JP2015170064A - 摺動操作検出装置、電子機器及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】手書き摺動操作時に発生する擦れ音からその操作位置を適切に検出する。【解決手段】電子機器の摺動操作検出部５は、手書き摺動操作時に発生する擦れ音を測定した複数のピックアップ５３、５４からの波形データを比較して、その波形間の時間シフト量を判定する。中央制御部１は、この時間シフト量によって各ピックアップ５３、５４からの距離の差を算出すると共に、この距離の差により擦れ音発生点を手書き摺動操作の操作位置として特定する。【選択図】図１

Description

本発明は、手書き摺動操作を検出する摺動操作検出装置、摺動操作検出機能を備えた電子機器及びプログラムに関する。

一般に、手書き摺動操作を検出する摺動操作検出装置としては、例えば、静電容量方式、抵抗皮膜方式、電磁誘導方式、圧電方式などで駆動するタッチスクリーンなどの専用パネルを使用してタッチ位置を検出することにより手書き入力を検出するようにしているが、このような専用パネルを電子辞書装置などの小型電子機器に実装することは、デザイン、大きさ、重さなどに制約を与えることになり、また、このような制約から製品に添付されている専用ペンを使用して書き込みを行うことは、手書きの利便性が損なわれることにもなる。このことは、タッチスクリーンに限らず、輝度調整やボリューム調整などを行う場合に直感的な操作が可能なスライダについても同様に専用パネルを使用することによってデザイン上の制約や実装上の制約などを受けてしまう。

また、従来、上述のような専用パネルに代わって、マイクロフォンを使用して手書きストロークを検出するようにした技術として、文字を書く際の摺動面との摺動音を採取し、採取した摺動音をストロークデータベースの摺動音と比較することにより一致するストロークを特定し、この特定したストロークの組と文字認識データベース内のストロークの組とを比較して一致する文字コードを特定するようにした手書き文字認識装置が知られている（特許文献１参照）。

特開２００９−２１７７３３号公報

しかしながら、上述の特許文献の技術にあっては、摺動音の種類（直線音、カーブ音、跳ね上げ音など）から手書きストロークを特定するようにしているが、摺動音の種類を識別することは、文字を書く際の摺動の仕方や摺動面の状態などに大きく影響されるため、その識別を間違えしまう危険性が大きかった。

本発明の課題は、手書き摺動操作時に発生する擦れ音からその操作位置を適切に検出できるようにすることである。

上述した課題を解決するために、本発明の摺動操作検出装置は、
手書き摺動操作時に発生する擦れ音を複数のピックアップにより測定する測定手段と、
前記測定手段により測定された複数のピックアップの波形データを比較してその波形間の時間シフト量を判定する判定手段と、
前記判定手段により判定された波形間の時間シフト量によって前記各ピックアップからの距離の差を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された距離の差により擦れ音発生点を手書き摺動操作の操作位置として検出する検出手段と、
を具備したことを特徴とする。

上述した課題を解決するために、本発明の電子機器は、
手書き摺動操作時に発生する擦れ音を複数のピックアップにより測定する測定手段と、
前記測定手段により測定された複数のピックアップの波形データを比較してその波形間の時間シフト量を判定する判定手段と、
前記判定手段により判定された波形間の時間シフト量によって前記各ピックアップからの距離の差を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された距離の差により擦れ音発生点を手書き摺動操作の操作位置として検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された摺動操作の操作位置に応じた入力処理を実行する処理手段と、
を具備したことを特徴とする。

本発明によれば、手書き摺動操作時に発生する擦れ音からその操作位置を適切に検出することができ、擦れ音に応じた入力処理を円滑に行うことが可能となる。

摺動操作検出機能付きの電子機器（電子辞書装置）の基本的な構成要素を示したブロック図。 （１）は、電子機器（電子辞書装置）の筺体の上面一部に配設されたスライダ（ピックアップ５３、５４）を示した図、（２）は、ピックアップ５３、５４の実装状態を説明するための断面図。 同一の音源（擦れ音）を検出した第１ピックアップ５３の波形データと第２ピックアップ５４の波形データを具体的に例示した図。 ２つのピックアップ５３、５４からの波形の相互相関の結果（時間シフト量）と操作位置（接触点）との関係を説明するための図。 第１実施形態の特徴的な動作である手書き摺動操作部５の動作を説明するためのフローチャート。 図５のステップＡ７（相互相関の計算）を詳述するためのフローチャート。 一定時間の割り込みで毎に実行開始される中央制御部１の動作（スライダ処理）を示したフローチャート。 相互相関の計算結果をグラフ化した図。 第２実施形態における摺動操作検出機能付きの電子機器（電子辞書装置）の基本的な構成要素を示したブロック図。 第２実施形態において、電子機器を構成する筐体の所定の位置にピックアップ（マイクロフォン）５３、５４をペアとして２組配設した状態を示した図。 第２実施形態の特徴的な動作である手書き摺動操作部５の動作を説明するためのフローチャート。 第２実施形態において、一定時間の割り込みで毎に実行開始される中央制御部１の動作（手書きスクロール認識処理）を示したフローチャート。 第２実施形態において、時間経過と時間シフト量との関係をグラフ化した図。 第２実施形態において認識した手書きストロークを再現した場合を例示した図。 第２実施形態の変形例として摺動操作検出機能付き電子機器を家庭電化製品（冷蔵庫）に適用した場合を例示した図。 （１）、（２）は、第２実施形態の他の変形例としてピックアップが３つの場合の実装例を示した図。 図１６の場合の仮想手書き入力エリアを説明するための図。

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して詳細に説明する。
（第１実施形態）
先ず、図１〜図８を参照して本発明の第１実施形態を説明する。
第１実施形態として適用した電子機器の基本的な構成要素を示したブロック図である。
この電子機器は、例えば、携帯可能なサイズの電子辞書装置であり、各種のアプリケーション機能として辞書機能、計時機能などの基本機能のほか、指やペンを操作面に接触させながら移動する手書き摺動操作に追従してその操作位置を逐次検出する摺動操作検出機能を備えている。

中央制御部１は、電源部（図示省略）からの電力供給によって動作し、記憶部２内の各種のプログラムに応じてこの電子辞書装置の全体動作を制御する中央演算処理装置やメモリなどを有している。記憶部２は、例えば、ＲＯＭ、フラッシュメモリなどを有する構成で、後述する図７に示した動作手順に応じて第１実施形態を実現するためのプログラムや各種のアプリケーションなどが格納されているプログラムメモリ２１などを有している。なお、記憶部２は、例えば、ＳＤカード、ＩＣカードなど、着脱自在な可搬型メモリ（記録メディア）を含む構成であってもよく、図示しないが、通信機能を介してネットワークに接続されている状態においては所定のサーバ装置側の記憶領域を含むものであってもよい。

中央制御部１には、入出力デバイスとして、表示部３、キー操作部４、手書き摺動操作部５などが接続され、それらの入出力動作を制御する。表示部３は、高精細液晶ディスプレイあるいは有機ＥＬ（Electro Luminescence）ディスプレイである。キー操作部４は、各種の押しボタン式の各種のキーとして、図示省略したが、文字キー、テンキーなどを有し、中央制御部１は、この操作部４から操作キーに対応して出力される入力操作信号に応じた処理を行う。手書き摺動操作部５は、上述の摺動操作検出機能の一部を構成するもので、例えば、輝度調整やボリューム調整などを行う摺動操作（スライダ操作）に追従してその操作位置を逐次検出して中央制御部１に与えることにより入力処理を指示するスライダ操作部であり、中央制御部１は、この手書き摺動操作部（スライダ操作部）５からの指示に応じた入力処理として輝度調整やボリューム調整などのスライダ処理を実行するようにしている。

