JP2015208550A - 眼寸法測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】固定パターンノイズなどの不要な周波数成分が含まれない測定の干渉信号を取得することが可能であると共に、測定の干渉信号（Ａスキャン信号）の中に固定パターンノイズや不要な周波数成分が含まれていても、正確に被検眼内部の測定対象部位の位置を特定することが可能な眼寸法測定装置を提供すること。
【解決手段】被検眼に対する干渉系の０点位置（測定光路長と参照光路長が一致する位置）を移動させるディレイラインを備え、０点位置とディレイラインのディレイ値の関係を求める算出手段と、算出手段で得られた０点位置とディレイ値の関係に基づいて、被検眼に対して所定の位置に０点位置を移動するようにディレイラインを制御するディレイ制御手段を備えた構成とした。
【選択図】図７

Description

本願は、被検眼を検査する眼科装置に関し、特に被検眼内部の測定対象部位（例えば、水晶体、網膜等）の位置を特定する眼寸法測定装置に関する。

光干渉を用いて被検眼の内部（例えば、水晶体、網膜等）を検査するための眼科装置が開発されている。この種の眼科装置は、光源からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、光源からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系を備えている。そして、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた反射光とを合成した干渉光から、被検眼内部の測定対象部位（例えば、水晶体、網膜等）の位置を特定する。特許文献１には、この種の眼科装置の従来例が開示されている。

ところが、取得した干渉光（Ａスキャン信号）には、光学系内部の意図しない反射によって、毎回同じ位置に現れる、いわゆる、固定パターンノイズなどが含まれることが多い。特許文献２には、バンドパスフィルタを用いて、受光素子から出力される信号（干渉信号）に含まれる不要な周波数成分（定常ノイズ、もしくは回路上での電気ノイズ）を除去する方法が開示されている。

特開２００８−１６１２１８号公報 特許第５２４９０７３号公報

しかし、固定パターンノイズなどのような不要な周波数成分は、機器間や使用する環境などで異なったり、変動したりするため、特許文献２のように、バンドパスフィルタを用いても、完全に除去できるものではない。そのため、固定パターンノイズなどの不要な周波数成分を除去した干渉信号（Ａスキャン信号）を取得するのが困難であった。

本願は、上述した実情に鑑みてなされたものであり、その目的は、取得した測定の干渉信号（Ａスキャン信号）の中に固定パターンノイズなどの不要な周波数成分が含まれないように測定の干渉信号（Ａスキャン信号）を取得することが可能な眼寸法測定装置を提供することにある。さらに言えば、取得した測定の干渉信号（Ａスキャン信号）の中に固定パターンノイズなどの不要な周波数成分が含まれていても、正確に被検眼内部の測定対象部位の位置を特定することが可能な眼寸法測定装置を提供することにある。

上記目的を達成するために、請求項１に記載の発明は、光干渉により取得した干渉信号から被検眼の深さ方向の寸法を測定する眼寸法測定装置において、被検眼に対する干渉系の０点位置（測定光路長と参照光路長が一致する位置）を移動させるディレイラインを備え、０点位置とディレイラインのディレイ値の関係を求める算出手段と、算出手段で得られた０点位置とディレイ値の関係に基づいて、被検眼に対して所定の位置に０点位置を移動するようにディレイラインを制御するディレイ制御手段を有することを特徴とする。

求めたディレイラインにおける（移動可能な）コーナーキューブ及び／又はミラーなどの位置と干渉系の０点位置の関係から、０点位置を所定の位置、例えば、ノイズ等が比較的少ない領域に測定干渉信号が取得できるような０点位置にコーナーキューブ及び／又はミラーなど移動制御して容易に設定することができる。

また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の眼寸法測定装置であって、取得した干渉信号から固定パターンノイズ等のピークを特定する特定手段を有することを特徴とする。

取得した干渉信号から固定パターンノイズ等のピークを特定することにより、固定パターンノイズ等のピークを排除して、眼寸法等を算出可能となるため、正確な眼寸法等の測定値を算出することができる。

また、請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の眼寸法測定装置であって、特定された固定パターンノイズ等のピークの位置に基づいて、移動する０点の所定位置を算出する算出手段を有することを特徴とする。

特定された固定パターンノイズ等のピークの位置から固定パターンノイズ等のピークが含まれない（深さ方向の）領域を求め、その領域に被検眼のＡスキャン像が取得できるような０点位置Ｚ０を算出し、ディレイ制御手段によりＺ０の位置に０点を移動して干渉信号を取得することにより、固定パターンノイズ等のピークのないＡスキャン像を容易に取得することができる。

また、請求項４に記載の発明は、請求項２又は３に記載の眼寸法測定装置であって、特定手段は、被検眼のない状態で干渉信号を取得する第１の取得手段を備え、取得した干渉信号から固定パターンノイズ等のピークを特定することを特徴とする。

