JP2016150853A - Molding die, and manufacturing method thereof - Google Patents
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Abstract
Description
この発明は、離型性を有する防汚膜を備えた成形用金型、およびその製造方法に関する。 The present invention relates to a molding die provided with an antifouling film having releasability and a method for producing the same.
従来、微細な凹凸が表面に形成された金型または高い面精度が要求される金型等を用いて成形品を製造する場合、成形用金型とプラスチック樹脂またはガラス等の成形品との離型性が不十分であることに起因して、成形品に不良が発生することが問題になっている。
成形用金型は、良好な離型性、成形の繰り返し耐久性の向上を目的として、金型表面に離型膜が形成されることが一般的である。
例えば、金型の材料として、タングステンカーバイド(WC)を主成分とする超硬合金、タンタルカーバイド(TaC)、チタンカーバイド(TiC)、クロムカーバイド(CrC)、アルミナ(AL2O3)を主成分とするサーメット、クロム(Cr)、モリブデン(Mo)、ニッケル(Ni)、コバルト(Co)、タングステン(W)、チタン(Ti)、ステンレス(SUS)、シリコンカーバイド(SiC)等で作製され、また離型膜として白金(Pt)、パラジウム(Pd)、イリジウム(Ir)、ロジウム(Rh)、オスミウム(Os)、ルテニウム(Ru)、レニウム(Re)、タングステン(W)およびタンタル(Ta)等の貴金属、遷移金属を用いて成形用金型離型性の向上を図っている。
Conventionally, when a molded product is manufactured using a mold having fine irregularities formed on the surface or a mold that requires high surface accuracy, the mold is not separated from a molded product such as plastic resin or glass. Due to inadequate moldability, it has been a problem that defects occur in molded products.
In general, the mold for molding is formed with a release film on the surface of the mold for the purpose of good mold release and improvement of repeated durability of molding.
For example, as a mold material, a cemented carbide whose main component is tungsten carbide (WC), cermet whose main component is tantalum carbide (TaC), titanium carbide (TiC), chromium carbide (CrC), and alumina (AL2O3). , Chromium (Cr), molybdenum (Mo), nickel (Ni), cobalt (Co), tungsten (W), titanium (Ti), stainless steel (SUS), silicon carbide (SiC), etc., and release film Precious metals such as platinum (Pt), palladium (Pd), iridium (Ir), rhodium (Rh), osmium (Os), ruthenium (Ru), rhenium (Re), tungsten (W) and tantalum (Ta) Metal molds are used to improve mold releasability.
上記のような離型膜を有する従来の成形用金型では、成形時の金型温度が高い場合、成形の繰り返し耐久性が低く、離型層の除去と再生を行うことが一般的であった。
特に、成形温度が高いガラス成形用金型の場合、成形用金型の加熱温度が500℃以上であるため、離型膜の劣化が早く、離型膜の寿命が数十ショットから数百ショットと繰り返し耐久性が低いという問題点があった。
また、500℃以上の高温成形により、成形用金型に汚れが付着した場合、金型表面に焼き付きが発生し、成形用金型の離型性、面精度が低下する問題点もあった。
In a conventional mold having a mold release film as described above, if the mold temperature during molding is high, the molding durability is low, and it is common to remove and regenerate the mold release layer. It was.
In particular, in the case of a glass mold having a high molding temperature, since the heating temperature of the mold is 500 ° C. or higher, the mold release film deteriorates quickly, and the life of the mold release film is from several tens to several hundred shots. There was a problem that the durability was low.
In addition, when dirt is attached to the molding die due to high temperature molding at 500 ° C. or higher, there is a problem that seizure occurs on the mold surface and the mold release property and surface accuracy of the molding die are lowered.
この発明は、上記のような問題点を解決するためになされたものであり、良好な離型性と繰り返し耐久性を向上した成形用金型、およびその製造方法を得ることを目的としている。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to obtain a molding die having improved mold release properties and repeated durability, and a method for producing the same.
この発明に係る成形用金型は、金型母材と、この金型母材上に形成されたバリア膜と、このバリア膜上に形成された離型膜と、この離型膜上に形成された防汚膜と、を備え、前記防汚膜は、親水性防汚膜および疎水性防汚膜の少なくとも一方で構成されている。 A molding die according to the present invention is formed on a mold base material, a barrier film formed on the mold base material, a release film formed on the barrier film, and the release film. And the antifouling film comprises at least one of a hydrophilic antifouling film and a hydrophobic antifouling film.
この発明に係る成形用金型の製造方法は、金型母材の表面に密着力と金型母材の成分の拡散抑制するバリア膜を湿式めっき法で形成するバリア膜形成工程と、
前記バリア膜上に湿式めっきで離型膜を形成する離型膜形成工程と、
前記離型膜に乾式成膜で防汚膜を形成する防汚膜形成工程と、を備えている。
The manufacturing method of the molding die according to the present invention includes a barrier film forming step of forming a barrier film that suppresses adhesion and diffusion of components of the mold base material on the surface of the mold base material by a wet plating method;
A release film forming step of forming a release film on the barrier film by wet plating;
An antifouling film forming step of forming an antifouling film on the release film by dry film formation.
この発明に係る成形用金型によれば、離型膜上に、親水性防汚膜および疎水性防汚膜の少なくとも一方で構成されている防汚膜が形成されているので、例えば成形材料であるガラスとの離型性が向上し、ガラスと成形用金型、特に離型膜との融着が従来よりも低減するために、成形用金型の寿命が向上する。
また、成形用金型への汚れの付着、発生が低減するため、成形時の成形用金型表面への焼き付きが従来よりも低減する。
According to the molding die according to the present invention, the antifouling film composed of at least one of the hydrophilic antifouling film and the hydrophobic antifouling film is formed on the release film. Thus, the mold releasability with glass is improved, and the fusion between the glass and the mold for molding, particularly the mold release film is reduced as compared with the conventional one, so that the life of the mold for molding is improved.
