JP2015204379A - Printed wiring board - Google Patents

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徹 古田
Toru Furuta
徹 古田
剛士 古澤
Takeshi Furusawa
剛士 古澤
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a rigid printed wiring board in which warpage of a resin insulating layer due to temperature rise is suppressed as much as possible when mounting an electronic component, while achieving the thinning of the printed wiring board.SOLUTION: On a first surface 11a of a resin insulating layer 11 having the first surface 11a and a second surface 11b on the opposite side of the first surface 11a, a first conductor layer 12 is embedded while exposing the one surface. On the second surface 11b of the resin insulating layer 11, a second conductor layer 14 is formed. A via conductor 15 connecting the first conductor layer 12 and the second conductor layer 14 is provided to penetrate the resin insulating layer 11. The resin insulating layer 11 is divided into a first resin insulating layer 111 and a second resin insulating layer 112, and a metal layer 113 is provided between the first resin insulating layer 111 and the second resin insulating layer 112. An opening 113a, through which the via conductor 15 penetrates, is formed in the metal layer 113.

Description

本発明は、電子部品が搭載されるプリント配線板およびその製造方法に関する。さらに詳しくは、近年の電子機器の軽薄短小化に伴いプリント配線板が薄型化されても、プリント配線板の反りが抑制され得るプリント配線板およびその製造方法に関する。   The present invention relates to a printed wiring board on which electronic components are mounted and a method for manufacturing the same. More specifically, the present invention relates to a printed wiring board capable of suppressing warpage of the printed wiring board even when the printed wiring board is thinned in accordance with recent reductions in the size of electronic devices, and a method for manufacturing the printed wiring board.

近年電子機器の軽薄短小化に伴いプリント配線板も薄型化が要求されてきている。そのため、プリント配線板の樹脂絶縁層にコアレス基板が用いられると共に、例えば特許文献1に示されるように、配線パターンが形成される導体層が樹脂絶縁層内に埋め込まれ、その一面だけが樹脂絶縁層から露出される構造のものが知られている。   In recent years, printed circuit boards have been required to be thinner as electronic devices become lighter, thinner and shorter. Therefore, a coreless substrate is used for the resin insulation layer of the printed wiring board, and as shown in Patent Document 1, for example, a conductor layer on which a wiring pattern is formed is embedded in the resin insulation layer, and only one surface thereof is resin insulated. Structures that are exposed from the layer are known.

このような導体層が樹脂絶縁層内に埋め込まれる構造は、たとえば図4に示されるように、図示しない電子部品と接続される配線パターンの配線120aが樹脂絶縁層110内に埋め込まれ、その一面だけが露出する構造になっている。なお、図4において、140は樹脂絶縁層110の反対面の導体層、150はビア導体層、160はソルダーレジスト層である。   Such a structure in which the conductor layer is embedded in the resin insulating layer is, for example, as shown in FIG. 4, in which a wiring 120a having a wiring pattern connected to an electronic component (not shown) is embedded in the resin insulating layer 110. Only the structure is exposed. In FIG. 4, reference numeral 140 denotes a conductor layer opposite to the resin insulating layer 110, 150 denotes a via conductor layer, and 160 denotes a solder resist layer.

特開平10−173316号公報Japanese Patent Laid-Open No. 10-173316

前述のように、電子部品が搭載されるプリント配線板では、図4に示されるように、図示しない電子部品の搭載のために、ソルダーレジスト層160が形成されない領域が広く、反対面はほぼ全面にソルダーレジスト層160が設けられていることにより、ソルダーレジスト層160の量が不均一になる。さらに、配線120は、前述のように、薄型化および極細化する配線の密着性の観点から、樹脂絶縁層110内部に埋め込まれている。ソルダーレジスト層は導体層の表面から一定の厚さ以上であることが耐圧性の観点から必要とされるため、配線120aが埋め込まれた側では、反対側の配線が樹脂絶縁層110の表面に突出して設けられた側よりもソルダーレジスト層160は薄くなる。そのため、この点からもソルダーレジスト層160の量は、配線120が形成された側で少なくなる。そのため、前述の電子部品が搭載される場所のソルダーレジスト160の開口によるソルダーレジスト層160の面積による減少に加えて、厚さの観点から、ソルダーレジスト層160の量は、電子部品が搭載される側で少なくなる。その結果、温度の上昇により、薄くなった樹脂絶縁層110の反りが生じやすくなるという問題がある。   As described above, in the printed wiring board on which the electronic component is mounted, as shown in FIG. 4, the area where the solder resist layer 160 is not formed is wide for mounting the electronic component (not shown), and the opposite surface is almost the entire surface. Since the solder resist layer 160 is provided on the surface, the amount of the solder resist layer 160 becomes non-uniform. Further, as described above, the wiring 120 is embedded in the resin insulating layer 110 from the viewpoint of the adhesion of the wiring to be thinned and extremely thinned. Since the solder resist layer is required to have a certain thickness or more from the surface of the conductor layer from the viewpoint of pressure resistance, on the side where the wiring 120a is embedded, the wiring on the opposite side is on the surface of the resin insulating layer 110. The solder resist layer 160 is thinner than the protruding side. Therefore, also from this point, the amount of the solder resist layer 160 decreases on the side where the wiring 120 is formed. Therefore, in addition to the decrease due to the area of the solder resist layer 160 due to the opening of the solder resist 160 where the electronic component is mounted, from the viewpoint of thickness, the amount of the solder resist layer 160 is the amount of the electronic component mounted. Less on the side. As a result, there is a problem that the thinned resin insulating layer 110 is likely to warp due to a rise in temperature.

本発明の目的は、プリント配線板の薄型化を達成しながら、電子部品を実装する際の温度上昇による樹脂絶縁層の反りが極力抑制され、剛性のあるプリント配線板およびその製造方法を提供することである。   An object of the present invention is to provide a rigid printed wiring board in which warpage of a resin insulating layer due to a temperature rise when mounting an electronic component is suppressed as much as possible while achieving a thinner printed wiring board and a method for manufacturing the same. That is.

本発明のプリント配線板は、第1面および該第1面の反対面である第2面を有する樹脂絶縁層と、前記樹脂絶縁層の前記第1面側に埋め込まれ、最上面が露出する第1導体層と、前記樹脂絶縁層の前記第2面に形成される第2導体層と、前記樹脂絶縁層を貫通して設けられ、前記第1導体層と前記第2導体層とを接続するビア導体と、前記樹脂絶縁層内に設けられた金属層と、を備えたプリント配線板であって、前記金属層には、前記ビア導体が貫通する開口部が形成されている。   The printed wiring board of the present invention is embedded in a resin insulating layer having a first surface and a second surface opposite to the first surface, and the first surface side of the resin insulating layer, and an uppermost surface is exposed. A first conductor layer, a second conductor layer formed on the second surface of the resin insulating layer, and provided through the resin insulating layer to connect the first conductor layer and the second conductor layer The printed wiring board includes a via conductor to be formed and a metal layer provided in the resin insulating layer, and an opening through which the via conductor penetrates is formed in the metal layer.

本発明のプリント配線板の製造方法は、キャリアの一面に第1金属箔を有するキャリア金属箔付きキャリアを準備することと、前記第1金属箔上に所定のパターンを有する第1導体層を形成することと、前記第1金属箔の前記第1導体層が形成されていない露出面および前記第1導体層上に、第1樹脂絶縁層、金属層、第2樹脂絶縁層、および第2金属箔を、前記金属層のビア導体が形成される部分に開口部を有するように積層することと、前記第2金属箔、前記第2樹脂絶縁層、前記金属層の開口部および前記第1樹脂絶縁層を貫通し、前記第1導体層が露出するように導通用孔を形成することと、前記導通用孔内、および前記第2金属箔上に、シード層を形成することと、前記シード層上に、めっきレジスト膜のパターンを形成することと、前記導通用孔内および前記めっきレジスト膜のパターンの非形成部に、電気めっきによる導体ビアおよび電気めっき膜を形成することと、前記めっきレジスト膜を除去することと、前記めっきレジスト膜が除去されることにより露出する前記シード層および前記第2金属箔を除去することにより、所定のパターンを有する第2導体層を形成することと、前記第2導体層上にソルダーレジストを塗布することと、前記キャリアおよび前記第1金属箔を除去することにより、前記第1導体層を露出させることと、を有している。   The method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention includes preparing a carrier with a carrier metal foil having a first metal foil on one surface of the carrier, and forming a first conductor layer having a predetermined pattern on the first metal foil. And a first resin insulation layer, a metal layer, a second resin insulation layer, and a second metal on the exposed surface of the first metal foil where the first conductor layer is not formed and on the first conductor layer. Laminating the foil so as to have an opening in a portion where the via conductor of the metal layer is formed, the second metal foil, the second resin insulating layer, the opening of the metal layer, and the first resin; Forming a conduction hole so as to penetrate the insulating layer and exposing the first conductor layer; forming a seed layer in the conduction hole and on the second metal foil; and Form a pattern of plating resist film on the layer Forming conductive vias and electroplated films by electroplating in the conductive holes and in the non-formed portions of the plated resist film pattern, removing the plated resist film, and removing the plated resist film Forming the second conductor layer having a predetermined pattern by removing the seed layer and the second metal foil which are exposed by being applied; and applying a solder resist on the second conductor layer; And exposing the first conductor layer by removing the carrier and the first metal foil.

