JP2016125813A - 蛍光ガラス線量計読取装置 - Google Patents

Abstract

【課題】減光フィルタを設ける作業が容易であり、内部校正用ガラスの測定を長期間にわたって安定して行うことができる蛍光ガラス線量計読取装置を提供する。
【解決手段】パルス光を出力する光源２１０と、パルス光が照射される内部校正用ガラス２７０と、内部校正用ガラス２７０が載置されるプレートホルダー２４０とパルス光の照射により内部校正用ガラスが発する蛍光の発光量を検出する光センサとを備える蛍光ガラス線量計読取装置であって、プレートホルダー２４０は、パルス光の光軸上であって内部校正用ガラス２７０の光入射面側に切り欠き２８０があり、該切り欠き２８０に減光フィルタ２９０が設けられている。
【選択図】図２

Description

本発明は、蛍光ガラス線量計読取装置に関する。

放射線被ばく線量を測定する方法として蛍光ガラス線量計測定方法が知られている。蛍光ガラス線量計測定方法は、銀イオンを含有させたリン酸塩ガラス（銀活性リン酸塩ガラス）を用いて、放射線被ばく線量を測定する。銀活性リン酸塩ガラス（以下、蛍光ガラス線量計）に励起用の紫外線（例えば、中心波長３５５ｎｍの光）を照射すると、放射線被ばく線量に比例したオレンジ色（６００ｎｍ〜７００ｎｍにピーク波長を有する光）のラジオフォトルミネッセンス（ＲＰＬ：Radio Photo Luminescence）を発生する性質を有している。つまり、蛍光ガラス線量計に紫外線を照射し、蛍光ガラス線量計から発生する蛍光を測定することで蛍光ガラス線量計の放射線被ばく線量を算出することができる。

ところで、蛍光ガラス線量計の蛍光を測定する光センサ（典型的には光電子増倍管）は、温度変化等により読取感度が相違し、読取誤差が生じる。このような問題に対し、高精度の放射線被ばく線量の測定を行うべく、通常、予め基準放射線照射量（以下、基準照射値と呼ぶ）を照射し、所定の蛍光量（校正線量）を発生する蛍光標準ガラスとして、校正ガラスが用いられている。そして、この校正ガラスによって得られる校正線量と、蛍光ガラス線量計に装着されたリン酸塩ガラスから発生する蛍光量とを比較することにより、蛍光ガラス線量計の放射線被ばく線量を求めている。

また、蛍光ガラス線量計読取装置の校正を行う場合には、外部校正用ガラスと内部校正用ガラスの２つの校正ガラスを用い、以下に述べる様な２種類の校正方法を実施することにより、より精度の高い校正を行っている。

内部校正用ガラスは、蛍光ガラス線量計読取装置に内蔵されているものであって、本来的には、装置内の温度変化による読取装置の感度補償を目的とし、校正線量と蛍光ガラス線量計から発生する蛍光量とを比較することにより、リン酸塩ガラスの放射線被ばく量を求めている。なお、この校正操作は、測定開始時および予め定めた測定回数毎に自動的に行なわれる。

一方、外部校正用ガラスは、内部校正用ガラスの経時変化などによる測定誤差を修正するために用いられるものであって、内部校正用ガラスと同一の素子から構成され、内部校正用ガラスの値づけを行うものである。なお、内部校正用ガラスの値づけとは、外部校正用ガラスの基準照射値などを用いて、装置内部の内部校正用ガラスの線量値（みかけの放射線照射量）を決定することである。なお、この校正操作は、装置の設置段階の初期設定時、および定期的（例えば、１回／３カ月または１回／６カ月）に行なわれるものである。

内部校正用ガラスは、測定対象である蛍光ガラス線量計と異なり、蛍光ガラス線量計読取装置内に一定期間継続して載置されるものであり、自然被ばくを受ける。そのため、自然被ばくの影響を排除するため、高線量で被ばくさせたガラスを用い、励起光もしくは蛍光を減光した上で光センサにて測定することが知られている（特許文献１、特許文献２）。

