JP2016126914A - リターディングを用いたエネルギーアナライザ・モノクロメータ - Google Patents
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Abstract
Description
H. Boersch, J. Geiger, H. Hellwig, Steigerung der Aufloesung bei der Elektronen -Energieanalyse, Physics Letters 3 (1962) 64-66. M. Terauchi, R. Kuzuo, F. Satou, M. Tanaka, K. Tsuno, J. Ohyama, Performanceof a Wien-Filter energy analyzer installed in a TEM for EELS, Proc. XIIth Int. Cong. Electron Microscopy, SanFrancisco Press (1990) 88-89.
2:減速レンズ
21、41:フリンジ場調整電極
3:フィルタ、ウィーンフィルタ
4:加速レンズ
5:入射レンズ
6、7:バトラー電極
8:投影レンズ
81:絞り付きトランスファーレンズ
9、91:スリット
Claims (11)
- 電子ビームを減速してフィルタリングを行い、その後に加速するリターディングを用いたエネルギーアナライザ・モノクロメータにおいて、
電子ビームあるいは加速された電子ビームを、減速する減速レンズと、
前記減速レンズで減速された電子ビームをフィルタリングするフィルタと、
前記フィルタでフィルタリングされた後の電子ビームを、加速する加速レンズとを設け、
前記電子ビームを、減速レンズ中に第1のフォーカスをさせ、かつ前記フィルタを通過後の電子ビームを、当該フィルタから前記加速レンズまでの間と前記加速レンズ中あるいは当該加速レンズ通過後とに第2と第3のフォーカスをさせ、前記減速レンズと前記フィルタおよび前記フィルタと前記加速レンズとの間の収差による影響を低減して高いエネルギー分解能を得ることを特徴とするリターディングを用いたエネルギーアナライザ・モノクロメータ。 - 前記減速レンズ、加速レンズとして、バトラーレンズとしたことを特徴とする請求項1記載のリターディングを用いたエネルギーアナライザ・モノクロメータ。
- 前記減速レンズについて、一対の3つあるいは2つの極からなるバトラーレンズとして、このうち前記フィルタに近い1つの極を、リターディング用電極と当該フィルタのフリンジ場分布規制用のミラープレートとを兼用させることを特徴とする請求項1あるいは請求項2記載のリターディングを用いたエネルギーアナライザ・モノクロメータ。
- 請求項3において、更に、前記1つの極を当該フィルタのフリンジ磁場の形をフリンジ電場の形とを一致させるために金属磁性材料で作成したことを特徴とするリターディングを用いたエネルギーアナライザ・モノクロメータ。
- 前記加速レンズについて、3つの極からなるバトラーレンズとしてこのうち前記フィルタに近い1つの極を、当該フィルタのフリンジ場分布規制用のミラープレートとし、他の2つの極を電子ビームを加速するものとしたことを特徴とする請求項1から請求項4いずれか1つに記載のリターディングを用いたエネルギーアナライザ・モノクロメータ。
- 請求項5において、更に、前記1つの極を当該フィルタのフリンジ磁場の形をフリンジ電場の形とを一致させるために金属磁性材料で作成したことを特徴とするリターディングを用いたエネルギーアナライザ・モノクロメータ。
- エネルギー選択スリットを、フィルタに近い1つの極(第1番目の極)と第2番目の極との間あるいは第3番目の極の後に配置したことを特徴とする請求項5あるいは請求項6に記載のリターディングを用いたエネルギーアナライザ・モノクロメータ。
- 前記バトラーレンズの曲面側に、凸形状の回転対称の曲面を有しかつ中心に穴を有する形状としたことを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか1つに記載のリターディングを用いたエネルギーアナライザ・モノクロメータ。
- 前記フィルタとして、ウィーンフィルタとしたことを特徴とする請求項1から請求項8のいずれか1つに記載のリターディングを用いたエネルギーアナライザ・モノクロメータ。
- 前記第1のフォーカスを、前記減速レンズより前に配置する電子ビームを集束するコンデンサーレンズ、前記減速レンズ、当該電子ビームの加速電圧のいずれか1つ以上により行い、前記第2および第3のフォーカスを、当該コンデンサーレンズ、前記減速レンズ、前記フィルタに印加する電界と磁界、前記加速レンズ、当該電子ビームの加速電圧のいずれか1つ以上により行うことを特徴とする請求項1から請求項9のいずれか1つに記載のリターディングを用いたエネルギーアナライザ・モノクロメータ。
- 前記減速レンズに入射する電子ビームについて、前段に配置するコンデンサーレンズの絞りの穴径を小さくして電子ビームの広がりを小さくすることにより、上記エネルギー分解能をより良くしたことを特徴とする請求項1から請求項10のいずれか1つに記載のリターディングを用いたエネルギーアナライザ・モノクロメータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20210006004A (ko) * | 2018-06-06 | 2021-01-15 | 케이엘에이 코포레이션 | 고분해능 전자 에너지 분석기 |
| CN113109949A (zh) * | 2021-04-09 | 2021-07-13 | 长春长光格瑞光电技术有限公司 | 宽谱段高分辨中阶梯光栅单色器的针孔装调方法 |
| EP4679481A1 (en) * | 2024-07-09 | 2026-01-14 | Fei Company | Reduced boersch effect in dispersive optics |
-
2014
- 2014-12-27 JP JP2014266881A patent/JP6432905B2/ja active Active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 津野勝重, 偏極電子ビームを作るためのウィーンフィルタ設計, JPN6018030978, 18 March 2014 (2014-03-18), pages Whole Document * |
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| CN113109949A (zh) * | 2021-04-09 | 2021-07-13 | 长春长光格瑞光电技术有限公司 | 宽谱段高分辨中阶梯光栅单色器的针孔装调方法 |
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