JP2017058417A - 光信号モニタ装置 - Google Patents

光信号モニタ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2017058417A
JP2017058417A JP2015181184A JP2015181184A JP2017058417A JP 2017058417 A JP2017058417 A JP 2017058417A JP 2015181184 A JP2015181184 A JP 2015181184A JP 2015181184 A JP2015181184 A JP 2015181184A JP 2017058417 A JP2017058417 A JP 2017058417A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
optical
optical signal
light receiving
receiving port
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015181184A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6434879B2 (ja
Inventor
光雅 中島
Mitsumasa Nakajima
光雅 中島
俊和 橋本
Toshikazu Hashimoto
俊和 橋本
賢哉 鈴木
Masaya Suzuki
賢哉 鈴木
慶太 山口
Keita Yamaguchi
慶太 山口
城治 山口
Joji Yamaguchi
城治 山口
聖司 岡本
Seiji Okamoto
聖司 岡本
成 根本
Shigeru Nemoto
成 根本
光樹 芝原
Mitsuki Shibahara
光樹 芝原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP2015181184A priority Critical patent/JP6434879B2/ja
Publication of JP2017058417A publication Critical patent/JP2017058417A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6434879B2 publication Critical patent/JP6434879B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
  • Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)

Abstract

【課題】プログラマブルに変化可能な光モニタ装置を提供する。【解決手段】モニタ対象の光信号の入力を行う入力ポート11−iと、マトリックス状に配列された複数の画素と駆動部を有し、複数の画素の位相パタンを駆動部によって制御することにより各画素に入力する信号光の光位相を変化させて出射する空間光変調素子14と、入力ポートから空間に出射された信号光が空間光変調素子上に照射するように信号光の出射光の角度及び位置を変換する光学素子13と、空間光変調素子から出射した光が結合する受光ポート16−mと、受光ポートに結合した光の強度を測定する受光素子17−mと、受光素子で測定した光の強度に基づいて、光信号のモニタ内容に応じた測定値を算出する算出手段とを備え、空間光変調素子は、光信号のモニタ内容に応じて、信号光を、所定の方路へ、所定の強度・位相、遅延時間で出力されるように、複数の画素の位相パタンを制御する。【選択図】図1