被検眼のない状態で干渉信号を取得することで、固定パターンノイズ等のピークを容易に、かつ、確実に特定することができる。

また、請求項５に記載の発明は、請求項２又は３に記載の眼寸法測定装置であって、特定手段は、異なる０点位置で複数の干渉信号を取得する第２の取得手段を備え、取得した複数の干渉信号を加算平均して固定パターンノイズ等のピークを特定することを特徴とする。

異なる０点位置で取得した複数の干渉信号は、被検眼の干渉信号は変化するが固定パターンノイズ等の信号は変化しないため、取得した複数の干渉信号を加算平均すると、被検眼の干渉信号はキャンセルされ、固定パターンノイズ等の信号のみを検出できることから、上述のように、事前に被検眼のない状態で干渉信号を取得することなく、固定パターンノイズ等のピークを容易に、かつ、確実に特定することができる。

また、請求項６に記載の発明は、請求項２又は３に記載の眼寸法測定装置であって、特定手段は、光源からの光が被検眼に対し複数の異なる位置に入射する入射手段と、複数の異なる位置に入射して複数の干渉信号を取得する第３の取得手段を備え、複数の干渉信号を加算平均して固定パターンノイズ等のピークを特定する特定手段を有することを特徴とする。

被検眼に対し複数の異なる位置における複数の干渉信号を加算平均すると、上述のように被検眼の干渉信号はキャンセルされ、固定パターンノイズ等の信号のみを検出できることから、上述のように、０点位置を移動することなく、固定パターンノイズ等のピークを容易に、かつ、確実に特定することができる。

また、請求項７に記載の発明は、請求項２及び４〜６のいずれか１つに記載の眼寸法測定装置であって、特定した固定パターンノイズ等のピークを排除して被検眼の眼寸法を算出する算出手段を有することを特徴とする。

固定パターンノイズ等のピークが取得した被検眼の干渉信号に含まれていても、特定した固定パターンノイズ等のピークを排除して被検眼の眼寸法を算出することができるため、正確な眼寸法の値を取得できる。

また、請求項８に記載の発明は、請求項４及び６の少なくとも１つに記載の眼寸法測定装置であって、被検眼のない状態の１次元画像（Ａスキャン像）及び／又は２次元画像（Ｂスキャン像）を画面に表示する表示手段を有することを特徴とする。

例えば、被検眼のない状態のＡ／Ｂスキャン像と被検眼を測定したＡ／Ｂスキャン像を並列表示することで、被検眼を測定したＡ／Ｂスキャン像に存在する固定パターンノイズ等のピークが視覚的に確認できるため、検者は、取得したＡ／Ｂスキャン像を評価することができる。

また、請求項９に記載の発明は、請求項８に記載の眼寸法測定装置であって、０点位置移動ボタンを備え、表示画面上で（固定パターンノイズ等のピークを基準に）被検眼部のＡ及び又はＢスキャン像を移動させる、或いは、（被検眼部のＡ及び又はＢスキャン像を基準に）固定パターンノイズ等のピークを移動させることを特徴とする。

０点位置移動すると、被検眼のＡ／Ｂスキャン像は移動するが、固定パターンノイズ等のピークは移動しないため、０点位置移動ボタンを検者が操作しディレイ制御することで、視覚的にＡ／Ｂスキャン像における固定パターンノイズ等のピークが把握できるため、固定パターンノイズ等のピークのないＡ／Ｂスキャン像を取得することができる。固定パターンノイズ等のピークがあったとしても、他の補正手段を用いて固定パターンノイズ等のピークを排除するなどして、正しい被検眼内の各眼寸法を測定することができる。

上記のように、本発明にかかる眼寸法測定装置は、固定パターンノイズなどの不要な周波数成分が含まれない測定の干渉信号を取得することが可能であると共に、測定の干渉信号（Ａスキャン信号）の中に固定パターンノイズや不要な周波数成分が含まれていても、正確に被検眼内部の測定対象部位の位置を特定することが可能なのである。

