JP2015514205A5 - - Google Patents

Claims (17)

1. 三次元計測装置で生産工作物を計測するための方法であって、該方法は、
   上記計測装置で、生産工程によって製造された、名目上同一の工作物の第一のシリーズの一つである、マスター生産工作物を計測すること、
   上記計測装置の外部のソースから、上記マスター生産工作物に対する較正値を得ること、
   一つまたは複数のマスター工作物補正値を生成するために、上記較正値を上記マスター生産工作物の計測値と比較すること、
   上記計測装置を較正するために、誤差マップまたはルックアップテーブルを設定または更に設定するように、また、誤差関数を計算または再計算するように、上記マスター工作物補正値を用いること、
   上記計測装置において、上記生産工程によって製造された、上記第一のシリーズの名目上同一の一つまたは複数の別の工作物を計測すること、
   上記補正値または上記誤差マップまたはルックアップテーブルまたは誤差関数を用いて、上記第一のシリーズの上記別の名目上同一の工作物の上記計測値を補正すること、を含み、
   第二の一つまたは複数の工作物が、上記工作物の第一のシリーズの上記名目上同一の工作物と異なるか、または、これらと異なって装置に配置される、上記第二の一つまたは複数の工作物を上記計測装置で計測すること、および、
   上記マスター工作物補正値を用いて生成された、上記誤差マップまたはルックアップテーブルまたは誤差関数を用いて、上記一つまたは複数の第二の工作物の計測値を補正することを特徴とする方法。
2. 三次元計測装置で生産工作物を計測するための方法であって、該方法は、
   上記計測装置で、製造工程によって製造された、そのサイズおよび形状が、名目上同一の工作物の第一のシリーズの生産工作物に近似する、複数の特徴を有するマスターアーチファクトを計測すること、
   上記計測装置の外部のソースから、上記マスターアーチファクトに対する較正値を得ること、
   一つまたは複数のマスターアーチファクト補正値を生成するために、上記マスターアーチファクトの計測値と上記較正値とを比較すること、
   上記計測装置を較正するために、誤差マップまたはルックアップテーブルを設定または更に設定するように、また、誤差関数を計算または再計算するように、上記マスターアーチファクト補正値を用いること、
   上記計測装置で上記製造工程によって製造された上記第一のシリーズの一つまたは複数の名目上同一の生産工作物を計測すること、
   上記補正値または上記誤差マップまたはルックアップテーブルまたは誤差関数を用いて、上記第一のシリーズの上記名目上同一の工作物の計測値を補正すること、を含み、
   第二の一つまたは複数の工作物が、上記第一のシリーズの工作物の上記名目上同一の工作物と異なるか、または、これらと異なって装置に配置される、上記第二の一つまたは複数の工作物を上記計測装置で計測すること、および、
   上記マスターアーチファクト補正値を用いて生成された、上記誤差マップまたはルックアップテーブルまたは誤差関数を用いて、上記一つまたは複数の第二の工作物の計測値を補正することを特徴とする方法。
3. 請求項１または２の方法であって、上記計測装置を較正するための、上記誤差マップまたはルックアップテーブルまたは誤差関数が、すでに存在し、補正値が、上記存在する誤差マップまたはルックアップテーブルをさらに設定するように、または、既存の誤差関数を再計算するように、用いられることを特徴とする方法。
4. 請求項１または２の方法であって、補正値は、新しい誤差マップまたはルックアップテーブルを設定するように、または、新しい誤差関数を計算するように、用いられることを特徴とする方法。
5. 請求項１〜４のいずれかの方法であって、第２工作物が、一つまたは複数の別の工作物のシリーズの一部を形成し、各シリーズの上記工作物は、そのシリーズの他の工作物と名目上同一であり、各シリーズの上記工作物は、すでに計測された上記工作物と異なっているか、または、これらとは装置に異なって配置されており、該方法は、そのような各々異なるシリーズに対して、
   そのシリーズの名目上同一の工作物の一つである、別のアーチファクトか、または、そのシリーズのそのような工作物と近似する大きさと形状を有する、別のアーチファクトを計測すること、
   上記計測装置の外部のソースから、上記別のアーチファクトに対する較正値を得ること、
   一つまたは複数の別のアーチファクト補正値を生成するために、上記較正値を上記別のアーチファクトの計測値と比較すること、および、
   上記誤差マップまたはルックアップテーブルをさらに設定するため、または、上記誤差関数を再計算するために、上記補正値を使用することを特徴とする方法。
6. 請求項５の方法であって、上記誤差マップまたはルックアップテーブルまたは誤差関数が、上記第一の、および、別の工作物のシリーズのそれらとは異なるか、または、上記装置にそれらとは異なって配置されている、後続の工作物の計測値を補正するために用いられることを特徴とする方法。
7. 請求項５または６の方法であって、上記第一の、および、別の工作物のシリーズでの計測は、同一の温度、または、所定の許容範囲内で行われ、その結果、上記誤差マップ、ルックアップテーブルまたは関数は、その温度に関連することを特徴とする方法。
8. 請求項１〜７のいずれかの方法であって、それぞれの誤差マップまたはルックアップテーブルまたは関数は、較正工作物の計測が行われる、２つ以上の温度のそれぞれに対して生成されること特徴とする方法。
9. 請求項８の方法であって、第二の工作物の計測温度が決定され、その後、上記計測値が、その温度に対応するか、所定の許容誤差内に対応する、誤差マップ、ルックアップテーブルまたは関数を用いて補正されることを特徴とする方法。
10. 請求項８の方法であって、第二の工作物の計測温度が決定され、その後、計測値は、二つ以上の誤差マップまたはルックアップテーブルまたは関数の間の補間、または、これらからの外挿によって補正されることを特徴とする方法。
11. 請求項１〜６のいずれかの方法であって、それから補正値が生成される、生産工作物やアーチファクトの計測は、二つ以上の温度で行われ、計測が行われる温度での計測誤差の変動に関連する項を有する、誤差関数が生成されることを特徴とする方法。
12. 請求項１１の方法であって、上記第二の工作物の上記計測温度が決定され、その後、計測値が、上記計測温度を考慮した上記誤差関数を用いて補正されることを特徴とする方法。
13. 請求項１〜１２のいずれかの方法であって、計測装置は、非デカルト座標計測装置であることを特徴とする方法。
14. 請求項１〜１３のいずれかの方法であって、上記生産工作物またはアーチファクトの計測は、上記工作物またはアーチファクトの表面上の各点での座標計測値を含むことを特徴とする方法。
15. 請求項１〜１４のいずれかの方法であって、上記生産工作物またはアーチファクトの計測は、上記工作物またはアーチファクトの特徴の寸法の計測値を含むことを特徴とする方法。
16. 請求項１〜１５のいずれかの方法を実行するように構成された計測装置。
17. 請求項１〜１５のいずれかの方法を実行するための装置を構成する、計測装置のコンピュータ制御のためのプログラム。