JP2016040528A - Automatic analyzer - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は試料に含まれる成分量を分析する分析装置に関わり、例えば血液や尿に含まれる成分量を分析する自動分析装置に関する。 The present invention relates to an analyzer that analyzes the amount of a component contained in a sample, for example, an automatic analyzer that analyzes the amount of a component contained in blood or urine.
試料に含まれる成分量を分析する分析装置として、光源からの光を、試料、又は試料と試薬とが混合した反応溶液に照射し、試料又は反応溶液を通過した単一又は複数の測定波長の透過光量を受光素子にて測定して吸光度を算出し、吸光度と濃度の関係から成分量を割り出す自動分析装置が広く用いられている(例えば特許文献1)。自動分析装置では多数の検査項目に対応するため、複数の測定波長を必要とし、また高精度に測定するため、全ての波長において一定以上の光量を安定して測定できることが必要である。これまでに光源として、比較的光量が得られ発光スペクトルが広いハロゲンランプ等が用いられてきたが、紫外光とくに自動分析装置においては重要度の高い340nm近傍の光量が少ないといった問題があった。一方で近年、半導体発光素子である発光ダイオード(Light Emitting Diode:LED)の自動分析装置への適用が検討されており、ハロゲンランプでは発光量の少ない紫外光の波長をフィルタ等で合波することが考案されていた(例えば特許文献2、3)。 As an analytical device for analyzing the amount of components contained in a sample, light from a light source is irradiated on the sample or a reaction solution in which the sample and the reagent are mixed, and the single or multiple measurement wavelengths that pass through the sample or the reaction solution 2. Description of the Related Art An automatic analyzer that measures the amount of transmitted light with a light receiving element, calculates the absorbance, and calculates the component amount from the relationship between the absorbance and the concentration is widely used (for example, Patent Document 1). In order to cope with a large number of inspection items, the automatic analyzer requires a plurality of measurement wavelengths, and in order to measure with high accuracy, it is necessary to be able to stably measure a certain amount of light at all wavelengths. Up to now, halogen lamps having a relatively large light amount and a broad emission spectrum have been used as light sources, but there has been a problem that the amount of light in the vicinity of 340 nm, which is highly important, is small in ultraviolet light, particularly in automatic analyzers. On the other hand, in recent years, the application of light emitting diodes (LEDs), which are semiconductor light emitting elements, to automatic analyzers is being studied. In halogen lamps, the wavelength of ultraviolet light, which emits less light, is combined with a filter or the like. Has been devised (for example, Patent Documents 2 and 3).
複数の光源を用いた場合、個々の光源を管理することが必要であり、光源から発する光量モニタ用の受光器が必須であった。そのため別途光量モニタ用受光器を設ける必要があった。特にハロゲンランプの光量低下は紫外光ほど顕著であり、これまでは分光後に紫外光の波長の光量から劣化をいち早く知ることができたが、フィルタで紫外光を反射させた場合、ハロゲンランプの紫外光を受光することができず、光量劣化をいち早く知ることができないという問題があった。 When a plurality of light sources are used, it is necessary to manage the individual light sources, and a light receiver for monitoring the amount of light emitted from the light sources is essential. Therefore, it is necessary to provide a separate light amount monitoring light receiver. In particular, the decrease in the light intensity of halogen lamps is more pronounced with ultraviolet light, and until now it was possible to quickly know the deterioration from the light intensity of the wavelength of ultraviolet light after spectroscopy, but when ultraviolet light was reflected by a filter, There was a problem that light could not be received and the light quantity deterioration could not be known quickly.
本発明では、紫外LED光源からの光とハロゲンランプからの光を、紫外LED光源からの紫外光を反射する反射部あるいは紫外LEDからの紫外光を透過する反射部により同軸上に合波する。反射部により反射されたハロゲンランプからの紫外光をモニタすることでハロゲンランプの劣化を検知する。 In the present invention, the light from the ultraviolet LED light source and the light from the halogen lamp are combined on the same axis by the reflection part that reflects the ultraviolet light from the ultraviolet LED light source or the reflection part that transmits the ultraviolet light from the ultraviolet LED. The deterioration of the halogen lamp is detected by monitoring the ultraviolet light from the halogen lamp reflected by the reflector.
