JP2016110625A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6381144B2 (ja) * 2016-10-06 2018-08-29 ソリッドビジョン株式会社 撮像処理装置
JP6786035B2 (ja) * 2017-03-27 2020-11-18 三菱重工業株式会社 航空機用部品の欠陥検出システム及び航空機用部品の欠陥検出方法
JP7130984B2 (ja) * 2018-03-01 2022-09-06 日本電気株式会社 画像判定システム、モデル更新方法およびモデル更新プログラム
WO2019194064A1 (ja) * 2018-04-02 2019-10-10 日本電産株式会社 画像処理装置、画像処理方法、外観検査システムおよび外観検査方法
JP2018164272A (ja) * 2018-05-28 2018-10-18 ソリッドビジョン株式会社 撮像処理装置

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001156135A (ja) * 1999-11-29 2001-06-08 Hitachi Ltd 欠陥画像の分類方法及びその装置並びにそれを用いた半導体デバイスの製造方法
JP4606779B2 (ja) * 2004-06-07 2011-01-05 グローリー株式会社 画像認識装置、画像認識方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラム
US20060193520A1 (en) * 2005-02-28 2006-08-31 Takeshi Mita Object detection apparatus, learning apparatus, object detection system, object detection method and object detection program
JP2009080557A (ja) * 2007-09-25 2009-04-16 Seiko Epson Corp 識別方法及びプログラム
JP4629118B2 (ja) * 2008-03-03 2011-02-09 株式会社日立ハイテクノロジーズ 欠陥検査装置およびこの欠陥検査装置に用いるパラメータ調整方法。
JP2009282699A (ja) * 2008-05-21 2009-12-03 Seiko Epson Corp 画像における顔の器官の画像に対応する器官領域の検出
JP5414416B2 (ja) * 2008-09-24 2014-02-12 キヤノン株式会社 情報処理装置及び方法
JP4670976B2 (ja) * 2008-10-03 2011-04-13 ソニー株式会社 学習装置および方法、認識装置および方法、プログラム、並びに記録媒体
JP4710979B2 (ja) * 2009-01-09 2011-06-29 ソニー株式会社 対象物検出装置、学習装置、対象物検出方法およびプログラム
EP2678665A4 (en) * 2011-02-24 2017-07-05 3M Innovative Properties Company System for detection of non-uniformities in web-based materials
JP5214762B2 (ja) * 2011-03-25 2013-06-19 株式会社東芝 認識装置、方法及びプログラム
JP2013117861A (ja) * 2011-12-02 2013-06-13 Canon Inc 学習装置、学習方法およびプログラム

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