本発明に係る一実施例の眼科装置の光学系の概略構成図である。 一実施例に係る眼科装置の制御系のブロック図である。 ０点調整機構の機能を説明するための図である。 焦点調整機構の機能を説明するための図である。 ０点位置とコーナーキューブの移動位置の関係を示したグラフの一例である。 測定光学系の光路長を所定の光路長範囲で走査したときに得られる干渉信号波形を処理する手順を説明するための図である。 本実施例に係る眼科装置の処理手順の一例を示すフローチャートである。 被検眼のない場合のＡスキャン像を説明する図である。 ０点の位置を移動してＦＰＮなどのノイズのない領域に被検眼のＡスキャン像を取得する手順を説明した図である。 本発明に係る別の一実施例（参照光路に０点調整機構を配置した例）の眼科装置の光学系の概略構成図である。 図１０の構成の場合の０点の位置を移動してＦＰＮなどのノイズのない領域に被検眼のＡスキャン像を取得する手順を説明した図である。 ０点の位置を移動させて複数のＡスキャン像からＦＰＮなどのノイズを特定する方法を説明した図である。（その１） ０点の位置を移動させて複数のＡスキャン像からＦＰＮなどのノイズを特定する方法を説明した図である。（その２） 本発明に係る別の一実施例（Ｂスキャン機構を追加した例）の眼科装置の光学系の概略構成図である。 図１４の構成で取得されるＢスキャン像の取得方法を説明した図である。 Ｂスキャン像からＦＰＮなどのノイズを特定する方法を説明した図である。 特定されたＦＰＮなどのノイズを排除して眼寸法を算出する図である。 被検眼のない場合のＡスキャン像をモニタの画面上に表示した一例である。 被検眼のない場合のＢスキャン像をモニタの画面上に表示した一例である。 被検眼のＡスキャン像に対して、検者が操作して取得した０点の位置を移動する方法を説明した図である。 被検眼のＢスキャン像に対して、検者が操作して取得した０点の位置を移動する方法を説明した図である。

図１は本発明に係る眼科装置の光学系の一実施例（以下本実施例）の構成を示したものである。図１に示すように、本実施例の眼科装置は、被検眼１００を検査するための測定部１０を有している。測定部１０は、被検眼１００から反射される反射光と参照光とを干渉させる干渉光学系１４と、被検眼１００の前眼部を観察する観察光学系５０と、被検眼１００に対して測定部１０を所定の位置関係にアライメントするためのアライメント光学系（図示省略）を有している。アライメント光学系は、公知の眼科装置に用いられているものを用いることができるため、その詳細な説明は省略する。

干渉光学系１４は、光源１２と、光源１２からの光を被検眼の内部に照射すると共にその反射光を導く測定光学系と、光源１２からの光を参照面に照射すると共にその反射光を導く参照光学系と、測定光学系により導かれた反射光と参照光学系により導かれた参照光とを合成した干渉光を受光する受光素子２６によって構成されている。

光源１２は、波長掃引型の光源であり、出射される光の波長が所定の周期で変化するようになっている。光源１２から出射される光の波長が変化すると、出射される光の波長に対応して、被検眼１００の深さ方向の各部位から反射される光のうち参照光と干渉を生じる反射光の反射位置が被検眼の深さ方向に変化する。このため、出射される光の波長を変化させながら干渉光を測定することで、被検眼１００の内部の各部位（すなわち、水晶体１０４や網膜１０６）の位置を特定することが可能となる。

測定光学系は、ビームスプリッタ２４と、ミラー２８と、０点調整機構３０と、ミラー３４と、焦点調整機構４０と、ミラー４６と、ホットミラー４８によって構成されている。光源１２から出射された光は、ビームスプリッタ２４、ミラー２８、０点調整機構３０、ミラー３４、焦点調整機構４０、ミラー４６、及びホットミラー４８を介して被検眼１００に照射される。被検眼１００からの反射光は、ホットミラー４８、ミラー４６、焦点調整機構４０、ミラー３４、０点調整機構３０、ミラー２８、及びビームスプリッタ２４を介して受光素子２６に導かれる。０点調整機構３０と焦点調整機構４０については、後で詳述する。

参照光学系は、ビームスプリッタ２４と参照ミラー２２によって構成されている。光源１２から出射された光の一部は、ビームスプリッタ２４で反射され、参照ミラー２２に照射され、参照ミラー２２によって反射される。参照ミラー２２で反射された光は、ビームスプリッタ２４を介して受光素子２６に導かれる。参照ミラー２２とビームスプリッタ２４と受光素子２６は、干渉計２０内に配置され、その位置が固定されている。このため、本実施例の眼科装置では、参照光学系の参照光路長は一定で変化しない。

受光素子２６は、参照光学系により導かれた光と測定光学系により導かれた光とを合成した干渉光を検出する。受光素子２６としては、例えば、フォトダイオードを用いることができる。

観察光学系５０は、被検眼１００にホットミラー４８を介して観察光を照射すると共に、被検眼１００から反射される反射光（すなわち、照射された観察光の反射光）を撮影する。ここで、ホットミラー４８は、干渉光学系の光源１２からの光を反射する一方で、観察光学系の光源からの光を透過する。このため、本実施例の眼科装置では、干渉光学系による測定と、観察光学系５０による前眼部の観察を同時に行うことができる。なお、観察光学系５０には、公知の眼科装置に用いられているものを用いることができるため、その詳細な構成については説明を省略する。