本発明の一態様による自動分析装置は、紫外域の第1の波長の光を発生する第1の光源と、第1の波長及び第1の波長よりも長い複数の測定波長を含む光を発生する第2の光源と、第1の波長の光を反射し複数の測定波長の光を透過させて第1の光源からの光と第2の光源からの光を同軸上に合波させる反射部と、試料溶液を保持し、反射部により反射された第1の光源からの第1の波長の光と、反射部を透過した第2の光源からの複数の測定波長を含む光が入射するセルと、反射部により反射された第2の光源の第1の波長の光を検出する第1の検出器と、セルを透過した第1の波長の光及び複数の測定波長の光を検出する検出器アレイと、を有する。 An automatic analyzer according to one aspect of the present invention generates a first light source that generates light having a first wavelength in the ultraviolet region, and light that includes the first wavelength and a plurality of measurement wavelengths longer than the first wavelength. A second light source that reflects light having a first wavelength and transmits light having a plurality of measurement wavelengths, and coaxially combines the light from the first light source and the light from the second light source. And a cell that holds the sample solution and receives light having the first wavelength from the first light source reflected by the reflecting portion and light including a plurality of measurement wavelengths from the second light source that has passed through the reflecting portion. And a first detector for detecting light of the first wavelength of the second light source reflected by the reflecting unit, and detection for detecting light of the first wavelength and light of a plurality of measurement wavelengths transmitted through the cell A container array.
本発明の別の態様による自動分析装置は、紫外域の第1の波長の光を発生する第1の光源と、第1の波長及び第1の波長よりも長い複数の測定波長を含む光を発生する第2の光源と、第1の波長の光を透過し複数の測定波長の光を反射させて第1の光源からの光と第2の光源からの光を同軸上に合波させる反射部と、試料溶液を保持し、反射部を透過した第1の光源からの第1の波長の光と、反射部により反射された第2の光源からの複数の測定波長を含む光が入射するセルと、反射部を透過した第2の光源の第1の波長の光を検出する第1の検出器と、セルを透過した第1の波長の光及び複数の測定波長の光を検出する検出器アレイと、を有する。
ここで、第1の光源を発光ダイオード、第2の光源をハロゲンランプとすることができる。
An automatic analyzer according to another aspect of the present invention includes a first light source that generates light having a first wavelength in the ultraviolet region, and light including a first wavelength and a plurality of measurement wavelengths longer than the first wavelength. A second light source that is generated and a reflection that transmits light of a first wavelength and reflects light of a plurality of measurement wavelengths, and combines light from the first light source and light from the second light source on the same axis. The first wavelength light from the first light source that holds the sample solution and the sample solution is transmitted, and the light including the plurality of measurement wavelengths from the second light source reflected by the reflection unit is incident. A first detector for detecting light of the first wavelength of the second light source that has passed through the reflection unit, and detection for detecting light of the first wavelength and a plurality of measurement wavelengths that has passed through the cell; A container array.
Here, the first light source can be a light emitting diode, and the second light source can be a halogen lamp.
第1の光源と反射部と第1の検出器とはユニットとして一体化することができる。
また、第1の検出器で検出された光量を予め設定された閾値と比較し、それが閾値より小さい場合にアラームを表示することで、ハロゲンランプの寿命を表示することができる。
また、第1の検出器で検出された光量の時間変化割合が予め定めた閾値以上であった場合に、検出器アレイによって検出された複数の測定波長の光量データをドリフト補正するようにしてもよい。
The first light source, the reflector, and the first detector can be integrated as a unit.
In addition, the life of the halogen lamp can be displayed by comparing the amount of light detected by the first detector with a preset threshold value and displaying an alarm when it is smaller than the threshold value.
Further, when the time change rate of the light amount detected by the first detector is equal to or greater than a predetermined threshold value, the light amount data of a plurality of measurement wavelengths detected by the detector array may be drift-corrected. Good.
本発明に従えば、ハロゲンランプからの紫外光を受光することでハロゲンランプの劣化をいち早く知ることができ、フィラメント断線などの前に適切に交換することが可能となり、分析性能を維持することができる。
上記した以外の、課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
According to the present invention, by receiving ultraviolet light from a halogen lamp, it is possible to quickly know the deterioration of the halogen lamp, and it is possible to appropriately replace it before filament breakage, etc., and to maintain analytical performance. it can.