Description

本発明は光信号モニタ装置に関する。
インターネットトラフィックの増大と共に光ファイバ通信における通信容量増加のニーズは一層高まっている。この要求に答えるため、ファイバを通過する変調光の高速化・多値化や、波長方向、偏波方向、空間方向への多重化といった流れがますます進展している。このように複雑に変調された光信号の品質を長期において保つためには、光信号のモニタリング技術が重要となる。光信号のモニタには、例えば波長チャネルごとの光強度を測定する光チャネルモニタ(OCM)、光信号のS/N比を測定するOSNRモニタ、光信号の波長分散(CD)を測定するCDモニタ、偏波分散(PMD)を測定するPMDモニタなどが挙げられる。これらをモニタする方式には、例えばOCMであれば特許文献1の方式が、OSNRであれば非特許文献1、2の方式が、PMDやCDであれば非特許文献3の方式などが挙げられる。ここで挙げる方式以外にもモニタリングの手法は様々に提案されており、それぞれ特徴を有する。
特開2003−204302号公報 国際公開公報WO2014/087673号パンフレット
J.H.Lee et al., "A Review of the Polarization-Nulling Technique for Monitoring Optical-Signal-to-Noise Ratio in Dynamic WDM Networks", Journal of Lightwave Technology, Vol.24, No.11, pp.4162-4171, 2006 X. Liu et al., "OSNR Monitoring Method for OOK and DPSK Based on Optical Delay Interferometer", IEEE Photonics Technology Letters, Vol. 19, No. 15, pp. 1172-1174, 2007 Y. K. Lize et al., "Independent and Simultaneous Monitoring of Chromatic and Polarization-Mode Dispersion in OOK and DPSK Transmission", IEEE Photonics Technology Letters, Vol. 19, No. 1, JANUARY 1, 2007
一方、光信号の品質のモニタは、設計時/開通時/運転時/故障時でそれぞれ異なるモニタ機能が要求される。例えば運転時においては、光信号の断通を即座に感知可能な光チャネルモニタが重宝されるが、回線設計時や故障解析時にはOSNRなどBERに直結する特性のモニタが重要となる。しかしながら、一般にはこれらの測定装置はそれぞれ光学構成が異なるために、全てのモニタ機能を各光ノードに配置するのはコストやサイズの観点で障壁が高い。
また、従来のOSNR測定では、信号帯域外の自然放出光(ASE)レベルを線形補完し、光信号パワーに対するASE起因の雑音パワー比を推定することでOSNRをモニタするASE補完法が一般的に用いられてきた。しかし、高シンボルレート化に伴う光信号の広帯域化や、多段の光フィルタ通過に伴うASE光の非一様なスペクトル特性により、従来用いられてきたASE補完法ではASEレベルを推定することが困難になってきており、信号帯域内の雑音パワーを直接推定することができるインバンド型OSNRモニタ方法が求められている。さらに、光信号が伝搬する過程において、架空光ケーブルの揺れや保守運用者の光ケーブルへの接触や光ケーブルの温度変化などが原因となって、一般にPMDは時間変化することが知られており、PMDの光信号への影響を常時監視することができればより高信頼の光通信システムを運用することができると期待される。また、リンク断の状況になった際に現用経路から切り替えるプロテクションを行う必要があり、CDのモニタが必要とされる。
本発明は、上記従来の問題に鑑みなされたものであって、本発明の課題は、その時々に合わせて光モニタ機能をプログラマブルに変化可能な光モニタ装置を提供することにある。
上記の課題を解決するために、一実施形態に記載の発明は、モニタ対象の光信号の入力を行う入力ポートと、平面内にマトリックス状に配列された複数の画素と前記画素を駆動する駆動部を有し、前記複数の画素の位相パタンを前記駆動部によって制御することにより各画素に入力する信号光の光位相を変化させて出射する空間光変調素子と、前記入力ポートから空間に出射された前記信号光が前記空間光変調素子上に照射するように前記信号光の出射光の角度及び位置を変換する光学素子と、前記空間光変調素子から出射した光が結合する受光ポートと、前記受光ポートに結合した光の強度を測定する受光素子と、前記受光素子で測定した光の強度に基づいて、前記光信号のモニタ内容に応じた測定値を算出する算出手段とを備え、前記空間光変調素子は、前記光信号のモニタ内容に応じて、前記信号光を、所定の方路へ、所定の強度・位相、遅延時間で出力されるように、前記複数の画素の位相パタンを制御することを特徴とする光信号モニタ装置である。
反射型SLMを用いた光信号モニタ装置の構成例を示す図である。 反射型SLMを用いた光信号モニタ装置の構成の他の例を示す図である。 反射型SLMを用いた光信号モニタ装置の構成の他の例を示す図である。 反射型SLMを用いた光信号モニタ装置の構成の他の例を示す図である。 反射型SLMを用いた光信号モニタ装置の構成の他の例を示す図である。 反射型SLMを用いた光信号モニタ装置の構成の他の例を示す図である。 z軸方向から見た反射型SLMの構成において光照射領域を示す例である。 z軸方向から見た反射型SLMの構成において波長チャネルに分解した光照射領域を示す例である。を示す。 ブレーズ状の位相パタンを示す図である。 遅延干渉計における光の結合例について示す図である。 のこぎり波に異なる周波数のsin波を重畳した位相パタンを示す図である。 z軸方向から見た反射型SLMの構成において領域分割し、それぞれに異なる位相パタンを印加する構成を示す図である。 遅延干渉計の構成例を説明する図である。 90°ハイブリッドを実現するように位相変調素子SLMを制御した例を示す図である。 90°ハイブリッド構成において受光ポートA、Bに結合する信号光の強度を示す図である。 反射型SLMを用いた光スイッチ集積型光信号モニタ装置の構成例を示す図である。 反射型SLMを用いた光スイッチ集積型光信号モニタ装置の構成の他の例を示す図である。
