JP2017069234A - Manufacturing method and manufacturing device of electronic apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、電子機器の製造方法及び製造装置に関する。 The present invention relates to an electronic device manufacturing method and a manufacturing apparatus.
色素増感太陽電池や有機EL素子などの電子機器は、相対向する基材同士が封止部を介して組み立てられ、相対向する基材と封止部とによって形成される閉空間内に電解質などの被封止物を配置している。 Electronic devices such as a dye-sensitized solar cell and an organic EL element are configured such that opposing substrates are assembled through a sealing portion, and an electrolyte is contained in a closed space formed by the opposing substrate and the sealing portion. The objects to be sealed such as are arranged.
このような電子機器の製造方法としては、例えば下記特許文献1に記載のものが知られている。下記特許文献1では、チャンバ内において、少なくとも一方に封止部が固定された第1基材及び第2基材を、減圧下、第1基材と第2基材との間に封止部を配置し且つ第1基材と第2基材と封止部とによって形成される閉空間内に被封止物を配置した状態で重ね合せた後、プレス部を用い、第1基材及び第2基材を介して封止部をプレスして封止部によって第1基材と第2基材とを貼り合せて基材組立体を製造し、その後、プレス部を基材組立体から離間させることにより電子機器を製造する方法が開示されている。
As a method for manufacturing such an electronic device, for example, the one described in
しかし、上記特許文献1に記載の電子機器の製造方法は、以下に示す課題を有していた。
However, the method for manufacturing an electronic device described in
すなわち、上記特許文献1に記載の電子機器の製造方法は、得られる電子機器の耐久性の点で改善の余地を有していた。
That is, the method for manufacturing an electronic device described in
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、優れた耐久性を有する電子機器を製造できる電子機器の製造方法及び製造装置を提供することを目的とする。 This invention is made | formed in view of the said situation, and it aims at providing the manufacturing method and manufacturing apparatus of an electronic device which can manufacture the electronic device which has the outstanding durability.
本発明者は、上記特許文献1記載の電子機器の製造方法において上記課題が生じる原因について検討した。その結果、本発明者は以下のことを考えた。すなわち、上記特許文献1記載の電子機器の製造方法では、プレス部を用い、第1基材及び第2基材を介して封止部をプレスして封止部によって第1基材と第2基材とを貼り合せて基材組立体を製造し、その後、プレス部を基材組立体から離間させる。このとき、基材組立体内の閉空間の圧力が、チャンバ内の圧力と同じ圧力又はそれより高い圧力であると、プレス部を基材組立体から離間させた後、基材組立体がしっかりと押さえられていないので、封止部が第1基材又は第2基材に対して十分に接着されていない場合などに電解質の漏洩が起きる可能性があるのではないかと本発明者は考えた。そこで、第1基材と第2基材との貼合せが完了した後、チャンバ内の圧力を、封止部をプレスしている際のチャンバ内の圧力よりも高くなるようにすれば、プレス部を基材組立体から離間しても、第1基材と封止部との界面や、第2基材と封止部との界面にかかる応力を小さくすることができ、被封止物の漏洩又は外部からの水分の侵入を十分に抑制できるのではないかと本発明者は考えた。こうして本発明者は、本発明を完成するに至ったものである。
The inventor examined the cause of the above problem in the method of manufacturing the electronic device described in
すなわち、本発明は、第1基材と、前記第1基材に対向する第2基材と、前記第1基材及び前記第2基材の間に配置される被封止物と、前記第1基材及び前記第2基材を接続し、前記被封止物を包囲する封止部とを備える電子機器を製造する電子機器の製造方法であって、チャンバ内の空間を減圧する減圧工程と、前記減圧工程の後、前記チャンバ内において、少なくとも一方に前記封止部が固定された前記第1基材及び前記第2基材を、前記第1基材と前記第2基材との間に前記封止部を配置し且つ前記第1基材と前記第2基材と前記封止部とによって形成される閉空間内に前記被封止物を配置した状態で重ね合せる重合せ工程と、前記重合せ工程の後、前記チャンバ内において、プレス部を用い、前記第1基材及び前記第2基材を介して前記封止部をプレスして前記封止部によって前記第1基材と前記第2基材とを貼り合せて基材組立体を得る貼合せ工程と、前記貼合せ工程の後、前記チャンバ内における圧力を、前記貼合せ工程における前記チャンバ内の圧力よりも増大させる圧力増大工程と、前記圧力増大工程の後、前記プレス部を前記基材組立体から離間させることにより前記電子機器を得るプレス部離間工程とを含む電子機器の製造方法である。 That is, the present invention provides a first base material, a second base material facing the first base material, an object to be sealed disposed between the first base material and the second base material, An electronic device manufacturing method for manufacturing an electronic device that includes a sealing portion that connects the first base material and the second base material and surrounds the object to be sealed, wherein the pressure in the space in the chamber is reduced. After the step and the pressure-reducing step, the first base material and the second base material in which the sealing portion is fixed to at least one of the first base material and the second base material in the chamber. The superposition | polymerization which arrange | positions in the state which has arrange | positioned the said sealing part in the state and has arrange | positioned the said to-be-sealed object in the closed space formed by the said 1st base material, the said 2nd base material, and the said sealing part. After the step and the superposition step, a press part is used in the chamber via the first base material and the second base material. A bonding step of pressing the sealing portion and bonding the first base material and the second base material by the sealing portion to obtain a base material assembly; and after the bonding step, A pressure increasing step for increasing the pressure in the laminating step in comparison with the pressure in the chamber, and a press for obtaining the electronic device by separating the press portion from the substrate assembly after the pressure increasing step. An electronic device manufacturing method including a part separation step.
この電子機器の製造方法によれば、第1基材と第2基材とを貼り合せて基材組立体を得た後、チャンバ内における圧力を、貼合せ工程におけるチャンバ内の圧力よりも増大させている。このため、プレス部を基材組立体から離間させた後でも、基材組立体は、チャンバ内の圧力によって内側に向かって押圧された状態となる。その結果、プレス部を基材組立体から離間しても、第1基材と封止部との界面や、第2基材と封止部との界面にかかる応力を小さくすることができ、得られる電子機器において、被封止物の漏洩又は外部からの水分の侵入を十分に抑制できる。従って、本発明の電子機器の製造方法によれば、優れた耐久性を有する電子機器を製造できる。 According to this method for manufacturing an electronic device, after the first base material and the second base material are bonded together to obtain the base material assembly, the pressure in the chamber is increased more than the pressure in the chamber in the bonding process. I am letting. For this reason, even after the press portion is separated from the base material assembly, the base material assembly is pressed inward by the pressure in the chamber. As a result, even if the press part is separated from the base material assembly, the stress applied to the interface between the first base material and the sealing part and the interface between the second base material and the sealing part can be reduced. In the obtained electronic device, leakage of an object to be sealed or entry of moisture from the outside can be sufficiently suppressed. Therefore, according to the method for manufacturing an electronic device of the present invention, an electronic device having excellent durability can be manufactured.