Problems, configurations, and effects other than those described above will be clarified by the following description of embodiments.
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
図1は、自動分析装置の全体構成例を示す模式図である。本実施例に係る自動分析装置は、サンプルディスク3、試薬ディスク6、反応ディスク9の3種類のディスクと、これらのディスク間でサンプルや試薬を移動させる分注機構、これらを制御する制御回路23、反応液の吸光度を測定する光量測定回路24、光量測定回路24で測定されたデータを処理するデータ処理部26、データ処理部26とのインタフェースである入力部27及び出力部28で構成される。
FIG. 1 is a schematic diagram illustrating an example of the overall configuration of an automatic analyzer. The automatic analyzer according to this embodiment includes three types of disks, a
データ処理部26は、メモリ2601と解析部2602を備える。メモリ2601には、制御データ、測定データ、データ解析に用いるデータ、解析結果データ等が格納される。入力部27及び出力部28は、メモリ2601との間でデータを入出力する。図1に示した例では、入力部27がキーボードの場合を表しているが、タッチパネル、テンキーその他の入力装置でも良い。
The
サンプルディスク3の円周上には、サンプル1の収容容器であるサンプルカップ2が複数配置される。サンプル1は例えば血液である。試薬ディスク6の円周上には、試薬4の収容容器である試薬ボトル5が複数配置される。反応ディスク9の円周上には、サンプル1と試薬4を混合させた反応液7の収容容器である反応セル8が複数配置される。
On the circumference of the
サンプル分注機構10は、サンプルカップ2から反応セル8にサンプル1を一定量移動させる際に使用する機構である。サンプル分注機構10は、例えば溶液を吐出又は吸引するノズルと、ノズルを所定位置に位置決め及び搬送するロボット、溶液をノズルから吐出又はノズルに吸引するポンプで構成される。
The
試薬分注機構11は、試薬ボトル5から反応セル8に試薬4を一定量移動させる際に使用する機構である。試薬分注機構11も、例えば溶液を吐出又は吸引するノズルと、ノズルを所定位置に位置決め及び搬送するロボット、溶液をノズルから吐出又はノズルに吸引するポンプで構成される。
The
攪拌部12は、反応セル8内で、サンプル1と試薬4を攪拌し混合させる機構部である。洗浄部14は、分析処理が終了した反応セル8から反応液7を排出し、その後、反応セル8を洗浄する機構部である。洗浄終了後の反応セル8には、再び、サンプル分注機構10から次のサンプル1が分注され、試薬分注機構11から新しい試薬4が分注されて、別の反応処理に使用される。
The stirring
反応ディスク9において、反応セル8は、温度及び流量が制御された恒温槽内の恒温流体15に浸漬されている。このため、反応セル8及びその中の反応液7は、反応ディスク9による移動中も、その温度は一定温度に保たれる。本実施例の場合、恒温流体15として水を使用し、その温度は制御回路23により37±0.1℃に温度調整される。勿論、恒温流体15として使用する媒体や温度は一例である。
In the
反応ディスク9の円周上の一部に、吸光度測定部(吸光光度計)13が配置される。図2は、吸光度測定部13の構成例を示す模式図である。吸光度測定部13は、ハロゲンランプ31及び紫外LED光源32を備える。ハロゲンランプ31から発生した照射光16aは熱線カットフィルタ18において赤外光成分をカットされた後、集光レンズ17aにより集光され、反射部41を備えるプリズム42に照射される。また、紫外LED光源32から発生した照射光16bは集光レンズ17bにより集光され、反射部41を備えるプリズム42に照射される。
An absorbance measurement unit (absorptiometer) 13 is disposed on a part of the circumference of the
図3は、プリズム42の反射部41の反射率特性の例を示す図である。プリズム42の反射部41は紫外波長帯域を反射する膜からなり、本実施例では360nm以下の光を反射する反射膜を用いた。本実施例ではハロゲンランプからの光と紫外LEDからの光の合波部にプリズムを用いたが、プリズムに代えてフィルタなど平板形状の素子を用いてもよい。結果としてハロゲンランプ31から発生された光のうち360nm以下の紫外光は反射部41で反射され、それより長波長側の光は透過する。一方、紫外LED光源32にはピーク波長として340nm±10nmの波長帯域を発生するLEDを用いた。発生した光のほとんどが反射部41において反射され、ハロゲンランプ31から発生した360nmよりも長波長の光と同軸上に合波され、一緒に反応セル8に照射される。
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of the reflectance characteristic of the reflecting
反応セル8を透過した光は分光器33中の回折格子34で分光され、多数の受光器を備える検出器アレイ35で受光される。検出器アレイ35で受光する測定波長は、一例として第1から第12の波長まであり、340nm、405nm、450nm、480nm、505nm、546nm、570nm、600nm、660nm、700nm、750nm、800nmである。波長340nm以外の測定波長は、ハロゲンランプ31から発生されたものである。これら受光器による受光信号は、光量測定回路24を通じ、データ処理部26のメモリ2601に送信される。ハロゲンランプ31から発生され反射部41で反射した350nm以下の紫外光は別途設けられたハロゲンランプ紫外光量受光器43に受光され、光量測定回路24を通じ、メモリ2601に送信される。また紫外LED光源32にも近傍に紫外LED光量受光器44が設けられ、この受光信号も同様に光量測定回路24を通じ、メモリ2601に送信される。