以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。
[第1の実施形態]
(光学系の基本構成)
図1は、反射型SLM(Spatial Light Modulator:空間光変調素子)位相変調素子を用いた光信号モニタ装置の構成例を示すものである。図1においては、入力ポートおよび受光ポートが配列する方向をy軸、光信号が伝搬する方向をz軸として示している。光信号モニタ装置は、入力ポートである複数の光ファイバ11−iと、光ファイバ11−iに対応して設けられた複数のコリメートレンズ12−iと、光学素子13と、SLM14と、コリメートレンズアレイ15−1〜15−mと、受光ポートである複数の光ファイバ16−1〜16−mと、光パワーモニタ17−1〜17−mとを備えて構成される。
光学素子13は、光ファイバ11−iからコリメートレンズ12−iを介して入力された光を位相変調素子14に向けて出射すると共に、位相変調素子14から反射されてきた光を、コリメートレンズアレイ15−1〜15−mを介して光ファイバ16−1〜16−mに結合する。光学素子13としては、入力された光を位相変調素子14に向けて出射するように信号光の出射方向を変換する手段を用いることができ、例えばレンズや、プリズムや、回折格子などを用いることができる。
SLM14は、マトリックス状の画素の位相パタンを制御して、入力された光の光強度や光位相、遅延時間を制御して出力する。
図1に示す光信号モニタ装置おいては、入力されたm本の光信号は光ファイバ11−iを介して空間に出射され、コリメートレンズ12−iを介し、光学素子13に与えられる。ここでiはそれぞれの入力ポート番号に対応する値である。光学素子13からの出射光はSLM14によって反射され、再び光学素子13を介し、コリメートレンズアレイ15−1〜15−mを経て、受光ポートである光ファイバ16−1〜16−mへ与えられる。受光ポートの後段には、光パワーモニタ17−1〜17−mが接続され、受光ポートに結合した光の強度を取得して、図示しない算出手段によって、受光ポートに結合した光の強度等に基づいてモニタ内容に応じた測定値を算出する。
ここで、光信号モニタ装置に入力する信号光は、例えば波長λp〜λqまでを束ねるWDM(Wavelength Division Multiplexing)光でもよい。
図2に示すように、コリメートレンズ12、15−1〜15−m及び光学素子13の間に波長分散素子18を配置し、波長ごとに集光位置を異なるようにし、波長ごとに異なる位相パタンを設定可能としてもよい。図2では、波長分散素子は紙面垂直方向に回折性能を有しており、入力光の波長によりSLM14の紙面垂直方向に異なる位置に光を照射してもよい。波長分散素子18は光学素子13とSLM14の間に配置してもよい。
また、入力ポートの前段にマルチコアファイバの異なるコアを接続することで、コアごとの光信号をモニタする構成としてもよい。また、入力ポートが複数存在し、前段にマルチモードファイバを配置し、それぞれのモードがそれぞれの別々の入力ポートに接続されることで、モードごとの光信号をモニタする構成としてもよい。
図1、2では1つの入力ポートに対して受光ポートが1つずつ配置される場合を示しているが、図3のように1つの入力ポートに対して複数の受光ポートを設けて、SLM14からの出射角で選択可能としてもよい。図3のように配置することで、任意の、単一または複数の受光ポートへ任意の強度・位相、遅延時間で出力することが出来る。この場合は、受光ポートを時間的に切り替えることで異なる入力ポートや波長チャネルで共用できるといった機能を発現できる。
図4のように複数の入力ポートからの信号をSLM14の同一領域内に結合させてもよい。この構成は、後述するような光信号の位相測定に対して有効である。
図5に示すように受光ポート後段に光カプラを接続し、異なる受光ポート間を干渉させて測定してもよい。この構成は、後述するOSNRモニタに有効である。
図6のように受光ポートの後段にバンドパスフィルタを接続し、任意の周波数の信号成分のみ測定してもよい。この構成は、後述するクロックトーン検出を利用したPMD、CDモニタに有効である。
また、図1から図6に示した反射型SLM14に代えて、透過型のSLMを用いることもできる。透過型のSLMを用いる場合は、図1から6に示した構成において、入力側と出力側の光学系を、SLM14の中心を通過するy軸に対して線対称に構成すれば同等の機能を発現させることが出来る。
(位相変調素子の構成)
本実施形態の光信号モニタ装置で用いられるSLM14についてさらに詳細に説明する。図7、8は、反射型のSLM14をz軸方向から見た場合の構成を示す図である。図7は光照射領域を示し、図8は波長チャネルに分解した光照射領域を示す。SLMはxy平面上にp×q個の画素がマトリクス状に配列され、各画素において光の位相を独立に制御する多数の画素41−11、41−pqと、各画素の位相を制御するドライバ素子42と、裏面に反射部43とを具備する。なお、透過型のSLM14は、図7、8の裏面の反射部43を設けない構成を備えている。
上記の光信号モニタ装置において、SLM14に光を入射した場合の光照射領域は図7に示す領域Rのようになる。領域R内の各画素に、特定の位相パタンを与えることによって出射光の波面を制御し、出射光の進行方向及びその方向の光強度・位相の制御を行うことが出来る。入力光を複数方向にスプリットさせて出力することも可能である。また、入射光をWDM信号とし、回折格子でx軸方向(例えば図2、4の紙面垂直方向)に分散させる場合、その入射領域は、図8に示すように波長チャンネルごとに異なり、領域R1〜Rnのようになる。この場合、領域R1〜Rnの位相パタンを独立に制御することで波長チャンネルごとに異なる単一または複数の受光ポート選択、出力光強度・位相及び遅延量を設定可能である。