ここで、測定光学系に設けられる０点調整機構３０と焦点調整機構４０について説明する。０点調整機構３０は、コーナキューブ３２と、コーナキューブ３２をミラー２８，３４に対して進退動させる第２駆動装置５６（図２に図示）を備えている。第２駆動装置５６がコーナキューブ３２を図１の矢印Ａの方向に駆動することで、光源１２から被検眼１００までの光路長（すなわち、測定光学系の物体光路長）が変化する。ここで説明する０点とは図３に示すように、参照光路長（詳細には、光源１２〜参照ミラー２２＋参照ミラー２２〜受光素子２６）と物体光路長（詳細には、光源１２〜検出面＋検出面〜受光素子２６）が一致する位置であり、干渉光を用いた測定装置ではこの０点を基準に深さ方向（本実施例では被検眼の網膜方向）の干渉信号を取得する。

０点に近いほど干渉光の強度は大きいため、本実施例のような被検眼１００の角膜１０２から網膜１０６までの測定を行う場合は、通常、図３に示すように被検眼の角膜の少し手前の位置（図３に示す位置）に０点が来るように０点調整機構３０により調整される。尚、本実施例における０点調整機構３０は、後述するように、０点位置を角膜１０２の表面から網膜１０６の表面の距離移動できるように構成されている。

焦点調整機構４０は、光源１２側に配置される凸レンズ４２と、被検眼１００側に配置される凸レンズ４４と、凸レンズ４２に対して凸レンズ４４を光軸方向に進退動させる第３駆動装置５８（図２に図示）を備えている。凸レンズ４２と凸レンズ４４は、光軸上に配置され、入射する平行光の焦点の位置を変化させる。すなわち、第３駆動装置５８が凸レンズ４４を図１の矢印Ｂの方向に駆動することで、被検眼１００に照射される光の焦点の位置が被検眼１００の深さ方向に変化する。具体的には、凸レンズ４４から照射される光が平行光となるように凸レンズ４２と凸レンズ４４との間隔を調整した状態から、凸レンズ４４を凸レンズ４２から離れる方向に移動させると、凸レンズ４４から照射される光は収束光となり、凸レンズ４４を凸レンズ４２に近づく方向に移動させると、凸レンズ４４から照射される光は発散光となる。このため、凸レンズ４２と凸レンズ４４との間隔を調整することで、図４（ａ），（ｂ）に示すように、正常視の被検眼１００に対して、照射される光の焦点の位置を角膜１０２の表面から網膜１０６の表面まで変化させることができる。また、図４（ｃ）、（ｄ）に示す近視眼に対しても、照射される光の焦点の位置が網膜１０６の位置となるように調整することができる。このように、被検眼１００に照射される光の焦点の位置を被検眼１００の角膜１０２の表面や網膜１０６の表面に一致させることで、これらの面から反射される光の強度を強くでき、これらの面の位置を精度よく検出することができる。

また、本実施例の眼科装置では、被検眼１００に対して測定部１０の位置を調整するための位置調整機構１６（図２に図示）と、その位置調整機構１６を駆動する第１駆動装置５４（図２に図示）を備えている。

次に、本実施例の眼科装置の制御系の構成を説明する。図２に示すように、眼科装置は演算装置６４によって制御される。演算装置６４は、ＣＰＵ，ＲＯＭ，ＲＡＭ等からなるマイクロコンピュータ（マイクロプロセッサ）によって構成されている。演算装置６４には、光源１２と、第１〜第３駆動装置５４〜５８と、モニタ６２と、観察光学系５０が接続されている。演算装置６４は、光源１２のオン／オフを制御し、第１〜第３駆動装置５４〜５８を制御することで各機構１６，３０，４０を駆動し、また、観察光学系５０を制御して観察光学系５０で撮像される前眼部像をモニタ６２に表示する。また、演算装置６４には、受光素子２６が接続され、受光素子２６で検出される干渉光の強度に応じた干渉信号が入力する。演算装置６４は、受光素子２６からの干渉信号をフーリエ変換することによって、被検眼１００の各部位（角膜１０２の前後面、水晶体１０４の前後面、網膜１０６の表面）の位置を特定し、被検眼１００の眼軸長を算出する。なお、演算装置６４による被検眼１００の各部位の位置を特定する処理の詳細については後述する。

次に、本実施例の眼科装置を用いて眼軸長を測定する際の手順を説明する。本発明にかかる眼科装置においては、測定する前にコーナキューブ３２の位置と０点位置の関係を求める。例えば、図５のグラフに示すような関係を求める。図５は、コーナキューブ３２の位置をーＡｍｍから＋Ｂｍｍ移動すると０点位置は被検眼の角膜頂点位置に対してー１４ｍｍから＋５６ｍｍの範囲で移動することを示している。ここで、コーナキューブ３２の原点（０ｍｍ）では０点位置は角膜頂点位置に対してー４．６ｍｍ（角膜頂点から前方に４．６ｍｍの位置）となっている。測定を開始する前にコーナキューブ３２の位置と０点位置の関係を求め、演算装置６４に記憶しておくことで、ディレイラインを制御して（コーナキューブ３２の位置を移動して）、０点位置を任意の位置に移動することが可能となる。