手書き摺動操作部５（スライダ操作部）は、専用の制御部５１を中核とし、後述する図５及び図６に示した動作手順に応じて第１実施形態を実現するためのプログラムや各種のアプリケーションなどが格納されているプログラムメモリ５２に応じてこの手書き摺動操作部５の全体動作を制御するもので、上述のスライダを構成する２つのピックアップ５３、５４に接続されている。このスライダは、図２（１）に示すように、２つのピックアップ５３、５４を直線上に所定の間隔を空けて配設した構成で、各ピックアップ５３、５４として圧電素子を使用している。

図２（１）は、電子辞書装置の筺体の上面一部に配設されたスライダを示した図である。
ピックアップ５３、５４の間において、操作者の指を操作面（例えば、筺体の上面）に接触させながら移動する摺動操作（スライダ操作）が行われると、その操作時には接触点（操作位置）の摩擦によって擦れ音が発生するが、この擦れ音は、接触点（擦れ音の発生点）から略均一に伝わって各ピックアップ５３、５４に到達するため、制御部５１は、各ピックアップ５３、５４からの波形データに基づいて、この擦れ音が各ピックアップ５３、５４に到達する到達具合（時間の遅れ）を検出するようにしている。

図２（２）は、ピックアップ５３、５４を実装した状態を示した図である。
各ピックアップ５３、５４は、電子機器を構成する筺体の載置面側（例えば、底面部側）に配設され、筺体の底面部６から突設した収納部６１のうち、その一つの収納部６１の中空部にピックアップ５３を埋設してゴム材７で保護し、他の一つの収納部６１の中空部にピックアップ５４を埋設してゴム材７で保護されている。このようにピックアップ５３、５４が埋設されている筐体の底面部側に対してその反対側の上面部側がスライダの操作面となっている。
なお、図示の例では、筺体の底面部６から突設した収納部６１にピックアップ５３、５４に配設（収納）するようにしたが、筐体が上部ケースと下部ケースによって構成されている場合において、この上部ケースの裏面側にピックアップ５３、５４に配設するようにしてもよい。これによって上部ケースの上面側をスライダとすることができる。このようにピックアップ５３、５４の取り付け位置は、擦れ音を的確に検出することが可能であれば、任意である。

なお、スライダの操作面は、指との摩擦を大きくするために粗面としてもよい。また、スライダの操作範囲（仮想手書き入力エリア）は、擦れ音を検出するピックアップ５３、５４を使用しているため、それらを結ぶ直線上に限らず、その垂線方向に若干膨らんだ楕円形の範囲（図中、破線で囲った領域）となるが、厳密に特定される領域ではなく、擦れ音の大きさなどにより変化する領域である。また、ピックアップ５３、５４を区別して呼ぶ場合には、その一方を第１ピックアップ５３とし、他方を第２ピックアップ５４と呼称するものとする。

第１ピックアップ５３によって測定された振動波形信号は、所定のサンプリング周波数にしたがってＡＤ変換部（ＡＤＣ）５５によって波形データに順次変換された後、第１波形メモリ５６に一時記憶される。同様に、第２ピックアップ５４によって測定された振動波形信号は、所定のサンプリング周波数にしたがってＡＤ変換部（ＡＤＣ）５５によって波形データに順次変換された後、第２波形メモリ５７に一時記憶される。この第１波形メモリ５６及び第２波形メモリ５７は、外部の雑音が多い環境で正しい時間差を測定するために所定回数（例えば、５１２）分のサンプル（波形データ）を逐次記憶可能なもので、この第１波形メモリ５６及び第２波形メモリ５７に５１２回数分の波形データが記憶された際に、制御部５１は、第１波形メモリ５６及び第２波形メモリ５７から各波形データを順次読み出しながら２つの波形の相互相関を計算することによって時間シフト量（時間の遅れ）を求めるようにしている。

すなわち、スライダの操作範囲内において摺動操作が行われると、その操作位置（接触点：擦れ音の発生点）と各ピックアップ５３、５４との距離に応じて擦れ音が各ピックアップ５３、５４に到達するまでに時間差が生じる。つまり、操作位置（接触点）に近いピックアップで検出された擦れ音が、操作位置（接触点）から遠いピックアップに検出されるまでには、その距離差に応じた時間分遅れることになる。この時間差（時間の遅れ）を特定することによってピックアップ５３、５４から操作位置（接触点）までの距離の差を特定することができるので、制御部５１は、２つの波形の相互相関を計算して時間シフト量（到達時間差：時間の遅れ）を求めるようにしている。

図３は、同一の音源（擦れ音）を検出した第１ピックアップ５３の波形データと第２ピックアップ５４の波形データを具体的に例示した図で、その縦軸は、振幅の値を示し、横軸はサンプリングのデータ番号を示している。
図中の例は、上の方の波形データに対して下の方の波形データが若干（例えば、３〜５サンプル分）遅れている場合を例示している。このように同一の擦れ音を２つのピックアップ５３、５４で検出したとしても摺動操作（スライダ操作）時の接触具合や環境などにより振幅は同じようにはならないが、全体的には一定のサンプル数分ずれているので、この時間シフト量（時間の遅れ）を相互相関によって求める。なお、図示の例では、上の方の波形を３サンプル分か４サンプル分遅らせて計算した相関値が最大となることを示している。

この相互相関によって求められた相関結果（時間シフト量）は、インターフェイス部５８を介して中央制御部１に与えられる。中央制御部１は、２つのピックアップ５３、５４に擦れ音が到達するまでの時間差（時間シフト量）に基づいてピックアップ５３、５４から操作位置（接触点）までの距離の差を算出し、この距離の差により擦れ音発生点を手書き摺動操作の操作位置として特定し、その操作位置に応じて輝度調整やボリューム調整などのスライダ処理を行うようにしている。すなわち、スライダ操作時に発生する擦れ音に応じて入力処理（スライド処理）を行うようにしている。

図４は、相関結果（時間シフト量）と操作位置（接触点）との関係を説明するための図である。
図示の例は、第１ピックアップ５３がポイントＡの位置に配設され、第２ピックアップ５３がポイントＥの位置に配設されている状態において、このポイントＡ、Ｅを結ぶ直線上のポイントＢ、Ｃ、Ｄが操作された場合を例示している。ポイントＢが操作された場合、ポイントＢから第１ピックアップ５３までの距離ＡＢは、ポイントＢから第２ピックアップ５４までの距離ＢＤよりも短いので、第１ピックアップ５３は、第２ピックアップ５４よりも操作時の擦れ音を時間シフト量（１）だけ早く検出することになる。

また、ポイントＣが操作された場合、ポイントＣから第１ピックアップ５３までの距離ＡＣとポイントＣから第２ピックアップ５４までの距離ＣＥは略同じとなり、擦れ音は、第１ピックアップ５３、第２ピックアップ５４に略同時に到達するようになるため、時間の遅れはなく、時間シフト量（２）は検出されない。ポイントＤが操作された場合、ポイントＤから第２ピックアップ５４までの距離ＤＥは、ポイントＤから第１ピックアップ５３までの距離ＡＤよりも短いので、第２ピックアップ５４は、第１ピックアップ５３よりも操作時の擦れ音を時間シフト量（３）だけ早く検出することになる。

他方、ピックアップ５３、ピックアップ５４の間を外れたポイントＦが操作された場合、ポイントＦから第２ピックアップ５４までの距離ＥＦは、ポイントＦから第１ピックアップ５３までの距離ＡＦよりも短く、時間シフト量（４）が検出されるようになるが、この時間シフト量（４）は、ポイントＥＦの距離に拘わらずに略一定、つまり、ピックアップ５３、ピックアップ５４間の距離に略相当する時間の遅れで略一定となるため、ピックアップ５３、ピックアップ５４の間での操作ではないものとしてその操作を無効としている。これによって摺動操作が２つのピックアップの間（内側）で行われたのか外側で行われたのかを容易に判別することができる。

