JP2016148686A - Handler and component inspection apparatus - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a handler capable of restraining an increase in a load and complexity in a cooling circuit relating to control of a control circuit for controlling temperature of components when cooling a plurality of support parts for supporting a plurality of components, and to provide a component inspection apparatus including the handler.SOLUTION: A handler includes: a first cooling passage 67A and second cooling passages 67B-67D corresponding to storage pockets 17A-17D; a first supply passage 66A; second supply passages 66B-66D branched from the first supply passage 66A; a first throttle valve 73A for making larger a flow rate of a refrigerant in the second cooling passages 67B-67D than in the first cooling passage 67A; heaters 69A-69D for heating the respective storage pockets; temperature sensors 70A-70D for detecting temperature of the respective storage pockets; and a control device for controlling an opening/closing mode of a valve 63 and output of the heater 69A and controlling output of the heaters 69B-69D such that the detection values of the respective temperature sensors become target temperatures.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、部品を搬送するハンドラーに関し、特に部品の温度を調節する温度調節部を有するハンドラー、及び該ハンドラーを備える部品検査装置に関する。   The present invention relates to a handler that conveys a component, and more particularly, to a handler having a temperature adjusting unit that adjusts the temperature of a component, and a component inspection apparatus including the handler.

一般に、電子部品の電気的特性を検査する部品検査装置には、基台上のトレイと検査用ソケットとの間で検査前や検査後の電子部品を搬送するハンドラーが用いられている。こうした部品検査装置の中には、電子部品を0℃以下の低温にしたうえで該電子部品の電気的特性を検査するものがある。   In general, a component inspection apparatus that inspects electrical characteristics of an electronic component uses a handler that conveys an electronic component before or after an inspection between a tray on a base and an inspection socket. Some of such component inspection apparatuses inspect the electrical characteristics of the electronic component after setting the electronic component to a low temperature of 0 ° C. or lower.

従来、電子部品を冷却する方法としては、例えば特許文献1に記載のような技術が知られている。特許文献1においては、電子部品が支持される支持部を複数有したトレイがステージに載置されている。このステージの内部には、ステージを介してトレイを冷却する冷却路が形成されている。そして、圧縮空気を冷却した冷媒が冷媒供給部からステージの冷却路に供給されることによって、トレイを介して電子部品が冷却される。   Conventionally, as a method of cooling an electronic component, for example, a technique as described in Patent Document 1 is known. In Patent Document 1, a tray having a plurality of support portions on which electronic components are supported is placed on a stage. Inside this stage is formed a cooling path for cooling the tray via the stage. And the electronic component is cooled via a tray by the refrigerant | coolant which cooled the compressed air being supplied to the cooling path of a stage from a refrigerant | coolant supply part.

特開2004−347329号公報JP 2004-347329 A

ところで、上述した構成により複数のステージを冷却する場合には、冷媒の供給量を温度に応じて制御する流量制御弁をステージごとに設ける必要がある。しかしながら、このような構成では、冷媒の供給原と各冷却路とを接続する配管の構造が複雑になってしまう。また、複数の流量制御弁の各々の状態がステージごとに異なるため、流量制御弁の開弁及び閉弁を制御する制御部に大きな負荷がかかってしまう。   By the way, when cooling a plurality of stages with the above-described configuration, it is necessary to provide a flow rate control valve for controlling the supply amount of the refrigerant according to the temperature for each stage. However, in such a configuration, the structure of the piping connecting the refrigerant supply source and each cooling path becomes complicated. In addition, since the state of each of the plurality of flow control valves is different for each stage, a large load is applied to the control unit that controls the opening and closing of the flow control valves.

本発明は、上記実情を鑑みてなされたものであり、その目的は、複数の部品を支持する複数の支持部を冷却するうえで部品の温度を制御する制御部の制御に関わる負荷の増大と冷却回路の複雑化とを抑えることが可能なハンドラー、及び該ハンドラーを備えた部品検査装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and its purpose is to increase the load related to the control of the control unit that controls the temperature of the component in cooling the plurality of support units that support the plurality of components. It is an object of the present invention to provide a handler capable of suppressing the complexity of a cooling circuit and a component inspection apparatus including the handler.

本発明におけるハンドラーの一態様は、部品を支持する第1支持部を冷媒で冷却する第1冷却路と、部品を支持して前記第1支持部と異なる第2支持部を冷媒で冷却する第2冷却路と、前記第1支持部を加熱する第1ヒーターと、前記第2支持部を加熱して前記第1ヒーターと異なる第2ヒーターと、前記第1支持部の温度を検出する第1温度センサーと、前記第2支持部の温度を検出して前記第1温度センサーと異なる第2温度センサーと、前記第1及び第2冷却路に流量制御弁を通じて冷媒を供給する冷媒供給部とを備え、前記第1及び第2冷却路が、前記冷媒供給部に対して並列に接続され、前記第1温度センサーの検出値に応じて、前記流量制御弁の開弁及び閉弁と前記第1ヒーターの出力とを変化させ、前記第2温度センサーの検出値に応じて、前記第2ヒーターの出力を変化させる制御部を備える。   One aspect of the handler according to the present invention includes a first cooling path that cools the first support portion that supports the component with the coolant, and a second support portion that supports the component and cools the second support portion that is different from the first support portion with the coolant. Two cooling paths, a first heater for heating the first support part, a second heater for heating the second support part and different from the first heater, and a first for detecting the temperature of the first support part A temperature sensor; a second temperature sensor that detects the temperature of the second support portion and is different from the first temperature sensor; and a refrigerant supply portion that supplies refrigerant to the first and second cooling paths through a flow control valve. The first and second cooling paths are connected in parallel to the refrigerant supply unit, and the flow control valve is opened and closed according to the detection value of the first temperature sensor, and the first Change the output of the heater to detect the second temperature sensor. Depending on the value, a control unit for changing the output of the second heater.

本発明におけるハンドラーの一態様によれば、冷媒供給部に対して第1冷却路と第2冷却路とが並列に接続されていることから、共通する流量制御弁を通じた冷媒供給部からの冷媒が、第1及び第2冷却路に供給されることになる。その結果、第1及び第2冷却路の各々に対して個別に冷却供給部を設ける場合に比べて、冷却回路が複雑化することを抑えることができる。   According to one aspect of the handler of the present invention, since the first cooling path and the second cooling path are connected in parallel to the refrigerant supply section, the refrigerant from the refrigerant supply section through the common flow control valve Will be supplied to the first and second cooling paths. As a result, complication of the cooling circuit can be suppressed as compared with the case where the cooling supply unit is individually provided for each of the first and second cooling paths.

また、制御部は、第1支持部については、第1温度センサーの検出値に応じて流量制御弁と第1ヒーターの出力とを変化させる一方、第2支持部については、第2温度センサーの検出値に応じて第2ヒーターの出力のみを変化させる。その結果、部品の温度を制御するうえで制御部に対する負荷を軽減することができる。それゆえに、部品を冷却する冷却回路の簡素化が図れるとともに、部品を目標温度に制御するうえで制御部に対する負荷を軽減させることができる。   Further, the control unit changes the output of the flow control valve and the first heater according to the detection value of the first temperature sensor for the first support unit, whereas the control unit changes the output of the second temperature sensor for the second support unit. Only the output of the second heater is changed according to the detected value. As a result, it is possible to reduce the load on the control unit in controlling the temperature of the component. Therefore, the cooling circuit for cooling the components can be simplified, and the load on the control unit can be reduced in controlling the components to the target temperature.

本発明におけるハンドラーの他の態様は、前記第1冷却路は、第2冷却路よりも冷媒の流量が小さい流路である。
本発明におけるハンドラーの他の態様によれば、第1冷却路における冷媒の流量よりも第2冷却路における冷媒の流量の方が大きいことから、第2支持部は、第1支持部よりも低い温度まで冷却されることとなる。その結果、冷却回路の簡素化及び制御部への負荷を軽減しつつ、第1支持部及び第2支持部を同じ温度に制御すること、第1支持部の温度よりも低い温度に第2支持部を制御すること、これらを実現することができる。
In another aspect of the handler according to the present invention, the first cooling path is a channel having a smaller refrigerant flow rate than the second cooling path.
According to another aspect of the handler of the present invention, the flow rate of the refrigerant in the second cooling path is larger than the flow rate of the refrigerant in the first cooling path, so the second support portion is lower than the first support portion. It will be cooled to temperature. As a result, the first support part and the second support part are controlled to the same temperature while simplifying the cooling circuit and reducing the load on the control part, and the second support is performed at a temperature lower than the temperature of the first support part. These can be realized by controlling the unit.

本発明におけるハンドラーの他の態様は、前記第1冷却路における冷媒の流量を絞る絞り弁を備える。
本発明におけるハンドラーの他の態様によれば、第1冷却路における冷媒の流量が第1絞り弁によって絞られるため、第1冷却路の流路断面積が第2冷却路の流路断面積よりも大きい場合であっても、第1冷却路における冷媒の流量を第2冷却路よりも小さくすることができる。それゆえに、このような絞り弁を有しない構成と比べて、第1冷却路及び第2冷却路の形状や大きさに関わる自由度を高めることが可能にもなる。
Another aspect of the handler according to the present invention includes a throttle valve that throttles the flow rate of the refrigerant in the first cooling path.
According to another aspect of the handler of the present invention, since the flow rate of the refrigerant in the first cooling path is throttled by the first throttle valve, the flow path cross-sectional area of the first cooling path is greater than the flow path cross-sectional area of the second cooling path. Even if it is large, the flow rate of the refrigerant in the first cooling path can be made smaller than that in the second cooling path. Therefore, it is possible to increase the degree of freedom related to the shape and size of the first cooling path and the second cooling path as compared with a configuration without such a throttle valve.

本発明におけるハンドラーの他の態様は、前記支持部が収容される収容容器と、前記第1冷却路の出口と前記収容容器とを連通させる第1排出路と、前記第2冷却路の出口と前記収容容器とを連通させる第2排出路とを備える。   Another aspect of the handler according to the present invention includes: a storage container in which the support portion is stored; a first discharge path that communicates the outlet of the first cooling path and the storage container; and an outlet of the second cooling path. A second discharge path that communicates with the storage container.

常温よりも低い温度に部品を冷却するハンドラーにおいては、冷却路や支持部の周囲における結露や氷結を回避するために、例えばドライエアや窒素ガス等、大気よりも水分含有量の少ない雰囲気が冷却路や支持部の周囲に形成される。本発明におけるハンドラーの他の態様によれば、水分含有量の少ない冷媒が支持部の収容された収容容器に供給されることから、支持部ならびに該支持部に支持されている部品等、低温となる部位に結露が発生することを抑えることができる。   In a handler that cools parts to a temperature lower than room temperature, an atmosphere with a lower moisture content than the atmosphere, such as dry air or nitrogen gas, is used to avoid condensation and icing around the cooling path and support. Or around the support. According to another aspect of the handler according to the present invention, since the refrigerant having a low water content is supplied to the storage container in which the support portion is stored, the support portion and the parts supported by the support portion, etc. It is possible to suppress the occurrence of dew condensation at the site.

本発明におけるハンドラーの他の態様は、前記第1排出路に配設されて前記第1冷却路への気体の流入を抑止する第1逆止弁と、前記第2排出路に配設されて前記第2冷却路への気体の流入を抑止する第2逆止弁とを備える。   In another aspect of the handler according to the present invention, a first check valve disposed in the first discharge path to suppress the inflow of gas into the first cooling path, and disposed in the second discharge path. A second check valve that suppresses inflow of gas into the second cooling path.

本発明におけるハンドラーの他の態様によれば、第1冷却路へ向かう気体の流れが第1排出路で抑止され、また第2冷却路へ向かう気体の流れが第2排出路で抑止される。そのため、第1冷却路を通過した冷媒が第1排出路を逆流して第1冷却路に再び流入すること、また第2冷却路を通過した冷媒が第2排出路を逆流して第2冷却路に再び流入することを抑えることができる。その結果、第1冷却路を通過することによって温度が上昇した冷媒や収容容器からの大気が第1冷却路に逆流すること、第2冷却路を通過することによって温度が上昇した冷媒や収容容器からの大気が第2冷却路に逆流すること、これらが抑えられる。それゆえに、第1冷却路に供給された冷媒による第1支持部の冷却と第2冷却路に供給された冷媒による第2支持部の冷却とを効果的に行なうことができる。   According to another aspect of the handler of the present invention, the gas flow toward the first cooling path is suppressed in the first discharge path, and the gas flow toward the second cooling path is suppressed in the second discharge path. Therefore, the refrigerant that has passed through the first cooling path flows back through the first discharge path and flows back into the first cooling path, and the refrigerant that has passed through the second cooling path flows backward through the second discharge path to perform the second cooling. It can suppress flowing into the road again. As a result, the refrigerant whose temperature has increased by passing through the first cooling path or the atmosphere from the storage container flows back to the first cooling path, and the refrigerant or storage container whose temperature has increased by passing through the second cooling path. The backflow of the air from the back to the second cooling path is suppressed. Therefore, the cooling of the first support part by the refrigerant supplied to the first cooling path and the cooling of the second support part by the refrigerant supplied to the second cooling path can be effectively performed.

本発明におけるハンドラーの他の態様では、前記第1排出路のうち、前記第1逆止弁の下流側には、前記第2排出路における前記第2逆止弁の下流側の部位が接続される。
本発明におけるハンドラーの他の態様によれば、収容容器に対して第1及び第2排出路が個別に接続される場合に比べて、冷媒の排出側においても冷却回路を簡素化することができる。また、第1冷却路を通過することによって温度が上昇した冷媒が第2排出路を逆流して第2冷却路に流入すること、及び第2冷却路を通過することによって温度が上昇した冷媒が第1排出路を逆流して第1冷却路に流入することを抑えることが可能にもなる。
In another aspect of the handler according to the present invention, a portion of the first discharge path downstream of the second check valve is connected to a downstream side of the first check valve. The
According to another aspect of the handler of the present invention, the cooling circuit can be simplified on the refrigerant discharge side as compared with the case where the first and second discharge paths are individually connected to the storage container. . In addition, the refrigerant whose temperature has increased by passing through the first cooling path flows back into the second cooling path through the second discharge path, and the refrigerant whose temperature has increased by passing through the second cooling path. It also becomes possible to suppress the reverse flow of the first discharge path and the flow into the first cooling path.

本発明におけるハンドラーの他の態様では、前記第1排出路のうち、前記第2排出路が接続される部位の下流側に、前記第1排出路を通過する冷媒を昇温させる昇温部を備える。   In another aspect of the handler according to the present invention, a temperature raising unit that raises the temperature of the refrigerant passing through the first discharge path is provided downstream of a portion of the first discharge path to which the second discharge path is connected. Prepare.

本発明におけるハンドラーの他の態様によれば、昇温部によって昇温された冷媒が収容容器に導入される。その結果、昇温されていない冷媒が収容容器に導入される場合に比べて、収容容器内の温度が高くなることから、収容容器内において結露が発生することを抑えることができる。   According to another aspect of the handler of the present invention, the refrigerant whose temperature has been raised by the temperature raising unit is introduced into the storage container. As a result, since the temperature in the storage container becomes higher than that in the case where a refrigerant that has not been heated is introduced into the storage container, it is possible to suppress the occurrence of condensation in the storage container.

