JP2016204175A - 次亜塩素酸塩水溶液の製造方法 - Google Patents

次亜塩素酸塩水溶液の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2016204175A
JP2016204175A JP2015084058A JP2015084058A JP2016204175A JP 2016204175 A JP2016204175 A JP 2016204175A JP 2015084058 A JP2015084058 A JP 2015084058A JP 2015084058 A JP2015084058 A JP 2015084058A JP 2016204175 A JP2016204175 A JP 2016204175A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
aqueous solution
hypochlorite aqueous
storage tank
hypochlorite
line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015084058A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6530225B2 (ja
Inventor
浩次 河村
Koji Kawamura
浩次 河村
宮崎 幸二郎
Kojiro Miyazaki
幸二郎 宮崎
正之 森脇
Masayuki Moriwaki
正之 森脇
大 角田
Masaru Tsunoda
大 角田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokuyama Corp
Original Assignee
Tokuyama Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokuyama Corp filed Critical Tokuyama Corp
Priority to JP2015084058A priority Critical patent/JP6530225B2/ja
Publication of JP2016204175A publication Critical patent/JP2016204175A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6530225B2 publication Critical patent/JP6530225B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Treatment Of Water By Oxidation Or Reduction (AREA)

Abstract

【課題】 水、アルカリ源及び塩素源より、殺菌水として有効な、特定のpHを有する次亜塩素酸塩水溶液を安全かつ簡便な方法で安定的に製造する。【解決手段】 次亜塩素酸塩水溶液を貯槽14に収容する製品貯蔵工程、及び、前記貯槽に収容された次亜塩素酸塩水溶液を該貯槽の外部で循環する循環ライン15を有し、該循環ラインに、前記原料を供給して混合し、次亜塩素酸塩水溶液を調製する次亜塩素酸塩水溶液調製工程、前記循環ラインを流れる次亜塩素酸塩水溶液に、前記貯槽の気相部に存在するガスをガス抽気ライン25により抽気して接触せしめる気相部除害工程、前記貯槽又は循環ラインの次亜塩素酸塩水溶液の一部を取出ライン21より系外に取り出す製品取出工程、及び、前記取出ラインに至る次亜塩素酸塩水溶液のpHが4〜7となるように、原料の供給割合を制御するpH調整工程、を含むことを特徴とする。【選択図】 図1

