JP2015515620A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015515620A5 JP2015515620A5 JP2015500986A JP2015500986A JP2015515620A5 JP 2015515620 A5 JP2015515620 A5 JP 2015515620A5 JP 2015500986 A JP2015500986 A JP 2015500986A JP 2015500986 A JP2015500986 A JP 2015500986A JP 2015515620 A5 JP2015515620 A5 JP 2015515620A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tube
- voltage
- power supply
- terminal
- controller
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 21
- 230000004044 response Effects 0.000 claims 4
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims 2
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 claims 2
- 230000003278 mimic Effects 0.000 claims 2
- 230000001419 dependent Effects 0.000 claims 1
- 108060009362 VPS41 Proteins 0.000 description 1
- 230000000630 rising Effects 0.000 description 1
Description
更なる通常の状態検査としては:管が切れる(turn off)ことを確認するために、各電極に順番に高い負電圧が印加される電極導通の検査;及び確実に管がシミュレートされた最大信号駆動部で最大定格電流を供給できるようにするために、高圧電源を使用する放出検査が挙げられる。従来の管検査器では、放出検査は、可能な限り管を導通させて、管の電流を測定することによって、実行される。しかしながら、この検査は、検査対象の管を損傷又は破壊する危険がある。対照的に、本明細書で記載する検査装置10では、放出検査を実行する際には、パルス高圧電源が使用される。ブーストコンバータ104が、グリッドバイアスを20mA〜60mAに設定した状態で、375Vを管の陽極に供給するために使用される。しかしながら、マイクロプロセッサ115は、陽極への高圧電源が、好適には5〜100ミリ秒の範囲内、例えば20ミリ秒毎にパルス化されるように、トランジスタFET2を制御する。これにより、検査装置10は、検査中に管がオーバーヒートする危険性を回避できる。管内の電流は、従来通りモニタリングされるが、理想的には、結果として得られるパルス電流データの立ち上がりエッジのみが、管状態値を決定する際に使用される。
Claims (27)
- 熱電子管検査器であって、
熱電子管の電極と接続するよう構成された複数の管電極端子を有する少なくとも1つの管用ソケット;
前記熱電子管検査器に唯一の外部DC電源を提供するために、外部低電圧DC電源に接続するよう構成された単一の電源端子;
前記単一の電源端子に接続され、前記管用ソケットの少なくとも1つの管電極端子との切換可能な接続部を有する第1電圧レギュレータであって、少なくとも2つの異なる所定の管電極電圧を供給するよう構成された第1電圧レギュレータ;
メモリを備えたコントローラであって、 前記第1電圧レギュレータの少なくとも1つの前記管電極端子との接続を制御し、前記管用ソケットに取付けられた熱電子管の電流フローをモニタリングし、前記メモリに保存されたアルゴリズムを実行するよう構成されたコントローラ;及び
熱電子管に対する検査結果を表示するための、前記コントローラと通信するディスプレイを備える熱電子管検査器であって、
前記コントローラは、更に、状態値を計算し、該状態値を前記ディスプレイによって表示させるよう構成され、前記状態値は、1つ又は複数の管検査に応じてモニタリングされた管の性能と、管の性能にそれぞれ対応する1つ又は複数の期待性能特性との差に基づいて計算される値であり、前記状態値は、更に、同じ種類の管が同じ状態値を有する場合に、同一の管であることを表し、
前記アルゴリズムは、前記アルゴリズムに従う前記コントローラによる、前記第1電圧レギュレータと少なくとも1つの前記管電極端子との間の接続の制御によって、検査電圧が、電力消費量を抑制して前記熱電子管の動作条件を模倣する少なくとも1つの前記管電極端子に印加されるように構成されている、熱電子管検査器。 - 前記管用ソケットの少なくとも1つの管電極端子との切換可能な接続部を有する第2電圧レギュレータを更に備え、前記単一の電源端子は、前記第1及び第2電圧レギュレータの両方に給電する、請求項1に記載の熱電子管検査器。
- 前記単一の電源端子は、10〜48VのDC電源に接続されるよう構成される、請求項1又は2に記載の熱電子管検査器。
