JP2016170073A - 計測装置及び計測方法 - Google Patents

Abstract

【課題】校正作業の煩雑化を抑制しつつ、計測精度の向上を図ることができる計測装置及び計測方法を提供する。
【解決手段】計測装置は、光検出器を有する計測ユニットと、演算部と、記憶部とを備える。記憶部は、第１基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号、及び試料に相当する第２基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号に基づいて算出される第１変数を記憶する。演算部は、第１基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号、及び第１変数に基づいて第２変数を算出し（Ｓ２２）、試料の計測値の計測時には、試料から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号を第２変数によって補正することで、出力信号を算出する（Ｓ２４）。
【選択図】図５

Description

本発明は、例えば藻類等を含む試料から発せられる光を検出することで所定の計測値を計測する計測装置及び計測方法に関する。

藻類等を含む試料から発せられる光を検出することで所定の計測値を計測し、試料に関する所定の評価を行う方法が知られている（例えば、特許文献１〜４参照）。このような計測を行うための装置として、例えば特許文献１には、試料から発せられる光を検出する光検出器を備えた計測装置が開示されている。特許文献１記載の計測装置では、試料の計測値を計測する前に、計測装置の校正（キャリブレーション）が行われる。具体的には例えば、試料の代わりに人工の基準光源を設置した場合の計測結果に基づいて、光検出器の感度が調整される。

特開２０１３−１１３６３５号公報 特許第５５８８４５７号公報 特許第４８１３２０６号公報 特許第４６９９２１４号公報

本発明の発明者らは、上記のように校正を行ったとしても、試料の計測値の計測結果にばらつきが生じる場合があることを見出した。計測結果にばらつきがあると、計測精度が低下するおそれがある。また、より確実な校正方法として、実際の計測時に用いられる試料と同一又は類似の性質を有する試料により構成された基準光源（試料に相当する基準光源）を用いた場合の計測結果に基づいて校正を行うことが考えられる。しかし、試料が藻類等の生化学的なサンプルである場合のように、同一又は類似の試料を用意することが容易ではない場合がある。このため、校正作業に、試料に相当する基準光源を用いると、校正作業が煩雑化するおそれがある。

そこで、本発明は、校正作業の煩雑化を抑制しつつ、計測精度の向上を図ることができる計測装置及び計測方法を提供することを目的とする。

本発明の計測装置は、試料から発せられる光を検出する光検出器を有する計測ユニットと、光検出器から出力される原信号に基づいて、試料の計測値に相当する出力信号を算出する演算部と、演算部によって用いられる変数を記憶する記憶部と、を備え、記憶部は、第１基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号、及び試料に相当する第２基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号に基づいて算出される第１変数を変数として記憶し、演算部は、第１基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号、及び第１変数に基づいて第２変数を算出し、試料の計測値の計測時には、試料から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号を第２変数によって補正することで、出力信号を算出する。

本発明の発明者らは、鋭意検討を重ねた結果、上述した計測結果のばらつきが、校正に用いられる基準光源（第１基準光源）の発光特性（例えば、発光形状、発光波長、及び発光パターン等）と、実際の計測時に用いられる試料の発光特性との違い、及び計測装置の特性（例えば、ユニフォミティ（器差）、及び経時的な変化による光学系のずれ等）に起因しているとの知見に想到した。上記計測装置では、第１基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号、及び試料に相当する第２基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号に基づいて算出された第１変数が、記憶部に記憶されている。そして、第１基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号、及び第１変数に基づいて第２変数が算出され、試料の計測値の計測時には、試料から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号が第２変数によって補正されることで、出力信号が算出される。このように、上記計測装置では、第１基準光源の計測結果、及び試料に相当する第２基準光源の計測結果の両方を用いて校正が行われるので、第１基準光源と、実際の計測時に用いられる試料との間の発光特性の違いに起因する計測結果のばらつきが抑制されると共に、計測装置の特性に起因する計測結果のばらつきが抑制される。また、上記計測装置では、第１基準光源の計測結果及び第１変数に基づいて第２変数が算出される。このため、校正作業時に、試料に相当する第２基準光源を用意する必要がない。よって、上記計測装置によれば、校正作業の煩雑化を抑制しつつ、計測精度の向上を図ることができる。

本発明の計測装置では、第１変数は、第１基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号で所定の第１基準値を除した値を第３変数とすると、第２基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号に第３変数を乗じた第１信号で所定の第２基準値を除した値であり、演算部は、第１基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号に第１変数の逆数を乗じた第２信号で第１基準値を除することで、第２変数を算出し、試料の計測値の計測時には、試料から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号に第２変数を乗じることで、出力信号を算出してもよい。このようにすれば、第１基準光源の計測結果及び第２基準光源の計測結果に基づいて第１変数が好適に算出されると共に、第１基準光源の計測結果及び第１変数に基づいて第２変数が好適に算出され、更に、試料の計測値の計測時に、試料の計測結果が第２変数によって好適に補正される。したがって、上記計測装置によれば、計測装置の校正を適切に行うことができ、計測精度の向上を図ることができる。

本発明の計測装置では、第１変数は、第２基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号で所定の第２基準値を除した値を第３変数とすると、第１基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号に第３変数を乗じた第１信号で所定の第１基準値を除した値であり、演算部は、第１基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号に第１変数を乗じた第２信号で第１基準値を除することで、第２変数を算出し、試料の計測値の計測時には、試料から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号に第２変数を乗じることで、出力信号を算出してもよい。このようにすれば、第１基準光源の計測結果及び第２基準光源の計測結果に基づいて第１変数が好適に算出されると共に、第１基準光源の計測結果及び第１変数に基づいて第２変数が好適に算出され、更に、試料の計測値の計測時に、試料の計測結果が第２変数によって好適に補正される。したがって、上記計測装置によれば、計測装置の校正を適切に行うことができ、計測精度の向上を図ることができる。

本発明の計測装置では、記憶部は、構成が互いに異なる複数の計測ユニットのそれぞれに対応付けられた複数の第１変数を変数として記憶し、演算部は、試料の計測値の計測時に用いられる計測ユニットに対応した第１変数を用いて第２変数を算出してもよい。このようにすれば、複数の計測ユニットの中から選択された計測ユニットが用いられる場合であっても、試料の計測値の計測時に用いられる計測ユニットの構成に対応した第１変数を用いて第２変数が算出される。したがって、上記計測装置によれば、計測装置の校正を適切に行うことができ、計測精度の向上を図ることができる。