測定の手順については、図７〜図９を参照して説明する。Ｓ１０で、０点位置を所定の位置、例えば図８におけるΔＺ（−４．６ｍｍ）の位置に来るように０点調整機構３０を制御する。この状態で、被検者眼のない状態での干渉信号を取得し、フーリエ変換してＡスキャン像Ａ０を取得する（Ｓ１２）。Ａスキャン像Ａ０は被検者眼からの反射光がないため、図８の（ｃ）のような例えば固定パターンノイズ（ＦＰＮ）のみが存在するＡスキャン像が取得される。Ａスキャン像Ａ０にはＦＰＮの他に光学系内部の反射光によるノイズピークも存在することがある。

Ｓ１４では、Ａスキャン像Ａ０からＦＰＮなどのピークの位置（深さ位置）を検出し、（０点位置を基準とする）深さ位置Ｌを算出する。そして、Ｓ１６では、ＦＰＮなどのノイズのピークが被検眼のＡスキャン像と重ならない０点位置Ｚ０を算出する。例えば、図８（ｃ）の場合では、Ｚ０＝Ｌ＋α（｜α｜＞０）としてもよい。

Ｓ１８では、０点位置をＺ０の位置に来るように０点調整機構３０を制御する。その後、被検眼の測定を開始する。

まず、検査者は図示しないジョイスティック等の操作部材を操作して、被検眼１００に対して測定部１０の位置合わせを行う（Ｓ２０）。すなわち、演算装置６４は、検査者の操作部材の操作に応じて、第１駆動装置５４により位置調整機構１６を駆動する。これによって、被検眼１００に対する測定部１０のｘｙ方向（縦横方向）の位置とｚ方向（進退動する方向）の位置が調整される。

被検眼１００に対して測定部１０の位置合わせが終了したら、Ｓ２２で被検眼１００の干渉信号を取得し、取得した干渉信号をＳ２４でフーリエ変換してＡスキャン像が取得される（Ｓ２６）。

図９には、上述の操作を説明する図である。図９の（ａ）と（ｂ）は被検眼がない場合の０点の位置を示したものであり、図８の（ａ）と（ｂ）と同じである。０点の位置をＺ０に位置に移動した場合（図９の（ｃ）と（ｄ））との比較のため、図示してある。図９の（ｅ）はＳ２６で取得されたＡスキャン像を示す。図９の（ｅ）に示すように、ＦＰＮなどのピークの後方に被検眼１００のＡスキャン像が取得されるため、この被検眼１００のＡスキャン像の部分（点線で囲まれた領域）のみ取り出すことにより、ＦＰＮなどのピークのない被検眼１００のＡスキャン像が取得できるのである。

Ｓ２８で、取得したＡスキャン像から被検眼の対象部位（例えば、角膜、水晶体、網膜など）を特定し、各眼寸法値を算出して、Ｓ３０で、各眼寸法値や取得したＡスキャン像をモニタ６２に表示される。

上記説明に係る図１の構成は、測定光路の中に０点調整機構３０が配置されているが、図１０に示すように参照光路の中に０点調整機構３０が配置してもよい。この場合、参照ミラー２２を光軸に沿って移動するように第２駆動装置５６（図２に図示）で制御する。

図１１は、図１０の構成における操作内容を説明したものである。参照ミラー２２を移動して０点の位置をＺ０に位置に移動し、図１１の（ｅ）に示すようにＦＰＮなどのピークのない被検眼１００のＡスキャン像が取得できる。

上記の例では、被検眼のない状態のＡスキャン像Ａ０からＦＰＮなどのピークの位置（深さ位置）を検出したが、別の方法でもＦＰＮなどのピークの位置（深さ位置）を検出することが可能である。図１２はその１例を説明した図である。

図１２の（ａ）、（ｃ）及び（ｅ）は、０点の位置をそれぞれΔＺ１、ΔＺ２、ΔＺ３と移動した場合の０点と被検眼の位置関係を示した図である。そして、図１２の（ｂ）、（ｄ）及び（ｆ）は、０点の位置をそれぞれΔＺ１、ΔＺ２、ΔＺ３と移動した場合のＡスキャン像を示した図である。ＦＰＮのピークの位置と被検眼のＡスキャン像の位置がずれていくのがわかる。

