JP2015204416A - Opening/closing mechanism for carrying-in/carrying-out port, and cleaning device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、搬出入口の開閉機構及び洗浄装置に関する。 The present invention relates to an opening / closing mechanism for a carry-in / out entrance and a cleaning device.
半導体ウエーハ等の洗浄装置は、研削や研磨、切削加工が行われたウエーハ等を洗浄する。洗浄装置の加工室には洗浄によって飛び散った加工屑を含むミストや、洗浄に用いる薬液のミストが雰囲気中に含まれているため、他の領域(例えば、隣接する搬送領域や研削領域等)にミストが流出するのを防ぐ必要がある(特許文献1参照)。よって、特許文献1に示された洗浄装置は、必要最低限の搬出入口で搬出入し、搬出入口は扉プレートで密閉する構造が用いられてきた。 A cleaning device such as a semiconductor wafer cleans a wafer or the like that has been ground, polished, or cut. Since the processing chamber of the cleaning device contains mist containing processing waste scattered by cleaning and chemical mist used for cleaning in the atmosphere, it is in another area (for example, an adjacent transport area or grinding area). It is necessary to prevent mist from flowing out (see Patent Document 1). Therefore, the cleaning apparatus disclosed in Patent Document 1 has been used to carry in / out with the minimum necessary carry-in / out entrance, and the carry-out / out entrance is sealed with a door plate.
ところで、特許文献1に示された洗浄装置は、扉プレートが通常省スペースでの開閉を実現するためスライド式の開閉扉になっているが、搬出入口を密閉するために扉プレートを搬出入口に摺動させて移動させると摺動によって発塵してしまうので、搬出入口と僅かに離れた位置を上下動して搬出入口を覆った後、扉プレートを搬出入口に向かって押圧する方法が検討される。しかし、この場合、扉プレートの移動方向が2方向であるため構造的に複雑でコストもかかるという課題があった。 By the way, although the washing | cleaning apparatus shown by patent document 1 is a sliding-type opening-and-closing door in order to implement | achieve opening and closing in a space-saving normally, a door plate is used as a carrying-in / out opening in order to seal a carrying-in / out opening. When sliding and moving, dust will be generated by sliding, so after moving up and down a position slightly away from the carry-in entrance and covering the carry-out entrance, consider pressing the door plate toward the carry-out entrance Is done. However, in this case, since the door plate has two moving directions, there is a problem that the structure is complicated and expensive.
本発明は、上記問題にかんがみなされたもので、その目的は、低コストで発塵を抑制することができる搬出入口の開閉機構及び洗浄装置を提供することである。 The present invention has been considered in view of the above problems, and an object thereof is to provide a loading / unloading opening / closing mechanism and a cleaning device capable of suppressing dust generation at low cost.
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の搬出入口の開閉機構は、筐体の側壁に開口した搬出入口を上下動する扉で開閉する搬出入口の開閉機構であって、該搬出入口を遮蔽可能な扉プレートと、該側壁に固定され、該扉プレートを上下動させる上下動手段と、を備え、該上下動手段は、上下動するスライダと、該スライダに固定され、該扉プレートを支持する基台プレートと、を有し、該基台プレートは、該扉プレートをスライド可能な状態で吊り下げて支持するバネ部材と、一端が該扉プレートに回動可能にピン接合され、回動すると該扉プレートを該搬出入口に押圧するリンクアームと、を備え、該搬出入口を遮蔽する際は、該搬出入口から僅かに離間した該扉プレートが該上下動手段による移動で規制手段に突き当たった後に、該バネ部材のバネ力に抗して更に該基台プレートを移動させると、該リンクアームが回動して該基台プレートから離間して該搬出入口を押圧する方向に案内された該扉プレートが該搬出入口に接触して密閉することを特徴とする。 In order to solve the above-mentioned problems and achieve the object, the opening / closing mechanism for the loading / unloading port according to the present invention is an opening / closing mechanism for the loading / unloading port that opens and closes the loading / unloading port opened on the side wall of the housing with a door that moves up and down. A door plate capable of shielding the carry-in / out opening, and a vertical movement means fixed to the side wall and moving the door plate up and down. The vertical movement means is fixed to the slider and a slider that moves up and down, A base plate that supports the door plate, and the base plate is a spring member that suspends and supports the door plate in a slidable state, and one end of which is pivoted on the door plate. And a link arm that presses the door plate against the carry-in / out port when rotated, and when the carry-in / out port is shielded, the door plate slightly spaced from the carry-in / out port is moved by the vertical movement means Hit the regulation After that, when the base plate is further moved against the spring force of the spring member, the link arm is rotated and guided away from the base plate in a direction to press the carry-in / out port. The door plate is in contact with the carry-in / out opening and is sealed.