- 前記単一の電源端子は、汎用低電圧DC電源に接続するよう構成される、請求項3に記載の熱電子管検査器。
- 前記単一の電源端子は、バッテリ電源に接続するよう構成される、請求項1乃至3の何れか一項に記載の熱電子管検査器。
- 前記第1電圧レギュレータは、スイッチングレギュレータである、請求項1乃至5の何れか一項に記載の熱電子管検査器。
- 前記第1電圧レギュレータは、トランジスタを含み、前記コントローラは、前記第1電圧レギュレータによって少なくとも1つの前記管電極端子に供給された電圧を変更するために、前記トランジスタのパルス幅を制御するよう構成される、請求項6に記載の熱電子管検査器。
- 前記第1電圧レギュレータは、パルスHT電圧を管陽極端子に供給するよう構成され、前記コントローラは、前記パルスHT電圧に応じて、前記熱電子管における電流フローをモニタリングするよう構成され、前記電流フローは、前記管陰極の熱電子放出を表す、請求項7に記載の熱電子管検査器。
- 前記第2電圧レギュレータは、スイッチングレギュレータであり、前記管用ソケットの管ヒータ端子との切換可能な接続部を有し、前記第2電圧レギュレータは、トランジスタを有し、前記コントローラは、前記トランジスタのパルス幅を制御するよう、及び前記第2電圧レギュレータから前記管ヒータ端子への電流フローをモニタリングするよう構成され、前記コントローラは、前記管ヒータにおける短絡を表す、前記管ヒータ端子への高電流フローが前記コントローラによって検出されると、前記第2電圧レギュレータから前記管ヒータ端子への電流供給を遮断するよう更に構成される、請求項2又は、請求項2に従属する請求項3乃至8の何れか一項に記載の熱電子管検査器。
- 前記コントローラは、タイマを更に含み、前記コントローラは、短絡を表す高電流フローが検出された後に、前記管ヒータ端子への電流供給の遮断を、所定期間遅延するよう構成される、請求項9に記載の熱電子管検査器。
- 前記メモリには、複数の異なる管検査実行プログラムが保存され、各前記管検査実行プログラムには、前記管電極に印加される電圧設定が設けられており、前記コントローラは、前記メモリから少なくとも1つの前記管検査実行プログラムにアクセスして、前記第1電圧レギュレータに、前記管検査実行プログラムの電圧設定に従う電圧を少なくとも1つの前記管電極端子に供給させるよう構成される、請求項1乃至10の何れか一項に記載の熱電子管検査器。
- 前記メモリは、更に、該メモリに、1つ又は複数の管検査に応じて熱電子管の1つ又は複数の期待性能特性を保存し、前記コントローラは、検査対象の熱電子管の性能をモニタリングし;前記モニタリングされた性能と、前記保存された期待性能特性とを比較し;及び前記比較の結果を出力するよう更に構成される、請求項11に記載の熱電子管検査器。
- 前記コントローラの前記出力は、故障、破損又は良好から選択される、請求項12に記載の熱電子管検査器。
- 前記管検査器は、携帯可能である、請求項1乃至13の何れか一項に記載の熱電子管検査器。
- 管検査器を使用して熱電子管を検査する方法であって、該方法は:
前記管検査器に唯一の外部DC電源を提供するために、前記管検査器の単一電源端子を低電圧DC電源に接続するステップ;
前記管検査器の管用ソケットにある管電極端子に熱電子管のピンを接続するステップ;
メモリを備えたコントローラの制御下で、第1電圧レギュレータから少なくとも1つの前記管電極端子に、前記低電圧DC電源とは異なる第1電圧を供給した後に、前記第1電圧レギュレータから少なくとも1つの前記管電極端子に、前記第1電圧と前記低電圧DC電源両方とは異なる第2電圧を供給するステップ;
前記熱電子管における電流フローを、前記コントローラを用いて、モニタリングするステップであって、前記メモリには、前記コントローラによる、少なくとも1つの前記管電極端子に前記第1及び第2電圧を供給するステップの制御によって、検査電圧が、電力消費量を抑制して前記熱電子管の動作条件を模倣する少なくとも1つの前記管電極端子に印加されるように構成されたアルゴリズムが格納されている、ステップ;
状態値を、前記コントローラによって自動的に計算するステップであって、前記状態値は、1つ又は複数の検査に応じてモニタリングされた管の性能と、管の性能にそれぞれ対応する1つ又は複数の期待性能特性との差に基づいて計算される値である、ステップ;及び
前記状態値を表示し、更に、同じ種類の管が同じ状態値を有する場合に、同一の管であることを表示するステップ
を備える方法。 - 前記電源端子から前記第1電圧レギュレータ及び第2電圧レギュレータに給電すること、及び前記第2電圧レギュレータから少なくとも1つの前記電極端子に、前記低電圧DC電圧と前記第1及び第2電圧とも異なる第3電圧を供給することを更に備える、請求項15に記載の方法。
- 前記管検査器の単一電源端子を低電圧DC電源に接続するステップは、前記単一電源端子を10〜48VのDC電源に接続することを備える、請求項15に記載の方法。
- 前記管検査器の単一電源端子を低電圧DC電源に接続するステップは、前記単一電源端子を汎用の低電圧DC電源に接続することを備える、請求項17に記載の方法。
- 前記管検査器の単一電源端子を低電圧DC電源に接続するステップは、前記単一電源端子をバッテリ電源に接続することを備える、請求項15乃至17の何れか一項に記載の方法。