本発明におけるハンドラーの他の態様は、前記第2冷却路を複数有し、前記第1冷却路における冷媒の流量を絞る第1絞り弁と、前記複数の第2冷却路の各々に対して個別に設けられ、該第2冷却路における冷媒の流量を絞る第2絞り弁とを備える。   According to another aspect of the handler of the present invention, a plurality of the second cooling passages are provided, and a first throttle valve for restricting a flow rate of the refrigerant in the first cooling passage, and each of the plurality of second cooling passages. And a second throttle valve that throttles the flow rate of the refrigerant in the second cooling path.

本発明におけるハンドラーの他の態様によれば、複数の第2冷却路の各々における冷媒の流量が互いに異なる場合であっても、各第2冷却路に設けられた第2絞り弁によって、第2冷却路間における冷媒の流量のばらつきを抑えることが可能にもなる。   According to another aspect of the handler of the present invention, even if the flow rates of the refrigerant in each of the plurality of second cooling paths are different from each other, the second throttle valve provided in each second cooling path causes the second It also becomes possible to suppress variation in the flow rate of the refrigerant between the cooling paths.

本発明における部品検査装置の一態様は、部品を支持する第1支持部を冷媒で冷却する第1冷却路と、部品を支持して前記第1支持部と異なる第2支持部を冷媒で冷却する第2冷却路と、前記第1支持部を加熱する第1ヒーターと、前記第2支持部を加熱して前記第1ヒーターと異なる第2ヒーターと、前記第1支持部の温度を検出する第1温度センサーと、前記第2支持部の温度を検出して前記第1温度センサーと異なる第2温度センサーと、前記第1及び第2冷却路に流量制御弁を通じて冷媒を供給する冷媒供給部とを備え、前記第1及び第2冷却路が、前記冷媒供給部に対して並列に接続され、前記第1温度センサーの検出値に応じて、前記流量制御弁の開弁及び閉弁と前記第1ヒーターの出力とを変化させ、前記第2温度センサーの検出値に応じて、前記第2ヒーターの出力を変化させる制御部を備える。   One aspect of the component inspection apparatus according to the present invention includes a first cooling path that cools a first support portion that supports a component with a coolant, and a second support portion that supports the component and is different from the first support portion with a coolant. A second cooling path, a first heater for heating the first support part, a second heater different from the first heater by heating the second support part, and detecting a temperature of the first support part A first temperature sensor; a second temperature sensor different from the first temperature sensor by detecting the temperature of the second support; and a refrigerant supply unit for supplying refrigerant to the first and second cooling paths through a flow control valve And the first and second cooling paths are connected in parallel to the refrigerant supply unit, and the flow control valve is opened and closed according to a detection value of the first temperature sensor, and the The output of the first heater is changed, and the second temperature sensor Depending on the output value, a control unit for changing the output of the second heater.

本発明における部品検査装置の一態様によれば、部品を冷却する冷却回路の簡素化が図れるとともに、部品の温度に制御するうえで制御部に対する負荷を軽減させることができる。   According to the aspect of the component inspection apparatus of the present invention, the cooling circuit for cooling the component can be simplified, and the load on the control unit can be reduced when controlling the temperature of the component.

本発明を具体化したハンドラー及び部品検査装置の一実施形態について、その全体構成を示す構成図。The block diagram which shows the whole structure about one Embodiment of the handler and component inspection apparatus which actualized this invention. 同実施形態の冷却ユニットの概略構成を模式的に示した概略構成図。The schematic block diagram which showed typically the schematic structure of the cooling unit of the embodiment. 同実施形態のハンドラーにおける電気的構成の一部を示すブロック図。The block diagram which shows a part of electrical structure in the handler of the embodiment. 同実施形態のハンドラーにおいて、温度センサーの検出値と収容ポケットに対する冷却出力及び加熱出力との関係の一例を示したグラフ。The graph which showed an example of the relationship between the detection value of a temperature sensor, the cooling output with respect to a storage pocket, and a heating output in the handler of the embodiment. (a)〜(d)変形例において、温度センサーの検出値と収容ポケットに対する冷却出力及び加熱出力との関係の一例を示したグラフ。(A)-(d) In the modification, the graph which showed an example of the relationship between the detected value of a temperature sensor, the cooling output with respect to a storage pocket, and a heating output. 変形例における支持部を模式的に示した図。The figure which showed typically the support part in a modification.

以下、本発明のハンドラー及び部品検査装置を具体化した一実施形態について、図1〜図3を参照して説明する。なお、部品検査装置は、電子部品を搬送するハンドラーと、ハンドラーとは別体の装置であって電子部品の電気的特性を検査するテスターとを備えるものである。   Hereinafter, an embodiment embodying a handler and a component inspection apparatus of the present invention will be described with reference to FIGS. The component inspection apparatus includes a handler that conveys an electronic component, and a tester that is an apparatus separate from the handler and inspects the electrical characteristics of the electronic component.

[ハンドラー及び部品検査装置の構成]
まず、ハンドラー、及び該ハンドラーを備える部品検査装置の全体構成について図1を参照して説明する。図1に示されるように、ハンドラー10の基台11には、各種ロボットの搭載される搭載面11aが上面として設けられ、該搭載面11aの大部分が、カバー部材12によって覆われている。これらカバー部材12と搭載面11aとにより囲まれた空間である搬送空間は、外部から供給されるドライエアにより湿度と温度とが所定の値に維持されている。
[Configuration of handler and parts inspection equipment]
First, the overall configuration of a handler and a component inspection apparatus including the handler will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 1, the base 11 of the handler 10 is provided with a mounting surface 11 a on which various robots are mounted as an upper surface, and most of the mounting surface 11 a is covered with a cover member 12. In the conveyance space, which is a space surrounded by the cover member 12 and the mounting surface 11a, humidity and temperature are maintained at predetermined values by dry air supplied from the outside.

基台11の搭載面11aには、カバー部材12の外側と内側との間で電子部品Tを搬送する4つのコンベアーC1〜C4が配列されている。このうち、コンベアーの配列方向であるX方向の一方側には、カバー部材12の外側から内側に向かって検査前の電子部品Tを搬送する供給用コンベアーC1が敷設され、X方向の他方側には、カバー部材12の内側から外側に向かって検査後の電子部品Tを搬送する回収用コンベアーC2,C3,C4が敷設されている。これらのコンベアーC1〜C4では、複数の電子部品Tが各コンベアー上のデバイストレイC1a〜C4aに収容された状態で搬送される。   On the mounting surface 11 a of the base 11, four conveyors C <b> 1 to C <b> 4 that convey the electronic component T between the outer side and the inner side of the cover member 12 are arranged. Among these, on one side of the X direction that is the arrangement direction of the conveyors, a supply conveyor C1 that conveys the electronic component T before inspection from the outside to the inside of the cover member 12 is laid, and on the other side in the X direction. Is provided with recovery conveyors C2, C3, C4 for conveying the inspected electronic component T from the inside to the outside of the cover member 12. In these conveyors C1-C4, the some electronic component T is conveyed in the state accommodated in the device trays C1a-C4a on each conveyor.

また、搭載面11aのうち、搬送空間の略中央には、搭載面11aを貫通する矩形状の開口部13が形成されている。この開口部13には、テスターのテストヘッド14が取り付けられている。テストヘッド14は、その上面に電子部品Tが嵌め込まれる検査用ソケット14aを有しており、該電子部品Tを検査するためのテスター内の検査回路に電気的に接続されている。このテスターにおいては、テストヘッド14と検査用ソケット14aとによって1つのステージが構成されている。   In addition, a rectangular opening 13 penetrating the mounting surface 11a is formed in the mounting surface 11a substantially at the center of the conveyance space. A tester test head 14 is attached to the opening 13. The test head 14 has an inspection socket 14a into which the electronic component T is fitted on its upper surface, and is electrically connected to an inspection circuit in the tester for inspecting the electronic component T. In this tester, one stage is configured by the test head 14 and the inspection socket 14a.

さらに、搭載面11aのうち、X方向と直交するY方向では、開口部13の両側に、検査前及び検査後の電子部品Tが一時的に載置される第1シャトル15と第2シャトル16とが配設されている。これらのシャトル15,16は、X方向に延びるように形成されており、その上面における上記供給用コンベアーC1側には、検査前の電子部品Tが収容される収容ポケット17,18が複数形成された供給用シャトルプレート15a,16aがそれぞれ固定されている。一方、シャトル15,16の上面における上記回収用コンベアーC2〜C4側には、検査後の電子部品Tが収容される回収用シャトルプレート15b,16bがそれぞれ固定されている。そして、これらシャトル15,16は、搭載面11aに固設されたX方向に延びるシャトルガイド15c,16cにそれぞれ連結されてX方向に沿って往動及び復動する。ハンドラー10においては、第1シャトル15と供給用シャトルプレート15aとによって1つのステージが構成されており、第2シャトル16と供給用シャトルプレート16aとによって1つのステージが構成されている。なお、図1においては、収容ポケット17,18の一部のみを図示している。   Furthermore, in the Y direction orthogonal to the X direction on the mounting surface 11a, the first shuttle 15 and the second shuttle 16 on which the electronic parts T before and after the inspection are temporarily placed on both sides of the opening 13 are provided. Are arranged. The shuttles 15 and 16 are formed so as to extend in the X direction, and a plurality of accommodation pockets 17 and 18 for accommodating the electronic components T before inspection are formed on the supply conveyor C1 side on the upper surface thereof. The supply shuttle plates 15a and 16a are fixed. On the other hand, recovery shuttle plates 15b and 16b for storing the electronic components T after inspection are fixed to the recovery conveyors C2 to C4 on the upper surfaces of the shuttles 15 and 16, respectively. The shuttles 15 and 16 are respectively connected to shuttle guides 15c and 16c that are fixed to the mounting surface 11a and extend in the X direction, and move forward and backward along the X direction. In the handler 10, one stage is constituted by the first shuttle 15 and the supply shuttle plate 15a, and one stage is constituted by the second shuttle 16 and the supply shuttle plate 16a. In FIG. 1, only a part of the accommodation pockets 17 and 18 is illustrated.

基台11の搭載面11a上には、検査用ソケット14a、供給用シャトルプレート15a,16a、及び回収用シャトルプレート15b,16bの各々に電子部品Tを搬送するロボット機構が搭載されている。そして、ロボット機構を構成する供給ロボット20、搬送ロボット30、及び回収ロボット40の動作に合わせて、上述のシャトル15,16はシャトルガイド15c,16cに沿って移動する。   On the mounting surface 11a of the base 11, a robot mechanism for carrying the electronic component T is mounted on each of the inspection socket 14a, the supply shuttle plates 15a and 16a, and the recovery shuttle plates 15b and 16b. The above-described shuttles 15 and 16 move along the shuttle guides 15c and 16c in accordance with the operations of the supply robot 20, the transport robot 30, and the collection robot 40 that constitute the robot mechanism.

供給ロボット20は、供給用コンベアーC1上のデバイストレイC1aから、シャトル15,16上の供給用シャトルプレート15a,16aに検査前の電子部品Tを搬送するロボットであり、供給用コンベアーC1のY方向に配置されている。詳しくは、供給ロボット20は、Y方向に延びる固定軸である供給側固定ガイド21と、供給側固定ガイド21に対してY方向に往動及び復動可能に連結された供給側可動ガイド22と、供給側可動ガイド22に対してX方向に往動及び復動可能に連結された供給用ハンドユニット23とを有している。また、供給用ハンドユニット23は、その下端に電子部品Tを吸着する吸着部を有し、搭載面11a対して下降及び上昇可能に供給側可動ガイド22に連結されている。そして、供給側可動ガイド22及び供給用ハンドユニット23の移動により、デバイストレイC1aに載置された電子部品Tが、供給用ハンドユニット23の吸着部に吸着されて搬送され、供給用シャトルプレート15a,16aに載置される。   The supply robot 20 is a robot that transports the electronic component T before inspection from the device tray C1a on the supply conveyor C1 to the supply shuttle plates 15a and 16a on the shuttles 15 and 16, and the Y direction of the supply conveyor C1 Is arranged. Specifically, the supply robot 20 includes a supply-side fixed guide 21 which is a fixed shaft extending in the Y direction, and a supply-side movable guide 22 connected to the supply-side fixed guide 21 so as to be able to move forward and backward in the Y direction. And a supply hand unit 23 connected to the supply side movable guide 22 so as to be movable forward and backward in the X direction. Further, the supply hand unit 23 has a suction portion that sucks the electronic component T at the lower end thereof, and is connected to the supply-side movable guide 22 so as to be lowered and raised with respect to the mounting surface 11a. As the supply-side movable guide 22 and the supply hand unit 23 move, the electronic component T placed on the device tray C1a is sucked and conveyed by the suction portion of the supply hand unit 23, and the supply shuttle plate 15a. , 16a.

回収ロボット40は、シャトル15,16上の回収用シャトルプレート15b,16bから、回収用コンベアーC2〜C4上のデバイストレイC2a〜C4aに検査後の電子部品Tを搬送するロボットであり、回収用コンベアーC2〜C4のY方向に配置されている。詳しくは、回収ロボット40は、上述の供給ロボット20と同様、Y方向に延びる固定軸である回収側固定ガイド41と、回収側固定ガイド41に対してY方向に往動及び復動可能に連結された回収側可動ガイド42と、回収側可動ガイド42に対してX方向に往動及び復動可能に連結された回収用ハンドユニット43とを有している。また、回収用ハンドユニット43は、その下端に電子部品Tを吸着する吸着部を有し、搭載面11a対して下降及び上昇可能に回収側可動ガイド42に連結されている。そして、回収側可動ガイド42及び回収用ハンドユニット43の移動により、回収用シャトルプレート15b,16bに載置された電子部品Tが、回収用ハンドユニット43の吸着部に吸着されて搬送され、デバイストレイC2a〜C4aに載置される。   The collection robot 40 is a robot that conveys the electronic components T after inspection from the collection shuttle plates 15b and 16b on the shuttles 15 and 16 to the device trays C2a to C4a on the collection conveyors C2 to C4. It arrange | positions in the Y direction of C2-C4. Specifically, the collection robot 40 is connected to the collection side fixed guide 41 that is a fixed shaft extending in the Y direction and the collection side fixed guide 41 so that the collection robot 40 can move forward and backward in the Y direction, like the supply robot 20 described above. The collection-side movable guide 42 and the collection-side hand unit 43 connected to the collection-side movable guide 42 so as to be able to move forward and backward in the X direction. The collection hand unit 43 has a suction part that sucks the electronic component T at the lower end thereof, and is connected to the collection-side movable guide 42 so as to be able to descend and rise with respect to the mounting surface 11a. Then, by the movement of the collection-side movable guide 42 and the collection hand unit 43, the electronic component T placed on the collection shuttle plates 15b and 16b is sucked and conveyed by the suction portion of the collection hand unit 43, and the device Placed on the trays C2a to C4a.

