JP2016162537A - Light emitting device and method for manufacturing light emitting device - Google Patents

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幹男 馬場
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light emitting device, such as an organic EL device, including a transparent electrode comprising a conductive layer and a transparent conductive layer, in which a thin conductive line used in the light emitting device is not easily viewed.SOLUTION: A light emitting device 1 includes a transparent base material 11 and an antireflection layer 12 formed on one surface 11a of the transparent base material 11 and made of a conductive material or an insulating material. The light emitting device is formed by laminating at least a conductive layer 13, a transparent conductive layer 14, a light emitting functional layer 21 and an electrode 22, in the order, on the transparent base material 11 and the antireflection layer 12.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、発光装置、及び発光装置の製造方法に関し、特に有機エレクトロルミネッセンスとして構成可能な発光装置及びその製造方法に関する。   The present invention relates to a light emitting device and a method for manufacturing the light emitting device, and particularly to a light emitting device that can be configured as organic electroluminescence and a method for manufacturing the same.

近年、液晶表示素子(LCD)に続く次世代表示デバイスとして、有機エレクトロルミネッセンス素子(以下、「有機EL素子」と記す)等の自発発光素子が実用化されている。また、このような自発発光素子を2次元配列した発光素子型の表示パネルを備えた発光装置の研究開発が行われている。
有機EL素子は、陽極と、電極と、これらの一対の電極間に形成される、例えば発光機能層、正孔注入層等を有する有機EL層(発光機能層)を備える。有機EL素子は、発光機能層において正孔と電子が再結合することによって発生するエネルギーによって発光する。
In recent years, spontaneous light-emitting elements such as organic electroluminescence elements (hereinafter referred to as “organic EL elements”) have been put into practical use as next-generation display devices following liquid crystal display elements (LCDs). In addition, research and development of a light-emitting device including a light-emitting element type display panel in which such spontaneous light-emitting elements are two-dimensionally arranged has been performed.
The organic EL element includes an anode, an electrode, and an organic EL layer (light emitting functional layer) formed between the pair of electrodes, for example, having a light emitting functional layer and a hole injection layer. The organic EL element emits light by energy generated by recombination of holes and electrons in the light emitting functional layer.

このような有機EL素子の光を取り出す側の透明電極は、一般的に錫ドープ酸化インジウム(Indium Thin Oxide;ITO)や亜鉛ドープ酸化インジウム(Indium Zinc Oxide;IZO)等を用いて形成される。これらの透明導電性層は、光の透過性が高く、高輝度を確保できるといった利点を有している。しかしながら、これらの透明導電性層は電気抵抗値が大きく導電率が低い。このため、例えば、有機エレクトロルミネッセンス素子に透明電導層を用いた場合には、所定の光量を得ようとすると消費電力が大きくなってしまうという問題がある。   The transparent electrode on the light extraction side of such an organic EL element is generally formed using tin-doped indium oxide (ITO), zinc-doped indium oxide (IZO), or the like. These transparent conductive layers have advantages such as high light transmittance and high brightness. However, these transparent conductive layers have large electrical resistance values and low electrical conductivity. For this reason, for example, when a transparent conductive layer is used for the organic electroluminescence element, there is a problem in that power consumption increases when a predetermined amount of light is obtained.

透明電極の消費電力を抑える透明電極として、ITOを用いない透明電極がある。ITOを用いない透明電極では、例えば、一様な網目状、ストライプ型あるいはグリッド型等の金属及び合金の少なくとも一方で形成された細線構造部を配置した導電層が作製される。そして、導電層の上に例えば、導電性高分子材料を適当な溶媒に溶解または分散したインクを、塗布法や印刷法を用いて透明導電層を形成することにより、透明電極を形成する。このような透明電極は、例えば、特許文献1、特許文献2に記載されている。   As a transparent electrode that suppresses power consumption of the transparent electrode, there is a transparent electrode that does not use ITO. In the case of a transparent electrode not using ITO, for example, a conductive layer in which a fine line structure portion formed of at least one of a metal and an alloy such as a uniform mesh, stripe type, or grid type is arranged. Then, a transparent electrode is formed by forming a transparent conductive layer on the conductive layer by using, for example, an ink obtained by dissolving or dispersing a conductive polymer material in an appropriate solvent using a coating method or a printing method. Such a transparent electrode is described in Patent Document 1 and Patent Document 2, for example.

特開2005−302508号公報JP 2005-302508 A 特開2006−93123号公報JP 2006-93123 A

しかしながら、透明電極の導電層に金属細線構造を用いた場合、金属の反射率、幅、光沢度合いによっては金属配線構造が視認されやすくなる。このため、金属配線構造を有する透明電極は、有機EL発光装置として配線が認識されると不具合がある用途(例えば、直視、或いは間接視用途)には使用できないという問題があった。
本発明は、上記した点に鑑みてなされたものであって、有機EL素子に使用されている導電性細線が見え難く、用途が限定されることのない発光装置及び発光装置を提供することを目的とする。
However, when a thin metal wire structure is used for the conductive layer of the transparent electrode, the metal wiring structure is likely to be visually recognized depending on the reflectivity, width, and glossiness of the metal. For this reason, the transparent electrode which has a metal wiring structure had the problem that it cannot be used for a use (for example, direct view or indirect view use) which has a malfunction, if wiring is recognized as an organic electroluminescent light-emitting device.
The present invention has been made in view of the above points, and provides a light-emitting device and a light-emitting device in which the conductive thin wires used in the organic EL element are difficult to see and the application is not limited. Objective.

上記課題を解決するため、本発明の発光装置の一態様は、透明基材と、透明基材の一の面に形成され、導電材料または絶縁材料からなる反射防止層と、を備え、透明基材の反射防止層の側に少なくとも導電層、透明導電層、発光機能層及び電極をこの順で積層して形成される。
本発明の発光装置の製造方法の一態様は、透明基材の一の面に導電材料または絶縁材料からなる反射防止層を形成する工程と、透明基材の反射防止層側に少なくとも導電層、透明導電層、発光機能層及び電極をこの順で積層して形成する工程と、を含む。
In order to solve the above problems, an embodiment of a light-emitting device of the present invention includes a transparent substrate, and an antireflection layer formed on one surface of the transparent substrate and made of a conductive material or an insulating material. It is formed by laminating at least a conductive layer, a transparent conductive layer, a light emitting functional layer, and an electrode in this order on the antireflection layer side of the material.
One aspect of the method for producing a light emitting device of the present invention includes a step of forming an antireflection layer made of a conductive material or an insulating material on one surface of a transparent substrate, and at least a conductive layer on the antireflection layer side of the transparent substrate. And laminating a transparent conductive layer, a light emitting functional layer, and an electrode in this order.

本発明の発光装置により、透明基板上に形成される導電層下に反射防止層を形成するため、導電層が認識しづらい発光装置及び発光装置の製造方法が得られる。そのため、用途が限定されることのない発光装置及び発光装置を提供することができる。   Since the antireflection layer is formed under the conductive layer formed on the transparent substrate by the light emitting device of the present invention, a light emitting device in which the conductive layer is difficult to recognize and a method for manufacturing the light emitting device are obtained. Therefore, a light-emitting device and a light-emitting device that are not limited in application can be provided.

本発明の第1実施形態の発光装置を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the light-emitting device of 1st Embodiment of this invention. 既存の発光装置を示した図である。It is the figure which showed the existing light-emitting device. 図1(a)に示した反射防止層の他の例を示した図である。It is the figure which showed the other example of the reflection preventing layer shown to Fig.1 (a). 第1実施形態の発光装置の製造方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the manufacturing method of the light-emitting device of 1st Embodiment. 図4−1に続く第1実施形態の発光装置の製造方法を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the manufacturing method of the light-emitting device of 1st Embodiment following FIG. 4-1. 本発明の第2実施形態の発光装置を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the light-emitting device of 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態の発光装置を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the light-emitting device of 3rd Embodiment of this invention.

以下、本発明の第1実施形態、第2実施形態及び第3実施形態の発光装置及び発光装置の製造方法について説明する。
[第1実施形態]
以下、第1実施形態に係る発光装置、及び発光装置の製造方法について説明する。第1実施形態の発光装置は、有機EL素子である。
Hereinafter, the light emitting device and the method for manufacturing the light emitting device according to the first embodiment, the second embodiment, and the third embodiment of the present invention will be described.
[First Embodiment]
Hereinafter, the light emitting device according to the first embodiment and the method for manufacturing the light emitting device will be described. The light emitting device of the first embodiment is an organic EL element.

(発光装置)
図1(a)、(b)は、第1実施形態の発光装置1を説明するための図であり、図1(a)は発光装置1の上面図、図1(b)は図1(a)に示した上面を線B−B’で切った断面図である。図1に示した発光装置1は、図1(a)、(b)に示すように、透明基材11と、透明基材の一の面に形成され、導電材料または絶縁材料からなる反射防止層120と、を備え、透明基材11及び反射防止層120上に少なくとも導電層13、透明導電層14、発光機能層21及び電極22をこの順で積層して形成されている。
(Light emitting device)
1A and 1B are diagrams for explaining the light emitting device 1 according to the first embodiment. FIG. 1A is a top view of the light emitting device 1, and FIG. It is sectional drawing which cut | disconnected the upper surface shown to a) by line BB '. As shown in FIGS. 1A and 1B, the light-emitting device 1 shown in FIG. 1 is formed on a transparent base material 11 and one surface of the transparent base material, and is made of a conductive material or an insulating material. Layer 120, and is formed by laminating at least the conductive layer 13, the transparent conductive layer 14, the light emitting functional layer 21, and the electrode 22 in this order on the transparent substrate 11 and the antireflection layer 120.

即ち、発光装置1は、透明基材11と、透明基材11の一の面である上面11aに形成され、導電材料または絶縁材料からなる反射防止層120と、反射防止層120の透明基材11と接する面に対する裏面12aに形成された導電層13と、上面11aと接する透明電導層14の面に対する裏面14aに形成され、発光の機能を有する発光機能層21と、発光機能層21が透明電導層14と接する面に対する裏面21aに形成された電極22と、を有している。さらに、第1実施形態の発光装置1は、透明導電層14、発光機能層21、電極22を覆う接着層23と、接着層23と貼り合わせられて透明導電層14、発光機能層21、電極22を封止する封止基材24を有している。   That is, the light emitting device 1 includes a transparent base material 11, an antireflection layer 120 formed on the upper surface 11 a that is one surface of the transparent base material 11 and made of a conductive material or an insulating material, and a transparent base material of the antireflection layer 120. The conductive layer 13 formed on the back surface 12a with respect to the surface in contact with 11, the back surface 14a with respect to the surface of the transparent conductive layer 14 in contact with the top surface 11a, and the light emitting functional layer 21 having a light emitting function, and the light emitting functional layer 21 being transparent And an electrode 22 formed on the back surface 21 a with respect to the surface in contact with the conductive layer 14. Furthermore, the light emitting device 1 of the first embodiment includes the transparent conductive layer 14, the light emitting functional layer 21, the adhesive layer 23 that covers the electrode 22, and the transparent conductive layer 14, the light emitting functional layer 21, the electrode bonded to the adhesive layer 23. The sealing base material 24 which seals 22 is provided.

発光装置1のうち、透明基材11、反射防止層120、導電層13及び透明導電層14は、透明電極10を構成する。
また、図1に示した発光装置1において、透明電極10は陽極、電極22は陰極として機能する。
発光装置1の反射防止層120は、上面視において第1の方向(y方向とする)の長さが、y方向と直交する第2の方向(x方向)の長さよりも長い形状の導電材料または絶縁材料からなる反射防止細線12を複数含む。複数の反射防止細線12は、x方向に並列に配置されている。このように配置された複数の反射防止細線12を、第1実施形態では「ストライプ形状を成す」とも記す。図1(a)は、複数の反射防止細線12が透明基材11上でストライプ形状を成すように配置された状態を示している。
In the light emitting device 1, the transparent substrate 11, the antireflection layer 120, the conductive layer 13, and the transparent conductive layer 14 constitute the transparent electrode 10.
In the light emitting device 1 shown in FIG. 1, the transparent electrode 10 functions as an anode, and the electrode 22 functions as a cathode.
The antireflection layer 120 of the light emitting device 1 has a conductive material having a shape in which the length in the first direction (assumed to be the y direction) is longer than the length in the second direction (x direction) orthogonal to the y direction when viewed from above. Alternatively, a plurality of antireflection thin wires 12 made of an insulating material are included. The plurality of antireflection thin wires 12 are arranged in parallel in the x direction. The plurality of antireflection thin wires 12 arranged in this way are also referred to as “having a stripe shape” in the first embodiment. FIG. 1A shows a state in which a plurality of antireflection thin wires 12 are arranged on the transparent substrate 11 so as to form a stripe shape.

ここで、第1実施形態の発光装置と比較するため、既存の発光装置100の断面を図2に示す。図2に示した発光装置は、図1(b)に示した発光装置と同様に、透明基材11、導電層13、透明導電層14、発光機能層21、電極22、接着層23及び封止基材24を有している。発光装置100は、反射防止層120を備えていない点で発光装置1と相違する。   Here, in order to compare with the light emitting device of the first embodiment, a cross section of the existing light emitting device 100 is shown in FIG. The light-emitting device shown in FIG. 2 is similar to the light-emitting device shown in FIG. 1B. The transparent substrate 11, the conductive layer 13, the transparent conductive layer 14, the light-emitting functional layer 21, the electrode 22, the adhesive layer 23, and the seal A stop base 24 is provided. The light emitting device 100 is different from the light emitting device 1 in that the antireflection layer 120 is not provided.

既存の発光装置100は、透明基材11上に導電層13のみを形成している。このため、発光装置100を直視、或いは間接視する場合には導電層13となる細線から光が反射してくるため細線である導電層13が視認されやすかった。
しかし、図1(a)、(b)に示したように、第1実施形態は、導電層13直下に反射防止細線12を形成している。反射防止細線12を形成したことにより、第1実施形態は、細線の導電層13から反射されてくる光が低減され、導電層13が視認され難くなる。このため、第1実施形態は、直視、或いは間接視する用途等に使用される場合、導電層13が視認されない輝度の高い発光装置を提供することができる。
In the existing light emitting device 100, only the conductive layer 13 is formed on the transparent substrate 11. For this reason, when the light-emitting device 100 is viewed directly or indirectly, the light is reflected from the thin line serving as the conductive layer 13, and thus the conductive layer 13 that is a thin line is easily visible.
However, as shown in FIGS. 1A and 1B, in the first embodiment, the antireflection thin wire 12 is formed immediately below the conductive layer 13. By forming the antireflection thin wire 12, in the first embodiment, the light reflected from the thin conductive layer 13 is reduced, and the conductive layer 13 is hardly visible. For this reason, 1st Embodiment can provide the light-emitting device with high brightness | luminance in which the conductive layer 13 is not visually recognized, when it uses for the use etc. which look directly or indirectly.

