JP2015177512A - 回路装置及び電子機器 - Google Patents

Abstract

【課題】周波数設定値により設定される発振回路の発振周波数の温度依存性を低減できる回路装置及び電子機器等の提供。【解決手段】回路装置は、発振回路１００と、発振回路１００の発振周波数の周波数設定値を出力する周波数設定値出力部１１０と、温度センサー９０を用いて求められた検出温度に基づいて、周波数設定値の調整値を出力して、発振周波数の温度補償を行う調整部２０を含む。調整部２０は、検出温度が第１の温度範囲に属する場合には、周波数設定値の調整値として、第１の温度範囲に対応する第１の調整値を出力し、検出温度が第２の温度範囲に属する場合には、周波数設定値の調整値として、第２の温度範囲に対応する第２の調整値を出力する。【選択図】図２

Description

本発明は、回路装置及び電子機器等に関する。

表示ドライバーなどの回路装置では、クロック信号を生成するための発振回路が内蔵される。例えば表示ドライバーの表示動作の制御は、発振回路を用いて生成されたクロック信号に基づいて行われる。

このような発振回路を内蔵する回路装置では、例えば回路装置の製造時に、ヒューズ回路などを用いて、発振回路の発振周波数を仕様で規定される周波数に設定する。ＣＲ発振回路を例にとれば、ヒューズ回路からの周波数設定値を用いて、ＣＲ発振回路の抵抗値や容量値を設定することで、発振周波数を仕様周波数に設定する。

一方、回路装置の一つである表示ドライバーでは、表示パネルの駆動電源電圧を調整する電子ボリュームや環境温度を検出する温度センサーが設けられているものがある。この表示ドライバーでは、温度センサーにより検出された検出温度に基づいて電子ボリューム値を調整し、駆動電源電圧を環境温度に対応した電圧に設定する。このような電子ボリュームと温度センサーを有する表示ドライバーの従来技術としては、例えば特許文献１に開示される技術がある。

特開２００４−８５３８４号公報

しかしながら、発振回路の発振周波数には温度依存性（例えば±１０％）がある。従って、回路装置の製造時にヒューズ回路等を用いて発振周波数を仕様周波数に設定したとしても、温度変動があると発振回路の発振周波数も変動してしまう。これは、回路装置が表示ドライバーである場合には、フレーム周波数や駆動周波数の変動等の問題を招く。また温度変動に応じて発振周波数を単に切り換える手法では、温度が変化すると常に発振周波数が変化するようになってしまい、安定した表示を実現できない。また発振周波数を切り換える温度の境界付近で温度が変動すると、その影響が視認されてしまうおそれもある。

また、上述の温度センサーを有する表示ドライバーでは、温度センサーを用いて電子ボリューム値を調整して、表示パネルの駆動電源電圧を調整しているが、この温度センサーを用いて発振回路の発振周波数の温度依存性を補償する点については提案されていなかった。

本発明の幾つかの態様によれば、周波数設定値により設定される発振回路の発振周波数の温度依存性を低減できる回路装置及び電子機器等を提供できる。

本発明の一態様は、発振回路と、前記発振回路の発振周波数の周波数設定値を出力する周波数設定値出力部と、温度センサーを用いて求められた検出温度に基づいて、前記周波数設定値の調整値を出力して、前記発振周波数の温度補償を行う調整部と、を含み、前記調整部は、前記検出温度が第１の温度範囲に属する場合には、前記周波数設定値の前記調整値として、前記第１の温度範囲に対応する第１の調整値を出力し、前記検出温度が第２の温度範囲に属する場合には、前記周波数設定値の前記調整値として、前記第２の温度範囲に対応する第２の調整値を出力する回路装置に関係する。

本発明の一態様によれば、温度センサーを用いて求められた検出温度が第１の温度範囲に属する場合には、第１の温度範囲に対応する第１の調整値が出力されて、周波数設定値が調整される。これにより、第１の調整値により調整された周波数設定値により、発振回路の発振周波数を設定できるようになる。また検出温度が第２の温度範囲に属する場合には、第２の温度範囲に対応する第２の調整値が出力されて、周波数設定値が調整される。これにより、第２の調整値により調整された周波数設定値により、発振回路の発振周波数を設定できるようになる。従って、各温度範囲に対応する各調整値で、周波数設定値を調整して、調整後の周波数設定値により発振回路の発振周波数を設定できるようになる。この結果、周波数設定値により設定される発振回路の発振周波数の温度依存性を低減することが可能になる。

また本発明の一態様では、前記調整部は、前記検出温度が属する温度範囲が前記第１の温度範囲から前記第２の温度範囲に切り替わった場合に、前記周波数設定値の前記調整値として、前記第１の調整値と前記第２の調整値の間の補間調整値を出力してもよい。

このようにすれば、検出温度が属する温度範囲が第１の温度範囲から第２の温度範囲に切り替わると、第１の調整値と第２の調整値の間の補間調整値により調整された周波数設定値により、発振回路の発振周波数が設定されるようになる。従って、温度範囲の切り替わり時に発振周波数が変化することによる悪影響を低減できる回路装置の提供が可能になる。

また本発明の一態様では、前記調整部は、前記検出温度が属する温度範囲が前記第１の温度範囲から前記第２の温度範囲に切り替わった場合に、前記周波数設定値の前記調整値として、前記第１の調整値と前記第２の調整値の間を所与の分割数で補間した複数の補間調整値を出力してもよい。

このようにすれば、調整値の切り替え期間において、第１の調整値と第２の調整値の間を所与の分割数で補間した複数の補間調整値が出力されるようになる。そして、これらの複数の補間調整値により調整された周波数設定値で、発振回路の発振周波数を設定できるようになり、調整値の切り替え時に発振周波数が変化することによる悪影響を低減できる。

また本発明の一態様では、前記分割数を可変に設定するための分割数レジスターを含んでもよい。

このようにすれば、調整値の切り替え期間における調整値の変化幅を、分割数レジスターに設定される分割数に基づいて可変に制御できるようになる。

また本発明の一態様では、前記調整部は、前記検出温度が属する温度範囲を判断する温度範囲判断部と、前記温度範囲判断部による今回の期間での判断結果及び前回の期間での判断結果に基づいて、前記検出温度が属する温度範囲が変化したか否かを判断し、前記温度範囲が変化したと判断した場合に、前記第１の調整値と前記第２の調整値の間の前記補間調整値を出力する出力部と、を含んでもよい。

このようにすれば、温度範囲判断部による今回の期間での判断結果及び前回の期間での判断結果に基づいて、検出温度が属する温度範囲がどのように変化したかを適切に検出できるようになり、調整値の切り替え期間において、適正な補間調整値を出力できるようになる。

また本発明の一態様では、前記調整部は、前記温度センサーからの複数の検出温度値に基づいて、前記検出温度を求め、前記検出温度が属する温度範囲を判断してもよい。

このようにすれば、温度センサーからの検出温度値にノイズ等が乗っていた場合にも、適切な検出温度を取得して、当該検出温度が属する温度範囲を適正に判断できるようになる。

また本発明の一態様では、前記温度センサーから前記複数の検出温度値が出力される期間の長さをＴ１とし、前記補間調整値が出力される期間の長さをＴ２とした場合に、Ｔ１≧Ｔ２であってもよい。

このようにすれば、調整部の回路構成を簡素化できると共に回路設計の容易化を図れるようになる。

また本発明の一態様では、前記第１の調整値、前記第２の調整値を可変に設定するための調整値レジスターを含んでもよい。

このようにすれば、検出温度が第１の温度範囲に属する場合に出力される第１の調整値や、検出温度が第２の温度範囲に属する場合に出力される第２の調整値を、調整値レジスターを用いて可変に制御できるようになる。

また本発明の一態様では、Ｌ前記第１の温度範囲と前記第２の温度範囲の境界温値度を可変に設定するための境界温度レジスターを含んでもよい。

このようにすれば、温度範囲の切り替えが行われる境界温度値を、境界温度レジスターを用いて可変に制御できるようになる。

また本発明の一態様では、前記発振回路は、前記周波数設定値に前記調整値を加算する処理を行う加算部を含んでもよい。

このようにすれば、発振回路に設けられた加算部により、周波数設定値に調整値を加算する処理を行って、加算処理後の周波数設定値に基づいて、発振回路の発振周波数を調整できるようになる。例えば調整部が第１の電源で動作する一方で、加算部を含む発振回路が第２の電源で動作する場合に、電源投入時に第１の電源よりも早く立ち上がる第２の電源に基づいて、加算部を動作させて、発振回路の適正な発振動作を実現できるようになる。

また本発明の一態様では、前記発振回路はＣＲ発振回路であり、前記周波数設定値は、前記ＣＲ発振回路の可変抵抗回路の抵抗設定値又は可変容量回路の容量設定値であってもよい。

このようにすれば、調整部からの調整値により調整された周波数設定値を、発振回路の可変抵抗回路の抵抗設定値又は可変容量回路の容量設定値として発振回路に入力し、発振回路の発振周波数を調整して、発振周波数の温度補償を実現できるようになる。

また本発明の一態様では、前記周波数設定値出力部は、ヒューズ回路又は不揮発性メモリーにより構成されてもよい。

このようにすれば、ヒューズ回路や不揮発性メモリーにより設定された周波数設定値を、調整部からの調整値により調整できるようになる。

また本実施形態では、前記発振回路からの発振クロック信号により生成されたクロック信号に基づいて、表示パネルを駆動する駆動回路を含んでもよい。

このようにすれば、発振クロック信号の発振周波数の温度補償を行うことで、発振クロック信号により生成されたクロック信号についても温度補償を実現できるようになり、表示パネルの適正な表示動作を実現できる。

また本発明の他の態様は、上記のいずれかに記載の回路装置を含む電子機器に関係する。

本実施形態の回路装置の一例である表示ドライバー、この表示ドライバーを含む電気光学装置の構成例。 表示ドライバーの要部を示す図。 温度範囲及び各温度範囲に設定される周波数設定値の調整値の説明図。 本実施形態の動作を説明するタイミングチャート。 調整部の構成例。 発振回路の構成例。 周波数設定値出力部（ヒューズ回路）の構成例。 本実施形態の動作を説明するタイミングチャート。 本実施形態の動作を説明するタイミングチャート。 本実施形態の動作を説明するタイミングチャート。 本実施形態の動作を説明するタイミングチャート。 図１２（Ａ）、図１２（Ｂ）は本実施形態の発振周波数の調整手法の説明図。 本実施形態の電子機器の構成例。

以下、本発明の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお以下に説明する本実施形態は特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではなく、本実施形態で説明される構成の全てが本発明の解決手段として必須であるとは限らない。

１．表示ドライバー（回路装置）、電気光学装置、
図１に本実施形態の回路装置の一例である表示ドライバー及びこの表示ドライバーを含む電気光学装置の構成例を示す。表示ドライバーは表示パネル２００を駆動し、表示パネル２００は表示ドライバーにより駆動されて画像を表示する。電気光学装置は、この表示ドライバーと表示パネル２００（電気光学パネル）を含む。電気光学装置としては、例えば車載用の表示ユニット（運転補助用ディスプレイ、インパネ内のメーターディスプレイ、カーナビゲーション用ディスプレイ等）や、携帯情報端末、テレビ、プロジェクターなどに使用される表示ユニットがある。

