JP2015150053A - 磁気共鳴イメージング装置 - Google Patents

Abstract

【課題】ＲＦパルスの出力系統が完全な故障に至る前に前兆又は異常を早期に発見できるＭＲＩ装置を提供する。【解決手段】ＭＲＩ装置１０Ａは、理想制御値算出部６５と、パルス強度取得部６６と、判定部６８とを有する。理想制御値算出部６５は、複数のＲＦパルスが連続的に出力される場合が含まれるように、本スキャンのパルスシーケンスの実行時に出力されるべき複数のＲＦパルスの強度の各理想制御値を、本スキャンの条件に基づいて算出する。パルス強度取得部６６は、上記パルスシーケンスの実行中に送信された複数のＲＦパルスの強度の各測定値を取得する。判定部６８は、複数のＲＦパルスの強度の各理想制御値と各測定値とを比較することで、ＲＦパルス送信系統の異常の有無を判定する。【選択図】図１

Description

本発明の実施形態は、磁気共鳴イメージングに関する。

ＭＲＩは、静磁場中に置かれた被検体の原子核スピンをラーモア周波数のＲＦパルスで磁気的に励起し、この励起に伴って発生するＭＲ信号から画像を再構成する撮像法である。なお、上記ＭＲＩは磁気共鳴イメージング(Magnetic Resonance Imaging)の意味であり、ＲＦパルスは高周波パルス(radio frequency pulse)の意味であり、ＭＲ信号は核磁気共鳴信号(nuclear magnetic resonance signal)の意味である。

ＲＦパルスの送信、及び、被検体から放射されるＭＲ信号の検出は、ＲＦコイル装置（Radio Frequency Coil Device）により実行される。ＲＦコイル装置には、全身用のものと、局所用のものとがある。全身用ＲＦコイル装置は、例えばガントリに内蔵され、ＲＦパルスの送信機能と、ＭＲ信号の検出機能とを併せ持つことが多い。

局所用ＲＦコイル装置には、ＲＦパルスの送信機能及びＭＲ信号の検出機能を併せ持つタイプと、ＭＲ信号の検出専用のタイプとがある。局所用ＲＦコイル装置は、撮像部位に応じて種々のものが使用され、例えば頭部の撮像時には、頭部専用のＲＦコイル装置が被検体の頭部に装着される。頭部専用のＲＦコイル装置は、ＲＦパルスの送信機能と、ＭＲ信号の検出機能とを併せ持つことが多い。また、撮像部位が広範囲に亘る場合、例えば胸部ＲＦコイル装置、骨盤部ＲＦコイル装置、下肢ＲＦコイル装置などの複数のＲＦコイル装置が被検体に装着されることもある。

撮像領域に対するＲＦパルスの送信は、例えば、ＲＦ送信器から供給されるＲＦパルス電流が送信用ＲＦコイル装置内のコイルを流れることで実行される。画質やＳＡＲの観点からは、実際に出力されるＲＦパルスの強度と、パルスシーケンスに従って規定されるＲＦパルス強度の理想制御値（計画値）との乖離が小さいことが望ましい。上記ＳＡＲは、比吸収率(Specific Absorption Ratio)であり、生体組織１ｋｇに吸収されるＲＦパルスのエネルギーを意味する（例えば、特許文献１参照）。

従来技術では、実際にＲＦパルスを出力し、パルスシーケンスに基づいて規定されるＲＦパルス強度の理想制御値と、実際に出力されたＲＦパルス強度とを比較する簡易確認スキャンが実行されていた。簡易確認スキャンでは、離散的にＲＦパルスが出力され、実際の出力強度が制御値と対比して一定範囲内にない場合、ＲＦパルスの出力系統の異常として検出されていた。そして、ＲＦパルスの出力系統の故障が検出された場合、以降の撮像ができないように制御されていた。

特開２０１１−１２０８７３号公報

従来技術では、ＲＦパルスの出力系統の故障の前兆などの若干の異常があっても検出できなかったので、ＲＦパルスの出力系統に異常があっても、そのまま撮像が実行されていた場合があった。故障の検出後では撮像を実行できないため、ＲＦパルスの出力系統の異常を故障の前兆段階で検出できる構成が望まれていた。前述のように、撮像部位に応じて種々の組み合わせのＲＦコイル装置が用いられるが、ＲＦコイル装置についても同様に、故障の前兆段階で異常を検出できる構成が望ましい。

このため、ＭＲＩにおいて、ＲＦパルスの出力系統が完全な故障に至る前に、その前兆又は異常を従来技術よりも早期に発見する新技術が要望されていた。
また、ＭＲＩにおいて、ＲＦコイル装置が完全な故障に至る前に、その前兆又は異常を従来技術よりも早期に発見する新技術が要望されていた。

以下、本発明の実施形態が取り得る態様の数例を態様毎に説明する。
（１）一実施形態では、ＭＲＩ装置は、信号収集部と、画像再構成部と、理想制御値算出部と、パルス強度取得部と、判定部とを有する。
信号収集部は、本スキャンのパルスシーケンスに従って撮像領域にＲＦパルスを送信すると共に、撮像領域からＭＲ信号を収集する。
画像再構成部は、ＭＲ信号に基づいて画像データを再構成する。
理想制御値算出部は、複数のＲＦパルスが連続的に出力される場合が含まれるように、パルスシーケンスの実行時に出力されるべき複数のＲＦパルスの強度の各理想制御値を本スキャンの条件に基づいてそれぞれ算出する。
パルス強度取得部は、パルスシーケンスの実行中に送信された複数のＲＦパルスの強度の各測定値を取得する。
判定部は、複数のＲＦパルスの強度の各理想制御値と、複数のＲＦパルスの強度の各測定値とを比較することで、信号収集部におけるＲＦパルス送信系統の異常の有無の判定を実行する。

（２）別の一実施形態では、ＭＲＩ装置は、上記（１）と同様の信号収集部と、上記（１）と同様の画像再構成部と、理想制御値算出部と、パルス強度取得部と、判定部とを有する。
この形態では、理想制御値算出部は、パルスシーケンスの実行時に出力されるべきＲＦパルスの強度の理想制御値を、ＲＦパルスを時分割した複数の区間毎に、本スキャンの条件に基づいてそれぞれ算出する。
この形態では、パルス強度取得部は、パルスシーケンスの実行中に送信されたＲＦパルスの強度の測定値を、時分割された複数の区間に対してそれぞれ取得する。
この形態では、判定部は、時分割された区間毎の理想制御値と測定値とを比較することで、信号収集部におけるＲＦパルス送信系統の異常の有無の判定を実行する。