また、本発明の洗浄装置は、板状物を保持する保持手段と、該保持手段に保持された板状物を洗浄する洗浄手段と、上壁と底壁と側壁とを有し該保持手段及び洗浄手段とを収容する筐体と、を備えた洗浄装置であって、該筐体の側壁には板状物が通過可能な搬出入口が形成され、該搬出入口は請求項1記載の開閉機構で開閉されることを特徴とする。 The cleaning device of the present invention comprises a holding means for holding a plate-like object, a cleaning means for cleaning the plate-like object held by the holding means, an upper wall, a bottom wall, and a side wall. And a housing for housing the cleaning means, wherein a carrying-in / outlet through which a plate-like object can pass is formed on a side wall of the housing, and the opening / closing is opened and closed according to claim 1 It is characterized by being opened and closed by a mechanism.
そこで、本願発明の搬出入口の開閉機構を用いることで、上下動の駆動軸のみで扉プレートの開閉(上下動)と扉プレートの搬出入口への密着(搬出入口への近接離間方向への移動)が可能になり、簡便な構成で扉プレートの2方向への移動を可能にすることができるという効果を奏する。 Therefore, by using the opening / closing mechanism for the carry-in / out port according to the present invention, the door plate can be opened / closed (up / down movement) and the door plate is brought into close contact with the carry-in / out port only by the vertical drive shaft (moving in the direction of approaching and separating from the carry-in / out port) Is possible, and the door plate can be moved in two directions with a simple structure.
本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。 DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Embodiments (embodiments) for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited by the contents described in the following embodiments. The constituent elements described below include those that can be easily assumed by those skilled in the art and those that are substantially the same. Furthermore, the structures described below can be combined as appropriate. Various omissions, substitutions, or changes in the configuration can be made without departing from the scope of the present invention.
〔実施形態〕
本発明の実施形態に係る搬出入口の開閉機構及び洗浄装置を図面に基いて説明する。図1は、実施形態に係る洗浄装置の構成例の斜視図である。図2は、実施形態に係る洗浄装置から搬出入口の開閉機構を取り外した状態を示す斜視図である。図3は、実施形態に係る洗浄装置の構成例の断面図である。
Embodiment
An opening / closing mechanism and a cleaning device for a carry-in / out port according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view of a configuration example of a cleaning device according to an embodiment. FIG. 2 is a perspective view illustrating a state where the opening / closing mechanism for the carry-in / out entrance is removed from the cleaning device according to the embodiment. FIG. 3 is a cross-sectional view of a configuration example of the cleaning device according to the embodiment.
実施形態にかかる搬出入口の開閉機構100(以下、単に開閉機構と記す)は、図1、図2及び図3に示す洗浄装置1を構成する。洗浄装置1は、例えば、化学機械研磨加工が施されたウエーハW(図3に示し、板状物に相当する)の表面WSを洗浄するものである。化学機械研磨加工(CMP:Chemical Mechanical Polishing)では、水酸化ナトリウム(NaOH)や水酸化カリウム(KOH)などのアルカリ水溶液中にコロイド状のシリカを含んだ研磨剤が主に使用される。従って、研磨後のウエーハの表面に残留した研磨剤には、半導体デバイスにおいて可動イオンとして悪影響を及ぼすナトリウム(Na)やカリウム(K)が含まれることになる。洗浄装置1は、重金属汚染やパーティクルの発生を防止することを目的として、アンモニア水、過酸化水素水の混合液等の洗浄液で研磨剤が残留したウエーハを洗浄するものである。 An opening / closing mechanism 100 (hereinafter simply referred to as an opening / closing mechanism) for a carry-in / out port according to the embodiment constitutes the cleaning apparatus 1 shown in FIGS. 1, 2, and 3. The cleaning apparatus 1 cleans the surface WS of a wafer W (shown in FIG. 3 and corresponding to a plate-like object) that has been subjected to chemical mechanical polishing, for example. In chemical mechanical polishing (CMP), an abrasive containing colloidal silica in an alkaline aqueous solution such as sodium hydroxide (NaOH) or potassium hydroxide (KOH) is mainly used. Accordingly, the polishing agent remaining on the surface of the polished wafer contains sodium (Na) and potassium (K) that adversely affect mobile ions in the semiconductor device. The cleaning apparatus 1 is for cleaning a wafer in which an abrasive remains with a cleaning solution such as a mixed solution of ammonia water and hydrogen peroxide solution for the purpose of preventing heavy metal contamination and generation of particles.