なお以下では本実施形態の回路装置が表示ドライバーである場合を主に例にとり説明するが、本実施形態の回路装置は表示ドライバーには限定されず、発振回路を内蔵する種々の回路装置を想定できる。例えば本実施形態は、ジャイロセンサー用の検出装置、モーターの駆動装置、生体情報の検出装置、超音波測定装置、無線通信装置、ＵＳＢなどのインターフェース装置、或いはマイクロコンピューターなどの種々の回路装置に適用できる。

表示パネル２００は、例えば薄膜トランジスタ（ＴＦＴ）などのスイッチ素子を用いたアクティブマトリクス方式のＬＣＤパネル（液晶パネル）である。表示パネル２００は、複数のソース線（データ線）と、複数のゲート線（走査線）と、複数の画素を有する。そして表示パネル２００は、各画素領域における電気光学素子（液晶素子、ＥＬ素子等）の光学特性を変化させることで表示動作を実現する。なお表示パネル２００はＬＣＤパネル以外のパネル（ＥＬパネル等）であってもよい。

表示ドライバーは、制御部１０、駆動回路７０、発振回路１００、周波数設定値出力部１１０を含む。また表示ドライバーは、電源回路６０、温度センサー９０、Ｉ／Ｆ（インターフェース）部１２０を含むことができる。なお本実施形態の表示ドライバーは図１の構成に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を追加するなどの種々の変形実施が可能である。

制御部１０は各種の制御処理を行う。例えば表示ドライバーの各部の制御や表示タイミングの制御やデータ処理の制御などを行う。この制御部１０はゲートアレイ回路などのロジック回路やプロセッサー等により実現できる。

制御部１０は、調整部２０、レジスター部４０、デコード部５０、タイミング制御部５２を含む。調整部２０の詳細については後述する。レジスター部４０は、各種情報を記憶するためのレジスターを有し、例えばフリップフロップ回路やＲＡＭ等のメモリーにより実現される。デコード部５０は、例えばＩ／Ｆ部１２０を介して外部デバイス（ＭＰＵ、表示コントローラー等）から入力されたコマンドのデコード処理を行う。デコード処理により得られた各種の情報はレジスター部４０に記憶される。タイミング制御部５２は、表示パネル２００の表示動作のための各種の表示制御信号を生成する。

電源回路６０は電源電圧を生成して供給する。例えば電源回路６０は昇圧回路やレギュレーターを有し、これらの昇圧回路やレギュレーターにより生成された電源電圧を表示ドライバーの各部に供給する。例えば電源回路６０は駆動電源電圧を生成して駆動回路７０に供給する。また内部ロジック回路用電源を生成して制御部１０に供給する。また電源回路６０は基準電源電圧等も生成する。

駆動回路７０は表示パネル２００を駆動する。具体的には電源回路６０から供給された駆動電源電圧に基づいて表示パネル２００のソース線等を駆動する。この駆動回路７０は、例えばソースドライバー７２、ゲートドライバー７４、Ｄ／Ａ変換回路７６、階調電圧生成回路７８を有する。なお駆動回路７０にゲートドライバー７４等を設けない変形実施も可能である。

ソースドライバー７２は表示パネル２００のソース線を駆動する。例えば画像データ（表示データ）に基づくソース電圧（データ電圧）を供給してソース線（データ線）を駆動する。ゲートドライバー７４は表示パネル２００のゲート線を駆動する。例えばゲート線（走査線）を順次選択するための選択電圧を供給してゲート線を駆動する。階調電圧生成回路７８（ガンマー回路）は複数の階調電圧（例えば２５６階調）を生成する。Ｄ／Ａ変換回路７６は、制御部１０からの画像データに基づいて、階調電圧生成回路７８により生成された複数の階調電圧の中から電圧を選択し、選択した電圧をソース電圧としてソースドライバー７２に供給する。

温度センサー９０は温度検出を行う。例えば温度センサー９０は検出温度（環境温度）に応じた検出温度値を出力する。例えば温度センサー９０が有する温度検出回路が、温度勾配を持つアナログの検出温度電圧を出力し、温度センサー９０が有するＡ／Ｄ変換回路がこのアナログの検出温度電圧をデジタルの検出温度値にＡ／Ｄ変換して、制御部１０に出力する。

発振回路１００は発振動作を行って発振クロック信号ＯＳＣＬＫを生成する。制御部１０等はこの発振クロック信号ＯＳＣＬＫに基づくクロック信号により動作する。また駆動回路７０は、発振回路１００からの発振クロック信号ＯＳＣＬＫにより生成されたクロック信号（駆動クロック信号）に基づいて、表示パネル２００を駆動する。発振回路１００は例えば抵抗とキャパシターを有するＣＲ発振回路などにより実現できる。

周波数設定値出力部１１０は、発振回路１００の発振周波数を設定するための周波数設定値ＦＲＳＴを出力する。周波数設定値出力部１１０の詳細については後述する。

Ｉ／Ｆ部１２０は外部デバイス（ＭＰＵ、表示コントローラー等）とのインターフェース処理を行う。このＩ／Ｆ部１２０は、例えばＭＰＵインターフェース回路（ホストインターフェース回路）やＲＧＢインターフェース回路を含む。

２．周波数設定値の調整
図１の表示ドライバーでは、その製造時において、周波数設定値出力部１１０を用いて、発振回路１００の発振周波数を、仕様で規定される周波数に設定する。周波数設定値出力部１１０がヒューズ回路で構成される場合を例にとれば、発振回路１００の発振クロック信号ＯＳＣＬＫの発振周波数をモニターする。そして発振周波数が、所望の仕様周波数（例えば１ＭＨｚ）に一致するように、複数のヒューズ素子のうちの対応するヒューズ素子を溶断する。そして、ヒューズ素子の溶断後に周波数設定値出力部１１０から出力される周波数設定値ＦＲＳＴに基づいて、実動作時における発振回路１００の発振周波数を設定する。例えば発振回路１００に可変抵抗回路を設け、発振周波数が仕様周波数になるように、可変抵抗回路の抵抗値を、周波数設定値により設定する。

このようにすることで、表示ドライバーの実動作時において、発振回路１００は、周波数設定値ＦＲＳＴにより設定された発振周波数の発振クロック信号ＯＳＣＬＫを出力するようになる。そして駆動回路７０は、発振回路１００からの発振クロック信号ＯＳＣＬＫにより生成されたクロック信号（駆動クロック信号、垂直同期信号、水平同期信号等）に基づいて、表示パネル２００を駆動する。

しかしながら、発振回路１００の発振周波数には温度依存性がある。発振回路１００がＣＲ発振回路である場合を例にとれば、温度変動により、発振周波数には例えば±１０％程度の周波数変動が生じるおそれがある。このように発振周波数が変動すると、表示パネル２００の表示動作のフレーム周波数や駆動周波数も変動してしまい、表示に不具合が発生するおそれがある。特に、車載用機器に搭載される表示ドライバーでは、例えば−４０度〜１２０度というような広い温度範囲において、表示ドライバーの適正な動作を保証する必要がある。従って、温度変動により発振周波数が変動してしまうと、このような広い温度範囲での動作保証を実現できなくなるおそれがある。また、温度が変動した場合に、温度変動に応じて発振周波数を単に切り換える手法も考えられるが、発振周波数を切り換える温度の境界付近で温度が変動すると、その影響が表示に見えてしまうという問題がある。

このような問題を解決するために本実施形態では、周波数設定値出力部１１０により初期設定された周波数設定値ＦＲＳＴを、温度センサー９０による検出温度により得られた調整値ＯＳＡＪで調整することで、発振周波数の温度補償を実現する手法を採用する。また、検出温度が属する温度範囲が切り替わった際に、発振周波数の調整値を段階的に変化させる手法を採用する。

このような手法を実現するために、本実施形態の表示ドライバー（広義には回路装置）は、発振回路１００と、発振回路１００の発振周波数の周波数設定値ＦＲＳＴを出力する周波数設定値出力部１１０と、温度センサー９０を用いて求められた検出温度に基づいて、周波数設定値ＦＲＳＴの調整値ＯＳＡＪを出力して、発振周波数の温度補償を行う調整部２０を含む。

そして調整部２０は、検出温度が第１の温度範囲に属する場合には、周波数設定値ＦＲＳＴの調整値ＯＳＡＪとして、第１の温度範囲に対応する第１の調整値を出力する。一方、検出温度が第２の温度範囲に属する場合には、周波数設定値ＦＲＳＴの調整値ＯＳＡＪとして、第２の温度範囲に対応する第２の調整値を出力する。ここで、例えば第１の温度範囲と第２の温度範囲は境界温度値を境界として隣合う温度範囲である。また第１、第２の調整値は、例えば第１、第２の温度範囲に対応づけられてレジスター部４０に記憶される。

これにより、検出温度が第１の温度範囲に属する場合には、周波数設定値ＦＲＳＴが第１の調整値により調整され、第１の調整値による調整後の周波数設定値ＦＲＳＴにより、発振回路１００の発振周波数が設定されるようになる。一方、検出温度が第２の温度範囲に属する場合には、周波数設定値ＦＲＳＴが第２の調整値により調整され、第２の調整値による調整後の周波数設定値ＦＲＳＴにより、発振回路１００の発振周波数が設定されるようになる。

例えば温度の上昇により発振回路１００の発振周波数が減少する場合を想定する。また第２の温度範囲は第１の温度範囲よりも高い温度の範囲であるとする。この場合に第２の温度範囲に対応する第２の調整値は、第１の温度範囲に対応する第１の調整値に比べて、発振回路１００の発振周波数を増加させる方向の調整値となる。例えば、検出温度が属する温度範囲が第１の温度範囲から第２の温度範囲に切り替わり、周波数設定値ＦＲＳＴの調整値が第１の調整値から第２の調整値に切り替わったとする。すると、温度上昇により減少しようとする発振周波数が、第２の調整値により調整された周波数設定値ＦＲＳＴにより、周波数が増加する方向に調整されるようになる。この結果、温度上昇による発振周波数の減少が低減（相殺）されて、発振周波数の温度補償が実現される。

また調整部２０は、検出温度が属する温度範囲が第１の温度範囲から第２の温度範囲に切り替わった場合に、周波数設定値ＦＲＳＴの調整値ＯＳＡＪとして、第１の調整値と第２の調整値の間の補間調整値を出力する。なお調整部２０は、検出温度が属する温度範囲が第２の温度範囲から第１の温度範囲に切り替わった場合にも、周波数設定値ＦＲＳＴの調整値ＯＳＡＪとして、第１の調整値と第２の調整値の間の補間調整値を出力する。