（３）別の一実施形態では、ＭＲＩ装置は、本スキャンの実行時に撮像領域からのＭＲ信号を検出する少なくとも１つのＲＦコイル装置からＭＲ信号を取得し、ＭＲ信号に基づいて画像データを再構成するものである。このＭＲＩ装置は、反射割合算出部と、データ記憶部と、判定部とを有する。
反射割合算出部は、本スキャンの前に実行されるプレスキャンにおいてＲＦパルスが撮像領域に送信された直後に反射電波強度を測定することで、ＲＦパルスの反射割合を算出する。
データ記憶部は、ＲＦパルスの送信、及び、ＭＲ信号の検出にそれぞれ用いられるＲＦコイル装置の組み合わせのパターン毎に、正常な反射割合を記憶している。
判定部は、本スキャンにおいてＲＦパルスの送信、及び、ＭＲ信号の検出に用いられるＲＦコイル装置の組み合わせを取得し、取得した組み合わせに対応する正常な反射割合と、反射割合算出部により算出された反射割合とを比較することで、ＲＦコイル装置の異常の有無を本スキャンの実行前に判定する。

第１の実施形態のＭＲＩ装置の全体構成の一例を示すブロック図。 従来技術における、正常と判断すべき測定波形と、異常と判断すべき測定波形との判別基準を示す模式図。 第１の実施形態において、理想制御値に基づくＲＦパルスの波形に対して、正常と判断すべき測定波形と、異常と判断すべき測定波形との判別基準の一例を示す模式図。 第１の実施形態において、同じ理想制御値の波形を入力した場合に、経過年数に応じた実際のＲＦパルスの出力レベルの下降の程度の一例を示す模式図。 第１の実施形態のＭＲＩ装置の動作の流れの一例を示すフローチャート。 第２の実施形態のＭＲＩ装置の全体構成の一例を示すブロック図。 第２の実施形態において、ＲＦパルスの送信、及び、ＭＲ信号の検出にそれぞれ用いられるＲＦコイル装置の組み合わせのパターン毎に記憶された正常な反射割合の一例を示す表。 第２の実施形態のＭＲＩ装置の動作の流れの一例を示すフローチャート。

以下、ＭＲＩ装置及びＭＲＩ方法の実施形態について、添付図面に基づいて説明する。なお、各図において同一要素には同一符号を付し、重複する説明を省略する。

＜第１の実施形態＞
図１は、第１の実施形態のＭＲＩ装置１０Ａの全体構成の一例を示すブロック図である。ここでは一例として、ＭＲＩ装置１０Ａの構成要素を寝台装置２０、ガントリ３０、制御装置４０の３つに分けて説明する。

第１に、寝台装置２０は、支持台２１と、天板２２と、支持台２１内に配置される天板移動機構２３とを有する。
天板２２の上面には、被検体Ｐが載置される。また、天板２２の上面には、被検体Ｐに装着されるＲＦコイル装置１００が接続される接続ポート２５が複数配置される。ここでは一例として、骨盤部用のＲＦコイル装置１００が図示されている。

支持台２１は、天板２２を水平方向（装置座標系のＺ軸方向）に移動可能に支持する。天板移動機構２３は、天板２２がガントリ３０外に位置する場合に、支持台２１の高さを調整することで、天板２２の鉛直方向の位置を調整する。また、天板移動機構２３は、天板２２を水平方向に移動させることで天板２２をガントリ３０内に入れ、撮像後には天板２２をガントリ３０外に出す。

第２に、ガントリ３０は、例えば円筒状に構成され、撮像室に設置される。ガントリ３０は、静磁場磁石３１と、シムコイルユニット３２と、傾斜磁場コイルユニット３３と、ＲＦコイルユニット３４とを有する。

静磁場磁石３１は、例えば超伝導コイルであり、円筒状に構成される。静磁場磁石３１は、後述の制御装置４０の静磁場電源４２から供給される電流により、撮像空間に静磁場を形成する。撮像空間とは例えば、被検体Ｐが置かれて、静磁場が印加されるガントリ３０内の空間を意味する。なお、静磁場電源４２を設けずに、静磁場磁石３１を永久磁石で構成してもよい。

シムコイルユニット３２は、例えば円筒状に構成され、静磁場磁石３１の内側において、静磁場磁石３１と軸を同じにして配置される。シムコイルユニット３２は、後述の制御装置４０のシムコイル電源４４から供給される電流により、静磁場を均一化するオフセット磁場を形成する。

傾斜磁場コイルユニット３３は、例えば円筒状に構成され、シムコイルユニット３２の内側に配置される。傾斜磁場コイルユニット３３は、Ｘ軸傾斜磁場コイル３３ｘと、Ｙ軸傾斜磁場コイル３３ｙと、Ｚ軸傾斜磁場コイル３３ｚとを有する。

本明細書では、特に断りのない限り、Ｘ軸、Ｙ軸、Ｚ軸は装置座標系であるものとする。ここでは一例として、装置座標系のＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸を以下のように定義する。まず、鉛直方向をＹ軸方向とし、天板２２は、その上面の法線方向がＹ軸方向となるように配置される。天板２２の水平移動方向をＺ軸方向とし、ガントリ３０は、その軸方向がＺ軸方向となるように配置される。Ｘ軸方向は、これらＹ軸方向、Ｚ軸方向に直交する方向であり、図１の例では天板２２の幅方向である。

Ｘ軸傾斜磁場コイル３３ｘは、後述のＸ軸傾斜磁場電源４６ｘから供給される電流に応じたＸ軸方向の傾斜磁場Ｇｘを撮像領域に形成する。同様に、Ｙ軸傾斜磁場コイル３３ｙは、後述のＹ軸傾斜磁場電源４６ｙから供給される電流に応じたＹ軸方向の傾斜磁場Ｇｙを撮像領域に形成する。同様に、Ｚ軸傾斜磁場コイル３３ｚは、後述のＺ軸傾斜磁場電源４６ｚから供給される電流に応じたＺ軸方向の傾斜磁場Ｇｚを撮像領域に形成する。

そして、スライス選択方向傾斜磁場Ｇｓｓ、位相エンコード方向傾斜磁場Ｇｐｅ、及び、読み出し方向（周波数エンコード方向）傾斜磁場Ｇｒｏは、装置座標系の３軸方向の傾斜磁場Ｇｘ、Ｇｙ、Ｇｚの合成により、任意の方向に設定可能である。

上記撮像領域は、例えば、１画像又は１セットの画像の生成に用いられるＭＲ信号の収集範囲の少なくとも一部であって、画像となる領域である。撮像領域は例えば、撮像空間の一部として装置座標系で３次元的に規定される。例えば折り返しアーチファクトを防止するために、画像化される領域よりも広範囲でＭＲ信号が収集される場合、撮像領域はＭＲ信号の収集範囲の一部である。一方、ＭＲ信号の収集範囲の全てが画像となり、ＭＲ信号の収集範囲と撮像領域とが合致する場合もある。また、上記「１セットの画像」は、例えばマルチスライス撮像などのように、１のパルスシーケンスで複数画像のＭＲ信号が一括的に収集される場合の複数画像である。

ＲＦコイルユニット３４は、例えば円筒状に構成され、傾斜磁場コイルユニット３３の内側に配置される。ＲＦコイルユニット３４は、例えば、ＲＦパルスの送信及びＭＲ信号の受信を兼用可能な全身用コイル（図示せず）を含む。

