JP2015515615A - テストフィンガー - Google Patents

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Abstract

テストフィンガー(1)であって、フィンガー状ロッド部(2)を備え、フィンガー状ロッド部(2)の先端部(3)に距離を測定するためのテスト部が接続され、テスト部が一組のテストヘッドであり、テストヘッドの長さが侵入保護中の異なる電圧レベルにおける最小安全距離に対応し、テスト部とフィンガー状ロッド部(2)の先端部(3)との接続が脱着可能な挿入接続である。当該テストフィンガー(1)は、電気設備内部の絶縁されていない帯電部品又は帯電回線から保護部品までの距離が最小安全距離以上であるか否かを正確に判断でき、従来の技術において、空間の制限を受けてキャリパを使用できないため、フィンガー状ロッド部(2)の先端部(3)から帯電部品又は帯電回線までの距離を正確に測定できない問題を解決する。

Description

本発明は、テストフィンガーに関し、特に電気設備の侵入保護レベルが安全基準に合致するか否かを確認するために用いられるテストフィンガーに関する。
電気設備の稼動中に、電撃又は傷害を減少するために、一般に、電気設備内部の絶縁されていない帯電部品又は帯電回線と例えばハウジングのような保護部品との距離を測定し、当該距離が最小安全距離以上であるか否かを判断する。これによって、人或は他の生物が絶縁されていない帯電部品又は帯電回線と直接に接触して傷害を受けるのを防止する必要がある。
従来において、当該距離を測定するための方法として、測定すべき位置にフィンガー状のロッドをセットしてから、キャリパを用いて当該ロッドの先端部から帯電部品又は帯電回線までの距離を測定する。このような測定方法によれば、キャリパが空間の制限を受けて、測定を効果的に行うことができないこともある。この場合、エンジニアは、当該距離を目で直接に推定することで、当該距離が最小安全距離以上であるか否かを判断するしかないが、推定した結果が正確でない場合がある。
従来の技術における上記問題を解決するために、本発明は、当該距離が最小安全距離以上であるか否かを正確に判断できるテストフィンガーを提供する。当該テストフィンガーは電気設備に用いられ、テストフィンガーの先端部と絶縁されていない帯電部品又は帯電回線との間の距離が最小安全距離以上であるか否かを正確に判断する。
本発明で提供するテストフィンガーは、フィンガー状ロッド部を備え、フィンガー状ロッド部の先端部に距離を測定するためのテスト部が接続されている。
当該フィンガー状ロッド部の機能は、従来の技術におけるフィンガー状のロッドと同じであり、使用中において、フィンガー状ロッド部の先端部を電気設備のハウジングに当接させ、テスト部によってフィンガー状ロッド部の先端部と絶縁されていない帯電部品又は帯電回線との間の距離を直接に測定する。テスト部の長さは予め設定でき、選べられたテスト部の長さが必要とする最小安全距離の長さである。テスト部の自由端が帯電体(つまり、絶縁されていない帯電部品又は帯電回線)に接触できると、当該距離は最小安全距離以下であり、逆に、自由端が帯電体に接触できないと、当該距離は最小安全距離以上である。当該距離が最小安全距離以上である場合、安全設定基準に合致する。
通常、テスト部は一組のテストヘッドであり、前記テストヘッドの長さは侵入保護中の異なる電圧レベルにおける最小安全距離に対応する。
テスト部は、フィンガー状ロッド部の前記先端部に接続される接続部分と、長さを測定するための標定値部分とを備える。
異なる電圧レベルについて、安全距離に対する要求も異なるため、テストヘッドは、異なる標定長さを有するように製作されることで、異なる電圧レベル情況におけるテストに対応できる。
フィンガー状ロッド部の先端部に部分球形溝部が設けられ、部分球形溝部の底部に磁石が固定されて設けられ、部分球形溝部の中に強磁性材料からなる接続ボールが設けられ、接続ボールが磁石と接触して磁石の磁性によって部分球形溝部内に接続され、接続ボールにテスト部の接続部分と嵌合する孔が設けられ、テスト部の接続部分が当該孔に挿入される。
テスト部の接続部分と接続ボールの孔は、締め代を持って嵌合、又は係合、又は磁性によって接続される。