Description

本発明は、低pHの次亜塩素酸塩水溶液の新規な製造方法に関する。詳しくは、水、アルカリ源及び塩素源を含む原料を使用して上記次亜塩素酸塩水溶液を製造する方法において、塩素ガスが系外に漏洩することが無く、また、塩素ガスの発生の無い、安全な次亜塩素酸塩水溶液を安定して、且つ、低コストで製造する方法を提供するものである。
近年、pHが4〜7に調整された次亜塩素酸塩水溶液はウイルス等に対する殺菌効果に優れていることから、広く注目されるようになり、市場拡大が見込まれる。
従来、上記pH調整された次亜塩素酸塩水溶液の製造方法として、水道水等の原水に次亜塩素酸ナトリウムと塩酸などの酸性液を前記pHとなるように添加・混合することにより、優れた殺菌能力を有する次亜塩素酸塩水溶液を製造することは公知である。例えば、次亜塩素酸ナトリウム水溶液と酸性水溶液の流量を設定し、十分な混合を行うために混合部に多数の邪魔板を設置した複雑な混合器を用いる方法(特許文献1参照)、次亜塩素酸ナトリウムを希釈調整後に、酸性水溶液を段階的に希釈する製造方法(特許文献2参照)等が提案されている。
しかしながら、特許文献1の方法では次亜塩素酸ナトリウム水溶液と酸性水溶液の流量が決められているため、装置の故障等により原料バランスが一時的に崩れ、生成する次亜塩素酸塩水溶液のpHが前記範囲の下限値未満、特に、2以下となった場合、多量の塩素ガスが発生した状態でかかる次亜塩素酸ナトリウム水溶液が散布されることとなり、使用における危険性が懸念される。また、多数の邪魔板を設置した複雑な混合器を用いることで、高コストとなることに加えて、複雑な装置の補修等の費用がかかることも課題の一つであった。
また、特許文献2の方法では、段階的に希釈する必要があり、そのための制御システムが煩雑化するとともに、それぞれの段階で貯槽を必要とするため、設備が大型化するのみでなく、pH制御のハンチングや制御システムの故障等により貯槽内のpHが一時的に低下した場合に発生する塩素ガスが、貯槽の気相部より漏洩したり、気相部から次亜塩素酸塩水溶液中に溶け込み、散布される次亜塩素酸塩水溶液から揮散したりすることが懸念される。
特開平11−188083号公報 特開2002−273452号公報
そこで、本発明は、このような課題を解決するために改良された製造方法であって、塩素ガスが系外に漏洩することが無く、また、塩素ガスの発生の無い、安全な次亜塩素酸塩水溶液を安定して、且つ、低コストで製造する方法を提供することを目的とする。
本発明者らは、上記目的を達成すべく鋭意検討を重ねた結果、次亜塩素酸塩水溶液を貯蔵する貯槽に、その外部で次亜塩素酸塩水溶液を循環する循環ラインを設け、該循環ラインにおいて、原料の供給、混合を行い、次亜塩素酸塩水溶液生成とpH調整を行うと共に、前記貯槽の気相部を抽気し、前記循環ラインを流れる次亜塩素酸塩水溶液に抽気したガスを接触させて、上記気相部に存在する塩素ガスを常時無害化処理できるようにすることにより、貯槽に存在する次亜塩素酸塩水溶液中における塩素ガスの溶存を防止し、且つ、装置からの塩素ガスの漏洩をも防止できることを見出し、本発明を完成するに至った。
即ち、本発明は、(A)次亜塩素酸塩水溶液を貯槽に収容する製品貯蔵工程、及び、(B)前記貯槽に収容された次亜塩素酸塩水溶液を該貯槽の外部で循環する循環ラインを有し、該循環ラインに原料を供給、混合して次亜塩素酸塩水溶液を調製する次亜塩素酸塩水溶液調製工程、(C)前記循環ラインを流れる次亜塩素酸塩水溶液に、前記貯槽の気相部に存在するガスを抽気して接触せしめる気相部除害工程、(D)前記貯槽又は循環ラインに取出ラインを有し、次亜塩素酸塩水溶液の一部を系外に取り出す製品取出工程、及び、(E)前記取出ラインに至る次亜塩素酸塩水溶液のpHが4〜7となるように、原料の供給割合を制御するpH調整工程、を含むことを特徴とする次亜塩素酸塩水溶液の製造方法である。
前記次亜塩素酸塩水溶液調製工程において、次亜塩素酸塩水溶液の循環ラインにエジェクターを設けて原料の混合を行うと共に、前記貯槽の気相部に存在するガスの抽気を行うことは好ましい態様である。
