JP2017009609A - 接触表面が削減された微小機械構成部品及びその製作方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 34
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 8
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims abstract description 52
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 24
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 24
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims abstract description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 26
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 22
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 14
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims description 13
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 12
- 238000002156 mixing Methods 0.000 claims description 7
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000005459 micromachining Methods 0.000 abstract description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 5
- 238000000708 deep reactive-ion etching Methods 0.000 description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 10
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 4
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 101100269850 Caenorhabditis elegans mask-1 gene Proteins 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 2
- 238000006392 deoxygenation reaction Methods 0.000 description 2
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 235000016496 Panda oleosa Nutrition 0.000 description 1
- 240000000220 Panda oleosa Species 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000002178 crystalline material Substances 0.000 description 1
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910021426 porous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000002210 silicon-based material Substances 0.000 description 1
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
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- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
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- B81B—MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
- B81B7/00—Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems
- B81B7/0032—Packages or encapsulation
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- B81C1/00023—Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate for manufacturing microsystems without movable or flexible elements
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- B81C1/00555—Achieving a desired geometry, i.e. controlling etch rates, anisotropy or selectivity
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- G04B13/00—Gearwork
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- G04B13/00—Gearwork
- G04B13/02—Wheels; Pinions; Spindles; Pivots
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- B81B2201/00—Specific applications of microelectromechanical systems
- B81B2201/03—Microengines and actuators
- B81B2201/035—Microgears
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- B81B2203/00—Basic microelectromechanical structures
- B81B2203/03—Static structures
- B81B2203/0369—Static structures characterized by their profile
- B81B2203/0384—Static structures characterized by their profile sloped profile
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B81C—PROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
- B81C2201/00—Manufacture or treatment of microstructural devices or systems
- B81C2201/01—Manufacture or treatment of microstructural devices or systems in or on a substrate
- B81C2201/0101—Shaping material; Structuring the bulk substrate or layers on the substrate; Film patterning
- B81C2201/0111—Bulk micromachining
- B81C2201/0112—Bosch process