SLM14は、例えばLCOS(Liquid Crystal On Silicon)を用いて実現可能である。本素子では、液晶材料の配向方向を、ドライバ電極に印加する電圧で制御可能であり、これによって入力信号が感じる液晶の屈折率を変化させ位相を制御することが可能である。表面電極を透明電極とし、裏面電極を反射電極とすることで反射型の位相変調器が実現可能である。また、表面及び裏面電極の両方を透明電極とすることで、透過型位相変調器が実現可能である。また、液晶材料の代わりに電気光学効果を示す材料を用いても構わない。
SLM14は、MEMS(MicroElectroMechanical System)ミラーを用いても実現可能である。例えば電圧を印加することで、各画素の位置に対応するミラーをz軸方向へ変位させることで画素ごとに光路長を変化させ、位相を制御することが可能である。
以上説明した光信号モニタ装置では、光パワーモニタ17において取得した光の強度から光信号について様々な測定をすることができる。たとえば、光チャネルモニタ(OCM)、OSNRモニタ、PMD/CDモニタ、光位相モニタをすることができる。これらの測定法について以下に説明する。
(光チャネルモニタ方法)
次に、以上説明した構成を備える本実施形態の光信号モニタ装置において光チャネルモニタ(OCM)を行う方法について記述する。ここでは図3に示す光学系を用いる方法を例に挙げて説明するが、図1から図6のいずれの光学系においても下記と同様の手法で光チャネルの強度モニタをすることができる。
入力信号の光強度Pは、例えば単一の受光ポートとして光ファイバ16−1を選択し、その光ファイバ16−1におけるパワーモニタの受光強度PPD及びポート選択時の光学系の結合による損失の値αから次式を通じて換算可能である。
単一の受光ポートに光を結合させるためには例えば図9に示すようなブレーズ状の位相パタンを印加すればよい。損失αの値は、実験または光伝搬シミュレーション等によってあらかじめ保持しておくことが出来るため、PPDをモニタすることで光チャネルの強度Pの値を特定することができる。
また、図5、6のように1つの入力ポートに対して複数の受光ポートが存在する場合、例えばその数の分だけ異なる波長チャネルを測定可能である。受光ポートの数が波長チャネルの数よりも少ない場合は、例えば時間と共に受光ポートに結合させる波長チャネルを変化させ、その時間と波長の関係を記録しておくことで、異なる波長チャネルを同一の受光ポートで測定することが可能である。この際、測定対象外の波長チャネルは受光ポートに結合させないようにSLMに対して位相パタンを印加することで所望の波長チャネル以外の影響を除去可能である。これによって、受光ポート数が削減できるため系の小型化、低コスト化といった付加的な価値を提供可能である。
(OSNRモニタ方法)
本実施形態の光信号モニタ装置においてOSNRモニタを行う方法について記述する。まず図5に示す光学系を利用する場合の手法について記述する。光学系OSNRモニタは、複数の方式が提案されているがここでは非特許文献2に記載の遅延干渉計を用いたOSNRモニタ方法について記述する。本方式は他方式に比較し、in−bandでの測定が可能、変調信号フォーマットに依らず測定可能、偏波モード分散や波長分散耐性に優れるといった優れた特徴を有する。一般に非特許文献2に示すような遅延干渉計は波長フィルタ、遅延線、光位相掃引素子、光スプリッタといった複数の光学部材が必要となるが、本実施形態の光信号モニタ装置では、これらの部材により実現できる遅延干渉計の機能をより少ない部材により実現できる。
図10は、図5に示す光学系において実現される遅延干渉計における光の結合例について示す図である。SLM14に入射された光は2分岐され、異なる受光ポートである光ファイバ16−n、16−n−1に結合する。この際、方路に応じて通過する光路長が異なるために相対的な遅延量Δτが発生する。Δτは信号光の1シンボル周期の自然数倍または自然数分の1に設定することで、所望しないビート成分を排除することが出来、測定の精度が向上する。また、受光ポートに結合しなければ、SLM14から出射する光の分岐数は2方路以上でも構わない。
受光ポート16−n、16−n−1に結合した信号光はそれぞれ光カプラ19−(n/2)の異なる入力ポートに接続され干渉を生じる。光カプラ19−(n/2)の後段に光パワーモニタ17−(n−1)、17−nが配置されており、それぞれの強度PPD1、PPD2を測定することで、遅延干渉計の干渉光強度を測定することが可能である。SLM14上で二分岐した光のうちの一方の位相を掃引することによって分岐した2つの光の相対的な位相差φを掃引し、それぞれのポートにおける干渉光強度の比が最大になるように設定した時のそれぞれのパワーモニタの強度比R = PPD1/PPD2を用いて、OSNRは次式から計算できる。(非特許文献2参照)
上記式(2)において、sおよびnは、光ノイズが存在しないときおよび光信号が存在しない場合のRの値であり、NEBはノイズ成分の実効的な透過帯域である。s及びnは事前にキャリブレーションすることで、NEBはSLMで設定する透過帯域の幅から算出可能である。従って上述のRをモニタすることで、OSNRを推定することが可能である。
光を複数方路にスプリットし、それら相対位相を掃引する位相パタンはCGH(Computer Generated Hologram)を用いて求めることが出来る他、特許文献2記載の周波数変調を用いることが出来る。これは例えば、図11に記述するような、のこぎり波に異なる周波数のsin波を重畳することで実現できる。相対位相差はsin波の位相値を変化することで掃引可能である。重畳する波(位相パタン)はsin波だけでなくのこぎり波や三角波など、周期性をもてば同様の機能を発現させることが出来る。重畳する波の振幅も制御することで、入射する波に所望の光位相の変化を与えることができる。また、図12のように入射ビームの結合するSLM上の領域を分割し、それぞれに異なる位相パタンを印加することでも実現できる。