特開平３−２９１５９３号公報 特開平７−２９４６４８号公報

従来の内部校正用ガラスでは、励起光の入射面もしくはガラスの蛍光検出面に減光フィルタを貼り付けていた。しかしながら、内部校正用ガラスの励起光の入射面は、ガラスの端面であって、減光フィルタの貼り付けが非常に難しく手間のかかる作業である。また、ガラスの蛍光検出面に減光フィルタを貼り付けた場合、内部校正用ガラスを長期間使用すると内部校正用ガラスの移動に伴い減光フィルタ下面が摩耗することで表面状態が変わり、蛍光の測定値が不安定になるおそれがある等の課題があった。
本発明の目的は、減光フィルタを設ける作業が容易であり、内部校正用ガラスの測定を長期間にわたって安定して行うことができる蛍光ガラス線量計読取装置を提供することである。

本発明に係る蛍光ガラス線量計読取装置は、パルス光を出力する光源と、前記パルス光が照射される内部校正用ガラスと、前記内部校正用ガラスが載置されるプレートホルダーと前記パルス光の照射により内部校正用ガラスが発する蛍光の発光量を検出する光センサとを備える線量読取装置であって、前記プレートホルダーは、前記パルス光の光軸上であって前記内部校正用ガラスの光入射面側に切り欠きがあり、該切り欠きに減光フィルタが設けられていることを特徴とする。

本発明によれば、減光フィルタの取り付け作業が容易であって、内部校正用ガラスの測定を長期間にわたって安定して行うことができる蛍光ガラス線量計読取装置を提供することができる。

本発明の実施形態に係る蛍光ガラス線量計読取装置の概略構成図である。 本発明の実施形態に係る蛍光ガラス線量計読取装置の概略平面図である。 本発明の実施形態に係る蛍光ガラス線量計読取装置の概略断面図（Ａ−Ａ断面）である。 標準蛍光ガラス素子が発する蛍光に対応する電気信号の波形図である。 蛍光ガラス線量計が発する蛍光に対応する電気信号の波形図である。 感度を決定するためのテーブルデータの一例である。

以下、図面を参照して、実施形態に係る蛍光ガラス線量計読取装置について説明する。

（実施形態）
図１は、実施形態に係る蛍光ガラス線量計読取装置１００の概略構成図である。図２は、蛍光ガラス線量計読取装置１００の概略平面図である。図３は、図２の蛍光ガラス線量計読取装置１００の概略平面図のＡ−Ａ断面図である。蛍光ガラス線量計読取装置１００は、蛍光ガラス線量計Ｇに励起用のレーザ光を照射し、蛍光ガラス線量計Ｇの励起光を読み取る光学系２００と、光学系２００を制御する制御装置３００とを備える。

（光学系２００の構成）
光学系２００は、固体レーザ２１０（光源）と、紫外線透過フィルタ２２０と、リファレンスブロック２３０と、プレートホルダー２４０と、フィルタ系２５０と、光電子増倍管２６０（光センサ）とを備える。

固体レーザ２１０（ダイオード励起固体レーザ：Diode-Pump Solid-State Laser）は、励起用の紫外線Ｌ（例えば、中心波長３５５ｎｍの光）のパルス光を照射する。なお、固体レーザ２１０の代わりに、紫外線を照射する窒素ガスレーザ、フラッシュランプ、ＬＥＤ、レーザーダイオードを用いてもよい。紫外線透過フィルタ２２０は、固体レーザ２１０からの紫外線Ｌを透過し、測定に不要な波長の光を遮蔽する。

リファレンスブロック２３０は、開口板２３１と、ハーフミラー２３２と、紫外線透過フィルタ２３３と、リファレンスガラス２３４と、紫外線カットフィルタ２３５と、フォトダイオード２３６と、筐体２３７とを備える。開口板２３１には、固体レーザ２１０からの紫外線Ｌを通過させるためのスリット状の開口２３１ａが形成されている。

ハーフミラー２３２は、開口２３１ａを通過した紫外線Ｌの一部を透過し、一部を反射する。このため、紫外線Ｌは、ハーフミラー２３２により紫外線Ｌ１，Ｌ２に分離される。紫外線透過フィルタ２３３は、ハーフミラー２３２で分離された紫外線Ｌ１を透過し、他の波長の光を遮蔽する。

