JP2015155803A - 呼気診断装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】高精度の測定が安定して可能な呼気診断装置を提供する。【解決手段】実施形態によれば、供給部と、光源部と、セル部と、検出部と、第1フィルタと、第2フィルタと、を含む呼気診断装置が提供される。供給部は、呼気を含む試料気体が供給される。光源部は、測定光を出射する。セル部は、測定光に対して反射性の第1反射部及び第2反射部を含む。供給部から導入された試料気体が第1反射部と第2反射部との間の空間に導入される。検出部は、空間に試料気体が導入された状態において第1反射部及び第2反射部で反射して空間を通過した測定光を検出する。第1フィルタは、供給部とセル部との間の試料気体の導入経路上に設けられ粒子を捕獲する。第2フィルタは、導入経路上において第1フィルタとセル部との間に設けられ第1フィルタの吸湿性よりも高い吸湿性を有する。【選択図】図1
Description
本発明の実施形態は、呼気診断装置に関する。
呼気診断装置においては、呼気中のガスを測定する。測定結果により、病気の予防や早期発見が容易になる。呼気診断装置において、高精度の測定結果を安定して得ることが望まれる。
本発明の実施形態は、高精度の測定が安定して可能な呼気診断装置を提供する。
本発明の実施形態によれば、供給部と、光源部と、セル部と、検出部と、第1フィルタと、第2フィルタと、を含む呼気診断装置が提供される。前記供給部は、呼気を含む試料気体が供給される。前記光源部は、測定光を出射する。前記セル部は、前記測定光に対して反射性の第1反射部及び第2反射部を含む。前記供給部から導入された前記試料気体が前記第1反射部と前記第2反射部との間の空間に導入される。前記検出部は、前記空間に前記試料気体が導入された状態において前記第1反射部及び前記第2反射部で反射して前記空間を通過した前記測定光を検出する。前記第1フィルタは、前記供給部と前記セル部との間の前記試料気体の導入経路上に設けられ粒子を捕獲する。前記第2フィルタは、前記導入経路上において前記第1フィルタと前記セル部との間に設けられ前記第1フィルタの吸湿性よりも高い吸湿性を有する。
以下に、本発明の各実施の形態について図面を参照しつつ説明する。
なお、図面は模式的または概念的なものであり、各部分の厚みと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。また、同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。
なお、本願明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
なお、図面は模式的または概念的なものであり、各部分の厚みと幅との関係、部分間の大きさの比率などは、必ずしも現実のものと同一とは限らない。また、同じ部分を表す場合であっても、図面により互いの寸法や比率が異なって表される場合もある。
なお、本願明細書と各図において、既出の図に関して前述したものと同様の要素には同一の符号を付して詳細な説明は適宜省略する。
(実施形態)
図1は、実施形態に係る呼気診断装置を例示する模式図である。
図1に表したように、実施形態に係る呼気診断装置110は、供給部10iと、光源部30と、セル部20(容器部)と、検出部40と、第1フィルタ11と、第2フィルタ12と、を含む。
図1は、実施形態に係る呼気診断装置を例示する模式図である。
図1に表したように、実施形態に係る呼気診断装置110は、供給部10iと、光源部30と、セル部20(容器部)と、検出部40と、第1フィルタ11と、第2フィルタ12と、を含む。
供給部10iには、試料気体50が供給される。試料気体50は、呼気50aを含む。呼気50aは、例えば、ヒトを含む動物の呼気である。
光源部30は、測定光30Lを出射する。この例では、光源部30は、半導体発光素子30aと、駆動部30bと、を含む。駆動部30bは、半導体発光素子30aに電気的に接続される。駆動部30bは、半導体発光素子30aに、発光のための電力を供給する。後述するように、半導体発光素子30aとして、例えば、量子カスケードレーザが用いられる。半導体発光素子30aの例については、後述する。
測定光30Lは、呼気50aに含まれる物質に吸収される波長を含む。測定光30Lは、赤外光(赤外線)を含む。測定光30Lは、例えば、0.7マイクロメートル(μm)以上1000μm以下である。測定光30Lは、例えば、2.5μm以上11μm以下でも良い。
セル部20は、第1反射部21と、第2反射部22と、を含む。第1反射部21及び第2反射部22は、測定光30Lに対して反射性である。
供給部10iから導入された試料気体50は、第1反射部21と第2反射部22との間の空間23sに導入される。
例えば、セル部20は、例えば、セル23(容器)をさらに含む。例えば、セル23により、空間23sが形成される。第1反射部21と第2反射部22との間に空間23sの少なくとも一部が配置される。