第３に、制御装置４０は、静磁場電源４２と、シムコイル電源４４と、傾斜磁場電源４６と、ＲＦ送信器４８と、ＲＦ受信器５０と、シーケンスコントローラ５８と、演算装置６０と、入力装置７２と、表示装置７４と、記憶装置７６とを有する。

傾斜磁場電源４６は、Ｘ軸傾斜磁場電源４６ｘと、Ｙ軸傾斜磁場電源４６ｙと、Ｚ軸傾斜磁場電源４６ｚとを有する。Ｘ軸傾斜磁場電源４６ｘ、Ｙ軸傾斜磁場電源４６ｙ、Ｚ軸傾斜磁場電源４６ｚは、傾斜磁場Ｇｘ、Ｇｙ、Ｇｚを形成するための各電流を、Ｘ軸傾斜磁場コイル３３ｘ、Ｙ軸傾斜磁場コイル３３ｙ、Ｚ軸傾斜磁場コイル３３ｚにそれぞれ供給する。

ＲＦ送信器４８は、増幅器４８ａと、測定器４８ｂとを有する。ＲＦ送信器４８は、シーケンスコントローラ５８から入力される制御情報に基づいて、核磁気共鳴を起こすラーモア周波数のＲＦ電流パルスを生成し、これを増幅器４８ａからＲＦコイルユニット３４に送信する。このＲＦ電流パルスに応じたＲＦパルスが、ＲＦコイルユニット３４から被検体Ｐに送信される。

なお、ＲＦ送信器４８内において、増幅器４８ａの出力には、測定器４８ｂが直列に挿入されており、測定器４８ｂは、出力されるＲＦ電流パルスの電流値を所定の時間間隔で測定し、測定値を演算装置６０に入力する。

ＲＦコイルユニット３４の全身用コイルや、被検体Ｐに装着されるＲＦコイル装置１００は、被検体Ｐ内の原子核スピンがＲＦパルスによって励起されることで発生したＭＲ信号を検出し、検出されたＭＲ信号は、ＲＦ受信器５０に入力される。

ＲＦ受信器５０は、受信したＭＲ信号に所定の信号処理を施した後、Ａ／Ｄ(analog to digital)変換を施すことで、デジタル化されたＭＲ信号の複素データである生データを生成する。ＲＦ受信器５０は、ＭＲ信号の生データを演算装置６０（の画像再構成部６２）に入力する。

シーケンスコントローラ５８は、演算装置６０の指令に従って、傾斜磁場電源４６、ＲＦ送信器４８及びＲＦ受信器５０の駆動に必要な制御情報を記憶する。ここでの制御情報とは、例えば、傾斜磁場電源４６に印加すべきパルス電流の強度や印加時間、印加タイミング等の動作制御情報を記述したシーケンス情報である。シーケンスコントローラ５８は、記憶した所定のシーケンスに従って傾斜磁場電源４６、ＲＦ送信器４８及びＲＦ受信器５０を駆動させることで、傾斜磁場Ｇｘ、Ｇｙ、Ｇｚ及びＲＦパルスを発生させる。

演算装置６０は、システム制御部６１と、システムバスＳＢと、画像再構成部６２と、画像データベース６３と、画像処理部６４と、理想制御値算出部６５と、パルス強度取得部６６と、ＳＡＲ算出部６７と、判定部６８とを有する。

システム制御部６１は、本スキャンの撮像条件の設定、撮像動作及び撮像後の画像表示において、システムバスＳＢ等の配線を介してＭＲＩ装置１０Ａ全体のシステム制御を行う。上記撮像条件とは例えば、どの種類のパルスシーケンスにより、どのような条件でＲＦパルス等を送信し、どのような条件で被検体ＰからＭＲ信号を収集するかを意味する。撮像条件の例としては、撮像空間内の位置的情報としての撮像領域、フリップ角、繰り返し時間ＴＲ(Repetition Time)、スライス数、撮像部位、スピンエコー法やパラレルイメージング等のパルスシーケンスの種類などが挙げられる。上記撮像部位とは、例えば、頭部、胸部、腹部などの被検体Ｐのどの部分を撮像領域として画像化するかを意味する。

上記「本スキャン」は、Ｔ１強調画像などの、目的とする診断画像の撮像のためのスキャンであって、位置決め画像用のＭＲ信号収集のスキャンや、較正スキャンを含まないものとする。スキャンとは、ＭＲ信号の収集動作を指し、画像再構成を含まないものとする。較正スキャンとは例えば、本スキャンの撮像条件の内の未確定のものや、画像再構成処理や画像再構成後の補正処理に用いられる条件やデータ等を決定するために、本スキャンとは別に行われるスキャンを指す。較正スキャンの例としては、本スキャンでのＲＦパルスの中心周波数を算出するシーケンス等がある。プレスキャンとは、較正スキャンの内、本スキャン前に行われるものを指す。

また、システム制御部６１は、撮像条件の設定画面情報を表示装置７４に表示させ、入力装置７２からの指示情報に基づいて撮像条件を設定し、設定した撮像条件をシーケンスコントローラ５８に入力する。また、システム制御部６１は、撮像後には、生成された表示用画像データが示す画像を表示装置７４に表示させる。
入力装置７２は、撮像条件や画像処理条件を設定する機能をユーザに提供する。

画像再構成部６２は、位相エンコードステップ数及び周波数エンコードステップ数に応じて、ＲＦ受信器５０から入力されるＭＲ信号の生データをｋ空間データとして配置及び保存する。ｋ空間とは、周波数空間の意味である。画像再構成部６２は、ｋ空間データに２次元又は３次元のフーリエ変換を含む画像再構成処理を施すことで、被検体Ｐの画像データを生成する。画像再構成部６２は、生成した画像データを画像データベース６３に保存する。

画像処理部６４は、画像データベース６３から画像データを取り込み、これに所定の画像処理を施し、画像処理後の画像データを表示用画像データとして記憶装置７６に保存する。

記憶装置７６は、上記の表示用画像データに対し、その表示用画像データの生成に用いた撮像条件や被検体Ｐの情報（患者情報）等を付帯情報として付属させて記憶する。
ＳＡＲ算出部６７は、測定器４８ｂから入力されるＲＦパルス電流の測定値に基づいて、ＳＡＲを測定する。

理想制御値算出部６５は、第１の実施形態の特徴の１つであり、パルスシーケンスの実行時に出力されるべき複数のＲＦパルスの強度の各理想制御値を、各ＲＦパルスを時分割した区間毎に、本スキャンの条件に基づいてそれぞれ算出する。詳細は図３で後述する。

パルス強度取得部６６は、第１の実施形態の特徴の１つであり、パルスシーケンスの実行中に送信された複数のＲＦパルスの強度の時間変化の測定値を取得する。

判定部６８は、第１の実施形態の特徴の１つであり、ＲＦパルスの強度の理想制御値と、測定値とを新手法によって比較することで、ＲＦ送信器４８の異常の有無を判定する。判定部６８は、ここでは一例として、通信回線を介して外部のサービスセンタＳＣに接続されている。ＲＦ送信器４８に異常ありと判定した場合、判定部６８は、そのように判定した旨をリアルタイムでサービスセンタＳＣに通知する。