The light transmitted through the
図4は、ハロゲンランプからの光と紫外LED光源からの光とを同軸上に合波した後に検出器アレイ35で受光された12の測定波長の受光光量の例を示す図である。回路部品の共通化を図るため、紫外LED光源32の光量はハロゲンランプ31の光量とほぼ同等になるように紫外LED光量受光器44によりモニタしながら調整した。
FIG. 4 is a diagram showing an example of the received light amount of 12 measurement wavelengths received by the
これにより検出器アレイ35の340nmの受光器に受光される光量は紫外LED光源32から発生した光の透過光となり、光量が少なく課題となっていたハロゲンランプ31からの光量を補うことができる。またハーフミラーなどで混合することなく、反射部41で該当波長の光をほぼ別光源に置き換えることで、該当波長の光がドリフトした際にも該当する光源が原因であることがわかり、原因対策をすばやくできるため有利である。
As a result, the amount of light received by the 340 nm light receiver of the
紫外LED光源32、プリズム42、ハロゲンランプ紫外光量受光器43、紫外LED光量受光器44は一つの筐体に一体化して配置し、紫外LEDユニット45とした。一体化することにより組み立てやメンテナンス時に簡単に取り外しや交換をすることができ有用である。
The ultraviolet
ハロゲンランプ31からの照射光16aは、熱線カットフィルタ18透過後に紫外LEDユニット45に入射する。この配置により、紫外LEDユニット45への赤外光の入射が少なくなり、ユニット全体の温度が一定に保たれるので熱に対する寸法安定性に優れる構成となる。
なお、プリズム42に設ける反射部41の特性は、図3に示した場合と逆に、図5に示すように反射と透過特性が360nm以下の光を透過し、それより長い波長の光を反射するものであってもよい。その場合には、ハロゲンランプ31からの360nm以上の光を概ね反射させ、紫外LED光源32からの光を概ね透過するように2つの光源の位置関係を図2と逆にすることで同等の効果が得られる。
In contrast to the case shown in FIG. 3, the
図6は、反射部41に紫外波長帯域を透過する膜を用いた場合の吸光度測定部13の構成例を示す模式図である。紫外LEDユニット45のプリズム42に設けられた反射部(膜)41は360nmより長波長の光を反射し、それより短波長の光を透過する。ハロゲンランプ31から紫外LEDユニット45に入射する360nm以下の紫外光はプリズム42の反射部41を透過し、ハロゲンランプ紫外光量受光器43に入射する。ハロゲンランプ31から紫外LEDユニット45に入射する測定波長、例えば405nm、450nm、480nm、505nm、546nm、570nm、600nm、660nm、700nm、750nm、800nmを含む光は、プリズム42の反射部41で反射される。紫外LEDユニット45内に配置された紫外LED光源32から発生されたピーク波長340nm±10nmの紫外光は反射部41を透過し、ハロゲンランプ31から発生され反射部41で反射された360nmよりも長波長の上記測定波長を含む光と同軸上に合波され、反応セル8に照射される。
FIG. 6 is a schematic diagram illustrating a configuration example of the
サンプル1に含まれる成分濃度の定量は、次の手順により行われる。まず、制御回路23は、洗浄部14に指示し、反応セル8を洗浄する。次に、制御回路23は、サンプル分注機構10により、サンプルカップ2内のサンプル1を反応セル8に一定量分注する。次に、制御回路23は、試薬分注機構11により、試薬ボトル5内の試薬4を反応セル8に一定量分注する。
The concentration of the component contained in the
各溶液の分注時、制御回路23は、それぞれに対応する駆動部により、サンプルディスク3、試薬ディスク6、反応ディスク9を回転駆動させる。この際、サンプルカップ2、試薬ボトル5、反応セル8は、それぞれに対応する分注機構の駆動タイミングに応じ、所定の分注位置に位置決めされる。
At the time of dispensing each solution, the
続いて、制御回路23は、攪拌部12を制御して、反応セル8内に分注されたサンプル1と試薬4とを攪拌し、反応液7を生成する。反応ディスク9の回転により、反応液7を収容する反応セル8は、吸光度測定部13が配置された測定位置を通過する。測定位置を通過するたび、反応液7からの透過光量が吸光度測定部13を介して測定される。本実施例の場合、各測定時間は約10分である。吸光度測定部13による測定データはメモリ2601に順次出力され、反応過程データとして蓄積される。
Subsequently, the
この反応過程データの蓄積の間、必要であれば、別の試薬4を試薬分注機構11により反応セル8に追加で分注し、攪拌部12により攪拌し、さらに一定時間測定する。これにより、一定の時間間隔で取得された反応過程データが、メモリ2601に格納される。
During the accumulation of the reaction process data, if necessary, another reagent 4 is additionally dispensed into the