本発明では、プリント配線板の樹脂絶縁層内に金属層が設けられているため、非常に剛性に優れ、温度上昇によるプリント配線板の反りを抑制することができる。一方、金属層の厚さは、3〜50μm程度と非常に薄く、プリント配線板の厚さとしては、殆ど増加の要因にはならない。その結果、薄型化を達成しながら、熱膨張などによっても、反りの生じにくいプリント配線板が得られる。   In this invention, since the metal layer is provided in the resin insulation layer of a printed wiring board, it is excellent in rigidity and can suppress the curvature of the printed wiring board by a temperature rise. On the other hand, the thickness of the metal layer is very thin, about 3 to 50 μm, and the thickness of the printed wiring board hardly causes an increase. As a result, it is possible to obtain a printed wiring board that is less likely to warp due to thermal expansion or the like while achieving a reduction in thickness.

本発明の一実施形態のプリント配線板の断面説明図。Cross-sectional explanatory drawing of the printed wiring board of one Embodiment of this invention. 図1に示されるプリント配線板の製造方法の各工程の断面説明図。Sectional explanatory drawing of each process of the manufacturing method of the printed wiring board shown by FIG. 図1に示されるプリント配線板の製造方法の各工程の断面説明図。Sectional explanatory drawing of each process of the manufacturing method of the printed wiring board shown by FIG. 図1に示されるプリント配線板の製造方法の各工程の断面説明図。Sectional explanatory drawing of each process of the manufacturing method of the printed wiring board shown by FIG. 図1に示されるプリント配線板の製造方法の各工程の断面説明図。Sectional explanatory drawing of each process of the manufacturing method of the printed wiring board shown by FIG. 図1に示されるプリント配線板の製造方法の各工程の断面説明図。Sectional explanatory drawing of each process of the manufacturing method of the printed wiring board shown by FIG. 図1に示されるプリント配線板の製造方法の各工程の断面説明図。Sectional explanatory drawing of each process of the manufacturing method of the printed wiring board shown by FIG. 図1に示されるプリント配線板の製造方法の各工程の断面説明図。Sectional explanatory drawing of each process of the manufacturing method of the printed wiring board shown by FIG. 図1に示されるプリント配線板の製造方法の各工程の断面説明図。Sectional explanatory drawing of each process of the manufacturing method of the printed wiring board shown by FIG. 図1に示されるプリント配線板の製造方法の各工程の断面説明図。Sectional explanatory drawing of each process of the manufacturing method of the printed wiring board shown by FIG. 図1に示されるプリント配線板の製造方法の各工程の断面説明図。Sectional explanatory drawing of each process of the manufacturing method of the printed wiring board shown by FIG. 図1に示されるプリント配線板の製造方法の各工程の断面説明図。Sectional explanatory drawing of each process of the manufacturing method of the printed wiring board shown by FIG. 図1に示されるプリント配線板の製造方法の各工程の断面説明図。Sectional explanatory drawing of each process of the manufacturing method of the printed wiring board shown by FIG. 本発明の他の実施形態のプリント配線板の製造方法の各工程の断面説明図。Cross-sectional explanatory drawing of each process of the manufacturing method of the printed wiring board of other embodiment of this invention. 本発明の他の実施形態のプリント配線板の製造方法の各工程の断面説明図。Cross-sectional explanatory drawing of each process of the manufacturing method of the printed wiring board of other embodiment of this invention. 従来の導体層が埋め込まれたプリント配線板の断面説明図。Sectional explanatory drawing of the printed wiring board with which the conventional conductor layer was embedded.

本発明の一実施形態のプリント配線板が、図面を参照して説明される。図1に示されるように、本実施形態のプリント配線板1は、第1面11aおよび第1面11aの反対面である第2面11bを有する樹脂絶縁層11の第1面11a側に、表面が露出する第1導体層12が埋め込まれている。そして、樹脂絶縁層11の第2面11bには、第2導体層14が形成されている。この樹脂絶縁層11を貫通して、第1導体層12と第2導体層14とを接続するビア導体15が設けられている。そして、この樹脂絶縁層11内に金属層113が設けられている。この金属層113には、ビア導体15が貫通する開口部113aが形成されている。具体的には、樹脂絶縁層11が第1樹脂絶縁層111と第2樹脂絶縁層112とに分割され、第1樹脂絶縁層111と第2樹脂絶縁層112との間に金属層113が設けられている。   A printed wiring board according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. As shown in FIG. 1, the printed wiring board 1 of the present embodiment has a first surface 11a side of a resin insulating layer 11 having a first surface 11a and a second surface 11b opposite to the first surface 11a. A first conductor layer 12 whose surface is exposed is embedded. A second conductor layer 14 is formed on the second surface 11 b of the resin insulating layer 11. A via conductor 15 is provided through the resin insulating layer 11 to connect the first conductor layer 12 and the second conductor layer 14. A metal layer 113 is provided in the resin insulating layer 11. In the metal layer 113, an opening 113a through which the via conductor 15 passes is formed. Specifically, the resin insulation layer 11 is divided into a first resin insulation layer 111 and a second resin insulation layer 112, and a metal layer 113 is provided between the first resin insulation layer 111 and the second resin insulation layer 112. It has been.

樹脂絶縁層11は、第1樹脂絶縁層111と第2樹脂絶縁層112とに分割され、その間に金属層113が挟まれた構造に形成されている。第1樹脂絶縁層111および第2樹脂絶縁層112は、それぞれ従来の樹脂絶縁層に用いられているのと同様に、例えばガラス繊維のような図示しない芯材にフィラーを含む樹脂組成物が含浸されたものでも良く、フィラーを含む樹脂組成物だけで形成されたものでも良い。しかし、この第1樹脂絶縁層111および第2樹脂絶縁層112の厚さは、それぞれ従来の厚さの半分程度である15〜50μm程度のフィルム状のものが用いられる。なお、第1樹脂絶縁層111および第2樹脂絶縁層112のそれぞれは、1層であっても良く、複数の絶縁層から形成されていても良い。第1樹脂絶縁層111および第2樹脂絶縁層112のそれぞれが複数の絶縁層から形成されるならば、例えば熱膨張率、柔軟性、厚さが容易に調整され得る。この材料調整は、第1樹脂絶縁層111と第2樹脂絶縁層112との間で行うこともできる。   The resin insulating layer 11 is divided into a first resin insulating layer 111 and a second resin insulating layer 112, and a metal layer 113 is sandwiched therebetween. The first resin insulation layer 111 and the second resin insulation layer 112 are impregnated with a resin composition containing a filler in a core material (not shown) such as glass fiber, as used in the conventional resin insulation layer. It may be formed only with a resin composition containing a filler. However, the first resin insulating layer 111 and the second resin insulating layer 112 each have a film shape of about 15 to 50 μm, which is about half the conventional thickness. Each of the first resin insulating layer 111 and the second resin insulating layer 112 may be a single layer or may be formed of a plurality of insulating layers. If each of the first resin insulating layer 111 and the second resin insulating layer 112 is formed of a plurality of insulating layers, for example, the coefficient of thermal expansion, flexibility, and thickness can be easily adjusted. This material adjustment can also be performed between the first resin insulating layer 111 and the second resin insulating layer 112.