具体的には調整部２０は、検出温度が属する温度範囲（温度領域）が第１の温度範囲から第２の温度範囲に切り替わった場合に、周波数設定値ＦＲＳＴの調整値ＯＳＡＪとして第１の調整値と第２の調整値の間を所与の分割数で補間した複数の補間調整値を出力する。例えば調整部２０は、検出温度の温度範囲が切り替わった場合に、その切り替え期間において、第１の調整値から第２の調整値へと段階的に変化する値を、補間調整値として出力する。そして発振回路１００は、この切り替え期間において、第１の調整値から第２の調整値に段階的に変化する補間調整値により調整された周波数設定値ＦＲＳＴにより、その発振周波数が設定されて、発振クロック信号ＯＳＣＬＫを生成する。なお調整部２０は、検出温度が属する温度範囲が第２の温度範囲から第１の温度範囲に切り替わった場合には、その切り替え期間において、第２の調整値から第１の調整値へと段階的に変化する値を、補間調整値として出力する。そして発振回路１００は、この切り替え期間において、第２の調整値から第１の調整値に段階的に変化する補間調整値により調整された周波数設定値ＦＲＳＴにより、その発振周波数が設定されて、発振クロック信号ＯＳＣＬＫを生成する。ここで、第１の調整値をＡＪ１、第２の調整値をＡＪ２、補間調整値をＡＪＩＰとすると、ＡＪ１＜ＡＪＩＰ＜ＡＪ２（或いはＡＪ１＞ＡＪＩＰ＞ＡＪ２）の関係が成り立つ。

このような構成の本実施形態の表示ドライバー（回路装置）によれば、検出温度が属する温度範囲が切り替わった際に、調整値が段階的に変化するようになるため、切り替えの瞬間が表示に見えにくくなり、画質の向上を実現できる。また、調整値の切り替えの境界付近で検出温度が不安定であった場合にも、表示のチラツキ等を十分に抑えることが可能になる。

図２は本実施形態の表示ドライバー（回路装置）の要部を示す図である。温度センサー９０は温度検出回路９２とＡ／Ｄ変換回路９４を有する。温度検出回路９２は、アナログの検出温度電圧ＴＱを出力する。この検出温度電圧ＴＱは温度勾配を有するアナログ電圧である。温度検出回路９２からのアナログの検出温度電圧ＴＱはＡ／Ｄ変換回路９４によりＡ／Ｄ変換される。これにより、温度センサー９０はデジタル値の検出温度値ＴＡＤを出力する。また温度センサー９０はストローブ信号ＳＴＢを出力する。

なお温度センサー９０の実現構成としては種々の構成が考えられる。例えば温度センサー９０の温度検出回路９２は、温度勾配を有する基準電圧を生成する基準電圧生成回路と、ラダー抵抗を有し基準電圧から分割電圧を生成するヒューズ回路と、分割電圧に基づいて、アナログの検出温度電圧を生成する電圧発生回路などにより実現できる。また温度センサー９０をサーミスター等の温度検出素子を用いて実現してもよい。

Ｉ／Ｆ部１２０は外部デバイス（ＭＰＵ、表示コントローラー等）が発行したコマンドを受け付ける。デコード部５０は受け付けられたコマンドのデコード処理を行い、デコード結果をレジスター部４０に書き込む。

レジスター部４０は、調整値レジスター４１、境界温度レジスター４４、分割数レジスター４６を有する。

調整値レジスター４１は、各温度範囲に対応づけられる、周波数設定値ＦＲＳＴの調整値を記憶する。境界温度レジスター４４は温度範囲の境界温度値を記憶する。

例えば上述のように調整部２０は、検出温度が第１の温度範囲に属する場合には、周波数設定値ＦＲＳＴの調整値ＯＳＡＪとして、第１の調整値を出力し、検出温度が第２の温度範囲に属する場合には、周波数設定値ＦＲＳＴの調整値ＯＳＡＪとして、第２の調整値を出力する。この場合に第１の調整値は第１の温度範囲に対応づけて設定される調整値であり、第２の調整値は第２の温度範囲に対応づけて設定される調整値である。

そして調整値レジスター４１は、これらの第１、第２の調整値を可変に設定するためのレジスターである。例えば外部デバイスは、第１、第２の調整値を設定するためのコマンドを発行し、デコード部５０がこのコマンドのデコード処理を行う。そして、デコード結果により得られた第１、第２の調整値が調整値レジスター４１に書き込まれる。

また境界温度レジスター４４は、第１の温度範囲と第２の温度範囲の境界温度値を可変に設定するためのレジスターである。例えば外部デバイスは、温度範囲の境界温度値を設定するためのコマンドを発行し、デコード部５０がこのコマンドのデコード処理を行う。そしてデコード結果により得られた境界温度値が境界温度レジスター４４に書き込まれる。

また上述のように、調整部２０は、第１の調整値と第２の調整値の間を所与の分割数（刻み回数）で補間した複数の補間調整値を出力する。この場合に分割数レジスター４６はこの補間の際の分割数を可変に設定するためのレジスターである。例えば外部デバイスは、調整値の補間の分割数を設定するためのコマンドを発行し、デコード部５０がこのコマンドのデコード処理を行う。そしてデコード結果により得られた分割数が分割数レジスター４６に書き込まれる。

調整部２０は、温度センサー９０から検出温度値ＴＡＤとストローブ信号ＳＴＢを受ける。また、第１〜第３の温度範囲に対応づけられた第１〜第３の調整値ＡＪ１〜ＡＪ３を調整値レジスター４１から読み出す。また、第１の温度範囲と第２の温度範囲の境界温度値ＴＢＬや、第２の温度範囲と第３の温度範囲の境界温度値ＴＢＨを、境界温度レジスター４４から読み出す。また調整値の補間の分割数ＤＶＮを分割数レジスター４６から読み出す。

そして調整部２０は、検出温度値ＴＡＤにより求められた検出温度が属する温度範囲が第１の温度範囲である場合には、第１の調整値ＡＪ１を調整値レジスター４１から読み出す。一方、検出温度が属する温度範囲が第２の温度範囲である場合には、第２の調整値ＡＪ２を調整値レジスター４１から読み出す。検出温度が属する温度範囲が第１の温度範囲である場合には、この第１の調整値ＡＪ１が調整部２０から出力され、検出温度が属する温度範囲が第２の温度範囲である場合には、この第２の調整値ＡＪ２が調整部２０から出力されることになる。

更に調整部２０は、検出温度値ＴＡＤにより求められた検出温度が属する温度範囲が第１の温度範囲から第２の温度範囲に切り替わった場合に、第１の調整値ＡＪ１と第２の調整値ＡＪ２の間を分割数ＤＶＮで補間した複数の調整値ＯＳＡＪを出力する。検出温度が属する温度範囲が第２の温度範囲から第１の温度範囲に切り替わった場合も、第１の調整値ＡＪ１と第２の調整値ＡＪ２の間を分割数ＤＶＮで補間した複数の調整値ＯＳＡＪを出力する。

また調整部２０は、検出温度が属する温度範囲が第３の温度範囲である場合には、第３の調整値ＡＪ３を調整値レジスター４１から読み出す。検出温度が属する温度範囲が第３の温度範囲である場合には、この第３の調整値ＡＪ３が調整部２０から出力されることになる。そして調整部２０は、検出温度が属する温度範囲が第２の温度範囲から第３の温度範囲に切り替わった場合に、第２の調整値ＡＪ２と第３の調整値ＡＪ３の間を分割数ＤＶＮで補間した複数の調整値ＯＳＡＪを出力する。検出温度が属する温度範囲が第３の温度範囲から第２の温度範囲に切り替わった場合も、第２の調整値ＡＪ２と第３の調整値ＡＪ３の間を分割数ＤＶＮで補間した複数の調整値ＯＳＡＪを出力する。

周波数設定値出力部１１０は、発振回路１００の発振周波数の周波数設定値ＦＲＳＴを出力する。この周波数設定値出力部１１０は、ヒューズ回路、或いは不揮発性メモリー等により構成できる。不揮発性メモリーとしては、ＥＰＲＯＭ（Erasable Programmable ROM）やＯＴＰ（One Time Programmable ROM）などを採用できる。

例えば表示ドライバーの製造時に、発振クロック信号ＯＳＣＬＫの発振周波数がモニターされる。そして、発振クロック信号ＯＳＣＬＫの発振周波数が、仕様で規定される仕様周波数になるように、周波数設定値ＦＲＳＴが設定される。周波数設定値出力部１１０がヒューズ回路により構成される場合には、当該ヒューズ回路が、発振周波数を仕様周波数に設定する周波数設定値ＦＲＳＴを出力するように、表示ドライバーの製造に、ヒューズ素子の溶断が行われる。周波数設定値出力部１１０が不揮発性メモリーにより構成される場合には、発振周波数を仕様周波数に設定する周波数設定値ＦＲＳＴが、不揮発性メモリーに書き込まれる。

発振回路１００は、周波数設定値出力部１１０からの周波数設定値ＦＲＳＴと調整部２０から調整値ＯＳＡＪを受ける。そして、調整値ＯＳＡＪにより調整された周波数設定値ＦＲＳＴにより発振周波数が設定された発振動作を行って、発振クロック信号ＯＳＣＬＫを出力する。

例えば発振回路１００がＣＲ発振回路である場合には、周波数設定値ＦＲＳＴは、ＣＲ発振回路の可変抵抗回路の抵抗設定値（抵抗値の設定値）である。この場合には、周波数設定値ＦＲＳＴである抵抗設定値が、調整値ＯＳＡＪにより調整される。例えば、低い温度範囲では、可変抵抗回路の抵抗値が高くなるように、抵抗設定値（ＦＲＳＴ）が調整値ＯＳＡＪにより調整される。一方、高い温度範囲では、可変抵抗回路の抵抗値が低くなるように、抵抗設定値（ＦＲＳＴ）が調整値ＯＳＡＪにより調整される。このようにすれば、低い温度範囲から高い温度範囲に切り替わると、可変抵抗回路の抵抗値が高い抵抗値から低い抵抗値に切り替わるようになる。従って、温度上昇に対して例えば負の特性となる発振周波数の温度特性を補償できるようになる。

また周波数設定値ＦＲＳＴは、ＣＲ発振回路の可変容量回路の容量設定値（容量値の設定値）であってもよい。この場合には、周波数設定値ＦＲＳＴである容量設定値が、調整値ＯＳＡＪにより調整される。例えば、低い温度範囲では、容量値が大きくなるように、容量設定値（ＦＲＳＴ）が調整値ＯＳＡＪにより調整される。一方、高い温度範囲では、容量値が小さくなるように、容量設定値（ＦＲＳＴ）が調整値ＯＳＡＪにより調整される。このようにすれば、低い温度範囲から高い温度範囲に切り替わると、可変容量回路の容量値が大きな容量値から小さな容量値に切り替わるようになる。従って、温度上昇に対して例えば負の特性となる発振周波数の温度特性を補償できるようになる。なお発振回路１００としてＣＲ発振回路以外の回路（例えば水晶振動子の発振回路等）を用いることも可能である。