このように第１実施形態においては、手書き摺動操作時に発生する擦れ音を複数のピックアップにより測定する測定手段（手書き摺動操作部５、制御部５１、プログラムメモリ５２、ピックアップ５３、５４）と、前記測定手段により測定された複数のピックアップの波形データを比較してその波形間の時間シフト量を判定する判定手段（手書き摺動操作部５、制御部５１、プログラムメモリ５２、）と、前記判定手段により判定された波形間の時間シフト量によって前記各ピックアップからの距離の差を算出する算出手段（中央制御部１、プログラムメモリ２１）と、前記算出手段により算出された距離の差により擦れ音発生点を手書き摺動操作の操作位置として検出する検出手段（中央制御部１、プログラムメモリ２１）と、を備える構成となっている。

次に、第１実施形態における摺動操作検出機能付き電子機器（電子辞書装置）の動作概念を図５〜図７に示すフローチャートを参照して説明する。ここで、これらのフローチャートに記述されている各機能は、読み取り可能なプログラムコードの形態で格納されており、このプログラムコードにしたがった動作が逐次実行される。また、ネットワークなどの伝送媒体を介して伝送されてきた上述のプログラムコードに従った動作を逐次実行することもできる。このことは後述する他の実施形態においても同様であり、記録媒体のほかに、伝送媒体を介して外部供給されたプログラム／データを利用して本実施形態特有の動作を実行することもできる。

図５は、第１実施形態の特徴的な動作である手書き摺動操作部５の動作を説明するためのフローチャートであり、電源投入に応じて実行開始される。
先ず、手書き摺動操作部５においてその制御部５１は、ピックアップ５３、５４によって測定された振動波形信号がＡＤ変換部５５によって波形データに変換されると、その波形データに基づいて閾値判定を行ってスライダ操作が行われたか否かを調べ、所定の閾値を超えるまで（スライダ操作が行われるまで）待機状態となる（ステップＡ１）。

いま、スライダ操作が行われたときには（ステップＡ１でＹＥＳ）、第１波形メモリ５６及び第２波形メモリ５７に所定数分のサンプル（波形データ）を一時記憶させる動作を開始するが、それに先立って、そのサンプリング回数を計数するカウンタ（図示省略）に初期値“０”をセットしてその値をクリアする（ステップＡ２）。そして、第１ピックアップ５３からの波形データを読み込んで第１波形メモリ５６に一時記憶させると共に（ステップＡ３）、第２ピックアップ５４からの波形データを読み込んで第２波形メモリ５７に一時記憶させる（ステップＡ４）。

次に、カウンタの値をプラス“１”してその値を更新（ステップＡ５）した後、そのカウンタ値は、“２５６”であるかを調べるが（ステップＡ６）、最初は、カウンタ値は“１”であるから上述のステップＡ３に戻り、以下、各波形データを対応する第１波形メモリ５６、第２波形メモリ５７に一時記憶させる動作を繰り返す。これによって第１波形メモリ５６、第２波形メモリ５７に所定数（５１２）分のサンプル（波形データ）が一時記憶されると（ステップＡ６でＹＥＳ）、第１波形メモリ５６、第２波形メモリ５７の内容を読み出しながら相互相関の計算を行う（ステップＡ７）。

図６は、図５のステップＡ７（相互相関の計算）を詳述するためのフローチャートである。
先ず、制御部５１は、ピックアップ５３、５４間の操作位置（接触点）から発生した擦れ音がピックアップ５３、５４に到達するまでの時間差の最大値を、予め固定的に決められているピックアップ間の距離に基づいて、算出すると共に（ステップＢ１）、この時間差の最大値から時間シフト量の最大値ｔ０を算出する処理を行う（ステップＢ２）。例えば、擦れ音の到達時間差が最大となるのは、２つのピックアップ５３、５４の延長線上が操作位置（接触点）である場合であるので、２つのピックアップ５３、５４間の距離が５ｃｍとすれば、時間差の最大値は操作面の材質などにもよるが、１６０μｓｅｃ程度となる。この場合、サンプリング周波数（例えば、９６ｋＨｚ）で擦れ音を取得したものとすると、１６サンプルのずれが想定される。このずれの値は音の伝搬速度によって決定され、伝搬速度は素材によって異なるが、ある程度のマージンを持って設計する必要があるため、第１実施例では、時間シフト量の最大値ｔ０を±２８サンプルとして決定するようにしている。

次に、時間シフト量ｔを初期化する処理を行うことによりｔ＝−ｔ０（−２８）とする（ステップＢ３）。そして、第１波形メモリ５６及び第２波形メモリ５７から波形データを読み出しながら相互相関の計算を行う（ステップＢ４）。そして、時間シフト量ｔに“１”を加算してシフト（ステップＢ５）した後、その時間シフト量ｔがｔ０（２８）未満であるかを調べ（ステップＢ６）、ｔ＜ｔ０であれば（ステップＢ６でＹＥＳ）、時間シフト量ｔがｔ０に達するまでステップＢ４に戻り、相互相関の計算を継続する。このように、一方の波形データを固定して、他方の波形データをシフトしつつ積和をとる相互相関の計算を行う。

すなわち、５１２サンプル（波形データ）に対して時間シフトを行いながら相関計算を行うが、第１波形メモリ５６の５１２サンプル（波形データ）と、それに対して２８サンプル前（時間シフト量ｔ＝−２８）の第２波形メモリ５７の５１２サンプル（波形データ）との相関計算を行って積和（相関値）を順次求める。そして、時間シフト量ｔがｔ０（２８）に達すると（ステップＢ６でＮＯ）、各相関結果（相関値）を比較することにより相関値が最大となる時間シフト量ｔを時間差として決定する（ステップＢ７）。これによって第１ピックアップ５３の５１２サンプル区間での第１ピックアップ５３と第２ピックアップ５４との到達時間差が求められ、第１ピックアップ５３の波形データをどれだけずらせば、第２ピックアップ５４の波形データに近似するかを数値として決定する。

このような相互相関の計算（図５のステップＡ７）が終わると、その相関計算の結果（相関値が最大となる時間シフト量）を、インターフェイス部５８を介して中央制御部１に通知する（ステップＡ８）。そして、ピックアップ５３、５４からの波形データに基づいて閾値判定を行い、スライダ操作が行われていないかを調べ（ステップＡ９）、所定の閾値を超えていれば（ステップＡ９でＮＯ）、スライダ操作が継続して行われているものとして、上述のステップＡ２に戻り、カウンタをクリアした後、上述の動作（ステップＡ２〜Ａ９）を繰り返す。そして、スライダ操作の終了を検出したときには（ステップＡ９でＹＥＳ）、スライダ操作の終了通知を中央制御部１に与える（ステップＡ１０）。これによって図５の処理を終了し、新たなスライダ操作の開始を待つ。

図７は、一定時間の割り込みで毎に実行開始される中央制御部１の動作（スライダ処理）を示したフローチャートである。
中央制御部１は、手書き摺動操作部５から相互相関の計算結果（相関値が最大となる時間シフト量）を受け取ったかを調べ（ステップＣ１）、受け取らなければ（ステップＣ１でＮＯ）、この図７のフローから抜けるが、相互相関の計算結果を受け取ったときには（ステップステップＣ１でＹＥＳ）、この相互相関の計算結果に基づいて、操作位置（擦れ音発生位置）から第１ピックアップ５３までの距離と操作位置から第２ピックアップ５４までの距離の差を算出し（ステップＣ２）、操作位置（接触点）を特定する処理を行う（ステップＣ３）。