リファレンスガラス２３４は、放射線を所定量だけ暴露させた標準蛍光ガラスである。リファレンスガラス２３４に紫外線Ｌ１が照射されると、紫外線Ｌ１の強度及び放射線被ばく線量に比例する蛍光が発生する。リファレンスガラス２３４で発生する蛍光は、固体レーザ２１０の出力変動の補正に用いられる。

なお、リファレンスガラス２３４は、自然被ばくにより時間経過とともに放射線被ばく線量が増加するが、リファレンスガラス２３４は、事前に十分な量の放射線に被ばくされており、放射線に起因する蛍光量が非常に大きくなる。このため、自然被ばくによる蛍光量の増加はほとんど無視することができる。また、プレドーズ及び汚れに起因する蛍光についてもほとんど無視することができる。

紫外線カットフィルタ２３５は、リファレンスガラス２３４で発生した蛍光を透過させ、紫外線Ｌ１を遮蔽する。

フォトダイオード２３６は、紫外線カットフィルタ２３５を透過したリファレンスガラス２３４からの蛍光を受光する。フォトダイオード２３６は、受光した光を電気信号（電流信号）に変換して出力する。フォトダイオード２３６から出力される電子信号（電流信号）の大きさは、受光した蛍光の強度に比例する。

筐体２３７は、開口板２３１と、ハーフミラー２３２と、紫外線透過フィルタ２３３と、リファレンスガラス２３４と、紫外線カットフィルタ２３５と、フォトダイオード２３６とを収容する。

内部校正用ガラス２７０は、蛍光ガラス線量計読取装置１００に内蔵されているものであって、装置内の温度変化による光電子増倍管２６０の感度変動を補償するために用いられる。具体的には、校正線量と蛍光ガラス線量計Ｇから発生する蛍光量とを比較することにより、蛍光ガラス線量計Ｇの放射線被ばく量を求める。

蛍光ガラス線量計Ｇおよび内部校正用ガラス２７０のいずれか一方にハーフミラー２３２で分離された紫外線Ｌ２（パルス光）が照射されると、紫外線Ｌ２の強度及び放射線被ばく線量に比例する蛍光が発生する。なお、該蛍光には、放射線被ばくに起因する蛍光以外に、プレドーズ及び汚れに起因する蛍光が含まれている。

内部校正用ガラス２７０は、前述のとおり自然被ばくの影響を排除するため、高線量で被ばくさせたガラスを用いる。そのため、照射される紫外線Ｌ２の光量が同一であると、蛍光ガラス線量計Ｇの蛍光に比べ、内部校正用ガラス２７０の蛍光の光量が圧倒的に大きい。そのため、内部校正用ガラス２７０の蛍光を低くするため、内部校正用ガラス２７０に照射される紫外線Ｌ２を減光フィルタ２９０を用いて減光する。

減光フィルタ２９０は、少なくとも紫外線Ｌ２の透過率が低い、例えば中心波長３５５ｎｍの光の透過率が０．０１％〜２０％の光学特性を備えるフィルタであれば、適宜の材質や厚さのものを用いることができる。減光フィルタ２９０としては、例えばポリエチレンテレフタレートのフィルムが安価であり、好適に用いられる。

減光フィルタ２９０は、プレートホルダー２４０の切り欠き２８０に固定される。前述のとおり、減光フィルタ２９０は、内部校正用ガラス２７０に照射される紫外線Ｌ２の光量を減光する必要があるため、内部校正用ガラス２７０の光入射面を確実に覆う必要がある。従来技術である内部校正用ガラス２７０の光入射面である板状ガラスの厚さ部分に減光フィルタ２９０に貼り付ける作業は非常に難しく、時間も要する。

そのため、本発明においては、減光フィルタ２９０を内部校正用ガラス２７０が保持されるプレートホルダー２４０に固定することで、前述の減光フィルタ２９０の設置作業を容易にした。また、減光フィルタ２９０を内部校正用ガラス２７０に直接貼り付けないため、内部校正用ガラス２７０を交換する際に、減光フィルタ２９０を一緒に交換する必要がなく、継続して用いることができる。

