JP2015154451A - 撮像素子駆動回路 - Google Patents
撮像素子駆動回路 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015154451A JP2015154451A JP2014029599A JP2014029599A JP2015154451A JP 2015154451 A JP2015154451 A JP 2015154451A JP 2014029599 A JP2014029599 A JP 2014029599A JP 2014029599 A JP2014029599 A JP 2014029599A JP 2015154451 A JP2015154451 A JP 2015154451A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- drive circuit
- image sensor
- input terminal
- output unit
- power input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
【課題】本発明の目的は、撮像素子から出力する撮像信号の出力レベルの均一性を向上することにある。【解決手段】本発明の撮像素子の駆動回路は、出力部を有する撮像素子の駆動回路であって、出力部は少なくとも2つの電源を入力する電源入力端子を有し、電源入力端子の低電圧側は所定の抵抗値の抵抗器を介して接地することを特徴とする。【選択図】 図1
Description
本発明は、撮像素子の駆動回路に関するものである。
たとえば、撮像素子は、多数の受光素子(画素)が2次元マトリクス(行列)状に配置され、受光素子が受光した光を光電変換して撮像信号として出力する。
一般的な撮像素子であるIT(インタライン転送)−CCD(Charge Coupled Device)の構成について、図3を用いて説明する。
なお、一般的な撮像素子は、他にFF(フルフレーム)−CCD、FT(フレーム転送−CCD、FIT(フレームインタライン転送)−CCDなどがある。
一般的な撮像素子であるIT(インタライン転送)−CCD(Charge Coupled Device)の構成について、図3を用いて説明する。
なお、一般的な撮像素子は、他にFF(フルフレーム)−CCD、FT(フレーム転送−CCD、FIT(フレームインタライン転送)−CCDなどがある。
図3において、撮像素子100は、半導体基板101上に受光素子111が多数、水平方向(行)と垂直方向(列)にマトリクス状に配置されている。
また、撮像素子100は、垂直列ごとにそれぞれ4相駆動(V1〜V4)に対応する複数本の垂直転送部112が配列されている。なお、4相に限らず2相や3相で駆動する構成であってもよい。
さらに、撮像素子100は、複数本の垂直転送部112の各転送側端部に2相駆動(H1、H2)の水平転送部113が1ライン分設けられている。水平転送部113の転送側端部には、たとえば図示しないフローティングディフュージョンアンプ構成の出力バッファ回路が設けられている。この出力バッファ回路は、水平転送部113から順に注入される信号電荷を信号電圧に変換して出力する。
撮像素子100には、駆動電源131から、出力部電圧VDD、基板バイアス回路電圧Vsub、保護トランジスタバイアスVLが印加されている。なお、VSS1は低電圧側の出力部電圧である。
また、撮像素子100は、垂直列ごとにそれぞれ4相駆動(V1〜V4)に対応する複数本の垂直転送部112が配列されている。なお、4相に限らず2相や3相で駆動する構成であってもよい。
さらに、撮像素子100は、複数本の垂直転送部112の各転送側端部に2相駆動(H1、H2)の水平転送部113が1ライン分設けられている。水平転送部113の転送側端部には、たとえば図示しないフローティングディフュージョンアンプ構成の出力バッファ回路が設けられている。この出力バッファ回路は、水平転送部113から順に注入される信号電荷を信号電圧に変換して出力する。
撮像素子100には、駆動電源131から、出力部電圧VDD、基板バイアス回路電圧Vsub、保護トランジスタバイアスVLが印加されている。なお、VSS1は低電圧側の出力部電圧である。
水平転送部113から順に注入される信号電荷は図示しないフローティングディフュージョンに蓄積し、この蓄積した信号電荷を信号電圧(FD)に変換して、出力部114において、駆動回路132から出力されたリセットパルスRGの制御の元に撮像信号(Vout)として出力する。