また、pH調整工程において、pHが4〜7の範囲を外れた場合、取出ラインを閉とする緊急遮断工程を設けること、前記循環工程における液循環量が、貯槽の容積(Vm)に対して、0.2V/時間〜30V/時間になるように行うことも、好ましい対応である。
本発明によれば、原料のバランスが一時的に崩れるなどにより、生成する次亜塩素酸塩水溶液のpHが低下し、次亜塩素酸塩水溶液から塩素ガスが発生した場合においても、貯槽の気相部のガスを常時抽気し、循環ラインを流れる次亜塩素酸塩水溶液と接触させて無害化しているため、周囲への塩素ガスの漏洩のおそれがない。また、塩素ガスの発生の無い、安全な次亜塩素酸塩水溶液を安定して、且つ、低コストで製造することが可能となる。
本発明の方法を実施するために使用する装置の概略図を示す。
以下、本発明の次亜塩素酸塩水溶液の製造方法の代表的な態様を示す図1に従って、本発明を詳細に説明する。
(A)製品貯蔵工程
本発明の製品貯蔵工程において、次亜塩素酸塩水溶液を収容する貯槽14は、後述する気相部のガスを抽気するために、密閉系の容器が一般に使用される。また、かかる貯槽は、内壁が次亜塩素酸塩水溶液の分解が生じないような材質で構成されているものであれば特に制限されず、一般には、ステンレス、銅などの金属製の容器の内壁に樹脂ライニング等を施したものが好適である。更に、貯槽の容量は必要とする次亜塩素酸の量に合わせて適宜決定すればよいが、0.01〜10mが一般的である。
(B)次亜塩素酸塩水溶液調製工程
本発明の特徴の一つは、前記貯槽14に収容された次亜塩素酸塩水溶液を該貯槽の外部で循環する循環ライン15を設け、これに原料を供給、混合し、次亜塩素酸塩水溶液を調製する次亜塩素酸塩水溶液調製工程を設け、生成した次亜塩素酸塩水溶液を含む次亜塩素酸塩水溶液を貯槽に戻す点にある。即ち、かかる循環ライン14を循環する次亜塩素酸塩水溶液に、次亜塩素酸塩水溶液調製工程により調製された次亜塩素酸塩水溶液を追加するようにしたことにより、ワンパスで次亜塩素酸塩水溶液を調製するより、安定して次亜塩素酸塩水溶液を得ることが可能となる。
上記液循環ライン15の液の循環は、ポンプを使用して行うことができるが、その循環量は、貯槽の容積(Vm)に対して、0.2V/時間〜30V/時間、特に、0.5V/時間〜20V/時間となるように設定することが好ましい。即ち、液循環量を少な過ぎると、抽気するガスの処理が不十分となり、また、貯槽中の次亜塩素酸塩水溶液を均一に維持することが困難となる。反対に、液循環量が多過ぎると、循環に必要な動力が大きくなるため経済的に不利となる。
また、上記循環ラインは、貯槽内の次亜塩素酸塩水溶液ができるだけ均一になるようにその取出口と戻し口とを設置することが好ましい。具体的には、該貯槽の底部に循環ラインの液取出口を、該貯槽の上部に戻し口を設けて液が貯槽外部で循環するようにする態様があげられる。特に、上記貯槽の上部に設ける戻し口は、貯槽の気相部に対して開口した位置に設けることが好ましい。ここで、23は貯槽液面計であり、液面制御装置24によって原料の供給量を制御する。
本発明において、前記次亜塩素酸塩水溶液調製工程における原料は、次亜塩素酸塩水溶液を生成し、後述するpH調製工程でのpH調整が可能な組合せにおいて、公知の原料が特に制限されず使用される。例えば、アルカリ源、及び、塩素ガスの組合せ、次亜塩素酸ナトリウムなどの次亜塩素酸塩と塩酸などの酸との組合せ、などが挙げられる。尚、原料として必要な水は、単独で、及び/又は、上記原料を溶解した状態で供給すればよい。
上記原料として次亜塩素酸塩を使用する場合、該次亜塩素酸塩はアルカリと塩素ガスを混合することで生成する次亜塩素酸塩でもよいが、純度の高い次亜塩素酸塩水溶液を得たい場合には、アルカリ塩、具体的には塩化ナトリウム、塩化カルシウム等を低減したものは有用である。また、次亜塩素酸五水和物に代表される次亜塩素酸水和物を用いることも可能である。一般的に次亜塩素酸水和物は塩素酸、臭素酸等の不純物を低減する事が可能であり、より純度の高い次亜塩素酸塩水溶液を得たい場合には有効である。