測定光30Lは、空間23sに試料気体50が導入された状態において、例えば、空間23sを通過する。例えば、測定光30Lは、第1反射部21と第2反射部22とで反射して、第1反射部21と第2反射部22との間(空間23s)を複数回往復する。測定光30Lの一部が、試料気体50に含まれる物質により吸収される。測定光30Lのうちの、物質に特有の波長の成分が吸収される。吸収の程度は、物質の濃度に依存する。
検出部40は、空間23sに試料気体50が導入された状態において空間23sを通過した測定光30Lを検出する。
検出部40には、例えば、フォトダイオード、MCT(HgCdTe)、サーモパイル、または、焦電素子などが用いられる。実施形態において、検出部40は任意である。この例では、処理部45が設けられている。処理部45は、検出部40で得られた検出信号(例えば電気信号)を処理する。
呼気診断装置110においては、呼気50aを含む試料気体50に測定光30Lを照射し、呼気50aに含まれている物質による測定光30Lの吸収が測定される。これにより、呼気50aに含まれる物質の濃度が測定される。物質は、例えば、アセトンである。例えば、糖尿病に罹患すると、呼気50a中のアセトンの濃度が健康時に比べて上昇する。呼気診断装置110においては、物質(例えばアセトンなど)の濃度を測定することで、健康状態が診断される。物質の例については、後述する。
呼気診断装置110においては、供給部10iから導入された試料気体50は、導入経路15を通じてセル部20に導入される。導入経路15は、供給部10iとセル部20との間に設けられる。一方、セル部20に導入された試料気体50は、排出部10oを通じて外部に排出される。
本実施形態においては、第1フィルタ11は、導入経路15上に設けられる。すなわち、第1フィルタ11は、導入経路15上において、供給部10iとセル部20との間に配置される。第1フィルタ11は、粒子を捕獲する。第1フィルタ11は、例えば、パーティクルフィルタである。
第2フィルタ12は、導入経路15上において、第1フィルタ11とセル部20との間に設けられる。第2フィルタ12は、第1フィルタ11の吸湿性よりも高い吸湿性を有する。第2フィルタ12は、例えば、水分フィルタである。
例えば、第1フィルタ11は、粒子捕獲部11pと、第1導入口11iと、第1流出口11oと、を含む。粒子捕獲部11pは、粒子を捕獲する。第1導入口11iは、粒子捕獲部11pと供給部10iとの間に設けられる。第1導入口11iに、試料気体50が導入される。第1流出口11oは、粒子捕獲部11pと第2フィルタ12との間に設けられる。第1流出口11oから試料気体50が流出する。
例えば、第2フィルタ12は、吸湿部12pと、第2導入口12iと、第2流出口12oと、を含む。吸湿部12pは、吸湿性を有する。第2導入口12iは、吸湿部12pと第1フィルタ11との間に設けられる。第2導入口12iに、試料気体50が導入される。第2流出口12oは、吸湿部12pとセル部20との間に設けられる。第2流出口12oから、試料気体50が流出する。
この例では、供給部10iと、第1フィルタ11の第1導入口11iと、が、第1配管15aにより接続されている。セル部20と、排出部10oと、が、第2配管15bにより接続されている。第1フィルタ11の第1流出口11oと、第2フィルタ12の第2導入口12iと、が、第3配管15cにより接続されている。第2フィルタ12の第2流出口12oと、セル部20と、が、第4配管15dにより接続されている。例えば、導入経路15は、第1配管15a、第3配管15c、及び、第4配管15dを含む。
この例では、筐体10wがさらに設けられている。筐体10w中に、例えば、セル部20、光源部30、検出部40、導入経路15、第1フィルタ11及び第2フィルタ12が格納される。
この例では、測定光30Lの光路上において、光源部30とセル部20との間に、第1光学素子36aが設けられている。光路上において、第1光学素子36aとセル部20との間に第2光学素子36bが設けられている。光路上において、セル部20と検出部40との間に、第3光学素子36cが設けられている。これらの光学素子は、例えば、集光光学素子及びコリメート光学素子の少なくともいずれかを含む。これらの光学素子に、フィルタを用いても良い。これらの光学素子に、光スイッチを用いても良い。光学素子は必要に応じて設けられ、省略しても良い。
本実施形態においては、試料気体50は、まず、粒子を捕獲する第1フィルタ11を通過する。粒子は、例えば、ゴミや花粉などである。第1フィルタ11を通過することで、試料気体50に含まれる不要な粒子の量が低減する。そして、試料気体50は、第1フィルタ11を通過した後に、第2フィルタ12を通過する。第2フィルタ12においては、試料気体50中の水分が捕獲され、試料気体50の湿度が低下する。湿度が低下した試料気体50が空間23sに導入される。
すなわち、粒子の量と湿度とが低減した試料気体50が空間23sに導入される。これにより、呼気50aに含まれる物質(測定対象)の濃度を精度良く安定して測定できる。
