JP2017028082A - Method of manufacturing on-vehicle electronic control unit and resin composition for sealing - Google Patents

Method of manufacturing on-vehicle electronic control unit and resin composition for sealing Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve balance between suppression of burrs around a connection terminal and filling performance of a through hole penetrating through a substrate in a method of manufacturing an on-vehicle electronic control unit for sealing the substrate by using a resin composition for sealing.SOLUTION: A method of manufacturing an on-vehicle electronic control unit includes processes of: preparing a first mold and a second mold that constitutes a cavity together with the first mold and has a recessed portion provided in a region constituting the cavity while separating from an abutment portion to the first mold; disposing a substrate having a connection terminal provided on one side into the cavity so that the connection terminal is fitted into the recessed portion; and filling a predetermined resin composition for sealing into the cavity.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、車載用電子制御ユニットの製造方法、および封止用樹脂組成物に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing an on-vehicle electronic control unit, and a sealing resin composition.

近年、車載用電子制御ユニットとして、電子部品等を搭載した基板を封止樹脂により封止したものが検討されている。このような技術としては、たとえば特許文献1および2に記載のものが挙げられる。   In recent years, a vehicle-mounted electronic control unit in which a substrate on which an electronic component or the like is mounted is sealed with a sealing resin has been studied. Examples of such a technique include those described in Patent Documents 1 and 2.

特許文献1は、スルーホールが設けられた配線基板と、配線基板に実装された電子部品と、配線基板が搭載された金属ベースと、金属ベースに取り付けられて配線基板と外部とを電気的に接続するコネクタとを備え、配線基板の前面と金属ベースの一部とが熱硬化性樹脂により一体的に封止成形された樹脂封止型電子制御装置に関する技術である。特許文献2は、相手方コネクタと接続される少なくとも1つのカードエッジ端子が少なくとも一面に形成されたカードエッジ部を有する基板と、基板が第1金型および第2金型内に配置され、第1金型および第2金型内に注入された合成樹脂材により一体にモールド成型され、カードエッジ部が少なくとも一方の端部から突出された樹脂成型部とを有するカード部材に関する技術である。   Patent Document 1 discloses an electrical connection between a wiring board provided with a through hole, an electronic component mounted on the wiring board, a metal base on which the wiring board is mounted, and the wiring board and the outside attached to the metal base. This is a technology related to a resin-sealed electronic control device that includes a connector to be connected and in which a front surface of a wiring board and a part of a metal base are integrally sealed with a thermosetting resin. In Patent Document 2, a board having a card edge portion on which at least one card edge terminal connected to a mating connector is formed on at least one surface, the board are disposed in a first mold and a second mold, This is a technique related to a card member that is integrally molded by a synthetic resin material injected into a mold and a second mold, and that has a resin molded part in which a card edge part protrudes from at least one end part.

特開2009−147014号公報JP 2009-147014 A 特開2013−232312号公報JP2013-232323A

車載用電子制御ユニットについては、上述のように、電子部品等が搭載された基板を封止用樹脂組成物によって封止することにより製造することが検討されている。この場合、たとえば基板に設けられた外部と接続するための接続端子が露出するように、基板の封止が行われる。しかしながら、接続端子周辺において封止樹脂にバリが生じた場合には、外部との接続信頼性の低下を招くおそれがあった。一方で、基板を貫通するスルーホールが設けられている場合には、封止用樹脂組成物のスルーホールに対する充填性を向上させることも求められる。これまでは、封止用樹脂組成物を用いて基板を封止する車載用電子制御ユニットの製造方法において、接続端子周辺におけるバリの抑制と、基板を貫通するスルーホールの充填性と、について優れたバランスを実現することは困難であった。   As described above, an in-vehicle electronic control unit has been studied to be manufactured by sealing a substrate on which electronic components and the like are mounted with a sealing resin composition. In this case, for example, the substrate is sealed so that the connection terminals for connecting to the outside provided on the substrate are exposed. However, when burrs occur in the sealing resin around the connection terminals, there is a risk of reducing the reliability of connection with the outside. On the other hand, when a through hole penetrating the substrate is provided, it is also required to improve the filling property of the sealing resin composition with respect to the through hole. Up to now, in the method of manufacturing an in-vehicle electronic control unit that seals a substrate using a sealing resin composition, it is excellent in suppressing burrs around the connection terminal and filling through holes through the substrate. It was difficult to achieve a good balance.

本発明によれば、
第1金型と、前記第1金型とともにキャビティを構成し、かつ前記キャビティを構成する領域中に前記第1金型との当接部から離間して設けられた凹部を有する第2金型と、を準備する工程と、
一辺に接続端子が設けられた基板を、前記凹部内に前記接続端子を嵌め込むように前記キャビティ内へ配置する工程と、
前記キャビティ内へ封止用樹脂組成物を注入する工程と、
を備え、
ラボプラストミルを用いて回転数30rpm、測定温度175℃の条件で前記封止用樹脂組成物のトルク値を経時的に測定した際に、最低トルク値が0.5N・m以上2.5N・m以下であり、
厚さ20μm、幅5mmのスリットを有するスリットバリ測定用金型を用いて金型温度175℃、注入圧力6.9MPa、硬化時間120秒で前記封止用樹脂組成物を成形した場合に、前記スリット内に充填される前記封止用樹脂組成物の長さが2mm以下である車載用電子制御ユニットの製造方法が提供される。
According to the present invention,
A second mold having a first mold and a cavity which forms a cavity together with the first mold and is provided in a region forming the cavity so as to be separated from a contact portion with the first mold. And a step of preparing
Arranging a substrate provided with a connection terminal on one side in the cavity so as to fit the connection terminal in the recess;
Injecting a sealing resin composition into the cavity;
With
When the torque value of the sealing resin composition was measured over time under the conditions of a rotation speed of 30 rpm and a measurement temperature of 175 ° C. using a lab plast mill, the minimum torque value was 0.5 N · m to 2.5 N · m or less,
When the sealing resin composition was molded at a mold temperature of 175 ° C., an injection pressure of 6.9 MPa, and a curing time of 120 seconds using a slit burr measuring mold having a slit with a thickness of 20 μm and a width of 5 mm, There is provided a method for producing an on-vehicle electronic control unit in which the length of the sealing resin composition filled in the slit is 2 mm or less.

また、本発明によれば、
上述の車載用電子制御ユニットの製造方法に用いられる封止用樹脂組成物であって、
エポキシ樹脂と、
無機充填剤と、
を含み、
ラボプラストミルを用いて回転数30rpm、測定温度175℃の条件で前記封止用樹脂組成物のトルク値を経時的に測定した際に、最低トルク値が0.5N・m以上2.5N・m以下であり、
厚さ20μm、幅5mmのスリットを有するスリットバリ測定用金型を用いて金型温度175℃、注入圧力6.9MPa、硬化時間120秒で前記封止用樹脂組成物を成形した場合に、前記スリット内に充填される前記封止用樹脂組成物の長さが2mm以下である封止用樹脂組成物が提供される。
Moreover, according to the present invention,
A sealing resin composition used in the above-described method for manufacturing an in-vehicle electronic control unit,
Epoxy resin,
An inorganic filler;
Including
When the torque value of the sealing resin composition was measured over time under the conditions of a rotation speed of 30 rpm and a measurement temperature of 175 ° C. using a lab plast mill, the minimum torque value was 0.5 N · m to 2.5 N · m or less,
When the sealing resin composition was molded at a mold temperature of 175 ° C., an injection pressure of 6.9 MPa, and a curing time of 120 seconds using a slit burr measuring mold having a slit with a thickness of 20 μm and a width of 5 mm, A sealing resin composition in which the length of the sealing resin composition filled in the slit is 2 mm or less is provided.

本発明によれば、封止用樹脂組成物を用いて基板を封止する車載用電子制御ユニットの製造方法において、接続端子周辺におけるバリの抑制と、基板を貫通するスルーホールの充填性と、のバランスを向上させることができる。   According to the present invention, in a method for manufacturing an in-vehicle electronic control unit that seals a substrate using a sealing resin composition, suppression of burrs around a connection terminal, fillability of a through hole penetrating the substrate, The balance can be improved.

本実施形態に係る車載用電子制御ユニットの一例を示す断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram which shows an example of the vehicle-mounted electronic control unit which concerns on this embodiment. 図1に示す車載用電子制御ユニットの製造方法の一例を示す断面模式図である。It is a cross-sectional schematic diagram which shows an example of the manufacturing method of the vehicle-mounted electronic control unit shown in FIG. スリットバリ測定用金型を示す断面模式図、および平面模式図である。It is the cross-sectional schematic diagram which shows the metal mold | die for slit burr | flash measurement, and a plane schematic diagram.

以下、実施の形態について、図面を用いて説明する。尚、すべての図面において、同様な構成要素には同様の符号を付し、適宜説明を省略する。   Hereinafter, embodiments will be described with reference to the drawings. In all the drawings, the same reference numerals are given to the same components, and the description will be omitted as appropriate.

図1は、本実施形態に係る車載用電子制御ユニット10の一例を示す断面模式図である。図2は、図1に示す車載用電子制御ユニット10の製造方法の一例を示す断面模式図である。なお、本実施形態に係る車載用電子制御ユニット10、およびその製造方法は、図1および2に例示されるものに限定されるものではない。   FIG. 1 is a schematic cross-sectional view illustrating an example of an in-vehicle electronic control unit 10 according to the present embodiment. FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing an example of a method for manufacturing the in-vehicle electronic control unit 10 shown in FIG. In addition, the vehicle-mounted electronic control unit 10 which concerns on this embodiment, and its manufacturing method are not limited to what is illustrated by FIG.

本実施形態に係る車載用電子制御ユニットの製造方法は、次のようにして行われる。まず、第1金型22と、第1金型22とともにキャビティ28を構成し、かつキャビティ28を構成する領域中に第1金型22との当接部から離間して設けられた凹部26を有する第2金型24と、を準備する。次いで、一辺に接続端子18が設けられた基板12を、凹部26内に接続端子18を嵌め込むようにキャビティ28内へ配置する。次いで、キャビティ28内へ封止用樹脂組成物を注入する。
封止用樹脂組成物は、ラボプラストミルを用いて回転数30rpm、測定温度175℃の条件でトルク値を経時的に測定した際に、最低トルク値が0.5N・m以上2.5N・m以下である。また、厚さ20μm、幅5mmのスリットを有するスリットバリ測定用金型を用いて金型温度175℃、注入圧力6.9MPa、硬化時間120秒で封止用樹脂組成物を成形した場合に、スリット内に充填される封止用樹脂組成物の長さが2mm以下である。
The on-vehicle electronic control unit manufacturing method according to the present embodiment is performed as follows. First, a cavity 28 is formed together with the first mold 22 and the first mold 22, and a recess 26 is provided in a region forming the cavity 28 so as to be separated from the contact portion with the first mold 22. A second mold 24 is prepared. Next, the substrate 12 provided with the connection terminals 18 on one side is disposed in the cavity 28 so that the connection terminals 18 are fitted into the recesses 26. Next, a sealing resin composition is injected into the cavity 28.
The resin composition for sealing had a minimum torque value of 0.5 N · m to 2.5 N · m when the torque value was measured over time using a lab plastmill at a rotation speed of 30 rpm and a measurement temperature of 175 ° C. m or less. Further, when a sealing resin composition was molded at a mold temperature of 175 ° C., an injection pressure of 6.9 MPa, and a curing time of 120 seconds using a slit burr measuring mold having a slit with a thickness of 20 μm and a width of 5 mm, The length of the sealing resin composition filled in the slit is 2 mm or less.

車載用電子制御ユニットの製造方法においては、たとえば第1金型と第2金型により形成されるキャビティ内に電子部品等が搭載された配線基板を配置した後、キャビティ内に封止用樹脂組成物を注入することにより、配線基板の封止が行われる。このような工程においては、上述のように、接続端子周辺におけるバリの抑制と、基板を貫通するスルーホールの充填性と、のバランスを向上させることが求められていた。本発明者は、第2金型のうちのキャビティを構成する領域内であって、かつ第1金型との当接部から離間した位置に設けた凹部に、接続端子を嵌め込んだ状態において、封止用樹脂組成物による封止を行うことによって、接続端子周辺におけるバリの発生の抑制を図った。しかしながら、このような技術のみでは、接続端子周辺におけるバリの発生を十分に抑制することは困難であった。また、スルーホールへの充填性に関する課題についても依然として解決されない。   In a method for manufacturing an on-vehicle electronic control unit, for example, after a wiring board on which electronic components are mounted in a cavity formed by a first mold and a second mold, a sealing resin composition is placed in the cavity. By injecting the material, the wiring substrate is sealed. In such a process, as described above, it has been demanded to improve the balance between the suppression of burrs around the connection terminal and the fillability of the through hole penetrating the substrate. The inventor is in a state where the connection terminal is fitted in a recessed portion provided in a region of the second mold that forms the cavity and separated from the contact portion with the first mold. Then, by performing sealing with the sealing resin composition, the occurrence of burrs around the connection terminals was suppressed. However, it has been difficult to sufficiently suppress the generation of burrs around the connection terminals only with such a technique. Moreover, the problem about the filling property to a through hole is still not solved.

鋭意検討の結果、本発明者は、ラボプラストミルを用いて特定の条件下で測定した最低トルク値と、スリットバリの長さと、を同時に制御することによって、接続端子周辺におけるバリの抑制と、基板を貫通するスルーホールの充填性と、のバランスを向上させることが可能な封止用樹脂組成物が得られることを新たに見出した。本実施形態に係る車載用電子制御ユニットの製造方法は、このような知見に基づいて実現されたものである。したがって、本実施形態によれば、封止用樹脂組成物を用いて基板を封止する車載用電子制御ユニットの製造方法において、接続端子周辺におけるバリの抑制と、基板を貫通するスルーホールの充填性と、のバランスを向上させることが可能となる。   As a result of intensive studies, the inventor has controlled the burr around the connection terminal by simultaneously controlling the minimum torque value measured under specific conditions using a lab plast mill and the length of the slit burr. It was newly found out that a sealing resin composition capable of improving the balance between the filling properties of through-holes penetrating the substrate and improving the balance can be obtained. The manufacturing method of the vehicle-mounted electronic control unit according to the present embodiment is realized based on such knowledge. Therefore, according to the present embodiment, in a method for manufacturing an on-vehicle electronic control unit that seals a substrate using a sealing resin composition, suppression of burrs around a connection terminal and filling of a through hole penetrating the substrate It is possible to improve the balance between the characteristics.