図1は、原料としてアルカリ源、及び、塩素ガスを使用した次亜塩素酸塩水溶液調製工程を示すものであり、水を所定流量になるように供給し、水流量に対して製造する次亜塩素酸塩水溶液が所定濃度になるように塩素ガス流量を調整する。使用する塩素ガスは特に制約はないが、一般的に液化塩素ガスボンベに圧力調整器を設置して、0.1〜0.3MPaG程度の圧力に調整したものを使用するのが一般的である。
製造する次亜塩素酸塩水溶液濃度は殺菌用途等で使用する場合、一般的な次亜塩素酸塩水溶液濃度は1〜1000ppmw程度であり、目的とする次亜塩素酸塩水溶液濃度を設定して、水流量に対して塩素ガス流量を調整すればよい。
上記塩素ガス供給後、次亜塩素酸塩水溶液を製造するために、アルカリ源が供給される。アルカリ供給後は生成する次亜塩素酸塩水溶液が均一になるように、混合器で混合を行う。上記混合に使用する混合器に特に制約はなく、一般的に使用されているエジェクター、板状またはカップ状の衝突板型の静止型混合器、Kenics型、Sulzer型等が使用できる。
また、前記アルカリ源は特に制限されないが、一般的には、アルカリ金属水酸化物、アルカリ土類金属水酸化物が使用できる。アルカリ金属水酸化物としては水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、アルカリ土類金属水酸化物としては水酸化カルシウム等が使用できる。また、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム等の炭酸塩はpH調整機能があるので、アルカリの一部として使用することができる。
図1に示す次亜塩素酸塩水溶液調製工程において、循環ライン15の液の循環は、循環ポンプ16を用いて行われ、所定の循環流量になるように循環流量計17、循環制御装置18で制御される。また、原料の供給、混合は、上記循環ライン15に、水ライン1から供給される原水の流量を、水流量計3を用いて測定し、水制御装置4で水調整バルブ2を調節して所定流量になるように供給する。使用する塩素ガスは塩素ガス供給ライン5から塩素ガス調整バルブ6、塩素ガス流量計7を用いて塩素ガス流量装置8で、水流量に対して製造する次亜塩素酸塩水溶液が所定濃度になるように塩素ガス流量を調整する。塩素ガス供給後、次亜塩素酸塩を生成せしめるために、アルカリをアルカリ供給ライン9よりアルカリ調整バルブ10を用いて供給し、混合器11で混合して、次亜塩素酸塩水溶液を調製する。
(C)気相部除害工程
本発明の製造方法の最大の特徴は、前記貯槽14の気相部に存在するガスを抽気して接触せしめる気相部除害工程を設けた点にある。かかる工程を設けることにより、原料バランスが一時的に崩れ、生成する次亜塩素酸塩水溶液のpHが低くなり、次亜塩素酸塩水溶液から発生した塩素ガスは、貯槽の気相部より抽気され、前記循環ラインを流れる次亜塩素酸塩水溶液と接触させて除去されるため、装置からの塩素ガスの漏洩を効果的に防止できる。また、貯槽に存在する次亜塩素酸塩水溶液への塩素の溶解をも効果的に防止することができる。
気相部除害工程において、貯槽14の気相部のガスは、抽気ライン25より抽気され、循環ライン15に供給される。上記ガスの抽気には、前記貯槽の気相部から前記循環ラインにガスを抽気して送れる公知の装置、例えば、コンプレッサー等のガスの吸引、排気装置が使用されるが、本発明において、特に好適な装置は、次亜塩素酸塩水溶液調製工程において、原料の混合器として使用されるエジェクターである。即ち、一般的な混合器を用いる場合は次亜塩素酸塩水溶液貯槽の気相部に存在するガスの抽気を行うために、コンプレッサー等のガスを供給する機器が別途必要であるが、エジェクターを用いれば、循環ラインにおける原料の混合を行うと同時に、同時に、ガスの抽気を行うことができ、より簡単な装置構成で次亜塩素酸塩水溶液の製造が可能となる。
図1において、気相部除害工程は、貯槽14のガス相を抽気ライン25より抽気して混合器であるエジェクター11に供給される。
(D)製品取出工程
本発明において、製品取出工程は、前記貯槽又は循環ラインに取出ライン21を設け、pH調整された次亜塩素酸塩水溶液の一部を系外に取り出す工程である。次亜塩素酸水溶液を殺菌剤として使用する場合、取出ラインより直接散布しても良いし、別の容器に取り出して散布してもよい。
