JP2016514828A - 可変レーザアレイシステム - Google Patents
可変レーザアレイシステム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2016514828A JP2016514828A JP2016503173A JP2016503173A JP2016514828A JP 2016514828 A JP2016514828 A JP 2016514828A JP 2016503173 A JP2016503173 A JP 2016503173A JP 2016503173 A JP2016503173 A JP 2016503173A JP 2016514828 A JP2016514828 A JP 2016514828A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wavelength
- vcl
- range
- swept
- vertical cavity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02001—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
- G01B9/02002—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties using two or more frequencies
- G01B9/02004—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties using two or more frequencies using frequency scans
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/0008—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes provided with illuminating means
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/102—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for optical coherence tomography [OCT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/02001—Interferometers characterised by controlling or generating intrinsic radiation properties
- G01B9/02007—Two or more frequencies or sources used for interferometric measurement
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/02—Interferometers
- G01B9/0209—Low-coherence interferometers
- G01B9/02091—Tomographic interferometers, e.g. based on optical coherence
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/18—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
- H01S5/183—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
- H01S5/18361—Structure of the reflectors, e.g. hybrid mirrors
- H01S5/18363—Structure of the reflectors, e.g. hybrid mirrors comprising air layers
- H01S5/18366—Membrane DBR, i.e. a movable DBR on top of the VCSEL
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
- H01S5/4025—Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar
- H01S5/4087—Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar emitting more than one wavelength
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/0607—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying physical parameters other than the potential of the electrodes, e.g. by an electric or magnetic field, mechanical deformation, pressure, light, temperature
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/18—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
- H01S5/183—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
- H01S5/18308—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL] having a special structure for lateral current or light confinement
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/18—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
- H01S5/183—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
- H01S5/18308—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL] having a special structure for lateral current or light confinement
- H01S5/18311—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL] having a special structure for lateral current or light confinement using selective oxidation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/18—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