上記電子機器の製造方法において、前記プレス部離間工程における前記チャンバ内における圧力を大気圧にすることが好ましい。 In the method for manufacturing the electronic device, it is preferable that the pressure in the chamber in the press part separating step is an atmospheric pressure.
この場合、第1基材と第2基材とを貼り合せて基材組立体を得た後、プレス部を基材組立体から離間させた後でも、基材組立体は、チャンバ内の圧力によって内側に向かって特に大きい圧力で押圧された状態となる。その結果、プレス部を基材組立体から離間しても、第1基材と封止部との界面や、第2基材と封止部との界面にかかる応力を特に小さくすることができ、得られる電子機器において、被封止物の漏洩又は外部からの水分の侵入を特に十分に抑制できる。従って、本発明の電子機器の製造方法によれば、特に優れた耐久性を有する電子機器を製造できる。 In this case, after the first base material and the second base material are bonded together to obtain the base material assembly, the base material assembly remains in the chamber even after the press portion is separated from the base material assembly. Therefore, it is pressed inward with a particularly large pressure. As a result, even when the press part is separated from the base material assembly, the stress applied to the interface between the first base material and the sealing part and the interface between the second base material and the sealing part can be particularly reduced. In the obtained electronic device, leakage of the object to be sealed or intrusion of moisture from the outside can be particularly sufficiently suppressed. Therefore, according to the method for manufacturing an electronic device of the present invention, an electronic device having particularly excellent durability can be manufactured.
上記電子機器の製造方法は、前記貼合せ工程において、前記封止部を加熱しながらプレスして前記封止部によって前記第1基材と前記第2基材とを貼り合せる場合に特に有効である。 The electronic device manufacturing method is particularly effective in the bonding step when the sealing portion is pressed while heating and the first base material and the second base material are bonded together by the sealing portion. is there.
これは、封止部を加熱しながらプレスすると、プレス部の熱が、第1基材と第2基材と封止部とによって形成される閉空間に伝わってその閉空間が加熱され、その結果、第1基材と第2基材と封止部とによって形成される閉空間内の圧力が、封止部をプレスしている際のチャンバ内の圧力よりも高くなりやすいためである。 This is because when the sealing portion is pressed while heating, the heat of the pressing portion is transmitted to the closed space formed by the first base material, the second base material, and the sealing portion, and the closed space is heated. As a result, the pressure in the closed space formed by the first base material, the second base material, and the sealing portion is likely to be higher than the pressure in the chamber when the sealing portion is pressed.
また本発明は、第1基材と、前記第1基材に対向する第2基材と、前記第1基材及び前記第2基材の間に配置される被封止物と、前記第1基材及び前記第2基材を接続し、前記被封止物を包囲する封止部とを備える電子機器を製造する電子機器の製造装置であって、チャンバと、前記チャンバ内に設けられ、前記第1基材を支持する第1基材支持部と、前記チャンバ内で前記第1基材支持部に対向する位置に設けられ、前記第1基材側で前記第2基材を支持する第2基材支持部と、前記第1基材及び前記第2基材を介して前記第1基材と前記第2基材との間に配置される前記封止部をプレスするプレス部と、前記プレス部を前記第1基材支持部に対して相対的に移動させることが可能な第1移動機構と、前記第1基材支持部を前記第2基材支持部に対して相対的に移動させることが可能な第2移動機構と、前記チャンバ内の圧力を測定する圧力測定装置と、前記チャンバ内の圧力を調整する圧力調整手段と、前記圧力測定装置で測定された前記チャンバ内の圧力に基づいて、少なくとも前記第1移動機構、前記第2移動機構及び前記圧力調整手段を制御する制御装置とを備え、前記制御装置が、前記圧力調整手段により前記チャンバ内の空間を減圧させ、前記圧力測定装置によって測定された前記チャンバ内の圧力が前記第1基材と前記第2基材とを貼り合せる際の圧力に達した後、前記第2移動機構によって前記第1基材支持部を前記第2基材支持部に向かって相対的に移動させ、前記第1基材支持部が、前記第1基材と前記第2基材とが前記封止部を介して重ね合わされる位置に達した後、前記第1移動機構により前記プレス部を前記第1基材支持部に向かって相対的に移動させて前記封止部をプレスさせ、前記プレス部により前記第1基材と前記第2基材との貼合せが完了した後、前記圧力調整手段により前記チャンバ内の圧力を増大させ、前記圧力測定装置によって測定された前記チャンバ内の圧力が所定の圧力に達した後、前記第1移動機構により前記プレス部を前記第1基材支持部から離れる方向に相対的に移動させることによって前記プレス部を前記基材組立体から離間させるように、少なくとも前記第1移動機構、前記第2移動機構及び前記圧力調整手段を制御する、電子機器の製造装置である。 The present invention also includes a first base material, a second base material facing the first base material, an object to be sealed disposed between the first base material and the second base material, An electronic device manufacturing apparatus that manufactures an electronic device including a sealing portion that connects a base material and the second base material and surrounds the object to be sealed, the chamber being provided in the chamber A first base material support part for supporting the first base material, and a position facing the first base material support part in the chamber, and supporting the second base material on the first base material side. A second base material supporting part, and a press part that presses the sealing part disposed between the first base material and the second base material via the first base material and the second base material. A first moving mechanism capable of moving the press portion relative to the first base material support portion, and the first base material support portion to the second base material support. A second moving mechanism that can be moved relative to the part, a pressure measuring device that measures the pressure in the chamber, a pressure adjusting means that adjusts the pressure in the chamber, and the pressure measuring device. A control device that controls at least the first moving mechanism, the second moving mechanism, and the pressure adjusting means based on the measured pressure in the chamber, and the control device uses the pressure adjusting means to control the chamber. The internal space is depressurized, and after the pressure in the chamber measured by the pressure measuring device reaches the pressure for bonding the first base material and the second base material, the second moving mechanism The first base material support part is moved relatively toward the second base material support part, and the first base material support part is formed by the first base material and the second base material being the sealing part. Overlaid via Then, the first moving mechanism moves the press part relatively toward the first base material support part to press the sealing part, and the press part causes the first base material and the first base material to be pressed. (2) After the bonding with the base material is completed, the pressure in the chamber is increased by the pressure adjusting means, and the pressure in the chamber measured by the pressure measuring device reaches a predetermined pressure. At least the first movement mechanism, the first movement mechanism, and the like so that the pressing section is moved away from the base material assembly by relatively moving the pressing section in a direction away from the first base material support section by one moving mechanism. 2 is an electronic device manufacturing apparatus that controls the moving mechanism and the pressure adjusting means.