すなわち、撮像素子100においては、縦横の2次元状に配置している受光素子111で検出した信号電荷を、各垂直転送部112により水平転送部113まで垂直転送し、信号電荷を水平転送部113により水平方向に転送するようにしている。そして、水平転送部113からの信号電荷に対応した電位にして出力部114から出力するという動作を繰り返す。
すなわち、撮像素子100においては、縦横の2次元状に配置している受光素子111で検出した信号電荷を、各垂直転送部112により水平転送部113まで垂直転送し、信号電荷を水平転送部113により水平方向に転送するようにしている。そして、水平転送部113からの信号電荷に対応した電位にして出力部114から出力するという動作を繰り返す。
先行技術としては、EM(Electron Multiplying)−CCDのCMG(電子増倍を行う水平転送電極)駆動回路からEM−CCDの出力信号への飛び込みを低減しながら、負荷容量CMG電圧の振幅の減衰を防ぎ、矩形波特性を改善する技術が開示されている(例えば、特許文献1。)。
ソニー製CCD撮像素子ICX248AL J98728A99
本発明の目的は、撮像素子から出力する撮像信号の出力レベルの均一性を向上することにある。
撮像素子から出力する撮像信号の出力レベルが均一でない場合は、後段の増幅部で高倍増幅を行うと撮像領域の一部の領域で発光現象のような映像信号レベルが高くなる等の不均一が顕著になる。
撮像素子から出力する撮像信号の出力レベルが均一でない場合は、後段の増幅部で高倍増幅を行うと撮像領域の一部の領域で発光現象のような映像信号レベルが高くなる等の不均一が顕著になる。
本発明の撮像素子の駆動回路は、出力部を有する撮像素子の駆動回路であって、出力部は少なくとも2つの電源を入力する電源入力端子を有し、電源入力端子の低電圧側は所定の抵抗値の抵抗器を介して接地することを特徴とする。
また、本発明の撮像素子の駆動回路は、出力部を有する撮像素子の駆動回路であって、出力部は少なくとも2つの電源を入力する電源入力端子を有し、電源入力端子の低電圧側は所定の抵抗値の抵抗器を介して接地することにより、低電圧側の電源入力端子電圧を可変することを特徴とする。
さらに、本発明の撮像素子の駆動回路は、出力部を有する撮像素子の駆動回路であって、出力部は少なくとも2つの電源を入力する電源入力端子と内部にゲート電圧発生部を有し、電源入力端子の低電圧側は所定の抵抗値の抵抗器を介して接地することによりゲート電圧を可変することを特徴とする。
またさらに、本発明の撮像素子の駆動回路は、出力部を有する撮像素子の駆動回路にであって、出力部は少なくとも2つの電源を入力する電源入力端子を有し、電源入力端子の低電圧側は通常撮影時には接地し、高感度撮影時には所定の抵抗値の抵抗器を介して接地することを特徴とする。
本発明によれば、撮像素子から出力する撮像信号の出力レベルの均一性を向上することができる。
以下、本発明の実施例について図面を用いて説明する。
本発明の一実施例を図1で説明する。
図1は本発明の一実施例である撮像素子の駆動回路を説明するためのブロック図である。なお、図3と同じ符号は上述と同様であるため、説明を省略する。
本発明の一実施例を図1で説明する。
図1は本発明の一実施例である撮像素子の駆動回路を説明するためのブロック図である。なお、図3と同じ符号は上述と同様であるため、説明を省略する。
図1において、撮像素子100は出力部114を有する。
出力部114は、駆動MOSトランジスタ(DM;DriveMOS)DM1,DM2,DM3と、負荷MOSトランジスタ(LM;LoadMOS)LM1,LM2,LM3による3段ソースフォロア(電流増幅回路)構造を有し、水平転送部113からの信号電荷を電圧信号に変換する。また、出力部114は、水平転送クロック(H1,H2)に対応するリセットパルスRGに基づいて制御するリセットゲート端子MOSトランジスタ(RGTr)を備える。なお、ソースフォロアは何段構成であってもよい。
出力部114は、駆動MOSトランジスタ(DM;DriveMOS)DM1,DM2,DM3と、負荷MOSトランジスタ(LM;LoadMOS)LM1,LM2,LM3による3段ソースフォロア(電流増幅回路)構造を有し、水平転送部113からの信号電荷を電圧信号に変換する。また、出力部114は、水平転送クロック(H1,H2)に対応するリセットパルスRGに基づいて制御するリセットゲート端子MOSトランジスタ(RGTr)を備える。なお、ソースフォロアは何段構成であってもよい。
出力部114は、それぞれ駆動MOSトランジスタDM1,DM2,DM3のソース端子と負荷MOSトランジスタLM1,LM2,LM3のドレイン端子とを接続した複数段の増幅する構成となっている。