In addition, since adhesion and generation of dirt on the molding die are reduced, seizure on the surface of the molding die during molding is reduced as compared with the prior art.
以下、この発明の各実施の形態の成形用金型、およびその製造方法について説明するが、各図において同一、または相当部材、部位については同一符号を付して説明する。 Hereinafter, a molding die and a manufacturing method thereof according to each embodiment of the present invention will be described. In the drawings, the same or corresponding members and parts are denoted by the same reference numerals.
実施の形態1.
図1はこの発明の実施の形態1の成形用金型1を示す断面図、図2は図1のAの部位の要部拡大図、図3は図1の成形用金型1の表面を示す要部拡大図である。
この成形用金型1は、タングステンカーバイド(WC)を主成分とする金型母材2と、この金型母材2の表面に形成されたバリア膜3と、このバリア膜3の表面に形成された離型膜4と、この離型膜4上に海島状に形成された防汚膜5と、を備えている。防汚膜5は、疎水性防汚膜51および親水性防汚膜52で構成されている。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a
The
ここで、バリア膜3は、金型母材2に接触して金型母材2に含まれる金属元素の拡散を防止する。離型膜4および防汚膜5は、成形材料、特にここではガラス材料に対して化学的に安定な材料で形成される。
金型母材2は、例えば、タングステンカーバイド(WC)を主成分とし、バインダとして他の軽金属元素を含む超硬合金によって形成される。金型母材2に含まれる他の軽金属元素としては、例えば、コバルト(Co)、ニッケル(Ni)、クロム(Cr)を含む。金型母材2は、成形に耐えうる強度を有する。
バリア膜3は、金型母材2に含まれる軽金属成分の離型膜4への拡散が抑制できる一般的に使用されている材料でよく、例えば、白金(Pt)、パラジウム(Pd)、イリジウム(Ir)、ロジウム(Rh)、ルテニウム(Ru)のうちの少なくとも一種の貴金属、遷移金属元素とニッケル(Ni)、タングステン(W)、タンタル(Ta)、金(Au)およびモリブデン(Mo)のうちの少なくとも一種の遷移金属元素との合金、または単一金属の単層または複層で形成される。
このように、バリア膜3は、複数の金属種から選択できるため、使用できる成形品を構成する成形材料の幅が広がる。
バリア膜3は、金型母材2に接触して、耐熱性に優れた膜を形成する。そして、バリア膜3は、金型母材2に含まれるバインダ成分を構成する軽金属元素や、主成分中の遊離金属成分であるタングステン(W)、タンタル(Ta)、ニッケル(Ni)、コバルト(Co)の拡散を防止する機能を果たしている。バリア膜3は、膜厚が、例えば0.05〜2μmであり、平均表面粗さRaが、例えば40nm以下で形成されている。
Here, the
The
The
Thus, since the
The
離型膜4は、例えば、白金(Pt)、パラジウム(Pd)、イリジウム(Ir)、ロジウム(Rh)、ルテニウム(Ru)の一つもしくは複数を組み合わせた合金から形成される。離型膜4は、成形材料に直接接触するので、特にガラス成形においては、ガラス材料の軟化温度において酸化しにくく化学的に安定な材料で形成されている。離型膜4は膜厚が、例えば0.05〜2μmであり、平均表面粗さRaが例えば40nm以下で形成されている。離型膜4は、バリア膜3を構成している元素と同じ金属元素を含んでいてもよく、バリア膜3との良好な密着性を確保している。その密着力としては、0.05kN/m以上の強度を確保している。なお、バリア膜3と離型膜4とは、接合に関して相性のよい金属元素を含んでいてもよい。
このように、離型膜4は、複数の金属種から選択できるため、使用できる成形品を構成する成形材料の幅が広がる。
The
Thus, since the
防汚膜5は、疎水性防汚膜51と親水性防汚膜52で構成されており、例えば、フッ化イットリウム(YF3)等のフッ化物の疎水性材料、酸化イットリウム(Y2O3)等の親水性材料で形成される。防汚膜5は離型膜4の全面を覆っている構造ではなく、海島状に形成されている。防汚膜5を島、離型膜4を海と表現すると、島状の防汚膜5の膜厚は5〜15nm、幅が5〜15nmで形成されており、島と島の間隔は100nm以下で形成されている。
ここで、成形材料がガラス材料の場合には、疎水性材料としては、フッ化イットリウムが最適であり、親水性材料としては、酸化イットリウムが最適である。
The antifouling film 5 includes a
Here, when the molding material is a glass material, yttrium fluoride is optimal as the hydrophobic material, and yttrium oxide is optimal as the hydrophilic material.
次に、上記のように構成された実施の形態1の成形用金型1の製造方法について説明する。
まず、所定の形状に加工された金型母材2を準備する。
次に、バリア膜3および離型膜4を形成する。バリア膜3と離型膜4はスパッタ、真空蒸着等の乾式成膜、または電気めっきによる湿式成膜により形成することができる。確実な密着力の確保のため、湿式成膜で形成することが好ましい。
Next, a manufacturing method of the molding die 1 of the first embodiment configured as described above will be described.