図1において、前記循環ラインには次亜塩素酸塩水溶液貯槽に底部に設置した貯槽内pH計19、貯槽内pH制御装置20により、製造した次亜塩素酸塩水溶液が所定のpHになっていることを確認して、次亜塩素酸塩水溶液排出ライン21を通して次亜塩素酸塩水溶液排出バルブ22を開いて製造した次亜塩素酸塩水溶液を取り出す。
(E)pH調整工程
本発明において、製造する次亜塩素酸塩水溶液のpHは殺菌効果を発揮するために、pHとして4〜7に制御することが重要であり、pH調整工程は、前記取出ライン21に至る次亜塩素酸塩水溶液のpHがかかる範囲となるように、原料の供給割合を制御する工程である。
図1においては、循環する次亜塩素酸塩水溶液が所定のpHになるように貯槽供給pH計12で測定し、貯槽供給pH計制御装置13で前記アルカリの供給量を制御して、次亜塩素酸塩水溶液貯槽14に供給する。
(緊急遮断工程)
本発明において、前記pH調整工程において、測定される次亜塩素酸塩水溶液のpHが4〜7の範囲を外れた場合、取出ラインを閉とする緊急遮断工程を設けることが、使用する次亜塩素酸塩水溶液から塩素ガスが発生する事故をより効果的に防止するために好ましい。図1において、貯槽14の底部に設置された貯槽内pH計19により異常を検出した場合、次亜塩素酸塩水溶液の抜出ライン21の弁22を閉とする緊急遮断システムが作動する。これにより、次亜塩素酸塩水溶液の貯槽を含むラインが完全に密封系となり、周囲への塩素ガスの漏洩を防ぐこともできる。
以下、本発明を具体的に説明するため、実施例を示すが、本発明はこれらの実施例のみに制限されるものではない。
実施例1
図1の装置を用いて次亜塩素酸塩水溶液を製造した。
水供給ライン(1)から水流量調整バルブ(2)を用いて水流量計(3)で測定しながら、水制御装置(4)で制御して20L/h供給した。この水に相当する塩素ガスは塩素ガス供給ライン(5)から塩素ガス流量調整バルブ(6)で塩素ガス流量計(7)を用いて、塩素ガス制御装置(8)で水流量に相当する1.2NL/hで供給した。この後、20wt%の水酸化ナトリウム溶液をアルカリ供給ライン(9)からアルカリ調整バルブ(10)を用いて10.7g/h供給した。水酸化ナトリウムは混合器(11)としてエジェクターで次亜塩素酸塩水溶液貯槽(14)、容積20Lの上部のガス相を吸引しながら混合され貯槽供給pH計(12)でpH測定して、貯槽供給pH制御装置(13)で目的のpH5になるようにアルカリ調整バルブ(10)で調整した。pH調整された次亜塩素酸塩水溶液は次亜塩素酸塩水溶液貯槽(14)に貯槽されるとともに、循環ライン(15)により、循環ポンプ(16)を用いて循環流量計(17)で150L/hになるように循環制御装置(18)で流量調整しながら循環した。循環液には、水、塩素ガスの順で供給した。生成した次亜塩素酸塩水溶液は貯槽内pH計(19)でpH5に調整されていることを貯槽内pH制御装置(20)で確認し、次亜塩素酸塩水溶液排出ライン(21)より次亜塩素酸塩水溶液排出バルブ(22)で排出し、次亜塩素酸ナトリウムとして200ppmw、pH5の次亜塩素酸塩水溶液を20L/h得ることができた。生成した次亜塩素酸塩水溶液の気相部を最大1ppmが測定可能な塩素検知管で測定した結果、塩素は検出されなかった。
1・・・水供給ライン
2・・・水調整バルブ
3・・・水流量計
4・・・水制御装置
5・・・塩素ガス供給ライン
6・・・塩素ガス調整バルブ
7・・・塩素ガス流量計
8・・・塩素ガス制御装置
9・・・アルカリ供給ライン
10・・・アルカリ調整バルブ
11・・・混合器
12・・・貯槽供給pH計
13・・・貯槽供給pH制御装置
14・・・貯槽
15・・・循環ライン
16・・・循環ポンプ
17・・・循環流量計
18・・・循環制御装置
19・・・貯槽内pH計
20・・・貯槽内pH制御装置
21・・・取出ライン
22・・・次亜塩素酸塩水溶液排出バルブ
23・・・貯槽液面計
24・・・貯槽液面制御装置
25・・・ガス抽気ライン