本発明の計測装置では、記憶部は、構成が互いに異なる複数の第１基準光源のそれぞれに対応付けられた複数の第１変数を変数として記憶し、演算部は、第２変数の算出時に用いられる第１基準光源に対応した第１変数を用いて第２変数を算出してもよい。このようにすれば、複数の第１基準光源の中から選択された第１基準光源が用いられる場合であっても、第２変数の算出時に用いられる第１基準光源の構成に対応した第１変数を用いて第２変数が算出される。したがって、上記計測装置によれば、計測装置の校正を適切に行うことができ、計測精度の向上を図ることができる。

本発明の計測装置では、記憶部は、構成が互いに異なる複数の第２基準光源のそれぞれに対応付けられた複数の第１変数を変数として記憶し、演算部は、試料の計測値の計測時に用いられる試料に相当する第２基準光源に対応した第１変数を用いて第２変数を算出してもよい。このようにすれば、複数の第２基準光源の中から選択された第２基準光源が用いられる場合であっても、試料の計測値の計測時に用いられる試料に相当する第２基準光源の構成に対応した第１変数を用いて第２変数が算出される。したがって、上記計測装置によれば、計測装置の校正を適切に行うことができ、計測精度の向上を図ることができる。

本発明の計測装置では、演算部は、算出した第２変数を、当該第２変数の算出に用いた第１変数に対応付けて、記憶部に変数として記憶させてもよい。このようにすれば、第１変数に対応付けて第２変数が記憶されることから、同一の条件で試料の計測値が計測される場合には、第２変数の算出を省略し、第２変数を算出する際に用いられるはずの第１変数に対応した第２変数を用いることができる。したがって、上記計測装置によれば、校正作業の容易化を図ることができる。

本発明の計測装置では、第２基準値は、試料の性質を表す値であってもよい。このようにすれば、試料の計測値に相当する出力信号が、試料の性質を表す値を基準として算出される。したがって、計測結果の把握が容易になり、計測作業の容易化を図ることができる。

本発明の計測方法は、第１基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号、及び試料に相当する第２基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号に基づいて算出される第１変数と、第１基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号と、に基づいて、第２変数を算出する第１工程と、試料から発せられる光が光検出器によって検出された場合に光検出器から出力される原信号を第２変数によって補正することで、試料の計測値に相当する出力信号を算出する第２工程と、を含む。

上記計測方法によれば、上記計測装置と同様の理由により、校正作業の煩雑化を抑制しつつ、計測精度の向上を図ることができる。

本発明によれば、校正作業の煩雑化を抑制しつつ、計測精度の向上を図ることができる計測装置及び計測方法を提供することが可能となる。

本発明の一実施形態の計測装置の構成図である。 図１の計測装置の計測対象である試料の斜視図である。 図１の計測装置の校正に用いられる第１基準光源の斜視図である。 図１の計測装置の校正に用いられる変数Ｂの算出手順を示すフローチャートである。 図１の計測装置を用いた試料の計測値の計測方法の処理手順を示すフローチャートである。 図１の計測装置の校正に用いられる変数Ｂの算出手順の変形例を示すフローチャートである。 図１の計測装置を用いた試料の計測値の計測方法の処理手順の変形例を示すフローチャートである。

以下、本発明に係る実施形態について、図面を参照しつつ詳細に説明する。なお、以下の説明において、同一又は相当要素には同一符号を用い、重複する説明は省略する。

図１に示される計測装置１は、藻類等により構成される試料から発せられる遅延発光を計測するための装置である。遅延発光とは、藻類等の光合成機能を有する生物に対して光を照射した際に、当該光によるエネルギーにより、光合成色素から蛍光発光が生じる現象である。計測装置１により計測された試料の計測値は、例えば、化学物質等の環境要因が生物の生長等に及ぼす影響の程度を評価するために用いられる。計測装置１では、試料Ｓは、例えば、図２に示されるように、藻類等である試料溶液３６と、試料溶液３６を保持する容器３８とにより構成されている。この例では、容器３８は、丸底試験管であるが、任意の形状（例えば、管長、管径、及び断面形状等）であってよく、例えば平底試験管又はスピッツ底試験管であってもよい。

図１に示されるように、計測装置１は、計測ユニット２及び解析ユニット４を備えている。計測ユニット２は、光検出器Ｐ、設置部１０、集光光学系１２、励起光源１４、透過光源１６、透過光検出器１８、第１シャッタ２０、及び第２シャッタ２２を有している。これら構成要素は、筐体２４に収容されている。解析ユニット４は、例えばケーブル３４を介して計測ユニット２と通信可能に接続されており、演算部２８及び記憶部３０を有している。

光検出器Ｐは、試料Ｓから発せられる光を検出する。具体的には、光検出器Ｐは、試料Ｓへの励起光の照射によって生じる遅延発光を受光器で受光し、受光量（発光量）に応じた大きさの原信号を解析ユニット４に出力する。光検出器Ｐにおいて、受光量（入力）と原信号の大きさ（出力）との間には、線形の関係（リニアリティ）があることが好ましい。リニアリティが確保される入出力の範囲が限られている場合には、当該範囲内を利用して計測が行われる。光検出器Ｐは、例えば、光電子増倍管及びアンバランシェフォトダイオード等の増倍型光検出器を用いて構成されている。

設置部１０は、計測対象である試料Ｓを設置するための部分であり、試料室Ｋ内に配置されている。試料室Ｋは、扉の開閉によって試料Ｓの出し入れが可能であり、扉を閉めると外部からの光が遮断される暗箱になっている。設置部１０は、試料Ｓを設置可能なように構成されている。例えば、設置部１０には試料ホルダが設けられ、試料ホルダによって容器３８が保持される。また、設置部１０には、試料Ｓに代えて、後述する第１基準光源４０又は第２基準光源５０を設置可能となっている。集光光学系１２は、試料Ｓへの励起光の照射によって発生する微弱な遅延発光を集光し、集光した遅延発光を光検出器Ｐに導くように設けられている。

励起光源１４は、設置部１０に設置された試料Ｓに光（励起光）を照射する。励起光源１４は、植物の光合成に有効な光波長（２８０〜８００ｎｍ）を照射可能であればよく、例えば、発光ダイオード、半導体レーザー素子、又は電球等により構成されている。透過光源１６は、試料Ｓに透過光を照射し、透過光検出器１８は、試料Ｓを透過した透過光、及び散乱光を計測する。

第１シャッタ２０は、集光光学系１２及び光検出器Ｐと試料室Ｋとを光的に分画するために、集光光学系１２と設置部１０との間に開閉自在に設けられている。第１シャッタ２０を閉じることで、励起光源１４や透過光源１６からの光が集光光学系１２及び光検出器Ｐに直接入射することを防止でき、集光光学系１２等の構成部品の発光（残光）を防ぐことができる。