以下、本実施形態に係る車載用電子制御ユニット、封止用樹脂組成物、および車載用電子制御ユニットの製造方法について詳細に説明する。   Hereinafter, the on-vehicle electronic control unit, the sealing resin composition, and the on-vehicle electronic control unit manufacturing method according to the present embodiment will be described in detail.

まず、車載用電子制御ユニット10について説明する。
車載用電子制御ユニット10は、エンジンや各種車載機器等を制御するために用いられる。図1に示すように、車載用電子制御ユニット10は、たとえば基板12と、基板12上に搭載された電子部品16と、基板12および電子部品16を封止する封止樹脂14と、を備えている。基板12は、少なくとも一辺において、外部と接続するための接続端子18を有している。本実施形態の一例に係る車載用電子制御ユニット10は、接続端子18と相手方コネクタを嵌合することによって、接続端子18を介して上記相手方コネクタに電気的に接続されることとなる。
First, the in-vehicle electronic control unit 10 will be described.
The on-vehicle electronic control unit 10 is used to control an engine, various on-vehicle devices, and the like. As shown in FIG. 1, the on-vehicle electronic control unit 10 includes, for example, a substrate 12, an electronic component 16 mounted on the substrate 12, and a sealing resin 14 that seals the substrate 12 and the electronic component 16. ing. The substrate 12 has a connection terminal 18 for connecting to the outside on at least one side. The in-vehicle electronic control unit 10 according to an example of the present embodiment is electrically connected to the counterpart connector via the connection terminal 18 by fitting the connection terminal 18 and the counterpart connector.

基板12は、たとえば一面および当該一面とは反対の他面のうちの一方または双方に回路配線が設けられた配線基板である。図1に示すように、基板12は、たとえば平板状の形状を有している。本実施形態においては、たとえばポリイミド等の有機材料により形成された有機基板を基板12として採用することができる。また、基板12の厚さは、とくに限定されないが、たとえば0.1mm以上5mm以下としてもよく、好ましくは0.5mm以上3mm以下としてもよい。   The substrate 12 is a wiring substrate in which circuit wiring is provided on one or both of one surface and the other surface opposite to the one surface, for example. As shown in FIG. 1, the substrate 12 has, for example, a flat plate shape. In the present embodiment, for example, an organic substrate formed of an organic material such as polyimide can be used as the substrate 12. The thickness of the substrate 12 is not particularly limited, but may be, for example, 0.1 mm or more and 5 mm or less, and preferably 0.5 mm or more and 3 mm or less.

本実施形態においては、基板12に、たとえば基板12を貫通して、一面と他面を接続するスルーホール120が設けられていてもよい。この場合、基板12のうちの一面に設けられた配線と、他面に設けられた配線と、がスルーホール120内に設けられた導体パターンを介して電気的に接続される。導電パターンは、スルーホール120の壁面上に沿って形成される。すなわち、スルーホール120内における導電パターンは、筒形状に形成されている。封止工程後のスルーホール120内において、導電パターンの内壁面で構成された空隙孔には、本実施形態の封止用樹脂組成物の硬化物(封止樹脂14)が充填している。上記スルーホール120の孔径は、とくに限定されないが、たとえば0.1mm以上1mm以下としてもよく、好ましくは0.3mm以上0.8mm以下としてもよい。スルーホール120導電パターンの膜厚は、上記の空隙孔が残されていれば、特に限定されないが、例えば、1μm以上10μm以下としてもよい。   In the present embodiment, the substrate 12 may be provided with a through hole 120 that penetrates the substrate 12 and connects one surface to the other surface, for example. In this case, the wiring provided on one surface of the substrate 12 and the wiring provided on the other surface are electrically connected via the conductor pattern provided in the through hole 120. The conductive pattern is formed along the wall surface of the through hole 120. That is, the conductive pattern in the through hole 120 is formed in a cylindrical shape. In the through hole 120 after the sealing step, the voids formed by the inner wall surface of the conductive pattern are filled with a cured product (sealing resin 14) of the sealing resin composition of the present embodiment. The hole diameter of the through hole 120 is not particularly limited, but may be, for example, 0.1 mm to 1 mm, and preferably 0.3 mm to 0.8 mm. The film thickness of the through-hole 120 conductive pattern is not particularly limited as long as the above-described void holes are left, but may be, for example, 1 μm or more and 10 μm or less.

本実施形態において、基板12のスルーホール120の内部は、封止用樹脂組成物の硬化物(封止樹脂14)が充填することができるので、熱応力に対するスルーホール120の導電パターンの耐久性を高めることができる。これにより、信頼性に優れた車載用電子制御ユニットを得ることができる。また、スルーホール120は、基板12に複数形成されていてよい。これにより、放熱性に優れた構造とすることができる。スルーホール120の全てに導電パターンが形成されていなくてもよい。   In this embodiment, since the inside of the through hole 120 of the substrate 12 can be filled with a cured product of the sealing resin composition (sealing resin 14), the durability of the conductive pattern of the through hole 120 against thermal stress. Can be increased. Thereby, the vehicle-mounted electronic control unit excellent in reliability can be obtained. A plurality of through holes 120 may be formed in the substrate 12. Thereby, it can be set as the structure excellent in heat dissipation. The conductive pattern may not be formed in all of the through holes 120.

本実施形態では、スルーホール120について説明したが、これに限定されず、接続端子18を複数に分断するスリット(切り込み)が基板12に形成されていてもよい。このスリットは、例えば、相手方との接続の際に位置決めなどに使用される部分となる。本実施形態では、スリットのスリット幅を、スルーホール120と同程度に幅狭とすることができる。基板12のスリットの付け根部分(先端部とは反対の基底部)の一部に、本実施形態の封止用樹脂組成物の硬化物(封止樹脂14)を充填することができるので、分断された接続端子18の機械強度を高めることができる。   In the present embodiment, the through hole 120 has been described. However, the present invention is not limited to this, and a slit (cut) that divides the connection terminal 18 into a plurality of pieces may be formed in the substrate 12. This slit becomes a part used for positioning etc. in the case of connection with the other party, for example. In the present embodiment, the slit width of the slit can be made as narrow as the through hole 120. Since a cured product (sealing resin 14) of the sealing resin composition of the present embodiment can be filled into a part of the base portion of the slit of the substrate 12 (base portion opposite to the tip portion), it is divided. The mechanical strength of the connected connection terminal 18 can be increased.

基板12の一面および他面のうちの一方または双方には、たとえば電子部品16が搭載されている。電子部品16としては、車載用電子制御ユニットに搭載され得るものであればとくに限定されないが、たとえばマイクロコンピュータが挙げられる。   For example, an electronic component 16 is mounted on one or both of one surface and the other surface of the substrate 12. The electronic component 16 is not particularly limited as long as it can be mounted on a vehicle-mounted electronic control unit. For example, a microcomputer may be mentioned.

封止樹脂14は、基板12および電子部品16を封止するよう封止用樹脂組成物を成形することにより形成される。封止樹脂14は、基板12の一面および他面の一方または双方を封止するように設けられている。図1においては、基板12の一面および他面、ならびに基板12に搭載された電子部品16を封止するように封止樹脂14が設けられている場合が例示されている。また、封止樹脂14は、基板12の一部のみを封止していてもよく、基板12の全体を封止していてもよい。図1においては、接続端子18が露出するように、基板12のうちの接続端子18を封止せずに他の部分全体を封止するように封止樹脂14が設けられる場合が例示されている。   The sealing resin 14 is formed by molding a sealing resin composition so as to seal the substrate 12 and the electronic component 16. The sealing resin 14 is provided so as to seal one or both of the one surface and the other surface of the substrate 12. In FIG. 1, the case where the sealing resin 14 is provided so that the one surface and other surface of the board | substrate 12, and the electronic component 16 mounted in the board | substrate 12 may be sealed is illustrated. Further, the sealing resin 14 may seal only a part of the substrate 12 or may seal the entire substrate 12. In FIG. 1, the case where the sealing resin 14 is provided so as to seal the entire other part without sealing the connection terminal 18 of the substrate 12 so that the connection terminal 18 is exposed is illustrated. .

本実施形態に係る車載用電子制御ユニット10において、基板12は、たとえば金属ベース上に搭載されていてもよい。金属ベースは、たとえば電子部品16から発生する熱を放熱するためのヒートシンクとして機能することができる。本実施形態においては、たとえば金属ベースと、金属ベース上に搭載された基板12と、を封止用樹脂組成物により一体的に封止成形することにより車載用電子制御ユニット10を形成することができる。金属ベースを構成する金属材料としては、とくに限定されないが、たとえば鉄、銅、およびアルミ、ならびにこれらの一種または二種以上を含む合金等を含むことができる。なお、車載用電子制御ユニット10は、金属ベースを有していなくともよい。   In the vehicle-mounted electronic control unit 10 according to the present embodiment, the substrate 12 may be mounted on a metal base, for example. For example, the metal base can function as a heat sink for dissipating heat generated from the electronic component 16. In this embodiment, for example, the vehicle-mounted electronic control unit 10 can be formed by integrally sealing a metal base and the substrate 12 mounted on the metal base with a sealing resin composition. it can. Although it does not specifically limit as a metal material which comprises a metal base, For example, iron, copper, aluminum, an alloy containing these 1 type, or 2 or more types etc. can be included. The on-vehicle electronic control unit 10 does not have to have a metal base.

次に、本実施形態に係る封止用樹脂組成物について説明する。
封止用樹脂組成物は、ラボプラストミルを用いて回転数30rpm、測定温度175℃の条件でトルク値を経時的に測定した際の最低トルク値が0.5N・m以上2.5N・m以下である。これにより、上述したように、接続端子周辺におけるバリの抑制と、基板を貫通するスルーホールの充填性と、のバランスを向上させることが可能となる。本実施形態においては、たとえばラボプラストミル試験機(4C150、(株)東洋精機製作所製)を用いて、回転数30rpm、測定温度175℃の条件で封止用樹脂組成物の溶融トルクを経時的に測定することにより最低トルク値を得ることができる。
Next, the sealing resin composition according to this embodiment will be described.
The sealing resin composition has a minimum torque value of 0.5 N · m or more and 2.5 N · m when the torque value is measured over time using a lab plast mill at a rotation speed of 30 rpm and a measurement temperature of 175 ° C. It is as follows. As a result, as described above, it is possible to improve the balance between the suppression of burrs around the connection terminal and the fillability of the through hole penetrating the substrate. In this embodiment, for example, using a Laboplast mill tester (4C150, manufactured by Toyo Seiki Seisakusho Co., Ltd.), the melting torque of the sealing resin composition is changed over time under the conditions of a rotation speed of 30 rpm and a measurement temperature of 175 ° C. The minimum torque value can be obtained by measuring the above.

封止用樹脂組成物の上記最低トルク値は、たとえば2.0N・m以下であることがより好ましく、1.5N・m以下であることがとくに好ましい。これにより、基板を貫通するスルーホールの充填性をより効果的に向上させることができる。また、複数の電子部品16間等に形成される狭い隙間への充填性の向上にも寄与することができる。一方で、封止用樹脂組成物の上記最低トルク値は、たとえば0.6以上であることがより好ましい。これにより、より効果的にバリの発生を抑制することが可能となる。   The minimum torque value of the sealing resin composition is more preferably, for example, 2.0 N · m or less, and particularly preferably 1.5 N · m or less. Thereby, the filling property of the through-hole which penetrates a board | substrate can be improved more effectively. Moreover, it can contribute to the improvement of the filling property to the narrow gap formed between the plurality of electronic components 16 or the like. On the other hand, the minimum torque value of the sealing resin composition is more preferably, for example, 0.6 or more. Thereby, it becomes possible to more effectively suppress the generation of burrs.

封止用樹脂組成物は、厚さ20μm、幅10mmのスリットを有するスリットバリ測定用金型を用いて金型温度175℃、注入圧力6.9MPa、硬化時間120秒で成形した場合に、スリット内に充填される封止用樹脂組成物の長さ(以下、スリットバリ長さとも呼ぶ)が2mm以下である。これにより、上述したように、接続端子周辺におけるバリの抑制と、基板を貫通するスルーホールの充填性と、のバランスを向上させることが可能となる。   When the sealing resin composition was molded at a mold temperature of 175 ° C., an injection pressure of 6.9 MPa, and a curing time of 120 seconds using a slit burr measuring mold having a slit having a thickness of 20 μm and a width of 10 mm, a slit was formed. The length (hereinafter also referred to as slit burr length) of the sealing resin composition filled therein is 2 mm or less. As a result, as described above, it is possible to improve the balance between the suppression of burrs around the connection terminal and the fillability of the through hole penetrating the substrate.