例えば、試料気体50に花粉やゴミなどの粒子が含まれ、粒子が測定のための空間23sに導入されると、粒子に測定光30Lが照射される。すなわち、測定対象とする物質ではない粒子に測定光30Lが照射される。例えば、吸収及び散乱の少なくともいずれかが生じるこれにより、透過する光量が変化し正しい測定結果が得られない。
さらに、本願発明者の検討によると、第1反射部21及び第2反射部22の表面に粒子が付着する場合があり、例えば、反射部の反射率が低下し透過する光量が変化する。このために測定結果の精度が劣化することが分かった。
さらに、呼気50aを含む試料気体50が、測定のための空間23sに導入されると、結露が生じる場合があることが分かった。例えば、第1反射部21の表面、及び、第2反射部22の表面の少なくともいずれかに、水の粒子が付着する。結露が生じると、例えば、測定光30Lにおいて、反射部の反射率が低下し、透過する光量が変化する。このため、測定結果が不正確になる。
さらに、第1反射部21及び第2反射部22に多層構造体を用いる場合がある。これにより、赤外光の測定光30Lに対して所望の高反射率が得やすくなる。特に、赤外波長において使用できる材料は、吸湿性の高い材料が多く、高湿度中で劣化しやすいことが分かった。第1反射部21及び第2反射部22が劣化すると、測定結果の精度が劣化する。
実施形態においては、第1フィルタ11及び第2フィルタ12を用いることで、呼気50aに含まれる物質(測定対象)の濃度を精度良く安定して測定できる。
実施形態においては、供給部10iと第2フィルタ12との間に、第1フィルタ11を設ける。これにより、試料気体50においては、まず粒子が捕獲される。粒子の量が減少した試料気体50が第2フィルタ12に導入される。これにより、第2フィルタ12への粒子付着による第2フィルタ12の吸湿性が、粒子によって劣化することが抑制される。さらに、例えば、大量の粒子が第2フィルタ12に導入されると、第2フィルタ12における水の吸着性能が劣化する。さらに、第2フィルタ12において、気体に対するコンダクタンスが劣化する。
本実施形態においては、第1フィルタ11を供給部10i側に配置し、粒子の量が低減した後の試料気体50を第1フィルタ12に導入する。これにより、第2フィルタ12の吸湿性及びコンダクタンスなどを含む特性の劣化が抑制できる。
本実施形態によれば、高精度の検出が安定して可能になる。
本実施形態によれば、高精度の検出が安定して可能になる。
さらに、第1フィルタ11を第2フィルタ12と供給部10iとの間に配置することで、例えば、第2フィルタ12に含まれる異物(粒子)が第1フィルタ11で捕獲される。すなわち、第1フィルタ11は、第2フィルタ12に含まれる粒子を捕獲可能である。例えば、粒子の逆流が第1フィルタ11により抑制できる。
例えば、第2フィルタ12としてシリカゲルなどを用いる場合がある。第1フィルタ11を用いることで、シリカゲルの粒子が、供給部10iを介して、被検者に向かって流入することが抑制できる。すなわち、実施形態によれば、高精度の検出が安定して可能になることに加えて、安全性が向上する。
実施形態において、例えば、第1フィルタ11は、例えば、微粒子体(例えば、ポーラスフィルタ)を含む。第1フィルタ11は、例えば、管状体を含む。管状体は、例えば、中空の糸状体である。第1フィルタ11は、例えば、網目体を含む。網目体においては、例えば、複数の糸状体が交差して配置されている。
例えば、第1フィルタ11において、第1流出口11oにおいて、試料気体50中に含まれる粒径が1μm以上1000μm以下の粒子の濃度を第1濃度とする。第1導入口11iにおいて、試料気体50中に含まれる粒径が1μm以上1000μm以下の粒子の濃度を第2濃度とする。第1濃度は、例えば、第2濃度の1000分の1以下である。第1濃度は、例えば、第2濃度の10000分の1以下であることがさらに望ましい。
第2濃度の第1濃度に対する比が高いと、粒子の除去性能(捕獲性能)が高い。この比が過度に高いと、第1フィルタ11における気体のコンダクタンスが過度に低くなる場合がある。このため、第2濃度の第1濃度に対する比は、50以下であることが望ましい。
第2フィルタ12は、例えば、シリカゲルを含む。第2フィルタ12は、例えば、ゼオライトを含む。第2フィルタ12は、例えば、フッ素系樹脂を含んでも良い。これらを用いることで、水を吸着することができる。
例えば、第1フィルタ11は、複数の孔を有する多孔部材を含んでもよい。一方、第2フィルタ12は、複数の粒子を含んでも良い。このとき、第1フィルタ11における複数の孔の平均の大きさは、第2フィルタ12における複数の粒子の平均の大きさよりも小さいことが望ましい。これにより、第2フィルタ12の複数の粒子は、第1フィルタ11によって捕獲される。これにより、第2フィルタ12の粒子が供給部10iに流れ出ること(逆流)が抑制できる。
例えば、第1フィルタ11における複数の孔の平均の大きさは、第2フィルタ12における複数の粒子の平均の大きさの1/5以下である。例えば、複数の孔の平均の大きさは、2μm以下である。複数の粒子の平均の大きさは、10μm以下である。