第２シャッタ２２は、励起光源１４と試料室Ｋとを光的に分画するために、励起光源１４と設置部１０との間に開閉自在に設けられている。第２シャッタ２２を閉じることで、励起光源１４から設置部１０に照射される光を遮断すると共に、励起光源１４を消灯した直後に生じる僅かな残光が設置部１０に照射されることを防ぐことができる。

演算部２８は、光検出器Ｐから出力される原信号に基づいて、試料Ｓの計測値に相当する出力信号を算出する。演算部２８による出力信号の算出の詳細については後述する。記憶部３０は、演算部２８によって用いられる変数を記憶する。解析ユニット４は、例えば、演算部２８として機能するＣＰＵ（Central Processing Unit）、及び記憶部３０として機能するＲＯＭ（Read Only Memory）又はＲＡＭ（Random Access Memory）を有するコンピュータ３２により構成されている。コンピュータ３２は、計測結果等を表示するための表示部、及び使用者が各種情報を入力するための入力部を更に有していてもよい。

次に、計測装置１を用いた試料Ｓの計測値の計測方法を説明する。この計測方法では、試料Ｓの計測値を計測する前に、計測装置１の感度の校正（キャリブレーション）が行われる。以下では、まず、図４のフローチャートに沿って、図１の計測装置の校正に用いられる変数Ｂの算出手順を説明する。図４の変数Ｂの算出処理は、例えば、計測装置１の出荷前に行われる。

まず、図３に示される第１基準光源４０が設置部１０に設置され、第１基準光源４０から発せられる光が光検出器Ｐによって検出される（ステップＳ１１）。第１基準光源４０は、例えば電気的又は化学的な作用により発光する人工の光源（発光体）であり、所定方向に向けて微弱な光を均一に面状に発光（面発光）する。第１基準光源４０は、例えば、略直方体状の筐体４２を有して構成されており、筐体４２に設けられた断面略円形状の照射孔４４から光を照射する。

次いで、演算部２８は、次の式（１）により、変数Ａ（第３変数）を算出する（ステップＳ１２）。具体的には、ステップＳ１１において光検出器Ｐから出力された原信号Ｄ１、すなわち第１基準光源４０から発せられる光が光検出器Ｐによって検出された場合に光検出器Ｐから出力される原信号Ｄ１で所定の第１基準値Ｅ１を除し、変数Ａを算出する。第１基準値Ｅ１は、記憶部３０に記憶されており、算出された変数Ａは、記憶部３０に記憶される。原信号Ｄ１としては、所定の時間幅で計測した値の平均値、中央値、最頻値、又は積算値等を代表値として用いることができる。この点は、以下で説明する原信号Ｄ２，Ｄ３，Ｄ４について同様である。第１基準値Ｅ１は、０を除く任意の値であってよく、例えば、第１基準光源４０の光量（例えば、エネルギー量又は光量子束密度等）、又は第１基準光源４０の光量に相関する（関連する）任意の単位の値（例えば、第１基準光源４０を構成する発光体の設置数、設置面積、及び設置密度等）であってもよい。また、同時に複数の計測装置１を校正する場合、第１基準値Ｅ１は、相対的な値として、複数の計測装置１のうちの１つの計測装置１の光検出器Ｐから出力される原信号Ｄ１であってよく、又は複数の計測装置１のうちの一部若しくは全ての計測装置１の光検出器Ｐから出力される原信号Ｄ１の平均値、中央値、最頻値、若しくは積算値等であってもよい。
Ａ＝Ｅ１／Ｄ１ …（１）

ステップＳ１１，Ｓ１２により、第１基準光源４０の計測結果に基づいて変数Ａが算出される。変数Ａは、計測ユニット２の構成の違いに基づく計測装置１の感度の違いを表す値である。計測ユニット２の構成とは、例えば、光検出器Ｐにおける受光器の形状、光検出器Ｐの波長ごとの検出感度特性、試料ホルダの形状、並びに集光光学系１２、励起光源１４、透過光源１６、透過光検出器１８、第１シャッタ２０、及び第２シャッタ２２等の光学系の構成等である。変数Ａは、ステップＳ１１，Ｓ１２で用いられた計測ユニット２及び第１基準光源４０に対応付けて記憶部３０に記憶される。

この例では、記憶部３０は、構成が互いに異なる複数（例えば、３つ）の計測ユニット２のそれぞれ、及び構成が互いに異なる複数（例えば、２つ）の第１基準光源４０のそれぞれに対応付けられた複数の変数Ａを記憶している。第１基準光源４０の構成とは、例えば、第１基準光源４０を構成する光源の種類、発光強度、発光波長、発光強度と波長の空間的なパターン、及び発光強度と波長の時間的なパターン等である。構成が異なるとは、例えば、種類又は品番が異なることに相当する。これら複数の変数Ａは、例えば、複数の計測ユニット２及び複数の第１基準光源４０の組み合わせのそれぞれについてステップＳ１１，Ｓ１２の処理を行うことにより算出される。

次いで、第２基準光源５０（図２）が設置部１０に設置され、第２基準光源５０から発せられる光が光検出器Ｐによって検出される（ステップＳ１３）。第２基準光源５０は、試料Ｓに相当する光源（発光体）である。第２基準光源５０は、例えば、図２に示されるように、試料溶液３６と同一又は類似の性質を有する試料溶液と、容器３８と同型（同形状）の容器とにより構成されている。

次いで、演算部２８は、次の式（２），（３）により、変数Ｂ（第１変数）を算出する（ステップＳ１４）。具体的には、ステップＳ１３において光検出器Ｐから出力された原信号Ｄ２、すなわち第２基準光源５０から発せられる光が光検出器Ｐによって検出された場合に光検出器Ｐから出力される原信号Ｄ２に変数Ａを乗じ、第１信号ＳＧ１を算出する。そして、第１信号ＳＧ１で所定の第２基準値Ｅ２を除し、変数Ｂを算出する。第２基準値Ｅ２は、記憶部３０に記憶されており、算出された変数Ｂは、記憶部３０に記憶される。第２基準値Ｅ２は、０を除く任意の値であってよく、例えば、第２基準光源５０の光量（エネルギー量又は光量子束密度等）、又は第２基準光源５０を構成する試料の濃度若しくは量に相関する値（粒子数、分子数、吸光度、蛍光量、体積、又は重量等）等であってもよい。また、同時に複数の計測装置１を校正する場合、第１基準値Ｅ１は、相対的な値として、複数の計測装置１のうちの１つの計測装置１の光検出器Ｐから出力される原信号Ｄ１（又は第１信号ＳＧ１）であってよく、又は複数の計測装置１のうちの一部若しくは全ての計測装置１の光検出器Ｐから出力される原信号Ｄ１（又は第１信号ＳＧ１）の平均値、中央値、最頻値、若しくは積算値等であってもよい。また、後述するように、第２基準値Ｅ２は、試料Ｓの性質を表す値であってもよい。
ＳＧ１＝Ｄ２＊Ａ …（２）
Ｂ＝Ｅ２／ＳＧ１ …（３）