図３に、第１〜第３の温度範囲に設定される第１〜第３の調整値ＡＪ１〜ＡＪ３や、温度範囲の境界温度値ＴＢＬ、ＴＢＨの例を示す。

図３では第１、第２、第３の温度範囲は、各々、低温範囲、室温範囲、高温範囲となっている。そして低温範囲には調整値ＡＪ１＝−３ｈが設定され、室温範囲には調整値ＡＪ２＝０ｈが設定され、高温範囲には調整値ＡＪ３＝＋３ｈが設定されている。これらの調整値ＡＪ１〜ＡＪ３は調整値レジスター４１に設定される。また低温範囲と室温範囲の境界温度値はＴＢＬ＝１０ｈに設定され、室温範囲と高温範囲の境界温度値はＴＢＨ＝４０ｈに設定されている。これらの境界温度値ＴＢＬ、ＴＢＨは境界温度レジスター４４に設定される。本実施形態では、このように低温範囲、室温範囲、高温範囲及びそれに対応する調整値ＡＪ１、ＡＪ２、ＡＪ３を設定することで、例えば−４０度〜１２０度というような広い温度範囲での表示ドライバーの適正な動作を実現している。なお図３では３つの温度範囲を設定する場合について説明したが、温度範囲は２つであってもよいし、４つ以上であってもよい。

図４は本実施形態の詳細な動作を説明するタイミングチャートである。

まず温度センサー９０の動作をオンにするコマンドＴＳＥＮＯＮと、表示パネル２００の表示をオンにするコマンドＤＩＳＯＮが、例えば外部デバイスにより発行される。これにより同期信号ＶＳＹＮＣが１フレームごとにアクティブになり、表示パネル２００の表示動作が開始する。また温度センサー９０の動作がオンになり、検出温度値ＴＡＤが温度センサー９０から出力される。

図４のＡ１に示すように、初回は１フレーム（ＶＳＹＮＣ）ごとに温度センサー９０からの検出温度値ＴＡＤがサンプリングされて計測される。またＡ２〜Ａ６に示すように、２回目以降は、６４フレーム（約１秒）に１回ずつ検出温度値ＴＡＤがサンプリングされて計測される。ここでＡ２（及びＡ３〜Ａ６）は後述する検出温度ＴＤＴの検出期間であり、本実施形態においては、他の動作期間及びタイミング等はＡ２に基づき設定される。

そして本実施形態では、温度センサー９０からの複数の検出温度値ＴＡＤに基づいて、検出温度ＴＤＴが求められ、検出温度ＴＤＴが属する温度範囲が判断される。例えば図４では５個の検出温度値ＴＡＤに基づいて検出温度ＴＤＴが求められている。具体的には、５個の検出温度値ＴＡＤの中央値が検出温度ＴＤＴとして求められる。

例えば図４のＡ１に示すようにサンプリングされた５個の検出温度値ＴＡＤに基づいて、Ｂ１に示す検出温度ＴＤＴ＝０Ｃｈが求められている。この検出温度ＴＤＴ＝０Ｃｈは、Ａ１に示す５個の検出温度値ＴＡＤの中央値である。またＡ２に示す５個の検出温度値ＴＡＤに基づいて、Ｂ２に示すように検出温度ＴＤＴ＝０Ｆｈが求められている。この検出温度ＴＤＴ＝０Ｆｈは、Ａ２に示す５個の検出温度値ＴＡＤの中央値である。同様にＡ３、Ａ４、Ａ５に示す５個の検出温度値ＴＡＤに基づいて、Ｂ３、Ｂ４、Ｂ５に示すように検出温度ＴＤＴ＝１Ｆｈ、２Ｆｈ、４Ｆｈが求められている。このように複数の検出温度値ＴＡＤの中央値を検出温度ＴＤＴとして求めれば、検出温度値ＴＡＤにノイズ等が乗って温度が誤検出されてしまう事態を抑制できる。なお複数の検出温度値ＴＡＤの平均化処理等を行って検出温度ＴＤＴを求めてもよい。

図４のＢ１で求められた検出温度ＴＤＴ＝０Ｃｈについては、０ｈ＜０Ｃｈ＜１０ｈの関係が成り立つ。従って、この検出温度ＴＤＴ＝０Ｃｈは図３の低温範囲（広義には第１の温度範囲）に属していると判断される。Ｂ２に示す検出温度ＴＤＴ＝０Ｆｈについても、０ｈ＜０Ｆｈ＜１０ｈの関係が成り立つ。従って、この検出温度ＴＤＴ＝０Ｆｈも低温範囲に属していると判断される。

そして図３に示すように低温範囲に対しては調整値ＡＪ１＝−３ｈが設定されている。従って、調整部２０は、検出温度ＴＤＴが低温範囲に属している場合には、Ｃ１に示すようにＯＳＡＪ＝ＡＪ１＝−３ｈの調整値を出力する。

また、周波数設定値出力部１１０は、周波数設定値の初期値としてＦＲＳＴ＝１０ｈを出力している。例えば周波数設定値出力部１１０がヒューズ回路により構成される場合には、表示ドライバーの製造時においてヒューズ素子が溶断されることで、周波数設定値出力部１１０は、周波数設定値の初期値としてＦＲＳＴ＝１０ｈを出力する。

そして周波数設定値出力部１１０からのＦＲＳＴ＝１０ｈが、調整部２０からの調整値ＯＳＡＪ＝−３ｈにより調整される。この調整は、発振回路１００に設けられた後述する加算部などにより行われる。そして調整後の周波数設定値である実設定値ＡＪＳＴは、Ｃ５に示すようにＡＪＳＴ＝ＦＲＳＴ＋ＯＳＡＪ＝１０ｈ−３ｈ＝０Ｄｈになり、この実設定値ＡＪＳＴ＝０Ｄｈにより発振回路１００の発振周波数が設定される。例えば発振回路１００が可変抵抗回路を有する場合には、この実設定値ＡＪＳＴ＝０Ｄｈが抵抗設定値となって、可変抵抗回路の抵抗値が設定される。

一方、Ｂ３に示す検出温度ＴＤＴ＝１Ｆｈについては、１０ｈ＜１Ｆｈ＜４０ｈの関係が成り立つ。従って、この検出温度ＴＤＴ＝１Ｆｈは、図３の室温範囲（広義には第２の温度範囲）に属していると判断される。Ｂ４に示す検出温度ＴＤＴ＝２Ｆｈについても、１０ｈ＜２Ｆｈ＜４０ｈの関係が成り立つ。従って、この検出温度ＴＤＴ＝２Ｆｈも室温範囲に属していると判断される。

そして図３に示すように室温範囲に対しては調整値ＡＪ２＝０ｈが設定されている。従って、調整部２０は、検出温度ＴＤＴが室温範囲に属している場合には、Ｃ２に示すようにＯＳＡＪ＝ＡＪ２＝０ｈの調整値を出力する。

そして前述したように周波数設定値出力部１１０からは周波数設定値の初期値としてＦＲＳＴ＝１０ｈが出力されている。このＦＲＳＴ＝１０ｈが、調整部２０からの調整値ＯＳＡＪ＝０ｈにより調整される。従って、調整後の周波数設定値である実設定値ＡＪＳＴは、Ｃ６に示すようにＡＪＳＴ＝ＦＲＳＴ＋ＯＳＡＪ＝１０ｈ＋０ｈ＝１０ｈになる。この実設定値ＡＪＳＴ＝１０ｈにより発振回路１００の発振周波数が設定される。例えば発振回路１００が可変抵抗回路を有する場合には、この実設定値ＡＪＳＴ＝１０ｈが抵抗設定値となって、可変抵抗回路の抵抗値が設定される。

このように本実施形態では調整部２０は、検出温度ＴＤＴが低温範囲（第１の温度範囲）に属する場合には、調整値ＯＳＡＪとし、低温範囲に対応づけられた調整値ＡＪ１＝−３ｈ（第１の調整値）を出力する。これにより、周波数設定値ＦＲＳＴ＝１０ｈが調整値ＡＪ１＝−３ｈにより調整されて、調整後の実設定値ＡＪＳＴ＝０Ｄｈにより発振回路１００の発振周波数が設定される。一方、調整部２０は、検出温度ＴＤＴが室温範囲（第２の温度範囲）に属する場合には、調整値ＯＳＡＪとし、室温範囲に対応づけられた調整値ＡＪ２＝０ｈ（第２の調整値）を出力する。これにより、周波数設定値ＦＲＳＴ＝１０ｈが調整値ＡＪ２＝０ｈにより調整されて（この場合には調整により周波数設定値は変化しない）、調整後の実設定値ＡＪＳＴ＝１０ｈにより発振回路１００の発振周波数が設定される。

そして図４のＢ２、Ｂ３では、検出温度ＴＤＴが属する温度範囲が低温範囲（第１の温度範囲）から室温範囲（第２の温度範囲）に切り替わっている。この場合に本実施形態では、Ｃ３に示すように、調整部２０は補間調整値ＯＳＡＪ＝−２ｈ、−１ｈを出力する。即ち、調整値ＯＳＡＪ＝ＡＪ１＝−３ｈと、調整値ＯＳＡＪ＝ＡＪ２＝０ｈを、図２の分割数レジスター４６に設定された分割数ＤＶＮ＝３で補間した複数の補間調整値ＯＳＡＪ＝−２ｈ、−１ｈを出力する。即ち、調整値ＯＳＡＪ＝ＡＪ１とＯＳＡＪ＝ＡＪ２との差を分割数ＤＶＮの分だけ刻んだ補間調整値を出力する。本実施形態では、補間調整値を出力するタイミングは検出温度値ＴＡＤのサンプリングタイミングに合致させている。

また図４のＢ４、Ｂ５では、検出温度ＴＤＴが属する温度範囲が室温範囲から高温範囲に切り替わっている。この場合に調整部２０は、Ｃ４に示すように補間調整値ＯＳＡＪ＝＋１ｈ、＋２ｈを出力する。即ち、調整値ＯＳＡＪ＝ＡＪ２＝０ｈと、調整値ＯＳＡＪ＝ＡＪ３＝＋３ｈを、分割数ＤＶＮ＝３で補間した複数の補間調整値ＯＳＡＪ＝＋１ｈ、＋２ｈを出力する。即ち、調整値ＯＳＡＪ＝ＡＪ２とＯＳＡＪ＝ＡＪ３との差を分割数ＤＶＮの分だけ刻んだ補間調整値を出力する。

以上のように本実施形態によれば、検出温度が、各温度範囲（低温範囲、室温範囲、高温範囲）内に入っている間は、調整値ＯＳＡＪは、各温度範囲に設定された調整値（ＡＪ１〜ＡＪ３）から変化せず、発振周波数の実設定値ＡＪＳＴも変化しないため、発振周波数も変化しないようになる。従って、不必要に調整値ＯＳＡＪが変化することで、発振周波数が変化して、フレーム周波数や駆動周波数等が変化することで、表示パネル２００の表示が不必要に変化してしまう事態を抑制できる。これにより表示パネル２００の安定した画像表示が可能になる。

また、このような温度範囲を設定した場合、温度範囲の切り替えが生じると、調整値ＯＳＡＪが大きく変化することで、発振周波数が大きく変化し、フレーム周波数や駆動周波数等が大きく変化することで、切り替えの瞬間が表示に見えてしまうおそれがある。