例えば、第2フィルタ12は、第1反射部21及び第2反射部22で結露が生じないように、試料気体50中の湿度を低下させる。
図2は、水の飽和水蒸気量を例示するグラフ図である。
図2の横軸は、温度T(℃)である。縦軸は、水蒸気量Mw(g/m3)である。
図2に表したように、温度Tが36℃のときに、飽和水蒸気量Mwsは、約43g/m3である。一方、温度Tが20℃のときに、飽和水蒸気量Mwsは、約17g/m3である。水蒸気量は、例えば、水蒸気濃度である。
図2の横軸は、温度T(℃)である。縦軸は、水蒸気量Mw(g/m3)である。
図2に表したように、温度Tが36℃のときに、飽和水蒸気量Mwsは、約43g/m3である。一方、温度Tが20℃のときに、飽和水蒸気量Mwsは、約17g/m3である。水蒸気量は、例えば、水蒸気濃度である。
例えば、呼気50aの温度が36℃であり、呼気50aに含まれる水蒸気の濃度が90%であるとする。このとき、呼気50a中の水蒸気量Mwは、約40g/m3である。一方、第1反射部21及び第2反射部22の温度Tが20℃とする。図2に例示した特性から、水蒸気量Mwを17g/m3以下にすることで、第1反射部21及び第2反射部22で結露の発生が抑制できることが分かる。
すなわち、例えば、第2フィルタ12の第2導入口12iにおける水蒸気量Mwが約40g/m3であるときに、第2フィルタ12の第2流出口12oにおいては、水蒸気量Mwは、17g/m3以下とする。これにより、結露が抑制できる。
例えば、第2フィルタ12から出た試料気体50に含まれる水の濃度は、第1反射部21の温度における飽和水蒸気量以下である。これにより、第1反射部21での結露が抑制できる。
実施形態において、第1フィルタ11においても水の一部が除去される。第1フィルタ11を通過した後の試料気体50の温度は低下する。これらの特性を考慮して、第2フィルタ12の特性を設定しても良い。
例えば、第2流出口12oにおける試料気体50中の湿度を第1湿度とする。第2導入口12iにおける試料気体50の湿度を第2湿度とする。第1湿度は、例えば、第2湿度の0.6倍以下であることが望ましい。第1湿度は、第2湿度の0.5倍以下であることがさらに望ましい。第1湿度は、第2湿度の0.43倍以下であることがさらに望ましい。
以下、反射部の例について説明する。
図3(a)及び図3(b)は、実施形態に係る呼気診断装置の一部を例示する模式的断面図である。
図3(a)は、第1反射部21を例示する。図3(b)は、第2反射部22を例示する。
図3(a)及び図3(b)は、実施形態に係る呼気診断装置の一部を例示する模式的断面図である。
図3(a)は、第1反射部21を例示する。図3(b)は、第2反射部22を例示する。
図3(a)に表したように、第1反射部21は、第1膜21aと、第2膜21bと、を含む。第1膜21aは、第1反射率を有する。第2膜21bは、第2反射率を有する。第2反射率は、第1反射率とは異なる。第2膜21bは、第1反射部21から第2反射部22に向かう積層方向Dsに沿って、第1膜21aと積層される。
この例では、複数の第1膜21aが設けられ、複数の第2膜21bが設けられる。複数の第1膜21aと複数の第2膜21bとは、交互に配置される。
同様に、図3(b)に表したように、第2反射部22は、第3膜22aと、第4膜22bと、を含む。第3膜22aは、第3反射率を有する。第4膜22bは、第4反射率を有する。第4反射率は、第3反射率とは異なる。第4膜22bは、積層方向Dsに沿って、第3膜22aと積層される。
この例では、複数の第3膜22aが設けられ、複数の第4膜22bが設けられる。複数の第3膜22aと複数の第4膜22bとは、交互に配置される。
例えば、第1膜21a及び第3膜22aの少なくともいずれかは、LaF3、BaF2、CeF3、HfF3、YF3、PbF2、ThF4、CaF2、Y2O3、SiO2、TiO2、ZnSe、ZnS、Ge、KBr、NaCl、臭塩化タリウム(KRS−5)、臭ヨウ化タリウム(KRS−6)及びSiの少なくともいずれかを含む。
例えば、第2膜21b及び第4膜22bの少なくともいずれかは、LaF3、BaF2、CeF3、HfF3、YF3、PbF2、ThF4、CaF2、Y2O3、SiO2、TiO2、ZnSe、ZnS、Ge、KBr、NaCl、臭塩化タリウム(KRS−5)、臭ヨウ化タリウム(KRS−6)及びSiの少なくともいずれかを含む。
例えば、第2膜21b及び第4膜22bの少なくともいずれかは、LaF3、BaF2、CeF3、HfF3、YF3、PbF2、ThF4、CaF2、Y2O3、SiO2、TiO2、ZnSe、ZnS、Ge、KBr、NaCl、臭塩化タリウム(KRS−5)、臭ヨウ化タリウム(KRS−6)及びSiの少なくともいずれかを含む。
これにより、赤外領域において、高い反射率が得られる。吸収が抑制できる。これにより、反射の回数が多い場合においても、測定の精度が高く維持できる。
第1反射部21の測定光30Lに対する反射率は、例えば90%以上99.999%以下である。第2反射部22の測定光30Lに対する反射率は、90%以上99.999%以下である。
図4は、実施形態に係る別の呼気診断装置を例示する模式図である。
図4に表したように、本実施形態に係る呼気診断装置110aにおいては、第1反射部21及び第2反射部22が省略されている。呼気診断装置110aにおいても、高精度の測定が安定して可能な呼気診断装置が提供できる。
図4に表したように、本実施形態に係る呼気診断装置110aにおいては、第1反射部21及び第2反射部22が省略されている。呼気診断装置110aにおいても、高精度の測定が安定して可能な呼気診断装置が提供できる。
実施形態において、測定の対象となる物質の例について説明する。
物質は、例えば、二酸化炭素同位体である。この場合、例えば、ピロリ菌に関する情報が得られる。物質は、例えば、メタンである。この場合、例えば、腸内嫌気性菌に関する情報が得られる。物質は、例えば、エタノールである。この場合、例えば、飲酒に関する情報が得られる。物質は、例えば、アセトアルデヒドである。この場合、例えば、飲酒代謝産物及び肺がんに関する情報が得られる。物質は、例えば、アセトンである。この場合、例えば、糖尿病に関する情報が得られる。物質は、例えば、一酸化窒素である。この場合、例えば、ぜんそくに関する情報が得られる。物質は、例えば、アンモニアである。この場合、例えば、肝炎に関する情報が得られる。物質は、例えば、ノナナールである。この場合、例えば、肺がんに関する情報が得られる。実施形態において、呼気50aに含まれる測定対象の物質は任意である。
物質は、例えば、二酸化炭素同位体である。この場合、例えば、ピロリ菌に関する情報が得られる。物質は、例えば、メタンである。この場合、例えば、腸内嫌気性菌に関する情報が得られる。物質は、例えば、エタノールである。この場合、例えば、飲酒に関する情報が得られる。物質は、例えば、アセトアルデヒドである。この場合、例えば、飲酒代謝産物及び肺がんに関する情報が得られる。物質は、例えば、アセトンである。この場合、例えば、糖尿病に関する情報が得られる。物質は、例えば、一酸化窒素である。この場合、例えば、ぜんそくに関する情報が得られる。物質は、例えば、アンモニアである。この場合、例えば、肝炎に関する情報が得られる。物質は、例えば、ノナナールである。この場合、例えば、肺がんに関する情報が得られる。実施形態において、呼気50aに含まれる測定対象の物質は任意である。
第1フィルタ11及び第2フィルタ12は、測定対象のこれらの物質を透過させる。すなわち、第1フィルタ11及び第2フィルタ12は、二酸化炭素、メタン、エタノール、アセトアルデヒド、アセトン、一酸化炭素、アンモニア及びノナナールの少なくともいずれかに対して透過性である。第1フィルタ11及び第2フィルタ12は、さらに、アセトン、ノナナール等のVOC(揮発性有機化合物)に対して透過性である。これらの物質が、フィルタを通過して、空間23sに導入され、測定が行われる。
以下、光源部30の例について説明する。
図5(a)〜図5(c)は、実施形態に係る呼気診断装置の一部を例示する模式図である。
図5(a)は、模式的斜視図である。図5(b)は、図5(a)のA1−A2線断面図である。図5(c)は、光源部30の動作を例示する模式図である。
この例では、光源部30として、半導体発光素子30aが用いられる。半導体発光素子30aとして、レーザが用いられる。この例では、量子カスケードレーザが用いられる。
図5(a)〜図5(c)は、実施形態に係る呼気診断装置の一部を例示する模式図である。
図5(a)は、模式的斜視図である。図5(b)は、図5(a)のA1−A2線断面図である。図5(c)は、光源部30の動作を例示する模式図である。
この例では、光源部30として、半導体発光素子30aが用いられる。半導体発光素子30aとして、レーザが用いられる。この例では、量子カスケードレーザが用いられる。
図5(a)に表したように、半導体発光素子30aは、基板35と、積層体31と、第1電極34aと、第2電極34bと、誘電体層32(第1誘電体層)と、絶縁層33(第2誘電体層)と、を含む。
第1電極34aと、第2電極34bと、の間に基板35が設けられる。基板35は、第1部分35aと、第2部分35bと、第3部分35cと、を含む。これらの部分は、1つの面内に配置される。この面は、第1電極34aから第2電極34bに向かう方向に対して交差する(例えば平行)である。第1部分35aと第2部分35bとの間に、第3部分35cが配置される。
第3部分35cと第1電極34aとの間に積層体31が設けられる。第1部分35aと第1電極34aとの間、及び、第2部分35bと第1電極34aとの間に、誘電体層32が設けられる。誘電体層32と第1電極34aとの間に絶縁層33が設けられる。
積層体31は、ストライプの形状を有している。積層体31は、リッジ導波路RGとして機能する。リッジ導波路RGの2つの端面がミラー面となる。積層体31において放出された光31Lは、端面(光出射面)から出射する。光31Lは、赤外線レーザ光である。光31Lの光軸31Lxは、リッジ導波路RGの延在方向に沿う。
図5(b)に表したように、積層体31は、例えば、第1クラッド層31aと、第1ガイド層31bと、活性層31cと、第2ガイド層31dと、第2クラッド層31eと、を含む。これらの層は、基板35から第1電極34aに向かう方向に沿って、この順で並ぶ。第1クラッド層31aの屈折率及び第2クラッド層31eの屈折率のそれぞれは、第1ガイド層31bの屈折率、活性層31cの屈折率、及び、第2ガイド層31dの屈折率のそれぞれよりも低い。活性層31cで生じた光31Lは、積層体31内に閉じ込められる。第1ガイド層31bと第1クラッド層31aとを合わせて、クラッド層と呼ぶ場合がある。第2ガイド層31dと第2クラッド層31eとを合わせて、クラッド層と呼ぶ場合がある。
積層体31は、光軸31Lxに対して垂直な第1側面31sa及び第2側面31sbを有する。第1側面31saと第2側面31sbとの間の距離31w(幅)は、例えば5μm以上20μm以下である。これにより、例えば、水平横方向モードの制御が容易となり、出力の向上が容易になる。距離31wが過度に長いと、水平横方向モードにおいて高次モードを生じ易くなり、出力を高めにくい。
誘電体層32の屈折率は、活性層31cの屈折率よりも低い。これにより、誘電体層32により、光軸31Lxに沿ってリッジ導波路RGが形成される。
図5(c)に表したように、活性層31cは、例えば、カスケード構造を有する。カスケード構造においては、例えば、第1領域r1と、第2領域r2と、が交互に積層される。単位構造r3は、第1領域r1及び第2領域r2を含む。複数の単位構造r3が設けられる。
例えば、第1領域r1には、第1障壁層BL1と、第1量子井戸層WL1と、が設けられる。第2領域には、第2障壁層BL2が設けられる。例えば、別の第1領域r1aには、第3障壁層BL3と、第2量子井戸層WL2と、が設けられる。別の第2領域r2aに、第4障壁層BL4が設けられる。
第1領域r1においては、第1量子井戸層WL1のサブバンド間光学遷移が生じる。これにより、例えば、3μm以上18μm以下の波長の光31Laが放出される。
第2領域r2においては、第1領域r1から注入されたキャリアc1(例えば電子)のエネルギーは、緩和可能である。
量子井戸層(例えば第1量子井戸層WL1)において、井戸幅WLtは、例えば、5nm以下である。井戸幅WLtがこのように狭いとき、エネルギー準位が離散して、例えば、第1サブバンドWLa(高準位Lu)及び第2サブバンドWLb(低準位Ll)などを生じる。第1障壁層BL1から注入されたキャリアc1は、第1量子井戸層WL1に効果的に閉じ込められる。
高準位Luから低準位Llへキャリアc1が遷移するときに、エネルギー差(高準位Luと低準位Llとの差)に対応する光31Laが放出される。すなわち、光学遷移が生じる。
同様に、別の第1領域r1aの第2量子井戸層WL2において、光31Lbが放出される。実施形態において量子井戸層は、波動関数が重なり合う複数の井戸を含んでも良い。複数の量子井戸層のそれぞれの高準位Luが、互いに同じでも良い。複数の量子井戸層のそれぞれの低準位Llが、互いに同じでも良い。
例えば、サブバンド間光学遷移は、伝導帯及び価電子帯のいずれかにおいて生じる。例えば、pn接合によるホールと電子との再結合は必要ではない。例えば、ホール及び電子のいずれかのキャリアc1により光学遷移が生じて、光が放出される。
活性層31cにおいて、例えば、第1電極34aと、第2電極34bと、の間に印加される電圧により、障壁層(例えば第1障壁層BL1)を介して、キャリアc1(例えば電子)が量子井戸層(例えば第1量子井戸層WL1)へ注入される。これにより、サブバンド間光学遷移を生じる。
第2領域r2は、例えば、複数のサブバンドを有する。サブバンドは、例えば、ミニバンドである。サブバンドにおけるエネルギー差は、小さい。サブバンドにおいて、連続エネルギーバンドに近いことが好ましい。この結果、キャリアc1(電子)のエネルギーが緩和される。
第2領域r2では、例えば、光(例えば3μm以上18μm以下の波長の赤外線)は、実質的に放出されない。第1領域r1の低準位Llのキャリアc1(電子)は、第2障壁層BL2を通過して、第2領域r2へ注入され、緩和される。キャリアc1は、カスケード接続された別の第1領域r1aへ注入される。この第1領域r1aにおいて、光学遷移が生じる。
カスケード構造では、複数の単位構造r3のそれぞれにおいて光学遷移が生じる。これにより、活性層31cの全体において、高い光出力を得ることが容易になる。
このように、光源部30は、半導体発光素子30aを含む。半導体発光素子30aは、複数の量子井戸(例えば、第1量子井戸層WL1及び第2量子井戸層WL2など)のサブバンドにおける電子のエネルギー緩和により、測定光30Lを放射する。
量子井戸層(例えば第1量子井戸層WL1及び第2量子井戸層WL2など)には、例えば、GaAsが用いられる。例えば、障壁層(例えば、第1〜第4障壁層BL1〜BL4など)には、例えば、AlxGa1−xAs(0<x<1)が用いられる。このとき、例えば、基板35としてGaAsを用いると、量子井戸層及び障壁層において、良好な格子整合が得られる。
第1クラッド層31a及び第2クラッド層31eは、例えば、n形不純物として、Siを含む。これらの層における不純物濃度は、例えば、1×1018cm−3以上1×1020cm−3以下(例えば、約6×1018cm−3)である。これらの層のそれぞれの厚さは、例えば、0.5μm以上2μm以下(例えば約1μm)である。
第1ガイド層31b及び第2ガイド層31dは、例えば、n形不純物として、Siを含む。これらの層における不純物濃度は、例えば1×1016cm−3以上1×1017cm−3以下(例えば、約4×1016cm−3)である。これらの層のそれぞれの厚さは、例えば2μm以上5μm以下(例えば、3.5μm)である。
距離31w(積層体31の幅、すなわち、活性層31cの幅)は、例えば、5μm以上20μm以下(例えば、約14μm)である。
リッジ導波路RGの長さは、例えば、1mm以上5mm以下(例えば約3mm)である。半導体発光素子30a(量子カスケードレーザ)は、例えば、10V以下の動作電圧で動作する。消費電流は、炭酸ガスレーザ装置などに比べて低い。これにより、低消費電力の動作が可能である。
実施形態によれば、高精度の測定が安定して可能な呼気診断装置が提供できる。
以上、具体例を参照しつつ、本発明の実施の形態について説明した。しかし、本発明は、これらの具体例に限定されるものではない。例えば、呼気診断装置に含まれる供給部、セル部、反射部、光源部、検出部、処理部及びフィルタなどの各要素の具体的な構成に関しては、当業者が公知の範囲から適宜選択することにより本発明を同様に実施し、同様の効果を得ることができる限り、本発明の範囲に包含される。
また、各具体例のいずれか2つ以上の要素を技術的に可能な範囲で組み合わせたものも、本発明の要旨を包含する限り本発明の範囲に含まれる。
その他、本発明の実施の形態として上述した呼気診断装置を基にして、当業者が適宜設計変更して実施し得る全ての呼気診断装置も、本発明の要旨を包含する限り、本発明の範囲に属する。
その他、本発明の思想の範疇において、当業者であれば、各種の変更例及び修正例に想到し得るものであり、それら変更例及び修正例についても本発明の範囲に属するものと了解される。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。
10i…供給部、 10o…排出部、 10w…筐体、 11…第1フィルタ、 11i…第1導入口、 11o…第1流出口、 11p…粒子捕獲部、 12…第2フィルタ、 12i…第2導入口、 12o…第2流出口、 12p…吸湿部、 15…導入経路、 15a〜15d…第1〜第4配管、 20…セル部、 21…第1反射部、 21a…第1膜、 21b…第2膜、 22…第2反射部、 22a…第3膜、 22b…第4膜、 23…セル、 23s…空間、 30…光源部、 30L…測定光、 30a…半導体発光素子、 30b…駆動部、 31…積層体、 31L、31La、31Lb…光、 31Lx…光軸、 31a…第1クラッド層、 31b…第1ガイド層、 31c…活性層、 31d…第2ガイド層、 31e…第2クラッド層、 31sa…第1側面、 31sb…第2側面、 31w…距離、 32…誘電体層、 33…絶縁層、 34a…第1電極、 34b…第2電極、 35…基板、 35a〜35c…第1〜第3部分、 36a〜36c…第1〜第3光学素子、 40…検出部、 45…処理部、 50…試料気体、 50a…呼気、 110、110a…呼気診断装置、 BL1〜BL4…第1〜第4障壁層、 Ds…積層方向、 Ll…低準位、 Lu…高準位、 Mw…水蒸気量、 Mws…飽和水蒸気量、 RG…リッジ導波路、 T…温度、 WL1、WL2…第1、第2量子井戸層、 WLa…第1サブバンド、 WLb…第2サブバンド、 WLt…井戸幅、 c1…キャリア、 r1、r1a…第1領域、 r2、r2a…第2領域、 r3…単位構造
Claims (20)
- 呼気を含む試料気体が供給される供給部と、
測定光を出射する光源部と、
前記測定光に対して反射性の第1反射部及び第2反射部を含むセル部であって、前記供給部から導入された前記試料気体が前記第1反射部と前記第2反射部との間の空間に導入されるセル部と、
前記空間に前記試料気体が導入された状態において前記第1反射部及び前記第2反射部で反射して前記空間を通過した前記測定光を検出する検出部と、
前記供給部と前記セル部との間の前記試料気体の導入経路上に設けられ粒子を捕獲する第1フィルタと、
前記導入経路上において前記第1フィルタと前記セル部との間に設けられ前記第1フィルタの吸湿性よりも高い吸湿性を有する第2フィルタと、
を備えた呼気診断装置。 - 前記第1フィルタは、
前記粒子を捕獲する粒子捕獲部と、
前記粒子捕獲部と前記供給部との間に設けられ前記試料気体が導入される第1導入口と、
前記粒子捕獲部と前記第2フィルタとの間に設けられ前記試料気体が流出する第1流出口と、
を含み、
前記第1流出口における前記試料気体中に含まれる粒径が1μm以上1000μm以下の粒子の第1濃度は、前記第1導入口における前記試料気体中に含まれる粒径が1μm以上1000μm以下の粒子の第2濃度の1000分の1以下である請求項1記載の呼気診断装置。 - 前記第2フィルタから出た前記試料気体に含まれる水の濃度は、前記第1反射部の温度における飽和水蒸気量以下である請求項1または2に記載の呼気診断装置。
- 前記第2フィルタは、
前記吸湿性を有する吸湿部と、
前記吸湿部と前記第1フィルタとの間に設けられ前記試料気体が導入される第2導入口と、
前記吸湿部と前記セル部との間に設けられ前記試料気体が流出する第2流出口と、
を含み、
前記第2流出口における前記試料気体中の第1湿度は、前記第2導入口における前記試料気体の第2湿度の0.6倍以下である請求項1〜3のいずれか1つに記載の呼気診断装置。 - 前記第1湿度は、前記第2湿度の0.5倍以下である請求項4記載の呼気診断装置。
- 前記第1湿度は、前記第2湿度の0.43倍以下である請求項4記載の呼気診断装置。
- 前記第2フィルタは、シリカゲル、ゼオライト及びフッ素系樹脂の少なくともいずれかを含む請求項1〜6のいずれか1つに記載の呼気診断装置。
- 前記第1フィルタは、複数の孔を有する多孔部材を含み、
前記第2フィルタは、複数の粒子を含み、
前記複数の孔の平均の大きさは、前記複数の粒子の平均の大きさよりも小さい請求項1〜7のいずれか1つに記載の呼気診断装置。 - 前記複数の孔の前記平均の大きさは、前記複数の粒子の前記平均の大きさの1/5以下である請求項8記載の呼気診断装置。
- 前記複数の孔の前記平均の大きさは、2マイクロメートル以下であり、
前記複数の粒子の前記平均の大きさは、10マイクロメートル以下である請求項7記載の呼気診断装置。 - 前記第1フィルタは、前記第2フィルタに含まれる粒子を捕獲可能である請求項1〜10のいずれか1つに記載の呼気診断装置。
- 前記第1フィルタは、微粒子体、管状体及び網目体の少なくともいずれかを含む請求項1〜11のいずれか1つに記載の呼気診断装置。
- 前記第1反射部は、
第1屈折率を有する第1膜と、
前記第1反射部から前記第2反射部に向かう積層方向に沿って前記第1膜と積層され前記第1屈折率とは異なる第2屈折率を有する第2膜と、
を含む請求項1〜12のいずれか1つに記載の呼気診断装置。 - 前記第1膜は複数設けられ、
前記第2膜は複数設けられ、
前記複数の第1膜と前記複数の第2膜とは、交互に配置される請求項13記載の呼気診断装置。 - 前記第1膜は、LaF3、BaF2、CeF3、HfF3、YF3、PbF2、ThF4、CaF2、Y2O3、SiO2、TiO2、ZnSe、ZnS、Ge、KBr、NaCl、臭塩化タリウム、臭ヨウ化タリウム及びSiの少なくともいずれかを含み、
前記第2膜は、LaF3、BaF2、CeF3、HfF3、YF3、PbF2、ThF4、CaF2、Y2O3、SiO2、TiO2、ZnSe、ZnS、Ge、KBr、NaCl、臭塩化タリウム、臭ヨウ化タリウム及びSiの少なくともいずれかを含む請求項13または14に記載の呼気診断装置。 - 前記第1反射部の前記測定光に対する反射率は、90%以上99.999%以下であり、
前記第2反射部の前記測定光に対する反射率は、90%以上99.999%以下である請求項1〜15のいずれか1つに記載の呼気診断装置。 - 前記測定光は、0.7マイクロメートル以上1000マイクロメートル以下の波長の成分を含む請求項1〜16のいずれか1つに記載の呼気診断装置。
- 前記測定光は、2.5マイクロメートル以上11マイクロメートル以下の波長の成分を含む請求項1〜16のいずれか1つに記載の呼気診断装置。
- 前記光源部は、半導体発光素子を含み、
前記半導体発光素子は、複数の量子井戸のサブバンドにおける電子のエネルギー緩和により前記測定光を放射する請求項1〜18のいずれか1つに記載の呼気診断装置。 - 前記第1フィルタ及び前記第2フィルタは、
二酸化炭素、メタン、エタノール、アセトアルデヒド、一酸化炭素、アンモニア及び揮発性有機化合物の少なくともいずれかに対して透過性である請求項1〜19のいずれか1つに記載の呼気診断装置。
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JP2014030067A JP2015155803A (ja) | 2014-02-19 | 2014-02-19 | 呼気診断装置 |
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US9835550B2 (en) | 2015-03-18 | 2017-12-05 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Breath analyzer |
-
2014
- 2014-02-19 JP JP2014030067A patent/JP2015155803A/ja active Pending
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