このような接続構造によって、接続ボールは、フィンガー状ロッド部の先端部内の部分球形溝部内で自由に回動できるため、接続ボールの孔内に挿入されたテスト部も接続ボールの自由回動につれて規定された角度内で自由に揺動できる。テスト部の方向が自由に変化できるため、当該テストフィンガーの使用がより柔軟になる。
テスト部とフィンガー状ロッド部の先端部との接続は脱着可能な挿入接続であるため、実際に用いられる電圧に基づいて、ユーザーが異なる標定長さのテスト部を簡単に交換できる。
テスト部の接続部分と接続ボールの孔とが、締め代を持って嵌合、又は係合、又は磁性によって接続されるため、テスト使用中にテスト部が孔から脱落することがない。
フィンガー状ロッド部の先端部が位置する端部の中間にフィンガー状ロッド部の外縁まで伸びる溝部が設けられ、フィンガー状ロッド部の先端部に半分の球形よりも大きい部分球形溝部が設けられ、当該部分球形溝部の中に直径が当該部分球形溝部の直径よりもやや大きい接続ボールが設けられ、接続ボールにテスト部の接続部分と嵌合するための孔が設けられ、テスト部の接続部分が当該孔の中に挿入される。
当該溝部の底部は円柱溝に連通し、当該円柱溝の直径は当該溝部の幅よりも大きい。
テスト部の接続部分と接続ボールの孔とは、締め代を持って嵌合、又は係合、又は磁性によって接続される。
このような接続構造を採用することで、フィンガー状ロッド部の先端部が位置する端部に設けられた連通溝部の弾性変形によって、ボールが外から半分の球形よりも大きい部分球形溝部内に押入れて係合され、且つ、自由に回動でき、ボールがフィンガー状ロッド部の先端部から脱落することがない。説明の簡略化のために、当該接続構造において、上記接続構造と同じ或いは類似するメリットを省略する。
フィンガー状ロッド部は中空であり、フィンガー状ロッド部の先端部に円形のクランクが回動可能に接続され、クランクがフィンガー状ロッド部の先端部の半径方向の軸を回って回動し、クランクの半径方向の縁部にテスト部と嵌合される突起部が設けられ、テスト部の接続部分が当該突起部に外嵌し、クランクが駆動軸の一端に接続され、駆動軸のほかの一端がスライドバーに回動的に接続され、駆動軸とスライドバーの一部とがフィンガー状ロッド部内に収容され、スライドバーが伸びてフィンガー状ロッド部の端部を越えている。
テスト部の接続部分と突起部とは、締め代を持って嵌合、又は係合、又は磁性によって接続される。
このような構造を採用することで、当該テストフィンガーの使用中に、スライドバーを引いたり押したりすることで、スライドバーが駆動軸を動かし、駆動軸がクランクを駆動し、クランクが突起部上のテスト部を回動させ、テスト部の方向を変える。説明の簡潔化のために、当該接続構造において、上記2つの接続構造と同じ或いは類似するメリットを省略する。
当該構造において、スライドバーの自由端はフィンガー状ロッド部の自由端と螺合されてもよい。
螺合によってスライドバーのスライドを制御して、スライドバーのスライドをより安定させるので、スライドバーが駆動軸を介してクランクを駆動する運動をより容易に制御できる。
本発明で提出されたテストフィンガーは、従来の技術において、空間の制限を受けてキャリパを使用できないことで、フィンガー状のロッドの先端部から帯電部品又は帯電回線までの距離を正確に測定できない問題を解決し、その使用が便利で、構造が簡単である。当該テストフィンガーによって、フィンガー状のロッドの先端部から帯電部品又は帯電回線までの距離が安全基準に合致するか否かを容易且つ正確に確認できる。
本発明のほかのメリットおよび特徴は、次の図面に示されている本発明の特定の実施例に対する説明によってより明確に説明される。次の図面は、ただ例示のために提供されたものであり、本発明を制限するものではない。
図1(a)は、本発明の第1実施例に係るテストフィンガーの組み合わせた後の図面であり、図1(b)は、本発明の第1実施例に係るテストフィンガーの分解図であり、図1(c)は、本発明の第1実施例に係るテストフィンガーの断面図である。 図2(a)は、本発明の第2実施例に係るテストフィンガーの組み合わせた後の図面であり、図2(b)は、本発明の第2実施例に係るテストフィンガーの分解図であり、図2(c)は、本発明の第2実施例に係るテストフィンガーの断面図である。 図3(a)は、本発明の第3実施例に係るテストフィンガーの組み合わせた後の図面であり、図3(b)は、本発明の第3実施例に係るテスト部を設けていないテストフィンガーの図面であり、図3(c)は、本発明の第3実施例に係るテストフィンガーおよびその関連構造の図面である。