この点、本実施形態では、温度範囲の切り替え期間においては、図４のＣ３、Ｃ４に示すように調整値ＯＳＡＪが段階的に変化し、Ｃ７、Ｃ８に示すように発振周波数の実設定値ＡＪＳＴも段階的に変化する。例えば低温範囲から室温範囲への切り替え期間では、Ｃ３に示すように調整値ＯＳＡＪが−３ｈ、−２ｈ、−１ｈ、０ｈというように段階的に徐々に変化し、Ｃ７に示すように発振周波数の実設定値ＡＪＳＴも０Ｄｈ、０Ｅｈ、０Ｆｈ、１０ｈというように段階的に徐々に変化する。また室温範囲から高温範囲への切り替え期間では、Ｃ４に示すように調整値ＯＳＡＪが０ｈ、＋１ｈ、＋２ｈ、＋３ｈというように段階的に徐々に変化し、Ｃ８に示すように発振周波数の実設定値ＡＪＳＴも１０ｈ、１１ｈ、１２ｈ、１３ｈというように段階的に徐々に変化する。従って、発振周波数やフレーム周波数や駆動周波数等も段階的に徐々に変化するようになり、切り替えの瞬間が表示として見えてしまう事態を抑制できる。

また例えば、検出温度が、温度範囲の境界温度（図３のＴＢＬ、ＴＢＨ）の付近において不安定に変化した場合に、調整値ＯＳＡＪが頻繁に切り替わることで、発振周波数が頻繁に切り替わってしまう。これにより、発振クロック信号ＯＳＣＬＫに基づき設定されるフレーム周波数や駆動周波数が頻繁に切り替わってしまい、表示にチラツキ等が生じるおそれがある。

この点、本実施形態では、図４のＣ３、Ｃ４に示すように、温度範囲の境界付近では調整値ＯＳＡＪは段階的に徐々に変化する。従って、後述の図１２（Ａ）、図１２（Ｂ）で詳細に説明するように、検出温度が、温度範囲の境界温度の付近において不安定に変化した場合にも、表示のチラツキ等を十分に抑えることが可能になる。

また本実施形態では、各温度範囲に設定される調整値ＡＪ１〜ＡＪ３や、温度範囲の境界温度値ＴＢＬ、ＴＢＨや、調整値の補間の際の分割数ＤＶＮについては、各レジスターに設定される。従って、これらの調整値ＡＪ１〜ＡＪ３や境界温度値ＴＢＬ、ＴＢＨや分割数ＤＶＮを、ユーザーの仕様等に応じて可変に設定できるようになる。この結果、様々なユーザーの要望に対応できるようになり、ユーザーの利便性等を向上できる。

また本実施形態では、温度センサー９０からの複数の検出温度値ＴＡＤに基づいて、検出温度ＴＤＴが求められ、この検出温度ＴＤＴが属する温度範囲が判断される。従って、検出温度値ＴＡＤにノイズ等が乗り、誤った検出温度ＴＤＴが測定され、調整値が予期しない変化をして、正常ではないフレーム周波数や駆動周波数等で表示パネル２００が駆動されてしまう事態を抑制できる。例えば複数の検出温度値の中央値を検出温度として求めれば、温度センサー９０からの複数の検出温度値の中に、ノイズ等によって生じた異常値が存在した場合にも、検出温度には、この異常値は反映されないようになる。従って、温度センサー９０の検出温度値として異常値が出力された場合にも、この異常値が表示パネル２００の表示に悪影響を及ぼす事態を効果的に抑制できる。

また図４において、温度センサー９０から複数の検出温度値ＴＡＤが出力される期間の長さをＴ１とし、補間調整値が出力される期間の長さをＴ２としたとする。例えば、このＴ１は、図４のＡ４に示すように５個の検出温度値が温度センサー９０から出力されてサンプリングされる期間の長さである。またＴ２は、Ｃ３に示すように、補間調整値−２ｈ、−１ｈが出力される期間の長さであり、調整値の切り替え期間の長さである。この場合に本実施形態では、例えばＴ１≧Ｔ２の関係が成り立つ。例えば図４のＡ４、Ｃ３ではＴ１＞Ｔ２の関係が成り立っている。

このようにすれば、検出温度値のサンプリング期間（Ｔ１）内に、調整値の切り替え期間（Ｔ２）を収めることができる。従って、切り替え期間が長くなって、次の検出温度値のサンプリング期間まで延びてしまう事態を防止できる。これにより、切り替え期間が次のサンプリング期間まで延びてしまう事態を想定しなくても済むようになるため、調整部２０の回路構成を簡素化できると共に回路設計の容易化を図れる。

なお本実施形態では分割数ＤＶＮ＝３を用いてＴ１＞Ｔ２の関係が成り立つように設定した。これは、検出温度ＴＤＴの検出期間（即ち図４のＡ２）での検出温度値ＴＡＤのサンプリング回数である５よりも少ない数を、分割数ＤＶＮとして設定したことによる。

３．詳細な構成例
次に本実施形態の詳細な構成例及び動作について説明する。図５は調整部２０の詳細な構成例を示す図である。なお本実施形態の調整部２０は図５の構成に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を追加するなどの種々の変形実施が可能である。

調整部２０は、温度範囲判断部２４、出力部２６を含む。またラッチ部２２を含むことができる。

ラッチ部２２は、ストローブ信号ＳＴＢ、同期信号ＶＳＹＮＣを受ける。そして、これらの信号に基づくラッチ信号により、温度センサー９０からの検出温度値ＴＡＤをラッチする。そしてラッチ部２２は、今回（今回のサンプリング期間）の検出温度を示す信号ＴＤＴＣＵＲと、前回（前回のサンプリング期間）の検出温度を示す信号ＴＤＴＢＦＲを、温度範囲判断部２４に出力する。

温度範囲判断部２４は、検出温度が属する温度範囲を判断する。そして出力部２６は、温度範囲判断部２４による前回の期間での判断結果と今回の期間での判断結果に基づいて、検出温度が属する温度範囲が変化したか否かを判断する。例えば前回の期間での判断結果と今回の期間での判断結果の比較処理等を行うことで、検出温度が属する温度範囲が変化したか否かを判断する。そして出力部２６は、検出温度が属する温度範囲が変化したとの判断した場合に、第１の調整値と第２の調整値の間の補間調整値を出力する。即ち図４のＣ３、Ｃ４に示すような補間調整値を、温度範囲（調整値）の切り替え期間において出力する。

具体的には、温度範囲判断部２４は、ラッチ部２２からの検出温度信号ＴＤＴＣＵＲ、ＴＤＴＢＦＲを受ける。また境界レジスター４４からの境界温度値ＴＢＬ、ＴＢＨを受ける。そして温度範囲判断部２４は、検出温度が属する温度範囲の判断処理等を行い、ストローブ信号ＳＴＢ６４Ｆ、ＳＴＢＭＰを、出力部２６に出力する。ここでＳＴＢ６４Ｆは６４フレーム（約１秒）に１回ずつアクティブになるストローブ信号である。また温度範囲判断部２４は、今回の検出温度が属する温度範囲を示すフラグ信号ＦＬＣＵＲ１〜ＦＬＣＵＲ３と、前回の検出温度が属する温度範囲を示すフラグ信号ＦＬＢＦＲ１〜ＦＬＢＦＲ３を、出力部２６に出力する。

出力部２６は、温度範囲判断部２４からの温度範囲のフラグ信号ＦＬＣＵＲ１〜ＦＬＣＵＲ３、ＦＬＢＦＲ１〜ＦＬＢＦＲ３を受ける。また分割数レジスター４６からの分割数ＤＶＮと、調整値レジスター４１からの調整値ＡＪ１〜ＡＪ３を受ける。そして出力部２６は、これらの信号やレジスター値に基づいて演算処理を行い、調整値の切り替え期間におけるカウント値信号（後述するＣＮＴ）と、切り替え期間における調整値の変化幅信号（後述するＭＶ）を生成して、これらの信号を用いて調整値ＯＳＡＪを生成して、発振回路１００に出力する。

発振回路１００は、加算部１０２、可変抵抗回路１０４を含む。加算部１０２は、周波数設定値出力部１１０からの周波数設定値ＦＲＳＴと、調整部２０からの調整値ＯＳＡＪを受ける。そして加算部１０２は、周波数設定値ＦＲＳＴに調整値ＯＳＡＪを加算する処理を行って、調整後の周波数設定値である実設定値ＡＪＳＴを求める。例えば温度範囲の切り替わり期間では、図４のＣ３、Ｃ４、Ｃ７、Ｃ８で説明したように、周波数設定値ＦＲＳＴ（１０ｈ）に調整値ＯＳＡＪ（−２ｈ、−１ｈ或いは＋１ｈ、＋２ｈ）を加算する処理を行って、実設定値ＡＪＳＴ（０Ｅｈ、０Ｆｈ或いは１１ｈ、１２ｈ）を求める。

可変抵抗回路１０４では、この実設定値ＡＪＳＴを抵抗設定値として、その抵抗値が設定される。これにより発振回路１００からは、実設定値ＡＪＳＴにより設定された発振周波数の発振クロック信号ＯＳＣＬＫが出力されるようになる。

なお、調整部２０を有する制御部１０は、第１の電源が供給されて動作する一方で、加算部１０２を有する発振回路１００は、第１の電源とは異なる第２の電源が供給されて動作する。第１の電源は例えばロジック回路用の電源であり、低電圧（例えば３．３Ｖ）の電源である。例えば第１の電源の電圧はレギュレーター回路により電源電圧を降圧することで得られる。一方、第２の電源はアナログ回路用の電源であり、例えば第１の電源より高い電圧（例えば５．０Ｖ）の電源である。これらの第１、第２の電源は、電源回路６０により生成されて供給される。この場合に本実施形態では、周波数設定値ＦＲＳＴに調整値ＯＳＡＪを加算する処理を、発振回路１００に設けられる加算部１０２が行う。例えば表示ドライバー（回路装置）への電源投入時において、第１の電源よりも第２の電源の方が早く立ち上がる場合に、この第２の電源が供給されて発振回路１００が動作する。このとき、第１の電源は立ち上がっていないため、第１の電源で動作する制御部１０の調整部２０からの調整値ＯＳＡＪは不確定な値となる可能性がある。このため、加算部１０２は、周波数設定値出力部１１０からの周波数設定値ＦＲＳＴを、そのまま実設定値ＡＪＳＴとして可変抵抗回路１０４（或いは可変容量回路）に供給する。これにより発振回路１００は適正に発振動作を行い、発振クロック信号ＯＳＣＬＫを生成できるようになる。そして、その後に第１の電源が立ち上がって、調整部２０が正常に動作を開始すると、周波数設定値ＦＲＳＴに調整値ＡＪＳＴを加算処理した値が、実設定値ＡＪＳＴとして可変抵抗回路１０４（或いは可変容量回路）に供給されるようになる。

以上の本実施形態の表示ドライバー（回路装置）は、調整値ＡＪ１〜ＡＪ３（広義には第１〜第３の調整値）を可変に設定するための調整値レジスター４１と、境界温度値ＴＢＬ、ＴＢＨを可変に設定するための境界温度レジスター４４と、分割数ＤＶＮを可変に設定するための分割数レジスター４６を含む。