この電子機器の製造装置によれば、制御装置によって、圧力測定装置で測定されたチャンバ内の圧力に基づいて、少なくとも第1移動機構、第2移動機構及び圧力調整手段が制御される。すなわち、制御装置によって、第1基材と第2基材とが貼り合わされて基材組立体が得られた後、チャンバ内における圧力が、貼合せ工程におけるチャンバ内の圧力よりも増大される。このため、プレス部が基材組立体から離間された後でも、基材組立体は、チャンバ内の圧力によって内側に向かって押圧された状態となる。その結果、プレス部を基材組立体から離間しても、第1基材と封止部との界面や、第2基材と封止部との界面にかかる応力を小さくすることができ、得られる電子機器において、被封止物の漏洩又は外部からの水分の侵入を十分に抑制できる。従って、本発明の電子機器の製造装置によれば、優れた耐久性を有する電子機器を製造できる。 According to the electronic device manufacturing apparatus, the control device controls at least the first moving mechanism, the second moving mechanism, and the pressure adjusting means based on the pressure in the chamber measured by the pressure measuring device. That is, after a 1st base material and a 2nd base material are bonded together and the base material assembly is obtained by the control apparatus, the pressure in a chamber is increased rather than the pressure in the chamber in a bonding process. For this reason, even after the press part is separated from the base material assembly, the base material assembly is pressed inward by the pressure in the chamber. As a result, even if the press part is separated from the base material assembly, the stress applied to the interface between the first base material and the sealing part and the interface between the second base material and the sealing part can be reduced. In the obtained electronic device, leakage of an object to be sealed or entry of moisture from the outside can be sufficiently suppressed. Therefore, according to the electronic device manufacturing apparatus of the present invention, an electronic device having excellent durability can be manufactured.
上記電子機器の製造装置においては、前記圧力調整手段が、例えば前記チャンバに接続される第1配管と、前記第1配管に接続され、前記チャンバ内のガスを排出させる吸引ポンプと、前記第1配管に設けられる第1バルブと、前記チャンバに接続される第2配管と、前記第2配管に接続され、前記チャンバ内にガスを供給するガス供給源と、前記第2配管に設けられる第2バルブとを有する。 In the electronic apparatus manufacturing apparatus, the pressure adjusting means is, for example, a first pipe connected to the chamber, a suction pump connected to the first pipe and exhausting gas in the chamber, and the first A first valve provided in the pipe; a second pipe connected to the chamber; a gas supply source connected to the second pipe for supplying gas into the chamber; and a second provided in the second pipe. And a valve.
この場合、第1バルブを開き、第2バルブを閉じた状態で、吸引ポンプを作動させると、チャンバ内のガスが第1配管を通ってチャンバから排出され、チャンバ内の圧力が低下される。一方、第1バルブを閉じ、第2バルブを開いた状態でガス供給源からガスを供給すると、ガスは第2配管を通ってチャンバ内に供給される。このため、チャンバ内の圧力を増大させることができる。こうして、圧力調整手段によってチャンバ内の圧力を調整することができる。 In this case, if the suction pump is operated with the first valve opened and the second valve closed, the gas in the chamber is discharged from the chamber through the first pipe, and the pressure in the chamber is reduced. On the other hand, when the gas is supplied from the gas supply source with the first valve closed and the second valve opened, the gas is supplied into the chamber through the second pipe. For this reason, the pressure in the chamber can be increased. Thus, the pressure in the chamber can be adjusted by the pressure adjusting means.
本発明によれば、優れた耐久性を有する電子機器を製造できる電子機器の製造方法及び製造装置が提供される。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the manufacturing method and manufacturing apparatus of an electronic device which can manufacture the electronic device which has the outstanding durability are provided.
以下、本発明の実施形態について詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail.
まず本発明の電子機器の製造装置の実施形態について図1及び図2を参照しながら詳細に説明する。図1は、本発明の電子機器の製造装置の第1実施形態を示す部分切断面端面図、図2は、図1における第2基材支持部を示す切断面端面図である。 First, an embodiment of an electronic device manufacturing apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to FIGS. FIG. 1 is a partially cut end view showing a first embodiment of the electronic device manufacturing apparatus of the present invention, and FIG. 2 is a cut end view showing the second base material support portion in FIG.