なお、洗浄装置1により表面WSが洗浄されるウエーハWは、本実施形態では、シリコン、サファイア、ガリウムなどを母材とする円板状の半導体ウエーハや光デバイスウエーハであり、化学機械研磨加工が施された後に洗浄装置1により洗浄される。ウエーハWは、例えば、裏面WRに複数の分割予定ラインによって区画された各領域にデバイスが形成され、分割予定ラインに沿って切削されて、個々のデバイスに分割される。 In this embodiment, the wafer W whose surface WS is cleaned by the cleaning apparatus 1 is a disk-shaped semiconductor wafer or optical device wafer using silicon, sapphire, gallium or the like as a base material, and is subjected to chemical mechanical polishing. After being applied, it is cleaned by the cleaning device 1. In the wafer W, for example, a device is formed in each region partitioned by a plurality of planned division lines on the back surface WR, cut along the planned division lines, and divided into individual devices.
洗浄装置1は、ウエーハWを回転させながら洗浄液を噴射することで、ウエーハWの表面WSを洗浄する、所謂、スピンナ洗浄装置である。洗浄装置1は、図1、図2及び図3に示すように、ウエーハWを保持する保持手段10(図3のみに示す)と、保持手段10に保持されたウエーハWを洗浄する洗浄手段20(図3のみに示す)と、保持手段10及び洗浄手段20とを収容する筐体30と、ファン手段40と、排気手段50(図3のみに示す)と、開閉機構100と、制御手段60などを備えている。
The cleaning apparatus 1 is a so-called spinner cleaning apparatus that cleans the surface WS of the wafer W by spraying a cleaning liquid while rotating the wafer W. As shown in FIGS. 1, 2, and 3, the cleaning apparatus 1 includes a
保持手段10は、ウエーハWの裏面WR側を保持して、鉛直方向と平行な軸心回りに回転可能なものである。保持手段10は、表面を構成する部分がポーラスセラミック等から形成された円盤形状であり、図示しない真空吸引経路を介して図示しない真空吸引源と接続され、表面に載置されたウエーハWを吸引することで保持するものである。なお、保持手段10は、テーブル駆動手段11と連結されている。
The holding means 10 holds the back surface WR side of the wafer W and can rotate about an axis parallel to the vertical direction. The
テーブル駆動手段11は、保持手段10を回転させるとともに、保持手段10を筐体30内で昇降させるものである。テーブル駆動手段11は、一端に保持手段10が連結される回転軸12を有している。回転軸12は、回転自在および昇降自在に設けられ、図示しないテーブル回転駆動源およびテーブル上下駆動源に連結されており、テーブル回転駆動源が発生する回転力およびテーブル上下駆動源が発生する駆動力により回転駆動および昇降駆動を行う。
The table driving means 11 rotates the holding means 10 and raises and lowers the holding means 10 in the
洗浄手段20は、保持手段10に保持されたウエーハWの表面WSに洗浄液を噴射して洗浄するものである。洗浄手段20は、ウエーハWの表面WSと対向する面に図示しない噴射口が形成された噴射ノズル21を備えている。噴射ノズル21は、その基端部を中心として、噴射口がウエーハWの表面WSと対向する位置と、表面WS上から退避する位置とに亘って、揺動自在に設けられている。噴射ノズル21は、図示しないタンクと連結されている。噴射ノズル21は、タンクから加圧された洗浄液が供給され、噴射口からウエーハWの表面に向けて噴射する。ここで、洗浄液は、搬入されるウエーハWの表面WSの状態に応じて複数種類があり、例えばオゾン水、希フッ酸、SC−1(アンモニア過酸化水素水)、純水などが用いられる。
