JP2016186707A - デバッグ回路、半導体装置及びデバッグ方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】記憶部2aは、ワード単位で処理を行う回路の信号シーケンスに応じて値が変わる符号化方式で算出され、検出対象シーケンスのうち先頭から最初のワードに収まるシーケンスSaと残りのシーケンスSbを符号化した符号値Aa,Abと、ワード先頭から検出対象シーケンス先頭までのバイト数sofを記憶する。符号値算出部2bは、信号シーケンスに基づきバイトごとの符号値を算出し、第1シーケンス検出部2dは、信号シーケンスのワード内の最後のバイトと、バイト数sofに基づく位置のバイトでの符号値との差分と、符号値Aaとの比較結果に基づきシーケンスSaを検出する。期待値算出部2eは、シーケンスSa検出時の符号値と、符号値Abとに基づき、検出対象シーケンスの終了時の符号値の期待値を算出し、判定部2fは、符号値と期待値との一致時に検出対象シーケンスを検出した旨を出力する。
【選択図】図1
Description
(第1の実施の形態)
図1は、第1の実施の形態の半導体装置、デバッグ回路及びデバッガ装置の一例を示す図である。
デバッグ回路2は、デバッグ対象回路3における任意の信号のシーケンスから、所定の信号のシーケンス(以下検出対象シーケンスと呼ぶ)を検出し、検出した旨の検出信号を出力する回路である。検出信号は、たとえば、デバッグ対象回路3の動作を停止させるのに用いられる。
また、検出対象シーケンスは、ワードの先頭から始まらないものも含む。たとえば、デバッグ対象回路3が、1ワードが8バイトのPCI(Peripheral Component Interconnect)expressのトランザクション層パケットを処理する回路である場合を考える。このパケットは、パケット種別、デバイス番号、書き込みアドレスなどを示す信号シーケンスを含む。これらの信号シーケンスは、ワードの先頭(境界)から始まらないものもある。本実施の形態のデバッグ回路2は、そのような信号のシーケンスも検出対象として設定できるようにしたものである。
記憶部2aは、上記に示したようなシーケンスSaを符号化した符号値Aaと、シーケンスSbを符号化した符号値Abを記憶する。また、記憶部2aは、バイト数sof(0〜w−1)(wはワード長)を記憶する。記憶部2aは、さらに、図1に示すように、シーケンスSa,Sbの長さlena,lenbと、検出対象シーケンスの識別番号IDを記憶するようにしてもよい。
符号値Aa,Abは、たとえば、線形性を有する符号値(線形符号)であり、CRC(Cyclic Redundancy Check)などの符号化方式で、デバッガ装置4にて算出される。
シフト部2cは、符号値算出部2bが処理するワードの1つ前のワードの最後のバイトでの符号値を、ワード分の符号値の前に付加して、第1シーケンス検出部2dに供給する。図1には、符号値算出部2bが処理するワードの1つ前のワードの最後のバイトでの符号値a(j−1)が、ワード分の符号値a(j),…a(j+w−1)に付加され、A(j)として第1シーケンス検出部2dに供給されている例が示されている。
期待値算出部2eは、符号値算出部2bで算出される符号値のうち、シーケンスSaが検出されたときの符号値と、符号値Abとに基づき、検出対象シーケンスの終了時における、符号値算出部2bで算出される符号値の期待値を算出する。
デバッガ装置4による上記のステップS1〜S4の処理で算出され、送信されたシーケンスSa,Sbの情報は、半導体装置1のデバッグ回路2の記憶部2aに記憶される。
なお、デバッグ回路2は、ワードW1に収まる検出対象シーケンスを検出するとき、以下のような処理を行う。
図2に示すように、検出対象シーケンスSが、ワードW1に収まるとき、第1シーケンス検出部2dは、前述した符号値a(j+sof−1)と、符号値a(j+eof)との差分と、符号値Aaとの比較結果に基づき検出を行う。ここで、バイト数eofは、検出対象シーケンスのバイト数nとバイト数sofを加算したバイト数である。
また、デバッグ回路2は、入力データxや出力データyを直接扱うのではなく、データ量の小さい符号値を用いて処理を行うため、処理を小規模な回路で行えるとともに高速動作が可能となる。
図3は、第2の実施の形態の半導体装置及びデバッガ装置を含むデバッグシステムの例を示す図である。
デバッガ装置20は、たとえば、コンピュータであり、作業者20aにより操作され、通信ケーブル20bを介して半導体装置10と通信を行い、デバッグ処理を行う。
図4は、半導体装置の一例を示す図である。
半導体装置10は、前述したデバッグ回路11、ユーザ回路12の他、デバッガ装置20から通信ケーブル20bを介して送られてくるデータを受信する受信部13を有している。