ステップＳ１３，Ｓ１４により、変数Ａ及び第２基準光源５０の計測結果に基づいて変数Ｂが算出される。変数Ａが第１基準光源４０の計測結果に基づいて算出されているので、変数Ｂは、第１基準光源の計測結果及び第２基準光源５０の計測結果に基づいて算出される。変数Ｂは、第１基準光源４０と第２基準光源５０との間の計測結果のずれを表す値である。変数Ｂは、変数Ａ及び第２基準光源５０に対応付けられて記憶部３０に記憶されている。

この例では、記憶部３０は、複数の変数Ａのそれぞれ、及び構成が互いに異なる複数（例えば、４つ）の第２基準光源５０のそれぞれに対応付けられた複数の変数Ｂを記憶している。変数Ａが、複数の計測ユニット２のそれぞれ、及び複数の第１基準光源４０のそれぞれに対応付けられているので、変数Ｂは、複数の計測ユニット２のそれぞれ、複数の第１基準光源４０のそれぞれ、及び複数の第２基準光源５０のそれぞれに対応付けられている。第２基準光源５０の構成とは、例えば、第２基準光源５０を構成する試料の種類、濃度、及び細胞密度、容器３８の形状及び光学的な特徴、第２基準値Ｅ２の構成、並びに第２基準光源５０の発光を生じさせるための刺激の構成等である。第２基準値Ｅ２の構成とは、第２基準値Ｅ２の単位、及び第２基準値Ｅ２が表す試料Ｓの性質等である。刺激の構成とは、試料Ｓの発光が光励起又は物理化学的な刺激の影響を受ける場合の刺激の種類（光励起刺激の波長、光強度、及び照射時間、並びに物理化学刺激の条件としての薬品、温度、電流、及び磁場等）等である。これら複数の変数Ｂは、例えば、複数の計測ユニット２、複数の第１基準光源４０、及び複数の第２基準光源５０の組み合わせのそれぞれについてステップＳ１１〜Ｓ１４の処理を行うことにより算出される。

次に、図５のフローチャートに沿って、図１の計測装置１を用いた試料Ｓの計測値の計測方法の処理手順を説明する。この計測方法では、変数Ｃを算出する算出工程（第１工程、ステップＳ２１，Ｓ２２）と、試料Ｓの計測値を計測する計測工程（第２工程、ステップＳ２３，Ｓ２４）とが実施される。この算出工程における作業が、校正作業に相当する。

算出工程では、第１基準光源４０が設置部１０に設置され、第１基準光源４０から発せられる光が光検出器Ｐによって検出される（ステップＳ２１）。演算部２８は、次の式（４），（５）により、変数Ｃ（第２変数）を算出する（ステップＳ２２）。具体的には、ステップＳ２１において光検出器Ｐから出力された原信号Ｄ３、すなわち第１基準光源４０から発せられる光が光検出器Ｐによって検出された場合に光検出器Ｐから出力される原信号Ｄ３に変数Ｂの逆数を乗じ、第２信号ＳＧ２を算出する。そして、第２信号ＳＧ２で第１基準値Ｅ１を除し、変数Ｃを算出する。ここで、ステップＳ２２では、演算部２８は、記憶部３０に記憶された複数の変数Ｂのうち、計測工程において用いられる計測ユニット２、算出工程において用いられる第１基準光源４０、及び計測工程において用いられる試料Ｓに相当する第２基準光源５０に対応付けられた変数Ｂを用いて変数Ｃを算出する。このとき、演算部２８は、例えば、使用者によって入力部を介して入力される情報に基づいて、用いられる計測ユニット２、第１基準光源４０、及び試料Ｓを識別してもよい。あるいは、演算部２８は、設置部１０に設置された計測ユニット２、第１基準光源４０、及び試料Ｓの構成を識別する識別部から出力される情報に基づいて、用いられる計測ユニット２、第１基準光源４０、及び試料Ｓを識別してもよい。また、演算部２８は、算出した変数Ｃを、当該変数Ｃの算出に用いた変数Ｂに対応付けて記憶部３０に記憶させる。なお、ステップＳ２１，２２における原信号Ｄ３と、ステップＳ１１，Ｓ１２における原信号Ｄ１とは、同じ第１基準光源４０を計測した原信号であるが、異なる値となり得る。この相違は、例えば計測装置１の特性（例えば、ユニフォミティ（器差）、及び経時的な変化による光学系のずれ等）に起因して生じ得る。
ＳＧ２＝Ｄ３＊（１／Ｂ） …（４）
Ｃ＝Ｅ１／ＳＧ２ …（５）

ステップＳ２１，２２により、第１基準光源４０の計測結果及び変数Ｂに基づいて変数Ｃが算出される。変数Ｃは、校正に用いられる第１基準光源４０と、実際の計測時に用いられる試料Ｓとの間の発光特性の違いを考慮して校正を行うための補正値である。

計測工程では、試料Ｓが設置部１０に設置され、試料Ｓから発せられる光が光検出器Ｐによって検出される（ステップＳ２３）。演算部２８は、次の式（６）により、試料Ｓの計測値に相当する出力信号Ｒを算出する（ステップＳ２４）。具体的には、ステップＳ２３において光検出器Ｐから出力された原信号Ｄ４、すなわち試料Ｓから発せられる光が光検出器Ｐによって検出された場合に光検出器Ｐから出力される原信号Ｄ４に変数Ｃを乗じることで、出力信号Ｒを算出する。これにより、原信号Ｄ４が変数Ｃによって補正され、出力信号Ｒが算出される。
Ｒ＝Ｄ４＊Ｃ …（６）