Claims (6)

  1. (A)次亜塩素酸塩水溶液を貯槽に収容する製品貯蔵工程、及び、(B)前記貯槽に収容された次亜塩素酸塩水溶液を該貯槽の外部で循環する循環ラインを有し、該循環ラインに原料を供給、混合して次亜塩素酸塩水溶液を調製する次亜塩素酸塩水溶液調製工程、(C)前記循環ラインを流れる液に、前記貯槽の気相部に存在するガスを抽気して接触せしめる気相部除害工程、(D)前記貯槽又は循環ラインに取出ラインを有し、次亜塩素酸塩水溶液の一部を系外に取り出す製品取出工程、及び、(E)前記取出ラインに至る次亜塩素酸塩水溶液のpHが4〜7となるように、原料の供給割合を制御するpH調整工程、を含むことを特徴とする低pH次亜塩素酸塩水溶液の製造方法。
  2. 前記次亜塩素酸塩水溶液調製工程において、次亜塩素酸塩水溶液の循環ラインにエジェクターを設け、該エジェクターにより、原料の混合を行うと共に前記貯槽の気相部に存在するガスの抽気を行う、請求項1に記載の次亜塩素酸塩水溶液の製造方法。
  3. 前記pH調整工程において、測定される次亜塩素酸塩水溶液のpHが4〜7の範囲を外れた場合、取出ラインを閉とする緊急遮断工程を更に含む、請求項1又は2に記載の次亜塩素酸塩水溶液の製造方法。
  4. 前記循環工程における液循環量が、貯槽の容積(Vm)に対して、0.2V/時間〜30V/時間である請求項1〜3のいずれか一項に記載の次亜塩素酸塩水溶液の製造方法。
  5. 原料供給工程において、原料が、水、アルカリ、塩素ガスである請求項1〜4のいずれかの次亜塩素酸塩水溶液の製造方法。
  6. 原料供給工程において、原料が、水、次亜塩素酸アルカリ水溶液、及び酸である請求項1〜4のいずれかの次亜塩素酸塩水溶液の製造方法。
JP2015084058A 2015-04-16 2015-04-16 次亜塩素酸塩水溶液の製造方法 Expired - Fee Related JP6530225B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015084058A JP6530225B2 (ja) 2015-04-16 2015-04-16 次亜塩素酸塩水溶液の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015084058A JP6530225B2 (ja) 2015-04-16 2015-04-16 次亜塩素酸塩水溶液の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2016204175A true JP2016204175A (ja) 2016-12-08
JP6530225B2 JP6530225B2 (ja) 2019-06-12