図7は、ハロゲンランプの劣化を判定する処理手順の例を示すフローチャートである。装置の電源をONしたのち、一定時間後、ハロゲンランプ紫外光量受光器43で受光され光量測定回路24で測定されたハロゲンランプ紫外の受光光量をメモリ2601へ送信し格納する。解析部2602にて受光光量を予めメーカにより設定された閾値と比較する。受光光量が閾値以上の場合、何もせず測定開始を待つスタンバイ状態となる。受光光量が閾値より小さい場合、光源の寿命と判断してアラームを表示しハロゲンランプの交換を促す。
FIG. 7 is a flowchart illustrating an example of a processing procedure for determining deterioration of a halogen lamp. After turning on the power of the apparatus, after a certain time, the received light quantity of the halogen lamp ultraviolet light received by the halogen lamp ultraviolet
図8は、ハロゲンランプ紫外光量受光器43の受光信号とランプ点灯時間の関係の例を示す図である。本実施例の場合、受光光量の閾値は20000であり、受光光量が20000より小さくなった1200時間後に画面にアラームを表示する。表示画面の例を図9に示す。出力部28の表示画面にアラームが色つきで表示され、該当個所をクリックすることでさらに詳細なハロゲンランプ光量低下の表示がなされる。これによりハロゲンランプの劣化を知ることができ、予めユーザーに交換を促すことができるため有用である。またこのアラーム表示は、紫外LED光量受光器44の受光光量を用いて紫外LED光源32に対して適用することもできる。
FIG. 8 is a diagram showing an example of the relationship between the light reception signal of the halogen lamp
図10は、成分濃度の定量時にドリフト補正をする際の処理手順の例を示すフローチャートである。測定開始後、分光器33の検出器アレイ35において例えば10分間の反応過程データを取得する。それとともにハロゲンランプ紫外光量受光器43において10分間の光量変動を検出する。受光光量をメモリ2601へ格納する。ハロゲンランプ紫外光量受光器43において検出したハロゲンランプ紫外光量の一定時間の変動分を直線近似などで算出する。光量の時間変化割合を予めメーカにより設定された閾値と比較し、それが閾値以上であった場合、ドリフトと判断して光量変動アラームを表示するとともに、ハロゲンランプを用いた測定波長の反応過程データをドリフト補正演算する。ドリフト補正に当たっては、例えばハロゲンランプ紫外光量受光器43の受光光量が1分間に0.1%光量が低下した場合、1分間あたり0.1%光量が増大する方向に反応過程データを補正したものとして算出結果を演算する。得られた成分濃度の結果は参考値として表示する。ハロゲンランプ紫外光量の変化割合が予めメーカにより設定された閾値以下であった場合、特に補正せず、成分濃度の定量値を出力する。またこれらは紫外LED光量受光器44を用いて、同様の表示を紫外LED光源32に適用することもできる。これにより、光源由来で大きな変動があった場合にも成分濃度の参考値を出力でき再検の必要がないため有用である。
FIG. 10 is a flowchart illustrating an example of a processing procedure when drift correction is performed when the component concentration is determined. After the start of measurement, for example, reaction process data for 10 minutes is acquired in the
なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明するために詳細に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されるものではない。また、ある実施例の構成の一部を他の実施例の構成に置き換えることが可能であり、また、ある実施例の構成に他の実施例の構成を加えることも可能である。また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。 In addition, this invention is not limited to an above-described Example, Various modifications are included. For example, the above-described embodiments have been described in detail for easy understanding of the present invention, and are not necessarily limited to those having all the configurations described. Further, a part of the configuration of one embodiment can be replaced with the configuration of another embodiment, and the configuration of another embodiment can be added to the configuration of one embodiment. Further, it is possible to add, delete, and replace other configurations for a part of the configuration of each embodiment.