First, the
Next, the
以下、バリア膜3の具体的な湿式成膜の方法について説明する。
まず、所定の形状に加工された金型母材2の脱脂処理を行い、金型母材2のタングステンカーバイド(WC)表面から有機異物等の表面汚染物を除去し、液ぬれ性を確保する。
次に、エッチング処理を行い、金型母材2のタングステンカーバイド(WC)表面から無機異物等の表面汚染物、酸化膜を除去し、活性な金属表面を露出させることで液ぬれ性を確保し、後のめっき工程で形成されるめっき膜と素地であるタングステンカーバイド(WC)との密着性を確保する。
Hereinafter, a specific wet film forming method of the
First, the
Next, an etching process is performed to remove surface contaminants such as inorganic foreign matters and oxide films from the tungsten carbide (WC) surface of the
次に、バリア膜3を形成する。バリア膜3は、湿式めっき法で形成する場合複層となり、金型母材2のタングステンカーバイド(WC)と離型膜4との密着を確保するバインダ層としても機能する。バリア膜3として、酸エッチング処理を施した金型母材2のタングステンカーバイド(WC)上にストライクニッケルめっき膜31を形成する。ストライクニッケルめっき液は、従来から用いられているウッド浴や市販品のめっき液が使用できる。ウッド浴の液組成としては、例えば、37wt%の塩酸を120mL/L,塩化ニッケル六水和物を240g/Lに純水を加え1Lに調整しためっき液が使用できる。めっき条件について、金型のストライクニッケルめっき液への浸漬、通電時間と液温は、所望の膜厚のストライクニッケルめっき膜を得ることができるように、適宜設定することができる。
例えば、液温25℃、電流密度10A/dm2、めっき時間30秒とすることで1μm程度のストライクニッケルめっき膜31を得ることができる。
次に、電気ニッケルめっき処理を行い、ストライクニッケルめっき膜31上に電気ニッケルめっき膜32を形成する。電気ニッケルめっき液は、従来から用いられているワット浴や市販品のめっき液が使用できる。ワット浴の液組成としては、例えば、硫酸ニッケル六水和物250g/L、塩化ニッケル六水和物を45g/L、ホウ酸40g/Lに純水を加え1Lに調整しためっき液が使用できる。めっき条件について、金型の電気ニッケルめっき液への浸漬、通電時間と液温は、所望の膜厚の電気ニッケルめっき膜32を得ることができるように、適宜設定することができる。
例えば、液温50℃、電流密度2A/dm2、めっき時間を2〜3分とすることで1μm程度の電気ニッケルめっき膜32を得ることができる。
Next, the
For example, when the liquid temperature is 25 ° C., the current density is 10 A /
Next, an electro nickel plating process is performed to form an electro
For example, the
次に、バリア膜3の最終層として電気金めっき膜33を形成する。電気金めっき液は、従来から用いられている市販のシアン化金めっき液や酸性金めっき液が使用できる。シアン化金めっき液の組成としては、例えば、シアン化金カリウムを8g/L、シアン化カリウムを30g/L、リン酸カリウムを30g/L、炭酸カリウムを15g/Lに純水を加え1Lに調整しためっき液が使用できる。めっき条件について、金型の電気金めっき液への浸漬、通電時間と液温は、所望の膜厚の電気金めっき膜33を得ることができるように、適宜設定することができる。
例えば、液温60℃、電流密度0.5A/dm2、めっき時間を1分とすることで0.05〜0.1μm程度の電気金めっき膜33を得ることができる。
Next, an
For example, when the liquid temperature is 60 ° C., the current density is 0.5 A /
次に、電気めっき処理を行い、バリア膜3である電気金めっき膜33上に白金(Pt)、パラジウム(Pd)、イリジウム(Ir)、ロジウム(Rh)、ルテニウム(Ru)の一つもしくは複数を組み合わせた合金から形成される離型膜4を形成する。
電気めっき液は、白金(Pt)めっき液としては、白金濃度を15〜25g/L、pHを11〜14に調整した液、パラジウムめっき液としては、パラジウム濃度を1〜5g/L、pHを8〜10に調整した液、イリジウムめっき液としては、イリジウム濃度を10〜20g/L、pHを2〜5に調整した液、ロジウムめっき液としては、ロジウム濃度を1〜10g/L、pHを0〜3に調整した液、ルテニウムめっき液としては、ルテニウム濃度を1〜5g/L、pHを0〜3に調整した液が使用できる。めっき条件について、金型の電気めっき液への浸漬、通電時間と液温は、所望の膜厚の電気めっき膜3を得ることができるように、適宜設定することができる。
Next, electroplating is performed, and one or more of platinum (Pt), palladium (Pd), iridium (Ir), rhodium (Rh), and ruthenium (Ru) are formed on the
The electroplating solution is a platinum (Pt) plating solution with a platinum concentration of 15 to 25 g / L and a pH adjusted to 11 to 14, and the palladium plating solution with a palladium concentration of 1 to 5 g / L and pH. As a solution adjusted to 8 to 10 and an iridium plating solution, an iridium concentration of 10 to 20 g / L and a pH adjusted to 2 to 5 and as a rhodium plating solution, a rhodium concentration of 1 to 10 g / L and pH As a liquid adjusted to 0 to 3 and a ruthenium plating solution, a liquid adjusted to a ruthenium concentration of 1 to 5 g / L and a pH of 0 to 3 can be used. As for the plating conditions, the immersion of the mold in the electroplating solution, the energization time and the solution temperature can be appropriately set so that the
例えば、白金めっき液では、液温90℃、陰極電流密度2〜3A/dm2、めっき時間を3分とすることで1μm程度の白金めっき膜を、パラジウムめっき液では、液温55℃、陰極電流密度0.5〜1A/dm2、めっき時間を4分とすることで1μm程度のパラジウムめっき膜を、イリジウムめっき液では、液温85℃、陰極電流密度0.2〜0.5A/dm2、めっき時間を15分とすることで1μm程度のイリジウムめっき膜を、ロジウムめっき液では、液温50℃、陰極電流密度0.5〜2.0A/dm2、めっき時間を5分とすることで1μm程度のロジウムめっき膜を、ルテニウムめっき液では、液温65℃、陰極電流密度0.5〜2.0A/dm2、めっき時間を10分とすることで1μm程度のルテニウムめっき膜を得ることができる。
For example, with a platinum plating solution, a liquid temperature of 90 ° C., a cathode current density of 2 to 3 A /
次に、この発明の特徴である、防汚膜5を形成する。
防汚膜5は、疎水性と親水性の材料で構成されており、例えば、YF3等のフッ化物の疎水性材料、Y2O3等の親水性材料で形成される。
防汚膜5は、離型膜4の全面を覆っている構造ではなく、海島状に形成されている。防汚膜5はスパッタ、真空蒸着等の乾式成膜で形成する。
Next, the antifouling film 5 which is a feature of the present invention is formed.