プレートホルダー２４０は、図２に示すとおり、放射線被ばく線量の測定対象である蛍光ガラス線量計Ｇおよび内部校正用ガラス２７０の両者を保持した状態で、固体レーザ２１０から出た紫外線Ｌ２が蛍光ガラス線量計Ｇもしくは内部校正用ガラス２７０の所定位置に照射されるように各ガラスを矢印の方向に移動する。また、プレートホルダー２４０は、蛍光ガラス線量計読取装置１００の装置内外に蛍光ガラス線量計Ｇを搬送する機能も備える。

プレートホルダー２４０は、紫外線Ｌ２の光軸上であって蛍光ガラス線量計Ｇおよび内部校正用ガラス２７０の光入射面側に切り欠き２８０がある。そして、切り欠き２８０の固体レーザ側の側面に、減光フィルタ２９０が設けられる。この位置に減光フィルタ２９０が設けることにより、内部校正用ガラス２７０の交換の際に内部校正用ガラス２７０と減光フィルタ２９０とが接触することがなく、プレートホルダー２４０からはがれたり、傷が付くおそれがない。減光フィルタ２９０は、プレートホルダー２４０に接着剤等により貼り付けられてもよく、これに加えて減光フィルタ２９０の周囲を押さえる部材（不図示）により保持されてもよい。

プレートホルダー２４０の切り欠き２８０および減光フィルタ２９０は、内部校正用ガラス２７０の複数の測定ポジションに対応する位置に設けられていることが好ましい。蛍光ガラス線量計Ｇは、複数の線種（例えば、α線、β線、γ線、Ｘ線、中性子線）を測定する場合、測定ポジション毎に異なるフィルタ（例えば、すず（Ｓｎ）、アルミニウム（Ａｌ）、プラスチック）を介して被ばくさせる。これらと同様に内部校正用ガラス２７０が測定ポジション毎に異なる種類のフィルタを介して放射線が基準値だけ照射された場合、前述のとおり複数の測定ポジションに対応する位置に切り欠き２８０および減光フィルタ２９０が設けられることで、プレートホルダー２４０の移動だけで、各測定ポジションの測定を行うことができる。
また、プレートホルダー２４０の切り欠き２８０は、紫外線Ｌ２の光軸上に設けられた孔部であってもよい。プレートホルダー２４０の底面には、蛍光ガラス線量計Ｇおよび内部校正用ガラス２７０の蛍光を光電子増倍管２６０にて測定できるよう測定窓２４５が設けられている。

内部校正用ガラス２７０は、図３に示すとおり、プレートホルダー２４０の底面および光源側の側面にて位置決めされていることが好ましい。内部校正用ガラス２７０は、紫外線Ｌ２の光入射位置が相違すると、発する蛍光の光量が変動し、装置内の温度変動による光電子増倍管２６０の感度補償を正確に行うことができなくなるおそれがある。前述のとおり内部校正用ガラス２７０をプレートホルダー２４０にて位置決めすることで、毎回決まった位置に紫外線Ｌ２を照射することができる。なお、内部校正用ガラス２７０の位置決め方法は、適宜の方法を用いることができる。例えば、板バネ等の付勢手段（不図示）を用いて他方の面から押圧することで内部校正用ガラス２７０をプレートホルダー２４０の底面および光源側の側面にて位置決めすることができる。

暗箱４００は、蛍光ガラス線量計読取装置１００内に光が侵入することを抑制するための箱である。少なくとも光学系２００は暗箱４００内に収容されている。また、出入口４１０は、蛍光ガラス線量計Ｇが装置内外に出入りする箇所であり、通常は光が入らないように閉じられている。出入口に、別途搬送装置を取り付けることで、大量の蛍光ガラス線量計Ｇの測定を自動で行うことができるようにしてもよい。

フィルタ系２５０は、ダイアフラム２５１と、紫外線カットフィルタ２５２と、集光レンズ２５３と、バンドパスフィルタ２５４とを備える。ダイアフラム２５１には、ハーフミラー２３２で分離された紫外線Ｌ２を通過させるためのスリット状の開口２５１ａが形成されている。紫外線カットフィルタ２５２は、紫外線Ｌ２を遮蔽し、蛍光ガラス線量計Ｇで発生した蛍光を透過する。