- H01S5/183—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
- H01S5/18341—Intra-cavity contacts
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/18—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
- H01S5/183—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
- H01S5/18361—Structure of the reflectors, e.g. hybrid mirrors
- H01S5/18369—Structure of the reflectors, e.g. hybrid mirrors based on dielectric materials
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/18—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
- H01S5/183—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
- H01S5/18361—Structure of the reflectors, e.g. hybrid mirrors
- H01S5/18369—Structure of the reflectors, e.g. hybrid mirrors based on dielectric materials
- H01S5/18372—Structure of the reflectors, e.g. hybrid mirrors based on dielectric materials by native oxidation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/18—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
- H01S5/183—Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
- H01S5/18361—Structure of the reflectors, e.g. hybrid mirrors
- H01S5/18377—Structure of the reflectors, e.g. hybrid mirrors comprising layers of different kind of materials, e.g. combinations of semiconducting with dielectric or metallic layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/20—Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
- H01S5/2054—Methods of obtaining the confinement
- H01S5/2059—Methods of obtaining the confinement by means of particular conductivity zones, e.g. obtained by particle bombardment or diffusion
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/30—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
- H01S5/305—Structure or shape of the active region; Materials used for the active region characterised by the doping materials used in the laser structure
- H01S5/3095—Tunnel junction
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
- H01S5/4012—Beam combining, e.g. by the use of fibres, gratings, polarisers, prisms
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/40—Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
- H01S5/42—Arrays of surface emitting lasers
- H01S5/423—Arrays of surface emitting lasers having a vertical cavity
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Ophthalmology & Optometry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
Description
図2は、(a)サンプルの特徴付けを行う光学系とともに用いられる可変レーザと、(b)サンプルに変更を加える光学系とともに用いられる可変レーザと、(c)サンプルに影響を与える光学系とともに用いられる可変レーザと、(d)センサへの光源として用いられる可変レーザと、(e)データ送信又は通信のための光リンク及び受信器とともに用いられる可変レーザと、を含む可変レーザの応用例を説明する図である。
図3は、N個のレーザを備える光学系への入力を形成するレーザアレイを説明する図である。
図4は、電気的にポンピングされるMEMS−VCLからなるアレイを説明する図であり、それぞれのVCLは、利得領域及び調整電圧をポンピングするための駆動電圧を備える。
図5は、光学的にポンピングされるMEMS−VCLからなるアレイを説明する図であり、主要な光ポンプが複数のVCLを光学的にポンピングするために用いられる。
図6は、OCTイメージングシステムで用いられる電気的にポンピングされる複数のMEMS−VCLからなるアレイを説明する図であり、それぞれのVCLは、利得領域及び調整電圧をポンピングするための駆動電圧を備える。
図7は、OCTイメージングシステムで用いられる光学的にポンピングされる複数のMEMS−VCLからなるアレイを説明する図であり、それぞれのVCLは、利得領域及び調整電圧のポンプからの入力を備える。
図8は、高い反復率及びデューティサイクルを得るための複数のVCLのインタリービングを説明する図である。
図9は、多重化された出力の波長を得るための複数のVCLのインタリービングを説明する図である。