The antifouling film 5 is made of a hydrophobic and hydrophilic material, and is made of, for example, a fluoride hydrophobic material such as YF3 or a hydrophilic material such as Y2O3.
The antifouling film 5 is not in a structure covering the entire surface of the
一例として、真空蒸着装置を使用した成膜方法について説明する。
真空蒸着装置としては、電子ビーム蒸着装置を使用する。成膜用の材料を減圧状態に置き、電子ビームで加熱をすることにより蒸気圧を上げ、固体のまま気体にして蒸発をさせ、離型膜4上に防汚膜5を形成する。
初めに、前記離型膜4の電気めっき処理の後、純水洗工程により、めっき液残渣を除去し、乾燥させる。この時点でめっき膜厚により、所望の製品形状と異なる場合は、離型膜4の加工を実施し、所望の形状に再加工を実施する。乾燥後、離型膜4まで成膜した金型を真空蒸着装置に投入する。また併せて、疎水性の防汚膜材料(YF3)と親水性材料(Y2O3)も真空蒸着装置に投入し、真空状態とする。所定の真空度に到達後、電子ビームにより成膜材料にエネルギーを投入し、成膜を開始する。
As an example, a film forming method using a vacuum evaporation apparatus will be described.
An electron beam vapor deposition apparatus is used as the vacuum vapor deposition apparatus. The film-forming material is placed in a reduced pressure state, heated by an electron beam to raise the vapor pressure, evaporate as a solid gas, and form an antifouling film 5 on the
First, after the electroplating treatment of the
次に、成膜手順を説明する。
始めに、親水性防汚膜52を形成する。例えば、親水性防汚膜52として酸化イットリウム(Y2O3)を使用する場合は、成膜レートを0.2〜2.0nmで膜厚として5〜10nm形成することで、幅が5〜10nmの島状に親水性防汚膜52を形成することができる。
次に、疎水性防汚膜51を形成する。例えば、疎水性防汚膜51としてフッ化イットリウム(YF3)を使用する場合は、成膜レートを0.2〜2.0nmで膜厚として5〜10nm形成することで、幅が5〜10nmの島状に疎水性防汚膜51を形成することができる。
このように防汚膜5を形成することで離型膜4を完全に被覆せずに、島状の親水性防汚膜52と島状の疎水性防汚膜51とが混在したハイブリッドな防汚膜5とすることが可能となる。
Next, a film forming procedure will be described.
First, the
Next, a
By forming the antifouling film 5 in this way, a hybrid antibacterial film in which the island-like
このような上記防汚膜5を形成することにより、離型性と防汚性が向上し、成形用金型1の寿命が向上する原理について説明する。
成形用金型1に付着する異物として、埃のような親水性物質、有機物、油煙のような疎水性物質がある。
上記に記載したとおり、形成した防汚膜5は、ナノオーダで島状に疎水性材料と親水性材料が混在した状態で形成されており、親水性の部分と疎水性の部分が付着する汚れよりも小さく分散した構造となっているため、親水性と疎水性のいずれの汚れも付着し難い。
特に、親水性防汚膜52および疎水性防汚膜51は、それぞれ膜厚が5〜10nm、幅が5〜10nmであり、また親水性防汚膜52と疎水性防汚膜51との間には、隙間がありその間隔は、100nm以下である場合には、親水性と疎水性のいずれの汚れも付着し難い効果が顕著である。
The principle that the mold release property and the antifouling property are improved by forming the antifouling film 5 as described above and the life of the molding die 1 is improved will be described.
As foreign substances adhering to the molding die 1, there are hydrophilic substances such as dust, organic substances, and hydrophobic substances such as oily smoke.
As described above, the formed antifouling film 5 is formed with a mixture of a hydrophobic material and a hydrophilic material in the form of islands in a nano-order, and from the dirt on which the hydrophilic portion and the hydrophobic portion adhere. Since the structure is small and dispersed, both hydrophilic and hydrophobic stains are difficult to adhere.
In particular, the
上記のように構成された実施の形態1の成形用金型1によれば、金型母材2と、金型母材2の成形面に白金(Pt)、パラジウム(Pd)、イリジウム(Ir)、ロジウム(Rh)、ルテニウム(Ru)の一つもしくは複数を組み合わせた合金からなる離型膜4と、この離型膜4上にフッ化イットリウム(YF3)、酸化イットリウム(Y2O3)の両者を併用し、離型膜4を完全に被覆せずナノオーダで島状に分散させた構造をとっているため、成形材料と成形用金型1、特に離型膜4との融着が従来よりも低減し、成形用金型1の寿命を向上させることができる。
また、成形用金型1への汚れの付着、発生が低減するため、成形時の成形用金型1の表面への焼き付きが従来よりも低減し、成形用金型1の寿命を向上させることができる。
According to the molding die 1 of the first embodiment configured as above, platinum (Pt), palladium (Pd), iridium (Ir) on the
In addition, since adhesion and generation of dirt on the molding die 1 are reduced, seizure on the surface of the molding die 1 during molding is reduced as compared with the conventional case, and the life of the molding die 1 is improved. Can do.
実施の形態2.