集光レンズ２５３は、紫外線カットフィルタ２５２を透過した蛍光を集光する。集光された蛍光は、バンドパスフィルタ２５４へ入射する。バンドパスフィルタ２５４は、入射する蛍光のうち波長が６１５ｎｍ〜７１５ｎｍの蛍光を主に透過する。

光電子増倍管２６０は、バンドパスフィルタ２５４を透過した蛍光を検出する。光電子増倍管２６０は、検出した光を電気信号（電流信号）に変換して出力する。光電子増倍管２６０は、バンドパスフィルタ２５４を透過した波長が６１５ｎｍ〜７１５ｎｍの蛍光を主に検出する。光電子増倍管２６０から出力される電子信号（電流信号）の大きさは検出される蛍光の強度に比例する。

また、光電子増倍管２６０は、印加電圧を変化させることにより感度（測定レンジ）を変更できるよう構成されている。具体的には、光電子増倍管２６０への印加電圧を大きくすると感度が高くなり、光電子増倍管２６０への印加電圧を小さくすると感度が低くなる。

（制御装置３００の構成）
制御装置３００は、駆動回路３１０と、プリアンプ３２０と、プリアンプ３３０と、タイミング回路３４０と、積分回路３５０（積算手段）と、ＡＤコンバータ３６０と、制御回路３７０（感度決定手段、感度設定手段、被ばく線量算出手段）とを備える。

駆動回路３１０は、制御回路３７０からの指示に基づいて、固体レーザ２１０の紫外線の照射を制御する。具体的には、駆動回路３１０は、紫外線をパルス状（例えば、数ｎｓ（ナノ秒））に照射するように固体レーザ２１０を制御する。固体レーザ２１０は、トリガ信号が入力されると、数ｎｓ発光する。

プリアンプ３２０は、フォトダイオード２３６から出力される電気信号（電流信号）を電圧信号に変換する。プリアンプ３２０で電圧に変換された電気信号は、後段のタイミング回路３４０及び積分回路３５０に入力される。プリアンプ３３０は、光電子増倍管２６０から出力される電気信号（電流信号）を電圧信号に変換する。プリアンプ３３０で電圧に変換された電気信号は、後段の積分回路３５０に入力される。

タイミング回路３４０は、積分回路３５０へ積分開始の合図となるトリガ信号を生成して出力する。プリアンプ３２０からの入力と制御回路３７０からの入力の論理積（ＡＮＤ）をトリガ（合図）として、積分回路３５０における積分開示のタイミングを示すトリガ信号を出力する。

積分回路３５０は、タイミング回路３４０からのトリガ信号が入力されるとプリアンプ３２０及びプリアンプ３３０から出力される電圧信号を積分する。

（プリアンプ３２０から出力される電圧信号の積分）
図４は、プリアンプ３２０から積分回路３５０に入力される電圧信号の波形図である。すでに述べたように、リファレンスガラス２３４は、プレドーズ及び汚れに起因する蛍光が相対的に無視できる程度に放射線に被ばくされている。

このため、図４に示すように、プレドーズ及び汚れに起因する蛍光は、プリアンプ３２０から積分回路３５０に入力される電圧信号の波形にはほとんど表れない。タイミング回路３４０は、プリアンプ３２０及び制御回路３７０から信号が入力されると時間Ｔ１にトリガ信号を出力する（なお、実際には、後述の時間Ｔ３にもトリガ信号が出力されるが、ここでは、説明を省略する）。積分回路３５０は、トリガ信号が入力されると電圧信号の積分を開始し、時間Ｔ２に積分を終了する。

つまり、積分回路３５０は、図４に示すＴ１からＴ２間の電気信号を積分する。これは、図４に示す斜線部の面積（以下、ＲＥＦと記載）を求めることに等しい。積分回路３５０は、算出したＲＥＦを出力する。なお、Ｔ１，Ｔ２の値は蛍光ガラス線量計Ｇのガラス組成により決定されるものである。また、積分回路３５０から出力されたＲＥＦは、固体レーザ２１０の出力変動の補正に用いられる。

