JP2015510595A5

JP2015510595A5 -

Info

Publication number: JP2015510595A5
Application number: JP2014558204A
Authority: JP
Filing date: 2013-02-21
Publication date: 2015-09-24
Anticipated expiration: 2033-02-21

Claims

測定装置であって、
プローブと表面との接触電位差を測定することができる測定デバイスと、
使用中に前記表面上に提供される又は前記表面を形成するサンプルからの光電子放出をトリガするための放射を放出するように構成される光源と、
前記光源から放出される放射をフィルタする波長セレクタと、
を備え、
前記プローブ及び前記表面が気体環境に露出又は収容され、
前記プローブが、相対仕事関数測定の実行のための前記プローブ及び前記表面が前記表面に垂直な方向の動き成分をもって互いに対して発振する第１のモードと、検出された光電子放出から導出される絶対仕事関数測定の実行のための前記プローブが前記表面に垂直な方向に前記表面と固定関係にある、連続フォトンエネルギー測定のための第２のモードで選択的に動作可能である、測定装置。
前記気体環境が空気を含む、請求項１に記載の装置。
前記プローブ及び／又は前記表面を収容するハウジングをさらに備え、前記ハウジング内の前記環境が、制御された相対湿度を有するガス又は空気、若しくは窒素のような制御されたガスを有する気体環境を提供するように制御される、請求項１又は請求項２に記載の装置。
前記測定装置がケルビンプローブを含む、上記請求項のいずれかに記載の装置。
前記プローブに印加される電位を或る電圧範囲を通して変化させる手段をさらに備える、上記請求項のいずれかに記載の装置。
前記光源から放出される放射が一定の強度（ＤＣ）である、上記請求項のいずれかに記載の装置。
前記光源から放出される放射が変調（ＡＣ）される、請求項１から請求項５までのいずれかに記載の装置。
光チョッパを備える、請求項７に記載の装置。
ピークツーピーク電流データが、選択的にウィンドウを平均する様態で得られる、請求項７又は請求項８に記載の装置。
位相情報を用いて、実効ノイズを低減させる、請求項７から請求項９までのいずれかに記載の装置。
ＣＰＤ電圧がオフヌル線形外挿技術によって求められる、上記請求項のいずれかに記載の装置。
前記第１のモード及び前記第２のモードで同時に又は準同時に測定を行うように構成される、上記請求項のいずれかに記載の装置。
前記光源が紫外広帯域光源である、上記請求項のいずれかに記載の装置。
前記光源が、１つ以上の発光ダイオードを含む、上記請求項のいずれかに記載の装置。
複数のＬＥＤを、それらの強度特徴、位相特徴、及び変調周波数特徴のうちの１つ又は複数に関して個々に自動的に又は選択的に制御することができる、請求項１４に記載の装置。
可視範囲及び／又は赤外範囲内の放射を放出するための光源を備える、上記請求項のいずれかに記載の装置。
前記光源が、表面光起電力技術の実行のために使用されてもよい単一周波数の光を放出するように構成される、請求項１６に記載の装置。
表面光起電力分光法を行うために、前記光源から放出される光の周波数は可変であってもよい、請求項１６に記載の装置。
前記サンプルの前記表面にわたる前記パラメータをマッピングするために前記サンプルをプローブチップに対して走査するための機構を備える、上記請求項のいずれかに記載の装置。
チョッパを有するＵＶ光源と、チョッパを有する可視／赤外光源とを備え、２つの異なる光源を用いる測定を同時又は準同時の様態で行うことができるように、前記ＵＶ光源に対するチョッパのチョッピング周波数を、前記可視／赤外光源に対するチョッパのチョッピング周波数とは異なるように選択することができる、上記請求項のいずれかに記載の装置。
（バルク）金属、金属合金、半導体、絶縁体、液体、ポリマー、複合材、導電性ポリマー、生物学的組織、薄膜を有する又は有さない粉体又は液体表面のうちのいずれか１つを含むサンプルとともに使用される、上記請求項のいずれかに記載の装置。
前記プローブのチップが、円形の幾何学的形状を有し、前記サンプル表面上に入射する光の量を反射によって増大させるために除去される１つ以上の区域を備える、上記請求項のいずれかに記載の装置。
プローブチップが正電圧に一定に保たれ、且つ表面と固定関係に保たれ、フォトンのエネルギーが走査され、光電子放出電流がＤＣモードか又はＡＣモードのいずれかで検出され、ＤＯＳ（表面状態密度）情報が積分電流を微分することによって得られる、表面状態密度（ＤＯＳ）分光法を行うように構成されている、上記請求項のいずれかに記載の装置。
フォトンエネルギーが結果的に光電子放出を引き起こすエネルギーに一定に保たれ、且つプローブチップが表面と固定関係に保たれ、チップ電位が或る電圧範囲を通して走査され、光電子放出電流がＤＣモードか又はＡＣモードのいずれかで検出され、ＤＯＳ情報が積分電流を微分することによって得られる、表面状態密度（ＤＯＳ）分光法を行うように構成されている、請求項１から請求項２２までのいずれかに記載の装置。
表面を分析する方法であって、プローブと表面との接触電位差を測定するステップと、前記表面上に提供される又は前記表面を形成するサンプルからの光電子放出をトリガするための放射を放出するステップと、光源から放出される放射を波長セレクタを通してフィルタリングするステップと、を含み、前記プローブ及び前記表面が気体環境に露出又は収容され、前記プローブが、相対仕事関数測定の実行のための前記プローブ及び前記表面が前記表面に垂直な方向の動き成分をもって互いに対して発振する第１のモードと、検出された光電子放出から導出される絶対仕事関数の実行のための前記プローブが前記表面に垂直な方向に前記表面と固定関係にある、連続フォトンエネルギー測定のための第２のモードで選択的に動作可能である、方法。
コンピュータ上で実行するときに、前記コンピュータを請求項１から請求項２４までのいずれかに記載の装置及び／又は請求項２５に記載の方法に関する制御機構として機能させる命令でエンコードされるコンピュータプログラム製品。