レジスタ11a1には、検出対象シーケンスの識別情報seqID、ワードの先頭から検出対象シーケンスの先頭までバイト数sof、シーケンスSaの長さlen1、シーケンスSaの符号値CRC(Sa)が記憶されている。
識別情報seqIDは、符号値CRC(Sa),CRC(Sb)が同じ検出対象シーケンスに含まれるものであることを示すために用いられる。
シーケンスSbの長さlen2は、n−w+sofとなる。
シフト部11dは、レジスタ11d1とマージ部11d2を有している。
レジスタ11d1は、1ワード分の符号値の最後の符号値を記憶する。
期待値算出部11fは、シーケンスSaが検出されたときの符号値と、レジスタ11b1〜11bpに記憶されている符号値とに基づき、検出対象シーケンスの終了時における、符号値算出部11cで算出される符号値の期待値を算出する。
図7は、レジスタへの期待値の格納例を示す図である。
(デバッガ装置20)
図8は、デバッガ装置のハードウェア例を示す図である。
ネットワークインタフェース28は、ネットワーク28aに接続されている。ネットワークインタフェース28は、ネットワーク28aを介して、他のコンピュータまたは通信機器との間でデータの送受信を行う。
以下、上記の半導体装置10及びデバッガ装置20を用いたデバッグ方法の一例を説明する。
デバッガ装置20は、たとえば、作業者20aによるキーボード25aやマウス25bの操作などによって入力される1または複数の検出対象シーケンスを取得する(ステップS10)。
図10に示されているワード(Word1,Word2)うち、たとえば、パケット種別(Fmt)、デバイス番号(devid)、書き込みアドレス(Addr)のフィールドが、検出対象シーケンスとして指定される。属性(attr)、長さ(length)、書き込み値(Data)などは、たとえば、動作環境で変動するため検出対象シーケンスとして指定されない。
半導体装置10は、デバッガ装置20から送信された符号値などの情報を受信部13で受信する(ステップS20)。そして、半導体装置10の図示しない制御部は、受信した情報を、図5に示したように、レジスタ11a1〜11ap,11b1〜11bpに設定(記憶)する(ステップS21)。
ユーザ回路12の動作開始後、デバッグ回路11の符号値算出部11cは、図示しないクロックの各タイミングで、ユーザ回路12の入力データxまたは出力データyに基づき、CRCで符号値を算出(更新)する(ステップS23)。このとき、符号値算出部11cは、前述した式(1)にしたがって、ワード単位で符号値を算出する。
第1シーケンス検出部11eは、検出対象シーケンスが1ワードに収まらないとき、すなわち、n>w−sofのとき、以下の処理を行う。
図12では、バイトカウント値0から開始されたシーケンスの一例が示されている。あるシーケンスXの後に検出対象シーケンスSが続いている。また、図12では、符号値算出部11cで算出される符号値の例が示されている。シーケンスXの最後で算出される符号値はCRC(X)、ワードW1の途中から始まるシーケンスSaの最後で算出される符号値はCRC(X&Sa)、シーケンスSb(任意長)の最後で算出される符号値はCRC(X&S)である。
CRC(X&S)=CRC((X&0m)+(0k&Sa))=CRC(X&0m)+CRC(0k&Sa)=CRC(X&0m)+CRC(Sa)=H(m)・CRC(X)+CRC(Sa) (2)
式(2)において、“+”はXOR演算を表している(以降の式でも同じである)。また、“0m”は、mバイト分、連続してユーザ回路12から取得されるデータが0であるシーケンスを示している。また、シーケンスXの長さをkバイトとすると、“0k”は、kバイト分、連続してユーザ回路12の信号が0であるシーケンスを示している。
ここで、jはワードの先頭バイトでのバイト数(バイトカウント値)を示している。
図13の例では、ワードW1の先頭のバイトでのバイトカウント値がjとなっている。
式(3)が成立するとき、図13に示すように、符号値a(j+sof−1)は、CRC(X)となり、符号値a(j+w−1)は、C(X&Sa)となり、バイトカウント値がj+w−1のときに、シーケンスSaが検出されたことになる。
図14は、ユーザ回路の信号が、1ワードに収まる検出対象シーケンスを含むシーケンスで遷移する例を示す図である。
a(j+eof)−H(eof−sof+1)・a(j+sof−1)=CRC(Sa) (4)
式(4)において、eofは、ワードの先頭バイトから検出対象シーケンスSの最後のバイトまでのバイト数である。ワードの先頭でのバイトカウント値がjのときは、検出対象シーケンスSが終了するバイトカウント値は、j+eofで表せる。
式(4)が成立するとき、図15に示すように、符号値a(j+sof−1)は、CRC(X)となり、符号値a(j+eof)は、CRC(X&Sa)となる。そのため、バイトカウント値がj+eofのときに、シーケンスSa、すなわちこの場合、検出対象シーケンスSが検出されたことになる。