図3は、スリットバリ測定用金型30を示す模式図である。図3(a)がスリットバリ測定用金型30の断面模式図を示し、図3(b)がスリットバリ測定用金型30のうちの下型34の平面模式図を示している。なお、図3(a)に示す断面模式図は、図3(b)におけるA−A'断面に対応している。
図3に示すように、スリットバリ測定用金型30は、キャビティ38と、キャビティ38に接続されたスリット36と、を有する下型34と、キャビティ38へ樹脂を注入するための樹脂注入口40を有する上型32を備えている。また、スリット36は、厚さTが20μmであり、幅Wが5mmである。本実施形態においては、たとえば樹脂注入口40からキャビティ38へ封止用樹脂組成物を注入し、金型温度175℃、注入圧力6.9MPa、硬化時間120秒の条件で成型した際に、キャビティ38を介してスリット36に充填される封止用樹脂組成物(スリットバリ)の長さを計測し、これをスリットバリ長さとすることができる。
FIG. 3 is a schematic view showing a slit burr measuring mold 30. FIG. 3A shows a schematic cross-sectional view of the slit burr measuring mold 30, and FIG. 3B shows a schematic plan view of the lower mold 34 of the slit burr measuring mold 30. In addition, the cross-sectional schematic diagram shown to Fig.3 (a) respond | corresponds to the AA 'cross section in FIG.3 (b).
As shown in FIG. 3, the slit burr measuring mold 30 includes a lower mold 34 having a cavity 38 and a slit 36 connected to the cavity 38, and a resin injection port 40 for injecting resin into the cavity 38. The upper mold | type 32 which has is provided. The slit 36 has a thickness T of 20 μm and a width W of 5 mm. In this embodiment, for example, when a sealing resin composition is injected from the resin injection port 40 into the cavity 38 and molded under the conditions of a mold temperature of 175 ° C., an injection pressure of 6.9 MPa, and a curing time of 120 seconds, the cavity The length of the sealing resin composition (slit burrs) filled in the slits 36 through 38 can be measured and used as the slit burr length.

封止用樹脂組成物のスリットバリ長さは、たとえば1.7mm以下であることがより好ましく、1.5mm以下であることがとくに好ましい。これにより、バリの発生をより効果的に抑制することができる。一方で、スリットバリ長さの下限値は、とくに限定されるものではないが、たとえば0.1mmとすることができ、狭い隙間への充填性を向上させる観点からは0.2mmであることがより好ましい。   The slit burr length of the sealing resin composition is more preferably, for example, 1.7 mm or less, and particularly preferably 1.5 mm or less. Thereby, generation | occurrence | production of a burr | flash can be suppressed more effectively. On the other hand, the lower limit value of the slit burr length is not particularly limited, but can be set to 0.1 mm, for example, and may be 0.2 mm from the viewpoint of improving the filling ability into a narrow gap. More preferred.

本実施形態においては、たとえば封止用樹脂組成物の調製方法を制御すること、および封止用樹脂組成物を構成する成分の種類や配合割合をそれぞれ適切に選択すること等により、封止用樹脂組成物の上記最低トルク値および上記スリットバリ長さをともに所望の範囲内とすることができる。封止用樹脂組成物の調製方法としては、たとえば各成分を混合した後、得られた混合物を回転ボールミルによって一定の条件下により微粉砕することが重要であると、本発明者により推定されている。たとえば装置容積に対するボールの体積充填率、および材料供給量(kg/hr)等の条件を調整して、回転ボールミルによる微粉砕を行うことが、封止用樹脂組成物の上記最低トルク値および上記スリットバリ長さに影響を与えるものと考えられている。また、回転ボールミルによる微粉砕の後における溶融混練工程の条件を制御することや、各成分の混合から溶融混練までのプロセスを連続的に行うこと等も封止用樹脂組成物の特性に影響を与え得るものと考えられる。なお、封止用樹脂組成物の調製方法は、上記のものに限定されるものではない。   In this embodiment, for example, by controlling the preparation method of the sealing resin composition, and by appropriately selecting the types and blending ratios of the components constituting the sealing resin composition, etc. Both the minimum torque value and the slit burr length of the resin composition can be within a desired range. As a method for preparing a sealing resin composition, for example, the present inventor presumed that it is important to mix each component and then finely pulverize the obtained mixture with a rotating ball mill under certain conditions. Yes. For example, adjusting the conditions such as the volume filling rate of the ball with respect to the device volume and the material supply amount (kg / hr), and performing fine pulverization with a rotating ball mill, the minimum torque value of the sealing resin composition and the above It is thought to affect the slit burr length. In addition, controlling the conditions of the melt-kneading step after fine pulverization with a rotating ball mill, and continuously performing the process from mixing of each component to melt-kneading affect the properties of the sealing resin composition. It can be given. In addition, the preparation method of the resin composition for sealing is not limited to the above.

本実施形態においては、たとえば封止用樹脂組成物のゲルタイムを20秒以上45秒以下とすることができる。これにより、接続端子周辺におけるバリの抑制と、基板を貫通するスルーホールの充填性と、のバランスをさらに向上させることが可能となる。封止用樹脂組成物のゲルタイムは、23秒以上40秒以下であることがより好ましく、24秒以上35秒以下であることがとくに好ましい。   In the present embodiment, for example, the gel time of the sealing resin composition can be 20 seconds or longer and 45 seconds or shorter. As a result, it is possible to further improve the balance between the suppression of burrs around the connection terminal and the fillability of the through hole penetrating the substrate. The gel time of the sealing resin composition is more preferably from 23 seconds to 40 seconds, and particularly preferably from 24 seconds to 35 seconds.

また、本実施形態においては、たとえばキュラストメーターを用いて金型温度175℃にて封止用樹脂組成物の硬化トルクを経時的に測定した際の、測定開始から0.1N・mとなるまでの時間(以下、立ち上がり時間とも呼ぶ)を、20秒以上40秒以下とすることができる。これにより、接続端子周辺におけるバリの抑制と、基板を貫通するスルーホールの充填性と、のバランスをさらに向上させることが可能となる。   In the present embodiment, for example, when the curing torque of the sealing resin composition is measured over time at a mold temperature of 175 ° C. using a curast meter, the measurement becomes 0.1 N · m from the start of measurement. Time (hereinafter also referred to as rise time) can be set to 20 seconds to 40 seconds. As a result, it is possible to further improve the balance between the suppression of burrs around the connection terminal and the fillability of the through hole penetrating the substrate.

また、本実施形態においては、たとえばスパイラルフローにより測定される封止用樹脂組成物の流動長が、40cm以上150cm以下とすることができる。これにより、接続端子周辺におけるバリの抑制と、基板を貫通するスルーホールの充填性と、のバランスをさらに向上させることが可能となる。封止用樹脂組成物のスパイラルフロー流動長は、45cm以上125cm以下であることがより好ましい。なお、スパイラルフロー測定は、たとえば低圧トランスファー成形機(コータキ精機(株)製「KTS−15」)を用いて、EMMI−1−66に準じたスパイラルフロー測定用の金型に金型温度175℃、注入圧力6.9MPa、硬化時間120秒の条件で封止用樹脂組成物を注入し、流動長を測定することにより行うことができる。   In the present embodiment, the flow length of the sealing resin composition measured by, for example, spiral flow can be 40 cm or more and 150 cm or less. As a result, it is possible to further improve the balance between the suppression of burrs around the connection terminal and the fillability of the through hole penetrating the substrate. The spiral flow flow length of the encapsulating resin composition is more preferably 45 cm or more and 125 cm or less. In the spiral flow measurement, for example, using a low-pressure transfer molding machine (“KTS-15” manufactured by Kotaki Seiki Co., Ltd.), a mold for spiral flow measurement according to EMMI-1-66 is used at a mold temperature of 175 ° C. The sealing resin composition is injected under the conditions of an injection pressure of 6.9 MPa and a curing time of 120 seconds, and the flow length is measured.

封止用樹脂組成物の上記ゲルタイム、上記立ち上がり時間、および上記スパイラルフロー流動長は、たとえば封止用樹脂組成物の調製方法を制御すること、および封止用樹脂組成物を構成する成分の種類や配合割合をそれぞれ適切に選択すること等により、それぞれ所望の範囲内とすることが可能である。   The gel time, the rise time, and the spiral flow flow length of the encapsulating resin composition are controlled by, for example, controlling the preparation method of the encapsulating resin composition, and the types of components constituting the encapsulating resin composition It is possible to make each within a desired range by appropriately selecting the blending ratio and the like.

本実施形態に係る封止用樹脂組成物は、たとえば熱硬化性樹脂と、無機充填剤と、を含むことができる。これにより、耐熱性、耐湿信頼性、および機械強度等を向上させつつ、熱膨張率を低下させること等によって、車載用電子制御ユニット10の信頼性向上に寄与することが可能となる。
以下、封止用樹脂組成物を構成する各成分について詳述する。
The sealing resin composition according to the present embodiment can include, for example, a thermosetting resin and an inorganic filler. Thereby, it is possible to contribute to improving the reliability of the in-vehicle electronic control unit 10 by reducing the coefficient of thermal expansion while improving heat resistance, moisture resistance reliability, mechanical strength, and the like.
Hereinafter, each component which comprises the resin composition for sealing is explained in full detail.

((A)熱硬化性樹脂)
熱硬化性樹脂(A)は、たとえばエポキシ樹脂、フェノール樹脂、オキセタン樹脂、(メタ)アクリレート樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、ジアリルフタレート樹脂、およびマレイミド樹脂からなる群から選択される一種類または二種類以上を含むことができる。これらの中でも、硬化性、保存性、耐熱性、耐湿性、および耐薬品性を向上させる観点から、エポキシ樹脂を含むことができる。
((A) thermosetting resin)
The thermosetting resin (A) is, for example, one or more selected from the group consisting of epoxy resins, phenol resins, oxetane resins, (meth) acrylate resins, unsaturated polyester resins, diallyl phthalate resins, and maleimide resins. Can be included. Among these, an epoxy resin can be included from the viewpoint of improving curability, storage stability, heat resistance, moisture resistance, and chemical resistance.

熱硬化性樹脂(A)に含まれるエポキシ樹脂としては、1分子内にエポキシ基を2個以上有するモノマー、オリゴマー、ポリマー全般を用いることができ、その分子量や分子構造は特に限定されない。本実施形態において、エポキシ樹脂は、たとえばビフェニル型エポキシ樹脂;ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、テトラメチルビスフェノールF型エポキシ樹脂等のビスフェノール型エポキシ樹脂;スチルベン型エポキシ樹脂;フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂等のノボラック型エポキシ樹脂;トリフェノールメタン型エポキシ樹脂、アルキル変性トリフェノールメタン型エポキシ樹脂等に例示されるトリスフェノール型エポキシ樹脂等の多官能エポキシ樹脂;フェニレン骨格を有するフェノールアラルキル型エポキシ樹脂、フェニレン骨格を有するナフトールアラルキル型エポキシ樹脂、ビフェニレン骨格を有するフェノールアラルキル型エポキシ樹脂、ビフェニレン骨格を有するナフトールアラルキル型エポキシ樹脂等のフェノールアラルキル型エポキシ樹脂;ジヒドロキシナフタレン型エポキシ樹脂、ジヒドロキシナフタレンの2量体をグリシジルエーテル化して得られるエポキシ樹脂等のナフトール型エポキシ樹脂;トリグリシジルイソシアヌレート、モノアリルジグリシジルイソシアヌレート等のトリアジン核含有エポキシ樹脂;ジシクロペンタジエン変性フェノール型エポキシ樹脂等の有橋環状炭化水素化合物変性フェノール型エポキシ樹脂からなる群から選択される一種類または二種類以上を含む。これらのうち、ノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、およびフェノールアラルキル型エポキシ樹脂から選択される一種または二種以上を含むことが、バリの抑制や、充填性、耐熱性、耐湿性等の諸特性のバランスを向上させる観点からより好ましい。   As the epoxy resin contained in the thermosetting resin (A), monomers, oligomers and polymers generally having two or more epoxy groups in one molecule can be used, and the molecular weight and molecular structure are not particularly limited. In this embodiment, the epoxy resin is, for example, a biphenyl type epoxy resin; a bisphenol type epoxy resin such as a bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol F type epoxy resin, or a tetramethylbisphenol F type epoxy resin; a stilbene type epoxy resin; a phenol novolac type epoxy. Resin, novolak type epoxy resin such as cresol novolak type epoxy resin; polyfunctional epoxy resin such as trisphenol type epoxy resin exemplified by triphenolmethane type epoxy resin, alkyl-modified triphenolmethane type epoxy resin, etc .; having phenylene skeleton Phenol aralkyl type epoxy resin, naphthol aralkyl type epoxy resin having phenylene skeleton, phenol aralkyl type epoxy resin having biphenylene skeleton, bif Phenol aralkyl type epoxy resins such as naphthol aralkyl type epoxy resins having a nylene skeleton; naphthol type epoxy resins such as dihydroxynaphthalene type epoxy resins and epoxy resins obtained by glycidyl etherification of dihydroxynaphthalene dimers; triglycidyl isocyanurate; Triazine nucleus-containing epoxy resins such as monoallyl diglycidyl isocyanurate; including one or more selected from the group consisting of bridged cyclic hydrocarbon compound-modified phenolic epoxy resins such as dicyclopentadiene-modified phenolic epoxy resins . Among these, inclusion of one or more selected from a novolac-type epoxy resin, a biphenyl-type epoxy resin, and a phenol aralkyl-type epoxy resin may reduce various burrs, fillability, heat resistance, moisture resistance, etc. It is more preferable from the viewpoint of improving the balance of characteristics.

封止用樹脂組成物中における熱硬化性樹脂(A)の含有量は、封止用樹脂組成物全体に対して2質量%以上であることが好ましく、3質量%以上であることがより好ましく、4質量%以上であることがとくに好ましい。熱硬化性樹脂(A)の含有量を上記下限値以上とすることにより、成形時における流動性を向上させることができる。このため、充填性や成形安定性の向上を図ることができる。一方で、封止用樹脂組成物中における熱硬化性樹脂(A)の含有量は、封止用樹脂組成物全体に対して50質量%以下であることが好ましく、30質量%以下であることがより好ましく、15質量%以下であることがとくに好ましい。熱硬化性樹脂(A)の含有量を上記上限値以下とすることにより、車載用電子制御ユニット10について、耐湿信頼性や耐リフロー性を向上させることができる。   The content of the thermosetting resin (A) in the encapsulating resin composition is preferably 2% by mass or more, and more preferably 3% by mass or more with respect to the entire encapsulating resin composition. 4% by mass or more is particularly preferable. By making content of a thermosetting resin (A) more than the said lower limit, the fluidity | liquidity at the time of shaping | molding can be improved. For this reason, it is possible to improve filling properties and molding stability. On the other hand, the content of the thermosetting resin (A) in the sealing resin composition is preferably 50% by mass or less, and preferably 30% by mass or less, with respect to the entire sealing resin composition. Is more preferable, and it is especially preferable that it is 15 mass% or less. By setting the content of the thermosetting resin (A) to be equal to or lower than the above upper limit value, it is possible to improve the moisture resistance reliability and the reflow resistance of the in-vehicle electronic control unit 10.