図１３は図１２の（ｂ）、（ｄ）及び（ｆ）の各Ａスキャン像の０点を合わせて表示し直したものである。図１２の（ｂ）、（ｄ）及び（ｆ）からわかるように、ＦＰＮの位置は一定であるのに対し、被検眼のＡスキャン像の位置が移動している。そのため、０点を基準にして各Ａスキャン像を加算平均すると、被検眼のＡスキャン像はキャンセルされ、図１３の（ｇ）のようにＦＰＮのピークのみのＡスキャン像が得られる。そのため、図１３の（ｇ）からＦＰＮなどのピークの位置（深さ位置）Ｌを検出することができるのである。ＦＰＮなどのピークの位置Ｌを用いて、上述のようにＦＰＮなどのピークのない被検眼１００のＡスキャン像が取得できる０点位置Ｚ０を算出することができるのである。

図１４は、本発明に係る別の一実施例（Ｂスキャン機構を追加した例）の眼科装置の光学系の概略構成図である。図１のミラー４６をガルバノミラー４６ａに変更することにより、矢印Ｃのようにガルバノミラー４６ａを所定の走査角の範囲で走査する。

図１５はガルバノミラー４６ａを所定の走査角の範囲Ｃで走査して被検眼の２次元データ（Ｂスキャン像）を取得する方法を説明した図である。ガルバノミラー４６ａを走査することにより、被検眼１００に対して複数の異なる位置に光が入射されるため、被検眼１００に対して（図１５上で）縦方向に異なる位置のＡスキャン像が取得され、図１５の下図に示すような２次元画像（Ｂスキャン像）が取得できるのである。

図１６は被検眼１００に対して複数の異なる位置の干渉信号から得られたＢスキャン像からＦＰＮなどのノイズを特定する方法を説明した図である。図１６（ａ）は得られたＢスキャン像を示したものであり、Ｂスキャン像は前述のように被検眼の複数の異なる位置のＡスキャン像から成る。例えば、図１６（ａ）に示す異なる位置のＡスキャン像Ａ（ｎ）、Ａ（ｎ＋ａ）、Ａ（ｎ＋ｂ）を０点位置を基準に並べて示したのが図１６（ｂ）である。ＦＰＮのピーク以外の被検眼のＡスキャン像は深さ方向に対して異なる位置に現れるので、これら複数のＡスキャン像に対して加算平均処理を実施すると、被検眼のＡスキャン像の信号はキャンセルされるため、図１６（ｃ）のようにＦＰＮのピークのみのＡスキャン像が得られる。そのため、図１６の（ｃ）からＦＰＮなどのピークの位置（深さ位置）Ｌを検出することができるのである。ＦＰＮなどのピークの位置Ｌを用いて、上述のようにＦＰＮなどのピークのない被検眼１００のＡスキャン像が取得できる０点位置Ｚ０を算出することができるのである。

上記の説明ではＡスキャン像に対して加算平均処理を実施することを記載したが、フーリエ変換前の干渉信号（Ａスキャン信号）に対して加算平均処理した後にフーリエ変換してもよい。

上述の例では、ＦＰＮなどのピークの位置Ｌを求め、ＦＰＮなどのピークのない被検眼１００のＡスキャン像が取得できる０点位置Ｚ０を算出して、被検眼のＡスキャン像の中にＦＰＮなどのピークが存在しないように０点を位置Ｚ０に移動して測定し、得られたＡスキャン像から各眼寸法を算出する方法を開示したが、必ずしも０点を位置Ｚ０に移動する必要はない。

図１２のように、０点の位置を任意の位置に移動させて複数のＡスキャン像を取得すると、被検眼のＡスキャン像は移動するがＦＰＮのピークは移動しないことを利用して、例えば、パターンマッチ処理などにより、取得したＡスキャン像の中に存在するＦＰＮのピークを特定することが可能である。

図１７は、特定されたＦＰＮなどのノイズを排除して眼寸法を算出する図である。図１７の（ｂ）のようにＦＰＮなどのノイズピークを特定し、各眼寸法を算出する際、図１７の（ｃ）のように排除して算出することも可能である。

図１８は、上述で示した被検眼のない場合のＡスキャン像をモニタの画面上に表示した一例である。被検眼のない場合のＡスキャン像１８０２と被検眼を測定したＡスキャン像１８０４を並列してモニタ６２の画面１８０１に表示した例である。図１８（ａ）は被検眼のＡスキャン像の中にＦＰＮのノイズピークが存在している場合の例であり、図１８（ｂ）はＡスキャン像の中にＦＰＮなどのピークが存在しないように０点を位置Ｚ０に移動して測定した場合の例である。被検眼のない場合のＡスキャン像１８０２と被検眼を測定したＡスキャン像１８０４と並列表示することにより、被検眼を測定したＡスキャン像１８０４を検者が評価可能になる。例えば、ＦＰＮなどのピークを避けて被検眼のＡスキャン像が取得できているかを視覚的に判断可能になり、測定値の評価が可能となる。