図1(a)〜図3(c)を参照しながら、本発明のテストフィンガーの実施例を説明する。本発明を明確且つ簡潔に説明するために、異なる実施例において、同じ又は類似する部品は同じ符号を用いる。
本発明で提供するテストフィンガー1は、フィンガー状ロッド部2を備え、フィンガー状ロッド部2の先端部3にテスト部が接続されている。テスト部は2つの部分に分けられ、その1つは、フィンガー状ロッド部の先端部3に接続される接続部分7であり、もう1つは、テストフィンガーの先端部と絶縁されていない帯電部品又は帯電回線との間の距離を測定するための標定値部分6である。
当該フィンガー状ロッド部2の機能は、従来の技術におけるフィンガー状のロッドと同じであり、使用中において、フィンガー状ロッド部2の先端部3を電気設備のハウジングに当接させ、テスト部によってフィンガー状ロッド部2の先端部3と絶縁されていない帯電部品又は帯電回線との間の距離を直接に測定する。テスト部の長さは予め設定でき、選ばれたテスト部の長さが必要とする最小安全距離の長さである。テスト部の自由端が帯電体(つまり、絶縁されていない帯電部品又は帯電回線)に接触できると、当該距離は最小安全距離以下であり、逆に、自由端が帯電体に接触できないと、当該距離は最小安全距離以上である。当該距離が最小安全距離以上である場合、安全設定基準に合致する。
通常、テスト部は異なる標定長さを有する一組のテストヘッドであり、当該テストヘッドはフィンガー状ロッド部2の先端部3で交換しながら使用できる。それは、異なる電圧レベルの情況で安全距離に対する要求も異なり、テストヘッドが異なる標定長さを有するように製作され、且つ、使用中に交換できれば、異なる電圧レベルでのテストに対応できるためである。
[第1実施例]
図1(b)に示すように、フィンガー状ロッド部2の先端部3に部分球形溝部15が設けられ、部分球形溝部15の底部に磁石4が固定されて設けられ、部分球形溝部15の中に強磁性材料からなる接続ボール5が収容される。接続ボール5が磁石4と接触して磁石4の磁性によって部分球形溝部15内に接続される。接続ボール5にテスト部の接続部分7と嵌合する孔16が設けられ、テスト部の接続部分7が当該孔16に挿入される。
テスト部がフィンガー状ロッド部2の先端部3に安定的に接続され脱落しないようにするために、さらに、テスト部の接続部分7を磁石を含む材料で形成してもよい。このようにすれば、接続部分7と接続ボール5との間の磁性吸引力によって、テスト部が先端部3に安定的に接続できる。
テスト部を安定的に接続させるために、さらに、テスト部の接続部分7と接続ボール5の孔16とが、締め代を持って嵌合、又は係合されてもよい。
テスト部が接続ボール5に接続され、接続ボール5と部分球形溝部15とが磁性によって接続されるため、接続ボール5は、フィンガー状ロッド部2の先端部3内の部分球形溝部15内で自由に回動できるため、接続ボール5の孔16内に挿入されたテスト部も接続ボール5の自由回動につれて規定された角度内で自由に揺動できる。テスト部の方向が自由に変化できるため、当該テストフィンガーの使用がより柔軟になる。当該角度変化は、一般にテストフィンガーを使用する前に調整を行い、テストフィンガーの使用中には、テスト部の方向を一般に変化してはいけない。
テスト部とフィンガー状ロッド部2の先端部3との接続は脱着可能な挿入接続であるため、簡単にテスト部を交換できる。
[第2実施例]
明確且つ簡潔に説明するために、第1実施例の接続構造と同じ又は類似するメリットに対して説明を省略する。
図2(b)に示すように、フィンガー状ロッド部2の先端部3の中間に溝部17が設けられ、当該溝部17がフィンガー状ロッド部3の外縁まで伸びる。つまり、当該溝部17は連通溝部であり、当該溝部17の底部は円柱溝18に連通し、当該円柱溝18の直径は当該溝部17の幅よりも大きい。フィンガー状ロッド部2の先端部3に半分の球形よりも大きい部分球形溝部15が設けられ、接続ボール8をその中に収容し、且つ、半分の球形よりも大きいため、接続ボール8が部分球形溝部15から脱落することがない。