図10は、異なる掃引反復率を得るための複数のVCLのインタリービングを説明する図である。
図11は、掃引範囲の異なる選択を得るための複数のVCLのインタリービングを説明する図である。
図12は、OCTイメージングシステムを用いて高速且つ短距離のイメージングを行うための掃引で、対象の追跡の探索可能性を長距離の関心領域(ROI)で達成するための複数掃引のインタリービングを説明する図である。
図13は、レーザアレイを用いた並列ポイントイメージングを説明する図である。
Claims (34)
- N個(Nは1より大きい)の波長軌跡を有するN個の可変VCL出力(115)を放出するN個の波長掃引垂直キャビティレーザ(VCL)(100)を備え、総波長範囲にわたって多重化された波長掃引放射を放出する、光源と、
前記多重化された波長掃引放射を生成するために前記N個の可変VCL出力を組み合わせて1つの共通の光路にするコンバイナ(110)と、
前記多重化された波長掃引放射をサンプル(150)及び基準光路(140)に分割するスプリッタと、
前記サンプルからの反射と前記基準光路を横切る光との間の光学的干渉によって生成された干渉信号を検出する光検出器(170)と、
前記サンプルのイメージを構成するために前記干渉信号を用いる信号処理システム(190)と、を備え、
前記N個の波長軌跡のうちの少なくとも1つが、波長反復率、波長掃引速度、位相変換及び波長調整範囲からなる群のうちの少なくとも1つのパラメータに関して、前記N個の波長軌跡のうちの他の1つと実質的に異なる、
波長掃引光源(swept source)光コヒーレンストモグラフィのためのシステム。 - 前記N個のVCLのそれぞれが電気的にポンピングされる、
請求項1に記載のシステム。 - 前記N個のVCLのそれぞれが光学的にポンピングされる、
請求項1に記載のシステム。 - 前記N個のVCLのそれぞれが統合されたVCLの光ポンプを有する、
請求項1に記載のシステム。 - 単一の光ポンプが前記N個のVCLをすべてポンピングするために用いられる、
請求項3に記載のシステム。 - 単一の光増幅器が前記波長掃引放射を増幅するために用いられる、
請求項1に記載のシステム。 - それぞれのVCLが光増幅器にモノリシックに統合される、
請求項1に記載のシステム。 - 前記N個の垂直キャビティレーザのすべてが共通の基板にモノリシックに統合される、
請求項1に記載のシステム。 - 前記N個の垂直キャビティレーザのうちの少なくとも1つが電圧源により調整される微小電気機械システム(MEMS)可変VCLである、
請求項1に記載のシステム。 - 前記N個の垂直キャビティレーザのうちの全てが1つずつ電圧源により調整されるMEMS可変VCLである、
請求項1に記載のシステム。 - 前記N個のVCLの可変出力のうちの厳密に1つが任意の時点でオンにされる、
請求項1に記載のシステム。 - 前記N個の垂直キャビティレーザのそれぞれが電気的にポンピングされ、且つ、前記N個のVCL出力のそれぞれが電気的なポンプの駆動電流の制御によってオン及びオフにされる、
請求項11に記載のシステム。 - 前記N個の垂直キャビティレーザのそれぞれが異なる波長反復率で繰り返し掃引される、
請求項1に記載のシステム。 - 前記N個の垂直キャビティレーザのそれぞれが異なる波長帯域幅にわたって掃引される、
請求項1に記載のシステム。 - 狭い波長帯域幅にわたって掃引されるVCLは長距離のイメージングに用いられ、且つ、広い波長帯域幅にわたって掃引されるVCLは短距離のイメージングに用いられる、
請求項14に記載のシステム。 - 低い波長反復周波数のVCLは長距離のイメージングに用いられ、且つ、高い波長反復周波数のVCLは短距離のイメージングに用いられる、
請求項13に記載のシステム。 - 前記N個の垂直キャビティレーザのそれぞれが第1の波長反復周波数を有する単一の調整波形によって駆動され、当該単一の調整波形のそれぞれが当該単一の調整波形のうちの他の1つの位相変換された複製であり、且つ、前記多重化された波長掃引放射が前記第1の波長反復周波数のN倍である第2の波長反復周波数を有する、
請求項1に記載のシステム。 - 前記N個の垂直キャビティレーザは、
第1のVCLの波長調整範囲にわたって第1のVCL出力を放出する第1のVCLと、
第2のVCLの波長調整範囲にわたって第2のVCL出力を放出する第1のVCLと、を含み、
前記総波長範囲は前記第1のVCLの波長調整範囲と前記第2のVCLの波長調整範囲との組合せである、
請求項1に記載のシステム。 - 前記N個の垂直キャビティレーザのうちの少なくとも1つがMEMS構造の機械的共振で駆動される、
請求項10に記載のシステム。 - 前記N個の垂直キャビティレーザのうちの少なくとも1つが真空環境において駆動される、
請求項10に記載のシステム。 - 前記N個の垂直キャビティレーザのそれぞれがMEMS構造の機械的共振で駆動される、
請求項10に記載のシステム。 - 第1の機械的共振周波数を有する第1のMEMS−VCLと、前記第1の機械的共振周波数とは実質的に異なる第2の機械的共振周波数を有する第2のMEMS−VCLと、をさらに備える、
請求項10に記載のシステム。 - 前記N個の垂直キャビティレーザのそれぞれが真空環境にある、
請求項10に記載のシステム。 - 前記真空環境が真空バタフライパッケージによって提供される、
請求項20に記載のシステム。 - 前記真空環境が真空トランジスタアウトラインパッケージによって提供される、
請求項20に記載のシステム。 - 前記電圧源の最大駆動電圧が10V未満である、
請求項20に記載のシステム。 - 前記総波長範囲が約750nmから900nmの範囲に含まれる、
請求項1に記載のシステム。 - 前記総波長範囲が約950nmから1150nmの範囲に含まれる、
請求項1に記載のシステム。 - 前記総波長範囲が約1200nmから1650nmの範囲に含まれる、
請求項1に記載のシステム。 - 前記総波長範囲が約1700nmから2300nmの範囲に含まれる、
請求項1に記載のシステム。 - 前記サンプルがヒトの眼である、
請求項1に記載のシステム。 - 前記イメージが前記ヒトの眼の前眼部の一部及び網膜の一部を含む、
請求項31に記載のシステム。 - 前記サンプルがヒトの組織を含む、
請求項1に記載のシステム。 - 前記サンプルが動物の組織を含む、
請求項1に記載のシステム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201361793604P | 2013-03-15 | 2013-03-15 | |
US61/793,604 | 2013-03-15 | ||
PCT/US2014/029632 WO2014144998A2 (en) | 2013-03-15 | 2014-03-14 | Tunable laser array system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016514828A true JP2016514828A (ja) | 2016-05-23 |
JP6450743B2 JP6450743B2 (ja) | 2019-01-09 |
Family
ID=51525855
