JP2017049243A5 - - Google Patents

Claims (12)

1. レーザー装置と、
   前記レーザー装置に光学的に接続された光サーキュレータと、
   前記光サーキュレータに光学的に接続されたテレスコープと、
   前記光サーキュレータに光学的に接続されたチューナブル干渉計と、
   前記チューナナブル干渉計に光学的に接続された光検出器と、
   前記光検出器に電気的に接続された信号プロセッサと、を含むシステムであって、
   前記チューナブル干渉計は、複数の圧電トランスデューサを含む走査型ファブリ・ペロー干渉計であり、前記信号プロセッサは、前記圧電トランスデューサに電気的に接続されており、
   前記信号プロセッサは、次の動作、すなわち、
   （ａ）前記レーザー装置によって出射された光の波長と、まず前記レーザー装置によって出射され次に目標によってドップラーシフトされた光の波長と、を含む波長範囲内で変化するように、前記チューナブル干渉計の波長を調節する作用を有する、前記圧電トランスデューサに走査電圧を供給することと、
   （ｂ）前記圧電トランスデューサに供給された走査電圧の関数としての、前記光検出器によって生成された検出電圧を監視すること、
   （ｃ）ピーク検出電圧が発生する走査電圧を特定すること、
   （ｄ）ピークが発生する走査電圧の差を較正テーブルの参照電圧と比較することによって、前記目標の相対速度ならびに前記目標の共振周波数を求めること、
   （ｅ）動作（ｄ）において求めた前記共振周波数に基づいて目標を識別すること、を行うようにさらに構成されている、システム。
2. 前記チューナブル干渉計は、１ＭＨｚを含む範囲内のドップラーシフトを検出するように構成されている、請求項１に記載のシステム。
3. 前記光サーキュレータは、前記レーザー装置によって出射された光の第１部分を前記テレスコープへ、そして、前記レーザー装置によって出射された光の第２部分を前記チューナブル干渉計へと通過させるように構成されている、請求項１に記載のシステム。
4. 前記光サーキュレータは、前記テレスコープからの光を前記チューナブル干渉計へと通過させるようにさらに構成されている、請求項３に記載のシステム。
5. 前記光サーキュレータは、前記レーザー装置によって出射された光の第１部分を前記テレスコープへと通過させるとともに、前記テレスコープからの光を前記チューナブル干渉計へと通過させるように構成されている、請求項１に記載のシステム。
6. 前記光サーキュレータは、前記レーザー装置によって出射された光の第２部分を前記チューナブル干渉計へと通過させるように構成されている、請求項５に記載のシステム。
7. 少なくとも前記レーザー装置、前記光サーキュレータ、前記テレスコープ、前記チューナブル干渉計、及び前記光検出器を支持する地上プラットフォームをさらに含む、請求項１に記載のシステム。
8. 少なくとも前記レーザー装置、前記光サーキュレータ、前記テレスコープ、前記チューナブル干渉計、及び前記光検出器を支持する空中プラットフォームをさらに含む、請求項１に記載のシステム。
9. 少なくとも前記レーザー装置、前記光サーキュレータ、前記テレスコープ、前記チューナブル干渉計、及び前記光検出器を支持する宇宙プラットフォームをさらに含む、請求項１に記載のシステム。
10. レーザー装置と、
    前記レーザー装置に光学的に接続された光サーキュレータと、
    前記光サーキュレータに光学的に接続されたテレスコープと、
    前記光サーキュレータに光学的に接続され、複数の圧電トランスデューサを含む走査型ファブリ・ペロー干渉計と、
    前記走査型ファブリ・ペロー干渉計に光学的に接続された光検出器と、
    前記光検出器と前記圧電トランスデューサとに電気的に接続された信号プロセッサと、を含むシステムであって、
    前記光サーキュレータは、前記レーザー装置によって出射された光の第１部分を前記テレスコープへ、前記レーザー装置によって出射された光の第２部分を前記走査型ファブリ・ペロー干渉計へ、そして前記テレスコープからの光を前記走査型ファブリ・ペロー干渉計へと通過させるように構成されており、
    前記信号プロセッサは、次の動作、すなわち、
    （ａ）前記レーザー装置によって出射された光の波長と、まず前記レーザー装置によって出射され次に目標によってドップラーシフトされた光の波長と、を含む波長範囲内で変化するように、前記走査型ファブリ・ペロー干渉計の波長を調節する作用を有する、前記圧電トランスデューサに走査電圧を供給することと、
    （ｂ）前記圧電トランスデューサに供給された走査電圧の関数としての、前記光検出器によって生成された検出電圧を監視すること、
    （ｃ）ピーク検出電圧が発生する走査電圧を特定すること、
    （ｄ）ピークが発生する走査電圧の差を較正テーブルの参照電圧と比較することによって、前記目標の相対速度ならびに前記目標の共振周波数を求めること、
    （ｅ）動作（ｄ）において求めた前記共振周波数に基づいて目標を識別すること、を行うようにさらに構成されている、システム。
11. 光サーキュレータ内にレーザー光を入射させることと、
    前記レーザー光を、テレスコープと干渉計とに一部分ずつ送ることと、
    前記光サーキュレータから前記テレスコープが受信した前記レーザー光を、目標に向かって照射することと、
    前記目標から反射されたレーザー光を前記テレスコープによって再捕捉することと、
    前記再捕捉されたレーザー光を、前記テレスコープから前記光サーキュレータを介して前記干渉計に送ることと、
    前記干渉計の圧電トランスデューサに走査電圧を供給することと、
    前記干渉計を通過する再捕捉されたレーザー光を光検出することと、
    前記走査電圧の関数としての検出電圧を監視することと、
    ピーク検出電圧が発生する走査電圧を特定することと、
    ピークが発生する走査電圧の差を較正テーブル内のデータと比較することによって、前記目標の共振周波数を求めることと、
    求めた前記共振周波数に基づいて前記目標を識別することを含む、方法。
12. ピークが発生する走査電圧の差を較正テーブル内のデータと比較することによって、前記目標の相対速度を求めること、をさらに含む、請求項１１に記載の方法。