次に図3に示す光学系を用いてOSNRモニタを行う手法について記述する。このほかにも図1から図6のいずれの光学系においても下記と同様の手法でOSNRモニタ可能である。図13は図3の光学系をy軸方向から見た光学構成である。図13では、便宜的に入力側と受光側が同じ構成として示されている。本構成ではSLM14上で分岐した2つのビームが光路差を与えられた後に同一の受光ポート16で結合するように僅かに出射角度が異なるように設定しておくことでカプラ無しでも干渉光の測定が可能となっている。
受光ポート16では、それぞれ分岐した光信号の光路差に応じて相対的な遅延量Δτで結合され、これによって遅延干渉計が構成される。Δτは信号光の1bit周期の自然数倍または自然数分の1に設定することで、所望しないビート成分を排除することが出来、測定の精度が向上する。また、受光ポートに結合しなければ、SLM14から出射する光の分岐数は2方路以上でも構わない。受光ポートの後段に光パワーモニタ17を配置し、SLM14上で二分岐した光の相対的な位相差φを掃引しながら、パワーモニタの強度が最大となる光モニタ強度Pmax及び最小となる強度Pminを記録し、その比率R=Pmax/Pminを求めることで式(2)からOSNRを算出することが出来る。本構成は、前記したOSNRモニタ構成と比較し、部品点数削減といった優れた効果が得られる。
また、図3、5のように1つの入力ポートに対して複数の受光ポートが存在する場合、例えばその数の分だけ異なる波長チャネルを測定可能である。受光ポートの数が波長チャネルの数よりも少ない場合は、例えば時間と共に受光ポートに結合させる波長チャネルを変化させ、その時間と波長の関係を記録しておくことで、異なる波長チャネルを同一の受光ポートで測定することが可能である。この際、測定対象外の波長チャネルは受光ポートに結合させないようにSLMに対して位相パタンを印加することで所望の波長チャネル以外の影響を除去可能である。これによって、受光ポート数が削減できるため系の小型化、低コスト化といった付加的な価値を提供可能である。
(PMD/CDモニタ)
次に、図6の光信号モニタ装置においてPMD及びCDのモニタを行う方法について説明する。PMD及びCDモニタは、複数の方式が提案されているがここでは非特許文献3に記載の遅延干渉計を用いてクロックトーンからPMD、CDをモニタする方法を採用することができる。本方式は他方式に比較し、変調信号フォーマットに依らず測定可能、光学構成が簡易といった優れた特徴を有する。
クロックトーンからPMD、CDをモニタする遅延干渉計は、OSNRモニタを実現する図5に示す光学構成の光信号モニタ装置の受光ポートの後段にバンドパスフィルタ20を配置した図6の構成により実現できる。バンドパスフィルタ20で、所定の周波数のクロックトーンを抽出して、この抽出したクロックトーンの信号強度を測定することでPMD、CDをモニタすることができる。クロックトーン強度は、PMD、CDの発生に応じて変動する。したがって、クロックトーン強度とPMD、CDの発生レベルの相関関係を前もって測定して、相関関係を較正線として保持しておき、この較正線に基づいて測定したクロックトーン強度に対応するPMD、CDを特定することによりPMD、CDをモニタすることができる。
図6の光信号モニタ装置においてカプラなしで干渉光の測定をするために、OSNRのモニタ方法で説明した図13に示す構成において、受光ポート16と光パワーモニタ17との間にバンドパスフィルタ20を配置した構成でクロックトーン信号の強度を測定する。本構成ではSLM14上で分岐した2つのビームが光路差を与えられた後に同一の受光ポート16で結合するように僅かに出射角度が異なるように設定しておくことでカプラ無しでも干渉光の測定が可能となっている。
受光ポート16では、それぞれ分岐した光信号の光路差に応じて相対的な遅延量Δτで結合され、これによって遅延干渉計が構成される。Δτは信号光の1bit周期の自然数倍または自然数分の1に設定することで、所望しないビート成分を排除することが出来、測定の精度が向上する。また、受光ポートに結合しなければ、SLM14から出射する光の分岐数は2方路以上でも構わない。
また、図6のように1つの入力ポートに対して複数の受光ポートが存在する場合、例えばその数の分だけ異なる波長チャネルを測定可能である。受光ポートの数が波長チャネルの数よりも少ない場合は、例えば時間と共に受光ポートに結合させる波長チャネルを変化させ、その時間と波長の関係を記録しておくことで、異なる波長チャネルを同一の受光ポートで測定することが可能である。この際、測定対象外の波長チャネルは受光ポートに結合させないようにSLMに対して位相パタンを印加することで所望の波長チャネル以外の影響を除去可能である。これによって、受光ポート数が削減できるため系の小型化、低コスト化といった付加的な価値を提供可能である。
(光位相モニタ)
本実施形態の光信号モニタ装置において光位相モニタを行う方法について説明する。ここでは図3の光学系を用いて光位相モニタを行う場合を例に挙げて説明する。光位相モニタには90°ハイブリッド構成を採用することが一般的であり、以下ではSLM14を用いることで90°ハイブリッドと同等な測定を行う手法について記述する。
図14は、図3の光学系において90°ハイブリッドを実現するように位相変調素子SLMを制御した例である。位相の基準となる光信号P’(実線で示される光路)と被測定光信号P(破線で示される光路)を異なる入力ポートから入射し、SLM上でそれぞれ3分岐する。分岐された信号のうち各光信号PとP’について1つずつを受光ポートAに結合するように制御し、受光ポートAに結合した信号とは異なる信号を光信号PとP’について1つずつを受光ポートBに結合する。残りの分岐信号は受光ポートには結合させなくてよい。この際、光信号P、P’のうちどちらか一方の分岐信号に対して受光ポートA、Bに結合する2つの光の光位相差Δφを設定する。
受光ポートA、Bはそれぞれ遅延線干渉計として動作するため、PとP’間の光路長差を起因とした相対的な位相差Δθに応じて光強度が変動する。この時受光ポートA、Bにおける信号光の強度はΔθに対して図15のように変動する。図15から分かるように、それぞれのポートの受光強度はΔΨ分だけずれるので、両方の光強度の値を観測することで位相値を一意に定めることが出来る。光を3分岐するには、例えば前述のsin波重畳や、領域の分割、CGHの利用などが考えられる。