樹脂絶縁材料としては、エポキシ等が例示される。樹脂に混ぜ合されるフィラーとしては、シリカ(SiO2)、アルミナ(Al23)、酸化チタン(Ti23)等が例示される。第1樹脂絶縁層111と第2樹脂絶縁層112と金属層113とを合せた厚さとしては、従来の1層の樹脂絶縁層の厚さと同程度であり、25〜100μmが例示される。樹脂絶縁層11としての第1面11aは、図1に示される例では、第1樹脂絶縁層111の露出面(接合される面と反対面)を意味し、後述するように、第1導体層12の各配線12aの一面(最上面)が露出している。樹脂絶縁層11の第2面は、図1に示される例では、第2樹脂絶縁層111の露出面(接合される面と反対面)を意味し、第2面11bには、後述される第2導体層14が第2面11bの露出面上に形成されている。 Examples of the resin insulating material include epoxy. Examples of the filler mixed with the resin include silica (SiO 2 ), alumina (Al 2 O 3 ), titanium oxide (Ti 2 O 3 ), and the like. The total thickness of the first resin insulating layer 111, the second resin insulating layer 112, and the metal layer 113 is approximately the same as the thickness of one conventional resin insulating layer, and is exemplified by 25 to 100 μm. In the example shown in FIG. 1, the first surface 11a as the resin insulating layer 11 means the exposed surface (the surface opposite to the surface to be bonded) of the first resin insulating layer 111, and as described later, the first conductor One surface (upper surface) of each wiring 12a of the layer 12 is exposed. In the example shown in FIG. 1, the second surface of the resin insulating layer 11 means an exposed surface (a surface opposite to the surface to be bonded) of the second resin insulating layer 111, and will be described later on the second surface 11b. The second conductor layer 14 is formed on the exposed surface of the second surface 11b.

金属層113としては、例えば3〜5μm程度の銅箔が用いられる。材料としては、銅箔に限定されるものではなく、ニッケル、チタン等の箔が用いられても良い。金属層113の厚さも前述の厚さに限定されるものではない。すなわち、3〜50μm程度のものが使用される。あまりにも薄いと剛性を得ることができず曲げに対する耐性が得られない。逆にあまりにも厚くなると剛性は得られるが、電子部品の薄型化を満たすことができなくなると共に、コストアップにつながる。従って、特に好ましい厚さは、5〜30μm程度である。   As the metal layer 113, for example, a copper foil of about 3 to 5 μm is used. The material is not limited to copper foil, and foil such as nickel and titanium may be used. The thickness of the metal layer 113 is not limited to the aforementioned thickness. That is, about 3-50 micrometers is used. If it is too thin, rigidity cannot be obtained and resistance to bending cannot be obtained. On the other hand, if the thickness is too large, rigidity can be obtained, but it becomes impossible to reduce the thickness of the electronic component and increase the cost. Therefore, a particularly preferable thickness is about 5 to 30 μm.

金属層113には、ビア導体15が形成される場所に、予め開口部113aが形成されている。第1樹脂絶縁層111と金属層113とを積層した後に、エッチングにより開口部が形成され、さらに第2樹脂絶縁層112と第2金属箔14aが積層されても良い。これは、後述する第1導体層12と第2導体層14とを接続するビア導体15と金属層113とが電気的に接触しないようにするためである。従って、開口部113aはビア導体15と接触しないように、ビア導体15よりも大きめの孔で形成される。このように、原則的には、ビア導体15が形成される場所には全て、ビア導体15の径よりも大きい開口部113aが形成される。   In the metal layer 113, an opening 113a is formed in advance at a place where the via conductor 15 is formed. After laminating the first resin insulation layer 111 and the metal layer 113, an opening may be formed by etching, and the second resin insulation layer 112 and the second metal foil 14a may be laminated. This is to prevent the via conductor 15 and the metal layer 113 that connect the first conductor layer 12 and the second conductor layer 14 described later from being in electrical contact. Therefore, the opening 113 a is formed with a larger hole than the via conductor 15 so as not to contact the via conductor 15. As described above, in principle, the opening 113a larger than the diameter of the via conductor 15 is formed in all the places where the via conductor 15 is formed.

しかし、ビア導体15は、必ずしも信号端子や電源印加端子に接続されるもののみではなく、グランド(GND)端子に接続される場合もある。このようなグランド端子に接続されるビア導体であれば、金属層113とビア導体15とを電気的に接続して金属層113がグランド電位にされても良い。樹脂絶縁層11内にグランド電位の金属層113が挿入されることにより、ノイズの遮断をすることができるという効果が生じる。このような場合でも、ビア導体15が形成される場所には、予め開口部113aが形成される。ビア導体15は第1の導体層12と第2の導体層14とを接続するために形成されており、ビア導体15を形成するための導通用孔11dが第1樹脂絶縁層111、金属層113の開口部113a、第2樹脂絶縁層112を貫通して形成される必要がある。この導通用孔11dは、後述するように、レーザ光による加工で行われるが、金属層113と樹脂層とでは加工に難易差があり、レーザ光照射側の樹脂の孔と反対側の樹脂の孔とで大きさが異なりすぎるからである。従って、金属層113が導通用孔11dに露出するような形の孔が予め形成されることが好ましい。   However, the via conductor 15 is not necessarily connected to a signal terminal or a power supply terminal, but may be connected to a ground (GND) terminal. If the via conductor is connected to such a ground terminal, the metal layer 113 and the via conductor 15 may be electrically connected to bring the metal layer 113 to the ground potential. By inserting the metal layer 113 having the ground potential into the resin insulating layer 11, there is an effect that noise can be blocked. Even in such a case, the opening 113a is formed in advance at the place where the via conductor 15 is formed. The via conductor 15 is formed to connect the first conductor layer 12 and the second conductor layer 14, and the conduction hole 11 d for forming the via conductor 15 includes the first resin insulating layer 111, the metal layer. It is necessary to be formed through the opening 113a of the 113 and the second resin insulating layer 112. As will be described later, this conduction hole 11d is processed by laser light. However, there is a difference in processing between the metal layer 113 and the resin layer, and the resin hole on the side opposite to the resin hole on the laser light irradiation side is different. This is because the size of the hole is too different. Therefore, it is preferable that a hole having a shape such that the metal layer 113 is exposed to the conduction hole 11d is formed in advance.

後述するように、この金属層113の開口部113aは、第1および第2の樹脂絶縁層111、112と重ね合せる前に金属箔の状態で打抜きなどにより形成しておき、第1の導体層12が形成されたキャリア18と、第1樹脂絶縁層111と、金属層113と、第2樹脂絶縁層112と、第2金属箔14aとが重ね合されて真空プレスにより熱圧着されても良い。また、第1の導体層12が形成されたキャリア18と、第1樹脂絶縁層111と開口部の形成されていない金属層113とを重ねて真空プレスにより熱圧着されてから、パターニングにより金属層113に開口部113aが形成され、その後にさらに、第2樹脂絶縁層112と第2金属箔14aとが重ね合されて真空プレスにより熱圧着されても良い。このように熱圧着により形成された第1樹脂絶縁層111と、金属層113と、第2樹脂絶縁層112との集合体が、以下では、樹脂絶縁層11として記述される。   As will be described later, the opening 113a of the metal layer 113 is formed by punching or the like in the form of a metal foil before being overlapped with the first and second resin insulation layers 111 and 112, and the first conductor layer. 12, the first resin insulating layer 111, the metal layer 113, the second resin insulating layer 112, and the second metal foil 14 a may be superposed and thermocompression bonded by a vacuum press. . In addition, the carrier 18 on which the first conductor layer 12 is formed, the first resin insulating layer 111 and the metal layer 113 having no opening are overlapped and thermocompression bonded by a vacuum press, and then the metal layer is patterned. An opening 113a may be formed in 113, and then the second resin insulating layer 112 and the second metal foil 14a may be further overlapped and thermocompression bonded by a vacuum press. An assembly of the first resin insulation layer 111, the metal layer 113, and the second resin insulation layer 112 formed by thermocompression bonding in this manner is described as the resin insulation layer 11 below.