以下、図1(a)、図1(b)に示した各部材について、詳細に説明する。
(透明電極)
前記したように、透明電極10は、透明基材11、反射防止層120、導電層13及び透明電導層14によって構成される。導電層13は、反射防止層120に含まれる反射防止細線12のx方向の長さ(以下、「幅」と記す)と同等あるいはそれ以下の幅を持つ細い金属及び合金の少なくとも一方によって構成される。透明導電層14は、塗布法や印刷法を用いて形成される。透明電極10は、透明基材11から反射防止層120、導電層13、透明電導層14の順に作製される。
Hereafter, each member shown to Fig.1 (a) and FIG.1 (b) is demonstrated in detail.
(Transparent electrode)
As described above, the transparent electrode 10 includes the transparent substrate 11, the antireflection layer 120, the conductive layer 13, and the transparent conductive layer 14. The conductive layer 13 is composed of at least one of a thin metal and an alloy having a width equal to or less than the length of the antireflection thin wire 12 included in the antireflection layer 120 in the x direction (hereinafter referred to as “width”). The The transparent conductive layer 14 is formed using a coating method or a printing method. The transparent electrode 10 is produced in the order of the transparent base 11, the antireflection layer 120, the conductive layer 13, and the transparent conductive layer 14.

第1実施形態の透明電極10は、有機EL素子に用いた場合に輝度を向上させる観点から、導電性面の表面抵抗率がシート抵抗で0.01Ω/□以上、100Ω/□以下であることが好ましく、さらに好ましくは0.1Ω/□以上、10Ω/□以下であることが好ましい。
また、第1実施形態の透明電極10は、LCD、エレクトロルミネッセンス素子、プラズマディスプレイ、エレクトロクロミックディスプレイ、太陽電池、タッチパネル等の透明電極、電子ペーパー及び電磁波遮蔽材等に用いることができる。さらに、導電性、透明性に優れ、また平滑性も高いため、有機EL素子に用いることが好ましい。
The transparent electrode 10 of the first embodiment has a surface resistivity of 0.01Ω / □ or more and 100Ω / □ or less in terms of sheet resistance from the viewpoint of improving luminance when used in an organic EL element. Is more preferable, and more preferably 0.1Ω / □ or more and 10Ω / □ or less.
Moreover, the transparent electrode 10 of 1st Embodiment can be used for LCD, an electroluminescent element, a plasma display, an electrochromic display, a solar cell, transparent electrodes, such as a touch panel, electronic paper, and an electromagnetic shielding material. Furthermore, since it is excellent in electroconductivity and transparency and has high smoothness, it is preferably used for an organic EL element.

(透明基材)
本発明では、透明基材11として、プラスチックフィルム、プラスチック板、ガラス等を用いることができる。
プラスチックフィルム及びプラチック板の原料としては、例えば、ポリエチレンテレフタラート(PET)、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル類、ポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、ポリスチレン、EVA等のポリオレフィン類、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン等のビニル系樹脂、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリサルホン(PSF)、ポリエーテルサルホン(PES)、ポリカーボネート(PC)、ポリアミド、ポリイミド、アクリル樹脂及びトリアセチルセルロース(TAC)等を用いることができる。
(Transparent substrate)
In the present invention, a plastic film, a plastic plate, glass or the like can be used as the transparent substrate 11.
Examples of raw materials for plastic films and plastic plates include polyesters such as polyethylene terephthalate (PET) and polyethylene naphthalate, polyolefins such as polyethylene (PE), polypropylene (PP), polystyrene, and EVA, polyvinyl chloride, poly Vinyl resins such as vinylidene chloride, polyether ether ketone (PEEK), polysulfone (PSF), polyether sulfone (PES), polycarbonate (PC), polyamide, polyimide, acrylic resin, and triacetyl cellulose (TAC) are used. be able to.

透明基材11は、表面平滑性に優れているものが好ましい。表面の平滑性は算術平均粗さRaが5nm以下、かつ最大高さRyが50nm以下であることが好ましく、さらに好ましくはRaが1nm以下かつRyが20nm以下である。第1実施形態は、透明基材11の表面に、熱硬化性樹脂、紫外線硬化性樹脂、電子線硬化性樹脂、放射線硬化性樹脂等の下塗り層を付与して平滑化してもよい。また、第1実施形態は、研磨等の機械加工によって透明基材11表面を平滑にすることもできる。さらに、第1実施形態は、透明基材11に対する透明導電層14の塗布、接着性を向上させるため、コロナ、プラズマ、UV/オゾンによる表面処理をしてもよい。ここで、透明基材11の表面の平滑性は、原子間力顕微鏡(AFM)等による測定から算出することができる。   The transparent substrate 11 is preferably excellent in surface smoothness. The smoothness of the surface is preferably such that the arithmetic average roughness Ra is 5 nm or less and the maximum height Ry is 50 nm or less, more preferably Ra is 1 nm or less and Ry is 20 nm or less. In the first embodiment, the surface of the transparent substrate 11 may be smoothed by providing an undercoat layer such as a thermosetting resin, an ultraviolet curable resin, an electron beam curable resin, or a radiation curable resin. In the first embodiment, the surface of the transparent substrate 11 can also be smoothed by machining such as polishing. Furthermore, in the first embodiment, surface treatment with corona, plasma, or UV / ozone may be performed in order to improve the application and adhesion of the transparent conductive layer 14 to the transparent substrate 11. Here, the smoothness of the surface of the transparent substrate 11 can be calculated from measurement using an atomic force microscope (AFM) or the like.

また、透明基材11の表面には、大気中の酸素、水分を遮断する目的でガスバリア層を設けるのが好ましい。ガスバリア層の形成材料としては、酸化シリコン、窒化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化アルミニウム、酸化アルミニウム等の金属酸化物及び金属窒化物が使用できる。これらの材料は、水蒸気バリア機能の他に酸素バリア機能も有する。特に、バリア性、耐溶剤性、透明性が良好な窒化シリコン、酸化窒化シリコンが好ましい。また、ガスバリア層は必要に応じて多層構造にすることも可能である。多層構造は、無機層のみで構成してもよいし、無機層と有機層で構成してもよい。ガスバリア層の形成方法は、透明基材11の材料に応じて、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、反応性蒸着法、イオンプレーティング法及びスパッタリング法を用いることができる。また、ガスバリア層の厚みに関しては特に限定されないが、典型的には1層あたり5nm〜500nmの範囲内であることが好ましく、さらに好ましくは1層あたり10nm〜200nmである。ガスバリア層は透明基材11の少なくとも一方の面に設けられ、両面に設けられるのが好ましい。   Moreover, it is preferable to provide a gas barrier layer on the surface of the transparent substrate 11 for the purpose of blocking oxygen and moisture in the atmosphere. As a material for forming the gas barrier layer, metal oxides and metal nitrides such as silicon oxide, silicon nitride, silicon oxynitride, aluminum nitride, and aluminum oxide can be used. These materials have an oxygen barrier function in addition to the water vapor barrier function. In particular, silicon nitride and silicon oxynitride having favorable barrier properties, solvent resistance, and transparency are preferable. Further, the gas barrier layer can have a multilayer structure as required. The multilayer structure may be composed of only an inorganic layer, or may be composed of an inorganic layer and an organic layer. As a method for forming the gas barrier layer, a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a reactive vapor deposition method, an ion plating method, and a sputtering method can be used depending on the material of the transparent substrate 11. Moreover, although it does not specifically limit regarding the thickness of a gas barrier layer, Typically, it is preferable to exist in the range of 5 nm-500 nm per layer, More preferably, it is 10 nm-200 nm per layer. The gas barrier layer is provided on at least one surface of the transparent substrate 11 and is preferably provided on both surfaces.

(反射防止層)
第1実施形態の反射防止層120としては、反射率が10%以下と低いことが好ましく、単層構造の場合、光重合系の材料が使用される。光重合系の材料の反射防止層の具体例としては、液晶ディスプレイ用のカラーフィルターとして利用されているカーボンブラックを用いた樹脂ブラックマトリクス(BM)のような低反射材料が好ましい。また、一般的なアンチグレア(AG)構造にしてもよい。また、積層構造の場合、反射防止層120は、一般的なアンチリフレクション(AR)構造であってもよい。
(Antireflection layer)
The antireflection layer 120 of the first embodiment preferably has a low reflectance of 10% or less, and in the case of a single layer structure, a photopolymerizable material is used. As a specific example of the antireflection layer of the photopolymerization material, a low reflection material such as a resin black matrix (BM) using carbon black used as a color filter for a liquid crystal display is preferable. Further, a general anti-glare (AG) structure may be used. In the case of a laminated structure, the antireflection layer 120 may have a general anti-reflection (AR) structure.

また、本実施形態は、反射防止層120の表面に微細な凹凸を設けてAG構造にするか、平滑材料を積層させてAR構造にすることもできる。
第1実施形態では、図1(a)に示したように、反射防止層120を、複数の反射防止細線12を使ってストライプ形状に形成したことにより、導電層13を透明基材11の直上に配置させるよりも非視認性を向上させることができる。導電性13或いは反射防止細線12の透明基材11と接する底面の幅は任意であるが、0.1μm程度から1000μmの間が好ましい。反射防止細線12の間隔は、5μmから5cmの間隔のピッチであることが好ましく、特に、10μmから、1cmピッチが好ましい。
In the present embodiment, the surface of the antireflection layer 120 can be provided with fine irregularities to form an AG structure, or a smooth material can be laminated to form an AR structure.
In the first embodiment, as shown in FIG. 1A, the antireflection layer 120 is formed in a stripe shape using a plurality of antireflection thin wires 12, so that the conductive layer 13 is directly above the transparent substrate 11. Non-visibility can be improved as compared with the case of disposing the cover. The width of the bottom surface of the conductive 13 or the antireflection thin wire 12 in contact with the transparent substrate 11 is arbitrary, but is preferably between about 0.1 μm and 1000 μm. The spacing between the antireflection thin wires 12 is preferably 5 μm to 5 cm, and more preferably 10 μm to 1 cm.

また、反射防止細線12の図1(a)、図1(b)に示したz方向の長さ(高さ、あるいは厚み)は、0.05μm以上、10μm以下が好ましく、さらに好ましくは0.1μm以上、1μm以下である。
第1実施形態は、反射防止層120を配置することで、光の透過率が減少する。透過率の減少はできるだけ小さいことが重要であるため、反射防止細線12の間隔を狭くしすぎたり、反射防止細線12の幅を大きくしすぎたりすることなく、好ましくは80%以上の光の透過率を確保することが望ましい。
Further, the length (height or thickness) in the z direction shown in FIGS. 1A and 1B of the antireflection thin wire 12 is preferably 0.05 μm or more and 10 μm or less, and more preferably 0.8 μm. 1 μm or more and 1 μm or less.
In the first embodiment, the light transmittance is reduced by disposing the antireflection layer 120. Since it is important that the decrease in the transmittance is as small as possible, it is preferable to transmit light of 80% or more without excessively narrowing the interval between the antireflection thin wires 12 or making the width of the antireflection thin wires 12 too large. It is desirable to ensure the rate.

(導電層)
第1実施形態の導電層13は、反射防止細線12上に形成される。このため、導電層13も反射防止細線12と同様にx方向よりもy方向に長い線状の形状を有している。そして、複数の導電層13は、一方向に並列に配置されてストライプ形状を成している。導電層13の材料としては、電気抵抗が低いことが好ましく、10S/cm以上の電気伝導度を有する材料が使用される。導電材料の具体例としては、アルミニウム、銀、クロミニウム、金、銅、タンタル、モリブデン等の金属、あるいはその合金のいずれか1つを使用することができる。このような材料の中でも、電気導電度の高さや材料のハンドリングの容易さの観点から、アルミニウム、クロミニウム、銅、銀及びその合金の少なくとも一方を使用することが好ましい。
導電層13の高さ(厚み)は、0.05μm以上、10μm以下が好ましく、さらに好ましくは0.1μm以上、1μm以下である。各導電層13の幅と高さの関係については、所望の導電性に応じて決めればよい。導電層13は、同一の導電層のみで構成してもよいし、異なる導電層を組み合わせて構成してもよい。
(Conductive layer)
The conductive layer 13 of the first embodiment is formed on the antireflection thin wire 12. For this reason, the conductive layer 13 also has a linear shape that is longer in the y direction than in the x direction, like the antireflection thin wire 12. The plurality of conductive layers 13 are arranged in parallel in one direction to form a stripe shape. The material of the conductive layer 13 preferably has a low electric resistance, and a material having an electric conductivity of 10 7 S / cm or more is used. As a specific example of the conductive material, any one of metals such as aluminum, silver, chromium, gold, copper, tantalum, and molybdenum, or an alloy thereof can be used. Among such materials, it is preferable to use at least one of aluminum, chromium, copper, silver, and alloys thereof from the viewpoint of high electrical conductivity and ease of material handling.
The height (thickness) of the conductive layer 13 is preferably 0.05 μm or more and 10 μm or less, more preferably 0.1 μm or more and 1 μm or less. The relationship between the width and height of each conductive layer 13 may be determined according to the desired conductivity. The conductive layer 13 may be composed of only the same conductive layer, or may be composed of a combination of different conductive layers.