そして調整部２０の温度範囲判断部２４は、境界温度レジスター４４に設定される境界温度値ＴＢＬ、ＴＢＨに基づいて、検出温度が属する温度範囲を判断する。また調整部２０の出力部２６は、温度範囲判断部２４による今回の期間での判断結果（ＦＬＣＵＲ１〜ＦＬＣＵＲ３）及び前回の期間での判断結果（ＦＬＢＦＲ１〜ＦＬＢＦＲ３）と、分割数レジスター４６に設定される分割数ＤＶＮとに基づいて、調整値の切り替え期間におけるカウント値信号（ＣＮＴ）や、切り替え期間における調整値の変化幅信号（ＭＶ）を生成する。そして出力部２６は、これらの信号と、調整値レジスター４１に設定される調整値ＡＪ１〜ＡＪ３とに基づいて、切り替え期間において、調整値ＡＪ１とＡＪ２（或いはＡＪ２とＡＪ３）の間を分割数ＤＶＮで補間した複数の補間調整値を生成し、調整値ＯＳＡＪとして出力する。

図６は、発振回路１００の詳細な構成例である。なお発振回路１００の構成は図６に限定されず種々の変形実施が可能である。例えば図６はＣＲ発振回路の例であるが、抵抗ＲやキャパシターＣの接続構成は図６に限定されず種々の変形実施が可能である。また図６では可変抵抗回路１０４を設けて抵抗Ｒの抵抗値を可変に設定しているが、可変容量回路を設けてキャパシターＣの容量値を可変に設定してもよい。また発振回路１００としてＣＲ発振回路以外の発振回路を採用してもよい。

図６の発振回路１００は、キャパシターＣと、抵抗Ｒとなる可変抵抗回路１０４と、増幅回路１０６（バッファー回路）を有する。また波形整形のためのインバーター回路ＩＶ３を含むことができる。発振回路１００は、電源ＶＤＤ、ＶＳＳが供給されて動作して、発振クロック信号ＯＳＣＬＫを生成する。具体的には発振回路１００は、キャパシターＣと抵抗Ｒ（可変抵抗回路１０４）で構成されるＲＣ回路を用いて信号を入力に帰還して発振信号を生成し、この発振信号をインバーター回路ＩＶ３により波形整形した信号を発振クロック信号ＯＳＣＬＫとして出力する。

増幅回路１０６（反転増幅回路）はＮＡＮＤ回路ＮＡとインバーター回路ＩＶ１、ＩＶ２を有する。インバーター回路ＩＶ１の出力は、キャパシターＣを介して、増幅回路１０６の入力に帰還される。インバーター回路ＩＶ２の出力は、抵抗Ｒ（可変抵抗回路１０４）を介して、増幅回路１０６の入力に帰還される。ＮＡＮＤ回路ＮＡの第１の入力が、増幅回路１０６の入力になり、ＮＡＮＤ回路ＮＡの第２の入力にはイネーブル信号ＥＮが入力される。イネーブル信号ＥＮがＨレベルになると発振回路１００が動作イネーブル状態に設定され、イネーブル信号ＥＮがＬレベルになると動作ディスエーブル状態に設定される。

インバーター回路ＩＶ２から出力される発振信号はインバーター回路ＩＶ３により波形整形されて、矩形波の発振クロック信号ＯＳＣＬＫとして出力される。例えば発振信号は、立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジが鈍った波形となっている。インバーター回路ＩＶ３は、このような波形の発振信号を、立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジが急峻な矩形波に、波形整形する。なお、インバーター回路ＩＶ３の後段に分周回路を設け、発振クロック信ＯＳＣＬＫを分周することで得られた１又は複数のクロック信号を出力するようにしてもよい。

可変抵抗回路１０４は、直列接続される複数の抵抗素子Ｒ１〜Ｒ５と基準抵抗素子Ｒ６を有する。また直列接続される複数のスイッチＳＷ１〜ＳＷ５を有する。抵抗素子Ｒ１〜Ｒ５と基準抵抗素子Ｒ６は、増幅回路１０６の出力ノードＮＱと入力ノードＮＩとの間に直列接続される。スイッチＳＷ１〜ＳＷ５は出力ノードＮＱとノードＮ５の間に直列接続される。複数の抵抗素子Ｒ１〜Ｒ５の各抵抗素子に対して、スイッチＳＷ１〜ＳＷ５の各スイッチが並列に設けられている。スイッチＳＷ１〜ＳＷ５は、例えばＭＯＳのトランジスター（トランスファーゲート等）により実現できる。

図６の構成によれば、ＳＷ１〜ＳＷ５の各スイッチのオン・オフを設定することで、抵抗Ｒの抵抗値を可変に設定できる。例えばスイッチＳＷ１〜ＳＷ５を全てオフにすれば、抵抗Ｒの抵抗値はＲ１＋Ｒ２＋Ｒ３＋Ｒ４＋Ｒ５＋Ｒ６となる。一方、スイッチＳＷ１〜ＳＷ５を全てオンにすれば、抵抗Ｒの抵抗値はＲ６となる。なお、本実施形態では説明の簡素化のために、抵抗と抵抗値を同じ符号で表している。

抵抗Ｒ１〜Ｒ５の抵抗値は例えばバイナリーで重み付けされている。例えばＲ１〜Ｒ５の各抵抗は、１又は複数のユニット抵抗により構成されている。例えばＲ１は２^０＝１個の抵抗ユニットで構成され、Ｒ２は直列接続された２^１＝２個の抵抗ユニットにより構成され、Ｒ３は直列接続された２^２個の抵抗ユニットにより構成される。同様に、Ｒ４、Ｒ５は、各々、直列接続された２^３個、２^４個の抵抗ユニットにより構成される。従って、ユニット抵抗の抵抗値をＲＵとすると、Ｒ１の抵抗値は２^０×ＲＵ（＝ＲＵ）、Ｒ２の抵抗値は２^１×ＲＵ（＝２×ＲＵ）、Ｒ３の抵抗値は２^２×ＲＵ、Ｒ４の抵抗値は２^３×ＲＵ、Ｒ５の抵抗値は２^４×ＲＵに設定される。

なお、Ｒ６は、基準となる発振周波数を設定するための基準抵抗素子であり、Ｒ６の抵抗値である基準抵抗値をＲＢとすると、ＲＢは例えばＲ５と同程度の抵抗値に設定できる。このように設定することで、抵抗Ｒの抵抗値を所定範囲内（例えばＲＢ〜ＲＢ＋ＲＵ×（２^５−１）の範囲）で可変に設定できるようになる。なお抵抗値の設定手法は、このような設定には限定されず、種々の変形実施が可能である。

図６に示すように可変抵抗回路１０４のスイッチＳＷ１〜ＳＷ５はスイッチ信号ＳＳ１〜ＳＳ５によりオン・オフ制御される。そして図４、図５で説明した周波数の実設定値ＡＪＳＴにより、これらのスイッチ信号ＳＳ１〜ＳＳ５（ＳＳ１〜ＳＳ５の論理レベル）が生成される。従って、実設定値ＡＪＳＴを用いてスイッチ信号ＳＳ１〜ＳＳ５を生成し、これらのスイッチ信号ＳＳ１〜ＳＳ５によりスイッチＳＷ１〜ＳＷ５をオン・オフ制御することで、可変抵抗回路１０４の抵抗値を設定して、発振回路１００の発振周波数を制御できるようになる。

図７は周波数設定値出力部１１０の詳細な構成例である。なお周波数設定値出力部１１０の構成は図７に限定されず種々の変形実施が可能である。例えば図７はヒューズ回路を用いた例であるが、ヒューズ素子等の接続構成は図７に限定されない。またヒューズ回路の代わりに不揮発性メモリー等を用いて周波数設定値出力部１１０を実現してもよい。

図７の周波数設定値出力部１１０は、ヒューズ素子ＦＥ１〜ＦＥ５と、ラッチ回路ＬＴ１〜ＬＴ５を含む。またテスト信号保持回路１１２やセレクターＳＬ１〜ＳＬ５を含むことができる。

ヒューズ素子ＦＥ１〜ＦＥ５の一端は、高電位側の電源ＶＤＤのノードに接続される。ヒューズ素子ＦＥ１〜ＦＥ５の他端は、ラッチ回路ＬＴ１〜ＬＴ５のデータ端子に接続される。これらのラッチ回路ＬＴ１〜ＬＴ５のクロック端子にはラッチクロック信号ＬＣＬＫが入力される。またラッチ回路ＬＴ１〜ＬＴ５の出力端子からのヒューズ信号ＦＱ１〜ＦＱ５は、セレクターＳＬ１〜ＳＬ５の第１の入力端子に入力される。

テスト信号保持回路１１２は、テスト時に入力されるテスト入力信号ＴＳ１〜ＴＳ５を保持する。テスト信号保持回路１１２に保持されたテスト入力信号ＴＳ１〜ＴＳ５は、テスト信号ＴＱ１〜ＴＱ５として、セレクターＳＬ１〜ＳＬ５の第２の入力端子に入力される。

セレクターＳＬ１〜ＳＬ５は、第１の入力端子に入力されるヒューズ信号ＦＱ１〜ＦＱ５と、第２の入力端子に入力されるテスト信号ＴＱ１〜ＴＱ５のいずれかを選択して、周波数設定信号ＳＱ１〜ＳＱ５として出力する。周波数設定値ＦＲＳＴは、これらの周波数設定信号ＳＱ１〜ＳＱ５（ＳＱ１〜ＳＱ５の論理レベル）により設定される値である。

表示ドライバーの製造時においては、まず、セレクターＳＬ１〜ＳＬ５は、第２の入力端子に入力されるテスト信号ＴＱ１〜ＴＱ５を選択して、周波数設定信号ＳＱ１〜ＳＱ５として出力する。従って、ＴＱ１〜ＴＱ５（ＴＳ１〜ＴＳ５）の各テスト信号の論理レベルによって、周波数設定値ＦＲＳＴが設定されることになる。そして発振回路１００の発振周波数をモニターしながら、例えば外部のテスター等によりテスト信号ＴＱ１〜ＴＱ５（ＴＳ１〜ＴＳ５）の論理レベルを設定することで、周波数設定値ＦＲＳＴを設定する。そして、発振周波数が所望の仕様周波数になるように、テスト信号ＴＱ１〜ＴＱ５（ＴＳ１〜ＴＳ５）の論理レベルを決定する。

このようにテスト信号ＴＱ１〜ＴＱ５の論理レベルを決定した後、その論理レベルに対応するようにヒューズ素子ＦＥ１〜ＦＥ５を溶断する。例えばテスト信号ＴＳ１がＨレベルに決定された場合には、ヒューズ素子ＦＥ１を溶断せず、テスト信号ＴＳ１がＬレベルに決定された場合にはヒューズ素子ＦＥ１を溶断する。ヒューズ素子ＦＥ１が溶断されなかった場合には、ラッチ回路ＬＴ１はＨレベルを保持し、溶断された場合にはＬレベルを保持することになる。またテスト信号ＴＳ２がＨレベルに決定された場合には、ヒューズ素子ＦＥ２を溶断せず、テスト信号ＴＳ２がＬレベルに決定された場合にはヒューズ素子ＦＥ２を溶断する。ヒューズ素子ＦＥ２が溶断されなかった場合には、ラッチ回路ＬＴ２はＨレベルを保持し、溶断された場合にはＬレベルを保持することになる。テスト信号ＴＳ３〜ＴＳ５、ヒューズ素子ＦＥ３〜ＦＥ５、ラッチ回路ＬＴ３〜ＬＴ５についても同様である。