期待値算出部11fは、図13に示したような符号値a(j+w−1)を受けると、期待値の算出を行う(ステップS26)。
上記のように、シーケンスSa検出時の符号値は、a(j+w−1)=CRC(X&Sa)となっている。シーケンスSaに引き続いてシーケンスSbが発生するとき、バイトカウント値がj+n+sof−1のとき、符号値の期待値b(j+n+sof−1)であるCRC(X&S)は、以下の式で与えられる。
ここで、CRC(Sb)は、シーケンスSbの符号値であり、レジスタ11b1〜11bpの何れかに記憶されているものである。
シーケンスSbの終わりは、シーケンスSaを検出してから(n−w+sof)バイト後である。それは、シーケンスSaを検出してから、(n−w+sof)/w(小数点以下は切り上げ)ワード目の先頭からeofxバイト目である。eofxは、シーケンスSbの長さとワード長との関係から算出できる。図17に示されている例では、ワードWxの先頭バイトのバイトカウント値をjとしている。
バイトカウント値=j+eofxでの符号値a(j+eofx)がCRC(X&S)と一致しないときには、判定部11hは、検出対象シーケンスSが検出されなかったと判定し、再度ステップS23からの処理を繰り返す。
ところで、図4に示した第1シーケンス検出部11eは、式(3)、式(4)で示したように、ワード内の任意のバイト間でのCRC差分に基づく判定を行う可能性がある。ワードのバイト数をwとすると、最大w/2(w+1)個の判定条件を評価することになる。
図18は、第1シーケンス検出部の一例を示す図である。
CRC−1〜CRC7は、w=8としたときの、シフト部11dの出力である符号値a(j−1)〜a(j+7)を示している。第1シーケンス検出部11eは、複数の乗算器と減算器を有している。
また、第1シーケンス検出部11eは、シーケンスSaを検出する際に、図18に示したような回路を用いて、シーケンスSaの他、シーケンスSaに含まれる1または複数のシーケンスの検出ができたときに、シーケンスSaが検出されたと判定してもよい。
“Byte offset”は、ワードの先頭バイトの位置を0としたときのバイトの位置を示している。“Byte offset”=0は、バイトカウント値=jに相当する。各バイト位置(−1〜+7)のバイトの符号値は、a(j−1)〜a(j+7)と示されている。
CRCはビット数が決まっているため、異なる複数のシーケンスで、同じCRC値が算出される可能性がある。しかし、上記のように、シーケンスSaの検出時、シーケンスSaに含まれる1または複数のシーケンスについても検出することで、検出対象シーケンスのシーケンスSaとは異なるシーケンスを誤って検出する可能性を減らせる。
ところで、図18に示したような第1シーケンス検出部11eで、ハミング行列を用いた乗算を行う乗算器の面積は比較的大きいため、以下のように乗算の数を減らすことで、小面積化が可能となる。
図20は、4つのシーケンスの例を示す図である。
シーケンスSXaは、a(j+7)−H(8)・a(j−1)=CRC(SXa)が成立するときに検出され、シーケンスSXbは、a(j+3)−H(4)・a(j−1)=CRC(SXb)が成立するときに検出される。
この例では、ハミング行列H(8),H(4),H(2)の乗算が合計4回行われる。
符号値a(j−1)にはH(8)、符号値a(j)にはH(7)、符号値a(j+1)にはH(6)、符号値a(j+2)にはH(5)、符号値a(j+3)にはH(4)、符号値a(j+4)にはH(3)が乗じられている。また、符号値a(j+5)にはH(2)、符号値a(j+6)にはH(1)が乗じられており、符号値a(j+7)はそのままである。
シーケンスSXbは、{H(4)・a(j+3)}−{H(8)・a(j−1)}={H(4)・CRC(SXb)}が成立するときに検出される。
シーケンスSXdは、a(j+7)−{H(4)・a(j+3)}=CRC(SXd)が成立するときに検出される。
図22は、第1シーケンス検出部の他の例を示す図である。
図4に示したデバッグ回路11の符号値算出部11cで算出される1ワード分の符号値a(j)〜a(j+w−1)の各値に対応した、シフト部11dの出力の符号値をc(j)〜c(j+w−1)とすると、c(j)〜c(j+w−1)は以下の式で表現できる。
ところで、符号値算出部11cは、前述したように式(1)により、符号値a(j)〜a(j+w−1)を算出する。ここで、式(1)と式(6)は以下の式(7)のように簡略化できる。
上記の説明では、ワードの先頭から検出対象シーケンスの先頭までのバイト数sof(開始オフセット)が予め指定されているものとした。しかし、開始オフセットは指定されていなくてもよい。開始オフセットは、ワード長によって取りうる値が決まるので、たとえば、デバッガ装置20は、ワード長に応じた数の開始オフセットを設定し、各開始オフセットの値に対応した、シーケンスSa,Sbの符号値を算出すればよい。これらの値は、デバッグ回路11のレジスタ11a1〜11ap,11b1〜11bpに設定され、検出対象シーケンスの検出に用いられる。
