JP2016057197A - 光断層画像撮影装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 測定光生成部は、光路長の異なる少なくとも2つの測定光を生成し、それらを重畳して被検物に照射し、被検物から反射される反射光を、少なくとも2つの反射光に分岐する。参照光生成部は、光路長の異なる少なくとも2つの参照光を生成する。干渉光検出部は、少なくとも2つの反射光と少なくとも2つの参照光とを、異なる光路長の光同士で合波して、少なくとも2つの干渉光を生成する。干渉光検出部は、少なくとも2つの干渉光を、少なくとも2つの干渉光検出器で別々に検出する。
【選択図】図1
Description
以下、本実施例に係る光断層画像撮影装置について説明する。本実施例の光断層画像撮影装置は、波長掃引型の光源を用いた波長掃引型のフーリエドメイン方式(いわゆる、SS−OCT方式)で、被検物の偏光特性を捉えることが可能な偏光感受型OCT(いわゆる、PS−OCT)の装置である。なお、本明細書に開示の技術は、偏光感受OCTに限定するものではなく、通常のOCT、例えば眼底OCTや前眼部OCTにも適用することも可能である。また、OCTの方式も、SS−OCTに限定するものではなく、フーリエドメイン方式を用いた他の方式、例えば、SD−OCT(スペクトルドメインOCT)や、フーリエドメイン方式以外の方式(例えば、タイムドメイン方式等)に適用することも可能である。
光源11は、波長掃引型の光源であり、出射される光の波長(波数)が所定の周期で変化する。被検物30に照射される光の波長が変化(掃引)するため、被検物30からの反射光と参照光との干渉光から得られる信号をフーリエ解析することで、被検物30の深さ方向の各部位から反射される光の強度分布を得ることができる。
測定光生成部(21〜29,31,32)は、PMカプラ14に接続されたPMカプラ21と、PMカプラ21から分岐する2つの測定光路S1,S2と、2つの測定光路S1,S2を接続する偏光ビームコンバイナ/スプリッタ25と、偏光ビームコンバイナ/スプリッタ25に接続されるコリメータレンズ26、光路延長部306、ガルバノミラー27,28及びレンズ29を備えている。測定光路S1には、光路長差生成部22とサーキュレータ23が配置されている。測定光路S2には、サーキュレータ24のみが配置されている。したがって、測定光路S1と測定光路S2との光路長差Δlは、光路長差生成部22によって生成される。光路長差Δlは、被検物の深さ方向の測定範囲よりも長く設定してもよい。これにより、光路長差の異なる干渉光が重なることが防止できる。光路長差生成部22には、例えば、光ファイバが用いられてもよいし、ミラーやプリズム等の光学系が用いられてもよい。本実施例では、光路長差生成部22に、1mのPMファイバを用いている。また、測定光生成部は、PMカプラ31,32をさらに備えている。PMカプラ31は、サーキュレータ23に接続されている。PMカプラ32は、サーキュレータ24に接続されている。
参照光生成部(41〜46,51)は、PMカプラ14に接続されたサーキュレータ41と、サーキュレータ41に接続された参照遅延ライン(42,43)と、サーキュレータ41に接続されたPMカプラ44と、PMカプラ44から分岐する2つの参照光路R1,R2と、参照光路R1に接続されるPMカプラ46と、参照光路R2に接続されるPMカプラ51を備えている。参照光路R1には、光路長差成部45が配置されている。参照光路R2には、光路長差生成部は設けられていない。したがって、参照光路R1と参照光路R2との光路長差Δl‘は、光路長差生成部45によって生成される。光路長差生成部45には、例えば、光ファイバが用いられる。光路長差生成部45の光路長Δl’は、光路長差生成部22の光路長Δlと同一としてもよい。光路長差ΔlとΔl’を同一にすることで、後述する複数の干渉光の、被検物に対する深さ位置が同一となる。すなわち、取得される複数の断層像の位置合わせが不要となる。
干渉光生成部60,70は、第1干渉光生成部60と、第2干渉光生成部70を備えている。第1干渉光生成部60は、PMカプラ61,62を有している。上述したように、PMカプラ61には、測定光生成部より水平偏光反射光が入力され、参照光生成部より第1分岐参照光(光路長差Δlを有する光)が入力される。ここで、水平偏光反射光には、第1測定光による反射光成分(光路長差Δlを有する光)と、第2測定光による反射光成分(光路長差Δlを有する光)が含まれている。したがって、PMカプラ61では、水平偏光反射光のうち第1測定光による反射光成分(光路長差Δlを有する光)と、第1分岐参照光とが合波されて第1干渉光(水平偏光成分)が生成される。
干渉光検出部80,90は、第1干渉光生成部60で生成された干渉光(第1干渉光及び第2干渉光)を検出する第1干渉光検出部80と、第2干渉光生成部70で生成された干渉光(第3干渉光及び第4干渉光)を検出する第2干渉光検出器90を備えている。
サンプリングトリガー発生器140は、例えば、FBG(Fiber Bragg Grating)144を用いて、サンプリングトリガーを生成してもよい。図3に示すように、FBG144は、光源11から入射される光の特定の波長のみを反射して、サンプリングトリガーを生成する。生成されたサンプリングトリガーは、分配器150に入力される。分配器150は、サンプリングトリガーを、サンプリングトリガー1とサンプリングトリガー2に分配する。サンプリングトリガー1は、信号遅延回路152を介して、演算部202に入力される。サンプリングトリガー2は、そのまま演算部202に入力される。サンプリングトリガー1は、第1干渉光検出部80から演算部202に入力される干渉信号(第1干渉信号と第2干渉信号)のトリガー信号となる。サンプリングトリガー2は、第2干渉光検出部90から演算部202に入力される干渉信号(第3干渉信号と第4干渉信号)のトリガー信号となる。信号遅延回路152は、サンプリングトリガー1がサンプリングトリガー2に対して、光路長差生成部22の光路長差Δlの分だけ時間が遅延するように設計されている。これにより、第1干渉光検出部80から入力される干渉信号のサンプリングを開始する周波数と、第2干渉光検出部90から入力される干渉信号のサンプリングを開始する周波数を同じにすることができる。ここで、サンプリングトリガー1だけを生成してもよい。光路長差Δlが既知であるので、第2干渉光検出部90から入力される干渉をサンプリングする際、サンプリングトリガー1から光路長差Δlの分だけ時間を遅延するようにサンプリングを開始すればよい。
サンプリングクロック発生器は、例えば、マッハツェンダー干渉計で構成されていてもよい。図3に示すように、サンプリングクロック発生器は、マッハツェンダー干渉計を用いて、等周波数のサンプリングクロックを生成する。マッハツェンダー干渉計で生成されたサンプリングクロックは、分配器172に入力される。分配器172は、サンプリングクロックを、サンプリングクロック1とサンプリングクロック2に分配する。サンプリングクロック1は、信号遅延回路174を通って、第1干渉光検出部80に入力される。サンプリングクロック2は、そのまま第2干渉光検出部90に入力される。信号遅延回路174は、光路長差22の光路長差Δlの分だけ時間が遅延するように設計されている。これにより、光路長差生成部22の分だけ遅延している干渉光に対しても、同じタイミングでサンプリングすることができる。これにより、取得する複数の断層画像の位置ずれが防止できる。本実施例では、サンプリングクロックを生成するのに、マッハツェンダー干渉計を用いている。しかしながら、サンプリングクロックを生成するのに、マイケルソン干渉計を用いてもよいし、電気回路を用いてもよい。また、光源に、サンプリングクロック発生器を備えた光源を用いて、サンプリングロックを生成してもよい。
例えば、光断層画像撮影装置の光学系の構成は、図1に示す構成に限られず、種々の構成を採ることができる。例えば、図4に示すような構成としてもよい。図4に示す光断層画像撮影装置では、PMカプラ14からPMカプラ31、32までの構成が実施例1と異なる。
また、光断層画像撮影装置の光学系の構成は、図5に示すような構成としてもよい。図5に示す光断層画像撮影装置では、図1の偏向ビームコンバイナ/スプリッタ25から被検物30までの構成が実施例1と異なる。つまり、偏向ビームコンバイナ/スプリッタ25の代わりに、偏光ビームスプリッタ404を用いた実施例である。
また、上述した実施例1の光断層画像撮影装置の、コリメータレンズ26から被検物30の間に、波長板、例えば、1/4波長板を配置してもよい。このような構成によると、信号処理器83、93に入力される第1〜4干渉信号の強度を均一化できる。これによって、第1〜4干渉信号を最適なSNRで測定することができる。
また、上述した各実施例では、いずれも、偏光感受型OCT(PS−OCT)を例として説明したが、前述のように、本発明に係る構成は、偏光感受型OCTに限定されるものではなく、通常のOCTである眼底OCTや前眼部OCTの構成にも適応可能であることは言うまでもない。そして、上述した各実施例では、光路長差を有する2つの測定光を生成して光断層画像を撮影したが、生成する測定光は2つに限られず、光路長差を有する3以上の測定光を生成してもよい。例えば、3つの異なる光路長を有する測定光を用いる場合、これら測定光に対応する3つの参照光を生成すると共に、各光路長に対応する3つの干渉光生成部及び3つの干渉光検出部を設ければよい。これにより、被検物の同じ位置の複数の断層画像を複数取得することができ、それらを加算処理等の画像処理をすることで、高コントラストで、最適なSNRの断層画像が取得できる。
11・・光源
12・・偏光制御装置
13、162、166・・ファイバカプラ
14、31、32、44、46、51、61、62、71、72・・PMカプラ
21、113・・偏光ビームスプリッタ
22、45、164・・光路長差生成部
23、24、41、112、142・・光サーキュレータ
25・・偏光ビームコンバイナ/スプリッタ
26、42、47、49、52、54、402、406・・コリメータレンズ
27、28・・ガルバノミラー
29、48、50、53、55・・レンズ
30・・被検物
43・・参照ミラー
60、70・・干渉光生成部
80、90・・干渉光検出部
81、82、91、92、168・・バランス型光検出器
83、93・・信号処理器
100・・サンプリングトリガー/クロック発生器
110・・演算装置
111・・偏光ビームコンバイナ
120・・モニタ
140・・サンプリングトリガー発生器
144・・FBG
146・・光検出器
148、170・・コンパレータ
150、172・・分配器
152、174・・信号遅延回路
160・・サンプリングロック発生器
302、304・・PMファイバ
306、308・・光路延長部
404・・偏光ビームスプリッタ
S1、S2・・測定光路
R1、R2・・参照光路
C1、C2・・光路
Claims (10)
- 光源と、
光源の光から測定光を生成すると共に、生成した測定光を被検物に照射して被検物からの反射光を生成する測定光生成部と、
光源の光から参照光を生成する参照光生成部と、
測定光生成部で生成される被検物からの反射光と参照光生成部で生成される参照光とを合波して干渉光を生成する干渉光生成部と、
干渉光生成部で生成された干渉光から干渉信号を検出する干渉光検出部と、
干渉光検出部で検出された干渉信号から被検物の断層像を取得する光断層画像撮影装置において、
測定光生成部は、光路長の異なる少なくとも2つの測定光を生成し、それら少なくとも2つの測定光を重畳して被検物に照射するとともに、被検物から反射される反射光を、少なくとも2つの反射光に分岐し、分岐した少なくとも2つの反射光を干渉光生成部に導き、
参照光生成部は、光路長が異なる少なくとも2つの参照光を生成し、
干渉光生成部は、測定生成部から導かれた少なくとも2つの反射光と参照光生成部で生成された少なくとも2つの参照光とを、異なる光路長の光同士で合波する少なくとも2つの干渉光生成部と、を備えており、
干渉光検出部は、少なくとも2つの干渉光生成部で生成された少なくとも2つの干渉光から少なくとも2つの干渉信号を検出する少なくとも2つの干渉光検出器と、を備えている光断層画像撮影装置。 - 測定光生成部は、光源の光からの測定光を少なくとも2つの光路に分岐する手段を備えており、分岐した少なくとも2つの光路について、互いに異なる光路長を生じさせる光路長差生成部が、分岐した光路の少なくとも1つの光路に設けられている、請求項1に記載の光断層画像撮影装置。
- 参照光生成部は、光源の光からの測定光を少なくとも2つの光路に分岐する手段を備えており、分岐した少なくとも2つの光路について、互いに異なる光路長を生じさせる光路長差生成部が、分岐した光路の少なくとも1つの光路に設けられている、請求項1又は2に記載の光断層画像撮影装置。
- 少なくとも2つの干渉光検出器で検出された少なくとも2つの干渉信号による少なくとも2つの光断層画像から、1つの光断層画像を生成する画像処理部をさらに備えている、請求項1〜3のいずれか一項に記載の光断層画像撮影装置。
- 測定光生成部で分岐した少なくとも2つの異なる光路の光路長差と、参照光生成部で分岐した少なくとも2つの異なる光路の光路長差が、測定光生成部及び参照光生成部で同一である、請求項1〜4のいずれか一項に記載の光断層画像撮影装置。
- 測定光生成部および参照光生成部の少なくとも2つの異なる光路長のそれぞれの光路長差が、被検物の測定する深さ範囲の距離より長い、請求項1〜5のいずれか一項に記載の光断層画像撮影装置。
- 測定光生成部で生成した少なくとも2つの異なる光路長の光路の光は、互いに異なる偏光成分の光である、請求項1〜6のいずれか一項に記載の光断層画像撮影装置。
- 測定光生成部で生成した少なくとも2つの異なる光路長の光路の光は、少なくとも垂直方向と水平方向の偏向を含む、請求項7に記載の光断層画像撮影装置。
- 測定光生成部において、少なくとも2つの異なる光路長の光路の光を、互いに異なる偏光方向の光に分岐する手段又は/及び被検物からの反射光を互いに異なる偏光方向の光に分岐する手段に、偏光ビームコンバイナ/スプリッタを備える、請求項7又は8に記載の光断層画像撮影装置。
- 光断層画像装置の光学系を構成する少なくとも1つの光路は、偏波保持ファイバを備える、請求項1〜9のいずれか一項に記載の光断層画像撮影装置。
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Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101882769B1 (ko) | 2016-08-04 | 2018-08-24 | 광주과학기술원 | 주파수 분할 다중화방식의 광단층 영상장치 |
EP3502612A1 (en) | 2017-12-22 | 2019-06-26 | Tomey Corporation | Optical coherence tomographic device |
JP2020060455A (ja) * | 2018-10-10 | 2020-04-16 | 株式会社吉田製作所 | 光干渉断層画像生成装置 |
JP2020156909A (ja) * | 2019-03-27 | 2020-10-01 | 株式会社トーメーコーポレーション | 光断層画像撮影装置 |
WO2020202547A1 (ja) * | 2019-04-05 | 2020-10-08 | 三菱電機株式会社 | 光距離測定装置 |
EP4195157A1 (en) | 2021-12-08 | 2023-06-14 | Tomey Corporation | Image processing device and ophthalmic device provided with the same |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6685673B2 (ja) * | 2015-05-01 | 2020-04-22 | キヤノン株式会社 | 撮像装置 |
JP6766995B2 (ja) * | 2016-11-09 | 2020-10-14 | 株式会社ミツトヨ | 位相シフト干渉計 |
US11175126B2 (en) * | 2019-04-08 | 2021-11-16 | Canon U.S.A., Inc. | Automated polarization control |
WO2021075046A1 (ja) * | 2019-10-18 | 2021-04-22 | 三菱電機株式会社 | 光距離測定装置、及び加工装置 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010249584A (ja) * | 2009-04-13 | 2010-11-04 | Canon Inc | 光断層画像撮像装置及びその制御方法 |
US20120320338A1 (en) * | 2010-03-12 | 2012-12-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Ophthalmologic imaging apparatus |
JP2013148482A (ja) * | 2012-01-19 | 2013-08-01 | Nidek Co Ltd | 光コヒーレンストモグラフィー装置 |
JP2013160699A (ja) * | 2012-02-08 | 2013-08-19 | Hitachi High-Technologies Corp | 光断層画像測定装置 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006215005A (ja) * | 2005-02-07 | 2006-08-17 | Fujinon Corp | 光断層画像化装置 |
EP1913332B1 (en) * | 2005-08-09 | 2010-10-13 | The General Hospital Corporation | Apparatus and method for performing polarization-based quadrature demodulation in optical coherence tomography |
US7742173B2 (en) * | 2006-04-05 | 2010-06-22 | The General Hospital Corporation | Methods, arrangements and systems for polarization-sensitive optical frequency domain imaging of a sample |
JP4344829B2 (ja) | 2006-05-02 | 2009-10-14 | 国立大学法人 筑波大学 | 偏光感受光画像計測装置 |
JP5541831B2 (ja) * | 2006-12-07 | 2014-07-09 | 株式会社トプコン | 光断層画像化装置およびその作動方法 |
GB0803559D0 (en) * | 2008-02-27 | 2008-04-02 | Univ Kent Canterbury | Multiple path intererometer and method |
US7597565B1 (en) * | 2008-03-11 | 2009-10-06 | Textron Systems Corporation | Continuous sliding electrical contact tape |
JP5627321B2 (ja) * | 2010-07-09 | 2014-11-19 | キヤノン株式会社 | 光断層画像撮像装置及びその撮像方法 |
US8947648B2 (en) * | 2011-03-06 | 2015-02-03 | Ninepoint Medical, Inc. | Systems and methods for signal processing in optical imaging systems |
EP2574273B1 (en) * | 2011-06-23 | 2014-09-24 | Nidek Co., Ltd. | Optical coherence tomography apparatus |
JP5905711B2 (ja) | 2011-11-25 | 2016-04-20 | 株式会社トプコン | 光画像計測装置 |
JP2014206433A (ja) | 2013-04-12 | 2014-10-30 | 株式会社トーメーコーポレーション | 光断層画像撮影装置 |
US9046339B2 (en) * | 2013-09-30 | 2015-06-02 | Carl Zeiss Meditec, Inc. | Systems and methods for bidirectional functional optical coherence tomography |
JP2016002381A (ja) * | 2014-06-18 | 2016-01-12 | キヤノン株式会社 | 撮影装置及びその方法 |
-
2014
- 2014-09-10 JP JP2014184507A patent/JP6463051B2/ja active Active
-
2015
- 2015-09-09 EP EP15184557.5A patent/EP2995245B1/en active Active
- 2015-09-10 US US14/849,860 patent/US9593936B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010249584A (ja) * | 2009-04-13 | 2010-11-04 | Canon Inc | 光断層画像撮像装置及びその制御方法 |
US20120320338A1 (en) * | 2010-03-12 | 2012-12-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Ophthalmologic imaging apparatus |
JP2013148482A (ja) * | 2012-01-19 | 2013-08-01 | Nidek Co Ltd | 光コヒーレンストモグラフィー装置 |
JP2013160699A (ja) * | 2012-02-08 | 2013-08-19 | Hitachi High-Technologies Corp | 光断層画像測定装置 |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101882769B1 (ko) | 2016-08-04 | 2018-08-24 | 광주과학기술원 | 주파수 분할 다중화방식의 광단층 영상장치 |
US11243066B2 (en) | 2017-12-22 | 2022-02-08 | Tomey Corporation | Optical coherence tomographic device comprising dual correction beams of different path lengths |
EP3502612A1 (en) | 2017-12-22 | 2019-06-26 | Tomey Corporation | Optical coherence tomographic device |
JP2019113398A (ja) * | 2017-12-22 | 2019-07-11 | 株式会社トーメーコーポレーション | 光断層画像撮影装置 |
JP7144822B2 (ja) | 2017-12-22 | 2022-09-30 | 株式会社トーメーコーポレーション | 光断層画像撮影装置 |
JP2020060455A (ja) * | 2018-10-10 | 2020-04-16 | 株式会社吉田製作所 | 光干渉断層画像生成装置 |
JP2020156909A (ja) * | 2019-03-27 | 2020-10-01 | 株式会社トーメーコーポレーション | 光断層画像撮影装置 |
JP7332131B2 (ja) | 2019-03-27 | 2023-08-23 | 株式会社トーメーコーポレーション | 光断層画像撮影装置 |
JPWO2020202547A1 (ja) * | 2019-04-05 | 2021-09-30 | 三菱電機株式会社 | 光距離測定装置 |
KR102377583B1 (ko) | 2019-04-05 | 2022-03-22 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 광 거리 측정 장치 |
KR20210119573A (ko) * | 2019-04-05 | 2021-10-05 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 광 거리 측정 장치 |
TWI794526B (zh) * | 2019-04-05 | 2023-03-01 | 日商三菱電機股份有限公司 | 光距離測量裝置 |
WO2020202547A1 (ja) * | 2019-04-05 | 2020-10-08 | 三菱電機株式会社 | 光距離測定装置 |
EP4195157A1 (en) | 2021-12-08 | 2023-06-14 | Tomey Corporation | Image processing device and ophthalmic device provided with the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2995245A1 (en) | 2016-03-16 |
JP6463051B2 (ja) | 2019-01-30 |
US20160069664A1 (en) | 2016-03-10 |
US9593936B2 (en) | 2017-03-14 |
EP2995245B1 (en) | 2016-11-30 |
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