(透明導電層)
第1実施形態の透明導電層14は、塗布法によって形成される塗布電極層として形成することができる。塗布電極層を塗布法により形成する際に用いられる溶液は、塗布電極層となる材料と溶媒とを含む。塗布電極層は導電性を示す高分子化合物を含むことが好ましい。この高分子化合物は、ドーパントを含有していてもよい。高分子化合物の導電性は通常、導電率で10−5〜10S/cmであり、好ましくは10−3〜10S/cmである。また、透明導電層14は、実質的に導電性を示す高分子化合物から成ることが好ましい。透明導電層14の構成材料としては、ポリアニリン及びその誘導体、ポリチオフェン及びその誘導体等を使用することができる。
(Transparent conductive layer)
The transparent conductive layer 14 of the first embodiment can be formed as a coated electrode layer formed by a coating method. The solution used when forming the coating electrode layer by a coating method includes a material to be the coating electrode layer and a solvent. The coated electrode layer preferably contains a polymer compound exhibiting conductivity. This polymer compound may contain a dopant. The conductivity of the polymer compound is usually 10 −5 to 10 5 S / cm, preferably 10 −3 to 10 5 S / cm in terms of conductivity. Moreover, it is preferable that the transparent conductive layer 14 is made of a polymer compound substantially exhibiting conductivity. As a constituent material of the transparent conductive layer 14, polyaniline and derivatives thereof, polythiophene and derivatives thereof, and the like can be used.

高分子化合物に含まれるドーパントとしては、公知のドーパントを用いることができる。公知のドーパントの例としては、ポリスチレンスルホン酸、ドデシルベンゼンスルホン酸等の有機スルホン酸、PF、AsF、SbF等のルイス酸がある。また導電性を示す高分子化合物は、ドーパントが高分子化合物に直接結合した自己ドープ型の高分子化合物であってもよい。 A well-known dopant can be used as a dopant contained in a high molecular compound. Examples of the known dopant include organic sulfonic acids such as polystyrene sulfonic acid and dodecylbenzene sulfonic acid, and Lewis acids such as PF 5 , AsF 5 , and SbF 5 . Further, the polymer compound exhibiting conductivity may be a self-doped polymer compound in which a dopant is directly bonded to the polymer compound.

透明導電層14は、ポリチオフェン及びポリチオフェンの誘導体の少なくとも一方を含んで構成されることが好ましく、実質的にポリチオフェン及びポリチオフェンの誘導体の少なくとも一方から成ることが好ましい(ポリチオフェン及びポリチオフェンの誘導体の少なくとも一方は、ドーパントを含有していてもよい)。ポリチオフェン、ポリチオフェンの誘導体、または、ポリチオフェンとポリチオフェンの誘導体との混合物は、水及びアルコール等の水系溶媒に溶解、もしくは分散しやすいため、塗布法の塗布液の溶質として好適に用いられる。   The transparent conductive layer 14 is preferably composed of at least one of polythiophene and polythiophene derivatives, and is preferably substantially composed of at least one of polythiophene and polythiophene derivatives (at least one of polythiophene and polythiophene derivatives is , May contain a dopant). Polythiophene, a derivative of polythiophene, or a mixture of a polythiophene and a polythiophene derivative is easily dissolved or dispersed in water or an aqueous solvent such as alcohol, and thus is preferably used as a solute of a coating solution in a coating method.

また、ポリチオフェン、ポリチオフェンの誘導体、または、ポリチオフェンとポリチオフェンの誘導体との混合物は、導電性が高く、電極材料として好適に用いられる。さらに、ポリチオフェン、ポリチオフェンの誘導体、または、ポリチオフェンとポリチオフェンの誘導体との混合物は、HOMOエネルギーが5.0eV程度であり、公知の有機EL素子に用いられる発光機能層のHOMOエネルギーとの差が1eV程度と低い。このため、ポリチオフェン、ポリチオフェンの誘導体、または、ポリチオフェンとポリチオフェンの誘導体との混合物は、発光機能層に正孔を効率的に注入することができるので、特に、陽極の材料として好適に用いることができる。また、透明性が高く、有機EL素子の発光取り出し側の電極として好適に用いられる。   In addition, polythiophene, polythiophene derivatives, or a mixture of polythiophene and polythiophene derivatives has high conductivity, and is preferably used as an electrode material. Furthermore, polythiophene, polythiophene derivatives, or a mixture of polythiophene and polythiophene derivatives has a HOMO energy of about 5.0 eV, and the difference from the HOMO energy of a light emitting functional layer used in a known organic EL element is about 1 eV. And low. Therefore, polythiophene, a derivative of polythiophene, or a mixture of polythiophene and a derivative of polythiophene can efficiently inject holes into the light-emitting functional layer, and thus can be particularly suitably used as an anode material. . Further, it has high transparency and is suitably used as an electrode on the light emission extraction side of the organic EL element.

透明導電層14は、ポリアニリン及びポリアニリンの誘導体の少なくとも一方を含んで構成されることが好ましく、実質的にポリアニリン及びポリアニリンの誘導体の少なくとも一方から成ることが好ましい。このとき、ポリアニリン及びポリアニリンの誘導体の少なくとも一方は、ドーパントを含有していてもよい。ポリアニリン及びポリアニリンの誘導体の少なくとも一方は、導電性及び安定性に優れるため、電極材料として好適に用いられる。また、透明性が高く、有機EL素子の発光取り出し側の電極として好適に用いられる。   The transparent conductive layer 14 is preferably configured to include at least one of polyaniline and a polyaniline derivative, and is preferably substantially composed of at least one of polyaniline and a polyaniline derivative. At this time, at least one of the polyaniline and the polyaniline derivative may contain a dopant. Since at least one of polyaniline and a polyaniline derivative is excellent in conductivity and stability, it is preferably used as an electrode material. Further, it has high transparency and is suitably used as an electrode on the light emission extraction side of the organic EL element.

有機EL素子として構成される第1実施形態の発光装置1は、以上説明した透明電極10を陽極として使用する。そして、透明電極10に対し、発光機能層21、陰極として機能する電極22を設ける。そして、電極22の周囲を接着層23で覆い、封止基材24によって封止している。接着層23、封止基材24による構造(以下、「封止構造」と記す)については有機EL素子に使われている公知の材料、構成等の任意のものを用いることができる。   The light emitting device 1 according to the first embodiment configured as an organic EL element uses the transparent electrode 10 described above as an anode. Then, the light emitting functional layer 21 and the electrode 22 functioning as a cathode are provided for the transparent electrode 10. The periphery of the electrode 22 is covered with an adhesive layer 23 and sealed with a sealing substrate 24. As for the structure (hereinafter referred to as “sealing structure”) by the adhesive layer 23 and the sealing substrate 24, any known materials and structures used for organic EL elements can be used.

第1実施形態の発光装置の層構造としては、以下のものが考えられる。なお、以下の表記において、記号「/」は、記号「/」を挟む各層が隣接して積層されていることを示す。また、以下の表記において、「陽極」は第1実施形態の透明導電層14に相当し、「陰極」は第1実施形態の電極22に相当する。
陽極/発光機能層/陰極
陽極/正孔輸送層/発光機能層/電子輸送層/陰極
陽極/正孔注入層/正孔輸送層/発光機能層/電子輸送層/陰極
陽極/正孔注入層/発光機能層/電子輸送層/電子注入層/陰極
陽極/正孔注入層/発光機能層/電子注入層/陰極
The following can be considered as the layer structure of the light emitting device of the first embodiment. In the following notation, the symbol “/” indicates that the layers sandwiching the symbol “/” are adjacently stacked. In the following notation, “anode” corresponds to the transparent conductive layer 14 of the first embodiment, and “cathode” corresponds to the electrode 22 of the first embodiment.
Anode / light emitting functional layer / cathode Anode / hole transport layer / light emitting functional layer / electron transport layer / cathode Anode / hole injection layer / hole transport layer / light emitting functional layer / electron transport layer / cathode Anode / hole injection layer / Light emitting functional layer / electron transport layer / electron injection layer / cathode anode / hole injection layer / light emitting functional layer / electron injection layer / cathode

第1実施形態の発光装置1は、2層以上の発光機能層を有していてもよく、2層以上の発光機能層を有する発光装置1としては、例えば、以下に示す層構造を用いることができる。
陽極/電荷注入層/正孔輸送層/発光機能層/電子輸送層/電荷注入層/電荷発生層/電荷注入層/正孔輸送層/発光機能層/電子輸送層/電荷注入層/陰極
The light emitting device 1 of the first embodiment may have two or more light emitting functional layers, and as the light emitting device 1 having two or more light emitting functional layers, for example, the following layer structure is used. Can do.
Anode / charge injection layer / hole transport layer / light emission functional layer / electron transport layer / charge injection layer / charge generation layer / charge injection layer / hole transport layer / light emission functional layer / electron transport layer / charge injection layer / cathode

また、3層以上の発光機能層を有する発光装置1としては、具体的には、
「電荷発生層/電荷注入層/正孔輸送層/発光機能層/電子輸送層/電荷注入層」を一つの繰り返し単位とし、この繰り返し単位を2つ以上含む以下の層構造を用いることができる。
陽極/電荷注入層/正孔輸送層/発光機能層/電子輸送層/電荷注入層/「繰り返し単位」/「繰り返し単位」/・・・/陰極
上記層構造において、陽極、陰極、発光機能層以外の各層は必要に応じて削除することができる。ここで、電荷発生層とは、電界を印加することにより、正孔と電子を発生する層である。電荷発生層としては、例えば、酸化バナジウム、ITO、酸化モリブデン等からなる薄膜を用いることができる。
As the light emitting device 1 having three or more light emitting functional layers, specifically,
The following layer structure including two or more repeating units can be used in which “charge generation layer / charge injection layer / hole transport layer / light emitting functional layer / electron transport layer / charge injection layer” is one repeating unit. .
Anode / charge injection layer / hole transport layer / light emitting functional layer / electron transport layer / charge injection layer / “repeating unit” / “repeating unit” /... / Cathode In the above layer structure, anode, cathode, light emitting functional layer Each layer other than can be deleted as necessary. Here, the charge generation layer is a layer that generates holes and electrons by applying an electric field. As the charge generation layer, for example, a thin film made of vanadium oxide, ITO, molybdenum oxide, or the like can be used.

以下、正孔注入層、正孔輸送層、発光機能層、電子輸送層、電子注入層、陰極の各層、及び封止構造について説明する。
(透明電極と発光機能層との間に設けられる層)
必要に応じて透明電極10(陽極)と発光機能層21との間に設けられる層としては、正孔注入層、正孔輸送層、電子ブロック層等がある。正孔注入層は、透明電極10からの正孔注入効率を改善する機能を有する層である。正孔輸送層とは、正孔注入層または透明電極10により近い層からの正孔注入を改善する機能を有する層である。また、正孔注入層または正孔輸送層が電子の輸送を止める機能を有する場合には、これらの層を電子ブロック層と称することがある。電子の輸送を止める機能を有することは、例えば、電子電流のみを流す素子を作製し、その電流値の減少で確認することが可能である、
Hereinafter, the hole injection layer, the hole transport layer, the light emitting functional layer, the electron transport layer, the electron injection layer, each layer of the cathode, and the sealing structure will be described.
(Layer provided between transparent electrode and light emitting functional layer)
As a layer provided between the transparent electrode 10 (anode) and the light emitting functional layer 21 as necessary, there are a hole injection layer, a hole transport layer, an electron block layer, and the like. The hole injection layer is a layer having a function of improving the hole injection efficiency from the transparent electrode 10. The hole transport layer is a layer having a function of improving hole injection from a hole injection layer or a layer closer to the transparent electrode 10. Further, when the hole injection layer or the hole transport layer has a function of stopping the transport of electrons, these layers may be referred to as an electron block layer. Having the function of stopping the transport of electrons can be confirmed, for example, by producing a device that allows only an electron current to flow, and by reducing the current value.

(正孔注入層)
正孔注入層は、陽極と正孔輸送層との間、または陽極と発光機能層との間に設けることができる。正孔注入層の材料としては、公知の材料を適宜用いることができ、特に制限はない。正孔注入層の材料としては、例えば、フェニルアミン系、スターバースト型アミン系、フタロシアニン系、ヒドラゾン誘導体、カルバゾール誘導体、トリアゾール誘導体、イミダゾール誘導体、アミノ基を有するオキサジアゾール誘導体、酸化バナジウム、酸化タンタル、酸化モリブデン等の酸化物、アモルファスカーボン、ポリアニリン、ポリチオフェン誘導体等がある。
(Hole injection layer)
The hole injection layer can be provided between the anode and the hole transport layer, or between the anode and the light emitting functional layer. As a material for the hole injection layer, a known material can be appropriately used, and there is no particular limitation. Examples of the material for the hole injection layer include phenylamine, starburst amine, phthalocyanine, hydrazone derivative, carbazole derivative, triazole derivative, imidazole derivative, oxadiazole derivative having amino group, vanadium oxide, tantalum oxide And oxides such as molybdenum oxide, amorphous carbon, polyaniline, and polythiophene derivatives.

正孔注入層の成膜方法としては、例えば、正孔注入層となる材料(正孔注入材料)を含む溶液から成膜をする方法がある。溶液から成膜をする場合に用いられる溶媒としては、正孔注入材料を溶解させるものであれば、特に制限はなく、クロロホルム、塩化メチレン、ジクロロエタン等の塩素系溶媒、テトラヒドロフラン等のエーテル系溶媒、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素系溶媒、アセトン、メチルエチルケトン等のケトン系溶媒、酢酸エチル、酢酸ブチル、エチルセルソルブアセテート等のエステル系溶媒、及び水がある。   As a method for forming the hole injection layer, for example, there is a method of forming a film from a solution containing a material (hole injection material) that becomes the hole injection layer. The solvent used when forming a film from a solution is not particularly limited as long as it dissolves the hole injection material, and is a chlorine-based solvent such as chloroform, methylene chloride, dichloroethane, an ether-based solvent such as tetrahydrofuran, There are aromatic hydrocarbon solvents such as toluene and xylene, ketone solvents such as acetone and methyl ethyl ketone, ester solvents such as ethyl acetate, butyl acetate and ethyl cellosolve acetate, and water.

溶液から成膜を行う方法には、スピンコート法、キャスティング法、マイクログラビアコート法、グラビアコート法、バーコート法、ロールコート法、ワイアーバーコート法、ディップコート法、スプレーコート法、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法、スリットコート法、インクジェットプリント法及びノズルプリント法等の塗布法がある。
また、正孔注入層の厚みは、5〜300nm程度であることが好ましい。正孔注入層の厚みが5nm未満では、製造が困難になる傾向がある。他方、正孔注入層の厚みが300nmを越えると、駆動電圧、及び正孔注入層に印加される電圧が大きくなる傾向となる。
Examples of the method for forming a film from a solution include spin coating, casting, micro gravure coating, gravure coating, bar coating, roll coating, wire bar coating, dip coating, spray coating, and screen printing. There are coating methods such as a flexographic printing method, an offset printing method, a slit coating method, an ink jet printing method, and a nozzle printing method.
The thickness of the hole injection layer is preferably about 5 to 300 nm. If the thickness of the hole injection layer is less than 5 nm, the production tends to be difficult. On the other hand, when the thickness of the hole injection layer exceeds 300 nm, the driving voltage and the voltage applied to the hole injection layer tend to increase.