レジスタ11a1には、開始オフセットであるw個のバイト数sof1〜sofwが記憶されている。バイト数sof1〜sofwは、0(オフセットなし)〜w−1バイトである。さらに、レジスタ11a1には、バイト数sof1〜sofwのそれぞれに対応したシーケンスSa1〜Sawの長さlen11〜len1wとシーケンスSa1〜Sawの符号値CRC(Sa1)〜CRC(Saw)が記憶されている。
以上、実施の形態に基づき、本発明のデバッグ回路、半導体装置及びデバッグ方法の一観点について説明してきたが、これらは一例にすぎず、上記の記載に限定されるものではない。
2 デバッグ回路
2a 記憶部
2b 符号値算出部
2c シフト部
2d 第1シーケンス検出部
2e 期待値算出部
2f 判定部
2g OR回路
3 デバッグ対象回路
4 デバッガ装置
Sa,Sb,X シーケンス
Wa,Wb,W1 ワード
sof バイト数
Claims (9)
- ワード単位で処理を行う回路における信号のシーケンスに応じて値が変わる符号化方式で算出され、検出対象とする検出対象シーケンスのうち、先頭から最初の第1のワードに収まる第1のシーケンスを符号化した第1の符号値と、残りの第2のシーケンスを符号化した第2の符号値と、前記第1のワードの先頭から、前記検出対象シーケンスの先頭までの第1のバイト数とを記憶する記憶部と、
前記信号のシーケンスに基づき前記符号化方式でバイトごとの第3の符号値を算出する符号値算出部と、
前記第3の符号値のうち、前記信号のシーケンスの第2のワード内の最後のバイトでの第4の符号値と、前記第1のバイト数に基づく位置のバイトでの第5の符号値との差分と、前記第1の符号値との比較結果に基づき前記第1のシーケンスを検出する第1シーケンス検出部と、
前記第3の符号値のうち、前記第1のシーケンスが検出されたときの第6の符号値と、前記第2の符号値とに基づき、前記検出対象シーケンスの終了時における前記第3の符号値の期待値を算出する期待値算出部と、
前記第3の符号値と、前記期待値とが一致したときに前記検出対象シーケンスを検出した旨を示す信号を出力する判定部と、
を有することを特徴とするデバッグ回路。 - 前記符号化方式は、線形性を有する符号値を算出する方式であることを特徴とする請求項1に記載のデバッグ回路。
- 前記検出対象シーケンスが、前記第1のワードに収まるとき、前記第1シーケンス検出部は、前記第1のバイト数と前記検出対象シーケンスのバイト数とを加算した第2のバイト数に基づく位置のバイトでの第7の符号値と、前記第5の符号値との差分と、前記第1の符号値との比較結果に基づき、前記検出対象シーケンスを検出する、ことを特徴とする請求項1または2に記載のデバッグ回路。
- 前記記憶部は、前記第1のシーケンスに含まれる1または複数の第3のシーケンスを前記符号化方式で符号化した第8の符号値を有しており、
前記第1シーケンス検出部は、前記第3のシーケンスを、前記第1のシーケンスに含まれる複数バイトに対応した複数の第9の符号値間の差分と、前記第8の符号値に基づき検出し、全ての前記第3のシーケンスが検出できたときに、前記第1のシーケンスが検出されたと判定する、ことを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載のデバッグ回路。 - 前記第1のバイト数は、前記第1のワードの長さに応じて、前記記憶部に、複数記憶されており、前記第1の符号値と、前記第2の符号値も、前記第1のバイト数のそれぞれに対応して複数記憶されており、
前記第1シーケンス検出部は、前記第1のバイト数のそれぞれに対応する前記第1のシーケンスを検出する、
ことを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載のデバッグ回路。 - 前記検出対象シーケンスは複数であり、前記第1シーケンス検出部は、前記検出対象シーケンスのそれぞれに対応した前記第1のシーケンスを、同時に検出することを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項に記載のデバッグ回路。
- 前記第1シーケンス検出部は、前記符号値算出部で算出される前記第3の符号値に、ハミング行列を乗算するワード長分の乗算器と、前記乗算器のそれぞれの出力間の差分を算出する減算器とを有し、前記減算器の出力と、前記第1の符号値との比較結果に基づき、前記第1のシーケンスを検出する、ことを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載のデバッグ回路。
- ワード単位で処理を行う回路と、