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016503173A Active JP6450743B2 (ja) | 2013-03-15 | 2014-03-14 | 可変レーザアレイシステム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9696132B2 (ja) |
EP (1) | EP2967469B1 (ja) |
JP (1) | JP6450743B2 (ja) |
CN (1) | CN105263415B (ja) |
CA (1) | CA2907165C (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018018946A (ja) * | 2016-07-27 | 2018-02-01 | 富士ゼロックス株式会社 | レーザ部品、レーザ光発生装置及び光干渉断層計 |
JP2020504652A (ja) * | 2016-12-21 | 2020-02-13 | アキュセラ インコーポレイテッド | 家庭ベース眼科アプリケーションのための小型化された移動式低コスト光干渉断層撮影システム |
JP2020067344A (ja) * | 2018-10-23 | 2020-04-30 | 国立大学法人埼玉大学 | 光学特性測定装置 |
WO2020230329A1 (ja) * | 2019-05-16 | 2020-11-19 | 日本電気株式会社 | 光干渉断層撮像装置、撮像方法、及び、撮像プログラムが格納された非一時的なコンピュータ可読媒体 |
US11357401B2 (en) | 2018-06-20 | 2022-06-14 | Acucela Inc. | Miniaturized mobile, low cost optical coherence tomography system for home based ophthalmic applications |
US11393094B2 (en) | 2020-09-11 | 2022-07-19 | Acucela Inc. | Artificial intelligence for evaluation of optical coherence tomography images |
US11497396B2 (en) | 2021-03-24 | 2022-11-15 | Acucela Inc. | Axial length measurement monitor |
US11684254B2 (en) | 2020-08-04 | 2023-06-27 | Acucela Inc. | Scan pattern and signal processing for optical coherence tomography |
US11730363B2 (en) | 2019-12-26 | 2023-08-22 | Acucela Inc. | Optical coherence tomography patient alignment system for home based ophthalmic applications |
US11911105B2 (en) | 2020-09-30 | 2024-02-27 | Acucela Inc. | Myopia prediction, diagnosis, planning, and monitoring device |
US11974807B2 (en) | 2020-08-14 | 2024-05-07 | Acucela Inc. | System and method for optical coherence tomography a-scan decurving |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101622026B1 (ko) * | 2014-07-03 | 2016-05-17 | 한양대학교 산학협력단 | 저 결맞음 간섭계 기반 단층 촬영 장치 |
US9972971B2 (en) * | 2015-07-13 | 2018-05-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Surface emitting laser, information acquisition apparatus, and imaging apparatus |
US9915520B2 (en) | 2015-09-14 | 2018-03-13 | Thorlabs, Inc. | Apparatus and methods for one or more wavelength swept lasers and the detection of signals thereof |
CN106290258A (zh) * | 2016-09-22 | 2017-01-04 | 天津大学 | 光学相干层析系统中光谱信息的分段并行采集系统及方法 |
DE102017205144B4 (de) | 2017-03-27 | 2019-03-14 | Jenoptik Laser Gmbh | Oberflächenemittierender Halbleiterlaser mit veränderlicher Wellenzahl |
US11035797B2 (en) | 2017-04-28 | 2021-06-15 | Biospex, Inc. | Hybrid time-resolved and time-shifted spectroscopy for measuring biological analytes |
US10849547B2 (en) * | 2017-05-04 | 2020-12-01 | Junebrain, Inc. | Brain monitoring system |
JP6765579B2 (ja) * | 2018-05-24 | 2020-10-07 | 三菱電機株式会社 | 光測距装置及び加工装置 |
US11721533B1 (en) | 2018-07-31 | 2023-08-08 | Inspectir Systems, Llc | Techniques for rapid detection and quantitation of volatile organic compounds (VOCS) using breath samples |
US11662340B1 (en) | 2018-07-31 | 2023-05-30 | InspectIR Systems, Inc. | Techniques for rapid detection and quantitation of volatile organic compounds (VOCS) using breath samples |
US11841372B1 (en) | 2018-07-31 | 2023-12-12 | Inspectir Systems, Llc | Techniques for rapid detection and quantitation of volatile organic compounds (VOCs) using breath samples |