当該実施例において、フィンガー状ロッド部2の先端部3が位置する端部に設けられた連通溝部の弾性変形によって、接続ボール8が外から半分の球形よりも大きい部分球形溝部15内に押入れて係合され、且つ、自由に回動でき、接続ボール8がフィンガー状ロッド部の先端部から脱落することがない。
接続ボール8の直径が当該球形溝部15の直径よりもやや大きいことで、接続ボール8はより安定的に球形溝部15の中に固定できる。
第1実施例での機能と同じく、接続ボール8にもテスト部の接続部分7と嵌合するための孔16が設けられ、テスト部の接続部分7が当該孔16の中に挿入される。
テスト部を安定的に先端部3に接続させるために、さらに、テスト部の接続部分7と接続ボール8がそれぞれに磁石を含む材料と強磁性材料からなるようにすることで、接続部分7と接続ボール8の間で磁性接続を実現できる。
テスト部を安定的に先端部3に接続させるために、さらに、テスト部の接続部分7と接続ボール8上の孔16とが締め代を持って嵌合、又は係合されたてもよい。
[第3実施例]
明確且つ簡潔に説明するために、第1実施例および第2実施例の接続構造と同じ又は類似するメリットに対して説明を省略する。
図3(a)に示されたテストフィンガー1は、図3(c)に示されたテスト部およびその関連部分が図3(b)に示されたフィンガー状ロッド部2に外嵌されたものである。
図3(b)に示すように、フィンガー状ロッド部2は中空であり、円形のクランク10がフィンガー状ロッド部2の先端部3に回動可能に接続され、円形のクランク10の中部に係合ピン13が設けられ、当該係合ピン13が先端部3上のピンホール14に嵌め込まれる。係合ピン13はクランク10の正反両側に設けられ、先端部にもこれに応じて2つのピンホール14が設けられている。係合ピン13とピンホール14とが嵌め込みことで、クランク10がフィンガー状ロッド部2の先端部3の半径方向の軸を中心に回動し、つまり、クランク10がその正反両側の係合ピン13が形成する軸を中心に回動する。
クランク10の半径方向の縁部にテスト部と嵌合される突起部9が設けられ、テスト部の接続部分7が当該突起部9に外嵌し、クランク10が駆動軸11の一端に接続され、駆動軸11の他端がスライドバー12に回動的に接続される。スライドバー12の運動が駆動軸11の運動を介してクランク10を駆動して回動させるため、テスト部の方向が変わる。
駆動軸11と、スライドバー12の一部とがフィンガー状ロッド部2の内部に収容され、スライドバー12が伸びてフィンガー状ロッド部2の端部を越えている。このような構造は、テストフィンガーの全体サイズを減少させ、ユーザーが、スライドバー12が伸びてフィンガー状ロッド部2の端部を越えている部分に接触でき、当該スライドバー12を容易に操作してテスト部の方向を効果的に制御できる。
当該構造によれば、使用中において、スライドバー12を操作してテストヘッドの方向を変えることができ、第1および第2実施例に比べて、テストフィンガーの使用柔軟性をさらに向上させる。
テスト部を先端部3に安定的に接続させるために、さらに、テスト部の接続部分7と突起部9とが、磁性によって接続される
テスト部を先端部3に安定的に接続させるために、さらに、テスト部の接続部分7と突起部9とが、締め代を持って嵌合、又は係合される。
当該実施例において、スライドバー12の自由端がフィンガー状ロッド部の自由端と螺合されてもよい。螺合によってスライドバー12のスライドを制御して、スライドバー12のスライドをより安定させるので、スライドバー12がクランク10を動かす運動をより簡単に制御できる。
本発明のテストフィンガーは、一般に電気設備に適用するが、ほかの必要がある場合にも適用できる。これら具体的な実施例は、ただ例示に過ぎなく、制限的な説明ではない。
上記実施例の具体的な実施形態における特徴は、適用される情況に基づいて、組み合わせたり、替わったりしてもよい。
以上、本発明に対して詳細に説明したが、この分野の従業者が本発明の思想に基づいて、具体的な実施形態および適用範囲で行う変更は本発明の保護範囲内にあるべきであり、本明細書の内容は、本発明を制限しない。
1 テストフィンガー
2 フィンガー状ロッド部
3 先端部
4 磁石
5 接続ボール
6 標定値部分
7 接続部分
8 接続ボール
9 突起部
10 クランク
11 駆動軸
12 スライドバー
13 係合ピン
14 ピンホール
15 部分球形溝部
16 孔
17 溝部

Claims (10)

  1. フィンガー状ロッド部(2)を備え、前記フィンガー状ロッド部(2)の先端部(3)に距離を測定するためのテスト部が接続されていることを特徴とするテストフィンガー。
  2. 前記テスト部が一組のテストヘッドであり、前記テストヘッドの長さが侵入保護中の異なる電圧レベルにおける最小安全距離に対応することを特徴とする請求項1に記載のテストフィンガー。
  3. 前記テスト部が、前記フィンガー状ロッド部(2)の前記先端部(3)に接続される接続部分(7)と、長さを測定するための標定値部分(6)とを備えることを特徴とする請求項1に記載のテストフィンガー。
  4. 前記フィンガー状ロッド部(2)の前記先端部(3)に部分球形溝部(15)が設けられ、前記部分球形溝部(15)の底部に磁石(4)が固定されて設けられ、前記部分球形溝部(15)の中に強磁性材料からなる接続ボール(5)が設けられ、前記接続ボール(5)が前記磁石(4)と接触し、前記接続ボール(5)が前記磁石(4)の磁性によって前記部分球形溝部(15)内に接続され、前記接続ボール(5)に前記テスト部の前記接続部分(7)と嵌合する孔(16)が設けられ、前記テスト部の前記接続部分(7)が前記孔(16)に挿入されることを特徴とする請求項3に記載のテストフィンガー。
  5. 前記フィンガー状ロッド部(2)の前記先端部(3)が位置する端部の中間に前記フィンガー状ロッド部(2)の外縁まで伸びる溝部(17)が設けられ、前記フィンガー状ロッド部(2)の前記先端部(3)に半分の球形よりも大きい部分球形溝部(15)が設けられ、前記部分球形溝部(15)の中に直径が当該部分球形溝部の直径よりもやや大きい接続ボール(8)が設けられ、前記接続ボール(8)に前記テスト部の前記接続部分(7)と嵌合するための孔(16)が設けられ、前記テスト部の前記接続部分(7)が前記孔(16)の中に挿入されることを特徴とする請求項3に記載のテストフィンガー。
  6. 前記溝部(15)の底部は円柱溝(18)に連通し、前記円柱溝(18)の直径が前記溝部(15)の幅よりも大きいことを特徴とする請求項5に記載のテストフィンガー。
  7. 前記テスト部の前記接続部分(7)と前記接続ボール(8)上の前記孔(16)が、締め代を持って嵌合、又は係合、又は磁性によって接続されることを特徴とする請求項4〜請求項6のいずれか1項に記載のテストフィンガー。
  8. 前記フィンガー状ロッド部(2)が中空であり、前記フィンガー状ロッド部(2)の前記先端部(3)に円形のクランク(10)が回動可能に接続され、前記クランク(10)が前記フィンガー状ロッド部(2)の前記先端部(3)の半径方向の軸を中心に回動し、前記クランク(10)の半径方向の縁部に前記テスト部と嵌合される突起部(9)が設けられ、前記テスト部の前記接続部分(7)が前記突起部(9)に外嵌し、前記クランク(10)が駆動軸(11)の一端に接続され、前記駆動軸(11)の他端がスライドバー(12)に回動的に接続され、前記駆動軸(11)と前記スライドバー(12)の一部とが前記フィンガー状ロッド部(2)内に収容され、前記スライドバー(12)が伸びて前記フィンガー状ロッド部(2)の端部を越えていることを特徴とする請求項3に記載のテストフィンガー。
  9. 前記テスト部の前記接続部分(7)と前記突起部(9)とが、締め代を持って嵌合、又は係合、又は磁性によって接続されることを特徴とする請求項8に記載のテストフィンガー。
  10. 前記スライドバー(12)の自由端が前記フィンガー状ロッド部(2)の自由端と螺合されることを特徴とする請求項9に記載のテストフィンガー。
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN202522177U (zh) * 2012-03-23 2012-11-07 施耐德东芝换流器欧洲公司 测试指
DE102015212565A1 (de) * 2015-07-06 2017-01-12 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Vorrichtung und Verfahren zur reversiblen Kontaktierung