搬送ロボット30は、搬送空間の略中央に設置されたY方向に延びる固定軸である搬送ガイド31と、搬送ガイド31に対してY方向に往動及び復動可能に連結された第1搬送ユニット32及び第2搬送ユニット33とを有している。このうち、第1搬送ユニット32は、第1シャトル15上とテストヘッド14上との間を往復し、第2搬送ユニット33は、第2シャトル16上とテストヘッド14上との間を往復する。また、第1搬送ユニット32及び第2搬送ユニット33は、各々がその下端に電子部品Tを吸着する吸着部を有し、搭載面11a対して下降及び上昇可能に搬送ガイド31に連結されている。   The transfer robot 30 includes a transfer guide 31 that is a fixed shaft extending in the Y direction and is installed at a substantially center of the transfer space, and a first transfer unit that is connected to the transfer guide 31 so as to be able to move forward and backward in the Y direction. 32 and a second transport unit 33. Among these, the first transport unit 32 reciprocates between the first shuttle 15 and the test head 14, and the second transport unit 33 reciprocates between the second shuttle 16 and the test head 14. . Each of the first transport unit 32 and the second transport unit 33 has a suction portion that sucks the electronic component T at the lower end thereof, and is connected to the transport guide 31 so as to be able to descend and rise with respect to the mounting surface 11a. .

そして、第1搬送ユニット32は、第1シャトル15上の供給用シャトルプレート15aに載置された検査前の電子部品Tを吸着部に吸着して搬送し、テストヘッド14の検査用ソケット14aに所定の押圧力で嵌め込む。検査用ソケット14aの底面には、電子部品Tの雄端子と嵌合可能な複数の雌端子が凹設されており、電子部品Tの有する雄端子が検査用ソケット14aの雌端子に嵌め込まれることによって、電子部品Tの電気的特性がテスターにより検査可能になる。テスターは、ハンドラー10から検査開始の指令を受けて電子部品Tの検査を開始し、その検査結果とともに検査の終了を示す信号をハンドラー10に出力する。こうして電子部品Tの検査が終了すると、第1搬送ユニット32は、検査後の電子部品Tをテストヘッド14の検査用ソケット14aから第1シャトル15上の回収用シャトルプレート15bへ搬送する。   Then, the first transport unit 32 sucks and transports the electronic component T before inspection placed on the supply shuttle plate 15 a on the first shuttle 15 to the suction portion and transports it to the inspection socket 14 a of the test head 14. Fit with a predetermined pressing force. A plurality of female terminals that can be engaged with the male terminals of the electronic component T are recessed in the bottom surface of the inspection socket 14a, and the male terminals of the electronic component T are fitted into the female terminals of the inspection socket 14a. Thus, the electrical characteristics of the electronic component T can be inspected by a tester. The tester receives an inspection start command from the handler 10 and starts an inspection of the electronic component T, and outputs a signal indicating the end of the inspection to the handler 10 together with the inspection result. When the inspection of the electronic component T is thus completed, the first transport unit 32 transports the electronic component T after the inspection from the inspection socket 14a of the test head 14 to the recovery shuttle plate 15b on the first shuttle 15.

同様に、第2搬送ユニット33は、第2シャトル16上の供給用シャトルプレート16aに載置された検査前の電子部品Tを吸着部に吸着して搬送し、テストヘッド14の検査用ソケット14aに所定の押圧力で嵌め込む。そして、テスターによる電子部品Tの検査が終了すると、第2搬送ユニット33は、検査後の電子部品Tを、テストヘッド14の検査用ソケット14aから第2シャトル16上の回収用シャトルプレート16bへ搬送する。このような第1搬送ユニット32及び第2搬送ユニット33によるテストヘッド14への電子部品Tの搬送は交互に行われ、電子部品Tがテスターによって順次検査されていく。   Similarly, the second transport unit 33 sucks and transports the electronic component T before inspection placed on the supply shuttle plate 16a on the second shuttle 16 to the suction portion, and transports the inspection socket 14a of the test head 14. Is fitted with a predetermined pressing force. When the inspection of the electronic component T by the tester is completed, the second transport unit 33 transports the electronic component T after the inspection from the inspection socket 14a of the test head 14 to the recovery shuttle plate 16b on the second shuttle 16. To do. The electronic parts T are transported alternately to the test head 14 by the first transport unit 32 and the second transport unit 33, and the electronic parts T are sequentially inspected by a tester.

なお、供給用ハンドユニット23、回収用ハンドユニット43、第1搬送ユニット32及び第2搬送ユニット33は、複数の電子部品を同時に吸着保持するものであり、各々の吸着部は例えば真空吸着によって電子部品Tを吸着して把持することの可能なエンドエフェクターとして構成される。   The supply hand unit 23, the recovery hand unit 43, the first transport unit 32, and the second transport unit 33 simultaneously hold and hold a plurality of electronic components. It is configured as an end effector capable of sucking and gripping the component T.

ここで、本実施形態では、第1シャトル15の周囲に、搬送空間内で隔離され、第1シャトル15と供給用シャトルプレート15a及び回収用シャトルプレート15bとを収容する部屋を有する収容容器としての収容ボックス50が配設されている。同様に、開口部13及び開口部13に取り付けられたテストヘッド14の周囲には、搬送空間内で隔離され、テストヘッド14及び検査用ソケット14aを収容する部屋を有する収容容器としての検査ボックス51が配設されている。さらに、第2シャトル16の周囲には、搬送空間内で隔離され、第2シャトルと供給用シャトルプレート16a及び回収用シャトルプレート16bとを収容する部屋を有する収容容器としての収容ボックス52が配設されている。そして、これら収容ボックス50、検査ボックス51、及び収容ボックス52の各々において電子部品Tの冷却が行なわれる。   Here, in the present embodiment, as a storage container having a room for storing the first shuttle 15, the supply shuttle plate 15a, and the recovery shuttle plate 15b around the first shuttle 15 in the transfer space. A storage box 50 is provided. Similarly, an inspection box 51 as an accommodation container having a room for accommodating the test head 14 and the inspection socket 14a around the opening 13 and the test head 14 attached to the opening 13 is isolated in the transfer space. Is arranged. Further, around the second shuttle 16, a storage box 52 is disposed as a storage container that is isolated within the transfer space and has a room for storing the second shuttle, the supply shuttle plate 16 a and the recovery shuttle plate 16 b. Has been. The electronic component T is cooled in each of the storage box 50, the inspection box 51, and the storage box 52.

[冷却ユニットの構成]
電子部品Tの冷却を行う冷却ユニットの構成について、図2を参照して説明する。なお、部品検査装置には、供給用シャトルプレート15a,16aの収容ポケット17,18の各々に収容された電子部品Tを冷却する冷却ユニット、テストヘッド14の検査用ソケット14aに収容された電子部品Tを冷却する冷却ユニットが搭載されているが、本実施形態では、供給用シャトルプレート15aの収容ポケット17に収容される電子部品Tを冷却する冷却ユニットを用いて説明する。
[Configuration of cooling unit]
The configuration of the cooling unit that cools the electronic component T will be described with reference to FIG. The component inspection apparatus includes a cooling unit for cooling the electronic component T accommodated in each of the accommodation pockets 17 and 18 of the supply shuttle plates 15a and 16a, and an electronic component accommodated in the inspection socket 14a of the test head 14. Although a cooling unit for cooling T is mounted, in the present embodiment, description will be made using a cooling unit for cooling the electronic component T housed in the housing pocket 17 of the supply shuttle plate 15a.

図2に示されるように、1つの冷却ユニットは、供給用シャトルプレート15aに形成された複数の収容ポケット17のうち、第1支持部である収容ポケット17A、第2支持部である収容ポケット17B,17C,17D、これら4つの収容ポケットに収容される電子部品Tを冷却する。冷却ユニットは、各収容ポケット17A〜17Dの温度が目標温度である例えば−45℃となるように冷却する。   As shown in FIG. 2, one cooling unit includes a storage pocket 17A as a first support portion and a storage pocket 17B as a second support portion among the plurality of storage pockets 17 formed in the supply shuttle plate 15a. , 17C, 17D, the electronic component T accommodated in these four accommodation pockets is cooled. The cooling unit cools the storage pockets 17A to 17D so that the temperature is, for example, −45 ° C., which is a target temperature.

冷却ユニットにおいて、冷媒供給部を構成する貯蔵タンク55には、冷媒としての窒素が液相状態にある液体窒素が貯蔵されている。貯蔵タンク55には、共通路56を介して、冷媒供給部を構成する第1連結路57と、第2連結路58とが接続されている。これらの第1及び第2連結路57,58は、略等しい流路断面積が連続する配管であって、第1連結路57が熱交換器60の第1気化室61に接続されており、第2連結路58が熱交換器60の第2気化室62に接続されている。第1連結路57には、供給バルブ63(以下、単にバルブ63という。)が配設されており、このバルブ63は、第1連結路57を開閉して第1気化室61に対する液体窒素の供給量を制御する。また、第2連結路58には、供給バルブ64が配設されており、この供給バルブ64は、第2連結路58を開閉して第2気化室62に対する液体窒素の供給量を制御する。   In the cooling unit, the storage tank 55 that constitutes the refrigerant supply unit stores liquid nitrogen in which the nitrogen as the refrigerant is in a liquid phase. A first connection path 57 and a second connection path 58 constituting a refrigerant supply unit are connected to the storage tank 55 via a common path 56. These first and second connecting passages 57 and 58 are pipes having substantially the same cross-sectional area, and the first connecting passage 57 is connected to the first vaporization chamber 61 of the heat exchanger 60. The second connection path 58 is connected to the second vaporization chamber 62 of the heat exchanger 60. A supply valve 63 (hereinafter simply referred to as a valve 63) is disposed in the first connection path 57, and the valve 63 opens and closes the first connection path 57 to supply liquid nitrogen to the first vaporization chamber 61. Control the supply amount. A supply valve 64 is disposed in the second connection path 58, and the supply valve 64 opens and closes the second connection path 58 to control the supply amount of liquid nitrogen to the second vaporization chamber 62.

熱交換器60は、いわゆるプレート式熱交換器であって、第1気化室61を流れる流体と第2気化室62を流れる流体との間で熱交換が可能な熱交換器である。熱交換器60には、該熱交換器60における流体の流れが並行流となるように第1及び第2連結路57,58が接続されている。第1及び第2気化室61,62は、第1及び第2連結路57,58の流路断面積よりも大きな流路断面積に形成されている。第1及び第2気化室61,62に流入した液体窒素は、液体窒素の沸点よりも温度が高い気化容器内部で気化膨張されて、目標温度である制御装置の設定温度よりも低い温度の窒素ガスとなる。そして、第1気化室61にて窒素ガスとなった冷媒は冷却ユニットの第1供給路66Aに供給され、第2気化室62にて窒素ガスとなった冷媒は他の冷却ユニットの第1供給路に供給される。   The heat exchanger 60 is a so-called plate heat exchanger, and is a heat exchanger capable of exchanging heat between the fluid flowing in the first vaporization chamber 61 and the fluid flowing in the second vaporization chamber 62. The heat exchanger 60 is connected to first and second connecting passages 57 and 58 so that the fluid flows in the heat exchanger 60 are parallel flows. The first and second vaporization chambers 61 and 62 are formed to have a flow passage cross-sectional area larger than the flow passage cross-sectional area of the first and second connection passages 57 and 58. The liquid nitrogen that has flowed into the first and second vaporization chambers 61 and 62 is vaporized and expanded inside the vaporization container having a temperature higher than the boiling point of the liquid nitrogen, and is nitrogen having a temperature lower than the set temperature of the control device, which is the target temperature. It becomes gas. The refrigerant that has become nitrogen gas in the first vaporization chamber 61 is supplied to the first supply path 66A of the cooling unit, and the refrigerant that has become nitrogen gas in the second vaporization chamber 62 is the first supply of the other cooling units. Supplied to the road.

第1供給路66Aは、収容ポケット17Aの直下を通るように第1シャトル15に形成された第1冷却路67Aに接続されている。また、第1供給路66Aには、該第1供給路66Aの分岐部DPにおいて分岐された3つの第2供給路66B,66C,66Dが並列に接続されている。これら第2供給路66B〜66Dの各々は、収容ポケット17B〜17Dの直下を通るように第1シャトル15に形成された第2冷却路67B,67C,67Dに接続されている。すなわち、これら第1冷却路67Aと第2冷却路67B〜67Dは、互いに並列に接続されている。   The first supply path 66A is connected to a first cooling path 67A formed in the first shuttle 15 so as to pass directly under the accommodation pocket 17A. In addition, three second supply paths 66B, 66C, 66D branched in the branch portion DP of the first supply path 66A are connected in parallel to the first supply path 66A. Each of these second supply paths 66B to 66D is connected to second cooling paths 67B, 67C and 67D formed in the first shuttle 15 so as to pass directly under the storage pockets 17B to 17D. That is, the first cooling path 67A and the second cooling paths 67B to 67D are connected in parallel to each other.

また、第1シャトル15の内部には、各収容ポケット17A〜17Dの各々の直下に加熱ヒーター69A,69B,69C,69D(以下、単にヒーターという。)が備えられている。ヒーター69A〜69Dの各々は、各収容ポケット17A〜17Dを加熱する。また、各収容ポケット17A〜17Dには、該収容ポケット17A〜17Dの温度を検出する温度センサー70A,70B,70C,70Dが備えられている。そして、各冷却路67A〜67Dを流通する窒素ガスによる冷却とヒーター69A〜69Dによる加熱との協働によって、各収容ポケット17A〜17Dが目標温度に制御される。   In addition, heating heaters 69A, 69B, 69C, and 69D (hereinafter simply referred to as heaters) are provided in the first shuttle 15 immediately below the storage pockets 17A to 17D. Each of the heaters 69A to 69D heats the accommodation pockets 17A to 17D. Each of the storage pockets 17A to 17D is provided with temperature sensors 70A, 70B, 70C, and 70D that detect the temperatures of the storage pockets 17A to 17D. The accommodation pockets 17A to 17D are controlled to the target temperature by cooperation of cooling with nitrogen gas flowing through the cooling paths 67A to 67D and heating by the heaters 69A to 69D.

一方、第1冷却路67Aの排出口68Aには、第1排出路71Aが接続されている。第1排出路71Aは、収容ボックス50に接続されており、第1冷却路67Aから排出された窒素ガスを収容ボックス50に導入する。また、第2冷却路67B〜67Dの排出口68B,68C,68Dには、第1排出路71Aと等しい流路断面積を有する第2排出路71B,71C,71Dがそれぞれ接続されている。第2排出路71B〜71Dは、第1排出路71Aとの合流部JPにおいて該第1排出路71Aに接続されており、第2冷却路67B〜67Dから排出された窒素ガスを第1排出路71Aに排出する。すなわち、収容ボックス50には、各冷却路67A〜67Dから排出された窒素ガスが導入される。   On the other hand, a first discharge path 71A is connected to the discharge port 68A of the first cooling path 67A. The first discharge path 71A is connected to the storage box 50, and introduces nitrogen gas discharged from the first cooling path 67A into the storage box 50. In addition, second discharge paths 71B, 71C, and 71D having a channel cross-sectional area equal to the first discharge path 71A are connected to the discharge ports 68B, 68C, and 68D of the second cooling paths 67B to 67D, respectively. The second discharge paths 71B to 71D are connected to the first discharge path 71A at the junction JP with the first discharge path 71A, and the nitrogen gas discharged from the second cooling paths 67B to 67D is the first discharge path. Discharge to 71A. That is, nitrogen gas discharged from the cooling paths 67 </ b> A to 67 </ b> D is introduced into the storage box 50.