US11841359B1 (en) | 2018-07-31 | 2023-12-12 | Inspectir Systems, Llc | Techniques for portable rapid detection and quantitation of volatile organic compounds (VOCS) using breath samples |
US11879890B1 (en) * | 2018-07-31 | 2024-01-23 | Inspectir Systems, Llc | Techniques for rapid detection and quantitation of volatile organic compounds (VOCS) using breath samples |
US11874270B1 (en) | 2018-07-31 | 2024-01-16 | Inspectir Systems, Llc | Techniques for rapid detection and quantitation of volatile organic compounds (VOCs) using breath samples |
CN110961039B (zh) * | 2018-09-28 | 2022-07-01 | 铠柏科技有限公司 | 激光加热腔体系统 |
EP3637043A1 (en) * | 2018-10-09 | 2020-04-15 | Renishaw PLC | Non-contact tool measurement apparatus |
JP7188747B2 (ja) * | 2018-12-05 | 2022-12-13 | 株式会社トーメーコーポレーション | 眼科装置 |
US10760969B1 (en) | 2019-02-28 | 2020-09-01 | Biospex, Inc. | Fluorescence and systemic noise reduction in time-gated spectroscopy |
US11326944B2 (en) | 2019-07-12 | 2022-05-10 | Biospex, Inc. | Wearable spectrometer with filtered sensor |
US11454540B2 (en) | 2019-07-12 | 2022-09-27 | Biospex, Inc. | Wearable spectroscopy using filtered sensor |
CN111175722A (zh) * | 2020-01-20 | 2020-05-19 | 北京电子工程总体研究所 | 一种基于激光自混合技术的自动测距测量系统及方法 |
Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20020075929A1 (en) * | 2000-12-19 | 2002-06-20 | Cunningham John E. | Vertical cavity surface emitting laser (vcsel) |
JP2002535695A (ja) * | 1999-01-11 | 2002-10-22 | ライトロジック・インコーポレーテッド | オプトエレクトロニクス・アセンブリを構築する方法 |
JP2002544674A (ja) * | 1999-04-27 | 2002-12-24 | ゴア エンタープライズ ホールディングス,インコーポレイティド | 長波長垂直方向キャビティレーザーの波長分別多重方式アレイ |
US20030007533A1 (en) * | 2001-07-09 | 2003-01-09 | Motorola, Inc. | Optically tuned transistor |
JP2004140371A (ja) * | 2002-10-16 | 2004-05-13 | Eastman Kodak Co | 波長可変有機vcselシステム |
US6741629B1 (en) * | 2000-09-22 | 2004-05-25 | Blueleaf, Inc. | Optical transmitter having optically pumped vertical external cavity surface emitting laser |
US20070183643A1 (en) * | 2006-01-20 | 2007-08-09 | Vijaysekhar Jayaraman | System for swept source optical coherence tomography |
JP2008283722A (ja) * | 2008-08-11 | 2008-11-20 | Fujitsu Ltd | 遠隔励起方式の波長多重光伝送システム |
US20110157597A1 (en) * | 2009-12-30 | 2011-06-30 | Industrial Technology Research Institute | Swept source optical coherence tomography (ss-oct) system and method for processing optical imaging data |
JP2011205076A (ja) * | 2010-03-04 | 2011-10-13 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 半導体発光素子およびその製造方法 |
US20120162659A1 (en) * | 2010-12-28 | 2012-06-28 | Axsun Technologies, Inc. | Integrated Dual Swept Source for OCT Medical Imaging |
JP2012161610A (ja) * | 2011-02-04 | 2012-08-30 | Haag-Streit Ag | 周波数領域oct |
JP2012523104A (ja) * | 2009-04-03 | 2012-09-27 | エグザロス・アクチェンゲゼルシャフト | 光源および光干渉断層モジュール |
US20130016360A1 (en) * | 2011-07-14 | 2013-01-17 | Global Test, Inc. | System and method for improved resolution, higher scan speeds and reduced processing time in scans involving swept-wavelength interferometry |
US20130044772A1 (en) * | 2011-07-22 | 2013-02-21 | Insight Photonic Solutions, Inc. | System and method for multiple laser sources using high semiconductor optical amplifier extinction |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4991179A (en) | 1989-04-26 | 1991-02-05 | At&T Bell Laboratories | Electrically pumped vertical cavity laser |