第1導体層12は、樹脂絶縁層11の第1面11a(第1樹脂絶縁層111の露出面)に埋め込まれるパターンである。埋め込まれている第1導体層12は、樹脂絶縁層11の第1面11aと略面一で電子部品が接続される配線12aおよびそれ以外の配線12bの一面(最上面)だけが露出している。そのため、特に高密度化、ファインピッチ化に伴い配線12aの幅が狭く、また、樹脂絶縁層11の薄型化に伴って芯材入りの樹脂が用いられることによる密着性の低下の恐れがある場合でも、このように、第1導体層12が樹脂絶縁層11内に埋め込まれることにより、第1導体層12と樹脂絶縁層11との密着性の向上に寄与する。一方で、後述されるように、第1面11aと第2面11bとで不均一な第1ソルダーレジスト層16と第2ソルダーレジスト層17とが形成されると、樹脂絶縁層11の反りが生じやすくなり、図示しない電子部品等を搭載する際に接続不良等が生じやすいという問題がある。しかし、図1に示されるように、薄い樹脂絶縁層11の中に金属層113が埋め込まれることにより、樹脂絶縁層11の剛性が向上し、そのような反りが抑制される。   The first conductor layer 12 is a pattern embedded in the first surface 11a of the resin insulating layer 11 (exposed surface of the first resin insulating layer 111). The embedded first conductor layer 12 is exposed only on one surface (uppermost surface) of the wiring 12a and the other wiring 12b other than the wiring 12a to which the electronic component is connected substantially flush with the first surface 11a of the resin insulating layer 11. Yes. For this reason, the width of the wiring 12a is particularly narrow due to high density and fine pitch, and there is a risk of lowering the adhesion due to the use of the resin containing the core material as the resin insulating layer 11 becomes thinner. However, since the first conductor layer 12 is embedded in the resin insulating layer 11 in this way, it contributes to the improvement in the adhesion between the first conductor layer 12 and the resin insulating layer 11. On the other hand, as will be described later, when the first solder resist layer 16 and the second solder resist layer 17 that are not uniform are formed on the first surface 11a and the second surface 11b, the warp of the resin insulating layer 11 is caused. This is likely to occur, and there is a problem that a connection failure or the like is likely to occur when an electronic component (not shown) is mounted. However, as shown in FIG. 1, by embedding the metal layer 113 in the thin resin insulating layer 11, the rigidity of the resin insulating layer 11 is improved and such warpage is suppressed.

第1導体層12は、好ましくは、電気めっきにより形成される電気めっき膜であっても良い。第1導体層12が電気めっき膜であるならば、純粋な金属膜として形成されるという利点がある。第1導体層12を構成する材料は、銅が例示される。銅は、電気めっきが容易でありながら、抵抗が小さく腐食の問題も生じにくい。この第1導体層12の厚さは、3〜20μmが例示される。なお、第1導体層12には、電子部品が搭載される配線12aと、電子部品が搭載される以外の配線12bとがあり、第1ソルダーレジスト層16の開口部16aから露出する、電子部品が搭載される配線12aの露出面には、図示しない電子部品の電極パッドがハンダ付けされるため、OSP、Ni/Au、Ni/Pd/Au、Sn等の表面処理が行われる。   The first conductor layer 12 may preferably be an electroplated film formed by electroplating. If the first conductor layer 12 is an electroplated film, there is an advantage that it is formed as a pure metal film. The material constituting the first conductor layer 12 is exemplified by copper. Copper is easy to electroplat, but has low resistance and is less likely to cause corrosion. As for the thickness of this 1st conductor layer 12, 3-20 micrometers is illustrated. The first conductor layer 12 includes a wiring 12a on which an electronic component is mounted and a wiring 12b other than that on which the electronic component is mounted. The electronic component is exposed from the opening 16a of the first solder resist layer 16. Since an electrode pad of an electronic component (not shown) is soldered to the exposed surface of the wiring 12a on which is mounted, surface treatment such as OSP, Ni / Au, Ni / Pd / Au, Sn is performed.

第2導体層14は、樹脂絶縁層11の第2面11b上に形成されている。第2導体層14を形成する方法は、特に限定されないが、例えば電気めっき法により形成される。第2導体層14を構成する材料は、銅が例示される。第2導体層14の厚さは、3〜20μmが例示される。第2導体層14は、図1では1層の例で示されているが、製造方法で後述されるように、例えば金属箔とめっき膜により形成されても良い。   The second conductor layer 14 is formed on the second surface 11 b of the resin insulating layer 11. Although the method of forming the 2nd conductor layer 14 is not specifically limited, For example, it forms by the electroplating method. The material constituting the second conductor layer 14 is exemplified by copper. As for the thickness of the 2nd conductor layer 14, 3-20 micrometers is illustrated. The second conductor layer 14 is shown as an example of one layer in FIG. 1, but may be formed of, for example, a metal foil and a plating film, as will be described later in the manufacturing method.

ビア導体15は、金属層113を含む樹脂絶縁層11を貫通し、第1導体層12の一部と第2導体層14の一部とを電気的に接続している。ビア導体15は、第2導体層14と樹脂絶縁層11とを貫通する導通用孔11dに導体を埋めることにより形成されている。ビア導体15の材料としては、銅が例示され、例えば電気めっきにより形成される。また、このビア導体15の断面形状は特に限定されないが、図1に示されるように、その断面の幅が第2導体層14側よりも電子部品が搭載される第1導体層12側が小さく形成されていても良い。ビア導体15が埋め込まれる導通用孔11dの奥まで完全に埋め込まれる必要があるので、導通用孔11dの奥側が小さい方が好ましいからである。このビア導体15が形成される導通用孔11dは、第2導体層14側からレーザ光により加工して形成されることにより、このような形状に形成され得る。   The via conductor 15 penetrates through the resin insulating layer 11 including the metal layer 113 and electrically connects a part of the first conductor layer 12 and a part of the second conductor layer 14. The via conductor 15 is formed by filling a conductor in a conduction hole 11 d penetrating the second conductor layer 14 and the resin insulating layer 11. An example of the material of the via conductor 15 is copper, which is formed by electroplating, for example. Further, the cross-sectional shape of the via conductor 15 is not particularly limited. However, as shown in FIG. 1, the cross-sectional width of the via conductor 15 is smaller on the first conductor layer 12 side on which electronic components are mounted than on the second conductor layer 14 side. May be. This is because it is necessary to completely bury the via hole 15d in which the via conductor 15 is buried, and therefore it is preferable that the back side of the conduction hole 11d is small. The conduction hole 11d in which the via conductor 15 is formed can be formed in such a shape by being processed by laser light from the second conductor layer 14 side.

前述のように、このビア導体15が形成される導通用孔11dに金属層113が露出しないように、予め金属層113にはビア導体15の断面の径よりも大きい開口部113aが形成されており、ビア導体15の形成場所と金属層113の開口部113aとが位置合せされている。そのため、このビア導体15と金属層113とは接触することなく、電気的に中立になっている。   As described above, an opening 113a larger than the diameter of the cross section of the via conductor 15 is previously formed in the metal layer 113 so that the metal layer 113 is not exposed in the conduction hole 11d in which the via conductor 15 is formed. In addition, the location where the via conductor 15 is formed and the opening 113a of the metal layer 113 are aligned. Therefore, the via conductor 15 and the metal layer 113 are electrically neutral without being in contact with each other.

しかし、前述のように、ビア導体15がグランド端子に接続される場合には、ビア導体15と金属層113とが電気的に接続されても良い。その場合には、金属層113に形成される開口部113aが、この導通用孔11dに露出するように形成される。この露出の程度は、導通用孔11dの表面に露出するだけでも良いし、導通用孔11d内に突出するように形成されていても良い。導通用孔11d内に少々突出するような、金属層113の小さ目の開口部113aであっても、導通用孔11dはレーザ光により形成されるため、金属層113をも溶融されることから何ら支障はない。その結果、導通用孔11d内にビア導体15が電気めっきなどにより形成されることにより、ビア導体15と金属層113とが電気的に接触して導通状態になる。このようなグランド端子と接続される金属層が樹脂絶縁層11内に、すなわち配線パターンが形成される第1導体層12の下側に形成されていることにより、配線パターンに接続される回路が高周波回路であっても、ノイズなどの影響を受けにくくなる。   However, as described above, when the via conductor 15 is connected to the ground terminal, the via conductor 15 and the metal layer 113 may be electrically connected. In that case, the opening 113a formed in the metal layer 113 is formed so as to be exposed to the conduction hole 11d. The degree of exposure may be only exposed on the surface of the conduction hole 11d, or may be formed so as to protrude into the conduction hole 11d. Even in the small opening 113a of the metal layer 113 that slightly protrudes into the conduction hole 11d, since the conduction hole 11d is formed by the laser beam, the metal layer 113 is also melted. There is no hindrance. As a result, the via conductor 15 is formed in the conduction hole 11d by electroplating or the like, so that the via conductor 15 and the metal layer 113 are in electrical contact and become conductive. Since the metal layer connected to such a ground terminal is formed in the resin insulating layer 11, that is, below the first conductor layer 12 where the wiring pattern is formed, a circuit connected to the wiring pattern can be obtained. Even high-frequency circuits are less susceptible to noise and the like.

