JP2015135293A5 - - Google Patents
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 20
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- 230000002194 synthesizing Effects 0.000 claims 4
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- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
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Description
本発明の一様態は、被写体に対して投影パターンを投影する投影手段と、
前記投影パターンが投影された被写体を撮像する撮像手段と、
前記投影手段により投影された投影パターンと、前記撮像手段により撮像された画像と、に基づいて、前記被写体の概略距離情報を計測する第1の計測手段と、
前記概略距離情報に基づいて、前記撮像手段により撮像された画像中における前記投影パターンのそれぞれの領域が暈けているか否かを判断する判断手段と、
前記判断手段により暈けていると判断された領域について、前記撮像手段により撮像された画像と前記投影パターンに対する暈かし処理を行うことで得られる画像との相関に基づいて前記被写体に対する距離情報を計測する第2の計測手段と
を備えることを特徴とする。
前記投影パターンが投影された被写体を撮像する撮像手段と、
前記投影手段により投影された投影パターンと、前記撮像手段により撮像された画像と、に基づいて、前記被写体の概略距離情報を計測する第1の計測手段と、
前記概略距離情報に基づいて、前記撮像手段により撮像された画像中における前記投影パターンのそれぞれの領域が暈けているか否かを判断する判断手段と、
前記判断手段により暈けていると判断された領域について、前記撮像手段により撮像された画像と前記投影パターンに対する暈かし処理を行うことで得られる画像との相関に基づいて前記被写体に対する距離情報を計測する第2の計測手段と
を備えることを特徴とする。
<ステップS801>
視差計算部105は先ず、撮像画像Cの縮小画像Cdと、投影パターンEの縮小画像である縮小投影パターンEdと、を生成する。縮小した画像のサイズは、元の画像のサイズの1/4とする。画像の縮小処理においては、隣接画素に対して線形補間によるサンプリングを行い、エイリアシングの抑制を行う。
視差計算部105は先ず、撮像画像Cの縮小画像Cdと、投影パターンEの縮小画像である縮小投影パターンEdと、を生成する。縮小した画像のサイズは、元の画像のサイズの1/4とする。画像の縮小処理においては、隣接画素に対して線形補間によるサンプリングを行い、エイリアシングの抑制を行う。
また、本実施形態では、ステップS1206において、投影パターンEnを生成する際に、投影パターンEが中間位置に投影された場合とボケ量が等しくなるように設定しているが、これに限るものではない。数値的により良好な視差計算が行えるガウシアンフィルタの各数値が存在する場合には、最適な数値へ任意に変更してもよい。また、純粋なガウシアンフィルタでなく、例えばプロジェクタ102の諸収差の影響を考慮して数値を設定したフィルタを適用することで、より良好な視差計算を行うことができる。
なお、本実施形態では、ステップS2002で投影パターンEを二値化しているが、これに限るものではない。ダイナミックレンジや低ノイズ性能について、より高性能なカメラ104が使用できる場合には、さらに場合分けを細かく行って、三値以上(N(Nは3以上の整数)値化)の投影パターンを生成してもよい。より多値の投影パターンを用いることで、さらに被写体の三次元形状が計測不能な領域を削減することができる。
Claims (15)
- 被写体に対して投影パターンを投影する投影手段と、
前記投影パターンが投影された被写体を撮像する撮像手段と、
前記投影手段により投影された投影パターンと、前記撮像手段により撮像された画像と、に基づいて、前記被写体の概略距離情報を計測する第1の計測手段と、
前記概略距離情報に基づいて、前記撮像手段により撮像された画像中における前記投影パターンのそれぞれの領域が暈けているか否かを判断する判断手段と、
前記判断手段により暈けていると判断された領域について、前記撮像手段により撮像された画像と前記投影パターンに対する暈かし処理を行うことで得られる画像との相関に基づいて前記被写体に対する距離情報を計測する第2の計測手段と
を備えることを特徴とする画像処理装置。 - 前記投影手段による前記投影パターンの合焦位置は、該投影手段から見て、前記被写体の位置よりも遠方に位置することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
- 前記投影パターンは、第1の二次元パターン画像と第2の二次元パターン画像とを合成することで得られる画像であり、
前記投影パターンの各画素の画素値は、前記第一の二次元パターン画像及び前記第二の二次元パターン画像において該画素に対応する画素の画素値の和を、N(Nは2以上の整数)値化した値であることを特徴とする請求項1又は2に記載の画像処理装置。 - 前記投影パターンは、第1の二次元パターン画像と第2の二次元パターン画像とを合成することで得られる画像であり、
前記投影パターンは、前記第一の二次元パターン画像と前記第二の二次元パターン画像とを合成したパターン画像に対して疑似多階調化を行ったパターン画像であることを特徴とする請求項1又は2に記載の画像処理装置。 - 前記第1の計測手段は、前記投影パターンを縮小した縮小投影パターンと、前記撮像画像を縮小した縮小画像と、に基づいて、前記被写体の概略距離情報を計測することを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の画像処理装置。