以上説明した計測装置１及び計測方法の作用及び効果を説明する。

上述したように、変数Ａは、計測ユニット２の構成に基づく計測装置１の感度の違いを表す値である。したがって、仮に、計測工程において、原信号Ｄ４に変数Ａを乗じることで出力信号Ｒを算出すれば、出力信号Ｒが適切に校正されるとも考えられる。しかしながら、本発明の発明者らは、そのように校正を行ったとしても、試料Ｓの計測値の計測結果にばらつきが生じる場合があることを見出した。また、本発明の発明者らは、鋭意検討を重ねたところ、当該計測結果のばらつきが、校正に用いられる第１基準光源４０の発光特性（例えば、発光形状、発光波長、又は発光パターン等）と、実際の計測時に用いられる試料Ｓと間の発光特性との違い、及び計測装置１の特性（例えば、ユニフォミティ（器差）、及び経時的な変化による光学系のずれ等）に起因しているとの知見に想到した。

計測装置１では、第１基準光源４０から発せられる光が光検出器Ｐによって検出された場合に光検出器Ｐから出力される原信号Ｄ１、及び試料Ｓに相当する第２基準光源５０から発せられる光が光検出器Ｐによって検出された場合に光検出器Ｐから出力される原信号Ｄ２に基づいて算出された変数Ｂが、記憶部３０に記憶されている。そして、第１基準光源４０から発せられる光が光検出器Ｐによって検出された場合に光検出器Ｐから出力される原信号Ｄ３、及び変数Ｂに基づいて変数Ｃが算出され、試料Ｓの計測値の計測時には、試料Ｓから発せられる光が光検出器Ｐによって検出された場合に光検出器Ｐから出力される原信号Ｄ４が変数Ｃによって補正されることで、出力信号Ｒが算出される。このように、計測装置１では、第１基準光源４０の計測結果、及び試料Ｓに相当する第２基準光源５０の計測結果の両方を用いて校正が行われるので、第１基準光源４０と、実際の計測時に用いられる試料Ｓとの間の発光特性の違いに起因する計測結果のばらつきが抑制されると共に、計測装置１の特性に起因する計測結果のばらつきが抑制される。また、計測装置１では、第１基準光源４０の計測結果及び変数Ｂに基づいて変数Ｃが算出される。このため、校正作業時に、試料Ｓに相当する第２基準光源５０を用意する必要がない。よって、計測装置１、及び計測装置１を用いた計測方法によれば、校正作業の煩雑化を抑制しつつ、計測精度の向上を図ることができる。

また、計測装置１によれば、校正作業の煩雑化が抑制されており、より頻繁に校正作業を行うことができることから、経時的な変化に起因する計測精度の低下を抑制することができる。なお、校正作業は、任意のタイミングで行われてよく、例えば、計測工程が実施される度に行われてもよく、試料Ｓが変更される度に行われてもよく、或いは所定の期間ごとに行われてもよい。また、第１基準光源４０及び第２基準光源５０を用い、任意の頻度で、記憶部３０に記憶された変数Ｂの値を更新してもよい。これにより、経時的な変化に起因する計測精度の低下を抑制することができる。

また、計測装置１では、上記式（１）〜（６）により、第１基準光源４０の計測結果及び第２基準光源５０の計測結果に基づいて変数Ｂが好適に算出されると共に、第１基準光源４０の計測結果及び変数Ｂに基づいて変数Ｃが好適に算出され、更に、試料Ｓの計測値の計測時に、試料Ｓの計測結果が変数Ｃによって好適に補正される。したがって、計測装置１によれば、計測装置１の校正を適切に行うことができ、計測精度の向上を図ることができる。

また、計測装置１では、構成が異なる複数の計測ユニット２の中から選択された計測ユニット２が用いられる場合であっても、試料Ｓの計測値の計測時に用いられる計測ユニット２の構成に対応した変数Ｂを用いて変数Ｃが算出される。したがって、計測装置１によれば、計測装置１の校正を適切に行うことができ、計測精度の向上を図ることができる。

また、計測装置１では、構成が異なる複数の第１基準光源４０の中から選択された第１基準光源４０が用いられる場合であっても、変数Ｃの算出時に用いられる第１基準光源４０の構成に対応した変数Ｂを用いて変数Ｃが算出される。したがって、計測装置１によれば、計測装置１の校正を適切に行うことができ、計測精度の向上を図ることができる。

また、計測装置１では、構成が異なる複数の第２基準光源５０の中から選択された第２基準光源５０が用いられる場合であっても、試料Ｓの計測値の計測時に用いられる試料Ｓに相当する第２基準光源５０の構成に対応した変数Ｂを用いて変数Ｃが算出される。したがって、計測装置１によれば、計測装置１の校正を適切に行うことができ、計測精度の向上を図ることができる。

また、計測装置１では、変数Ｂに対応付けて変数Ｃが記憶されることから、同一の条件で試料Ｓの計測値が計測される場合には、算出工程における変数Ｃの算出を省略し、変数Ｃを算出する際に用いられるはずの変数Ｂに対応した変数Ｃを用いることができる。したがって、上記計測装置によれば、校正作業の容易化を図ることができる。なお、変数Ｂに対応付けられた変数Ｃが記憶されている場合でも、算出工程において当該変数Ｂに基づいて変数Ｃが算出されるようにしてもよい。

また、計測装置１では、第２基準値Ｅ２が、試料Ｓの性質を表す値となっている。このため、後述するように、試料Ｓの計測値に相当する出力信号Ｒが、試料Ｓの性質を表す値を基準として算出される。したがって、計測結果の把握が容易になり、計測精度の向上を図ることができる。

以上、本発明の好適な実施形態について説明したが、本発明は、上記実施形態に限られるものではなく、各請求項に記載した要旨を変更しない範囲で変形し、又は他のものに適用してもよい。

例えば、第２基準光源５０の計測結果に基づいて変数Ａが算出され、変数Ａ、及び第１基準光源４０の計測結果に基づいて変数Ｂが算出されてもよい。以下では、まず、図６のフローチャートに沿って、図１の計測装置の校正に用いられる変数Ｂの算出手順の変形例を説明する。図６の変数Ｂの算出処理の変形例は、例えば、計測装置１の出荷前に行われる。

まず、第２基準光源５０が設置部１０に設置され、第２基準光源５０から発せられる光が光検出器Ｐによって検出される（ステップＳ３１）。演算部２８は、次の式（７）により、変数Ａ（第３変数）を算出する（ステップＳ３２）。具体的には、ステップＳ３１において光検出器Ｐから出力された原信号Ｄ２、すなわち第２基準光源５０から発せられる光が光検出器Ｐによって検出された場合に光検出器Ｐから出力される原信号Ｄ２で所定の第２基準値Ｅ２を除し、変数Ａを算出する。
Ａ＝Ｅ２／Ｄ２ …（７）