また、図3のように1つの入力ポートに対して複数の受光ポートが存在する場合、例えばその数の分だけ異なる波長チャネルを測定可能である。受光ポートの数が波長チャネルの数よりも少ない場合は、例えば時間と共に受光ポートに結合させる波長チャネルを変化させ、その時間と波長の関係を記録しておくことで、異なる波長チャネルを同一の受光ポートで測定することが可能である。この際、測定対象外の波長チャネルは受光ポートに結合させないようにSLMに対して位相パタンを印加することで所望の波長チャネル以外の影響を除去可能である。これによって、受光ポート数が削減できるため系の小型化、低コスト化といった付加的な価値を提供可能である。
(プログラマブルモニタ)
例えば図6に示す光学系構成の光信号モニタ装置を用いれば上述の方法から、SLM14上の位相パタンを変化させることのみでOCM、OSNR、PMD、CDのモニタ機能を任意に変更することが出来る。SLM14の位相パタンは外部からプログラマブルに変更できるので、その時々のニーズに合わせて所望の特性を柔軟にモニタすることができる。これによって、例えば、回路設計時には、OSNR、GDをモニタし光信号品質に対するバジェット設計に適用する、運用中はPMDモニタやOSNRモニタを用いて光信号品質を劣化させる一定の閾値を超えないように監視する、故障解析時にはOCMによりリンク断箇所を特定する、などといったことが可能となり、回線設計の高度化、保守運用の高信頼化、故障解析の効率化などに資する。
本実施形態の光信号モニタ装置では、反射型SLM(Spatial Light Modulator:位相変調素子)を任意の方路へ任意の強度・位相、遅延時間で出力するように制御することにより、その時々に合わせて光モニタ機能をプログラマブルに変化可能な光モニタ装置を提供する。また、本実施形態の光信号モニタ装置によれば、任意の波長チャネルや入力コアの光信号を抜き出してモニタ出来る他、波長チャネルごとや入力コアごとに異なるモニタ機能の付与を行うことも可能である。
[第2の実施形態]
この実施形態の光スイッチ集積型光信号モニタ装置は、第1の実施形態で説明したモニタ機能を実現する光信号モニタ装置に光スイッチを組み合わせた構成である。本実施形態の光スイッチ集積型光信号モニタ装置は、入力信号を光カプラで分岐し、分岐した光信号を、光信号モニタ装置の入力と、光スイッチの入力に結合する。
図16、17は、本実施形態の反射型SLMを用いた光スイッチ集積型光信号モニタ装置の構成例を示す図である。ただし、入力および受光ポートが配列する方向をy軸、光信号が伝搬する方向をz軸としている。
光スイッチ集積型光信号モニタ装置において、入力ポート21から入射した光信号は光カプラ22によって分岐され、それぞれ光スイッチ用と光信号モニタ用の入力光ファイバ23、24に接続される。それぞれの光信号は空間に出射され、コリメートレンズ25、26を介し、光学素子27に与えられる。
光学素子27からの出射光はSLM28によって反射され、再び光学素子27を介し、コリメートレンズアレイ29−1〜29−n’および30−1〜30−n、出力ポートと受光ポートである光ファイバ31−1〜31−n’および32−1〜32−nへ与えられる。光スイッチレイヤの出力ポート側の光信号はそのまま出力ポートから出力される。光モニタ用の受光ポートの後段には、光パワーモニタ33−1〜33−nが接続され、受光ポートに結合した光のモニタが可能である。ここで、光信号は、SLM28へ与えられた位相パタンによって光強度や光位相、遅延時間が選択される。
光学素子27としては、入力された光をSLMに向けて出射するように信号光の出射方向を変換する手段を用いることができ、例えばレンズやプリズム、反射ミラー、回折格子を用いることができる。入力する信号光は、例えば波長λp〜λqまでを束ねるWDM光でもよい。
また、図17に示すように、コリメートレンズ及び光学素子の間に波長分散素子34を配置し、波長ごとに集光位置を異なるようにし、波長ごとに異なる位相パタンを設定可能としてもよい。図17では、波長分散素子は紙面垂直方向に回折性能を有しており、入力光の波長によりSLMの紙面垂直方向に異なる位置に光を照射してもよい。波長分散素子34は光学素子27とSLM28の間に配置してもよい。また、入力ポートの前段にマルチコアファイバの異なるコアを接続することで、コアごとの光信号をモニタする構成としてもよい。また、入力ポートが複数存在し、前段にマルチモードファイバを配置し、それぞれのモードがそれぞれの入力ポートに接続されることで、モードごとの光信号をモニタする構成としてもよい。
図16、17では受光ポートが1つずつ配置される場合を示しているが、第1の実施形態のように複数の受光ポートをSLM28からの出射角で選択可能としてもよい。これにより、任意の単一または複数の受光ポートへ任意の強度・位相、遅延時間で出力することが出来る。この場合は、受光ポートを時間的に切り替えることで異なる入力ポートや波長チャネルで共用できるといった機能を発現できる。また、複数の入力ポートからの信号をSLMの同一領域内に結合させてもよい。この構成は、前述した光信号の位相測定に対して有効である。
また、受光ポート後段に光カプラを接続し、異なる受光ポート間を干渉させて測定してもよい。これは、前述のようにOSNRモニタに有効である。また、受光ポートの後段にバンドパスフィルタを接続し、任意の周波数の信号成分のみ測定してもよい。これは、前述のようにPMD、CDモニタに有効である。また、SLMは透過型であってもよい。この場合は、例えばSLMの中心を通過するy軸に対して線対称に光学系を配置すれば同等の機能を発現させることが出来る。光モニタの手法は第1の実施形態と同様の手法を利用すればよい。
本実施形態の光スイッチ集積型光信号モニタ装置は、波長選択スイッチを含む光スイッチデバイスと光信号モニタ装置とを同一光学系中に集積化させることが可能であるため、コストやサイズの増加を抑制しつつ各光ノードに多数のモニタ機能を集積することが可能となる。
11 光ファイバ
12 コリメートレンズ
13 光学素子
14 SLM
15 コリメートレンズアレイ
16 光ファイバ
17 光パワーモニタ
18 波長分散素子
41 画素
42 ドライバ素子