- 前記被写体の概略距離情報は、前記被写体の表面の三次元座標であることを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項に記載の画像処理装置。
- 前記投影パターンは、第1の二次元パターン画像と第2の二次元パターン画像とを合成することで得られる画像であり、
1画素若しくは複数画素から成る領域を第一単位領域とし、該領域よりも大きいサイズの領域を第二単位領域とした場合、
前記第一の二次元パターン画像におけるそれぞれの第一単位領域には、複数の画素値のうち何れかが割り当てられており、
前記第二の二次元パターン画像におけるそれぞれの第二単位領域には、複数の画素値のうち何れかが割り当てられている
ことを特徴とする請求項1乃至6の何れか1項に記載の画像処理装置。 - 前記第1の計測手段は、前記撮像手段により撮像された画像に基づく画像内の所定の大きさの領域内の画素値と、前記投影手段により投影された前記投影パターンに基づく画像内の所定の大きさの領域内の画素値と、の間の相関に基づいて、前記被写体の概略距離情報を計測することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
- 前記第2の計測手段は、前記判断手段により暈けていないと判断された領域について、前記撮像手段により撮像された画像と前記投影パターンとの相関に基づいて前記被写体に対する距離情報を計測することを特徴とする請求項1乃至8の何れか1項に記載の画像処理装置。
- 前記判断手段は、前記撮像手段により撮像された画像中の投影パターンの領域に対応する距離が前記投影手段の被写界深度よりも大きい場合には、前記撮像手段により撮像された画像中の投影パターンの領域は暈けていると判断することを特徴とする請求項1に記載の画像処理装置。
- 前記第一単位領域及び前記第二単位領域には、前記複数の画素値のうちランダム若しくは疑似ランダムに決定された画素値が割り当てられていることを特徴とする請求項7に記載の画像処理装置。
- 前記第一単位領域及び前記第二単位領域のサイズは均一であることを特徴とする請求項7に記載の画像処理装置。
- 前記第一単位領域のサイズは、前記第一の二次元パターン画像の中央部に近いほど小さく、
前記第二単位領域のサイズは、前記第二の二次元パターン画像の中央部に近いほど小さいことを特徴とする請求項7に記載の画像処理装置。 - 画像処理装置が行う画像処理方法であって、
前記画像処理装置の投影手段が、被写体に対して投影パターンを投影する投影工程と、
前記画像処理装置の撮像手段が、前記投影パターンが投影された被写体を撮像する撮像工程と、
前記画像処理装置の第1の計測手段が、前記投影工程で投影された投影パターンと、前記撮像工程で撮像された画像と、に基づいて、前記被写体の概略距離情報を計測する第1の計測工程と、
前記画像処理装置の判断手段が、前記概略距離情報に基づいて、前記撮像工程で撮像された画像中における前記投影パターンのそれぞれの領域が暈けているか否かを判断する判断工程と、
前記画像処理装置の第2の計測手段が、前記判断工程で暈けていると判断された領域について、前記撮像工程で撮像された画像と前記投影パターンに対する暈かし処理を行うことで得られる画像との相関に基づいて前記被写体に対する距離情報を計測する第2の計測工程と
を備えることを特徴とする画像処理方法。 - 撮像手段、投影手段、第1の計測手段、第2の計測手段を有するコンピュータに、請求項14に記載の画像処理方法の各工程を実行させるためのコンピュータプログラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014007270A JP6254849B2 (ja) | 2014-01-17 | 2014-01-17 | 画像処理装置、画像処理方法 |
US14/593,249 US9689668B2 (en) | 2014-01-17 | 2015-01-09 | Image processing apparatus and image processing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014007270A JP6254849B2 (ja) | 2014-01-17 | 2014-01-17 | 画像処理装置、画像処理方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015135293A JP2015135293A (ja) | 2015-07-27 |
JP2015135293A5 true JP2015135293A5 (ja) | 2017-02-16 |
JP6254849B2 JP6254849B2 (ja) | 2017-12-27 |
Family
ID=53544503
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014007270A Active JP6254849B2 (ja) | 2014-01-17 | 2014-01-17 | 画像処理装置、画像処理方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9689668B2 (ja) |
JP (1) | JP6254849B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6636252B2 (ja) * | 2015-03-19 | 2020-01-29 | 株式会社メガチップス | 投影システム、プロジェクター装置、撮像装置、および、プログラム |