(正孔輸送層)
正孔輸送層を構成する材料としては、特に制限はないが、例えば、N,N’−ジフェニル−N,N’−ジ(3−メチルフェニル)4,4’−ジアミノビフェニル(TPD)、4,4’−ビス[N−(1−ナフチル)−N−フェニルアミノ]ビフェニル(NPB)等の芳香族アミン誘導体、ポリビニルカルバゾールもしくはその誘導体、ポリシランもしくはその誘導体、側鎖もしくは主鎖に芳香族アミンを有するポリシロキサン誘導体、ピラゾリン誘導体、アリールアミン誘導体、スチルベン誘導体、トリフェニルジアミン誘導体、ポリアニリンもしくはその誘導体、ポリチオフェンもしくはその誘導体、ポリアリールアミンもしくはその誘導体、ポリピロールもしくはその誘導体、ポリ(p−フェニレンビニレン)もしくはその誘導体、またはポリ(2,5−チエニレンビニレン)もしくはその誘導体等が例示される。
(Hole transport layer)
The material constituting the hole transport layer is not particularly limited. For example, N, N′-diphenyl-N, N′-di (3-methylphenyl) 4,4′-diaminobiphenyl (TPD), 4 , 4′-bis [N- (1-naphthyl) -N-phenylamino] biphenyl (NPB) and other aromatic amine derivatives, polyvinylcarbazole or derivatives thereof, polysilane or derivatives thereof, aromatic amines in the side chain or main chain Polysiloxane derivative having pyrazole, pyrazoline derivative, arylamine derivative, stilbene derivative, triphenyldiamine derivative, polyaniline or derivative thereof, polythiophene or derivative thereof, polyarylamine or derivative thereof, polypyrrole or derivative thereof, poly (p-phenylene vinylene) Or its derivatives, or poly (2,5-thienylene vinylene) or a derivative thereof is exemplified.

上記した材料のうち、正孔輸送層に用いる正孔輸送材料としては、ポリビニルカルバゾールもしくはその誘導体、ポリシランもしくはその誘導体、側鎖もしくは主鎖に芳香族アミンを有するポリシロキサン誘導体ポリアニリンもしくはその誘導体、ポリチオフェンもしくはその誘導体、ポリアリールアミンもしくはその誘導体、ポリ(p−フェニレンビニレン)もしくはその誘導体、またはポリ(2,5−チエニレンビニレン)もしくはその誘導体等の高分子正孔輸送材料が好ましい。低分子の正孔輸送材料を用いる場合は、高分子バインダーに分散させて用いることが好ましい。   Among the above materials, as the hole transport material used for the hole transport layer, polyvinyl carbazole or a derivative thereof, polysilane or a derivative thereof, a polysiloxane derivative having an aromatic amine in a side chain or a main chain, a polyaniline or a derivative thereof, polythiophene Alternatively, a polymer hole transport material such as a derivative thereof, polyarylamine or a derivative thereof, poly (p-phenylene vinylene) or a derivative thereof, or poly (2,5-thienylene vinylene) or a derivative thereof is preferable. When using a low molecular weight hole transport material, it is preferable to use it dispersed in a polymer binder.

正孔輸送層の成膜方法としては、特に制限はないが、低分子の正孔輸送材料を用いる場合には、高分子バインダーと正孔輸送材料とを含む混合液から成膜をする方法がある。また、高分子の正孔輸送材料を用いる場合には、正孔輸送材料を含む溶液から成膜を行う方法がある。溶液からの成膜に用いられる溶媒としては、正孔輸送材料を溶解させるものであれば、特に制限はなく、例えば、正孔注入層で使用される溶媒を使用することができる。溶液からの成膜には、上述した正孔注入層の塗布法と同様の塗布法を使用することができる。   The method for forming the hole transport layer is not particularly limited, but when a low molecular hole transport material is used, there is a method of forming a film from a mixed liquid containing a polymer binder and a hole transport material. is there. In the case of using a polymer hole transport material, there is a method of forming a film from a solution containing the hole transport material. The solvent used for film formation from a solution is not particularly limited as long as it can dissolve a hole transport material, and for example, a solvent used in a hole injection layer can be used. For film formation from a solution, a coating method similar to the above-described coating method of the hole injection layer can be used.

正孔輸送層の厚みは、特に制限されないが、目的とする設計に応じて適宜変更することができ、1〜1000nm程度であることが好ましい。正孔輸送層の厚みが1nm未満になると、製造が困難になる、または正孔輸送の効果が十分に得られない等の傾向がある。他方、正孔輸送層の厚みが1000nmを超えると、駆動電圧及び正孔輸送層に印加される電圧が大きくなる傾向がある。したがって正孔輸送層の厚みは、好ましくは、1〜1000nmであるが、より好ましくは、2〜500nmであり、さらに好ましくは、5〜200nmである。   The thickness of the hole transport layer is not particularly limited, but can be appropriately changed according to the intended design, and is preferably about 1 to 1000 nm. When the thickness of the hole transport layer is less than 1 nm, the production tends to be difficult or the effect of hole transport cannot be obtained sufficiently. On the other hand, when the thickness of the hole transport layer exceeds 1000 nm, the driving voltage and the voltage applied to the hole transport layer tend to increase. Therefore, the thickness of the hole transport layer is preferably 1 to 1000 nm, more preferably 2 to 500 nm, and still more preferably 5 to 200 nm.

(発光機能層)
発光機能層21は、主として蛍光または燐光を発光する有機物(低分子化合物及び高分子化合物)を有する。なお、発光機能層21は、さらにドーパント材料を含んでいてもよい。第1実施形態において用いられる発光機能層を形成する材料としては、例えば、以下の材料がある。
(Light emitting functional layer)
The light emitting functional layer 21 has an organic substance (low molecular compound and high molecular compound) that mainly emits fluorescence or phosphorescence. The light emitting functional layer 21 may further contain a dopant material. Examples of the material for forming the light emitting functional layer used in the first embodiment include the following materials.

色素系材料
発光機能層21の色素系材料としては、例えば、シクロペンダミン誘導体、キナクドリン誘導体、クマリン誘導体、テトラフェニルブタジエン誘導体化合物、トリフェニルアミン誘導体、オキサジアゾール誘導体、ピラゾロキノリン誘導体、ジスチリルベンゼン誘導体、ジスチリルアリーレン誘導体、ピロール誘導体、チオフェン環化合物、ピリジン環化合物、ペリノン誘導体、ペリレン誘導体、オリゴチオフェン誘導体、オキサジアゾールダイマー及びピラゾリンダイマー等がある。
Examples of the dye-based material of the light-emitting functional layer 21 include a cyclopentamine derivative, a quinacudrine derivative, a coumarin derivative, a tetraphenylbutadiene derivative compound, a triphenylamine derivative, an oxadiazole derivative, a pyrazoloquinoline derivative, and distyryl. Examples include benzene derivatives, distyrylarylene derivatives, pyrrole derivatives, thiophene ring compounds, pyridine ring compounds, perinone derivatives, perylene derivatives, oligothiophene derivatives, oxadiazole dimers, and pyrazoline dimers.

金属錯体系材料
発光機能層21の金属錯体系材料としては、例えば、イリジウム錯体、白金錯体等の三重項励起状態からの発光を有する金属錯体、アルミキノリノール錯体、ベンゾキノリノールベリリウム錯体、ベンゾオキサゾリル亜鉛錯体、ベンゾチアゾール亜鉛錯体、アゾメチル亜鉛錯体、ポルフィリン亜鉛錯体、ユーロピウム錯体等、中心金属に、Al、Zn、Be等またはTb、Eu、Dy等の希土類金属を有し、配位子にオキサジアゾール、チアジアゾール、フェニルピリジン、フェニルベンゾイミダゾール及びキノリン構造等を有する金属錯体等がある。
Metal Complex Material As the metal complex material of the light emitting functional layer 21, for example, a metal complex having light emission from a triplet excited state such as an iridium complex or a platinum complex, an aluminum quinolinol complex, a benzoquinolinol beryllium complex, or a benzoxazolyl Zinc complex, benzothiazole zinc complex, azomethylzinc complex, porphyrin zinc complex, europium complex, etc., which has a rare earth metal such as Al, Zn, Be or Tb, Eu, Dy, etc. as the central metal, and oxazi There are metal complexes having azole, thiadiazole, phenylpyridine, phenylbenzimidazole, quinoline structures, and the like.

高分子系材料
発光機能層21の高分子系材料としては、ポリパラフェニレンビニレン誘導体、ポリチオフェン誘導体、ポリパラフェニレン誘導体、ポリシラン誘導体、ポリアセチレン誘導体、ポリフルオレン誘導体、ポリビニルカルバゾール誘導体及び上記色素体や金属錯体系発光材料を高分子化したもの等がある。
上記高分子系材料のうち、青色に発光する材料としては、ジスチリルアリーレン誘導体、オキサジアゾール誘導体及びそれらの重合体、ポリビニルカルバゾール誘導体、ポリパラフェニレン誘導体及びポリフルオレン誘導体等がある。
Polymeric materials Examples of the polymeric material of the light emitting functional layer 21 include polyparaphenylene vinylene derivatives, polythiophene derivatives, polyparaphenylene derivatives, polysilane derivatives, polyacetylene derivatives, polyfluorene derivatives, polyvinyl carbazole derivatives, and the above-described dye bodies and metal complexes. There are polymerized light emitting materials.
Among the high molecular weight materials, materials that emit blue light include distyrylarylene derivatives, oxadiazole derivatives and polymers thereof, polyvinylcarbazole derivatives, polyparaphenylene derivatives, and polyfluorene derivatives.

また、緑色に発光する材料としては、キナクドリン誘導体、クマリン誘導体、及びそれらの重合体、ポリパラフェニレンビニレン誘導体及びポリフルオレン誘導体等がある。
また、赤色に発光する材料としては、クマリン誘導体、チオフェン環化合物、及びそれらの重合体、ポリパラフェニレンビニレン誘導体、ポリチオフェン誘導体及びポリフルオレン誘導体等がある。
Examples of materials that emit green light include quinacrine derivatives, coumarin derivatives, and polymers thereof, polyparaphenylene vinylene derivatives, and polyfluorene derivatives.
Examples of materials that emit red light include coumarin derivatives, thiophene ring compounds, and polymers thereof, polyparaphenylene vinylene derivatives, polythiophene derivatives, and polyfluorene derivatives.

ドーパント材料
発光機能層中に発光効率の向上や発光波長を変化させる目的で、ドーパントを添加することができる。このよう等パントとしては、例えば、ペリレン誘導体、クマリン誘導体、ルブレン誘導体、キナクドリン誘導体、スクアリウム誘導体、ポルフィリン誘導体、スチリル系色素、テトラセン誘導体、ピラゾロン誘導体、デカシクレン、フェノキサゾン等がある。なお、発光機能層の厚さは、通常約2〜200nmである。
発光機能層の成膜方法としては、有機発光材料を含む溶液から成膜を行う方法がある。溶液からの成膜に用いられる溶媒としては、有機発光材料を溶解させるものであれば、特に制限はなく、正孔注入層の成膜に使用される溶媒を使用することができる。また、溶液からの成膜方法としては、上述した正孔注入層と同様の塗布法を使用することができる。
Dopant material A dopant can be added to the light emitting functional layer for the purpose of improving the light emission efficiency and changing the light emission wavelength. Examples of such isopantos include perylene derivatives, coumarin derivatives, rubrene derivatives, quinacudrine derivatives, squalium derivatives, porphyrin derivatives, styryl dyes, tetracene derivatives, pyrazolone derivatives, decacyclene, phenoxazone, and the like. The thickness of the light emitting functional layer is usually about 2 to 200 nm.
As a method of forming the light emitting functional layer, there is a method of forming a film from a solution containing an organic light emitting material. The solvent used for film formation from a solution is not particularly limited as long as it dissolves an organic light emitting material, and a solvent used for film formation of a hole injection layer can be used. Moreover, as a film-forming method from a solution, the coating method similar to the hole injection layer mentioned above can be used.

(電極と発光機能層との間に設けられる層)
必要に応じて電極22(陰極)と発光機能層21の間に設けられる層としては、電子注入層、電子輸送層、正孔ブロック層等がある。電極22と発光機能層21との間に電子注入層と電子輸送層との両方の層が設けられる場合、電極22に接する層を電子注入層といい、電子注入層を除く層を電子輸送層という。
電子注入層は、電極22からの電子注入効率を改善する機能を有する層である。電子輸送層は、電極22、電子注入層または電極22により近い層からの電子注入を改善する機能を有する層である。正孔ブロック層は、正孔の輸送を止める機能を有する層である。なお電子注入層、及び電子輸送層の少なくとも一方が正孔の輸送を止める機能を有する場合には、電子注入層、及び電子輸送層の少なくとも一方が正孔ブロック層を兼ねることがある。
(Layer provided between the electrode and the light emitting functional layer)
Examples of the layer provided between the electrode 22 (cathode) and the light emitting functional layer 21 as needed include an electron injection layer, an electron transport layer, a hole blocking layer, and the like. When both the electron injection layer and the electron transport layer are provided between the electrode 22 and the light emitting functional layer 21, the layer in contact with the electrode 22 is referred to as an electron injection layer, and the layers excluding the electron injection layer are referred to as an electron transport layer. That's it.
The electron injection layer is a layer having a function of improving the electron injection efficiency from the electrode 22. The electron transport layer is a layer having a function of improving electron injection from the electrode 22, the electron injection layer, or a layer closer to the electrode 22. The hole blocking layer is a layer having a function of stopping hole transport. In the case where at least one of the electron injection layer and the electron transport layer has a function of stopping the transport of holes, at least one of the electron injection layer and the electron transport layer may also serve as the hole blocking layer.