The cleaning means 20 is for cleaning the surface W of the wafer W held by the
筐体30は、ウエーハWの洗浄処理を外部と隔離した状態で行うためのものである。筐体30は、本実施形態では、直方体の形状であり、上壁31と、上壁31と対向する底壁32と、上壁31と底壁32とに連なる複数の側壁33とを有している。一つの側壁33(以下、符号33aで記す)には、ウエーハWが通過可能な搬出入口34が形成されている。搬出入口34は、矩形状に形成され、かつ側壁33aに開口した孔である。
The
ファン手段40は、図示しないファンと、フィルタ41とを含んで構成されたファンフィルタ装置であり、筐体30の上壁31に配設されている。ファンは、制御手段60により吐出流量が制御されるものであり、吸引側にフィルタ41が設けられ、吐出側が筐体30の内側に配置されている。ファン手段40は、ファンが駆動することで、フィルタ41により粉塵が除去された筐体30の外部の雰囲気を吸引し、筐体30内に吐出する。吐出された気体は、筐体30内において下向きの流れ、すなわちダウンフローを生成する。
The fan means 40 is a fan filter device that includes a fan (not shown) and a
排気手段50は、筐体30内の排気を行うものであり、筐体30の下方側から排気を行うものである。排気手段50は、図3に示すように、筐体30の他の側壁33の下端部に設けられた排気口51と、排気口51と図示しない吸引ポンプに接続された排気配管52を備えている。排気手段50は、吸引ポンプにより排気配管52、排気口51を介して筐体30内の雰囲気、すなわち内部雰囲気を吸引し、図示しない排気処理部により内部雰囲気に含まれている不純物(ウエーハWに付着していた物質や洗浄液に含まれている物質など)を除去した後、外部に排気する。
The exhaust means 50 exhausts the inside of the
次に、開閉機構100を図面に基づいて説明する。図4は、実施形態に係る搬出入口の開閉機構の構成例を示す斜視図である。図5は、図4に示された搬出入口の開閉機構の扉プレートが搬出入口を開いた状態を示す斜視図である。図6(a)は、図5に示された搬出入口の開閉機構の扉プレートが搬出入口を閉じる方向に移動している状態を示す側断面図であり、図6(b)は、図6(a)に示された搬出入口の開閉機構の扉プレートが規制用壁に突き当たった状態を示す側断面図、図6(c)は、図6(b)に示された搬出入口の開閉機構の扉プレートが搬出入口に接触して密閉した状態を示す側断面図である。
Next, the opening /
開閉機構100は、筐体30の側壁33aに形成された搬出入口34を開閉するものである。即ち、開閉機構100は、筐体30の側壁33aに開口した搬出入口34を上下動する扉102で開閉するものである。なお、側壁33aの搬出入口34の上方には、規制手段としての規制用壁35が設けられている。規制用壁35は、側壁33の外面から凸でかつ搬出入口34の幅方向の全長に亘って設けられている。規制用壁35には、搬出入口34を開閉する扉プレート101の上端が接触可能である。
The opening /
開閉機構100は、図4及び図5に示すように、扉プレート101と、上下動手段110とを備えている。扉プレート101は、搬出入口34を遮蔽可能な大きさの板状に形成されている。上下動手段110は、搬出入口34が形成された側壁33aに固定され、扉プレート101を上下動させるものである。上下動手段110は、上下動するスライダ111と、スライダ111に固定され、扉プレート101を支持する基台プレート112とを有している。スライダ111は、側壁33aに設けられた搬出入口34の一側に配置されたスライドシリンダ113により上下動される。スライダ111は、スライドシリンダ113のロッド114に沿って移動自在に設けられている。
As shown in FIGS. 4 and 5, the opening /
基台プレート112は、プレート本体115と、バネ部材116と、リンクアーム117とを備えている。プレート本体115は、長手方向の一端部がスライダ111に固定された板状に形成されている。プレート本体115の長手方向は、搬出入口34と平行である。また、本実施形態では、プレート本体115は、固定用プレート118を介してスライダ111に固定されている。なお、扉プレート101と基台プレート112とで前述した扉102を構成する。
The
バネ部材116は、プレート本体115に対して扉プレート101をスライド可能な状態で吊り下げて支持するものである。バネ部材116は、コイルばねで構成され、かつ一端がプレート本体115の開口部115aの端面115bに設けられかつ幅方向に延びた支持ピン119に回転自在に取り付けられている。また、バネ部材116は、他端が扉プレート101に取り付けられている。バネ部材116の長手方向は、プレート本体115から下方でかつ側壁33に向かって鉛直方向と水平方向との双方に交差する方向に延びている。