（プリアンプ３３０から出力される電圧信号の積分）
図５は、プリアンプ３３０から積分回路３５０に入力される電圧信号の波形図である。タイミング回路３４０は、プリアンプ３２０及び制御回路３７０から信号が入力されると時間Ｔ１及びＴ３にトリガ信号を出力する。積分回路３５０は、トリガ信号が入力されると、所定の時間分プリアンプ３３０から入力される電圧信号を積分する。具体的には、積分回路３５０は、時間Ｔ１に電圧信号の積分を開始し、時間Ｔ２に積分を終了する。さらに、積分回路３５０は、時間Ｔ３に電圧信号の積分を開始し、時間Ｔ４に積分を終了する。

つまり、積分回路３５０は、図５に示すＴ１からＴ２間と、Ｔ３からＴ４間の電気信号を積分する。これは、図５に示すＴ１からＴ２の斜線部（以下、ＲＰＬと記載）及びＴ３からＴ４の斜線部（以下、ＬＤと記載）の面積を求めることに等しい。積分回路３５０は、算出したＲＰＬ及びＬＤを出力する。なお、Ｔ３，Ｔ４の値は蛍光ガラス線量計Ｇのガラス組成により決定されるものである。

ＡＤコンバータ３６０は、積分回路３５０から出力されるＲＥＦ，ＲＰＬ，ＬＤをアナログ信号からデジタル信号に変換して出力する。

制御回路３７０は、例えば、マイコン（micro computer）である。制御回路３７０は、駆動回路３１０と、タイミング回路３４０とを制御する。具体的には、制御回路３７０は、駆動回路３１０に固体レーザ２１０から紫外線を照射するように指示する。また、制御回路３７０は、タイミング回路３４０に、トリガ信号を出力するよう指示する。また、制御回路３７０は、ＡＤコンバータ３６０から出力されるデジタル化されたＲＥＦ，ＲＰＬ，ＬＤの値を記憶する。さらに、制御回路３７０は、光電子増倍管２６０の感度を決定し、放射線被ばく線量を算出する。

（感度の決定）
ここで、制御回路３７０による感度の決定について図６を参照して説明する。図６は、制御回路３７０に記憶されているテーブルデータの一例を示す図である。図６に示すように、制御回路３７０には、感度（測定レンジ）、ＲＰＬをＲＥＦで除算した値Ｒ１（Ｒ１＝ＲＰＬ／ＲＥＦ）の範囲（但し、ｎ２＜ｎ１）、印加電圧（Ｖ）が対応付けて記憶されている。制御回路３７０は、ＡＤコンバータからＲＥＦ，ＲＰＬ，ＬＤが出力されると、ＲＰＬをＲＥＦで除算した値Ｒ１を算出する。

制御回路３７０は、算出したＲ１の値が、図６に示すテーブルデータのどの範囲に含まれるかを判定し、光電子増倍管２６０の感度を決定する。なお、制御回路３７０は、最も感度の低い感度（レベル７）で測定し、レベル７では感度が低すぎる場合は、感度を上げてさらに測定を行う。なお、図６では、感度（測定レンジ）の範囲を５つとしたが、感度（測定レンジ）の範囲をさらに細分化するようにしてもよい。

（放射線被ばく線量の算出）
次に、制御回路３７０による放射線被ばく線量の算出について図４，図５を参照して説明する。すでに述べたように、ＡＤコンバータから出力されるＲＥＦ，ＲＰＬ，ＬＤのうち、ＲＰＬには、プレドーズに起因する蛍光のうち約１ｍｓ（ミリ秒）まで減衰が継続する成分の蛍光分（ＬＤ’と記載する）と、放射線被ばくに起因する蛍光分（ＳＡＭＰと記載する）とが含まれている。このため、ＳＡＭＰを求めるには、ＲＰＬからプレドーズに起因する蛍光分（ＬＤ’）を除去する必要がある。

ここで、図５に示すＲＰＬのうちプレドーズに起因する蛍光分ＬＤ’は、以下の（１）式で表すことができる。
ＬＤ’＝ｆｐｓ×ＬＤ・・・（１）
なお、ｆｐｓは、蛍光ガラス線量計読取装置１００に固有の定数である。