Claims (9)

  1. モニタ対象の光信号の入力を行う入力ポートと、
    平面内にマトリックス状に配列された複数の画素と前記画素を駆動する駆動部を有し、前記複数の画素の位相パタンを前記駆動部によって制御することにより各画素に入力する信号光の光位相を変化させて出射する空間光変調素子と、
    前記入力ポートから空間に出射された前記信号光が前記空間光変調素子上に照射するように前記信号光の出射光の角度及び位置を変換する光学素子と、
    前記空間光変調素子から出射した光が結合する受光ポートと、
    前記受光ポートに結合した光の強度を測定する受光素子と、
    前記受光素子で測定した光の強度に基づいて、前記光信号のモニタ内容に応じた測定値を算出する算出手段とを備え、
    前記空間光変調素子は、前記光信号のモニタ内容に応じて、前記信号光を、所定の方路へ、所定の強度・位相、遅延時間で出力されるように、前記複数の画素の位相パタンを制御することを特徴とする光信号モニタ装置。
  2. 前記空間光変調素子は、前記入力ポートから入力された光信号が、単一の前記受光ポートに光結合するように制御し、前記算出手段は、該受光ポートにおいて測定された光の強度と前記受光ポートに結合する際の光学系の損失の値αとに基づいて、前記入力された光信号の強度を算出することを特徴とする、請求項1に記載の光信号モニタ装置。
  3. 前記空間光変調素子は、出射される光信号をn(nは2以上の整数)方向以上に分岐し、n個に分岐された光信号のそれぞれに対し、異なる時間遅延量τnを付与し、分岐された光信号のうち少なくとも2つ以上を同一の受光ポートに結合させることにより遅延干渉計を形成し、前記分岐された信号のうちの少なくとも1つ以上の光位相を0から2πまで変化させることによって干渉光強度を変化させ、前記受光手段は、前記干渉光強度が変化した光の受光強度を測定し、前記算出手段は、該受光強度の最大値と最小値を記録し、記録した最大値と最小値との比率からOSNRを算出することを特徴とする、請求項1に記載の光信号モニタ装置。
  4. 前記受光素子は、前記受光ポートに結合した光をフィルタリングするバンドパスフィルタを有し、
    前記空間光変調素子は、出射される光信号をn(nは2以上の整数)方向以上に分岐し、n個に分岐された光信号のそれぞれに対し、異なる時間遅延量τnを付与し、分岐された光信号のうち少なくとも2つ以上を同一の受光ポートに結合させることにより遅延干渉計を形成し、前記分岐された信号のうちの少なくとも1つ以上の光位相を0から2πまで変化させることによって干渉光強度を変化させ、前記受光手段は、前記干渉光強度が変化した光を前記バンドパスフィルタリングによりフィルタリングしてクロックトーン信号の受光強度を測定し、前記算出手段は、該受光強度の最大値と最小値を記録し、記録した最大値と最小値との比率から波長分散量または偏波モード分散またはその両方を算出することを特徴とする、請求項1に記載の光信号モニタ装置。
  5. 前記時間遅延量τnは、光信号の1bit長さの自然数倍、または自然分の1であることを特徴とする、請求項3または4に記載の光信号モニタ装置。
  6. 前記入力ポートは、測定対象の光信号を入力する光信号入力ポートと、光位相の基準となる基準光信号を入力する基準光信号入力ポートを有し、前記受光ポートは、第1の受光ポートと第2の受光ポートを有し、
    前記空間光変調素子は、入力された光信号および基準光信号をそれぞれ2方向以上に分岐して、分岐された光信号および基準光信号のうちの少なくとも1つずつを前記第1の受光ポートに結合し、分岐された残りの光信号および基準光信号のうち少なくとも1つずつを前記第2の受光ポートに結合し、
    前記空間光変調素子は、第2の受光ポートに結合する光信号および基準光信号のいずれかの光位相が第1の受光ポートに結合する信号に対しΔφだけ異なる値になるように位相を設定し、前記算出手段は、前記第1の受光ポートおよび前記第2の受光ポートにおける光強度の値から光信号および基準光信号の相対的な光位相を算出することを特徴とする、請求項1に記載の光信号モニタ装置。
  7. 前記光学素子は、前記入力信号の波長ごとに前記空間光変調素子上の異なる位置に結合させる波長分散素子を有し、前記空間光変調素子は、任意の波長チャネルのみが受光ポートに結合するように位相パタンを制御することにより、任意の波長チャネルの光信号を抽出してモニタすることを特徴とする、請求項1から6のいずれかに記載の光信号モニタ装置。
  8. 前記空間光変調素子は、結合させる入力ポートまたは波長チャネルを時間的に変化させることで、複数の入力ポートに対して1つの受光ポートを共用させることを特徴とする、請求項1から7のいずれかに記載の光信号モニタ装置。
  9. 請求項1から8のいずれかに記載の光信号モニタ装置と、
    光スイッチと、
    入力される光信号を、前記光信号モニタ装置と前記光スイッチとのいずれかに入力するように分岐する光カプラとを備えたことを特徴とする光スイッチ集積型光信号モニタ装置。
JP2015181184A 2015-09-14 2015-09-14 光信号モニタ装置 Active JP6434879B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015181184A JP6434879B2 (ja) 2015-09-14 2015-09-14 光信号モニタ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015181184A JP6434879B2 (ja) 2015-09-14 2015-09-14 光信号モニタ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017058417A true JP2017058417A (ja) 2017-03-23
JP6434879B2 JP6434879B2 (ja) 2018-12-05