(電子輸送層)
電子輸送層を構成する電子輸送材料としては、公知の電子輸送材料を使用することができる。具体的には、電子輸送材料として、オキサジアゾール誘導体、アントラキノジメタン若しくはその誘導体、ベンゾキノン若しくはその誘導体、ナフトキノン若しくはその誘導体、アントラキノン若しくはその誘導体、テトラシアノアンスラキノジメタン若しくはその誘導体、フルオレノン若しくはその誘導体、ジフェニルジシアノエチレン若しくはその誘導体、ジフェノキノン誘導体、または8−ヒドロキシキノリン若しくはその誘導体の金属錯体、ポリキノリン若しくはその誘導体、ポリキノキサリン若しくはその誘導体及びポリフルオレン若しくはその誘導体等がある。
(Electron transport layer)
A known electron transport material can be used as the electron transport material constituting the electron transport layer. Specifically, as an electron transport material, an oxadiazole derivative, anthraquinodimethane or a derivative thereof, benzoquinone or a derivative thereof, naphthoquinone or a derivative thereof, anthraquinone or a derivative thereof, tetracyanoanthraquinodimethane or a derivative thereof, fluorenone or There are derivatives thereof, diphenyldicyanoethylene or derivatives thereof, diphenoquinone derivatives, or metal complexes of 8-hydroxyquinoline or derivatives thereof, polyquinoline or derivatives thereof, polyquinoxaline or derivatives thereof, and polyfluorene or derivatives thereof.

これらのうち、電子輸送材料としては、オキサジアゾール誘導体、ベンゾキノン若しくはその誘導体、アントラキノン若しくはその誘導体、8−ヒドロキシキノリン若しくはその誘導体の金属錯体、ポリキノリン若しくはその誘導体、ポリキノキサリン若しくはその誘導体、ポリフルオレン若しくはその誘導体が好ましく、2−(4−ビフェニリル)−5−(4−t−ブチルフェニル)−1,3,4−オキサジアゾール、ベンゾキノン、アントラキノン、トリス(8−キノリノール)アルミニウム及びポリキノリンがさらに好ましい。   Among these, as an electron transport material, an oxadiazole derivative, benzoquinone or a derivative thereof, anthraquinone or a derivative thereof, a metal complex of 8-hydroxyquinoline or a derivative thereof, polyquinoline or a derivative thereof, polyquinoxaline or a derivative thereof, polyfluorene or Its derivatives are preferred, 2- (4-biphenylyl) -5- (4-t-butylphenyl) -1,3,4-oxadiazole, benzoquinone, anthraquinone, tris (8-quinolinol) aluminum and polyquinoline are more preferred. .

電子輸送層の成膜方法としては、特に制限はないが、低分子の電子輸送材料では、高分子バインダーと電子輸送材料とを含む混合液から成膜をする方法がある。また、高分子の電子輸送材料では、電子輸送材料を含む溶液から成膜をする方法がある。溶液からの成膜に用いられる溶媒としては、電子輸送材料を溶解させるものであれば、特に制限はなく、正孔注入層の溶媒として使用される溶媒を使用することができる。溶液からの成膜方法としては、上述した正孔注入層の成膜法と同様の塗布法がある。   The method for forming the electron transport layer is not particularly limited, but for a low molecular electron transport material, there is a method of forming a film from a mixed solution containing a polymer binder and an electron transport material. As a high-molecular electron transport material, there is a method of forming a film from a solution containing an electron transport material. The solvent used for film formation from a solution is not particularly limited as long as it dissolves an electron transport material, and a solvent used as a solvent for a hole injection layer can be used. As a film forming method from a solution, there is a coating method similar to the above-described film forming method of the hole injection layer.

電子輸送層の厚みは、用いる材料によって最適値が異なり、目的とする設計に応じて適宜変更することができる。電子輸送層には、少なくともピンホールが発生しない厚さが必要である。ピンホールが発生しない膜厚として、例えば、1〜1000nm程度であることが好ましく、より好ましくは、2〜500nmであり、さらに好ましくは、5〜200nmである。   The thickness of the electron transport layer varies depending on the material used, and can be changed as appropriate according to the intended design. The electron transport layer needs to have a thickness that does not generate at least pinholes. The film thickness at which no pinholes are generated is, for example, preferably about 1 to 1000 nm, more preferably 2 to 500 nm, and still more preferably 5 to 200 nm.

(電子注入層)
電子注入層を構成する材料としては、発光機能層の種類に応じて最適な材料が適宜選択される。電子注入層の材料としては、例えば、アルカリ金属、アルカリ土類金属、アルカリ金属及びアルカリ土類金属のうちの1種類以上含む合金、アルカリ金属若しくはアルカリ土類金属の酸化物、ハロゲン化物、炭酸化物、またはこれらの物質の混合物等がある。
(Electron injection layer)
As a material constituting the electron injection layer, an optimum material is appropriately selected according to the type of the light emitting functional layer. Examples of the material of the electron injection layer include alkali metals, alkaline earth metals, alloys containing at least one of alkali metals and alkaline earth metals, alkali metal or alkaline earth metal oxides, halides, and carbonates. Or a mixture of these substances.

アルカリ金属、アルカリ金属の酸化物、ハロゲン化物、及び炭酸化物の例としては、リチウム、ナトリウム、カリウム、ルビジウム、セシウム、酸化リチウム、フッ化リチウム、酸化ナトリウム、フッ化ナトリウム、酸化カリウム、フッ化カリウム、酸化ルビジウム、フッ化ルブジウム、酸化セシウム、フッ化セシウム、炭酸リチウム等がある。また、アルカリ土類金属、アルカリ土類金属の酸化物、ハロゲン化物、及び炭酸化物の例としては、マグネシウム、カルシウム、バリウム、ストロンチウム、酸化マグネシウム、フッ化マグネシウム、酸化カルシウム、フッ化カルシウム、酸化バリウム、フッ化バリウム、酸化ストロンチウム、フッ化ストロンチウム、炭酸マグネシウム等がある。電子注入層は、2層以上を積層した積層体で構成されていてもよく、例えばフッ化リチウム/カルシウム等の二層構造とすることができる。電子注入層は、各種蒸着法、スパッタリング法、各種塗布法等により形成される。電子注入層の膜厚としては、1〜1000nm程度が好ましい。   Examples of alkali metals, alkali metal oxides, halides, and carbonates include lithium, sodium, potassium, rubidium, cesium, lithium oxide, lithium fluoride, sodium oxide, sodium fluoride, potassium oxide, potassium fluoride , Rubidium oxide, rubudium fluoride, cesium oxide, cesium fluoride, lithium carbonate, and the like. Examples of alkaline earth metals, alkaline earth metal oxides, halides, and carbonates include magnesium, calcium, barium, strontium, magnesium oxide, magnesium fluoride, calcium oxide, calcium fluoride, and barium oxide. , Barium fluoride, strontium oxide, strontium fluoride, magnesium carbonate, and the like. The electron injection layer may be composed of a laminate in which two or more layers are laminated, and may have a two-layer structure such as lithium fluoride / calcium. The electron injection layer is formed by various deposition methods, sputtering methods, various coating methods, and the like. The thickness of the electron injection layer is preferably about 1 to 1000 nm.

(電極)
電極22の材料としては、仕事関数が小さく、発光機能層への電子注入が容易な材料、電気導電度が高い材料、可視光反射率の高い材料の少なくとも一つが好ましい。かかる電極22の材料としては、具体的には、金属、金属酸化物、合金、グラファイトまたはグラファイト層間化合物及び酸化亜鉛等の無機半導体等がある。
(electrode)
The material of the electrode 22 is preferably at least one of a material having a small work function and easy electron injection into the light emitting functional layer, a material having a high electrical conductivity, and a material having a high visible light reflectance. Specific examples of the material of the electrode 22 include metals, metal oxides, alloys, graphite, graphite intercalation compounds, and inorganic semiconductors such as zinc oxide.

上記金属としては、アルカリ金属やアルカリ土類金属、遷移金属やIII−b属金属等を用いることができる。これらの金属の具体的例としては、リチウム、ナトリウム、カリウム、ルビジウム、セシウム、ベリリウム、マグネシウム、カルシウム、ストロンチウム、バリウム、金、銀、白金、銅、マンガン、チタン、コバルト、ニッケル、タングステン、錫、アルミニウム、スカンジウム、バナジウム、亜鉛、イットリウム、インジウム、セリウム、サマリウム、ユーロピウム、テルビウム及びイッテルビウム等がある。   As the metal, an alkali metal, an alkaline earth metal, a transition metal, a Group III-b metal, or the like can be used. Specific examples of these metals include lithium, sodium, potassium, rubidium, cesium, beryllium, magnesium, calcium, strontium, barium, gold, silver, platinum, copper, manganese, titanium, cobalt, nickel, tungsten, tin, Examples include aluminum, scandium, vanadium, zinc, yttrium, indium, cerium, samarium, europium, terbium, and ytterbium.

また、合金としては、上記金属の少なくとも一種を含む合金を使用することができる。具体的には、マグネシウム−銀合金、マグネシウム−インジウム合金、マグネシウム−アルミニウム合金、インジウム−銀合金、リチウム−アルミニウム合金、リチウム−マグネシウム合金、リチウム−インジウム合金及びカルシウム−アルミニウム合金等が使用される。   Moreover, as an alloy, the alloy containing at least 1 type of the said metal can be used. Specifically, magnesium-silver alloy, magnesium-indium alloy, magnesium-aluminum alloy, indium-silver alloy, lithium-aluminum alloy, lithium-magnesium alloy, lithium-indium alloy, calcium-aluminum alloy and the like are used.

電極22は、必要に応じて透明電極として構成される。電極22の材料としては、酸化インジウム、酸化亜鉛、酸化錫、ITO、IZO等の導電性酸化物、ポリアニリンもしくはその誘導体、ポリチオフェンもしくはその誘導体等の導電性有機物がある。
なお、電極22は、2層以上の積層構造であってもよい。また、電子注入層が電極22として用いられる場合もある。電極22の膜厚は、電気導電度や耐久性を考慮して、適宜選択することができるが、例えば、10〜10000nmであり、好ましくは20〜1000nmであり、さらに好ましくは、50〜500nmである。
The electrode 22 is configured as a transparent electrode as necessary. Examples of the material of the electrode 22 include conductive oxides such as indium oxide, zinc oxide, tin oxide, ITO, and IZO, and conductive organic substances such as polyaniline or a derivative thereof, polythiophene or a derivative thereof.
The electrode 22 may have a laminated structure of two or more layers. In addition, an electron injection layer may be used as the electrode 22. The film thickness of the electrode 22 can be appropriately selected in consideration of electric conductivity and durability, but is, for example, 10 to 10000 nm, preferably 20 to 1000 nm, and more preferably 50 to 500 nm. is there.

(封止構造)
第1実施形態の封止構造は、透明電極14、発光機能層21、電極22の側面及び上面に接着層23を形成し、電極22の上面の接着層23上に封止基材24を貼り合わせることによって構成されている。
接着層23としては、熱硬化型の接着層を使用することができるが、有機ELを構成する材料への影響を鑑みると光硬化型の接着剤が好ましい。光硬化型の接着剤としては、例えば、エステルアクリレート、ウレタンアクリレート、エポキシアクリレート、メラミンアクリレート、アクリル樹脂アクリレート等の各種アクリレート、ウレタンポリエステル等の樹脂を用いたラジカル系接着剤や、エポキシ、ビニルエーテル等の樹脂を用いたカチオン系接着剤及びチオール・エン付加型樹脂系接着剤等がある。このような接着剤の中でも、接着層23に用いられる接着剤として、酸素による阻害がなく、光照射後も重合反応が進行するカチオン系接着剤が好ましい。
(Sealing structure)
In the sealing structure of the first embodiment, the adhesive layer 23 is formed on the side surface and the upper surface of the transparent electrode 14, the light emitting functional layer 21, and the electrode 22, and the sealing substrate 24 is pasted on the adhesive layer 23 on the upper surface of the electrode 22. Composed by combining.
As the adhesive layer 23, a thermosetting adhesive layer can be used, but in view of the influence on the material constituting the organic EL, a photocurable adhesive is preferable. Examples of the photocurable adhesive include radical adhesives using resins such as various acrylates such as ester acrylate, urethane acrylate, epoxy acrylate, melamine acrylate, and acrylic resin acrylate, and urethane polyester, and epoxy and vinyl ether. There are cationic adhesives using resins and thiol / ene addition type resin adhesives. Among such adhesives, as the adhesive used for the adhesive layer 23, a cationic adhesive that is not inhibited by oxygen and that undergoes a polymerization reaction even after light irradiation is preferable.

接着層23に用いられるカチオン系硬化型タイプの接着剤としては、紫外線硬化型エポキシ樹脂接着剤が好ましく、また、100mW/cm以上の紫外線を照射した際に、10〜90秒以内に硬化する紫外線硬化型接着剤が特に好ましい。接着剤を10〜90秒以内に硬化させることにより、紫外線照射による他の構成要素への影響を排除しつつ、接着剤が充分に硬化して適切な接着強度を得ることができる。 The cationic curable adhesive used for the adhesive layer 23 is preferably an ultraviolet curable epoxy resin adhesive, and is cured within 10 to 90 seconds when irradiated with ultraviolet rays of 100 mW / cm 2 or more. An ultraviolet curable adhesive is particularly preferred. By curing the adhesive within 10 to 90 seconds, the adhesive can be sufficiently cured and appropriate adhesive strength can be obtained while eliminating the influence on other components due to ultraviolet irradiation.

また、発光装置1を生産する生産工程の効率の観点からも、接着剤を10〜90秒以内に硬化させることが好ましい。さらに、接着剤は、種類に関わらず、低透湿性、かつ高接着性のものが好ましい。接着層23を封止基材24との接触面に形成する方法の一例として、ディスペンス法、押出ラミネート法、溶融・ホットメルト法、カレンダー法、ノズル塗布法、スクリーン印刷法、真空ラミネート法及び熱ロールラミネート法等がある。接着層23の厚みとしては特に制限はないが、薄膜であるとこが好ましく、好ましくは1〜100μmであり、特に好ましくは5〜50μmである。   Moreover, it is preferable to harden the adhesive within 10 to 90 seconds from the viewpoint of the efficiency of the production process for producing the light emitting device 1. Further, the adhesive preferably has a low moisture permeability and a high adhesiveness regardless of the type. As an example of a method for forming the adhesive layer 23 on the contact surface with the sealing substrate 24, a dispensing method, an extrusion laminating method, a melting / hot melt method, a calendar method, a nozzle coating method, a screen printing method, a vacuum laminating method, and a heat There is a roll laminating method. Although there is no restriction | limiting in particular as the thickness of the contact bonding layer 23, A thing with a thin film is preferable, Preferably it is 1-100 micrometers, Especially preferably, it is 5-50 micrometers.