((B)硬化剤)
封止用樹脂組成物は、硬化剤(B)を含むことができる。封止用樹脂組成物に含まれる硬化剤(B)としては、たとえば重付加型の硬化剤、触媒型の硬化剤、および縮合型の硬化剤の3タイプに大別することができる。
((B) curing agent)
The resin composition for sealing can contain a hardening | curing agent (B). The curing agent (B) contained in the encapsulating resin composition can be roughly classified into three types, for example, a polyaddition type curing agent, a catalyst type curing agent, and a condensation type curing agent.

硬化剤(B)として用いられる重付加型の硬化剤は、たとえばジエチレントリアミン(DETA)、トリエチレンテトラミン(TETA)、メタキシレリレンジアミン(MXDA)などの脂肪族ポリアミン、ジアミノジフェニルメタン(DDM)、m−フェニレンジアミン(MPDA)、ジアミノジフェニルスルホン(DDS)などの芳香族ポリアミンのほか、ジシアンジアミド(DICY)、有機酸ジヒドララジドなどを含むポリアミン化合物;ヘキサヒドロ無水フタル酸(HHPA)、メチルテトラヒドロ無水フタル酸(MTHPA)などの脂環族酸無水物、無水トリメリット酸(TMA)、無水ピロメリット酸(PMDA)、ベンゾフェノンテトラカルボン酸(BTDA)などの芳香族酸無水物などを含む酸無水物;ノボラック型フェノール樹脂、ポリビニルフェノール、アラルキル型フェノール樹脂などのフェノール樹脂系硬化剤;ポリサルファイド、チオエステル、チオエーテルなどのポリメルカプタン化合物;イソシアネートプレポリマー、ブロック化イソシアネートなどのイソシアネート化合物;カルボン酸含有ポリエステル樹脂などの有機酸類からなる群から選択される一種類または二種類以上を含む。   Examples of the polyaddition type curing agent used as the curing agent (B) include aliphatic polyamines such as diethylenetriamine (DETA), triethylenetetramine (TETA), and metaxylylenediamine (MXDA), diaminodiphenylmethane (DDM), m -Polyamine compounds containing aromatic polyamines such as phenylenediamine (MPDA) and diaminodiphenylsulfone (DDS), dicyandiamide (DICY), organic acid dihydrazide, etc .; hexahydrophthalic anhydride (HHPA), methyltetrahydrophthalic anhydride (MTHPA) Acid anhydrides including aromatic acid anhydrides such as alicyclic acid anhydrides such as), trimellitic anhydride (TMA), pyromellitic anhydride (PMDA), and benzophenone tetracarboxylic acid (BTDA); Phenolic resin curing agents such as polyol resins, polyvinylphenols, aralkyl-type phenolic resins; polymercaptan compounds such as polysulfides, thioesters and thioethers; isocyanate compounds such as isocyanate prepolymers and blocked isocyanates; organics such as carboxylic acid-containing polyester resins One type or two or more types selected from the group consisting of acids are included.

硬化剤(B)として用いられる触媒型の硬化剤は、たとえばベンジルジメチルアミン(BDMA)、2,4,6−トリスジメチルアミノメチルフェノール(DMP−30)などの3級アミン化合物;2−メチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール(EMI24)などのイミダゾール化合物;BF3錯体などのルイス酸からなる群から選択される一種類または二種類以上を含む。   The catalyst-type curing agent used as the curing agent (B) is, for example, a tertiary amine compound such as benzyldimethylamine (BDMA) or 2,4,6-trisdimethylaminomethylphenol (DMP-30); 2-methylimidazole Imidazole compounds such as 2-ethyl-4-methylimidazole (EMI24); one or more selected from the group consisting of Lewis acids such as BF3 complexes.

硬化剤(B)として用いられる縮合型の硬化剤は、たとえばレゾール型フェノール樹脂;メチロール基含有尿素樹脂などの尿素樹脂;メチロール基含有メラミン樹脂などのメラミン樹脂からなる群から選択される一種類または二種類以上を含む。   The condensation type curing agent used as the curing agent (B) is, for example, one type selected from the group consisting of a resol type phenol resin; a urea resin such as a methylol group-containing urea resin; and a melamine resin such as a methylol group-containing melamine resin; Including two or more types.

これらの中でも、耐燃性、耐湿性、電気特性、硬化性、および保存安定性等についてのバランスを向上させる観点から、フェノール樹脂系硬化剤を含むことがより好ましい。フェノール樹脂系硬化剤としては、一分子内にフェノール性水酸基を2個以上有するモノマー、オリゴマー、ポリマー全般を用いることができ、その分子量、分子構造は特に限定されない。硬化剤(B)として用いられるフェノール樹脂系硬化剤は、たとえばフェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂、ビスフェノールノボラック等のノボラック型フェノール樹脂;ポリビニルフェノール;トリフェノールメタン型フェノール樹脂等の多官能型フェノール樹脂;テルペン変性フェノール樹脂、ジシクロペンタジエン変性フェノール樹脂等の変性フェノール樹脂;フェニレン骨格及び/又はビフェニレン骨格を有するフェノールアラルキル樹脂、フェニレン及び/又はビフェニレン骨格を有するナフトールアラルキル樹脂等のフェノールアラルキル型フェノール樹脂;ビスフェノールA、ビスフェノールF等のビスフェノール化合物からなる群から選択される一種類または二種類以上を含む。これらの中でも、封止用樹脂組成物の硬化性を向上させる観点からは、ノボラック型フェノール樹脂、およびフェノールアラルキル型フェノール樹脂のうちの少なくとも一方を含むことがより好ましい。   Among these, it is more preferable to include a phenol resin-based curing agent from the viewpoint of improving the balance of flame resistance, moisture resistance, electrical characteristics, curability, storage stability, and the like. As the phenol resin-based curing agent, monomers, oligomers, and polymers in general having two or more phenolic hydroxyl groups in one molecule can be used, and the molecular weight and molecular structure are not particularly limited. The phenol resin-based curing agent used as the curing agent (B) is, for example, a novolac type phenol resin such as a phenol novolak resin, a cresol novolac resin, or a bisphenol novolac; a polyvinyl phenol; a polyfunctional phenol resin such as a triphenolmethane type phenol resin; Modified phenol resins such as terpene-modified phenol resin and dicyclopentadiene-modified phenol resin; phenol aralkyl resins having a phenylene skeleton and / or biphenylene skeleton, phenol aralkyl type phenol resins such as naphthol aralkyl resin having phenylene and / or biphenylene skeleton; bisphenol One type or two or more types selected from the group consisting of bisphenol compounds such as A and bisphenol F are included. Among these, from the viewpoint of improving the curability of the sealing resin composition, it is more preferable to include at least one of a novolac type phenol resin and a phenol aralkyl type phenol resin.

封止用樹脂組成物中における硬化剤(B)の含有量は、封止用樹脂組成物全体に対して1質量%以上であることが好ましく、2質量%以上であることがより好ましく、3質量%以上であることがとくに好ましい。硬化剤(B)の含有量を上記下限値以上とすることにより、成形時において、優れた流動性を実現し、充填性や成形性の向上を図ることができる。一方で、封止用樹脂組成物中における硬化剤(B)の含有量は、封止用樹脂組成物全体に対して40質量%以下であることが好ましく、25質量%以下であることがより好ましく、10質量%以下であることがとくに好ましい。硬化剤(B)の含有量を上記上限値以下とすることにより、車載用電子制御ユニット10の耐湿信頼性や耐リフロー性を向上させることができる。   The content of the curing agent (B) in the encapsulating resin composition is preferably 1% by mass or more, more preferably 2% by mass or more, based on the entire encapsulating resin composition. It is particularly preferable that the content is at least mass%. By setting the content of the curing agent (B) to the above lower limit value or more, excellent fluidity can be realized at the time of molding, and the filling property and moldability can be improved. On the other hand, it is preferable that content of the hardening | curing agent (B) in the resin composition for sealing is 40 mass% or less with respect to the whole resin composition for sealing, and it is more preferable that it is 25 mass% or less. It is preferably 10% by mass or less. By making content of a hardening | curing agent (B) below the said upper limit, the moisture-proof reliability and reflow resistance of the vehicle-mounted electronic control unit 10 can be improved.

((C)硬化触媒)
封止用樹脂組成物は、たとえば硬化触媒(C)をさらに含むことができる。硬化触媒(C)は、熱硬化性樹脂(A)(たとえば、エポキシ樹脂のエポキシ基)と、硬化剤(B)(たとえば、フェノール樹脂系硬化剤のフェノール性水酸基)と、の架橋反応を促進させるものであればよく、一般の封止用樹脂組成物に使用するものを用いることができる。
((C) Curing catalyst)
The resin composition for sealing can further contain, for example, a curing catalyst (C). The curing catalyst (C) promotes a crosslinking reaction between the thermosetting resin (A) (for example, epoxy group of epoxy resin) and the curing agent (B) (for example, phenolic hydroxyl group of phenol resin-based curing agent). What is necessary is just to use, and what is used for the resin composition for general sealing can be used.

本実施形態において、硬化触媒(C)は、たとえば有機ホスフィン、テトラ置換ホスホニウム化合物、ホスホベタイン化合物、ホスフィン化合物とキノン化合物との付加物、ホスホニウム化合物とシラン化合物との付加物等のリン原子含有化合物;イミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシジメチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾール等のイミダゾール化合物、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、2,4−ジアミノ−6−[2'−メチルイミダゾリル(1')]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2'−ウンデシルイミダゾリル(1')]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2'−エチル−4−メチルイミダゾリル(1')]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2'−メチルイミダゾリル(1')]−エチル−s−トリアジンのイソシアヌル酸付加物、2−フェニルイミダゾールのイソシアヌル酸付加物、2−メチルイミダゾールのイソシアヌル酸付加物、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)ウンデセン等のアミン系硬化促進剤から選択される一種または二種以上を含むことができる。これらの中でも、バリの抑制や充填性、硬化性のバランスを向上させる観点からは、リン原子含有化合物およびイミダゾール化合物から選択される一種または二種以上を含むことがより好ましい。また、硬化性を向上させる観点からはリン原子含有化合物を含むことがより好ましい。   In this embodiment, the curing catalyst (C) is a phosphorus atom-containing compound such as an organic phosphine, a tetra-substituted phosphonium compound, a phosphobetaine compound, an adduct of a phosphine compound and a quinone compound, or an adduct of a phosphonium compound and a silane compound. Imidazole, 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole Imidazole compounds such as 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxydimethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium tri Meritate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2′-undecylimidazolyl (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2′-ethyl-4-methylimidazolyl (1 ′)]-ethyl-s-triazine, 2 , 4-Diamino-6- [2'-methylimidazolyl (1 ')]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct , One or more selected from amine-based curing accelerators such as 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-methylimidazole isocyanuric acid adduct, 1,8-diazabicyclo (5,4,0) undecene Can be included. Among these, from the viewpoint of improving the balance of burr suppression, filling properties, and curability, it is more preferable to include one or more selected from phosphorus atom-containing compounds and imidazole compounds. Moreover, it is more preferable that a phosphorus atom containing compound is included from a viewpoint of improving sclerosis | hardenability.

封止用樹脂組成物で用いることができる有機ホスフィンとしては、例えばエチルホスフィン、フェニルホスフィン等の第1ホスフィン;ジメチルホスフィン、ジフェニルホスフィン等の第2ホスフィン;トリメチルホスフィン、トリエチルホスフィン、トリブチルホスフィン、トリフェニルホスフィン等の第3ホスフィンが挙げられる。   Examples of the organic phosphine that can be used in the sealing resin composition include a first phosphine such as ethylphosphine and phenylphosphine; a second phosphine such as dimethylphosphine and diphenylphosphine; trimethylphosphine, triethylphosphine, tributylphosphine, and triphenyl. Third phosphine such as phosphine can be mentioned.

封止用樹脂組成物で用いることができるテトラ置換ホスホニウム化合物としては、例えば下記一般式(4)で表される化合物等が挙げられる。   Examples of the tetra-substituted phosphonium compound that can be used in the sealing resin composition include a compound represented by the following general formula (4).

Figure 2017028082
(上記一般式(4)において、Pはリン原子を表す。R、R、RおよびRは芳香族基またはアルキル基を表す。Aはヒドロキシル基、カルボキシル基、チオール基から選ばれる官能基のいずれかを芳香環に少なくとも1つ有する芳香族有機酸のアニオンを表す。AHはヒドロキシル基、カルボキシル基、チオール基から選ばれる官能基のいずれかを芳香環に少なくとも1つ有する芳香族有機酸を表す。x、yは1〜3の数、zは0〜3の数であり、かつx=yである。)
Figure 2017028082
(In the general formula (4), P represents a phosphorus atom. R 4 , R 5 , R 6 and R 7 represent an aromatic group or an alkyl group. A is selected from a hydroxyl group, a carboxyl group, and a thiol group. An anion of an aromatic organic acid having at least one functional group in the aromatic ring, AH is an aromatic having at least one functional group selected from a hydroxyl group, a carboxyl group, and a thiol group in the aromatic ring. Represents an organic acid, where x and y are numbers 1 to 3, z is a number 0 to 3, and x = y.

