JP2016170221A - 表示装置及びその制御方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】光の透過率を制御可能な第1パネルと、第1パネルの背面側に設けられ、光の透過率を制御可能な第2パネルと、第2パネルの背面側に設けられ、独立に輝度を制御可能な複数の制御エリアからなる発光手段と、各制御エリアに対応する画像データの各分割エリアにおける特徴量に基づき各制御エリアの制御値を算出する算出手段と、画像データに基づき第1パネルの透過率を制御する第1制御手段と、各制御エリアの制御値と、第2パネルへ入射した光が第2パネル及び第1パネルを透過して第1パネルから出射する際の光の透過率の画素毎のばらつきの情報であるムラ情報と、に基づき、第2パネルの透過率を制御する第2制御手段と、を備える表示装置。
【選択図】図1
Description
コントラストの向上を図る1つの方法として、従来の液晶(以降、1次液晶と称する)とバックライトの間にさらに液晶(以降、2次液晶と称する)を挟んだ2重構成にする技術があった。これにより、2枚の表示階調数の積に等しい階調数を表現できるため、コントラストを改善することが可能となった(特許文献1)。
コントラストの向上を図る別の方法として、画面を複数のバックライト制御エリアに分割し、画像データの特徴量に基づいてバックライトの輝度と液晶の透過率を制御する技術があった。これにより、エリア毎にバックライト光を制御することで黒浮きを抑制し、コントラストを改善することが可能となった(特許文献2)。
液晶の透過率を制御する理由を以下に説明する。バックライトの点灯状態をエリア毎に制御すると、バックライトの輝度分布が発生する。画像の輝度を忠実に再現することが求められる表示装置においては、出力輝度がバックライトの輝度分布の影響をうけるため、バックライトの輝度分布は画像の輝度再現性に影響する。このため、輝度分布を平滑化処理する必要があった。特許文献2では、これに鑑みて輝度分布の平滑化処理を液晶の透過率に加味して制御していた。
前記第1パネルの背面側に設けられ、光の透過率を制御可能な第2パネルと、
前記第2パネルの背面側に設けられ、独立に輝度を制御可能な複数の制御エリアからなる発光手段と、
前記各制御エリアに対応する画像データの各分割エリアにおける特徴量に基づき前記各制御エリアの制御値を算出する算出手段と、
前記画像データに基づき前記第1パネルの透過率を制御する第1制御手段と、
前記各制御エリアの制御値と、前記第2パネルへ入射した光が前記第2パネル及び前記第1パネルを透過して前記第1パネルから出射する際の光の透過率の画素毎のばらつきの情報であるムラ情報と、に基づき、前記第2パネルの透過率を制御する第2制御手段と、を備える表示装置である
前記第1パネルの背面側に設けられ、光の透過率を制御可能な第2パネルと、
前記第2パネルの背面側に設けられ、独立に輝度を制御可能な複数の制御エリアからなる発光手段と、
を備えた表示装置の制御方法であって、
前記各制御エリアに対応する画像データの各分割エリアにおける特徴量に基づき前記各制御エリアの制御値を算出する算出工程と、
前記画像データに基づき前記第1パネルの透過率を制御する第1制御工程と、
前記各制御エリアの制御値と、前記第2パネルへ入射した光が前記第2パネル及び前記第1パネルを透過して前記第1パネルから出射する際の光の透過率の画素毎のばらつきの情報であるムラ情報と、に基づき、前記第2パネルの透過率を制御する第2制御工程と、を有する表示装置の制御方法である。
実施例1における表示装置の機能を示したブロック図を図1に示し、表示装置の構成を図2に示す。
図1の表示装置1は、特徴量取得部101、制御値算出部102、輝度分布算出部103、平滑化処理部104、合成ムラ補正ゲイン保存部105、2次液晶開口率決定部106、バックライト部107、2次液晶部108、1次液晶部109から構成される。
制御値算出部102は、特徴量取得部101から各分割エリアの特徴量(ここでは最大画素値)を取得し、特徴量に基づき各分割エリアに対応する制御エリアのバックライト制御値を算出する。制御値算出部102は、算出したバックライト制御値を輝度分布算出部103とバックライト部107へ送信する。
平滑化処理部104は、輝度分布算出部103から輝度分布情報を取得し、輝度分布情報に基づき、輝度分布を相殺して平滑化するための平滑化ゲイン(第1平滑化ゲイン)を算出する。算出した平滑化ゲイン情報は2次液晶開口率決定部106へ送信される。
バックライト部107は、2次液晶部108の背面側に設けられ、独立に輝度を制御可能な複数の制御エリアからなる発光手段である。バックライト部107は、制御値算出部102にて制御エリア毎に算出されたバックライト制御値を取得し、バックライト制御値で各制御エリアの光源を点灯させる。
1次液晶部109は、光の透過率を制御可能な第1パネル(1次液晶)と、画像データに基づき第1パネルの透過率を制御する第1制御手段と、を含む機能ブロックである。1次液晶部109は、入力画像データに基づき、画素毎に開口率(透過率)が制御される。