前記回路における信号のシーケンスに応じて値が変わる符号化方式で算出され、検出対象とする検出対象シーケンスのうち、先頭から最初の第1のワードに収まる第1のシーケンスを符号化した第1の符号値と、残りの第2のシーケンスを符号化した第2の符号値と、前記第1のワードの先頭から、前記検出対象シーケンスの先頭までの第1のバイト数とを記憶する記憶部と、前記信号のシーケンスに基づき前記符号化方式でバイトごとの第3の符号値を算出する符号値算出部と、前記第3の符号値のうち、前記信号のシーケンスの第2のワード内の最後のバイトでの第4の符号値と、前記第1のバイト数に基づく位置のバイトでの第5の符号値との差分と、前記第1の符号値との比較結果に基づき前記第1のシーケンスを検出する第1シーケンス検出部と、前記第3の符号値のうち、前記第1のシーケンスが検出されたときの第6の符号値と、前記第2の符号値とに基づき、前記検出対象シーケンスの終了時における前記第3の符号値の期待値を算出する期待値算出部と、前記第3の符号値と、前記期待値とが一致したときに前記検出対象シーケンスを検出した旨を示す信号を出力する判定部と、を備えたデバッグ回路と、
を有することを特徴とする半導体装置。 - デバッガ装置が、
ワード単位で処理を行う回路における信号のシーケンスから検出する検出対象シーケンスを、先頭から最初の第1のワードに収まる第1のシーケンスと、残りの第2のシーケンスとに分割し、
前記信号のシーケンスに応じて値が変わる符号化方式で、前記第1のシーケンスを符号化した第1の符号値と、前記第2のシーケンスを符号化した第2の符号値とを算出し、
前記第1の符号値、前記第2の符号値及び、前記第1のワードの先頭から前記検出対象シーケンスの先頭までの第1のバイト数を送信し、
前記回路を備えた半導体装置が、
前記第1の符号値、前記第2の符号値及び前記第1のバイト数を受信し、
前記信号のシーケンスに基づき前記符号化方式でバイトごとの第3の符号値を算出し、
前記第3の符号値のうち、前記信号のシーケンスの第2のワード内の最後のバイトでの第4の符号値と、前記第1のバイト数に基づく位置のバイトでの第5の符号値との差分と、前記第1の符号値との比較結果に基づき前記第1のシーケンスを検出し、
前記第3の符号値のうち、前記第1のシーケンスが検出されたときの第6の符号値と、前記第2の符号値とに基づき、前記検出対象シーケンスの終了時における前記第3の符号値の期待値を算出し、
前記第3の符号値と、前記期待値とが一致したときに前記検出対象シーケンスを検出した旨を示す信号を出力する、
ことを特徴とするデバッグ方法。
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Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6354489B2 (ja) * | 2014-09-22 | 2018-07-11 | 富士通株式会社 | デバッグ回路、半導体装置及びデバッグ方法 |
US10698805B1 (en) * | 2017-01-25 | 2020-06-30 | Cadence Design Systems, Inc. | Method and system for profiling performance of a system on chip |
US10949586B1 (en) * | 2020-07-01 | 2021-03-16 | Xilinx, Inc. | Post-synthesis insertion of debug cores |
US20220407813A1 (en) * | 2021-06-16 | 2022-12-22 | Ampere Computing Llc | Apparatuses, systems, and methods for implied sequence numbering of transactions in a processor-based system |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05210534A (ja) * | 1992-01-31 | 1993-08-20 | Sofuia Syst:Kk | 命令フェッチ・トリガ回路 |
JPH103404A (ja) * | 1996-06-19 | 1998-01-06 | Nec Ibaraki Ltd | ハードウェアのデータ採取方法および装置 |
JP2006113906A (ja) * | 2004-10-15 | 2006-04-27 | Canon Inc | バス監視装置及びバス監視装置付きコントローラ |
WO2008020513A1 (fr) * | 2006-08-14 | 2008-02-21 | Nec Corporation | débogueur et procédé de débogage |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4414669A (en) | 1981-07-23 | 1983-11-08 | General Electric Company | Self-testing pipeline processors |