図4は、この発明の実施の形態2における成形用金型1、およびその製造方法を示した断面図である。
この実施の形態では、防汚膜5は、例えばYF3等のフッ化物の疎水性の材料で構成された疎水性防汚膜51である。防汚膜5は、離型膜4の全面を覆っている構造ではなく、実施の形態1と同様、海島状に形成されている。疎水性防汚膜51を島、離型膜4を海と表現すると、島状の疎水性防汚膜51は、5〜15nm、幅が5〜15nmで形成されており、島と島の間隔は100nm以下で形成されている。
他の構成は、実施の形態1の成形用金型1と同じである。
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a
In this embodiment, the antifouling film 5 is a
Other configurations are the same as those of the molding die 1 of the first embodiment.
次に、上記のように構成された実施の形態2の成形用金型1の製造方法について説明する。
バリア膜3の形成から離型膜4までの形成に関しては、実施の形態1の成形用金型1の製造方法と同様である。
上記実施の形態1のものと異なる点は、防汚膜5の形成についてである。
実施の形態1のものと同様、疎水性防汚膜51は、スパッタ、真空蒸着等の乾式成膜で形成する。
実施の形態1のものと同様、真空蒸着装置を使用した成膜方法について説明する。初めに、離型膜4の電気めっき処理の後、純水洗工程により、めっき液残渣を除去し、乾燥させる。この時点でめっき膜厚により、所望の製品形状と異なる場合は、離型膜4の加工を実施し、所望の形状に再加工を実施する。
乾燥後、離型膜4まで成膜した半製品金型を真空蒸着装置に投入する。また併せて、疎水性防汚膜51の材料(YF3)も真空蒸着装置に投入し、真空状態とする。所定の真空度に到達後、電子ビームにより成膜材料にエネルギーを投入し、成膜を開始する。
Next, a method for manufacturing the molding die 1 of the second embodiment configured as described above will be described.
The formation from the
The difference from the first embodiment is the formation of the antifouling film 5.
As in the first embodiment, the
As in the first embodiment, a film forming method using a vacuum evaporation apparatus will be described. First, after the electroplating treatment of the
After drying, the semi-finished mold formed up to the
次に、成膜手順として疎水性防汚膜51の形成方法について説明する。
疎水性防汚膜51としてフッ化イットリウム(YF3)を使用する場合は、成膜レートを0.2〜2.0nmで膜厚として5〜15nm形成することで、幅が5〜15nmの島状に疎水性防汚膜51を形成することができる。このように疎水水防汚膜52を形成することで離型膜4を完全に被覆せずに、島状の疎水性防汚膜51を離型膜4上に形成し、防汚膜5とすることが可能となる。
Next, a method for forming the
When yttrium fluoride (YF3) is used as the
上記のように構成された実施の形態2の成形用金型1によれば、金型母材と、金型母材の成形面に白金(Pt)、パラジウム(Pd)、イリジウム(Ir)、ロジウム(Rh)、ルテニウム(Ru)の一つもしくは複数を組み合わせた合金からなる離型膜4と、この離型膜4上にフッ化イットリウム(YF3)を使用し、離型膜4を完全に被覆せずナノオーダで島状に分散させた疎水性防汚膜51を形成する構造をとっているため、特に親水性の成形材料と成形用金型1、特に離型膜4との融着が従来よりも低減し、成形用金型1の寿命を向上させることができる。
また、成形用金型1への親水性の汚れの付着、発生が低減するため、成形時の金型表面への焼き付きが従来よりも低減し、成形用金型1の寿命を向上させることができる。
According to the molding die 1 of
In addition, since adhesion and generation of hydrophilic dirt to the molding die 1 are reduced, seizure on the die surface during molding is reduced as compared with the prior art, and the life of the molding die 1 is improved. it can.
実施の形態3.
図5は、この発明の実施の形態3における成形用金型1、およびその製造方法を示した断面図である。
この実施の形態3では、防汚膜5は、例えばY2O3等の親水性材料で構成された親水性防汚膜52である。防汚膜5は、離型膜4の全面を覆っている構造ではなく、実施の形態1のものと同様に、海島状に形成されている。親水性防汚膜52を島、離型膜4を海と表現すると、島状の親水性防汚膜52の膜厚は、5〜15nm、幅が5〜15nmで形成されており、島と島の間隔は100nm以下で形成されている。
他の構成は、実施の形態1の成形用金型1と同じである。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a
In the third embodiment, the antifouling film 5 is a
Other configurations are the same as those of the molding die 1 of the first embodiment.
次に、上記のように構成された実施の形態3の成形用金型1の製造方法について説明する。
バリア膜3の形成から離型膜4までの形成に関しては、実施の形態1の成形用金型1の製造方法と同様である。
上記実施の形態1のものと異なる点は、防汚膜5の形成についてである。実施の形態1のものと同様、防汚膜5は、スパッタ、真空蒸着等の乾式成膜で形成する。
実施の形態1のものと同様に、真空蒸着装置を使用した成膜方法について説明する。初めに、離型膜4の電気めっき処理の後、純水洗工程により、めっき液残渣を除去し、乾燥させる。この時点でめっき膜厚により、所望の製品形状と異なる場合は、離型膜4の加工を実施し、所望の形状に再加工を実施する。乾燥後、離型膜4まで成膜した半製品金型を真空蒸着装置に投入する。また併せて、親水性防汚膜52の材料(Y2O3)も真空蒸着装置に投入し、真空状態とする。所定の真空度に到達後、電子ビームにより成膜材料にエネルギーを投入し、成膜を開始する。
Next, a method for manufacturing the molding die 1 of the third embodiment configured as described above will be described.
The formation from the
The difference from the first embodiment is the formation of the antifouling film 5. As in the first embodiment, the antifouling film 5 is formed by dry film formation such as sputtering or vacuum deposition.