この場合、時間シフト量が“０”であれば、第１ピックアップ５３の波形データと第２ピックアップ５４との間で時間差が生じない場合であるから、第１ピックアップ５３と第２ピックアップ５４との中点を操作位置（接触点）として決定することができる。一方、時間シフト量がマイナスの値であれば、第１ピックアップ５３の波形データの方が遅延している場合であるので、操作位置（接触点）は、第２ピックアップ５４側に近いことが分かる。逆に、時間シフト量がプラスの値であれば、第２ピックアップ５４の波形データの方が遅延していることになるので、操作位置（接触点）は、第１ピックアップ５３側に近いことが分かる。

図８は、相互相関の計算結果をグラフ化した図である。
このグラフ（ヒストグラム）は、その横軸を時間シフト量とし、縦軸を相関値としたもので、図示の例のように相関が強いときにはグラフに山状のピークが現れるが、そのピークが著しく多かった場合や山形が不鮮明な場合であれば、雑音の影響で擦れ音を特定できなかったか、若しくは擦れ音自体が発生していなかったと考えられるので、相関なしと判定することができる。

中央制御部１は、スライダ操作の終了通知を受け取ると、この相関値が最大となる時間シフト量に基づいて、操作位置（擦れ音発生位置）から第１ピックアップ５３までの距離と操作位置から第２ピックアップ５４までの距離の差を算出するが、この場合、時間シフト量と擦れ音の伝播速度に基づいて距離の差を算出する。これによって算出した距離の差とピックアップ５３、５４間の距離（固定値）との比から擦れ音発生点を手書き摺動操作の操作位置として特定する。これによって中央制御部１は、特定した操作位置に応じた入力処理として輝度調整やボリューム調整などのスライダ処理を実行する（ステップＣ４）。その後、図７のフローから抜ける。

以上のように、第１実施形態において摺動操作検出機能付きの電子機器は、手書き摺動操作時に発生する擦れ音を測定した複数のピックアップ５３、５４からの波形データを比較してその波形間の時間シフト量を判定し、この時間シフト量によって各ピックアップ５３、５４からの距離の差を算出すると共に、この距離の差により擦れ音発生点を手書き摺動操作の操作位置として特定するようにしたので、手書き摺動操作時に発生する擦れ音からその操作位置を適切に検出することができる。

ピックアップ５３、５４からの波形データが所定の条件（閾値）を満たすか否かに基づいて手書き摺動操作（スライダ操作）が行われているか否かを判別し、スライダ操作が行われている間、その摺動操作時に発生する擦れ音からその操作位置を検出する動作を継続するようにしたので、スライダ操作に追従してその操作位置を連続的に検出することが可能となる。

手書き摺動操作時に発生する擦れ音を、所定のタイミング毎に複数のピックアップ５３、５４により測定された各波形データに基づいてその相互相関を計算して、その波形間の時間シフト量を判定すると共に、その各時間シフト量の中から最も相関値の大きい時間シフト量を判定し、この最も相関値の大きい時間シフト量によって各ピックアップ５３、５４からの距離の差を算出するようにしたので、距離の差を精度よく算出することができると共に、この距離の差によって操作位置をより適切に検出することが可能となる。また、相互相関を計算して時間シフト量を判定するようにしたので、周囲の様々な雑音や自己の駆動音などの影響を排除することも可能となる。

２つのピックアップ５３、５４が所定の間隔を空けて配設されている状態において、この２つのピックアップ間の操作位置を特定するようにしたので、２つのピックアップ５３、５４を所定の間隔を空けて配設するだけでスライダを構成することができる。また、２つのピックアップ５３、５４の間に、例えば、表示パネルなどが設けられていても、その表示パネルの表面を操作面としてスライダ操作を行うようにすれば、ピックアップ５３、５４間のスペースを有効に利用することも可能となる。

時間シフト量が所定量であるか否かに基づいて操作位置が２つのピックアップ５３、５４の内側であるか外側であるかを特定するようにしたので、誤操作の確率を低く抑えることが可能となる。

摺動操作検出機能付きの電子機器は、摺動操作時に発生する擦れ音からその操作位置を特定した場合に、その操作位置に応じた入力処理を実行するようにしたので、擦れ音に応じた入力処理（スライダ処理）を円滑に行うことが可能となる。

２つのピックアップ５３、５４が所定の間隔を空けて配設されている状態において、この２つのピックアップ間の操作位置を特定してスライダ処理を実行するようにしたので、２つのピックアップ５３、５４を配設するだけでスライダを構成することができるようになる。したがって、従来のように専用パネルの使用によってデザイン上の制約や実装上の制約などを受けることもなく、また、摺動範囲を自由に設定したり、変更したりすることができると共に、部品点数が少ないために既存の電子機器にも容易に実装することも可能となる。

なお、上述した第１実施形態においては、２つのピックアップ５３、５４を使用して１組のスライダを構成するようにしたが、２組のスライダを配設するようにしてもよい。例えば、筐体の上部を口型に切り抜いて開口させ、その開口部の周りの２辺（例えば、縦方向の辺と横方向の辺）にそれぞれスライダを配設するようにしてもよい。この場合、図４の説明で上述したように摺動操作が２つのピックアップの間（内側）で行われたのか外側で行われたのかを容易に判別することができるので、上述のように開口部の周りに２組のスライダを配設するようにしても、いずれの組みのスライダが操作されたかを適切に判別することができる。これによって複数組のスライダを任意の位置に配設することが可能となる。

上述した第１実施形態においては、２つのピックアップ５３、５４として圧電素子を使用するようにしたが、マイクロフォンなどであってもよい。

（第２実施形態）
以下、この発明の第２実施形態について図９〜図１４を参照して説明する。
なお、上述した第１実施形態においては、摺動操作としてスライダ操作を行う場合を例示し、また、２つのピックアップとして圧電素子を使用した場合を例示したが、この第２実施形態においては、摺動操作として手書きストローク操作を行う場合を示し、２つのピックアップを組とする２組のピックアップを設け、各ピックアップとしてマイクロフォンを使用した場合である。ここで、両実施形態において基本的あるいは名称的に同一のものは、同一符号を付して示し、その説明を省略すると共に、以下、第２実施形態の特徴部分を中心に説明するものとする。

図９は、第２実施形態において、摺動操作検出機能付きの電子機器の基本的な構成要素を示したブロック図である。
第２実施形態の電子機器は、第１実施形態の電子機器と基本的には同様の構成で、中央制御部１を中核とし、その入出力デバイスとして中央制御部１には、表示部３、キー操作部４、手書き摺動操作部５などが接続されている。中央制御部１は、後述する図１２に示した動作手順に応じて第２実施形態を実現するためのプログラムなどが格納されている記憶部２の内容に応じてこの電子機器の全体動作を制御する。手書き摺動操作部５は、摺動操作検出機能の一部を構成するもので、手書きの文字を入力する摺動操作やフリック、スクロールなどの指示を入力する摺動操作に追従してその操作位置を逐次検出して中央制御部１に与えて入力処理を指示する手書きストローク操作部であり、中央制御部１は、この手書き摺動操作部（手書きストローク操作部）５からの指示に応じた入力処理として手書きストローク認識処理を実行するようにしている。

手書き摺動操作部（手書きストローク操作部）５は、専用の制御部５１を中核とし、後述する図１１に示した動作手順に応じて第２実施形態を実現するためのプログラムなどが格納されているプログラムメモリ５２の内容に応じてこの手書き摺動操作部５の全体動作を制御するもので、この制御部５１には上述の２つのピックアップ５３、５４を組とする２組のピックアップ５３、５４が接続されている。この第２実施形態では、２つのピックアップを組とする２組のピックアップ５３、５４を設け、各ピックアップ５３、５４としてマイクロフォンを使用している。

手書き摺動操作部５は、組毎にそのピックアップ５３、５４の波形データに基づいて相関計算を行い、その相関計算の結果（相関値が最大となる時間シフト量：到達時間差）を、インターフェイス部５８を介して中央制御部１に通知する。ここで、中央制御部１は、相互相関の計算結果を受け取ると、この相関結果メモリ２２に順次格納する。そして、手書き摺動操作（手書きストローク操作）の終了したことが手書き摺動操作部５から通知されると、中央制御部１は、相関結果メモリ２２の内容に基づいて時間シフト量の推移を判定して手書きストロークを認識する処理を行う。

図１０は、電子機器を構成する筐体の所定の位置にピックアップ（マイクロフォン）５３、５４をペアとして２組配設した状態を示した図である。
１つの組のピックアップ５３、５４は、所定の距離（例えば、５ｃｍ）を空けて配設され、他の組のピックアップ５３、５４も所定の距離（例えば、５ｃｍ）を空けて配設されている。なお、便宜上、図中、左側の組を１組目のペアマイク、右側の組を２組目のペアマイクと呼称するものとする。ここで、図示のように正方形の２つの頂点付近に２組のペアマイク（ピックアップ５３、５４）は、それぞれ４５度傾けた状態で配設されている。

すなわち、同一組のピックアップ５３、５４を結んだ直線に近い場合（角度が０度か１８０度に近い場合）に比べて、それらの分解能はその垂線に近い方（角度が９０度に近い方）が高いので、各ペアマイクの垂線を基準として、手書き入力が可能な操作範囲（仮想手書き入力エリア）を想定することによって、仮想手書き入力エリア（例えば、正方形）の２つの頂点付近に２組のペアマイク（ピックアップ５３、５４）を４５度傾けた状態で配設するようにしている。また、各組のペアマイクは、例えば、筺体上面のキーボード領域に隣接する空白域に配設するようにしているが、その実装の位置はこれに限らない。また、マイクロフォンの種類は、ダイナミック型、コンデンサ型などであってもよく、また、正方形（仮想手書き入力エリア）への指向性を持たせたマイクロフォンであってもよい。

図１１は、第２実施形態の特徴的な動作である手書き摺動操作部５の動作を説明するためのフローチャートであり、電源投入に応じて実行開始される。
第２実施形態は、２組のペアマイク（ピックアップ５３、５４）を設けた構成であり、図５の動作を組毎に繰り返す点を特徴とするもので、図５の動作と基本的には同様であるため、以下、第２実施形態の手書き摺動操作部５の動作を簡単に説明するものとする。 先ず、制御部５１は、ペアマイク（ピックアップ５３、５４）からの波形データに基づいて閾値判定を行った結果、手書きストローク操作が行われたことを検出すると（ステップＤ１でＹＥＳ）、１組目のペアマイクに対する処理（ステップＤ２〜Ｄ８）を行った後、２組目のペアマイクに対する処理（ステップＤ９〜Ｄ１５）を行う。

すなわち、制御部５１は、サンプリング回数を計数するカウンタ（図示省略）及び各波形メモリ５６、５７の内容をクリア（ステップＤ２）した後、１組目の第１ピックアップ５３からの波形データ７を第１波形メモリ５６に（ステップＤ３）、１組目の第２ピックアップ５４からの波形データ７を第２波形メモリ５７に一時記憶させる（ステップＤ４）。そして、カウンタの値をプラス“１”（ステップＤ５）した後、そのカウンタ値が“２５６”になるまで（ステップＤ６）、各波形データを対応する第１波形メモリ５６、第２波形メモリ５７に一時記憶させる動作を繰り返す。これによって第１波形メモリ５６、第２波形メモリ５７に５１２分のサンプル（波形データ）が記憶されたときには（ステップＤ６でＹＥＳ）、相互相関の計算に移る（ステップＤ７）。そして、この相互相関の計算結果（相関値が最大となる時間シフト量）を、インターフェイス部５８を介して中央制御部１に通知する（ステップＤ８）。

次に、２組目のペアマイクに対する処理に移り、上述と同様に制御部５１は、サンプリング回数を計数するカウンタ（図示省略）及び各波形メモリ５６、５７の内容をクリア（ステップＤ９）した後、２組目の第１ピックアップ５３からの波形データ７を第１波形メモリ５６に（ステップＤ１０）、２組目の第２ピックアップ５４からの波形データ７を第２波形メモリ５７に一時記憶させる（ステップＤ１１）。そして、カウンタの値をプラス“１”（ステップＤ１２）した後、そのカウンタ値が“２５６”になるまで（ステップＤ１３）、各波形データを対応する第１波形メモリ５６、第２波形メモリ５７に一時記憶させる動作を繰り返す。これによって５１２分のサンプル（波形データ）が記憶されたときには（ステップＤ１３でＹＥＳ）、相互相関の計算に移る（ステップＤ１４）。そして、相互相関の計算結果（相関値が最大となる時間シフト量）を、インターフェイス部５８を介して中央制御部１に通知する（ステップＤ１５）。

次に、制御部５１は、ペアマイク（ピックアップ５３、５４）からの波形データに基づいて閾値判定を行って手書きストローク操作が行われていないか（解除されたか）を調べ（ステップＤ１６）、所定の閾値を超えていれば（ステップＤ１６でＮＯ）、手書きストローク操作が継続して行われているものとして、上述のステップＤ２に戻り、以下、上述の動作（ステップＤ２〜Ｄ１６）を繰り返す。そして、手書きストローク操作が行われていないことを検出すると（ステップＤ１６でＹＥＳ）、手書きストローク操作の終了通知を中央制御部１に与える（ステップＤ１７）。

なお、図１１の例では、２組のペアマイク（合計４つのピックアップ５６、５７）の測定（サンプルホールド）を組毎に時分割で行うようにしたが、サンプリング周波数（例えば、９６ｋＨｚ）にもよるが、４つのピックアップ５６、５７のサンプルホールドを同時に行うようにしてもよい。この場合、相関計算自体は時分割で行うようにしてもよい。このように、４つのピックアップ５６、５７のサンプルホールドを同じタイミングで行えば、僅かな時間の遅れ（５１２サンプル分の遅れ）であってもそれを解消することが可能となる。

図１２は、第２実施形態において、一定時間の割り込みで毎に実行開始される中央制御部１の動作（手書きスクロール認識処理）を示したフローチャートである。
中央制御部１は、手書き摺動操作部５から相互相関の計算結果（相関値が最大となる時間シフト量）を受け取ったかを調べ（ステップＥ１）、受け取らなければ（ステップＥ１でＮＯ）、手書き摺動操作部５から手書きストローク操作の終了通知を受け取ったかを調べ（ステップＥ３）、手書き摺動操作部５から手書きストローク操作の終了通知を受け取らなければ（ステップＥ３でＮＯ）、図１２のフローから抜けるが、相互相関の計算結果を受け取ると（ステップＥ１でＹＥＳ）、この相関結果メモリ２２に格納する処理（ステップＥ２）を行った後、図１２のフローから抜ける。以下、相関結果を受け取る毎に相関結果メモリ２２に順次格納する処理を行う。その後、手書き摺動操作部５から手書きストローク操作の終了通知を受け取ると（ステップＥ３でＹＥＳ）、相関結果メモリ２２を参照して時間シフト量の一連の推移（ストロークデータ）を特定する（ステップＥ４）。

図１３は、時間経過と時間シフト量との関係をグラフ化したもので、その縦軸は時間シフト量、その横軸は時間を示している。なお、図中、縦線は、図７のヒストグラムに相当する部分のデータを示している。破線の曲線は、１組目のペアマイクの時間シフト量から検出したストロークデータを示し、実線の曲線は、２組目のペアマイクの時間シフト量から検出したストロークデータを示している。このようにして組毎に検出したストロークデータに基づいて組毎に擦れ音の発生方向（角度）を特定する（ステップＥ５）。

すなわち、擦れ音の発生位置から１組目のペアマイクまでの距離差は、擦れ音の到達時間差（時間シフト量）に応じて特定することができるが、一般に、２地点からの距離の差が一定となる点の軌跡（曲線）は、双曲線となって漸近線を持つために、擦れ音発生点までの距離がピックアップ５３、５４間の距離に比べて十分大きければ、操作位置（擦れ音の発生位置）は、双曲線の漸近線上に存在し、その擦れ音の発生方向（角度）は、双曲線の漸近線の傾きから求めることができる。このことは、操作位置はピックアップ５３、５４間の中点から擦れ音の発生方向（角度）の直線上に存在していることを意味している。なお、擦れ音の発生方向は、ピックアップ５３、５４を結んだ直線と漸近線との角度である。同様にして２組目のペアマイクにおいてそのピックアップ５３、５４の中点からの擦れ音の発生方向（角度）を求める。また、操作位置（擦れ音の発生位置）とピックアップ５３、５４の距離が離れてしまうと、測定精度が落ちてしまうので、ピックアップ５３、５４の間隔はできるだけ広くした方がよい。

中央制御部１は、上述のようにして組毎に擦れ音の発生方向（角度）を特定すると、この擦れ音の発生方向に基づいて三角測量と同じ座標計算を行うことでその擦れ音の発生位置を特定する（ステップＥ６）。すなわち、組毎に擦れ音の発生方向を特定することによって、三角形の合同条件（二角夾辺）を満たすようになるために、その操作位置（擦れ音の発生位置）を特定することができる。そして、中央制御部１は、上述のようにして継続的に特定した複数の操作位置に基づいて手書きスクロールを認識する処理を行う（ステップＥ７）。
図１４は、これによって認識した手書きストロークを再現した場合を例示した図で、手書きストロークの入力軌跡が再現される。

以上のように、第２実施形態において摺動操作検出機能付きの電子機器は、２組のペアマイク（ピックアップ５３、５４）を所定の間隔を空けて配設されている状態において、手書き摺動操作時に発生する擦れ音をペアマイクにより測定された波形データを比較してその波形間の時間シフト量を組毎に判定して、この組毎の時間シフト量によって組毎に距離の差を算出し、この距離の差から擦れ音発生方向を求め、各組毎の擦れ音発生方向から擦れ音発生点を求めて操作位置を特定するようにしたので、手書き入力エリアを広くすることができ、その手書き入力エリア内の自由な位置を操作したとしても操作時に発生する擦れ音からその操作位置を適切に検出することができる。

手書き摺動操作によって描画された手書きスクロールを継続的に特定した複数の操作位置に基づいて認識する処理を行うようにしたので、２組のペアマイクを配設するだけで手書きスクロールを適切に検出することができ、従来のように専用パネルの使用によってデザイン上の制約や実装上の制約などを受けることもなく、また、摺動範囲を自由に設定したり、変更したりすることができると共に、部品点数が少ないために既存の電子機器にも容易に実装することも可能となる。

また、上述した第２実施形態においては、摺動操作検出機能付き電子機器は、家庭電化製品であってもよい。
図１５は、第２実施形態の変形例として摺動操作検出機能付き電子機器を家庭電化製品（冷蔵庫）に適用した場合を例示した図である。
すなわち、図１５は、冷蔵庫の前面ドアパネル８の内側（裏側）に２組のペアマイク（ピックアップ５３、５４）を所定の間隔を空けて配設した場合を示している。この場合においても手書きを行う操作範囲を想定した正方形（仮想手書き入力エリア）の２つの頂点付近にその正方形の中心部でそれらの垂線が交差するように２組のペアマイクを４５度傾けた状態で配設するようにしている。なお、仮想手書き入力エリアは、冷蔵庫の前面ドアパネル８の外側（表側）である。このように２組のペアマイクを電子機器（例えば、冷蔵庫）の外表面空白域（前面ドアパネル）を利用する位置に配設するようにすれば、その空白域を手書き入力エリアとして有効に活用することが可能となる。

また、上述した第２実施形態においては、２組のペアマイクを所定の間隔を空けて配設するようにしたが、このように合計４つのピックアップを配設せずに、３つのピックアップを所定の間隔を空けて配設するようにしてもよい。
図１６は、第２実施形態の他の変形例としてピックアップが３つの場合の実装例を示した図で、（１）は、電子機器を構成する筺体の底面部６を示している。

図示の例は、電子機器を構成する筺体の底面部６に５つの収納部（脚部）６１が所定の間隔を空けて突設されている場合を示し、この５つの収納部６１は、底面部６の四隅と中心に配設されたもので、そのうちの３つの収納部６１はピックアップが収納されている収納部（図中、塗り潰した収納部）となっている。このようにピックアップが収納されている３つの収納部は、電子機器（例えば、電子辞書装置）を机上に載置した状態において、底面部６の四隅の収納部のうち操作者側に近い手前の２つの収納部と、底面部６の中心に配設された収納部である。なお、説明の便宜上、この３つの収納部を単にピックアップと呼称し、手前（操作者側）の２つの収納部をピックアップＰ１、Ｐ２、中心の収納部をピックアップＰ３と呼称すると、ピックアップＰ３を中心として、別の２つのピックアップＰ１、Ｐ２が所定の間隔を空けて対称の位置にそれぞれ配設されたものとなる。

図１６（２）は、ピックアップが収納されている収納部６１（ピックアップＰ１）の断面を示した図で、この収納部６１の中空部には、ゴム材７を介してマイクロフォンＭ１が埋設されている。同様に、収納部６１（ピックアップＰ２）の中空部には、ゴム材７を介してマイクロフォンＭ２が埋設されている。なお、図示省略したが、ピックアップＰ３も同様の構成となっている。このようにピックアップＰ１、Ｐ２、Ｐ３は、机面に接触又は近接するように下向きに配設され、操作者側の机面が仮想手書き入力エリアとなっている。

図１７は、ピックアップＰ１、Ｐ２、Ｐ３に応じて特定される仮想手書き入力エリアを説明するための図である。
ピックアップＰ１、Ｐ３は、所定の距離（例えば、５ｃｍ）を空けて配設され、ピックアップＰ２、Ｐ３も所定の距離（例えば、５ｃｍ）を空けて配設されている。この場合、ピックアップＰ１、Ｐ３を１組のペアマイクとし、ピックアップＰ２、Ｐ３を他の組のペアマイクとしている。このように中心のピックアップＰ３と別の１つのピックアップＰ１を一組とし、ピックアップＰ３、Ｐ２を他の組として、第２実施形態と同様に組毎に時間シフト量を判定する。この場合、電子機器（例えば、電子辞書装置）を机上に載置した状態において、その底面部６にピックアップＰ１、Ｐ２、Ｐ３を配設することによって、手書き入力が可能な操作範囲（仮想手書き入力エリア）は、操作者側の机面となる。

すなわち、ペアマイクの各ピックアップを結んだ直線に近い場合（角度が０度か１８０度に近い場合）に比べて、それらの分解能はその垂線に近い方（角度が９０度に近い方）が高いので、各ペアマイクの垂線を基準とすると、手書き入力が可能な操作範囲は、電子機器の外側の机面となる。なお、操作範囲の広さは、ピックアップを結んだ直線を越えていなければ、擦り音を検出することが可能なので、実際には図示の例よりも大きな範囲とすることができる。

このように２組のペアマイク（合計４つのピックアップ）を配設するのではなく、合計３つのピックアップを配設し、中心のピックアップＰ３と別の１つのピックアップＰ１を一組とし、ピックアップＰ３、Ｐ２を他の組としたとしても第２実施形態と同様の動作が可能となる。