そしてヒューズ素子ＦＥ１〜ＦＥ５の溶断作業が完了したら、セレクターＳＬ１〜ＳＬ５は、第１の入力端子に入力されるヒューズ信号ＦＱ１〜ＦＱ５を選択して、周波数設定信号ＳＱ１〜ＳＱ５として出力する。従って、表示ドライバーの実動作時においては、ヒューズ素子ＦＥ１〜ＦＥ５の溶断・非溶断により設定されたヒューズ信号ＦＱ１〜ＦＱ５により、周波数設定値ＦＲＳＴが設定されることになる。これにより、例えば常温時（２５度）において発振周波数が所望の仕様周波数になるように、周波数設定値ＦＲＳＴが設定されることになる。

４．詳細な動作
次に本実施形態の詳細な動作について説明する。図８は本実施形態の詳細な動作を説明するタイミングチャートである。

図８のＤ１に示す期間がサンプリング期間であり、本実施形態では、１回のサンプリング期間において、温度センサー９０からの５個の検出温度値ＴＡＤがサンプリングされて、図５のラッチ部２２にラッチされる。そして、これらの５個の検出温度値ＴＡＤに基づいて当該サンプリング期間での検出温度ＴＤＴが求められる。具体的には５個の検出温度値ＴＡＤの中央値が検出温度ＴＤＴとして求められる。

そしてＤ２では、今回のサンプリング期間の検出温度はＴＤＴ＝１０ｈと判断されている。このため、ラッチ部２２は、Ｄ３に示すように、今回のサンプリング期間の検出温度を示す信号としてＴＤＴＣＵＲ＝１０ｈを温度範囲判断部２４に出力する。なお、次回のサンプリング期間では、ラッチ部２２は、Ｄ４に示すように、前回のサンプリング期間の検出温度を示す信号としてＴＤＴＢＦＲ＝１０ｈを出力することになる。

これらの信号ＴＤＴＣＵＲ、ＴＤＴＢＦＲを受けた温度範囲判断部２４は、検出温度が属する温度範囲を判断する。そして、検出温度が属する温度範囲を示すフラグ信号ＦＬＣＵＲ１〜ＦＬＣＵＲ３、ＦＬＢＦＲ１〜ＦＬＢＦＲ３を、出力部２６に出力する。ここで、ＦＬＣＵＲ１、ＦＬＣＵＲ２、ＦＬＣＵＲ３は、今回のサンプリング期間（以下、「今回のサンプリング期間」を、適宜、単に「今回」と記載する）の検出温度が、各々、図３の低温範囲、室温範囲、高温範囲に属することを示すフラグ信号である。またＦＬＢＦＲ１、ＦＬＢＦＲ２、ＦＬＢＦＲ３は、前回のサンプリング期間（以下、「前回のサンプリング期間」を適宜、単に「前回」と記載する）の検出温度が、各々、図３の低温範囲、室温範囲、高温範囲に属することを示すフラグ信号である。

例えば今回の検出温度ＴＤＴ＝１０ｈは低温範囲に属すると判断され、Ｄ５では、低温範囲に対応するフラグ信号ＦＬＣＵＲ１がアクティブ（Ｈレベル）になっている。この場合に、次回のサンプリング期間では、Ｄ６に示すようにフラグ信号ＦＬＢＦＲ１がアクティブになる。また後述するように図８では温度範囲が低温範囲から室温範囲に切り替わっているため、次回のサンプリング期間では、Ｄ７に示すように室温範囲に対応するフラグ信号ＦＬＣＵＲ２がアクティブになる。

ストローブ信号ＳＴＢＭＰは、Ｄ８に示すように、温度範囲の切り替えが行われた場合にアクティブになる信号である。このストローブ信号ＳＴＢＭＰは出力部２６に出力される。

図８のＩＮＣ、ＤＥＣ、ＤＩＦは、出力部２６の内部信号である。ＩＮＣは、温度範囲の切り替え期間において調整値を増加させることを指示する信号であり、ＤＥＣは、調整値を減少させることを指示する信号である。ＤＩＦは、温度範囲の切り替え後の調整値（ＡＪ２）と温度範囲の切り替え前の調整値（ＡＪ１）の差分値を示す信号である。

図８では、検出温度ＴＤＴが１０ｈから１１ｈに変化したため、検出温度ＴＤＴが属する温度範囲が低温範囲から室温範囲に切り替わったと判断される。これにより、Ｄ８に示すようにストローブ信号ＳＴＢＭＰがアクティブになる。またＤ９に示すように信号ＩＮＣがアクティブになって、切り替え期間において調整値を増加させることが指示される。またＤ１０に示すように、差分値はＤＩＦ＝ＡＪ２−ＡＪ１＝０ｈ−（−３ｈ）＝３ｈに設定される。

図９は、図８のように検出温度が属する温度範囲が低温範囲から室温範囲に切り替わった場合において、切り替え期間における分割数がＤＶＮ＝３であるときのタイミングチャートである。この場合には、切り替え期間において調整値ＯＳＡＪは増加することになるため、図９のＥ１に示すように信号ＩＮＣがアクティブになる。そして出力部２６では、Ｅ２、Ｅ３に示すように、０からＤＶＮ＝３までインクリメントするカウント値信号ＣＮＴと、調整値ＯＳＡＪの変化幅信号ＭＶ＝（ＡＪ２−ＡＪ１）／ＤＶＮ＝｛０ｈ−（−３ｈ）／３｝＝１ｈが生成される。即ち、調整値ＯＳＡＪの変化幅は分割数ＤＶＮにより可変に設定される。なお、これらの信号ＣＮＴ、ＭＶは出力部２６の内部信号である。そして、Ｅ４に示すように−３ｈ、−２ｈ、−１ｈ、０ｈというように段階的に徐々に増加する調整値ＯＳＡＪが出力されるようになる。この場合に−２ｈ、−１ｈが、切り替え期間において出力される複数の補間調整値に相当する。

図１０も本実施形態の詳細な動作を説明するタイミングチャートである。前述の図８は、検出温度が属する温度範囲が低温範囲から室温範囲に切り替わった場合のタイミングチャートであるのに対して、図１０は、検出温度が属する温度範囲が高温範囲から室温範囲に切り替わった場合のタイミングチャートである。

図１０のＦ１〜Ｆ１０は図８のＤ１〜Ｄ１０に対応するものであり、詳細な説明は省略する。例えば図１０のＦ２に示す今回の検出温度ＴＤＴ＝４１ｈは、高温範囲に属すると判断され、Ｆ５では高温範囲に対応するフラグ信号ＦＬＣＵＲ３がアクティブになっている。次回のサンプリング期間では、Ｆ６に示すようにフラグ信号ＦＬＢＦＲ３がアクティブになる。また温度範囲が高温範囲から室温範囲に切り替わったため、次回のサンプリング期間では、Ｆ７に示すように室温範囲に対応するフラグ信号ＦＬＣＵＲ２がアクティブになる。また、Ｆ９に示すように信号ＤＥＣがアクティブになって、切り替え期間において調整値を減少させることが指示される。またＦ１０に示すように、差分値はＤＩＦ＝ＡＪ３−ＡＪ２＝＋３ｈ−０ｈ＝３ｈに設定される。

図１１は、図１０のように検出温度が属する温度範囲が高温範囲から室温範囲に切り替わった場合において、切り替え期間における分割数がＤＶＮ＝３であるときのタイミングチャートである。

図１１では、Ｇ１に示すように信号ＤＥＣがアクティブになり、Ｇ２、Ｇ３に示すように、０からＤＶＮ＝３まで変化するカウント値信号ＣＮＴと、変化幅信号ＭＶ＝１０ｈが生成される。これによりＧ４に示すように＋３ｈ、＋２ｈ、＋１ｈ、０ｈというように段階的に徐々に減少する調整値ＯＳＡＪが出力されるようになる。

図１２（Ａ）、図１２（Ｂ）は、本実施形態の発振周波数の調整手法の説明図である。

図１２（Ａ）において、ＴＢＬは、低温範囲と高温範囲の境界温度値であり、この境界温度値ＴＢＬを境界として、調整値の切り替えが行われる。そして図１２（Ａ）では、この境界温度値ＴＢＬの付近で検出温度が上下に変動している。

例えば期間ＴＰ１（サンプリング期間）では、温度センサー９０からの５個の検出温度値ＴＡＤがサンプリングされて、５個の検出温度値ＴＡＤの中央値が検出温度ＴＤＴ１として求められている。同様に期間ＴＰ２、ＴＰ３、ＴＰ４、ＴＰ５、ＴＰ６、ＴＰ７では、各期間での５個の検出温度値ＴＡＤの中央値が、検出温度ＴＤＴ２、ＴＤＴ３、ＴＤＴ４、ＴＤＴ５、ＴＤＴ６、ＴＤＴ７として求められている。

そして期間ＴＰ１の検出温度ＴＤＴ１は境界温度値ＴＢＬよりも低く、次の期間ＴＰ２の検出温度ＴＤＴ２は境界温度値ＴＢＬよりも高い。また期間ＴＰ３の検出温度ＴＤＴ３は境界温度値ＴＢＬよりも低く、次の期間ＴＰ４の検出温度ＴＤＴ４は境界温度値ＴＢＬよりも高い。また期間ＴＰ５、ＴＰ６の検出温度ＴＤＴ５、ＴＤＴ６は境界温度値ＴＢＬよりも高く、次の期間ＴＰ７の検出温度ＴＤＴ７は境界温度値ＴＢＬよりも低い。このように図１２（Ａ）では検出温度が境界温度値ＴＢＬの付近で上下に変動している。

そして、境界温度値ＴＢＬ（或いはＴＢＨ）の付近で検出温度が不安定に変動する場合に、本実施形態の手法を採用しないと、調整値が頻繁に切り替わって、発振周波数が頻繁に切り替わることで、フレーム周波数や表示の駆動周波数が頻繁に切り替わってしまい、表示にチラツキ等が生じてしまう。例えば図３では、低温範囲に対しては調整値ＡＪ１＝−３ｈが設定され、室温範囲に対しては調整値ＡＪ２＝０ｈが設定されている。従って、図１２（Ａ）のように境界温度値ＴＢＬの付近で検出温度が不安定に変動すると、調整値が、ＡＪ１＝−３ｈからＡＪ２＝０ｈに一気に切り替わったり、ＡＪ２＝−３ｈからＡＪ１＝０ｈに一気に切り替わってしまう。これにより、発振周波数が変化し、フレーム周波数や駆動周波数が変化して、表示にチラツキが生じてしまう。

この点、本実施形態の手法を採用すれば、図１２（Ｂ）に示すように、調整値の切り替え期間において、調整値が段階的に増加又は減少するようになり、発振周波数も段階的に増加又は減少するようになる。この結果、発振周波数に基づくフレーム周波数や駆動周波数も段階的に増加又は減少するようになる。