1 サンプル
2 サンプルカップ
3 サンプルディスク
4 試薬
5 試薬ボトル
6 試薬ディスク
7 反応液
8 反応セル
9 反応ディスク
10 サンプル分注機構
11 試薬分注機構
12 攪拌部
13 吸光度測定部
14 洗浄部
15 恒温流体
16a 照射光
16b 照射光
17a 集光レンズ
17b 集光レンズ
18 熱線カットフィルタ
23 制御回路
24 光量測定回路
26 データ処理部
2601 メモリ
2602 解析部
27 入力部
28 出力部
31 ハロゲンランプ
32 紫外LED光源
33 分光器
34 回折格子
35 検出器アレイ
41 反射部
42 プリズム
43 ハロゲンランプ紫外光量受光器
44 紫外LED光量受光器
45 紫外LEDユニット
1 Sample 2
Claims (10)
前記第1の波長及び前記第1の波長よりも長い複数の測定波長を含む光を発生する第2の光源と、
前記第1の波長の光を反射し前記複数の測定波長の光を透過させて前記第1の光源からの光と前記第2の光源からの光を同軸上に合波させる反射部と、
試料溶液を保持し、前記反射部により反射された前記第1の光源からの前記第1の波長の光と、前記反射部を透過した前記第2の光源からの前記複数の測定波長を含む光が入射するセルと、
前記反射部により反射された前記第2の光源の前記第1の波長の光を検出する第1の検出器と、
前記セルを透過した前記第1の波長の光及び前記複数の測定波長の光を検出する検出器アレイと、
を有することを特徴とする自動分析装置。 A first light source that generates light having a first wavelength in the ultraviolet region;
A second light source for generating light including the first wavelength and a plurality of measurement wavelengths longer than the first wavelength;
A reflection unit that reflects the light of the first wavelength and transmits the light of the plurality of measurement wavelengths, and coaxially combines the light from the first light source and the light from the second light source;
The first wavelength light from the first light source that holds the sample solution and is reflected by the reflecting portion, and the light that includes the plurality of measurement wavelengths from the second light source that has passed through the reflecting portion. A cell on which is incident,
A first detector for detecting the light of the first wavelength of the second light source reflected by the reflecting unit;
A detector array for detecting the light of the first wavelength and the light of the plurality of measurement wavelengths transmitted through the cell;
The automatic analyzer characterized by having.
前記第1の光源が発光ダイオードであり、前記第2の光源がハロゲンランプであることを特徴とする自動分析装置。 The automatic analyzer according to claim 1, wherein
The automatic analyzer according to claim 1, wherein the first light source is a light emitting diode and the second light source is a halogen lamp.
前記第1の光源と前記反射部と前記第1の検出器とがユニットとして一体化されていることを特徴とする自動分析装置。 The automatic analyzer according to claim 1, wherein
The automatic analyzer according to claim 1, wherein the first light source, the reflector, and the first detector are integrated as a unit.