図1に示すように、電子機器の製造装置100はチャンバ1を有し、チャンバ1は、開口を有する本体部1aと、本体部1aの開口を塞ぐように設けられる蓋部1bとを有している。なお、チャンバ1を構成する材料としては、例えばアルミニウム、アルミニウム合金、炭素鋼、SUSなどが用いられる。
As shown in FIG. 1, an electronic
チャンバ1には、ガスを流通させるガス流通口1cが形成され、ガス流通口1cには、チャンバ1内の圧力を調整する圧力調整手段2が接続されている。
A
本実施形態では、圧力調整手段2は、ガス流通口1cに接続される第1配管2aと、第1配管2aに接続され、チャンバ1内のガスを排出させる吸引ポンプ2bと、第1配管2aに設置される第1バルブV1と、第1配管2aにおける第1バルブV1とガス流通口1cとの間に接続される第2配管2cと、第2配管2cに設けられる第2バルブV2と、第2配管2cに接続され、第2配管2cを通してチャンバ1内にガスを供給するガス供給源2dとを有する。この圧力調整手段2によれば、以下のようにしてチャンバ1内の空間の圧力が調整される。すなわち、まず第1バルブV1を開き、第2バルブV2を閉じた状態で、吸引ポンプ2bを作動させると、チャンバ1のガス流通口1cを通してチャンバ1内のガスが第1配管2aを通ってチャンバ1から排出され、チャンバ1内の圧力が低下される。一方、第1バルブV1を閉じ、第2バルブV2を開いた状態でガス供給源2dから第2配管2cを通してガスを供給すると、ガスは第2配管2cを通ってガス流通口1cからチャンバ1内に供給される。このため、チャンバ1内の圧力を増大させることができる。こうして、圧力調整手段2によってチャンバ1内の圧力を調整することができる。なお、第2配管2cは、ガス流通口1cに直接接続されていてもよいし、チャンバ1のうちガス流通口1c以外の箇所に接続されていてもよい。またガス供給源2dは、窒素ガスや空気などを封入したガスボンベを有するガス供給装置であってもよいし、大気であってもよい。
In the present embodiment, the pressure adjusting means 2 includes a
さらに図1において、第1配管2aには、チャンバ1内の圧力を測定する圧力測定装置70が接続されている。なお、圧力測定装置70は、チャンバ1内の圧力を測定できる限り、いかなる箇所に設けられてもよい。例えば圧力測定装置70はチャンバ1内に設けられてもよい。
Further, in FIG. 1, a
チャンバ1の本体部1a内には、第1基材10を支持する第1基材支持部11が設けられており、第1基材支持部11に対向する位置には、第1基材10側で第2基材20を支持する第2基材支持部21が配置されるようになっている。またチャンバ1の蓋部1bには、2つの環状の加圧面3aを有するプレス部3が第2基材支持部21に対向する位置に固定されている。本実施形態では、プレス部3は加熱部を兼ねている。なお、第1基材支持部11を構成する材料としては、例えばアルミニウム、アルミニウム合金、鋼、SUSなどが用いられ、プレス部3を構成する材料としては、例えばアルミニウム、アルミニウム合金、炭素鋼、銅、SUSなどが用いられる。
A first base
また電子機器の製造装置100は、第1基材支持部11をプレス部3に対して移動させる第1移動機構30を備えている。第1移動機構30は、第1基材支持部11の下面で第1基材支持部11を支持し、チャンバ1の本体部1aを貫通して図1の矢印A方向に沿って第1基材支持部11を昇降させる昇降シャフト31と、チャンバ1の外側に配置され、昇降シャフト31を昇降させる駆動部32とを有している。駆動部32はモータ33を有しており、モータ33にはタイマー90が電気的に接続されている。モータ33は、図8に示すように、タイマー90によって時刻t2に昇降シャフト31を上昇させるように駆動し、時刻t3に第1基材支持部11がプレス位置に到達した後に停止し、時刻t5には昇降シャフト31を下降させるように駆動し、時刻t6にモータ33を停止させるようになっている。本実施形態では、第1移動機構30は、第1基材支持部11を第2基材支持部21に対して移動させることも可能であり、第2移動機構をも兼ねている。
The electronic
なお、電子機器の製造装置100は、チャンバ1の本体部1aと駆動部32とを気密に接続する気密保持部材40を備えている。気密保持部材40としては、例えばベローズなどが用いられる。
The electronic
第1基材支持部11は、第1基材10を支持する第1基材支持面11aと、第1基材支持面11aの両側に形成されるガイド部設置面11bとを有している。ガイド部設置面11bからは4本の棒状のガイド部50が図1の矢印A方向に沿って延びている。図1に示すように、ガイド部50には、第1基材支持部11と第2基材支持部21との間に設けられ、第1基材支持部11と第2基材支持部21との間の距離を調整することが可能な距離調整部材60が設けられている。距離調整部材60として、本実施形態では、バネ部材が設けられている。
The 1st base
図2に示すように、第2基材支持部21は、環状の第2基材支持フレーム21aと、第2基材支持フレーム21aの内側開口を覆うように設けられ、第2基材20を固定するための第2基材固定部21bとを有している。第2基材支持フレーム21aには、ガイド部50を挿入させるための貫通孔21cが形成されている。なお、第2基材支持フレーム21aを構成する材料としては、例えばアルミニウム、アルミニウム合金、鋼、SUSなどが用いられ、第2基材固定部21bを構成する材料としては、例えばポリエチレンテレフタレート樹脂(PET)、ポリイミド樹脂などが用いられる。
As shown in FIG. 2, the second base
また図1に示すように、電子機器の製造装置100は、タイマー90、プレス部3、圧力測定装置70及び圧力調整手段2に電気的に接続され、圧力測定装置70で測定された圧力に基づいて、タイマー90を通じて第1移動機構30を制御するとともに、プレス部3及び圧力調整手段2を制御する制御装置80をさらに備えている。制御装置80は、図8に示すように、時刻t1において圧力調整手段2によりチャンバ1内の空間を減圧させ、圧力測定装置70によって測定されたチャンバ1内の圧力が時刻t2において第1基材10と第2基材20とを貼り合せる際の圧力(Ppress)に達した後、第1移動機構30によって第1基材支持部11を第2基材支持部21に向かって移動させ、第1基材支持部11が、第1基材10と第2基材20とが封止部12,22を介して重ね合わされる位置(プレス位置)に達した後、時刻t3において、第1移動機構30により第1基材支持部11をプレス部3に向かって移動させ封止部12,22をプレスさせ、プレス部3により第1基材10と第2基材20とが貼り合わされて基材組立体が得られた後、時刻t4において圧力調整手段2によりチャンバ1内の圧力を増大させ、圧力測定装置70によって測定されたチャンバ1内の圧力が所定の圧力(例えばP0)に達した後、時刻t5において第1移動機構30により第1基材支持部11をプレス部3から離れる方向に移動させることによってプレス部3を基材組立体から離間させ、時刻t6において第1移動機構30を停止させるように、タイマー90を通じて第1移動機構30を制御するとともに、プレス部3及び圧力調整手段2を制御するものである。
As shown in FIG. 1, the electronic
次に、上述した電子機器の製造装置100を用いた電子機器の製造方法について、図3〜図7を参照しながら、電子機器として色素増感太陽電池モジュールを製造する場合を例にして説明する。図3〜図7は、図1の電子機器の製造装置を用いた電子機器の製造方法の一連の工程を示す部分切断面端面図である。
Next, an electronic device manufacturing method using the above-described electronic