例えば期間ＴＰ１の検出温度ＴＤＴ１は低温範囲に属し、期間ＴＰ２の検出温度ＴＤＴ２は室温範囲に属している。従って、期間ＴＰ１からＴＰ２になると、温度範囲が切り替わったと判断され、図１２（Ｂ）に示すように、調整値、発振周波数は、各々、ＡＪ１、ＯＳＦ１からＡＪ２、ＯＳＦ２へと段階的に増加する。ここでＡＪ１、ＡＪ２（第１、第２の調整値）は、各々、低温範囲、室温範囲に設定された調整値である。またＯＳＦ１、ＯＳＦ２（第１、第２の発振周波数）は、各々、調整値がＡＪ１、ＡＪ２に設定されたときの発振回路１００の発振周波数である。またＯＳＡＪＢＤ、ＯＳＦＢＤは境界値であり、例えばＯＳＡＪＢＤ＝（ＡＪ１＋ＡＪ２）／２、ＯＳＦＢＤ＝（ＯＳＦ１＋ＯＳＦ２）／２である。

また期間ＴＰ２の検出温度ＴＤＴ２は室温範囲に属し、期間ＴＰ３の検出温度ＴＤＴ３は低温範囲に属している。従って、期間ＴＰ２からＴＰ３になると、温度範囲が切り替わったと判断され、調整値、発振周波数は、各々、ＡＪ２、ＯＳＦ２からＡＪ１、ＯＳＦ１に段階的に減少する。

また期間ＴＰ３の検出温度ＴＤＴ３は低温範囲に属し、期間ＴＰ４の検出温度ＴＤＴ４は室温範囲に属している。従って、期間ＴＰ３からＴＰ４になると、温度範囲が切り替わったと判断され、調整値、発振周波数は、各々、ＡＪ１、ＯＳＦ１からＡＪ２、ＯＳＦ２に段階的に増加する。

また期間ＴＰ４、ＴＰ５、ＴＰ６の検出温度ＴＤＴ４、ＴＤＴ５、ＴＤＴ６は全て室温範囲に属している。従って、期間ＴＰ４からＴＰ５になった場合や、期間ＴＰ５からＴＰ６になった場合に、温度範囲は切り替わっていないと判断され、調整値、発振周波数は、ＡＪ２、ＯＳＦ２から変化せず一定になる。そして期間ＴＰ６から期間ＴＰ７になると、温度範囲が切り替わったと判断され、調整値、発振周波数は、各々、ＡＪ２、ＯＳＦ２からＡＪ１、ＯＳＦ１に段階的に減少する。

即ち図１２（Ａ）では、期間ＴＰ１（第１の期間）において温度センサー９０から出力される５個の検出温度値ＴＡＤ（複数の第１の検出温度値）に基づき求められた検出温度ＴＤＴ１（第１の検出温度）が、低温範囲（第１の温度範囲）に属している。また期間ＴＰ２（第２の期間）におい温度センサー９０から出力される５個の検出温度値ＴＡＤ（複数の第２の検出温度値）に基づき求められた検出温度ＴＤＴ２（第２の検出温度）が、室温範囲（第２の温度範囲）に属している。

この場合に本実施形態では、期間ＴＰ１からＴＰ２になって、検出温度が属する温度範囲が低温範囲から室温範囲に切り替わったと判断されると、この切り替わり期間において、調整部２０は、調整値ＡＪ１とＡＪ２を補間した複数の補間調整値を出力する。そして、この補間調整値により周波数設定値ＦＲＳＴが調整され、調整後の周波数設定値である実設定値ＡＪＳＴにより、発振回路１００の発振周波数が設定される。

このように本実施形態では、境界温度値ＴＢＬの付近で検出温度が不安定に変化した場合にも、温度範囲の切り替わり期間において調整値や発振周波数が段階的に増加又は減少するようになる。従って、表示のチラツキ等を十分に抑えることができる。また期間ＴＰ５、ＴＰ６のように、検出温度が、１つの温度範囲に属している間は、調整値は同じ値から変化せず、発振周波数も同じ周波数から変化せずに一定になる。従って、温度変動が少ない場合に、不必要に調整値が変化することで、発振周波数が変化し、その影響が視認されてしまうような事態についても抑制できる。

５．電子機器
図１３に、本実施形態の表示ドライバー１９０（回路装置）を含む電子機器の構成例を示す。電子機器は、処理部３００、記憶部３１０、操作部３２０、入出力部３３０、表示ドライバー１９０、表示パネル２００を含む。表示ドライバー１９０と表示パネル２００とにより電気光学装置が構成される。なお本実施形態の電子機器は図１３の構成に限定されず、その構成要素の一部を省略したり、他の構成要素を追加するなどの種々の変形実施が可能である。また本実施形態が適用される電子機器としては、車載機器（運転補助装置、インパネのメーターユニット、カーナビゲーション装置等）、携帯情報端末（スマートフォン、携帯電話機等）、プロジェクター、デジタルカメラ、ビデオカメラ、プリンター、電子手帳、電子辞書、テレビ、ＨＭＤ、或いは情報処理装置（ＰＣ、ＰＤＡ）などの種々の機器を想定できる。

処理部３００は、電子機器の各種の制御処理や演算処理を行うものであり、例えばＭＰＵ等のプロセッサーや表示コントローラーなどのＡＳＩＣなどにより実現される。処理部３００が表示ドライバー１９０に対する各種のコマンドを発行することで、表示パネル２００での画像の表示動作が実現される。

記憶部３１０は処理部３００等の記憶領域となるものであり、例えばＤＲＡＭ、ＳＲＡＭ、或いはＨＤＤ等により実現される。例えば表示パネル２００に表示される画像のデータは記憶部３１０に記憶される。操作部３２０はユーザーが各種の操作情報を入力するためのものである。入出力部３３０は、外部との間でデータ等のやり取りを行うものであり、有線のインターフェース（ＵＳＢ等）や無線の通信部等により実現される。

なお、上記のように本実施形態について詳細に説明したが、本発明の新規事項および効果から実体的に逸脱しない多くの変形が可能であることは当業者には容易に理解できるであろう。従って、このような変形例はすべて本発明の範囲に含まれるものとする。例えば、明細書又は図面において、少なくとも一度、より広義または同義な異なる用語（回路装置、第１、第２、第３の温度範囲等）と共に記載された用語（表示ドライバー、低温範囲、室温範囲、高温範囲等）は、明細書又は図面のいかなる箇所においても、その異なる用語に置き換えることができる。また、回路装置や表示ドライバーや電気光学装置や電子機器の構成や動作等も、本実施形態で説明したものに限定されず、種々の変形実施が可能である。

１０ 制御部、２０ 調整部、２２ ラッチ部、２４ 温度範囲判断部、
４０ レジスター部、４１ 調整値レジスター、４４ 境界温度レジスター、
４６ 分割数レジスター、５０ デコード部、５２ タイミング制御部、６０ 電源回路、
７０ 駆動回路、７２ ソースドライバー、７４ ゲートドライバー、
７６ Ｄ／Ａ変換回路、７８ 階調電圧生成回路、９０ 温度センサー、
９２ 温度検出回路、９４ Ａ／Ｄ変換回路、１００ 発振回路、１０２ 加算部、
１０４ 可変抵抗回路、１０６ 増幅回路、１１０ 周波数設定値出力部、
１１２ テスト信号保持回路、１２０ Ｉ／Ｆ部、１９０ 表示ドライバー、
２００ 表示パネル、３００ 処理部、３１０ 記憶部、３２０ 操作部、
３３０ 入出力部

Claims (14)

1. 発振回路と、
   前記発振回路の発振周波数の周波数設定値を出力する周波数設定値出力部と、
   温度センサーを用いて求められた検出温度に基づいて、前記周波数設定値の調整値を出力して、前記発振周波数の温度補償を行う調整部と、
   を含み、
   前記調整部は、
   前記検出温度が第１の温度範囲に属する場合には、前記周波数設定値の前記調整値として、前記第１の温度範囲に対応する第１の調整値を出力し、
   前記検出温度が第２の温度範囲に属する場合には、前記周波数設定値の前記調整値として、前記第２の温度範囲に対応する第２の調整値を出力することを特徴とする回路装置。
2. 請求項１において、
   前記調整部は、
   前記検出温度が属する温度範囲が前記第１の温度範囲から前記第２の温度範囲に切り替わった場合に、前記周波数設定値の前記調整値として、前記第１の調整値と前記第２の調整値の間の補間調整値を出力することを特徴とする回路装置。
3. 請求項２において、
   前記調整部は、
   前記検出温度が属する温度範囲が前記第１の温度範囲から前記第２の温度範囲に切り替わった場合に、前記周波数設定値の前記調整値として、前記第１の調整値と前記第２の調整値の間を所与の分割数で補間した複数の補間調整値を出力することを特徴とする回路装置。
4. 請求項３において、
   前記分割数を可変に設定するための分割数レジスターを含むことを特徴とする回路装置。
5. 請求項２乃至４のいずれかにおいて、
   前記調整部は、
   前記検出温度が属する温度範囲を判断する温度範囲判断部と、
   前記温度範囲判断部による今回の期間での判断結果及び前回の期間での判断結果に基づいて、前記検出温度が属する温度範囲が変化したか否かを判断し、前記温度範囲が変化したと判断した場合に、前記第１の調整値と前記第２の調整値の間の前記補間調整値を出力する出力部と、
   を含むことを特徴とする回路装置。
6. 請求項２乃至５のいずれかにおいて、
   前記調整部は、
   前記温度センサーからの複数の検出温度値に基づいて、前記検出温度を求め、前記検出温度が属する温度範囲を判断することを特徴とする回路装置。
7. 請求項６において、
   前記温度センサーから前記複数の検出温度値が出力される期間の長さをＴ１とし、前記補間調整値が出力される期間の長さをＴ２とした場合に、Ｔ１≧Ｔ２であることを特徴とする回路装置。
8. 請求項１乃至７のいずれかにおいて、
   前記第１の調整値、前記第２の調整値を可変に設定するための調整値レジスターを含むことを特徴とする回路装置。
9. 請求項１乃至８のいずれかにおいて、
   前記第１の温度範囲と前記第２の温度範囲の境界温値度を可変に設定するための境界温度レジスターを含むことを特徴とする回路装置。
10. 請求項１乃至８のいずれかにおいて、
    前記発振回路は、
    前記周波数設定値に前記調整値を加算する処理を行う加算部を含むことを特徴とする回路装置。
11. 請求項１乃至１０のいずれかにおいて、
    前記発振回路はＣＲ発振回路であり、
    前記周波数設定値は、前記ＣＲ発振回路の可変抵抗回路の抵抗設定値又は可変容量回路の容量設定値であることを特徴とする回路装置。
12. 請求項１乃至１１のいずれかにおいて、
    前記周波数設定値出力部は、ヒューズ回路又は不揮発性メモリーにより構成されることを特徴とする回路装置。
13. 請求項１乃至１２のいずれかにおいて、
    前記発振回路からの発振クロック信号により生成されたクロック信号に基づいて、表示パネルを駆動する駆動回路を含むことを特徴とする回路装置。
14. 請求項１乃至１３のいずれかに記載の回路装置を含むことを特徴とする電子機器。

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