JP2015206707A5 - - Google Patents

Description

図１３は、本実施形態の波形計測部１４の動作を示すフローチャートである。図１３を参照しながら、波形計測部１４の動作及び本実施形態の波形計測方法について説明する。パルス光Ｐ３が波形計測部１４に入力された状態において、まず、入力スペクトル取得部１４ｂにおいてパルス光Ｐ３の入力強度スペクトルが取得される（ステップＳ１１）。前述したように、入力強度スペクトルが既知である場合には、このステップＳ１１は、入力スペクトル取得部１４ｂが計算機１４ｇの記憶媒体に記憶されている入力強度スペクトルを読み出すことで実現され得る。次に、出力スペクトル取得部１４ｄにおいて光Ｐ４の出力強度スペクトルが取得される（ステップＳ１２）。そして、位相スペクトル決定部１４ｅにおいて、制御部１３から制御位相スペクトルが取得される（ステップＳ１３）。続いて、仮想の位相スペクトルに基づく仮想の強度スペクトルが算出される（ステップＳ１４）。仮想の強度スペクトルを最初に算出するときには、仮想の位相スペクトルとして、例えばステップＳ１３において取得された制御位相スペクトルが用いられる。

Claims (1)

1. ２以上の波長成分を含む入射光を生成する光出力部と、
   パルス光の時間波形を制御するための制御位相スペクトルに基づく位相変調用ホログラムが呈示され、前記パルス光を生成するために前記入射光の位相を波長毎に変調する空間光変調器と、
   前記位相変調用ホログラムを前記空間光変調器に与える制御部と、
   前記パルス光の時間波形を計測する波形計測部とを備え、
   前記制御部は、前記波形計測部における計測結果に基づいて、前記パルス光の時間波形が所望の波形に近づくように前記位相変調用ホログラムを調整し、
   前記波形計測部は、
   前記パルス光の強度スペクトルである入力強度スペクトルを取得する入力スペクトル取得部と、
   前記パルス光を入力し、前記パルス光の位相スペクトルに対応する強度スペクトルを有する光を出力する光学素子と、
   前記光学素子から出力された光の強度スペクトルである出力強度スペクトルを取得する出力スペクトル取得部と、
   前記入力強度スペクトル及び仮想の位相スペクトルを有する前記パルス光が前記光学素子に入力されたと仮定したときに算出される前記出力強度スペクトルと、前記出力スペクトル取得部において取得された前記出力強度スペクトルとを比較することにより、前記パルス光の位相スペクトルを決定する位相スペクトル決定部と、
   周波数／時間変換により、前記位相スペクトル決定部において決定された位相スペクトルと前記入力強度スペクトルとに基づいて、前記パルス光の時間波形を算出する波形算出部とを有し、
   前記位相スペクトル決定部は、前記制御位相スペクトルを変形させることにより前記仮想の位相スペクトルを設定することを特徴とする、パルス光生成装置。