第1排出路71Aには、合流部JPよりも上流側に、該第1排出路71Aの流路断面積を変化させて第1冷却路67Aにおける窒素ガスの流量を絞る第1絞り弁73Aが配設されている。同様に、第2排出路71B〜71Dの各々にも、合流部JPよりも上流側に、該第2排出路71B〜71Dの流路断面積を変化させて第2供給路66B〜66Dにおける窒素ガスの流量を絞る第2絞り弁73B,73C,73Dがそれぞれ配設されている。   In the first discharge path 71A, a first throttle valve 73A that restricts the flow rate of nitrogen gas in the first cooling path 67A by changing the flow passage cross-sectional area of the first discharge path 71A upstream of the junction portion JP. It is arranged. Similarly, in each of the second discharge passages 71B to 71D, the flow passage cross-sectional area of the second discharge passages 71B to 71D is changed upstream of the junction portion JP, so that the nitrogen in the second supply passages 66B to 66D is changed. Second throttle valves 73B, 73C, 73D for restricting the flow rate of the gas are respectively provided.

また、第1排出路71Aには、第1絞り弁73Aと合流部JPとの間に、該第1排出路71Aを逆流する気体が第1冷却路67Aに流入することを抑止する第1逆止弁74Aが配設されている。同様に、第2排出路71B〜71Dの各々にも、合流部JPと第2絞り弁73B〜73Dとの間に、該第2排出路71B〜71Dを逆流する気体が第2冷却路67B〜67Dに流入することを抑止する第2逆止弁74B,74C,74Dがそれぞれ配設されている。   Further, the first reverse passage 71A prevents the gas flowing backward through the first discharge passage 71A from flowing into the first cooling passage 67A between the first throttle valve 73A and the junction portion JP. A stop valve 74A is provided. Similarly, in each of the second discharge passages 71B to 71D, the gas that flows backward through the second discharge passages 71B to 71D is interposed between the junction portion JP and the second throttle valves 73B to 73D. Second check valves 74B, 74C, and 74D for preventing the flow into 67D are provided.

また、第1排出路71Aには、合流部JPよりも下流側に、該第1排出路71Aを流通する窒素ガスを常温まで昇温させる昇温部としての熱交換器75が配設されている。熱交換器75は、いわゆるプレート式熱交換器であって、第1排出路71Aを流通する窒素ガスが低温流体室76に流入し、ドライエア供給源77の生成するドライエアが高温流体室78に流入する。これら窒素ガス及びドライエアは、熱交換器75内において並行流となるように流通している。ドライエア供給源77は、コンプレッサーや乾燥機等で構成されており、該ドライエア供給源77からのドライエアは、バルブ79によって熱交換器75への供給量が制御されるとともにエアヒーター80によって常温より高い温度まで昇温させられる。そして、窒素ガス及びドライエアは、熱交換器75における熱交換によって互いに常温にされたのち、収容ボックス50に導入される。また、第1排出路71Aには、熱交換器75よりも下流側に、該第1排出路71Aを逆流する気体が低温流体室76に流入することを抑止する第3逆止弁81が配設されている。   The first discharge path 71A is provided with a heat exchanger 75 as a temperature raising part for raising the temperature of the nitrogen gas flowing through the first discharge path 71A to room temperature downstream of the junction part JP. Yes. The heat exchanger 75 is a so-called plate heat exchanger, in which nitrogen gas flowing through the first discharge path 71A flows into the low temperature fluid chamber 76, and dry air generated by the dry air supply source 77 flows into the high temperature fluid chamber 78. To do. These nitrogen gas and dry air circulate in the heat exchanger 75 so as to be in parallel flow. The dry air supply source 77 is constituted by a compressor, a dryer, and the like. The dry air from the dry air supply source 77 is controlled in amount supplied to the heat exchanger 75 by a valve 79 and higher than normal temperature by an air heater 80. Raised to temperature. The nitrogen gas and the dry air are brought to room temperature by heat exchange in the heat exchanger 75 and then introduced into the storage box 50. In addition, a third check valve 81 that prevents the gas flowing backward through the first discharge passage 71A from flowing into the low temperature fluid chamber 76 is disposed in the first discharge passage 71A downstream of the heat exchanger 75. It is installed.

[ハンドラー及び部品検査装置の電気的構成]
次に、ハンドラー及び部品検査装置の電気的構成について、ハンドラー10の電気的構成を中心に図3を参照して説明する。上記ハンドラー10に備えられた制御部を構成する制御装置85は、中央処理装置(CPU)、不揮発性メモリー(ROM)、及び揮発性メモリー(RAM)を有するマイクロコンピューターを中心に構成されている。制御装置85は、上記ROM及びRAMに格納された各種データ及びプログラムに基づいて、上述の供給ロボット20、搬送ロボット30、回収ロボット40といったロボット機構の動作をはじめとするハンドラー10にかかわる各種制御を統括的に行っている。また、制御装置85には、テスター90が電気的に接続されており、テスター90との間で電子部品Tの検査の開始や終了を示す信号の入出力を行っている。なお、ここでは、制御装置85による制御のうち、供給用シャトルプレート15aの収容ポケット17A〜17Dを冷却する冷却ユニットにかかわる制御の態様について説明する。
[Electric configuration of handler and parts inspection equipment]
Next, the electrical configuration of the handler and the component inspection apparatus will be described with reference to FIG. 3 focusing on the electrical configuration of the handler 10. The control device 85 that constitutes a control unit provided in the handler 10 is mainly configured by a microcomputer having a central processing unit (CPU), a nonvolatile memory (ROM), and a volatile memory (RAM). Based on the various data and programs stored in the ROM and RAM, the control device 85 performs various controls related to the handler 10 including the operations of the robot mechanisms such as the supply robot 20, the transfer robot 30, and the collection robot 40 described above. It is conducted comprehensively. In addition, a tester 90 is electrically connected to the control device 85, and a signal indicating the start and end of the inspection of the electronic component T is input to and output from the tester 90. Here, the aspect of the control related to the cooling unit that cools the accommodation pockets 17A to 17D of the supply shuttle plate 15a in the control by the control device 85 will be described.

図3に示されるように、制御装置85には、バルブ駆動部86a、絞り弁駆動部86b、ヒーター駆動部86cを有する冷却ユニット駆動部86が電気的に接続されている。
バルブ駆動部86aは、制御装置85から入力された目標温度と温度センサー70Aから入力された温度との偏差に基づいて、4つの収容ポケット17A〜17Dの温度が目標温度まで冷却されるうえで十分な量の窒素ガスが第1供給路66Aに供給されるように、バルブ63の開閉時間を設定するとともに、該開閉時間を示す信号をバルブ63に出力する。またバルブ駆動部86aは、温度センサー70Aの検出値が目標温度よりも低い温度である低温側許容温度Tminよりも低い場合には、バルブ63を閉状態に維持することを示す信号をバルブ63に出力する。バルブ63は、入力された信号に応じた開閉を行うことで第1供給路66Aにおける冷媒の流量を調整する。
As shown in FIG. 3, the controller 85 is electrically connected to a cooling unit drive unit 86 having a valve drive unit 86a, a throttle valve drive unit 86b, and a heater drive unit 86c.
The valve drive unit 86a is sufficient to cool the temperatures of the four storage pockets 17A to 17D to the target temperature based on the deviation between the target temperature input from the control device 85 and the temperature input from the temperature sensor 70A. The opening / closing time of the valve 63 is set so that a sufficient amount of nitrogen gas is supplied to the first supply path 66A, and a signal indicating the opening / closing time is output to the valve 63. Further, when the detected value of the temperature sensor 70A is lower than the low temperature side allowable temperature Tmin, which is a temperature lower than the target temperature, the valve driving unit 86a gives a signal to the valve 63 indicating that the valve 63 is maintained in the closed state. Output. The valve 63 adjusts the flow rate of the refrigerant in the first supply path 66A by opening and closing according to the input signal.

絞り弁駆動部86bは、第1絞り弁73Aに対して、第1排出路71Aの流路断面積を小さくする開度信号を該第1絞り弁73Aに出力する。この開度信号は、制御装置85から入力された目標温度に基づいて予め定められた開度を示す信号である。また、絞り弁駆動部86bは、上記第1絞り弁73Aの開度信号に基づいて、各第2排出路71B〜71Dにおける流路断面積が第1排出路71Aよりも大きくなる開度信号を各第2絞り弁73B〜73Dに出力する。なお、本実施形態の絞り弁駆動部86bは、各第2絞り弁73B〜73Dに対して、最大開度を示す開度信号を出力することも可能になっている。   The throttle valve driving unit 86b outputs, to the first throttle valve 73A, an opening degree signal that reduces the flow path cross-sectional area of the first discharge path 71A with respect to the first throttle valve 73A. The opening signal is a signal indicating an opening determined in advance based on the target temperature input from the control device 85. In addition, the throttle valve driving unit 86b generates an opening signal that makes the flow passage cross-sectional area in each of the second discharge paths 71B to 71D larger than that of the first discharge path 71A based on the opening signal of the first throttle valve 73A. It outputs to each 2nd throttle valve 73B-73D. In addition, the throttle valve drive part 86b of this embodiment can also output the opening degree signal which shows the maximum opening degree with respect to each 2nd throttle valve 73B-73D.

ヒーター駆動部86cは、制御装置85から入力された目標温度と各温度センサー70A〜70Dから入力された温度とに基づいて、各収容ポケット17A〜17Dの温度が目標温度になるように、各ヒーター69A〜69Dに対して駆動電流を生成するとともに、該駆動電流を各ヒーター69A〜69Dに出力し、各ヒーター69A〜69Dを駆動する。   Based on the target temperature input from the control device 85 and the temperatures input from the temperature sensors 70A to 70D, the heater driving unit 86c is configured so that each heater pocket 17A to 17D has a target temperature. While generating a drive current with respect to 69A-69D, this drive current is output to each heater 69A-69D, and each heater 69A-69D is driven.

ここで、第1冷却路67Aにおける窒素ガスの流量は、第2冷却路67B〜67Dにおける窒素ガスの流量に比べて、第1絞り弁73Aによって絞られている。そのため、例えば温度センサー70A,70Bの検出値がともに目標温度であった場合、ヒーター69A,69Bに対して同じ大きさの駆動電力を出力したとしても、収容ポケット17Aの温度は目標温度に維持されるものの、収容ポケット17Bの温度は目標温度よりも低下してしまう。そのため、本実施形態のヒーター駆動部86cは、制御装置85から入力された目標温度と各温度センサー70B〜70Dから入力された温度との偏差に基づいて、同じ偏差におけるヒーター69Aの駆動電力よりも大きな駆動電力をヒーター69B〜69Dに対して出力することも可能となっている。   Here, the flow rate of the nitrogen gas in the first cooling passage 67A is throttled by the first throttle valve 73A as compared with the flow rates of the nitrogen gas in the second cooling passages 67B to 67D. Therefore, for example, when the detected values of the temperature sensors 70A and 70B are both the target temperature, the temperature of the accommodation pocket 17A is maintained at the target temperature even if the drive power of the same magnitude is output to the heaters 69A and 69B. However, the temperature of the storage pocket 17B is lower than the target temperature. Therefore, the heater drive unit 86c of the present embodiment is based on the deviation between the target temperature input from the control device 85 and the temperature input from each of the temperature sensors 70B to 70D, rather than the driving power of the heater 69A at the same deviation. Large driving power can be output to the heaters 69B to 69D.

また、ヒーター駆動部86cは、温度センサーの検出値が目標温度よりも高い温度である高温側許容温度Tmaxよりも高い場合には、収容ポケットの冷却を優先させるべく、該温度センサーに対応するヒーターを停止状態にする。   In addition, when the detected value of the temperature sensor is higher than the high temperature side allowable temperature Tmax, which is a temperature higher than the target temperature, the heater driving unit 86c is configured to provide a heater corresponding to the temperature sensor in order to prioritize cooling of the accommodation pocket. Is stopped.

なお、冷却ユニット駆動部86と同様、供給用シャトルプレート15aの他の収容ポケット17や、供給用シャトルプレート16aの収容ポケット18、テストヘッド14の検査用ソケット14aに対応する冷却ユニットに対しても、冷却ユニット毎に冷却ユニット駆動部が設けられている。すなわち、制御装置85は、各冷却ユニットを互いに独立させた態様で制御する。   As with the cooling unit driving unit 86, the cooling unit corresponding to the other storage pocket 17 of the supply shuttle plate 15a, the storage pocket 18 of the supply shuttle plate 16a, and the inspection socket 14a of the test head 14 is also used. A cooling unit driving unit is provided for each cooling unit. That is, the control device 85 controls each cooling unit in an independent manner.

[作用]
次に、本実施形態のハンドラー及び部品検査装置の作用について述べる。
本実施形態のハンドラー及び部品検査装置では、冷却ユニットにおいて、貯蔵タンク55から第1連結路57に供給される液体窒素は、やがて熱交換器60の第1気化室61に流入する。第1気化室61に流入した液体窒素は、液体窒素の沸点よりも温度が高い気化容器内部で気化膨張されて窒素ガスへと転移する。そして、その窒素ガスは、第1供給路66Aに流入する。
[Action]
Next, the operation of the handler and component inspection apparatus of this embodiment will be described.
In the handler and component inspection device of the present embodiment, in the cooling unit, liquid nitrogen supplied from the storage tank 55 to the first connection path 57 eventually flows into the first vaporization chamber 61 of the heat exchanger 60. The liquid nitrogen that has flowed into the first vaporization chamber 61 is vaporized and expanded inside the vaporization container whose temperature is higher than the boiling point of the liquid nitrogen, and is transferred to nitrogen gas. Then, the nitrogen gas flows into the first supply path 66A.

第1供給路66Aに流入した窒素ガスは、分岐部DPにて当該第1供給路66Aと第2供給路66B〜66Dとに分流される。この際、第1冷却路67Aにおいては、目標温度に基づく第1絞り弁73Aの開度制御により、窒素ガスの流量が絞られている。一方、第2冷却路67B〜67Dの各々においては、第2絞り弁73B〜73Dが常に第1絞り弁73Aの開度よりも大きな開度に制御されており、各第2冷却路67B〜67Dにおける窒素ガスの流量が第1冷却路67Aに比べて絞られていない。そのため、各第2冷却路67B〜67Dにおける窒素ガスの流量は、第1冷却路67Aにおける窒素ガスの流量よりも大きくなる。これにより、収容ポケット17B〜17Dは、目標温度に対し、収容ポケット17Aよりも過度に冷却されることになる。   The nitrogen gas that has flowed into the first supply path 66A is branched into the first supply path 66A and the second supply paths 66B to 66D at the branch portion DP. At this time, in the first cooling path 67A, the flow rate of the nitrogen gas is reduced by opening degree control of the first throttle valve 73A based on the target temperature. On the other hand, in each of the second cooling paths 67B to 67D, the second throttle valves 73B to 73D are always controlled to have an opening larger than the opening of the first throttle valve 73A, and the second cooling paths 67B to 67D. The flow rate of nitrogen gas at is not reduced compared to the first cooling passage 67A. Therefore, the flow rate of nitrogen gas in each of the second cooling passages 67B to 67D is larger than the flow rate of nitrogen gas in the first cooling passage 67A. Thereby, the accommodation pockets 17B to 17D are cooled more excessively than the accommodation pocket 17A with respect to the target temperature.