また、ＲＰＬのうち放射線被ばくに起因する蛍光分ＳＡＭＰは、上記（１）式を用いると、以下の（２）で表すことができる。
ＳＡＭＰ＝ＲＰＬ−ｆｐｓ×ＬＤ・・・（２）

制御回路３７０は、上述した（１）式、（２）式を用いて、ＲＰＬからプレドーズに起因する蛍光分（ＬＤ’）を減算して、ＳＡＭＰを算出する。次に、制御回路３７０は、算出したＳＡＭＰをＲＥＦで除算した値Ｒ２を算出し、所定の係数（定数）を乗算して蛍光ガラス線量計Ｇの放射線被ばく線量を算出する。

内部校正用ガラスを用いて得られた蛍光読取量（プリアンプ３３０から積分回路３５０に入力される電圧信号）は、装置内の温度変動に伴う光電子増倍管の読取感度の変動を補償するために用いられる。具体的には、蛍光ガラス線量計Ｇの蛍光読取量を放射線被ばく線量に換算する際に、内部校正用ガラスの蛍光読取値と定期的に測定する外部校正用ガラスの蛍光読取値との比率等を用いて、放射線被ばく線量が補正される。

［他の実施形態］
上記の各実施形態に係る蛍光ガラス線量計読取装置は、代表的な例示であって、本発明はこれらに限定されるものではない。例えば、蛍光ガラス線量計が載置されるプレートホルダーと内部校正用ガラスが載置されるプレートホルダーとが別体であってもかまわない。また、減光フィルタ２９０は、切り欠き２８０の内部校正用ガラス２７０側の側面に貼り付けられてもよい。

本発明は、減光フィルタを内部校正用ガラスと異なる位置に設けるため、減光フィルタを設ける作業が簡易であり、内部校正用ガラスの測定を長期間にわたって安定して行うことができる。

１００…蛍光ガラス線量計読取装置、２００…光学系、２１０…固体レーザ（光源）、２２０…紫外線透過フィルタ、２３０…リファレンスブロック、２３１…開口板、２３１ａ…開口、２３２…ハーフミラー、２３３…紫外線透過フィルタ、２３４…リファレンスガラス、２３５…紫外線カットフィルタ、２３６…フォトダイオード、２３８…気密部材、２４０…プレートホルダー、２４５…測定窓、２５０…フィルタ系、２５１…ダイアフラム、２５１ａ…開口、２５２…紫外線カットフィルタ、２５３…集光レンズ、２５４…バンドパスフィルタ、２６０…光電子増倍管（検出手段）、２７０…内部校正用ガラス、２８０…切り欠き、２９０…減光フィルタ、３００…制御装置、３１０…駆動回路、３２０，３３０…プリアンプ、３４０…タイミング回路、３５０…積分回路（積算手段）、３６０…コンバータ、３７０…制御回路（感度決定手段、感度設定手段、被ばく線量算出手段）、４００…暗箱、４１０…出入口、Ｇ…蛍光ガラス線量計、Ｌ，Ｌ１，Ｌ２…紫外線。

Claims (5)

1. パルス光を出力する光源と、
   前記パルス光が照射される内部校正用ガラスと、
   前記内部校正用ガラスが載置されるプレートホルダーと
   前記パルス光の照射により内部校正用ガラスが発する蛍光の発光量を検出する光センサとを備える蛍光ガラス線量計読取装置であって、
   前記プレートホルダーは、前記パルス光の光軸上であって前記内部校正用ガラスの光入射面側に切り欠きがあり、該切り欠きに減光フィルタが設けられていることを特徴とする蛍光ガラス線量計読取装置。
2. 前記内部校正用ガラスは、前記プレートホルダーの底面および光源側の側面にて位置決めされていることを特徴とする請求項１に記載の蛍光ガラス線量計読取装置。
3. 前記減光フィルタは、ＰＥＴ（ポリエチレンテレフタレート）フィルムからなることを特徴とする請求項１または請求項２に記載の蛍光ガラス線量計読取装置。
4. 前記プレートホルダーには、前記内部校正用ガラスに隣接して蛍光ガラス線量計が載置されることを特徴とする請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載の蛍光ガラス線量計読取装置。
5. 前記プレートホルダーの切り欠きおよび減光フィルタは、前記内部校正用ガラスの複数の測定ポジションに対応する位置に設けられていることを特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれか１項に記載の蛍光ガラス線量計読取装置。