As in the first embodiment, a film forming method using a vacuum vapor deposition apparatus will be described. First, after the electroplating treatment of the
次に、成膜手順として親水性防汚膜52の形成方法について説明する。
親水性防汚膜52として酸化イットリウム(Y2O3)を使用する場合は、成膜レートを0.2〜2.0nmで膜厚として5〜15nm形成することで、幅が5〜15nmの島状に親水性防汚膜52を形成することができる。
このようにして防汚膜5を形成することで、離型膜4を完全に被覆せずに、島状の親水性防汚膜52を離型膜4上に形成して防汚膜5とすることが可能となる。
Next, a method for forming the
When yttrium oxide (Y 2 O 3) is used as the
By forming the antifouling film 5 in this way, an island-like
上記のように構成された実施の形態3の成形用金型1によれば、金型母材2と、金型母材2の成形面に白金(Pt)、パラジウム(Pd)、イリジウム(Ir)、ロジウム(Rh)、ルテニウム(Ru)の一つもしくは複数を組み合わせた合金からなる離型膜4と、この離型膜4上に酸化イットリウム(Y2O3)を使用し、離型膜4を完全に被覆せずナノオーダで島状に分散させた親水性防汚膜52が形成された構造をとっているため、特に疎水性の成形材料と成形用金型1、特に離型膜4との融着が従来よりも低減し、成形用金型1の寿命を向上させることができる。
また、成形用金型1への疎水性の汚れの付着、発生が低減するため、成形時の成形用金型1の表面への焼き付きが従来よりも低減し、成形用金型1の寿命を向上させることができる。
According to the molding die 1 of the third embodiment configured as described above, the
In addition, since the adhesion and generation of hydrophobic dirt on the molding die 1 are reduced, seizure on the surface of the molding die 1 during molding is reduced as compared with the conventional case, and the life of the molding die 1 is increased. Can be improved.
実施の形態4.
図6は、この発明の実施の形態4における成形用金型1、およびその製造方法を示した断面図である。
この実施の形態では、防汚膜5は、疎水性の材料と親水性の材料で構成されており、例えば、YF3等のフッ化物の疎水性材料とY2O3等の親水性の材料で形成される。
防汚膜5は、離型膜4の全面を完全に覆っており、親水性防汚膜52上に形成された疎水性防汚膜51が海島状に形成されている。疎水性防汚膜51を島、親水性防汚膜52を海と表現すると、島状の疎水性防汚膜51の膜厚は5〜15nm、幅が5〜15nmで形成されており、島と島との間の隙間の間隔は100nm以下で形成されている。
他の構成は、実施の形態1の成形用金型1と同じである。
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a
In this embodiment, the antifouling film 5 is composed of a hydrophobic material and a hydrophilic material, and is formed of, for example, a fluoride hydrophobic material such as YF3 and a hydrophilic material such as Y2O3. .
The antifouling film 5 completely covers the entire surface of the
Other configurations are the same as those of the molding die 1 of the first embodiment.
次に、上記のように構成された実施の形態4の成形用金型1の製造方法について説明する。
バリア膜3の形成から離型膜4までの形成に関しては、実施の形態1の成形用金型1の製造方法と同様である。
上記実施の形態1のものと異なる点は、防汚膜5の形成についてである。実施の形態1のものと同様、防汚膜5はスパッタ、真空蒸着等の乾式成膜で形成する。
実施の形態1のものと同様、真空蒸着装置を使用した成膜方法について説明する。初めに、離型膜4の電気めっき処理の後、純水洗工程により、めっき液残渣を除去し、乾燥させる。この時点でめっき膜厚により、所望の製品形状と異なる場合は、離型膜4の加工を実施し、所望の形状に再加工を実施する。
乾燥後、離型膜4まで成膜した半製品金型を真空蒸着装置に投入する。また併せて、疎水性防汚膜51の材料(YF3)と親水性防汚膜52の防汚材料(Y2O3)も真空蒸着装置に投入し、真空状態とする。所定の真空度に到達後、電子ビームにより成膜材料にエネルギーを投入し、成膜を開始する。
Next, a method for manufacturing the molding die 1 of
The formation from the
The difference from the first embodiment is the formation of the antifouling film 5. As in the first embodiment, the antifouling film 5 is formed by dry film formation such as sputtering or vacuum deposition.
As in the first embodiment, a film forming method using a vacuum evaporation apparatus will be described. First, after the electroplating treatment of the
After drying, the semi-finished mold formed up to the
次に、成膜手順として防汚膜5の形成方法について説明する。
始めに、親水性防汚膜52を形成する。親水性防汚膜52として酸化イットリウム(Y2O3)を使用する場合は、成膜レートを0.2〜2.0nmで膜厚として50〜200nm形成する。
次に、疎水性防汚膜51を形成する。疎水性防汚膜51としてフッ化イットリウム(YF3)を使用する場合は、成膜レートを0.2〜2.0nmで膜厚として5〜15nm形成することで、幅が5〜15nmの島状に疎水性防汚膜51を形成することができる。
このような防汚膜5を形成することで、離型膜4を完全に被覆し、島状の疎水性防汚膜51を有する防汚膜5とすることが可能となる。
Next, a method for forming the antifouling film 5 will be described as a film forming procedure.
First, the
Next, a
By forming such an antifouling film 5, it is possible to completely cover the
上記のように構成された実施の形態4の成形用金型1によれば、金型母材2と、金型母材2の成形面に白金(Pt)、パラジウム(Pd)、イリジウム(Ir)、ロジウム(Rh)、ルテニウム(Ru)の一つもしくは複数を組み合わせた合金からなる離型膜4と、この離型膜4上に親水性の酸化イットリウムからなる親水性防汚膜52で完全に被覆し、この親水性防汚膜52上に疎水性のフッ化イットリウム(YF3)をナノオーダで島状に分散させた疎水性防汚膜51を形成する防汚構造をとっているため、親水性、疎水性を問わず成形材料と成形用金型1、特に離型膜4との融着を従来よりも低減し、成形用金型1の寿命を向上させることができる。
また、成形用金型1への親水性、疎水性の両方の汚れの付着、発生が低減するため、成形時の成形用金型1表面への焼き付きが従来よりも低減し、成形用金型1の寿命を向上させることができる。
According to the molding die 1 of the fourth embodiment configured as described above, the
In addition, since adhesion and generation of both hydrophilic and hydrophobic stains to the molding die 1 are reduced, seizure on the surface of the molding die 1 at the time of molding is reduced as compared with the conventional molding die. 1 lifespan can be improved.