一般式(4)で表される化合物は、例えば以下のようにして得られるがこれに限定されるものではない。まず、テトラ置換ホスホニウムハライドと芳香族有機酸と塩基を有機溶剤に混ぜ均一に混合し、その溶液系内に芳香族有機酸アニオンを発生させる。次いで水を加えると、一般式(4)で表される化合物を沈殿させることができる。一般式(4)で表される化合物において、リン原子に結合するR、R、RおよびRがフェニル基であり、かつAHはヒドロキシル基を芳香環に有する化合物、すなわちフェノール類であり、かつAは該フェノール類のアニオンであるのが好ましい。上記フェノール類としては、フェノール、クレゾール、レゾルシン、カテコールなどの単環式フェノール類、ナフトール、ジヒドロキシナフタレン、アントラキノールなどの縮合多環式フェノール類、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールSなどのビスフェノール類、フェニルフェノール、ビフェノールなどの多環式フェノール類などが例示される。 Although the compound represented by General formula (4) is obtained as follows, for example, it is not limited to this. First, a tetra-substituted phosphonium halide, an aromatic organic acid and a base are mixed in an organic solvent and mixed uniformly to generate an aromatic organic acid anion in the solution system. Then, when water is added, the compound represented by the general formula (4) can be precipitated. In the compound represented by the general formula (4), R 4 , R 5 , R 6 and R 7 bonded to the phosphorus atom are phenyl groups, and AH is a compound having a hydroxyl group in an aromatic ring, that is, phenols. And A is preferably an anion of the phenol. Examples of the phenols include monocyclic phenols such as phenol, cresol, resorcin, and catechol, condensed polycyclic phenols such as naphthol, dihydroxynaphthalene, and anthraquinol, bisphenols such as bisphenol A, bisphenol F, and bisphenol S, Examples include polycyclic phenols such as phenylphenol and biphenol.

封止用樹脂組成物で用いることができるホスホベタイン化合物としては、例えば、下記一般式(5)で表される化合物等が挙げられる。   Examples of the phosphobetaine compound that can be used in the encapsulating resin composition include compounds represented by the following general formula (5).

Figure 2017028082
(上記一般式(5)において、Rは炭素数1〜3のアルキル基、Rはヒドロキシル基を表す。fは0〜5の数であり、gは0〜3の数である。)
Figure 2017028082
(In the above general formula (5), R 8 represents an alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, R 9 represents a hydroxyl group. F is a number from 0 to 5, and g is a number from 0 to 3.)

一般式(5)で表される化合物は、例えば以下のようにして得られる。まず、第三ホスフィンであるトリ芳香族置換ホスフィンとジアゾニウム塩とを接触させ、トリ芳香族置換ホスフィンとジアゾニウム塩が有するジアゾニウム基とを置換させる工程を経て得られる。しかしこれに限定されるものではない。   The compound represented by the general formula (5) is obtained, for example, as follows. First, it is obtained through a step of bringing a triaromatic substituted phosphine, which is a third phosphine, into contact with a diazonium salt and replacing the triaromatic substituted phosphine with a diazonium group of the diazonium salt. However, the present invention is not limited to this.

封止用樹脂組成物で用いることができるホスフィン化合物とキノン化合物との付加物としては、例えば、下記一般式(6)で表される化合物等が挙げられる。   Examples of the adduct of a phosphine compound and a quinone compound that can be used in the sealing resin composition include a compound represented by the following general formula (6).

Figure 2017028082
(上記一般式(6)において、Pはリン原子を表す。R10、R11およびR12は炭素数1〜12のアルキル基または炭素数6〜12のアリール基を表し、互いに同一であっても異なっていてもよい。R13、R14およびR15は水素原子または炭素数1〜12の炭化水素基を表し、互いに同一であっても異なっていてもよく、R14とR15が結合して環状構造となっていてもよい。)
Figure 2017028082
(In the general formula (6), P represents a phosphorus atom. R 10 , R 11 and R 12 represent an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms or an aryl group having 6 to 12 carbon atoms, and are the same as each other. R 13 , R 14 and R 15 each represents a hydrogen atom or a hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, and may be the same or different from each other, and R 14 and R 15 are bonded to each other. And may have a circular structure.)

ホスフィン化合物とキノン化合物との付加物に用いるホスフィン化合物としては、例えばトリフェニルホスフィン、トリス(アルキルフェニル)ホスフィン、トリス(アルコキシフェニル)ホスフィン、トリナフチルホスフィン、トリス(ベンジル)ホスフィン等の芳香環に無置換またはアルキル基、アルコキシル基等の置換基が存在するものが好ましく、アルキル基、アルコキシル基等の置換基としては1〜6の炭素数を有するものが挙げられる。入手しやすさの観点からはトリフェニルホスフィンが好ましい。   Examples of the phosphine compound used as an adduct of a phosphine compound and a quinone compound include an aromatic ring such as triphenylphosphine, tris (alkylphenyl) phosphine, tris (alkoxyphenyl) phosphine, trinaphthylphosphine, and tris (benzyl) phosphine. Those having a substituent or a substituent such as an alkyl group and an alkoxyl group are preferred, and examples of the substituent such as an alkyl group and an alkoxyl group include those having 1 to 6 carbon atoms. From the viewpoint of availability, triphenylphosphine is preferable.

また、ホスフィン化合物とキノン化合物との付加物に用いるキノン化合物としては、ベンゾキノン、アントラキノン類が挙げられ、中でもp−ベンゾキノンが保存安定性の点から好ましい。   Moreover, as a quinone compound used for the adduct of a phosphine compound and a quinone compound, a benzoquinone and anthraquinones are mentioned, Especially, p-benzoquinone is preferable from the point of storage stability.

ホスフィン化合物とキノン化合物との付加物の製造方法としては、有機第三ホスフィンとベンゾキノン類の両者が溶解することができる溶媒中で接触、混合させることにより付加物を得ることができる。溶媒としてはアセトンやメチルエチルケトン等のケトン類で付加物への溶解性が低いものがよい。しかしこれに限定されるものではない。   As a method for producing an adduct of a phosphine compound and a quinone compound, the adduct can be obtained by contacting and mixing in a solvent capable of dissolving both organic tertiary phosphine and benzoquinone. The solvent is preferably a ketone such as acetone or methyl ethyl ketone, which has low solubility in the adduct. However, the present invention is not limited to this.

一般式(6)で表される化合物において、リン原子に結合するR10、R11およびR12がフェニル基であり、かつR13、R14およびR15が水素原子である化合物、すなわち1,4−ベンゾキノンとトリフェニルホスフィンを付加させた化合物が封止用樹脂組成物の硬化物の熱時弾性率を低下させる点で好ましい。 In the compound represented by the general formula (6), R 10 , R 11 and R 12 bonded to the phosphorus atom are phenyl groups, and R 13 , R 14 and R 15 are hydrogen atoms, ie, 1, A compound in which 4-benzoquinone and triphenylphosphine are added is preferable in that it reduces the thermal elastic modulus of the cured product of the encapsulating resin composition.

封止用樹脂組成物で用いることができるホスホニウム化合物とシラン化合物との付加物としては、例えば下記一般式(7)で表される化合物等が挙げられる。   Examples of the adduct of a phosphonium compound and a silane compound that can be used in the sealing resin composition include a compound represented by the following general formula (7).

Figure 2017028082
(上記一般式(7)において、Pはリン原子を表し、Siは珪素原子を表す。R16、R17、R18およびR19は、それぞれ、芳香環または複素環を有する有機基、あるいは脂肪族基を表し、互いに同一であっても異なっていてもよい。式中R20は、基YおよびYと結合する有機基である。式中R21は、基YおよびYと結合する有機基である。YおよびYは、プロトン供与性基がプロトンを放出してなる基を表し、同一分子内の基YおよびYが珪素原子と結合してキレート構造を形成するものである。YおよびYはプロトン供与性基がプロトンを放出してなる基を表し、同一分子内の基YおよびYが珪素原子と結合してキレート構造を形成するものである。R20、およびR21は互いに同一であっても異なっていてもよく、Y、Y、YおよびYは互いに同一であっても異なっていてもよい。Zは芳香環または複素環を有する有機基、あるいは脂肪族基である。)
Figure 2017028082
(In the general formula (7), P represents a phosphorus atom and Si represents a silicon atom. R 16 , R 17 , R 18 and R 19 are each an organic group having an aromatic ring or a heterocyclic ring, or an aliphatic group. Represents a group, which may be the same or different from each other, wherein R 20 is an organic group bonded to the groups Y 2 and Y 3. In the formula, R 21 represents the groups Y 4 and Y 5 ; Y 2 and Y 3 represent a group formed by releasing a proton from a proton donating group, and groups Y 2 and Y 3 in the same molecule are bonded to a silicon atom to form a chelate structure. Y 4 and Y 5 represent a group formed by releasing a proton from a proton donating group, and groups Y 4 and Y 5 in the same molecule are combined with a silicon atom to form a chelate structure. there .R 20, and R 21 are mutually Or different mere, Y 2, Y 3, Y 4 and Y 5 may .Z 1 also being the same or different organic group having an aromatic ring or a heterocyclic ring or fat, A group.)

一般式(7)において、R16、R17、R18およびR19としては、例えば、フェニル基、メチルフェニル基、メトキシフェニル基、ヒドロキシフェニル基、ナフチル基、ヒドロキシナフチル基、ベンジル基、メチル基、エチル基、n−ブチル基、n−オクチル基およびシクロヘキシル基等が挙げられ、これらの中でも、フェニル基、メチルフェニル基、メトキシフェニル基、ヒドロキシフェニル基、ヒドロキシナフチル基等のアルキル基、アルコキシ基、水酸基などの置換基を有する芳香族基もしくは無置換の芳香族基がより好ましい。 In the general formula (7), examples of R 16 , R 17 , R 18 and R 19 include a phenyl group, a methylphenyl group, a methoxyphenyl group, a hydroxyphenyl group, a naphthyl group, a hydroxynaphthyl group, a benzyl group, and a methyl group. , Ethyl group, n-butyl group, n-octyl group, cyclohexyl group and the like, among these, alkyl groups such as phenyl group, methylphenyl group, methoxyphenyl group, hydroxyphenyl group, hydroxynaphthyl group, and alkoxy groups An aromatic group having a substituent such as a hydroxyl group or an unsubstituted aromatic group is more preferable.

また、一般式(7)において、R20は、YおよびYと結合する有機基である。同様に、R21は、基YおよびYと結合する有機基である。YおよびYはプロトン供与性基がプロトンを放出してなる基であり、同一分子内の基YおよびYが珪素原子と結合してキレート構造を形成するものである。同様にYおよびYはプロトン供与性基がプロトンを放出してなる基であり、同一分子内の基YおよびYが珪素原子と結合してキレート構造を形成するものである。基R20およびR21は互いに同一であっても異なっていてもよく、基Y、Y、Y、およびYは互いに同一であっても異なっていてもよい。このような一般式(7)中の−Y−R20−Y−、および−Y−R21−Y−で表される基は、プロトン供与体が、プロトンを2個放出してなる基で構成されるものであり、プロトン供与体としては、分子内にカルボキシル基、または水酸基を少なくとも2個有する有機酸が好ましく、さらには芳香環を構成する隣接する炭素にカルボキシル基または水酸基を少なくとも2個有する芳香族化合物が好ましく、芳香環を構成する隣接する炭素に水酸基を少なくとも2個有する芳香族化合物がより好ましく、例えば、カテコール、ピロガロール、1,2−ジヒドロキシナフタレン、2,3−ジヒドロキシナフタレン、2,2'−ビフェノール、1,1'−ビ−2−ナフトール、サリチル酸、1−ヒドロキシ−2−ナフトエ酸、3−ヒドロキシ−2−ナフトエ酸、クロラニル酸、タンニン酸、2−ヒドロキシベンジルアルコール、1,2−シクロヘキサンジオール、1,2−プロパンジオールおよびグリセリン等が挙げられるが、これらの中でも、カテコール、1,2−ジヒドロキシナフタレン、2,3−ジヒドロキシナフタレンがより好ましい。 In the general formula (7), R 20 is an organic group bonded to Y 2 and Y 3. Similarly, R 21 is an organic group that binds to groups Y 4 and Y 5 . Y 2 and Y 3 are groups formed by proton-donating groups releasing protons, and groups Y 2 and Y 3 in the same molecule are combined with a silicon atom to form a chelate structure. Similarly, Y 4 and Y 5 are groups formed by proton-donating groups releasing protons, and groups Y 4 and Y 5 in the same molecule are combined with a silicon atom to form a chelate structure. The groups R 20 and R 21 may be the same or different from each other, and the groups Y 2 , Y 3 , Y 4 , and Y 5 may be the same or different from each other. In the group represented by —Y 2 —R 20 —Y 3 — and —Y 4 —R 21 —Y 5 — in the general formula (7), the proton donor releases two protons. The proton donor is preferably an organic acid having at least two carboxyl groups or hydroxyl groups in the molecule, and further, a carboxyl group or hydroxyl group on the adjacent carbon constituting the aromatic ring. Are preferable, and aromatic compounds having at least two hydroxyl groups on adjacent carbons constituting the aromatic ring are more preferable. For example, catechol, pyrogallol, 1,2-dihydroxynaphthalene, 2,3- Dihydroxynaphthalene, 2,2′-biphenol, 1,1′-bi-2-naphthol, salicylic acid, 1-hydroxy-2-naphthoic acid, 3- Examples include droxy-2-naphthoic acid, chloranilic acid, tannic acid, 2-hydroxybenzyl alcohol, 1,2-cyclohexanediol, 1,2-propanediol, and glycerin. Among these, catechol, 1,2- Dihydroxynaphthalene and 2,3-dihydroxynaphthalene are more preferable.