まず第1基材10に2つの環状の封止部12が互いに離間して固定されたものを用意する。第1基材10としては、例えば作用極を用いる。ここで、作用極としては、1枚の導電性基板10a上に多孔質酸化物半導体層10bが配置されたものを用いる。導電性基板10aとしては、例えば透明基板上に透明導電層を形成したものを用いる。第1基材10においては、多孔質酸化物半導体層10bが封止部12の内側に配置されるように封止部12が固定される。
First, a
そして、図3に示すように、チャンバ1の蓋部1bを取り外し、チャンバ1の本体部1a内において、第1基材支持部11の第1基材支持面11a上に第1基材10を配置して第1基材10を支持させる。その後、第1基材10の多孔質酸化物半導体層10b上に被封止物13としての電解質を配置する。ここで、電解質としては、液体電解質、固体電解質又は疑似固体電解質のいずれをも用いることもできる。
Then, as shown in FIG. 3, the
一方、2つの第2基材20の各々に環状の封止部22を固定したものを用意する。また図2に示すように、第2基材支持部21を用意する。そして、2つの封止部22を設けた第2基材20を、第2基材支持部21の第2基材固定部21bに固定する。第2基材固定部21bとしては、例えば粘着シートなどを用いることができる。
On the other hand, what fixed the cyclic | annular sealing
そして、図4に示すように、第2基材支持部21をチャンバ1の本体部1a内に入れ、ガイド部50に貫通させる。具体的には、第2基材支持部21の第2基材支持フレーム21aの貫通孔21cにガイド部50を貫通させる。このとき、ガイド部50には、距離調整部材60としてバネ部材が設けられているため、距離調整部材60が少し縮んだ後、第1基材支持部11と第2基材支持部21とが離間した状態に保持される。このとき、第1基材10と第2基材20とが離間した状態に保持される。このとき、第1基材支持部11の位置を「初期位置」とする。
Then, as shown in FIG. 4, the second base
次に、図5に示すように、チャンバ1の本体部1aに蓋部1bを取り付ける。このとき、蓋部1bにはプレス部3を固定する。ここで、プレス部3の加圧面3aの形状は、封止部12、封止部22と同様の環状パターンとする。また加圧面3aの個数は、第1基材10又は第2基材20の数に合わせる。
Next, as shown in FIG. 5, a
そして、制御装置80によって、チャンバ1内の圧力及び第1基材支持部11の位置が時刻とともに図8に示すタイムチャートに従って変化するように、圧力測定装置70で測定された圧力に基づいて、タイマー90を通じて第1移動機構30を制御するとともに、プレス部3及び圧力調整手段2を制御する。
Then, based on the pressure measured by the
具体的には、まずチャンバ1の本体部1aに蓋部1bを取り付けた時刻をt0とし、このときの圧力をP0とする。このときの圧力P0は、本実施形態では大気圧である。そして、図8に示すように、時刻t0から一定時間経過後の時刻t1において、制御装置80によって、圧力調整手段2を制御し、チャンバ1内からガスを排出させてチャンバ1内の空間を減圧する(減圧工程)。具体的には、制御装置80によって第1バルブV1を開き、第2バルブV2を閉じた状態とし、この状態で吸引ポンプ2bを作動させ、チャンバ1のガス流通口1cを通してチャンバ1内のガスを、第1配管2aを通してチャンバ1から排出させ、チャンバ1内の圧力を低下させる。こうしてチャンバ1内の空間を減圧する。
Specifically, first, the time of attaching the
圧力測定装置70によって測定されたチャンバ1内の空間の圧力が時刻t2において第1基材10と第2基材20との貼り合せを行う予定の圧力(Ppress)まで減圧されたならば、制御装置80によりタイマー90を作動させる。すると、タイマー90により、モータ33は、昇降シャフト31を上昇させるように駆動される。そして、第1基材支持部11をプレス部3に向かって移動させる。具体的には、昇降シャフト31を図5の矢印A方向に移動させる。このとき、距離調整部材60によって第1基材10と第2基材20とが離間した状態に保持されたままとなっている。やがて、第2基材支持部21がプレス部3に当接される(図6参照)。このとき、第2基材支持部21の移動は停止されるが、ガイド部50が第2基材支持部21を貫通しているため、第1基材支持部11の移動はまだ可能である。このため、さらに第1移動機構30により第1基材支持部11がプレス部3に向かって移動されると、距離調整部材60によって第1基材支持部11と第2基材支持部21との距離が縮められ、第1基材支持部11が第2基材支持部21に近づけられる。やがて、図7に示すように、第1基材10と第2基材20とが、それらの間に封止部12、22を挟み込み且つ第1基材10と第2基材20と封止部12、22とによって形成される閉空間内に被封止物13を配置した状態で重ね合わされる(重合せ工程)。
If the pressure in the space in the
こうして第1基材10と第2基材20とが重ね合わされた後、さらに第1移動機構30により、第1基材支持部11がプレス部3に向かって移動されると、プレス部3の加圧面3aによって第1基材10及び第2基材20を介して封止部12、22が加熱されながらプレスされる。このとき、この時刻をt3とすると、第1基材支持部11はプレス位置に到達している(図8参照)。なお、プレス部3は、例えば時刻t1より前に制御装置80によって作動させて封止部12,22が溶融する温度まで発熱させておく。この後、時刻t4まで封止部12,22のプレスが行われ、封止部12によって第1基材10と第2基材20との貼合せが行われる。こうして基材組立体が得られる(貼合せ工程)。時刻t3から時刻t4までの間は、制御装置80により圧力調整手段2が制御され、圧力測定装置70によって測定されたチャンバ1内の圧力はPpressで一定に保持される。
After the
そして、第1基材10と第2基材20との貼合せが行われた後は、図8に示すように、時刻t4において、制御装置80によって圧力調整手段2が制御され、チャンバ1内における圧力が、上記貼合せ工程におけるチャンバ1内の圧力よりも増大させられる(圧力増大工程)。具体的には、制御装置80によって第1バルブV1を閉じ、第2バルブV2を開いた状態とし、この状態でガス供給源2dから第2配管2cを通してガスを供給し、ガスを、第2配管2cを通してガス流通口1cからチャンバ1内に導入する。こうしてチャンバ1内の圧力を増大させる。
And after bonding of the
チャンバ1内の圧力を増大させた後、時刻t5において、圧力が圧力P0、すなわち大気圧に到達したならば、その時刻t5において、タイマー90により駆動機構30のモータ33が駆動され、第1基材支持部11が下降する。具体的には、昇降シャフト31を図5の矢印A方向と反対方向に移動させる。このとき、第1基材支持部11の下降に伴って基材組立体も下降する。そして、図8に示すように、時刻t6において、第1基材支持部11が初期位置に戻る。こうしてプレス部3が基材組立体から離間され、電子機器100の製造が完了する(プレス部離間工程)。
After the pressure in the
この電子機器の製造装置100を用いた電子機器の製造方法によれば、第1基材10と第2基材20とを貼り合せて基材組立体を得た後、チャンバ1内における圧力を、貼合せ工程におけるチャンバ1内の圧力よりも増大させている。このため、プレス部3を基材組立体から離間させた後でも、基材組立体は、チャンバ1内の圧力によって内側に向かって押圧された状態となる。その結果、プレス部3を基材組立体から離間しても、第1基材10と封止部12,22との界面や、第2基材20と封止部12,22との界面にかかる応力を小さくすることができ、得られる電子機器100において、被封止物13としての電解質の漏洩又は外部からの水分の侵入を十分に抑制できる。従って、電子機器の製造方法によれば、優れた耐久性を有する電子機器100を製造できる。
According to the electronic device manufacturing method using the electronic
また本実施形態の電子機器の製造方法では、貼合せ工程において、チャンバ1内の圧力が一定に保持される。このため、チャンバ1内の圧力の変動により封止部12,22と第1基材10又は第2基材20との間に繰り返し応力が加わることが抑制され、封止部12,22と第1基材10との間の接着性、及び、封止部12,22と第2基材20との間の接着性をより十分に向上させることができる。このため、得られる電子機器100はより優れた耐久性を有することが可能となる。
Moreover, in the manufacturing method of the electronic device of this embodiment, the pressure in the
本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。例えば上記実施形態では、第1基材10及び第2基材20の各々に封止部12,22が固定された基材組立体を製造する場合を例にして電子機器の製造装置の作用について説明したが、本発明の電子機器の製造装置は、第1基材10及び第2基材20のいずれか一方に封止部が固定された基材組立体を製造する場合であれば適用可能である。
The present invention is not limited to the above embodiment. For example, in the above-described embodiment, the operation of the electronic device manufacturing apparatus is described by taking as an example the case of manufacturing a base assembly in which the sealing
また上記実施形態では、プレス部3が蓋部1bに固定され、第1基材支持部11が第1移動機構30によりプレス部3に向かって移動されるようになっているが、第1基材支持部11がチャンバ1に対して固定され、プレス部3が第1基材支持部11に向かって移動機構により移動されるようになっていてもよい。この場合でも、相対的には、第1基材支持部11がプレス部3に向かって移動されることとなる。
Moreover, in the said embodiment, although the
また上記実施形態ではプレス部3が制御装置80によって制御されているが、プレス部3は制御装置80によって制御されなくてもよい。
Moreover, in the said embodiment, although the
さらに上記実施形態では、制御装置80によって圧力測定装置70で測定された圧力に基づいて、タイマー90を通じて第1移動機構30を制御するとともに、プレス部3及び圧力調整手段2を制御することにより本発明の電子機器の製造方法が実施されているが、本発明の電子機器の製造方法は、制御装置80を用いず、圧力測定装置70で測定された圧力に基づいて、タイマー90を通じて第1移動機構30を手動で操作するとともに、プレス部3及び圧力調整手段2を手動で操作することにより実施することもできる。
Further, in the above-described embodiment, the first moving
また本実施形態の電子機器の製造方法では、貼合せ工程において、チャンバ1内の圧力が一定に保持されているが、必ずしもチャンバ1内の圧力が一定に保持されていなくてもよい。すなわち、チャンバ1内の圧力の変動が小さい限りは、チャンバ1内の空間をさらに減圧しなくてもよい。
In the electronic device manufacturing method of the present embodiment, the pressure in the
さらに上記実施形態では、圧力増大工程によってチャンバ1内の圧力が圧力P0、すなわち大気圧まで増大させられているが、圧力増大工程においてチャンバ1内の圧力は、貼合せ工程におけるチャンバ1内の圧力よりも大きく且つ大気圧より小さい圧力であればよい。
Further, in the above embodiment, the pressure in the
また上記実施形態では、封止部12,22を加熱しながらプレスして第1基材10と第2基材20との貼合せが行われているが、封止部12,22がエポキシ樹脂やアクリル樹脂などの紫外線硬化性樹脂を含む場合には、紫外線を照射しながら封止部12,22をプレスすることによって第1基材10と第2基材20との貼合せを行うこともできる。あるいは、封止部12,22がブチルゴム等の常温硬化性樹脂を含む場合には、封止部12,22をプレスするだけで第1基材10と第2基材20との貼合せを行うことができる。
Moreover, in the said embodiment, the sealing
さらに上記実施形態では、第2基材20は第2基材支持部21によって支持されているが、プレス部3が第2基材20を支持する場合には、第2基材支持部21は省略されてもよい。この場合は、プレス部3が第2基材支持部21を兼ねることになる。
Furthermore, in the said embodiment, although the
さらにまた上記実施形態では、第1移動機構30が、第1基材支持部11を第2基材支持部21に対して相対的に移動させる第2移動機構をも兼ねているが、電子機器の製造装置は、第1移動機構30とは別に、第2移動機構をさらに有していてもよい。
Furthermore, in the above embodiment, the first moving
さらにまた上記実施形態では、電子機器として色素増感太陽電池モジュールを製造する場合を例にして説明したが、電子機器は、有機EL素子、液晶表示器、有機薄膜太陽電池であってもよい。この場合、被封止物は電解質に代えて、有機発光体や液晶となる。 Furthermore, in the above embodiment, the case where a dye-sensitized solar cell module is manufactured as an electronic device has been described as an example. However, the electronic device may be an organic EL element, a liquid crystal display, or an organic thin film solar cell. In this case, the object to be sealed becomes an organic light emitter or liquid crystal instead of the electrolyte.
以下、実施例及び比較例を挙げて本発明の内容をより具体的に説明するが、本発明は、以下の実施例に限定されるものではない。 Hereinafter, the content of the present invention will be described more specifically with reference to examples and comparative examples, but the present invention is not limited to the following examples.
(実施例1)
図1に示す電子機器の製造装置100を用いて電子機器としての色素増感太陽電池モジュールを以下のようにして製造した。
Example 1
A dye-sensitized solar cell module as an electronic device was manufactured as follows using the electronic
まず第1基材10に2つの環状の封止部12が互いに離間して固定されたものを用意した。第1基材10としては作用極を用いた。ここで、作用極としては、導電性基板10a上にチタニアからなる厚さ10μmの多孔質酸化物半導体層10bが配置されたものを用いた。導電性基板10aとしては、305mm×305mm×厚さ2.2mmの透明導電性基板を用いた。透明導電性基板としては、透明ガラス基板の上にFTO膜が形成されたものを用いた。
First, a
第2基材20としては対極を用いた。対極としては、チタン箔からなる厚さ50μmの導電性基板上に白金からなる厚さ10nmの触媒層が形成されたものを用いた。
A counter electrode was used as the
そして、第1基材10及び第2基材20の各々に厚さ50μm、幅2000μmの矩形環状の封止部12、22を固定した。封止部12、22としては、バイネル(商品名、デュポン社製)を用いた。
Then, rectangular
次に、図3に示すように、チャンバ1の蓋部1bを取り外した状態で、チャンバ1の本体部1a内において、第1基材支持部11の第1基材支持面11a上に第1基材10を配置して第1基材10を支持させた。その後、第1基材10の多孔質酸化物半導体層10b上に被封止物13としての電解質を配置した。電解質としては、アセトニトリルを溶媒とするヨウ素系電解質で構成される液体電解質を用いた。
Next, as shown in FIG. 3, the first base
一方、図2に示すように、第2基材支持部21を用意し、2つの封止部22を設けた第2基材20を、第2基材支持部21の第2基材固定部21bに固定した。第2基材固定部21bとしては、粘着シートを用いた。
On the other hand, as shown in FIG. 2, the second base
そして、図4に示すように、第2基材支持部21をチャンバ1の本体部1a内に入れ、ガイド部50に貫通させた。具体的には、第2基材支持部21の第2基材支持フレーム21aの貫通孔21cにガイド部50を貫通させた。このとき、距離調整部材60が少し縮んだ後、第1基材支持部11と第2基材支持部21とが離間した状態に保持され、第1基材10と第2基材20とが離間した状態に保持された。このとき、第1基材支持部11の位置を「初期位置」とした。
Then, as shown in FIG. 4, the second base
次に、図5に示すように、チャンバ1の本体部1aに蓋部1bを取り付けた。このとき、蓋部1bには、プレス部3を固定しておいた。ここで、プレス部3の加圧面3aの形状は、封止部12、封止部22と同様の環状パターンとした。また加圧面3aの個数は2個とした。
Next, as shown in FIG. 5, a
そして、制御装置80によって、圧力測定装置70で測定された圧力をモニタしながら、タイマー90、プレス部3及び圧力調整手段2を制御した。具体的には図8に示すタイムチャートに従って制御装置80によるタイマー90、プレス部3及び圧力調整手段2の制御を行った。図8のタイムチャートにおいて、t1〜t6、P0、Ppress及び、プレス部3を基材組立体から切り離すときのチャンバ1内の圧力P1は以下の通りとした。
t1=0秒
t2=30秒
t3=31秒
t4=61秒
t5=121秒
t6=122秒
P0=大気圧
Ppress=600Pa
P1=大気圧
And the
t1 = 0 seconds t2 = 30 seconds t3 = 31 seconds t4 = 61 seconds t5 = 121 seconds t6 = 122 seconds P 0 = atmospheric pressure P press = 600 Pa
P 1 = Atmospheric pressure
このとき、プレス部3は、制御装置80によって時刻t1よりも前に作動させ、表面温度を200℃にした。なお、時刻t1〜t6は、時刻t0からの経過時間である。
At this time, the
以上のようにして、電子機器としての色素増感太陽電池モジュールを作製した。 As described above, a dye-sensitized solar cell module as an electronic device was produced.
(実施例2)
プレス部3を基材組立体から切り離すときのチャンバ1内の圧力P1を2000Paとしたこと以外は実施例1と同様にして色素増感太陽電池モジュールを作製した。
(Example 2)
And the
(比較例1)
プレス部3を基材組立体から切り離すときのチャンバ1内の圧力P1を600Pa、すなわちPpressと同一としたこと以外は実施例1と同様にして色素増感太陽電池モジュールを作製した。
(Comparative Example 1)
The pressure P 1 in the
上記のようにして得られた実施例1〜2の色素増感太陽電池モジュールについて、封止部及び第2基材20を横切る断面を、実体顕微鏡にて観察した。その結果、実施例1では、封止部からの第2基材の剥離が発生しておらず、封止部に対する第2基材の浮上りも発生していなかった。また実施例2では、封止部に対する第2基材のわずかな浮上りが発生していたが、封止部からの第2基材の剥離が発生していなかった。これに対し、比較例1では、封止部からの第2基材の剥離が発生しており、電解質が漏洩していた。
About the dye-sensitized solar cell module of Examples 1-2 obtained as mentioned above, the cross section which crossed the sealing part and the
以上のことから、本発明の電子機器の製造方法によれば、優れた耐久性を有する電子機器を製造できることが分かる。 From the above, it can be seen that the electronic device manufacturing method of the present invention can manufacture an electronic device having excellent durability.