- 第1電圧を少なくとも1つの前記電極端子に供給した後、第2電圧を少なくとも1つの前記電極端子に供給するステップは、スイッチングレギュレータを調整することを備える、請求項15乃至19の何れか一項に記載の方法。
- 前記スイッチングレギュレータを調整することは、前記切換られたスイッチングレギュレータのトランジスタのパルス幅を制御することを備える、請求項20に記載の方法。
- パルスHT電圧を管陽極端子に供給し、前記パルスHT電圧に応じて前記熱電子管における電流フローをモニタリングすることを更に備え、前記電流フローは、前記管陰極の熱電子放出を表す、請求項21に記載の方法。
- 前記第2電圧レギュレータは、スイッチングレギュレータであり、前記管用ソケットの管ヒータ端子に電圧を供給するのに使用され、前記方法は、前記第2電圧レギュレータから前記管ヒータ端子への電流フローをモニタリングすること、及び前記管ヒータにおける短絡を表す前記管ヒータ端子への高電流フローが検出されると、前記第2電圧レギュレータのトランジスタのパルス幅を調整することによって、前記第2電圧レギュレータから前記管ヒータへの電流供給を遮断することを更に備える、請求項15乃至22の何れか一項に記載の方法。
- 短絡を表す高電流フローが検出された後、所定期間、前記管ヒータ端子への電流供給を遮断するのを遅延させることを更に備える、請求項23に記載の方法。
- データ記憶装置から、前記管電極に印加される電圧設定が設けられた、複数の異なる管検査実行プログラムを保存して、其々保存された1つ又は複数の前記管検査実行プログラムにアクセスすること、及び前記管検査実行プログラムの電圧設定に従う電圧を、少なくとも1つの前記管電極端子に供給することを更に備える、請求項15乃至24の何れか一項に記載の方法。
- 検査対象の熱電子管の性能をモニタリングすること;前記モニタリングされた性能を、前記データ記憶装置に保存された期待性能特性と比較すること;及び前記比較の結果を出力することを更に備える、請求項25に記載の方法。
- 前記比較の結果は、故障、破損又は良好の1つとして出力される、請求項26に記載の方法。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GBGB1204876.5A GB201204876D0 (en) | 2012-03-20 | 2012-03-20 | Thermionic valve tester |
GB1204876.5 | 2012-03-20 | ||
GB1301193.7 | 2013-01-23 | ||
GBGB1301193.7A GB201301193D0 (en) | 2012-03-20 | 2013-01-23 | Thermionic valve tester |
PCT/GB2013/050716 WO2013140162A1 (en) | 2012-03-20 | 2013-03-19 | Thermionic valve tester |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019092281A Division JP6886152B2 (ja) | 2012-03-20 | 2019-05-15 | 熱電子管検査器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015515620A JP2015515620A (ja) | 2015-05-28 |
JP2015515620A5 true JP2015515620A5 (ja) | 2018-09-27 |
Family
ID=46052230
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015500986A Pending JP2015515620A (ja) | 2012-03-20 | 2013-03-19 | 熱電子管検査器 |
JP2019092281A Active JP6886152B2 (ja) | 2012-03-20 | 2019-05-15 | 熱電子管検査器 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019092281A Active JP6886152B2 (ja) | 2012-03-20 | 2019-05-15 | 熱電子管検査器 |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9810733B2 (ja) |
EP (1) | EP2828674B1 (ja) |
JP (2) | JP2015515620A (ja) |
KR (1) | KR102183850B1 (ja) |
CN (1) | CN104272121B (ja) |
ES (1) | ES2566609T3 (ja) |
GB (3) | GB201204876D0 (ja) |
HK (1) | HK1205265A1 (ja) |
HU (1) | HUE027743T2 (ja) |