そして、制御装置85は、収容ポケット17Aについて、温度センサー70Aから入力される温度が目標温度となるように、バルブ63の開閉態様とヒーター69Aに出力される駆動電力とを制御する。また、制御装置85は、各収容ポケット17B〜17Dについて、各温度センサー70B〜70Dから入力される温度が目標温度になるように、各ヒーター69B〜69Dに出力される駆動電力を制御する。すなわち、制御装置85は、ヒーター69Aよりも大きな駆動電力をヒーター69B〜69Dに出力する。これにより、各収容ポケット17A〜17Dが目標温度に制御され、該収容ポケット17A〜17Dに収容された電子部品Tが目標温度に制御される。   Then, the control device 85 controls the opening / closing mode of the valve 63 and the driving power output to the heater 69A so that the temperature input from the temperature sensor 70A becomes the target temperature for the accommodation pocket 17A. Further, the control device 85 controls the drive power output to the heaters 69B to 69D so that the temperatures input from the temperature sensors 70B to 70D become the target temperatures for the storage pockets 17B to 17D. That is, the control device 85 outputs driving power larger than that of the heater 69A to the heaters 69B to 69D. Thereby, each accommodation pocket 17A-17D is controlled by target temperature, and the electronic component T accommodated in this accommodation pocket 17A-17D is controlled by target temperature.

つまり、図4に示されるように、擬似的に、収容ポケット17B〜17Dは、収容ポケット17Aに対する冷却出力91よりも高い冷却出力92の下で冷却されている状態となり、また収容ポケット17Aに対する加熱出力93よりも高い加熱出力94の下で加熱されることになる。そのため、例えば、温度センサー70A,70Bの検出値が同じ値であり、且つ高温側許容温度Tmaxよりも高い値である場合には、収容ポケット17Aに対する冷却出力91よりも収容ポケット17Bに対する冷却出力92が高いこととなるから、収容ポケット17Aよりも収容ポケット17Bの方が早く目標温度Ttに到達することとなる。すなわち、収容ポケット17B〜17Dの冷却に対する応答性を収容ポケット17Aよりも高めることができる。   That is, as shown in FIG. 4, the storage pockets 17B to 17D are in a state of being cooled under a cooling output 92 higher than the cooling output 91 for the storage pocket 17A, and heated to the storage pocket 17A. Heating is performed under a heating output 94 higher than the output 93. Therefore, for example, when the detection values of the temperature sensors 70A and 70B are the same value and higher than the high temperature side allowable temperature Tmax, the cooling output 92 for the storage pocket 17B is higher than the cooling output 91 for the storage pocket 17A. Therefore, the storage pocket 17B reaches the target temperature Tt earlier than the storage pocket 17A. That is, the responsiveness with respect to cooling of the storage pockets 17B to 17D can be made higher than that of the storage pocket 17A.

また、例えば、温度センサー70A,70Bの検出値が同じ値であり、且つ低温側許容温度Tminよりも低い値である場合には、収容ポケット17Aに対する加熱出力93よりも収容ポケット17Bに対する加熱出力94の方が高いこととなるから、収容ポケット17Bは、収容ポケット17Aよりも早い時期に目標温度Ttに到達することとなる。すなわち、収容ポケット17B〜17Dの加熱に対する応答性を収容ポケット17Aよりも高めることが可能となっている。   For example, when the detection values of the temperature sensors 70A and 70B are the same value and lower than the low temperature side allowable temperature Tmin, the heating output 94 for the accommodation pocket 17B is higher than the heating output 93 for the accommodation pocket 17A. Therefore, the storage pocket 17B reaches the target temperature Tt earlier than the storage pocket 17A. That is, it is possible to increase the responsiveness of the storage pockets 17B to 17D to heating compared to the storage pocket 17A.

各冷却路67A〜67Dから排出された窒素ガスは、第1排出路71Aを通じて熱交換器75の低温流体室76に流入する。この熱交換器75の高温流体室78には、エアヒーター80によって常温よりも高い温度まで昇温されたドライエアが流入している。そして、窒素ガスは、熱交換器75におけるドライエアとの熱交換によって常温程度まで昇温されたのち、収容ボックス50に導入される。また、ドライエアは、窒素ガスとの熱交換によって常温程度まで降温されたのち、収容ボックス50に導入される。   Nitrogen gas discharged from each of the cooling paths 67A to 67D flows into the low temperature fluid chamber 76 of the heat exchanger 75 through the first discharge path 71A. The dry air heated to a temperature higher than the normal temperature by the air heater 80 flows into the high temperature fluid chamber 78 of the heat exchanger 75. The nitrogen gas is heated to about room temperature by heat exchange with dry air in the heat exchanger 75 and then introduced into the storage box 50. Further, the dry air is cooled to about room temperature by heat exchange with nitrogen gas, and then introduced into the storage box 50.

上記窒素ガスは、液体窒素を気化させたものであり水分含有量が0に近く、また上記ドライエアも、ハンドラーの周辺のエアに比べれば水分含有量が少ない。そのため、これら窒素ガス及びドライエアを収容ボックス50に導入することによって、収容ボックス50内が水分含有量の少ない気体で満たされることになる。すなわち、収容ボックス50において結露が発生することを抑えることができる。その結果、供給用シャトルプレート15a及び該供給用シャトルプレート15aに収容された電子部品Tに結露が発生して電子部品Tが故障することを抑えることができる。   The nitrogen gas is vaporized liquid nitrogen, has a moisture content close to 0, and the dry air has a lower moisture content than the air around the handler. Therefore, by introducing these nitrogen gas and dry air into the storage box 50, the storage box 50 is filled with a gas having a low water content. That is, it is possible to suppress the occurrence of condensation in the storage box 50. As a result, it is possible to suppress the occurrence of dew condensation on the supply shuttle plate 15a and the electronic component T accommodated in the supply shuttle plate 15a and the failure of the electronic component T.

また、この収容ボックス50には窒素ガスとドライエアが導入されているとは、該収容ボックス50を満たしている気体の水分含有量は0ではない。そのため、各冷却路から排出された窒素ガスが昇温されることなく収容ボックス50に導入されるとなれば、収容ボックス50内の温度がその時々における露点以下になる虞がある。本実施形態では、熱交換器75によって常温程度に昇温された窒素ガスが収容ボックス50に導入されることから、収容ボックス50内の温度がその時々における露点以下になりにくくなる。その結果、供給用シャトルプレート15aよりも温度が高い状態にある回収用シャトルプレート15bに関しても、回収用シャトルプレート15b及び該回収用シャトルプレート15bに収容された電子部品Tに結露が発生して電子部品Tが故障することを抑えることができる。   Further, the fact that nitrogen gas and dry air are introduced into the storage box 50 means that the moisture content of the gas filling the storage box 50 is not zero. Therefore, if the nitrogen gas discharged from each cooling path is introduced into the storage box 50 without increasing the temperature, the temperature in the storage box 50 may be lower than the dew point at that time. In the present embodiment, since the nitrogen gas heated to about room temperature by the heat exchanger 75 is introduced into the storage box 50, the temperature in the storage box 50 is unlikely to be below the dew point at that time. As a result, with respect to the recovery shuttle plate 15b that is at a higher temperature than the supply shuttle plate 15a, condensation occurs on the recovery shuttle plate 15b and the electronic component T accommodated in the recovery shuttle plate 15b. It is possible to suppress the failure of the component T.

そして、各収容ポケット17A〜17Dを冷却する窒素ガスと該窒素ガスを常温程度まで昇温させるドライエアとを収容ボックス50における結露対策用のガスとして使用している。そのため、結露対策用のガスを別に用意する場合に比べて、冷却ユニットの構成を簡素化することが可能であるとともに、使用するガスの量を削減することができる。   Nitrogen gas for cooling the storage pockets 17A to 17D and dry air for raising the temperature of the nitrogen gas to about room temperature are used as a gas for preventing condensation in the storage box 50. For this reason, it is possible to simplify the configuration of the cooling unit and to reduce the amount of gas to be used, as compared with a case where a gas for preventing condensation is separately prepared.

一方、第1排出路71Aには、合流部JPよりも上流側に第1逆止弁74Aが配設されており、各第2排出路71B〜71Dにも、合流部JPよりも上流側に第2逆止弁74B〜74Dが配設されている。そのため、例えば第2冷却路67Bから排出された窒素ガスが第1排出路71Aを逆流して第1冷却路67Aに流入すること、例えば第2冷却路67Bから排出された窒素ガスが第2排出路71Cを逆流して第2冷却路67Cに流入すること、これらを抑えることができる。その結果、各第2冷却路67B〜67Dを通過して温度上昇した窒素ガスが第1冷却路67Aに流入することが抑止されることから、第1冷却路67Aに供給された窒素ガスによる収容ポケット17Aの冷却を効果的に行なうことができる。また、各第2冷却路67B〜67Dにおいても他の冷却路を通過した窒素ガスの流入が抑止されることから、各収容ポケット17B〜17Dは、目標温度よりも過度に冷却される状態が維持されるとともに、各収容ポケット17B〜17Dの冷却を効果的に行なうことができる。   On the other hand, in the first discharge path 71A, a first check valve 74A is arranged on the upstream side of the junction part JP, and each of the second discharge paths 71B to 71D is also upstream of the junction part JP. Second check valves 74B to 74D are provided. Therefore, for example, the nitrogen gas discharged from the second cooling path 67B flows backward into the first cooling path 71A and flows into the first cooling path 67A. For example, the nitrogen gas discharged from the second cooling path 67B is second discharged. It is possible to suppress the reverse flow of the path 71C and the flow into the second cooling path 67C. As a result, the nitrogen gas that has passed through each of the second cooling paths 67B to 67D is prevented from flowing into the first cooling path 67A, so that it is accommodated by the nitrogen gas supplied to the first cooling path 67A. The pocket 17A can be cooled effectively. Further, since the inflow of nitrogen gas that has passed through the other cooling paths is suppressed in each of the second cooling paths 67B to 67D, each of the storage pockets 17B to 17D is maintained in a state of being cooled excessively than the target temperature. In addition, each of the storage pockets 17B to 17D can be effectively cooled.

また、第1排出路71Aには、熱交換器75よりも下流側に第3逆止弁81が配設されている。そのため、バルブ63が閉状態に制御されている期間に、第1排出路71Aを通じて、熱交換器75、第1冷却路67A、第2冷却路67B〜67D、熱交換器60に対し、収容ボックス50から窒素ガスよりも水分含有量の多い気体が流れ込むことを抑止することができる。しかも、第1冷却路67A、第2冷却路67B〜67D、熱交換器60に対する上記気体の流入は、第1逆止弁74A、第2逆止弁74B〜74Dによっても抑止することができる。その結果、バルブ63が再び開状態に制御されたときに、熱交換器75、各冷却路67A〜67D、熱交換器60等、冷媒の流通経路において結露が発生することを抑えることができる。   Further, a third check valve 81 is disposed in the first discharge path 71A on the downstream side of the heat exchanger 75. Therefore, during the period when the valve 63 is controlled to be in the closed state, the storage box is provided to the heat exchanger 75, the first cooling path 67A, the second cooling paths 67B to 67D, and the heat exchanger 60 through the first discharge path 71A. It is possible to prevent a gas having a moisture content higher than that of nitrogen gas from flowing in from 50. Moreover, the inflow of the gas into the first cooling path 67A, the second cooling paths 67B to 67D, and the heat exchanger 60 can be suppressed by the first check valve 74A and the second check valves 74B to 74D. As a result, when the valve 63 is controlled to be in the open state again, it is possible to suppress the occurrence of dew condensation in the refrigerant flow path such as the heat exchanger 75, the cooling paths 67A to 67D, and the heat exchanger 60.

以上説明したように、本実施形態のハンドラー及び部品検査装置によれば、以下に列挙する効果が得られるようになる。
(1)4つの収容ポケット17A〜17Dを目標温度にするうえで、第1冷却路67Aには第1供給路66Aから窒素ガスが供給され、各第2冷却路67B〜67Dには第1供給路66Aから分岐した第2供給路66B〜66Dから窒素ガスが供給される。また、第1冷却路67Aにおける窒素ガスの流量が第1絞り弁73Aで絞られることによって各第2冷却路67B〜67Dにおける窒素ガスの流量が第1冷却路67Aよりも大きくなっている。そして、収容ポケット17Aについては、温度センサー70Aの検出値が目標温度となるようにバルブ63の開閉及びヒーター69Aの出力が制御され、各収容ポケット17B〜17Dについては、各温度センサー70B〜70Dの検出値が目標温度となるように各ヒーター69B〜69Dの出力のみが制御される。それゆえに、収容ポケット17A〜17Dを冷却する冷却回路の簡素化が図れるとともに、収容ポケット17A〜17Dを目標温度に制御するうえで制御装置85に対する負荷を軽減することもできる。
As described above, according to the handler and the component inspection apparatus of the present embodiment, the effects listed below can be obtained.
(1) When the four storage pockets 17A to 17D are set to the target temperature, nitrogen gas is supplied from the first supply path 66A to the first cooling path 67A, and the first supply is supplied to the second cooling paths 67B to 67D. Nitrogen gas is supplied from the second supply paths 66B to 66D branched from the path 66A. Further, the flow rate of nitrogen gas in the first cooling passage 67A is throttled by the first throttle valve 73A, so that the flow rate of nitrogen gas in each of the second cooling passages 67B to 67D is larger than that in the first cooling passage 67A. For the storage pocket 17A, the opening and closing of the valve 63 and the output of the heater 69A are controlled so that the detected value of the temperature sensor 70A becomes the target temperature. For each of the storage pockets 17B to 17D, the temperature sensors 70B to 70D are controlled. Only the outputs of the heaters 69B to 69D are controlled so that the detected value becomes the target temperature. Therefore, the cooling circuit for cooling the storage pockets 17A to 17D can be simplified, and the load on the control device 85 can be reduced in controlling the storage pockets 17A to 17D to the target temperature.