なお、上記成形用金型1と異なり、防汚膜5が離型膜4の全面を完全に覆っており、疎水性防汚膜51上に形成された親水性防汚膜52が海島状に形成された成形用金型であってもよい。この場合、親水性防汚膜52を島、疎水性防汚膜51を海と表現すると、島状の親水性防汚膜52の膜厚は5〜15nm、幅が5〜15nmで形成されており、島と島の間隔は100nm以下で形成されている。
また、この成形用金型1も、実施の形態4で示した成形用金型1の製造方法と同様の内容で製造され、図6に示した成形用金型1と同様の効果を得ることができる。
Unlike the molding die 1, the antifouling film 5 completely covers the entire surface of the
Further, this molding die 1 is also manufactured with the same contents as the manufacturing method of the molding die 1 shown in the fourth embodiment, and the same effect as the molding die 1 shown in FIG. 6 is obtained. Can do.
以下、この発明の実施例および比較例をあげて詳細に説明する。なお、この発明はこれらの実施例に限定されるものではない。 Examples of the present invention and comparative examples will be described in detail below. The present invention is not limited to these examples.
実施例1.
実施例1は上記に示した実施の形態1に基づくものである。
具体的には、成膜面がφ30mmであるガラス成形用金型1を、上記実施の形態1にて示した方法で脱脂処理を行った。脱脂処理工程においては、有機物除去のため、脱脂剤ELC−400((株)ワールドメタル製)を用いて、脱脂処理を実施し、その後、純水に上記成形用金型1を浸漬して1分間放置した後、取出した。
次に、上記実施の形態1に説明したエッチング処理に従い、エッチング処理を実施した。酸電解エッチング処理には、HS−55((株)ワールドメタル製)を、酸電解エッチング処理後の通常のエッチング処理にはHC−55((株)ワールドメタル製)を用いてエッチング処理を実施し、その後、純水に上記成形用金型1を浸漬して1分間放置した後取出した。
次に、上記実施の形態1において説明したストライクニッケルめっき、電気ニッケルめっき、電気金めっきを施し、膜厚1μmのストライクニッケルめっき膜と膜厚1μmの電気ニッケルめっきと厚さ0.05μmの電気金めっき膜を形成した。ストライクニッケルめっきにおいては、NI−STK((株)ワールドメタル製)を、電気ニッケルめっきにおいては、ワット浴を、電気金めっきにおいては、テンペレックス8400(EEJA(株))を用いて、実施の形態1に示した標準条件で処理した。
Example 1.
Example 1 is based on the first embodiment described above.
Specifically, degreasing treatment was performed on the glass molding die 1 having a film formation surface of φ30 mm by the method described in the first embodiment. In the degreasing treatment step, degreasing treatment is performed using a degreasing agent ELC-400 (manufactured by World Metal Co., Ltd.) to remove organic substances, and then the
Next, the etching process was performed in accordance with the etching process described in the first embodiment. HS-55 (manufactured by World Metal Co., Ltd.) is used for acid electrolytic etching, and HC-55 (manufactured by World Metal Co., Ltd.) is used for normal etching after acid electrolytic etching. Thereafter, the molding die 1 was immersed in pure water, left for 1 minute, and then taken out.
Next, the strike nickel plating, electro nickel plating, and electro gold plating described in the first embodiment are applied, the strike nickel plating film having a thickness of 1 μm, the electro nickel plating having a thickness of 1 μm, and the electro gold having a thickness of 0.05 μm. A plating film was formed. In strike nickel plating, NI-STK (manufactured by World Metal Co., Ltd.) was used, in electro nickel plating, Watt bath was used, and in electro gold plating, Tempelx 8400 (EEJA Corporation) was used. The treatment was performed under the standard conditions shown in
次に、上記実施の形態1にて説明した電気めっき方法にて、白金めっき膜を厚さ500nm成膜した。電気白金めっき膜においては、プラチナート100(EEJA(株)製)を用いて、実施の形態1に示した標準条件で処理した。
次に、実施の形態1で説明した乾式成膜によって、フッ化イットリウムと酸化イットリウムの海島構造を厚さ15nm以下で成膜した。成膜した結果を表面SEM観察により確認した後、成形試験を実施した。
Next, a platinum plating film having a thickness of 500 nm was formed by the electroplating method described in the first embodiment. The electroplated plating film was processed under the standard conditions shown in
Next, a sea-island structure of yttrium fluoride and yttrium oxide was formed to a thickness of 15 nm or less by the dry film formation described in
実施例2.
実施例2は上記に示した実施の形態2に基づくものである。
上記実施例1と同様の成形用金型1を使用し、脱脂処理から電気白金めっきまで同様の処理を実施した。電気白金めっき後、実施の形態2で説明した乾式成膜によって、フッ化イットリウムの海島構造を厚さ15nm以下で成膜した。
Example 2
Example 2 is based on the second embodiment described above.
Using the same molding die 1 as in Example 1 above, the same processing was performed from degreasing to electroplating. After electroplating, the sea-island structure of yttrium fluoride was formed to a thickness of 15 nm or less by the dry film formation described in the second embodiment.
実施例3.
実施例3は上記に示した実施の形態3に基づくものである。
上記実施例1、2と同様の成形用金型1を使用し、脱脂処理から電気白金めっきまで同様の処理を実施した。電気白金めっき後、実施の形態3で説明した乾式成膜によって、酸化イットリウムの海島構造を厚さ15nm以下で成膜した。
Example 3
Example 3 is based on the third embodiment described above.