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3180030A (en) * 1961-02-23 1965-04-27 Bendix Corp Gage probe
JPH0430402U (ja) * 1990-07-06 1992-03-11
US5199180A (en) * 1992-05-01 1993-04-06 Yablonsky Jack E Machine guard safety gauge/Guardchek ™
JPH11183102A (ja) * 1997-12-18 1999-07-09 Sony Corp 高さ測定装置及びその使用方法
FR2810107A1 (fr) * 2000-06-13 2001-12-14 Jean Marc Rene Mauric Girardin Calibre pour la verification de distances de securite
US20030037455A1 (en) * 2001-08-21 2003-02-27 Mitutoyo Corporation Inside micrometer
JP2012018373A (ja) * 2010-06-08 2012-01-26 Ricoh Co Ltd 増設ファンユニット及び画像形成装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE445335A (ja) *
US1553814A (en) * 1921-07-15 1925-09-15 Sinius M Hansen Centering and surfacing tool
US5471759A (en) * 1994-08-19 1995-12-05 A&E Manufacturing Co., Inc. Spark plug gauge with gap adjuster
GB0114360D0 (en) * 2001-06-13 2001-08-08 Renishaw Plc Stylus orientation
CN201327361Y (zh) * 2008-12-16 2009-10-14 河南省电力公司商丘供电公司 一种绝缘测距杆
CN102042791A (zh) * 2010-10-27 2011-05-04 河南省电力公司商丘供电公司 10kV设备安全距离测量尺
CN202522177U (zh) * 2012-03-23 2012-11-07 施耐德东芝换流器欧洲公司 测试指

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3180030A (en) * 1961-02-23 1965-04-27 Bendix Corp Gage probe
JPH0430402U (ja) * 1990-07-06 1992-03-11
US5199180A (en) * 1992-05-01 1993-04-06 Yablonsky Jack E Machine guard safety gauge/Guardchek ™
JPH11183102A (ja) * 1997-12-18 1999-07-09 Sony Corp 高さ測定装置及びその使用方法
FR2810107A1 (fr) * 2000-06-13 2001-12-14 Jean Marc Rene Mauric Girardin Calibre pour la verification de distances de securite
US20030037455A1 (en) * 2001-08-21 2003-02-27 Mitutoyo Corporation Inside micrometer
JP2003065701A (ja) * 2001-08-21 2003-03-05 Mitsutoyo Corp 内側マイクロメータ
JP2012018373A (ja) * 2010-06-08 2012-01-26 Ricoh Co Ltd 増設ファンユニット及び画像形成装置

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