(2)また、第1冷却路67Aにおける窒素ガスの流量が第1絞り弁73Aで絞られることから、例えば第1冷却路67Aの流路断面積が第2冷却路67B〜67Dの流路断面積より大きい場合であっても、第1冷却路67Aにおける窒素ガスの流量を第2冷却路67B〜67Dにおける窒素ガスの流量よりも小さくすることができる。それゆえに、第1絞り弁73Aを有しない構成に比べて、第1冷却路67A及び第2冷却路67B〜67Dの形状や大きさに関わる自由度を高めることができる。   (2) Further, since the flow rate of nitrogen gas in the first cooling passage 67A is throttled by the first throttle valve 73A, for example, the flow passage cross-sectional area of the first cooling passage 67A is the flow passage break of the second cooling passages 67B to 67D. Even when the area is larger than the area, the flow rate of the nitrogen gas in the first cooling passage 67A can be made smaller than the flow rate of the nitrogen gas in the second cooling passages 67B to 67D. Therefore, the degree of freedom related to the shape and size of the first cooling passage 67A and the second cooling passages 67B to 67D can be increased as compared with the configuration without the first throttle valve 73A.

(3)また、収容ポケット17B〜17Dに対する冷却出力が収容ポケット17Aよりも高いことから、該収容ポケット17B〜17Dの冷却に対する応答性を収容ポケット17Aよりも高めることができる。   (3) Moreover, since the cooling output with respect to the accommodation pockets 17B to 17D is higher than that of the accommodation pocket 17A, the responsiveness to the cooling of the accommodation pockets 17B to 17D can be enhanced more than the accommodation pocket 17A.

(4)また、収容ポケット17B〜17Dに対する加熱出力が収容ポケット17Aよりも高いことから、該収容ポケット17B〜17Dの加熱に対する応答性を収容ポケット17Aよりも高めることができる。   (4) Moreover, since the heating output with respect to accommodation pockets 17B-17D is higher than accommodation pocket 17A, the responsiveness with respect to the heating of accommodation pockets 17B-17D can be improved rather than accommodation pocket 17A.

(5)各収容ポケット17A〜17Dの冷却に用いた窒素ガスが収容ボックス50に導入されることから、収容ボックス50を満たす気体の水分含有量を少なくすることができる。その結果、収容ボックス50内において結露が発生することを抑えることができる。   (5) Since the nitrogen gas used for cooling the storage pockets 17A to 17D is introduced into the storage box 50, the moisture content of the gas that fills the storage box 50 can be reduced. As a result, it is possible to suppress the occurrence of condensation in the storage box 50.

(6)第1排出路71Aには、第2排出路71B〜71Dとの合流部JPよりも上流側に第1逆止弁74Aが配設されていることから、第1冷却路67Aに供給された窒素ガスによる収容ポケット17Aの冷却を効果的に行なうことができる。   (6) Since the first check valve 74A is disposed in the first discharge path 71A on the upstream side of the junction JP with the second discharge paths 71B to 71D, it is supplied to the first cooling path 67A. The accommodation pocket 17A can be effectively cooled by the nitrogen gas.

(7)第2排出路71B〜71Dの各々には、第1排出路71Aとの合流部JPよりも上流側に第2逆止弁74B〜74Dが配設されていることから、各第2冷却路67B〜67Dに供給された窒素ガスによる収容ポケット17B〜17Dの冷却を効果的に行なうことができる。   (7) Since each of the second discharge passages 71B to 71D is provided with the second check valves 74B to 74D on the upstream side of the joining portion JP with the first discharge passage 71A, The accommodation pockets 17B to 17D can be effectively cooled by the nitrogen gas supplied to the cooling paths 67B to 67D.

(8)第1逆止弁74A、第2逆止弁74B〜74Dは、各供給路からの窒素ガス以外の気体が収容ボックス50から各冷却路に流れ込むことを抑止することから、各冷却路において結露が発生することを抑えることができる。   (8) Since the first check valve 74A and the second check valves 74B to 74D inhibit the gas other than the nitrogen gas from each supply path from flowing into the respective cooling paths from the storage box 50, each cooling path It is possible to suppress the occurrence of condensation in.

(9)第1排出路71Aに第2排出路71B〜71Dが接続されていることから、冷却回路の簡素化を図ることができる。
(10)第1排出路71Aには、第1冷却路67A及び第2冷却路67B〜67Dから排出された窒素ガスを常温程度まで昇温させる熱交換器75が配設されている。その結果、収容ボックス50内の温度が露点以下になることが抑えられることから、収容ボックス50内において結露が発生することを抑えることができる。
(9) Since the second discharge paths 71B to 71D are connected to the first discharge path 71A, the cooling circuit can be simplified.
(10) The first exhaust path 71A is provided with a heat exchanger 75 that raises the temperature of the nitrogen gas discharged from the first cooling path 67A and the second cooling paths 67B to 67D to about room temperature. As a result, since the temperature in the storage box 50 is suppressed to be equal to or lower than the dew point, the occurrence of dew condensation in the storage box 50 can be suppressed.

(11)各収容ポケット17A〜17Dを冷却する窒素ガスと該窒素ガスを常温程度まで昇温させるドライエアとを収容ボックス50における結露対策用のガスとして使用している。そのため、収容ボックス50において結露が発生することを抑えるうえで使用されるガスの量を削減することができる。   (11) Nitrogen gas for cooling the storage pockets 17A to 17D and dry air for raising the temperature of the nitrogen gas to about room temperature are used as a gas for preventing condensation in the storage box 50. Therefore, it is possible to reduce the amount of gas used for suppressing the occurrence of condensation in the storage box 50.

(12)熱交換器75の下流側に第3逆止弁81が配設されていることから、熱交換器60、第1冷却路67A、第2冷却路67B〜67D、熱交換器75において結露が発生することを抑えることができる。   (12) Since the third check valve 81 is disposed on the downstream side of the heat exchanger 75, in the heat exchanger 60, the first cooling path 67A, the second cooling paths 67B to 67D, and the heat exchanger 75, It is possible to suppress the occurrence of condensation.

(13)熱交換器75は、第1排出路71Aにおいて、第2排出路71B〜71Dが接続される合流部JPよりも下流側に配設されている。そのため、こうした熱交換器75を各排出路71A〜71Dに配設する場合に比べて、熱交換器75の設置台数を少なくすることができる。   (13) The heat exchanger 75 is disposed on the downstream side of the joining portion JP to which the second discharge passages 71B to 71D are connected in the first discharge passage 71A. Therefore, the number of installed heat exchangers 75 can be reduced as compared with the case where such heat exchangers 75 are disposed in the discharge paths 71A to 71D.

(14)窒素ガスとドライエアは、熱交換器75において並行流となっている。そのため、これら窒素ガスとドライエアが、熱交換器75において対向流となるように流通する場合に比べて、熱交換器75を通過した直後における窒素ガスとドライエアとの温度差を小さくすることもできる。その結果、これら窒素ガスとドライエアとが導入される収容ボックス50における温度分布を均一化することができる。   (14) Nitrogen gas and dry air are in parallel flow in the heat exchanger 75. Therefore, the temperature difference between the nitrogen gas and the dry air immediately after passing through the heat exchanger 75 can be reduced as compared with the case where the nitrogen gas and the dry air circulate so as to be opposed to each other in the heat exchanger 75. . As a result, the temperature distribution in the storage box 50 into which these nitrogen gas and dry air are introduced can be made uniform.

なお、上記の実施形態は、以下のように適宜変更して実施することもできる。
・制御装置85は、各第2冷却路67B〜67Dにおける冷媒の流量が第1冷却路67Aよりも多くなるように第1絞り弁73Aの開度、及び各第2絞り弁73B〜73Dの開度を制御すればよい。
In addition, said embodiment can also be suitably changed and implemented as follows.
The control device 85 opens the first throttle valve 73A and opens the second throttle valves 73B to 73D so that the refrigerant flow rate in the second cooling paths 67B to 67D is larger than that of the first cooling path 67A. The degree should be controlled.

例えば、第2冷却路67B〜67D間において冷媒の流量にばらつきがあるとき、制御装置85は、例えば温度センサー70B〜70Dの検出値とヒーター69B〜69Dの駆動電力の大きさに基づいてそのばらつきを検知して各第2絞り弁73B〜73Dの開度をそれぞれ制御することができる。その結果、各第2冷却路67B〜67Dにおける冷媒の流量を均一化することができる。   For example, when there is a variation in the refrigerant flow rate between the second cooling paths 67B to 67D, the controller 85 causes the variation based on, for example, the detected values of the temperature sensors 70B to 70D and the magnitude of the driving power of the heaters 69B to 69D. Can be detected to control the opening degree of each of the second throttle valves 73B to 73D. As a result, the flow rate of the refrigerant in each of the second cooling paths 67B to 67D can be made uniform.

また、第1冷却路67Aにおける冷媒の流量よりも各第2冷却路67B〜67Dにおける冷媒の流量が多い状態を維持しつつ、例えば第2冷却路67Bにおける冷媒の流量を他の第2冷却路67C,67Dよりも多くすることができる。その結果、収容ポケット17Bに対する目標温度を収容ポケット17A、及び収容ポケット17C,17Dよりも低い温度に設定することができる。すなわち、収容ポケット17Aの目標温度よりも低い温度範囲において、各収容ポケット17B〜17Dの目標温度に関する自由度を高めることができる。   Further, for example, the flow rate of the refrigerant in the second cooling path 67B is set to another second cooling path while maintaining the state where the flow rate of the refrigerant in each of the second cooling paths 67B to 67D is higher than the flow rate of the refrigerant in the first cooling path 67A. More than 67C and 67D. As a result, the target temperature for the storage pocket 17B can be set to a temperature lower than that of the storage pocket 17A and the storage pockets 17C and 17D. That is, in the temperature range lower than the target temperature of the storage pocket 17A, the degree of freedom regarding the target temperature of the storage pockets 17B to 17D can be increased.

・各第2冷却路67B〜67Dにおける冷媒の流量が第1冷却路67Aよりも多くなるように第1絞り弁73Aの開度、及び各第2絞り弁73B〜73Dの開度を予め調整しておいてもよい。こうした構成によれば、制御装置85の絞り弁駆動部86bを割愛することが可能であることから、制御装置85に対する負荷をさらに軽減することができる。   -The opening degree of the first throttle valve 73A and the opening degree of each of the second throttle valves 73B to 73D are adjusted in advance so that the flow rate of the refrigerant in each of the second cooling paths 67B to 67D is larger than that of the first cooling path 67A. You may keep it. According to such a configuration, it is possible to omit the throttle valve driving unit 86b of the control device 85, so that the load on the control device 85 can be further reduced.

・各第2絞り弁73B〜73Dが割愛された構成であってもよい。こうした構成であれば、冷却回路の簡素化、及び制御装置85に対する負荷の軽減をさらに図ることができる。   -The structure by which each 2nd throttle valve 73B-73D was omitted may be sufficient. With such a configuration, the cooling circuit can be simplified and the load on the control device 85 can be further reduced.

・各冷却路67A〜67Dから排出された窒素ガスを昇温させる熱交換器75が割愛された構成であってもよい。この際、収容ボックス50内の温度が低くなるものの、水分含有量が0に近い窒素ガスが収容ボックス50に導入されることから、収容ボックス50内において結露が発生することを抑えることができる。   -The structure by which the heat exchanger 75 which heats up the nitrogen gas discharged | emitted from each cooling path 67A-67D is omitted may be sufficient. At this time, although the temperature in the storage box 50 is lowered, since nitrogen gas having a moisture content close to 0 is introduced into the storage box 50, it is possible to suppress the occurrence of condensation in the storage box 50.

・また、熱交換器75は、第1排出路71Aと第2排出路71B〜71Dとの合流部JPの上流側において、排出路71A〜71Dの各々に配設されていてもよい。
・各冷却路67A〜67Dから排出された冷媒は、熱交換器75に限らず、例えばエアヒーター等によって直接昇温されてもよい。
-Moreover, the heat exchanger 75 may be arrange | positioned by each of discharge path 71A-71D in the upstream of the junction part JP of 71 A of 1st discharge paths and the 2nd discharge paths 71B-71D.
-The refrigerant | coolant discharged | emitted from each cooling path 67A-67D may be directly heated not only with the heat exchanger 75 but with an air heater etc., for example.

・各排出路71A〜71Dは、収容ボックス50に対して個別に接続されていてもよい。この場合、各排出路71A〜71Dに熱交換器75、第3逆止弁81がそれぞれ配設されるとよい。   Each discharge path 71 </ b> A to 71 </ b> D may be individually connected to the storage box 50. In this case, the heat exchanger 75 and the third check valve 81 may be disposed in each of the discharge paths 71A to 71D.

・第1排出路71Aにおいて、第3逆止弁81が割愛された構成であってもよい。こうした構成であっても、第1排出路71Aには第1逆止弁74A、各第2排出路71B〜71Dには第2逆止弁74B〜74Dが配設されていることから、各排出路71A〜71Dを逆流したエアが各冷却路67A〜67D、熱交換器60に流入することを抑えることができる。   In the first discharge path 71A, the third check valve 81 may be omitted. Even in such a configuration, the first check valve 74A is disposed in the first discharge path 71A, and the second check valves 74B to 74D are disposed in the second discharge paths 71B to 71D. It can suppress that the air which flowed back through the paths 71A-71D flows in into each cooling path 67A-67D and the heat exchanger 60. FIG.

・第1排出路71Aにおける第1逆止弁74Aが割愛された構成であってもよいし、各第2排出路71B〜71Dにおける第2逆止弁74B〜74Dのうちの少なくとも一つが割愛された構成であってもよい。すなわち、各冷却路67A〜67Dの少なくとも一つと収容ボックス50とが常に連通している構成であってもよい。   The first check valve 74A in the first discharge path 71A may be omitted, or at least one of the second check valves 74B to 74D in the second discharge paths 71B to 71D may be omitted. It may be a configuration. That is, a configuration in which at least one of the cooling paths 67A to 67D and the storage box 50 are always in communication may be employed.

・各冷却路67A〜67Dから排出された窒素ガスは、収容ボックス50に限らず、カバー部材12の内部に排出されてもよいし、大気中に排出されてもよい。
・第1冷却路67A,第2冷却路67B〜67Dが第1シャトル15に形成されているが、例えば、第1冷却路67A及び第2冷却路67Bが第1シャトル15に形成され、第2冷却路67C,67Dが第2シャトル16に形成されていてもよい。その際、第2冷却路67C,67Dから排出された窒素ガスは、収容ボックス52に導入されることが好ましい。
-The nitrogen gas discharged | emitted from each cooling path 67A-67D may be discharged | emitted not only to the storage box 50 but the inside of the cover member 12, and may be discharged | emitted in air | atmosphere.
The first cooling path 67A and the second cooling paths 67B to 67D are formed in the first shuttle 15, but for example, the first cooling path 67A and the second cooling path 67B are formed in the first shuttle 15, and the second The cooling paths 67C and 67D may be formed in the second shuttle 16. At that time, it is preferable that the nitrogen gas discharged from the second cooling passages 67 </ b> C and 67 </ b> D is introduced into the storage box 52.

また、第1冷却路67A及び第2冷却路67Bが第1シャトル15に形成され、第2冷却路67C,67Dがテストヘッド14に形成されていてもよい。その際、第2冷却路67C,67Dから排出された窒素ガスは、検査ボックス51に導入されることが好ましい。   Further, the first cooling path 67A and the second cooling path 67B may be formed in the first shuttle 15, and the second cooling paths 67C and 67D may be formed in the test head 14. At that time, the nitrogen gas discharged from the second cooling paths 67C and 67D is preferably introduced into the inspection box 51.