なお、演算装置６０、入力装置７２、表示装置７４、記憶装置７６の４つを１つのコンピュータとして構成し、例えば制御室に設置してもよい。
また、上記説明では、ＭＲＩ装置１０Ａの構成要素をガントリ３０、寝台装置２０、制御装置４０の３つに分類したが、これは一解釈例にすぎない。例えば、天板移動機構２３は、制御装置４０の一部として捉えてもよい。

或いは、ＲＦ受信器５０は、ガントリ３０外ではなく、ガントリ３０内に配置されてもよい。この場合、例えばＲＦ受信器５０に相当する電子回路基盤がガントリ３０内に配設される。そして、ＲＦコイル装置１００等によって電磁波からアナログの電気信号に変換されたＭＲ信号は、当該電子回路基盤内のプリアンプで増幅され、デジタル信号としてガントリ３０外に出力され、画像再構成部６２に入力される。ガントリ３０外への出力に際しては、例えば光通信ケーブルを用いて光デジタル信号として送信すれば、外部ノイズの影響が軽減されるので望ましい。

図２は、従来技術における、正常と判断すべき測定波形と、異常と判断すべき測定波形との判別基準を示す模式図である。図２において、縦軸はＲＦパルスの強度(Pulse Intensity)である。図２の左側は、理想制御値の強度の１つのＲＦパルスである。図２の中央は、許容範囲内（正常範囲内）の測定値の２つのＲＦパルスである。図２の右側は、許容範囲外（正常範囲外）の測定値の２つのＲＦパルスである。

従来技術では、簡易スキャンにより、ＲＦ送信器に離散的にＲＦパルスを出力させ、そのＲＦパルスの出力の測定値と、理想制御値とのズレが所定範囲外である場合、ＲＦ送信器内の増幅器の異常として検出していた。上記ズレは、例えば、図２に示すように、理想制御値を１００％として、±１０％の範囲である。

しかし、実際のパルスシーケンスでは、連続的にＲＦパルスが出力される場合もあるので、上記のような離散的なＲＦパルスの出力では検出不可能なＲＦ送信器の出力異常が生じ得る。例えば、連続的にＲＦパルスを出力することによる温度上昇によって、ＲＦ送信器の出力が異常となる場合や、使用中にＲＦ送信器の出力が徐々に出力が低下していく場合等である。

そこで第１の実施形態のＭＲＩ装置１０Ａは、複数のＲＦパルスが連続的に出力される場合が含まれるように判定を実行する。即ち、ＭＲＩ装置１０Ａは、パルスシーケンス実行中に出力される全ＲＦパルスについて、強度の理想制御値を算出すると共に実際の強度を測定し、両者の比較により異常の有無を判定する。

図３は、第１の実施形態において、理想制御値に基づくＲＦパルスの波形に対して、正常と判断すべき測定波形と、異常と判断すべき測定波形との判別基準の一例を示す模式図である。

図３の上段は、パルスシーケンスの始めから終了までに送信される（複数の）ＲＦパルスの理想制御値の各波形図である。縦軸はパルス強度であり、横軸は経過時間である。煩雑となるので、図３の上段では、パルスシーケンスの最初と最後のＲＦパルスのみを示し、他のＲＦパルスは省いている（中段、下段も同様）。

また、ここでは一例として、各ＲＦパルスを時分割し、時分割された区間Δ１〜Δ８毎に理想制御値が算出される。煩雑となるので、最初のＲＦパルスのみ時分割された区間Δ１〜Δ８を図示し、最後のＲＦパルスでは区間Δ１〜Δ８の表記を省略する。

図３の中段は、正常範囲の場合に対応するＲＦパルスの強度の測定値、及び、理想制御値との積算ズレ量である。具体的には、図３の中段の上側は、パルスシーケンスの始めから終了までに送信されるＲＦパルスの強度の時間変化の測定値を上段と同様に示す（図中の破線は、図３の上段の理想制御値のレベルを示す）。

図３の中段の下側は、各ＲＦパルスを時分割し、時分割した区間（Δ１〜Δ８）毎に、対応する理想制御値との差分の絶対値を積算したものである。即ち、図３の中段の下側において、横軸は経過時間であり、縦軸はズレ量の積算値である。縦軸の単位は、ここでは一例として、理想制御値を基準（１００％）とした％で考える。

即ち、時分割された１つの区間（例えばΔ１）毎に、その区間の理想制御値を１００％として正規化することで測定値が±何％ずれたかを算出し、％で示されるズレの絶対値を「ズレ量」として積算していく。従って、図３の上段、中段の例では、最初のＲＦパルスにおいて、区間Δ６とΔ７とでは、理想制御値が異なるので、ズレ量が同じ１０％であったとしても、例えば電流強度等の物理量に換算されるズレ量は、互いに異なる。

図３の中段の例では、最初のＲＦパルスにおいて、区間Δ１〜Δ４では理想制御値と、測定値とのズレがないから積算ズレ量もないが、区間Δ５以降、ズレが生じ、積算ズレ量が加算されていく。図３の中段の横方向の二点鎖線は閾値ＴＨを示す。

異常の有無の判定基準となる閾値ＴＨは、ＲＦ送信器４８内の増幅器４８ａの特性に応じて決定されるが、後述の図４で説明するように、ＲＦ送信器４８の経年劣化が反映される。図３の中段の例では、パルスシーケンスの最初から最後までズレ量を加算した積算ズレ量が閾値ＴＨ以下なので、正常範囲と判定される。

なお、積算されるズレ量は、上記のような正規化処理を区間毎に行わずに、例えば電流強度等の物理量として、各区間でのＲＦパルスの理想制御値と、測定値との差分の絶対値としてもよい。

図３の下段は、異常ありと判定される範囲の場合に対応するＲＦパルスの強度の測定値、及び、理想制御値との積算ズレ量を図３の中段と同様に示す。図３の下段の例では、パルスシーケンスの最初から最後まで積算したズレ量が閾値ＴＨを超えるので、異常ありと判定される。

なお、ここでは一例として、最終的な積算ズレ量と、閾値ＴＨとを１回だけ比較して異常の有無を判定している。即ち、相当数の画像が撮像される１のパルスシーケンスであっても、その始めから終りまでの全てのＲＦパルスについて、上記のように理想制御値と測定値とのズレ量を積算し、最終的な積算ズレ量と、閾値ＴＨとを１回だけ比較して異常の有無を判定する。本発明の実施形態は、かかる態様に限定されるものではない。

１のパルスシーケンスにおいて、例えば１０画像分のＭＲ信号の収集毎に区切って、上記のように積算ズレ量と閾値ＴＨとの比較を行い、積算ズレ量が閾値ＴＨを超えた区間が１つでもあれば異常ありと判定してもよい。

また、図１、図３では説明の簡単化のため、ＲＦ送信器４８内の増幅器４８ｂが１つと仮定して説明したが、ＲＦ送信器４８内の複数の増幅器からそれぞれＲＦパルスが出力される場合、それぞれの増幅器の位相の違いについては、考慮不要である。そのような合成出力の場合、それぞれの増幅器に対して別々に理想制御値を計算し、実際の出力強度測定を別々に行い、別々に閾値を設定して異常の有無を別々に判定すればよい。異常と判定された増幅器が１つでもあれば、ＲＦ送信器４８全体として異常ありと判定すればよい。

図４は、第１の実施形態において、同じ理想制御値の波形を入力した場合に、経過年数に応じた実際のＲＦパルスの出力レベルの下降の程度の一例を示す模式図である。図４に示すように、ＲＦ送信器４８に異常が発生しない場合であっても、ＲＦ送信器４８の出力レベルは、製造時（据付調整時）から次第に下降していく。

そこで、実際に負荷試験を行うことで、ＲＦ送信器４８内の増幅器４８ａの経年変化による劣化特性を測定し、ＭＲＩ装置１０Ａの製造時又は据付調整時において、劣化特性を判定部６８に記憶させる。

より具体的には、上記負荷試験で得られる劣化特性に基づいて、閾値ＴＨの設定方法を示す劣化特性に応じたテーブルデータを生成すればよい。テーブルデータは、（１）製造時（又は据付調整時）から１年後では、ＲＦパルスの実際の出力が理想制御値よりも例えば５％落ちるので閾値ＴＨも製造時（又は据付調整時）の９５％にする、（２）製造時（又は据付調整時）から１０年後では、ＲＦパルスの実際の出力が理想制御値よりも例えば１５％落ちるので閾値ＴＨも製造時（又は据付調整時）の９５％にする、等の情報を含む。
製造時（又は据付調整時）において、このようなテーブルデータを判定部６８に記憶させればよい。

図５は、第１の実施形態のＭＲＩ装置１０Ａの動作の流れの一例を示すフローチャートである。以下、前述した各図を適宜参照しながら、図５に示すステップ番号に従って、ＭＲＩ装置１０Ａの動作を説明する。

［ステップＳ１］システム制御部６１（図１参照）は、入力装置７２を介してＭＲＩ装置１０Ａに対して入力された撮像条件に基づいて、本スキャンの撮像条件を暫定的に設定する。この後、ステップＳ２に進む。

［ステップＳ２］理想制御値算出部６５は、ステップＳ１で暫定的に設定された撮像条件に基づいて、本スキャンのパルスシーケンスにおける全ＲＦパルスの出力強度の理想制御値を、各ＲＦパルスを時分割した区間毎に算出する（図３の上段参照）。理想制御値算出部６５は、この算出結果を記憶し、システム制御部６１に入力する。

また、システム制御部６１は、ステップＳ１で暫定的に設定された撮像条件に基づいて、本スキャンのパルスシーケンスの全区間において、１０秒平均ＳＡＲの推定値、６分平均ＳＡＲの推定値や、「１のパルスシーケンスで被検体Ｐに吸収されるＳＡＲの積算値の推定値」等をそれぞれ算出する。この後、ステップＳ３に進む。

［ステップＳ３］システム制御部６１は、以下の２条件を満たす場合、ステップＳ１で暫定的に設定された本スキャンのパルスシーケンスの実行可能と判定する。

第１には、パルスシーケンスのどの区間においても、１０秒平均ＳＡＲ、６分平均ＳＡＲの各推定値がそれぞれ第１又は第２の上限値を超えないことである。
第２には、本スキャンのパルスシーケンスにおける全ＲＦパルスの出力強度の理想制御値から推定して、電力不足とならないことである。
実行可能と判定された場合、ステップＳ５に進み、実行不能と判定された場合、ステップＳ４に進む。

［ステップＳ４］システム制御部６１は、ＳＡＲの推定値が上限値を超える、或いは、電力不足等の実行不能と判定された理由を表示装置７２に警告表示させる。この後、ステップＳ１に戻り、撮像条件が再設定される。

［ステップＳ５］システム制御部６１は、ステップＳ１で暫定的に設定した本スキャンの撮像条件を確定条件とし、パルスシーケンスの条件をＲＦ送信器４８や傾斜磁場電源４６等の出力系統やシーケンスコントローラ５８に入力する。この後、ステップＳ６に進む。

［ステップＳ６］ステップＳ５で確定された撮像条件に従って本スキャンのデータ収集が行われる。具体的には、天板２２に被検体Ｐが載置され、静磁場電源４２により励磁された静磁場磁石３１によって撮像空間に静磁場が形成される。また、シムコイル電源４４からシムコイルユニット３２に電流が供給されて、撮像空間に形成された静磁場が均一化される。

そして、入力装置７２からシステム制御部６１に撮像開始指示が入力されると、システム制御部６１は、パルスシーケンスを含む撮像条件をシーケンスコントローラ５８に入力する。シーケンスコントローラ５８は、入力されたパルスシーケンスに従って傾斜磁場電源４６、ＲＦ送信器４８及びＲＦ受信器５０を駆動させることで、被検体Ｐの撮像部位が含まれる撮像領域に傾斜磁場を形成させると共に、ＲＦコイルユニット３４からＲＦパルスを発生させる。

このため、被検体Ｐ内の核磁気共鳴により生じたＭＲ信号がＲＦコイル装置１００（及びＲＦコイルユニット３４内の全身用コイル）により検出されて、ＲＦ受信器５０に入力される。ＲＦ受信器５０は、ＭＲ信号に前述の処理を施すことでＭＲ信号の生データを生成し、これら生データを画像再構成部６２に入力する。画像再構成部６２は、ＭＲ信号の生データをｋ空間データとして配置及び保存する。

上記本スキャンの実行中において、ＳＡＲ算出部６７は例えば、１０秒平均ＳＡＲ、及び、６分平均ＳＡＲの測定値をＳＡＲ履歴として記憶すると共に、システム制御部６１にリアルタイムで入力する。システム制御部６１は、ステップＳ５において、任意の１０秒間、６分間のＳＡＲがそれぞれ第１又は第２の上限値を超えないように本スキャンのパルスシーケンスを設定している。しかし、何らかの事故等によってリアルタイムで入力されるＳＡＲ測定値が上限値を超えた場合に、システム制御部６１は、本スキャンの実行を途中で停止させる。

また、上記本スキャンの実行中において、パルス強度取得部６６は、ＲＦパルスの出力強度の時間変化を測定する。具体的には例えば、パルス強度取得部６６は、測定器４８ｂから入力されるＲＦパルス電流の強度の時間変化の測定値から、ＲＦパルスの出力強度の時間変化を換算する。但し、パルス強度取得部６６は、本スキャンの実行中のＳＡＲの履歴のデータをＳＡＲ算出部６７から取得し、ＳＡＲの履歴のデータから、本スキャンの実行中のＲＦパルスの出力強度の時間変化を算出してもよい。
この後、ステップＳ７に進む。

［ステップＳ７］ここでは一例として、ＲＦパルスの理想制御値と、実際に出力された測定値との比較が、ステップＳ８の画像再構成処理と並行して実行される例を述べる。従って、システム制御部６１は、画像再構成処理の指令を画像再構成部６２に入力すると共に、ＲＦパルス送信系統の異常の有無の判定指令を判定部６８に入力する。この後、ステップＳ８の画像再構成処理と、ステップＳ９の判定処理が並行して実行された後、ステップＳ１０に進む。

但し、ＲＦパルス送信系統の異常の有無の判定処理は、ステップＳ８の画像再構成処理後に行ってもよいし、画像再構成処理の前に行ってもよい。

［ステップＳ８］画像再構成部６２は、ｋ空間データにフーリエ変換を含む画像再構成処理を施すことで画像データを再構成し、得られた画像データを画像データベース６３に保存する。画像処理部６４は、画像データベース６３から画像データを取り込み、これに所定の画像処理を施すことで２次元の表示用画像データを生成し、この表示用画像データを記憶装置７６に保存する。ステップＳ９の処理も終了していれば、この後、ステップＳ１０に進む。

［ステップＳ９］判定部６８は、ステップＳ２で理想制御値算出部６５により算出及び記憶された本スキャンのパルスシーケンスにおける全ＲＦパルスの出力強度の理想制御値を取得する。
また、判定部６８は、本スキャンのパルスシーケンスにおける全ＲＦパルスの出力強度の時間変化の測定値をパルス強度取得部６６から取得する。

また、判定部６８は、図４で説明したように、ＭＲＩ装置１０Ａの据付調整時からの経過時間に対応する閾値ＴＨを、判定部６８内に記憶されたテーブルデータから選択する。

そして、判定部６８は、図３で述べた手法により、各ＲＦパルスを時分割した区間毎に理想制御値と測定値とのズレ量を積算し、選択された閾値ＴＨを積算ズレ量が超えるか否かを判定する。この判定処理の後、ステップＳ８の処理も終了していれば、ステップＳ１０に進む。

［ステップＳ１０］ステップＳ９の判定において、積算ズレ量が閾値ＴＨ以下の場合、判定部６８は異常無しと判定し、ステップＳ１１に進む。ステップＳ９の判定において、積算ズレ量が閾値ＴＨを超える場合、判定部６１はＲＦ送信器４８に異常有りと判定し、ステップＳ１２に進む。

［ステップＳ１１］システム制御部６１は、ステップＳ８で記憶装置７６に保存された表示用画像データが示す画像を本スキャンで得られた画像として表示装置７４に表示させる。

［ステップＳ１２］判定部６８は、ＲＦ送信器４８に異常有りと判定した旨の情報を通信回線を介して外部のサービスセンタＳＣ（図１参照）に送信する。また、判定部６８は、ＲＦ送信器４８に異常有りと判定した旨の情報を表示装置７４に警告表示させる。
また、システム制御部６１は、ステップＳ１１と同様に本スキャンで得られた画像を表示装置７４に表示させる

以上が第１の実施形態のＭＲＩ装置１０Ａの動作説明である。以下、従来技術と第１の実施形態との違いについて説明する。

実際のパルスシーケンスでは、連続的にＲＦパルスを出力することによる温度上昇によってＲＦ送信器の出力が異常となる場合や、使用中にＲＦ送信器の出力が徐々に出力が低下していく場合がある。このような異常は、離散的に出力させた１のＲＦパルスの出力の測定値と理想制御値とのズレのみにより異常の有無を判定している従来技術では、検出できない。

そこで第１の実施形態では、パルスシーケンス実行中に出力される全ＲＦパルスについて、時分割した区間毎に強度の理想制御値がそれぞれ算出されると共に実際の強度が測定される。そして、理想制御値と、測定値とのズレ量が区間毎に算出され、積算ズレ量と、閾値ＴＨとの対比によってＲＦ送信器４８の異常の有無が判定される。従って、第１の実施形態によれば、ＲＦパルスの出力系統が完全な故障に至る前に、その前兆又は異常を従来技術よりも早期に発見できる。

また、第１に、各々のＲＦパルスの出力を１つとして捉えるのではなく、複数の区間に時分割し、区間毎に理想制御値と、測定値とのズレ量が算出される。第２に、ＭＲＩ装置１０Ａの製造時からの経過期間に応じてそれぞれ異なる閾値ＴＨがデータとして判定部６８に予め記憶され、経過期間に応じた閾値ＴＨが選択され、上記判定に用いられる。以上の２点から、ＲＦ送信器４８の異常の有無を正確に判定できる。

さらに、異常有りと判定された場合には、その旨の情報が表示装置７４に自動的に表示され、外部のサービスセンタＳＣにも自動的に送信される。従って、早期の修理、メンテナンスに資する。

＜第２の実施形態＞
図６は、第２の実施形態のＭＲＩ装置１０Ｂの全体構成の一例を示すブロック図である。第２の実施形態のＭＲＩ装置１０Ｂは、第１の実施形態の構成に加えて、ＲＦコイル装置の異常の有無を判定する。このため、ＭＲＩ装置１０Ｂは、演算装置６０内にデータ記憶部６９ａと、反射割合算出部６９ｂとをさらに有し、その他の構成は第１の実施形態と同様である。以下、第１の実施形態との違いに焦点をおいて説明する。

第２の実施形態では、ＲＦパルスの反射割合に基づいて、ＲＦコイル装置の異常の有無が判定される。具体的には、ＲＦパルスの出力の内の有効割合（被検体Ｐに吸収される割合）、即ち、ＲＦパルスの送信効率は、経年変化するものではない。従って、ここでは一例として、ＲＦパルスの出力の内、被検体Ｐに吸収されない割合を「反射割合」と定義する。

ＲＦ送信器４８内の測定器４８ｂは、第１の実施形態で述べたＲＦパルス電流の出力強度のみならず、反射電波強度も測定する。即ち、測定器４８ｂは、プレスキャンにおいて、ＲＦパルスの送信直後に、ガントリ３０内の撮像空間から反射される電波を受信し、受信電波強度を測定する。

反射割合算出部６９ｂは、プレスキャンにおいて、ＲＦパルス電流の出力強度と、受信電波強度とを測定器４８ｂから取得し、ＲＦパルス電流の出力強度と、受信電波強度との比率に基づいて、ＲＦパルスの反射割合を算出する。なお、測定器４８ｂが反射割合算出部６９ｂの機能も兼用し、測定器４８ｂにより算出された反射割合が判定部６８に入力される構成でもよい。

データ記憶部６９ａは、ＲＦパルスの送信、及び、ＭＲ信号の検出にそれぞれ用いられるＲＦコイル装置の組み合わせのパターン毎に、正常な反射割合を例えばテーブルデータとして記憶している。

判定部６８は、第１の実施形態で述べたＲＦ送信器４８の異常の有無のみならず、ＲＦコイル装置の異常の有無も判定する。

図７は、第２の実施形態において、ＲＦパルスの送信、及び、ＭＲ信号の検出にそれぞれ用いられるＲＦコイル装置の組み合わせのパターン毎に記憶された正常な反射割合の一例を示す表である。

ＲＦパルスの送信には、ＲＦコイルユニット３４内の全身用コイルが送信用ＲＦコイル装置として多く用いられる。頭部ＲＦコイル装置（図示せず）や、膝用ＲＦコイル装置（図示せず）は、ＲＦパルスの送信と、ＭＲ信号の検出とを兼用する機種が多い。

ＭＲ信号の検出（受信）は、例えば、全身用コイルのみで実行される場合、被検体Ｐに装着される１つのＲＦコイル装置のみで実行される場合、被検体Ｐに装着される複数のＲＦコイル装置で実行される場合がある。

データ記憶部６９ａは、図７のようなＲＦパルスの送信、及び、ＭＲ信号の検出にそれぞれ用いられるＲＦコイル装置の組み合わせの全てのパターン毎に、正常な反射割合を記憶している。正常な反射割合は、例えば、製造時などにおいて実際に実験を行い、実験結果をデータ化することで取得される。

図８は、第２の実施形態のＭＲＩ装置１０Ｂの動作の流れの一例を示すフローチャートである。以下、図８に示すステップ番号に従って、ＭＲＩ装置１０Ｂの動作を説明する。

［ステップＳ２１〜２５］第１の実施形態のステップＳ１〜Ｓ５とそれぞれ同様であるので、重複する説明を省略する。

［ステップＳ２６］天板２２上には、撮像部位に応じた単数又は複数のＲＦコイル装置が装着された被検体Ｐが載置されている（図６の例では、骨盤部用のＲＦコイル装置１００のみが装着されている）。なお、全身用コイルのみでＭＲ信号を検出する場合、被検体ＰにはＲＦコイル装置が装着されない。

そして、ＲＦコイル装置の異常の有無を判定するプレスキャンとして、システム制御部６１の制御の下、ＲＦ送信器４８と、送信用のＲＦコイル装置によってＲＦパルスが送信される。送信用のＲＦコイル装置は、前述のように、ＲＦコイルユニット３４内の全身用コイルの場合もあれば、頭部ＲＦコイル装置等のような装着型ＲＦコイル装置の場合もある。

そして、測定器４８ｂは、ＲＦパルス電流の強度と、その出力直後に反射により受信される反射電波強度とを測定し、測定値を反射割合算出部６９ｂに入力する。
反射割合算出部６９ｂは、ＲＦパルス電流の強度と、反射電波強度とに基づいて反射割合を算出し、これを判定部６８に入力する。

判定部６８は、ＲＦパルスの送信に用いられているＲＦコイル装置の識別情報と、ＭＲ信号の検出に用いられるＲＦコイル装置の識別情報とをシステム制御部６１から取得する。これにより判定部６８は、ＲＦパルスの送信、及び、ＭＲ信号の検出に現在それぞれ用いられているＲＦコイル装置の組み合わせのパターンを取得し、このパターンに対応する正常な反射割合をデータ記憶部６９ａから取得する。

判定部６８は、データ記憶部６９ａから取得した正常な反射割合と、反射割合算出部６９ｂから入力された反射割合とのズレの比率が許容範囲内であるか否かを判定する。ここでの許容範囲とは、正常な反射割合を基準（１００％）として、ズレが例えば±５％、±８％、等の範囲内にあるか否かである。この許容範囲も、実験によってデータ化して、据え付け調整時にデータ記憶部６９ａに記憶させておけばよい。
この後、ステップＳ２７に進む。

［ステップＳ２７］ステップＳ２６での判定部６８の判定において、ズレの比率が許容範囲内である場合、異常無しに該当するので、ステップＳ２９に進む。それ以外の場合、異常ありに該当するので、ステップＳ２８に進む。
なお、反射によりＲＦ送信器４８内の測定器４８ｂが検出する電波は、どこから放射された電波かは判別不能である。従って、例えば複数のＲＦコイル装置が被検体Ｐに装着される場合、どのＲＦコイル装置が異常があるかまでは判別できない。

［ステップＳ２８］判定部６８は、現在ＭＲ信号の検出用にセットされているＲＦコイル装置の少なくとも１つに異常がある旨の情報を、表示装置７４に表示させると共に外部のサービスセンタＳＣに送信する。この場合、ＲＦコイル装置に異常があるので、本スキャンは実行されない。

［ステップＳ２９〜Ｓ３５］第１の実施形態のステップＳ６〜Ｓ１２とそれぞれ同様であるので、重複する説明を省略する。
以上が第２の実施形態のＭＲＩ装置１０Ｂの動作説明である。

このように第２の実施形態においても、第１の実施形態と同様の効果が得られる。さらに、第２の実施形態では、プレスキャンにおいて送信されるＲＦパルスの反射割合を測定し、これを正常値と対比する簡易な手法により、ＲＦコイル装置の異常の有無を判定する。従って、ＲＦコイル装置が完全な故障に至る前に、その前兆又は異常を従来技術よりも早期に発見することができる。

＜実施形態の補足事項＞
［１］第１の実施形態では、図５のステップＳ６の本スキャンの終了後であるステップＳ９においてＲＦパルス送信系統の異常の有無が判定される例を述べた。本発明の実施形態は、かかる態様に限定されるものではない。ＲＦパルス送信系統の異常の有無を判定は、本スキャンの実行中にリアルタイムで実行されてもよい。

具体的な一例としては、ＭＲＩ装置１０Ａは、ステップＳ６において本スキャンのＭＲ信号を収集しながら、パルス強度取得部６６にＲＦパルスの出力測定値をリアルタイムでモニタリングさせることで、積算ズレ量を所定の時間間隔でリアルタイムで更新してもよい。この場合、判定部６８は、積算ズレ量が閾値ＴＨを超えるか否かの判定を上記所定の時間間隔毎に実行し、積算ズレ量が閾値ＴＨを超えた時点で、表示装置７４での警告表示等とサービスセンタＳＣへの通知とが実行される（パルスシーケンスの終了まで積算ズレ量が閾値ＴＨを超えなければ、警告表示等が実行されずに、画像再構成及び画像表示が実行される）。
この点、第２の実施形態についても同様である。

［２］第２の実施形態では、ＲＦパルスの反射割合に基づいてＲＦコイル装置の異常の有無を判定する例を述べた。本発明は、かかる実施形態に限定されるものではない。反射電波強度に基づいて、ＲＦパルスの送信効率（有効割合）を測定し、ＲＦパルスの送信効率の測定値と、正常な送信効率とを対比することでＲＦコイル装置の異常の有無を判定しても、技術的には等価である。

［３］請求項の用語と実施形態との対応関係を説明する。なお、以下に示す対応関係は、参考のために示した一解釈であり、本発明を限定するものではない。

ガントリ３０内の各構成要素、及び、制御装置４０の全体（図１参照）が、傾斜磁場及びＲＦパルスの印加を伴った撮像により被検体ＰからＭＲ信号を収集する機能は、請求項記載の信号収集部の一例である。
ＲＦ送信器４８は、請求項記載のＲＦパルス送信系統の一例である。
ＲＦコイルユニット３４内の全身用コイル（図示せず）、及び、ＲＦコイル装置１００は、請求項記載のＲＦコイル装置の一例である。

［４］本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１０Ａ：ＭＲＩ装置，１０Ｂ：ＭＲＩ装置，
２０：寝台装置，２２：天板，３０：ガントリ，
３１：静磁場磁石，３２：シムコイルユニット，３３：傾斜磁場コイルユニット，
３４：ＲＦコイルユニット，４０：制御装置，６０：演算装置

Claims (10)

1. 本スキャンのパルスシーケンスに従って撮像領域にＲＦパルスを送信すると共に前記撮像領域から核磁気共鳴信号を収集する信号収集部と、前記核磁気共鳴信号に基づいて画像データを再構成する画像再構成部とを備える磁気共鳴イメージング装置であって、
   複数のＲＦパルスが連続的に出力される場合が含まれるように、前記パルスシーケンスの実行時に出力されるべき前記複数のＲＦパルスの強度の各理想制御値を前記本スキャンの条件に基づいてそれぞれ算出する理想制御値算出部と、
   前記パルスシーケンスの実行中に送信された前記複数のＲＦパルスの強度の各測定値を取得するパルス強度取得部と、
   前記複数のＲＦパルスの強度の各理想制御値と、前記複数のＲＦパルスの強度の各測定値とを比較することで、前記信号収集部におけるＲＦパルス送信系統の異常の有無の判定を実行する判定部と
   を備えることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
2. 請求項１記載の磁気共鳴イメージング装置において、
   前記判定部は、前記複数のＲＦパルスの強度の各理想制御値と各測定値との各差分の絶対値を積算した積算ズレ量を算出し、前記積算ズレ量が閾値を超える場合に前記ＲＦパルス送信系統に異常ありと判定する
   ことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
3. 本スキャンのパルスシーケンスに従って撮像領域にＲＦパルスを送信すると共に前記撮像領域から核磁気共鳴信号を収集する信号収集部と、前記核磁気共鳴信号に基づいて画像データを再構成する画像再構成部とを備える磁気共鳴イメージング装置であって、
   前記パルスシーケンスの実行時に出力されるべき前記ＲＦパルスの強度の理想制御値を、前記ＲＦパルスを時分割した複数の区間毎に、前記本スキャンの条件に基づいてそれぞれ算出する理想制御値算出部と、
   前記パルスシーケンスの実行中に送信された前記ＲＦパルスの強度の測定値を、時分割された前記複数の区間に対してそれぞれ取得するパルス強度取得部と、
   前記時分割された区間毎の前記理想制御値と前記測定値とを比較することで、前記信号収集部におけるＲＦパルス送信系統の異常の有無の判定を実行する判定部と
   を備えることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
4. 請求項３記載の磁気共鳴イメージング装置において、
   前記判定部は、前記時分割された複数の区間における、前記理想制御値と前記測定値との各差分の絶対値を合算した積算ズレ量を算出し、前記積算ズレ量が閾値を超える場合に前記ＲＦパルス送信系統に異常ありと判定する
   ことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
5. 請求項２又は請求項４記載の磁気共鳴イメージング装置において、
   前記判定部は、前記ＲＦパルス送信系統の製造時からの経過期間に応じてそれぞれ異なる複数の前記閾値を記憶しており、前記本スキャンの実行時における前記ＲＦパルス送信系統の製造時又は据付調整時からの経過期間に対応する前記閾値を用いて、前記判定を実行する
   ことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
6. 請求項１乃至請求項５のいずれか１項記載の磁気共鳴イメージング装置において、
   前記パルス強度取得部は、前記パルスシーケンスの実行中にＲＦパルスの強度を測定することで前記測定値を取得するか、又は、前記パルスシーケンスの実行中に測定されるＳＡＲを取得し、ＳＡＲから前記測定値を換算する
   ことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
7. 請求項１乃至請求項６のいずれか１項記載の磁気共鳴イメージング装置において、
   表示装置をさらに備え、
   前記判定部は、前記ＲＦパルス送信系統に異常ありと判定した場合に、異常ありと判定した旨の情報を外部のサービスセンタに送信すると共に前記表示装置に表示させる
   ことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
8. 請求項１乃至請求項７のいずれか１項記載の磁気共鳴イメージング装置において、
   前記本スキャンの前に実行されるプレスキャンにおいてＲＦパルスが前記撮像領域に送信された直後に反射電波強度を測定することで、前記ＲＦパルスの反射割合を算出する反射割合算出部と、
   正常な反射割合を記憶したデータ記憶部とをさらに備え、
   前記信号収集部は、前記本スキャンの実行時に前記撮像領域からの前記核磁気共鳴信号を検出する少なくとも１つのＲＦコイル装置から前記核磁気共鳴信号を取得するように構成され、
   前記データ記憶部は、前記ＲＦパルスの送信、及び、前記核磁気共鳴信号の検出にそれぞれ用いられるＲＦコイル装置の組み合わせのパターン毎に、前記正常な反射割合を記憶し、
   前記判定部は、前記本スキャンにおいて前記ＲＦパルスの送信、及び、前記核磁気共鳴信号の検出に用いられるＲＦコイル装置の組み合わせを取得し、取得した組み合わせに対応する前記正常な反射割合と、前記反射割合算出部により算出された反射割合とを比較することで、ＲＦコイル装置の異常の有無を前記本スキャンの実行前に判定する
   ことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
9. 本スキャンの実行時に撮像領域からの核磁気共鳴信号を検出する少なくとも１つのＲＦコイル装置から前記核磁気共鳴信号を取得し、前記核磁気共鳴信号に基づいて画像データを再構成する磁気共鳴イメージング装置であって、
   前記本スキャンの前に実行されるプレスキャンにおいてＲＦパルスが前記撮像領域に送信された直後に反射電波強度を測定することで、前記ＲＦパルスの反射割合を算出する反射割合算出部と、
   前記ＲＦパルスの送信、及び、前記核磁気共鳴信号の検出にそれぞれ用いられるＲＦコイル装置の組み合わせのパターン毎に、正常な反射割合を記憶したデータ記憶部と、
   前記本スキャンにおいて前記ＲＦパルスの送信、及び、前記核磁気共鳴信号の検出に用いられるＲＦコイル装置の組み合わせを取得し、取得した組み合わせに対応する前記正常な反射割合と、前記反射割合算出部により算出された反射割合とを比較することで、ＲＦコイル装置の異常の有無を前記本スキャンの実行前に判定する判定部と
   ことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
10. 請求項９記載の磁気共鳴イメージング装置において、
    表示装置をさらに備え、
    前記判定部は、ＲＦコイル装置に異常ありと判定した場合に、異常ありと判定した旨の情報を外部のサービスセンタに送信すると共に前記本スキャンの実行前に前記表示装置に表示させる
    ことを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。

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