実施例1における表示装置の構成は、図2に示すように1次液晶部109を表示面とし
、1次液晶部109の背面に2次液晶部108が配置され、2次液晶部108の背面にバックライト部107が配置される。
ステップS1101にて、平滑化処理部104は、輝度分布算出部103から算出した全エリアのバックライト輝度分布をLReal(Y)として取得する。取得した全エリアのバックライト輝度分布は前述したように、エリア毎のバックライト輝度分布を足し合わせて図6(B)の1002となる。
次に、ステップS1102にて、平滑化処理部104は、バックライト平滑化輝度分布をLFlat(Y)として取得する。ここで、前述したように、バックライト制御値と出力設定輝度値には相関があるため、バックライト平滑化輝度分布は全エリアにわたり、200cd/m2で設定されて図6(B)の1003となる。
BlGain(Y)=LFlat(Y)/LReal(Y)・・・・式101
式101で算出されたゲインの分布を図6(C)の1201に示す。
以上の処理手順を踏まえると、バックライト平滑化輝度分布は、図6(B)の1003となる。
出装置1403は、表示装置1401から出力される輝度分布(以降、出力輝度分布と称する)を取得する。2次元輝度分布測定器1402は、出力輝度分布を2次元で取得する。
次いで、ステップS1303にて、ムラ補正ゲイン算出装置1403は、出力輝度分布と最小輝度値から合成ムラ補正ゲインを算出する。合成ムラ補正ゲインをMrGain(Y)とすると、合成ムラ補正ゲインは式102で算出することができる。
MrGain(Y)= LOutMin/LOut(Y)・・・・式102
式102で算出された実施例1における合成ムラ補正ゲインの分布を図10(B)の1601に示す。
次いで、ステップS1304にて、ムラ補正ゲイン算出装置1403は、出力輝度分布の最小輝度値と出力設定輝度値を比較し、値が一致するときは処理を終了し、一致しなければ、ステップ1305へ進む。図10(A)の例では、最小輝度値は200であり、出力設定輝度値と一致しているので、ステップS1304で処理終了となる。ここでは、ムラ補正ゲイン算出装置1403が合成ムラ補正ゲインMrGain(Y)を算出して合成ムラ補正ゲイン保存部105に格納する例を説明した。しかし、出力輝度分布LOut(Y)と最小輝度値LOutMinの情報を合成ムラ補正ゲイン保存部105に格納しても良い。この場合、表示装置1において、式102に基づく合成ムラ補正ゲインMrGain(Y)の算出を行うようにすればよい。
AdGain = LSet/LOutMin・・・・式103
算出された調整ゲインAdGainは、合成ムラ補正ゲインとともに、合成ムラ補正ゲイン保存部105に保存される。調整ゲインAdGainは、制御値算出部102に出力
される。制御値算出部102は、合成ムラ補正ゲイン保存部105から調整ゲインAdGainが入力される場合には、調整ゲインAdGainを前述のステップS803で設定した200に乗算して、最終的なバックライト制御値とする。こうすることにより、バックライト輝度の過不足を低減することができ、輝度再現性を維持することができる。
実施例1では、2次液晶開口率をバックライトの輝度分布平滑化ゲインと液晶ムラの平滑化ゲインの乗算で決定し、輝度再現性の維持と液晶ムラを低減していた。実施例2では上記効果に加えて、さらなる高コントラスト化を実現することを目的とする。実施例1では、バックライト点灯エリア内の入力信号が黒の画素部分は、図12(A)より2cd/m2となっており、1次液晶のコントラスト比のみで黒画素の輝度(以降、黒輝度)が決定されていた。そこで、実施例2における2次液晶開口率決定部は、入力画像データの黒画素部分に対して、2次液晶の画素に該当する開口率をゼロに設定する。
実施例2の表示装置の構成を図13に示す。図13の表示装置1は、実施例1で示した表示装置1における2次液晶開口率決定部106に対して、入力画像データを入力した構成となる。
うになる。この処理によって、出力画像の黒輝度は、2次液晶と1次液晶のコントラスト比の積から0.02cd/m2と算出できるため、さらなる黒輝度の低減を実現することができる。
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
Claims (20)
- 光の透過率を制御可能な第1パネルと、
前記第1パネルの背面側に設けられ、光の透過率を制御可能な第2パネルと、
前記第2パネルの背面側に設けられ、独立に輝度を制御可能な複数の制御エリアからなる発光手段と、
前記各制御エリアに対応する画像データの各分割エリアにおける特徴量に基づき前記各制御エリアの制御値を算出する算出手段と、
前記画像データに基づき前記第1パネルの透過率を制御する第1制御手段と、
前記各制御エリアの制御値と、前記第2パネルへ入射した光が前記第2パネル及び前記第1パネルを透過して前記第1パネルから出射する際の光の透過率の画素毎のばらつきの情報であるムラ情報と、に基づき、前記第2パネルの透過率を制御する第2制御手段と、を備える表示装置。 - 予め測定により求められたムラ情報を記憶する記憶手段をさらに備え、