Family

ID=58389945

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015181184A Active JP6434879B2 (ja) 2015-09-14 2015-09-14 光信号モニタ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6434879B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11054575B2 (en) 2018-03-07 2021-07-06 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Optical spectrum shaper and optical signal monitor using same

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002287044A (ja) * 2001-03-26 2002-10-03 Olympus Optical Co Ltd 光路切替装置
US20050018259A1 (en) * 2001-09-03 2005-01-27 Melanie Holmes Optical processing
JP2010245993A (ja) * 2009-04-09 2010-10-28 Fujitsu Ltd 光伝送装置
JP2012501106A (ja) * 2008-08-21 2012-01-12 ニスティカ,インコーポレーテッド 光チャンネルモニタ
JP2012083404A (ja) * 2010-10-07 2012-04-26 Furukawa Electric Co Ltd:The 光スイッチ
WO2014034144A1 (ja) * 2012-08-30 2014-03-06 日本電信電話株式会社 光信号処理装置
WO2014034142A1 (ja) * 2012-08-30 2014-03-06 日本電信電話株式会社 光スイッチ
WO2014087673A1 (ja) * 2012-12-07 2014-06-12 日本電信電話株式会社 光入出力装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002287044A (ja) * 2001-03-26 2002-10-03 Olympus Optical Co Ltd 光路切替装置
US20050018259A1 (en) * 2001-09-03 2005-01-27 Melanie Holmes Optical processing
JP2012501106A (ja) * 2008-08-21 2012-01-12 ニスティカ,インコーポレーテッド 光チャンネルモニタ
JP2010245993A (ja) * 2009-04-09 2010-10-28 Fujitsu Ltd 光伝送装置
JP2012083404A (ja) * 2010-10-07 2012-04-26 Furukawa Electric Co Ltd:The 光スイッチ
WO2014034144A1 (ja) * 2012-08-30 2014-03-06 日本電信電話株式会社 光信号処理装置
WO2014034142A1 (ja) * 2012-08-30 2014-03-06 日本電信電話株式会社 光スイッチ
WO2014087673A1 (ja) * 2012-12-07 2014-06-12 日本電信電話株式会社 光入出力装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11054575B2 (en) 2018-03-07 2021-07-06 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Optical spectrum shaper and optical signal monitor using same

Also Published As

Publication number Publication date
JP6434879B2 (ja) 2018-12-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10181696B2 (en) Photonic integrated circuit
US9660723B2 (en) Wavelength selective switch and method for controlling spatial phase modulator in wavelengths
AU2008340326B2 (en) Latency measurement in optical networks
US20040208428A1 (en) Wavelength-multiplexed narrow-bandwidth optical transmitter and wavelength-multiplexed vestigial-side-band optical transmitter
CN105531946B (zh) 一种光差分信号的发送和接收方法、装置和系统
CN104838309A (zh) 光器件
JP4974918B2 (ja) 光信号処理装置および光信号処理装置の制御方法
WO2019172162A1 (ja) 光スペクトル整形器及びそれを用いた光信号モニタ装置
JP2014174332A (ja) 光モジュール
JP6034811B2 (ja) 波長多重送信器
JP2012034182A (ja) 光ファイバマイクロ波伝送装置
JP6434879B2 (ja) 光信号モニタ装置
JP5058983B2 (ja) 光波長変換器におけるクロストークの減少
JP4680223B2 (ja) 波長分散測定装置
JP5061817B2 (ja) 光変調装置
US11777632B2 (en) Optical signal processor
JP4957234B2 (ja) 光信号伝送装置
JP2006208656A (ja) 光周波数コム発生方法、光周波数コム発生装置及び高密度波長多重送信システム
JP2008209188A (ja) 偏波モード分散測定装置
JP6093312B2 (ja) 波長多重送信器
JP7438472B2 (ja) 光モジュールおよび光通信システム
JP2018205646A (ja) 2光波の位相調整装置
Yang et al. Novel WDM to OTDM wavelength conversion system for transmission of discrete sampling spectrum in single wavelength channel
JPH11225109A (ja) 光伝送装置及び光信号送出方法
JP2016057408A (ja) 光入出力装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170830

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180628

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180710

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180907

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20181106

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20181109

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6434879

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150