US6324192B1 (en) | 1995-09-29 | 2001-11-27 | Coretek, Inc. | Electrically tunable fabry-perot structure utilizing a deformable multi-layer mirror and method of making the same |
US5754578A (en) | 1996-06-24 | 1998-05-19 | W. L. Gore & Associates, Inc. | 1250-1650 nm vertical cavity surface emitting laser pumped by a 700-1050 nm vertical cavity surface emitting laser |
US6674785B2 (en) | 2000-09-21 | 2004-01-06 | Ricoh Company, Ltd. | Vertical-cavity, surface-emission type laser diode and fabrication process thereof |
US6546029B2 (en) | 2001-03-15 | 2003-04-08 | Ecole Polytechnique Federale De Lausanne | Micro-electromechanically tunable vertical cavity photonic device and a method of fabrication thereof |
US6980572B2 (en) * | 2002-05-28 | 2005-12-27 | The Regents Of The University Of California | Wavelength selectable light source |
US7369583B2 (en) | 2004-06-07 | 2008-05-06 | Innolume Gmbh | Electrooptically wavelength-tunable resonant cavity optoelectronic device for high-speed data transfer |
US20130003077A1 (en) | 2010-03-31 | 2013-01-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Tomographic imaging apparatus and control apparatus for tomographic imaging apparatus |
CN104685736B (zh) | 2012-07-27 | 2017-11-14 | 统雷有限公司 | 偏振稳定的宽可调谐短腔激光器 |
US10215551B2 (en) * | 2012-07-27 | 2019-02-26 | Praevium Research, Inc. | Agile imaging system |
JP2014060384A (ja) | 2012-08-23 | 2014-04-03 | Canon Inc | 面発光レーザー、光源装置、光源装置の駆動方法及び光干渉断層撮像装置 |
-
2014
- 2014-03-14 CA CA2907165A patent/CA2907165C/en active Active
- 2014-03-14 CN CN201480028463.7A patent/CN105263415B/zh active Active
- 2014-03-14 EP EP14764914.9A patent/EP2967469B1/en active Active
- 2014-03-14 US US14/214,425 patent/US9696132B2/en active Active
- 2014-03-14 JP JP2016503173A patent/JP6450743B2/ja active Active
Patent Citations (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002535695A (ja) * | 1999-01-11 | 2002-10-22 | ライトロジック・インコーポレーテッド | オプトエレクトロニクス・アセンブリを構築する方法 |
JP2002544674A (ja) * | 1999-04-27 | 2002-12-24 | ゴア エンタープライズ ホールディングス,インコーポレイティド | 長波長垂直方向キャビティレーザーの波長分別多重方式アレイ |
US6741629B1 (en) * | 2000-09-22 | 2004-05-25 | Blueleaf, Inc. | Optical transmitter having optically pumped vertical external cavity surface emitting laser |
US20020075929A1 (en) * | 2000-12-19 | 2002-06-20 | Cunningham John E. | Vertical cavity surface emitting laser (vcsel) |
US20030007533A1 (en) * | 2001-07-09 | 2003-01-09 | Motorola, Inc. | Optically tuned transistor |
JP2004140371A (ja) * | 2002-10-16 | 2004-05-13 | Eastman Kodak Co | 波長可変有機vcselシステム |
US20070183643A1 (en) * | 2006-01-20 | 2007-08-09 | Vijaysekhar Jayaraman | System for swept source optical coherence tomography |
JP2008283722A (ja) * | 2008-08-11 | 2008-11-20 | Fujitsu Ltd | 遠隔励起方式の波長多重光伝送システム |
JP2012523104A (ja) * | 2009-04-03 | 2012-09-27 | エグザロス・アクチェンゲゼルシャフト | 光源および光干渉断層モジュール |
US20110157597A1 (en) * | 2009-12-30 | 2011-06-30 | Industrial Technology Research Institute | Swept source optical coherence tomography (ss-oct) system and method for processing optical imaging data |