前記第2制御手段は、前記記憶手段から前記ムラ情報を取得する請求項1に記載の表示装置。 - 前記第2制御手段は、前記各制御エリアの制御値に基づき前記発光手段における輝度分布を算出し、前記輝度分布を相殺し平滑化するための第1平滑化ゲインを算出し、前記第1平滑化ゲインと前記ムラ情報とに基づき前記第2パネルの透過率を制御する請求項1又は2に記載の表示装置。
- 前記ムラ情報は、前記第1パネルの透過率が所定の画像データに基づき制御され、かつ、前記第2パネルの透過率が前記第1平滑化ゲインに基づき制御された状態における、前記第1パネルの透過光の輝度分布を、外部の測定手段により測定して求められた情報を含む請求項3に記載の表示装置。
- 前記ムラ情報は、前記測定手段により測定された輝度分布に基づき算出された、当該輝度分布を相殺し平滑化するための第2平滑化ゲインの情報を含む請求項4に記載の表示装置。
- 前記第2制御手段は、前記第1平滑化ゲインと前記第2平滑化ゲインとに基づき前記第2パネルの透過率を制御する請求項5に記載の表示装置。
- 前記ムラ情報は、前記測定手段により測定された輝度分布における最小輝度と、当該測定時に前記発光手段の制御に用いられた制御値に対応する基準輝度と、に基づき算出される調整ゲインの情報を含む請求項5又は6に記載の表示装置。
- 前記算出手段は、前記特徴量と前記ムラ情報とに基づき前記各制御エリアの制御値を算出する請求項7に記載の表示装置。
- 前記算出手段は、前記第2パネルの透過光の輝度分布における最小輝度が前記基準輝度と等しくなるように、前記特徴量に基づき算出した制御値を前記調整ゲインに基づき補正する請求項8に記載の表示装置。
- 前記第2制御手段は、前記第2パネルの画素のうち、前記画像データが黒画像データである画素に対応する画素の透過率を最小値に制御する請求項1〜9のいずれか1項に記載の表示装置。
- 光の透過率を制御可能な第1パネルと、
前記第1パネルの背面側に設けられ、光の透過率を制御可能な第2パネルと、
前記第2パネルの背面側に設けられ、独立に輝度を制御可能な複数の制御エリアからなる発光手段と、
を備えた表示装置の制御方法であって、
前記各制御エリアに対応する画像データの各分割エリアにおける特徴量に基づき前記各制御エリアの制御値を算出する算出工程と、
前記画像データに基づき前記第1パネルの透過率を制御する第1制御工程と、
前記各制御エリアの制御値と、前記第2パネルへ入射した光が前記第2パネル及び前記第1パネルを透過して前記第1パネルから出射する際の光の透過率の画素毎のばらつきの情報であるムラ情報と、に基づき、前記第2パネルの透過率を制御する第2制御工程と、を有する表示装置の制御方法。 - 前記表示装置は、予め測定により求められたムラ情報を記憶する記憶手段をさらに備え、
前記第2制御工程では、前記記憶手段から前記ムラ情報を取得する請求項11に記載の表示装置の制御方法。 - 前記第2制御工程では、前記各制御エリアの制御値に基づき前記発光手段における輝度分布を算出し、前記輝度分布を相殺し平滑化するための第1平滑化ゲインを算出し、前記第1平滑化ゲインと前記ムラ情報とに基づき前記第2パネルの透過率を制御する請求項11又は12に記載の表示装置の制御方法。
- 前記ムラ情報は、前記第1パネルの透過率が所定の画像データに基づき制御され、かつ、前記第2パネルの透過率が前記第1平滑化ゲインに基づき制御された状態における、前記第1パネルの透過光の輝度分布を、外部の測定手段により測定して求められた情報を含む請求項13に記載の表示装置の制御方法。
- 前記ムラ情報は、前記測定手段により測定された輝度分布に基づき算出された、当該輝度分布を相殺し平滑化するための第2平滑化ゲインの情報を含む請求項14に記載の表示装置の制御方法。
- 前記第2制御工程では、前記第1平滑化ゲインと前記第2平滑化ゲインとに基づき前記第2パネルの透過率を制御する請求項15に記載の表示装置の制御方法。
- 前記ムラ情報は、前記測定手段により測定された輝度分布における最小輝度と、当該測定時に前記発光手段の制御に用いられた制御値に対応する基準輝度と、に基づき算出される調整ゲインの情報を含む請求項15又は16に記載の表示装置の制御方法。
- 前記算出工程では、前記特徴量と前記ムラ情報とに基づき前記各制御エリアの制御値を算出する請求項17に記載の表示装置の制御方法。
- 前記算出工程では、前記第2パネルの透過光の輝度分布における最小輝度が前記基準輝度と等しくなるように、前記特徴量に基づき算出した制御値を前記調整ゲインに基づき補正する請求項18に記載の表示装置の制御方法。
- 前記第2制御工程では、前記第2パネルの画素のうち、前記画像データが黒画像データである画素に対応する画素の透過率を最小値に制御する請求項11〜19のいずれか1項に記載の表示装置の制御方法。
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