Family

ID=57486956

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015084058A Expired - Fee Related JP6530225B2 (ja) 2015-04-16 2015-04-16 次亜塩素酸塩水溶液の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6530225B2 (ja)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3791840A (en) * 1970-10-21 1974-02-12 Union Carbide Corp Treatment of carbon fibers to improve shear strength in composites
JPS5496495A (en) * 1977-12-27 1979-07-30 Olin Corp Manufacture of hypochlorous acid
US4744956A (en) * 1986-02-12 1988-05-17 Quantum Technologies, Inc. Continuous reaction of gases with liquids
JPH09505587A (ja) * 1993-11-23 1997-06-03 ザ・ダウ・ケミカル・カンパニー アルキレンオキシドを調整する方法
US20050281731A1 (en) * 2004-06-07 2005-12-22 Powell Technologies Llc Concurrent low-pressure manufacture of hypochlorite
KR100953180B1 (ko) * 2009-05-01 2010-04-15 주식회사 덕영엔지니어링 순수 차아염소산 제조 장치

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3791840A (en) * 1970-10-21 1974-02-12 Union Carbide Corp Treatment of carbon fibers to improve shear strength in composites
JPS5496495A (en) * 1977-12-27 1979-07-30 Olin Corp Manufacture of hypochlorous acid
US4744956A (en) * 1986-02-12 1988-05-17 Quantum Technologies, Inc. Continuous reaction of gases with liquids
JPH09505587A (ja) * 1993-11-23 1997-06-03 ザ・ダウ・ケミカル・カンパニー アルキレンオキシドを調整する方法
US20050281731A1 (en) * 2004-06-07 2005-12-22 Powell Technologies Llc Concurrent low-pressure manufacture of hypochlorite
KR100953180B1 (ko) * 2009-05-01 2010-04-15 주식회사 덕영엔지니어링 순수 차아염소산 제조 장치

Also Published As

Publication number Publication date
JP6530225B2 (ja) 2019-06-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6588768B2 (ja) 電解装置及び電解方法
DK2234927T3 (en) PROCESS FOR THE TREATMENT OF WATER WITH Dioxide
KR101530374B1 (ko) 차아염소산나트륨 저장장치
US20140311897A1 (en) Highly efficient sodium hypochlorite generation apparatus capable of decreasing disinfection by-products
US20130236569A1 (en) Electrochemical device
KR102138641B1 (ko) 염소약품탱크 냉각장치 및 이를 이용한 염소소독 시스템
KR20130108428A (ko) 소형 폐쇄루프(closed-loop) 전기분해 장치 및 방법
JP5410767B2 (ja) 次亜塩素酸水溶液の連続自動生成器
KR101556371B1 (ko) 차아염소산나트륨수 제조장치
KR101564356B1 (ko) 살균제 저장탱크를 가지는 선박 평형수 처리 장치 및 처리 방법
KR101446571B1 (ko) 고농도 및 저농도 차아염소산나트륨수용액 동시 생성장치
KR101763351B1 (ko) 선박 평형수 처리 장치
CA2955135C (en) An electrochlorination apparatus
US11097945B1 (en) Methods and systems for production of an aqueous hypochlorous acid solution
JP2016204175A (ja) 次亜塩素酸塩水溶液の製造方法
US20230055791A1 (en) Method of treating ballast water
US20140332399A1 (en) Low Capacity Sodium Hypochlorite Generation System
EP3802919A1 (en) Industrial process for the production of a koh-based product substantially free from chlorate ions
WO2022091381A1 (ja) 次亜塩素酸水の製造方法及び製造装置
JP2005061636A (ja) ハロゲンガス又はハロゲン含有ガスの供給方法、半導体製造装置のクリーニングルームのクリーニング方法、ハロゲンガス又はハロゲン含有ガスを用いる表面処理方法、半導体製造装置、及び表面処理装置
KR20220062851A (ko) 염소가스 발생장치 및 염소가스 생성방법
WO2022254878A1 (ja) 次亜塩素酸ナトリウム溶液の製造方法および製造装置
IES85649Y1 (en) Electrochemical device
IE20080639U1 (en) Electrochemical device
IES20080637A2 (en) Electrochemical device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20171206

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181211

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190204

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190507

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190516

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6530225

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees