JP2016056280A - Surface-treated inorganic filler, method for producing the inorganic filler, and resin composition containing the inorganic filler - Google Patents

Surface-treated inorganic filler, method for producing the inorganic filler, and resin composition containing the inorganic filler Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a surface-treated inorganic filler capable of forming an insulation layer to be formed with a conductor layer having high peel strength even if roughness is low, and a resin composition comprising the surface-treated inorganic filler.SOLUTION: Provided is a surface-treated inorganic filler applied with plasma treatment after surface treatment with a silazane compound. Also provided is a resin composition comprising the surface-treated inorganic filler, an epoxy resin and a hardening agent.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、表面処理無機充填材、及び該無機充填材を用いた多層プリント配線板等の回路基板の絶縁層(特に層間絶縁層)形成に好適な樹脂組成物及び該樹脂組成物より得られる樹脂シートやプリプレグ等の接着シート、並びに、該樹脂組成物の硬化物により絶縁層が形成された回路基板に関する。   The present invention is obtained from a surface-treated inorganic filler, a resin composition suitable for forming an insulating layer (particularly an interlayer insulating layer) of a circuit board such as a multilayer printed wiring board using the inorganic filler, and the resin composition. The present invention relates to an adhesive sheet such as a resin sheet or a prepreg, and a circuit board on which an insulating layer is formed of a cured product of the resin composition.

近年、電子機器の小型化、高性能化に伴い、回路基板においては、微細配線化や熱膨張率の更なる低下などが求められている。絶縁材料の低熱膨張化を図る手段としては、シリカ等の無機充填材を高充填化する方法が知られている。樹脂組成物中にシリカを高充填化する手段としては各種カップリング剤によりシリカを表面処理する方法が知られている。例えば、特許文献1には、樹脂組成物において、シラザン化合物で表面処理後、シランカップリング剤で表面処理された無機充填材を用いることで、特に接着シートの形態で使用する場合のラミネート性に優れ、熱膨張率が低く、しかも、それを硬化して得られる絶縁層表面の粗度が低くても高いピール強度を有する導体層の形成を可能にする方法が開示されている。   In recent years, with the miniaturization and high performance of electronic devices, circuit boards are required to have fine wiring and further lower the thermal expansion coefficient. As means for reducing the thermal expansion of the insulating material, a method of increasing the filling of an inorganic filler such as silica is known. As means for highly filling silica in a resin composition, a method of surface-treating silica with various coupling agents is known. For example, in Patent Document 1, in a resin composition, by using an inorganic filler surface-treated with a silazane compound and then surface-treated with a silane coupling agent, the laminating property particularly when used in the form of an adhesive sheet is used. There is disclosed a method that enables formation of a conductor layer having a high peel strength even when the surface roughness of the insulating layer obtained by curing it is excellent, even when the surface roughness of the insulating layer is low.

また、特許文献2においては、シリカの表面にプラズマ処理を施すことで、シリカを含有させたときのエポキシ樹脂組成物の粘度の上昇による流動性の低下や、シリカ同士の凝集の問題が解決されるとの提案がなされているが、エポキシ樹脂組成物の硬化物の表面粗度などの硬化物の物性面については言及されていない。   Moreover, in patent document 2, the problem of the fall of the fluidity | liquidity by the raise of the viscosity of the epoxy resin composition when a silica is contained and the aggregation of silica are solved by performing a plasma treatment on the surface of silica. However, the physical properties of the cured product such as the surface roughness of the cured product of the epoxy resin composition are not mentioned.

特開2012−255174号公報JP 2012-255174 A 特開2010−275334号公報JP 2010-275334 A

本発明は、上記のような事情に鑑みてなされたものであり、その解決しようとする課題は、回路基板の絶縁層形成に好適に使用することができ、特にそれを硬化して得られる絶縁層表面の粗度が低くても高いピール強度を有する導体層の形成を可能にする樹脂組成物を得るための、表面処理無機充填材、該無機充填材の製造方法、および該無機充填材を含有する樹脂組成物を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and the problem to be solved can be suitably used for forming an insulating layer of a circuit board, and in particular, insulation obtained by curing it. A surface-treated inorganic filler, a method for producing the inorganic filler, and the inorganic filler for obtaining a resin composition capable of forming a conductor layer having a high peel strength even when the roughness of the layer surface is low. It is in providing the resin composition to contain.

本発明者は、上記の課題を解決すべく鋭意検討した結果、無機充填材をシラザン化合物で表面処理後、さらにプラズマ処理を施した表面処理無機充填材を、エポキシ樹脂および硬化剤とともに含有せしめた樹脂組成物は、それを硬化して得られる絶縁層表面の粗度が低くても高いピール強度を有する導体層の形成を可能にする樹脂組成物となり得ることを見出し、本発明を完成するに至った。すなわち、本発明は以下の内容を含むものである。   As a result of intensive studies to solve the above-mentioned problems, the present inventor has incorporated a surface-treated inorganic filler that has been subjected to a plasma treatment after the surface treatment of the inorganic filler with a silazane compound, together with an epoxy resin and a curing agent. In order to complete the present invention, the present inventors have found that a resin composition can be a resin composition that enables the formation of a conductor layer having a high peel strength even when the roughness of the insulating layer surface obtained by curing the resin composition is low. It came. That is, the present invention includes the following contents.

[1] シラザン化合物で表面処理後、プラズマ処理が施された表面処理無機充填材。
[2] プラズマ処理が、アルゴンプラズマを100W以上の条件下で30秒間以上照射する処理である、上記[1]に記載の表面処理無機充填材。
[3] シラザン化合物が、ヘキサメチルジシラザン、1,3−ジビニル−1,1,3,
3−テトラメチルジシラザン、オクタメチルトリシラザン、ヘキサ(t−ブチル)ジシラザン、ヘキサブチルジシラザン、ヘキサオクチルジシラザン、1,3−ジエチルテトラメチルジシラザン、1,3−ジ−n−オクチルテトラメチルジシラザン、1,3−ジフェニルテトラメチルジシラザン、1,3−ジメチルテトラフェニルジシラザン、1,3−ジエチルテトラメチルジシラザン、1,1,3,3−テトラフェニル−1,3−ジメチルジシラザン、1,3−ジプロピルテトラメチルジシラザン、ヘキサメチルシクロトリシラザン、ヘキサフェニルジシラザン、ジメチルアミノトリメチルシラザン、トリシラザン、シクロトリシラザン、および1,1,3,3,5,5−ヘキサメチルシクロトリシラザンからなる群から選択される1種または2種以上である、上記[1]又は[2]に記載の表面処理無機充填材。
[4] 平均粒子径が0.01〜5μmである、上記[1]〜[3]のいずれか1つに記載の表面処理無機充填材。
[5] 無機充填材がシリカである、上記[1]〜[4]のいずれか1つに記載の表面処理無機充填材。
[6] 無機充填材が球状粒子である、上記[1]〜[5]のいずれか1つに記載の表面処理無機充填材。
[7] 回路基板の絶縁層形成用樹脂組成物に使用される、上記[1]〜[6]のいずれか1つに記載の表面処理無機充填材。
[8] 無機充填材をシラザン化合物で表面処理した後、さらにプラズマ処理を施すことを含む、表面処理無機充填材の製造方法。
[9] (A)上記[1]〜[7]のいずれか1つに記載の表面処理無機充填材、(B)エポキシ樹脂、および(C)硬化剤を含有する樹脂組成物。
[10] 表面処理無機充填材の含有量が、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、50質量%以上である、上記[9]に記載の樹脂組成物。
[11] さらに(D)硬化促進剤を含有する、上記[9]又は[10]に記載の樹脂組成物。
[12] さらに(E)熱可塑性樹脂を含有する、上記[9]〜[11]のいずれか1つに記載の樹脂組成物。
[13] 上記[9]〜[12]のいずれか1つに記載の樹脂組成物の層が支持体上に形成されてなる接着シート。
[14] 上記[9]〜[12]のいずれか1つに記載の樹脂組成物がシート状繊維基材中に含浸されてなるプリプレグ。
[15] 上記[9]〜[12]のいずれか1つに記載の樹脂組成物の硬化物により形成された絶縁層を含む回路基板。
[1] A surface-treated inorganic filler that is subjected to a plasma treatment after a surface treatment with a silazane compound.
[2] The surface-treated inorganic filler according to the above [1], wherein the plasma treatment is a treatment in which argon plasma is irradiated for 30 seconds or more under a condition of 100 W or more.
[3] The silazane compound is hexamethyldisilazane, 1,3-divinyl-1,1,3.
3-tetramethyldisilazane, octamethyltrisilazane, hexa (t-butyl) disilazane, hexabutyldisilazane, hexaoctyldisilazane, 1,3-diethyltetramethyldisilazane, 1,3-di-n-octyltetra Methyldisilazane, 1,3-diphenyltetramethyldisilazane, 1,3-dimethyltetraphenyldisilazane, 1,3-diethyltetramethyldisilazane, 1,1,3,3-tetraphenyl-1,3-dimethyl Disilazane, 1,3-dipropyltetramethyldisilazane, hexamethylcyclotrisilazane, hexaphenyldisilazane, dimethylaminotrimethylsilazane, trisilazane, cyclotrisilazane, and 1,1,3,3,5,5-hexa One selected from the group consisting of methylcyclotrisilazane Is 2 or more, a surface-treated inorganic filler of the above-mentioned [1] or [2].
[4] The surface-treated inorganic filler according to any one of [1] to [3], wherein the average particle diameter is 0.01 to 5 μm.
[5] The surface-treated inorganic filler according to any one of [1] to [4], wherein the inorganic filler is silica.
[6] The surface-treated inorganic filler according to any one of [1] to [5], wherein the inorganic filler is a spherical particle.
[7] The surface-treated inorganic filler according to any one of [1] to [6], which is used for a resin composition for forming an insulating layer of a circuit board.
[8] A method for producing a surface-treated inorganic filler, comprising subjecting the inorganic filler to a surface treatment with a silazane compound and further subjecting the inorganic filler to a plasma treatment.
[9] (A) A resin composition comprising the surface-treated inorganic filler according to any one of [1] to [7], (B) an epoxy resin, and (C) a curing agent.
[10] The resin composition according to [9], wherein the content of the surface-treated inorganic filler is 50% by mass or more when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass.
[11] The resin composition according to [9] or [10], further comprising (D) a curing accelerator.
[12] The resin composition according to any one of [9] to [11], further comprising (E) a thermoplastic resin.
[13] An adhesive sheet in which a layer of the resin composition according to any one of [9] to [12] is formed on a support.
[14] A prepreg obtained by impregnating a sheet-like fiber base material with the resin composition according to any one of [9] to [12].
[15] A circuit board including an insulating layer formed of a cured product of the resin composition according to any one of [9] to [12].

回路基板の絶縁層(特に多層プリント配線板の絶縁層)を、無機充填材を多量に含有するエポキシ樹脂組成物によって形成すると、通常、絶縁層表面に形成される導体層のピール強度は低下する傾向にある。しかし、本発明の表面処理無機充填材を多量に含有させたエポキシ樹脂組成物から得られる絶縁層は、表面粗度が低く抑えられつつ、高いピール強度の導体層を形成できるものとなる。従って、本発明の表面処理無機充填材を含有させた樹脂組成物を使用することで、例えば、熱膨張率、誘電特性、耐熱性、靱性、摺動性、耐摩耗性、寸法安定性等の諸特性が向上しつつ、微細配線の形成に有利な絶縁層(特に層間絶縁層)を実現でき、その結果、微細配線を有する高機能かつ高信頼性の回路基板を形成することが可能になる。   When an insulating layer of a circuit board (particularly an insulating layer of a multilayer printed wiring board) is formed of an epoxy resin composition containing a large amount of an inorganic filler, the peel strength of the conductor layer usually formed on the surface of the insulating layer is lowered. There is a tendency. However, the insulating layer obtained from the epoxy resin composition containing a large amount of the surface-treated inorganic filler of the present invention can form a conductor layer having high peel strength while keeping the surface roughness low. Therefore, by using the resin composition containing the surface-treated inorganic filler of the present invention, for example, thermal expansion coefficient, dielectric properties, heat resistance, toughness, slidability, wear resistance, dimensional stability, etc. While improving various characteristics, it is possible to realize an insulating layer (particularly an interlayer insulating layer) advantageous for forming fine wiring, and as a result, it becomes possible to form a highly functional and reliable circuit board having fine wiring. .

以下、本発明をその好適な実施形態に即して説明する。
[(A)表面処理無機充填材]
本発明の表面処理無機充填材は、シラザン化合物で表面処理後、プラズマ処理が施された無機充填材のことを言う。本発明の表面処理無機充填材は、例えば、多層プリント配線板の絶縁層を形成するための樹脂組成物において、絶縁層の熱膨張率を低下させる、誘電特性を向上させる、耐熱性を向上させる、靱性を向上させる、摺動性を向上させる、耐摩耗性を向上させる、寸法安定性を向上させる、チクソトロピー性を付与する、ダイラタンシー性を付与する等の目的から、樹脂組成物に配合される。
Hereinafter, the present invention will be described with reference to preferred embodiments thereof.
[(A) Surface-treated inorganic filler]
The surface-treated inorganic filler of the present invention refers to an inorganic filler that has been surface-treated with a silazane compound and then subjected to plasma treatment. The surface-treated inorganic filler of the present invention, for example, in a resin composition for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board, reduces the thermal expansion coefficient of the insulating layer, improves dielectric properties, and improves heat resistance. , To improve toughness, improve slidability, improve wear resistance, improve dimensional stability, impart thixotropy, impart dilatancy, etc. .

表面処理がなされる無機充填材としては、例えば、シリカ(球状シリカ、無定形シリカ、溶融シリカ、結晶シリカ、合成シリカ等)、アルミナ、硫酸バリウム、タルク、クレー、雲母粉、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、ホウ酸アルミニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、ジルコン酸バリウム、ジルコン酸カルシウムなどが挙げられる。無機充填材は1種または2種以上を使用でき、中でも、シリカが好ましい。また、表面処理無機充填材は、樹脂組成物中や有機溶剤に樹脂組成物を溶解乃至分散させた樹脂ワニス中での充填性向上、樹脂ワニスの粘度低下による流動性向上、樹脂組成物から形成される絶縁層の表面粗度の増大抑制等の観点から、球状粒子であることが好ましい。なお、表面処理の前後において無機充填材の球形度は実質的に同じである。従って、表面処理がなされる無機充填材は球状粒子であることが好ましい。   Examples of the inorganic filler to be surface-treated include silica (spherical silica, amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, etc.), alumina, barium sulfate, talc, clay, mica powder, aluminum hydroxide, water Magnesium oxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum borate, barium titanate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, barium zirconate, calcium zirconate, etc. Is mentioned. One or more inorganic fillers can be used, and silica is particularly preferable. In addition, the surface-treated inorganic filler is formed from a resin composition, an improved filling property in a resin varnish in which the resin composition is dissolved or dispersed in an organic solvent, a fluidity improvement due to a decrease in the viscosity of the resin varnish, and a resin composition. From the viewpoint of suppressing increase in surface roughness of the insulating layer to be formed, spherical particles are preferable. Note that the sphericity of the inorganic filler is substantially the same before and after the surface treatment. Therefore, the inorganic filler to be surface-treated is preferably spherical particles.

表面処理無機充填材の平均粒子径は特に限定はされないが、5μm以下であるのが好ましく、3μm以下がより好ましく、1μm以下がさらに好ましく、0.7μm以下がとりわけ好ましい。表面処理無機充填材の平均粒子径が5μmを超える場合、樹脂組成物から形成された絶縁層上にメッキにより導体層を形成したときの導体層のピール強度が低下する傾向となる。なお、表面処理無機充填材の平均粒子径が小さすぎると、表面処理無機充填材を含有する樹脂組成物を樹脂ワニスとした場合に、ワニスの粘度が上昇し、取り扱い性が低下する傾向となることから、表面処理無機充填材の平均粒子径は0.01μm以上がであるのが好ましく、0.05μm以上がより好ましく、0.1μm以上がさらに好ましい。また、表面処理無機充填材の平均粒子径が5μm以下であっても粗大な粒子を多く含むと、粗化処理時に粗大な粒子由来の凹凸が生じ、メッキによる導体層形成時にその凹凸にメッキ銅が浸透し、微細化された導体間が短絡化しやすくなる。従って、無機充填材は最大粒子径が10μm以下であるのが好ましい。   The average particle diameter of the surface-treated inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 5 μm or less, more preferably 3 μm or less, further preferably 1 μm or less, and particularly preferably 0.7 μm or less. When the average particle diameter of the surface-treated inorganic filler exceeds 5 μm, the peel strength of the conductor layer tends to decrease when the conductor layer is formed by plating on the insulating layer formed from the resin composition. In addition, when the average particle diameter of the surface-treated inorganic filler is too small, when the resin composition containing the surface-treated inorganic filler is used as a resin varnish, the viscosity of the varnish increases and the handleability tends to decrease. Therefore, the average particle diameter of the surface-treated inorganic filler is preferably 0.01 μm or more, more preferably 0.05 μm or more, and further preferably 0.1 μm or more. Even if the average particle size of the surface-treated inorganic filler is 5 μm or less, if it contains a large amount of coarse particles, irregularities derived from the coarse particles are produced during the roughening treatment, and plated copper is plated on the irregularities when the conductor layer is formed by plating. Permeates, and it becomes easy to short circuit between the miniaturized conductors. Therefore, the inorganic filler preferably has a maximum particle size of 10 μm or less.

表面処理無機充填材の平均粒子径及び最大粒子径はミー(Mie)散乱理論に基づくレー
ザー回折・散乱法により測定することができる。具体的にはレーザー回折式粒度分布測定装置により、無機充填材の粒度分布を体積基準で作成し、そのメディアン径(50%値)を平均粒子径とし、5%値を最大粒子径とすることで測定される。測定サンプルは、無機充填材を超音波により水中に分散させたものを好ましく使用することができる。レーザー回折式粒度分布測定装置としては、(株)堀場製作所製LA−500等を使用することができる。
The average particle size and the maximum particle size of the surface-treated inorganic filler can be measured by a laser diffraction / scattering method based on Mie scattering theory. Specifically, the particle size distribution of the inorganic filler is created on a volume basis with a laser diffraction particle size distribution measuring device, the median diameter (50% value) is the average particle diameter, and the 5% value is the maximum particle diameter. Measured in As the measurement sample, an inorganic filler dispersed in water by ultrasonic waves can be preferably used. As a laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus, LA-500 manufactured by Horiba, Ltd. or the like can be used.

表面処理に使用するシラザン化合物としては、例えば、ヘキサメチルジシラザン、1,3−ジビニル−1,1,3,3−テトラメチルジシラザン、オクタメチルトリシラザン、
ヘキサ(t−ブチル)ジシラザン、ヘキサブチルジシラザン、ヘキサオクチルジシラザン、1,3−ジエチルテトラメチルジシラザン、1,3−ジ−n−オクチルテトラメチルジシラザン、1,3−ジフェニルテトラメチルジシラザン、1,3−ジメチルテトラフェニルジシラザン、1,3−ジエチルテトラメチルジシラザン、1,1,3,3−テトラフェニル−1,3−ジメチルジシラザン、1,3−ジプロピルテトラメチルジシラザン、ヘキサメチルシクロトリシラザン、ヘキサフェニルジシラザン、ジメチルアミノトリメチルシラザン、トリシラザン、シクロトリシラザン、1,1,3,3,5,5−ヘキサメチルシクロトリシラザン等を挙げることができる。シラザン化合物は1種または2種以上を使用でき、中でも、ヘキサメチルジシラザンが好ましい。
Examples of the silazane compound used for the surface treatment include hexamethyldisilazane, 1,3-divinyl-1,1,3,3-tetramethyldisilazane, octamethyltrisilazane,
Hexa (t-butyl) disilazane, hexabutyldisilazane, hexaoctyldisilazane, 1,3-diethyltetramethyldisilazane, 1,3-di-n-octyltetramethyldisilazane, 1,3-diphenyltetramethyldi Silazane, 1,3-dimethyltetraphenyldisilazane, 1,3-diethyltetramethyldisilazane, 1,1,3,3-tetraphenyl-1,3-dimethyldisilazane, 1,3-dipropyltetramethyldi Examples thereof include silazane, hexamethylcyclotrisilazane, hexaphenyldisilazane, dimethylaminotrimethylsilazane, trisilazane, cyclotrisilazane, 1,1,3,3,5,5-hexamethylcyclotrisilazane and the like. The silazane compound can use 1 type (s) or 2 or more types, Especially, hexamethyldisilazane is preferable.

シラザン化合物による無機充填材の表面処理は、例えば、未処理の無機充填材を混合機で常温にて攪拌分散させながら、シラザン化合物を添加噴霧して5〜15分間攪拌することによって行なうことができる。なお、市販品のシラザン化合物で表面処理された無機充填材(シラザン化合物処理付無機充填材)を使用することができる。このような市販品は、そのまま後述のプラズマ処理に供される。なお、シラザン化合物を無機充填材に強固に被着させるために、上記の操作後、混合機から無機充填材を取り出して1日以上放置してもよく、また、シラザン化合物を添加噴霧した後の攪拌操作後に、軽微な加熱処理を行なってもよい。軽微な加熱処理とは、例えば、温度40〜80℃程度で、1〜12時間程度、加熱する処理である。また、シラザン化合物を無機充填材に均一に被着させるために、シラザン化合物の添加噴霧後に、有機溶媒を添加し混合してもよい。混合機としては、公知の混合機を使用することができ、例えば、Vブレンダー、リボンブレンダー及びバブルコーンブレンダー等のブレンダー、ヘンシェルミキサー及びコンクリートミキサー等のミキサー、ボールミル等が挙げられ、ミキサーが好ましく使用される。   The surface treatment of the inorganic filler with the silazane compound can be performed, for example, by adding and spraying the silazane compound and stirring for 5 to 15 minutes while stirring and dispersing the untreated inorganic filler at room temperature with a mixer. . In addition, a commercially available inorganic filler surface-treated with a silazane compound (inorganic filler with silazane compound treatment) can be used. Such a commercially available product is directly subjected to the plasma treatment described later. In order to firmly adhere the silazane compound to the inorganic filler, after the above operation, the inorganic filler may be taken out from the mixer and allowed to stand for more than one day, or after the silazane compound is added and sprayed. A slight heat treatment may be performed after the stirring operation. The light heat treatment is, for example, a heat treatment at a temperature of about 40 to 80 ° C. for about 1 to 12 hours. In order to uniformly deposit the silazane compound on the inorganic filler, an organic solvent may be added and mixed after the addition spray of the silazane compound. As the mixer, known mixers can be used, for example, blenders such as V blenders, ribbon blenders and bubble cone blenders, mixers such as Henschel mixers and concrete mixers, ball mills, etc., and mixers are preferably used. Is done.

シラザン化合物の処理量は無機充填材100質量部当たり0.005〜2質量部が好ましく、0.1〜1質量部がより好ましい。なお、無機充填材の粒子径によっても異なるが、シラザン化合物で表面処理された無機充填材の表面に結合している単位面積当たりのカーボン量は概ね0.02〜0.30mg/mであることが好ましい。単位面積当たりのカーボン量が0.02mg/m以上であれば、シラザン化合物による無機充填材の表面改質が十分に為されていることとなる。また、当該カーボン量の上限値は特に限定されないが、一般的に0.30mg/m以下におさまる。なお、ここでいう「単位面積当たりのカーボン量」は以下の方法で測定される。 The treatment amount of the silazane compound is preferably 0.005 to 2 parts by mass and more preferably 0.1 to 1 part by mass per 100 parts by mass of the inorganic filler. The amount of carbon bonded to the surface of the inorganic filler surface-treated with the silazane compound is approximately 0.02 to 0.30 mg / m 2 , although it varies depending on the particle size of the inorganic filler. It is preferable. If the carbon amount per unit area is 0.02 mg / m 2 or more, the surface modification of the inorganic filler with the silazane compound is sufficiently performed. Further, the upper limit value of the carbon amount is not particularly limited, but generally falls within 0.30 mg / m 2 or less. Here, the “carbon amount per unit area” is measured by the following method.

<単位面積当たりのカーボン量の測定>
シラザン化合物で表面処理された無機充填材5gを試料とし、該試料と24gのIPA(イソプロピルアルコール)とを遠心分離機の遠心管に入れ、撹拌し固形分を懸濁させて、500Wの超音波を5分間照射する。その後、遠心分離により固液分離し、上澄み液を除去し、さらに、24gのIPAを足し、撹拌して固形分を懸濁させて、500Wの超音波を5分間照射する。その後、遠心分離により固液分離し、上澄み液を除去し、さらに、24gのIPAを足し、撹拌して固形分を懸濁させて、500Wの超音波を5分間照射する。固形分をデシケータ内にて室温で96時間乾燥させ、この乾燥試料0.2gを測定用坩堝に正確に量りとり、さらに測定用坩堝に助燃剤(タングステン3.0g,スズ0.3g)を入れる。測定用坩堝をカーボン分析計にセットし、カーボン量を測定する。カーボン分析計には堀場製作所製EMIA−320V等を使用することができる。このようにして測定されたカーボン量を比表面積で割った値を単位面積当たりのカーボン量とする。なお、無機充填材の比表面積は無機充填材0.5gを試料としBET流動法(1点法)により、粉体表面にN分子を一旦吸着させ、脱離したN分子量を検出することで、試料の表面積を算出する。具体的には300℃15分間加熱脱気をしたあと、5分間窒素ガスを流しながら急速冷却(液体窒素使用)を行い、窒素を吸着させる。その後室温に戻しガスを脱離させ、その着脱量から表面積を計算し、得られた表面積をサンプル量で割ることで比表面積を導出する。測定にはMountech製Macsorb HM-2201FS等を使用することができる
<Measurement of carbon amount per unit area>
Using 5 g of an inorganic filler surface-treated with a silazane compound as a sample, put the sample and 24 g of IPA (isopropyl alcohol) in a centrifuge tube, stir the suspension to suspend the solid content, and apply 500 W ultrasonic waves. For 5 minutes. Thereafter, solid-liquid separation is performed by centrifugation, the supernatant is removed, 24 g of IPA is added, and the mixture is stirred to suspend the solid content, and 500 W ultrasonic waves are irradiated for 5 minutes. Thereafter, solid-liquid separation is performed by centrifugation, the supernatant is removed, 24 g of IPA is added, and the mixture is stirred to suspend the solid content, and 500 W ultrasonic waves are irradiated for 5 minutes. The solid content is dried in a desiccator at room temperature for 96 hours, 0.2 g of this dried sample is accurately weighed in a measurement crucible, and a combustion aid (3.0 g of tungsten, 0.3 g of tin) is added to the measurement crucible. . Set the measuring crucible on the carbon analyzer and measure the carbon content. For the carbon analyzer, EMIA-320V manufactured by HORIBA, Ltd. can be used. A value obtained by dividing the carbon amount thus measured by the specific surface area is defined as the carbon amount per unit area. The specific surface area of the inorganic filler by the BET flow method and an inorganic filler 0.5g as Sample (1-point method), the powder surface is temporarily adsorb N 2 molecules, detecting the desorbed N 2 molecular weight Thus, the surface area of the sample is calculated. Specifically, after heating and degassing at 300 ° C. for 15 minutes, rapid cooling (using liquid nitrogen) is performed while flowing nitrogen gas for 5 minutes to adsorb nitrogen. Thereafter, the temperature is returned to room temperature, the gas is desorbed, the surface area is calculated from the attached / detached amount, and the specific surface area is derived by dividing the obtained surface area by the sample amount. For measurement, Macsorb HM-2201FS manufactured by Mountaintech or the like can be used.

本発明では、シラザン化合物で表面処理された無機充填材に、さらにプラズマ処理を施す。プラズマ処理は、シラザン化合物で表面処理された無機充填材の表面にプラズマを照射することができる処理であれば、特に限定されない。例えば、大気圧又は大気圧近傍の圧力下で、対向する電極間で放電させることにより、電極間を流通するガスを順次プラズ
マ状態とし、得られたプラズマをシラザン化合物で表面処理された無機充填材に照射する処理(大気圧プラズマ処理)、或いは、低圧、すなわち、500Pa以下(好ましくは0〜100Pa)の圧力下で、対向する電極間で放電させることにより、電極間を流通するガスを順次プラズマ状態とし、得られたプラズマをシラザン化合物で表面処理された無機充填材に照射する処理(低圧(真空)プラズマ処理)が挙げられる。プラズマ処理によって異物はガスとなるが、この異物由来のガスを除去する観点から、低圧(真空)プラズマ処理が好ましい。プラズマ状態とするガスとしては、Arガス、N2ガス、O2ガス、H2
ガス、Heガスからなる群から選択される一種により構成される単体ガス又は前記群から選択される二種以上により構成される混合ガスが挙げられる。好ましくは、Arガス、Heガス、N2ガスである。
In the present invention, plasma treatment is further applied to the inorganic filler surface-treated with the silazane compound. The plasma treatment is not particularly limited as long as the treatment can irradiate the surface of the inorganic filler surface-treated with the silazane compound. For example, an inorganic filler in which the gas flowing between the electrodes is sequentially brought into a plasma state by discharging between the opposing electrodes under atmospheric pressure or near atmospheric pressure, and the resulting plasma is surface-treated with a silazane compound. The gas flowing between the electrodes is sequentially plasma by discharging between the opposing electrodes at a low pressure, that is, at a pressure of 500 Pa or less (preferably 0 to 100 Pa). And a treatment (low-pressure (vacuum) plasma treatment) in which the obtained plasma is irradiated onto the inorganic filler surface-treated with the silazane compound. The foreign matter becomes a gas by the plasma treatment, but low pressure (vacuum) plasma treatment is preferable from the viewpoint of removing the gas derived from the foreign matter. As the gas to be in a plasma state, Ar gas, N 2 gas, O 2 gas, H 2
Examples thereof include a single gas composed of one kind selected from the group consisting of gas and He gas, or a mixed gas composed of two or more kinds selected from the above group. Ar gas, He gas, and N 2 gas are preferable.

大気圧プラズマ処理においては、プラズマを発生させる際の電極間を放電する電流は、十分な量のプラズマを発生させる観点から、500W以上であることが好ましく、1,000W以上がより好ましい。また、上限は特に制限されないが、一般的には10,000W以下が好ましい。また、処理温度としては、十分な反応性を持ち、なお且つ、過熱による無機充填剤の凝集を防ぐ観点から、0〜40℃が好ましく、15〜30℃がより好ましい。また、処理時間としては、5秒間以上が好ましく、10秒間以上がより好ましく、30秒間以上がさらに好ましい。なお、処理時間の上限は特に制限されないが、一般的には300秒以下が好ましい。   In the atmospheric pressure plasma treatment, the current discharged between the electrodes when generating plasma is preferably 500 W or more, more preferably 1,000 W or more, from the viewpoint of generating a sufficient amount of plasma. The upper limit is not particularly limited, but generally 10,000 W or less is preferable. The treatment temperature is preferably 0 to 40 ° C., more preferably 15 to 30 ° C. from the viewpoint of having sufficient reactivity and preventing aggregation of the inorganic filler due to overheating. Further, the treatment time is preferably 5 seconds or more, more preferably 10 seconds or more, and further preferably 30 seconds or more. The upper limit of the processing time is not particularly limited, but generally 300 seconds or less is preferable.

低圧(真空)プラズマ処理においては、プラズマを発生させる際の電極間を放電する電流は、十分な量のプラズマを発生させる観点から、50W以上であることが好ましく、100W以上がより好ましい。また、上限は特に制限されないが、一般的には1,000W以下が好ましい。また、処理温度としては、十分な反応性を持ち、なお且つ、過熱による無機充填剤の凝集を防ぐ観点から、0〜40℃が好ましく、15〜30℃がより好ましい。また、処理時間としては、30秒間以上が好ましく、45秒間以上がより好ましく、60秒間以上がさらに好ましい。なお、処理時間の上限は特に制限されないが、一般的には600秒以下が好ましい。   In the low-pressure (vacuum) plasma treatment, the current discharged between the electrodes when generating plasma is preferably 50 W or more, more preferably 100 W or more, from the viewpoint of generating a sufficient amount of plasma. The upper limit is not particularly limited, but generally 1,000 W or less is preferable. The treatment temperature is preferably 0 to 40 ° C., more preferably 15 to 30 ° C. from the viewpoint of having sufficient reactivity and preventing aggregation of the inorganic filler due to overheating. Moreover, as processing time, 30 seconds or more are preferable, 45 seconds or more are more preferable, and 60 seconds or more are further more preferable. The upper limit of the processing time is not particularly limited, but generally 600 seconds or less is preferable.

なお、プラズマ処理時に発生する不純物を取り除くことができることから、低圧(真空)プラズマ処理が好ましい。すなわち、無機充填剤に有機化合物の不純物が付着している場合、その不純物はプラズマ処理によって反応気化するが、低圧(真空)プラズマ処理では気化した不純物は真空ポンプに吸い込まれて(トラップを設けている場合にはトラップされて)、除去される。従って、低圧(真空)プラズマ処理で処理された無機充填材は、不純物の影響が低減されるので、以下に説明する本発明の樹脂組成物およびその硬化物の物性安定化の点で有利である。   Note that low-pressure (vacuum) plasma treatment is preferable because impurities generated during the plasma treatment can be removed. That is, when impurities of organic compounds are attached to the inorganic filler, the impurities are vaporized by plasma treatment, but in low pressure (vacuum) plasma treatment, the vaporized impurities are sucked into a vacuum pump (with a trap provided). If it is trapped), it is removed. Therefore, the inorganic filler treated by the low-pressure (vacuum) plasma treatment is advantageous in terms of stabilizing the physical properties of the resin composition of the present invention and the cured product thereof described below because the influence of impurities is reduced. .

[樹脂組成物]
本発明は、かかる「(A)シラザン化合物で表面処理後、プラズマ処理が施された表面処理無機充填材(以下、「本発明の表面処理無機充填材」とも略称する)」を含む樹脂組成物(以下、「本発明の樹脂組成物」とも略称する。)も提供する。
樹脂組成物中の本発明の表面処理無機充填材の含有量は、樹脂組成物の不揮発成分を100質量%とした場合、20質量%以上が好ましく、30質量%以上がより好ましく、40質量%以上が更に好ましく、50質量%以上が更に一層好ましく、60質量%以上が特に好ましい。回路基板の絶縁層において、一般的には、無機充填材を50質量%以上含有するような樹脂組成物にて絶縁層を形成すると、そのような絶縁層表面に形成される導体層のピール強度は低下し易くなるが、本発明の表面処理無機充填材を多量に含有させた樹脂組成物にて絶縁層を形成した場合は、粗化処理された絶縁層表面は表面粗さ(Ra)が小さくても高ピール強度の導体層が形成されるものとなる。シラザン化合物による表面処理のみが施された表面処理無機充填材やプラズマ処理による表面処理のみが施された表面処理無機充填材を樹脂組成物中に含有させても、このような効果は発現しない。また、樹脂組成物中の本発明の表面処理無機充填材の含有量の上限は特に限定されないが、樹脂組成物の不揮発成分を100質量%とした場合、85質量%以下が好ましく、80質量%以下がより好ましく、75質量%以下が更に好ましい。かかる好ましい範囲内であれば、特に接着シートの取扱い性向上に有利に作用する。
[Resin composition]
The present invention provides a resin composition comprising such “(A) a surface-treated inorganic filler that has been subjected to a plasma treatment after a surface treatment with a silazane compound” (hereinafter also abbreviated as “the surface-treated inorganic filler of the present invention”). (Hereinafter also abbreviated as “resin composition of the present invention”).
The content of the surface-treated inorganic filler of the present invention in the resin composition is preferably 20% by mass or more, more preferably 30% by mass or more, and more preferably 40% by mass when the nonvolatile component of the resin composition is 100% by mass. The above is more preferable, 50% by mass or more is still more preferable, and 60% by mass or more is particularly preferable. In general, when an insulating layer is formed of a resin composition containing 50% by mass or more of an inorganic filler in an insulating layer of a circuit board, the peel strength of the conductor layer formed on the surface of the insulating layer However, when the insulating layer is formed with a resin composition containing a large amount of the surface-treated inorganic filler of the present invention, the surface of the roughened insulating layer has a surface roughness (Ra). Even if it is small, a high peel strength conductor layer is formed. Even if the surface-treated inorganic filler subjected only to the surface treatment with the silazane compound or the surface-treated inorganic filler subjected only to the surface treatment by the plasma treatment is contained in the resin composition, such an effect is not exhibited. Further, the upper limit of the content of the surface-treated inorganic filler of the present invention in the resin composition is not particularly limited, but when the nonvolatile component of the resin composition is 100% by mass, 85% by mass or less is preferable, and 80% by mass. The following is more preferable, and 75 mass% or less is still more preferable. If it is within such a preferable range, it is advantageous for improving the handleability of the adhesive sheet.

本発明の樹脂組成物は、その硬化物が、十分な硬度と絶縁性を有し、例えば、回路基板の絶縁層(特に多層プリント配線板の絶縁層)に使用できるものであれば特に限定はされないが、エポキシ樹脂を含有する組成物が好ましい。すなわち、本発明の樹脂組成物は、(A)シラザン化合物で表面処理後、プラズマ処理が施された表面処理無機充填材、(B)エポキシ樹脂、および(C)硬化剤を含有する樹脂組成物が好ましい。   The resin composition of the present invention is not particularly limited as long as the cured product has sufficient hardness and insulation, and can be used for, for example, an insulating layer of a circuit board (especially an insulating layer of a multilayer printed wiring board). Although not, a composition containing an epoxy resin is preferred. That is, the resin composition of the present invention comprises (A) a surface-treated inorganic filler that has been surface-treated with a silazane compound and then subjected to plasma treatment, (B) an epoxy resin, and (C) a resin composition containing a curing agent. Is preferred.

[(B)エポキシ樹脂]
エポキシ樹脂は、特に限定されないが、多官能エポキシ樹脂が好ましい。ここで、多官能エポキシ樹脂とは、1分子中の平均のエポキシ基数が2以上であるエポキシ樹脂のことを指す。
[(B) Epoxy resin]
The epoxy resin is not particularly limited, but a polyfunctional epoxy resin is preferable. Here, the polyfunctional epoxy resin refers to an epoxy resin having an average number of epoxy groups in one molecule of 2 or more.

具体的には、例えば、ビスフェノール型エポキシ樹脂(ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂等)、ビフェニル型エポキシ樹脂、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、ビキシレノール型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、リン含有エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、脂肪族鎖状エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂、ビスフェノールのジグリシジルエーテル化物、ナフタレンジオールのジグリシジルエーテル化物、フェノール類のグリシジルエーテル化物、及びアルコール類のジグリシジルエーテル化物、並びに、これらのエポキシ樹脂のアルキル置換体、ハロゲン化物及び水素添加物等が挙げられる。かかるエポキシ樹脂は1種または2種以上を使用できる。   Specifically, for example, bisphenol type epoxy resin (bisphenol A type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, etc.), biphenyl type epoxy resin, biphenyl aralkyl type epoxy resin, bixylenol type epoxy resin, naphthol Type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, phosphorus-containing epoxy resin, alicyclic epoxy resin, aliphatic chain epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, bisphenol A novolak type epoxy resin, butadiene structure Epoxy resin, bisphenol diglycidyl ether, naphthalenediol diglycidyl ether, phenol glycidyl ether, and alcohol diglycidyl Ether compound, as well as, alkyl-substituted derivatives of these epoxy resins, halides and hydrogenated products or the like. One or more of these epoxy resins can be used.

エポキシ樹脂は、これらの中でも、絶縁信頼性、導体層との密着性、耐薬品性等の観点から、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビスフェノール型エポキシ樹脂、ビキシレノール型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂が好ましく、特に好ましくは、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビスフェノール型エポキシ樹脂、ビキシレノール型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂である。また、エポキシ樹脂は、液状であっても、固形状であってもよいが、溶融性、フィルム形成性、物性等のバランスの観点から、液状エポキシ樹脂と固形状エポキシ樹脂を併用する態様が好ましい。なお、ここでの「液状」及び「固形状」とは、常温(25℃)でのエポキシ樹脂の状態をいう。   Among these, epoxy resins are naphthalene type epoxy resin, bisphenol type epoxy resin, bixylenol type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, naphthol type from the viewpoint of insulation reliability, adhesion to conductor layer, chemical resistance, etc. Epoxy resins are preferable, and naphthalene type epoxy resins, bisphenol type epoxy resins, bixylenol type epoxy resins, and biphenyl type epoxy resins are particularly preferable. The epoxy resin may be liquid or solid, but from the viewpoint of balance of meltability, film formability, physical properties, etc., an embodiment in which the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin are used in combination is preferable. . Here, “liquid” and “solid” refer to the state of the epoxy resin at room temperature (25 ° C.).

固形状エポキシ樹脂としては、ガラス転移温度の高さ、熱膨張率の低さといった観点から、芳香族系エポキシ樹脂が好ましく、より好ましくは、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビキシレノール型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂等である。固形状エポキシ樹脂は1種または2種以上を使用できる。   The solid epoxy resin is preferably an aromatic epoxy resin from the viewpoint of high glass transition temperature and low coefficient of thermal expansion, more preferably naphthalene type epoxy resin, bixylenol type epoxy resin, biphenyl type epoxy. Resin or the like. One or more solid epoxy resins can be used.

液状エポキシ樹脂としては、好ましくは、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、又はナフタレン型エポキシ樹脂などが挙げられる。液状エポキシ樹脂は1種または2種以上を使用できる。   The liquid epoxy resin is preferably a bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol F type epoxy resin, a phenol novolac type epoxy resin, or a naphthalene type epoxy resin. 1 type (s) or 2 or more types can be used for a liquid epoxy resin.

液状エポキシ樹脂と固形状エポキシ樹脂を併用する場合、液状エポキシ樹脂と固形状エポキシ樹脂の使用量比(液状エポキシ樹脂:固形状エポキシ樹脂)は不揮発分の質量比で5〜60:95〜40が好ましく、10〜50:90〜50がより好ましい。かかる範囲を外れて液状エポキシ樹脂の割合が少なすぎると、本発明の組成物により接着シートを形
成したときの、該接着シートの可撓性や溶融流動性が低下する傾向にあり、液状エポキシ樹脂の割合が多すぎると、該接着シートのガラス転移温度の低下や、熱膨張率の増大を招く傾向にある。
When the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin are used in combination, the usage ratio of the liquid epoxy resin and the solid epoxy resin (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is 5-60: 95-40 in terms of mass ratio of nonvolatile content. 10-50: 90-50 are more preferable. If the ratio of the liquid epoxy resin is too small outside this range, the flexibility and melt fluidity of the adhesive sheet tend to decrease when the adhesive sheet is formed from the composition of the present invention. If the ratio is too large, the glass transition temperature of the adhesive sheet tends to decrease and the thermal expansion coefficient tends to increase.

エポキシ樹脂の好適な具体例は、液状エポキシ樹脂としては、例えば、液状ビスフェノールA型・F型エポキシ樹脂(新日鉄住金化学(株)製「ZX1059」(エポキシ当量:165))、液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱化学(株)製「jER828EL」(エポキシ当量:189))、液状ビスフェノールF型エポキシ樹脂(三菱化学(株)製「jER806」(エポキシ当量:165))、フェノールノボラック型エポキシ樹脂(三菱化学(株)製「jER152」(エポキシ当量:175))、ナフタレン型2官能エポキシ樹脂(DIC(株)製「HP4032SS」、「HP4032D](エポキシ当量:144))、液状2官能エポキシ樹脂(新日鉄住金化学(株)製「ZX1658」(エポキシ当量:135))等を挙げることができる。   Preferred specific examples of the epoxy resin include, for example, liquid bisphenol A / F type epoxy resin (“ZX1059” (epoxy equivalent: 165) manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.), liquid bisphenol A type epoxy. Resin ("jER828EL" (epoxy equivalent: 189) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), liquid bisphenol F type epoxy resin ("jER806" (epoxy equivalent: 165) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), phenol novolac type epoxy resin (Mitsubishi) “JER152” (epoxy equivalent: 175) manufactured by Kagaku Co., Ltd., naphthalene type bifunctional epoxy resin (“HP4032SS”, “HP4032D” (epoxy equivalent: 144) manufactured by DIC Corporation), liquid bifunctional epoxy resin (Nippon Steel) “ZX1658” (epoxy equivalent: 135) manufactured by Sumikin Chemical Co., Ltd.) Can be mentioned.

また、固形状エポキシ樹脂としては、ビキシレノール型エポキシ樹脂(三菱化学(株)製「YX4000HK」(エポキシ当量190))、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂(DIC(株)製「HP4700」(エポキシ当量:162))、ナフトール型エポキシ樹脂(新日鉄住金化学(株)製「ESN−475V」(エポキシ当量:332))、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂(ダイセル化学工業(株)製「PB−3600」)、ビフェニル型エポキシ樹脂(日本化薬(株)製「NC3000H」、「NC3000L」(エポキシ当量:269)、三菱化学(株)製「YX4000」(エポキシ当量:192))などが挙げられる。   Also, as the solid epoxy resin, bixylenol type epoxy resin (“YX4000HK” (epoxy equivalent 190) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), naphthalene type tetrafunctional epoxy resin (“HP4700” manufactured by DIC Corporation (epoxy equivalent: 162)), naphthol type epoxy resin (“ESN-475V” (epoxy equivalent: 332) manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.), epoxy resin having a butadiene structure (“PB-3600” manufactured by Daicel Chemical Industries, Ltd.), Biphenyl type epoxy resins (“NC3000H”, “NC3000L” (epoxy equivalent: 269) manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., “YX4000” (epoxy equivalent: 192) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), and the like are included.

樹脂組成物中のエポキシ樹脂の含有量は、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、5質量%〜40質量%が好ましく、10質量%〜30質量%がより好ましい。この範囲とすることで、絶縁層と導体層とのピール強度が良好となりやすい。   The content of the epoxy resin in the resin composition is preferably 5% by mass to 40% by mass and more preferably 10% by mass to 30% by mass when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. By setting it as this range, the peel strength between the insulating layer and the conductor layer tends to be good.

本発明において、エポキシ樹脂は、反応性の観点から、エポキシ当量が50〜3000の範囲のものが好ましく、エポキシ当量が80〜2000のものがより好ましく、エポキシ当量が110〜1000のものがさらに好ましい。ここでエポキシ当量とは、1当量の
エポキシ基を含む樹脂の質量(g)であり、JIS K 7236に規定された方法に従って測定されるものである。
In the present invention, the epoxy resin preferably has an epoxy equivalent in the range of 50 to 3000, more preferably an epoxy equivalent of 80 to 2000, and still more preferably an epoxy equivalent of 110 to 1000, from the viewpoint of reactivity. . Here, the epoxy equivalent is the mass (g) of the resin containing 1 equivalent of an epoxy group, and is measured according to the method defined in JIS K 7236.

エポキシ樹脂の重量平均分子量は、好ましくは100〜5000であり、より好ましくは250〜3000であり、さらに好ましくは400〜2000である。ここでいう「重量平均分子量」は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法(ポリスチレンン換算)で測定される。GPC法による重量平均分子量は、具体的には、測定装置として(株)島津製作所製LC−9A/RID−6Aを、カラムとして昭和電工(株)製Shodex K−800P/K−804L/K−804Lを、移動相としてクロロホルム等を用いて、カラム温度40℃にて測定し、標準ポリスチレンの検量線を用いて算出することができる。   The weight average molecular weight of an epoxy resin becomes like this. Preferably it is 100-5000, More preferably, it is 250-3000, More preferably, it is 400-2000. The “weight average molecular weight” here is measured by gel permeation chromatography (GPC) method (polystyrene conversion). Specifically, the weight average molecular weight by the GPC method is LC-9A / RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device, and Shodex K-800P / K-804L / K- manufactured by Showa Denko KK as a column. 804 L can be measured at a column temperature of 40 ° C. using chloroform or the like as a mobile phase, and can be calculated using a standard polystyrene calibration curve.

[(C)硬化剤]
硬化剤は、エポキシ樹脂を硬化する機能を有するものであれば特に限定されないが、好ましいものとしては、例えば、フェノール系硬化剤、ナフトール系硬化剤、活性エステル系硬化剤、ベンゾオキサジン系硬化剤、シアネートエステル樹脂等が挙げられる。硬化剤は1種または2種以上を使用できる。
[(C) Curing agent]
The curing agent is not particularly limited as long as it has a function of curing the epoxy resin. Preferred examples thereof include phenol-based curing agents, naphthol-based curing agents, active ester-based curing agents, benzoxazine-based curing agents, Examples include cyanate ester resins. One or more curing agents can be used.

フェノール系硬化剤としては、耐熱性、耐水性の観点から、フェノールノボラック系硬化剤が好ましく、トリアジン骨格含有フェノールノボラック系硬化剤がより好ましい。市販品としては、フェノールノボラック系硬化剤としてTD2090(DIC(株)製)等
が挙げられ、ビフェニル骨格含有フェノールノボラック系硬化剤としてMEH−7700、MEH−7810、MEH−7851(明和化成(株)製)等が挙げられ、トリアジン骨格含有フェノールノボラック系硬化剤としてLA−1356、LA7052、LA7054、EXB3012,LA3018、EXB3021,HPC−9500(DIC(株)製)等が挙げられる。
As a phenol type hardening | curing agent, a phenol novolak type hardening | curing agent is preferable from a heat resistant and water-resistant viewpoint, and a triazine skeleton containing phenol novolak type hardening | curing agent is more preferable. Examples of commercially available products include TD2090 (manufactured by DIC Corporation) as a phenol novolac-based curing agent, and MEH-7700, MEH-7810, and MEH-7851 (Maywa Kasei Co., Ltd.) as biphenyl skeleton-containing phenol novolac-based curing agents. Examples of the triazine skeleton-containing phenol novolak curing agent include LA-1356, LA7052, LA7054, EXB3012, LA3018, EXB3021, HPC-9500 (manufactured by DIC Corporation), and the like.

ナフトール系硬化剤としては、耐熱性、耐水性の観点から、ナフトールノボラック系硬化剤が好ましい。市販品としては、SN485、SN495、SN375、SN395、SN170、SN180、SN190(新日鉄住金化学(株)製)等が挙げられる。   As a naphthol type hardening | curing agent, a naphthol novolak type hardening | curing agent is preferable from a heat resistant and water-resistant viewpoint. Examples of commercially available products include SN485, SN495, SN375, SN395, SN170, SN180, SN190 (manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.).

活性エステル系硬化剤としては、EXB−9460、HPC−8000(DIC(株)製)、DC808、YLH1030(三菱化学(株)製)等が挙げられる。ベンゾオキサジン系硬化剤としては、HFB2006M(昭和高分子(株)製)、P−d、F−a(四国化成工業(株)製)などが挙げられる。シアネートエステル樹脂の具体例としては、例えば、ビスフェノールAジシアネート、ポリフェノールシアネート(オリゴ(3−メチレン−1,5−フェニレンシアネート))、4,4’−メチレンビス(2,6−ジメチルフェニルシアネート)、4,4’−エチリデンジフェニルジシアネート、ヘキサフルオロビスフェノールAジシアネート、2,2−ビス(4−シアネート)フェニルプロパン、1,1−ビス(4−シアネートフェニルメタン)、ビス(4−シアネート−3,5−ジメチルフェニル)メタン、1,3−ビス(4−シアネートフェニル−1−(メチルエチリデン))ベンゼン、ビス(4−シアネートフェニル)チオエーテル、ビス(4−シアネートフェニル)エーテル等の2官能シアネート樹脂、フェノールノボラック、クレゾールノボラック等から誘導される多官能シアネート樹脂、これらシアネート樹脂が一部トリアジン化したプレポリマーなどが挙げられる。市販されているシアネートエステル樹脂としては、フェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂(ロンザジャパン(株)製「PT30」、シアネート当量124)やビスフェノールAジシアネートの一部または全部がトリアジン化され三量体となったプレポリマー(ロンザジャパン(株)製「BA230」、シアネート当量232)等が挙げられる。   Examples of the active ester curing agent include EXB-9460, HPC-8000 (manufactured by DIC Corporation), DC808, YLH1030 (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), and the like. Examples of the benzoxazine-based curing agent include HFB2006M (manufactured by Showa Polymer Co., Ltd.), Pd, Fa (manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.), and the like. Specific examples of the cyanate ester resin include, for example, bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate (oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate)), 4,4′-methylenebis (2,6-dimethylphenyl cyanate), 4 , 4′-ethylidenediphenyl dicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1-bis (4-cyanatephenylmethane), bis (4-cyanate-3,5 A bifunctional cyanate resin such as dimethylphenyl) methane, 1,3-bis (4-cyanatephenyl-1- (methylethylidene)) benzene, bis (4-cyanatephenyl) thioether, bis (4-cyanatephenyl) ether, Phenol novolac, black Polyfunctional cyanate resin derived from tetrazole novolac, these cyanate resins and partially triazine of prepolymer. Commercially available cyanate ester resins include phenol novolac type polyfunctional cyanate ester resins (“Lonza Japan Co., Ltd.“ PT30 ”, cyanate equivalent 124) and some or all of bisphenol A dicyanate are triazines and trimers The prepolymer ("BA230" manufactured by Lonza Japan Co., Ltd., cyanate equivalent 232), and the like.

本発明の樹脂組成物においては、十分な硬化を行う上で、前記の「エポキシ樹脂」と当該「硬化剤」の合計含有量が、樹脂組成物中の不揮発分100質量%に対して15〜50質量%であるのが好ましい。またさらに、これら両者を、樹脂組成物中に存在するエポキシ樹脂のエポキシ基の合計数と硬化剤の反応基の合計数の比(エポキシ基の合計数:硬化剤の反応基の合計数)が1:0.4〜2.0、さらには1:0.5〜1.5となる量で使用するのが好ましい。なお、樹脂組成物中に存在するエポキシ樹脂のエポキシ基の合計数とは、各エポキシ樹脂の固形分質量をエポキシ当量で除した値をすべてのエポキシ樹脂について合計した値であり、硬化剤の反応基(活性水酸基、活性エステル基等)の合計数とは、各硬化剤の固形分質量を反応基当量で除した値をすべての硬化剤について合計した値である。   In the resin composition of the present invention, when sufficient curing is performed, the total content of the “epoxy resin” and the “curing agent” is 15 to 15% by mass with respect to 100% by mass of the nonvolatile content in the resin composition. It is preferably 50% by mass. Furthermore, the ratio of the total number of epoxy groups in the epoxy resin and the total number of reactive groups in the curing agent (the total number of epoxy groups: the total number of reactive groups in the curing agent) is determined by combining both of these. It is preferably used in an amount of 1: 0.4 to 2.0, more preferably 1: 0.5 to 1.5. The total number of epoxy groups in the epoxy resin present in the resin composition is a value obtained by dividing the solid mass of each epoxy resin by the epoxy equivalent for all epoxy resins, and the reaction of the curing agent. The total number of groups (active hydroxyl group, active ester group, etc.) is a value obtained by totaling the values obtained by dividing the solid content mass of each curing agent by the reactive group equivalent for all curing agents.

また、硬化剤の含有量は、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、1質量%〜20質量%の範囲が好ましく、3質量%〜15質量%がより好ましい。この範囲とすることで、絶縁層と導体層とのピール強度が向上しやすい。   The content of the curing agent is preferably 1% by mass to 20% by mass and more preferably 3% by mass to 15% by mass when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. By setting it as this range, the peel strength between the insulating layer and the conductor layer is easily improved.

[(D)硬化促進剤]
本発明の樹脂組成物には、(C)硬化剤に加え、(D)硬化促進剤をさらに配合することができる。硬化促進剤としては、例えば、有機ホスフィン化合物、有機ホスホニウム塩化合物、イミダゾール化合物、アミンアダクト化合物、3級アミン化合物などが挙げられる。有機ホスフィン化合物及び有機ホスホニウム塩化合物の具体例としては、TPP、TPP−K、TPP−S、TPTP−S、TBP−DA、TPP−SCN、TPTP−SCN(北興化学工業(株)商品名)などが挙げられる。イミダゾール化合物の具体例として
は、キュアゾール2MZ、2E4MZ、C11Z、C11Z-CN、C11Z-CNS、C11Z-A、2MZ-OK、2MA-OK、2PHZ(四国化成工業(株)商品名)などが
挙げられる。アミンアダクト化合物の具体例としては、ノバキュア(旭化成工業(株)商品名)、フジキュア(富士化成工業(株)商品名)などが挙げられる。3級アミン化合物の具体例としては、DBU(1,8−diazabicyclo[5,4,0]undec−7−ene)などが挙げられる。硬化促進剤は2種以上を混合して用いてもよい。本発明の樹脂組成物において、硬化促進剤の含有量は、樹脂組成物中に含まれるエポキシ樹脂と硬化剤の総量(不揮発分)100質量%に対し、通常、0.1〜5質量%の範囲で使用される。
[(D) Curing accelerator]
In addition to (C) curing agent, (D) curing accelerator can be further blended in the resin composition of the present invention. Examples of the curing accelerator include organic phosphine compounds, organic phosphonium salt compounds, imidazole compounds, amine adduct compounds, and tertiary amine compounds. Specific examples of organic phosphine compounds and organic phosphonium salt compounds include TPP, TPP-K, TPP-S, TPTP-S, TBP-DA, TPP-SCN, TPTP-SCN (trade name of Hokuko Chemical Co., Ltd.), etc. Is mentioned. Specific examples of the imidazole compound include Curazole 2MZ, 2E4MZ, C11Z, C11Z-CN, C11Z-CNS, C11Z-A, 2MZ-OK, 2MA-OK, 2PHZ (trade names of Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.). . Specific examples of the amine adduct compound include Novacure (trade name of Asahi Kasei Kogyo Co., Ltd.) and Fuji Cure (trade name of Fuji Kasei Kogyo Co., Ltd.). Specific examples of the tertiary amine compound include DBU (1,8-diazabiccyclo [5,4,0] undec-7-ene). Two or more curing accelerators may be mixed and used. In the resin composition of the present invention, the content of the curing accelerator is usually 0.1 to 5% by mass relative to 100% by mass of the total amount (nonvolatile content) of the epoxy resin and the curing agent contained in the resin composition. Used in range.

なお、硬化剤としてシアネートエステル樹脂を使用する場合は、硬化時間を短縮する目的で、従来からエポキシ樹脂とシアネート化合物とを併用した系で硬化触媒として用いられている有機金属化合物を添加してもよい。有機金属化合物としては、銅(II)アセチルアセトナート等の有機銅化合物、亜鉛(II)アセチルアセトナート等の有機亜鉛化合物、コバルト(II)アセチルアセトナート、コバルト(III)アセチルアセトナート等の有機コバルト化合物などが挙げられる。有機金属化合物の添加量は、シアネートエステル樹脂に対し、金属換算で通常10〜500ppm、好ましくは25〜200ppmの範囲である。有機金属化合物は2種以上を混合して用いてもよい。また、かかるシアネートエステル樹脂と有機金属化合物を使用する系では、有機金属化合物と上記任意の硬化促進剤1種以上と併用してもよい。   In addition, when using a cyanate ester resin as a curing agent, an organometallic compound that has been used as a curing catalyst in a system in which an epoxy resin and a cyanate compound are used together can be added for the purpose of shortening the curing time. Good. Examples of organometallic compounds include organic copper compounds such as copper (II) acetylacetonate, organic zinc compounds such as zinc (II) acetylacetonate, and organic such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate. A cobalt compound etc. are mentioned. The addition amount of the organometallic compound is usually in the range of 10 to 500 ppm, preferably 25 to 200 ppm in terms of metal with respect to the cyanate ester resin. Two or more organometallic compounds may be mixed and used. In a system using such a cyanate ester resin and an organometallic compound, the organometallic compound and one or more optional curing accelerators may be used in combination.

[(E)熱可塑性樹脂]
本発明の樹脂組成物には、硬化後の組成物に適度な可撓性を付与する等の目的で(E)熱可塑性樹脂を配合することができる。熱可塑性樹脂としては、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルスルホン、ポリスルホン等が挙げられ、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール樹脂が好ましく、フェノキシ樹脂がより好ましい。これらは1種または2種以上を使用できる。熱可塑性樹脂は樹脂組成物中の不揮発分100質量%に対し、0.5〜10質量%の範囲であるのが好ましく、1〜8質量%の範囲であるのがより好ましい。含有量が少なすぎると、絶縁層上の導体層の高ピール強度化という所期の効果が十分に得られにくい傾向となり、含有量が多すぎると、樹脂組成物の粘度が高くなりすぎて、導体パターン上に樹脂組成物による層を形成したときの埋め込み(隣接するパターン(配線)の間への組成物の埋め込み)等が困難になったり、当該樹脂組成物により形成される接着シートのラミネート性が低下する傾向となる。
[(E) Thermoplastic resin]
(E) thermoplastic resin can be mix | blended with the resin composition of this invention for the objective of providing moderate flexibility to the composition after hardening. Examples of the thermoplastic resin include phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyimide, polyamideimide, polyethersulfone, polysulfone, and the like. Phenoxy resin and polyvinyl acetal resin are preferable, and phenoxy resin is more preferable. These can use 1 type (s) or 2 or more types. The thermoplastic resin is preferably in the range of 0.5 to 10% by mass and more preferably in the range of 1 to 8% by mass with respect to 100% by mass of the nonvolatile content in the resin composition. If the content is too small, the intended effect of increasing the peel strength of the conductor layer on the insulating layer tends to be insufficient, and if the content is too large, the viscosity of the resin composition becomes too high, Lamination of an adhesive sheet that is difficult to embed when a layer of a resin composition is formed on a conductor pattern (embedding of a composition between adjacent patterns (wirings)) or the like, or that is formed from the resin composition Tend to decrease.

フェノキシ樹脂としては、ビスフェノールA骨格、ビスフェノールF骨格、ビスフェノールS骨格、ビスフェノールアセトフェノン骨格、ノボラック骨格、ビフェニル骨格、フルオレン骨格、ジシクロペンタジエン骨格、ノルボルネン骨格、ナフタレン骨格、アントラセン骨格、アダマンタン骨格、テルペン骨格、トリメチルシクロヘキサン骨格から選択される1種以上の骨格を有するものが挙げられる。フェノキシ樹脂の末端はフェノール性水酸基、エポキシ基等のいずれの官能基でもよい。フェノキシ樹脂の市販品としては、例えば、三菱化学(株)製1256、4250(ビスフェノールA骨格含有フェノキシ樹脂)、三菱化学(株)製YX8100(ビスフェノールS骨格含有フェノキシ樹脂)、三菱化学(株)製YX6954(ビスフェノールアセトフェノン骨格含有フェノキシ樹脂)や、その他新日鉄住金化学(株)製FX280、FX293、三菱化学(株)製YL7553BH30、YL6794、YL7213、YL7290、YL7482等が挙げられる。   Examples of the phenoxy resin include bisphenol A skeleton, bisphenol F skeleton, bisphenol S skeleton, bisphenol acetophenone skeleton, novolac skeleton, biphenyl skeleton, fluorene skeleton, dicyclopentadiene skeleton, norbornene skeleton, naphthalene skeleton, anthracene skeleton, adamantane skeleton, terpene skeleton, Examples thereof include those having one or more skeletons selected from a trimethylcyclohexane skeleton. The terminal of the phenoxy resin may be any functional group such as a phenolic hydroxyl group or an epoxy group. Examples of commercially available phenoxy resins include 1256 and 4250 (bisphenol A skeleton-containing phenoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, YX8100 (bisphenol S skeleton-containing phenoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, and Mitsubishi Chemical Corporation. YX6954 (bisphenol acetophenone skeleton-containing phenoxy resin), other Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd. FX280, FX293, Mitsubishi Chemical Co., Ltd. YL7553BH30, YL6794, YL7213, YL7290, YL7482 etc. are mentioned.

ポリビニルアセタール樹脂はポリビニルブチラール樹脂が好ましく、ポリビニルアセタール樹脂の具体例としては、電気化学工業(株)製、電化ブチラール4000−2、5000−A、6000−C、6000−EP、積水化学工業(株)製エスレックBHシリーズ、BXシリーズ、KSシリーズ、BLシリーズ、BMシリーズ等が挙げられる。   The polyvinyl acetal resin is preferably a polyvinyl butyral resin, and specific examples of the polyvinyl acetal resin include those manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd., Electric Butyral 4000-2, 5000-A, 6000-C, 6000-EP, Sekisui Chemical Co., Ltd. ) Made S-Rec BH series, BX series, KS series, BL series, BM series and the like.

ポリイミドの具体例としては、新日本理化(株)製のポリイミド「リカコートSN20」および「リカコートPN20」が挙げられる。また、2官能性ヒドロキシル基末端ポリブタジエン、ジイソシアネート化合物及び四塩基酸無水物を反応させて得られる線状ポリイミド(特開2006−37083号公報記載のもの)、ポリシロキサン骨格含有ポリイミド(特開2002−12667号公報、特開2000−319386号公報等に記載のもの)等の変性ポリイミドが挙げられる。   Specific examples of polyimide include polyimide “Rika Coat SN20” and “Rika Coat PN20” manufactured by Shin Nippon Rika Co., Ltd. Also, a linear polyimide obtained by reacting a bifunctional hydroxyl group-terminated polybutadiene, a diisocyanate compound and a tetrabasic acid anhydride (as described in JP 2006-37083 A), a polysiloxane skeleton-containing polyimide (JP 2002-2002). And modified polyimides such as those described in JP-A No. 12667 and JP-A No. 2000-319386.

ポリアミドイミドの具体例としては、東洋紡績(株)製のポリアミドイミド「バイロマックスHR11NN」および「バイロマックスHR16NN」が挙げられる。また、日立化成工業(株)製のポリシロキサン骨格含有ポリアミドイミド「KS9100」、「KS9300」等の変性ポリアミドイミドが挙げられる。   Specific examples of the polyamideimide include polyamideimides “Vilomax HR11NN” and “Vilomax HR16NN” manufactured by Toyobo Co., Ltd. In addition, modified polyamideimides such as polysiloxane skeleton-containing polyamideimides “KS9100” and “KS9300” manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd. may be mentioned.

ポリエーテルスルホンの具体例としては、住友化学(株)社製のポリエーテルスルホン「PES5003P」等が挙げられる。   Specific examples of the polyethersulfone include polyethersulfone “PES5003P” manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd.

ポリスルホンの具体例としては、ソルベンアドバンストポリマーズ(株)社製のポリスルホン「P1700」、「P3500」等が挙げられる。   Specific examples of the polysulfone include polysulfone “P1700” and “P3500” manufactured by Solven Advanced Polymers Co., Ltd.

熱可塑性樹脂は、重量平均分子量が8,000〜150,000の範囲が好ましく、10,000〜100,000の範囲がより好ましく、20,000〜60,000の範囲が特に好ましい。重量平均分子量がかかる好適範囲よりも小さいと、本発明の樹脂組成物により形成された絶縁層上の導体層のピール強度が低下する傾向にあり、かかる範囲より大きいと、絶縁層の熱膨張率や、粗化処理後の絶縁層表面の粗度が増大する傾向にある。   The thermoplastic resin preferably has a weight average molecular weight in the range of 8,000 to 150,000, more preferably in the range of 10,000 to 100,000, and particularly preferably in the range of 20,000 to 60,000. When the weight average molecular weight is smaller than the preferred range, the peel strength of the conductor layer on the insulating layer formed of the resin composition of the present invention tends to be reduced. In addition, the roughness of the surface of the insulating layer after the roughening treatment tends to increase.

ここでいう「重量平均分子量」は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法(ポリスチレンン換算)で測定される。GPC法による重量平均分子量は、具体的には、測定装置として(株)島津製作所製LC−9A/RID−6Aを、カラムとして昭和電工(株)製Shodex K−800P/K−804L/K−804Lを、移動相としてクロロホルム等を用いて、カラム温度40℃にて測定し、標準ポリスチレンの検量線を用いて算出することができる。   The “weight average molecular weight” here is measured by gel permeation chromatography (GPC) method (polystyrene conversion). Specifically, the weight average molecular weight by the GPC method is LC-9A / RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device, and Shodex K-800P / K-804L / K- manufactured by Showa Denko KK as a column. 804 L can be measured at a column temperature of 40 ° C. using chloroform or the like as a mobile phase, and can be calculated using a standard polystyrene calibration curve.

[(F)ゴム粒子]
本発明の樹脂組成物には、硬化物の機械強度の向上や応力緩和等の目的から(F)ゴム粒子を含有させてもよい。当該ゴム粒子は、樹脂組成物を調製する際の有機溶媒にも溶解せず、エポキシ樹脂等の樹脂組成物中の成分とも相溶せず、樹脂組成物のワニス中では分散状態で存在するものが好ましい。このようなゴム粒子は、一般には、ゴム成分の分子量を有機溶剤や樹脂に溶解しないレベルまで大きくし、粒子状とすることで調製することができ、具体的には、コアシェル型ゴム粒子、架橋アクリルニトリルブタジエンゴム粒子、架橋スチレンブタジエンゴム粒子、アクリルゴム粒子等が挙げられる。コアシェル型ゴム粒子は、粒子がコア層とシェル層を有するゴム粒子であり、例えば、外層のシェル層がガラス状ポリマー、内層のコア層がゴム状ポリマーで構成される2層構造、または外層のシェル層がガラス状ポリマー、中間層がゴム状ポリマー、コア層がガラス状ポリマーで構成される3層構造のものなどが挙げられる。ガラス層は例えば、メタクリル酸メチルの重合物などで構成され、ゴム状ポリマー層は例えば、ブチルアクリレート重合物(ブチルゴム)などで構成される。コアシェル型ゴム粒子の具体例としては、スタフィロイドAC3832、AC3816N、(ガンツ化成(株)商品名)、メタブレンKW-4426(三菱レイヨン(株)商品名)が挙げられる。アクリロニトリルブタジエンゴム(NBR)粒子の具体例としては、XER-91(平均粒子径0.5μm、JSR(株)製)などが挙げられる。スチレンブタジエンゴム(SBR)粒子の具体例としては、XSK-500(平均粒子径0.5μm、JSR(株)製)などが挙げられる。アクリルゴム粒子の具体例としては、メタブレンW300A(平均粒子径0.1μm)、W450A(平均粒子径0.5μm)(三菱レイヨン(株)製)を挙げることができる。ゴム粒子は1種または2種以上を使用できる。
[(F) Rubber particles]
The resin composition of the present invention may contain (F) rubber particles for the purpose of improving the mechanical strength of the cured product and relaxing the stress. The rubber particles are not dissolved in an organic solvent when preparing the resin composition, are not compatible with components in the resin composition such as an epoxy resin, and exist in a dispersed state in the varnish of the resin composition Is preferred. Such rubber particles can generally be prepared by increasing the molecular weight of the rubber component to a level that does not dissolve in an organic solvent or resin and making it into particles. Specifically, core-shell type rubber particles, Examples thereof include acrylonitrile butadiene rubber particles, crosslinked styrene butadiene rubber particles, and acrylic rubber particles. The core-shell type rubber particles are rubber particles having a core layer and a shell layer. For example, the outer shell layer is a glassy polymer and the inner core layer is a rubbery polymer. Examples include a three-layer structure in which the shell layer is a glassy polymer, the intermediate layer is a rubbery polymer, and the core layer is a glassy polymer. The glass layer is made of, for example, a polymer of methyl methacrylate, and the rubbery polymer layer is made of, for example, a butyl acrylate polymer (butyl rubber). Specific examples of the core-shell type rubber particles include Staphyloid AC3832, AC3816N, (Ganz Kasei Co., Ltd. trade name), and Metabrene KW-4426 (Mitsubishi Rayon Co., Ltd. trade name). Specific examples of acrylonitrile butadiene rubber (NBR) particles include XER-91 (average particle size 0.5 μm, manufactured by JSR Corporation). Specific examples of styrene butadiene rubber (SBR) particles include XSK-500 (average particle size 0.5 μm, manufactured by JSR Corporation). Specific examples of the acrylic rubber particles include methabrene W300A (average particle size 0.1 μm), W450A (average particle size 0.5 μm) (manufactured by Mitsubishi Rayon Co., Ltd.). One or more rubber particles can be used.

ゴム粒子の平均粒子径は0.005〜1μmの範囲が好ましく、0.2〜0.6μmの範囲がより好ましい。かかるゴム粒子の平均粒子径は、動的光散乱法を用いて測定することが出来る。例えば、適当な有機溶剤にゴム粒子を超音波などにより均一に分散させ、FPRA-1000(大塚電子(株)製)を用いて、ゴム粒子の粒度分布を質量基準で作成
し、そのメディアン径を平均粒子径とすることで測定される。
The average particle diameter of the rubber particles is preferably in the range of 0.005 to 1 μm, and more preferably in the range of 0.2 to 0.6 μm. The average particle diameter of such rubber particles can be measured using a dynamic light scattering method. For example, rubber particles are uniformly dispersed in a suitable organic solvent by ultrasonic waves, etc., and using FPRA-1000 (manufactured by Otsuka Electronics Co., Ltd.), the particle size distribution of the rubber particles is created on a mass basis, and the median diameter is determined. The average particle diameter is measured.

ゴム粒子を配合する場合の含有量は、樹脂組成物中の不揮発分100質量%に対し、1〜10質量%の範囲であるのが好ましく、2〜5質量%の範囲であるのがより好ましい。   When the rubber particles are blended, the content is preferably in the range of 1 to 10% by mass and more preferably in the range of 2 to 5% by mass with respect to 100% by mass of the nonvolatile content in the resin composition. .

[(G)硬化性樹脂]
本発明の樹脂組成物は、必要に応じて本発明の効果が発揮される範囲でマレイミド化合物、ビスアリルナジイミド化合物、ビニルベンジル樹脂、ビニルベンジルエーテル樹脂などのエポキシ樹脂以外の(G)硬化性樹脂を配合することもできる。このような硬化性樹脂は2種以上を混合して用いてもよい。マレイミド樹脂としてはBMI1000、BMI2000、BMI3000、BMI4000、BMI5100(大和化成工業(株)製)、BMI、BMI−70、BMI−80(ケイ・アイ化成(株)製)、ANILIX−MI(三井化学ファイン(株)製)、ビスアリルナジイミド化合物としてはBANI−M、BANI−X(丸善石油化学工業(株)製)ビニルベンジル樹脂としてはV5000(昭和高分子(株)製)、ビニルベンジルエーテル樹脂としてはV1000X、V1100X(昭和高分子(株)製)が挙げられる。
[(G) curable resin]
The resin composition of the present invention is (G) curable other than an epoxy resin such as a maleimide compound, a bisallyl nadiimide compound, a vinyl benzyl resin, or a vinyl benzyl ether resin as long as the effects of the present invention are exhibited as necessary. A resin can also be blended. Two or more kinds of such curable resins may be mixed and used. As maleimide resins, BMI1000, BMI2000, BMI3000, BMI4000, BMI5100 (manufactured by Daiwa Kasei Kogyo Co., Ltd.), BMI, BMI-70, BMI-80 (manufactured by KEI Kasei Co., Ltd.), ANILIX-MI (Mitsui Chemical Fine) BANI-M, BANI-X (manufactured by Maruzen Petrochemical Co., Ltd.) as a vinyl benzyl resin, V5000 (manufactured by Showa Polymer Co., Ltd.), vinyl benzyl ether resin V1000X, V1100X (manufactured by Showa Polymer Co., Ltd.).

[難燃剤]
本発明の樹脂組成物は、本発明の効果が発揮される範囲で難燃剤を含有しても良い。難燃剤としては、例えば、有機リン系難燃剤、有機系窒素含有リン化合物、窒素化合物、シリコーン系難燃剤、金属水酸化物等が挙げられる。有機リン系難燃剤としては、三光(株)製のHCA、HCA−HQ、HCA−NQ等のフェナントレン型リン化合物、昭和高分子(株)製のHFB−2006M等のリン含有ベンゾオキサジン化合物、味の素ファインテクノ(株)製のレオフォス30、50、65、90、110、TPP、RPD、BAPP、CPD、TCP、TXP、TBP、TOP、KP140、TIBP、北興化学工業(株)製のPPQ、クラリアント(株)製のOP930、大八化学(株)製のPX200等のリン酸エステル化合物、新日鉄住金化学(株)製のFX289、FX305等のリン含有エポキシ樹脂、新日鉄住金化学(株)製のERF001等のリン含有フェノキシ樹脂等が挙げられる。有機系窒素含有リン化合物としては、四国化成工業(株)製のSP670、SP703等のリン酸エステルアミド化合物、大塚化学(株)製のSPB100、SPE100、(株)伏見製作所製FP−series等のホスファゼン化合物等が挙げられる。金属水酸化物としては、宇部マテリアルズ(株)製のUD65、UD650、UD653等の水酸化マグネシウム、巴工業(株)製のB−30、B−325、B−315、B−308、B−303、UFH−20等の水酸化アルミニウム等が挙げられる。難燃剤は1種または2種以上を使用できる。
[Flame retardants]
The resin composition of the present invention may contain a flame retardant as long as the effects of the present invention are exhibited. Examples of the flame retardant include an organic phosphorus flame retardant, an organic nitrogen-containing phosphorus compound, a nitrogen compound, a silicone flame retardant, and a metal hydroxide. Examples of organic phosphorus flame retardants include phenanthrene-type phosphorus compounds such as HCA, HCA-HQ, and HCA-NQ manufactured by Sanko Co., Ltd., phosphorus-containing benzoxazine compounds such as HFB-2006M manufactured by Showa Polymer Co., Ltd., and Ajinomoto Co., Inc. Reefos 30, 50, 65, 90, 110, Fine Techno Co., TPP, RPD, BAPP, CPD, TCP, TXP, TBP, TOP, KP140, TIBP, PPQ, Clariant (made by Hokuko Chemical Co., Ltd.) Phosphoric ester compounds such as OP930 manufactured by Daihachi Chemical Co., Ltd., FX289 compounds manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., phosphorus-containing epoxy resins such as FX305, ERF001 manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., etc. And phosphorus-containing phenoxy resin. Examples of organic nitrogen-containing phosphorus compounds include phosphate ester amide compounds such as SP670 and SP703 manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., SPB100 and SPE100 manufactured by Otsuka Chemical Co., Ltd., and FP-series manufactured by Fushimi Seisakusho Co., Ltd. Examples thereof include phosphazene compounds. As the metal hydroxide, magnesium hydroxide such as UD65, UD650, UD653 manufactured by Ube Materials Co., Ltd., B-30, B-325, B-315, B-308, B manufactured by Sakai Kogyo Co., Ltd. And aluminum hydroxide such as -303 and UFH-20. One or more flame retardants can be used.

本発明の樹脂組成物は、本発明の効果が発揮される範囲で、上述した成分以外の各種樹脂添加剤を任意で含有させても良い。このような樹脂添加剤としては、例えば、シリコーンパウダー、ナイロンパウダー、フッ素パウダー等の有機充填剤、オルベン、ベントン等の増粘剤、シリコーン系、フッ素系、高分子系の消泡剤又はレベリング剤、シランカップリング剤、トリアゾール化合物、チアゾール化合物、トリアジン化合物、ポルフィリン化合物等の密着性付与剤、フタロシアニン・ブルー、フタロシアニン・グリーン、アイオジン・グリーン、ジスアゾイエロー、カーボンブラック等の着色剤等を挙げることができる。   The resin composition of the present invention may optionally contain various resin additives other than the components described above as long as the effects of the present invention are exhibited. Examples of such resin additives include organic fillers such as silicone powder, nylon powder, and fluorine powder, thickeners such as olben and benton, silicone-based, fluorine-based, and polymer-based antifoaming agents or leveling agents. Adhesion imparting agents such as silane coupling agents, triazole compounds, thiazole compounds, triazine compounds, porphyrin compounds, coloring agents such as phthalocyanine blue, phthalocyanine green, iodin green, disazo yellow, carbon black, etc. it can.

[接着シート]
支持体上に本発明の樹脂組成物の層を形成することで支持体付き樹脂シートが得られ、また、繊維からなるシート状基材(シート状繊維基材)中に本発明の樹脂組成物を含浸させることでプリプレグを得ることができる。本発明の樹脂組成物は直接回路基板に塗布して絶縁層を形成することもできるが、工業的には、本発明の樹脂組成物を用いて上記の支持体付き樹脂シートやプリプレグを形成し、これらの接着シートを使用して回路基板に絶縁層を形成するのが好ましい。本発明において、「接着シート」とは、支持体付き樹脂シートおよびプリプレグを含む概念である。
[Adhesive sheet]
A resin sheet with a support is obtained by forming a layer of the resin composition of the present invention on a support, and the resin composition of the present invention in a sheet-like substrate (sheet-like fiber substrate) comprising fibers. A prepreg can be obtained by impregnating with. Although the resin composition of the present invention can be applied directly to a circuit board to form an insulating layer, industrially, the resin composition with the support and the prepreg are formed using the resin composition of the present invention. These adhesive sheets are preferably used to form an insulating layer on the circuit board. In the present invention, the “adhesive sheet” is a concept including a resin sheet with a support and a prepreg.

支持体付き樹脂シートは、当業者に公知の方法、例えば、有機溶剤に樹脂組成物を溶解した樹脂ワニスを調製し、支持体上に、この樹脂ワニスを塗布し、更に加熱、あるいは熱風吹きつけ等によって有機溶剤を乾燥させて樹脂組成物層を形成させることにより製造することができる。   The resin sheet with the support is prepared by a method known to those skilled in the art, for example, by preparing a resin varnish in which the resin composition is dissolved in an organic solvent, applying the resin varnish on the support, and further heating or blowing hot air. For example, the organic solvent can be dried to form a resin composition layer.

有機溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、カルビトールアセテート等の酢酸エステル類、セロソルブ、ブチルカルビトール等のカルビトール類、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N-メチルピロリドン等のアミド系溶媒等を
挙げることができる。有機溶剤は1種を使用しても2種以上を組み合わせて用いてもよい。
Examples of the organic solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone and cyclohexanone, acetates such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate, and carbitols such as cellosolve and butyl carbitol. , Aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide, and N-methylpyrrolidone. One organic solvent may be used, or two or more organic solvents may be used in combination.

乾燥条件は特に限定されないが、樹脂組成物層中の有機溶剤の含有割合が通常10質量%以下、好ましくは5質量%以下となるように乾燥させる。乾燥条件は、簡単な実験により適宜、好適な乾燥条件を設定することができる。ワニス中の有機溶媒量によっても異なるが、例えば、30〜60質量%の有機溶剤を含むワニスを50〜150℃で3〜10分程度乾燥させることができる。   The drying conditions are not particularly limited, but the drying is performed so that the content ratio of the organic solvent in the resin composition layer is usually 10% by mass or less, preferably 5% by mass or less. As drying conditions, suitable drying conditions can be appropriately set by simple experiments. Depending on the amount of organic solvent in the varnish, for example, a varnish containing 30 to 60% by mass of an organic solvent can be dried at 50 to 150 ° C. for about 3 to 10 minutes.

支持体付き樹脂シートにおいて形成される樹脂組成物層の厚さは、一般的には、回路基板が有する導体層の厚さ以上とする。回路基板が有する導体層の厚さは通常5〜70μmの範囲であるので、樹脂組成物層の厚さは5〜300μmの厚みを有するのが好ましく、10〜200μmがより好ましく、10〜100μmが更に好ましい。樹脂組成物層は、後述する保護フィルムで保護されていてもよい。保護フィルムで保護することにより、樹脂組成物層表面へのゴミ等の付着やキズを防止することができる。   The thickness of the resin composition layer formed in the resin sheet with a support is generally not less than the thickness of the conductor layer that the circuit board has. Since the thickness of the conductor layer of the circuit board is usually in the range of 5 to 70 μm, the thickness of the resin composition layer is preferably 5 to 300 μm, more preferably 10 to 200 μm, and more preferably 10 to 100 μm. Further preferred. The resin composition layer may be protected by a protective film described later. By protecting with a protective film, it is possible to prevent dust and the like from being attached to the surface of the resin composition layer and scratches.

支持体としては、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル等のポリオレフィン、ポリエチレンテレフタレート(以下「PET」と略称することがある。)、ポリエチレンナフタレート等のポリエステル、ポリカーボネート、ポリイミドなどのプラスチックフィルムが挙げられる。プラスチックフィルムとしては、とくにPETが好ましい。また、支持体として銅箔やアルミニウム箔等の金属箔を使用することもできる。保護フィルムは、支持体と同様のプラスチックフィルムを用いるのが好ましい。支持体の厚さは特に限定されないが、通常10〜150μmであり、好ましくは25〜50μmの範囲で用いられる。また保護フィルムの厚さも特に制限されないが、通常1〜40μm、好ましくは10〜30μmの範囲で用いられる。また、支持体及び保護フィルムはマット処理、コロナ処理の他、離型処理を施してあってもよい。離型処理としては、例えば、シリコーン樹脂系離型剤、アルキッド樹脂系離型剤、フッ素樹脂系離型剤等の離型剤による離型処理が挙げられる。支持体付き樹脂シートは、保護フィルム/樹脂組成物層/支持体の層構成であるものが好ましい。また、支持体付き樹脂シートにおいて、支持体上に形成される樹脂組成物層は、層の面積が支持体の面積より小さくなるように形成するのが好ましい。支持体付き樹脂シートは、ロール状に巻き取って、保存、貯蔵することができる。   Examples of the support include polyolefins such as polyethylene, polypropylene, and polyvinyl chloride, polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PET”), polyesters such as polyethylene naphthalate, plastic films such as polycarbonate and polyimide. As the plastic film, PET is particularly preferable. Moreover, metal foils, such as copper foil and aluminum foil, can also be used as a support body. The protective film is preferably a plastic film similar to the support. Although the thickness of a support body is not specifically limited, Usually, it is 10-150 micrometers, Preferably it is used in 25-50 micrometers. The thickness of the protective film is not particularly limited, but is usually 1 to 40 μm, preferably 10 to 30 μm. Further, the support and the protective film may be subjected to a release treatment in addition to the mat treatment and the corona treatment. Examples of the release treatment include a release treatment with a release agent such as a silicone resin release agent, an alkyd resin release agent, and a fluororesin release agent. The support-attached resin sheet preferably has a layer structure of protective film / resin composition layer / support. In the resin sheet with a support, the resin composition layer formed on the support is preferably formed such that the area of the layer is smaller than the area of the support. The resin sheet with a support can be rolled up, stored and stored.

プリプレグにおけるシート状繊維基材としては、例えばガラスクロスやアラミド繊維等からなるプリプレグ用の繊維基材として常用されているものを用いることができ、プリプレグは樹脂組成物をシート状繊維基材にホットメルト法又はソルベント法により含浸させ、加熱により半硬化させることによって得ることができる。ホットメルト法は、樹脂を有機溶剤に溶解することなく、樹脂を樹脂と剥離性の良い塗工紙に一旦コーティングし、それをシート状繊維基材にラミネートする、あるいはダイコーターにより直接塗工するなどして、プリプレグを製造する方法である。またソルベント法は、樹脂を有機溶剤に溶解した樹脂ワニスにシート状繊維基材を浸漬し、樹脂ワニスをシート状繊維基材に含浸させ、その後乾燥させる方法である。また、支持体付き樹脂シートをシート状繊維基材の両面から加熱、加圧条件下、連続的に熱ラミネートすることで支持体付きプリプレグを調製することができる。この場合、プリプレグの両面に支持体を備えるが、いずれか一方の支持体が保護フィルムに相当する。なお、支持体付きプリプレグにおける支持体や保護フィルムの具体的な構成材料および厚み等は、上述の支持体付き樹脂シートの支持体や保護フィルムにおけるそれらが踏襲される。   As the sheet-like fiber base material in the prepreg, for example, those commonly used as a fiber base material for prepreg made of glass cloth, aramid fiber, etc. can be used. It can be obtained by impregnation by a melt method or a solvent method and semi-curing by heating. In the hot melt method, without dissolving the resin in an organic solvent, the resin is once coated on the resin and a coated paper having good releasability, and then laminated on a sheet-like fiber substrate, or directly applied by a die coater. Thus, a prepreg is manufactured. The solvent method is a method in which a sheet-like fiber base material is immersed in a resin varnish obtained by dissolving a resin in an organic solvent, the sheet-like fiber base material is impregnated with the resin varnish, and then dried. Moreover, the prepreg with a support body can be prepared by heating and laminating the resin sheet with a support body from both sides of the sheet-like fiber base material continuously under heat and pressure. In this case, although a support body is provided on both surfaces of the prepreg, either one of the support bodies corresponds to a protective film. In addition, the specific constituent materials and thicknesses of the support and the protective film in the prepreg with the support follow those in the support and the protective film of the above-described resin sheet with the support.

支持体付きプリプレグの場合、ロール状に巻き取って、保存、貯蔵することができる。この場合、支持体付きプリプレグは、保護フィルム/プリプレグ/支持体の層構成であるものが好ましい。   In the case of a prepreg with a support, it can be rolled up, stored and stored. In this case, the prepreg with a support preferably has a layer structure of protective film / prepreg / support.

本発明の接着シートを用いた多層プリント配線板等の回路基板の製造は例えば次のようにして行うことができる。接着シートが支持体付き樹脂シートである場合、樹脂組成物層が保護フィルムで保護されている場合はこれらを剥離した後、樹脂組成物層を内層回路基板に直接接するように、内層回路基板の片面又は両面にラミネートする。かかる接着シートのラミネートにおいては、真空ラミネート法により減圧下で内層回路基板にラミネートする方法が好適に用いられる。ラミネートの方法はバッチ式であってもロールでの連続式であってもよい。またラミネートを行う前に接着シート及び内層回路基板を必要により加熱(プレヒート)しておいてもよい。   A circuit board such as a multilayer printed wiring board using the adhesive sheet of the present invention can be produced, for example, as follows. When the adhesive sheet is a resin sheet with a support, when the resin composition layer is protected by a protective film, after peeling these, the resin composition layer is directly in contact with the inner circuit board so that the resin composition layer is in direct contact with the inner circuit board. Laminate on one or both sides. In laminating such an adhesive sheet, a method of laminating the inner layer circuit board under reduced pressure by a vacuum laminating method is suitably used. The laminating method may be a batch method or a continuous method using a roll. Further, the adhesive sheet and the inner layer circuit board may be heated (preheated) as necessary before lamination.

本発明でいう「内層回路基板」とは、主として、ガラスエポキシ、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等の基板の片面又は両面にパターン加工された導体層(回路)が形成されたものをいう。また導体層と絶縁層が交互に層形成され、片面又は両面がパターン加工された導体層(回路)となっている、多層プリント配線板を製造する際に、さらに絶縁層および導体層が形成されるべき中間製造物も本発明における内層回路基板に含まれる。内層回路基板において、導体回路層表面は黒化処理等により予め粗化処理が施されていた方が絶縁層の内層回路基板への密着性の観点から好ましい。   The “inner circuit board” as used in the present invention is mainly a conductor layer patterned on one or both sides of a substrate such as a glass epoxy, metal substrate, polyester substrate, polyimide substrate, BT resin substrate, thermosetting polyphenylene ether substrate, etc. (Circuit) is formed. In addition, when manufacturing a multilayer printed wiring board in which conductor layers and insulating layers are alternately formed, and one or both surfaces are patterned conductor layers (circuits), an insulating layer and a conductor layer are further formed. The intermediate product to be included is also included in the inner layer circuit board in the present invention. In the inner layer circuit board, the surface of the conductor circuit layer is preferably roughened by a blackening process or the like from the viewpoint of adhesion of the insulating layer to the inner layer circuit board.

ラミネートの条件は、圧着温度(ラミネート温度)を好ましくは70〜140℃、圧着圧力を好ましくは1〜11kgf/cm(9.8×10〜107.9×10N/m)とし、空気圧が20mmHg(26.7hPa)以下の減圧下でラミネートするのが好ましい。 The laminating conditions are preferably a pressure bonding temperature (laminating temperature) of 70 to 140 ° C. and a pressure bonding pressure of preferably 1 to 11 kgf / cm 2 (9.8 × 10 4 to 107.9 × 10 4 N / m 2 ). Lamination is preferably performed under a reduced pressure of 20 mmHg (26.7 hPa) or less.

真空ラミネートは市販の真空ラミネーターを使用して行うことができる。市販の真空ラミネーターとしては、例えば、ニチゴー・モートン(株)製のバキュームアプリケーター、(株)名機製作所製の真空加圧式ラミネーター、(株)日立インダストリイズ製のロール式ドライコータ、日立エーアイーシー(株)製の真空ラミネーター等を挙げることができる。   The vacuum lamination can be performed using a commercially available vacuum laminator. Examples of commercially available vacuum laminators include a vacuum applicator manufactured by Nichigo Morton, a vacuum pressurizing laminator manufactured by Meiki Seisakusho, a roll dry coater manufactured by Hitachi Industries, Ltd., and Hitachi AIC. A vacuum laminator manufactured by Co., Ltd. can be exemplified.

接着シートを内層回路基板にラミネートした後、支持体を剥離する場合は剥離し、熱硬
化することにより内層回路基板上に絶縁層を形成することができる。加熱硬化の条件は150℃〜220℃で20分〜180分の範囲で選択され、より好ましくは160℃〜200℃で30〜120分である。なお、硬化前に支持体を剥離しなかった場合は、絶縁層の形成後に剥離する。樹脂組成物層の加熱硬化後に支持体を剥離すれば、硬化工程でのゴミ等の付着を防ぐことができ、また硬化後の絶縁層の表面平滑性を向上させることができる。硬化後に剥離する場合、通常、支持体には予め離型処理が施される。
After laminating the adhesive sheet on the inner layer circuit board, when the support is peeled off, it can be peeled off and thermally cured to form an insulating layer on the inner layer circuit board. The conditions of heat curing are selected in the range of 20 to 180 minutes at 150 to 220 ° C, more preferably 30 to 120 minutes at 160 to 200 ° C. In addition, when a support body is not peeled before hardening, it peels after formation of an insulating layer. If the support is peeled off after the resin composition layer is heat-cured, adhesion of dust and the like in the curing step can be prevented, and the surface smoothness of the insulating layer after curing can be improved. In the case of peeling after curing, the support is usually subjected to a release treatment in advance.

次に内層回路基板上に形成された絶縁層に穴開けを行いビアホール、スルーホールを形成する。穴あけは例えば、ドリル、レーザー、プラズマ等の公知の方法により、また必要によりこれらの方法を組み合わせて行うことができるが、炭酸ガスレーザー、YAGレーザー等のレーザーによる穴あけがもっとも一般的な方法である。   Next, holes are formed in the insulating layer formed on the inner circuit board to form via holes and through holes. Drilling can be performed by a known method such as drilling, laser, or plasma, or a combination of these methods if necessary. However, drilling by a laser such as a carbon dioxide laser or YAG laser is the most common method. .

次いで、絶縁層表面に粗化処理を行う。本発明における粗化処理は通常、酸化剤を使用した湿式粗化方法で行うのが好ましい。酸化剤としては、過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウム、過マンガン酸ナトリウム等)、重クロム酸塩、オゾン、過酸化水素/硫酸、硝酸等が挙げられる。好ましくはビルトアップ工法による多層プリント配線板の製造における絶縁層の粗化に汎用されている酸化剤である、アルカリ性過マンガン酸溶液(例えば過マンガン酸カリウム、過マンガン酸ナトリウムの水酸化ナトリウム水溶液)を用いて粗化を行うのが好ましい。   Next, a roughening process is performed on the surface of the insulating layer. The roughening treatment in the present invention is usually preferably carried out by a wet roughening method using an oxidizing agent. Examples of the oxidizing agent include permanganate (potassium permanganate, sodium permanganate, etc.), dichromate, ozone, hydrogen peroxide / sulfuric acid, nitric acid and the like. Preferably, an alkaline permanganate solution (eg, potassium permanganate, sodium hydroxide solution of sodium permanganate), which is an oxidizer widely used for roughening an insulating layer in the production of multilayer printed wiring boards by a built-up method. It is preferable to perform roughening using.

絶縁層表面を粗化処理した粗化面の粗さは、微細配線を形成する上で、Ra値で400nm以下が好ましく、350nm以下がより好ましく、300nm以下が更に好ましい。また、一定のピール強度を得るという点から50nm以上が好ましく、100nm以上がより好ましい。なお、ここで、Ra値とは、表面粗さを表す数値の一種であり、算術平均粗さと呼ばれるものであって、具体的には測定領域内で変化する高さの絶対値を平均ラインである表面から測定して算術平均したものである。例えば、ビーコインスツルメンツ社製WYKO NT3300を用いて、VSIコンタクトモード、50倍レンズにより測定範
囲を121μm×92μmとして得られる数値により求めることができる。
The roughness of the roughened surface obtained by roughening the surface of the insulating layer is preferably 400 nm or less, more preferably 350 nm or less, and even more preferably 300 nm or less in terms of Ra value when forming fine wiring. Moreover, 50 nm or more is preferable from the point of obtaining fixed peel strength, and 100 nm or more is more preferable. Here, the Ra value is a kind of numerical value representing the surface roughness, and is called arithmetic average roughness. Specifically, the absolute value of the height changing in the measurement region is expressed by the average line. Measured from a certain surface and arithmetically averaged. For example, using WYKO NT3300 manufactured by Becoin Instruments Co., Ltd., it can be obtained from a numerical value obtained with a measurement range of 121 μm × 92 μm using a VSI contact mode and a 50 × lens.

次に、粗化された絶縁層表面に、無電解メッキと電解メッキを組み合わせた方法で導体層を形成する。また導体層とは逆パターンのメッキレジストを形成し、無電解メッキのみで導体層を形成することもできる。なお導体層形成後、150〜200℃で20〜90分アニール(anneal)処理することにより、導体層のピール強度をさらに向上、安定化させることができる。このようにして形成される導体層の厚さは、特に限定はされないが、一般的には、5〜70μm程度であり、好ましくは10〜50μm程度である。導体層のピール強度は、0.3kgf/cm以上であるのが好ましく、0.35kgf/cm以上であるのがより好ましい。上限値は制限されないが、一般的に10kgf/cm以下となる。   Next, a conductor layer is formed on the roughened insulating layer surface by a method combining electroless plating and electrolytic plating. Alternatively, a plating resist having a pattern opposite to that of the conductor layer can be formed, and the conductor layer can be formed only by electroless plating. In addition, after forming the conductor layer, the peel strength of the conductor layer can be further improved and stabilized by annealing at 150 to 200 ° C. for 20 to 90 minutes. The thickness of the conductor layer thus formed is not particularly limited, but is generally about 5 to 70 μm, preferably about 10 to 50 μm. The peel strength of the conductor layer is preferably 0.3 kgf / cm or more, and more preferably 0.35 kgf / cm or more. The upper limit is not limited, but is generally 10 kgf / cm or less.

また、導体層をパターン加工し回路形成する方法としては、例えば当業者に公知のサブトラクティブ法、セミアディティブ法などを用いることができる。   In addition, as a method of patterning the conductor layer to form a circuit, for example, a subtractive method or a semi-additive method known to those skilled in the art can be used.

接着シートがプリプレグである場合、多層プリント配線板等の回路基板の製造は例えば次のようにして行うことができる。内層回路基板に本発明のプリプレグを1枚あるいは必要により数枚重ね、離型フィルムを介して金属プレートを挟み加圧・加熱条件下でプレス積層する。圧力は好ましくは5〜40kgf/cm(49×10〜392×10N/m)、温度は好ましくは120〜200℃で20〜100分の範囲で成型するのが好ましい。また、真空ラミネート法により内層回路基板にラミネートした後、加熱硬化することによっても製造可能である。その後、前述の方法と同様、酸化剤により硬化したプリプレグ表面を粗化した後、導体層をメッキにより形成することで、多層プリント配線板等
の回路基板を製造することができる。
When the adhesive sheet is a prepreg, a circuit board such as a multilayer printed wiring board can be produced as follows, for example. One or several prepregs of the present invention are stacked on the inner layer circuit board, and a metal plate is sandwiched through a release film, and press laminated under pressure and heating conditions. The pressure is preferably 5 to 40 kgf / cm 2 (49 × 10 4 to 392 × 10 4 N / m 2 ), and the temperature is preferably 120 to 200 ° C. for 20 to 100 minutes. Moreover, it can also be manufactured by laminating on an inner layer circuit board by a vacuum laminating method and then heat-curing. Thereafter, in the same manner as described above, the surface of the prepreg cured with an oxidizing agent is roughened, and then the conductor layer is formed by plating, whereby a circuit board such as a multilayer printed wiring board can be manufactured.

以下、実施例及び比較例を用いて本発明をより詳細に説明するが、これらは本発明をいかなる意味においても制限するものではない。なお、以下の記載において、「部」は「質量部」を意味する。
<実施例1>
(無機充填材の表面処理)
ヘキサメチルジシラザンで表面処理された表面処理球形シリカ((株)アドマテックス社製「SC2500−SQ」、平均粒子径0.5μm、カーボン量:0.025mg/m)300部を、回転式真空プラズマ装置((株)魁半導体社製「YHS−DΦS」)を用いて、Ar雰囲気下、40Pa、100W、温度25℃の条件で60秒プラズマ照射を施して、これを無機充填材Aとした。無機充填材Aの平均粒子径は0.5μmであった。
EXAMPLES Hereinafter, although this invention is demonstrated in detail using an Example and a comparative example, these do not restrict | limit this invention in any meaning. In the following description, “part” means “part by mass”.
<Example 1>
(Surface treatment of inorganic filler)
300 parts of surface-treated spherical silica (“SC2500-SQ” manufactured by Admatechs Co., Ltd., average particle size 0.5 μm, carbon content: 0.025 mg / m 2 ) surface-treated with hexamethyldisilazane was rotated. Using a vacuum plasma apparatus (“YHS-DΦS” manufactured by Sakai Semiconductor Co., Ltd.), plasma irradiation was performed for 60 seconds under conditions of 40 Pa, 100 W and a temperature of 25 ° C. in an Ar atmosphere. did. The average particle size of the inorganic filler A was 0.5 μm.

(樹脂ワニスの作製、接着シートの作製)
ナフタレン型エポキシ樹脂(エポキシ当量144、DIC(株)製「HP4032SS」)5質量部、液状ビスフェノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量165、新日鉄住金化学(株) 製「ZX1059」)20質量部、ビキシレノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量190、三菱化学(株)製「YX4000HK」)10質量部、及びビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量約269、日本化薬(株)製「NC3000H」)10質量部を、メチルエチルケトン40質量部に撹拌しながら加熱溶解させた。室温にまで冷却した後、そこへ、ゴム粒子(アイカ工業(株)製、スタフィロイドAC3816N)5部、難燃剤(三光(株)製「HCA−HQ」、10-(2,5-ジヒドロキシフェニル)-10-ヒドロ-9-オキサ-10-フォスファフェナンスレン-10-オキサイド、平均粒径2μm)2質量部、及び無機充填材A120質量部を混合し高圧分散機を用いて均一に分散し、樹脂混合物を得た。
(Production of resin varnish, production of adhesive sheet)
5 parts by mass of naphthalene type epoxy resin (epoxy equivalent 144, “HP4032SS” manufactured by DIC Corporation), 20 parts by mass of liquid bisphenol type epoxy resin (epoxy equivalent 165, “ZX1059” manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.), xylenol type 10 parts by mass of epoxy resin (epoxy equivalent 190, “YX4000HK” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) and 10 parts by mass of biphenyl type epoxy resin (epoxy equivalent of about 269, “NC3000H” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) The mixture was dissolved by heating with stirring in parts by mass. After cooling to room temperature, there are 5 parts of rubber particles (manufactured by Aika Kogyo Co., Ltd., Staphyloid AC3816N), a flame retardant (“HCA-HQ” produced by Sanko Co., Ltd.), 10- (2,5-dihydroxyphenyl). ) -10-hydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, average particle size 2 μm) 2 parts by mass and 120 parts by mass of inorganic filler A are mixed and dispersed uniformly using a high-pressure disperser. To obtain a resin mixture.

得られた樹脂混合物に対し、トリアジン骨格含有フェノールノボラック系硬化剤(DIC(株)製「LA−1356」、水酸基当量146)6質量部、ナフトールアラルキル型フェノール系硬化剤(新日鉄住金化学(株)製「SN485」、水酸基当量215)6質量部、フェノキシ樹脂(三菱化学(株)製「YL7553」、重量平均分子量35000)3質量部、硬化促進剤(4−ジメチルアミノピリジン)0.07質量部、メチルエチルケトン(MEK)15質量部、シクロヘキサノン15質量部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを作製した。   6 parts by mass of a triazine skeleton-containing phenol novolac curing agent (“LA-1356” manufactured by DIC Corporation, hydroxyl group equivalent 146), naphthol aralkyl type phenol curing agent (Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.) with respect to the obtained resin mixture "SN485" manufactured, 6 parts by mass of hydroxyl group equivalent 215), 3 parts by mass of phenoxy resin ("YL7553" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, weight average molecular weight 35000), 0.07 parts by mass of curing accelerator (4-dimethylaminopyridine) Then, 15 parts by mass of methyl ethyl ketone (MEK) and 15 parts by mass of cyclohexanone were mixed and dispersed uniformly with a high-speed rotary mixer to prepare a resin varnish.

次に、ポリエチレンテレフタレート(厚さ38μm、以下「PET」と略称する。)上に、乾燥後の樹脂組成物の厚みが40μmとなるようにダイコーターにて塗布し、70〜100℃(平均90℃)で5分間乾燥した(残留溶媒量約2質量%)。次いで乾燥して得られた樹脂組成物層の表面に厚さ15μmのポリプロピレンフィルムを貼り合わせながらロール状に巻き取った。得られたロール状の接着シートを幅507mmにスリットし、これより507mm×336mmサイズの接着シートを得た。   Next, it was coated on a polyethylene terephthalate (thickness 38 μm, hereinafter abbreviated as “PET”) with a die coater so that the thickness of the resin composition after drying was 40 μm, and 70 to 100 ° C. (average 90 ° C.). ) For 5 minutes (residual solvent amount of about 2% by mass). Subsequently, it wound up in roll shape, bonding a 15-micrometer-thick polypropylene film on the surface of the resin composition layer obtained by drying. The obtained roll-shaped adhesive sheet was slit into a width of 507 mm, and an adhesive sheet having a size of 507 mm × 336 mm was obtained therefrom.

<比較例1>
(無機充填材の表面処理)
未表面処理の球形シリカ((株)アドマテックス社製「SO−C2」、平均粒子径0.5μm)を無機充填材Cとした。
<Comparative Example 1>
(Surface treatment of inorganic filler)
Non-surface-treated spherical silica (“SO-C2” manufactured by Admatechs Co., Ltd., average particle size 0.5 μm) was used as the inorganic filler C.

(樹脂ワニスの作製、接着シートの作製)
実施例1において、無機充填材Aの代わりに、無機充填材Cを用いたこと以外は実施例1と全く同様にして接着シートを得た。
(Production of resin varnish, production of adhesive sheet)
In Example 1, an adhesive sheet was obtained in exactly the same manner as in Example 1 except that the inorganic filler C was used instead of the inorganic filler A.

<比較例2>
(無機充填材の表面処理)
未表面処理の球形シリカ((株)アドマテックス社製「SO−C2」、平均粒子径0.5μm)に実施例1と同様の条件にてプラズマ処理を施した表面処理球形シリカを無機充填材Dとした。
<Comparative Example 2>
(Surface treatment of inorganic filler)
Non-surface-treated spherical silica (“SO-C2” manufactured by Admatechs Co., Ltd., average particle size 0.5 μm) was subjected to plasma treatment under the same conditions as in Example 1 and the surface-treated spherical silica was used as the inorganic filler. D.

(樹脂ワニスの作製、接着シートの作製)
実施例1において、無機充填材Aの代わりに、無機充填材Dを用いたこと以外は実施例1と全く同様にして接着シートを得た。
(Production of resin varnish, production of adhesive sheet)
In Example 1, an adhesive sheet was obtained in exactly the same manner as in Example 1 except that the inorganic filler D was used instead of the inorganic filler A.

<比較例3>
(無機充填材の表面処理)
ヘキサメチルジシラザンで表面処理された表面処理球形シリカ((株)アドマテックス社製「SC2500−SQ」、平均粒子径0.5μm)を無機充填材Eとした。
<Comparative Example 3>
(Surface treatment of inorganic filler)
Surface-treated spherical silica (“SC2500-SQ” manufactured by Admatechs Co., Ltd., average particle size 0.5 μm) surface-treated with hexamethyldisilazane was used as the inorganic filler E.

(樹脂ワニスの作製、接着シートの作製)
実施例1において、無機充填材Aの代わりに、無機充填材Eを用いたこと以外は実施例1と全く同様にして接着シートを得た。
(Production of resin varnish, production of adhesive sheet)
In Example 1, an adhesive sheet was obtained in exactly the same manner as in Example 1 except that the inorganic filler E was used instead of the inorganic filler A.

<実施例2>
(無機充填材の表面処理)
ヘキサメチルジシラザンで表面処理された表面処理球形シリカ((株)アドマテックス社製「SC1500−SQ」、平均粒子径0.2μm、カーボン量:0.04mg/m)を用いたこと以外は実施例1と全く同様にして、無機充填材Bを得た。無機充填材Bの平均粒子径は0.2μmであった。
<Example 2>
(Surface treatment of inorganic filler)
Except for using surface-treated spherical silica surface-treated with hexamethyldisilazane (“SC1500-SQ” manufactured by Admatechs Co., Ltd., average particle size 0.2 μm, carbon amount: 0.04 mg / m 2 ). In the same manner as in Example 1, an inorganic filler B was obtained. The average particle diameter of the inorganic filler B was 0.2 μm.

(樹脂ワニスの作製、接着シートの作製)
実施例1において、無機充填材Aの代わりに、無機充填材Bを用いたこと以外は実施例1と全く同様にして接着シートを得た。
(Production of resin varnish, production of adhesive sheet)
In Example 1, an adhesive sheet was obtained in exactly the same manner as in Example 1 except that the inorganic filler B was used instead of the inorganic filler A.

<比較例4>
(無機充填材の表面処理)
未表面処理の球形シリカ((株)アドマテックス社製「SO−C1」、平均粒子径0.2μm)を無機充填材Fとした。
<Comparative example 4>
(Surface treatment of inorganic filler)
Non-surface-treated spherical silica (“SO-C1” manufactured by Admatechs Co., Ltd., average particle size 0.2 μm) was used as the inorganic filler F.

(樹脂ワニスの作製、接着シートの作製)
実施例1において、無機充填材Aの代わりに、無機充填材Fを用いたこと以外は実施例1と全く同様にして接着シートを得た。
(Production of resin varnish, production of adhesive sheet)
In Example 1, an adhesive sheet was obtained in exactly the same manner as in Example 1 except that the inorganic filler F was used instead of the inorganic filler A.

<比較例5>
(無機充填材の表面処理)
未表面処理の球形シリカ((株)アドマテックス社製「SO−C1」、平均粒子径0.2μm)に実施例1と同様の条件にてプラズマ処理を施した表面処理球形シリカを無機充填材Gとした。
<Comparative Example 5>
(Surface treatment of inorganic filler)
Non-surface-treated spherical silica (“SO-C1” manufactured by Admatechs Co., Ltd., average particle diameter 0.2 μm) was subjected to plasma treatment under the same conditions as in Example 1 and inorganic filler was used as the surface-treated spherical silica. G.

(樹脂ワニスの作製、接着シートの作製)
実施例1において、無機充填材Aの代わりに、無機充填材Gを用いたこと以外は実施例1と全く同様にして接着シートを得た。
(Production of resin varnish, production of adhesive sheet)
In Example 1, an adhesive sheet was obtained in exactly the same manner as in Example 1 except that the inorganic filler G was used instead of the inorganic filler A.

<比較例6>
(無機充填材の表面処理)
ヘキサメチルジシラザンで処理された表面処理球形シリカ((株)アドマテックス社製「SC1500−SQ」、平均粒子径0.2μm)を無機充填材Hとした。
<Comparative Example 6>
(Surface treatment of inorganic filler)
Surface-treated spherical silica treated with hexamethyldisilazane (“SC1500-SQ” manufactured by Admatechs Co., Ltd., average particle size 0.2 μm) was used as the inorganic filler H.

(樹脂ワニスの作製、接着シートの作製)
実施例1において、無機充填材Aの代わりに、無機充填材Hを用いたこと以外は実施例1と全く同様にして接着シートを得た。
(Production of resin varnish, production of adhesive sheet)
In Example 1, an adhesive sheet was obtained in exactly the same manner as in Example 1 except that the inorganic filler H was used instead of the inorganic filler A.

次に測定方法、評価結果を示す。
(硬化体の形成、粗化、めっき)
(1)内層回路基板の下地処理
内層回路の形成されたガラス布基材エポキシ樹脂両面銅張積層板(銅箔厚み18μm、基板厚み0.3mm、松下電工(株)製「R5715ES」)の両面を、メック(株)製CZ8100(アゾール類の銅錯体、有機酸を含む表面処理剤)に浸漬して銅表面の粗化処理をおこなった。
(2)接着シートのラミネート処理
接着シートを、バッチ式真空加圧ラミネーター((株)名機製作所製、「MVLP-5
00」)を用いて、接着シートが内層回路基板と接合するように、内層回路基板の両面にラミネート処理した。ラミネート処理は、30秒間減圧して空気圧を13hPa以下とした後、100℃、圧力0.74MPaで30秒間プレスすることにより行った。
(3)樹脂組成物の硬化
ラミネート処理された接着シートからPETフィルムを剥離し、100℃、30分、さらに180℃、30分の硬化条件で硬化体を形成した。
(4)粗化硬化体の製造
硬化体を、膨潤液(アトテックジャパン(株)製、「スエリングディップ・セキュリガンドP」、ジエチレングリコールモノブチルエーテル含有)に60℃で5分間浸漬させ、次いで粗化液(アトテックジャパン(株)製、「コンセントレート・コンパクトP」、過マンガン酸カリウム濃度約6質量%、水酸化ナトリウム濃度約4質量%の水溶液)に80℃で20分間浸漬させた。最後に中和液(アトテックジャパン(株)製、「リダクションソリューシン・セキュリガントP」)に40℃で5分間浸漬し、粗化硬化体を得た。
(5)積層体の製造
両面に粗化硬化体を有する内層回路基板を、塩化パラジウム(PdCl)を含む無電解めっき用溶液に浸漬し、次いで無電解銅めっき液に浸漬し、粗化硬化体表面にめっきシード層を形成した。その後、150℃にて30分間加熱してアニール処理を行った後に、めっきシード層上にエッチングレジストを形成し、エッチングによりめっきシード層をパターン形成した。次いで、硫酸銅電解めっきを行い、30μmの厚みの銅層(導体層)を形成した後、180℃にて60分間アニール処理し、内層回路基板の両面に積層体を得た。
Next, measurement methods and evaluation results are shown.
(Hardened body formation, roughening, plating)
(1) Inner layer circuit board surface treatment
A glass cloth base epoxy resin double-sided copper-clad laminate (with a copper foil thickness of 18 μm, a substrate thickness of 0.3 mm, “R5715ES” manufactured by Matsushita Electric Works Co., Ltd.) on which an inner layer circuit is formed is attached to CZ8100 manufactured by MEC Co., Ltd. The copper surface was roughened by dipping in an azole copper complex and a surface treatment agent containing an organic acid.
(2) Lamination process of adhesive sheet
The adhesive sheet is a batch type vacuum pressure laminator (manufactured by Meiki Seisakusho, "MVLP-5
00 ”) was laminated on both sides of the inner circuit board so that the adhesive sheet was bonded to the inner circuit board. The laminating process was performed by reducing the pressure for 30 seconds to reduce the air pressure to 13 hPa or less, and then pressing at 100 ° C. and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds.
(3) Curing of resin composition
The PET film was peeled off from the laminated adhesive sheet, and a cured body was formed under curing conditions of 100 ° C. for 30 minutes and further 180 ° C. for 30 minutes.
(4) Production of Roughened Cured Body The cured body is immersed in a swelling liquid (Atotech Japan Co., Ltd., “Swelling Dip / Seculigand P”, containing diethylene glycol monobutyl ether) at 60 ° C. for 5 minutes, and then the roughened liquid. (Atotech Japan Co., Ltd., “Concentrate Compact P”, an aqueous solution having a potassium permanganate concentration of about 6 mass% and a sodium hydroxide concentration of about 4 mass%) was immersed at 80 ° C. for 20 minutes. Finally, it was immersed for 5 minutes at 40 ° C. in a neutralizing solution (“Reduction Solutionin Securigant P” manufactured by Atotech Japan Co., Ltd.) to obtain a roughened cured body.
(5) Manufacture of laminated body An inner layer circuit board having a roughened cured body on both sides is immersed in an electroless plating solution containing palladium chloride (PdCl 2 ), and then immersed in an electroless copper plating solution for roughening and curing. A plating seed layer was formed on the body surface. Then, after annealing for 30 minutes at 150 ° C., an etching resist was formed on the plating seed layer, and the plating seed layer was patterned by etching. Subsequently, copper sulfate electrolytic plating was performed to form a copper layer (conductor layer) having a thickness of 30 μm, and then annealed at 180 ° C. for 60 minutes to obtain a laminate on both surfaces of the inner layer circuit board.

(めっき導体層の引き剥がし強さ(ピール強度))
積層体の導体層に、幅10mm、長さ100mmの部分の切込みをいれ、この一端を剥がしてつかみ具で掴み、室温中にて、50mm/分の速度で垂直方向に35mmを引き剥がした時の荷重を測定した。
(Peeling strength of the plating conductor layer (peel strength))
When the conductor layer of the laminate is cut into a 10 mm wide and 100 mm long part, this end is peeled off and gripped with a gripper, and 35 mm is pulled off in the vertical direction at a speed of 50 mm / min at room temperature. The load of was measured.

(粗化後の算術平均粗さ(Ra値)
非接触型表面粗さ計(ビーコインスツルメンツ社製WYKO NT3300)を用いて、VSIコンタクトモード、50倍レンズにより測定範囲を121μm×92μmとして得られる数値によりRa値を求めた。製造された粗化硬化体に対してRa値の測定を10箇所で行って、10箇所のRa値の平均値を算出した。
(Arithmetic average roughness (Ra value) after roughening
Using a non-contact type surface roughness meter (BYCO Instruments WYKO NT3300), the Ra value was determined by a numerical value obtained by setting the measurement range to 121 μm × 92 μm with a VSI contact mode and a 50 × lens. The Ra value of the manufactured roughened cured product was measured at 10 locations, and the average value of the 10 Ra values was calculated.

下記表1、2が実施例および比較例の樹脂組成物の各成分の配合比と評価試験の結果である。   The following Tables 1 and 2 show the compounding ratios of the respective components of the resin compositions of Examples and Comparative Examples and the results of evaluation tests.

Figure 2016056280
Figure 2016056280

Figure 2016056280
Figure 2016056280

Claims (15)

シラザン化合物で表面処理後、プラズマ処理が施された表面処理無機充填材。   Surface-treated inorganic filler that has been subjected to plasma treatment after surface treatment with a silazane compound. プラズマ処理が、アルゴンプラズマを100W以上の条件下で30秒間以上照射する処理である、請求項1に記載の表面処理無機充填材。   The surface-treated inorganic filler according to claim 1, wherein the plasma treatment is a treatment in which argon plasma is irradiated for 30 seconds or more under a condition of 100 W or more. シラザン化合物が、ヘキサメチルジシラザン、1,3−ジビニル−1,1,3,3−テ
トラメチルジシラザン、オクタメチルトリシラザン、ヘキサ(t−ブチル)ジシラザン、ヘキサブチルジシラザン、ヘキサオクチルジシラザン、1,3−ジエチルテトラメチルジシラザン、1,3−ジ−n−オクチルテトラメチルジシラザン、1,3−ジフェニルテトラメチルジシラザン、1,3−ジメチルテトラフェニルジシラザン、1,3−ジエチルテトラメチルジシラザン、1,1,3,3−テトラフェニル−1,3−ジメチルジシラザン、1,3−ジプロピルテトラメチルジシラザン、ヘキサメチルシクロトリシラザン、ヘキサフェニルジシラザン、ジメチルアミノトリメチルシラザン、トリシラザン、シクロトリシラザン、および1,1,3,3,5,5−ヘキサメチルシクロトリシラザンからなる群から選択される1種または2種以上である、請求項1又は2に記載の表面処理無機充填材。
The silazane compound is hexamethyldisilazane, 1,3-divinyl-1,1,3,3-tetramethyldisilazane, octamethyltrisilazane, hexa (t-butyl) disilazane, hexabutyldisilazane, hexaoctyldisilazane. 1,3-diethyltetramethyldisilazane, 1,3-di-n-octyltetramethyldisilazane, 1,3-diphenyltetramethyldisilazane, 1,3-dimethyltetraphenyldisilazane, 1,3-diethyl Tetramethyldisilazane, 1,1,3,3-tetraphenyl-1,3-dimethyldisilazane, 1,3-dipropyltetramethyldisilazane, hexamethylcyclotrisilazane, hexaphenyldisilazane, dimethylaminotrimethylsilazane , Trisilazane, cyclotrisilazane, and 1,1,3,3 The surface-treated inorganic filler according to claim 1 or 2, which is one or more selected from the group consisting of 1,5,5-hexamethylcyclotrisilazane.
平均粒子径が0.01〜5μmである、請求項1〜3のいずれか1項に記載の表面処理無機充填材。   The surface-treated inorganic filler according to any one of claims 1 to 3, wherein the average particle diameter is 0.01 to 5 µm. 無機充填材がシリカである、請求項1〜4のいずれか1項に記載の表面処理無機充填材。   The surface-treated inorganic filler according to any one of claims 1 to 4, wherein the inorganic filler is silica. 無機充填材が球状粒子である、請求項1〜5のいずれか1項に記載の表面処理無機充填材。   The surface-treated inorganic filler according to any one of claims 1 to 5, wherein the inorganic filler is a spherical particle. 回路基板の絶縁層形成用樹脂組成物に使用される、請求項1〜6のいずれか1項に記載の表面処理無機充填材。   The surface treatment inorganic filler of any one of Claims 1-6 used for the resin composition for insulating layer formation of a circuit board. 無機充填材をシラザン化合物で表面処理した後、さらにプラズマ処理を施すことを含む、表面処理無機充填材の製造方法。   A method for producing a surface-treated inorganic filler, comprising subjecting an inorganic filler to a surface treatment with a silazane compound and further subjecting the inorganic filler to a plasma treatment. (A)請求項1〜7のいずれか1項に記載の表面処理無機充填材、(B)エポキシ樹脂、および(C)硬化剤を含有する樹脂組成物。   (A) A resin composition comprising the surface-treated inorganic filler according to any one of claims 1 to 7, (B) an epoxy resin, and (C) a curing agent. 表面処理無機充填材の含有量が、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、50質量%以上である請求項9に記載の樹脂組成物。   The resin composition according to claim 9, wherein the content of the surface-treated inorganic filler is 50% by mass or more when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. さらに(D)硬化促進剤を含有する請求項9又は10に記載の樹脂組成物。   The resin composition according to claim 9 or 10, further comprising (D) a curing accelerator. さらに(E)熱可塑性樹脂を含有する請求項9〜11のいずれか1項に記載の樹脂組成物。   Furthermore, (E) The resin composition of any one of Claims 9-11 containing a thermoplastic resin. 請求項9〜12のいずれか1項に記載の樹脂組成物の層が支持体上に形成されてなる接着シート。   The adhesive sheet in which the layer of the resin composition of any one of Claims 9-12 is formed on a support body. 請求項9〜12のいずれか1項に記載の樹脂組成物がシート状繊維基材中に含浸されてなるプリプレグ。   A prepreg formed by impregnating the resin composition according to any one of claims 9 to 12 in a sheet-like fiber base material. 請求項9〜12のいずれか1項に記載の樹脂組成物の硬化物により形成された絶縁層を含む回路基板。   The circuit board containing the insulating layer formed with the hardened | cured material of the resin composition of any one of Claims 9-12.
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