図１９は、上述で示した被検眼のない場合のＢスキャン像をモニタの画面上に表示した一例である。Ａスキャン像の表示の場合と同様、被検眼のない場合のＢスキャン像１９０２と被検眼を測定したＢスキャン像１９０４を並列してモニタ６２の画面１８０１に表示した例である。図１９（ａ）は被検眼のＢスキャン像の中にＦＰＮのノイズピークが存在している場合の例であり、図１９（ｂ）はＢスキャン像の中にＦＰＮなどのピークが存在しないように０点を位置Ｚ０に移動して測定した場合の例である。被検眼のない場合のＢスキャン像１９０２と被検眼を測定したＢスキャン像１９０４と並列表示することにより、被検眼を測定したＢスキャン像１９０４を検者が評価可能になる。Ａスキャン像の表示の場合と同様、ＦＰＮなどのピークを避けて被検眼のＢスキャン像が取得できているかを視覚的に判断可能になり、測定値の評価が可能となる。

図１８及び図１９の表示部１８０６には眼寸法の測定結果などが表示される。操作ボタン部１８０８は表示の切替や測定の開始など操作に関わるボタンが配置されている。操作ボタンの内容は画面に合わせて適宜配置されるため、操作ボタンの数や種類は限定されるものではない。また、被検眼のない画像と被検眼の測定画像を併記表示した例を示したが、併記表示に限定されるものではなく、表示切替ボタンを別途備えて切替によって被検眼のない画像と被検眼の測定画像のいずれか１つを表示するようにしてもよい。

上記までの例は、演算処理で０点を移動する所定位置を求め、ディレイラインを制御する方法を開示したが、モニタ６２の画面１８０１に表示した被検眼のＡスキャン像やＢスキャン像を確認して、別途備えた操作ボタンにて検者がディレイライン制御して０点位置を移動するようにしてもよい。

図２０は、被検眼のＡスキャン像に対して、検者が操作して取得した０点の位置を移動する方法を説明した図である。画面２００２は移動する前のＡスキャン像であり、画面２００４は、検者が操作ボタン２００８や操作ボタン２０１０の矢印ボタンを用いて０点位置を移動して測定したＡスキャン画像である。図２０の（ａ）においては０点位置を移動することにより、ＦＰＮのピークに対して被検眼のＡスキャン像を深さ方向（画面２００４では左右方向）に移動する例を示したもので、図２０の（ｂ）は被検眼のＡスキャン像に対してＦＰＮのピークを深さ方向（画面２００４では左右方向）に移動する例を示したものである。検者はボタン操作で０点位置を移動できるようにすることにより、検者が適切を判断した０点位置での測定が可能になる。

図２１は、被検眼のＢスキャン像に対して、検者が操作して取得した０点の位置を移動する方法を説明した図である。画面２１０２は移動する前のＢスキャン像であり、画面２１０４は、検者が操作ボタン２１０８や操作ボタン２１１０の矢印ボタンを用いて０点位置を移動して測定したＢスキャン画像である。図２１の（ａ）においては０点位置を移動することにより、ＦＰＮのピークに対して被検眼のＢスキャン像を深さ方向（画面２１０４では左右方向）に移動する例を示したもので、図２１の（ｂ）は被検眼のＢスキャン像に対してＦＰＮのピークを深さ方向（画面２１０４では左右方向）に移動する例を示したものである。検者はボタン操作で０点位置を移動できるようにすることにより、Ａスキャン像の場合と同様、検者が適切を判断した０点位置での測定が可能になる。

図２０及び図２１の矢印ボタン２００６、２０１０や２１０６、２１１０の操作については、矢印ボタンを押す毎に所定の距離０点を移動してもよいし、矢印ボタンを１度押すと、押された方向に自動的に移動が始まり、検者が画面を確認して適切な位置になったと判断したときに２００８や２１０８の「●」ボタンを押して０点位置を決定してもよい。眼寸法の算出は、移動と同時に算出し、その結果を随時表示てもよいし、「●」ボタンを押すことで算出を行い、その結果を表示してもよい。

移動する前のＡスキャン像２００２、Ｂスキャン像２１０２を並列表示することで、ＦＰＮのピークが正確に把握することができ、より適切な０点位置に設定可能になる。

画面２００２や画面２１０４は必ずしも図２０や図２１のように並列表示する必要はない。例えば、画面２００４や画面２１０４の中に移動前のＡスキャン像やＢスキャンを色や表示方法（点線など）を変えて重ねて表示してもよい。さらに言えば、移動する前のＡスキャン像やＢスキャン像は必ずしも表示する必要はなく、表示がなくとも本発明の効果は得ることが可能である。

以上、本発明の実施形態について詳述してきたが、これらはあくまでも例示であって、本発明はかかる実施形態における具体的な記載によって、何等、限定的に解釈されるものでなく、当業者の知識に基づいて種々なる変更、修正、改良等を加えた態様において実施され得るものであり、また、そのような実施態様が、本発明の趣旨を逸脱しない限り、何れも、本発明の範囲内に含まれるものであることが、理解されるべきである。