発光装置1がトップエミッション型の有機EL素子である場合には、封止基材24に透明性が必要になる。このような場合、封止基材24にはガラス、ポリエチレンテレフタラート(PET)、ポリエーテルスルホン(PES)、ポリエチレンナフタレート(PEN)等及びプラスチックフィルムを用いることができる。また、発光装置1が特に透明性が必要ないボトムエミッション型の有機EL素子である場合には、封止基材24として上記の材料に加えてステンレスやアルミ等の金属材料や不透明なガラス、プラスチック材料、或いはPETとアルミ箔に接着剤を介して貼り合せた基材、例えばアルペット等も用いることができる。   When the light emitting device 1 is a top emission type organic EL element, the sealing substrate 24 needs to be transparent. In such a case, glass, polyethylene terephthalate (PET), polyethersulfone (PES), polyethylene naphthalate (PEN), etc., and a plastic film can be used for the sealing substrate 24. In addition, when the light emitting device 1 is a bottom emission type organic EL element that does not particularly require transparency, in addition to the above materials, the sealing substrate 24 is made of a metal material such as stainless steel or aluminum, opaque glass, or plastic. A material or a base material bonded to PET and aluminum foil via an adhesive, such as Alpet, can also be used.

有機EL素子として構成される第1実施形態の発光装置は、上記した構成を有している。このような有機EL素子は、自発光型ディスプレイ、液晶用及び広告媒体バックライト、照明等に用いることができる。
また、以上説明した第1実施形態の発光装置は、ストライプ形状に配置された反射防止細線12で構成される反射防止層120を設ける構成に限定されるものではない。
The light emitting device according to the first embodiment configured as an organic EL element has the above-described configuration. Such an organic EL element can be used for a self-luminous display, a liquid crystal display and an advertising medium backlight, illumination, and the like.
Further, the light emitting device according to the first embodiment described above is not limited to the configuration in which the antireflection layer 120 including the antireflection thin wires 12 arranged in a stripe shape is provided.

図3は、他の反射防止層150を示すための上面図である。反射防止層150は、例えば、上面視において、y方向の長さがx方向の長さよりも長い形状の導電材料または絶縁材料からなる複数の反射防止細線151と、x方向の長さがy方向の長さよりも長い形状の導電材料または絶縁材料からなる複数の反射防止細線152と、を含み、反射防止細線151と反射防止細線152を互いに直交するように配置している。図3に示したように、反射防止層150は、上面視において格子形状を成す。
なお、第3実施形態においては、反射防止細線151においてはx方向の長さを幅といい、反射防止細線152においてはy方向の長さを幅という。
FIG. 3 is a top view for showing another antireflection layer 150. The antireflection layer 150 includes, for example, a plurality of antireflection thin wires 151 made of a conductive material or an insulating material whose length in the y direction is longer than the length in the x direction and the length in the x direction in the y direction when viewed from above. A plurality of antireflection thin wires 152 made of a conductive material or an insulating material having a shape longer than the length of the antireflection thin wires 151 and the antireflection thin wires 152 are arranged so as to be orthogonal to each other. As shown in FIG. 3, the antireflection layer 150 has a lattice shape in a top view.
In the third embodiment, the length in the x direction of the antireflection thin wire 151 is referred to as a width, and the length in the y direction of the antireflection thin wire 152 is referred to as a width.

(発光装置の製造方法)
次に、以上説明した第1実施形態の発光装置1の製造方法について説明する。第1実施形態の発光装置1の製造方法は、特に発光装置の透明電極10の製造方法に関する。第1実施形態の透明電極10の製造方法においては、透明基材11上において、反射防止層120、導電層13、透明導電層14が透明基材11の側からこの順に作製されて製造される。
(Method for manufacturing light emitting device)
Next, a method for manufacturing the light emitting device 1 of the first embodiment described above will be described. The manufacturing method of the light-emitting device 1 of 1st Embodiment is related with the manufacturing method of the transparent electrode 10 of a light-emitting device especially. In the manufacturing method of the transparent electrode 10 of 1st Embodiment, on the transparent base material 11, the antireflection layer 120, the conductive layer 13, and the transparent conductive layer 14 are produced and manufactured in this order from the transparent base material 11 side. .

図4−1(a)、(b)、(c)及び図4−2(d)、(e)は、第1実施形態の発光装置の製造方法を説明するための図である。図4−1(a)に示すように、第1実施形態では、先ず、透明基材11上に反射防止層120を形成するための反射防止膜122と、導電層13を形成するための導電膜132と、を成膜する。
反射防止膜122及び導電膜132を形成する方法としては、特に制限はなく、例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、または金属薄膜を熱圧縮するラミネート法等を用いることができる。反射防止膜122及び導電膜132は、フォトレジストを用いたエッチング法によってパター二ングされ、図1(b)に示した反射防止細線12及び導電層13となる。
FIGS. 4-1 (a), (b), (c) and FIGS. 4-2 (d), (e) are views for explaining a method for manufacturing the light emitting device of the first embodiment. As shown in FIG. 4A, in the first embodiment, first, the antireflection film 122 for forming the antireflection layer 120 on the transparent substrate 11 and the conductivity for forming the conductive layer 13 are used. A film 132 is formed.
The method for forming the antireflection film 122 and the conductive film 132 is not particularly limited, and for example, a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, or a lamination method in which a metal thin film is thermally compressed can be used. . The antireflection film 122 and the conductive film 132 are patterned by an etching method using a photoresist, so that the antireflection thin wire 12 and the conductive layer 13 shown in FIG.

また、第1実施形態は、反射防止細線12及び導電層13を溶液から形成することができる。反射防止細線12を形成する溶液の溶媒としては、反射防止細線12、導電層13となる材料を溶解させるものであれば、特に制限はない。
反射防止細線12及び導電層13を溶液から形成する方法としては、スピンコート法、キャスティング法、マイクログラビアコート法、グラビアコート法、バーコート法、ロールコート法、ワイアーバーコート法、ディップコート法、スプレーコート法、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法、スリットコート法、インクジェットプリント法、ノズルプリント法等の塗布法がある。このような方法のうち、反射防止細線12及び導電層13のパターンを直接形成できる成膜方法が好ましい。成膜方法は適宜選択可能であるが、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法等の印刷法、インクジェットプリント法、ノズルプリント法等の吐出による塗布法が好適である。成膜された膜は、その後、乾燥固化して反射防止細線12及び導電層13となる。
In the first embodiment, the antireflection thin wire 12 and the conductive layer 13 can be formed from a solution. The solvent of the solution for forming the antireflection thin wire 12 is not particularly limited as long as it dissolves the material that becomes the antireflection thin wire 12 and the conductive layer 13.
As a method of forming the antireflection fine wire 12 and the conductive layer 13 from a solution, a spin coating method, a casting method, a micro gravure coating method, a gravure coating method, a bar coating method, a roll coating method, a wire bar coating method, a dip coating method, There are coating methods such as spray coating, screen printing, flexographic printing, offset printing, slit coating, ink jet printing, and nozzle printing. Of these methods, a film forming method capable of directly forming the pattern of the antireflection thin wire 12 and the conductive layer 13 is preferable. A film forming method can be selected as appropriate, but a printing method such as a screen printing method, a flexographic printing method, and an offset printing method, and a coating method by ejection such as an inkjet printing method and a nozzle printing method are preferable. The formed film is then dried and solidified to become the antireflection fine wire 12 and the conductive layer 13.

次に、第1実施形態では、透明電極14の形成領域に塗布導電材料を塗布して、透明導電層を成膜する。この時、透明基材と貼り合せる封止基材(詳細は後述する)の封止接着剤が形成される領域を除くように、透明導電層を形成する。成膜方法としては、スピンコート法、キャスティング法、マイクログラビアコート法、グラビアコート法、バーコート法、ロールコート法、ワイアーバーコート法、ディップコート法、スプレーコート法、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法、スリットコート法、インクジェットプリント法、ノズルプリント法等の塗布法を使用することができる。特に、透明電極の形成領域を全面に渡って成膜するため、一様に塗布成膜する方法が好ましく、適宜選択可能であるが、スピンコート法、バーコート法、ワイアーバーコート法、ディップコート法、スプレーコート法、スリットコート法、キャスティング法、マイクログラビアコート法、グラビアコート法、ロールコート法等の塗布法が好適である。   Next, in the first embodiment, a coating conductive material is applied to the formation region of the transparent electrode 14 to form a transparent conductive layer. At this time, a transparent conductive layer is formed so that the area | region where the sealing adhesive of the sealing base material (it mentions later for details) bonded with a transparent base material is formed may be excluded. Film formation methods include spin coating, casting, micro gravure coating, gravure coating, bar coating, roll coating, wire bar coating, dip coating, spray coating, screen printing, flexographic printing. Application methods such as an offset printing method, a slit coating method, an ink jet printing method, and a nozzle printing method can be used. In particular, since the transparent electrode forming region is formed over the entire surface, a uniform coating method is preferable, and can be selected as appropriate. A spin coating method, a bar coating method, a wire bar coating method, a dip coating can be used. A coating method such as a method, a spray coating method, a slit coating method, a casting method, a micro gravure coating method, a gravure coating method, or a roll coating method is suitable.

次いで、透明電極の形成領域全面に塗布導電材料が塗布された透明基材11を、乾燥処理室内で、例えば100℃以上の温度条件で加熱処理する。これにより、塗布導電材料溶液に含まれる溶媒を気化させて、透明基材11、及び反射防止細線12の上に塗布導電材料を固着させて、透明導電層14を形成する。図4−1(c)は、透明導電層14を含む透明電極10が形成された状態を示す。   Next, the transparent base material 11 on which the coating conductive material is coated on the entire surface of the transparent electrode forming region is heat-treated in a drying chamber at a temperature condition of, for example, 100 ° C. or higher. Thereby, the solvent contained in the coating conductive material solution is vaporized, and the coating conductive material is fixed on the transparent base material 11 and the antireflection thin wire 12 to form the transparent conductive layer 14. FIG. 4C shows a state where the transparent electrode 10 including the transparent conductive layer 14 is formed.

さらに、第1実施形態では、図4−2(d)に示すように、透明電極14上に発光機能層21及び電極22を形成する。発光機能層21は、発光機能層21を形成するための溶液を塗布、成膜する方法によっても形成することができる。また、電極22は、塗布による成膜、スパッタリング、CVD(chemical vapor deposition)等のいずれの方法によっても実現することができる。   Further, in the first embodiment, as shown in FIG. 4D, the light emitting functional layer 21 and the electrode 22 are formed on the transparent electrode 14. The light emitting functional layer 21 can also be formed by a method of applying and forming a solution for forming the light emitting functional layer 21. The electrode 22 can be realized by any method such as film formation by coating, sputtering, or CVD (chemical vapor deposition).

次に、第1実施形態では、図4−2(e)に示すように、透明電極10、発光機能層21及び電極22を覆うように接着層23を塗布する。そして、接着層23上に封止基材24を貼り合わせて封止する。
以上説明した第1実施形態によれば、導電層13と透明基材11との間に反射防止層120を設けたので、透明基材11の側から発光装置を見た場合に導電層13が視認し難くなる。このため、第1実施形態の発光装置は、透明度が高く、高品質なディスプレイを実現することができる。
Next, in 1st Embodiment, as shown to FIG.4-2 (e), the contact bonding layer 23 is apply | coated so that the transparent electrode 10, the light emission functional layer 21, and the electrode 22 may be covered. And the sealing base material 24 is bonded together on the contact bonding layer 23, and it seals.
According to the first embodiment described above, since the antireflection layer 120 is provided between the conductive layer 13 and the transparent base material 11, the conductive layer 13 is formed when the light emitting device is viewed from the transparent base material 11 side. It becomes difficult to see. For this reason, the light emitting device of the first embodiment has high transparency and can realize a high-quality display.

[第2実施形態]
次に、本発明の第2実施形態について説明する。第2実施形態の発光装置2は、有機EL素子として構成されている。第2実施形態は、第2実施形態と透明電極50内の反射防止細線52及び導電層53の形状が異なっていて、他の部材は同様に構成されている。第2実施形態においては、第1実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、その説明を一部略す。
[Second Embodiment]
Next, a second embodiment of the present invention will be described. The light emitting device 2 of the second embodiment is configured as an organic EL element. The second embodiment is different from the second embodiment in the shapes of the antireflection thin wires 52 and the conductive layer 53 in the transparent electrode 50, and the other members are configured in the same manner. In the second embodiment, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is partially omitted.

(反射防止細線)
図5(a)、(b)は、第2実施形態の発光装置2を説明するための図である。図5(a)は発光装置2のx軸に沿う断面図、図5(b)は図2(a)に示した反射防止細線52及び導電層53を拡大して示した図である。図5(b)に示すように、ここでは、反射防止細線52のx方向に対向する2つの側面を各々側面52b、側面52dとする。また、反射防止細線52の透明基材11と接する面を底面52aとし、底面52aに対する裏面を上面52cとする。
(Antireflection thin wire)
FIGS. 5A and 5B are views for explaining the light emitting device 2 of the second embodiment. 5A is a cross-sectional view of the light emitting device 2 along the x-axis, and FIG. 5B is an enlarged view of the antireflection thin wire 52 and the conductive layer 53 shown in FIG. As shown in FIG. 5B, here, the two side surfaces of the antireflection thin wire 52 facing each other in the x direction are referred to as a side surface 52b and a side surface 52d, respectively. The surface of the antireflection thin wire 52 that contacts the transparent substrate 11 is a bottom surface 52a, and the back surface of the bottom surface 52a is a top surface 52c.