・制御装置85は、各収容ポケット17A〜17Dを常温から目標温度まで冷却する際には、温度センサー70Aの検出値が目標温度に到達するまで各絞り弁73A〜73Dの開度を最大開度に制御し、温度センサー70Aの検出値が目標温度に到達してから第1絞り弁73Aの開度を小さくするようにしてもよい。こうした構成によれば、各収容ポケット17A〜17Dが常温から目標温度に到達するまでの時間を短縮することができる。   When the control device 85 cools each of the storage pockets 17A to 17D from the normal temperature to the target temperature, the opening degree of each of the throttle valves 73A to 73D is set to the maximum opening degree until the detection value of the temperature sensor 70A reaches the target temperature. The opening of the first throttle valve 73A may be reduced after the detected value of the temperature sensor 70A reaches the target temperature. According to such a configuration, it is possible to shorten the time until each of the accommodation pockets 17A to 17D reaches the target temperature from the normal temperature.

・制御装置85は、第1冷却路67Aにおける冷媒の流量を制御する態様として、目標温度に基づく所定の開閉時間でバルブ63を制御し、且つ温度センサー70Aの検出値に基づいて第1絞り弁73Aの開度を制御するようにしてもよい。   As a mode for controlling the flow rate of the refrigerant in the first cooling passage 67A, the control device 85 controls the valve 63 with a predetermined opening / closing time based on the target temperature, and the first throttle valve based on the detection value of the temperature sensor 70A You may make it control the opening degree of 73A.

・第1絞り弁73Aは、第1供給路66Aにおける分岐部DPの下流側に配設されていてもよい。
・また、第1供給路66Aの流路断面積を第2供給路66B〜66Dの流路断面積よりも、局所的あるいは全体的に小さくすることによって、第1冷却路67Aにおける冷媒の流量を第2冷却路67B〜67Dより小さくするようにしてもよい。また、第1排出路71Aにおける合流部JPの上流側の部位と第2排出路71B〜71Dについても同様のことがいえる。
The first throttle valve 73A may be disposed on the downstream side of the branch portion DP in the first supply path 66A.
Further, the flow rate of the refrigerant in the first cooling passage 67A is reduced by locally or entirely making the flow passage cross-sectional area of the first supply passage 66A smaller than the flow passage cross-sectional areas of the second supply passages 66B to 66D. You may make it make it smaller than 2nd cooling path 67B-67D. The same can be said for the upstream portion of the joining portion JP in the first discharge path 71A and the second discharge paths 71B to 71D.

・第1供給路から分岐される第2供給路は、3つに限らず、1つでもよいし、4つ以上であってもよい。なお、その際には、収容ポケットの全てを目標温度よりも低い温度まで冷却するのに十分な冷媒が冷媒供給部から供給されていることが好ましい。   -The 2nd supply path branched from the 1st supply path is not restricted to three, and may be one and may be four or more. In this case, it is preferable that sufficient refrigerant is supplied from the refrigerant supply unit to cool all the accommodation pockets to a temperature lower than the target temperature.

・貯蔵タンク55は、ハンドラー10の外部に設けられる構成であってもよい。この場合には、例えば、ハンドラー10の共通路56に設けられ、貯蔵タンク55に通じる配管が接続される接続部が冷媒供給部の一部を構成する。   The storage tank 55 may be provided outside the handler 10. In this case, for example, a connection part provided in the common path 56 of the handler 10 and connected to a pipe that leads to the storage tank 55 constitutes a part of the refrigerant supply part.

・各収容ポケットを冷却する冷媒は、窒素に限らず、酸素やヘリウムであってもよいし、例えば窒素ガス等を用いて目標温度よりも低い温度まで冷却されたドライエアであってもよい。   -The refrigerant | coolant which cools each accommodation pocket may be not only nitrogen but oxygen and helium, for example, the dry air cooled to the temperature lower than target temperature using nitrogen gas etc. may be sufficient as it.

・上記実施形態では、ヒーター69B〜69Dは、ヒーター69Aの駆動電力よりも大きな駆動電力で駆動されている。これに限らず、ヒーター69B〜69Dは、例えば、温度センサー70B〜70Dの検出値が低温側許容温度Tminよりも低い範囲において、ヒーター69Aの駆動電力と同じ大きさの駆動電力で駆動されてもよいし、ヒーター69Aの駆動電力よりも小さい駆動電力で駆動されてもよい。   In the above embodiment, the heaters 69B to 69D are driven with a driving power larger than the driving power of the heater 69A. For example, the heaters 69B to 69D may be driven with the same driving power as that of the heater 69A in a range where the detection values of the temperature sensors 70B to 70D are lower than the low temperature side allowable temperature Tmin. Alternatively, it may be driven with a driving power smaller than that of the heater 69A.

・第1冷却路67Aにおける冷媒の流量が第2冷却路67B〜67Dにおける冷媒の流量よりも少ない構成であってもよい。こうした構成によれば、収容ポケット17B〜17Dに比べて、収容ポケット17Aの冷却に対する応答性、及び加熱に対する応答性を高めることができる。   The configuration may be such that the flow rate of the refrigerant in the first cooling path 67A is smaller than the flow rate of the refrigerant in the second cooling paths 67B to 67D. According to such a configuration, the responsiveness to cooling of the accommodation pocket 17A and the responsiveness to heating can be enhanced as compared with the accommodation pockets 17B to 17D.

・冷却ユニットは、各冷却路67A〜67Dにおける冷媒の流量が略等しくなる構成であってもよい。ここで、第1供給路66Aには、目標温度と温度センサー70Aの検出値とに基づいて、4つの収容ポケット17A〜17Dの温度が目標温度まで冷却されるうえで十分な量の窒素ガスを供給することが可能である。そのため、上記構成の冷却ユニットにおいても、冷媒による冷却とヒーターによる加熱との協働によって、収容ポケットが目標温度に制御される。つまり、制御装置85は、温度センサー70Aの検出値に応じて供給バルブ63とヒーター69Aとを制御し、且つ温度センサー70B〜70Dの検出値に応じてヒーター69B〜69Dの出力のみを制御することによって、各収容ポケット17A〜17Dを目標温度に制御する。こうした構成によれば、各絞り弁73A〜73Dを割愛すること、及び絞り弁駆動部86bを割愛することが可能である。それゆえに、冷却回路のさらなる簡素化、及び制御装置85に対する負荷の軽減を図ることができる。   The cooling unit may have a configuration in which the refrigerant flow rates in the cooling paths 67A to 67D are substantially equal. Here, a sufficient amount of nitrogen gas is supplied to the first supply path 66A to cool the temperatures of the four storage pockets 17A to 17D to the target temperature based on the target temperature and the detection value of the temperature sensor 70A. It is possible to supply. Therefore, also in the cooling unit configured as described above, the accommodation pocket is controlled to the target temperature by the cooperation of the cooling by the refrigerant and the heating by the heater. That is, the control device 85 controls the supply valve 63 and the heater 69A according to the detection value of the temperature sensor 70A, and controls only the outputs of the heaters 69B to 69D according to the detection values of the temperature sensors 70B to 70D. Thus, each of the storage pockets 17A to 17D is controlled to the target temperature. According to such a configuration, it is possible to omit the throttle valves 73A to 73D and omit the throttle valve driving unit 86b. Therefore, the cooling circuit can be further simplified and the load on the control device 85 can be reduced.

なお、例えば、温度センサー70Bの検出値が目標温度Ttよりも高い温度Taであった場合、第2冷却路67Bにおける冷媒の流量は、収容ポケット17Bを目標温度Ttに維持するのに適した流量よりも多い方が好ましい。また、温度センサー70Bの検出値が目標温度Ttよりも低い温度Tbである場合、第2冷却路67Bにおける冷媒の流量は、収容ポケット17Bを目標温度Ttに維持するのに適した流量よりも少ないことが好ましい。   For example, when the detected value of the temperature sensor 70B is a temperature Ta higher than the target temperature Tt, the flow rate of the refrigerant in the second cooling path 67B is a flow rate suitable for maintaining the accommodation pocket 17B at the target temperature Tt. More is preferable. Further, when the detected value of the temperature sensor 70B is a temperature Tb lower than the target temperature Tt, the flow rate of the refrigerant in the second cooling path 67B is less than the flow rate suitable for maintaining the accommodation pocket 17B at the target temperature Tt. It is preferable.

しかしながら、上記構成の冷却ユニットにおいては、温度センサー70Aの検出値が目標温度Ttである場合、収容ポケット17Aの第1冷却路67Aには、該収容ポケット17Aの温度を目標温度Ttに維持するのに適した流量の冷媒が供給される。そして、第2冷却路67Bにも、温度センサー70Bの検出値に関わらず、該収容ポケット17Bを目標温度Ttに維持するのに適した流量の冷媒が供給される。   However, in the cooling unit configured as described above, when the detected value of the temperature sensor 70A is the target temperature Tt, the temperature of the storage pocket 17A is maintained at the target temperature Tt in the first cooling path 67A of the storage pocket 17A. A refrigerant having a flow rate suitable for the above is supplied. Regardless of the detection value of the temperature sensor 70B, the second cooling passage 67B is also supplied with a refrigerant having a flow rate suitable for maintaining the accommodation pocket 17B at the target temperature Tt.

そのため、温度センサー70Aの検出値が目標温度Tt、且つ温度センサー70Bの検出値が目標温度Ttよりも高い温度Taである場合に、ヒーター69Bの駆動電力が、温度センサー70Aの検出値が温度Taであるときにおけるヒーター69Aの駆動電力と同じ大きさとなれば、収容ポケット17Bの冷却に対する応答性が低下してしまうことになる。また、温度センサー70Aの検出値が目標温度Tt、且つ温度センサー70Bの検出値が目標温度Ttよりも低い温度Tbである場合に、ヒーター69Bの駆動電力が、温度センサー70Aの検出値が温度Taであるときにおけるヒーター69Aの駆動電力と同じ大きさとなれば、収容ポケット17Bの加熱に対する応答性が低下してしまうことになる。   Therefore, when the detected value of the temperature sensor 70A is the target temperature Tt and the detected value of the temperature sensor 70B is a temperature Ta higher than the target temperature Tt, the driving power of the heater 69B is the detected value of the temperature sensor 70A is the temperature Ta. If it becomes the same magnitude as the driving power of the heater 69A at that time, the responsiveness to the cooling of the accommodation pocket 17B will be lowered. Further, when the detection value of the temperature sensor 70A is the target temperature Tt and the detection value of the temperature sensor 70B is the temperature Tb lower than the target temperature Tt, the driving power of the heater 69B is equal to the detection value of the temperature sensor 70A. If it becomes the same magnitude as the driving power of the heater 69A at that time, the response to the heating of the accommodation pocket 17B will be reduced.

これらのことから、上記構成の冷却ユニットにおいて制御装置85は、例えば温度センサー70Aの検出値と温度センサー70B〜70Dの検出値との偏差に基づいて、所定温度におけるヒーター69B〜69Dの駆動電力を該所定温度におけるヒーター69Aの駆動電力とは異なる大きさに制御可能となっていることが好ましい。   For these reasons, in the cooling unit configured as described above, the control device 85 determines the drive power of the heaters 69B to 69D at a predetermined temperature based on, for example, the deviation between the detected value of the temperature sensor 70A and the detected values of the temperature sensors 70B to 70D. It is preferable that the power can be controlled to be different from the driving power of the heater 69A at the predetermined temperature.

また、上記構成の冷却ユニットにおいては、図5(a)に示されるように、目標温度Ttに対して、冷却出力96と加熱出力97との双方が出力される範囲であるオーバーラップ量Wを調整するとよい。   Further, in the cooling unit having the above-described configuration, as shown in FIG. 5A, an overlap amount W that is a range in which both the cooling output 96 and the heating output 97 are output with respect to the target temperature Tt. Adjust it.

すなわち、図5(b)に示されるように、目標温度Ttに対するオーバーラップ量Wを大きくすることによって、収容ポケットを目標温度に制御するうえで必要とされる冷却出力96及び加熱出力97が大きくなる。そのため、例えば目標温度に維持されていた収容ポケットの温度が上昇したときに、該収容ポケットを高い冷却出力の下で冷却することが可能であることから、収容ポケットの冷却に対する応答性を高めることができる。また、例えば目標温度に維持されていた収容ポケットの温度が低下したときに、該収容ポケットを高い加熱出力の下で加熱することが可能であることから、各収容ポケットの加熱に対する応答性を高めることができる。これらのことから、オーバーラップ量Wを大きくすることによって、収容ポケットの冷却に対する応答性、及び加熱に対する応答性を高めることができるとともに、収容ポケットの温度を目標温度に制御する際の精度を高めることができる。   That is, as shown in FIG. 5B, by increasing the overlap amount W with respect to the target temperature Tt, the cooling output 96 and the heating output 97 required to control the accommodation pocket to the target temperature are increased. Become. Therefore, for example, when the temperature of the storage pocket that has been maintained at the target temperature rises, it is possible to cool the storage pocket under a high cooling output, thereby improving the response to the cooling of the storage pocket. Can do. In addition, for example, when the temperature of the storage pocket that has been maintained at the target temperature decreases, the storage pocket can be heated under a high heating output, so that the responsiveness to heating of each storage pocket is increased. be able to. Accordingly, by increasing the overlap amount W, it is possible to improve the response to cooling of the storage pocket and the response to heating, and to increase the accuracy when controlling the temperature of the storage pocket to the target temperature. be able to.

一方、図5(c)に示されるように、目標温度Ttに対するオーバーラップ量Wが0に設定されてもよい。また、図5(d)に示されるように、目標温度Ttに対するオーバーラップ量Wがマイナスの値、すなわち冷却出力96と加熱出力97とがともに出力されないデッドバンドが設定されてもよい。こうした構成によれば、収容ポケットの温度を目標温度に制御するうえで、冷媒の消費量、及びヒーターの消費電力量を抑えることができる。   On the other hand, as shown in FIG. 5C, the overlap amount W with respect to the target temperature Tt may be set to zero. Further, as shown in FIG. 5D, a dead band where the overlap amount W with respect to the target temperature Tt is a negative value, that is, the cooling output 96 and the heating output 97 are not output may be set. According to such a configuration, in controlling the temperature of the accommodation pocket to the target temperature, it is possible to suppress the amount of refrigerant consumed and the amount of power consumed by the heater.