一方、グランド端子と接続されるビア導体15であっても、金属層113とは接続されずに、全てのビア導体が金属層113とは接続されない構造にすることもできる。このような構造であれば、金属層113が完全に電気的に中立な層となる。   On the other hand, even if the via conductor 15 is connected to the ground terminal, the via conductor 15 is not connected to the metal layer 113, and all the via conductors may not be connected to the metal layer 113. With such a structure, the metal layer 113 is a completely electrically neutral layer.

第1ソルダーレジスト層16は、樹脂絶縁層11の第1面11a側で、電子部品の電極が接続される第1導体層12の配線パターンの部分を除いた樹脂絶縁層11の第1面11a上に形成され、第1導体層12の電子部品と搭載される配線12aが露出するように開口部16aが形成されている。また、樹脂絶縁層11の第2面11bでは、第2導体層14が、他の電子部品や配線板と接続される配線部分が露出するように開口部117aが形成された第2ソルダーレジスト層17が設けられている。この第2ソルダーレジスト層17は、前述のように、第2導体層14が樹脂絶縁層11内に埋め込まれないで、表面に突出している分だけ、第1面11a側に形成される第1ソルダーレジスト層16よりも厚く形成されている。この第1面11a側の第1ソルダーレジスト層16の厚さは、10〜20μm程度に形成され、第2ソルダーレジスト層17は、20〜30μm程度に形成されている。その結果、樹脂絶縁層11の一面11a側と第2面11b側とで、第1および第2ソルダーレジスト層16、17の開口部16aと開口部17aの大きさが異なり、また、厚さも異なる。そのため、温度変化により、熱膨張率の差異に基づき、樹脂絶縁層11に曲げ応力が働く。しかし、この実施形態によれば、金属層113が挿入されているため、そのような問題は生じない。   The first solder resist layer 16 is on the first surface 11a side of the resin insulating layer 11, and the first surface 11a of the resin insulating layer 11 excluding the wiring pattern portion of the first conductor layer 12 to which the electrodes of the electronic component are connected. An opening 16a is formed so as to expose the electronic component of the first conductor layer 12 and the wiring 12a mounted thereon. Further, on the second surface 11b of the resin insulating layer 11, a second solder resist layer in which an opening 117a is formed so that the second conductor layer 14 exposes a wiring portion connected to another electronic component or a wiring board. 17 is provided. As described above, the second solder resist layer 17 is formed on the first surface 11a side as much as the second conductor layer 14 protrudes from the surface without being embedded in the resin insulating layer 11. It is formed thicker than the solder resist layer 16. The thickness of the first solder resist layer 16 on the first surface 11a side is about 10 to 20 μm, and the second solder resist layer 17 is about 20 to 30 μm. As a result, the sizes of the openings 16a and the openings 17a of the first and second solder resist layers 16 and 17 are different on the one surface 11a side and the second surface 11b side of the resin insulating layer 11, and the thicknesses are also different. . Therefore, bending stress acts on the resin insulating layer 11 based on the difference in coefficient of thermal expansion due to temperature change. However, according to this embodiment, since the metal layer 113 is inserted, such a problem does not occur.

次に、図1に示されるプリント配線板の製造方法の一実施形態が、図2A〜2Lを参照して説明される。   Next, an embodiment of a method for manufacturing the printed wiring board shown in FIG. 1 will be described with reference to FIGS.

まず、図2Aに示されるように、第1金属箔13aが設けられたキャリア18が用意される。キャリア18としては、例えば銅張支持板が用いられるが、これに限定されない。図2Aに示される例では、例えばプリプレグからなる支持板18aの両面に、例えば銅からなるキャリア金属箔18bと第1金属箔13aが接着剤により貼り付けられたキャリア金属箔18b付き第1金属箔13aのキャリア金属箔18b側が、接着剤または熱圧着法等により支持板18aに貼り付けられることにより、支持板18aと例えばキャリア金属箔18bからなるキャリア18に第1金属箔13aが貼り付けられている。このキャリア18および第1金属箔13aは、後で除去して廃棄されるもので、材料は特に限定されないが、第1金属箔13aとしては、例えば銅、ニッケル等が用いられる。この第1金属箔13aとキャリア金属箔18bとは、後で分離されるため、分離しやすい接着剤、例えば熱可塑性樹脂により全面が接着されても良い。このような接着剤で接着されることにより、後の工程で温度を上昇させて引き剥されることにより、第1金属箔13aとキャリア18とは容易に分離される。または、例えば周囲だけで通常の接着剤により貼り付けられても良い。周囲が切断除去されることにより、容易に分離されるからである。このキャリア18と第1金属箔13aの両者間には、熱膨張率などの差が無いことが望ましいため、第1金属箔13aに銅またはニッケルが用いられるのであれば、キャリア金属箔もキャリア銅箔またはキャリアニッケル箔からなるなど、同じ材料であることが好ましい。また、このキャリア18の第1金属箔13aが設けられる面には、適宜、剥離層が設けられても良い。   First, as shown in FIG. 2A, a carrier 18 provided with a first metal foil 13a is prepared. For example, a copper-clad support plate is used as the carrier 18, but the carrier 18 is not limited to this. In the example shown in FIG. 2A, a first metal foil with a carrier metal foil 18b in which, for example, a carrier metal foil 18b made of copper and a first metal foil 13a are attached to both surfaces of a support plate 18a made of prepreg, for example, with an adhesive. The carrier metal foil 18b side of 13a is attached to the support plate 18a by an adhesive or a thermocompression bonding method, so that the first metal foil 13a is attached to the support plate 18a and the carrier 18 made of, for example, the carrier metal foil 18b. Yes. The carrier 18 and the first metal foil 13a are removed and discarded later, and the material is not particularly limited. For example, copper, nickel or the like is used as the first metal foil 13a. Since the first metal foil 13a and the carrier metal foil 18b are separated later, the entire surface may be adhered by an easily separable adhesive such as a thermoplastic resin. By adhering with such an adhesive, the first metal foil 13a and the carrier 18 are easily separated by being peeled off by raising the temperature in a later step. Or, for example, it may be pasted only with a normal adhesive. This is because the surroundings are easily separated by cutting and removing. Since it is desirable that there is no difference in the coefficient of thermal expansion between the carrier 18 and the first metal foil 13a, if copper or nickel is used for the first metal foil 13a, the carrier metal foil is also carrier copper. The same material is preferred, such as consisting of foil or carrier nickel foil. In addition, a release layer may be appropriately provided on the surface of the carrier 18 on which the first metal foil 13a is provided.

また、図2Aに示される例では、支持板18aの両面側にキャリア金属箔18b付き第1金属箔13aが貼り付けられた図が示されている。このように支持板18aの両面に形成されることは、支持板18aは除去されて廃棄されるものであるため、有効利用のため、また、製造工程の短縮の点から好ましい。しかし、片面だけに形成されても構わない。この支持板18aの両面に形成される積層体は、両面側で全く同じ工程で形成されるため、以下の説明でも、片面だけの構造で説明される。以下の図の説明も、一部で省略されているが、両面側の構造は全く同じ構造である。   Moreover, in the example shown by FIG. 2A, the figure by which the 1st metal foil 13a with the carrier metal foil 18b was affixed on the both surfaces side of the support plate 18a is shown. Forming on both surfaces of the support plate 18a in this manner is preferable because the support plate 18a is removed and discarded, for effective use, and from the viewpoint of shortening the manufacturing process. However, it may be formed only on one side. Since the laminated body formed on both surfaces of the support plate 18a is formed in exactly the same process on both surfaces, the following description will be made with a structure having only one surface. The explanation of the following figures is also omitted in part, but the structures on both sides are exactly the same.

さらに、図2Aに示される例では、キャリア金属箔18bの表面に第1金属箔13aが貼り付けられただけの例が示されているが、この第1金属箔13aの表面に、さらにニッケルメッキが施されても良い。ニッケルメッキが施されることにより、後の工程でこの表面に第1導体層12が形成され、最終的に第1金属箔13aがエッチング除去されるが、そのエッチング除去の際に、第1導体層12の材料である銅と異なる材料となることによりエッチング除去が容易になる。   Furthermore, in the example shown in FIG. 2A, an example is shown in which the first metal foil 13a is simply attached to the surface of the carrier metal foil 18b. However, the surface of the first metal foil 13a is further nickel-plated. May be given. By applying nickel plating, the first conductor layer 12 is formed on the surface in a later step, and finally the first metal foil 13a is removed by etching. Etching removal is facilitated by using a material different from copper as the material of the layer 12.