また、図5(b)に示すように、導電層53のx方向に対向する2つの側面を各々側面53b、側面53dとする。また、導電層53の透明基材11と接する面を底面53aとし、底面53aに対する裏面を上面53cとする。
図5(a)及び図5(b)に示したように、第2実施形態の発光装置2が備える反射防止細線52及び導電層53は、いずれも断面が台形を有している。そして、導電層53の底面53aの幅L2は、反射防止細線52の底面52aの幅L1より短くなっている。このような構成により、第2実施形態の発光装置2は、透明基材11の側から見た場合、反射防止細線52の底面52aが導電層53の底面53aを確実に隠すことになり、導電層53を透明基材11の側からより視認し難くすることができる。
As shown in FIG. 5B, the two side surfaces facing the x direction of the conductive layer 53 are defined as a side surface 53b and a side surface 53d, respectively. The surface of the conductive layer 53 that contacts the transparent substrate 11 is a bottom surface 53a, and the back surface with respect to the bottom surface 53a is a top surface 53c.
As shown in FIGS. 5A and 5B, the antireflection thin wire 52 and the conductive layer 53 provided in the light emitting device 2 of the second embodiment both have a trapezoidal cross section. The width L2 of the bottom surface 53a of the conductive layer 53 is shorter than the width L1 of the bottom surface 52a of the antireflection thin wire 52. With such a configuration, when viewed from the transparent base material 11 side, the light emitting device 2 according to the second embodiment ensures that the bottom surface 52a of the antireflection thin wire 52 hides the bottom surface 53a of the conductive layer 53, and thus the conductive It is possible to make the layer 53 less visible from the transparent substrate 11 side.

即ち、第2実施形態では、反射防止細線52、及び導電層53の断面形状が台形となり、いずれもx方向に対向する側面にテーパーが付くように形成されている。
具体的には、図5(b)に示すように、反射防止細線52のx軸に沿う断面において、底面52aと側面52bとがなす角度を下底角θ1とする。また、上面52cと側面52dとがなす角度を上底角θ2とする。また、第2実施形態では、導電層53のx軸に沿う断面において、底面53aと側面53bとがなす角度を下底角θ3とする。また、上面53cと側面53dとがなす角度を上底角θ4とする。
That is, in the second embodiment, the cross-sectional shapes of the antireflection thin wire 52 and the conductive layer 53 are trapezoidal, and both are formed so that the side surfaces facing the x direction are tapered.
Specifically, as shown in FIG. 5B, in the cross section along the x-axis of the antireflection thin wire 52, the angle formed by the bottom surface 52a and the side surface 52b is defined as a lower base angle θ1. In addition, an angle formed by the upper surface 52c and the side surface 52d is an upper base angle θ2. In the second embodiment, in the cross section along the x-axis of the conductive layer 53, the angle formed by the bottom surface 53a and the side surface 53b is the lower base angle θ3. In addition, an angle formed by the upper surface 53c and the side surface 53d is an upper base angle θ4.

第2実施形態において、下底角θ1は90°以下が好ましく、上底角θ2は90°以上が好ましい。また、導電層53の下底角θ3は90°以下が好ましく、上底角θ4は90°以上が好ましい。
なお、第2実施形態においても、反射防止細線52としては、反射率が10%以下と低いことが好ましく、単層構造の場合、光重合系の材料が使用される。光重合系の材料の反射防止層の具体例としては、液晶ディスプレイ用のカラーフィルターとして利用されているカーボンブラックを用いた樹脂ブラックマトリスク(BM)のような低反射材料が好ましい。また、一般的なアンチグレア(AG)構造にしてもよい。また、多層構造の場合、反射防止層520は、一般的なアンチリフレクション(AR)構造であってもよい。
In the second embodiment, the lower base angle θ1 is preferably 90 ° or less, and the upper base angle θ2 is preferably 90 ° or more. The lower base angle θ3 of the conductive layer 53 is preferably 90 ° or less, and the upper base angle θ4 is preferably 90 ° or more.
Also in the second embodiment, the antireflection thin wire 52 preferably has a low reflectance of 10% or less, and in the case of a single layer structure, a photopolymerization material is used. As a specific example of the antireflection layer of the photopolymerization material, a low reflection material such as a resin black matrix (BM) using carbon black used as a color filter for a liquid crystal display is preferable. Further, a general anti-glare (AG) structure may be used. In the case of a multilayer structure, the antireflection layer 520 may have a general anti-reflection (AR) structure.

また、第2実施形態において、反射防止細線52となる膜を形成する方法としては、特に制限はなく、例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、または金属薄膜を熱圧縮するラミネート法等を用いて成膜を行い、膜をフォトレジストを用いたエッチング法によってパター二ングすることが考えられる。
このとき、第2実施形態は、エッチング時に反射防止細線52となる膜をオーバーエッチングすることによって断面が台形の反射防止細線52を形成することができる。
In the second embodiment, the method for forming the film to be the antireflection thin wire 52 is not particularly limited. For example, a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, or a laminate that thermally compresses a metal thin film. It is conceivable to form a film using a method or the like and pattern the film by an etching method using a photoresist.
At this time, in the second embodiment, the antireflection thin wire 52 having a trapezoidal cross section can be formed by over-etching the film that becomes the antireflection thin wire 52 during etching.

(導電層)
第1実施形態と同様に、第2実施形態の導電層53は、反射防止細線52上に形成される。このため、導電層53も反射防止細線52と同様にx方向よりもy方向に長い線状の形状を有している。そして、複数の導電層53は、一方向に並列に配置されてストライプ形状をなしている。導電層53の材料としては、電気抵抗が低いことが好ましく、10S/cm以上の電気伝導度を有する材料が使用される。導電材料の具体例としては、アルミニウム、銀、クロミニウム、金、銅、タンタル、モリブデン等の金属、あるいはその合金のいずれか1つを使用することができる。このような材料の中でも、電気導電度の高さや材料のハンドリングの容易さの観点から、アルミニウム、クロミニウム、銅、銀及びその合金を使用することが好ましい。
(Conductive layer)
Similar to the first embodiment, the conductive layer 53 of the second embodiment is formed on the antireflection thin wire 52. For this reason, the conductive layer 53 also has a linear shape that is longer in the y direction than in the x direction, like the antireflection thin wire 52. The plurality of conductive layers 53 are arranged in parallel in one direction to form a stripe shape. The material of the conductive layer 53 is preferably low in electrical resistance, and a material having an electrical conductivity of 10 7 S / cm or more is used. As a specific example of the conductive material, any one of metals such as aluminum, silver, chromium, gold, copper, tantalum, and molybdenum, or an alloy thereof can be used. Among these materials, it is preferable to use aluminum, chromium, copper, silver, and alloys thereof from the viewpoint of high electrical conductivity and easy material handling.

導電層53の高さ(厚み)は、0.05μm以上、10μm以下が好ましく、さらに好ましくは0.1μm以上、1μm以下である。各導電層53の幅と高さの関係については、所望の導電性に応じて決めればよい。導電層53は、同一の導電層のみで構成してもよいし、異なる導電層を組み合わせて構成してもよい。
また、第2実施形態は、反射防止細線52及び導電層53を溶液から形成することができる。反射防止細線52を形成する溶液の溶媒としては、反射防止細線52、導電層53となる材料を溶解させるものであれば、特に制限はない。
The height (thickness) of the conductive layer 53 is preferably 0.05 μm or more and 10 μm or less, more preferably 0.1 μm or more and 1 μm or less. The relationship between the width and height of each conductive layer 53 may be determined according to the desired conductivity. The conductive layer 53 may be composed of only the same conductive layer, or may be composed of a combination of different conductive layers.
In the second embodiment, the antireflection thin wire 52 and the conductive layer 53 can be formed from a solution. The solvent of the solution for forming the antireflection thin wire 52 is not particularly limited as long as it dissolves the material that becomes the antireflection thin wire 52 and the conductive layer 53.

反射防止細線52及び導電層53を溶液から形成する方法としては、スピンコート法、キャスティング法、マイクログラビアコート法、グラビアコート法、バーコート法、ロールコート法、ワイアーバーコート法、ディップコート法、スプレーコート法、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法、スリットコート法、インクジェットプリント法、ノズルプリント法等の塗布法がある。このような方法のうち、反射防止細線52及び導電層53のパターンを直接形成できる成膜方法が好ましい。成膜方法は適宜選択可能であるが、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法等の印刷法、インクジェットプリント法、ノズルプリント法等の吐出による塗布法が好適である。成膜された膜は、その後、乾燥固化して反射防止細線52あるいは導電層53となる。   As a method of forming the antireflection fine wire 52 and the conductive layer 53 from a solution, a spin coating method, a casting method, a micro gravure coating method, a gravure coating method, a bar coating method, a roll coating method, a wire bar coating method, a dip coating method, There are coating methods such as spray coating, screen printing, flexographic printing, offset printing, slit coating, ink jet printing, and nozzle printing. Of these methods, a film forming method capable of directly forming the pattern of the antireflection thin wire 52 and the conductive layer 53 is preferable. A film forming method can be selected as appropriate, but a printing method such as a screen printing method, a flexographic printing method, and an offset printing method, and a coating method by ejection such as an inkjet printing method and a nozzle printing method are preferable. Thereafter, the formed film is dried and solidified to become the antireflection thin wire 52 or the conductive layer 53.

このとき、第2実施形態は、印刷に使用される溶液を多層に塗布することにより、断面が台形の反射防止細線52及び導電層53を形成することができる。即ち、第2実施形態では、溶液の塗布において、溶液を複数回重ねて塗布し、複数の膜を重ねて形成する。このとき、第2実施形態では、複数の膜の幅が、下の側の膜から上の側の膜に向かって順に狭くなるようにする。
以上説明した第2実施形態によれば、反射防止細線52、及び導電層53の両辺にテーパーが形成されることによって、第1実施形態で得られる効果を維持しながら、透明導電膜の被覆性を高め、導電層53のエッジ部への電流集中も低減し、発光特性を向上させることができる。
At this time, in the second embodiment, the antireflection fine wire 52 and the conductive layer 53 having a trapezoidal cross section can be formed by applying a solution used for printing in multiple layers. That is, in the second embodiment, in applying the solution, the solution is applied a plurality of times and a plurality of films are formed. At this time, in the second embodiment, the widths of the plurality of films are narrowed in order from the lower film toward the upper film.
According to the second embodiment described above, the taper is formed on both sides of the antireflection fine wire 52 and the conductive layer 53, thereby maintaining the effect obtained in the first embodiment and covering the transparent conductive film. And the concentration of current on the edge portion of the conductive layer 53 can be reduced, and the light emission characteristics can be improved.

[第3実施形態]
次に、本発明の第3実施形態について説明する。第3実施形態の発光装置3は、有機EL素子として構成されている。第3実施形態は、第1実施形態及び第2実施形態と透明電極60内の反射防止細線62及び導電層63の形状が異なっていて、他の部材は同様に構成されている。第3実施形態においては、第1実施形態、第2実施形態と同様の構成については同様の符号を付し、その説明を一部略す。
[Third Embodiment]
Next, a third embodiment of the present invention will be described. The light emitting device 3 of the third embodiment is configured as an organic EL element. The third embodiment is different from the first and second embodiments in the shapes of the antireflection thin wires 62 and the conductive layer 63 in the transparent electrode 60, and the other members are configured in the same manner. In the third embodiment, the same components as those in the first embodiment and the second embodiment are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is partially omitted.

(反射防止部材)
図6(a)、(b)は、第3実施形態の発光装置3を説明するための図である。図6(a)は発光装置3のx軸に沿う断面図、図6(b)は図2(a)に示した反射防止細線62及び導電層63を拡大して示した図である。図6(b)に示すように、ここでは、反射防止細線62の透明基材11と接する底面62aに対する裏面を上面62cとする。また、導電層63の上面62cと接する面を底面63aとし、底面63aに対する裏面を上面63cとする。そして、上面63cに続く側面の一方を側面63dとする。上面63cと側面63dとがなす角度を、上底角θ5とする。
第3実施形態の発光装置3は、反射防止細線62の上に形成される導電層63の底面63aの幅が反射防止細線62の上面62cの幅よりも広く形成されている点で第2実施形態と相違する。
(Antireflection member)
FIGS. 6A and 6B are views for explaining the light emitting device 3 according to the third embodiment. 6A is a cross-sectional view of the light emitting device 3 along the x-axis, and FIG. 6B is an enlarged view of the antireflection thin wire 62 and the conductive layer 63 shown in FIG. As shown in FIG. 6B, here, the back surface of the antireflection thin wire 62 with respect to the bottom surface 62a in contact with the transparent base material 11 is defined as an upper surface 62c. Further, a surface in contact with the upper surface 62c of the conductive layer 63 is a bottom surface 63a, and a back surface with respect to the bottom surface 63a is an upper surface 63c. One side surface following the upper surface 63c is defined as a side surface 63d. An angle formed by the upper surface 63c and the side surface 63d is an upper base angle θ5.
The light emitting device 3 of the third embodiment is the second embodiment in that the width of the bottom surface 63a of the conductive layer 63 formed on the antireflection thin wire 62 is wider than the width of the upper surface 62c of the antireflection thin wire 62. It differs from the form.

図6(a)及び図6(b)に示したように、第3実施形態の発光装置3が備える反射防止細線62及び導電層63は、いずれも断面が台形を有している。第3実施形態は、図6(b)に示すように、導電層63の上底角θ5が90°以上であることが好ましい。なお、第3実施形態においても、導電層63の底面63aの幅L4は、反射防止細線52の底面62aの幅L3より短くなっている。このような構成により、第3実施形態の発光装置3は、透明基材11の側から見た場合、反射防止細線62の底面62aが導電層63の底面63aを確実に隠すことになり、導電層63を透明基材11の側からより視認し難くすることができる。   As shown in FIGS. 6A and 6B, each of the antireflection thin wire 62 and the conductive layer 63 included in the light emitting device 3 of the third embodiment has a trapezoidal cross section. In the third embodiment, as shown in FIG. 6B, the upper base angle θ5 of the conductive layer 63 is preferably 90 ° or more. In the third embodiment, the width L4 of the bottom surface 63a of the conductive layer 63 is shorter than the width L3 of the bottom surface 62a of the antireflection thin wire 52. With this configuration, in the light emitting device 3 according to the third embodiment, the bottom surface 62a of the antireflection thin wire 62 reliably hides the bottom surface 63a of the conductive layer 63 when viewed from the transparent base material 11 side. The layer 63 can be made more difficult to visually recognize from the transparent substrate 11 side.