・上記実施形態では、基台11を貫通する開口部13に取り付けられたテストヘッド14とテストヘッド14上面の検査用ソケット14aとによりステージが構成されるものとした。これに代えて、図6に示されるように、窒素ガスの流れる冷却路100、加熱ヒーター101、及び検査用ソケット14aの収容される収容部102を備える台座103を基台11に設置し、この台座103をステージとしてもよい。この場合、台座103が支持部となり、検査用ソケット14aは、台座103の収容部102に収容されることによってハンドラー10に搭載される。そして、台座103が冷却されることによって、検査用ソケット14aに収容された電子部品が冷却される。   In the above embodiment, the stage is configured by the test head 14 attached to the opening 13 penetrating the base 11 and the inspection socket 14 a on the upper surface of the test head 14. Instead, as shown in FIG. 6, a pedestal 103 including a cooling path 100 through which nitrogen gas flows, a heater 101, and an accommodating portion 102 in which an inspection socket 14 a is accommodated is installed on the base 11. The pedestal 103 may be a stage. In this case, the pedestal 103 serves as a support portion, and the inspection socket 14 a is mounted on the handler 10 by being accommodated in the accommodating portion 102 of the pedestal 103. And the electronic component accommodated in the socket 14a for an inspection is cooled by the base 103 being cooled.

部品検査装置を構成するハンドラーとテスターとは別体の装置であるため、テストヘッド14及び検査用ソケット14aをステージとする場合、ハンドラー側の構成とは別に、予めテスターのテストヘッド14に窒素ガスの流れる流路やヒーターを備えておく必要がある。この点、上述した構成によれば、内部流路やヒーターを備えたテストヘッド14を要することなく、検査用ソケット14aに収容された電子部品Tを冷却することが可能となる。   Since the handler and the tester constituting the part inspection apparatus are separate apparatuses, when the test head 14 and the inspection socket 14a are used as a stage, a nitrogen gas is previously applied to the test head 14 of the tester separately from the configuration on the handler side. It is necessary to provide a flow path and a heater. In this regard, according to the above-described configuration, it is possible to cool the electronic component T accommodated in the inspection socket 14a without requiring the test head 14 including the internal flow path and the heater.

なお、温度センサーは、検査用ソケット14aの温度が検出可能であれば、台座103に搭載されていてもよいし、検査用ソケット14aに搭載されていてもよい。また、図6に記載の台座103には1つの収容部102が形成されているが、台座103に形成される収容部102の数は、2以上であってもよい。また、台座103の収容部102にテストヘッド14及び検査用ソケット14aが収容される構成としてもよい。要は、電子部品を支持する支持部として、熱を伝導する部材を挟んで電子部品に間接的に触れる部材そのものが冷却される態様であればよい。なお、台座103に複数の収容部102が形成されている場合、各収容部102に個別に対応する冷却路100が台座103に形成されることが好ましい。   Note that the temperature sensor may be mounted on the pedestal 103 or may be mounted on the inspection socket 14a as long as the temperature of the inspection socket 14a can be detected. Moreover, although one accommodating part 102 is formed in the base 103 of FIG. 6, the number of the accommodating parts 102 formed in the base 103 may be two or more. Further, the test head 14 and the inspection socket 14a may be accommodated in the accommodating portion 102 of the pedestal 103. The point is that the member itself that indirectly touches the electronic component with the heat conducting member interposed therebetween may be cooled as the supporting portion that supports the electronic component. In addition, when the some accommodating part 102 is formed in the base 103, it is preferable that the cooling path 100 corresponding to each accommodating part 102 is formed in the base 103 individually.

・また、支持部は、基台11の搭載面11a上、もしくはカバー部材12によって覆われた搬送空間内における基台11の上方で電子部品Tを支持する部分であれば任意に設定することが可能である。例えば、供給用シャトルプレート15aと回収用シャトルプレート15bとをそれぞれ別のステージとして、これらに対して各別の冷却ユニットを設けて冷却してもよい。また、搬送ロボット30における第1搬送ユニット32及び第2搬送ユニット33の下端の吸着部にステージを配設し、第1搬送ユニット32及び第2搬送ユニット33の各々の下端部に冷却ユニットを設けるようにしてもよい。要は、電子部品Tが支持される部分であれば、その箇所を支持部として冷却ユニットを設けることができる。なお、各冷却ユニット間において電子部品Tを搬送する際には、収容容器の一部を開閉して電子部品Tの移送を行うようにすればよい。   In addition, the support part may be arbitrarily set as long as it is a part that supports the electronic component T on the mounting surface 11a of the base 11 or above the base 11 in the transport space covered by the cover member 12. Is possible. For example, the supply shuttle plate 15a and the recovery shuttle plate 15b may be provided as separate stages, and cooling may be provided by providing separate cooling units for these stages. In addition, a stage is provided at the lower end suction portion of the first transfer unit 32 and the second transfer unit 33 in the transfer robot 30, and a cooling unit is provided at the lower end of each of the first transfer unit 32 and the second transfer unit 33. You may do it. In short, if it is a part where the electronic component T is supported, the cooling unit can be provided using that part as a support part. It should be noted that when the electronic component T is transported between the cooling units, the electronic component T may be transferred by opening and closing a part of the container.

T…電子部品、C1…供給用コンベアー、C2,C3,C4…回収用コンベアー、DP…分岐部、JP…合流部、C1a,C2a,C3a,C4a…デバイストレイ、10…ハンドラー、11…基台、11a…搭載面、12…カバー部材、13…開口部、14…テストヘッド、14a…検査用ソケット、15…第1シャトル、15a…供給用シャトルプレート、15b…回収用シャトルプレート、15c…シャトルガイド、16…第2シャトル、16a…供給用シャトルプレート、16b…回収用シャトルプレート、16c…シャトルガイド、17,17A,17B,17C,17D,18…収容ポケット、20…供給ロボット、21…供給側固定ガイド、22…供給側可動ガイド、23…供給用ハンドユニット、30…搬送ロボット、31…搬送ガイド、32…第1搬送ユニット、33…第2搬送ユニット、40…回収ロボット、41…回収側固定ガイド、42…回収側可動ガイド、43…回収用ハンドユニット、50…収容ボックス、51…検査ボックス、52…収容ボックス、55…貯蔵タンク、56…共通路、57…第1連結路、58…第2連結路、60…熱交換器、61…第1気化室、62…第2気化室、63,64…供給バルブ、66A…第1供給路、66B,66C,66D…第2供給路、67A…第1冷却路、67B,67C,67D…第2冷却路、68A,68B,68C,68D…排出口、69A,69B,69C,69D…加熱ヒーター、70A,70B,70C,70D…温度センサー、71A…第1排出路、71B,71C,71D…第2排出路、73A…第1絞り弁、73B,73C,73D…第2絞り弁、74A…第1逆止弁、74B,74C,74D…第2逆止弁、75…熱交換器、76…低温流体室、77…ドライエア供給源、78…高温流体室、79…バルブ、80…エアヒーター、81…第3逆止弁、85…制御装置、86…冷却ユニット駆動部、86a…バルブ駆動部、86b…絞り弁駆動部、86c…ヒーター駆動部、90…テスター、100…冷却路、101…加熱ヒーター、102…収容部、103…台座。   T: Electronic parts, C1: Conveyor for supply, C2, C3, C4 ... Conveyor for recovery, DP: Branching part, JP: Junction part, C1a, C2a, C3a, C4a ... Device tray, 10 ... Handler, 11 ... Base 11a ... mounting surface, 12 ... cover member, 13 ... opening, 14 ... test head, 14a ... inspection socket, 15 ... first shuttle, 15a ... supply shuttle plate, 15b ... recovery shuttle plate, 15c ... shuttle Guide, 16 ... second shuttle, 16a ... supply shuttle plate, 16b ... recovery shuttle plate, 16c ... shuttle guide, 17, 17A, 17B, 17C, 17D, 18 ... receiving pocket, 20 ... supply robot, 21 ... supply Side fixed guide, 22 ... Supply side movable guide, 23 ... Supply hand unit, 30 ... Transfer robot, 31 Transport guide 32: First transport unit 33: Second transport unit 40: Recovery robot 41: Recovery side fixed guide 42: Recovery side movable guide 43: Recovery hand unit 50: Storage box 51 Inspection box 52 ... Storage box 55 ... Storage tank 56 ... Common path 57 ... First connection path 58 ... Second connection path 60 ... Heat exchanger 61 ... First vaporization chamber 62 ... Second vaporization Chamber 63, 64 ... Supply valve, 66A ... First supply passage, 66B, 66C, 66D ... Second supply passage, 67A ... First cooling passage, 67B, 67C, 67D ... Second cooling passage, 68A, 68B, 68C , 68D ... discharge port, 69A, 69B, 69C, 69D ... heater, 70A, 70B, 70C, 70D ... temperature sensor, 71A ... first discharge path, 71B, 71C, 71D ... second discharge path, 73 ... 1st throttle valve, 73B, 73C, 73D ... 2nd throttle valve, 74A ... 1st check valve, 74B, 74C, 74D ... 2nd check valve, 75 ... Heat exchanger, 76 ... Cold fluid chamber, 77 DESCRIPTION OF SYMBOLS ... Dry air supply source, 78 ... High temperature fluid chamber, 79 ... Valve, 80 ... Air heater, 81 ... Third check valve, 85 ... Control device, 86 ... Cooling unit drive part, 86a ... Valve drive part, 86b ... Throttle valve Drive unit, 86c ... heater drive unit, 90 ... tester, 100 ... cooling path, 101 ... heating heater, 102 ... storage unit, 103 ... pedestal.

Claims (9)

部品を支持する第1支持部を冷媒で冷却する第1冷却路と、
部品を支持して前記第1支持部と異なる第2支持部を冷媒で冷却する第2冷却路と、
前記第1支持部を加熱する第1ヒーターと、
前記第2支持部を加熱して前記第1ヒーターと異なる第2ヒーターと、
前記第1支持部の温度を検出する第1温度センサーと、
前記第2支持部の温度を検出して前記第1温度センサーと異なる第2温度センサーと、
前記第1及び第2冷却路に流量制御弁を通じて冷媒を供給する冷媒供給部とを備え、
前記第1及び第2冷却路が、前記冷媒供給部に対して並列に接続され、
前記第1温度センサーの検出値に応じて、前記流量制御弁の開弁及び閉弁と前記第1ヒーターの出力とを変化させ、前記第2温度センサーの検出値に応じて、前記第2ヒーターの出力を変化させる制御部を備える
ことを特徴とするハンドラー。
A first cooling path for cooling the first support part for supporting the component with a refrigerant;
A second cooling path for supporting a component and cooling a second support portion different from the first support portion with a refrigerant;
A first heater for heating the first support part;
A second heater different from the first heater by heating the second support part;
A first temperature sensor for detecting a temperature of the first support part;
A second temperature sensor that detects the temperature of the second support part and is different from the first temperature sensor;
A refrigerant supply unit that supplies refrigerant to the first and second cooling paths through a flow control valve;
The first and second cooling paths are connected in parallel to the refrigerant supply unit;
The opening and closing of the flow rate control valve and the output of the first heater are changed according to the detection value of the first temperature sensor, and the second heater is changed according to the detection value of the second temperature sensor. A handler characterized by comprising a control unit that changes the output of the.
前記第1冷却路は、第2冷却路よりも冷媒の流量が小さい流路である
請求項1に記載のハンドラー。
The handler according to claim 1, wherein the first cooling path is a flow path in which the flow rate of the refrigerant is smaller than that of the second cooling path.
前記第1冷却路における冷媒の流量を絞る絞り弁を備える
請求項1または2に記載のハンドラー。
The handler according to claim 1, further comprising a throttle valve that throttles a flow rate of the refrigerant in the first cooling path.
前記支持部が収容される収容容器と、
前記第1冷却路の出口と前記収容容器とを連通させる第1排出路と、
前記第2冷却路の出口と前記収容容器とを連通させる第2排出路とを備える
請求項1〜3のいずれか一項に記載のハンドラー。
A storage container in which the support portion is stored;
A first discharge path for communicating the outlet of the first cooling path and the container;
The handler as described in any one of Claims 1-3 provided with the 2nd discharge path which connects the exit of the said 2nd cooling path, and the said storage container.
前記第1排出路に配設されて前記第1冷却路への気体の流入を抑止する第1逆止弁と、 前記第2排出路に配設されて前記第2冷却路への気体の流入を抑止する第2逆止弁とを備える
請求項4に記載のハンドラー。
A first check valve disposed in the first discharge path to inhibit the inflow of gas to the first cooling path; and a gas flow inflow to the second cooling path disposed in the second discharge path. The handler according to claim 4 provided with the 2nd check valve which suppresses.
前記第1排出路のうち、前記第1逆止弁の下流側には、
前記第2排出路における前記第2逆止弁の下流側の部位が接続される
請求項5に記載のハンドラー。
Of the first discharge path, on the downstream side of the first check valve,
The handler according to claim 5, wherein a site on the downstream side of the second check valve in the second discharge path is connected.
前記第1排出路のうち、前記第2排出路が接続される部位の下流側に、
前記第1排出路を通過する冷媒を昇温させる昇温部を備える
請求項6に記載のハンドラー。
Of the first discharge path, on the downstream side of the portion to which the second discharge path is connected,
The handler according to claim 6, further comprising a temperature raising unit that raises the temperature of the refrigerant passing through the first discharge path.
前記第2冷却路を複数有し、
前記第1冷却路における冷媒の流量を絞る第1絞り弁と、
前記複数の第2冷却路の各々に対して個別に設けられ、該第2冷却路における冷媒の流量を絞る第2絞り弁とを備える
請求項1〜7のいずれか一項に記載のハンドラー。
A plurality of the second cooling passages;
A first throttle valve that throttles a flow rate of the refrigerant in the first cooling path;
The handler according to any one of claims 1 to 7, further comprising a second throttle valve that is individually provided for each of the plurality of second cooling paths and throttles the flow rate of the refrigerant in the second cooling path.
部品を支持する第1支持部を冷媒で冷却する第1冷却路と、
部品を支持して前記第1支持部と異なる第2支持部を冷媒で冷却する第2冷却路と、
前記第1支持部を加熱する第1ヒーターと、
前記第2支持部を加熱して前記第1ヒーターと異なる第2ヒーターと、
前記第1支持部の温度を検出する第1温度センサーと、
前記第2支持部の温度を検出して前記第1温度センサーと異なる第2温度センサーと、
前記第1及び第2冷却路に流量制御弁を通じて冷媒を供給する冷媒供給部とを備え、
前記第1及び第2冷却路が、前記冷媒供給部に対して並列に接続され、
前記第1温度センサーの検出値に応じて、前記流量制御弁の開弁及び閉弁と前記第1ヒーターの出力とを変化させ、前記第2温度センサーの検出値に応じて、前記第2ヒーターの出力を変化させる制御部を備える
ことを特徴とする部品検査装置。
A first cooling path for cooling the first support part for supporting the component with a refrigerant;
A second cooling path for supporting a component and cooling a second support portion different from the first support portion with a refrigerant;
A first heater for heating the first support part;
A second heater different from the first heater by heating the second support part;
A first temperature sensor for detecting a temperature of the first support part;
A second temperature sensor that detects the temperature of the second support part and is different from the first temperature sensor;
A refrigerant supply unit that supplies refrigerant to the first and second cooling paths through a flow control valve;
The first and second cooling paths are connected in parallel to the refrigerant supply unit;
The opening and closing of the flow rate control valve and the output of the first heater are changed according to the detection value of the first temperature sensor, and the second heater is changed according to the detection value of the second temperature sensor. A component inspection apparatus comprising a control unit that changes the output of the component.
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