WO (1) | WO2013140162A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AT514357B1 (de) * | 2013-05-23 | 2015-03-15 | Fronius Int Gmbh | Verfahren zum Steuern eines akkubetriebenen Schweißgeräts |
CN105226766B (zh) * | 2015-11-02 | 2017-08-18 | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 | 一种低噪声偏置器 |
CN109507610A (zh) * | 2017-09-13 | 2019-03-22 | 河北银隆新能源有限公司 | 电芯短路测试与称重的一体化结构 |
DE112022004396T5 (de) * | 2021-09-14 | 2024-06-20 | Tektronix, Inc. | Test- und messinstrument mit entfernbarem batteriepack |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2092896A (en) | 1932-03-19 | 1937-09-14 | Rca Corp | Display type tube tester |
GB481601A (en) * | 1936-08-24 | 1938-03-15 | Arthur Henry Cooper | Improvements in or relating to apparatus for testing thermionic valves |
GB480752A (en) | 1936-08-26 | 1938-02-28 | Sydney Rutherford Wilkins | An improved method and apparatus for testing radio valves |
GB620757A (en) | 1945-10-31 | 1949-03-30 | Sangamo Weston | Improvements in or relating to apparatus for measuring mutual conductance |
US2616058A (en) | 1950-09-12 | 1952-10-28 | Herbert M Wagner | Tracing characteristic curve of electronic tubes |
US2926302A (en) | 1955-04-28 | 1960-02-23 | Daystrom Inc | Electron tube tester |
US3202911A (en) * | 1959-09-16 | 1965-08-24 | Morelock O James | Portable apparatus for testing vacuum tubes |
US3938034A (en) * | 1974-05-06 | 1976-02-10 | Reliable Electric Company | Gas tube tester |
US4035710A (en) * | 1975-10-20 | 1977-07-12 | International Business Machines Corporation | Pulse width modulated voltage regulator-converter/power converter having means for improving the static stability characteristics thereof |
JPH02122285A (ja) * | 1988-10-31 | 1990-05-09 | Origin Electric Co Ltd | 電力管用エージング試験装置 |
JP2574894B2 (ja) * | 1989-03-31 | 1997-01-22 | 株式会社日立製作所 | マグネトロン用電源の運転方法 |
US5144246A (en) * | 1991-05-20 | 1992-09-01 | General Electric Company | Vacuum tube characterization apparatus |
CN2173398Y (zh) * | 1993-03-08 | 1994-08-03 | 李柏青 | 电子真空测试仪及专用高频逆变升压器 |
KR20000056117A (ko) * | 1999-02-12 | 2000-09-15 | 김정무 | 대지접지전위를 갖는 직류전원 변환장치 |
GB2462445A (en) | 2008-08-06 | 2010-02-10 | Kbo Dynamics Ltd | Microprocessor-controlled bias adjustment in a thermionic valve audio amplifier |
US7911817B2 (en) * | 2008-09-18 | 2011-03-22 | Dell Products L.P. | Systems and methods for controlling energy consumption of AC-DC adapters |
