、作業の効率化を図ることができる。
このため、押込み量に基づく硬さをビッカース硬さに換算できる。よって、くぼみ形成後にくぼみを観察する作業を行うことなく、くぼみ形成過程にビッカース硬さが算出でき、作業の効率化を図ることができる。
このため、ユーザが、例えば基準試料S1や測定対象試料S2の特性等に応じて、推定値の算出方法を設定できることとなるので、より精度よく硬さを算出することができる。
なお、上記実施形態では、本試験において、測定対象試料S2へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量に基づいて、測定対象試料S2の硬さの推定値を算出し、その推定値と相関性データに基づいて測定対象試料S2の硬さを算出している。
しかしながら、測定対象試料S2へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量と、ビッカース硬さとを対応づけた相関性データに基づいて、測定対象試料S2の硬さを算出する構成としても良い。
その後、図10に示すように、本試験において、CPU11は、測定対象試料S2にくぼみを形成し(ステップS41)、そのくぼみ形成過程において試験力と押込み量のデータを計測し(ステップS42:計測工程)、ステップS42にて計測したデータと、相関性記憶部136に記憶された相関性データに基づいて測定対象試料S2の硬さを算出する(ステップS43:硬さ算出工程)。
2 ステージ
3 圧子
4 荷重レバー
5 荷重負荷部
6 変位計
7 撮影部
8 表示部
9 設定部
10 制御部
11 CPU
12 RAM
13 記憶部
131 くぼみ形成プログラム
132 計測プログラム
133 ビッカース硬さ算出プログラム
134 推定値算出プログラム
135 相関性算出プログラム
136 相関性記憶部
137 硬さ算出プログラム
S 試料
S1 基準試料
S2 測定対象試料
100 硬さ試験機
Claims (8)
- 所定の試験力を負荷した圧子を試料の表面に押し込んでくぼみを形成する硬さ試験機において、
基準となる試料の表面に前記圧子を押し込んで形成したくぼみの寸法に基づく前記基準となる試料の硬さと、前記基準となる試料へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量に基づく前記基準となる試料の硬さと、を対応づけた相関性データを記憶する記憶部と、
測定対象の試料へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量を計測する計測部と、
前記計測部により計測された試験力及び押込み量に基づいて、前記測定対象の試料の硬さの推定値を算出する推定値算出部と、
前記推定値算出部により算出された前記推定値と、前記相関性データと、に基づいて前記測定対象の試料の硬さを算出する硬さ算出部と、
を備えることを特徴とする硬さ試験機。 - 基準となる試料の表面に前記圧子を押し込んで形成したくぼみの寸法に基づいて、前記基準となる試料のビッカース硬さを算出するビッカース硬さ算出部を備え、
前記計測部は、前記基準となる試料に形成されたくぼみの形成時の試験力及び押込み量を連続して計測し、
前記推定値算出部は、前記計測部により計測された試験力及び押込み量に基づいて、前記基準となる試料のビッカース硬さに相当する硬さを前記推定値として算出し、
前記記憶部は、前記ビッカース硬さ算出部により算出されたビッカース硬さと、前記推定値算出部により算出された前記推定値とを対応づけ、前記相関性データとして記憶することを特徴とする請求項1に記載の硬さ試験機。 - 前記推定値算出部による前記推定値の算出式を複数の算出式の中から設定可能な設定部を備え、
前記推定値算出部は、前記設定部により設定された算出式を用いて前記推定値を算出することを特徴とする請求項1又は2に記載の硬さ試験機。 - 所定の試験力を負荷した圧子を試料の表面に押し込んでくぼみを形成する硬さ試験機において、
基準となる試料の表面に前記圧子を押し込んで形成したくぼみの寸法に基づく前記基準となる試料の硬さと、前記基準となる試料へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量に基づく前記基準となる試料の硬さと、を対応づけた相関性データを記憶する記憶部と、
測定対象の試料へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量を計測する計測部と、
前記計測部により計測された試験力及び押込み量と、前記相関性データと、に基づいて前記測定対象の試料の硬さを算出する硬さ算出部と、
を備えることを特徴とする硬さ試験機。 - 所定の試験力を負荷した圧子を試料の表面に押し込んでくぼみを形成する硬さ試験機による硬さ試験方法において、
基準となる試料の表面に前記圧子を押し込んで形成したくぼみの寸法に基づく前記基準となる試料の硬さと、前記基準となる試料へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量に基づく前記基準となる試料の硬さと、を対応づけた相関性データを取得する取得工程と、
測定対象の試料へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量を計測する計測工程と、
前記計測工程により計測された試験力及び押込み量に基づいて、前記測定対象の試料の硬さの推定値を算出する推定値算出工程と、
前記推定値算出工程により算出された前記推定値と、前記相関性データと、に基づいて前記測定対象の試料の硬さを算出する硬さ算出工程と、
を有することを特徴とする硬さ試験方法。 - 前記取得工程は、
基準となる試料の表面に前記圧子を押し込んで形成したくぼみの寸法に基づいて、前記基準となる試料のビッカース硬さを算出するビッカース硬さ算出工程と、
前記基準となる試料に形成されたくぼみの形成時の試験力及び押込み量を連続して計測する予備計測工程と、
前記予備計測工程により計測された試験力及び押込み量に基づいて、前記基準となる試料のビッカース硬さに相当する硬さを推定値として算出する予備推定値算出工程と、
前記ビッカース硬さ算出工程により算出されたビッカース硬さと、前記予備推定値算出工程により算出された前記推定値と、を対応づけた前記相関性データを記憶する記憶工程と、
を有することを特徴とする請求項5に記載の硬さ試験方法。 - 前記予備推定値算出工程は、前記圧子の押込み量をくぼみの寸法に換算して前記推定値を求める算出式、又はナノインデンテーションにより規定された押込み硬さを用いて前記推定値を求める算出式を実行することを特徴とする請求項6に記載の硬さ試験方法。
- 所定の試験力を負荷した圧子を試料の表面に押し込んでくぼみを形成する硬さ試験機による硬さ試験方法において、
基準となる試料の表面に前記圧子を押し込んで形成したくぼみの寸法に基づく前記基準となる試料の硬さと、前記基準となる試料へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量に基づく前記基準となる試料の硬さと、を対応づけた相関性データを取得する取得工程と、
測定対象の試料へのくぼみ形成時の試験力及び押込み量を計測する計測工程と、
前記計測工程により計測された試験力及び押込み量と、前記相関性データと、に基づいて前記測定対象の試料の硬さを算出する硬さ算出工程と、
を有することを特徴とする硬さ試験方法。
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