また、一般式(7)中のZは、芳香環または複素環を有する有機基または脂肪族基を表し、これらの具体的な例としては、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ヘキシル基およびオクチル基等の脂肪族炭化水素基や、フェニル基、ベンジル基、ナフチル基およびビフェニル基等の芳香族炭化水素基、グリシジルオキシプロピル基、メルカプトプロピル基、アミノプロピル基等のグリシジルオキシ基、メルカプト基、アミノ基を有するアルキル基およびビニル基等の反応性置換基等が挙げられるが、これらの中でも、メチル基、エチル基、フェニル基、ナフチル基およびビフェニル基が熱安定性の面から、より好ましい。 Z 1 in the general formula (7) represents an organic group or an aliphatic group having an aromatic ring or a heterocyclic ring, and specific examples thereof include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, Aliphatic hydrocarbon groups such as hexyl group and octyl group, aromatic hydrocarbon groups such as phenyl group, benzyl group, naphthyl group and biphenyl group, glycidyloxy groups such as glycidyloxypropyl group, mercaptopropyl group and aminopropyl group Reactive groups such as mercapto groups, alkyl groups having amino groups, and vinyl groups. Among these, methyl groups, ethyl groups, phenyl groups, naphthyl groups, and biphenyl groups are preferred from the viewpoint of thermal stability. More preferable.

ホスホニウム化合物とシラン化合物との付加物の製造方法としては、メタノールを入れたフラスコに、フェニルトリメトキシシラン等のシラン化合物、2,3−ジヒドロキシナフタレン等のプロトン供与体を加えて溶かし、次に室温攪拌下ナトリウムメトキシド−メタノール溶液を滴下する。さらにそこへ予め用意したテトラフェニルホスホニウムブロマイド等のテトラ置換ホスホニウムハライドをメタノールに溶かした溶液を室温攪拌下滴下すると結晶が析出する。析出した結晶を濾過、水洗、真空乾燥すると、ホスホニウム化合物とシラン化合物との付加物が得られる。しかし、これに限定されるものではない。   As a method for producing an adduct of a phosphonium compound and a silane compound, a silane compound such as phenyltrimethoxysilane and a proton donor such as 2,3-dihydroxynaphthalene are added to a flask containing methanol and dissolved, and then room temperature. Sodium methoxide-methanol solution is added dropwise with stirring. Furthermore, when a solution prepared by dissolving a tetra-substituted phosphonium halide such as tetraphenylphosphonium bromide in methanol in methanol is added dropwise with stirring at room temperature, crystals are precipitated. The precipitated crystals are filtered, washed with water, and vacuum dried to obtain an adduct of a phosphonium compound and a silane compound. However, it is not limited to this.

硬化触媒(C)の含有量は、封止用樹脂組成物全体に対して0.05質量%以上であることが好ましく、0.1質量%以上であることがより好ましく、0.15質量%以上であることがとくに好ましい。硬化触媒(C)の含有量を上記下限値以上とすることにより、封止成形時における硬化性を効果的に向上させることができる。一方で、硬化触媒(C)の含有量は、封止用樹脂組成物全体に対して2.0質量%以下であることが好ましく、1.0質量%以下であることがより好ましく、0.5質量%以下であることがとくに好ましい。硬化触媒(C)の含有量を上記上限値以下とすることにより、封止成形時における流動性を向上させ、充填性の向上に寄与することができる。   The content of the curing catalyst (C) is preferably 0.05% by mass or more, more preferably 0.1% by mass or more, and 0.15% by mass with respect to the entire sealing resin composition. The above is particularly preferable. By making content of a curing catalyst (C) more than the said lower limit, sclerosis | hardenability at the time of sealing molding can be improved effectively. On the other hand, the content of the curing catalyst (C) is preferably 2.0% by mass or less, more preferably 1.0% by mass or less, based on the whole sealing resin composition. It is particularly preferably 5% by mass or less. By making content of a curing catalyst (C) below the said upper limit, the fluidity | liquidity at the time of sealing molding can be improved and it can contribute to the improvement of a filling property.

((D)無機充填剤)
無機充填剤(D)は、たとえば溶融シリカ、結晶シリカ等のシリカ、アルミナ、水酸化アルミニウム、窒化珪素、および窒化アルミからなる群から選択される一種類または二種類以上を含むことができる。これらの中でも、汎用性に優れている観点から、シリカを含むことがより好ましく、溶融シリカを含むことがとくに好ましい。また、封止用樹脂組成物を用いて形成される封止樹脂の難燃性を向上させる観点からは、水酸化アルミニウムを含むことがより好ましい。本実施形態においては、シリカと水酸化アルミニウムをともに含む場合を、好ましい態様の一例として挙げることができる。
((D) inorganic filler)
The inorganic filler (D) can include one or more selected from the group consisting of silica such as fused silica and crystalline silica, alumina, aluminum hydroxide, silicon nitride, and aluminum nitride. Among these, from the viewpoint of excellent versatility, it is more preferable to include silica, and it is particularly preferable to include fused silica. Moreover, it is more preferable that aluminum hydroxide is included from a viewpoint of improving the flame retardance of the sealing resin formed using the resin composition for sealing. In this embodiment, the case where both a silica and aluminum hydroxide are included can be mentioned as an example of a preferable aspect.

無機充填剤(D)は、たとえば破砕シリカを含むことができる。これにより、車載用電子制御ユニット10の製造コストを低減しつつ、バリをより効果的に抑制することが可能となる。無機充填剤(D)が破砕シリカを含む場合、破砕シリカの含有量は、たとえば無機充填剤(D)全体に対して10重量%以上100重量%以下とすることができ、15重量%以上95重量%以下とすることがより好ましい。また、無機充填剤(D)は、封止用樹脂組成物の流動性を向上させ、成形安定性や充填性の向上に寄与する観点から、球状シリカを含むことができる。無機充填剤(D)が球状シリカを含む場合、球状シリカの含有量は、たとえば無機充填剤(D)全体に対して10重量%以上100重量%以下とすることができ、15重量%以上95重量%以下とすることがより好ましい。本実施形態においては、無機充填剤(D)として球状シリカと破砕シリカをともに含む場合を、好ましい態様の一例として挙げることができる。   The inorganic filler (D) can contain, for example, crushed silica. Thereby, it is possible to more effectively suppress burrs while reducing the manufacturing cost of the in-vehicle electronic control unit 10. When the inorganic filler (D) contains crushed silica, the content of crushed silica can be, for example, 10 wt% or more and 100 wt% or less with respect to the entire inorganic filler (D), and 15 wt% or more and 95 wt%. It is more preferable to set the weight% or less. Moreover, an inorganic filler (D) can contain spherical silica from a viewpoint which improves the fluidity | liquidity of the resin composition for sealing, and contributes to a shaping | molding stability and a fillability improvement. When the inorganic filler (D) contains spherical silica, the content of the spherical silica can be, for example, 10% by weight or more and 100% by weight or less, and 15% by weight or more and 95% by weight with respect to the whole inorganic filler (D). It is more preferable to set the weight% or less. In this embodiment, the case where both spherical silica and crushed silica are included as the inorganic filler (D) can be mentioned as an example of a preferred embodiment.

無機充填剤(D)がシリカを含む場合、無機充填剤(D)は、たとえば平均粒径D50が3μm以上50μm以下であるシリカを含むことが好ましく、平均粒径D50が10μm以上30μm以下であるシリカを含むことがより好ましい。これにより、充填性や、バリの抑制、耐湿性、耐熱性等のバランスをより効果的に向上させることができる。なお、シリカの平均粒径D50は、たとえば市販のレーザー式粒度分布計(たとえば、(株)島津製作所製、SALD−7000等)を用いて測定することができる。 If an inorganic filler (D) comprises silica, inorganic filler (D), for example preferably comprises a silica average particle diameter D 50 is 3μm or more 50μm or less, an average particle diameter D 50 of 10μm or more 30μm or less More preferably, it contains silica. Thereby, balance, such as filling property, suppression of a burr | flash, moisture resistance, and heat resistance, can be improved more effectively. The average particle diameter D 50 of the silica, such as the commercially available laser particle size distribution analyzer (e.g., manufactured by Shimadzu Corporation, SALD-7000 etc.) can be measured using the.

封止用樹脂組成物中における無機充填剤(D)の含有量は、封止用樹脂組成物全体に対して60質量%以上であることが好ましく、70質量%以上であることがより好ましい。無機充填剤(D)の含有量を上記下限値以上とすることにより、低吸湿性および低熱膨張性を向上させ、車載用電子制御ユニット10の耐湿信頼性や耐リフロー性をより効果的に向上させることができる。一方で、封止用樹脂組成物中における無機充填剤(D)の含有量は、封止用樹脂組成物全体に対して90質量%以下であることが好ましく、85質量%以下であることがより好ましい。無機充填剤(D)の含有量を上記上限値以下とすることにより、封止用樹脂組成物の成形時における流動性や充填性をより効果的に向上させることが可能となる。   The content of the inorganic filler (D) in the encapsulating resin composition is preferably 60% by mass or more, and more preferably 70% by mass or more with respect to the entire encapsulating resin composition. By setting the content of the inorganic filler (D) to the above lower limit value or more, low moisture absorption and low thermal expansion are improved, and moisture resistance reliability and reflow resistance of the in-vehicle electronic control unit 10 are more effectively improved. Can be made. On the other hand, the content of the inorganic filler (D) in the encapsulating resin composition is preferably 90% by mass or less and more preferably 85% by mass or less with respect to the entire encapsulating resin composition. More preferred. By making content of an inorganic filler (D) below the said upper limit, it becomes possible to improve the fluidity | liquidity and filling property at the time of shaping | molding of the resin composition for sealing more effectively.

((E)その他の成分)
封止用樹脂組成物には、必要に応じて、たとえばカップリング剤、離型性付与剤、着色剤、イオン捕捉剤、オイル、低応力剤、難燃剤および酸化防止剤等の各種添加剤のうち1種以上を適宜配合することができる。カップリング剤は、たとえばエポキシシラン、メルカプトシラン、アミノシラン、アルキルシラン、ウレイドシラン、ビニルシラン、メタクリルシラン等の各種シラン系化合物、チタン系化合物、アルミニウムキレート類、アルミニウム/ジルコニウム系化合物等の公知のカップリング剤を含むことができる。これらの中でも、エポキシシラン、アミノシランを含むことがより好ましく、アミノシランである2級アミノシランを含むことが本願の効果をより発現し得るものであることからとくに好ましい。離型性付与剤は、たとえばカルナバワックス等の天然ワックス、モンタン酸エステルワックスや酸化ポリエチレンワックス等の合成ワックス、ステアリン酸亜鉛等の高級脂肪酸およびその金属塩類、ならびにパラフィンから選択される一種類または二種類以上を含むことができる。着色剤は、たとえばカーボンブラックおよび黒色酸化チタンのうちのいずれか一方または双方を含むことができる。イオン捕捉剤は、たとえばハイドロタルサイトを含むことができる。オイルは、たとえばシリコーンオイルを含むことができる。低応力剤は、たとえばシリコーンゴムを含むことができる。難燃剤は、たとえば水酸化マグネシウム、ホウ酸亜鉛、モリブデン酸亜鉛、およびホスファゼンから選択される一種類または二種類以上を含むことができる。酸化防止剤は、フェノール系酸化防止剤、リン系酸化防止剤およびチオエーテル系酸化防止剤から選択される一種類または二種類以上を含むことができる。
((E) Other ingredients)
For the sealing resin composition, various additives such as a coupling agent, a release agent, a colorant, an ion scavenger, an oil, a low stress agent, a flame retardant, and an antioxidant are added as necessary. One or more of them can be appropriately blended. Coupling agents are known couplings such as various silane compounds such as epoxy silane, mercapto silane, amino silane, alkyl silane, ureido silane, vinyl silane, methacryl silane, titanium compounds, aluminum chelates, and aluminum / zirconium compounds. An agent can be included. Among these, it is more preferable that epoxysilane and aminosilane are included, and it is particularly preferable that secondary aminosilane that is aminosilane is included because the effects of the present application can be further expressed. The releasability-imparting agent is, for example, one or two selected from natural waxes such as carnauba wax, synthetic waxes such as montanic acid ester wax and oxidized polyethylene wax, higher fatty acids such as zinc stearate and metal salts thereof, and paraffin. More than types can be included. The colorant can include, for example, one or both of carbon black and black titanium oxide. The ion scavenger can include, for example, hydrotalcite. The oil can include, for example, silicone oil. The low stress agent can include, for example, silicone rubber. The flame retardant may include one or more selected from, for example, magnesium hydroxide, zinc borate, zinc molybdate, and phosphazene. Antioxidant can contain the 1 type (s) or 2 or more types selected from a phenolic antioxidant, phosphorus antioxidant, and thioether type | system | group antioxidant.

次に、車載用電子制御ユニット10の製造方法について説明する。
まず、図2(a)に示すように、第1金型22と第2金型24を備える車載用電子制御ユニット10の製造装置を準備する。第2金型24は、第1金型22とともにキャビティ28を構成し、かつキャビティ28を構成する領域中に第1金型22との当接部から離間して設けられた凹部26を有している。凹部26には、後述するように、基板12の接続端子18が嵌め込まれることとなる。また、本実施形態においては、第1金型22および第2金型24のそれぞれに凹部26が設けられていてもよく、第2金型24に二つ以上の凹部26が設けられていてもよい。これにより、基板12に二つ以上の接続端子18が互いに離間して設けられている場合であっても、各接続端子18が封止されないように封止用樹脂組成物の成形を行うことが可能となる。なお、凹部26の幅や深さは、車載用電子制御ユニット10の接続端子18の形状に応じて、適宜変更することが可能である。
Next, the manufacturing method of the vehicle-mounted electronic control unit 10 will be described.
First, as shown to Fig.2 (a), the manufacturing apparatus of the vehicle-mounted electronic control unit 10 provided with the 1st metal mold | die 22 and the 2nd metal mold | die 24 is prepared. The second mold 24 constitutes a cavity 28 together with the first mold 22, and has a recess 26 provided in a region constituting the cavity 28 so as to be separated from the contact portion with the first mold 22. ing. As will be described later, the connection terminal 18 of the substrate 12 is fitted into the recess 26. In the present embodiment, the first mold 22 and the second mold 24 may each be provided with a recess 26, or the second mold 24 may be provided with two or more recesses 26. Good. Thereby, even if it is a case where the two or more connection terminals 18 are provided in the board | substrate 12 mutually spaced apart, shaping | molding of the resin composition for sealing can be performed so that each connection terminal 18 may not be sealed. It becomes possible. Note that the width and depth of the recess 26 can be appropriately changed according to the shape of the connection terminal 18 of the in-vehicle electronic control unit 10.