次に、図2Bに示されるように、レジストが全面に形成された後に、露光と現像のフォトリソグラフィ技術により、第1導体層12の配線パターンが形成される部分のみのレジストが除去されることにより、レジストマスク19のパターンが形成される。   Next, as shown in FIG. 2B, after the resist is formed on the entire surface, the resist is removed only at the portion where the wiring pattern of the first conductor layer 12 is formed by exposure and development photolithography techniques. Thus, a pattern of the resist mask 19 is formed.

その後、例えば図2Cに示されるように、第1金属箔13aが一方の電極とされて、例えば銅めっきの電気めっき液に浸漬され、電気めっき液の中で他方の電極との間で通電されることにより、電気めっき膜が第1金属箔13aの露出しているところだけに形成され、パターニングされた第1導体層12が形成される。第1導体層12には、図示しない電子部品が搭載されて接続される配線12aとそれ以外の配線12bとが、レジストマスク19のパターンによりパターン形成される。   Thereafter, as shown in FIG. 2C, for example, the first metal foil 13a is used as one electrode, and is immersed in, for example, an electroplating solution of copper plating, and is energized between the other electrode in the electroplating solution. Thus, the electroplating film is formed only where the first metal foil 13a is exposed, and the patterned first conductor layer 12 is formed. On the first conductor layer 12, a wiring 12 a to which an electronic component (not shown) is mounted and connected, and the other wiring 12 b are patterned by the pattern of the resist mask 19.

その後、図2Dに示されるように、レジストマスク19が除去されることにより、第1導体層12の配線パターン12a、12bのみが第1金属箔13aの表面に形成される。   Thereafter, as shown in FIG. 2D, by removing the resist mask 19, only the wiring patterns 12a and 12b of the first conductor layer 12 are formed on the surface of the first metal foil 13a.

次に、図2Eに示されるように、第1導体層12が形成された第1金属箔13aの表面側に第1樹脂絶縁層111および金属層(箔)113が重ね合され、真空プレスによる熱圧着法で貼り合されて積層される。この金属層113は、開口部が形成されていない平板状の箔である。   Next, as shown in FIG. 2E, the first resin insulation layer 111 and the metal layer (foil) 113 are superimposed on the surface side of the first metal foil 13a on which the first conductor layer 12 is formed, and by vacuum press. They are laminated by thermocompression bonding. This metal layer 113 is a flat foil in which no opening is formed.

その後、図2Fに示されるように、金属層113のビア導体15の位置に開口部113aが形成される。この開口部113aの形成は、通常のフォトリソグラフィ技術が用いられる方法で行われ、図示しないレジスト膜が形成され、露光と現像により形成されたレジスト膜をマスクとして、エッチングにより形成される。   Thereafter, as shown in FIG. 2F, an opening 113 a is formed at the position of the via conductor 15 in the metal layer 113. The opening 113a is formed by a method using a normal photolithography technique. A resist film (not shown) is formed, and is formed by etching using a resist film formed by exposure and development as a mask.

その後、図2Gに示されるように、開口部113aが形成された金属層113上に、第2樹脂絶縁層112および第2導体層14の一部となる第2金属箔14aが重ね合され、再度真空プレスによる熱圧着法で貼り合される。その結果、図2Gに示されるように、第1樹脂絶縁層111と第2樹脂絶縁層112とがその間に金属層113を挟んだ積層構造が形成される。   Thereafter, as shown in FIG. 2G, the second metal foil 14a that becomes a part of the second resin insulating layer 112 and the second conductor layer 14 is superimposed on the metal layer 113 in which the opening 113a is formed, Bonding is again performed by a thermocompression bonding method using a vacuum press. As a result, as shown in FIG. 2G, a stacked structure in which the first resin insulating layer 111 and the second resin insulating layer 112 sandwich the metal layer 113 therebetween is formed.

次に、図2Hに示されるように、導通用孔11dが形成される。導通用孔11dを形成する方法は、導通用孔11が形成される場所の第2金属箔14aの表面に黒化処理が施され、レーザ光が照射される方法が用いられる。すなわち、樹脂絶縁層11の両面に設けられる第1導体層12と第2導体層14とが接続される部分に形成され、第2金属箔14aの表面から、CO2レーザ光等が照射されることにより加工される。この際、X線等により、金属層113の開口部113aの位置が特定され、その開口部の位置に合せて導通用孔11dが形成されてもよい。 Next, as shown in FIG. 2H, a conduction hole 11d is formed. As a method for forming the conduction hole 11d, a method is used in which the surface of the second metal foil 14a where the conduction hole 11 is formed is blackened and irradiated with laser light. That is, it is formed in a portion where the first conductor layer 12 and the second conductor layer 14 provided on both surfaces of the resin insulating layer 11 are connected, and the surface of the second metal foil 14a is irradiated with CO 2 laser light or the like. It is processed by. At this time, the position of the opening 113a of the metal layer 113 may be specified by X-rays or the like, and the conduction hole 11d may be formed in accordance with the position of the opening.

また、金属層113と接続されるビア導体15が形成される導通用孔11dの場合で、導通用孔11dに金属層113が露出していない場合には、レーザ光の強度が強められることにより、金属層113が露出させられる。すなわち、レーザ光の強度が調整されることにより、金属層113の導通用孔11dへの露出と非露出とが制御される。   In the case of the conduction hole 11d in which the via conductor 15 connected to the metal layer 113 is formed, and the metal layer 113 is not exposed in the conduction hole 11d, the intensity of the laser beam is increased. The metal layer 113 is exposed. That is, by adjusting the intensity of the laser beam, exposure and non-exposure of the metal layer 113 to the conduction hole 11d are controlled.

次に、図2Iに示されるように、導通用孔11d内および第2金属箔14a上に無電解めっき膜等のシード層(金属被膜)14cが形成される。金属被膜14cは、無電解めっきでなく、真空蒸着またはスパッタ法などにより形成されても良い。導通用孔11d内のように、金属膜が表面に露出していない場所でも金属膜が設けられ、電気めっきの下地にするためである。そして、第2金属箔14aのあるシード層とする金属被膜(以下、単に金属被膜という)14c上にめっきレジスト膜20のパターンが形成される。このめっきレジスト膜20のパターン形成も、前述の図2Bの説明と同様に、レジストが全面に形成された後に、露光と現像のフォトリソグラフィ技術により、第2導体層14のパターンが形成される部分のみのレジストが除去されることにより、めっきレジスト膜20のパターンが形成される。   Next, as shown in FIG. 2I, a seed layer (metal coating) 14c such as an electroless plating film is formed in the conduction hole 11d and on the second metal foil 14a. The metal coating 14c may be formed not by electroless plating but by vacuum deposition or sputtering. This is because the metal film is provided even in a place where the metal film is not exposed on the surface as in the conduction hole 11d, and is used as a base for electroplating. Then, a pattern of the plating resist film 20 is formed on a metal film (hereinafter simply referred to as a metal film) 14c serving as a seed layer with the second metal foil 14a. Similarly to the description of FIG. 2B, the patterning of the plating resist film 20 is a portion where the pattern of the second conductor layer 14 is formed by exposure and development photolithography techniques after the resist is formed on the entire surface. By removing only the resist, the pattern of the plating resist film 20 is formed.

続いて、図2Jに示されるように、例えば電気めっきにより、導通用孔11d内にビア導体15が形成されると共に、露出している金属被膜14cの表面に電気めっき膜14bの層が形成される。その後、めっきレジスト膜20が除去されることにより、第2金属箔14aと、金属被膜14cと、電気めっき膜14bとによりパターン形成された第2導体層14が形成される。   Subsequently, as shown in FIG. 2J, the via conductor 15 is formed in the conduction hole 11d by, for example, electroplating, and the layer of the electroplating film 14b is formed on the exposed surface of the metal coating 14c. The Thereafter, the plating resist film 20 is removed, whereby the second conductor layer 14 patterned by the second metal foil 14a, the metal coating 14c, and the electroplating film 14b is formed.

次に、図2Kに示されるように、ソルダーレジストが全面に塗布形成され、前述と同様のフォトリソグラフィ技術により、接続箇所のみが除去されることにより、パターン化された第2ソルダーレジスト層17が形成される。   Next, as shown in FIG. 2K, the solder resist is applied and formed on the entire surface, and only the connection portion is removed by the same photolithography technique as described above, whereby the patterned second solder resist layer 17 is formed. It is formed.