Using the same molding die 1 as in Examples 1 and 2 above, the same processing was performed from degreasing to electroplating. After electroplating, the sea-island structure of yttrium oxide was formed to a thickness of 15 nm or less by the dry film formation described in
実施例4.
実施例4は上記に示した実施の形態4に基づくものである。
上記実施例1〜3と同様の成形用金型1を使用し、脱脂処理から電気白金めっきまで同様の処理を実施した。電気白金めっき後、実施の形態4で説明した乾式成膜によって、酸化イットリウムを100nm成膜した後、フッ化イットリウムの海島構造を厚さ15nm以下で成膜した。
Example 4
Example 4 is based on the fourth embodiment described above.
Using the same molding die 1 as in Examples 1 to 3, the same treatment was performed from degreasing to electroplating. After electroplating, yttrium oxide was deposited to a thickness of 100 nm by the dry deposition described in
表1での比較例1は本願発明と比較するためのものである。
比較例1は上記実施例1〜4と同様の成形用金型1を使用し、脱脂処理から電気白金めっきまで同様の処理を実施し、以後の防汚膜の形成工程がないものとした。
Comparative Example 1 in Table 1 is for comparison with the present invention.
In Comparative Example 1, the same molding die 1 as in Examples 1 to 4 was used, and the same treatment from degreasing treatment to electroplating was performed, and there was no subsequent antifouling film forming step.
次に、本願発明による実施例1〜4と、比較例1との比較として、得られた各実施例と比較例の金型を使用して、両凸レンズの連続成形を実施した。ガラス硝材として球面研磨材のB270(ショット社製)を金型表面に設置し、窒素雰囲気でガラスを軟化させるため、600℃で余熱時間120秒を設け、その後、630℃で0.7MPaのプレス圧で120秒間保持した後、0.2MPaで保圧したまま550℃まで冷却し、それ以後は圧力をかけずに200℃まで冷却し成形されたレンズを取り出した。以上の成形工程を1000回繰り返し実施し、これを連続成形試験とした。連続成形試験後、ガラスのクラック発生率、ガラスレンズの曇りの有無、ガラスの金型への融着状態を調査した。ガラスのクラックについては、全施行1000回のクラックの発生率として算出した。ガラスレンズの曇りについては、991〜1000枚目までのレンズを透過光にて検査し、1枚でも曇りが生じたレンズがある場合、曇り「あり」とした。ガラス金型への融着状態はSEM−EDXによる元素分析にてガラス成分(主にSi)を検出の有無を調査した。連続成形試験の結果を表2に示す。 Next, as a comparison between Examples 1 to 4 according to the present invention and Comparative Example 1, continuous molding of biconvex lenses was performed using the molds of the obtained Examples and Comparative Examples. A spherical abrasive B270 (manufactured by Schott) is installed on the mold surface as a glass glass material, and a preheating time of 120 seconds is provided at 600 ° C. to soften the glass in a nitrogen atmosphere, and then a 0.7 MPa press at 630 ° C. After holding at a pressure for 120 seconds, it was cooled to 550 ° C. while holding at 0.2 MPa, and thereafter, it was cooled to 200 ° C. without applying pressure, and the molded lens was taken out. The above molding process was repeated 1000 times, and this was taken as a continuous molding test. After the continuous molding test, the crack occurrence rate of the glass, the presence or absence of fogging of the glass lens, and the fused state of the glass to the mold were investigated. About the crack of glass, it calculated as an incidence rate of the crack of all enforcement 1000 times. As for the fogging of the glass lens, the 991 to 1000th lenses were inspected with transmitted light. Whether the glass component (mainly Si) was detected in the fused state to the glass mold was examined by elemental analysis using SEM-EDX. Table 2 shows the results of the continuous molding test.
表2に示す評価結果から明らかなように、金型に防汚コーティングを施さなかった比較例1では、ガラスレンズのクラック、曇りの発生、またガラスの金型への融着が生じた。しかし、これに対し、本願発明では金型に防汚コーティング処理を施した実施例1〜4に示すように、ガラスレンズのクラック、曇りの発生が比較例よりも少なく、ガラスの基板への融着も認められなかった。このように本願発明の明らかな効果を確認することができた。 As is clear from the evaluation results shown in Table 2, in Comparative Example 1 where the antifouling coating was not applied to the mold, the glass lens was cracked and fogged, and the glass was fused to the mold. However, in the present invention, as shown in Examples 1 to 4 in which the mold was antifouling-coated, the occurrence of cracking and fogging of the glass lens was less than in the comparative example, and the glass was fused to the substrate. Neither was wearing. Thus, the clear effect of this invention was able to be confirmed.
1 成形用金型、2 金型母材、3 バリア膜、4 離型膜、5 防汚膜、31 ストライクニッケルめっき膜、32 電気ニッケルめっき膜、33 電気金めっき膜、4 離型膜、5 防汚膜、51 疎水性防汚膜、52 親水性防汚膜。
DESCRIPTION OF
Claims (16)
前記金型母材の表面に密着力と前記金型母材の成分の拡散抑制する前記バリア膜を湿式めっき法で形成するバリア膜形成工程と、
前記バリア膜上に湿式めっきで離型膜を形成する離型膜形成工程と、
前記離型膜に乾式成膜で前記防汚膜を形成する防汚膜形成工程と、を備えた成形用金型の製造方法。 It is a manufacturing method of the metallic mold according to claim 1,
A barrier film forming step of forming the barrier film on the surface of the mold base material to suppress diffusion of components of the mold base material by a wet plating method; and
A release film forming step of forming a release film on the barrier film by wet plating;
An antifouling film forming step of forming the antifouling film by dry film formation on the release film.
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