1…チャンバ
2…圧力調整手段
2a…第1配管
2b…吸引ポンプ
2c…第2配管
3…プレス部
10…第1基材
11…第1基材支持部
12、22…封止部
13…被封止物
20…第2基材
21…第2基材支持部
30…移動機構
31…昇降シャフト(移動機構)
32…駆動部(移動機構)
70…圧力測定装置
80…制御装置
100…電子機器の製造装置
V1…第1バルブ
V2…第2バルブ
DESCRIPTION OF
32 ... Drive unit (moving mechanism)
DESCRIPTION OF
Claims (5)
チャンバ内の空間を減圧する減圧工程と、
前記減圧工程の後、前記チャンバ内において、少なくとも一方に前記封止部が固定された前記第1基材及び前記第2基材を、前記第1基材と前記第2基材との間に前記封止部を配置し且つ前記第1基材と前記第2基材と前記封止部とによって形成される閉空間内に前記被封止物を配置した状態で重ね合せる重合せ工程と、
前記重合せ工程の後、前記チャンバ内において、プレス部を用い、前記第1基材及び前記第2基材を介して前記封止部をプレスして前記封止部によって前記第1基材と前記第2基材とを貼り合せて基材組立体を得る貼合せ工程と、
前記貼合せ工程の後、前記チャンバ内における圧力を、前記貼合せ工程における前記チャンバ内の圧力よりも増大させる圧力増大工程と、
前記圧力増大工程の後、前記プレス部を前記基材組立体から離間させることにより前記電子機器を得るプレス部離間工程とを含む電子機器の製造方法。 A first base material; a second base material facing the first base material; an object to be sealed disposed between the first base material and the second base material; the first base material and the first base material; An electronic device manufacturing method for manufacturing an electronic device including a sealing portion that connects a second base material and surrounds the object to be sealed,
A decompression step of decompressing the space in the chamber;
After the depressurization step, the first base material and the second base material in which the sealing portion is fixed to at least one in the chamber are interposed between the first base material and the second base material. A superposition step in which the sealing portion is arranged and the objects to be sealed are overlapped in a closed space formed by the first base material, the second base material, and the sealing portion; and
After the superposition step, a press part is used in the chamber to press the sealing part through the first base material and the second base material, and the first base material and the first base material are pressed by the sealing part. A laminating step of laminating the second base material to obtain a base material assembly;
After the laminating step, a pressure increasing step for increasing the pressure in the chamber more than the pressure in the chamber in the laminating step;
After the said pressure increase process, the manufacturing method of the electronic device including the press part separation | spacing process of obtaining the said electronic device by separating the said press part from the said base material assembly.
チャンバと、
前記チャンバ内に設けられ、前記第1基材を支持する第1基材支持部と、
前記チャンバ内で前記第1基材支持部に対向する位置に設けられ、前記第1基材側で前記第2基材を支持する第2基材支持部と、
前記第1基材及び前記第2基材を介して前記第1基材と前記第2基材との間に配置される前記封止部をプレスするプレス部と、
前記プレス部を前記第1基材支持部に対して相対的に移動させることが可能な第1移動機構と、
前記第1基材支持部を前記第2基材支持部に対して相対的に移動させることが可能な第2移動機構と、
前記チャンバ内の圧力を測定する圧力測定装置と、
前記チャンバ内の圧力を調整する圧力調整手段と、
前記圧力測定装置で測定された前記チャンバ内の圧力に基づいて、少なくとも前記第1移動機構、前記第2移動機構及び前記圧力調整手段を制御する制御装置とを備え、
前記制御装置が、
前記圧力調整手段により前記チャンバ内の空間を減圧させ、前記圧力測定装置によって測定された前記チャンバ内の圧力が前記第1基材と前記第2基材とを貼り合せる際の圧力に達した後、前記第2移動機構によって前記第1基材支持部を前記第2基材支持部に向かって相対的に移動させ、
前記第1基材支持部が、前記第1基材と前記第2基材とが前記封止部を介して重ね合わされる位置に達した後、前記第1移動機構により前記プレス部を前記第1基材支持部に向かって相対的に移動させて前記封止部をプレスさせ、
前記プレス部により前記第1基材と前記第2基材とが貼り合わされて前記基材組立体が得られた後、前記圧力調整手段により前記チャンバ内の圧力を増大させ、
前記圧力測定装置によって測定された前記チャンバ内の圧力が所定の圧力に達した後、前記第1移動機構により前記プレス部を前記第1基材支持部から離れる方向に相対的に移動させることによって前記プレス部を前記基材組立体から離間させるように、少なくとも前記第1移動機構、前記第2移動機構及び前記圧力調整手段を制御する、電子機器の製造装置。 A first base material; a second base material facing the first base material; an object to be sealed disposed between the first base material and the second base material; the first base material and the first base material; An electronic device manufacturing apparatus for manufacturing an electronic device including a sealing portion that connects a second base material and surrounds the object to be sealed,
A chamber;
A first base material support part provided in the chamber and supporting the first base material;
A second base material support portion provided at a position facing the first base material support portion in the chamber, and supporting the second base material on the first base material side;
A pressing unit that presses the sealing unit disposed between the first base material and the second base material via the first base material and the second base material;
A first moving mechanism capable of moving the press part relative to the first base material support part;
A second moving mechanism capable of moving the first base material support portion relative to the second base material support portion;
A pressure measuring device for measuring the pressure in the chamber;
Pressure adjusting means for adjusting the pressure in the chamber;
A control device for controlling at least the first moving mechanism, the second moving mechanism, and the pressure adjusting means based on the pressure in the chamber measured by the pressure measuring device;
The control device is
After the pressure in the chamber is reduced by the pressure adjusting means, and the pressure in the chamber measured by the pressure measuring device reaches the pressure when the first base material and the second base material are bonded together , By moving the first base material support part relative to the second base material support part by the second movement mechanism,
After the first base material support portion reaches a position where the first base material and the second base material are overlapped via the sealing portion, the first moving mechanism moves the press portion to the first position. 1 relatively moving toward the base material support part to press the sealing part,
After the first base material and the second base material are bonded to each other by the pressing unit to obtain the base material assembly, the pressure in the chamber is increased by the pressure adjusting means,
After the pressure in the chamber measured by the pressure measuring device reaches a predetermined pressure, the first moving mechanism relatively moves the press portion in a direction away from the first base material support portion. An electronic device manufacturing apparatus that controls at least the first moving mechanism, the second moving mechanism, and the pressure adjusting means so as to separate the press portion from the base material assembly.
前記チャンバに接続される第1配管と、
前記第1配管に接続され、前記チャンバ内のガスを排出させる吸引ポンプと、
前記第1配管に設けられる第1バルブと、
前記チャンバに接続される第2配管と、
前記第2配管に設けられる第2バルブと、
前記第2配管に接続され、前記チャンバ内にガスを供給するガス供給源とを有する、請求項4に記載の電子機器の製造装置。 The pressure adjusting means is
A first pipe connected to the chamber;
A suction pump connected to the first pipe for discharging the gas in the chamber;
A first valve provided in the first pipe;
A second pipe connected to the chamber;
A second valve provided in the second pipe;
The electronic device manufacturing apparatus according to claim 4, further comprising: a gas supply source that is connected to the second pipe and supplies gas into the chamber.
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