その後、図2Lに示されるように、キャリア18が除去され、さらに第1金属箔13aがエッチングにより除去される。なお、図2Kの状態でキャリア18が除去されると、積層体が2個得られるが、その一方である図2Kの上側の積層部の上下が逆転して示されている。前述のように、キャリア18(キャリア金属箔18b)と第1金属箔13aとは、例えば熱可塑性樹脂のように、容易に剥離しやすい接着剤により固定されているか、または周囲だけで接着剤等により固定されているだけであるので、温度を上昇させて引き剥されるか、周囲の接着部が切断されることにより容易に分離され、第1金属箔13aのキャリア金属箔18bとの接触面が露出する。第1金属箔13aの除去は、例えば湿式または乾式の化学エッチングなどにより全面除去される。その結果、樹脂絶縁層11内の第1面11a側に埋め込まれた電気めっき膜からなる第1導体層12の一面だけが露出する。   Thereafter, as shown in FIG. 2L, the carrier 18 is removed, and the first metal foil 13a is removed by etching. In addition, when the carrier 18 is removed in the state of FIG. 2K, two stacked bodies are obtained, but the upper and lower layers of FIG. 2K on the other hand are shown upside down. As described above, the carrier 18 (carrier metal foil 18b) and the first metal foil 13a are fixed by an adhesive that easily peels off, such as a thermoplastic resin, or an adhesive or the like only at the periphery. The contact surface of the first metal foil 13a with the carrier metal foil 18b can be easily separated by raising the temperature or by peeling off the surrounding adhesive portion. Is exposed. The first metal foil 13a is removed by, for example, wet or dry chemical etching. As a result, only one surface of the first conductor layer 12 made of an electroplated film embedded on the first surface 11a side in the resin insulating layer 11 is exposed.

その後、第1金属箔13aの除去により露出した樹脂絶縁層11、すなわち樹脂絶縁層11の第1面11aおよび第1導体層12の表面の全面にソルダーレジストを塗布し、前述と同様の方法で、電子部品が搭載される配線12aが露出するように、パターニングされることにより、開口部16aを有する第1ソルダーレジスト膜16が形成される。その状態が図1に示されている。   Thereafter, a solder resist is applied to the entire surface of the resin insulating layer 11 exposed by removing the first metal foil 13a, that is, the first surface 11a of the resin insulating layer 11 and the surface of the first conductor layer 12, and in the same manner as described above. The first solder resist film 16 having the opening 16a is formed by patterning so that the wiring 12a on which the electronic component is mounted is exposed. This state is shown in FIG.

なお、図示されていないが、第1導体層12の、図示しない電子部品の電極パッドが接続される各配線12aの露出面には、OSP、Ni/Au、Ni/Pd/Au、Sn等の表面処理が行われる。表面の保護と共に、ハンダ付けをしやすくするためである。   Although not shown, the exposed surface of each wiring 12a to which the electrode pads of electronic parts (not shown) of the first conductor layer 12 are connected is made of OSP, Ni / Au, Ni / Pd / Au, Sn, etc. Surface treatment is performed. This is to protect the surface and facilitate soldering.

前述の例では、第1樹脂絶縁層111と金属層113とが積層された後に、金属層113のビア導体15の位置に合せて、開口部113aが形成され、さらに第2樹脂絶縁層112などが積層されたが、予め金属層113に開口部113aが形成されることにより、第1樹脂絶縁層111と第2樹脂絶縁層112と第2金属箔13aとを重ねて一度に積層することもできる。その例が、図3A〜3Bに示されている。   In the above example, after the first resin insulating layer 111 and the metal layer 113 are laminated, the opening 113a is formed in accordance with the position of the via conductor 15 of the metal layer 113, and the second resin insulating layer 112 and the like. The first resin insulating layer 111, the second resin insulating layer 112, and the second metal foil 13a may be stacked at once by forming the opening 113a in the metal layer 113 in advance. it can. An example is shown in FIGS.

すなわち、前述のキャリア18に第1導体層12が形成される工程までは同様に形成される。そのため、図2Dと同じ図が図3Aとして示されている。   That is, it is formed in the same manner up to the step of forming the first conductor layer 12 on the carrier 18 described above. Therefore, the same view as FIG. 2D is shown as FIG. 3A.

この後、図3Bに示されるように、第1導体層12が形成された第1金属箔13aの表面側に第1樹脂絶縁層111、金属層(箔)113、第2樹脂絶縁層112および第2導体層14の一部となる第2金属箔14aがこの順で重ね合される。金属層113には、予めビア導体15が形成される場所に合せて、開口部113aが、打抜き等の方法により、ビア導体15の径よりも大きい径で形成されている。そのため、金属層113の開口部113aがビア導体の形成場所と一致するように正確に位置決めがされて重ね合される。その後、真空プレスによる熱圧着法で貼り合されて積層される。この状態は、前述の図2Gに示される構造と同じ構造である。従って、この後の工程は、前述の図2H〜2Lの工程が同様に行われることにより、図1に示される構造のプリント配線板1が得られる。   Thereafter, as shown in FIG. 3B, the first resin insulating layer 111, the metal layer (foil) 113, the second resin insulating layer 112, and the first resin insulating layer 112 are formed on the surface side of the first metal foil 13a on which the first conductor layer 12 is formed. The second metal foil 14a that becomes a part of the second conductor layer 14 is superposed in this order. In the metal layer 113, an opening 113a is formed with a diameter larger than the diameter of the via conductor 15 by a method such as punching in accordance with a location where the via conductor 15 is formed in advance. For this reason, the metal layer 113 is accurately positioned and overlapped so that the opening 113a of the metal layer 113 coincides with the formation position of the via conductor. Thereafter, they are laminated by being bonded by a thermocompression method using a vacuum press. This state is the same structure as that shown in FIG. 2G. Accordingly, in the subsequent steps, the printed wiring board 1 having the structure shown in FIG. 1 is obtained by performing the steps of FIGS. 2H to 2L in the same manner.

この方法によれば、予め金属層113に開口部113aが正確に位置合せされた状態で形成されていることにより、第1樹脂絶縁層111、金属層113、第2樹脂絶縁層112、および第2金属箔13aが重ねて一度に真空プレスによる熱圧着で形成され得るようになるため、製造工程が大幅に改善され、コストダウンに寄与する。   According to this method, the first resin insulating layer 111, the metal layer 113, the second resin insulating layer 112, and the first resin insulating layer 111 are formed in the state in which the opening 113 a is accurately aligned in advance in the metal layer 113. Since the two metal foils 13a can be stacked and formed by thermocompression using a vacuum press at a time, the manufacturing process is greatly improved, which contributes to cost reduction.

以上の実施形態では、1層の樹脂絶縁層を介して一対の導体層(第1導体層12および第2導体層14)が形成されるプリント配線板が例示された。しかしながら、例えば図2Jの状態まで、さらに第2導体層14および樹脂絶縁層11の露出面に、図2Gに示されるように、金属層113入り樹脂絶縁層11が形成されて同様のプリント配線板が形成されても良いし、金属層113入りではない、通常のプリプレグの樹脂絶縁層が積層され、同様の工程が繰り返されても良い。そうすることにより、より一層剛性の向上した3層構造のプリント配線板とされ得る。   In the above embodiment, the printed wiring board in which a pair of conductor layers (the first conductor layer 12 and the second conductor layer 14) is formed via one resin insulating layer is exemplified. However, for example, until the state shown in FIG. 2J, a resin insulating layer 11 containing a metal layer 113 is formed on the exposed surfaces of the second conductor layer 14 and the resin insulating layer 11 as shown in FIG. A resin insulating layer of a normal prepreg that is not contained in the metal layer 113 may be laminated, and the same process may be repeated. By doing so, a printed wiring board having a three-layer structure with further improved rigidity can be obtained.