駆動MOSトランジスタDM1のゲート端子は、水平転送部113からの信号電荷が供給されるフローティングディフュージョン端子FDに接続され、且つ、リセットゲート端子MOSトランジスタRGTrのソース端子が接続されている。
駆動MOSトランジスタDM1のゲート端子は、水平転送部113からの信号電荷が供給されるフローティングディフュージョン端子FDに接続され、且つ、リセットゲート端子MOSトランジスタRGTrのソース端子が接続されている。
駆動MOSトランジスタDM1のソース端子は駆動MOSトランジスタDM2のゲート端子に接続され、駆動MOSトランジスタDM2のソース端子は駆動MOSトランジスタDM3のゲート端子に接続され、駆動MOSトランジスタDM3のソース端子は撮像出力Vout端子と接続されている。
また、それぞれ駆動MOSトランジスタDM1,DM2,DM3およびリセットゲート端子MOSトランジスタRGTrのドレイン端子は、電源VDD端子に接続されている。
さらに、それぞれ負荷MOSトランジスタLM1,LM2,LM3のソース端子は、内部負荷抵抗器Rssを介してVSS1端子に接続されている。
さらに、それぞれ負荷MOSトランジスタLM1,LM2,LM3のソース端子は、内部負荷抵抗器Rssを介してVSS1端子に接続されている。
それぞれ負荷MOSトランジスタLM1,LM2,LM3のゲート端子は、電圧VDDとVSS1間の電圧を抵抗器R101と抵抗器R102で抵抗分割したVGG(ゲートバイアス電圧)が供給されている。
(実施例1)
次に、本発明の一実施例である実施例1について図1を用いて説明する。
出力部114の抵抗器R101,R102の抵抗値が既知または推測できる場合について説明する。
まず、VGGの電圧は下記の(式1)から求める。
VGG=VDD×R102/(R101+R102) ・・・ (式1)
図1において、類似品種の非特許文献1のソニー製CCD撮像素子ICX248ALの外部推奨回路と同様のバイアス回路が内蔵されたと想定されるので、VDD端子に+15Vを供給し、抵抗器R101が180kΩ、抵抗器R101が27kΩとする。
上述の条件と(式1)から、現状のVGGの電圧VGG0は、
VGG0=15×27/(180+27)≒2.0
と現状のVGGの電圧VGG0は、約+2.0Vとなる。
次に、本発明の一実施例である実施例1について図1を用いて説明する。
出力部114の抵抗器R101,R102の抵抗値が既知または推測できる場合について説明する。
まず、VGGの電圧は下記の(式1)から求める。
VGG=VDD×R102/(R101+R102) ・・・ (式1)
図1において、類似品種の非特許文献1のソニー製CCD撮像素子ICX248ALの外部推奨回路と同様のバイアス回路が内蔵されたと想定されるので、VDD端子に+15Vを供給し、抵抗器R101が180kΩ、抵抗器R101が27kΩとする。
上述の条件と(式1)から、現状のVGGの電圧VGG0は、
VGG0=15×27/(180+27)≒2.0
と現状のVGGの電圧VGG0は、約+2.0Vとなる。
ここで、撮像素子100から出力する撮像信号Voutの均一性を向上させるため、類似品種の非特許文献1での調整値からVGGの電圧を目標のVGGの電圧VGG1を約5Vまでかさ上げするために必要な出力部114のVSS1端子の電圧(以下VSS1)を検討する。
VSS1=VDD×(VGG1−VGG0)/(VDD−VGG0) ・・ (式2)
となるので、
VSS1=15×(5−2)/(15−2)≒3.5
とVSS1の電圧を約3.5Vにすればよい。
VSS1=VDD×(VGG1−VGG0)/(VDD−VGG0) ・・ (式2)
となるので、
VSS1=15×(5−2)/(15−2)≒3.5
とVSS1の電圧を約3.5Vにすればよい。
次に、外部抵抗器R143として導かれる抵抗値は、R101とR102の分圧に対するかさ上げ分と、内部に取り入れられた抵抗Rssによるソースフォロワ駆動のかさ上げ分の合成となる。
そのため、R101とR102の分圧に対するかさ上げ分R143aは、
R143a≒(R101+R102)/(VDD−VSS1)×VSS1・・(式3)
から
R143a≒(180+27)/(15−3.5)×3.5≒63
から分圧に対するかさ上げ分のR143aは63kΩと推定できる。
次に、Rssによるソースフォロワ駆動のかさ上げ分R143b は、LM1、LM2、LM3のゲートからソースへの電圧ドロップVGSにより異なる。VssからVSS1へのRss=390Ωに対して、VSS1の電圧をGNDから約3.5Vにかさ上げするための抵抗分R143bは、
R143b≒Rss/(VGG1−SS1−VGS)×VSS1・・(式4)
そのため、R101とR102の分圧に対するかさ上げ分R143aは、
R143a≒(R101+R102)/(VDD−VSS1)×VSS1・・(式3)
から
R143a≒(180+27)/(15−3.5)×3.5≒63
から分圧に対するかさ上げ分のR143aは63kΩと推定できる。
次に、Rssによるソースフォロワ駆動のかさ上げ分R143b は、LM1、LM2、LM3のゲートからソースへの電圧ドロップVGSにより異なる。VssからVSS1へのRss=390Ωに対して、VSS1の電圧をGNDから約3.5Vにかさ上げするための抵抗分R143bは、
R143b≒Rss/(VGG1−SS1−VGS)×VSS1・・(式4)
また、現状のVGGの電圧VGG0が約+2.0Vであることから、ゲートからソースへの電圧ドロップVGSは、0.25Vから1.3Vの範囲と推測できる。そこで、(式4)に類似品種の非特許文献1では外部に必要であった抵抗値Rssの390Ωが内蔵されたこととゲートからソースへの電圧ドロップVGSの0.25Vから1.3Vを入力し、
R143b≒390/(5−3.5−0.25)×3.5≒1092≒1000
R143b≒390/(5−3.5−1.3)×3.5≒6825≒6800
とRssによるソースフォロワ駆動のかさ上げ分R143bは1000Ωから6800Ωと推定される。ここで、外部R143として合成される値は、R143a>>R143bとなる関係から、R143≒R143bと言える。よって外部に付加するR143は、1000Ωから6800Ωと推定される。
そこで、10kΩ程度の可変抵抗器を使用して、VSS1の電圧を約3.5VになるようにR143の抵抗値を定めればよい。
R143b≒390/(5−3.5−0.25)×3.5≒1092≒1000
R143b≒390/(5−3.5−1.3)×3.5≒6825≒6800
とRssによるソースフォロワ駆動のかさ上げ分R143bは1000Ωから6800Ωと推定される。ここで、外部R143として合成される値は、R143a>>R143bとなる関係から、R143≒R143bと言える。よって外部に付加するR143は、1000Ωから6800Ωと推定される。
そこで、10kΩ程度の可変抵抗器を使用して、VSS1の電圧を約3.5VになるようにR143の抵抗値を定めればよい。
つまり、出力部114のVSS1端子を最適値の抵抗器R143で接地することにより、出力部114のVSS1端子の電圧(以下VSS1)をかさ上げしてVGGの電圧をかさ上げすると、撮像信号Voutの均一性を阻害する現象、例えば、撮像素子100の内部で発生する発光現象等を検知限以下に抑えることができる。
(実施例2)
次に、本発明の他の一実施例である実施例2について図2を用いて説明する。
図2において、図1および図3と同じ符号は上述と同様であるため、説明を省略する。
なお、R243は図1のR143と同じ動作をするもので、最適値が設定されているものとする。
次に、本発明の他の一実施例である実施例2について図2を用いて説明する。
図2において、図1および図3と同じ符号は上述と同様であるため、説明を省略する。
なお、R243は図1のR143と同じ動作をするもので、最適値が設定されているものとする。
図2において、駆動回路241はR243と切替器242で構成されている。また、 制御部251は切替器242のON/OFFを制御するものである。
例えば、撮像素子100のVSS1端子の推奨使用状態が直接接地であるとする。
撮像信号Voutの出力レベルは、後段の増幅部で高感度撮影用の高倍増幅を行うと不均一性が顕著になるため、VSS1端子を抵抗器R243を介して接地する。
しかし、後段の増幅部が標準撮影用の増幅率で増幅した場合、撮像信号Voutの出力レベルの不均一性が目立たないため、VSS1端子は推奨使用状態の直接接地した方がよい。
例えば、撮像素子100のVSS1端子の推奨使用状態が直接接地であるとする。
撮像信号Voutの出力レベルは、後段の増幅部で高感度撮影用の高倍増幅を行うと不均一性が顕著になるため、VSS1端子を抵抗器R243を介して接地する。
しかし、後段の増幅部が標準撮影用の増幅率で増幅した場合、撮像信号Voutの出力レベルの不均一性が目立たないため、VSS1端子は推奨使用状態の直接接地した方がよい。
制御部251は、切替器242に、標準撮影時にはON信号を出力し、高感度撮影にはOFF信号を出力する。
なお、切替器242の切替えは、手動でもよいし、出力する映像信号レベルや時刻管理と同期させて制御してもよい。
なお、切替器242の切替えは、手動でもよいし、出力する映像信号レベルや時刻管理と同期させて制御してもよい。
以上本発明について詳細に説明したが、本発明は、ここに記載された撮像素子駆動回路に限定されるものではなく、上記以外の撮像素子駆動回路に広く適用することができることは言うまでもない。
100:撮像素子、101:半導体基板、111:受光素子、112:垂直転送部、113:水平転送部、114:出力部、131:駆動電源、132:撮像素子駆動回路、141,241:駆動回路。
Claims (4)
- 出力部を有する撮像素子の駆動回路において、
前記出力部は、少なくとも2つの電源を入力する電源入力端子を有し、
前記電源入力端子の低電圧側は、所定の抵抗値の抵抗器を介して接地することを特徴とする撮像素子の駆動回路。 - 出力部を有する撮像素子の駆動回路において、
前記出力部は、少なくとも2つの電源を入力する電源入力端子を有し、
前記電源入力端子の低電圧側は、所定の抵抗値の抵抗器を介して接地することにより、低電圧側の電源入力端子電圧を可変することを特徴とする撮像素子の駆動回路。 - 出力部を有する撮像素子の駆動回路において、
前記出力部は、少なくとも2つの電源を入力する電源入力端子と、内部にゲート電圧発生部を有し、
前記電源入力端子の低電圧側は、所定の抵抗値の抵抗器を介して接地することにより前記ゲート電圧を可変することを特徴とする撮像素子の駆動回路。 - 出力部を有する撮像素子の駆動回路において、
前記出力部は、少なくとも2つの電源を入力する電源入力端子を有し、
前記電源入力端子の低電圧側は、通常撮影時には接地し、高感度撮影時には所定の抵抗値の抵抗器を介して接地することを特徴とする撮像素子の駆動回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014029599A JP2015154451A (ja) | 2014-02-19 | 2014-02-19 | 撮像素子駆動回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014029599A JP2015154451A (ja) | 2014-02-19 | 2014-02-19 | 撮像素子駆動回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015154451A true JP2015154451A (ja) | 2015-08-24 |
Family
ID=53896245
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014029599A Pending JP2015154451A (ja) | 2014-02-19 | 2014-02-19 | 撮像素子駆動回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2015154451A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110505420A (zh) * | 2019-09-16 | 2019-11-26 | 中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心 | 一种低功耗emccd高压正弦驱动信号发生电路 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11136582A (ja) * | 1997-11-04 | 1999-05-21 | Nec Corp | 固体撮像素子 |
JP2001094887A (ja) * | 1999-09-21 | 2001-04-06 | Nikon Corp | 撮像装置および電子カメラ |
-
2014
- 2014-02-19 JP JP2014029599A patent/JP2015154451A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11136582A (ja) * | 1997-11-04 | 1999-05-21 | Nec Corp | 固体撮像素子 |
JP2001094887A (ja) * | 1999-09-21 | 2001-04-06 | Nikon Corp | 撮像装置および電子カメラ |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110505420A (zh) * | 2019-09-16 | 2019-11-26 | 中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心 | 一种低功耗emccd高压正弦驱动信号发生电路 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10051212B2 (en) | Solid state imaging apparatus, signal reading method, and electronic apparatus | |
US9118857B2 (en) | Solid-state imaging apparatus in which plural transistors are connected to a single initializing switch | |
US10194103B2 (en) | Solid-state imaging device and method of driving solid-state imaging device with clipping level set according to transfer operation frequency | |
JP4161855B2 (ja) | 固体撮像装置、駆動制御方法及び駆動制御装置 | |
US9041583B2 (en) | Comparator, solid-state imaging device, electronic apparatus, and driving method | |
JP5258416B2 (ja) | 固体撮像装置 | |
US10044953B2 (en) | Solid-state imaging device, method for driving solid-state imaging device, and electronic apparatus | |
JP6351404B2 (ja) | 撮像装置及び撮像システム | |
US20160134825A1 (en) | Solid-state image sensor and camera | |
EP2552105A2 (en) | Solid-state imaging apparatus | |
WO2015194390A1 (ja) | 固体撮像装置および電子機器 | |
US8035713B2 (en) | Driving circuit, driving method, solid imaging device, and electronic apparatus | |
US9549138B2 (en) | Imaging device, imaging system, and driving method of imaging device using comparator in analog-to-digital converter | |
US10368026B2 (en) | Solid-state image sensing apparatus, control method, and electronic device | |
US7612320B2 (en) | Solid-state imaging apparatus with reset operation | |
KR20230107410A (ko) | 고체 촬상 소자 및 촬상 장치 | |
US9241119B2 (en) | Image pickup apparatus, method of driving image pickup apparatus, and image pickup system | |
JP5253956B2 (ja) | 固体撮像装置及びその駆動方法、並びに電子情報機器 | |
KR101732301B1 (ko) | 고체 촬상 소자 및 촬상 장치 | |
TWI611696B (zh) | 固體攝像元件及攝像裝置 | |
US8723099B2 (en) | Solid-state imaging apparatus | |
US20090283663A1 (en) | Solid-state imaging device and driving method thereof | |
JP2015154451A (ja) | 撮像素子駆動回路 | |
US8520109B2 (en) | Solid-state image pickup apparatus and image pickup system | |
US9883124B2 (en) | Solid-state imaging device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160930 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170414 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170427 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20180823 |