次に、第１基準光源４０が設置部１０に設置され、第１基準光源４０から発せられる光が光検出器Ｐによって検出される（ステップＳ３３）。演算部２８は、次の式（８），（９）により、変数Ｂ（第１変数）を算出する（ステップＳ３４）。具体的には、ステップＳ３３において光検出器Ｐから出力された原信号Ｄ１、すなわち第１基準光源４０から発せられる光が光検出器Ｐによって検出された場合に光検出器Ｐから出力される原信号Ｄ１に変数Ａを乗じ、第１信号ＳＧ１を算出する。そして、第１信号ＳＧ１で所定の第１基準値Ｅ１を除し、変数Ｂを算出する。
ＳＧ１＝Ｄ１＊Ａ …（８）
Ｂ＝Ｅ１／ＳＧ１ …（９）

次に、図７のフローチャートに沿って、図１の計測装置１を用いた試料Ｓの計測値の計測方法の処理手順の変形例を説明する。この計測方法では、変数Ｃを算出する算出工程（ステップＳ４１，Ｓ４２）と、試料Ｓの計測値を計測する計測工程（ステップＳ４３，Ｓ４４）とが実施される。この算出工程における作業が、校正作業に相当する。

算出工程では、第１基準光源４０が設置部１０に設置され、第１基準光源４０から発せられる光が光検出器Ｐによって検出される（ステップＳ４１）。演算部２８は、次の式（１０），（１１）により、変数Ｃ（第２変数）を算出する（ステップＳ４２）。具体的には、ステップＳ４１において光検出器Ｐから出力された原信号Ｄ３、すなわち第１基準光源４０から発せられる光が光検出器Ｐによって検出された場合に光検出器Ｐから出力される原信号Ｄ３に変数Ｂを乗じ、第２信号ＳＧ２を算出する。そして、第２信号ＳＧ２で第１基準値Ｅ１を除し、変数Ｃを算出する。
ＳＧ２＝Ｄ３＊Ｂ …（１０）
Ｃ＝Ｅ１／ＳＧ２ …（１１）

計測工程では、試料Ｓが設置部１０に設置され、試料Ｓから発せられる光が光検出器Ｐによって検出される（ステップＳ４３）。演算部２８は、次の式（１２）により、試料Ｓの計測値に相当する出力信号Ｒを算出する（ステップＳ４４）。具体的には、ステップＳ４３において光検出器Ｐから出力された原信号Ｄ４、すなわち試料Ｓから発せられる光が光検出器Ｐによって検出された場合に光検出器Ｐから出力される原信号Ｄ４に変数Ｃを乗じることで、出力信号Ｒを算出する。これにより、原信号Ｄ４が変数Ｃによって補正され、出力信号Ｒが算出される。
Ｒ＝Ｄ４＊Ｃ …（１２）

以上説明した変形例によっても、校正作業の煩雑化を抑制しつつ、計測精度の向上を図ることができる。また、変形例では、上記式（７）〜（１２）により、第１基準光源４０の計測結果及び第２基準光源５０の計測結果に基づいて変数Ｂが好適に算出されると共に、第１基準光源４０の計測結果及び変数Ｂに基づいて変数Ｃが好適に算出され、更に、試料Ｓの計測値の計測時に、試料Ｓの計測結果が変数Ｃによって好適に補正される。したがって、計測装置１によれば、計測装置１の校正を適切に行うことができ、計測精度の向上を図ることができる。

また、上記実施形態では、変数Ｂの算出処理が計測装置１の出荷前に行われるとしたが、変数Ｂの算出処理は出荷後に行われてもよい。この場合、出荷時には計測装置１に変数Ａ，Ｂが記憶されておらず、出荷後に変数Ａ，Ｂが算出され、記憶される。また、上記実施形態では、変数Ａが記憶部３０に記憶されるとしたが、変数Ｂが、複数の計測ユニット２のそれぞれ、複数の第１基準光源４０のそれぞれ、及び複数の第２基準光源５０のそれぞれに対応付けられていればよく、変数Ａは記憶されなくてもよい。また、変数Ｂは、複数の計測ユニット２のそれぞれ、複数の第１基準光源４０のそれぞれ、及び複数の第２基準光源５０のそれぞれの少なくとも１つに対応付けられていてもよい。また、変数Ａ，Ｂは、１つの計測ユニット２に対応付けられていてもよく、１つの第１基準光源４０に対応付けられていてもよく、又は１つの第２基準光源５０に対応付けられていてもよい。

［実施例１］
実施例１として、同じ構成の３つの計測装置１である計測装置１Ａ、計測装置１Ｂ、及び計測装置１Ｃを用いて、試料Ｓの計測値を計測した例を説明する。光検出器Ｐは、光電子増倍管とし、集光光学系１２は、平凸レンズ集光光学系とした。発光量に相関する値が１００ミリ秒間隔で出力される光検出器Ｐを用いた。試料Ｓは、細胞密度約３０００００細胞／ｍLの藻類細胞懸濁液（藻類種、Pseudokirchneriella subcapitata）を、直径２５ｍｍの丸底試験管に分注したものとした。なお、この例のように複数の均質な試料Ｓを用意してもよいし、或いは計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃにおいて均質な試料Ｓが計測されるように、１つの試料Ｓを計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃの計測に用いてもよい、試料Ｓの発光は、藻類を光励起した後に暗中で検出される遅延発光を対象とした。具体的には、試料Ｓを暗中で６０秒間静置した後、試料Ｓに対して白色ＬＥＤの光（光合成有効光量子束密度５００μｍｏｌ／ｍ^２／Ｓ）を３０秒間照射した。次いで、試料Ｓを暗中で５秒間静置した後に、試料Ｓに対して赤色ＬＥＤの光（中心波長７００ｎｍ、光合成有効光量子束密度２０μｍｏｌ／ｍ^２Ｓ）を１秒間照射することで励起させ、励起光消灯後６０秒間の発光を記録した。