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- B81C2201/0128—Processes for removing material
- B81C2201/013—Etching
- B81C2201/0132—Dry etching, i.e. plasma etching, barrel etching, reactive ion etching [RIE], sputter etching or ion milling
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- B81C2201/0128—Processes for removing material
- B81C2201/013—Etching
- B81C2201/0135—Controlling etch progression
- B81C2201/0138—Monitoring physical parameters in the etching chamber, e.g. pressure, temperature or gas composition
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Abstract
【解決手段】本発明は、少なくとも1つの削減された接触表面を有する、シリコン系構成部品に関し、上記接触表面は、垂直な側壁の「Bosch」エッチングによる、少なくとも1つの傾斜した側壁のエッチングステップによって形成され、特にシリコン系ウェハの微小機械加工によって形成された構成部品の摩擦を改善する。
【選択図】図11
Description
a)シリコン系基板を準備するステップ;
b)基板の水平部分上に、孔を穿孔したマスクを形成するステップ;
c)エッチング室内において、マスクの孔から基板の厚さの一部分に、略垂直な壁をエッチングして、微小機械構成部品の周縁壁を形成するステップ;
d)ステップc)で作製したエッチング部の底部はいずれの保護層も有しないまま残して、垂直壁上に保護層を形成するステップ;
e)エッチング室内において、保護層を有しない底部から基板の残りの厚さに、所定の傾斜した壁をエッチングして、微小機械構成部品の周縁壁の下側に傾斜した下側表面を形成するステップ;
f)マスクから、及び基板から、微小機械構成部品を取り外すステップ。
‐ステップc)は、略垂直な壁を形成するために、エッチングガス流とパッシベーションガス流とをエッチング室内で交互に発生させることによって達成され;
‐ステップd)は:ステップc)で得られたエッチング部を酸化させて、酸化ケイ素保護層を形成する段階d1);及び保護層に方向性エッチングを施して、ステップc)で作製したエッチング部の底部において保護層の一部のみを選択的に除去する段階d2)を含み;
‐ステップe)は、傾斜した壁を形成するために、エッチング室内でエッチングガス及びパッシベーションガスを混合することによって達成され;
‐ステップe)では、キャビティ底部のエッチング部を増強するために、連続したエッチングガス流とパッシベーションガス流とを反復させる。
‐微小機械構成部品は更に、内部壁を備える少なくとも1つのキャビティを含み、上記内部壁もまた、第1の略垂直な表面及び第2の実質的に傾斜した表面を含み;
‐微小機械構成部品は、時計のムーブメント内の要素又は外装部品の全て又は一部を形成する。
33 マスク
35 孔
36 略垂直な壁
37 所定の傾斜した壁
38 底部
39 エッチング部
42 保護層
51 シリコン系微小機械構成部品
56 周縁壁
57 下側表面
Claims (5)
- シリコン系微小機械構成部品(51)を製作するための方法であって、
前記方法は、以下のステップ:
a)シリコン系基板(30)を準備するステップ;
b)前記基板(30)の水平部分上に、孔(35)を穿孔したマスク(33)を形成するステップ;
c)エッチング室内において、前記マスク(33)の前記孔(35)から前記基板(30)の厚さの一部分に、略垂直な壁(36)をエッチングして、前記微小機械構成部品(51)の周縁壁(56)を形成するステップ;
d)前記ステップc)で作製したエッチング部(39)の底部(38)はいずれの保護層も有しないまま残して、前記垂直壁(36)上に保護層(42)を形成するステップ;
e)前記エッチング室内において、保護層を有しない前記底部(38)から前記基板(30)の残りの厚さに、所定の傾斜した壁(37)をエッチングして、前記微小機械構成部品(51)の前記周縁壁(56)の下側に傾斜した下側表面(57)を形成するステップ;
f)前記マスク(33)から、及び前記基板(30)から、前記微小機械構成部品(51)を取り外すステップ
を含む、方法。 - 前記ステップc)は、前記略垂直な壁(36)を形成するために、エッチングガス流とパッシベーションガス流とを前記エッチング室内で交互に発生させることによって達成されることを特徴とする、請求項1に記載の方法。
- 前記ステップd)は、以下の段階:
d1)前記ステップc)で得られた前記エッチング部(39)を酸化させて、前記酸化ケイ素保護層(42)を形成する段階;
d2)前記保護層(42)に方向性エッチングを施して、前記ステップc)で作製した前記エッチング部(39)の前記底部(38)において前記保護層(42)の一部のみを選択的に除去する段階
を含むことを特徴とする、請求項1又は2に記載の方法。 - 前記ステップe)は、前記傾斜した壁(37)を形成するために、前記エッチング室内でエッチングガス及びパッシベーションガスを混合することによって達成されることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか1項に記載の方法。
- 前記ステップe)では、前記エッチング部(39)の底部水平面において前記エッチング部を増強するために、連続した前記エッチングガス流と前記パッシベーションガス流とを反復させることを特徴とする、請求項4に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP15173825 | 2015-06-25 | ||
EP15173825.9 | 2015-06-25 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017009609A true JP2017009609A (ja) | 2017-01-12 |
JP6177390B2 JP6177390B2 (ja) | 2017-08-09 |
Family
ID=53496484
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016122395A Active JP6177390B2 (ja) | 2015-06-25 | 2016-06-21 | 接触表面が削減された微小機械構成部品及びその製作方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9731964B2 (ja) |
EP (1) | EP3109200B1 (ja) |
JP (1) | JP6177390B2 (ja) |
CN (1) | CN106276772B (ja) |
RU (1) | RU2707712C1 (ja) |
TW (1) | TWI681924B (ja) |
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TWI681924B (zh) | 2020-01-11 |
US20160376147A1 (en) | 2016-12-29 |
RU2707712C1 (ru) | 2019-11-28 |
CN106276772B (zh) | 2019-06-14 |
EP3109200B1 (fr) | 2023-06-28 |
RU2016125427A (ru) | 2017-12-26 |
TW201716315A (zh) | 2017-05-16 |
CN106276772A (zh) | 2017-01-04 |
EP3109200A1 (fr) | 2016-12-28 |
JP6177390B2 (ja) | 2017-08-09 |
US9731964B2 (en) | 2017-08-15 |
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