The
また、バネ部材116は、搬出入口34の幅方向に間隔をあけて複数設けられている。バネ部材116は、プレート本体115即ち基台プレート112の長手方向と扉プレート101の長手方向とが平行で、かつプレート本体115即ち基台プレート112の表面と扉プレート101の表面とが平行な状態で、基台プレート112に対して扉プレート101を吊り下げて支持する。また、バネ部材116は、伸縮することと一端が支持ピン119に対して回転することによって、プレート本体115即ち基台プレート112に対して、扉プレート101を側壁33に近付いたり離れる方向にスライド可能な状態で支持することとなる。さらに、バネ部材116は、そのバネ力によりプレート本体115即ち基台プレート112に扉プレート101が近づく方向に付勢し、扉プレート101に外力が作用しない状態では、本実施形態では、プレート本体115即ち基台プレート112に扉プレート101が接触して重なる状態に維持する。
A plurality of
リンクアーム117は、一端が扉プレート101に回動可能にピン接合され、回動すると扉プレート101を搬出入口34に押圧するものである。リンクアーム117は、棒状に形成され、一端が扉プレート101の梁101aや端面101bに設けられかつ幅方向に延びたピン120に回動可能にピン接合されている。リンクアーム117は、他端がプレート本体115に設けられた支持ピン119に回動可能にピン接合されている。リンクアーム117の長手方向は、扉プレート101に外力が作用しない状態では、バネ部材116のバネ力により、プレート本体115から上方でかつ側壁33に向かって鉛直方向と水平方向との双方に交差する方向に延びている。
One end of the
また、リンクアーム117は、搬出入口34の幅方向に間隔をあけて複数設けられている。リンクアーム117は、一端が扉プレート101に対して回動し、他端がプレート本体115に対して回動することで、プレート本体115即ち基台プレート112に対して、扉プレート101を側壁33aに近付いたり離れる方向にスライド可能な状態で支持することとなる。
A plurality of
また、扉プレート101と側壁33aとには、扉プレート101が搬出入口34を開放しているか、遮蔽しているかを検出可能なマグネット式のセンサ121a,121b(図6に示す)が取り付けられている。また、洗浄装置1の筐体30には、洗浄液などを排出するための図示しない排出口と、筐体30の内外の気圧差を検出する図示しない差圧計測手段が設けられている。
Also,
制御手段60は、洗浄装置1を構成する構成要素をそれぞれ制御するものである。制御手段60は、本実施形態では、特に、図示しない差圧計測手段により計測された筐体30内外の気圧差が0となるように、ファン手段40を制御するものである。また、制御手段60は、開閉機構100による搬出入口34の開閉動作等を制御するものでもある。制御手段60は、例えばCPU等で構成された演算処理装置やROM、RAM等を備える図示しないマイクロプロセッサを主体として構成されており、洗浄装置1の洗浄処理の状態を表示する表示手段や、オペレータが洗浄処理情報などを登録する際に用いる操作手段と接続されている。
The control means 60 controls each component constituting the cleaning device 1. In the present embodiment, the control means 60 controls the fan means 40 so that the pressure difference between the inside and outside of the
次に、実施形態に係る洗浄装置1を使用した洗浄方法、即ち、洗浄装置1を使用したウエーハWの洗浄処理を行うウエーハの処理方法を説明する。ウエーハの処理方法としての洗浄方法は、オペレータが洗浄処理情報を登録し、洗浄処理の開始指示があった場合に、開始する。 Next, a cleaning method using the cleaning apparatus 1 according to the embodiment, that is, a wafer processing method for performing a wafer W cleaning process using the cleaning apparatus 1 will be described. The cleaning method as the wafer processing method starts when the operator registers the cleaning processing information and gives an instruction to start the cleaning processing.