1 プリント配線板
11 樹脂絶縁層
11a 第1面
11b 第2面
11d 導通用孔
111 第1樹脂絶縁層
112 第2樹脂絶縁層
113 金属層
113a 開口部
12 第1導体層
12a 電子部品が搭載される配線
12b 電子部品が搭載される以外の配線
13a 第1金属箔
14 第2導体層
14a 第2金属箔
14b 電気めっき膜
14c シード層(金属被膜)
15 ビア導体
16 第1ソルダーレジスト層
16a 開口部
17 第2ソルダーレジスト層
17a 開口部
18 キャリア
19 レジストマスク
20 めっきレジスト膜
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Printed wiring board 11 Resin insulation layer 11a 1st surface 11b 2nd surface 11d Conduction hole 111 1st resin insulation layer 112 2nd resin insulation layer 113 Metal layer 113a Opening part 12 1st conductor layer 12a An electronic component is mounted Wiring 12b Wiring other than mounting electronic components 13a First metal foil 14 Second conductor layer 14a Second metal foil 14b Electroplating film 14c Seed layer (metal coating)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 15 Via conductor 16 1st soldering resist layer 16a Opening part 17 2nd soldering resist layer 17a Opening part 18 Carrier 19 Resist mask 20 Plating resist film

Claims (12)

第1面および該第1面の反対面である第2面を有する樹脂絶縁層と、
前記樹脂絶縁層の前記第1面側に埋め込まれ、最上面が露出する第1導体層と、
前記樹脂絶縁層の前記第2面に形成される第2導体層と、
前記樹脂絶縁層を貫通して設けられ、前記第1導体層と前記第2導体層とを接続するビア導体と、
を備えたプリント配線板であって、
前記樹脂絶縁層内に金属層を有し、前記金属層には、前記ビア導体が貫通する開口部が形成されている。
A resin insulation layer having a first surface and a second surface opposite to the first surface;
A first conductor layer embedded on the first surface side of the resin insulating layer and exposing an uppermost surface;
A second conductor layer formed on the second surface of the resin insulation layer;
A via conductor provided through the resin insulation layer and connecting the first conductor layer and the second conductor layer;
A printed wiring board comprising:
A metal layer is provided in the resin insulating layer, and an opening through which the via conductor passes is formed in the metal layer.
請求項1記載のプリント配線板であって、前記樹脂絶縁層は、第1樹脂絶縁層と第2樹脂絶縁層とからなり、かつ、前記金属層は、前記第1樹脂絶縁層と前記第2樹脂絶縁層との間に設けられている。 2. The printed wiring board according to claim 1, wherein the resin insulating layer includes a first resin insulating layer and a second resin insulating layer, and the metal layer includes the first resin insulating layer and the second resin insulating layer. It is provided between the resin insulation layers. 請求項1または2記載のプリント配線板であって、前記ビア導体のうち、信号端子と電気的に接続されるビア導体と前記金属層とが接触しないように、前記金属層の開口部が形成されている。 3. The printed wiring board according to claim 1, wherein an opening portion of the metal layer is formed so that a via conductor electrically connected to a signal terminal of the via conductor does not contact the metal layer. Has been. 請求項1〜3のいずれか1項に記載のプリント配線板であって、前記ビア導体の全てが前記金属層と接触しないように、前記金属層の開口部が形成されている。 It is a printed wiring board of any one of Claims 1-3, Comprising: The opening part of the said metal layer is formed so that all the said via conductors may not contact the said metal layer. 請求項1〜3のいずれか1項に記載のプリント配線板であって、前記ビア導体のうち、グランド端子と電気的に接続されるビア導体と前記金属層とが接続されるように、前記金属層の開口部が形成されている。 The printed wiring board according to any one of claims 1 to 3, wherein, among the via conductors, the via conductor electrically connected to a ground terminal and the metal layer are connected. An opening of the metal layer is formed. 請求項1〜5のいずれか1項に記載のプリント配線板であって、前記金属層は、3〜50μmの厚さの銅箔である。 It is a printed wiring board of any one of Claims 1-5, Comprising: The said metal layer is a copper foil with a thickness of 3-50 micrometers. 請求項1〜6のいずれか1項に記載のプリント配線板であって、前記ビア導体の断面の幅は、前記第2導体層側よりも電子部品が搭載される前記第1導体層側が小さい。 7. The printed wiring board according to claim 1, wherein a width of a cross-section of the via conductor is smaller on the first conductor layer side on which an electronic component is mounted than on the second conductor layer side. . プリント配線板の製造方法であって、
キャリアの一面に第1金属箔を有するキャリア金属箔付きキャリアを準備することと、
前記第1金属箔上に所定のパターンを有する第1導体層を形成することと、
前記第1金属箔の前記第1導体層が形成されていない露出面および前記第1導体層上に、第1樹脂絶縁層、金属層、第2樹脂絶縁層、および第2金属箔を、前記金属層のビア導体が貫通する部分に開口部を有するように積層することと、
前記第2金属箔、前記第2樹脂絶縁層、前記金属層の開口部および前記第1樹脂絶縁層を貫通し、前記第1導体層が露出するように導通用孔を形成することと、
前記導通用孔内、および前記第2金属箔上に、シード層を形成することと、
前記シード層上に、めっきレジスト膜のパターンを形成することと、
前記導通用孔内および前記めっきレジスト膜のパターンの非形成部に、電気めっきによる導体ビアおよび電気めっき膜を形成することと、
前記めっきレジスト膜を除去することと、
前記めっきレジスト膜が除去されることにより露出する前記シード層および前記第2金属箔を除去することにより、所定のパターンを有する第2導体層を形成することと、
前記第2導体層上にソルダーレジストを塗布することと、
前記キャリアおよび前記第1金属箔を除去することにより、前記第1導体層を露出させることと、
を有している。
A method of manufacturing a printed wiring board,
Preparing a carrier with a metal foil having a first metal foil on one side of the carrier;
Forming a first conductor layer having a predetermined pattern on the first metal foil;
On the exposed surface of the first metal foil where the first conductor layer is not formed and the first conductor layer, the first resin insulating layer, the metal layer, the second resin insulating layer, and the second metal foil, Laminating so as to have an opening in a portion through which the via conductor of the metal layer passes,
Passing through the second metal foil, the second resin insulation layer, the opening of the metal layer and the first resin insulation layer, and forming a conduction hole so that the first conductor layer is exposed;
Forming a seed layer in the conduction hole and on the second metal foil;
Forming a plating resist film pattern on the seed layer;
Forming conductive vias and electroplated films by electroplating in the hole for conduction and in the non-formation part of the pattern of the plating resist film;
Removing the plating resist film;
Forming the second conductor layer having a predetermined pattern by removing the seed layer and the second metal foil exposed by removing the plating resist film;
Applying a solder resist on the second conductor layer;
Removing the carrier and the first metal foil to expose the first conductor layer;
have.
請求項8記載のプリント配線板の製造方法であって、前記第1樹脂絶縁層、金属層、第2樹脂絶縁層、および第2金属箔を積層する工程が、
前記第1樹脂絶縁層および前記金属層を積層して接着することと、
前記金属層の前記ビア導体が貫通する部分に開口部を形成することと、
前記金属層の表面に前記第2樹脂絶縁層および前記第2金属箔を積層することと、
を有している。
The method of manufacturing a printed wiring board according to claim 8, wherein the first resin insulating layer, the metal layer, the second resin insulating layer, and the second metal foil are laminated.
Laminating and bonding the first resin insulation layer and the metal layer;
Forming an opening in a portion of the metal layer through which the via conductor passes;
Laminating the second resin insulation layer and the second metal foil on the surface of the metal layer;
have.
請求項8記載のプリント配線板の製造方法であって、前記第1樹脂絶縁層、金属層、第2樹脂絶縁層、および第2金属箔を積層する工程が、
前記金属層の前記ビア導体が貫通する部分に予め開口部を形成することと、
前記第1樹脂絶縁層、前記金属層、前記第2樹脂絶縁層、および前記第2金属箔をすることと、
を有している。
The method of manufacturing a printed wiring board according to claim 8, wherein the first resin insulating layer, the metal layer, the second resin insulating layer, and the second metal foil are laminated.
Forming an opening in advance in the portion of the metal layer through which the via conductor passes;
The first resin insulation layer, the metal layer, the second resin insulation layer, and the second metal foil;
have.
請求項8〜10のいずれか1項に記載のプリント配線板の製造方法であって、前記導通用孔の形成がレーザ光の照射により行われ、該レーザ光の強度が調整されることにより、前記金属層の前記導通用孔への露出と非露出とが制御される。 It is a manufacturing method of the printed wiring board given in any 1 paragraph of Claims 8-10, and formation of the hole for conduction is performed by irradiation of a laser beam, and the intensity of the laser beam is adjusted, Exposure and non-exposure of the metal layer to the conduction hole are controlled. 請求項8〜11のいずれか1項に記載のプリント配線板の製造方法であって、前記金属層の開口部の位置がX線により特定され、該開口部の位置に合せて前記導通用孔が形成される。 It is a manufacturing method of the printed wiring board of any one of Claims 8-11, Comprising: The position of the opening part of the said metal layer is specified by X-ray | X_line, The said hole for conduction | electrical_connection according to the position of this opening part Is formed.
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