-
2012
- 2012-03-20 GB GBGB1204876.5A patent/GB201204876D0/en not_active Ceased
-
2013
- 2013-01-23 GB GBGB1301193.7A patent/GB201301193D0/en not_active Ceased
- 2013-03-19 CN CN201380014762.0A patent/CN104272121B/zh active Active
- 2013-03-19 GB GB1305047.1A patent/GB2500486B/en active Active
- 2013-03-19 KR KR1020147026995A patent/KR102183850B1/ko active IP Right Grant
- 2013-03-19 WO PCT/GB2013/050716 patent/WO2013140162A1/en active Application Filing
- 2013-03-19 ES ES13726251.5T patent/ES2566609T3/es active Active
- 2013-03-19 EP EP13726251.5A patent/EP2828674B1/en active Active
- 2013-03-19 US US14/386,305 patent/US9810733B2/en active Active
- 2013-03-19 JP JP2015500986A patent/JP2015515620A/ja active Pending
- 2013-03-19 HU HUE13726251A patent/HUE027743T2/en unknown
-
2015
- 2015-06-18 HK HK15105825.3A patent/HK1205265A1/zh unknown
-
2019
- 2019-05-15 JP JP2019092281A patent/JP6886152B2/ja active Active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6379172B2 (ja) | バッテリの内部ショートの検出システムおよび方法 | |
JP5354837B2 (ja) | バッテリー内部抵抗と設定警告抵抗の比較によりバッテリー電力をモニタリングする方法及びその装置 | |
JP2015515620A5 (ja) | ||
JP2006258686A5 (ja) | ||
EP2977770A1 (en) | Leakage current detection method and device | |
JP3762415B2 (ja) | バーンイン装置の状態診断方法 | |
JP6104578B2 (ja) | 検査装置および検査方法 | |
US9276298B2 (en) | Automatically determining alarm threshold settings for monitored battery system components in battery systems, and related components, systems, and methods | |
JP2013185861A (ja) | 蓄電池の自己放電検査装置および蓄電池の自己放電検査方法 | |
JP2011127983A (ja) | 絶縁抵抗測定方法、検査方法および絶縁抵抗測定装置 | |
BR102014028734A2 (pt) | sistema e método para desenvolver e testar dispositivos de armazenamento de energia híbridos, e desenvolver e testar dispositivos de armazenamento de energia | |
JP5897393B2 (ja) | 抵抗測定装置 | |
JP2015188306A (ja) | 太陽電池回路の検査装置及び検査方法 | |
JP2021021686A (ja) | 蓄電デバイスの測定装置及び測定方法 | |
TWI505530B (zh) | 電池容量檢測系統 | |
JP3977071B2 (ja) | 車両用電源モニタリング装置及び方法 | |
JP6710583B2 (ja) | 太陽電池検査装置および太陽電池検査方法 | |
JP2016099276A (ja) | 絶縁抵抗測定装置 | |
JP2009270903A (ja) | 半導体装置の試験装置および試験方法 | |
KR101822800B1 (ko) | 에너지 저장소자 검사장치 | |
JP2021021685A (ja) | 蓄電デバイスの検査装置及び検査方法 | |
WO2022105380A1 (zh) | 光伏逆变器的绝缘阻抗检测方法及装置 | |
TWI728805B (zh) | 檢查電力單元的方法 | |
JP6400347B2 (ja) | 検査装置 | |
JP5826110B2 (ja) | 太陽電池セル特性評価装置 |