例えば、上記説明ではＦＰＮのピークが１つの例を用いたが、勿論、ＦＰＮのピークは１つであるとは限らない。複数のピークが現れる場合もある。複数のピークが一定の範囲内に固まって現れる場合は、前後端のいずれかのピークの位置を特定するようにしてもよい。また、ピーク間の距離が非常に大きく、被検眼のＡスキャン像の距離的範囲を超えるような場合はピーク間の中に被検眼のＡスキャン像が取得されるような０点の位置を算出してもよい。

また、上記説明では主にＦＰＮのピークが被検眼のＡスキャン像の中に入らない所定の位置に０点を移動するようにディレイラインをディレイ制御したが、Ａスキャン像の中に現れるノイズはＦＰＮだけではなく、光学系内の反射によるノイズも現れる。このようなノイズはＦＰＮとは異なり、測定毎に異なる位置に現れる可能性が高い。このような場合は、図２０や図２１に示した方法を用いることで、視覚的にノイズが把握できることから、眼寸法を算出する際にこのようなノイズを考慮して算出できるため、このような場合においても本発明の効果が得られるのである。

以上、本発明の特徴を特に眼寸法測定装置に関して説明したが、本発明に係る技術は眼寸法測定装置に限らず、干渉光を用いた他の眼科装置、例えば眼底ＯＣＴや前眼部ＯＣＴについても利用可能であり、本発明の効果を得ることができることは言うまでもない。

１０・・測定部
１２・・光源
１４・・干渉光学系
２０・・干渉計
２２・・参照ミラー
２４・・ビームスプリッタ
２６・・受光素子
２８，３４・・ミラー
３０・・０点調整機構
３２・・コーナキューブ
４０・・焦点調整機構
４２・・凹レンズ
４４・・凸レンズ
４６・・ミラー
４６ａ・・ガルバノミラー
４８・・ホットミラー
５０・・観察光学系
５４・・第１駆動装置
５６・・第２駆動装置
５８・・第３駆動装置
６０・・第４駆動装置
６２・・モニタ
６４・・演算装置

Claims (9)

1. 光干渉により取得した干渉信号から被検眼の深さ方向の寸法を測定する眼寸法測定装置において、
   被検眼に対する干渉系の０点位置（測定光路長と参照光路長が一致する位置）を移動させるディレイラインを備え、
   ０点位置とディレイラインのディレイ値の関係を求める算出手段と、
   算出手段で得られた０点位置とディレイ値の関係に基づいて、被検眼に対して所定の位置に０点位置を移動するようにディレイラインを制御するディレイ制御手段を有することを特徴とする眼寸法測定装置。
2. 取得した干渉信号から固定パターンノイズ等のピークを特定する特定手段を有することを特徴とする請求項１に記載の眼寸法測定装置。
3. 特定された固定パターンノイズ等のピークの位置に基づいて、移動する０点の所定位置を算出する算出手段を有することを特徴とする請求項２に記載の眼寸法測定装置。
4. 特定手段は、被検眼のない状態で干渉信号を取得する第１の取得手段を備え、取得した干渉信号から固定パターンノイズ等のピークを特定することを特徴とする請求項２又は３に記載の眼寸法測定装置。
5. 特定手段は、異なる０点位置で複数の干渉信号を取得する第２の取得手段を備え、取得した複数の干渉信号を加算平均して固定パターンノイズ等のピークを特定することを特徴とする請求項２又は３に記載の眼寸法測定装置。
6. 特定手段は、光源からの光が被検眼に対し複数の異なる位置に入射する入射手段と、
   複数の異なる位置に入射して複数の干渉信号を取得する第３の取得手段を備え、
   複数の干渉信号を加算平均して固定パターンノイズ等のピークを特定する特定手段を有することを特徴とする請求項２又は３に記載の眼寸法測定装置。
7. 特定した固定パターンノイズ等のピークを排除して被検眼の眼寸法を算出する算出手段を有することを特徴とする請求項２〜６のいずれか１つに記載の眼寸法測定装置。
8. 被検眼のない状態の１次元画像（Ａスキャン像）及び／又は２次元画像（Ｂスキャン像）を画面に表示する表示手段を有することを特徴とする請求項４及び６の少なくとも１つに記載の眼寸法測定装置。
9. 被検眼の１次元画像（Ａスキャン像）及び／又は２次元画像（Ｂスキャン像）を画面に表示する表示手段を有すると共に、０点位置移動ボタンを備え、表示画面上で（固定パターンノイズ等のピークを基準に）被検眼部のＡ及び又はＢスキャン像を移動させる、或いは、（被検眼部のＡ及び又はＢスキャン像を基準に）固定パターンノイズ等のピークを移動させる、請求項２〜８のいずれか１つに記載の眼寸法測定装置。