まず、計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃを用いて、第１基準光源４０から発せられる光を光検出器Ｐによって検出し、原信号Ｄ１を記録した。ここで、各計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃの計測には、同一の構成の第１基準光源４０を用いた。第１基準光源４０は、直径約２５ｍｍの平面状の出射面（照射孔４４）から略一定の光量で発光する光源とした。９秒間の測定結果（１００ミリ秒×９０データ）の平均値を原信号Ｄ１の代表値として記録した。この点は、以下の原信号の計測についても同様である。各計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃの原信号Ｄ１から、変動係数ＣＶを算出した。変動係数ＣＶは、標準偏差を平均値で除した値に１００を乗じた値であり、単位はパーセントである。変動係数ＣＶは、この場合、各計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃの原信号Ｄ１のばらつきを示している。各原信号Ｄ１及び第１基準値Ｅ１に基づいて、上述した式（１）により、計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃのそれぞれについて変数Ａを算出した。第１基準値Ｅ１は、１１０５６８とした。この値は、以下の手順で算出した。まず、基準として設定した一の計測装置１によって、一の第１基準光源４０を計測し、計測値を１０００００とした。次いで、当該一の計測装置１によって、本実施例に用いた第１基準光源４０を計測し、得られた相対的な計測値を第１基準値Ｅ１とした。つまり、第１基準値Ｅ１は、第１基準光源４０の光量に相関する任意の単位の値とした。原信号Ｄ１、変動係数ＣＶ、第１基準値Ｅ１、及び変数Ａの値が下記表１に示されている。なお、原信号Ｄ１は小数点第１位を四捨五入し、変動係数ＣＶは小数点第３位を四捨五入し、変数Ａは小数点第５位を四捨五入した。

計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃについて、原信号Ｄ１に変数Ａを乗じた信号Ａを算出した。また、これらの信号Ａから、変動係数ＣＶを算出した。これらの値が下記表２に示されている。各信号Ａは、第１基準値Ｅ１に近い値となり、原信号Ｄ１に基づく変動係数ＣＶが１５．０２％であったのに対して、信号Ａに基づく変動係数ＣＶは０．１４％となり、変動係数ＣＶが小さくなった。このことから、信号Ａが第１基準値Ｅ１に近い値に揃えられ、計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃ間のばらつきが小さくなったことが分かる。

次に、計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃを用いて、第２基準光源５０から発せられる光を光検出器Ｐによって検出し、原信号Ｄ２を記録した。ここで、各計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃの計測には、同一の構成の第２基準光源５０を用いた。第２基準光源５０は、試料Ｓと同様のものとした。６０秒間の測定データのうち１．１秒から６０秒までのデータの積算値を代表値として記録した。各計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃの原信号Ｄ２、及び変数Ａに基づいて、上述した式（２）により、第１信号ＳＧ１を算出した。これらの第１信号ＳＧ１から、変動係数ＣＶを算出した。これらの値が下記表３に示されている。信号Ａに基づく変動係数ＣＶが０．１４％であったのに対して、第１信号ＳＧ１に基づく変動係数ＣＶは５．７２％となり、変動係数ＣＶが大きくなった。このことから、計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃを第１基準光源４０の計測結果に基づいて校正したとしても、試料Ｓの計測値を計測した場合に、計測結果のばらつきが大きくなることがわかる。また、第１信号ＳＧ１及び第２基準値Ｅ２に基づいて、上述した式（３）により、変数Ｂを算出した。第２基準値Ｅ２は、試料Ｓの細胞密度の値（試料Ｓの調整時の設定値）である３０００００とした。このように、第２基準値Ｅ２は、試料Ｓの性質を表す値とした。これらの値が下記表３に示されている。なお、第１信号ＳＧ１は小数点第１位を四捨五入し、変動係数ＣＶは小数点第３位を四捨五入し、変数Ｂは小数点第５位を四捨五入した。

次に、表１中の原信号Ｄ１を原信号Ｄ３とみなし、原信号Ｄ１及び変数Ｂに基づいて、上述した式（４）により、第２信号ＳＧ２を算出した。これらの第２信号ＳＧ２から、変動係数ＣＶを算出した。第２信号ＳＧ２及び第１基準値Ｅ１に基づいて、上述した式（５）により、変数Ｃを算出した。これらの値が下記表４に示されている。表１中の原信号Ｄ１を原信号Ｄ３とみなしてもよい場合とは、例えば、原信号Ｄ１の計測と原信号Ｄ３の計測とが短い時間間隔で（例えば同日中等に）行われる場合等である。なお、この例では、表１中の原信号Ｄ１を原信号Ｄ３とみなして第２信号ＳＧ２を算出したが、第１基準光源４０から発せられる光を光検出器Ｐによって検出し、新たに記録された原信号Ｄ３を用いて第２信号ＳＧ２を算出してもよい。また、第１信号ＳＧ１は小数点第１位を四捨五入し、変動係数ＣＶは小数点第３位を四捨五入し、変数Ｃは小数点第５位を四捨五入した。

次に、計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃを用いて、試料Ｓから発せられる光を光検出器Ｐによって検出し、原信号Ｄ４を記録した。６０秒間の測定データのうち１．１秒から６０秒までのデータの積算値を代表値として記録した。計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃの原信号Ｄ４及び変数Ｃに基づいて、上述した式（６）により、出力信号Ｒを算出した。これらの出力信号Ｒから、変動係数ＣＶを算出した。これらの値が下記表５に示されている。第１信号ＳＧ１に基づく変動係数ＣＶが５．７２％（表３）であったのに対して、出力信号Ｒに基づく変動係数ＣＶは０．３９％と小さくなり、変動係数ＣＶが小さくなった。このことから、変数Ｃで補正することにより、計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃを試料Ｓの計測値の測定に適当な状態に校正できることが分かる。また、第２基準値Ｅ２を試料Ｓの細胞密度の値としたので、出力信号Ｒが試料Ｓの細胞密度の値を基準として算出されている。したがって、出力信号Ｒが試料Ｓの細胞密度の推定値を表すこととなる。つまり、この実施例の計測方法では、第２基準値Ｅ２とした値を基準として、第２基準値Ｅ２とした値の単位で記録される。これにより、上述したように、計測結果の把握が容易になり、計測作業を容易化できる。

［実施例２］
実施例２として、上述した変形例の手順によって出力信号Ｒを算出した例を説明する。計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃ、第１基準光源４０、第２基準光源５０、試料Ｓ、第１基準値Ｅ１、及び第２基準値Ｅ２は、実施例１と同様とし、第１基準光源４０、第２基準光源５０、及び試料Ｓの計測結果（原信号Ｄ１，Ｄ２，Ｄ４）としては、実施例１の計測結果を用いた。

各計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃの原信号Ｄ２から、変動係数ＣＶを算出した。各原信号Ｄ２及び第２基準値Ｅ２に基づいて、上述した式（７）により、計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃのそれぞれについて変数Ａを算出した。これらの値が下記表６に示されている。なお、原信号Ｄ２は小数点第１位を四捨五入し、変動係数ＣＶは小数点第３位を四捨五入し、変数Ａは小数点第５位を四捨五入した。