US4569049A (en) | 1983-05-09 | 1986-02-04 | Digital Equipment Corp. | Diagnostic system for a digital computer |
US5611043A (en) | 1994-03-18 | 1997-03-11 | Borland International, Inc. | Debugger system and method for controlling child processes |
JP3343201B2 (ja) | 1997-06-12 | 2002-11-11 | 株式会社日立製作所 | 復号回路および情報処理装置 |
US6591390B1 (en) * | 2000-04-11 | 2003-07-08 | Texas Instruments Incorporated | CRC-based adaptive halting turbo decoder and method of use |
US20020144235A1 (en) | 2001-03-30 | 2002-10-03 | Charles Simmers | Debugging embedded systems |
JP3554715B2 (ja) | 2001-07-31 | 2004-08-18 | アンリツ株式会社 | 誤り検出装置 |
TW526411B (en) | 2001-08-17 | 2003-04-01 | Mediatek Inc | Debugging device |
DE10349933B4 (de) * | 2003-10-24 | 2008-03-27 | Infineon Technologies Ag | Auswerteschaltung und Verfahren zum Feststellen und/oder zum Lokalisieren fehlerhafter Datenworte in einem Datenstrom |
TWI346867B (en) | 2005-11-25 | 2011-08-11 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Mistakes tracing device and method for optical disc drive |
US20070226702A1 (en) * | 2006-03-22 | 2007-09-27 | Rolf Segger | Method for operating a microcontroller in a test environment |
US8856600B2 (en) | 2012-06-21 | 2014-10-07 | Breakingpoint Systems, Inc. | JTAG-based programming and debug |
JP6354489B2 (ja) * | 2014-09-22 | 2018-07-11 | 富士通株式会社 | デバッグ回路、半導体装置及びデバッグ方法 |
JP6458626B2 (ja) * | 2015-05-07 | 2019-01-30 | 富士通株式会社 | デバッグ回路、半導体装置及びデバッグ方法 |
-
2015
- 2015-03-27 JP JP2015066456A patent/JP6477134B2/ja active Active
-
2016
- 2016-02-09 US US15/019,358 patent/US10024911B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05210534A (ja) * | 1992-01-31 | 1993-08-20 | Sofuia Syst:Kk | 命令フェッチ・トリガ回路 |
JPH103404A (ja) * | 1996-06-19 | 1998-01-06 | Nec Ibaraki Ltd | ハードウェアのデータ採取方法および装置 |
JP2006113906A (ja) * | 2004-10-15 | 2006-04-27 | Canon Inc | バス監視装置及びバス監視装置付きコントローラ |
WO2008020513A1 (fr) * | 2006-08-14 | 2008-02-21 | Nec Corporation | débogueur et procédé de débogage |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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