US10360693B2 (en) * | 2017-03-01 | 2019-07-23 | Cognex Corporation | High speed structured light system |
JP6879168B2 (ja) * | 2017-11-01 | 2021-06-02 | オムロン株式会社 | 3次元測定装置、3次元測定方法及びプログラム |
JP7028623B2 (ja) * | 2017-12-07 | 2022-03-02 | Ckd株式会社 | 三次元計測装置 |
CN113748313B (zh) * | 2019-05-22 | 2023-11-21 | 欧姆龙株式会社 | 三维测量系统及三维测量方法 |
CN113660407B (zh) * | 2020-04-28 | 2023-11-17 | 合肥美亚光电技术股份有限公司 | 成像设备、成像设备的控制方法及存储介质 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3668019B2 (ja) * | 1998-10-27 | 2005-07-06 | 株式会社ソニー・コンピュータエンタテインメント | 記録媒体、画像処理装置および画像処理方法 |
JP4110501B2 (ja) | 1999-11-22 | 2008-07-02 | ソニー株式会社 | ランダムパターン生成装置とその方法、距離画像生成装置とその方法、およびプログラム提供媒体 |
JP4480488B2 (ja) * | 2003-08-28 | 2010-06-16 | 富士通株式会社 | 計測装置、コンピュータ数値制御装置及びプログラム |
CA2528791A1 (en) * | 2005-12-01 | 2007-06-01 | Peirong Jia | Full-field three-dimensional measurement method |
JP5299054B2 (ja) * | 2009-04-21 | 2013-09-25 | ソニー株式会社 | 電子機器、表示制御方法およびプログラム |
DE102010064635B4 (de) * | 2009-07-03 | 2024-03-14 | Koh Young Technology Inc. | Verfahren zum Untersuchen eines Messobjektes |
JP5576726B2 (ja) | 2010-06-29 | 2014-08-20 | キヤノン株式会社 | 三次元計測装置、三次元計測方法、及びプログラム |
DE112011102991B4 (de) | 2010-09-08 | 2016-09-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Verfahren und Vorrichtung zur 3D-Vermessung durch Erfassung eines vorbestimmten Musters |
JP5595211B2 (ja) * | 2010-10-12 | 2014-09-24 | キヤノン株式会社 | 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法及びコンピュータプログラム |
JP5132832B1 (ja) * | 2011-07-11 | 2013-01-30 | キヤノン株式会社 | 計測装置および情報処理装置 |
AU2011224051B2 (en) * | 2011-09-14 | 2014-05-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Determining a depth map from images of a scene |
US9142025B2 (en) * | 2011-10-05 | 2015-09-22 | Electronics And Telecommunications Research Institute | Method and apparatus for obtaining depth information using optical pattern |
JP2013124884A (ja) | 2011-12-13 | 2013-06-24 | Canon Inc | 情報処理装置、情報処理装置の制御方法、およびプログラム |
JP6112769B2 (ja) * | 2012-03-05 | 2017-04-12 | キヤノン株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法 |
US9389067B2 (en) * | 2012-09-05 | 2016-07-12 | Canon Kabushiki Kaisha | Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium |
-
2014
- 2014-01-17 JP JP2014007270A patent/JP6254849B2/ja active Active
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2015
- 2015-01-09 US US14/593,249 patent/US9689668B2/en active Active
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