JP2011205076A (ja) * | 2010-03-04 | 2011-10-13 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 半導体発光素子およびその製造方法 |
US20120162659A1 (en) * | 2010-12-28 | 2012-06-28 | Axsun Technologies, Inc. | Integrated Dual Swept Source for OCT Medical Imaging |
JP2012161610A (ja) * | 2011-02-04 | 2012-08-30 | Haag-Streit Ag | 周波数領域oct |
US20130016360A1 (en) * | 2011-07-14 | 2013-01-17 | Global Test, Inc. | System and method for improved resolution, higher scan speeds and reduced processing time in scans involving swept-wavelength interferometry |
US20130044772A1 (en) * | 2011-07-22 | 2013-02-21 | Insight Photonic Solutions, Inc. | System and method for multiple laser sources using high semiconductor optical amplifier extinction |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
POTSAID, B. ET AL.: "MEMS tunable VCSEL light source for ultrahigh speed 60kHz - 1MHz axial scan rate and long range cent", PROC. OF SPIE, vol. 8213, JPN7018000252, 2012, pages 82130 - 1, ISSN: 0003729147 * |
Cited By (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018018946A (ja) * | 2016-07-27 | 2018-02-01 | 富士ゼロックス株式会社 | レーザ部品、レーザ光発生装置及び光干渉断層計 |
JP2020504652A (ja) * | 2016-12-21 | 2020-02-13 | アキュセラ インコーポレイテッド | 家庭ベース眼科アプリケーションのための小型化された移動式低コスト光干渉断層撮影システム |
US11890053B2 (en) | 2016-12-21 | 2024-02-06 | Acucela Inc. | Miniaturized mobile, low cost optical coherence tomography system for home based ophthalmic applications |
JP7019700B2 (ja) | 2016-12-21 | 2022-02-15 | アキュセラ インコーポレイテッド | 網膜の厚さを測定するための光干渉断層撮影(oct)システム |
JP2022062160A (ja) * | 2016-12-21 | 2022-04-19 | アキュセラ インコーポレイテッド | 網膜の厚さを測定するための光干渉断層撮影(oct)システム |
US11896308B2 (en) | 2018-06-20 | 2024-02-13 | Acucela Inc. | Miniaturized mobile, low cost optical coherence tomography system for home based ophthalmic applications |
US11576572B2 (en) | 2018-06-20 | 2023-02-14 | Acucela Inc. | Miniaturized mobile, low cost optical coherence tomography system for home based ophthalmic applications |
US11357401B2 (en) | 2018-06-20 | 2022-06-14 | Acucela Inc. | Miniaturized mobile, low cost optical coherence tomography system for home based ophthalmic applications |
JP7129061B2 (ja) | 2018-10-23 | 2022-09-01 | 国立大学法人埼玉大学 | 光学特性測定装置 |
JP2020067344A (ja) * | 2018-10-23 | 2020-04-30 | 国立大学法人埼玉大学 | 光学特性測定装置 |
JPWO2020230329A1 (ja) * | 2019-05-16 | 2020-11-19 | ||
WO2020230329A1 (ja) * | 2019-05-16 | 2020-11-19 | 日本電気株式会社 | 光干渉断層撮像装置、撮像方法、及び、撮像プログラムが格納された非一時的なコンピュータ可読媒体 |
JP7211497B2 (ja) | 2019-05-16 | 2023-01-24 | 日本電気株式会社 | 光干渉断層撮像装置、撮像方法、及び、撮像プログラム |
US11730363B2 (en) | 2019-12-26 | 2023-08-22 | Acucela Inc. | Optical coherence tomography patient alignment system for home based ophthalmic applications |
US11684254B2 (en) | 2020-08-04 | 2023-06-27 | Acucela Inc. | Scan pattern and signal processing for optical coherence tomography |
US11974807B2 (en) | 2020-08-14 | 2024-05-07 | Acucela Inc. | System and method for optical coherence tomography a-scan decurving |
US11620749B2 (en) | 2020-09-11 | 2023-04-04 | Acucela Inc. | Artificial intelligence for evaluation of optical coherence tomography images |
US11798164B2 (en) | 2020-09-11 | 2023-10-24 | Acucela Inc. | Artificial intelligence for evaluation of optical coherence tomography images |