洗浄動作において、まず、制御手段60は、開閉機構100の扉プレート101が下降されて搬出入口34を開放する。そして、制御手段60は、図3に示すように、搬出入手段140に保持されたウエーハWを筐体30内に搬入し、テーブル駆動手段11により予め上昇していた保持手段10まで搬送する。制御手段60は、搬出入手段140にウエーハWを解放させ、保持手段10に載置した後、保持手段10にウエーハWを保持させる。
In the cleaning operation, first, the control means 60 lowers the
そして、制御手段60は、搬出入手段140を筐体30外に移動させ、図6(a)に示すように、扉プレート101を上昇させる。図6(a)に示す状態では、扉プレート101に外力が作用していないために、扉プレート101が基台プレート112に重なり、側壁33aから間隔をあけている。そして、開閉機構100は、搬出入口34を遮蔽する際は、搬出入口34から僅かに離間した扉プレート101が上下動手段110による上昇移動する。そして、図6(b)に示すように、扉プレート101が規制用壁35に突き当たる。そして、扉プレート101が規制用壁35に突き当たった後に、基台プレート112をさらに上昇移動させる。すると、リンクアーム117が基台プレート112から上方でかつ側壁33aに向かって延びているので、バネ部材116のバネ力に抗して更に基台プレート112を上昇移動させると、一端が基台プレート112に対して相対的に下降し、かつ他端が扉プレート101に対して相対的に上昇するように、リンクアーム117が回動する。そして、扉プレート101が基台プレート112から離間して搬出入口34に近付く。そして、搬出入口34を押圧する方向に案内された扉プレート101が搬出入口34に接触して、筐体30内を密閉する。そして、センサ121a,121bが扉プレート101が搬出入口34を遮蔽したことを検出すると、基台プレート112の上昇移動を停止する。
And the control means 60 moves the carrying in / out means 140 out of the housing | casing 30, and raises the
また、制御手段60は、ウエーハWを保持した保持手段10をテーブル駆動手段11により下降させて、テーブル駆動手段11により軸心回りに回転する。制御手段60は、ウエーハWを保持した保持手段10を下降させると、退避していた洗浄手段20の噴射ノズル21をウエーハWの表面WSと対向する位置まで移動させ、洗浄液を回転するウエーハWの表面WSに噴射させて、ウエーハWの表面WSを洗浄する。ウエーハWの洗浄が終了すると、制御手段60は、洗浄手段20の噴射ノズル21の退避後に、保持手段10をテーブル駆動手段11により上昇させ、洗浄後のウエーハWの保持手段10による保持を解放し、筐体30内に進入した搬出入手段140が再び保持し、筐体30の外部に搬出する。
Further, the control means 60 lowers the holding means 10 holding the wafer W by the table driving means 11 and rotates around the axis by the table driving means 11. When the holding means 10 holding the wafer W is lowered, the control means 60 moves the
以上のように、実施形態に係る開閉機構100及び洗浄装置1によれば、扉プレート101と基台プレート112のプレート本体115とをこれらに回動可能に取り付けられたリンクアーム117により連結している。このために、開閉機構100及び洗浄装置1によれば、扉プレート101を規制用壁35に突き当てた後も基台プレート112を上昇させることで、扉プレート101を側壁33aに押圧する方向に案内でき搬出入口34を密閉することができる。したがって、基台プレート112を上下動させるスライドシリンダ113を一つ設けることで、扉プレート101の上下動と側壁33aに近付いたり離れる方向の移動を行うことができ、簡便な構成で、扉プレート101の2方向への移動を可能にすることができる。よって、開閉機構100及び洗浄装置1によれば、低コストで発塵を抑制することができる。
As described above, according to the opening /
さらに、基台プレート112のプレート本体115に扉プレート101を近づける方向に付勢するバネ部材116を備えている。このために、開閉機構100及び洗浄装置1によれば、扉プレート101に外力が作用していない、即ち、扉プレート101が規制用壁35に突き当たっていない状態では、扉プレート101が基台プレート112に近付いて側壁33aから確実に離間する。よって、開閉機構100及び洗浄装置1によれば、扉プレート101が側壁33a上を摺動することを抑制でき、扉プレート101の発塵を抑制しながらも搬出入口34を開閉することができる。
Furthermore, a
また、リンクアーム117が基台プレート112のプレート本体115から上方でかつ側壁33aに向かって鉛直方向と水平方向との双方に交差する方向に延び、バネ部材116が、基台プレート112のプレート本体115から上方でかつ側壁33aに向かって鉛直方向と水平方向との双方に交差する方向に延び、バネ部材116の一端がリンクアーム117の他端が取り付けられた支持ピン119に取り付けられている。このために、開閉機構100及び洗浄装置1によれば、扉プレート101に外力が作用していない、即ち、扉プレート101が規制用壁35に突き当たっていない状態では、扉プレート101を基台プレート112に近付けて側壁33aから確実に離間させることができる。さらに、開閉機構100及び洗浄装置1によれば、扉プレート101が規制用壁35に突き当たって、基台プレート112をさらに上昇させると、扉プレート101を側壁33aに押圧する方向に確実に案内することができる。
The
前述した実施形態では、化学機械研磨加工が施されたウエーハWを洗浄しているが、本発明では、これに限定することなく、ウエーハWの表面WSに保護膜を塗布した後に保護膜を除去する保護膜形成兼洗浄装置などの種々の洗浄装置に適用してもよい。また、上記実施形態では、洗浄装置1が単独に使用される場合について説明したが、本発明に係る洗浄装置1は、切削装置、研削装置、化学機械研磨装置などにユニットとして組み込まれていてもよい。 In the embodiment described above, the wafer W that has been subjected to chemical mechanical polishing is cleaned. However, the present invention is not limited to this, and the protective film is removed after the protective film is applied to the surface WS of the wafer W. The present invention may be applied to various cleaning apparatuses such as a protective film forming and cleaning apparatus. In the above embodiment, the case where the cleaning device 1 is used alone has been described. However, the cleaning device 1 according to the present invention may be incorporated as a unit in a cutting device, a grinding device, a chemical mechanical polishing device, or the like. Good.