図2に示す例においては、第1金型22のうちの一面に、キャビティ28を構成するための凹部220が形成されている。また、第2金型24のうちの一面に、キャビティ28を構成するための凹部240が形成されている。第1金型22と第2金型24を型締めすることにより、凹部220および凹部240によってキャビティ28が構成されることとなる。また、第2金型24のうちのキャビティ28を構成するための凹部240内に、凹部26が形成されている。図2においては、第2金型24のうちの第1金型22と当接する当接面と直交する方向に窪むように、凹部26が形成されている。この場合、凹部26に接続端子18が嵌め込まれた基板12は、たとえば上記当接面と直交する方向にその平面方向を有する。なお、凹部26が形成される位置は、図2に示すものに限定されない。   In the example shown in FIG. 2, a recess 220 for forming the cavity 28 is formed on one surface of the first mold 22. Further, a recess 240 for forming the cavity 28 is formed on one surface of the second mold 24. By clamping the first mold 22 and the second mold 24, the cavity 28 is constituted by the recess 220 and the recess 240. A recess 26 is formed in a recess 240 for configuring the cavity 28 in the second mold 24. In FIG. 2, a recess 26 is formed so as to be recessed in a direction orthogonal to the contact surface that contacts the first mold 22 of the second mold 24. In this case, the substrate 12 in which the connection terminal 18 is fitted in the recess 26 has a planar direction in a direction orthogonal to the contact surface, for example. The position where the recess 26 is formed is not limited to that shown in FIG.

次に、図2(b)に示すように、一辺に接続端子18が設けられた基板12を、凹部26内に接続端子18を嵌め込むようにキャビティ28内へ配置する。本実施形態においては、たとえば接続端子18を凹部26に嵌め込んだ後、第1金型22と第2金型24を型締めすることにより、基板12をキャビティ28内へ配置することができる。一方で、基板12を第1金型22に固定した後、接続端子18が凹部26に嵌め込まれるように第1金型22と第2金型24を型締めしてもよい。なお、第1金型22および第2金型24は、いずれが下型であってもよいが、第2金型24を下型とすることが基板12を安定的に固定する観点からより好ましい。
また、本実施形態においては、接続端子18の一部または全体を覆うキャップが接続端子18に装着されていてもよい。この場合、キャップが装着された接続端子18を、凹部26へ嵌め込むことができる。これにより、凹部26と接続端子18との間に隙間が発生することを抑制して、接続端子18周辺におけるバリの発生をより確実に抑制できる。上記キャップを構成する材料は、とくに限定されないが、たとえばシリコーンゴムが挙げられる。
Next, as shown in FIG. 2B, the substrate 12 provided with the connection terminals 18 on one side is disposed in the cavity 28 so that the connection terminals 18 are fitted into the recesses 26. In the present embodiment, for example, after the connection terminal 18 is fitted into the recess 26, the first mold 22 and the second mold 24 are clamped to place the substrate 12 in the cavity 28. On the other hand, after fixing the substrate 12 to the first mold 22, the first mold 22 and the second mold 24 may be clamped so that the connection terminal 18 is fitted in the recess 26. Any of the first mold 22 and the second mold 24 may be a lower mold, but it is more preferable to use the second mold 24 as a lower mold from the viewpoint of stably fixing the substrate 12. .
In the present embodiment, a cap that covers part or all of the connection terminal 18 may be attached to the connection terminal 18. In this case, the connection terminal 18 to which the cap is attached can be fitted into the recess 26. Thereby, generation | occurrence | production of the clearance gap between the recessed part 26 and the connection terminal 18 is suppressed, and generation | occurrence | production of the burr | flash in the periphery of the connection terminal 18 can be suppressed more reliably. Although the material which comprises the said cap is not specifically limited, For example, a silicone rubber is mentioned.

次に、図2(c)に示すように、キャビティ28内へ封止用樹脂組成物を注入する。本実施形態においては、加熱した金型内に注入された封止用樹脂組成物が成形され、基板12および電子部品16を封止する封止樹脂14が形成されることとなる。このとき、凹部26に嵌め込まれた接続端子18は、封止樹脂14によって封止されない。このようにして、基板12が封止樹脂14により封止された車載用電子制御ユニット10が得られる。封止用樹脂組成物の成形は、とくに限定されないが、たとえばトランスファー成形法により行うことができる。   Next, as shown in FIG. 2C, the sealing resin composition is injected into the cavity 28. In this embodiment, the sealing resin composition injected into the heated mold is molded, and the sealing resin 14 for sealing the substrate 12 and the electronic component 16 is formed. At this time, the connection terminal 18 fitted in the recess 26 is not sealed with the sealing resin 14. In this way, the in-vehicle electronic control unit 10 in which the substrate 12 is sealed with the sealing resin 14 is obtained. The molding of the sealing resin composition is not particularly limited, but can be performed, for example, by a transfer molding method.

次いで、第1金型22および第2金型24を冷却した後、第1金型22および第2金型24から車載用電子制御ユニット10を取り出す。本実施形態に係る車載用電子制御ユニット10の製造方法は、たとえばこのようにして行うことができる。   Next, after cooling the first mold 22 and the second mold 24, the vehicle-mounted electronic control unit 10 is taken out from the first mold 22 and the second mold 24. The manufacturing method of the vehicle-mounted electronic control unit 10 according to the present embodiment can be performed in this manner, for example.

なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。   It should be noted that the present invention is not limited to the above-described embodiments, and modifications, improvements, and the like within the scope that can achieve the object of the present invention are included in the present invention.

次に、本発明の実施例について説明する。   Next, examples of the present invention will be described.

(封止用樹脂組成物)
各実施例および各比較例について、以下のように封止用樹脂組成物を調製した。まず、表1に示す配合に従って、各成分を、室温状態に設定したヘンシェルミキサー(容量200リットル、回転数900rpm)で20分間予備混合した。次いで、得られた混合物を、連続式回転ボールミル(日本コークス工業(株)製ダイナミックミルMYD25、スクリュー回転数500rpm、アルミナ製ボール径10mm、装置容積に対するボールの体積充填率50%)を用いて、材料供給量200kg/hrで材料温度を30℃以下に保ちながら微粉砕した。次いで、微粉砕された混合物を、単軸押出混練機(スクリュー径D=46mm、押出機長さ=500mm、溶融混練部長さ=7D、スクリュー回転数200rpm、吐出量30kg/hr)を用いて溶融混練した。次いで、混練後の混合物を冷却し、粉砕して封止用樹脂組成物を得た。なお、ヘンシェルミキサーによる予備混合から、封止用樹脂組成物を得るまでの各工程は、連続的に行った。
(Resin composition for sealing)
About each Example and each comparative example, the resin composition for sealing was prepared as follows. First, according to the formulation shown in Table 1, each component was premixed for 20 minutes with a Henschel mixer (capacity 200 liters, rotation speed 900 rpm) set to room temperature. Next, the obtained mixture was used using a continuous rotating ball mill (Nippon Coke Industries, Ltd., dynamic mill MYD25, screw rotation speed 500 rpm, alumina ball diameter 10 mm, volume filling rate of balls with respect to the device volume 50%), The material was supplied at a feed rate of 200 kg / hr and was finely pulverized while maintaining the material temperature at 30 ° C. Next, the finely pulverized mixture was melt kneaded using a single screw extrusion kneader (screw diameter D = 46 mm, extruder length = 500 mm, melt kneading section length = 7 D, screw rotation speed 200 rpm, discharge rate 30 kg / hr). did. Next, the kneaded mixture was cooled and pulverized to obtain a sealing resin composition. In addition, each process from the preliminary mixing by a Henschel mixer to obtaining the sealing resin composition was continuously performed.

表1には、封止用樹脂組成物全体に対する各成分の配合割合(重量%)が示されている。なお、表1中における各成分の詳細は下記のとおりである。   Table 1 shows the blending ratio (% by weight) of each component with respect to the entire sealing resin composition. The details of each component in Table 1 are as follows.

((A)熱硬化性樹脂)
熱硬化性樹脂1:オルソクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(EPICLON N−660、DIC(株)製)
熱硬化性樹脂2:オルソクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(EPICLON N−670−EXP−S、DIC(株)製)
熱硬化性樹脂3:ビフェニレン骨格を有するフェノールアラルキル型エポキシ樹脂(NC−3000、日本化薬(株)製)
熱硬化性樹脂4:ビフェニル型エポキシ樹脂(YX−4000H、三菱化学(株)製)
((A) thermosetting resin)
Thermosetting resin 1: Orthocresol novolac type epoxy resin (EPICLON N-660, manufactured by DIC Corporation)
Thermosetting resin 2: Orthocresol novolac type epoxy resin (EPICLON N-670-EXP-S, manufactured by DIC Corporation)
Thermosetting resin 3: phenol aralkyl type epoxy resin having a biphenylene skeleton (NC-3000, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)
Thermosetting resin 4: Biphenyl type epoxy resin (YX-4000H, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation)

((B)硬化剤)
硬化剤1:ノボラック型フェノール樹脂(PR−HF−3、住友ベークライト(株)製)
硬化剤2:ノボラック型フェノール樹脂(PR−51470、住友ベークライト(株)製)
硬化剤3:ビフェニレン骨格を有するフェノールアラルキル樹脂(MEH−7851SS、明和化成(株)製)
硬化剤4:フェニレン骨格を有するフェノールアラルキル樹脂(XL−225−3L、三井化学(株)製)
((B) curing agent)
Curing agent 1: Novolac type phenolic resin (PR-HF-3, manufactured by Sumitomo Bakelite Co., Ltd.)
Curing agent 2: Novolac type phenol resin (PR-51470, manufactured by Sumitomo Bakelite Co., Ltd.)
Curing agent 3: Phenol aralkyl resin having a biphenylene skeleton (MEH-7851SS, manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd.)
Curing agent 4: Phenol aralkyl resin having a phenylene skeleton (XL-225-3L, manufactured by Mitsui Chemicals, Inc.)

((C)硬化触媒)
硬化触媒1:トリフェニルホスフィン(PP−360、ケイ・アイ化成(株)製)
硬化触媒2:トリフェニルホスフィンとp−ベンゾキノンとの付加物(TPP−BQ)
硬化触媒3:2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン(2MZ−A、四国化成工業(株)製)
((C) Curing catalyst)
Curing catalyst 1: triphenylphosphine (PP-360, manufactured by KAI Kasei Co., Ltd.)
Curing catalyst 2: adduct of triphenylphosphine and p-benzoquinone (TPP-BQ)
Curing catalyst 3: 2,4-diamino-6- [2′-methylimidazolyl- (1 ′)]-ethyl-s-triazine (2MZ-A, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.)

((D)無機充填剤)
無機充填剤1:溶融球状シリカ(FB−950、電気化学工業(株)製、平均粒径D50=24μm)
無機充填剤2:溶融破砕シリカ(RD−8、(株)龍森製、平均粒径D50=15μm)
無機充填剤3:水酸化アルミニウム
((D) inorganic filler)
Inorganic filler 1: fused spherical silica (FB-950, manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd., average particle diameter D 50 = 24 μm)
Inorganic filler 2: fused crushed silica (RD-8, manufactured by Tatsumori Co., Ltd., average particle diameter D 50 = 15 μm)
Inorganic filler 3: Aluminum hydroxide

((E)その他の成分)
シランカップリング剤:N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン(KBM−573、信越化学工業(株)製)
オイル:シリコーンオイル(FZ−3730、東レ・ダウコーニング(株)製)
低応力剤:シリコーンゴム(CF2152、東レ・ダウコーニング(株)製)
離型性付与剤:モンタン酸エステルワックス(リコルブWE−4、クラリアントジャパン(株)製)
着色剤:カーボンブラック(#5、三菱化学(株)製)
((E) Other ingredients)
Silane coupling agent: N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane (KBM-573, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.)
Oil: Silicone oil (FZ-3730, manufactured by Toray Dow Corning Co., Ltd.)
Low stress agent: Silicone rubber (CF2152, manufactured by Toray Dow Corning Co., Ltd.)
Release agent: Montanate ester wax (Recove WE-4, manufactured by Clariant Japan Co., Ltd.)
Colorant: Carbon black (# 5, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation)

(溶融トルク測定)
各実施例および各比較例について、得られた封止用樹脂組成物について溶融トルクの測定を行った。測定は、ラボプラストミル試験機((株)東洋精機製作所製、4C150)を用いて、回転数30rpm、測定温度175℃の条件で封止用樹脂組成物の溶融トルクを経時的に測定することにより行った。そして、測定結果から、最低トルク値を算出した。結果を表1に示す。表1における単位はN・mである。
(Melt torque measurement)
About each Example and each comparative example, the melt torque was measured about the obtained resin composition for sealing. The measurement is to measure the melting torque of the sealing resin composition over time under the conditions of a rotation speed of 30 rpm and a measurement temperature of 175 ° C. using a lab plast mill tester (manufactured by Toyo Seiki Seisakusho, 4C150). It went by. And the minimum torque value was computed from the measurement result. The results are shown in Table 1. The unit in Table 1 is N · m.