前記第1の検出器で検出された光量を予め設定された閾値と比較する工程と、
前記第1の検出器で検出された光量が前記閾値より小さい場合にアラームを表示する工程と、
を有することを特徴とする方法。 A control method for an automatic analyzer according to claim 1,
Comparing the amount of light detected by the first detector with a preset threshold;
Displaying an alarm when the amount of light detected by the first detector is less than the threshold;
A method characterized by comprising:
前記第1の検出器で検出された光量の時間変化割合と予め定めた閾値とを比較する工程と、
前記時間変化割合が前記閾値以上であった場合、前記検出器アレイによって検出された前記複数の測定波長の光量データをドリフト補正する工程と、
を有することを特徴とする方法。 A control method for an automatic analyzer according to claim 1,
Comparing the time change rate of the amount of light detected by the first detector with a predetermined threshold;
Drift correction of the light quantity data of the plurality of measurement wavelengths detected by the detector array when the time change rate is equal to or greater than the threshold;
A method characterized by comprising:
前記第1の波長及び前記第1の波長よりも長い複数の測定波長を含む光を発生する第2の光源と、
前記第1の波長の光を透過し前記複数の測定波長の光を反射させて前記第1の光源からの光と前記第2の光源からの光を同軸上に合波させる反射部と、
試料溶液を保持し、前記反射部を透過した前記第1の光源からの前記第1の波長の光と、前記反射部により反射された前記第2の光源からの前記複数の測定波長を含む光が入射するセルと、
前記反射部を透過した前記第2の光源の前記第1の波長の光を検出する第1の検出器と、
前記セルを透過した前記第1の波長の光及び前記複数の測定波長の光を検出する検出器アレイと、
を有することを特徴とする自動分析装置。 A first light source that generates light having a first wavelength in the ultraviolet region;
A second light source for generating light including the first wavelength and a plurality of measurement wavelengths longer than the first wavelength;
A reflection unit that transmits the light of the first wavelength and reflects the light of the plurality of measurement wavelengths to coaxially combine the light from the first light source and the light from the second light source;
The first wavelength light from the first light source that holds the sample solution and transmitted through the reflection unit, and the light that includes the plurality of measurement wavelengths from the second light source reflected by the reflection unit A cell on which is incident,
A first detector for detecting the light of the first wavelength of the second light source that has passed through the reflecting section;
A detector array for detecting the light of the first wavelength and the light of the plurality of measurement wavelengths transmitted through the cell;
The automatic analyzer characterized by having.
前記第1の光源が発光ダイオードであり、前記第2の光源がハロゲンランプであることを特徴とする自動分析装置。 The automatic analyzer according to claim 6,
The automatic analyzer according to claim 1, wherein the first light source is a light emitting diode and the second light source is a halogen lamp.
前記第1の光源と前記反射部と前記第1の検出器とがユニットとして一体化されていることを特徴とする自動分析装置。 The automatic analyzer according to claim 6,
The automatic analyzer according to claim 1, wherein the first light source, the reflector, and the first detector are integrated as a unit.
前記第1の検出器で検出された光量を予め設定された閾値と比較する工程と、
前記第1の検出器で検出された光量が前記閾値より小さい場合にアラームを表示する工程と、
を有することを特徴とする方法。 A control method for an automatic analyzer according to claim 6,
Comparing the amount of light detected by the first detector with a preset threshold;
Displaying an alarm when the amount of light detected by the first detector is less than the threshold;
A method characterized by comprising:
前記第1の検出器で検出された光量の時間変化割合と予め定めた閾値とを比較する工程と、
前記時間変化割合が前記閾値以上であった場合、前記検出器アレイによって検出された前記複数の測定波長の光量データをドリフト補正する工程と、
を有することを特徴とする方法。 A control method for an automatic analyzer according to claim 6,
Comparing the time change rate of the amount of light detected by the first detector with a predetermined threshold;
Drift correction of the light quantity data of the plurality of measurement wavelengths detected by the detector array when the time change rate is equal to or greater than the threshold;
A method characterized by comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014164451A JP6294186B2 (en) | 2014-08-12 | 2014-08-12 | Automatic analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2014164451A JP6294186B2 (en) | 2014-08-12 | 2014-08-12 | Automatic analyzer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016040528A true JP2016040528A (en) | 2016-03-24 |
JP6294186B2 JP6294186B2 (en) | 2018-03-14 |
Family
ID=55540890
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014164451A Active JP6294186B2 (en) | 2014-08-12 | 2014-08-12 | Automatic analyzer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6294186B2 (en) |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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