次に、各計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃの原信号Ｄ１、及び変数Ａに基づいて、上述した式（８）により、第１信号ＳＧ１を算出した。これらの第１信号ＳＧ１から、変動係数ＣＶを算出した。第１信号ＳＧ１及び第１基準値Ｅ１に基づいて、上述した式（９）により、変数Ｂを算出した。これらの値が下記表７に示されている。なお、第１信号ＳＧ１は小数点第１位を四捨五入し、変動係数ＣＶは小数点第３位を四捨五入し、変数Ｂは小数点第５位を四捨五入した。

次に、表１中の原信号Ｄ１を原信号Ｄ３とみなし、原信号Ｄ１及び変数Ｂに基づいて、上述した式（１０）により、第２信号ＳＧ２を算出した。これらの第２信号ＳＧ２から、変動係数ＣＶを算出した。第２信号ＳＧ２及び第１基準値Ｅ１に基づいて、上述した式（１１）により、変数Ｃを算出した。これらの値が下記表８に示されている。なお、第１信号ＳＧ１は小数点第１位を四捨五入し、変動係数ＣＶは小数点第３位を四捨五入し、変数Ｃは小数点第５位を四捨五入した。

表８に示されるように、第２実施例の変数Ｃの値は、第１実施例の変数Ｃの値（表４）と同一となる。したがって、計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃの原信号Ｄ４及び変数Ｃに基づいて、上述した式（１２）により、出力信号Ｒを算出すれば、実施例１と同一の校正結果（表５）が得られる。このことから、変形例の手順によって出力信号Ｒを算出した場合でも、計測装置１Ａ，１Ｂ，１Ｃを試料Ｓの計測値の測定に適当な状態に校正できることが分かる。

１…計測装置、２…計測ユニット、２８…演算部、３０…記憶部、４０…第１基準光源、５０…第２基準光源、Ｐ…光検出器、Ｓ…試料。

Claims (9)

1. 試料から発せられる光を検出する光検出器を有する計測ユニットと、
   前記光検出器から出力される原信号に基づいて、前記試料の計測値に相当する出力信号を算出する演算部と、
   前記演算部によって用いられる変数を記憶する記憶部と、を備え、
   前記記憶部は、第１基準光源から発せられる光が前記光検出器によって検出された場合に前記光検出器から出力される前記原信号、及び前記試料に相当する第２基準光源から発せられる光が前記光検出器によって検出された場合に前記光検出器から出力される前記原信号に基づいて算出される第１変数を前記変数として記憶し、
   前記演算部は、
   前記第１基準光源から発せられる光が前記光検出器によって検出された場合に前記光検出器から出力される前記原信号、及び前記第１変数に基づいて第２変数を算出し、
   前記試料の前記計測値の計測時には、前記試料から発せられる光が前記光検出器によって検出された場合に前記光検出器から出力される前記原信号を前記第２変数によって補正することで、前記出力信号を算出する、計測装置。
2. 前記第１変数は、
   前記第１基準光源から発せられる光が前記光検出器によって検出された場合に前記光検出器から出力される前記原信号で所定の第１基準値を除した値を第３変数とすると、
   前記第２基準光源から発せられる光が前記光検出器によって検出された場合に前記光検出器から出力される前記原信号に前記第３変数を乗じた第１信号で所定の第２基準値を除した値であり、
   前記演算部は、
   前記第１基準光源から発せられる光が前記光検出器によって検出された場合に前記光検出器から出力される前記原信号に前記第１変数の逆数を乗じた第２信号で前記第１基準値を除することで、前記第２変数を算出し、
   前記試料の前記計測値の計測時には、前記試料から発せられる光が前記光検出器によって検出された場合に前記光検出器から出力される前記原信号に前記第２変数を乗じることで、前記出力信号を算出する、請求項１記載の計測装置。
3. 前記第１変数は、
   前記第２基準光源から発せられる光が前記光検出器によって検出された場合に前記光検出器から出力される前記原信号で所定の第２基準値を除した値を第３変数とすると、
   前記第１基準光源から発せられる光が前記光検出器によって検出された場合に前記光検出器から出力される前記原信号に前記第３変数を乗じた第１信号で所定の第１基準値を除した値であり、
   前記演算部は、
   前記第１基準光源から発せられる光が前記光検出器によって検出された場合に前記光検出器から出力される前記原信号に前記第１変数を乗じた第２信号で前記第１基準値を除することで、前記第２変数を算出し、
   前記試料の前記計測値の計測時には、前記試料から発せられる光が前記光検出器によって検出された場合に前記光検出器から出力される前記原信号に前記第２変数を乗じることで、前記出力信号を算出する、請求項１記載の計測装置。
4. 前記記憶部は、構成が互いに異なる複数の前記計測ユニットのそれぞれに対応付けられた複数の前記第１変数を前記変数として記憶し、
   前記演算部は、前記試料の前記計測値の計測時に用いられる前記計測ユニットに対応した前記第１変数を用いて前記第２変数を算出する、請求項１〜３のいずれか一項記載の計測装置。
5. 前記記憶部は、構成が互いに異なる複数の前記第１基準光源のそれぞれに対応付けられた複数の前記第１変数を前記変数として記憶し、
   前記演算部は、前記第２変数の算出時に用いられる前記第１基準光源に対応した前記第１変数を用いて前記第２変数を算出する、請求項１〜４のいずれか一項記載の計測装置。
6. 前記記憶部は、構成が互いに異なる複数の前記第２基準光源のそれぞれに対応付けられた複数の前記第１変数を前記変数として記憶し、
   前記演算部は、前記試料の前記計測値の計測時に用いられる前記試料に相当する前記第２基準光源に対応した前記第１変数を用いて前記第２変数を算出する、請求項１〜５のいずれか一項記載の計測装置。
7. 前記演算部は、算出した前記第２変数を、当該第２変数の算出に用いた前記第１変数に対応付けて、前記記憶部に前記変数として記憶させる、請求項１〜６のいずれか一項記載の計測装置。
8. 前記第２基準値は、前記試料の性質を表す値である、請求項２又は３記載の計測装置。
9. 第１基準光源から発せられる光が光検出器によって検出された場合に前記光検出器から出力される原信号、及び試料に相当する第２基準光源から発せられる光が前記光検出器によって検出された場合に前記光検出器から出力される前記原信号に基づいて算出される第１変数と、前記第１基準光源から発せられる光が前記光検出器によって検出された場合に前記光検出器から出力される前記原信号と、に基づいて、第２変数を算出する第１工程と、
   前記試料から発せられる光が前記光検出器によって検出された場合に前記光検出器から出力される前記原信号を前記第２変数によって補正することで、前記試料の計測値に相当する出力信号を算出する第２工程と、を含む、計測方法。

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