(スリットバリ測定)
各実施例および各比較例について、得られた封止用樹脂組成物についてスリットバリ測定を次のようにして行った。まず、図3に示すスリットバリ測定用金型30を準備した。スリットバリ測定用金型30は、キャビティ38と、キャビティ38に接続されたスリット36と、を有する下型34と、キャビティ38へ樹脂を注入するための樹脂注入口40を有する上型32を備えている。また、スリット36は、厚さTが20μmであり、幅Wが5mmである。次いで、スリットバリ測定用金型30を用いて金型温度175℃、注入圧力6.9MPa、注入時間15秒、硬化時間120秒で封止用樹脂組成物を成形した。次いで、キャビティ38を介してスリット36内に充填される封止用樹脂組成物(スリットバリ)の長さを計測した。スリットに流れ出た樹脂の長さをノギスで測定した。結果を表1に示す。表1における単位はmmである。
(Slit burr measurement)
About each Example and each comparative example, the slit burr | flash measurement was performed as follows about the obtained resin composition for sealing. First, a slit burr measuring mold 30 shown in FIG. 3 was prepared. The slit burr measuring mold 30 includes a lower mold 34 having a cavity 38 and a slit 36 connected to the cavity 38, and an upper mold 32 having a resin injection port 40 for injecting resin into the cavity 38. ing. The slit 36 has a thickness T of 20 μm and a width W of 5 mm. Next, a sealing resin composition was molded using a slit burr measuring mold 30 at a mold temperature of 175 ° C., an injection pressure of 6.9 MPa, an injection time of 15 seconds, and a curing time of 120 seconds. Next, the length of the sealing resin composition (slit burr) filled in the slit 36 through the cavity 38 was measured. The length of the resin that flowed out to the slit was measured with a caliper. The results are shown in Table 1. The unit in Table 1 is mm.

(スパイラルフロー測定)
各実施例および各比較例について、得られた封止用樹脂組成物に対しスパイラルフロー測定を行った。スパイラルフロー測定は、低圧トランスファー成形機(コータキ精機(株)製「KTS−15」)を用いて、EMMI−1−66に準じたスパイラルフロー測定用の金型に金型温度175℃、注入圧力6.9MPa、硬化時間120秒の条件で封止用樹脂組成物を注入し、流動長を測定することにより行った。結果を表1に示す。表1における単位はcmである。
(Spiral flow measurement)
About each Example and each comparative example, spiral flow measurement was performed with respect to the obtained resin composition for sealing. Spiral flow measurement was performed using a low-pressure transfer molding machine (“KTS-15” manufactured by Kotaki Seiki Co., Ltd.) in a mold for spiral flow measurement according to EMMI-1-66, at a mold temperature of 175 ° C. and injection pressure. The sealing resin composition was injected under conditions of 6.9 MPa and a curing time of 120 seconds, and the flow length was measured. The results are shown in Table 1. The unit in Table 1 is cm.

(ゲルタイム測定)
各実施例および各比較例について、得られた封止用樹脂組成物のゲルタイムを測定した。ゲルタイムの測定は、175℃に加熱した熱板上で封止用樹脂組成物を溶融した後、へらで練りながら硬化するまでの時間(ゲルタイム)を測定することにより行った。結果を表1に示す。表1における単位は秒である。
(Gel time measurement)
About each Example and each comparative example, the gel time of the obtained resin composition for sealing was measured. The gel time was measured by measuring the time (gel time) until the resin composition for sealing was melted on a hot plate heated to 175 ° C. and then cured while kneading with a spatula. The results are shown in Table 1. The unit in Table 1 is seconds.

(車載用電子制御ユニットの製造)
各実施例および各比較例について、上記で得られた封止用樹脂組成物を用いて、車載用電子制御ユニットを次のように製造した。まず、第1金型と、第1金型とともにキャビティを構成し、かつキャビティを構成する領域中に第1金型との当接部から離間して設けられた凹部を有する第2金型と、を準備した。次いで、一辺に接続端子が設けられた配線基板(縦30mm×横50mm×幅1mmt)を、第2金型の凹部内に接続端子を嵌め込んだ。なお、配線基板は、上面と下面を貫通するスルーホール(孔径0.4mm)を有していた。次いで、第1金型と第2金型を型締めして、内部に配線基板が配置されたキャビティを形成した。次いで、キャビティ内に封止用樹脂組成物を注入し、成型して、配線基板のうちの接続端子を除く部分を覆う封止樹脂を形成した。封止用樹脂組成物の成型は、金型温度175℃、注入圧力6.9MPa、注入時間15秒、硬化時間120秒の条件により行った。このようにして、車載用電子制御ユニットを製造した。
(Manufacture of in-vehicle electronic control units)
About each Example and each comparative example, the vehicle-mounted electronic control unit was manufactured as follows using the resin composition for sealing obtained above. First, a first mold, and a second mold that forms a cavity together with the first mold and has a recess provided in a region that forms the cavity apart from a contact portion with the first mold. Prepared. Next, the connection terminal was fitted into the recess of the second mold on the wiring board (length 30 mm × width 50 mm × width 1 mmt) provided with the connection terminal on one side. The wiring board had through holes (hole diameter 0.4 mm) penetrating the upper and lower surfaces. Next, the first mold and the second mold were clamped to form a cavity in which the wiring board was placed. Next, a sealing resin composition was injected into the cavity and molded to form a sealing resin that covers a portion of the wiring board excluding the connection terminals. The sealing resin composition was molded under the conditions of a mold temperature of 175 ° C., an injection pressure of 6.9 MPa, an injection time of 15 seconds, and a curing time of 120 seconds. In this way, an in-vehicle electronic control unit was manufactured.

(接続端子周辺におけるバリ抑制評価)
各実施例および各比較例について、上記で得られた車載用電子制御ユニットの接続端子周辺において、封止樹脂にバリが生じているか否かを観察した。ここでは、バリの長さが1mm未満、もしくはバリが生じなかったものを○とし、1mm以上のバリが発生していたものを×として、バリ抑制の評価を行った。結果を表1に示す。
(Burr suppression evaluation around connection terminals)
About each Example and each comparative example, it was observed whether the burr | flash produced in sealing resin around the connection terminal of the vehicle-mounted electronic control unit obtained above. Here, the evaluation of burr suppression was carried out with a burr length of less than 1 mm or a burr that did not occur as ◯, and a burr that was 1 mm or more as x. The results are shown in Table 1.

(スルーホールへの充填性評価)
各実施例および各比較例について、上記で得られた車載用電子制御ユニットの接続端子部において、配線基板のスルーホール内に封止樹脂が充填されているか否かを観察した。ここでは、製品上問題となり得るボイドが生じなかったものを○とし、製品上問題となり得るボイドが生じたものを×として、充填性の評価を行った。結果を表1に示す。
(Evaluation of fillability in through holes)
For each example and each comparative example, it was observed whether or not the through hole of the wiring board was filled with the sealing resin in the connection terminal portion of the on-vehicle electronic control unit obtained above. Here, the evaluation of the filling property was performed by assuming that no void that could cause a problem on the product was generated, and x if the void that might cause a problem on the product was generated. The results are shown in Table 1.

Figure 2017028082
Figure 2017028082

10 車載用電子制御ユニット
12 基板
14 封止樹脂
16 電子部品
18 接続端子
22 第1金型
24 第2金型
26、220、240 凹部
28、38 キャビティ
30 スリットバリ測定用金型
32 上型
34 下型
36 スリット
40 樹脂注入口
120 スルーホール
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Vehicle-mounted electronic control unit 12 Board | substrate 14 Sealing resin 16 Electronic component 18 Connection terminal 22 1st metal mold | die 24 2nd metal mold | die 26,220,240 Crevice 28,38 Cavity 30 Slit burr measuring metal mold 32 Upper mold 34 Lower Mold 36 Slit 40 Resin inlet 120 Through hole

Claims (9)

第1金型と、前記第1金型とともにキャビティを構成し、かつ前記キャビティを構成する領域中に前記第1金型との当接部から離間して設けられた凹部を有する第2金型と、を準備する工程と、
一辺に接続端子が設けられた基板を、前記凹部内に前記接続端子を嵌め込むように前記キャビティ内へ配置する工程と、
前記キャビティ内へ封止用樹脂組成物を注入する工程と、
を備え、
ラボプラストミルを用いて回転数30rpm、測定温度175℃の条件で前記封止用樹脂組成物のトルク値を経時的に測定した際に、最低トルク値が0.5N・m以上2.5N・m以下であり、
厚さ20μm、幅5mmのスリットを有するスリットバリ測定用金型を用いて金型温度175℃、注入圧力6.9MPa、硬化時間120秒で前記封止用樹脂組成物を成形した場合に、前記スリット内に充填される前記封止用樹脂組成物の長さが2mm以下である車載用電子制御ユニットの製造方法。
A second mold having a first mold and a cavity which forms a cavity together with the first mold and is provided in a region forming the cavity so as to be separated from a contact portion with the first mold. And a step of preparing
Arranging a substrate provided with a connection terminal on one side in the cavity so as to fit the connection terminal in the recess;
Injecting a sealing resin composition into the cavity;
With
When the torque value of the sealing resin composition was measured over time under the conditions of a rotation speed of 30 rpm and a measurement temperature of 175 ° C. using a lab plast mill, the minimum torque value was 0.5 N · m to 2.5 N · m or less,
When the sealing resin composition was molded at a mold temperature of 175 ° C., an injection pressure of 6.9 MPa, and a curing time of 120 seconds using a slit burr measuring mold having a slit with a thickness of 20 μm and a width of 5 mm, The manufacturing method of the vehicle-mounted electronic control unit whose length of the said resin composition for sealing filled in a slit is 2 mm or less.
請求項1に記載の車載用電子制御ユニットの製造方法において、
前記封止用樹脂組成物は、ゲルタイムが20秒以上45秒以下である車載用電子制御ユニットの製造方法。
In the manufacturing method of the vehicle-mounted electronic control unit of Claim 1,
The sealing resin composition is a method for producing an on-vehicle electronic control unit having a gel time of 20 seconds to 45 seconds.
請求項1または2に記載の車載用電子制御ユニットの製造方法において、
前記封止用樹脂組成物は、キュラストメーターを用いて金型温度175℃にて硬化トルクを経時的に測定した際の、測定開始から0.1N・mとなるまでの時間が20秒以上40秒以下である車載用電子制御ユニットの製造方法。
In the manufacturing method of the vehicle-mounted electronic control unit of Claim 1 or 2,
The sealing resin composition has a time of 20 seconds or more from the start of measurement to 0.1 N · m when the curing torque is measured over time at a mold temperature of 175 ° C. using a curast meter. A method for manufacturing an on-vehicle electronic control unit that is 40 seconds or less.
請求項1〜3いずれか一項に記載の車載用電子制御ユニットの製造方法において、
前記封止用樹脂組成物は、無機充填剤を含む車載用電子制御ユニットの製造方法。
In the manufacturing method of the vehicle-mounted electronic control unit as described in any one of Claims 1-3,
The sealing resin composition is a method for manufacturing an on-vehicle electronic control unit including an inorganic filler.
請求項4に記載の車載用電子制御ユニットの製造方法において、
前記無機充填剤の含有量は、前記封止用樹脂組成物全体に対して60重量%以上90重量%以下である車載用電子制御ユニットの製造方法。
In the manufacturing method of the vehicle-mounted electronic control unit of Claim 4,
The manufacturing method of the vehicle-mounted electronic control unit whose content of the said inorganic filler is 60 to 90 weight% with respect to the said whole resin composition for sealing.
請求項4または5に記載の車載用電子制御ユニットの製造方法において、
前記無機充填剤は、破砕シリカを含む車載用電子制御ユニットの製造方法。
In the manufacturing method of the vehicle-mounted electronic control unit of Claim 4 or 5,
The said inorganic filler is a manufacturing method of the vehicle-mounted electronic control unit containing crushing silica.
請求項1〜6いずれか一項に記載の車載用電子制御ユニットの製造方法において、
前記封止用樹脂組成物は、エポキシ樹脂を含む車載用電子制御ユニットの製造方法。
In the manufacturing method of the vehicle-mounted electronic control unit as described in any one of Claims 1-6,
The sealing resin composition is a method for manufacturing an in-vehicle electronic control unit including an epoxy resin.
請求項7に記載の車載用電子制御ユニットの製造方法において、
前記エポキシ樹脂は、ノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、およびフェノールアラルキル型エポキシ樹脂から選択される一種または二種以上を含む車載用電子制御ユニットの製造方法。
In the manufacturing method of the vehicle-mounted electronic control unit of Claim 7,
The said epoxy resin is a manufacturing method of the vehicle-mounted electronic control unit containing 1 type, or 2 or more types selected from a novolak-type epoxy resin, a biphenyl type epoxy resin, and a phenol aralkyl type epoxy resin.
請求項1〜8いずれか一項に記載の車載用電子制御ユニットの製造方法に用いられる封止用樹脂組成物であって、
エポキシ樹脂と、
無機充填剤と、
を含み、
ラボプラストミルを用いて回転数30rpm、測定温度175℃の条件で前記封止用樹脂組成物のトルク値を経時的に測定した際に、最低トルク値が0.5N・m以上2.5N・m以下であり、
厚さ20μm、幅5mmのスリットを有するスリットバリ測定用金型を用いて金型温度175℃、注入圧力6.9MPa、硬化時間120秒で前記封止用樹脂組成物を成形した場合に、前記スリット内に充填される前記封止用樹脂組成物の長さが2mm以下である封止用樹脂組成物。
A sealing resin composition used in the method for producing an on-vehicle electronic control unit according to any one of claims 1 to 8,
Epoxy resin,
An inorganic filler;
Including
When the torque value of the sealing resin composition was measured over time under the conditions of a rotation speed of 30 rpm and a measurement temperature of 175 ° C. using a lab plast mill, the minimum torque value was 0.5 N · m to 2.5 N · m or less,
When the sealing resin composition was molded at a mold temperature of 175 ° C., an injection pressure of 6.9 MPa, and a curing time of 120 seconds using a slit burr measuring mold having a slit with a thickness of 20 μm and a width of 5 mm, The sealing resin composition in which the length of the sealing resin composition filled in the slit is 2 mm or less.
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