第3実施形態の反射防止細線62としては、反射率が10%以下と低いことが好ましく、単層構造の場合、光重合系の材料が使用される。光重合系の材料の反射防止層の具体例としては、液晶ディスプレイ用のカラーフィルターとして利用されているカーボンブラックを用いた樹脂ブラックマトリスク(BM)のような低反射材料が好ましい。また、一般的なアンチグレア(AG)構造にしてもよい。また、多層構造の場合、反射防止層520は、一般的なアンチリフレクション(AR)構造であってもよい。   The antireflection thin wire 62 of the third embodiment preferably has a low reflectance of 10% or less, and in the case of a single layer structure, a photopolymerizable material is used. As a specific example of the antireflection layer of the photopolymerization material, a low reflection material such as a resin black matrix (BM) using carbon black used as a color filter for a liquid crystal display is preferable. Further, a general anti-glare (AG) structure may be used. In the case of a multilayer structure, the antireflection layer 520 may have a general anti-reflection (AR) structure.

また、第3実施形態の導電層63は、反射防止細線62上に形成される。このため、導電層63も反射防止細線62と同様にx方向に長い線状の形状を有している。そして、複数の導電層63は、一方向に並列に配置されてストライプ形状をなしている。導電層63の材料としては、電気抵抗が低いことが好ましく、10S/cm以上の電気伝導度を有する材料が使用される。導電材料の具体例としては、アルミニウム、銀、クロミニウム、金、銅、タンタル、モリブデン等の金属、あるいはその合金のいずれか1つを使用することができる。このような材料の中でも、電気導電度の高さや材料のハンドリングの容易さの観点から、アルミニウム、クロミニウム、銅、銀及びその合金を使用することが好ましい。 Further, the conductive layer 63 of the third embodiment is formed on the antireflection thin wire 62. Therefore, the conductive layer 63 also has a linear shape that is long in the x direction, like the antireflection thin wire 62. The plurality of conductive layers 63 are arranged in parallel in one direction to form a stripe shape. The material of the conductive layer 63 is preferably low in electrical resistance, and a material having an electrical conductivity of 10 7 S / cm or more is used. As a specific example of the conductive material, any one of metals such as aluminum, silver, chromium, gold, copper, tantalum, and molybdenum, or an alloy thereof can be used. Among these materials, it is preferable to use aluminum, chromium, copper, silver, and alloys thereof from the viewpoint of high electrical conductivity and easy material handling.

また、第3実施形態において、反射防止細線62及び導電層63となる膜を形成する方法としては、特に制限はなく、例えば、抵抗加熱蒸着法、電子ビーム蒸着法、スパッタリング法、または金属薄膜を熱圧縮するラミネート法等を用いて成膜を行い、膜をフォトレジストを用いたエッチング法によってパター二ングすることが考えられる。
このとき、第3実施形態においても、エッチング時に反射防止細線62及び導電層63となる膜をオーバーエッチングすることによって断面が台形の反射防止細線62を形成することができる。
In the third embodiment, there is no particular limitation on the method for forming the film to be the antireflection thin wire 62 and the conductive layer 63. For example, a resistance heating vapor deposition method, an electron beam vapor deposition method, a sputtering method, or a metal thin film is used. It is conceivable to form a film using a laminating method or the like that is thermally compressed, and pattern the film by an etching method using a photoresist.
At this time, also in the third embodiment, the antireflection thin wire 62 having a trapezoidal cross section can be formed by over-etching the film that becomes the antireflection thin wire 62 and the conductive layer 63 during etching.

また、第3実施形態は、反射防止細線62及び導電層63を溶液から形成することができる。反射防止細線62を形成する溶液の溶媒としては、反射防止細線62、導電層63となる材料を溶解させるものであれば、特に制限はない。
反射防止細線62及び導電層63を溶液から形成する方法としては、スピンコート法、キャスティング法、マイクログラビアコート法、グラビアコート法、バーコート法、ロールコート法、ワイアーバーコート法、ディップコート法、スプレーコート法、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法、スリットコート法、インクジェットプリント法、ノズルプリント法等の塗布法がある。このような方法のうち、反射防止細線62及び導電層63のパターンを直接形成できる成膜方法が好ましい。成膜方法は適宜選択可能であるが、スクリーン印刷法、フレキソ印刷法、オフセット印刷法等の印刷法、インクジェットプリント法、ノズルプリント法等の吐出による塗布法が好適である。成膜された膜は、その後、乾燥固化して反射防止細線62あるいは導電層63となる。
In the third embodiment, the antireflection thin wire 62 and the conductive layer 63 can be formed from a solution. The solvent of the solution for forming the antireflection thin wire 62 is not particularly limited as long as it dissolves the material that becomes the antireflection thin wire 62 and the conductive layer 63.
As a method of forming the antireflection fine wire 62 and the conductive layer 63 from a solution, a spin coating method, a casting method, a micro gravure coating method, a gravure coating method, a bar coating method, a roll coating method, a wire bar coating method, a dip coating method, There are coating methods such as spray coating, screen printing, flexographic printing, offset printing, slit coating, ink jet printing, and nozzle printing. Of these methods, a film forming method capable of directly forming the pattern of the antireflection thin wire 62 and the conductive layer 63 is preferable. A film forming method can be selected as appropriate, but a printing method such as a screen printing method, a flexographic printing method, and an offset printing method, and a coating method by ejection such as an inkjet printing method and a nozzle printing method are preferable. The formed film is then dried and solidified to become the antireflection fine wire 62 or the conductive layer 63.

このとき、第3実施形態は、印刷に使用される溶液を多層に塗布することにより、断面が台形の反射防止細線62及び導電層63を形成することができる。即ち、第3実施形態では、溶液の塗布において、溶液を複数回重ねて塗布し、複数の膜を重ねて形成する。このとき、第3実施形態では、複数の膜の幅が、下の側の膜から上の側の膜に向かって順に狭くなるようにする。   At this time, in the third embodiment, the antireflection fine wire 62 and the conductive layer 63 having a trapezoidal cross section can be formed by applying a solution used for printing in multiple layers. That is, in the third embodiment, in applying the solution, the solution is applied a plurality of times and a plurality of films are formed. At this time, in the third embodiment, the widths of the plurality of films are made narrower in order from the lower film to the upper film.

なお、以上説明した第1実施形態から第3実施形態の説明において、図面は模式的なものであり、厚みと平面寸法との関係、各層の厚みの比率等は現実のものとは異なることに留意すべきである。したがって、具体的な厚みや寸法は以下の説明を参酌して判断すべきものである。又、図面相互間においても互いの寸法の関係や比率が異なる部分が含まれていることはもちろんである。   In the description of the first to third embodiments described above, the drawings are schematic, and the relationship between the thickness and the planar dimensions, the ratio of the thickness of each layer, and the like are different from the actual ones. It should be noted. Therefore, specific thicknesses and dimensions should be determined in consideration of the following description. Moreover, it is a matter of course that portions having different dimensional relationships and ratios are included between the drawings.

また、上記した第1実施形態から第3実施形態は、本発明の技術的思想を具体化するための装置や方法を例示するものであって、本発明の技術的思想は、構成部品の材質、形状、構造、配置等を下記のものに特定するものでない。本発明の技術的思想は、特許請求の範囲に記載された請求項が規定する技術的範囲内において、種々の変更を加えることができる。   The first to third embodiments described above exemplify apparatuses and methods for embodying the technical idea of the present invention, and the technical idea of the present invention is the material of the component parts. The shape, structure, arrangement, etc. are not specified as follows. The technical idea of the present invention can be variously modified within the technical scope defined by the claims described in the claims.

1,2,3 発光装置、10,50,60 透明電極、11 透明基材
12,15,52,62 反射防止細線、13,53,63 導電層
14 透明電極、21 発光機能層、22 電極、23 接着層
24 封止基材、120,150 反射防止層
1, 2, 3 Light emitting device 10, 50, 60 Transparent electrode, 11 Transparent base material 12, 15, 52, 62 Antireflection thin wire, 13, 53, 63 Conductive layer 14 Transparent electrode, 21 Light emitting functional layer, 22 Electrode 23 Adhesive layer 24 Sealing substrate, 120, 150 Antireflection layer

Claims (14)

透明基材と、
前記透明基材の一の面に形成され、導電材料または絶縁材料からなる反射防止層と、を備え、
前記透明基材の前記反射防止層の側に、少なくとも導電層、透明導電層、発光機能層及び電極をこの順で積層したことを特徴とする発光装置。
A transparent substrate;
An antireflection layer formed on one surface of the transparent base material and made of a conductive material or an insulating material;
At least a conductive layer, a transparent conductive layer, a light emitting functional layer, and an electrode are laminated in this order on the side of the antireflection layer of the transparent base material.
前記反射防止層の表面は、平滑形状、或いは凹凸形状であることを特徴とする請求項1に記載の発光装置。   The light emitting device according to claim 1, wherein the surface of the antireflection layer has a smooth shape or an uneven shape. 前記反射防止層は、上面視において、第1の方向の長さが当該第1の方向と直交する第2の方向の長さよりも長い形状の反射防止細線を複数含み、複数の前記反射防止細線は、一方向に並列に配置されてストライプ形状を成すことを特徴とする請求項1または2に記載の発光装置。   The antireflection layer includes a plurality of antireflection thin wires having a shape in which the length in the first direction is longer than the length in the second direction orthogonal to the first direction when viewed from above, and a plurality of the antireflection thin wires The light emitting device according to claim 1, wherein the light emitting devices are arranged in parallel in one direction to form a stripe shape. 前記反射防止層は、上面視において、第1の方向の長さが当該第1の方向と直交する第2の方向の長さよりも長い形状の反射防止細線と、前記第2の方向の長さが前記第1の方向の長さよりも長い形状の反射防止細線と、を複数含み、前記第1の方向の長さが前記第2の方向の長さよりも長い反射防止細線と、前記第2の方向の長さが前記第1の方向の長さよりも長い反射防止細線とは、互いに直交するように配置されて格子形状を成すことを特徴とする請求項1または2に記載の発光装置。   The antireflection layer includes an antireflection thin wire having a shape in which the length in the first direction is longer than the length in the second direction orthogonal to the first direction and the length in the second direction when viewed from above. Includes a plurality of antireflection thin wires having a shape longer than the length in the first direction, the antireflection thin wires having a length in the first direction longer than the length in the second direction, and the second 3. The light emitting device according to claim 1, wherein the antireflection thin wires whose length in the direction is longer than the length in the first direction are arranged so as to be orthogonal to each other to form a lattice shape. 前記導電層の前記反射防止細線と接する面の幅は、前記反射防止細線の前記透明基材と接する面の幅以下であることを特徴とする請求項3または4に記載の発光装置。   5. The light emitting device according to claim 3, wherein a width of a surface of the conductive layer in contact with the antireflection thin wire is equal to or less than a width of a surface of the antireflection thin wire in contact with the transparent base material. 前記反射防止細線の前記透明基材と接する面の幅は、0.1μm以上、1000μm以下であることを特徴とする請求項3から5のいずれか1項に記載の発光装置。   6. The light emitting device according to claim 3, wherein a width of a surface of the antireflection thin wire in contact with the transparent substrate is 0.1 μm or more and 1000 μm or less. 前記反射防止層は、単層構造、或いは積層構造であることを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載の発光装置。   The light-emitting device according to claim 1, wherein the antireflection layer has a single-layer structure or a laminated structure. 透明基材の一の面に導電材料または絶縁材料からなる反射防止層を形成する工程と、
前記透明基材の前記反射防止層の側に少なくとも導電層、透明導電層、発光機能層及び電極をこの順で積層して形成する工程と、を含むことを特徴とする発光装置の製造方法。
Forming an antireflection layer made of a conductive material or an insulating material on one surface of the transparent substrate;
And a step of laminating at least a conductive layer, a transparent conductive layer, a light emitting functional layer and an electrode in this order on the side of the antireflection layer of the transparent base material.
前記反射防止層は、平滑形状、或いは凹凸形状であることを特徴とする請求項8に記載の発光装置の製造方法。   The method of manufacturing a light emitting device according to claim 8, wherein the antireflection layer has a smooth shape or an uneven shape. 前記反射防止層は、上面視において、第1の方向の長さが当該第1の方向と直交する第2の方向の長さよりも長い形状の反射防止細線を複数含み、複数の前記反射防止細線は、一方向に並列に配置されてストライプ形状を成すことを特徴とする請求項8または9に記載の発光装置の製造方法。   The antireflection layer includes a plurality of antireflection thin wires having a shape in which the length in the first direction is longer than the length in the second direction orthogonal to the first direction when viewed from above, and a plurality of the antireflection thin wires The light emitting device manufacturing method according to claim 8, wherein the light emitting devices are arranged in parallel in one direction to form a stripe shape. 前記反射防止層は、上面視において、第1の方向の長さが当該第1の方向と直交する第2の方向の長さよりも長い形状の反射防止細線と、前記第2の方向の長さが前記第1の方向の長さよりも長い形状の反射防止細線と、を複数含み、前記第1の方向の長さが前記第2の方向の長さよりも長い反射防止細線と、前記第2の方向の長さが前記第1の方向の長さよりも長い反射防止細線とは、互いに直交するように配置されて格子形状を成すことを特徴とする請求項8または9に記載の発光装置の製造方法。   The antireflection layer includes an antireflection thin wire having a shape in which the length in the first direction is longer than the length in the second direction orthogonal to the first direction and the length in the second direction when viewed from above. Includes a plurality of antireflection thin wires having a shape longer than the length in the first direction, the antireflection thin wires having a length in the first direction longer than the length in the second direction, and the second The light-emitting device according to claim 8 or 9, wherein the antireflection thin wires having a length in a direction longer than the length in the first direction are arranged so as to be orthogonal to each other to form a lattice shape. Method. 前記導電層の前記反射防止細線と接する面の幅は、前記反射防止細線の前記透明基材と接する面の幅以下であることを特徴とする請求項10または11に記載の発光装置の製造方法。   12. The method of manufacturing a light emitting device according to claim 10, wherein a width of a surface of the conductive layer in contact with the antireflection thin wire is equal to or less than a width of a surface of the antireflection thin wire in contact with the transparent substrate. . 前記反射防止細線の前記透明基材と接する面の幅は、0.1μm以上、1000μm以下であることを特徴とする請求項10から12のいずれか1項に記載の発光装置の製造方法。   13. The method of manufacturing a light emitting device according to claim 10, wherein a width of a surface of the antireflection thin wire contacting the transparent substrate is 0.1 μm or more and 1000 μm or less. 前記反射防止層は、単層構造、或いは積層構造であることを特徴とする請求項8から13のいずれか1つに記載の発光装置の製造方法。   The method for manufacturing a light emitting device according to claim 8, wherein the antireflection layer has a single layer structure or a laminated structure.
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