なお、本発明は上記実施形態、変形例に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。 In addition, this invention is not limited to the said embodiment and modification. That is, various modifications can be made without departing from the scope of the present invention.
1 洗浄装置
10 保持手段
20 洗浄手段
30 筐体
31 上壁
32 底壁
33,33a 側壁
34 搬出入口
35 規制用壁(規制手段)
100 搬出入口の開閉機構
101 扉プレート
102 扉
110 上下動手段
111 スライダ
112 基台プレート
116 バネ部材
117 リンクアーム
W ウエーハ(板状物)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1
DESCRIPTION OF
Claims (2)
該搬出入口を遮蔽可能な扉プレートと、
該側壁に固定され、該扉プレートを上下動させる上下動手段と、を備え、
該上下動手段は、
上下動するスライダと、
該スライダに固定され、該扉プレートを支持する基台プレートと、を有し、
該基台プレートは、
該扉プレートをスライド可能な状態で吊り下げて支持するバネ部材と、
一端が該扉プレートに回動可能にピン接合され、回動すると該扉プレートを該搬出入口に押圧するリンクアームと、を備え、
該搬出入口を遮蔽する際は、
該搬出入口から僅かに離間した該扉プレートが該上下動手段による移動で規制手段に突き当たった後に、該バネ部材のバネ力に抗して更に該基台プレートを移動させると、該リンクアームが回動して該基台プレートから離間して該搬出入口を押圧する方向に案内された該扉プレートが該搬出入口に接触して密閉することを特徴とする搬出入口の開閉機構。 An opening / closing mechanism for a loading / unloading port that opens and closes with a door that moves up and down a loading / unloading port that opens in a side wall of the housing,
A door plate capable of shielding the loading / unloading port;
A vertical movement means fixed to the side wall and moving the door plate up and down;
The vertical movement means is
A slider that moves up and down;
A base plate fixed to the slider and supporting the door plate,
The base plate is
A spring member that suspends and supports the door plate in a slidable state;
One end is pivotally connected to the door plate, and a link arm that presses the door plate against the loading / unloading port when rotated,
When shielding the entrance / exit,
After the door plate slightly spaced from the carry-in / out entrance hits the regulating means by the movement by the vertical movement means, the link arm is moved when the base plate is further moved against the spring force of the spring member. An opening / closing mechanism for a loading / unloading port, wherein the door plate guided in a direction to rotate and separate from the base plate and press the loading / unloading port contacts and seals the loading / unloading port.
該筐体の側壁には板状物が通過可能な搬出入口が形成され、該搬出入口は請求項1記載の開閉機構で開閉されることを特徴とする洗浄装置。 A holding means for holding a plate-like object, a cleaning means for cleaning the plate-like object held by the holding means, and a housing having an upper wall, a bottom wall, and a side wall and containing the holding means and the cleaning means A cleaning device comprising:
2. A cleaning apparatus according to claim 1, wherein a carry-in / out port through which a plate-like object can pass is formed on a side wall of the housing, and the carry-in / out port is opened and closed by the opening / closing mechanism according to claim 1.
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JPS6440765A (en) * | 1987-08-06 | 1989-02-13 | Tokyo Electron Ltd | Gate valve mechanism |
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