また、電子機器を机上に載置した状態において、その底面部６にピックアップＰ１、Ｐ２、Ｐ３を配設することによって手書き入力が可能な操作範囲を机面とすることができるので、小型電子機器であっても広いスペースで手書き入力が可能となる。この場合、電子機器の底面部６においてピックアップＰ１、Ｐ２、Ｐ３を配設する位置に応じて操作範囲を操作者側の机面にしたり、右横や左横の机面にしたりすることもできる。なお、操作範囲を横側の机面にすれば、マウス（ポインティングデバイス）などの代わりとして利用可能となる。

なお、上述した各実施形態において中央制御部１は、手書き摺動操作部５から相互相関によって求められた相関結果（時間シフト量）を受け取ると、この相関結果を基に擦れ音発生点を手書き摺動操作の操作位置として特定する処理を行うようにしたが、手書き摺動操作部５が擦れ音発生点（操作位置）を特定する処理を行って中央制御部１に与えるようにしてもよい。

なお、上述した各実施形態においては、相互相関を計算して時間シフト量を判定することにより周囲の様々な雑音や自己の駆動音などの影響を排除することも可能となるが、更にバンドパスフィルタを使用して雑音を排除するようにしてもよい。

また、上述した各実施形態においては、摺動操作検出機能付きの電子機器として電子辞書装置を例示したが、これに限らず、パーソナルコンピュータ、ＰＤＡ（個人向け携帯型情報通信機器）、スマートフォンなどの携帯電話機、デジタルカメラ、音楽プレイヤー、電子ゲームなどであってもよい。

また、上述した各実施形態において示した“装置”や“部”とは、機能別に複数の筐体に分離されていてもよく、単一の筐体に限らない。また、上述したフローチャートに記述した各ステップは、時系列的な処理に限らず、複数のステップを並列的に処理したり、別個独立して処理したりするようにしてもよい。

以上、この発明の実施形態について説明したが、この発明は、これに限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲を含むものである。
以下、本願出願の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
（付記）
（請求項１）
請求項１に記載の発明は、
手書き摺動操作時に発生する擦れ音を複数のピックアップにより測定する測定手段と、
前記測定手段により測定された複数のピックアップの波形データを比較してその波形間の時間シフト量を判定する判定手段と、
前記判定手段により判定された波形間の時間シフト量によって前記各ピックアップからの距離の差を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された距離の差により擦れ音発生点を手書き摺動操作の操作位置として検出する検出手段と、
を具備したことを特徴とする摺動操作検出装置である。
（請求項２）
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の摺動操作検出装置において、
前記ピックアップからの波形データが所定の条件を満たすか否かに基づいて手書き摺動操作が行われているか否かを判別する判別手段を更に備え、
前記判別手段によって手書き摺動操作が行われていると判別されている間、その摺動操作時に発生する擦れ音からその操作位置を特定する動作を継続する、
ことを特徴とする摺動操作検出装置である。
（請求項３）
請求項３に記載の発明は、請求項１又は請求項２に記載の摺動操作検出装置において、
前記測定手段は、手書き摺動操作時に発生する擦れ音を、所定のタイミング毎に複数のピックアップにより測定し、
前記判定手段は、前記測定手段により所定のタイミング毎に測定された各波形データの相互相関を計算してその波形間の時間シフト量を判定すると共に、その各時間シフト量の中から最も相関値の大きい時間シフト量を判定し、
前記算出手段は、前記判定手段により判定された最も相関値の大きい時間シフト量によって前記各ピックアップからの距離の差を算出する、
ことを特徴とする摺動操作検出装置である。
（請求項４）
請求項４に記載の発明は、請求項１〜請求項３のいずれか１項に記載の摺動操作検出装置において、
前記測定手段は、２つのピックアップを所定の間隔を空けて配設して成り、
前記検出手段は、前記２つのピックアップ間の操作位置を検出する、
ことを特徴とする摺動操作検出装置である。
（請求項５）
請求項５に記載の発明は、請求項４に記載の摺動操作検出装置において、
前記検出手段は、前記判定手段により判定された時間シフト量が所定量であるか否かに基づいて前記操作位置が２つのピックアップの内側であるか外側であるかを検出する、
ことを特徴とする摺動操作検出装置である。
（請求項６）
請求項６に記載の発明は、請求項１〜請求項３のいずれか１項に記載の摺動操作検出装置において、
前記測定手段は、２つのマイクロフォンを組にしたピックアップを備え、この複数組のピックアップを所定の間隔を空けて配設して成り、
前記判定手段は、前記組毎に時間シフト量を判定し、
前記算出手段は、前記判定された組毎の時間シフト量に基づいて組毎に距離の差を算出し、
前記検出手段は、前記算出された組毎の距離の差から擦れ音発生方向を求め、各組毎の擦れ音発生方向から擦れ音発生点を求めて操作位置を検出する、
ことを特徴とする摺動操作検出装置である。
（請求項７）
請求項７に記載の発明は、請求項６に記載の摺動操作検出装置において、
前記測定手段は、一つのマイクロフォンを中心として、別の２つのマイクロフォンを所定の間隔を空けて対称の位置にそれぞれ配設して成り、
前記判定手段は、前記中心のマイクロフォンと別の１個のマイクロフォンを一組とし、前記中心のマイクロフォンと別の他の１個のマイクロフォンを他の組として、前記組毎に時間シフト量を判定する、
ことを特徴とする摺動操作検出装置である。
（請求項８）
請求項８に記載の発明は、
手書き摺動操作時に発生する擦れ音を複数のピックアップにより測定する測定手段と、
前記測定手段により測定された複数のピックアップの波形データを比較してその波形間の時間シフト量を判定する判定手段と、
前記判定手段により判定された波形間の時間シフト量によって前記各ピックアップからの距離の差を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された距離の差により擦れ音発生点を手書き摺動操作の操作位置として検出する検出手段と、
前記検出手段によって検出された摺動操作の操作位置に応じた入力処理を実行する処理手段と、
を具備したことを特徴とする電子機器、である。
（請求項９）
請求項９に記載の発明は、請求項８に記載の電子機器において、
前記測定手段は、２つのピックアップを所定の間隔を空けて配設して成り、
前記検出手段は、前記算出された距離の差により前記２つのピックアップ間の位置を擦れ音発生点として操作位置を検出し、
前記処理手段は、前記擦れ音発生点を手書き摺動操作時の操作位置に応じて所定の設定値を調整するスライダ処理を行う、
ことを特徴とする電子機器である。
（請求項１０）
請求項１０に記載の発明は、請求項８に記載の電子機器において、
前記測定手段は、２つのマイクロフォンを組にしたピックアップを備え、この複数組のピックアップを所定の間隔を空けて配設して成り、
前記判定手段は、前記組毎に時間シフト量を判定し、
前記算出手段は、前記判定された組毎の時間シフト量に基づいて組毎に距離の差を算出し、
前記検出手段は、前記算出された組毎の距離の差から擦れ音発生方向を求め、各組毎の擦れ音発生方向から擦れ音発生点を求めて操作位置を検出し、
前記処理手段は、手書き摺動操作によって描画された手書きスクロールを前記検出手段によって継続的に検出された複数の操作位置に基づいて認識する認識処理を行う、
ことを特徴とする電子機器である。
（請求項１１）
請求項１１に記載の発明は、請求項８〜請求項１０のいずれか１項に記載の電子機器において、
前記測定手段は、その複数のピックアップを当該電子機器を構成する筺体の外表面空白域を利用可能となる位置に配設して成る、
ことを特徴とする電子機器である。
（請求項１２）
請求項１２に記載の発明は、請求項８〜請求項１０のいずれか１項に記載の電子機器において、
前記測定手段は、その複数のピックアップを当該電子機器を構成する筺体の底面側に配設して成る、
ことを特徴とする電子機器である。
（請求項１３）
請求項１３に記載の発明は、
摺動操作検出装置のコンピュータを、
手書き摺動操作時に発生する擦れ音を複数のピックアップにより測定する測定手段により測定された複数のピックアップの波形データを比較してその波形間の時間シフト量を判定する判定手段、
前記判定手段により判定された波形間の時間シフト量によって前記各ピックアップからの距離の差を算出する算出手段、
前記算出手段により算出された距離の差により擦れ音発生点を手書き摺動操作時の操作位置として検出する検出手段、
として機能させるためのプログラムである。
（請求項１４）
請求項１４に記載の発明は、
電子機器のコンピュータを、
手書き摺動操作時に発生する擦れ音を複数のピックアップにより測定する測定手段により測定された複数のピックアップの波形データを比較してその波形間の時間シフト量を判定する判定手段、
前記判定手段により判定された波形間の時間シフト量によって前記各ピックアップからの距離の差を算出する算出手段、
前記算出手段により算出された距離の差により擦れ音発生点を手書き摺動操作時の操作位置として検出する検出手段、
前記検出手段により検出された摺動操作の操作位置に応じた入力処理を実行する処理手段、
として機能させるためのプログラムである。

１ 中央制御部
２ 記憶部
５ 手書き摺動操作部
６ 筺体の底面部
２１ プログラムメモリ
２２ 相関結果メモリ
５１ 制御部
５２ プログラムメモリ
５３、５４、Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３ ピックアップ
５５ ＡＤ変換部
５６ 第１波形メモリ
５７ 第２波形メモリ
５８ インターフェイス部

Claims (14)

1. 手書き摺動操作時に発生する擦れ音を複数のピックアップにより測定する測定手段と、
   前記測定手段により測定された複数のピックアップの波形データを比較してその波形間の時間シフト量を判定する判定手段と、
   前記判定手段により判定された波形間の時間シフト量によって前記各ピックアップからの距離の差を算出する算出手段と、
   前記算出手段により算出された距離の差により擦れ音発生点を手書き摺動操作の操作位置として検出する検出手段と、
   を具備したことを特徴とする摺動操作検出装置。
2. 前記ピックアップからの波形データが所定の条件を満たすか否かに基づいて手書き摺動操作が行われているか否かを判別する判別手段を更に備え、
   前記判別手段によって手書き摺動操作が行われていると判別されている間、その摺動操作時に発生する擦れ音からその操作位置を特定する動作を継続する、
   ことを特徴とする請求項１に記載の摺動操作検出装置。
3. 前記測定手段は、手書き摺動操作時に発生する擦れ音を、所定のタイミング毎に複数のピックアップにより測定し、
   前記判定手段は、前記測定手段により所定のタイミング毎に測定された各波形データの相互相関を計算してその波形間の時間シフト量を判定すると共に、その各時間シフト量の中から最も相関値の大きい時間シフト量を判定し、
   前記算出手段は、前記判定手段により判定された最も相関値の大きい時間シフト量によって前記各ピックアップからの距離の差を算出する、
   ことを特徴とする請求項１又は請求項２に記載の摺動操作検出装置。
4. 前記測定手段は、２つのピックアップを所定の間隔を空けて配設して成り、
   前記検出手段は、前記２つのピックアップ間の操作位置を検出する、
   ことを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか１項に記載の摺動操作検出装置。
5. 前記検出手段は、前記判定手段により判定された時間シフト量が所定量であるか否かに基づいて前記操作位置が２つのピックアップの内側であるか外側であるかを検出する、
   ことを特徴とする請求項４に記載の摺動操作検出装置。
6. 前記測定手段は、２つのマイクロフォンを組にしたピックアップを備え、この複数組のピックアップを所定の間隔を空けて配設して成り、
   前記判定手段は、前記組毎に時間シフト量を判定し、
   前記算出手段は、前記判定された組毎の時間シフト量に基づいて組毎に距離の差を算出し、
   前記検出手段は、前記算出された組毎の距離の差から擦れ音発生方向を求め、各組毎の擦れ音発生方向から擦れ音発生点を求めて操作位置を検出する、
   ことを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか１項に記載の摺動操作検出装置。
7. 前記測定手段は、一つのマイクロフォンを中心として、別の２つのマイクロフォンを所定の間隔を空けて対称の位置にそれぞれ配設して成り、
   前記判定手段は、前記中心のマイクロフォンと別の１個のマイクロフォンを一組とし、前記中心のマイクロフォンと別の他の１個のマイクロフォンを他の組として、前記組毎に時間シフト量を判定する、
   ことを特徴とする請求項６に記載の摺動操作検出装置。
8. 手書き摺動操作時に発生する擦れ音を複数のピックアップにより測定する測定手段と、
   前記測定手段により測定された複数のピックアップの波形データを比較してその波形間の時間シフト量を判定する判定手段と、
   前記判定手段により判定された波形間の時間シフト量によって前記各ピックアップからの距離の差を算出する算出手段と、
   前記算出手段により算出された距離の差により擦れ音発生点を手書き摺動操作の操作位置として検出する検出手段と、
   前記検出手段によって検出された摺動操作の操作位置に応じた入力処理を実行する処理手段と、
   を具備したことを特徴とする電子機器。
9. 前記測定手段は、２つのピックアップを所定の間隔を空けて配設して成り、
   前記検出手段は、前記算出された距離の差により前記２つのピックアップ間の位置を擦れ音発生点として操作位置を検出し、
   前記処理手段は、前記擦れ音発生点を手書き摺動操作時の操作位置に応じて所定の設定値を調整するスライダ処理を行う、
   ことを特徴とする請求項８に記載の電子機器。
10. 前記測定手段は、２つのマイクロフォンを組にしたピックアップを備え、この複数組のピックアップを所定の間隔を空けて配設して成り、
    前記判定手段は、前記組毎に時間シフト量を判定し、
    前記算出手段は、前記判定された組毎の時間シフト量に基づいて組毎に距離の差を算出し、
    前記検出手段は、前記算出された組毎の距離の差から擦れ音発生方向を求め、各組毎の擦れ音発生方向から擦れ音発生点を求めて操作位置を検出し、
    前記処理手段は、手書き摺動操作によって描画された手書きスクロールを前記検出手段によって継続的に検出された複数の操作位置に基づいて認識する認識処理を行う、
    ことを特徴とする請求項８に記載の電子機器。
11. 前記測定手段は、その複数のピックアップを当該電子機器を構成する筺体の外表面空白域を利用可能となる位置に配設して成る、
    ことを特徴とする請求項８〜請求項１０のいずれか１項に記載の電子機器。
12. 前記測定手段は、その複数のピックアップを当該電子機器を構成する筺体の底面側に配設して成る、
    ことを特徴とする請求項８〜請求項１０のいずれか１項に記載の電子機器。
13. 摺動操作検出装置のコンピュータを、
    手書き摺動操作時に発生する擦れ音を複数のピックアップにより測定する測定手段により測定された複数のピックアップの波形データを比較してその波形間の時間シフト量を判定する判定手段、
    前記判定手段により判定された波形間の時間シフト量によって前記各ピックアップからの距離の差を算出する算出手段、
    前記算出手段により算出された距離の差により擦れ音発生点を手書き摺動操作時の操作位置として検出する検出手段、
    として機能させるためのプログラム。
14. 電子機器のコンピュータを、
    手書き摺動操作時に発生する擦れ音を複数のピックアップにより測定する測定手段により測定された複数のピックアップの波形データを比較してその波形間の時間シフト量を判定する判定手段、
    前記判定手段により判定された波形間の時間シフト量によって前記各ピックアップからの距離の差を算出する算出手段、
    前記算出手段により算出された距離の差により擦れ音発生点を手書き摺動操作時の操作位置として検出する検出手段、
    前記検出手段により検出された摺動操作の操作位置に応じた入力処理を実行する処理手段、
    として機能させるためのプログラム。
    

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