US11393094B2 (en) | 2020-09-11 | 2022-07-19 | Acucela Inc. | Artificial intelligence for evaluation of optical coherence tomography images |
US11911105B2 (en) | 2020-09-30 | 2024-02-27 | Acucela Inc. | Myopia prediction, diagnosis, planning, and monitoring device |
US11779206B2 (en) | 2021-03-24 | 2023-10-10 | Acucela Inc. | Axial length measurement monitor |
US11497396B2 (en) | 2021-03-24 | 2022-11-15 | Acucela Inc. | Axial length measurement monitor |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2967469A2 (en) | 2016-01-20 |
CN105263415A (zh) | 2016-01-20 |
CN105263415B (zh) | 2019-12-03 |
CA2907165A1 (en) | 2014-09-18 |
US20140268050A1 (en) | 2014-09-18 |
EP2967469B1 (en) | 2021-11-24 |
JP6450743B2 (ja) | 2019-01-09 |
CA2907165C (en) | 2022-08-23 |
EP2967469A4 (en) | 2016-11-16 |
US9696132B2 (en) | 2017-07-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6450743B2 (ja) | 可変レーザアレイシステム | |
WO2014144998A2 (en) | Tunable laser array system | |
JP6245698B2 (ja) | Oct医用画像化のための制御されたモード同期を有するレーザ掃引光源 | |
US9800019B2 (en) | System and method for stabilizing mode locked swept laser for OCT medical imaging | |
US9696471B2 (en) | Filtered ASE swept source for OCT medical imaging | |
US8526472B2 (en) | ASE swept source with self-tracking filter for OCT medical imaging | |
JP6298471B2 (ja) | 位相感知の干渉信号サンプリングを用いるoctシステム | |
US9593934B2 (en) | Integrated dual swept source for OCT medical imaging | |
US9574869B2 (en) | Integrated dual swept source alternating same scan band for OCT medical imaging | |
EP2936629B1 (en) | Oct system with bonded mems tunable mirror vcsel swept source | |
US8922782B2 (en) | OCT medical imaging system using gain waveguide array swept source | |
JP6280924B2 (ja) | 柔軟なデータ取得のための同調可能クロックシステムを用いるoctシステム | |
US20110292399A1 (en) | Discrete Spectrum Broadband Optical Source | |
US20130308136A1 (en) | Regenerative Mode Locked Laser Swept Source for OCT Medical Imaging | |
JP6824605B2 (ja) | 増幅素子、光源装置及び撮像装置 | |
JP2011196771A (ja) | 光干渉断層撮像装置 | |
Zhang et al. | Ultrahigh-sensitivity wideband Fabry-Perot ultrasound sensors as an alternative to piezoelectric PVDF transducers for biomedical photoacoustic detection | |
JP2015017966A (ja) | 撮像装置および撮像方法 | |
US20140085639A1 (en) | Laser Swept Source with Controlled Mode Locking for OCT Medical Imaging | |
JP2013239710A (ja) | 波長可変光を出力する方法及び光出力装置、光干渉断層撮影装置、並びにコンピュータ読み取り可能な記録媒体 | |
US20140218741A1 (en) | OCT Swept Laser with Cavity Length Compensation | |
US20130169973A1 (en) | Optical coherence tomography apparatus and method | |
JP6679340B2 (ja) | 光干渉断層計 | |
JP5730076B2 (ja) | 光源装置、検査装置及び光干渉断層撮像装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170313 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20171220 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180130 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20180427 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20180629 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180727 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20181113 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20181210 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6450743 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |