JP2015148746A - Polarizer, polarization light irradiation device, and polarization axis direction adjustment method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、偏光子、偏光子を用いた偏光光照射装置、偏光光照射装置の偏光軸方向調整方法に関するものである。 The present invention relates to a polarizer, a polarized light irradiation apparatus using the polarizer, and a polarization axis direction adjusting method of the polarized light irradiation apparatus.
偏光していない光から直線偏光を得る偏光子として、ワイヤーグリッド偏光子が知られている。ワイヤーグリッド偏光子は、光透過性の基板上に電気導体の直線状細線を微細線巾・微細間隔で平行に配列形成したものである。その製造方法は、例えば、リフトオフ法で直線状細線を形成することが知られており、リフトオフ法によって直線状細線の形成を行う際のレジストに対するパターン形成を電子線リソグラフィ又はX線リソグラフィを用いて行うことが知られている(例えば、特許文献1参照)。 A wire grid polarizer is known as a polarizer that obtains linearly polarized light from unpolarized light. The wire grid polarizer is formed by arranging linear thin wires of an electric conductor in parallel with a fine line width and a fine interval on a light-transmitting substrate. The manufacturing method is known to form, for example, a linear thin line by a lift-off method, and pattern formation for a resist when forming a linear thin line by a lift-off method is performed using electron beam lithography or X-ray lithography. It is known to perform (for example, refer patent document 1).
偏光子を通った直線偏光を被照射面に照射する偏光光照射装置は、例えば、液晶パネル用配向膜を基板上に形成する光配向処理に用いられる。このような偏光光照射装置は、棒状ランプと反射鏡を備える光照射部と、ワイヤーグリッド偏光子を複数個並列配置した偏光子ユニットを備えており、ワークステージ上に設置した処理対象基板の幅方向に沿ってワイヤーグリッド偏光子を並べた光照射部を配置し、処理対象基板の幅方向と直交する方向にワークステージを移動させて処理対象基板上を直線偏光で走査露光するものである(下記特許文献2参照)。
A polarized light irradiation apparatus that irradiates a surface to be irradiated with linearly polarized light that has passed through a polarizer is used, for example, for optical alignment processing in which an alignment film for a liquid crystal panel is formed on a substrate. Such a polarized light irradiation apparatus includes a light irradiation unit including a rod-shaped lamp and a reflecting mirror, and a polarizer unit in which a plurality of wire grid polarizers are arranged in parallel, and the width of a processing target substrate installed on a work stage. A light irradiation unit in which wire grid polarizers are arranged along the direction is arranged, and the work stage is moved in a direction orthogonal to the width direction of the processing target substrate to scan and expose the processing target substrate with linearly polarized light ( See
前述した偏光光照射装置では、複数個並列配置されるワイヤーグリッド偏光子の偏光軸方向を設定された方向に合わせることが必要になる。このため、従来は、個々の偏光子の偏光軸方向を個別に基準方向に合わせる調整が行われており、その調整方法としては、偏光軸の方向が既知の測定用偏光子(検光子)と、調整対象偏光子を通過し更に測定用偏光子を通過した光を受光する測定用照度センサを用い、測定用偏光子に対する調整対象偏光子の方向を角度調整しながら測定用照度センサの出力をモニタし、測定用照度センサの出力がピークとなるように調整対象偏光子の方向を調整している。 In the polarized light irradiation apparatus described above, it is necessary to match the polarization axis direction of a plurality of wire grid polarizers arranged in parallel with the set direction. For this reason, conventionally, adjustments have been made to individually adjust the polarization axis directions of the individual polarizers to the reference direction. As an adjustment method thereof, a measurement polarizer (analyzer) having a known polarization axis direction can be used. Using the measurement illuminance sensor that receives light that has passed through the adjustment polarizer and further passed through the measurement polarizer, the output of the measurement illuminance sensor is adjusted while adjusting the angle of the adjustment polarizer with respect to the measurement polarizer. The direction of the polarizer to be adjusted is adjusted so that the output of the illuminance sensor for measurement reaches a peak.
このような従来の調整方法によると、測定用照度センサの出力のピーク付近では、調整対象偏光子の微細な角度調整に対して測定用照度センサの出力に大きな違いが出てこない。このため、従来の偏光軸方向調整方法では、0.1deg単位での調整が要求されるような精度の高い調整を行うことが困難な問題があった。 According to such a conventional adjustment method, in the vicinity of the output peak of the measurement illuminance sensor, there is no significant difference in the output of the measurement illuminance sensor with respect to the fine angle adjustment of the adjustment target polarizer. For this reason, in the conventional polarization axis direction adjustment method, there is a problem that it is difficult to perform high-precision adjustment that requires adjustment in units of 0.1 deg.
本発明は、このような問題に対処することを課題の一例とするものである。すなわち、偏光子単体或いは偏光子を複数個並列配置した偏光光照射装置において、偏光子の偏光軸方向の調整を高い精度で行うことができること、等が本発明の目的である。 This invention makes it an example of a subject to cope with such a problem. That is, an object of the present invention is that, in a polarized light irradiation apparatus in which a single polarizer or a plurality of polarizers are arranged in parallel, the polarization axis direction of the polarizer can be adjusted with high accuracy.
このような目的を達成するために、本発明は、明細書に記載された幾つかの発明のうち以下の構成を具備するものである。 In order to achieve such an object, the present invention includes the following configurations among several inventions described in the specification.
偏光子、或いは偏光子を複数個並列配置した偏光子ユニットを備え、光源から出射して偏光子を透過した光を被照射面に照射する偏光光照射装置において、当該偏光子が、表面にワイヤーグリッドを形成した基板と、前記基板上に形成され前記基板を透過する光を遮光する遮光部とを備え、光が透過する光透過領域と前記遮光部との境界線が前記ワイヤーグリッドの延設方向に対して設定された方向で直線状に形成されていることを特徴とする。 In a polarized light irradiation apparatus that includes a polarizer or a polarizer unit in which a plurality of polarizers are arranged in parallel, and irradiates the irradiated surface with light emitted from a light source and transmitted through the polarizer, the polarizer is wired on the surface. A substrate on which a grid is formed; and a light shielding portion that is formed on the substrate and shields light that passes through the substrate; and a boundary line between the light transmitting region that transmits light and the light shielding portion extends from the wire grid. It is formed linearly in a direction set with respect to the direction.
このような特徴を有する本発明の偏光子或いは偏光子を複数個並列配置した偏光子ユニットを備えた偏光光照射装置は、光が透過する光透過領域と遮光部との境界線をカメラ画像で撮像することで、偏光子の偏光軸を基準方向に合わせることができる。これによって、偏光子の偏光軸方向を高い精度で調整することが可能になる。 The polarized light irradiation apparatus having the polarizer of the present invention having the above-described features or a polarizer unit in which a plurality of polarizers are arranged in parallel is provided with a camera image indicating a boundary line between a light transmission region through which light is transmitted and a light shielding portion. By imaging, the polarization axis of the polarizer can be aligned with the reference direction. This makes it possible to adjust the polarization axis direction of the polarizer with high accuracy.
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。図1,図2,図3は本発明の一実施形態に係る偏光子を示した説明図である((a)が全体平面図、(b)がS部拡大図、(c)がT部拡大図、(d)がU部を撮像した撮像画面を示している)。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. 1, 2, and 3 are explanatory views showing a polarizer according to an embodiment of the present invention ((a) is an overall plan view, (b) is an enlarged view of an S portion, and (c) is a T portion). Enlarged view, (d) shows an imaging screen that images the U portion).
偏光子1(1A,1B,1C)は、基板10の表面にワイヤーグリッドGが形成されている。ワイヤーグリッドGは、長さが幅よりもはるかに長い複数の直線状電気導体を等間隔で平行に配置したものであり、例えば、クロム、アルミニウム、酸化チタンなどで形成することができる。ここでは、直線状電気導体の長手方向をワイヤーグリッドGの延設方向とする。
In the polarizer 1 (1A, 1B, 1C), a wire grid G is formed on the surface of the
ワイヤーグリッドGはその延設方向に平行な偏光成分の大部分を反射し、その延設方向に直交する偏光成分を通過させる。したがって、ワイヤーグリッドGを通過した光は、ワイヤーグリッドGの延設方向に直交する方向の偏光軸を有する偏光光となる。すなわち、偏光子1(1A,1B,1C)の偏光軸Pは、ワイヤーグリッドGの延設方向と直交する方向となる。ここで、ワイヤーグリッドGの間隔は、その間隔を狭くすると偏光する光の波長が短くなる。 The wire grid G reflects most of the polarization component parallel to the extending direction and allows the polarization component orthogonal to the extending direction to pass therethrough. Therefore, the light that has passed through the wire grid G becomes polarized light having a polarization axis in a direction orthogonal to the extending direction of the wire grid G. That is, the polarization axis P of the polarizer 1 (1A, 1B, 1C) is a direction orthogonal to the extending direction of the wire grid G. Here, the interval between the wire grids G decreases the wavelength of polarized light when the interval is narrowed.
基板10には、基板10を透過する光を遮光する遮光部11(11A,11B,11C)が形成されている。図1に示した例では、遮光部11(11A)は、基板10の角部に矩形状に形成されている。この例では、遮光部11(11A)を除く基板10の全体がワイヤーグリッド形成領域Gaになっており、このワイヤーグリッド形成領域Gaは光が透過する光透過領域12Aになっている。
The
図2に示した例では、遮光部11(11B)は、基板10の周縁部にて額縁状に形成されている。この例では、遮光部11(11B)の内側がワイヤーグリッド形成領域Gaになっており、このワイヤーグリッド形成領域Gaは光が透過する光透過領域12Bになっている。
In the example shown in FIG. 2, the light shielding portion 11 (11 </ b> B) is formed in a frame shape at the peripheral portion of the
図3に示した例では、遮光部11(11C)は、図2に示した例と同様に、基板10の周縁部にて額縁状に形成されている。この例では、遮光部11(11C)の内側がワイヤーグリッド形成領域Gaになっており、このワイヤーグリッド形成領域Gaは光が透過する光透過領域12Cになっている。また、遮光部11(11C)の一部に光透過領域12C’が形成されている。
In the example illustrated in FIG. 3, the light shielding portion 11 (11 </ b> C) is formed in a frame shape at the peripheral edge of the
ここで、遮光部11(11A,11B,11C)と光透過領域12A,12B,12C’との境界線LがワイヤーグリッドGの延設方向に対して設定された方向で直線状に形成されており、遮光部11(11A,11B,11C)がアライメントマークとして機能している。ここでいう、設定された方向とは、ワイヤーグリッドGの延設方向と同方向であってもよいし、ワイヤーグリッドGの延設方向に対して直交或いは設定された角度で交差する方向であってもよい。図1〜図3に示した例は、いずれも境界線LがワイヤーグリッドGの延設方向と同方向に形成されており、境界線Lの方向は偏光子1(1A〜1C)における偏光軸Pの方向と直交する方向に形成されている。
Here, the boundary line L between the light shielding part 11 (11A, 11B, 11C) and the
図1に示した例では、矩形状の遮光部11(11A)の一辺が前述した境界線Lになっており、この境界線Lが偏光軸Pの方向と直交する方向(すなわち、ワイヤーグリッドGの延設方向と同方向)に形成されている。図2に示した例では、額縁状の遮光部11(11B)の内縁が前述した境界線Lになっており、この境界線Lが偏光軸Pの方向と直交する方向(すなわち、ワイヤーグリッドGの延設方向と同方向)に形成されている。図3に示した例では、遮光部11(11C)の一部に矩形状に形成された光透過領域12C’の一辺が前述した境界線Lになっており、この境界線Lが偏光軸Pの方向と直交する方向(すなわち、ワイヤーグリッドGの延設方向と同方向)に形成されている。
In the example shown in FIG. 1, one side of the rectangular light shielding portion 11 (11A) is the boundary line L described above, and the boundary line L is perpendicular to the direction of the polarization axis P (that is, the wire grid G). Are formed in the same direction as the extending direction). In the example shown in FIG. 2, the inner edge of the frame-shaped light-shielding portion 11 (11B) is the boundary line L described above, and the boundary line L is perpendicular to the direction of the polarization axis P (that is, the wire grid G Are formed in the same direction as the extending direction). In the example shown in FIG. 3, one side of the
ここで、ワイヤーグリッドGの延設方向と前述した境界線Lの方向は、同一のパターン形成工程によって、高い精度で方向を関連付けることができる。一例を挙げると、ワイヤーグリッドGはリフトオフ法で形成することができるが、その際のレジストにワイヤーグリッドGのパターンを描画する工程で、それと同時に遮光部11(11A,11B,11C)における境界線Lの描画を実行する。その際の描画にはX線リソグラフィーや電子線リソグラフィーが用いられる。このように、ワイヤーグリッドGの延設方向との関係が設定された遮光部11(11A,11B,11C)の境界線Lを形成することで、ワイヤーグリッドG自体を光学的に撮像することはできないが、この境界線Lを光学的に撮像して偏光軸Pの調整を行うことが可能になる。 Here, the extending direction of the wire grid G and the direction of the boundary line L described above can be associated with each other with high accuracy by the same pattern forming process. For example, the wire grid G can be formed by a lift-off method, but at the same time, a boundary line in the light shielding portion 11 (11A, 11B, 11C) is drawn in the process of drawing the pattern of the wire grid G on the resist. L drawing is executed. X-ray lithography or electron beam lithography is used for drawing at that time. Thus, by forming the boundary line L of the light shielding part 11 (11A, 11B, 11C) in which the relationship with the extending direction of the wire grid G is set, it is possible to optically image the wire grid G itself. However, it is possible to adjust the polarization axis P by optically imaging the boundary line L.
図1〜図3の(d)は、遮光部11(11A,11B,11C)の境界線Lを含むU部を撮像した撮像画面を示している。図示のように画面内に基準線L1を有する撮像画面を用いることで、この基準線L1と境界線Lの方向を合わせるように偏光子1(1A,1B,1C)の偏光軸方向を調整することで、簡易且つ精度の高い偏光軸方向の調整が可能になる。 (D) of FIGS. 1-3 has shown the imaging screen which imaged U part containing the boundary line L of the light-shielding part 11 (11A, 11B, 11C). By using an imaging screen having a reference line L1 in the screen as shown, the polarization axis direction of the polarizer 1 (1A, 1B, 1C) is adjusted so that the directions of the reference line L1 and the boundary line L are aligned. Thus, the polarization axis direction can be adjusted easily and with high accuracy.
図4は、前述した偏光子を用いた偏光光照射装置を示した説明図((a)が平面図、(b)が正面図)である。偏光光照射装置100は、前述した偏光子1(1A,1B,1C)を複数個並列配置した偏光子ユニット1Uを備えており、光源2から出射して偏光子1を透過した光(直線偏光)を被照射基板3の被照射面3aに照射するものである。光源2と偏光子1との間には、必要に応じて特定波長透過フィルター4を設けることができる。
FIG. 4 is an explanatory diagram (a is a plan view and b is a front view) showing a polarized light irradiation apparatus using the above-described polarizer. The polarized
被照射基板3が、液晶パネルの配向膜形成基板である場合には、被照射面3aは感光性の配向材料が塗布された面になる。この被照射面3aの全面に特定方向の偏光軸を有する偏光光を照射することで光配向処理が施される。この際、偏光子1及び光源2は被照射基板3の幅方向(図示X方向)に沿って配列されており、光源2から出射して偏光子1を透過した偏光光を被照射面3aに照射しながら、偏光子1及び光源2に対して被照射基板3をその延設方向(図示Y方向)に沿って移動させ、被照射面3aを走査露光する。
When the
このような偏光光照射装置100は、照射する偏光光の偏光軸を走査方向(図示Y方向)に対して高い精度で調整することが必要になる。図5は、その調整方法を示す説明図である。この調整にはカメラEを使用する。カメラEは、図1〜図3の(d)に示すように、基準線L1を有する撮像画面を得ることができるものであって、この基準線L1の方向(基準方向)が変わらないように、偏光子1の並列方向(図示X方向)に沿って移動自在に配備されている。
Such a polarized
偏光光照射装置100における偏光軸の調整方法は、カメラEによって撮像される境界線Lの撮像画像を基準方向(基準線L1)に合わせるように個々の偏光子1を光軸周りに回転調整する。以下に、偏光子1の偏光軸Pの方向を全て走査方向(Y方向)に合わせる例を説明する。ここでは、各偏光子1における境界線Lは偏光軸Pの方向に直交する方向(ワイヤーグリッドGの延設方向と同方向)に形成されていることが既知である。
In the polarized
カメラEの撮像画面における基準線L1の方向を走査方向(Y方向)と直交する方向(X方向)に合わせておき、このカメラEを偏光子1の並列方向(X方向)に沿って移動自在に配備する。そして、1つの偏光子1(1−1)の境界線Lを撮像して、その方向を基準線L1の方向に合わせるように偏光子1(1−1)の方向を回転調整し、その調整が終わると、基準線L1の方向を一定にしたままカメラEをX方向に沿って移動させ、次の偏光子1(1−2)の境界線Lを撮像して、その方向を基準線L1の方向に合わせるように偏光子1の方向を回転調整する。これを繰り返し、全ての偏光子1(1−1〜1−4)の境界線Lの方向が基準線L1の方向と一致するように調整する。
The direction of the reference line L1 on the imaging screen of the camera E is aligned with the direction (X direction) orthogonal to the scanning direction (Y direction), and the camera E can be moved along the parallel direction (X direction) of the
図6は、偏光光照射装置における偏光板の偏光軸方向調整方法の他の例を示した説明図である(図における(a)が第1工程、(b)が第2工程、(c)が第3工程を示している。)。この例は、偏光子1が額縁状の遮光部11(11B)を備えている。複数の偏光子1(1−1〜1−4)の偏光軸方向を個々に調整するに際して、先ず、(a)に示すように、一つ目の偏光子1(1−1)のA部をカメラEで撮像してその撮像画面における基準軸L2と境界線Lを合わせる調整を行う。次に、(b)に示すように、同じ偏光子1(1−1)のB部を撮像するために、カメラEをY方向に沿って平行移動させる。ここで、Y方向は、被照射基板の搬送方向(走査方向)であり、X方向はそれと直交する方向を示している。そして、B部をカメラEで撮像してその撮像画面における基準軸L2と境界線Lがずれている場合には、偏光子1の方向を回転させて基準軸L2と境界線が合うように調整する。このように走査方向であるY方向に沿った複数箇所でカメラEを平行移動させて偏光子1の方向を調整することで、走査方向(被照射基板の搬送方向)に対する偏光子1の偏光軸方向を精度良く調整することが可能になる。その後は、カメラEをX方向に沿って移動させ、2つ目以降の偏光子1(1−2〜1−4)に対して同様の工程を繰り返し、全ての偏光子1を走査方向に対して精度良く調整する。
FIG. 6 is an explanatory view showing another example of the method for adjusting the polarization axis direction of the polarizing plate in the polarized light irradiation apparatus ((a) in the figure is the first step, (b) is the second step, and (c). Shows the third step). In this example, the
以上説明したように、本発明の実施形態に係る偏光子1、この偏光子1を用いた偏光光照射装置100は、基準方向が特定されたカメラEを用いて、アライメントマークとして機能する遮光部11(11A,11B,11C)における境界線Lを撮像しながら偏光軸調整を行うことで、簡易且つ高い精度で偏光軸を調整することが可能になる。
As described above, the
以上、本発明の実施の形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施の形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があっても本発明に含まれる。また、上述の各実施の形態は、その目的及び構成等に特に矛盾や問題がない限り、互いの技術を流用して組み合わせることが可能である。 As described above, the embodiments of the present invention have been described in detail with reference to the drawings. However, the specific configuration is not limited to these embodiments, and the design can be changed without departing from the scope of the present invention. Is included in the present invention. In addition, the above-described embodiments can be combined by utilizing each other's technology as long as there is no particular contradiction or problem in the purpose and configuration.
1,1A,1B,1C:偏光子,1U:偏光子ユニット,
10:基板,11,11A,11B,11C:遮光部,
12A,12B,12C,12C’:光透過領域,
G:ワイヤーグリッド,P:偏光軸,L:境界線,L1,L2:基準線,
2:光源,3:被照射基板,3a:被照射面,4:特定波長透過フィルター,
100:偏光光照射装置,E:カメラ
1, 1A, 1B, 1C: Polarizer, 1U: Polarizer unit,
10: Substrate, 11, 11A, 11B, 11C: Light shielding part,
12A, 12B, 12C, 12C ′: light transmission region,
G: wire grid, P: polarization axis, L: boundary line, L1, L2: reference line,
2: light source, 3: irradiated substrate, 3a: irradiated surface, 4: specific wavelength transmission filter,
100: Polarized light irradiation device, E: Camera
Claims (6)
光が透過する光透過領域と前記遮光部との境界線が前記ワイヤーグリッドの延設方向に対して設定された方向で直線状に形成されていることを特徴とする偏光子。 A substrate having a wire grid formed on the surface, and a light-shielding portion that shields light that is formed on the substrate and transmits the substrate,
A polarizer, wherein a boundary line between a light transmission region through which light is transmitted and the light shielding portion is linearly formed in a direction set with respect to an extending direction of the wire grid.
前記偏光子の並列方向に沿って移動自在なカメラによって撮像される前記境界線の撮像画像を基準方向に合わせるように前記偏光子を光軸周りに回転調整することを特徴とする偏光軸調整方法。 A polarization axis adjusting method in the polarized light irradiation apparatus according to claim 5,
A method for adjusting a polarization axis, wherein the polarizer is rotated around an optical axis so that a captured image of the boundary line captured by a camera movable along a parallel direction of the polarizer is aligned with a reference direction. .
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